JP4368633B2 - 製造装置 - Google Patents
製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4368633B2 JP4368633B2 JP2003284342A JP2003284342A JP4368633B2 JP 4368633 B2 JP4368633 B2 JP 4368633B2 JP 2003284342 A JP2003284342 A JP 2003284342A JP 2003284342 A JP2003284342 A JP 2003284342A JP 4368633 B2 JP4368633 B2 JP 4368633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vapor deposition
- chamber
- container
- source holder
- deposition source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 55
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 267
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 144
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 135
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 81
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 41
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 40
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 34
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 33
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 33
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 31
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 25
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 claims description 19
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 14
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 14
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 11
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 claims description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 4
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims 2
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 claims 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 169
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 130
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 39
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 20
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 20
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 17
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 12
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 10
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 10
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 7
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 4
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 4
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 3
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 3
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004984 aromatic diamines Chemical class 0.000 description 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 2
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N nile red Chemical compound C1=CC=C2C3=NC4=CC=C(N(CC)CC)C=C4OC3=CC(=O)C2=C1 VOFUROIFQGPCGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MIOPJNTWMNEORI-GMSGAONNSA-N (S)-camphorsulfonic acid Chemical compound C1C[C@@]2(CS(O)(=O)=O)C(=O)C[C@@H]1C2(C)C MIOPJNTWMNEORI-GMSGAONNSA-N 0.000 description 1
- 229910017073 AlLi Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 MgAg Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017911 MgIn Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910000856 hastalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000005339 levitation Methods 0.000 description 1
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N orlistat Chemical compound CCCCCCCCCCC[C@H](OC(=O)[C@H](CC(C)C)NC=O)C[C@@H]1OC(=O)[C@H]1CCCCCC AHLBNYSZXLDEJQ-FWEHEUNISA-N 0.000 description 1
- IZMLNVKXKFSCDB-UHFFFAOYSA-N oxoindium;oxotin Chemical compound [In]=O.[Sn]=O IZMLNVKXKFSCDB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003190 poly( p-benzamide) Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[O-2].[In+3] OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、及び該搬送室に連結された複数の成膜室と処理室を有する製造装置であって、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、基板保持手段と、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、を有し、
前記処理室は、真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、平板ヒーターが間隔を開けて複数重ねて配置され、複数の基板を真空加熱することができることを特徴とする製造装置である。
ロード室、該ロード室に連結された搬送室、及び該搬送室に連結された複数の成膜室と処理室を有する製造装置であって、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、基板保持手段と、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、を有し、
前記処理室は、真空にする真空排気処理室と連結され、且つ、水素ガス、酸素ガス、または希ガスを導入してプラズマを発生させることを特徴とする製造装置である。
搬送する容器の形態について図6を用いて具体的に説明する。搬送に用いる上部(621a)と下部(621b)に分かれる第2の容器は、第2の容器の上部に設けられた第1の容器を固定するための固定手段706と、固定手段に加圧するためのバネ705と、第2の容器の下部に設けられた第2の容器を減圧保持するためガス経路となるガス導入口708と、上部容器621aと下部容器621bとを固定するOリング707と、留め具702と有している。この第2の容器内には、精製された蒸着材料が封入された第1の容器701が設置されている。なお、第2の容器はステンレスを含む材料で形成され、第1の容器はチタンを有する材料で形成するとよい。
102:搬送室
103a:前処理室(ベーク、O2プラズマ、H2プラズマ、Arプラズマ等)
103b:前処理室(多段真空加熱室)
104a:搬送室
104b:搬送機構
104c:基板
105:受渡室
Claims (20)
- 成膜室を有し、
前記成膜室は、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動することを特徴とする製造装置。 - 請求項1に記載の製造装置は、処理室をさらに有し、
前記処理室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置されていることを特徴とする製造装置。 - ロード室、該ロード室に連結された搬送室並びに該搬送室に連結された複数の成膜室及び処理室を有する製造装置であって、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、基板保持手段と、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動し、
前記処理室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置されていることを特徴とする製造装置。 - ロード室、該ロード室に連結された搬送室並びに該搬送室に連結された複数の成膜室及び処理室を有する製造装置であって、
前記複数の成膜室は、前記成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、基板保持手段と、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記処理室は、水素ガス、酸素ガス、フッ素ガス又は希ガスを導入してプラズマを発生させる手段を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動することを特徴とする製造装置。 - 請求項4において、
前記搬送室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置され、
複数の基板を真空加熱することができる処理室が連結されていることを特徴とする製造装置。 - 請求項4又は5において、
前記希ガス元素は、He、Ne、Ar、Kr、Xeから選ばれた一種または複数種であることを特徴とする製造装置。 - 請求項2乃至5のいずれか一において、
前記処理室には、真空排気処理室が連結されていることを特徴とする製造装置。 - 搬送室と、
前記搬送室に連結され、スピンコート法により高分子材料からなる層を形成するための成膜室と、
前記搬送室に連結された複数の成膜室並びに第1及び第2の前処理室と、を有し、
前記複数の成膜室は、該成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結され、マスクと基板の位置あわせを行うアライメント手段と、基板保持手段と、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記第1の前処理室は、プラズマ発生手段を有し、
前記第2の前処理室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置され、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動することを特徴とする製造装置。 - 搬送室と、
前記搬送室に連結され、スピンコート法により高分子材料からなる層を形成するための第1の成膜室と、
前記搬送室に連結された第2の成膜室並びに第1及び第2の前処理室と、を有し、
前記第2の成膜室は、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段を有し、
前記蒸着源ホルダは、EL層を形成するための蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記第1の前処理室は、プラズマ発生手段を有し、
前記第2の前処理室は、複数の基板を真空加熱するための手段を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動することを特徴とする製造装置。 - 搬送室と、
前記搬送室に連結され、スピンコート法により高分子材料からなる層を形成するための第1の成膜室と、
前記搬送室に連結された第2の成膜室並びに第1及び第2の前処理室と、を有し、
前記第2の成膜室は、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段を有し、
前記蒸着源ホルダは、EL層を形成するための蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動し、
前記第1の前処理室は、プラズマ発生手段を有し、
前記第2の前処理室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置されていることを特徴とする製造装置。 - 搬送室と、
前記搬送室に連結され、スピンコート法により高分子材料からなる層を形成するための第1の成膜室と、
前記搬送室に連結された第2の成膜室並びに第1及び第2の前処理室と、を有し、
前記第2の成膜室は、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、EL層を形成するための蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記第1の前処理室は、プラズマ発生手段を有し、
前記第2の前処理室は、複数の基板を真空加熱するための手段を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動することを特徴とする製造装置。 - 搬送室と、
前記搬送室に連結され、スピンコート法により高分子材料からなる層を形成するための第1の成膜室と、
前記搬送室に連結された第2の成膜室並びに第1及び第2の前処理室と、を有し、
前記第2の成膜室は、蒸着源ホルダと、前記蒸着源ホルダを移動させる手段と、を有し、
前記蒸着源ホルダは、EL層を形成するための蒸着材料が封入された容器と、前記容器を加熱する手段と、前記容器上に設けられたシャッターと、膜厚モニタと、を有し、
前記シャッターには、前記蒸着材料が斜めに放出される穴が開いており、前記蒸着材料が前記穴を通り前記膜厚モニタに当たるようにすると共に、前記膜厚モニタは前記蒸着源ホルダと一体化されて移動し、
前記第1の前処理室は、プラズマ発生手段を有し、
前記第2の前処理室には、平板ヒーターが間隔を空けて複数重ねて配置されていることを特徴とする製造装置。 - 請求項9乃至12のいずれか一において、
前記EL層は、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層から選ばれた少なくとも一種または複数種であることを特徴とする製造装置。 - 請求項9乃至13のいずれか一において、
前記プラズマ発生手段により、不用な箇所に形成された前記EL層をドライエッチングして選択的に除去することを特徴とする製造装置。 - 請求項9乃至14のいずれか一において、
前記プラズマは、水素ガス、酸素ガス、フッ素ガス又は希ガスを励起して発生させることを特徴とする製造装置。 - 請求項15において、
前記希ガス元素は、He、Ne、Ar、Kr、Xeから選ばれた一種または複数種であることを特徴とする製造装置。 - 請求項1乃至16のいずれか一において、
前記蒸着源ホルダを移動させる手段は、前記蒸着源ホルダを任意のピッチでX軸方向に移動させ、且つ、任意のピッチでY軸方向に移動させる機能を有していることを特徴とする製造装置。 - 請求項17において、
前記蒸着源ホルダは、X軸方向からY軸方向に切り替わる際、回転することを特徴とする製造装置。 - 請求項1乃至18のいずれか一において、
前記シャッターには、前記容器の開口面積S1よりも小さい開口面積S2の前記穴があいていることを特徴とする製造装置。 - 請求項1乃至19のいずれか一において、
前記膜厚モニタで測定された値に従って、前記蒸着源ホルダの移動速度を調節することを特徴とする製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003284342A JP4368633B2 (ja) | 2002-08-01 | 2003-07-31 | 製造装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002224760 | 2002-08-01 | ||
JP2003284342A JP4368633B2 (ja) | 2002-08-01 | 2003-07-31 | 製造装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004079528A JP2004079528A (ja) | 2004-03-11 |
JP2004079528A5 JP2004079528A5 (ja) | 2006-08-31 |
JP4368633B2 true JP4368633B2 (ja) | 2009-11-18 |
Family
ID=32032806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003284342A Expired - Fee Related JP4368633B2 (ja) | 2002-08-01 | 2003-07-31 | 製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4368633B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4538650B2 (ja) * | 2004-06-18 | 2010-09-08 | 京セラ株式会社 | 蒸着装置 |
JP4780983B2 (ja) * | 2005-03-17 | 2011-09-28 | 株式会社アルバック | 有機el素子製造方法 |
JP2012112037A (ja) * | 2010-11-04 | 2012-06-14 | Canon Inc | 成膜装置及びこれを用いた成膜方法 |
CN102184934B (zh) * | 2011-04-02 | 2012-07-04 | 东莞宏威数码机械有限公司 | 掩膜板真空对位装置 |
JP2018070896A (ja) * | 2015-01-14 | 2018-05-10 | 日東電工株式会社 | 有機蒸着膜の製造方法及び有機エレクトロルミネッセンス装置 |
JP2017152330A (ja) * | 2016-02-26 | 2017-08-31 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法、表示装置及び表示装置の製造装置 |
US10720633B2 (en) * | 2017-09-15 | 2020-07-21 | Dyson Technology Limited | Multilayer electrochemical device |
JP2020007587A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | 株式会社アルバック | 蒸着装置、および、蒸着方法 |
JP7224165B2 (ja) * | 2018-12-14 | 2023-02-17 | キヤノントッキ株式会社 | アライメント装置、蒸着装置、および、電子デバイスの製造装置 |
US20220209214A1 (en) * | 2019-04-30 | 2022-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing apparatus for solid-state secondary battery and method for manufacturing solid-state secondary battery |
JP7509809B2 (ja) * | 2022-01-28 | 2024-07-02 | キヤノントッキ株式会社 | 蒸発源ユニット、成膜装置及び成膜方法 |
-
2003
- 2003-07-31 JP JP2003284342A patent/JP4368633B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004079528A (ja) | 2004-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100991445B1 (ko) | 발광장치의 제조방법 | |
US9551063B2 (en) | Fabrication system and a fabrication method of a light emitting device | |
JP5072184B2 (ja) | 成膜方法 | |
JP4463492B2 (ja) | 製造装置 | |
JP4526776B2 (ja) | 発光装置及び電子機器 | |
KR101004060B1 (ko) | 제조 시스템, 발광 장치, 및 유기 화합물 함유 층의 제조방법 | |
JP4368633B2 (ja) | 製造装置 | |
JP4252317B2 (ja) | 蒸着装置および蒸着方法 | |
JP4373235B2 (ja) | 成膜装置及び成膜方法 | |
JP5798452B2 (ja) | 蒸発源 | |
JP4439827B2 (ja) | 製造装置および発光装置の作製方法 | |
JP4515060B2 (ja) | 製造装置および有機化合物を含む層の作製方法 | |
JP4494126B2 (ja) | 成膜装置および製造装置 | |
JP2010121215A (ja) | 蒸着装置および蒸着方法 | |
JP2004006311A (ja) | 発光装置の作製方法および製造装置 | |
JP5839556B2 (ja) | 成膜方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060713 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060713 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090528 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090731 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090825 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130904 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |