JP2004192715A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ランドプリピット信号とウォブル信号とを高精度に検出することができる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ディスク装置は、フォトディテクタと、フォトディテクタによって生成された一対の差分信号に基づいて第１ラジアルプッシュプル信号を検出する第１プッシュプル信号検出回路と、第１ラジアルプッシュプル信号に基づいてウォブル信号を検出するウォブル検出回路と、一対の差分信号に基づいて第２ラジアルプッシュプル信号を検出する第２プッシュプル信号検出回路と、第２ラジアルプッシュプル信号に基づいてランドプリピット信号を検出するプリピット検出回路とを具備することを特徴とする。
【選択図】 図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の周期によってウォブリングして形成されたランドトラックにランドプリピットが形成された光ディスクに情報を記録再生する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、情報記録媒体として用いられる光ディスクの高密度化が進み、当初音楽用として開発されたＣＤ（コンパクトディスク）等よりもさらに記憶密度が向上したＤＶＤ（ディジタルバーサタイルディスク）が開発され、映像記録用等に使用されている。
【０００３】
このような高密度記録媒体のうち、情報を記録可能な光ディスクとして、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷが使用されている。このような光ディスクには、情報を記録する時の記録位置を検出するために必要なアドレス情報等のプリ情報があらかじめ記録されている。
【０００４】
このようなＤＶＤ−Ｒ／ＲＷに予め記録されたプリ情報は、トラックを揺動（ウォブリング）することによって形成されたウォブルと、ランドトラックに形成されたランドプリピットに基づいて検出することができる。
【０００５】
ウォブルに基づいて検出されるウォブル信号は、記録クロックを生成するため、及び光ディスクの回転数を制御するために使用される。このため、光ディスク装置においてウォブル信号の検出精度を確保することは非常に重要である。
【０００６】
また、ランドプリピットに基づいて検出されるランドプリピット信号は、アドレス情報を検出するため、および記録クロックを生成するために使用される。このため、ランドプリピット信号の検出精度を確保することは非常に重要である。
【０００７】
ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷにおける従来のランドプリピット信号の検出方法を説明する。まず、光ディスクに形成されたグループトラックにレーザー光を照射して、その反射光をグループトラックの接線方向に沿って光学的に２分割されたフォトディテクターによって受光する。そして、反射光を受光したフォトディテクターからの２つの出力信号の差分信号であるラジアルプッシュプル信号に基づいてランドプリピット信号を検出する。従って、ランドプリピット信号の検出精度を確保するためには、ラジアルプッシュプル信号の品位を向上させることが必要である。
【０００８】
しかしながら、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ等の光ディスクにおいては、ＣＤ等よりも記録密度が飛躍的に向上している一方で、光ディスクの記録面を照射するレーザースポット径は小さくなったものの、トラックピッチほどには小さくなっていないため、記録再生中のラジアルチルト等の影響を受けて、ラジアルプッシュプル信号の品位が損なわれるおそれがあった。
【０００９】
記録再生中において、２分割されたフォトディテクターにより検出された、記録マークにより変調される反射光におけるＲＦ信号成分のバランスがラジアルチルト等により崩れて、ラジアルプッシュプル信号に混入するノイズ成分が増加する。しかし、ラジアルチルトに対して機械的な設計や調整精度の向上、フィードバック制御により対処したとしても、ラジアルプッシュプル信号に混入するノイズ成分を除去することが出来ず、ランドプリピットの誤検出、ウォブル信号におけるジッタ増加等の問題があった。
【００１０】
そこで、２分割されたフォトディテクターからの各検出信号の振幅を一定量として、その差分を取ってラジアルプッシュプル信号とし、ラジアルプッシュプル信号に混入するＲＦ信号成分を低減する対策も提案されている。
【００１１】
図１６は、従来の光ディスク装置９０の構成を示すブロック図である。従来の光ディスク装置９０は、モータ１０２を備えている。モータ１０２は、光ディスク１０１を所定の回転数に従って回転させる。
【００１２】
光ディスク装置９０には、ピックアップ１２２が設けられている。ピックアップ１２２は、レーザ発振器１０５を有している。レーザ発振器１０５は、レーザビームＡをハーフミラー１０４へ向かって出射する。レーザ発振器１０５から出射したレーザビームＡは、ハーフミラー１０４によって反射され、対物レンズ１０３を通り抜けて光ディスク１０１の表面に収束する。
【００１３】
図１７は、光ディスク１０１に形成された記録領域を拡大して示した斜視図である。光ディスク１０１の表面には、グルーブトラック２０２とランドトラック２０３とが形成されている。グルーブトラック２０２とランドトラック２０３とは、所定の周期によってウォブリングして形成されている。ランドトラック２０３には、ランドプリピット２０６が形成されている。図１７に示す例では、レーザビームＡはグルーブトラック２０２の上に収束している。
【００１４】
グルーブトラック２０２の上において反射したレーザビームＡは対物レンズ１０３およびハーフミラー１０４を通り抜けてフォトディテクタ１４へ入射する。フォトディテクタ１４は、グルーブトラック２０２の接線方向に対して光学的に平行な方向に沿って２個の領域に分割されており、入射したレーザビームＡに基づいて、プッシュプル法に従って一対の差分信号を生成してプッシュプル信号検出回路１２へ出力する。
【００１５】
プッシュプル信号検出回路１２は、ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂを有している。ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂは、互いに実質的に同一の構成を有している。ＡＧＣ回路１５０Ａは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。ＡＧＣ回路１５０Ｂは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。
【００１６】
図１８は、ＡＧＣ回路１５０Ａの構成を示すブロック図である。ＡＧＣ回路１５０ＢはＡＧＣ回路１５０Ａと実質的に同一の構成を有している。従って、ＡＧＣ回路１５０Ｂの構成の詳細な説明は省略する。
【００１７】
ＡＧＣ回路１５０Ａには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）３０１が設けられている。可変ゲイン増幅器３０１は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方を、増幅器３０７から供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅して、サンプルホールド回路（ＳＨ）３０２へ供給する。
【００１８】
サンプルホールド回路３０２は、可変ゲイン増幅器３０１によって増幅された一対の差分信号の一方をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてエンベロープ検出回路（ＥＮＶ）３０４へ供給する。エンベロープ検出回路３０４は、サンプルホールド回路３０４によってホールドされた差分信号のエンベロープ波形を検出してローパスフィルタ（ＬＰＦ）３０５へ供給する。
【００１９】
ローパスフィルタ３０５は、エンベロープ検出回路３０４によって検出された差分信号のエンベロープ波形を平滑化して差動回路３０６へ供給する。差動回路３０６は、ローパスフィルタ３０５によって平滑化された差分信号のエンベロープ波形と所定の基準電圧との間の差を増幅器３０７へ出力する。
【００２０】
増幅器３０７は、差動回路３０６からの出力を増幅して前述したゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器３０１へ供給する。増幅器３０７から供給されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器３０１によって増幅された一対の差分信号の一方は、プッシュプル信号検出回路１２に設けられた差動回路１５０Ｃへ供給される。
【００２１】
ＡＧＣ回路１５０Ｂは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方を、ＡＧＣ回路１５０Ａと同様に増幅して差動回路１５０Ｃへ供給する。
【００２２】
差動回路１５０Ｃは、ＡＧＣ回路１５０Ａによって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路１５０Ｂによって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してウォブル検出回路１３およびプリピット検出回路１１へ出力する。
【００２３】
ウォブル検出回路１３は、差動回路１５０Ｃからの出力に基づいてウォブル信号を検出して、アドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６と位相比較器１２０とへ供給する。プリピット検出回路１１は、差動回路１５０Ｃからの出力に基づいてランドプリピット信号を検出してアドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６とへ供給する。
【００２４】
アドレス検出器１１５は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号とプリピット検出回路１１によって検出されたランドプリピット信号とに基づいて、フォトディテクタ１４によって受光された反射光の光ディスク１０１上における位置を表すアドレス情報を検出してシステムコントローラ１１７へ供給する。
【００２５】
ＰＬＬ１１６は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号とプリピット検出回路１１によって検出されたランドプリピット信号とに基づいて、光ディスク１０１にデータを記録するためのクロック信号を生成して、エンコーダ１１９およびパワー制御回路１０７へ供給する。
【００２６】
インターフェース１１８は、図示しないホストコンピュータからの指令指令信号を受け取り、および光ディスク装置９０において記録再生したデータの受け渡しを行う。システムコントローラ１１７は、インターフェース１１８を介して入力された指令信号とアドレス検出器１１５によって検出されたアドレス情報とに基づいて、デコーダ１１０に再生指示を与え、またエンコーダ１１９に記録指示を与える。
【００２７】
エンコーダ１１９は、システムコントローラ１１７からの記録指示に基づいて、データバッファ１１１に格納されている記録データに対してエラー訂正符号を付加した後、符号変換し、記録変調を行い、パワー制御回路１０７に供給する。
【００２８】
パワー制御回路１０７は、エンコーダ１１９から供給された記録データとＰＬＬ１１６から供給されたクロック信号とに基づいて、ピックアップ１２２に設けられたレーザ発振器１０５における発光パワーを制御するための信号をレーザ駆動回路１０６へ供給する。レーザ駆動回路１０６は、レーザ発振器１０５における発光パワーを制御するようにレーザ発振器１０５を駆動する。
【００２９】
フォトディテクタ１４は、光ディスク１０１からの反射光を受光して、プリピット２０６からのプリピット信号とグルーブトラック２０２からのウォブル信号とを含む記録情報データなどを有する検出信号を生成してヘッドアンプ１０９へ供給する。ヘッドアンプ１０９は、フォトディテクタ１４から供給されたプリピット信号及びウォブル信号を増幅し、その増幅信号をデコーダ１１０へ供給する。デコーダ１１０は、供給された増幅信号をデコードして復調信号を生成しデータバッファ１１１へ格納する。
【００３０】
位相比較器１２０は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号と所定の回転基準信号との間の位相差をスピンドルドライバ１２１へ供給する。スピンドルドライバ１２１は、位相比較器１２０から供給された位相差に基づいて、ディスク１０１を一定速度で回転させるようにスピンドルモータ１０２を駆動する。
【００３１】
このように構成された光ディスク装置９０の動作を説明する。まず、スピンドルモータ１０２がディスク１０１を一定速度で回転させる。そして、レーザ発振器１０５は、レーザビームＡをハーフミラー１０４へ向かって出射する。次に、レーザビームＡはハーフミラー１０４によって反射され、対物レンズ１０３を通り抜けて光ディスク１０１の表面によって反射され、フォトディテクタ１４へ入射する。その後、フォトディテクタ１４は、入射したレーザビームＡに基づいてプッシュプル法に従って一対の差分信号を生成してプッシュプル信号検出回路１２へ供給する。
【００３２】
図１９（ａ）〜図１９（ｈ）は、従来の光ディスク装置９０に設けられたプッシュプル信号検出回路１２の動作を説明するための波形図である。
【００３３】
図１９（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１２のＡＧＣ回路１５０Ａに設けられた可変ゲイン増幅器３０１へ入力される差分信号の波形図である。図１９（ａ）に示す差分信号においては、ランドプリピットに対応したパルス信号が１４０ｋＨｚのサイン波成分に重畳されている。さらに、記録済ディスク１０１においては、図１９（ａ）においてクロスハッチングした領域がＲＦ変調されている。
【００３４】
図１９（ｂ）は、ＡＧＣ回路１５０Ａに設けられたサンプルホールド回路３０２へ供給されるサンプルホールド制御信号の波形図である。図１９（ｂ）に示すように、サンプルホールド制御信号は、ランドプリピット領域の周辺に対応する期間の間でホールドレベルとなる信号である。
【００３５】
図１９（ｃ）は、サンプルホールド回路３０２から出力される信号の波形図である。サンプルホールド回路３０２から出力される信号においては、図１９（ａ）において重畳されていたランドプリピットに対応したパルス信号が、除去されている。
【００３６】
図１９（ｄ）は、エンベロープ検出回路３０４から出力される信号の波形図である。エンベロープ検出回路３０４から出力される信号においては、ＲＦ信号成分が除かれており、非マーク部における反射レベルが検出される。
【００３７】
図１９（ｅ）は、ローパスフィルタ３０５から出力される信号の波形図である。ローパスフィルタ３０５から出力される信号は、実線によって示されており、一点鎖線によって示されたエンベロープ検出回路３０４から出力される信号を平滑化した信号である。破線によって示される信号は、基準レベルを表す信号を示している。差動回路３０６は、破線によって示される基準レベルを示す信号と実線によって示されるローパスフィルタ３０５から出力される信号との間の差を出力する。
【００３８】
図１９（ｆ）は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方が入力されるＡＧＣ回路１５０Ａに設けられた可変ゲイン増幅器３０１において、ゲイン調整されて差動回路１５０Ｃへ供給される信号の波形図である。
【００３９】
図１９（ｇ）は、一対の差分信号の他方が入力されるＡＧＣ回路１５０Ｂに設けられた可変ゲイン増幅器３０１において、ゲイン調整されて差動回路１５０Ｃへ供給される信号の波形図である。
【００４０】
ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂに設けられた差動回路３０６に入力された基準信号とＬＰＦ３０５からの入力信号の平均レベルとの間の差が増幅されて、可変ゲイン増幅器３０１に入力されるゲイン制御信号に加算される。可変ゲイン増幅器３０１において、加算されたゲイン制御信号が入力されることによって、可変ゲイン増幅器３０１の出力レベルの平均値が基準レベルになるように制御される。
【００４１】
図１９（ｈ）は、プッシュプル信号検出回路１２が出力する信号の波形図である。従来の光ディスク装置９０に搭載されるプッシュプル信号検出回路１２では、ＡＧＣ後の各ＲＦ信号成分の平均値が基準レベルとなるため、図１９（ｈ）に示すように、ウォブル信号およびランドプリピット信号を損なうことなく、ＲＦ信号の混入を抑制することが可能である。
【００４２】
【特許文献１】
特開２００２−１１７５３６号公報
【００４３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、２分割されたフォトディテクタの各検出信号のＤＣ成分に、オフトラック、記録マーキングずれおよび回路オフセットなどの影響によりオフセットが生じた場合には、前述した従来技術の構成に従って各検出信号に対して振幅調整を実施しても、ＲＦ信号成分を完全に除去することができない。このため、ランドプリピット信号の検出精度が低下するという問題がある。
【００４４】
図２０は、従来の光ディスク装置９０に設けられたプッシュプル信号検出回路１２の他の動作を説明するための波形図である。
【００４５】
図２０（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１２のＡＧＣ回路１５０Ａに設けられた可変ゲイン増幅器３０１へ入力される一対の差分信号の一方の波形図である。図２０（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【００４６】
図２０（ｂ）は、プッシュプル信号検出回路１２のＡＧＣ回路１５０Ｂに設けられた可変ゲイン増幅器３０１へ入力される一対の差分信号他方の波形図である。図２０（ｂ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じていない場合の波形を示している。
【００４７】
図２０（ｃ）は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方が入力されるＡＧＣ回路１５０Ａに設けられた可変ゲイン増幅器３０１においてゲイン調整されて差動回路１５０Ｃへ供給される信号の波形図である。
【００４８】
図２０（ｄ）は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方が入力されるＡＧＣ回路１５０Ｂに設けられた可変ゲイン増幅器３０１においてゲイン調整されて差動回路１５０Ｃへ供給される信号の波形図である。
【００４９】
図２０（ｃ）および図２０（ｄ）に示す波形は、いずれも、前述した従来技術に示すとおり基準レベルに調整されている。
【００５０】
図２０（ｅ）は、プッシュプル信号検出回路１２が出力する信号の波形図である。図２０（ｅ）に示すように、２分割されたフォトディテクタ１４の各検出信号のＤＣ成分に、オフトラック、記録マーキングずれおよび回路オフセットなどの影響によりオフセットが生じた場合には、前述した従来技術の構成に従って各検出信号に対して振幅調整を実施しても、ＲＦ信号成分が残留している。
【００５１】
本発明は係る問題を解決するためになされたものであり、その目的は、ランドプリピット信号とウォブル信号とを高精度に検出することができる光ディスク装置を提供することにある。
【００５２】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光ディスク装置は、所定の周期によってウォブリングして形成されたランドトラックにランドプリピットが形成された光ディスクによって反射された反射光を受光し、前記受光した反射光に基づいて、プッシュプル法に従って一対の差分信号を生成するフォトディテクタと、前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号に基づいて第１ラジアルプッシュプル信号を検出する第１プッシュプル信号検出回路と、前記第１プッシュプル信号検出回路によって検出された前記第１ラジアルプッシュプル信号に基づいてウォブル信号を検出するウォブル検出回路と、前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号に基づいて第２ラジアルプッシュプル信号を検出する第２プッシュプル信号検出回路と、前記第２プッシュプル信号検出回路によって検出された前記第２ラジアルプッシュプル信号に基づいてランドプリピット信号を検出するプリピット検出回路とを具備することを特徴とする。
【００５３】
【発明の実施の形態】
本実施の形態に係る光ディスク装置においては、第１プッシュプル信号検出回路が、フォトディテクタによって生成された一対の差分信号に基づいて第１ラジアルプッシュプル信号を検出し、第１プッシュプル信号検出回路によって検出された第１ラジアルプッシュプル信号に基づいてウォブル検出回路がウォブル信号を検出し、第２プッシュプル信号検出回路が、フォトディテクタによって生成された一対の差分信号に基づいて第２ラジアルプッシュプル信号を検出し、第２プッシュプル信号検出回路によって検出された第２ラジアルプッシュプル信号に基づいてプリピット検出回路がランドプリピット信号を検出する。
【００５４】
このため、フォトディテクタによって生成された一対の差分信号にオフセット成分が生じた場合であっても、第２プッシュプル信号検出回路によってＲＦ信号成分を完全に除去するように第２ラジアルプッシュプル信号を検出することができる。その結果、ランドプリピット信号の検出精度を向上させることができる。
【００５５】
前記第２プッシュプル信号検出回路は、前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号の一方の振幅を調整する第１ＡＧＣ回路と、前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号の他方の振幅を調整する第２ＡＧＣ回路と、前記第１ＡＧＣ回路によって振幅を調整された前記一対の差分信号の前記一方と前記第２ＡＧＣ回路によって振幅を調整された前記一対の差分信号の前記他方との間の差を検出する差動回路とを有していることが好ましい。
【００５６】
前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、前記ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、前記エンベロープ検出回路の出力を平滑化するローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力電圧と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有していることが好ましい。
【００５７】
前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、前記ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、前記エンベロープ検出回路の出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有していることが好ましい。
【００５８】
前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、前記ハイパスフィルタの出力を整流して出力する全波整流回路と、前記全波整流回路の出力を平滑化して出力するローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有していることが好ましい。
【００５９】
前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、前記ハイパスフィルタの出力を整流して出力する半波整流回路と、前記半波整流回路の出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、前記エンベロープ検出回路の出力を平滑化して出力するローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有していることが好ましい。
【００６０】
前記基準電圧は、前記一対の差分信号の一方の電圧と前記一対の差分信号の他方の電圧との平均電圧になっていることが好ましい。
【００６１】
前記第１ＡＧＣ回路は、前記一対の差分信号の一方を第１ゲイン制御信号に基づいて増幅する第１可変ゲイン増幅器と、前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号の一方をサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するする第１サンプルホールド回路と、前記第１サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力する第１ハイパスフィルタと、前記第１ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力する第１エンベロープ検出回路と、前記第１エンベロープ検出回路の出力におけるピークレベルを検波して出力するピーク検波回路と、前記ピーク検波回路の出力と所定の第１基準電圧との間の差を出力する第１差動回路と、前記第１差動回路の出力を増幅して前記第１ゲイン制御信号として前記第１可変ゲイン増幅器へ出力する第１増幅器とを有しており、前記第２ＡＧＣ回路は、前記一対の差分信号の他方を第２ゲイン制御信号に基づいて増幅する第２可変ゲイン増幅器と、前記第２可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号の他方を前記サンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するする第２サンプルホールド回路と、前記第２サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力する第２ハイパスフィルタと、前記第２ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力する第２エンベロープ検出回路と、前記第２エンベロープ検出回路の出力におけるボトムレベルを検波して出力するボトム検波回路と、前記ボトム検波回路の出力と所定の第２基準電圧との間の差を出力する第２差動回路と、前記第２差動回路の出力を増幅して前記第２ゲイン制御信号として前記第２可変ゲイン増幅器へ出力する第２増幅器とを有していることが好ましい。
【００６２】
前記第１基準電圧と前記第２基準電圧とは、互いに等しくなっていることが好ましい。
【００６３】
前記第１基準電圧と前記第２基準電圧とは、前記一対の差分信号の一方の電圧と前記一対の差分信号の他方の電圧との平均電圧になっていることが好ましい。
【００６４】
前記ウォブル検出回路によって検出された前記ウォブル信号と前記プリピット検出回路によって検出された前記ランドプリピット信号とに基づいて、前記フォトディテクタによって受光された前記反射光の前記光ディスク上における位置を表すアドレス情報を検出するアドレス検出器と、前記ウォブル信号と前記ランドプリピット信号とに基づいて、前記光ディスクにデータを記録するためのクロック信号を生成するＰＬＬとをさらに具備していることが好ましい。
【００６５】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００６６】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示すブロック図である。光ディスク装置１００は、モータ１０２を備えている。モータ１０２は、光ディスク１０１を所定の回転数に従って回転させる。
【００６７】
光ディスク装置１００には、ピックアップ１２２が設けられている。ピックアップ１２２は、レーザ発振器１０５を有している。レーザ発振器１０５は、レーザビームＡをハーフミラー１０４へ向かって出射する。レーザ発振器１０５から出射したレーザビームＡは、ハーフミラー１０４によって反射され、対物レンズ１０３を通り抜けて光ディスク１０１の表面に収束する。
【００６８】
図１７は、光ディスク１０１に形成された記録領域を拡大して示した斜視図である。光ディスク１０１の表面には、グルーブトラック２０２とランドトラック２０３とが形成されている。グルーブトラック２０２とランドトラック２０３とは、所定の周期によってウォブリングして形成されている。ランドトラック２０３には、ランドプリピット２０６が形成されている。図１７に示す例では、レーザビームＡはグルーブトラック２０２の上に収束している。
【００６９】
グルーブトラック２０２の上において反射したレーザビームＡは対物レンズ１０３およびハーフミラー１０４を通り抜けてフォトディテクタ１４へ入射する。フォトディテクタ１４は、グルーブトラック２０２の接線方向に対して光学的に平行な方向に沿って２個の領域に分割されており、入射したレーザビームＡに基づいて、プッシュプル法に従って一対の差分信号を生成して、生成した一対の差分信号をプッシュプル信号検出回路１２およびプッシュプル信号検出回路１へそれぞれ出力する。
【００７０】
プッシュプル信号検出回路１２は、ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂを有している。ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂは、互いに実質的に同一の構成を有している。ＡＧＣ回路１５０Ａは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。ＡＧＣ回路１５０Ｂは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂの構成は、従来の技術において図１８を参照して前述した構成と同一である。従って、ＡＧＣ回路１５０ＡおよびＡＧＣ回路１５０Ｂの構成の詳細な説明は省略する。
【００７１】
差動回路１５０Ｃは、ＡＧＣ回路１５０Ａによって振幅を調整された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路１５０Ｂによって振幅を調整された一対の差分信号の他方との間の差を検出してウォブル検出回路１３へ出力する。
【００７２】
プッシュプル信号検出回路１は、２個のＡＧＣ回路２を有している。ＡＧＣ回路２の一方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。ＡＧＣ回路２の他方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。
【００７３】
図２は、プッシュプル信号検出回路１に設けられたＡＧＣ回路２の構成を示すブロック図である。
【００７４】
ＡＧＣ回路１には、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４が設けられている。可変ゲイン増幅器４は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号を、増幅器９から供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅して、サンプルホールド回路（ＳＨ）５へ供給する。
【００７５】
サンプルホールド回路５は、可変ゲイン増幅器４によって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３へ出力する。ハイパスフィルタ３は、サンプルホールド回路５の出力からＲＦ信号成分を抽出してエンベロープ検出回路（ＥＮＶ）６へ出力する。
【００７６】
エンベロープ検出回路６は、ハイパスフィルタ３の出力のエンベロープ波形を検出してローパスフィルタ（ＬＰＦ）７へ出力する。ローパスフィルタ７は、エンベロープ検出回路６の出力を平滑化して差動回路８へ出力する。差動回路８は、ローパスフィルタ７の出力電圧と所定の基準電圧との間の差を増幅器９へ出力する。
【００７７】
増幅器９は、差動回路８の出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４へ出力する。増幅器９から出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４によって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１に設けられた差動回路１０へ供給される。
【００７８】
差動回路１０は、ＡＧＣ回路２の一方によって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路２の他方によって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してプリピット検出回路１１へ出力する。
【００７９】
ウォブル検出回路１３は、プッシュプル信号検出回路１２に設けられた差動回路１５０Ｃからの出力に基づいてウォブル信号を検出して、アドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６と位相比較器１２０とへ供給する。プリピット検出回路１１は、プッシュプル信号検出回路１に設けられた差動回路１０からの出力に基づいてランドプリピット信号を検出してアドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６とへ供給する。
【００８０】
アドレス検出器１１５は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号とプリピット検出回路１１によって検出されたランドプリピット信号とに基づいて、フォトディテクタ１４によって受光された反射光の光ディスク１０１上における位置を表すアドレス情報を検出してシステムコントローラ１１７へ供給する。
【００８１】
ＰＬＬ１１６は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号とプリピット検出回路１１によって検出されたランドプリピット信号とに基づいて、光ディスク１０１にデータを記録するためのクロック信号を生成して、エンコーダ１１９およびパワー制御回路１０７へ供給する。
【００８２】
インターフェース１１８は、図示しないホストコンピュータからの指令指令信号を受け取り、および光ディスク装置１００において記録再生したデータの受け渡しを行う。システムコントローラ１１７は、インターフェース１１８を介して入力された指令信号とアドレス検出器１１５によって検出されたアドレス情報とに基づいて、デコーダ１１０に再生指示を与え、またエンコーダ１１９に記録指示を与える。
【００８３】
エンコーダ１１９は、システムコントローラ１１７からの記録指示に基づいて、データバッファ１１１に格納されている記録データに対してエラー訂正符号を付加した後、符号変換し、記録変調を行い、パワー制御回路１０７に供給する。
【００８４】
パワー制御回路１０７は、エンコーダ１１９から供給された記録データとＰＬＬ１１６から供給されたクロック信号とに基づいて、ピックアップ１２２に設けられたレーザ発振器１０５における発光パワーを制御するための信号をレーザ駆動回路１０６へ供給する。レーザ駆動回路１０６は、レーザ発振器１０５における発光パワーを制御するようにレーザ発振器１０５を駆動する。
【００８５】
フォトディテクタ１４は、光ディスク１０１からの反射光を受光して、プリピット２０６からのプリピット信号とグルーブトラック２０２からのウォブル信号とを含む記録情報データなどを有する検出信号を生成してヘッドアンプ１０９へ供給する。ヘッドアンプ１０９は、フォトディテクタ１４から供給されたプリピット信号及びウォブル信号を増幅し、その増幅信号をデコーダ１１０へ供給する。デコーダ１１０は、供給された増幅信号をデコードして復調信号を生成しデータバッファ１１１へ格納する。
【００８６】
位相比較器１２０は、ウォブル検出回路１３によって検出されたウォブル信号と所定の回転基準信号との間の位相差をスピンドルドライバ１２１へ供給する。スピンドルドライバ１２１は、位相比較器１２０から供給された位相差に基づいて、ディスク１０１を一定速度で回転させるようにスピンドルモータ１０２を駆動する。
【００８７】
このように構成された光ディスク装置１００の動作を説明する。まず、スピンドルモータ１０２がディスク１０１を一定速度で回転させる。そして、レーザ発振器１０５は、レーザビームＡをハーフミラー１０４へ向かって出射する。次に、レーザビームＡはハーフミラー１０４によって反射され、対物レンズ１０３を通り抜けて光ディスク１０１の表面によって反射され、フォトディテクタ１４へ入射する。その後、フォトディテクタ１４は、入射したレーザビームＡに基づいてプッシュプル法に従って一対の差分信号を生成して、生成した一対の差分信号をプッシュプル信号検出回路１２とプッシュプル信号検出回路１へそれぞれ供給する。
【００８８】
プッシュプル信号検出回路１２に設けられたＡＧＣ回路１５０Ａは、従来の技術において前述した動作と同様にして、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。プッシュプル信号検出回路１２に設けられたＡＧＣ回路１５０Ｂは、従来の技術において前述した動作と同様にして、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。
【００８９】
差動回路１５０Ｃは、ＡＧＣ回路１５０Ａによって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路１５０Ｂによって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してウォブル検出回路１３へ出力する。
【００９０】
図３（ａ）〜図３（ｈ）は、実施の形態１に係る光ディスク装置１００に設けられたプッシュプル信号検出回路１の動作を説明するための波形図である。
【００９１】
図３（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１のＡＧＣ回路２に設けられた可変ゲイン増幅器４へ入力される差分信号の波形図である。図３（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【００９２】
図３（ｂ）は、ＡＧＣ回路２に設けられたサンプルホールド回路５へ供給されるサンプルホールド制御信号の波形図である。図３（ｂ）に示すように、サンプルホールド制御信号は、ランドプリピット領域の周辺に対応する期間の間でホールドレベルとなる信号である。
【００９３】
図３（ｃ）は、サンプルホールド回路５から出力される信号の波形図である。サンプルホールド回路５から出力される信号においては、図３（ａ）において重畳されていたランドプリピットに対応したパルス信号が、除去されている。
【００９４】
図３（ｄ）は、ハイパスフィルタ３から出力される信号の波形図である。図３（ｄ）に示すように、ハイパスフィルタ３から出力される信号においてはＲＦ信号成分が抽出されている。
【００９５】
図３（ｅ）は、エンベロープ検出回路６から出力される信号の波形図である。エンベロープ検出回路６から出力される信号は、ＲＦ信号成分の包絡線、つまりＲＦ信号の振幅を示している。
【００９６】
図３（ｆ）は、ローパスフィルタ７から出力される信号の波形図である。ローパスフィルタ７から出力される信号は、実線によって示されており、一点鎖線によって示されたエンベロープ検出回路６から出力される信号を平滑化した信号である。破線によって示される信号は、基準レベルを表す信号を示している。差動回路８は、破線によって示される基準レベルを示す信号と実線によって示されるローパスフィルタ７から出力される信号との間の差を出力する。
【００９７】
図３（ｇ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号が入力されるＡＧＣ回路２に設けられた可変ゲイン増幅器４において、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。図３（ｈ）は、プッシュプル信号検出回路１に設けられた差動回路１０が出力するプッシュプル信号の波形図である。
【００９８】
ローパスフィルタ７から差動回路８へ入力される信号の平均レベルと差動回路８へ入力される基準電圧との間の差が増幅器９によって増幅されゲイン制御信号に加算されて可変ゲイン増幅器４へ供給される。可変ゲイン増幅器４へ供給されるゲイン制御信号には増幅器９によって増幅された差動回路８からの出力が加算されているため、可変ゲイン増幅器４の出力レベルの平均値が基準レベルになるように制御される。その結果、図３（ｈ）に示すように、プッシュプル信号検出回路１が出力するプッシュプル信号の波形からＲＦ信号成分が除去される。
【００９９】
このように、フォトディテクタ１４からの差分信号の振幅を調整するＡＧＣ回路２から出力される信号においては、各ＲＦ信号成分の振幅の平均値が基準レベルとなるので、ウォブル信号およびランドプリピット信号を損なうことなくＲＦ信号の混入を抑制することができる。
【０１００】
仮にオフトラックまたは記録マーキングずれによって、２分割されたフォトディテクタ１４の出力にアンバランスが生じても、ＲＦ信号の混入を抑制することができる。
【０１０１】
また、光ディスク１０１上の未記録領域において記録再生をしている場合においても、つまりＲＦ信号の混入がない場合であっても、ローパスフィルタ７により平滑化を行うことで、可変ゲイン増幅器４の出力レベルは所望のレベルに収束する。このため、ランドプリピット信号を精度よく検出することができる。
【０１０２】
以上のように実施の形態１によれば、プッシュプル信号検出回路１２が、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号に基づいて第１ラジアルプッシュプル信号を検出し、プッシュプル信号検出回路１２によって検出された第１ラジアルプッシュプル信号に基づいてウォブル検出回路１３がウォブル信号を検出し、プッシュプル信号検出回路１が、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号に基づいて第２ラジアルプッシュプル信号を検出し、プッシュプル信号検出回路１によって検出された第２ラジアルプッシュプル信号に基づいてプリピット検出回路１１がランドプリピット信号を検出する。
【０１０３】
このため、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号にオフセット成分が生じた場合であっても、プッシュプル信号検出回路１によってＲＦ信号成分を完全に除去するように第２ラジアルプッシュプル信号を検出することができる。その結果、ランドプリピット信号の検出精度を向上させることができる。
【０１０４】
（実施の形態２）
図４は、実施の形態２に係る光ディスク装置１００Ａの構成を示すブロック図である。前述した実施の形態１において図１を参照して説明した光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述した光ディスク装置１００と異なる点は、プッシュプル信号検出回路１の替わりにプッシュプル信号検出回路１Ａを備えている点である。
【０１０５】
プッシュプル信号検出回路１Ａは、２個のＡＧＣ回路２Ａを有している。ＡＧＣ回路２Ａの一方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。ＡＧＣ回路２Ａの他方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。
【０１０６】
図５は、プッシュプル信号検出回路１Ａに設けられたＡＧＣ回路２Ａの構成を示すブロック図である。
【０１０７】
ＡＧＣ回路１Ａには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４が設けられている。可変ゲイン増幅器４は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号を、増幅器９Ａから供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅してサンプルホールド回路（ＳＨ）５へ供給する。
【０１０８】
サンプルホールド回路５は、可変ゲイン増幅器４によって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３へ出力する。ハイパスフィルタ３は、サンプルホールド回路５の出力からＲＦ信号成分を抽出してエンベロープ検出回路（ＥＮＶ）６へ出力する。
【０１０９】
エンベロープ検出回路６は、ハイパスフィルタ３の出力のエンベロープ波形を検出して差動回路８Ａへ出力する。差動回路８Ａは、エンベロープ検出回路６の出力電圧と所定の基準電圧との間の差を増幅器９Ａへ出力する。
【０１１０】
増幅器９Ａは、差動回路８Ａの出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４へ出力する。増幅器９Ａから出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４によって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１Ａに設けられた差動回路１０へ供給される。
【０１１１】
差動回路１０は、ＡＧＣ回路２Ａの一方によって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路２Ａの他方によって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してプリピット検出回路１１へ出力する。
【０１１２】
ウォブル検出回路１３は、プッシュプル信号検出回路１２に設けられた差動回路１５０Ｃからの出力に基づいてウォブル信号を検出して、アドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６と位相比較器１２０とへ供給する。プリピット検出回路１１は、プッシュプル信号検出回路１Ａに設けられた差動回路１０からの出力に基づいてランドプリピット信号を検出してアドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６とへ供給する。
【０１１３】
このように構成された光ディスク装置１００Ａの動作を説明する。まず、スピンドルモータ１０２がディスク１０１を一定速度で回転させる。そして、レーザ発振器１０５は、レーザビームＡをハーフミラー１０４へ向かって出射する。次に、レーザビームＡは、ハーフミラー１０４によって反射され、対物レンズ１０３を通り抜けて光ディスク１０１の表面によって反射され、フォトディテクタ１４へ入射する。その後、フォトディテクタ１４は、入射したレーザビームＡに基づいてプッシュプル法に従って一対の差分信号を生成して、生成した一対の差分信号をプッシュプル信号検出回路１２とプッシュプル信号検出回路１Ａへそれぞれ供給する。
【０１１４】
プッシュプル信号検出回路１２に設けられたＡＧＣ回路１５０Ａは、実施の形態１において前述した動作と同様にして、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。プッシュプル信号検出回路１２に設けられたＡＧＣ回路１５０Ｂは、実施の形態１において前述した動作と同様にして、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１５０Ｃへ出力する。
【０１１５】
差動回路１５０Ｃは、ＡＧＣ回路１５０Ａによって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路１５０Ｂによって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してウォブル検出回路１３へ出力する。
【０１１６】
図６（ａ）〜図６（ｇ）は、実施の形態２に係る光ディスク装置１００Ａに設けられたプッシュプル信号検出回路１Ａの動作を説明するための波形図である。
【０１１７】
図６（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１ＡのＡＧＣ回路２Ａに設けられた可変ゲイン増幅器４へ入力される差分信号の波形図である。差分信号においては、１４０ｋＨｚのサイン波成分にランドプリピットに対応したパルス信号が重畳されている。図６（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ変調された領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【０１１８】
図６（ｂ）は、ＡＧＣ回路２Ａに設けられたサンプルホールド回路５へ供給されるサンプルホールド制御信号の波形図である。図６（ｂ）に示すように、サンプルホールド制御信号は、ランドプリピット領域の周辺に対応する期間の間でホールドレベルとなる信号である。
【０１１９】
図６（ｃ）は、サンプルホールド回路５から出力される信号の波形図である。サンプルホールド回路５から出力される信号においては、図６（ａ）において重畳されていたランドプリピットに対応したパルス信号が除去されている。
【０１２０】
図６（ｄ）は、ハイパスフィルタ３から出力される信号の波形図である。図６（ｄ）に示すように、ハイパスフィルタ３から出力される信号においてはＲＦ信号成分が抽出されている。
【０１２１】
図６（ｅ）は、エンベロープ検出回路６から出力される信号の波形図である。エンベロープ検出回路６から出力される信号は、ＲＦ信号成分の包絡線、つまりＲＦ信号の振幅を示している。エンベロープ検出回路６から出力される信号の振幅は、ウォブルの揺動に対応している。差動回路８Ａは、図６（ｅ）における破線によって示される基準電圧と実線によって示されるエンベロープ検出回路６から出力される信号電圧との間の差を出力する。
【０１２２】
図６（ｆ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号が入力されるＡＧＣ回路２Ａに設けられた可変ゲイン増幅器４において、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。図６（ｇ）は、プッシュプル信号検出回路１Ａに設けられた差動回路１０が出力するプッシュプル信号の波形図である。
【０１２３】
エンベロープ検出回路６から差動回路８Ａへ入力される信号の平均レベルと差動回路８Ａへ入力される基準電圧との間の差が、増幅器９Ａによって増幅されゲイン制御信号に加算されて可変ゲイン増幅器４へ供給される。可変ゲイン増幅器４へ供給されるゲイン制御信号には増幅器９Ａによって増幅された差動回路８Ａからの出力が加算されているため、可変ゲイン増幅器４の出力レベルの平均値が基準レベルになるように制御される。その結果、図６（ｇ）に示すように、プッシュプル信号検出回路１Ａが出力するプッシュプル信号の波形からＲＦ信号成分が除去される。
【０１２４】
このように、プッシュプル信号検出回路１Ａにおいては、ＡＧＣ回路２Ａの後の各ＲＦ信号成分の振幅が基準レベルとなる。このため、ＲＦ信号の混入を抑制することができるとともに、ウォブル成分も除去される。ＲＦ信号成分が除去されることで、仮にオフトラックや記録マーキングずれによって、２分割されたフォトディテクタ１４の出力にアンバランスが生じても、ＲＦ信号の混入が抑制される。
【０１２５】
さらに、前述した実施の形態１と異なり、プッシュプル信号検出回路１Ａの各ＡＧＣ回路２Ａにはローパスフィルタ回路が設けられていない。このため、回路規模を削減することができる。
【０１２６】
（実施の形態３）
図７は、実施の形態３に係る光ディスク装置１００Ｂの構成を示すブロック図である。前述した実施の形態１において図１を参照して説明した光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述した光ディスク装置１００と異なる点は、プッシュプル信号検出回路１の替わりにプッシュプル信号検出回路１Ｂを備えている点である。
【０１２７】
プッシュプル信号検出回路１Ｂは、ＡＧＣ回路２ＢおよびＡＧＣ回路２Ｃを有している。ＡＧＣ回路２Ｂは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。ＡＧＣ回路２Ｃは、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。
【０１２８】
図８（ａ）はプッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられたＡＧＣ回路２Ｂの構成を示すブロック図であり、図８（ｂ）はプッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられたＡＧＣ回路２Ｃの構成を示すブロック図である。
【０１２９】
ＡＧＣ回路２Ｂには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４Ｂが設けられている。可変ゲイン増幅器４Ｂは、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号の一方を、増幅器９Ｂから供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅して、サンプルホールド回路（ＳＨ）５Ｂへ供給する。
【０１３０】
サンプルホールド回路５Ｂは、可変ゲイン増幅器４Ｂによって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３Ｂへ出力する。ハイパスフィルタ３Ｂは、サンプルホールド回路５Ｂの出力からＲＦ信号成分を抽出してエンベロープ検出回路（ＥＮＶ）６Ｂへ出力する。
【０１３１】
エンベロープ検出回路６Ｂは、ハイパスフィルタ３Ｂの出力のエンベロープ波形を検出してピーク検波回路１９へ出力する。ピーク検波回路１９は、エンベロープ検出回路６Ｂの出力におけるピークレベルを検波して差動回路８Ｂへ出力する。差動回路８Ｂは、ピーク検波回路１９からの出力電圧と所定の基準電圧との間の差を増幅器９Ｂへ出力する。
【０１３２】
増幅器９Ｂは、差動回路８Ｂからの出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４Ｂへ出力する。増幅器９Ｂから出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４Ｂによって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられた差動回路１０へ供給される。
【０１３３】
ＡＧＣ回路２Ｃには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４Ｃが設けられている。可変ゲイン増幅器４Ｃは、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号の他方を、増幅器９Ｃから供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅してサンプルホールド回路（ＳＨ）５Ｃへ供給する。
【０１３４】
サンプルホールド回路５Ｃは、可変ゲイン増幅器４Ｃによって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３Ｃへ出力する。ハイパスフィルタ３Ｃは、サンプルホールド回路５Ｃの出力からＲＦ信号成分を抽出してエンベロープ検出回路（ＥＮＶ）６Ｃへ出力する。
【０１３５】
エンベロープ検出回路６Ｃは、ハイパスフィルタ３Ｃの出力のエンベロープ波形を検出してボトム検波回路２０へ出力する。ボトム検波回路２０は、エンベロープ検出回路６Ｃの出力におけるボトムレベルを検波して差動回路８Ｃへ出力する。差動回路８Ｃは、ボトム検波回路２０からの出力電圧と所定の基準電圧との間の差を増幅器９Ｃへ出力する。
【０１３６】
増幅器９Ｃは、差動回路８Ｃからの出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４Ｃへ出力する。増幅器９Ｃから出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４Ｃによって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられた差動回路１０へ供給される。
【０１３７】
差動回路１０は、ＡＧＣ回路２Ｂによって増幅された一対の差分信号の一方とＡＧＣ回路２Ｃによって増幅された一対の差分信号の他方との間の差を検出してプリピット検出回路１１へ出力する。プリピット検出回路１１は、プッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられた差動回路１０からの出力に基づいてランドプリピット信号を検出してアドレス検出器１１５とＰＬＬ１１６とへ供給する。
【０１３８】
このように構成された光ディスク装置１００Ｂの動作を説明する。図９（ａ）〜図９（ｅ）は、実施の形態３に係る光ディスク装置１００Ｂに設けられたプッシュプル信号検出回路１Ｂの動作を説明するための波形図である。
【０１３９】
図９（ａ）はプッシュプル信号検出回路１ＢのＡＧＣ回路２Ｂに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｂへ入力される差分信号の一方の波形図であり、図９（ｂ）はプッシュプル信号検出回路１ＢのＡＧＣ回路２Ｃに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｃへ入力される差分信号の他方の波形図である。図９（ａ）に示す差分信号の一方は、フォトディテクタ１４における光ディスク１０１の外周側において検出された信号である。差分信号の一方においては、１４０ｋＨｚのサイン波成分にランドプリピットに対応したパルス信号が重畳されている。図９（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ変調された領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【０１４０】
図９（ｃ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号の一方が入力されるＡＧＣ回路２Ｂに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｂにおいて、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。図９（ｃ）に示す可変ゲイン増幅器４Ｂにおいてゲイン調整された信号は、ＲＦ信号振幅のピークが基準電位になるように調整されている。
【０１４１】
図９（ｄ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号の他方が入力されるＡＧＣ回路２Ｃに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｃにおいて、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。図９（ｄ）に示す可変ゲイン増幅器４Ｃにおいてゲイン調整された信号は、ＲＦ信号振幅のボトムが基準電位になるように調整されている。
【０１４２】
図９（ｅ）は、プッシュプル信号検出回路１Ｂに設けられた差動回路１０が出力するプッシュプル信号の波形図である。プッシュプル信号検出回路１Ｂにおいては、ＡＧＣ回路２ＢおよびＡＧＣ回路２Ｃによって処理された後の信号におけるＲＦ信号成分がランドプリピット領域において基準信号レベルになる。このため、差分をとった後のラジアルプッシュプル信号に混入するＲＦ信号成分はランドプリピット領域において最小となる。この結果、実施の形態３に係る光ディスク装置１００Ｂにおいてはランドプリピット信号の検出性能が飛躍的に向上する。このため、実施の形態３に係る光ディスク装置１００Ｂは、オフトラックなどのようなストレスや、記録マーキングずれが発生しても、ウォブル信号及びランドプリピット信号を安定して検出することが可能となる。
【０１４３】
（実施の形態４）
図１０は、実施の形態４に係る光ディスク装置１００Ｄの構成を示すブロック図である。前述した実施の形態１において図１を参照して説明した光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述した光ディスク装置１００と異なる点は、プッシュプル信号検出回路１の替わりにプッシュプル信号検出回路１Ｄを備えている点である。
【０１４４】
プッシュプル信号検出回路１Ｄは、２個のＡＧＣ回路２Ｄを有している。ＡＧＣ回路２Ｄの一方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。ＡＧＣ回路２Ｄの他方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。
【０１４５】
図１１は、プッシュプル信号検出回路１Ｄに設けられたＡＧＣ回路２Ｄの構成を示すブロック図である。
【０１４６】
ＡＧＣ回路２Ｄには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４Ｄが設けられている。可変ゲイン増幅器４Ｄは、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号を、増幅器９Ｄから供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅してサンプルホールド回路（ＳＨ）５Ｄへ供給する。
【０１４７】
サンプルホールド回路５Ｄは、可変ゲイン増幅器４Ｄによって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３Ｄへ出力する。ハイパスフィルタ３Ｄは、サンプルホールド回路５Ｄの出力からＲＦ信号成分を抽出して全波整流器１７へ出力する。
【０１４８】
全波整流器１７は、ハイパスフィルタ３Ｄによって抽出されたＲＦ信号成分を全波整流してローパスフィルタ７Ｄへ出力する。ローパスフィルタ７Ｄは、全波整流器１７によって全波整流されたＲＦ信号成分を平滑化して差動回路８Ｄへ出力する。差動回路８Ｄは、ローパスフィルタ７Ｄによって平滑化されたＲＦ信号成分と所定の基準電圧との間の差を増幅器９Ｄへ出力する。
【０１４９】
増幅器９Ｄは、差動回路８Ｄの出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４Ｄへ出力する。増幅器９Ｄから出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４Ｄによって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１Ｄに設けられた差動回路１０へ供給される。
【０１５０】
このように構成された光ディスク装置１００Ｄの動作を説明する。図１２（ａ）〜図１２（ｅ）は、実施の形態４に係る光ディスク装置１００Ｄに設けられたプッシュプル信号検出回路１Ｄの動作を説明するための波形図である。
【０１５１】
図１２（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１ＤのＡＧＣ回路２Ｄに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｄへ入力される差分信号の波形図である。差分信号においては、１４０ｋＨｚのサイン波成分にランドプリピットに対応したパルス信号が重畳されている。図１２（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ変調された領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【０１５２】
図１２（ｂ）は、ハイパスフィルタ３Ｄから出力される信号の波形図である。図１２（ｂ）に示すように、ハイパスフィルタ３Ｄから出力される信号においてはＲＦ信号成分が抽出されている。
【０１５３】
図１２（ｃ）は、全波整流器１７から出力される信号の波形図である。全波整流器１７から出力される信号は、全波整流されたＲＦ信号である。
【０１５４】
図１２（ｄ）は、ローパスフィルタ７Ｄから出力される信号の波形図である。ローパスフィルタ７Ｄから出力される信号は、全波整流されたＲＦ信号を平均化した信号である。差動回路８Ｄは、図１２（ｄ）において破線によって示される基準レベルと図１２（ｄ）において実線によって示されるローパスフィルタ７Ｄから出力される信号との間の差を出力する。
【０１５５】
図１２（ｅ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号が入力されるＡＧＣ回路２Ｄに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｄにおいて、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。ローパスフィルタ７Ｄから差動回路８Ｄへ入力される信号の平均レベルと差動回路８Ｄへ入力される基準電圧との間の差が、増幅器９Ｄによって増幅されゲイン制御信号に加算されて可変ゲイン増幅器４Ｄへ供給される。可変ゲイン増幅器４Ｄへ供給されるゲイン制御信号には増幅器９Ｄによって増幅された差動回路８Ｄからの出力が加算されているため、可変ゲイン増幅器４Ｄの出力レベルの平均値が基準レベルになるように制御される。その結果、プッシュプル信号検出回路１Ｄの出力からＲＦ信号成分を除去することができる。
【０１５６】
このように実施の形態４に係るプッシュプル信号検出回路１Ｄにおいては、ＡＧＣ回路２Ｄの後における各ＲＦ信号成分の振幅が基準レベルとなる。このため、ＲＦ信号の混入を抑制することが可能である。ＲＦ信号成分が除去されることで、仮オフトラックや記録マーキングずれによって、２分割されたフォトディテクタ１４からの出力にアンバランスが生じても、ＲＦ信号の混入が抑制される。さらに、前述した実施の形態１と比較して、プッシュプル信号検出回路１ＤのＡＧＣ回路２Ｄにはエンベロープ検出回路が設けられていない替わりに全波整流器が設けられている。
【０１５７】
（実施の形態５）
図１３は、実施の形態５に係る光ディスク装置１００Ｅの構成を示すブロック図である。前述した実施の形態１において図１を参照して説明した光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。前述した光ディスク装置１００と異なる点は、プッシュプル信号検出回路１の替わりにプッシュプル信号検出回路１Ｅを備えている点である。
【０１５８】
プッシュプル信号検出回路１Ｅは、２個のＡＧＣ回路２Ｅを有している。ＡＧＣ回路２Ｅの一方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の一方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。ＡＧＣ回路２Ｅの他方は、フォトディテクタ１４によって生成された一対の差分信号の他方の振幅を調整して差動回路１０へ出力する。
【０１５９】
図１４は、プッシュプル信号検出回路１Ｅに設けられたＡＧＣ回路２Ｅの構成を示すブロック図である。
【０１６０】
ＡＧＣ回路２Ｅには、可変ゲイン増幅器（ＶＧＡ）４Ｅが設けられている。可変ゲイン増幅器４Ｅは、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号を、増幅器９Ｅから供給されるゲイン制御信号に基づいて増幅して、サンプルホールド回路（ＳＨ）５Ｅへ供給する。
【０１６１】
サンプルホールド回路５Ｅは、可変ゲイン増幅器４Ｅによって増幅された差分信号をサンプルホールド制御信号に応じてホールドしてハイパスフィルタ３Ｅへ出力する。ハイパスフィルタ３Ｅは、サンプルホールド回路５Ｅの出力からＲＦ信号成分を抽出して半波整流器１８へ出力する。
【０１６２】
半波整流器１８は、ハイパスフィルタ３Ｅによって抽出されたＲＦ信号成分を半波整流してエンベロープ検出回路６Ｅへ出力する。エンベロープ検出回路６Ｅは、半波整流器１８によって半波整流されたＲＦ信号成分のエンベロープ波形を検出してローパスフィルタ７Ｅへ出力する。ローパスフィルタ７Ｅは、エンベロープ検出回路６Ｅからの出力を平滑化して差動回路８Ｅへ出力する。差動回路８Ｅは、ローパスフィルタ７Ｅによって平滑化されたＲＦ信号成分と所定の基準電圧との間の差を増幅器９Ｅへ出力する。
【０１６３】
増幅器９Ｅは、差動回路８Ｅの出力を増幅してゲイン制御信号として可変ゲイン増幅器４Ｅへ出力する。増幅器９Ｅから出力されたゲイン制御信号に基づいて可変ゲイン増幅器４Ｅによって増幅された差分信号は、プッシュプル信号検出回路１Ｅに設けられた差動回路１０へ供給される。
【０１６４】
このように構成された光ディスク装置１００Ｅの動作を説明する。図１５（ａ）〜図１５（ｆ）は、実施の形態５に係る光ディスク装置１００Ｅに設けられたプッシュプル信号検出回路１Ｅの動作を説明するための波形図である。
【０１６５】
図１５（ａ）は、プッシュプル信号検出回路１ＥのＡＧＣ回路２Ｅに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｅへ入力される差分信号の波形図である。差分信号においては、１４０ｋＨｚのサイン波成分にランドプリピットに対応したパルス信号が重畳されている。図１５（ａ）においては、ＤＣ成分にオフセットが生じた場合の波形を示している。０Ｖ基準とクロスハッチングしたＲＦ変調された領域との間においてＤＣ成分のオフセットが生じていることを示している。
【０１６６】
図１５（ｂ）は、ハイパスフィルタ３Ｅから出力される信号の波形図である。図１５（ｂ）に示すように、ハイパスフィルタ３Ｅから出力される信号においてはＲＦ信号成分が抽出されている。
【０１６７】
図１５（ｃ）は、半波整流器１８から出力される信号の波形図である。半波整流器１８から出力される信号は、半波整流されたＲＦ信号である。
【０１６８】
図１６（ｄ）は、エンベロープ検出回路６Ｅから出力される信号の波形図である。エンベロープ検出回路６Ｅから出力される信号は、ＲＦ信号成分の包絡線、つまりＲＦ信号の振幅を示している。
【０１６９】
図１６（ｅ）は、ローパスフィルタ７Ｅから出力される信号の波形図である。ローパスフィルタ７Ｅから出力される実線によって示された信号は、一点鎖線によって示されたエンベロープ検出回路６Ｅから出力される信号を平滑化した信号である。差動回路８Ｅは、図１６（ｅ）において破線によって示される基準レベルと図１６（ｅ）において実線によって示されるローパスフィルタ７Ｅから出力される信号との間の差を出力する。
【０１７０】
図１６（ｆ）は、フォトディテクタ１４によって生成された差分信号が入力されるＡＧＣ回路２Ｅに設けられた可変ゲイン増幅器４Ｅにおいて、ゲイン調整されて差動回路１０へ供給される信号の波形図である。ローパスフィルタ７Ｅから差動回路８Ｅへ入力される信号の平均レベルと差動回路８Ｅへ入力される基準電圧との間の差が、増幅器９によって増幅されゲイン制御信号に加算されて可変ゲイン増幅器４Ｅへ供給される。可変ゲイン増幅器４Ｅへ供給されるゲイン制御信号には増幅器９Ｅによって増幅された差動回路８Ｅからの出力が加算されているため、可変ゲイン増幅器４Ｅの出力レベルの平均値が基準レベルになるように制御される。その結果、プッシュプル信号検出回路１Ｅの出力からＲＦ信号成分を除去することができる。
【０１７１】
このようにプッシュプル信号検出回路１Ｅにおいては、ＡＧＣ回路２Ｅの後の各ＲＦ信号成分の振幅が基準レベルとなるため、ＲＦ信号の混入を抑制することが可能である。ＲＦ信号成分が除去されることで、仮にオフトラックや記録マーキングずれによって、２分割されたフォトディテクタ１４の出力にアンバランスが生じても、ＲＦ信号の混入を抑制することができる。
【０１７２】
以上のように実施の形態１〜実施の形態５に係るプッシュプル信号検出回路を備えた光ディスク装置は、記録再生中のオフトラックおよびディスク上の記録マーキングずれによって発生し、ラジアルプッシュプル信号に漏れ込む記録マークによる反射光の変調レベルを低減することができる。このため、ランドプリピット信号を高精度に検出することができる。これにより、信頼性の高い光ディスク装置を得ることができる。
【０１７３】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、ランドプリピット信号とウォブル信号とを高精度に検出することができる光ディスク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１に係る光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。（ａ）はプッシュプル信号検出回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力され
る信号の波形図であり、
（ｂ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたサンプルホールド回路へ入力されるサンプルホールド制御信号の波形図であり、
（ｃ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたサンプルホールド回路から出力される信号の波形図であり、
（ｄ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたハイパスフィルタから出力される信号の波形図であり、
（ｅ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたエンベロープ検出回路から出力される信号の波形図であり、
（ｆ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたローパスフィルタから出力される信号の波形図であり、
（ｇ）はプッシュプル信号検出回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図であり、
（ｈ）はプッシュプル信号検出回路から出力されるプッシュプル信号の波形図である。
【図４】実施の形態２に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図５】実施の形態２に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図６】実施の形態２に係る光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。
（ａ）はプッシュプル信号検出回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力される信号の波形図であり、
（ｂ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたサンプルホールド回路へ入力されるサンプルホールド制御信号の波形図であり、
（ｃ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたサンプルホールド回路から出力される信号の波形図であり、
（ｄ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたハイパスフィルタから出力される信号の波形図であり、
（ｅ）はプッシュプル信号検出回路に設けられたエンベロープ検出回路から出力される信号の波形図であり、
（ｆ）はプッシュプル信号検出回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図であり、
（ｇ）はプッシュプル信号検出回路から出力されるプッシュプル信号の波形図である。
【図７】実施の形態３に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図８】（ａ）は実施の形態３に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図であり、
（ｂ）は実施の形態３に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられた他のＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図９】実施の形態３に係る光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。
（ａ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力される信号の波形図であり、
（ｂ）はプッシュプル信号検出回路の他のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力される信号の波形図であり、
（ｃ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図であり、
（ｄ）はプッシュプル信号検出回路の他のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図である。
（ｅ）はプッシュプル信号検出回路から出力されるプッシュプル信号の波形図である。
【図１０】実施の形態４に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】実施の形態４に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図１２】実施の形態４に係る光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。
（ａ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力される信号の波形図であり、
（ｂ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられたハイパスフィルタへ出力される信号の波形図であり、
（ｃ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた全波整流回路から出力される信号の波形図であり、
（ｄ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられたローパスフィルタから出力される信号の波形図であり、
（ｅ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図である。
【図１３】実施の形態５に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】実施の形態５に係る光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図１５】実施の形態５に係る光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。
（ａ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器へ入力される信号の波形図であり、
（ｂ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられたハイパスフィルタへ出力される信号の波形図であり、
（ｃ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた半波整流回路から出力される信号の波形図であり、
（ｄ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられたエンベロープ検出回路から出力される信号の波形図であり、
（ｅ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられたローパスフィルタから出力される信号の波形図であり、
（ｆ）はプッシュプル信号検出回路のＡＧＣ回路に設けられた可変ゲイン増幅器から出力される信号の波形図である。
【図１６】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】光ディスク装置によって読み書きされる光ディスクに形成された記録領域を拡大して示した斜視図である。
【図１８】従来の光ディスク装置のプッシュプル信号検出回路に設けられたＡＧＣ回路の構成を示すブロック図である。
【図１９】従来の光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の動作を説明するための波形図である。
【図２０】従来の光ディスク装置に設けられたプッシュプル信号検出回路の他の動作を説明するための波形図である。
【符号の説明】
１ プッシュプル信号検出回路
２ ＡＧＣ回路
３ ハイパスフィルタ
４ 可変ゲイン増幅器
５ サンプルホールド回路
６ エンベロープ検出回路
７ ローパスフィルタ
８ 差動回路
９ 増幅器
１０ 差動回路
１１ プリセット検出回路
１２ プッシュプル信号検出回路
１３ ウォブル検出回路
１４ フォトディテクタ
１５ アドレス検出器
１６ ＰＬＬ
１７ 全波整流回路
１８ 半波整流回路
１９ ピーク検波回路
２０ ボトム検波回路
１００ 光ディスク装置

Claims (11)

1. 所定の周期によってウォブリングして形成されたランドトラックにランドプリピットが形成された光ディスクによって反射された反射光を受光し、前記受光した反射光に基づいて、プッシュプル法に従って一対の差分信号を生成するフォトディテクタと、
   前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号に基づいて第１ラジアルプッシュプル信号を検出する第１プッシュプル信号検出回路と、
   前記第１プッシュプル信号検出回路によって検出された前記第１ラジアルプッシュプル信号に基づいてウォブル信号を検出するウォブル検出回路と、
   前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号に基づいて第２ラジアルプッシュプル信号を検出する第２プッシュプル信号検出回路と、
   前記第２プッシュプル信号検出回路によって検出された前記第２ラジアルプッシュプル信号に基づいてランドプリピット信号を検出するプリピット検出回路とを具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記第２プッシュプル信号検出回路は、前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号の一方の振幅を調整する第１ＡＧＣ回路と、
   前記フォトディテクタによって生成された前記一対の差分信号の他方の振幅を調整する第２ＡＧＣ回路と、
   前記第１ＡＧＣ回路によって振幅を調整された前記一対の差分信号の前記一方と前記第２ＡＧＣ回路によって振幅を調整された前記一対の差分信号の前記他方との間の差を検出する差動回路とを有している、請求項１記載の光ディスク装置。
3. 前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、
   前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するサンプルホールド回路と、
   前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、
   前記ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、
   前記エンベロープ検出回路の出力を平滑化するローパスフィルタと、
   前記ローパスフィルタの出力電圧と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、
   前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有している、請求項２記載の光ディスク装置。
4. 前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、
   前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、
   前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、
   前記ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、
   前記エンベロープ検出回路の出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、
   前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有している、請求項２記載の光ディスク装置。
5. 前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、
   前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、
   前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、
   前記ハイパスフィルタの出力を整流して出力する全波整流回路と、
   前記全波整流回路の出力を平滑化して出力するローパスフィルタと、
   前記ローパスフィルタの出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、
   前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有している、請求項２記載の光ディスク装置。
6. 前記第１ＡＧＣ回路と前記第２ＡＧＣ回路とは、前記一対の差分信号のいずれかをゲイン制御信号に基づいて増幅する可変ゲイン増幅器と、
   前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号のいずれかをサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するするサンプルホールド回路と、
   前記サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力するハイパスフィルタと、
   前記ハイパスフィルタの出力を整流して出力する半波整流回路と、
   前記半波整流回路の出力のエンベロープ波形を検出して出力するエンベロープ検出回路と、
   前記エンベロープ検出回路の出力を平滑化して出力するローパスフィルタと、
   前記ローパスフィルタの出力と所定の基準電圧との間の差を出力する差動回路と、
   前記差動回路の出力を増幅して前記ゲイン制御信号として前記可変ゲイン増幅器へ出力する増幅器とをそれぞれ有している、請求項２記載の光ディスク装置。
7. 前記基準電圧は、前記一対の差分信号の一方の電圧と前記一対の差分信号の他方の電圧との平均電圧になっている、請求項３ないし請求項６記載の光ディスク装置。
8. 前記第１ＡＧＣ回路は、前記一対の差分信号の一方を第１ゲイン制御信号に基づいて増幅する第１可変ゲイン増幅器と、
   前記可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号の一方をサンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するする第１サンプルホールド回路と、
   前記第１サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力する第１ハイパスフィルタと、
   前記第１ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力する第１エンベロープ検出回路と、
   前記第１エンベロープ検出回路の出力におけるピークレベルを検波して出力するピーク検波回路と、
   前記ピーク検波回路の出力と所定の第１基準電圧との間の差を出力する第１差動回路と、
   前記第１差動回路の出力を増幅して前記第１ゲイン制御信号として前記第１可変ゲイン増幅器へ出力する第１増幅器とを有しており、
   前記第２ＡＧＣ回路は、前記一対の差分信号の他方を第２ゲイン制御信号に基づいて増幅する第２可変ゲイン増幅器と、
   前記第２可変ゲイン増幅器によって増幅された前記一対の差分信号の他方を前記サンプルホールド制御信号に応じてホールドして出力するする第２サンプルホールド回路と、
   前記第２サンプルホールド回路の出力からＲＦ信号成分を抽出して出力する第２ハイパスフィルタと、
   前記第２ハイパスフィルタの出力のエンベロープ波形を検出して出力する第２エンベロープ検出回路と、
   前記第２エンベロープ検出回路の出力におけるボトムレベルを検波して出力するボトム検波回路と、
   前記ボトム検波回路の出力と所定の第２基準電圧との間の差を出力する第２差動回路と、
   前記第２差動回路の出力を増幅して前記第２ゲイン制御信号として前記第２可変ゲイン増幅器へ出力する第２増幅器とを有している、請求項２記載の光ディスク装置。
9. 前記第１基準電圧と前記第２基準電圧とは、互いに等しくなっている、請求項８記載の光ディスク装置。
10. 前記第１基準電圧と前記第２基準電圧とは、前記一対の差分信号の一方の電圧と前記一対の差分信号の他方の電圧との平均電圧になっている、請求項８記載の光ディスク装置。
11. 前記ウォブル検出回路によって検出された前記ウォブル信号と前記プリピット検出回路によって検出された前記ランドプリピット信号とに基づいて、前記フォトディテクタによって受光された前記反射光の前記光ディスク上における位置を表すアドレス情報を検出するアドレス検出器と、
    前記ウォブル信号と前記ランドプリピット信号とに基づいて、前記光ディスクにデータを記録するためのクロック信号を生成するＰＬＬとをさらに具備している、請求項１記載の光ディスク装置。

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