JP2004193504A - 多数個取り配線基板 - Google Patents
多数個取り配線基板 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004193504A JP2004193504A JP2002362824A JP2002362824A JP2004193504A JP 2004193504 A JP2004193504 A JP 2004193504A JP 2002362824 A JP2002362824 A JP 2002362824A JP 2002362824 A JP2002362824 A JP 2002362824A JP 2004193504 A JP2004193504 A JP 2004193504A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring board
- wiring
- light
- conductor
- lower surfaces
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
【解決手段】複数の絶縁層1を積層して成る略平板状の母基板8に、その上下面および絶縁層1間に被着させた導体層から成る配線導体2を備えた配線基板領域6を複数個配列して成るとともに、この配線基板領域6の周囲で上下面の相対向する位置に、この上下面に母基板8を透過する光を同時に照射することにより配線基板領域6の位置を確認するための、光を透過しない枠状の位置決めマーク5を複数形成して成る多数個取り配線基板であって、母基板8は、相対向する枠状の位置決めマーク5間の絶縁層1間に、光を遮る遮光層7が形成されている。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、広面積の母基板中に半導体素子や抵抗器等の電子部品を搭載するための配線基板となる配線基板領域を多数個配列形成して成る多数個取り配線基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体素子や抵抗器等の電子部品を搭載するために用いられる配線基板として、ガラス基材および熱硬化性樹脂から成る絶縁層と銅箔等の導体層から成る配線導体とを交互に複数積層するとともに絶縁層の上面からから下面にかけて絶縁層を挟んで上下に位置する配線導体同士を絶縁層に設けた貫通導体により接続して成る配線基板が知られている。
【0003】
このような小型の配線基板は、その生産効率を高めるために多数個取り配線基板の形態で製造されている。この多数個取り配線基板は、絶縁層と配線導体用の導体層とを複数積層して成る広面積の母基板中に配線導体および貫通導体を有する多数の配線基板領域を縦横の並びに一体的に配列形成して成り、その母基板を各配線基板領域の境界に沿って分割することにより、多数の配線基板を同時集約的に製造するようにしたものである。
【0004】
このような多数個取り配線基板は、まず、中央部に配線基板と成る配線基板用領域を縦横の並びに有する母基板用の未硬化の絶縁層を複数枚準備し、次にそれらの未硬化の絶縁層における各配線基板用領域に貫通導体を設けるための貫通孔を形成するとともにそれらの貫通孔内に貫通導体用の未硬化の導電性ペーストを充填し、次にそれらの未硬化の絶縁層における各配線基板用領域の表面に銅箔等の導体層から成る配線導体を周知の転写法により転写埋入させ、次にそのような未硬化の絶縁層を複数枚積層するとともに上下から加熱加圧して絶縁層および導電性ペーストを熱硬化させることにより形成される。
【0005】
なお、このような多数個取り配線基板においては、各配線基板領域に形成した配線導体の導通試験や配線導体間の絶縁試験などの電気検査を行なう際の位置合わせのために、通常は、各配線基板領域の周囲で母基板の上下面の相対向する位置に、各配線基板領域の上下面の配線導体を形成するのと同時に複数対の枠状の位置決めマークを形成しておき、これらの上下複数対の位置決めマークを上面側と下面側とで光を当てながら画像認識装置によってそれぞれ同時に認識させ、その認識データを基にして各配線基板領域の上下面における配線導体と電気検査のための検査装置の検査端子とを位置合わせして電気検査を行なっている。
【0006】
【特許文献1】
特開2001−251051号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、昨今の電子部品における軽薄短小化の流れのなかで配線基板の高密度化のために微細な配線が採用されており、多数の配線基板領域が配列形成された母基板の厚みも200〜500μm程度と薄いものとなってきている。このように多数個取り配線基板における母基板の厚みが薄くなると、電気検査を行なうために、母基板の上下面の相対向する位置に設けた複数対の枠状の位置決めマークを上下から同時に画像認識により認識させると、一方の面側からの光が母基板の反対側の絶縁層を透過してしまう。そのため位置決めマークと絶縁層とのコントラストの差が小さくなり、位置決めマークを明確に認識できず、電気検査装置の検査端子が正確な位置に接触できなくなる。その結果、正確な電気検査ができないという問題点を誘発した。
【0008】
本発明は上記従来技術における問題点に鑑み完成されたものであり、その目的は、位置決めマークと絶縁層とのコントラス差を大きくし、電気検査を行なう際に電気検査装置の検査端子が各配線基板領域の上下面における配線導体の所定の位置に正確に接触し、正確な電気検査を行なうことができる多数個取り配線基板を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の多数個取り配線基板は、複数の絶縁層を積層して成る略平板状の母基板に、その上下面および前記絶縁層間に被着させた導体層から成る配線導体を備えた配線基板領域を複数個配列して成るとともに、この配線基板領域の周囲で前記上下面の相対向する位置に、この上下面に前記母基板を透過する光を同時に照射することにより前記配線基板領域の位置を確認するための、前記光を透過しない枠状の位置決めマークを複数形成して成る多数個取り配線基板であって、前記母基板は、相対向する前記枠状の位置決めマーク間の前記絶縁層間に、前記光を遮る遮光層が形成されていることを特徴とするものである。
【0010】
本発明の多数個取り配線基板によれば、母基板の相対向する枠状の位置決めマーク間の絶縁層間に、光を遮る遮光層を形成したことから、母基板の上下面に母基板を透過する光を同時に照射することにより各配線基板領域の上下面における配線導体の位置を認識する場合において、母基板の一方の面側から照射した光が遮光層にさえぎられて反対側の絶縁層を透過することが無いために枠状の位置決めマークと絶縁層とのコントラストの差を大きくでき、その結果、電気検査を行なう際に検査端子が各配線基板領域内の配線導体の所定の位置に正確に接触するので、正確な電気検査を行なうことができる多数個取り配線基板とすることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
つぎに、本発明の多数個取り配線基板を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
図1(a)は本発明の多数個取り配線基板の平面図であり、図1(b)は要部拡大断面図である。これらの図において、1は絶縁層、2は配線導体、3は貫通孔、4は貫通導体、5は枠状の位置決めマーク、6は配線基板領域、7は遮光層、8は母基板であり、主にこれらで本発明の多数個取り配線基板が構成されている。
【0012】
本発明の多数個取り配線基板は、絶縁層1を複数積層して成る母基板8の中央部に複数の配線基板領域6を配設するとともに、配線基板領域6の周囲で母基板8の上下面の相対向する位置に枠状の位置決めマーク5を複数対配設させている。
【0013】
母基板8は、本例では3層の絶縁層1が積層されてなり、その上面中央部には、多数の配線基板領域6が間に捨て代領域を介して縦横の並びに配列形成されている。各配線基板領域6は、それぞれが半導体素子等の電子部品(図示せず)を搭載するための小型の配線基板となる領域であり、その上下面および絶縁層1の間に配線導体2が配設されているとともに各絶縁層1の上面から下面にかけて、それらの絶縁層1を挟んで上下に位置する配線導体2同士を電気的に接続する貫通導体4が配設されている。
【0014】
母基板8は、その上下面および内部に位置する配線導体2や、上下に位置する配線導体2間を電気的に接続する貫通導体4を支持する支持部材としての機能を有し、厚みが200〜500μmの略平板状である。厚みが200μm未満となると、母基板8の剛性が低下してソリが発生し易くなり、半導体素子等の電子部品を搭載することが困難となる傾向があり、500μmを超えると、このような配線基板を用いた電子装置の小型化が困難となる傾向がある。従って、母基板8の厚みは200〜500μmが好ましい。
【0015】
母基板8を構成する絶縁層1は、ガラス繊維基材にエポキシ樹脂やPPE(ポリフェニレンエーテル樹脂)・フェノール系樹脂・トリアジン系樹脂・ポリイミド系樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させた、いわゆるプリプレグを硬化して形成されている。このようなガラス繊維基材は、織布や不織布として絶縁層1に対しては30〜70体積%の割合で含有され、熱硬化性樹脂が硬化収縮する際の絶縁層1のそり・変形等を抑制する機能を有する。
【0016】
絶縁層1用のプリブレグは、例えば熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂から成る場合であれば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂・ノボラック型エポキシ樹脂・グリシジルエステル型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂に芳香族アミン等の架橋剤・溶剤・可塑剤・分散剤等を添加した混合物を混練して液状ワニスを得て、この液状ワニスをガラス繊維基材に含浸させとともに、これを60〜100℃の温度で30分〜24時間乾燥することにより形成される。なお、絶縁層1の厚みは自由に設定することができるが、絶縁性の観点からは50μm以上、配線基板の薄型化の観点からは200μm以下の範囲の厚みが好ましい。
【0017】
なお、絶縁層1は、後述するように例えばレーザで絶縁層1に貫通孔3を形成する際にその穴径や形状を均一化するために、ガラス繊維基材を加圧しその隙間を減少させて密度を均一化したガラス繊維基材に熱硬化性樹脂を含浸させて形成することも可能である。
【0018】
また、各配線基板領域6の上下面および絶縁層1間に配設された配線導体2は、銅箔や金箔等の導体層から成り、配線基板に搭載される半導体素子等の電子部品を外部電気回路の配線導体(図示せず)に電気的に接続する機能を有し、例えば配線導体2の形状に形成された銅箔を転写する転写法、めっきによって配線導体2を形成するめっき法等を採用することにより絶縁層1の表面に被着形成される。
【0019】
なお、配線導体2は、その厚みが5〜50μm程度であり、高速の電気信号を伝達させるという観点からは5μm以上であることが好ましく、配線導体2を絶縁層1から剥離し難いものとするためには、50μm以下としておくことが好ましい。
【0020】
さらに、各配線基板領域6における各絶縁層1の上面から下面にかけて形成された貫通導体4は、各絶縁層1を挟んで上下に位置する配線導体2同士を電気的に接続することにより高密度な多層配線構造を提供するための接続導体であり、絶縁層1に設けた直径が50〜300μm程度の貫通孔3内に銅等の金属粉末を熱硬化性樹脂等の有機材料で結合した導電性材料を充填させることにより形成されている。貫通孔3は、ドリル等の機械的方法や炭酸ガスレーザやYAGレーザ・エキシマレーザ等の従来周知のレーザを用いて形成され、好適には、絶縁層1の材料に依存せず微細加工ができるとともに貫通孔3の孔径を50〜300μmの範囲で自由に形成でき、かつ加工速度の速い炭酸ガスレーザを用いて形成されることが好ましい。
【0021】
また貫通導体4は、貫通孔3の内部に銅等の金属粉末と熱硬化性樹脂等の有機材料とを含有する導体ペーストを従来周知のスクリーン印刷法や圧入法等を採用して充填するとともにそれを硬化することにより形成されている。
【0022】
このような貫通導体4と成る導体ぺーストは、銅・銀・アルミニウム・金等の金属材料の1種または2種以上の混合物を主体とする金属粉末を熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂等の有機材料により結合することにより形成されており、低抵抗値という観点からは、銅または銅を含む混合物あるいは上記から選ばれる金属に他の金属を被覆したものを主成分とする金属粉末を用いて形成されることが好ましい。また、貫通導体4をより低抵抗値化するために、半田や錫等の低融点金属の粉末を用いることも行なわれる。さらに、抵抗値の調整をする目的で、ニッケル−クロム合金などの高抵抗金属やこの高抵抗金属と低抵抗金属とを合金化した金属粉末を用いることも行なわれる。
【0023】
貫通導体4に含有される金属粉末は、導電性を確保するためにはその含有量は70重量%以上であることが好ましく、また、貫通導体4に含有される金属粉末を熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂で強固に結合するにはその含有量は95%以下が好ましい。従って、貫通導体4に含有される金属粉末は、70〜95重量%の範囲とすることが好ましい。
【0024】
なお、導体ペーストの粘度をせん断速度が100s-1の測定条件において20〜1000Pa・sの範囲が好ましい。導体ペーストの粘度がせん断速度が100s-1の測定条件において20Pa・s未満であると、貫通孔3に導体ペーストを充填する際に、貫通孔3の周囲にだれ・にじみ等を生じ易くなり、また、1000Pa・sを超えると導体ペーストの流動性が低下して、貫通孔3に導体ペーストを充填することが困難となる傾向がある。従って、導体ペーストの粘度はせん断速度が 100s-1の測定条件において20〜1000Pa・sの範囲が好ましい。なお、導体ペーストの粘度は、有機系の結合剤や溶剤を添加することにより適宜調整することができる。
【0025】
また、金属粉末は、その平均粒径が0.1〜15μmの範囲であることが好ましく、平均粒径が0.1μm未満であると導体ペーストの粘度が増加して、導体ペーストを貫通孔3に良好に充填することが困難となる傾向があり、15μmを超えると金属粉末を有機材料に均一に分散させることが困難となる傾向にある。従って、導体ペーストに含有される金属粉末の平均粒径は0.1〜15μmの範囲であることが好ましい。
【0026】
さらに、本発明の多数個取り配線基板においては、各配線基板領域6の周囲で母基板8の上下面の相対向する位置には、電気検査の位置確認のための枠状の位置決めマーク5が彼着形成されている。
この各配線基板領域6の周囲における母基板8の上下面の相対する位置に配設された位置決めマーク5の大きさは、500〜2500μmであって、厚さが5〜50μmの金属箔から成り、位置決めマーク5の中央部に丸形・正方形・十字型等の中抜き形状を形成して枠状とし、画像認識を行なう。位置決めマーク5の中抜き形状は、容易な形状であれば特に限定はされないが、丸形・正方形・十字型等の座標の認識が容易な形状が望ましい。
【0027】
位置決めマーク5の大きさが500μm未満になると小さすぎて認識し難い傾向にあり、2500μmを超えると母基板8上に配線基板領域6を高密度に配設するのが困難になる傾向にあり、また画像認識を倍率を下げて行なう必要があるため位置決めの精度が低下するといった傾向にある。従って、位置決めマーク5の大きさは、500〜2500μmとすることが好ましい。
【0028】
なお、このような位置決めマーク5は、銅箔や金箔等から成り、特に加工性および安価という観点からは銅箔から成ることが好ましく、さらに、位置決めマーク5を配線基板領域6の配線導体2と同じ金属から成るものとすることにより、位置決めマーク5と配線導体2とを同時に形成することができるために、生産効率の高い多数個取り配線基板とすることができる。従って、位置決めマーク5を配線基板領域6の配線導体2同じ金属から成るものとすることが好ましい。
【0029】
さらに母基板8は絶縁層1間で上下面の相対向する位置に形成された位置決めマーク5間に、遮光層7が形成されている。そして、本発明の多数個取り配線基板においてはこのことが重要である。
本発明の多数個取り配線基板によれば、母基板8の絶縁層1間で上下面の相対向する位置に形成された位置決めマーク5間に、遮光層7を形成したことから、母基板8の上下面に母基板8を透過する光を同時に照射して各配線基板領域6の上下面における配線導体2の位置を同時に認識する場合において、母基板8の一方の面側から照射した光が遮光層7にさえぎられて反対側の絶縁層1を透過することが無いために位置決めマーク5と周囲の絶縁層1とのコントラストの差を大きくでき、その結果、電気検査を行なう際に検査端子が配線基板領域6内の配線導体2の所定の位置に正確に接触するので、正確な電気検査を行なうことができる多数個取り配線基板とすることができる。なお、母基板8の上下面に母基板8を透過する光を照射するのは、絶縁層1と位置決めマーク5とのコントラストの差を大きくして、位置決めマーク5の位置を正確に認識するためである。
【0030】
このような遮光層7は、枠状の位置決めマーク5に形成した中抜き形状よりも200μm以上大きくすることが望ましい。遮光層7が枠状の位置決めマーク5に形成した中抜き形状よりも200μm未満大きい場合、背面の光源からの光がもれてしまい、位置決めマーク5を良好に認識できなくなる傾向がある。他方遮光層7が母基板8の表面に形成した位置決めマーク5よりも大きいと母基板8上に配線基板領域6を高密度に配設するのが困難になる傾向がある。
【0031】
なおこのような遮光層7は、銅箔や金箔等の導体層から成り、特に加工性および安価という観点からは銅箔から成ることが好ましく、さらに、遮光層7を配線基板領域6の配線導体2同じ金属から成るものとすることにより、遮光層7と配線導体2とを同時に形成することができるために、生産効率の高い多数個取り配線基板とすることができる。従って、遮光層7を配線基板領域6の配線導体2同じ金属から成るものとすることが好ましい。
【0032】
かくして、本発明の多数個取り配線基板によれば、母基板8の絶縁層1間で、上下面の相対向する位置に形成された位置決めマーク5間に位置する遮光層7が反対側の光源からの光を遮断するために、絶縁層1と位置決めマーク5のコントラストの差が大きくなるために、良好な画像認識ができ、その結果、電気検査を行なう際に検査端子が配線基板領域6内の配線導体2の所定の位置に正確に接触するので、正確な電気検査結果を行なうことができる多数個取り配線基板とすることができる。
【0033】
なお、本発明は上述の実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能であり、例えば上述の実施例ではガラス繊維基材に熱硬化性樹脂を含浸させたプリプレグを用いているが、薄型のプリント基板の剛性を向上するために、熱硬化性樹脂に対して、シリカやアルミナ・ムライト・ジルコニアなどの無機粉末を5〜70体積%の割合で添加したプリプレグシートを用いてもかまわない。
【0034】
【発明の効果】
本発明の多数個取り配線基板によれば、母基板の相対向する枠状の位置決めマーク間の絶縁層間に、光を遮る遮光層を形成したことから、母基板の上下面に母基板を透過する光を同時に照射することにより各配線基板領域の上下面における配線導体の位置を認識する場合において、母基板の一方の面側から照射した光が遮光層にさえぎられて反対側の絶縁層を透過することが無いために枠状の位置決めマークと絶縁層とのコントラストの差を大きくでき、その結果、電気検査を行なう際に検査端子が各配線基板領域内の配線導体の所定の位置に正確に接触するので、正確な電気検査を行なうことができる多数個取り配線基板とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)、(b)は、それぞれ本発明の多数個取り配線基板の実施の形態の一例を示す平面図および要部拡大断面図である。
【符号の説明】
1・・・・・・絶縁層
2・・・・・・配線導体
3・・・・・・貫通孔
4・・・・・・貫通導体
5・・・・・・位置決めマーク
6・・・・・・配線基板領域
7・・・・・・遮光層
8・・・・・・母基板
Claims (1)
- 複数の絶縁層を積層して成る略平板状の母基板に、その上下面および前記絶縁層間に被着させた導体層から成る配線導体を備えた配線基板領域を複数個配列して成るとともに、該配線基板領域の周囲で前記上下面の相対向する位置に、該上下面に前記母基板を透過する光を同時に照射することにより前記配線基板領域の位置を確認するための、前記光を透過しない枠状の位置決めマークを複数形成して成る多数個取り配線基板であって、前記母基板は、相対向する前記枠状の位置決めマーク間の前記絶縁層間に、前記光を遮る遮光層が形成されていることを特徴とする多数個取り配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002362824A JP2004193504A (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | 多数個取り配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002362824A JP2004193504A (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | 多数個取り配線基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004193504A true JP2004193504A (ja) | 2004-07-08 |
Family
ID=32761162
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002362824A Pending JP2004193504A (ja) | 2002-12-13 | 2002-12-13 | 多数個取り配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004193504A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI507108B (zh) * | 2013-07-29 | 2015-11-01 | Zhen Ding Technology Co Ltd | 柔性電路板及其製作方法 |
JP6384647B1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-09-05 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子機器および電子部品の実装方法 |
-
2002
- 2002-12-13 JP JP2002362824A patent/JP2004193504A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI507108B (zh) * | 2013-07-29 | 2015-11-01 | Zhen Ding Technology Co Ltd | 柔性電路板及其製作方法 |
JP6384647B1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-09-05 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子機器および電子部品の実装方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8238109B2 (en) | Flex-rigid wiring board and electronic device | |
US8609991B2 (en) | Flex-rigid wiring board and method for manufacturing the same | |
EP2954760B1 (en) | Fusion bonded liquid crystal polymer circuit structure | |
KR101194713B1 (ko) | 모듈, 배선판 및 모듈의 제조 방법 | |
US6519161B1 (en) | Molded electronic package, method of preparation and method of shielding-II | |
KR20090130727A (ko) | 전자부품 내장형 인쇄회로기판 및 그 제조방법 | |
KR20020033522A (ko) | 덴드라이트 상호접속을 이용하여 박판에 대한 박막의 부착 | |
JP2008226945A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2008294381A (ja) | 電子部品モジュール及び電子部品モジュールの製造方法 | |
JPWO2009104506A1 (ja) | プリント配線板、電子装置及びその製造方法 | |
JP4854770B2 (ja) | プリント基板ユニット及び電子機器 | |
JP2006210870A (ja) | 部品内蔵モジュール及びその製造方法 | |
JP2004274035A (ja) | 電子部品内蔵モジュールとその製造方法 | |
CN113260134B (zh) | 用于通孔和表面安装的散热 | |
JP3930222B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2004193504A (ja) | 多数個取り配線基板 | |
US20220020807A1 (en) | Intermediate connection member, method for manufacturing intermediate connection member, electronic module, method for manufacturing electronic module, and electronic equipment | |
JP2012174710A (ja) | 多層配線板及びその製造方法 | |
KR20120050834A (ko) | 반도체 패키지 기판의 제조방법 | |
CN210157483U (zh) | 多层基板 | |
JP4698100B2 (ja) | 多数個取り配線基板 | |
KR20120085208A (ko) | 전자부품 실장용 배선기판의 제조방법, 전자부품 실장용 배선기판, 및 전자부품을 가진 배선기판의 제조방법 | |
JP2013145824A (ja) | 配線板、電子ユニット及び配線板の製造方法 | |
JP2010027920A (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体構成体組立体 | |
JP2023156805A (ja) | プリント回路板の製造方法、プリント回路板及びプリント回路板用構造体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050516 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070130 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070405 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070508 |