|
JP3891123B2
(ja)
*
|
2003-02-06 |
2007-03-14 |
セイコーエプソン株式会社 |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、及び半導体装置の製造方法
|
|
JP4110992B2
(ja)
*
|
2003-02-07 |
2008-07-02 |
セイコーエプソン株式会社 |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
|
|
JP2004259886A
(ja)
*
|
2003-02-25 |
2004-09-16 |
Seiko Epson Corp |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
|
|
JP2004281818A
(ja)
*
|
2003-03-17 |
2004-10-07 |
Seiko Epson Corp |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、キャリア基板の製造方法、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
|
|
JP4069771B2
(ja)
*
|
2003-03-17 |
2008-04-02 |
セイコーエプソン株式会社 |
半導体装置、電子機器および半導体装置の製造方法
|
|
JP3680839B2
(ja)
*
|
2003-03-18 |
2005-08-10 |
セイコーエプソン株式会社 |
半導体装置および半導体装置の製造方法
|
|
JP2004281920A
(ja)
*
|
2003-03-18 |
2004-10-07 |
Seiko Epson Corp |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
|
|
JP2004281919A
(ja)
*
|
2003-03-18 |
2004-10-07 |
Seiko Epson Corp |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法および電子デバイスの製造方法
|
|
JP4096774B2
(ja)
*
|
2003-03-24 |
2008-06-04 |
セイコーエプソン株式会社 |
半導体装置、電子デバイス、電子機器、半導体装置の製造方法及び電子デバイスの製造方法
|
|
JP2004349495A
(ja)
*
|
2003-03-25 |
2004-12-09 |
Seiko Epson Corp |
半導体装置、電子デバイス、電子機器および半導体装置の製造方法
|
|
JPWO2006080351A1
(ja)
*
|
2005-01-25 |
2008-08-07 |
松下電器産業株式会社 |
半導体装置およびその製造方法
|
|
JP4827556B2
(ja)
*
|
2005-03-18 |
2011-11-30 |
キヤノン株式会社 |
積層型半導体パッケージ
|
|
JP5145732B2
(ja)
*
|
2007-02-28 |
2013-02-20 |
パナソニック株式会社 |
半導体モジュールおよびカード型情報装置
|
|
KR101388538B1
(ko)
*
|
2007-09-28 |
2014-04-23 |
테세라, 인코포레이티드 |
이중 포스트를 사용하여 플립칩 상호연결한 마이크로전자 어셈블리
|
|
US20100044860A1
(en)
*
|
2008-08-21 |
2010-02-25 |
Tessera Interconnect Materials, Inc. |
Microelectronic substrate or element having conductive pads and metal posts joined thereto using bond layer
|
|
US10251273B2
(en)
*
|
2008-09-08 |
2019-04-02 |
Intel Corporation |
Mainboard assembly including a package overlying a die directly attached to the mainboard
|
|
US8106499B2
(en)
*
|
2009-06-20 |
2012-01-31 |
Stats Chippac Ltd. |
Integrated circuit packaging system with a dual substrate package and method of manufacture thereof
|
|
US8404518B2
(en)
*
|
2009-12-13 |
2013-03-26 |
Stats Chippac Ltd. |
Integrated circuit packaging system with package stacking and method of manufacture thereof
|
|
US8580607B2
(en)
|
2010-07-27 |
2013-11-12 |
Tessera, Inc. |
Microelectronic packages with nanoparticle joining
|
|
US8853558B2
(en)
*
|
2010-12-10 |
2014-10-07 |
Tessera, Inc. |
Interconnect structure
|
|
KR20120126366A
(ko)
*
|
2011-05-11 |
2012-11-21 |
에스케이하이닉스 주식회사 |
반도체 장치
|
|
TWI518878B
(zh)
*
|
2012-12-18 |
2016-01-21 |
Murata Manufacturing Co |
Laminated type electronic device and manufacturing method thereof
|
|
DE102013217301A1
(de)
*
|
2013-08-30 |
2015-03-05 |
Robert Bosch Gmbh |
Bauteil
|
|
EP2884242B1
(en)
*
|
2013-12-12 |
2021-12-08 |
ams International AG |
Sensor Package And Manufacturing Method
|
|
US10886250B2
(en)
|
2015-07-10 |
2021-01-05 |
Invensas Corporation |
Structures and methods for low temperature bonding using nanoparticles
|
|
US9633971B2
(en)
|
2015-07-10 |
2017-04-25 |
Invensas Corporation |
Structures and methods for low temperature bonding using nanoparticles
|
|
TWI822659B
(zh)
|
2016-10-27 |
2023-11-21 |
美商艾德亞半導體科技有限責任公司 |
用於低溫接合的結構和方法
|
|
TWI653919B
(zh)
*
|
2017-08-10 |
2019-03-11 |
晶巧股份有限公司 |
高散熱等線距堆疊晶片封裝結構和方法
|
|
KR20230126736A
(ko)
|
2020-12-30 |
2023-08-30 |
아데이아 세미컨덕터 본딩 테크놀로지스 인코포레이티드 |
전도성 특징부를 갖는 구조 및 그 형성방법
|