JP2004163337A - 加熱乾燥式水分計 - Google Patents

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Abstract

【課題】高精度の測定を短時間で行うこと。
【解決手段】加熱乾燥式水分計は、試料を加熱する加熱部と、試料の質量を測定する質量測定部と、質量測定部の測定値に基づいて試料の水分率を演算する演算処理部とを備え、測定初期に試料の加熱温度を、測定終期の加熱温度よりも高く設定する急速加熱を行う。演算処理部は、急速加熱時の測定結果から試料の最終水分率Mzを予測する(ステップ8)。予測した最終水分率Mzが、一定以下の場合には、標準加熱温度Tsでの測定を行う(ステップ13)。一定以上の場合には、標準加熱温度Tsよりも高い急速加熱温度Tuでの測定が続行される。
【選択図】 図2

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、加熱乾燥式水分計に関し、特に、測定誤差を抑えつつ、測定時間を短縮する技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
加熱乾燥式水分計は、試料を設定した温度で加熱乾燥し、乾燥前後の試料質量から、水分率を求めるものである。加熱乾燥式水分計で水分率を測定する際に、水分率が多い試料の測定では、加熱温度が低いと、試料から水分がなくなるまでの時間が長くなり、作業能率が悪くなる。
【0003】
このような問題を解決するためには、加熱温度を上げて、試料に多くの熱量を供給して、測定時間を短縮する手法が採用されている。ところが、単純に、加熱温度を上げた場合に、これが高すぎると、試料が炭化したり、水以外の物質(例えば、油分)が揮発する。
【0004】
水以外の物質による質量変化は、質量変化から水分率を算出する加熱乾燥式水分計では、直接測定誤差につながり、測定時間の短縮と引き換えに測定誤差が増加して、測定精度が低下するということになる。
【0005】
また、加熱温度を上げた場合に、加熱時間の設定にも問題がある。すなわち、高温で加熱する際に、試料から水分が蒸発している過程では、気化熱が奪われていて、試料の温度上昇は、ある程度抑えられているが、水分がなくなるに従って、気化熱が奪われることも少なくなり、このような状態になると、試料温度は、急激に上昇して、試料の炭化などに繋がる。
【0006】
つまり、この種の水分率の測定方法では、測定時間の短縮と測定精度との兼ね合いから、試料には、最適な加熱温度条件が存在する。そこで、このような状況を考慮して、試料が冷えていて、水分を十分に含んでいる状態、すなわち、測定スタート直後から一定時間は、高温で加熱し、その後に、試料に適した設定温度で、加熱乾燥する、急速加熱方式の水分率の測定方法が提案されている。(特許文献1,2参照)
【0007】
これらの特許文献に開示されている急速加熱方式の水分率の測定方法では、効率的な測定が可能になるものの、以下に説明する技術的な課題もあった。
【0008】
【特許文献1】
特公昭61−35505号
【0009】
【特許文献2】
特公平7−58251号
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
すなわち、上記特許文献に開示されている急速加熱方式では、測定の初期に行われる高温加熱の時間の決定が明確になっていない。今例えば、ある試料5gの水分率を測定する場合、測定のスタート後5分間は、温度180℃で加熱し、その後は、130℃で加熱乾燥する場合を想定すると、測定する試料が常に5gであればよいが、試料が少なかった場合には、当然熱容量が少なくなるため、試料の温度上昇が速くなり、予定より早く水分がなくなる。
【0011】
また、試料に含まれている水分率が少なかった場合にも同様に、早く水分がなくなる。高温で加熱している最中に、水分がなくなると、上述したように、気化熱が奪われなくなるので、試料は、急激に高温になり、水以外の物質が揮発して、測定誤差に繋がる。
【0012】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、測定する試料の量や水分率に左右されずに、高精度の測定が短時間で行える加熱乾燥式水分計を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、試料を加熱する加熱部と、前記試料の質量を測定する質量測定部と、前記質量測定部の測定値に基づいて前記試料の水分率を演算する演算処理部とを備え、測定初期に前記試料の加熱温度を、測定終期の加熱温度よりも高く設定する急速加熱を行う加熱乾燥式水分計において、前記演算処理部は、前記急速加熱時の測定結果から前記試料の最終水分率を予測して、その後の加熱条件を設定するようにした。
【0014】
このように構成した加熱乾燥式水分計によれば、演算処理部は、急速加熱時の測定結果から試料の最終水分率を予測して、その後の加熱条件を設定するので、例えば、測定する試料の量が変動した場合や、測定する試料の水分率が変動した場合には、その変動が急速加熱時の測定結果に反映し、このような変動が反映した測定結果に基づいて、最終水分率を予測して、その後の加熱条件を設定すると、試料に適した加熱条件を設定することができる。
【0015】
前記加熱条件は、前記最終水分率が所定値よりも大きい場合には、前記急速加熱を継続するとともに、前記最終水分率が所定値よりも小さい場合には、前記測定終期の加熱温度とすることができる。
【0016】
前記演算処理部は、予測した水分率が所定値よりも大きく、急速加熱を継続した場合は、所定時間が経過するまで、または、測定した水分率が予測した最終水分率に対して、一定の割合に達するまで、急速加熱を継続し、その後、測定終期の加熱温度とすることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態について、添付図面に基づいて詳細に説明する。図1および図2は、本発明にかかる加熱乾燥式水分計の一実施例を示している。同図に示した加熱乾燥式水分計10は、加熱部12と、質量測定部14と、温度制御部15と、演算処理部16とを備えている。
【0018】
加熱部12は、試料Xを加熱するものであって、試料Xの上方を覆うカバー12aと、カバー12aの内部に設けられ、試料Xに向けて輻射熱を放射する加熱用のランプ12bとを有している。
【0019】
質量測定部14は、試料Xの質量を測定するものであって、試料Xが載置される試料皿14aと、試料Xと試料皿14aとの合計質量を測定する荷重センサ14bとを有し、具体的には、上皿方式の電子天秤が好適に用いられる。
【0020】
温度制御部15は、試料Xに加えられている温度を測定するものであって、加熱部12のカバー12a内に設置された温度センサ15aと、温度センサ15aが接続された温度コントローラ15bとを有している。
【0021】
温度コントローラ15bは、加熱部12のランプ12bに接続されていて、ランプ12bの出力を制御することなどにより、試料Xに加えられる加熱温度を制御する。
【0022】
演算処理部16は、質量測定部14の測定値に基づいて、試料Xの水分率Mnを演算するものであって、cpu16aと、表示部16b,インターフェイス16c,タイマ16d,メモリ16e,キースイッチ部16fとを有している。
【0023】
cpu16aには、表示部16bなどが接続されるとともに、温度コントローラ15bが接続されており、cpu16aから温度コントローラ15bに制御信号が送出される。
【0024】
また、cpu16aには、A/D変換器18を介して、質量測定部14の荷重センサ14bが接続されていて、荷重センサ14bの質量測定値が、デジタル変換されてcpu16aに入力される。
【0025】
表示部16bには、cpu16aで求められた水分率Mnなどが表示され、インターフェイス16cは、外部接続用のポートとなっている。タイマ16dには、後述する急速加熱時間tuなどが設定される。
【0026】
メモリ16eには、cpu16aで実行される制御手順などが格納されている。キースイッチ部16aからは後述する急速加熱温度Tuなどが入力される。図2には、演算処理部16で実行される測定手順の一例が示されている。
【0027】
同図に示した測定手順では、まず、手順がスタートすると、本実施例の加熱水分計の使用者は、ステップ1で、初期設定を行う。この初期設定では、測定モードの選択が行われる。
【0028】
なお、図1に示した加熱乾燥式水分計10では、測定モードとして、一定温度で試料Xを加熱して水分率を演算する定常モードと、初期に高温加熱を行う急速加熱モードとを具備しているので、ステップ1では、急速加熱モードが選択される。
【0029】
急速加熱モードが選択されると、この測定モードでは、測定初期に試料Xの加熱温度を、測定終期の加熱温度(以下、標準加熱温度Tsと呼ぶ)よりも高い温度(急速加熱温度Tuと呼ぶ)に設定するので、ステップ1では、この急速加熱温度Tuとその加熱時間tuおよび標準加熱温度Tsが、キースイッチ部16fから入力される。
【0030】
ここで設定される標準加熱温度Tsは、試料Xの水分率測定に適した温度、例えば、130℃が選択され、この標準加熱温度Tsは、大まかには、加熱を連続したとき、炭化や水以外の物質が揮発しにくい温度を選択する。
【0031】
急速加熱温度Tuは、標準加熱温度Tsよりも高い温度、例えば、200℃が選択される。急速加熱温度Tuとその加熱時間tuおよび標準加熱温度Tsが設定されると、適切な量の試料Xを試料皿14a上に載置して、測定がスタートする。
【0032】
測定がスタートすると、次のステップ2で、試料Xの加熱乾燥前の質量値Wが、質量測定部14の荷重センサ14bから読み込まれて、その値がメモリ16eに記憶される。
【0033】
ステップ1では、急速加熱温度Tuとその加熱時間tuを設定するようになっているが、測定結果に影響を与えない範囲で固定の値とすれば、使用者によるこれらの初期設定は省略できる。
【0034】
次に、ステップ3で、急速加熱温度Tuを試料Xに加える加熱時間tuをカウントするタイマ16dをクリアし、ステップ4で、急速加熱温度Tuの値を、温度制御部15の温度コントローラ15bに送出して、ランプ12bにより試料Xを加熱する。
【0035】
この高温(急速加熱温度Tu)での加熱中に、一定時間毎に、連続して試料Xの質量値Dn1を測定し、加熱乾燥前の試料Xの質量値Wから、水分率Mn1を求め、求められた水分率Mn1または質量値Dn1をメモリ16eに記憶する(ステップ5)。
【0036】
このようにして求められた水分率Mn1は、ステップ6で、表示部16bにその値が順次表示される。ステップ7では、タイマー16dの計数が進行して、所定時間が経過したかが判断される。
【0037】
ここで、タイマー16dでの計数時間は、急速加熱温度Tuでの加熱時間tuであり、加熱時間tuが経過していなければ、ステップ4に戻り、ステップ5以降の手順が実行される。
【0038】
なお、このタイマー16dの計数時間は、例えば、3分程度とし、測定全体の時間に対して、比較的短時間に設定し、一般的な高温加熱での測定誤差が少ない時間とする。
【0039】
一方、ステップ7で、加熱時間Tuが経過したと判断されると、次のステップ8に移行し、ここで、試料Xの最終水分率Mzの予測が行われる。この場合の最終水分率Mzの予測は、大まかな値であって、メモリ16eに記憶されている試料Xの質量値Dn1または水分率Mn1から求められるものであり、これらの複数の値を用いて、例えば、最小二乗法などにより求められる。
【0040】
最終水分率Mzの予測が行われて、これが得られると、次のステップ9では、予測された最終水分率Mzが、一定値以上、例えば、30%以上か、否かが判断される。ステップ9で、予測した最終水分率Mzが30%以上の場合には、ステップ10に移行して、以下の手順が実行される。
【0041】
すなわち、ステップ10では、高温(200℃)での急速加熱を続行し、試料Xの質量値Dn2を測定し、加熱乾燥前の試料Xの質量値Wから、水分率Mn2を求め、ステップ11で、これを表示部16bに表示させる。
【0042】
続くステップ12では、ステップ11で求められた水分率Mn2が、最終水分率Mzの一定割合(例えば、8割)よりも大きいか、否かが判断され、水分率Mn2が(最終水分率Mz×0.8)よりも大きい場合には、ステップ10に戻り、ステップ11以降の手順が繰り返される。
【0043】
ステップ12で、水分率Mn2が(最終水分率Mz×0.8)よりも小さいと判断された場合と、ステップ10と11とを複数回繰り返した後に、同様に水分率Mn2が(最終水分率Mz×0.8)よりも小さいと判断された場合には、ステップ13に移行する。
【0044】
一方、ステップ9で、予測した最終水分率Mzが30%以下であると判断された場合には、ステップ13に移行する。ステップ13では、設定された標準加熱温度Tsになるように、温度制御部15の温度コントローラ15bに信号を送出して、ランプ12bにより、その温度で試料Xを加熱する。
【0045】
続くステップ14では、標準加熱温度Tsでの加熱中に、一定時間毎に、連続して試料Xの質量値Dn3を測定し、加熱乾燥前の試料Xの質量値Wから、水分率Mn3を求め、求められた水分率Mn3または質量値Dn3をメモリ16eに記憶した後に、求められた水分率Mn3は、表示部16bにその値が順次表示される。
【0046】
次のステップ15では、メモリ16eに記憶されている水分率Mn3を読み出して、単位時間当たりの水分率の変化量ΔMを求める。そして、ステップ16では、ΔMが所定の値以下になったか否かが判断され、ΔMが所定値よりも大きい場合には、ステップ13に戻り、標準加熱温度Tsでの水分率Mn3の測定が続行される。
【0047】
そして、ステップ16で、ΔMが所定値以下になったと判断されると、測定が終了したと判断され、ステップ17で、ランプ12bをオフして、そのときの水分率Mn3を、試料Xの最終水分率として測定手順が終了する。
【0048】
なお、図2に示した手順では、測定の終了を判定する基準として、水分率の単位時間当たりの変化量ΔMが所定値以下になることを採用したが、これは、試料Xの水分の蒸発が促進して、時間の経過とともに蒸発が非常に少なくなって、水分率の値が飽和するので、この時点を測定終了としているが、測定終了の条件は、これに限ることはなく、例えば、測定開始後、一定時間が経過すると測定を終了するようにしてもよいし、また、人為的に加熱乾燥の停止操作があった場合にも測定を終了させてもよい。
【0049】
さて、以上のように構成した加熱乾燥式水分計によれば、演算処理部16は、急速加熱時の測定結果から試料Xの最終水分率Mzを予測して、その後の加熱条件を設定するので、例えば、測定する試料Xの量が変動した場合や、測定する試料Xの水分率Mnが変動した場合には、その変動が急速加熱時の測定結果に反映し、このような変動が反映した測定結果に基づいて、最終水分率Mzを予測して、その後の加熱条件を設定すると、試料Xに適した加熱条件を設定することができる。
【0050】
試料Xに適した加熱条件が設定されると、測定する試料Xの量や水分率に左右されずに、高精度の測定が短時間で行える。
【0051】
また、本実施例の場合には、最終水分率Mzを予測した後の加熱条件は、ステップ9で、最終水分率Mzが所定値(30%)よりも大きい場合には、急速加熱(急速加熱温度Tu)を継続するとともに、最終水分率Mzが所定値(30%)よりも小さい場合には、測定終期の加熱温度(標準加熱温度Ts)としている。
【0052】
このような加熱加熱条件を設定したのは、以下の理由に基づいている。すなわち、本実施例の場合には、より具他的には、急速加熱温度Tuでの測定で最終水分率Mzを予測した後に、ステップ9で、その値が、30%よりも大きい場合には、同じ高温での急速加熱を継続する(ステップ10,11,12)とともに、30%よりも小さい場合には、ステップ13に移行して、標準加熱温度Tsでの測定が行われる。
【0053】
この場合、加熱条件を異ならせるための判断基準は、予測した最終水分率Mzが、30%以上か否かである。水分率30%は、水分率を測定する際に、試料Xの種類によっても異なるが、一般に、炭化しやすい水分率の上限とされているので、予測した最終水分率Mzが、30%以下の場合には、急速加熱を早期に止めて、低音加熱に早く戻して、試料Xの炭化や水分以外の揮発を避けるようにしている。
【0054】
一方、予測した最終水分率Mzが、30%以上の場合には、そのまま標準加熱温度Tsでの測定に移行すると、測定時間が長くなるので、さらに高温での急速加熱を行うようにし、この過程を繰り返して、水分率が低くなると、標準加熱温度Tsでの測定に移行するようにしている。
【0055】
つまり、本実施例の場合には、急速加熱により予測した最終水分率Mzの大きさにより、その後の測定における加熱条件を変更することで、測定時間のより一層の短縮を、測定精度の低下を伴うことなく達成するものである。
【0056】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明にかかる過熱式水分計によれば、測定する試料の量や水分率に左右されずに、高精度の測定が短時間で行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる加熱乾燥式水分計の一実施例を示す全体構成のブロック図である。
【図2】図1に示した演算処理部で実行される処理手順の一例を示すフローチャート図である。
【符号の説明】
10 加熱乾燥式水分計
12 加熱部
12a カバー
12b ランプ
14 質量測定部
14a 試料皿
14b 荷重センサ
15 温度制御部
16 演算処理部
16a cpu
Tu 急速加熱温度
Ts 標準加熱温度
X 試料
W 加熱乾燥前の質量値
Dn1〜Dn3 加熱中の質量値
Mn1〜Mn3 水分率
Mz 予測する最終水分率

Claims (3)

  1. 試料を加熱する加熱部と、
    前記試料の質量を測定する質量測定部と、
    前記質量測定部の測定値に基づいて前記試料の水分率を演算する演算処理部とを備え、
    測定初期に前記試料の加熱温度を、測定終期の加熱温度よりも高く設定する急速加熱を行う加熱乾燥式水分計において、
    前記演算処理部は、前記急速加熱時の測定結果から前記試料の最終水分率を予測して、その後の加熱条件を設定することを特徴とする加熱乾燥式水分計。
  2. 前記加熱条件は、前記最終水分率が所定値よりも大きい場合には、前記急速加熱を継続するとともに、前記最終水分率が所定値よりも小さい場合には、前記測定終期の加熱温度とすることを特徴とする請求項1記載の加熱乾燥式水分計。
  3. 前記演算処理部は、予測した水分率が所定値よりも大きく、急速加熱を継続した場合は、所定時間が経過するまで、または、測定した水分率が予測した最終水分率に対して、一定の割合に達するまで、急速加熱を継続し、その後、測定終期の加熱温度とすることを特徴とする請求項1または2記載の過熱乾燥式水分計。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085699A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 A & D Co Ltd 自由水の測定方法および測定装置
JP2009145174A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nippon Steel Corp 水分量測定装置及び水分量測定方法
JP2009250819A (ja) * 2008-04-08 2009-10-29 Nippon Steel Corp 水分量測定装置及び水分量測定方法
JP2012137333A (ja) * 2010-12-24 2012-07-19 Shimadzu Corp 水分計
WO2021136129A1 (en) * 2019-12-30 2021-07-08 Ohaus Instruments (Changzhou) Co., Ltd. Algorithm for predicting heating temperature of a moisture meter

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085699A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 A & D Co Ltd 自由水の測定方法および測定装置
JP2009145174A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nippon Steel Corp 水分量測定装置及び水分量測定方法
JP2009250819A (ja) * 2008-04-08 2009-10-29 Nippon Steel Corp 水分量測定装置及び水分量測定方法
JP2012137333A (ja) * 2010-12-24 2012-07-19 Shimadzu Corp 水分計
WO2021136129A1 (en) * 2019-12-30 2021-07-08 Ohaus Instruments (Changzhou) Co., Ltd. Algorithm for predicting heating temperature of a moisture meter
CN113126671A (zh) * 2019-12-30 2021-07-16 奥豪斯仪器(常州)有限公司 水分仪加热温度的预测算法

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