JP2004217970A - 製造装置、クリーニング方法、および再利用方法 - Google Patents
製造装置、クリーニング方法、および再利用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004217970A JP2004217970A JP2003005148A JP2003005148A JP2004217970A JP 2004217970 A JP2004217970 A JP 2004217970A JP 2003005148 A JP2003005148 A JP 2003005148A JP 2003005148 A JP2003005148 A JP 2003005148A JP 2004217970 A JP2004217970 A JP 2004217970A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- vapor deposition
- film
- substrate
- deposition source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 73
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract description 238
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 181
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 173
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 87
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 75
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 115
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 110
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 103
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 87
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 56
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 37
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 16
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 12
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000004064 recycling Methods 0.000 claims description 10
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 7
- PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N disilane Chemical compound [SiH3][SiH3] PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- VEDJZFSRVVQBIL-UHFFFAOYSA-N trisilane Chemical compound [SiH3][SiH2][SiH3] VEDJZFSRVVQBIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 23
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 8
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 abstract description 6
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 371
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 149
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 28
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 22
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 22
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 21
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 21
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 20
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 20
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 19
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 18
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 14
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 13
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 11
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 10
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 6
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 5
- 229910017911 MgIn Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 4
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 4
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 4
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 4
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 4
- 229920002620 polyvinyl fluoride Polymers 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[O-2].[In+3] OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical class [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 3
- 239000002585 base Substances 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- 238000005339 levitation Methods 0.000 description 3
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 2
- 239000005041 Mylar™ Substances 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 229910004012 SiCx Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004116 SrO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 150000004984 aromatic diamines Chemical class 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N nile red Chemical compound C1=CC=C2C3=NC4=CC=C(N(CC)CC)C=C4OC3=CC(=O)C2=C1 VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- MIOPJNTWMNEORI-GMSGAONNSA-N (S)-camphorsulfonic acid Chemical compound C1C[C@@]2(CS(O)(=O)=O)C(=O)C[C@@H]1C2(C)C MIOPJNTWMNEORI-GMSGAONNSA-N 0.000 description 1
- HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 2-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 description 1
- BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N Aspirin Chemical compound CC(=O)OC1=CC=CC=C1C(O)=O BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 229910004469 SiHx Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 SiHxOy Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] Chemical compound [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010405 anode material Substances 0.000 description 1
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000004050 hot filament vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920003190 poly( p-benzamide) Polymers 0.000 description 1
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
- RGGPNXQUMRMPRA-UHFFFAOYSA-N triethylgallium Chemical compound CC[Ga](CC)CC RGGPNXQUMRMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N trimethylgallium Chemical compound C[Ga](C)C XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明は、基板100を固定し、蒸着ホルダ104を移動させことによって成膜を行う。また、本発明は、蒸着ホルダを成膜室101から設置室103bに移動させた後、蒸着ホルダの部品(ルツボ106、膜厚モニタ105、シャッター)を大気に触れることなく設置する。また、本発明は、蒸着ホルダを成膜室から設置室103bに移動させた後、蒸着ホルダの部品、代表的には膜厚モニタやシャッター等をクリーニングすることで交換頻度を下げ、成膜室内の清浄度を保つことができる。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は蒸着により成膜可能な材料(以下、蒸着材料という)の成膜に用いられる成膜装置を備えた製造装置および該製造装置を用いた有機化合物を含む層を発光層とする発光装置、およびその作製方法に関する。特に、基板に対向して設けられた複数の蒸着源から蒸着材料を蒸発させて成膜を行う膜の作製方法(蒸着方法)、及び製造装置に関する。また、成膜装置のクリーニング方法、および蒸着材料の再利用方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、自発光型の発光素子としてEL素子を有した発光装置の研究が活発化している。この発光装置は有機ELディスプレイ、又は有機発光ダイオードとも呼ばれている。これらの発光装置は、動画表示に適した速い応答速度、低電圧、低消費電力駆動などの特徴を有しているため、新世代の携帯電話や携帯情報端末(PDA)をはじめ、次世代ディスプレイとして大きく注目されている。
【0003】
有機化合物を含む層を発光層とするEL素子は、有機化合物を含む層(以下、EL層と記す)が陽極と、陰極との間に挟まれた構造を有し、陽極と陰極とに電場を加えることにより、EL層からルミネッセンス(Electro Luminescence)が発光する。またEL素子からの発光は、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(リン光)とがある。
【0004】
上記のEL層は「正孔輸送層/発光層/電子輸送層」に代表される積層構造を有している。また、EL層を形成するEL材料は低分子系(モノマー系)材料と高分子系(ポリマー系)材料に大別され、低分子系材料は、蒸着装置を用いて成膜される。
【0005】
従来の蒸着装置は基板ホルダに基板を設置し、EL材料、つまり蒸着材料を封入したルツボと、昇華するEL材料の上昇を防止するシャッターと、ルツボ内のEL材料を加熱するヒータとを有している。そして、ヒータにより加熱されたEL材料が昇華し、回転する基板に成膜される。このとき、均一に成膜を行うために、基板とルツボとの間の距離は1m以上離す必要がある。
【0006】
従来の蒸着装置や蒸着方法では、蒸着によりEL層を形成する場合、昇華したEL材料の殆どが蒸着装置の成膜室内の内壁、シャッターまたは防着シールド(蒸着材料が成膜室の内壁に付着することを防ぐための保護板)に付着してしまった。そのため、EL層の成膜時において、高価なEL材料の利用効率が約1%以下と極めて低く、発光装置の製造コストは非常に高価なものとなっていた。
【0007】
また従来の蒸着装置は、均一な膜を得るため、基板と蒸着源との間隔を1m以上離す必要があった。そのため、蒸着装置自体が大型化し、蒸着装置の各成膜室の排気に要する時間も長時間となるため成膜速度が遅くなり、スループットが低下しまった。また、大面積基板になると、基板の中央部と周縁部とで膜厚が不均一になりやすい問題が生じる。さらに、蒸着装置は基板を回転させる構造であるため、大面積基板を目的とする蒸着装置には限界があった。
【0008】
これらの点から本出願人は、蒸着装置(特許文献1、特許文献2)を提案している。
【0009】
【特許文献1】
特開2001−247959号公報
【特許文献2】
特開2002−60926号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、EL材料の利用効率を高めることによって製造コストを削減し、且つ、EL層成膜の均一性やスループットの優れた製造装置の一つである蒸着装置及び蒸着方法を提供するものである。また本発明の蒸着装置及び蒸着方法により作製される発光装置およびその作製方法を提供するものである。
【0011】
また本発明は、例えば、基板サイズが、320mm×400mm、370mm×470mm、550mm×650mm、600mm×720mm、680mm×880mm、1000mm×1200mm、1100mm×1250mm、1150mm×1300mmのような大面積基板に対して、効率よくEL材料を蒸着する製造装置を提供するものである。また、本発明は、大面積基板に対しても基板全面において均一な膜厚が得られる蒸着装置を提供するものである。
【0012】
また、EL素子の実用化における最大の問題は、素子の寿命が不十分な点である。また、素子の劣化は、長時間発光させると共に非発光領域(ダークスポット)が広がるという形で現れるが、その原因としてEL層の劣化が問題となっている。
【0013】
EL層を形成するEL材料は、酸素や水等の不純物により劣化を受けやすい。また、その他の不純物がEL材料に含まれることでEL層の劣化に影響を及ぼすことも考えられる。
【0014】
本発明は、不純物混入を避けることが可能な一貫したクローズドシステムを提供することも課題とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明は、蒸着ホルダの部品、代表的には膜厚モニタやシャッター等をクリーニングすることで交換頻度を下げ、成膜室への不純物混入を避ける。クリーニングは成膜室に連結された設置室で行うことによって、成膜室内部を常に真空に保ち、不純物の混入を避ける。本発明は、蒸着ホルダを設置室まで移動させ、設置室でクリーニングをすることによって、成膜室の清浄度を保つものである。
【0016】
なお、成膜室内のクリーニングは大気開放することなく行えるプラズマクリーニングなどによって行えばよい。
【0017】
また、蒸着後に蒸着ホルダを設置室まで移動させ、シャッターなどに付着した蒸着材料を回収し、再利用してもよい。
【0018】
また、本発明は、蒸着ホルダの各種部品交換を行う場合、設置室で行うことによって成膜室の清浄度を保つことを特徴としている。
【0019】
従来では、蒸着ホルダが成膜室内に固定されていたため、蒸着ホルダおよびその部品のクリーニング、メンテナンスは、成膜室を大気開放して行っていた。特に、従来、膜厚モニタはメンテナンス時に新品のものと交換し、旧品はクリーニングすることなく廃棄していた。
【0020】
本明細書で開示する膜厚計の再利用方法に関する構成は、
蒸着後、蒸着源に設けられた膜厚計に付着した有機化合物を除去して膜厚計を再利用方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内で膜厚計に付着した有機化合物を除去してクリーニングを行い、膜厚計を繰り返し使用することを特徴とする再利用方法である。
【0021】
また、蒸着材料が収納された容器(代表的にはルツボ)を蒸着ホルダへセットする作業も設置室で行う。本発明は、EL材料を保存する容器として従来の容器、代表的には褐色のガラス瓶等を使用せず、蒸着装置に設置される予定の容器にEL材料を直接収納し、搬送後に蒸着を行う。本発明により、今後のさらなるEL材料の超高純度化への対応を可能とする。
【0022】
通常、EL材料を保存する容器は、褐色のガラス瓶に入れられ、プラスチック製の蓋(キャップ)で閉められている。容器(ガラス瓶)に入れられた蒸発材料を所定の量取りだし、蒸着装置内での被膜形成物に対向させた位置に設置された容器(代表的にはルツボ、蒸着ボート)に移しかえているが、この移しかえ作業において不純物が混入する恐れがあった。すなわち、EL素子の劣化原因の一つである酸素や水及びその他の不純物が混入する可能性があった。また、いくら高純度なEL材料を材料メーカーで提供されても、発光装置メーカーで従来の移しかえの作業があるかぎり不純物混入の恐れが存在し、EL材料の純度を維持することができず、純度に限界があった。
【0023】
本明細書で開示する発明の構成は、図2にその一例を示すように、
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記成膜室には、基板を固定する手段と、蒸着源と、該蒸着源を移動する手段とを有し、
前記蒸着源を移動する手段によって前記蒸着源は、成膜室内、または前記成膜室から前記設置室に移動することを特徴とする製造装置である。
【0024】
上記構成において、前記設置室は、前記設置室内を真空にする真空排気処理室と連結され、前記設置室には内部を真空で密閉した輸送用の容器から蒸着材料が収納された容器を取り出す手段と、前記蒸着材料が収納された容器を前記設置室内の前記蒸着源に搭載する手段とを有することを特徴としている。
【0025】
また、上記構成において、前記設置室では、内部を真空で密閉した輸送用の容器から蒸着材料が収納された容器を取り出す作業と、前記蒸着材料が収納された容器を前記蒸着源に搭載する作業を真空下で自動ロボットによって行うことを特徴としている。
【0026】
また、他の発明の構成は、図1にその一例を示すように、
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記搬送室は、マスクと基板の位置あわせを行う機能を有し、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、蒸着源と、該蒸着源を加熱する手段とを有し、
前記複数の成膜室のうち、少なくとも2つの成膜室では平行してそれぞれの成膜室に搬入された基板面に蒸着が行われ、
異なるパネルを複数作製することを特徴とする製造装置である。
【0027】
また、図1に示す製造装置は、
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記搬送室は、マスクと基板の位置あわせを行う機能を有し、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、蒸着源と、該蒸着源を加熱する手段とを有し、
前記複数の成膜室のうち、少なくとも2つの成膜室では平行してそれぞれの成膜室に搬入された基板面に蒸着が行われ、
同一パネルを複数作製することを特徴とする製造装置とすることもできる。
【0028】
また、上記構成において、前記成膜室および前記設置室は、室内を真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、材料ガスまたはクリーニングガスを導入しうる手段とを有していることを特徴としている。
【0029】
また、他の発明の構成は、
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記成膜室には、基板を固定する手段と、蒸着源と、該蒸着源を移動する手段と、前記蒸着源に設けられたシャッターと、前記蒸着源に設けられた膜厚計とを有し、
前記成膜室および前記設置室は、室内を真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、材料ガスまたはクリーニングガスを導入しうる手段とを有していることを特徴とする製造装置である。
【0030】
また、上記各構成において、前記材料ガスを導入しうる手段は、プラズマ発生手段によりラジカル化された材料ガスを導入する手段であることを特徴としている。また、材料ガスを導入する系とは別に、成膜室内を常圧にするための不活性ガスを導入する系を設けてもよい。
【0031】
また、蒸着時に成膜室内でアンテナ方式による放電を行ってプラズマを形成し、イオン化した材料ガスの成分を蒸発している有機化合物に化学付着させてもよい。
【0032】
また、上記製造装置の各構成において、成膜室に連結して設けられる真空排気手段は、大気圧から1Pa程度をオイルフリーのドライポンプで真空排気し、それ以上の圧力は磁気浮上型のターボ分子ポンプまたは複合分子ポンプにより真空排気する。成膜室には水分を除去するためにクライオポンプを併設しても良い。こうして排気手段から主に油などの有機物による汚染を防止している。内壁面は、電解研磨により鏡面処理し、表面積を減らしてガス放出を防いでいる。
【0033】
また、上記各構成において、前記材料ガスは、モノシラン、ジシラン、トリシラン、SiF4、GeH4、GeF4、SnH4、CH4、C2H2、C2H4、またはC6H6から選ばれた一種または複数種であることを特徴としている。
【0034】
また、モノシランに加えてフォスフィンガスを導入してもよい。また、モノシランに代えて、AsH3、B2H2、BF4、H2Te、Cd(CH3)2、Zn(CH3)2、(CH3)3In、H2Se、BeH2、トリメチルガリウム、またはトリエチルガリウムで示される各種ガスを用いることができる。
【0035】
また、上記成膜装置の各構成において、前記蒸着源は、蒸着の際、水平を保ったまま、成膜室内をX方向またはY方向に移動可能であることを特徴としている。また、Z方向に移動させることもできる。また、蒸着の際、基板と蒸着源ホルダとの間隔距離dを代表的には30cm以下、好ましくは20cm以下、さらに好ましくは5cm〜15cmに狭め、蒸着材料の利用効率及びスループットを格段に向上させることができる。蒸着源ホルダは、容器(代表的にはルツボ)と、容器の外側に均熱部材を介して配設されたヒータと、このヒータの外側に設けられた断熱層と、これらを収納した外筒と、外筒の外側に旋回された冷却パイプと、ルツボの開口部を含む外筒の開口部を開閉する蒸着シャッターと、膜厚センサーから構成されている。
【0036】
なお、本明細書中において、ルツボとは、BNの焼結体、BNとAlNの複合焼結体、石英、またはグラファイトなどの材料によって形成された比較的大きな開口部を有する筒状容器であり、高温、高圧、減圧に耐えうるものとなっている。
【0037】
また、前記成膜室には、成膜室内を区切り、且つ、前記基板への蒸着を遮蔽するシャッターを有することを特徴としている。蒸着源とともに移動するシャッターが容器(ルツボ)の口を覆うように設けられているが、シャッターには常に蒸着速度を制御するために穴が設けられ、膜厚モニタで測定が可能となっている。また、穴を設けない場合においてもルツボとシャッターとは固着しないように間隔が設けてあり、その間隔や穴から蒸着材料が蒸着され、基板に達する恐れがある。この意図しない基板への蒸着を防ぐために成膜室内を区切り、且つ、前記基板への蒸着を遮蔽するシャッターを有する。
【0038】
また、本発明は、クリーニング方法も提供する。本明細書で開示するクリーニング方法は、
蒸着源に設けられたシャッター、または膜厚計に付着した有機化合物を除去するクリーニング方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内にプラズマを発生させる、或いは該設置室内にプラズマによってイオン化されたガスを導入してクリーニングし、真空排気手段により排気することを特徴とするクリーニング方法である。
【0039】
上記構成において、前記プラズマは、Ar、N2、H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガスを励起して発生させることを特徴としている。
【0040】
また、本発明は、有機化合物を回収する再利用方法も提供する。本明細書で開示する再利用方法は、図4(B)にその一例を示したように、
蒸着後、蒸着源に設けられたシャッターに付着した有機化合物を回収する再利用方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内でシャッターを加熱して付着した有機化合物を溶融または昇華させて容器に回収することを特徴とする再利用方法である。
【0041】
また、他の再利用方法に関する構成は、図8にその一例を示したように、
蒸着後、蒸着源に設けられたシャッターに付着した有機化合物を回収する再利用方法であって、
前記シャッターは蒸着源に設置する容器と同一のものであり、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内でシャッターを蒸着源に設置する容器としてセットし、再び蒸着させることを特徴とする再利用方法である。
【0042】
また、陰極と陽極との間に配置する有機化合物を含む層として、正孔輸送層、発光層、電子輸送層の3層を積層する例が代表的であるが、特に限定されず、陽極上に正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層、または正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/電子注入層の順に積層する構造や、二層構造や単層構造でも良い。発光層に対して蛍光性色素等をドーピングしても良い。また、発光層としては正孔輸送性を有する発光層や電子輸送性を有する発光層などもある。また、これらの層は、全て低分子系の材料を用いて形成しても良いし、そのうちの1層またはいくつかの層は高分子系の材料を用いて形成しても良い。なお、本明細書において、陰極と陽極との間に設けられる全ての層を総称して有機化合物を含む層(EL層)という。したがって、上記正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層は、全てEL層に含まれる。また、有機化合物を含む層(EL層)は、シリコンなどの無機材料をも含んでいてもよい。
【0043】
また、本明細書において、EL素子とはEL材料ならびにこのEL材料にキャリアを注入するための有機材料もしくは無機材料を含む層(以下、EL層という)を二つの電極(陽極および陰極)で挟んだ構造からなる発光素子であり、陽極、陰極およびEL層からなるダイオードを指す。有機化合物におけるルミネッセンスには、一重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と三重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(リン光)とがあるが、本発明により作製される発光装置は、どちらの発光を用いた場合にも適用可能である。
【0044】
また、本発明の発光装置において、画面表示の駆動方法は特に限定されず、例えば、点順次駆動方法や線順次駆動方法や面順次駆動方法などを用いればよい。代表的には、線順次駆動方法とし、時分割階調駆動方法や面積階調駆動方法を適宜用いればよい。また、発光装置のソース線に入力する映像信号は、アナログ信号であってもよいし、デジタル信号であってもよく、適宜、映像信号に合わせて駆動回路などを設計すればよい。
【0045】
また、本明細書中では、陰極、EL層及び陽極で形成される発光素子をEL素子といい、これには、互いに直交するように設けられた2種類のストライプ状電極の間にEL層を形成する方式(単純マトリクス方式)、又はTFTに接続されマトリクス状に配列された画素電極と対向電極との間にEL層を形成する方式(アクティブマトリクス方式)の2種類がある。
【0046】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態について、以下に説明する。
【0047】
(実施の形態1)
図2に本発明の蒸着装置の上面図を示す。
【0048】
図2において、成膜室101は、基板保持手段(図示しない)と、蒸着シャッター(図示しない)が設置された蒸着源ホルダ104と、蒸着源ホルダを移動させる手段(図示しない)と、減圧雰囲気にする手段(真空排気手段)とを有する。この成膜室101は、減圧雰囲気にする手段により、真空度が5×10−3Torr(0.665Pa)以下、好ましくは10−4〜10−6Paまで真空排気される。
【0049】
また、成膜室には、蒸着時に材料ガスを数sccm導入するガス導入系(図示しない)と、成膜室内を常圧にする不活性ガス(Ar、N2など)導入系(図示しない)とが連結されている。さらにクリーニングガス(H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガス)導入系を設けてもよい。なお、ガス導入口から最短距離でガス排出口に材料ガスが流れないようにすることが望ましい。
【0050】
また、成膜時に意図的に材料ガスを導入し、材料ガスの成分を有機化合物膜中に含ませることによって高密度な膜とし、劣化を引き起こす酸素や水分などの不純物が膜中に侵入、拡散することをブロッキングしてもよい。材料ガスとして、具体的には、シラン系ガス(モノシラン、ジシラン、トリシラン等)、SiF4、GeH4、GeF4、SnH4、または炭化水素系ガス(CH4、C2H2、C2H4、C6H6等)から選ばれた一種または複数種を用いればよい。なお、これらのガスを水素やアルゴンなどで希釈した混合ガスも含む。装置内部に導入されるこれらのガスは、装置内に導入される前にガス精製機により高純度化されたものを用いる。従って、ガスが高純度化された後に蒸着装置に導入されるようにガス精製機を備えておく必要がある。これにより、ガス中に含まれる残留気体(酸素や水分、その他の不純物など)を予め除去することができるため、装置内部にこれらの不純物が導入されるのを防ぐことができる。
【0051】
例えば、モノシランガスを蒸着時に導入することにより、膜中にSiを含ませ、発光素子を完成させた後、ピンホールやショートの不良部分があった場合に、その不良部分が発熱することによってSiが反応してSiOx、SiCxなどの絶縁性の絶縁物を形成し、ピンホールやショートの部分におけるリークが低減され、点欠(ダークスポットなど)が進行しなくなるというセルフヒーリングの効果も得られる。
【0052】
なお、上記材料ガスを導入する場合には、クライオポンプに加えてターボ分子ポンプやドライポンプを併設することが好ましい。
【0053】
また、成膜室101内において、蒸着源ホルダ104は、図2中の鎖線に示した移動経路を複数回移動することが可能である。なお、図2に示した移動経路は一例であって特に限定されない。膜厚を均一とするために、図2に示すように移動経路をずらして蒸着源ホルダを移動させ、蒸着を行うことが好ましい。また、同一の移動経路を往復させてもよい。また、蒸着ホルダの移動速度も移動経路の区間ごとに適宜変化させることによって膜厚の均一性を図り、且つ、成膜にかかる時間を短縮してもよい。
【0054】
また、蒸着源ホルダ104には蒸着材料が封入された容器(ルツボ106)や膜厚モニタ105が設置されている。ここでは1つの蒸着源ホルダ104に4個のルツボと、4個の膜厚モニタが設置されている例を示す。
【0055】
この膜厚モニタ105により、蒸着膜の膜厚を測定しながら蒸着することができる。この膜厚モニタ105、例えば水晶振動子を用いて蒸着膜の膜厚を測定する場合、水晶振動子に蒸着された膜の質量変化を、共振周波数の変化として測定することができる。
【0056】
また、膜厚モニタ105の交換やクリーニングは、蒸着ホルダ104を設置室103bに移動させてから行う。設置室103bではシャッター(図示しない)に蒸着された付着物を回収してもよい。また、設置室103bでは抵抗加熱により、蒸着材料を予め昇華(気化)させ、蒸着速度が安定したら、シャッター114を開き、蒸着源ホルダ104を成膜室101内部に移動させて基板100に蒸着を行ってもよい。設置室103bで予め加熱させることで成膜に要するトータル時間の短縮を図ることができる。
【0057】
また、図2では複数の蒸着ホルダ104が設置室103bに待機できるようになっており、順次移動させて、複数種類の膜を積層することができる。複数の蒸着ホルダ104を用いることによって連続的に積層成膜を行うことができる。
【0058】
また、蒸着ホルダ104にルツボ106を設置するのも設置室103bで行う。図5(A)および図5(B)に搬送の様子を示す。なお、図2に対応する部分には同一の符号を用いる。ルツボ106は、上部パーツ721aと下部パーツ721bからなる容器に真空で密封された状態で設置室103aの扉111から搬入する。まず、搬入した容器を容器設置用回転台109に載せ、留め具702を外す。(図5(A))内部は真空状態であるので大気圧下では留め具702を外しても取れない。次いで、設置室103a内を真空排気して、容器の蓋(上部パーツ721a)が取れる状態とする。
【0059】
搬送する容器の形態について図5(A)を用いて具体的に説明する。搬送に用いる上部(721a)と下部(721b)に分かれる第2の容器は、第2の容器の上部に設けられた第1の容器(ルツボ)を固定するための固定手段706と、固定手段に加圧するためのバネ705と、第2の容器の下部に設けられた第2の容器を減圧保持するためガス経路となるガス導入口708と、上部容器721aと下部容器721bとを固定するOリングと、留め具702と有している。この第2の容器内には、精製された蒸着材料が封入された第1の容器106が設置されている。なお、第2の容器はステンレスを含む材料で形成され、第1の容器106はチタンを有する材料で形成するとよい。
【0060】
材料メーカーにおいて、第1の容器106に精製した蒸着材料を封入する。そして、Oリング707を介して第2の上部721aと下部721bとを合わせ、留め具702で上部容器721aと下部容器721bとを固定し、第2の容器内に第1の容器106を密閉する。その後、ガス導入口708を介して第2の容器内を減圧し、更に窒素雰囲気に置換し、バネ705を調節して固定手段706により第1の容器106を固定する。なお、第2の容器内に乾燥剤を設置してもよい。このように第2の容器内を真空や減圧、窒素雰囲気に保持すると、蒸着材料へのわずかな酸素や水の付着でさえも防止することができる。
【0061】
次いで、蓋搬送用ロボット108によって容器の蓋を持ち上げ、蓋設置用台107に移動させる。なお、本発明の搬送機構は、図5(B)に記載されるように第1の容器106の上方から、該第1の容器を挟んで(つまんで)搬送する構成に限定されるものではなく、第1の容器の側面を挟んで搬送する構成でも構わない。
【0062】
次いで、容器設置用回転台109を回転させた後、台に容器の下部パーツを残したまま、ルツボのみをルツボ搬送用ロボット110で持ち上げる。(図5(B))最後に、設置室103bに待機している蒸着ホルダにルツボをセットする。
【0063】
なお、ここでは設置室103a、103bをシャッター113で仕切っているが、特になくともよい。なお、設置室103a、103bはそれぞれ独立して真空排気することが可能である。
【0064】
また、図2に示す蒸着装置においては、蒸着の際、基板100と蒸着源ホルダ104との間隔距離を代表的には30cm以下、好ましくは20cm以下、さらに好ましくは5cm〜15cmに狭め、蒸着材料の利用効率及びスループットを格段に向上させている。
【0065】
また、成膜室101には、搬送室102からシャッター115を通過して搬入された基板100と、蒸着マスク(図示しない)とが設置される。なお、CCDカメラ(図示しない)を用いて蒸着マスクや基板のアライメントを確認するとよい。基板と蒸着マスクにそれぞれアライメントマーカーを設けておき、位置制御を行えばよい。
【0066】
また、蒸着の際、基板付近を拡大した断面模式図を図3(A)に示す。なお、図3において図2と同一の箇所には同じ符号を用いる。図3(A)では2個の容器(ルツボ)106を備えた蒸着ホルダ104を示している。容器106には適宜、膜厚モニタ105を設ける。傾き調節ネジは、膜厚モニタと同様に適宜設けられ、ヒーター203ごと基板100に対して傾けることができる。なお、図3(A)中の鎖線は蒸着中心を示している。ここでは加熱手段としてヒーター203を用いており、抵抗加熱法で蒸着を行う。2個の容器(ルツボ)106を同時に加熱して2個の容器口から基板の一点に向けて蒸発させている。さらに3個以上の容器を用いて蒸着を行えば、さらに短時間で所望の膜厚を得ることができる。また、異なる蒸着材料が収納された2個の容器(ルツボ)を用いて共蒸着を行うことができ、さらに3個以上の容器を用いて蒸着を行えば、蒸着源に設置する容器の数と同数種類を含む膜を得ることができる。
【0067】
また、蒸着を行う前、基板付近を拡大した断面模式図を図3(B)に示す。図3(B)で示すように基板はシャッター201で遮蔽し、ルツボはシャッター204で遮蔽している。シャッター204には穴が設けてあり、シャッターを閉めた状態であっても膜厚モニタに蒸着が行われ、蒸着速度を測定、および制御しつづけることができるようになっている。
【0068】
また、蒸着後の蒸着ホルダの断面図を図4(A)に示す。なお、図4において図2と同一の箇所には同じ符号を用いる。蒸着後には、シャッター204に付着物205が固着する。図4(B)にはシャッター204に蒸着された付着物205を回収する様子を示している。回収するために加熱ランプ206からの光の照射によってシャッター204を加熱させている。付着物205は、ある温度以上に加熱されると溶融、または蒸発する。回収された材料は再度、蒸着に利用(再利用)することができる。この回収作業は、成膜室以外、例えば設置室で行うことが好ましく、シャッター204のクリーニング、およびランプで照射される蒸着ホルダ部品のクリーニングを兼ねている。
【0069】
また、設置室にクリーニングガス(H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガス)導入系を設け、クリーニングガスを用いて蒸着ホルダおよびシャッター204などの部品をクリーニングしてもよい。また、設置室にプラズマ発生手段を設け、プラズマを発生させる、或いは該設置室内にプラズマによってイオン化されたガスを導入して設置室内壁、蒸着ホルダ、およびシャッター204などの部品をクリーニングし、真空排気手段により排気してもよい。クリーニングするためのプラズマは、Ar、N2、H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガスを励起して発生させればよい。
【0070】
このように、蒸着ホルダを設置室まで移動させ、設置室でクリーニングをすることによって、成膜室の清浄度を保つことができる。
【0071】
(実施の形態2)
図1にマルチチャンバー型の製造装置の上面図を示す。図1に示す製造装置は、タスク向上を図ったチャンバー配置としている。
【0072】
上記実施の形態1で示した蒸着装置によって、成膜時間を短縮できるものの、他の装置、例えば数分で成膜処理が終わるスパッタ装置と比べて蒸着に時間を要してしまう。
【0073】
蒸着装置で、有機化合物を含む層を積層形成する場合に他の装置に比べ時間がかかるため、図1では蒸着装置を複数配置する構成としている。加えて、加熱処理(真空加熱も含む)にも時間がかかるため、加熱室も複数配置している。図1に示すチャンバー配置とすることでタスクを合わせ、効率よくパネルを作製することができる。
【0074】
抵抗加熱法を用いた蒸着装置において、1回の成膜毎に必要とされる作業は、蒸着ホルダにセットする容器(ルツボ、蒸着ボートなど)への蒸着材料収納作業、成膜室への基板搬入作業、成膜室内の真空排気作業、蒸着速度が安定するまで行われる容器(ルツボ)の予備加熱作業、成膜作業、成膜後の容器(ルツボ)の冷却作業、成膜室内の窒素充填作業、成膜室から基板搬出作業などがある。
【0075】
図1に示す製造装置においては、少なくとも搬送室504a、504bを常に真空に保ち、且つ、成膜室506R、506G、506B、506R’、506G’、506B’を常に真空に保つ。従って、成膜室内の真空排気作業、および成膜室内の窒素充填作業が省略でき、連続的に成膜処理を行うことができる。なお、成膜室506R、506G、506B、506R’、506G’、506B’は上記実施の形態1で示した蒸着装置を用い、蒸着材料収納作業や蒸着ホルダの部品交換などは設置室526R、526G、526B、526R’、526G’、526B’で行われる。
【0076】
1つの成膜室では、異なる材料層の積層からなる発光層(正孔輸送層、正孔注入層、電子輸送層、電子注入層などを含む)の成膜が行われる。例えば、フルカラーの発光素子を形成する場合、成膜室506RでR用の蒸着マスクを用い、正孔輸送層または正孔注入層、発光層(R)、電子輸送層または電子注入層を順次積層し、成膜室506GでG用の蒸着マスクを用い、正孔輸送層または正孔注入層、発光層(G)、電子輸送層または電子注入層を順次積層し、成膜室506BでB用の蒸着マスクを用い、正孔輸送層または正孔注入層、発光層(B)、電子輸送層または電子注入層を順次積層した後、成膜室510aまたは成膜室510bで陰極を形成すればフルカラーの発光素子を得ることができる。フルカラーの発光素子を形成する場合、発光色毎に蒸着マスクの開口位置は異なるが基本的な開口パターンは同一である。
【0077】
また、成膜室506R、506G、506Bとで積層する製造ラインと、成膜室506R’、506G’、506B’ とで積層する製造ラインで全く異なるマスクを用い、発光領域のパターンが異なるパネルを同時に作製することもできる。
【0078】
また、成膜室506R、506G、506Bとで積層する製造ラインを稼動させたまま、成膜室506R’、506G’、506B’ とで積層する製造ラインのメンテナンスを行うことも可能である。
【0079】
また、ここではR用の成膜室506R、G用の成膜室506G、B用の成膜室506Bとそれぞれ設け、フルカラーのパネルを作製する例を示したが、単色発光(白色)のパネルを作製することも可能である。図1に示す製造装置を白色発光の発光装置作製用とする場合には、同じチャンバーを6個設置することができ、より多くの基板を処理することができる。
【0080】
以下、予め陽極(第1の電極)と、該陽極の端部を覆う絶縁物(隔壁)とが設けられた基板を図1に示す製造装置に搬入し、発光装置を作製する手順を示す。なお、アクティブマトリクス型の発光装置を作製する場合、予め基板上には、陽極に接続している薄膜トランジスタ(電流制御用TFT)およびその他の薄膜トランジスタ(スイッチング用TFTなど)が複数設けられ、薄膜トランジスタからなる駆動回路も設けられている。また、単純マトリクス型の発光装置を作製する場合にも図1に示す製造装置で作製することが可能である。
【0081】
まず、基板投入室520に上記基板をセットする。基板サイズは、320mm×400mm、370mm×470mm、550mm×650mm、600mm×720mm、680mm×880mm、1000mm×1200mm、1100mm×1250mm、さらには1150mm×1300mmのような大面積基板でも対応可能である。
【0082】
基板投入室520にセットした基板(陽極と、該陽極の端部を覆う絶縁物とが設けられた基板)は搬送室518に搬送する。なお、搬送室518には基板を搬送または反転するための搬送機構(搬送ロボットなど)と真空排気手段とが設けており、他の搬送室504a、504b、508、514、502も同様にそれぞれ搬送機構と真空排気手段とが設けてある。搬送室518に設けられたロボットは、基板の表裏を反転させることができ、受渡室505に反転させて搬入することができる。また、搬送室518は大気圧もしくは真空を維持することができる。搬送室518や受渡室505は、真空排気処理室と連結されており、真空排気して真空にすることも、真空排気した後、不活性ガスを導入して大気圧にすることもできる。
【0083】
また、上記の真空排気処理室としては、磁気浮上型のターボ分子ポンプ、クライオポンプ、またはドライポンプが備えられている。これにより各室と連結された搬送室の到達真空度を10−5〜10−6Paにすることが可能であり、さらにポンプ側および排気系からの不純物の逆拡散を制御することができる。装置内部に不純物が導入されるのを防ぐため、導入するガスとしては、窒素や希ガス等の不活性ガスを用いる。装置内部に導入されるこれらのガスは、装置内に導入される前にガス精製機により高純度化されたものを用いる。従って、ガスが高純度化された後に蒸着装置に導入されるようにガス精製機を備えておく必要がある。これにより、ガス中に含まれる酸素や水、その他の不純物を予め除去することができるため、装置内部にこれらの不純物が導入されるのを防ぐことができる。
【0084】
また、基板投入室520にセットする前には、点欠陥を低減するために第1の電極(陽極)の表面に対して界面活性剤(弱アルカリ性)を含ませた多孔質なスポンジ(代表的にはPVA(ポリビニルアルコール)製、ナイロン製など)で洗浄して表面のゴミを除去することが好ましい。洗浄機構として、基板の面に平行な軸線まわりに回動して基板の面に接触するロールブラシ(PVA製)を有する洗浄装置を用いてもよいし、基板の面に垂直な軸線まわりに回動しつつ基板の面に接触するディスクブラシ(PVA製)を有する洗浄装置を用いてもよい。
【0085】
次いで、搬送室518から受渡室505に基板を搬送し、さらに、大気にふれさせることなく、受渡室505から搬送室502に基板を搬送する。
【0086】
また、シュリンクをなくすために、有機化合物を含む膜の蒸着直前に真空加熱を行うことが好ましく、基板を搬送室502から多段真空加熱室521a、521bに搬送し、上記基板に含まれる水分やその他のガスを徹底的に除去するために、脱気のためのアニールを真空(5×10−3Torr(0.665Pa)以下、好ましくは10−4〜10−6Pa)で行う。ここでは、効率よく真空加熱を行うために、2つの多段真空加熱室521a、521bを設けている。多段真空加熱室521a、521bでは平板ヒータ(代表的にはシースヒータ)を用いて、複数の基板を均一に加熱する。この平板ヒータは複数設置され、平板ヒータで基板を挟むように両面から加熱することもでき、勿論、片面から加熱することもできる。特に、層間絶縁膜や隔壁の材料として有機樹脂膜を用いた場合、有機樹脂材料によっては水分を吸着しやすく、さらに脱ガスが発生する恐れがあるため、有機化合物を含む層を形成する前に100℃〜250℃、好ましくは150℃〜200℃、例えば30分以上の加熱を行った後、30分の自然冷却を行って吸着水分を除去する真空加熱を行うことは有効である。
【0087】
また、必要であれば、成膜室512a、512bで大気圧下、または減圧下でインクジェット法やスピンコート法やスプレー法などで高分子材料からなる正孔注入層を形成してもよい。また、インクジェット法で塗布した後、スピンコータで膜厚の均一化を図ってもよい。同様に、スプレー法で塗布した後、スピンコータで膜厚の均一化を図ってもよい。また、基板を縦置きとして真空中でインクジェット法により成膜してもよい。
【0088】
例えば、成膜室512a、512bで第1の電極(陽極)上に、正孔注入層(陽極バッファー層)として作用するポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリ(スチレンスルホン酸)水溶液(PEDOT/PSS)、ポリアニリン/ショウノウスルホン酸水溶液(PANI/CSA)、PTPDES、Et−PTPDEK、またはPPBAなどを全面に塗布、焼成してもよい。焼成する際にはベーク室523a、523bで行うことが好ましい。ここでは、効率よく成膜を行うために、2つの成膜室512a、512bと、2つのベーク室523a、523bとを設けている。
【0089】
スピンコートなどを用いた塗布法で高分子材料からなる正孔注入層を形成した場合、平坦性が向上し、その上に成膜される膜のカバレッジおよび膜厚均一性を良好なものとすることができる。特に発光層の膜厚が均一となるため均一な発光を得ることができる。この場合、正孔注入層を塗布法で形成した後、蒸着法による成膜直前に真空加熱(100〜200℃)を行うことが好ましい。真空加熱する際には多段真空加熱室521a、521bに搬送して行えばよい。
【0090】
例えば、第1の電極(陽極)の表面をスポンジで洗浄した後、基板投入室520に搬入し、成膜室512aに搬送してスピンコート法でポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリ(スチレンスルホン酸)水溶液(PEDOT/PSS)を全面に膜厚60nmで塗布した後、ベーク室523aに搬送して80℃、10分間で仮焼成、200℃、1時間で本焼成し、さらに多段真空加熱室521aに搬送して蒸着直前に真空加熱(170℃、加熱30分、冷却30分)した後、成膜室506R、506G、506Bに搬送して大気に触れることなく蒸着法で発光層の形成を行えばよい。特に、ITO膜を陽極材料として用い、表面に凹凸や微小な粒子が存在している場合、PEDOT/PSSの膜厚を30nm以上の膜厚とすることでこれらの影響を低減することができる。
【0091】
また、スピンコート法によりPEDOT/PSSを成膜した場合、全面に成膜されるため、基板の端面や周縁部、端子部、陰極と下部配線との接続領域などは選択的に除去することが好ましく、前処理室503でマスクを使用してO2アッシングなどにより選択的に除去することが好ましい。前処理室503はプラズマ発生手段を有しており、Ar、H、F、およびOから選ばれた一種または複数種のガスを励起してプラズマを発生させることによって、ドライエッチングを行う。マスクを使用することによって不要な部分だけ選択的に除去することができる。また、陽極表面処理として紫外線照射が行えるように前処理室503にUV照射機構を備えてもよい。
【0092】
なお、蒸着マスクはマスクストック室524にストックして、適宜、蒸着を行う際に成膜室に搬送する。マスクストック室524で蒸着マスクのクリーニングを行ってもよい。また、蒸着の際にはマスクストック室が空くため、成膜後または処理後の基板をストックすることも可能である。
【0093】
次いで、搬送室502から受渡室507に基板を搬送し、さらに、大気にふれさせることなく、受渡室507から搬送室504aに基板を搬送する。
【0094】
次いで、搬送室504aまたは搬送室504bに連結された成膜室506R、506G、506B、506R’、506G’、506B’へ基板を適宜、搬送して、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、または電子注入層となる低分子からなる有機化合物層を適宜形成する。EL材料を適宜選択することにより、発光素子全体として、単色(具体的には白色)、或いはフルカラー(具体的には赤色、緑色、青色)の発光を示す発光素子を形成することができる。なお、搬送室504aから搬送室504bへの基板搬送は、大気にふれさせることなく、受渡室540を経由して搬送する。
【0095】
また、各成膜室506R、506G、506B、506R’、506G’、506B’には、実施の形態1に示したように移動可能な蒸着源ホルダが設置されている。この蒸着源ホルダは複数用意されており、適宜、EL材料が封入された容器(ルツボ)を複数備え、この状態で成膜室に設置されている。フェイスダウン方式で基板をセットし、CCDなどで蒸着マスクの位置アライメントを行い、抵抗加熱法で蒸着を行うことで選択的に成膜を行うことができる。
【0096】
EL材料が封入された容器(ルツボ)の設置は、設置室526R、526G、526B、526R’、526G’、526B’で行う。予め材料メーカーでEL材料を容器(代表的にはルツボ)に収納してもらう。なお、設置する際には大気に触れることなく行うことが好ましく、材料メーカーから搬送する際、ルツボは第2の容器に密閉した状態のまま設置室に導入される。設置室を真空とし、設置室の中で第2の容器からルツボを取り出して、蒸着ホルダにルツボを設置する。こうすることにより、ルツボおよび該ルツボに収納されたEL材料を汚染から防ぐことができる。
【0097】
次いで、搬送室504b内に設置されている搬送機構により、基板を成膜室510a、510bに搬送し、陰極を形成する。この陰極は、抵抗加熱を用いた蒸着法により形成される無機膜(MgAg、MgIn、CaF2、LiF、CaNなどの合金、または周期表の1族もしくは2族に属する元素とアルミニウムとを共蒸着法により形成した膜、またはこれらの積層膜)である。また、成膜室509bに搬送し、スパッタ法を用いて陰極を形成してもよい。なお、搬送室504aから受渡室541に基板を搬送し、さらに、大気にふれさせることなく、受渡室541から搬送室508に基板を搬送した後、成膜室509bに搬送すればよい。
【0098】
また、上面出射型または両面出射型の発光装置を作製する場合には、陰極は透明または半透明であることが好ましく、上記金属膜の薄膜(1nm〜10nm)、或いは上記金属膜の薄膜(1nm〜10nm)と透明導電膜との積層を陰極とすることが好ましい。この場合、スパッタ法を用いて成膜室509aで透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)からなる膜を形成すればよい。
【0099】
以上の工程で積層構造の発光素子が形成される。
【0100】
また、搬送室508に連結した成膜室513a、513bに搬送して窒化珪素膜、または窒化酸化珪素膜からなる保護膜を形成して封止してもよい。ここでは、成膜室513a、513b内には、珪素からなるターゲット、または酸化珪素からなるターゲット、または窒化珪素からなるターゲットが備えられている。
【0101】
また、固定している基板に対して棒状のターゲットを移動させて保護膜を形成してもよい。また、固定している棒状のターゲットに対して、基板を移動させることによって保護膜を形成してもよい。
【0102】
例えば、珪素からなる円盤状のターゲットを用い、成膜室雰囲気を窒素雰囲気または窒素とアルゴンを含む雰囲気とすることによって陰極上に窒化珪素膜を形成することができる。また、炭素を主成分とする薄膜(DLC膜、CN膜、アモルファスカーボン膜)を保護膜として形成してもよく、別途、CVD法を用いた成膜室を設けてもよい。ダイヤモンドライクカーボン膜(DLC膜とも呼ばれる)は、プラズマCVD法(代表的には、RFプラズマCVD法、マイクロ波CVD法、電子サイクロトロン共鳴(ECR)CVD法、熱フィラメントCVD法など)、燃焼炎法、スパッタ法、イオンビーム蒸着法、レーザー蒸着法などで形成することができる。成膜に用いる反応ガスは、水素ガスと、炭化水素系のガス(例えばCH4、C2H2、C6H6など)とを用い、グロー放電によりイオン化し、負の自己バイアスがかかったカソードにイオンを加速衝突させて成膜する。また、CN膜は反応ガスとしてC2H4ガスとN2ガスとを用いて形成すればよい。なお、DLC膜やCN膜は、可視光に対して透明もしくは半透明な絶縁膜である。可視光に対して透明とは可視光の透過率が80〜100%であることを指し、可視光に対して半透明とは可視光の透過率が50〜80%であることを指す。
【0103】
例えば、陰極上に第1の無機絶縁膜と、応力緩和膜と、第2の無機絶縁膜との積層からなる保護層を形成する。例えば、陰極を形成した後、成膜室513a、513bに搬送して第1の無機絶縁膜を5nm〜50nm形成し、成膜室506Bに搬送して蒸着法で吸湿性および透明性を有する応力緩和膜(有機化合物を含む層など)を10nm〜100nm形成し、さらに再度、成膜室513a、513bに搬送して第2の無機絶縁膜を5nm〜50nm形成すればよい。
【0104】
次いで、発光素子が形成された基板を大気に触れることなく、搬送室508から受渡室511に搬送し、さらに受渡室511から搬送室514に搬送する。なお、搬送室514においては、大気圧で基板搬送を行うが、水分を除去するため、真空と、大気圧での窒素雰囲気とを繰り返すことができるようになっている。次いで、発光素子が形成された基板を搬送室514から封止室516に搬送する。
【0105】
封止基板は、ロード室517に外部からセットし、用意される。なお、水分などの不純物を除去するために予め多段加熱室516で真空アニールを行うことが好ましい。そして、封止基板に発光素子が設けられた基板と貼り合わせるためのシール材を形成する場合には、シーリング室でシール材を形成し、シール材を形成した封止基板を封止基板ストック室530に搬送する。なお、シーリング室において、封止基板に乾燥剤を設けてもよい。なお、ここでは、封止基板にシール材を形成した例を示したが、特に限定されず、発光素子が形成された基板にシール材を形成してもよい。
【0106】
次いで、封止、取出室519で基板と封止基板と貼り合わせ、貼り合わせた一対の基板を封止、取出室519に設けられた紫外線照射機構によってUV光を照射してシール材を硬化させる。なお、ここではシール材として紫外線硬化樹脂を用いたが、接着材であれば、特に限定されない。
【0107】
次いで、貼り合わせた一対の基板を封止、取出室519から取り出す。
【0108】
以上のように、図1に示した製造装置を用いることで完全に発光素子を密閉空間に封入するまで大気に曝さずに済むため、信頼性の高い発光装置を作製することが可能となる。なお、搬送室502、504a、504b、508は常時、真空が保たれることが望ましい。
【0109】
なお、ここでは図示しないが、各処理室での作業をコントロールするための制御装置や、各処理室間を搬送するための制御装置や、基板を個々の処理室に移動させる経路を制御して自動化を実現するコントロール制御装置などを設けている。
【0110】
また、図1に示す製造装置では、陽極として透明導電膜(または金属膜(TiN)が設けられた基板を搬入し、有機化合物を含む層を形成した後、透明または半透明な陰極(例えば、薄い金属膜(Al、Ag)と透明導電膜の積層)を形成することによって、上面出射型(或いは両面出射)の発光素子を形成することも可能である。なお、上面出射型の発光素子とは、陰極を透過させて有機化合物層において生じた発光を取り出す素子を指している。
【0111】
また、図1に示す製造装置では、陽極として透明導電膜が設けられた基板を搬入し、有機化合物を含む層を形成した後、金属膜(Al、Ag)からなる陰極を形成することによって、下面出射型の発光素子を形成することも可能である。なお、下面出射型の発光素子とは、有機化合物層において生じた発光を透明電極である陽極からTFTの方へ取り出し、さらに基板を通過させる素子を指している。
【0112】
また、本実施の形態は、実施の形態1と自由に組み合わせることができる。
【0113】
以上の構成でなる本発明について、以下に示す実施例でもってさらに詳細な説明を行うこととする。
【0114】
(実施例)
[実施例1]
本実施例では、大気開放することなく成膜室内のクリーニングおよび蒸着マスクのクリーニングを行うことが可能な成膜室の例を示す。図6は、本発明の成膜装置における断面図の一例である。
【0115】
図6に示すように、高周波電源1300aとコンデンサ1300bを介して接続された蒸着マスク1302aと、電極1302bとの間でプラズマ1301を発生させる例を示す。
【0116】
図6中、基板が設けられる箇所(図中において点線でしめした箇所)に接して、ホルダに固定された蒸着マスク1302aが備えられており、さらにその下方には、それぞれ異なる温度に加熱することも可能な蒸着源ホルダ1322が設けられている。なお、蒸着源ホルダ1322は移動機構1328によりX方向、Y方向、またはZ方向に移動可能である。
【0117】
蒸着ホルダに設けられた加熱手段(代表的には抵抗加熱法)により内部の有機化合物が昇華温度まで加熱されると、気化して基板の表面へ蒸着される。なお、蒸着する際には、蒸着を妨げないような位置に基板シャッター1320は移動させる。また、蒸着ホルダには一緒に移動するシャッター1321も設けられており、蒸着したい時に蒸着を妨げないような位置に移動させる。
【0118】
また、蒸着の際に、有機化合物材料の粒子よりも小さい粒子、即ち原子半径の小さい材料からなるガスを微量に流し、有機化合物膜中に原子半径の小さい材料を含ませることを可能とするガス導入系が設けられている。上記原子半径の小さい材料ガスとして、具体的には、シラン系ガス(モノシラン、ジシラン、トリシラン等)、SiF4、GeH4、GeF4、SnH4、または炭化水素系ガス(CH4、C2H2、C2H4、C6H6等)から選ばれた一種または複数種を用いればよい。なお、これらのガスを水素やアルゴンなどで希釈した混合ガスも含む。装置内部に導入されるこれらのガスは、装置内に導入される前にガス精製機により高純度化されたものを用いる。従って、ガスが高純度化された後に蒸着装置に導入されるようにガス精製機を備えておく必要がある。これにより、ガス中に含まれる残留気体(酸素や水分、その他の不純物など)を予め除去することができるため、装置内部にこれらの不純物が導入されるのを防ぐことができる。
【0119】
例えば、モノシランガスを蒸着時に導入することにより、膜中にSiを含ませ、発光素子を完成させた後、ピンホールやショートの不良部分があった場合に、その不良部分が発熱することによってSiが反応してSiOx、SiCxなどの絶縁性の絶縁物を形成し、ピンホールやショートの部分におけるリークが低減され、点欠(ダークスポットなど)が進行しなくなるというセルフヒーリングの効果も得られる。
【0120】
また、基板を加熱することによって導入した材料ガスの成分が基板上に効率よく堆積するようにしてもよい。
【0121】
また、プラズマ発生手段によりラジカル化させてもよい。例えば、モノシランの場合、プラズマ発生手段により、SiHx、SiHxOy、SiOyなどの酸化シリコン前駆体が生成され、これらが蒸発源からの有機化合物材料とともに基板上に堆積される。モノシランは酸素や水分と反応しやすく、成膜室内の酸素濃度や水分量を低減することもできる。
【0122】
また、様々なガスを導入することが可能なように、真空排気処理室としては、磁気浮上型のターボ分子ポンプ1326とクライオポンプ1327とが備えられている。これにより成膜室の到達真空度を10−5〜10−6Paにすることが可能である。なお、クライオポンプ17で真空排気を行った後、クライオポンプ17を停止し、ターボ分子ポンプ16で真空排気を行いつつ、材料ガスを数sccm流しながら蒸着を行うこととする。また、イオンプレーティング法を用い、成膜室内で材料ガスをイオン化させ、蒸発させた有機材料に付着させながら蒸着を行ってもよい。
【0123】
蒸着が終了した後、基板を取出し、成膜装置の内部に設けられる治具、及び成膜装置の内壁に付着した蒸着材料を大気解放しないで除去するクリーニングを行う。
【0124】
また、クリーニングの際には、蒸着ホルダ1322を設置室(ここでは図示しない)に移動させて行うことが好ましい。
【0125】
このクリーニングの際には、蒸着マスク1302aと対向する位置にワイヤ電極1302bを移動させる。さらに、成膜室1303にガスを導入する。成膜室1303に導入するガスとしては、Ar、H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガスを用いればよい。次いで、高周波電源1300aから蒸着マスク1302aに高周波電界を印加してガス(Ar、H、F、NF3、またはO)を励起してプラズマ1301を発生させる。こうして、成膜室1303内にプラズマ1301を発生させ、成膜室内壁、防着シールド1305、または蒸着マスク1302aに付着した蒸着物を気化させて成膜室外に排気する。図6に示す成膜装置によって、メンテナンス時に成膜室内または蒸着マスクを大気にふれることなくクリーニングすることが可能となる。
【0126】
なお、ここでは、蒸着マスク1302aと、該マスクと前記蒸着源ホルダ1306との間に配置された電極1302bとの間に発生させた例を示したが、特に限定されず、プラズマ発生手段を有していればよい。また、電極1302bに高周波電源を接続してもよいし、ワイヤ電極1302bを板状やメッシュ状の電極としてもよいし、シャワーヘッドのようにガスを導入できる電極としてもよい。なお、プラズマ発生方法としては、ECR、ICP、ヘリコン、マグネトロン、2周波、トライオードまたはLEP等を適宜用いることができる。
【0127】
また、上記プラズマによるクリーニングは、1回の成膜プロセス毎に行ってもよいし、複数回の成膜プロセスを行った後に行うことも可能である。
【0128】
また、本実施例は、実施の形態1または実施の形態2と自由に組み合わせることが可能である。
【0129】
[実施例2]
本実施例では、蒸着時に材料ガスを数sccm導入する成膜装置の例を図7に示す。
【0130】
図7中、20は基板、21はチャンバー壁、22は基板ホルダ、23はセル、25aは蒸発させた第1の材料、25bは蒸発させた第2の材料、26はターボ分子ポンプ、27はクライオポンプ、28はセルを移動させる移動機構である。基板を回転させる必要がないため、大面積基板に対応可能な蒸着装置を提供することができる。また、蒸着セル23が基板に対してX軸方向またはY軸方向またZ軸方向に移動することにより、蒸着膜を均一に成膜することが可能となる。
【0131】
本発明の蒸着装置においては、蒸着の際、基板20と蒸着セル23との間隔距離dを代表的には30cm以下、好ましくは20cm以下、さらに好ましくは5cm〜15cmに狭め、蒸着材料の利用効率及びスループットを格段に向上させている。
【0132】
また、蒸着セル23に備えられる有機化合物は必ずしも一つまたは一種である必要はなく、複数であってもよい。例えば、蒸着源ホルダに発光性の有機化合物として備えられている一種類の材料の他に、ドーパントとなりうる別の有機化合物(ドーパント材料)を一緒に備えておいても良い。蒸着させる有機化合物層として、ホスト材料と、ホスト材料よりも励起エネルギーが低い発光材料(ドーパント材料)とで構成し、ドーパントの励起エネルギーが、正孔輸送性領域の励起エネルギーおよび電子輸送層の励起エネルギーよりも低くなるように設計することが好ましい。このことにより、ドーパントの分子励起子の拡散を防ぎ、効果的にドーパントを発光させることができる。また、ドーパントがキャリアトラップ型の材料であれば、キャリアの再結合効率も高めることができる。また、三重項励起エネルギーを発光に変換できる材料をドーパントとして混合領域に添加した場合も本発明に含めることとする。また、混合領域の形成においては、混合領域に濃度勾配をもたせてもよい。
【0133】
さらに、一つの蒸着源ホルダに備えられる有機化合物を複数とする場合、互いの有機化合物が混ざりあうように蒸発する方向を被蒸着物の位置で交差するように斜めにすることが望ましい。また、共蒸着を行うため、蒸着セルに、4種の蒸着材料(例えば、蒸着材料aとしてホスト材料2種類、蒸着材料bとしてドーパント材料2種類)を備えてもよい。
【0134】
また、蒸着させるEL材料や金属材料に対して、酸素や水等の不純物が混入する恐れのある主な過程を挙げた場合、蒸着前にEL材料を成膜室にセットする過程、蒸着過程などが考えられる。
【0135】
そこで、成膜室に連結した前処理室にグローブを備え、蒸着源ごと成膜室から前処理室に移動させ、前処理室で蒸着源に蒸着材料をセットすることが好ましい。即ち、蒸着源が前処理室まで移動する製造装置とする。こうすることによって、成膜室の洗浄度を保ったまま、蒸着源をセットすることができる。
【0136】
図7に示す成膜装置においても、実施例1と同様にして、成膜時に意図的に材料ガスを導入し、材料ガスの成分を有機化合物膜中に含ませることによって高密度な膜とすることができる。材料ガスの成分を有機化合物膜中に含ませることによって劣化を引き起こす酸素や水分などの不純物が膜中に侵入、拡散することをブロッキングし、発光素子の信頼性を向上させることができる。
【0137】
また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、または実施例1と自由に組み合わせることが可能である。
【0138】
[実施例3]
実施の形態1では、加熱ランプを用いてシャッターを加熱して付着物を回収する例を示したが、本実施例では空の容器の一部をシャッターとして用いる例を図8に示す。
【0139】
図8(A)は、蒸着ホルダ600の移動を停止して成膜を停止している状態を示している。ヒーター603により加熱され容器602aから昇華した材料は、シャッター兼用容器602bの内壁に付着する。このシャッター602bの開閉によって蒸着を行う。本実施例の場合、実施の形態1のようにシャッターに穴が開いておらず、停止している間は、膜厚モニタ(図示しない)で蒸着速度を測定できないため、ヒーター温度で制御する。
【0140】
そして、設置室(図示しない)でシャッター602bを取り外し、蓋となる上部パーツ601を取り付けることによって602aおよび601からなる容器を完成させ、回収できた付着物を収納する。(図8(B))なお、シャッター602b内壁に枝部や突起部を設け、効率よく付着させ、付着物が落下しないようにしてもよい。
【0141】
次いで、蒸着ホルダ600に602aおよび601からなる容器を設置室でセットし、容器を加熱することによって回収した付着物を再度昇華させる。(図8(C))
【0142】
以上の手順によって蒸着材料を再利用することができる。
【0143】
また、シャッター602bを取り外す作業、蓋となる上部パーツ601を取り付ける作業、602aおよび601からなる容器を蒸着ホルダ600にセットする作業を全てまたは一部を自動で行う機構を設置室に設けてもよい。
【0144】
また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、実施例1、または実施例2と自由に組み合わせることが可能である。
【0145】
[実施例4]
本実施例では、基板保持手段の構成について図9を用いて詳述する。大面積基板を用い、多面取り(1枚の基板から複数のパネルを形成する)を行う際、スクライブラインとなる部分が接するように基板を支える基板保持手段を設ける。即ち、基板保持手段の上に基板を載せ、基板保持手段の下方に設けられた蒸着源ホルダから蒸着材料を昇華させて基板保持手段で接していない領域に蒸着を行う。こうすることによって、大面積基板のたわみを1mm以下に抑えることができる。
【0146】
また、マスク(代表的にはメタルマスク)を用いる場合、基板保持手段の上にマスクを載せ、さらにマスクの上に基板を載せればよい。こうすることによって、マスクのたわみを1mm以下に抑えることができる。また、蒸着マスクが基板と密接するようにしてもよいし、ある程度の間隔を有して固定する基板ホルダや蒸着マスクホルダを適宜設けてもよい。
【0147】
また、マスクやチャンバー内壁をクリーニングする場合には、上記基板保持手段を導電材料で形成し、基板保持手段に接続された高周波電源によってプラズマを発生させてマスクやチャンバー内壁に付着した蒸着材料を除去すればよい。
【0148】
図9(A)には、基板1403とマスク1402が載せられた基板保持手段301の斜視図を示しており、図9(B)は基板保持手段1401のみを示している。
【0149】
また、図9(C)は基板1403とマスク1402が載せられた基板保持手段の断面図を示しており、基板の重さに耐えられるよう基板保持手段の断面形状はH型としている。なお、基板保持手段の高さhは10mm〜50mm、幅wは1mm〜5mmの金属板(代表的にはTi)で構成する。
【0150】
この基板保持手段1401によって、基板のたわみ、またはマスクのたわみを抑えることができる。
【0151】
また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、実施例1、実施例2、または実施例3と自由に組み合わせることが可能である。
【0152】
[実施例5]
本実施例では、有機化合物膜中に存在するエネルギー障壁を緩和してキャリアの移動性を高めると同時に、なおかつ積層構造の機能分離と同様に各種複数の材料の機能を有する素子を作製する例を示す。
【0153】
積層構造におけるエネルギー障壁の緩和に関しては、キャリア注入層の挿入という技術に顕著に見られる。つまり、エネルギー障壁の大きい積層構造の界面において、そのエネルギー障壁を緩和する材料を挿入することにより、エネルギー障壁を階段状に設計することができる。これにより電極からのキャリア注入性を高め、確かに駆動電圧をある程度までは下げることができる。しかしながら問題点は、層の数を増やすことによって、有機界面の数は逆に増加することである。このことが、単層構造の方が駆動電圧・パワー効率のトップデータを保持している原因であると考えられる。逆に言えば、この点を克服することにより、積層構造のメリット(様々な材料を組み合わせることができ、複雑な分子設計が必要ない)を活かしつつ、なおかつ単層構造の駆動電圧・パワー効率に追いつくことができる。
【0154】
そこで本実施例において、発光素子の陽極と陰極の間に複数の機能領域からなる有機化合物膜が形成される場合、従来の明確な界面が存在する積層構造ではなく、第一の機能領域と第二の機能領域との間に、第一の機能領域を構成する材料および第二の機能領域を構成する材料の両方からなる混合領域を有する構造を形成する。
【0155】
このような構造を適用することで、機能領域間に存在するエネルギー障壁は従来の構造に比較して低減され、キャリアの注入性が向上すると考えられる。すなわち機能領域間におけるエネルギー障壁は、混合領域を形成することにより緩和される。したがって、駆動電圧の低減、および輝度低下の防止が可能となる。
【0156】
以上のことから、本実施例では第一の有機化合物が機能を発現できる領域(第一の機能領域)と、前記第一の機能領域を構成する物質とは異なる第二の有機化合物が機能を発現できる領域(第二の機能領域)と、を少なくとも含む発光素子、及びこれを有する発光装置の作製において、図6または図7に示す成膜装置を用い、前記第一の機能領域と前記第二の機能領域との間に、前記第一の機能領域を構成する有機化合物と前記第二の機能領域を構成する有機化合物、とからなる混合領域を作製する。
【0157】
図6または図7に示す成膜装置において、一つの成膜室において複数の機能領域を有する有機化合物膜が形成されるようになっており、蒸着源に設置されるルツボもそれに応じて複数設けられている。なお、陽極が形成されている基板を搬入しセットする。
【0158】
はじめに、第一のルツボに備えられている、第一の有機化合物が蒸着される。なお、第一の有機化合物は予め抵抗加熱により気化されており、蒸着時に第1のシャッターが開くことにより基板の方向へ飛散する。蒸着の際には材料ガス、ここではモノシランガスを導入し、膜中に含有させる。これにより、図10(A)に示す第一の機能領域410を形成することができる。
【0159】
そして、第一の有機化合物を蒸着したまま、第2のシャッターを開け、第二の材料室に備えられている、第二の有機化合物を蒸着する。なお、第二の有機化合物も予め抵抗加熱により気化されており、蒸着時に第2のシャッターが開くことにより基板の方向へ飛散する。蒸着の際には材料ガス、ここではモノシランガスを導入し、膜中に含有させる。ここで、第一の有機化合物と第二の有機化合物とからなる第一の混合領域411を形成することができる。
【0160】
そして、しばらくしてから第1のシャッターのみを閉じ、第二の有機化合物を蒸着する。蒸着の際には材料ガス、ここではモノシランガスを導入し、膜中に含有させる。これにより、第二の機能領域412を形成することができる。
【0161】
なお、本実施例では、二種類の有機化合物を同時に蒸着することにより、混合領域を形成する方法を示したが、第一の有機化合物を蒸着した後、その蒸着雰囲気下で第二の有機化合物を蒸着することにより、第一の機能領域と第二の機能領域との間に混合領域を形成することもできる。
【0162】
次に、第二の有機化合物を蒸着したまま、第3のシャッターを開け、第三の材料室に備えられている、第三の有機化合物を蒸着する。なお、第三の有機化合物も予め抵抗加熱により気化されており、蒸着時に第3のシャッターが開くことにより基板の方向へ飛散する。蒸着の際には材料ガス、ここではモノシランガスを導入し、膜中に含有させる。ここで、第二の有機化合物と第三の有機化合物とからなる第二の混合領域413を形成することができる。
【0163】
そして、しばらくしてから第2のシャッターのみを閉じ、第三の有機化合物を蒸着する。蒸着の際には材料ガス、ここではモノシランガスを導入し、膜中に含有させる。そして第3のシャッターを閉じて第三の有機化合物の蒸着を完了させる。これにより、第三の機能領域414を形成することができる。
【0164】
最後に、陰極を形成することにより本発明の成膜装置により形成される発光素子が完成する。
【0165】
さらに、その他の有機化合物膜としては、図10(B)に示すように、第一の有機化合物を用いて第一の機能領域420を形成した後、第一の有機化合物と第二の有機化合物とからなる第一の混合領域421を形成し、さらに、第二の有機化合物を用いて第二の機能領域422を形成する。そして、第二の機能領域422を形成する途中で、一時的に第3のシャッターを開いて第三の有機化合物の蒸着を同時に行うことにより、第二の混合領域423を形成する。
【0166】
しばらくして、第3のシャッターを閉じることにより、再び第二の機能領域422を形成する。そして、陰極を形成することにより発光素子が形成される。
【0167】
以上のような有機化合物膜を形成することができる図6または図7の成膜装置は、同一の成膜室において複数の機能領域を有する有機化合物膜を形成することができるので、機能領域界面に混合領域を形成することができる。以上により、明瞭な積層構造を示すことなく(すなわち、明確な有機界面がなく)、かつ、複数の機能を備えた発光素子を作製することができる。
【0168】
また、図6または図7の成膜装置は、成膜時に意図的に材料ガス(モノシランガス)を導入し、材料ガスの成分を有機化合物膜中に含ませることが可能であり、有機化合物膜中に原子半径の小さい材料(代表的にはシリコン)を含ませることによって、混合領域における分子間をよりフィットさせることができる。したがって、さらに駆動電圧の低減、および輝度低下の防止が可能となる。また、材料ガスによって成膜室内の酸素や水分などの不純物をさらに除去することもでき、高密度な有機化合物層を形成することができる。
【0169】
また、本実施例は、実施の形態1、実施の形態2、実施例1、実施例2、実施例3、または実施例4と自由に組み合わせることが可能である。
【0170】
[実施例6]
本実施例では、絶縁表面を有する基板上に、有機化合物層を発光層とする発光素子を備えた発光装置(上面出射構造)を作製する例を図11に示す。
【0171】
なお、図11(A)は、発光装置を示す上面図、図11(B)は図11(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された1101はソース信号線駆動回路、1102は画素部、1103はゲート信号線駆動回路である。また、1104は透明な封止基板、1105は第1のシール材であり、第1のシール材1105で囲まれた内側は、透明な第2のシール材1107で充填されている。なお、第1のシール材1105には基板間隔を保持するためのギャップ材が含有されている。
【0172】
なお、1108はソース信号線駆動回路1101及びゲート信号線駆動回路1103に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1109からビデオ信号やクロック信号を受け取る。なお、ここではFPCしか図示されていないが、このFPCにはプリント配線基盤(PWB)が取り付けられていても良い。
【0173】
次に、断面構造について図11(B)を用いて説明する。基板1110上には駆動回路及び画素部が形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース信号線駆動回路1101と画素部1102が示されている。
【0174】
なお、ソース信号線駆動回路1101はnチャネル型TFT1123とpチャネル型TFT1124とを組み合わせたCMOS回路が形成される。また、駆動回路を形成するTFTは、公知のCMOS回路、PMOS回路もしくはNMOS回路で形成しても良い。また、本実施例では、基板上に駆動回路を形成したドライバー一体型を示すが、必ずしもその必要はなく、基板上ではなく外部に形成することもできる。また、ポリシリコン膜を活性層とするTFTの構造は特に限定されず、トップゲート型TFTであってもよいし、ボトムゲート型TFTであってもよい。
【0175】
また、画素部1102はスイッチング用TFT1111と、電流制御用TFT1112とそのドレインに電気的に接続された第1の電極(陽極)1113を含む複数の画素により形成される。電流制御用TFT1112としてはnチャネル型TFTであってもよいし、pチャネル型TFTであってもよいが、陽極と接続させる場合、pチャネル型TFTとすることが好ましい。また、保持容量(図示しない)を適宜設けることが好ましい。なお、ここでは無数に配置された画素のうち、一つの画素の断面構造のみを示し、その一つの画素に2つのTFTを用いた例を示したが、3つ、またはそれ以上のTFTを適宜、用いてもよい。
【0176】
ここでは第1の電極1113がTFTのドレインと直接接している構成となっているため、第1の電極1113の下層はシリコンからなるドレインとオーミックコンタクトのとれる材料層とし、有機化合物を含む層と接する最上層を仕事関数の大きい材料層とすることが望ましい。例えば、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造とすると、配線としての抵抗も低く、且つ、良好なオーミックコンタクトがとれ、且つ、陽極として機能させることができる。また、第1の電極1113は、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、Pt膜などの単層としてもよいし、3層以上の積層を用いてもよい。
【0177】
また、第1の電極(陽極)1113の両端には絶縁物(バンク、隔壁、障壁、土手などと呼ばれる)1114が形成される。絶縁物1114は有機樹脂膜もしくは珪素を含む絶縁膜で形成すれば良い。ここでは、絶縁物1114として、ポジ型の感光性アクリル樹脂膜を用いて図11に示す形状の絶縁物を形成する。
【0178】
カバレッジを良好なものとするため、絶縁物1114の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。例えば、絶縁物1114の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、絶縁物1114の上端部のみに曲率半径(0.2μm〜3μm)を有する曲面を持たせることが好ましい。また、絶縁物1114として、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができる。
【0179】
また、絶縁物1114を窒化アルミニウム膜、窒化酸化アルミニウム膜、炭素を主成分とする薄膜、または窒化珪素膜からなる保護膜で覆ってもよい。
【0180】
また、第1の電極(陽極)1113上には、モノシランガスを導入しながら蒸着法によって有機化合物を含む層1115を選択的に形成する。さらに、有機化合物を含む層1115上には第2の電極(陰極)1116が形成される。陰極としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、またはCaN)を用いればよい。ここでは、発光が透過するように、第2の電極(陰極)1116として、膜厚を薄くした金属薄膜と、透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いる。こうして、第1の電極(陽極)1113、有機化合物を含む層1115、及び第2の電極(陰極)1116からなる発光素子1118が形成される。本実施例では、有機化合物を含む層1115として、芳香族ジアミン層(TPD)と、p−EtTAZ層と、Alq3層と、ナイルレッドをドープしたAlq3層と、Alq3層とを順次積層させて白色発光を得る。本実施例では発光素子1118は白色発光とする例であるので着色層1131と遮光層(BM)1132からなるカラーフィルター(簡略化のため、ここではオーバーコート層は図示しない)を設けている。
【0181】
また、R、G、Bの発光が得られる有機化合物を含む層をそれぞれ選択的に形成すれば、カラーフィルターを用いなくともフルカラーの表示を得ることができる。
【0182】
また、発光素子1118を封止するために透明保護積層1117を形成する。この透明保護積層1117は、第1の無機絶縁膜と、応力緩和膜と、第2の無機絶縁膜との積層からなっている。第1の無機絶縁膜および第2の無機絶縁膜としては、スパッタ法またはCVD法により得られる窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸化窒化珪素膜(SiNO膜(組成比N>O)またはSiON膜(組成比N<O))、炭素を主成分とする薄膜(例えばDLC膜、CN膜)を用いることができる。これらの無絶縁膜は水分に対して高いブロッキング効果を有しているが、膜厚が厚くなると膜応力が増大してピーリングや膜剥がれが生じやすい。しかし、第1の無機絶縁膜と第2の無機絶縁膜との間に応力緩和膜を挟むことで、応力を緩和するとともに水分を吸収することができる。また、成膜時に何らかの原因で第1の無機絶縁膜に微小な穴(ピンホールなど)が形成されたとしても、応力緩和膜で埋められ、さらにその上に第2の無機絶縁膜を設けることによって、水分や酸素に対して極めて高いブロッキング効果を有する。また、応力緩和膜としては、無機絶縁膜よりも応力が小さく、且つ、吸湿性を有する材料が好ましい。加えて、透光性を有する材料であることが望ましい。また、応力緩和膜としては、α―NPD(4,4’−ビス−[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル)、BCP(バソキュプロイン)、MTDATA(4,4’,4”−トリス(N−3−メチルフェニル−N−フェニル−アミノ)トリフェニルアミン)、Alq3(トリス−8−キノリノラトアルミニウム錯体)などの有機化合物を含む材料膜を用いてもよく、これらの材料膜は、吸湿性を有し、膜厚が薄ければ、ほぼ透明である。また、MgO、SrO2、SrOは吸湿性及び透光性を有し、蒸着法で薄膜を得ることができるため、応力緩和膜に用いることができる。本実施例では、シリコンターゲットを用い、窒素とアルゴンを含む雰囲気で成膜した膜、即ち、水分やアルカリ金属などの不純物に対してブロッキング効果の高い窒化珪素膜を第1の無機絶縁膜または第2の無機絶縁膜として用い、応力緩和膜として蒸着法によりAlq3の薄膜を用いる。また、透明保護積層に発光を通過させるため、透明保護積層のトータル膜厚は、可能な限り薄くすることが好ましい。
【0183】
また、発光素子1118を封止するために不活性気体雰囲気下で第1シール材1105、第2シール材1107により封止基板1104を貼り合わせる。なお、第1シール材1105、第2シール材1107としてはエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、第1シール材1105、第2シール材1107はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。
【0184】
また、本実施例では封止基板1104を構成する材料としてガラス基板や石英基板の他、FRP(Fiberglass−Reinforced Plastics)、PVF(ポリビニルフロライド)、マイラー、ポリエステルまたはアクリル等からなるプラスチック基板を用いることができる。また、第1シール材1105、第2シール材1107を用いて封止基板1104を接着した後、さらに側面(露呈面)を覆うように第3のシール材で封止することも可能である。
【0185】
以上のようにして発光素子を第1シール材1105、第2シール材1107に封入することにより、発光素子を外部から完全に遮断することができ、外部から水分や酸素といった有機化合物層の劣化を促す物質が侵入することを防ぐことができる。従って、信頼性の高い発光装置を得ることができる。
【0186】
また、第1の電極1113として透明導電膜を用いれば両面発光型の発光装置を作製することができる。
【0187】
ここで、両面出射型の発光装置を図13を用いて説明する。
【0188】
図13(A)は画素部の一部における断面を示す図である。また、図13(B)には発光領域における積層構造を簡略化したものを示す。図13(B)に示すように上面と下面の両方に発光を放出することができる。なお、発光領域の配置、即ち画素電極の配置としてはストライプ配列、デルタ配列、モザイク配列などを挙げることができる。
【0189】
図3(A)において、300は第1の基板、301a、301bは絶縁層、302はTFT、318が第1の電極(透明導電層)、309は絶縁物、310はEL層、311は第2の電極、312は透明保護層、313は第2のシール材、314は第2の基板である。
【0190】
第1の基板300上に設けられたTFT302(pチャネル型TFT)は、発光するEL層310に流れる電流を制御する素子であり、304はドレイン領域(またはソース領域)である。また、306は第1の電極とドレイン領域(またはソース領域)とを接続するドレイン電極(またはソース電極)である。また、ドレイン電極306と同じ工程で電源供給線やソース配線などの配線307も同時に形成される。ここでは第1電極とドレイン電極とを別々に形成する例を示したが、同一としてもよい。第1の基板300上には下地絶縁膜(ここでは、下層を窒化絶縁膜、上層を酸化絶縁膜)となる絶縁層301aが形成されており、ゲート電極305と活性層との間には、ゲート絶縁膜が設けられている。また、301bは有機材料または無機材料からなる層間絶縁膜である。また、ここでは図示しないが、一つの画素には、他にもTFT(nチャネル型TFTまたはpチャネル型TFT)を一つ、または複数設けている。また、ここでは、一つのチャネル形成領域303を有するTFTを示したが、特に限定されず、複数のチャネルを有するTFTとしてもよい。
【0191】
また、318は、透明導電膜からなる第1の電極、即ち、EL素子の陽極(或いは陰極)である。透明導電膜としては、ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等を用いることができる。
【0192】
また、第1の電極318の端部(および配線307)を覆う絶縁物309(バンク、隔壁、障壁、土手などと呼ばれる)を有している。絶縁物309としては、無機材料(酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコンなど)、感光性または非感光性の有機材料(ポリイミド、アクリル、ポリアミド、ポリイミドアミド、レジストまたはベンゾシクロブテン)、またはこれらの積層などを用いることができるが、ここでは窒化シリコン膜で覆われた感光性の有機樹脂を用いる。例えば、有機樹脂の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、絶縁物の上端部のみに曲率半径を有する曲面を持たせることが好ましい。また、絶縁物として、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができる。
【0193】
また、有機化合物を含む層310は、蒸着法または塗布法を用いて形成する。なお、信頼性を向上させるため、有機化合物を含む層310の形成直前に真空加熱(100℃〜250℃)を行って脱気を行うことが好ましい。例えば、蒸着法を用いる場合、真空度が5×10−3Torr(0.665Pa)以下、好ましくは10−4〜10−6Paまで真空排気された成膜室で蒸着を行う。蒸着の際、予め、抵抗加熱により有機化合物は気化されており、蒸着時にシャッターが開くことにより基板の方向へ飛散する。気化された有機化合物は、上方に飛散し、メタルマスクに設けられた開口部を通って基板に蒸着される。
【0194】
例えば、Alq3、部分的に赤色発光色素であるナイルレッドをドープしたAlq3、Alq3、p−EtTAZ、TPD(芳香族ジアミン)を蒸着法により順次積層することで白色を得ることができる。
【0195】
また、311は、導電膜からなる第2の電極、即ち、発光素子の陰極(或いは陽極)である。第2の電極311の材料としては、MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、CaNなどの合金、または周期表の1族もしくは2族に属する元素とアルミニウムとを共蒸着法により形成した透光性を有する膜を用いればよい。ここでは、第2の電極を通過させて発光させる両面出射型であるので、1nm〜10nmのアルミニウム膜、もしくはLiを微量に含むアルミニウム膜を用いる。第2の電極311としてAl膜を用いる構成とすると、有機化合物を含む層310と接する材料を酸化物以外の材料で形成することが可能となり、発光装置の信頼性を向上させることができる。また、1nm〜10nmのアルミニウム膜を形成する前に陰極バッファ層としてCaF2、MgF2、またはBaF2からなる透光性を有する層(膜厚1nm〜5nm)を形成してもよい。
【0196】
また、陰極の低抵抗化を図るため、1nm〜10nmの金属薄膜上に透明導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)を形成してもよい。或いは、陰極の低抵抗化を図るため、発光領域とならない領域の第2の電極311上に補助電極を設けてもよい。また、陰極形成の際には蒸着による抵抗加熱法を用い、蒸着マスクを用いて選択的に形成すればよい。
【0197】
また、312はスパッタ法または蒸着法により形成する透明保護積層であり、金属薄膜からなる第2の電極311を保護するとともに水分の侵入を防ぐ封止膜となる。図13(B)に示すように、透明保護積層312は、無機絶縁膜312aと、応力緩和膜312bと、無機絶縁膜312cとの積層からなっている。無機絶縁膜312aとしては、スパッタ法またはCVD法により得られる窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸化窒化珪素膜(SiNO膜(組成比N>O)またはSiON膜(組成比N<O))、炭素を主成分とする薄膜(例えばDLC膜、CN膜)を用いることができる。これらの無絶縁膜312aは水分に対して高いブロッキング効果を有しているが、膜厚が厚くなると膜応力が増大してピーリングや膜剥がれが生じやすい。しかし、無機絶縁膜312aと無機絶縁膜312cとの間に応力緩和膜312bを挟むことで、応力を緩和するとともに水分を吸収することができる。また、成膜時に何らかの原因で無機絶縁膜312aに微小な穴(ピンホールなど)が形成されたとしても、応力緩和膜312bで埋められ、さらにその上に無機絶縁膜312cを設けることによって、水分や酸素に対して極めて高いブロッキング効果を有する。
【0198】
また、応力緩和膜312bとしては、無機絶縁膜312a、312bよりも応力が小さく、且つ、吸湿性を有する材料が好ましい。加えて、透光性を有する材料であることが望ましい。また、応力緩和膜312bとしては、α―NPD(4,4’−ビス−[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル)、BCP(バソキュプロイン)、MTDATA(4,4’,4”−トリス(N−3−メチルフェニル−N−フェニル−アミノ)トリフェニルアミン)、Alq3(トリス−8−キノリノラトアルミニウム錯体)などの有機化合物を含む材料膜を用いてもよく、これらの材料膜は、吸湿性を有し、膜厚が薄ければ、ほぼ透明である。また、MgO、SrO2、SrOは吸湿性及び透光性を有し、蒸着法で薄膜を得ることができるため、応力緩和膜312bに用いることができる。
【0199】
また、応力緩和膜312bとして、陰極と陽極との間に挟まれている有機化合物を含む層と同じ材料を用いることもできる。
【0200】
スパッタ法(或いはCVD法)で無機絶縁膜312a、312bを形成し、蒸着法で応力緩和膜312bを形成することができる場合、基板を搬送して蒸着室とスパッタ成膜室(或いはCVD成膜室)とを行き来させることになるが、新たに成膜室を増設する必要はないというメリットがある。また、応力緩和膜として有機樹脂膜も考えられるが、有機樹脂膜は溶媒を使用するのでベーク処理などが必要なため、工程数の増加、溶媒成分による汚染、ベークによる熱ダメージ、脱ガスなどの問題がある。
【0201】
こうして形成された透明保護積層312は有機化合物を含む層を発光層とする発光素子の封止膜として最適である。また、透明保護積層312は吸湿性を有しており、水分を除去する役目も果たす。
【0202】
また、第2のシール材313は、第2の基板314と第1の基板300とを貼り合せている。第1のシール材(ここでは図示しない)は基板間隔を確保するためのギャップ材を含有しており、第2のシール材313を囲むように配置されている。第2のシール材313としては、透光性を有している材料であれば特に限定されず、代表的には紫外線硬化または熱硬化のエポキシ樹脂を用いればよい。ここでは屈折率1.50、粘度500cps、ショアD硬度90、テンシル強度3000psi、Tg点150℃、体積抵抗1×1015Ω・cm、耐電圧450V/milである高耐熱のUVエポキシ樹脂(エレクトロライト社製:2500Clear)を用いる。また、第2のシール材313を一対の基板間に充填することによって、一対の基板間を空間(不活性気体)とした場合に比べて全体の透過率を向上させることができる。
【0203】
また、陽極上に有機化合物を含む層が形成され、有機化合物層上に陰極が形成される発光素子を有し、有機化合物を含む層において生じた発光を透明電極である陽極からTFTの方へ取り出す(以下、下面出射構造とよぶ)という構造としてもよい。
【0204】
ここで、下面出射構造の発光装置の一例を図12に示す。
【0205】
なお、図12(A)は、発光装置を示す上面図、図12(B)は図12(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された1201はソース信号線駆動回路、1202は画素部、1203はゲート信号線駆動回路である。また、1204は封止基板、1205は密閉空間の間隔を保持するためのギャップ材が含有されているシール材であり、シール材1205で囲まれた内側は、不活性気体(代表的には窒素)で充填されている。シール材1205で囲まれた内側の空間は乾燥剤1207によって微量な水分が除去され、十分乾燥している。
【0206】
なお、1208はソース信号線駆動回路1201及びゲート信号線駆動回路1203に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1209からビデオ信号やクロック信号を受け取る。
【0207】
次に、断面構造について図12(B)を用いて説明する。基板1210上には駆動回路及び画素部が形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース信号線駆動回路1201と画素部1202が示されている。なお、ソース信号線駆動回路1201はnチャネル型TFT1223とpチャネル型TFT1224とを組み合わせたCMOS回路が形成される。
【0208】
また、画素部1202はスイッチング用TFT1211と、電流制御用TFT1212とそのドレインに電気的に接続された透明な導電膜からなる第1の電極(陽極)1213を含む複数の画素により形成される。
【0209】
ここでは第1の電極1213が接続電極と一部重なるように形成され、第1の電極1213はTFTのドレイン領域と接続電極を介して電気的に接続している構成となっている。第1の電極1213は透明性を有し、且つ、仕事関数の大きい導電膜(ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In2O3―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)を用いることが望ましい。
【0210】
また、第1の電極(陽極)1213の両端には絶縁物(バンク、隔壁、障壁、土手などと呼ばれる)1214が形成される。カバレッジを良好なものとするため、絶縁物1214の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。また、絶縁物1214を窒化アルミニウム膜、窒化酸化アルミニウム膜、炭素を主成分とする薄膜、または窒化珪素膜からなる保護膜で覆ってもよい。
【0211】
また、第1の電極(陽極)1213上には、モノシランガスを導入しながら有機化合物材料の蒸着を行い、有機化合物を含む層1215を選択的に形成する。さらに、有機化合物を含む層1215上には第2の電極(陰極)1216が形成される。陰極としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、またはCaN)を用いればよい。こうして、第1の電極(陽極)1213、有機化合物を含む層1215、及び第2の電極(陰極)1216からなる発光素子1218が形成される。発光素子1218は、図12中に示した矢印方向に発光する。ここでは発光素子1218はR、G、或いはBの単色発光が得られる発光素子の一つであり、R、G、Bの発光が得られる有機化合物を含む層をそれぞれ選択的に形成した3つの発光素子でフルカラーとする。
【0212】
また、発光素子1218を封止するために保護積層1217を形成する。保護積層は、第1の無機絶縁膜と、応力緩和膜と、第2の無機絶縁膜との積層からなっている。
【0213】
また、発光素子1218を封止するために不活性気体雰囲気下でシール材1205により封止基板1204を貼り合わせる。封止基板1204には予めサンドブラスト法などによって形成した凹部が形成されており、その凹部に乾燥剤1207を貼り付けている。なお、シール材1205としてはエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、シール材1205はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。
【0214】
また、本実施例では凹部を有する封止基板1204を構成する材料として金属基板、ガラス基板や石英基板の他、FRP(Fiberglass−Reinforced Plastics)、PVF(ポリビニルフロライド)、マイラー、ポリエステルまたはアクリル等からなるプラスチック基板を用いることができる。また、内側に乾燥剤を貼りつけた金属缶で封止することも可能である。
【0215】
また、本実施例は実施の形態1、実施の形態2、実施例1乃至5のいずれか一と自由に組み合わせることができる。
【0216】
[実施例7]
本発明を実施して得た発光装置を表示部に組み込むことによって電子機器を作製することができる。電子機器としては、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。それらの電子機器の具体例を図14に示す。
【0217】
図14(A)はテレビであり、筐体2001、支持台2002、表示部2003、スピーカー部2004、ビデオ入力端子2005等を含む。本発明は表示部2003に適用することができる。なお、パソコン用、TV放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用のテレビが含まれる。
【0218】
図14(B)はデジタルカメラであり、本体2101、表示部2102、受像部2103、操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッター2106等を含む。本発明は、表示部2102に適用することができる。
【0219】
図14(C)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2203、キーボード2204、外部接続ポート2205、ポインティングマウス2206等を含む。本発明は、表示部2203に適用することができる。
【0220】
図14(D)はモバイルコンピュータであり、本体2301、表示部2302、スイッチ2303、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含む。本発明は、表示部2302に適用することができる。
【0221】
図14(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部2405、操作キー2406、スピーカー部2407等を含む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発明は表示部A、B2403、2404に適用することができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。
【0222】
図14(F)はゲーム機器であり、本体2501、表示部2505、操作スイッチ2504等を含む。
【0223】
図14(G)はビデオカメラであり、本体2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポート2604、リモコン受信部2605、受像部2606、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キー2609等を含む。本発明は、表示部2602に適用することができる。
【0224】
図14(H)は携帯電話であり、本体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力部2704、音声出力部2705、操作キー2706、外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。本発明は、表示部2703に適用することができる。なお、表示部2703は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電流を抑えることができる。
【0225】
以上の様に、本発明を実施して得た表示装置は、あらゆる電子機器の表示部として用いても良い。なお、本実施の形態の電子機器には、実施の形態1、実施の形態2、実施例1乃至6のいずれの構成を用いて作製された発光装置を用いても良い。
【0226】
【発明の効果】
本発明により、蒸着ホルダの部品、代表的には膜厚モニタやシャッター等をクリーニングすることで交換頻度を下げ、成膜室内の清浄度を保つことができる。
【0227】
また、本発明により、基板と蒸着源ホルダとの距離を短くでき、蒸着装置の小型化を達成することができる。そして、蒸着装置が小型となるため、昇華した蒸着材料が成膜室内の内壁、または防着シールドへ付着することが低減され、蒸着材料を有効利用することができる。さらに本発明の蒸着方法において、基板を回転させる必要がないため、大面積基板に対応可能な蒸着装置を提供することができる。
【0228】
また、本発明は、蒸着処理を行う複数の成膜室が連続して配置された製造装置を提供できる。このように、複数の成膜室において並列処理を行うため、発光装置のスループットが向上される。並列処理を行うことによって同一種類のパネルを多量に作製することができる。また、異なる蒸着パターンを有する種類の異なるパネルを並列処理で同時に作製することもできる。また、並列処理が可能な製造装置とすることで単位面積あたりの設備コストが削減できる。
【0229】
さらに本発明は、蒸着材料が封入された容器や膜厚モニタを、大気に曝すことなく蒸着装置に直接設置することを可能とする製造システムを提供することができる。このような本発明により、蒸着材料の取り扱いが容易になり、蒸着材料への不純物混入を避けることができる。このような製造システムにより、材料メーカーで封入された容器を直接蒸着装置に設置できるため、蒸着材料が酸素や水の付着を防止でき、今後のさらなる発光素子の超高純度化への対応が可能となる。即ち、本発明により全自動化してスループットを向上させる製造システムを実現するとともに、不純物混入を避けることが可能な一貫したクローズドシステムを実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態2を示す上面図。
【図2】実施の形態1を示す上面図。
【図3】実施の形態1を示す断面図。
【図4】実施の形態1を示す断面図。
【図5】実施の形態1を示す断面図。
【図6】実施例1を示す装置断面図。
【図7】実施例2を示す装置断面図。
【図8】実施例3を示す図。
【図9】実施例4を示す図。
【図10】実施例5を示す図。
【図11】実施例6を示す図。
【図12】実施例6を示す図。
【図13】実施例6を示す図。
【図14】電子機器の一例を示す図。(実施例7)
Claims (14)
- ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記搬送室は、マスクと基板の位置あわせを行う機能を有し、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、蒸着源と、該蒸着源を加熱する手段とを有し、
前記複数の成膜室のうち、少なくとも2つの成膜室では平行してそれぞれの成膜室に搬入された基板面に蒸着が行われ、
異なるパネルを複数作製することを特徴とする製造装置。 - ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記搬送室は、マスクと基板の位置あわせを行う機能を有し、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、蒸着源と、該蒸着源を加熱する手段とを有し、
前記複数の成膜室のうち、少なくとも2つの成膜室では平行してそれぞれの成膜室に搬入された基板面に蒸着が行われ、
同一パネルを複数作製することを特徴とする製造装置。 - ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記成膜室には、基板を固定する手段と、蒸着源と、該蒸着源を移動する手段とを有し、
前記蒸着源を移動する手段によって前記蒸着源は、成膜室内、または前記成膜室から前記設置室に移動することを特徴とする製造装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一において、前記成膜室および前記設置室は、室内を真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、材料ガスまたはクリーニングガスを導入しうる手段とを有していることを特徴とする製造装置。
- ロード室、該ロード室に連結された搬送室、該搬送室に連結された複数の成膜室、および該成膜室に連結された設置室とを有する成膜装置であって、
前記成膜室には、基板を固定する手段と、蒸着源と、該蒸着源を移動する手段と、前記蒸着源に設けられたシャッターと、前記蒸着源に設けられた膜厚計とを有し、
前記成膜室および前記設置室は、室内を真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、材料ガスまたはクリーニングガスを導入しうる手段とを有していることを特徴とする製造装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一において、前記材料ガスを導入しうる手段は、プラズマ発生手段によりラジカル化された材料ガスを導入する手段であることを特徴とする製造装置。
- 請求項1乃至6のいずれか一において、前記材料ガスは、モノシラン、ジシラン、トリシラン、SiF4、GeH4、GeF4、SnH4、CH4、C2H2、C2H4、またはC6H6から選ばれた一種または複数種であることを特徴とする製造装置。
- 請求項1乃至7のいずれか一において、前記蒸着源は、成膜室内をX方向、Y方向またはZ方向に移動可能であることを特徴とする製造装置。
- 請求項1乃至8のいずれか一において、前記成膜室には、成膜室内を区切り、且つ、前記基板への蒸着を遮蔽するシャッターを有することを特徴とする製造装置。
- 蒸着源に設けられたシャッター、または膜厚計に付着した有機化合物を除去するクリーニング方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内にプラズマを発生させる、或いは該設置室内にプラズマによってイオン化されたガスを導入してクリーニングし、真空排気手段により排気することを特徴とするクリーニング方法。 - 請求項10において、前記プラズマは、Ar、N2、H2、F2、NF3、またはO2から選ばれた一種または複数種のガスを励起して発生させることを特徴とするクリーニング方法。
- 蒸着後、蒸着源に設けられたシャッターに付着した有機化合物を回収する再利用方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内でシャッターを加熱して付着した有機化合物を溶融または昇華させて容器に回収することを特徴とする再利用方法。 - 蒸着後、蒸着源に設けられたシャッターに付着した有機化合物を回収する再利用方法であって、
前記シャッターは蒸着源に設置する容器と同一のものであり、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内でシャッターを蒸着源に設置する容器としてセットし、再び蒸着させることを特徴とする再利用方法。 - 蒸着後、蒸着源に設けられた膜厚計に付着した有機化合物を除去して膜厚計を再利用方法であって、
蒸着源を成膜室から設置室に移動させた後、該設置室内で膜厚計に付着した有機化合物を除去してクリーニングを行い、膜厚計を繰り返し使用することを特徴とする再利用方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003005148A JP4252317B2 (ja) | 2003-01-10 | 2003-01-10 | 蒸着装置および蒸着方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003005148A JP4252317B2 (ja) | 2003-01-10 | 2003-01-10 | 蒸着装置および蒸着方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004217970A true JP2004217970A (ja) | 2004-08-05 |
JP2004217970A5 JP2004217970A5 (ja) | 2006-02-23 |
JP4252317B2 JP4252317B2 (ja) | 2009-04-08 |
Family
ID=32895881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003005148A Expired - Fee Related JP4252317B2 (ja) | 2003-01-10 | 2003-01-10 | 蒸着装置および蒸着方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4252317B2 (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100656181B1 (ko) | 2004-08-09 | 2006-12-12 | 두산디앤디 주식회사 | 유기 el소자의 연속 증착 시스템 |
WO2007094322A1 (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-23 | Tokyo Electron Limited | 発光素子、発光素子の製造方法および基板処理装置 |
KR100945469B1 (ko) | 2002-02-05 | 2010-03-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 제조 시스템, 제조방법, 제조장치의 조작방법 및 발광장치 |
JP2011026625A (ja) * | 2009-07-21 | 2011-02-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2011124153A (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-23 | Denso Corp | プラズマ発生装置 |
KR101068597B1 (ko) * | 2009-01-16 | 2011-09-30 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 증발 장치 및 박막 증착 장치 및 이의 원료 제공 방법 |
JP2012197518A (ja) * | 2007-03-22 | 2012-10-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 成膜装置、及びこれを用いたマスクのクリーニング方法 |
JP2013014795A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置とリチウムイオン二次電池の製造方法 |
KR101240419B1 (ko) * | 2011-03-16 | 2013-03-11 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 유기발광소자 양산용 클러스터 타입 증착장비 |
WO2017018265A1 (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 封止膜形成装置および封止膜形成方法 |
JP2018181852A (ja) * | 2018-05-24 | 2018-11-15 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置の製造方法及び製造装置 |
US10886468B2 (en) | 2017-04-14 | 2021-01-05 | Sakai Display Products Corporation | Manufacturing method and manufacturing apparatus for organic EL display device |
CN115094383A (zh) * | 2022-07-01 | 2022-09-23 | 江阴纳力新材料科技有限公司 | 一种基于蒸镀的复合正极集流体制备装置及方法 |
CN115584475A (zh) * | 2022-10-28 | 2023-01-10 | 富联科技(兰考)有限公司 | 镀膜设备的清洁方法与镀膜设备 |
CN115584475B (zh) * | 2022-10-28 | 2024-06-07 | 富联科技(兰考)有限公司 | 镀膜设备的清洁方法与镀膜设备 |
-
2003
- 2003-01-10 JP JP2003005148A patent/JP4252317B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100945469B1 (ko) | 2002-02-05 | 2010-03-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 제조 시스템, 제조방법, 제조장치의 조작방법 및 발광장치 |
KR100656181B1 (ko) | 2004-08-09 | 2006-12-12 | 두산디앤디 주식회사 | 유기 el소자의 연속 증착 시스템 |
WO2007094322A1 (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-23 | Tokyo Electron Limited | 発光素子、発光素子の製造方法および基板処理装置 |
JP2012197518A (ja) * | 2007-03-22 | 2012-10-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 成膜装置、及びこれを用いたマスクのクリーニング方法 |
KR101068597B1 (ko) * | 2009-01-16 | 2011-09-30 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 증발 장치 및 박막 증착 장치 및 이의 원료 제공 방법 |
CN102282648B (zh) * | 2009-01-16 | 2013-09-18 | 韩商Snu精密股份有限公司 | 蒸镀装置、薄膜沉积装置及提供原料予其装置的方法 |
JP2011026625A (ja) * | 2009-07-21 | 2011-02-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2011124153A (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-23 | Denso Corp | プラズマ発生装置 |
KR101240419B1 (ko) * | 2011-03-16 | 2013-03-11 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 유기발광소자 양산용 클러스터 타입 증착장비 |
JP2013014795A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置とリチウムイオン二次電池の製造方法 |
WO2017018265A1 (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 封止膜形成装置および封止膜形成方法 |
JP2017025395A (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 東レエンジニアリング株式会社 | 封止膜形成装置および封止膜形成方法 |
US10886468B2 (en) | 2017-04-14 | 2021-01-05 | Sakai Display Products Corporation | Manufacturing method and manufacturing apparatus for organic EL display device |
JP2018181852A (ja) * | 2018-05-24 | 2018-11-15 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置の製造方法及び製造装置 |
CN115094383A (zh) * | 2022-07-01 | 2022-09-23 | 江阴纳力新材料科技有限公司 | 一种基于蒸镀的复合正极集流体制备装置及方法 |
CN115094383B (zh) * | 2022-07-01 | 2023-06-30 | 江阴纳力新材料科技有限公司 | 一种基于蒸镀的复合正极集流体制备装置及方法 |
CN115584475A (zh) * | 2022-10-28 | 2023-01-10 | 富联科技(兰考)有限公司 | 镀膜设备的清洁方法与镀膜设备 |
CN115584475B (zh) * | 2022-10-28 | 2024-06-07 | 富联科技(兰考)有限公司 | 镀膜设备的清洁方法与镀膜设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4252317B2 (ja) | 2009-04-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5072184B2 (ja) | 成膜方法 | |
JP4526776B2 (ja) | 発光装置及び電子機器 | |
JP4463492B2 (ja) | 製造装置 | |
KR101004060B1 (ko) | 제조 시스템, 발광 장치, 및 유기 화합물 함유 층의 제조방법 | |
JP4493926B2 (ja) | 製造装置 | |
US7211461B2 (en) | Manufacturing apparatus | |
KR20030070534A (ko) | 제조 시스템 및 발광장치의 제조방법 | |
KR20050014747A (ko) | 증발 용기 및 기상 증착 장치 | |
JP4252317B2 (ja) | 蒸着装置および蒸着方法 | |
JP4954434B2 (ja) | 製造装置 | |
JP4373235B2 (ja) | 成膜装置及び成膜方法 | |
JP4368633B2 (ja) | 製造装置 | |
JP4515060B2 (ja) | 製造装置および有機化合物を含む層の作製方法 | |
JP6185498B2 (ja) | 蒸着用マスク | |
JP4439827B2 (ja) | 製造装置および発光装置の作製方法 | |
JP2010121215A (ja) | 蒸着装置および蒸着方法 | |
JP2004288463A (ja) | 製造装置 | |
JP5568683B2 (ja) | 蒸着用マスク、及び当該マスクを用いた蒸着方法 | |
JP2013067867A (ja) | 容器 | |
JP2017036512A (ja) | 成膜装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060109 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080825 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080902 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080916 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090120 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090121 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4252317 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |