JP3269174B2 - 水分または揮発分計 - Google Patents
水分または揮発分計Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料の水分率や揮発分
率、あるいは乾燥に伴う試料の重量減少量を測定するた
めの装置に関し、特に、化学肥料、食品、薬品あるいは
配合原料等の粉体や固体塊等の水分率等を測定するのに
適した水分または揮発分計に関する。
率、あるいは乾燥に伴う試料の重量減少量を測定するた
めの装置に関し、特に、化学肥料、食品、薬品あるいは
配合原料等の粉体や固体塊等の水分率等を測定するのに
適した水分または揮発分計に関する。
【０００２】
【従来の技術】被測定試料を電子天びん等の重量測定装
置に負荷した状態で、その試料をヒータやランプ等を駆
動することによって加熱乾燥させ、乾燥前後の試料重量
からその試料の水分率や揮発分率等（以下、単に水分率
と称する）を求める装置においては、従来、ヒータやラ
ンプ等の近傍に置かれた温度センサによる温度検出結果
を採り込み、その温度があらかじめ設定された一定温度
を維持するように、ヒータないしはランプ等を制御して
いる。そして、被測定試料の重量減少率ないしは量が一
定の値以下となった時点で加熱を停止し、その時点にお
ける試料重量と加熱乾燥前の試料重量とから、水分率等
を求めている。
置に負荷した状態で、その試料をヒータやランプ等を駆
動することによって加熱乾燥させ、乾燥前後の試料重量
からその試料の水分率や揮発分率等（以下、単に水分率
と称する）を求める装置においては、従来、ヒータやラ
ンプ等の近傍に置かれた温度センサによる温度検出結果
を採り込み、その温度があらかじめ設定された一定温度
を維持するように、ヒータないしはランプ等を制御して
いる。そして、被測定試料の重量減少率ないしは量が一
定の値以下となった時点で加熱を停止し、その時点にお
ける試料重量と加熱乾燥前の試料重量とから、水分率等
を求めている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、粉体や固体
塊を外部から一定温度で加熱した場合、例えば粒度分布
の広い粉体等においては特に、一部試料の表面が焦げて
しまい、試料内部からの蒸発が阻害されるという問題が
あり、また、加熱温度を低く設定すると測定時間が長く
なってしまう反面、高く設定すると試料表面に焼きむら
が生じて内部からのスムーズな蒸発を妨げるとともに、
電子天びん等の重量測定装置の試料皿に加熱による対流
の影響を及ぼし、重量測定値が不安定となって測定誤差
の原因となる。
塊を外部から一定温度で加熱した場合、例えば粒度分布
の広い粉体等においては特に、一部試料の表面が焦げて
しまい、試料内部からの蒸発が阻害されるという問題が
あり、また、加熱温度を低く設定すると測定時間が長く
なってしまう反面、高く設定すると試料表面に焼きむら
が生じて内部からのスムーズな蒸発を妨げるとともに、
電子天びん等の重量測定装置の試料皿に加熱による対流
の影響を及ぼし、重量測定値が不安定となって測定誤差
の原因となる。
【０００４】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、粉体等の試料表面を焦がすことなく、短時間で
確実に試料を乾燥させることができ、安定して正確な水
分率等を得ることのできる水分または揮発分計の提供を
目的としている。
もので、粉体等の試料表面を焦がすことなく、短時間で
確実に試料を乾燥させることができ、安定して正確な水
分率等を得ることのできる水分または揮発分計の提供を
目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、被測定試料の重量を測定する重量測定手
段と、その重量測定手段に負荷されている被測定試料を
加熱乾燥させる加熱手段およびその制御手段を備え、被
測定試料の乾燥前後の重量測定結果から、当該試料の水
分率または揮発分率等を求める装置において、上記制御
手段は、ＯＮ期間とＯＮ期間との間に試料表面の熱が試
料内部を伝達するのに要するＯＦＦ期間を有して上記加
熱手段をＯＮ／ＯＦＦ制御することにより、当該加熱手
段による加熱温度に強制的な強弱を付与しつつ、被測定
試料を加熱乾燥させるよう構成されていることによって
特徴づけられる。
め、本発明は、被測定試料の重量を測定する重量測定手
段と、その重量測定手段に負荷されている被測定試料を
加熱乾燥させる加熱手段およびその制御手段を備え、被
測定試料の乾燥前後の重量測定結果から、当該試料の水
分率または揮発分率等を求める装置において、上記制御
手段は、ＯＮ期間とＯＮ期間との間に試料表面の熱が試
料内部を伝達するのに要するＯＦＦ期間を有して上記加
熱手段をＯＮ／ＯＦＦ制御することにより、当該加熱手
段による加熱温度に強制的な強弱を付与しつつ、被測定
試料を加熱乾燥させるよう構成されていることによって
特徴づけられる。
【０００６】ここで、加熱手段をＯＮ／ＯＦＦする条件
としては、つまりＯＮ／ＯＦＦするタイミングとして
は、加熱温度があらかじめ設定された上限温度および下
限温度に到達するごとにそれぞれＯＦＦおよびＯＮ、ま
たは、試料の刻々の水分率または揮発分率があらかじめ
設定された複数段階の水分率または揮発分率に到達した
時点でＯＦＦにし、その時点から一定時間ＯＦＦが経過
した時点でＯＮ、もしくは、加熱手段のＯＮまたはＯＦ
Ｆ時間があらかじめ設定された一定時間継続するごと、
等を採用することができる。
としては、つまりＯＮ／ＯＦＦするタイミングとして
は、加熱温度があらかじめ設定された上限温度および下
限温度に到達するごとにそれぞれＯＦＦおよびＯＮ、ま
たは、試料の刻々の水分率または揮発分率があらかじめ
設定された複数段階の水分率または揮発分率に到達した
時点でＯＦＦにし、その時点から一定時間ＯＦＦが経過
した時点でＯＮ、もしくは、加熱手段のＯＮまたはＯＦ
Ｆ時間があらかじめ設定された一定時間継続するごと、
等を採用することができる。
【０００７】
【作用】粉体や固体塊等の試料の乾燥過程は、その構造
を図４に模式的に示すように外殻（表面）部Ｏ、中殻部
Ｍ、および芯部Ｉに大別して考えると、表面部Ｏ→中殻
部Ｍ→芯部Ｉの順で熱が伝達して水分が蒸発していく。
を図４に模式的に示すように外殻（表面）部Ｏ、中殻部
Ｍ、および芯部Ｉに大別して考えると、表面部Ｏ→中殻
部Ｍ→芯部Ｉの順で熱が伝達して水分が蒸発していく。
【０００８】表面部Ｏの焦げたり焼きむらが生じて中殻
部Ｍないしは芯部Ｉの蒸発を阻害してしまうのは、加熱
による熱が中殻部Ｍないしは芯部Ｉに到達してその部分
の水分等が蒸発する前に表面部Ｏの温度が所定時間以上
継続して所定温度以上となるためである。
部Ｍないしは芯部Ｉの蒸発を阻害してしまうのは、加熱
による熱が中殻部Ｍないしは芯部Ｉに到達してその部分
の水分等が蒸発する前に表面部Ｏの温度が所定時間以上
継続して所定温度以上となるためである。
【０００９】そこで本発明では、加熱手段による熱によ
り表面部Ｏの温度が所定の時間以上に継続して高温とな
らないように、加熱手段を適宜のタイミングでＯＮ／Ｏ
ＦＦすることで試料の加熱温度に強制的な強弱を与え、
加熱による表面部Ｏの熱を中殻部Ｍないしは芯部Ｉに伝
達させる。これにより、中殻部Ｍおよび芯部Ｉの蒸発が
スムーズなものとなるとともに、表面部Ｏの温度が一定
の限度を越えて高温を持続するのを防止できる。
り表面部Ｏの温度が所定の時間以上に継続して高温とな
らないように、加熱手段を適宜のタイミングでＯＮ／Ｏ
ＦＦすることで試料の加熱温度に強制的な強弱を与え、
加熱による表面部Ｏの熱を中殻部Ｍないしは芯部Ｉに伝
達させる。これにより、中殻部Ｍおよび芯部Ｉの蒸発が
スムーズなものとなるとともに、表面部Ｏの温度が一定
の限度を越えて高温を持続するのを防止できる。
【００１０】
【実施例】図１は本発明実施例の構成図である。電子天
びん１０は、天びんケース１１の上面から上方に突出す
る試料皿１２を有し、その試料皿１２に作用する荷重に
対応する電気信号を出力することができる。
びん１０は、天びんケース１１の上面から上方に突出す
る試料皿１２を有し、その試料皿１２に作用する荷重に
対応する電気信号を出力することができる。
【００１１】天びんケース１１にはコラム２２が装着さ
れており、このコラム２１の上部には試料皿１２の直上
に位置するようにヒータ２０が配設されている。また、
このヒータ２０に近接して温度センサ２１が設けられて
いる。
れており、このコラム２１の上部には試料皿１２の直上
に位置するようにヒータ２０が配設されている。また、
このヒータ２０に近接して温度センサ２１が設けられて
いる。
【００１２】電子天びん１０からの荷重検出出力および
温度センサ２１による温度検出出力は、それぞれスイッ
チ３１を介してＡ−Ｄ変換器３０によってデジタル化さ
れた後、制御部４０に採り込まれる。
温度センサ２１による温度検出出力は、それぞれスイッ
チ３１を介してＡ−Ｄ変換器３０によってデジタル化さ
れた後、制御部４０に採り込まれる。
【００１３】ヒータ２０はヒータ駆動回路２３からの駆
動信号によってＯＮ／ＯＦＦ制御されるが、このヒータ
駆動回路２３は制御部４０からの指令に従ってヒータ２
０をＯＮ／ＯＦＦするように構成されている。
動信号によってＯＮ／ＯＦＦ制御されるが、このヒータ
駆動回路２３は制御部４０からの指令に従ってヒータ２
０をＯＮ／ＯＦＦするように構成されている。
【００１４】制御部４０は、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２お
よびＲＡＭ４３等を備えたマイクロコンピュータを主体
として構成されており、入出力インターフェース４４を
介して前記したスイッチ３１に所定のタイミングで駆動
指令を与えることにより、入出力インターフェース４４
を介して荷重検出データをサンプリングしつつ、所定の
インターバルで温度検出データをサンプリングするよう
に構成されている。また、前記したヒータ駆動回路２３
への指令についても、入出力インターフェース４４を介
して出力される。更に、この制御部４０には、試料重量
または水分率等を表示するための表示器５１と、後述す
る加熱条件等を設定するためのキーボード５２が接続さ
れている。
よびＲＡＭ４３等を備えたマイクロコンピュータを主体
として構成されており、入出力インターフェース４４を
介して前記したスイッチ３１に所定のタイミングで駆動
指令を与えることにより、入出力インターフェース４４
を介して荷重検出データをサンプリングしつつ、所定の
インターバルで温度検出データをサンプリングするよう
に構成されている。また、前記したヒータ駆動回路２３
への指令についても、入出力インターフェース４４を介
して出力される。更に、この制御部４０には、試料重量
または水分率等を表示するための表示器５１と、後述す
る加熱条件等を設定するためのキーボード５２が接続さ
れている。
【００１５】図２はＲＯＭ４２に書き込まれたプログラ
ムに基づく測定動作手順を示すフローチャートで、以
下、この図を参照しつつ本発明実施例の基本的な動作を
説明する。
ムに基づく測定動作手順を示すフローチャートで、以
下、この図を参照しつつ本発明実施例の基本的な動作を
説明する。
【００１６】測定に先立ち、キーボード５２を操作して
ヒータ２０による試料の加熱条件を設定した後に測定開
始指令を与えると（ＳＴ１，ＳＴ２）、試料の初期重量
つまり乾燥前の重量データを採取する（ＳＴ３）ととも
に、ヒータ２０がＯＮとなって（ＳＴ４）試料の加熱を
開始する。
ヒータ２０による試料の加熱条件を設定した後に測定開
始指令を与えると（ＳＴ１，ＳＴ２）、試料の初期重量
つまり乾燥前の重量データを採取する（ＳＴ３）ととも
に、ヒータ２０がＯＮとなって（ＳＴ４）試料の加熱を
開始する。
【００１７】その後、設定された加熱条件に基づき、ヒ
ータ２０のＯＦＦ条件に達しているか否かを判別し（Ｓ
Ｔ５）、達していなければその状態を継続し、達してい
ればヒータ２０をＯＦＦにして（ＳＴ６）、試料重量デ
ータを採取する（ＳＴ７）。次に、その重量データが試
料重量がその直前に採取した重量データに対して規定重
量α以上の差があるか否かを判別する（ＳＴ８）。規定
重量以上の差がある場合には、試料は絶乾点に達してい
ないと判断して測定を継続するが、この測定継続状態に
おいて、ヒータ２０のＯＮ／ＯＦＦ状態を判別し（ＳＴ
９）、ＯＮ状態である場合にはＳＴ５以下へと戻って同
様な手順を繰り返し、ＯＦＦ状態であればヒータ２０の
ＯＮ条件に達しているかいなかを判別し（ＳＴ１０）、
達していなければＳＴ７以下へと進み、また、達してい
ればＳＴ４に戻ってヒータ２０をＯＦＦにする。
ータ２０のＯＦＦ条件に達しているか否かを判別し（Ｓ
Ｔ５）、達していなければその状態を継続し、達してい
ればヒータ２０をＯＦＦにして（ＳＴ６）、試料重量デ
ータを採取する（ＳＴ７）。次に、その重量データが試
料重量がその直前に採取した重量データに対して規定重
量α以上の差があるか否かを判別する（ＳＴ８）。規定
重量以上の差がある場合には、試料は絶乾点に達してい
ないと判断して測定を継続するが、この測定継続状態に
おいて、ヒータ２０のＯＮ／ＯＦＦ状態を判別し（ＳＴ
９）、ＯＮ状態である場合にはＳＴ５以下へと戻って同
様な手順を繰り返し、ＯＦＦ状態であればヒータ２０の
ＯＮ条件に達しているかいなかを判別し（ＳＴ１０）、
達していなければＳＴ７以下へと進み、また、達してい
ればＳＴ４に戻ってヒータ２０をＯＦＦにする。
【００１８】以上のように、ヒータ２０により試料を加
熱しながら重量データをサンプリングしている間、設定
された条件に従ってヒータ２０を強制的にＯＮ／ＯＦＦ
することにより、試料の加熱温度に強弱を与える。そし
て、やがてＳＴ８において重量減量が規定重量α未満と
判断したときには、試料が絶乾点に達したとしてヒータ
２０をＯＦＦにし（ＳＴ１１）、初期重量データと最終
重量データを用いて水分率を算出して表示器５１に表示
する（ＳＴ１２）。
熱しながら重量データをサンプリングしている間、設定
された条件に従ってヒータ２０を強制的にＯＮ／ＯＦＦ
することにより、試料の加熱温度に強弱を与える。そし
て、やがてＳＴ８において重量減量が規定重量α未満と
判断したときには、試料が絶乾点に達したとしてヒータ
２０をＯＦＦにし（ＳＴ１１）、初期重量データと最終
重量データを用いて水分率を算出して表示器５１に表示
する（ＳＴ１２）。
【００１９】次に、ヒータ２０のＯＮ／ＯＦＦ条件の設
定の仕方について述べるが、この実施例では、そのＯＮ
／ＯＦＦ条件として次の３種類のいずれかを選択できる
ようになっている。
定の仕方について述べるが、この実施例では、そのＯＮ
／ＯＦＦ条件として次の３種類のいずれかを選択できる
ようになっている。
【００２０】第１の方式は、加熱温度の上限値Ｔ1 およ
び下限値Ｔ2 を定める方式で、図３（Ａ）にタイムチャ
ートを示すように、測定開始時にヒータ２０をＯＮにし
た後、温度センサ２１による温度検出データが上限値Ｔ
1 に達するとヒータ２０をＯＦＦにし、その状態で温度
検出データが下限値Ｔ2 に達するとヒータ２０をＯＮに
する方式である。
び下限値Ｔ2 を定める方式で、図３（Ａ）にタイムチャ
ートを示すように、測定開始時にヒータ２０をＯＮにし
た後、温度センサ２１による温度検出データが上限値Ｔ
1 に達するとヒータ２０をＯＦＦにし、その状態で温度
検出データが下限値Ｔ2 に達するとヒータ２０をＯＮに
する方式である。
【００２１】第２の方式は、あらかじめ複数の試料水分
率または揮発分率Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3・・・・およびヒータの
ＯＦＦ時間ｔを設定しておき、図３（Ｂ）にタイムチャ
ートを示すように、ヒータ２０をＯＮにして試料を加熱
し、その加熱乾燥中における刻々の試料重量値を初期の
重量値で除して得られる刻々の試料水分率と各設定水分
率Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 ・・・・とを比較し、試料水分率が各設
定水分率のいずれかに達するごとにヒータ２０をＯＦＦ
にし、そのＯＦＦ状態を上述の一定時間ｔだけ継続した
時点で、再びヒータ２０をＯＮにする方式である。
率または揮発分率Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3・・・・およびヒータの
ＯＦＦ時間ｔを設定しておき、図３（Ｂ）にタイムチャ
ートを示すように、ヒータ２０をＯＮにして試料を加熱
し、その加熱乾燥中における刻々の試料重量値を初期の
重量値で除して得られる刻々の試料水分率と各設定水分
率Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 ・・・・とを比較し、試料水分率が各設
定水分率のいずれかに達するごとにヒータ２０をＯＦＦ
にし、そのＯＦＦ状態を上述の一定時間ｔだけ継続した
時点で、再びヒータ２０をＯＮにする方式である。
【００２２】また、第３の方式は、測定に先立ってヒー
タ２０のＯＮ時間ｔONとＯＦＦ時間ｔOFF とを設定して
おき、図３（Ｃ）にタイムチャートを示すように、その
各時間ｔONおよびｔOFF に従って一定の周期でヒータ２
０をＯＮ／ＯＦＦする方式である。
タ２０のＯＮ時間ｔONとＯＦＦ時間ｔOFF とを設定して
おき、図３（Ｃ）にタイムチャートを示すように、その
各時間ｔONおよびｔOFF に従って一定の周期でヒータ２
０をＯＮ／ＯＦＦする方式である。
【００２３】以上の各方式のいずれにおいても、ヒータ
２０による試料の加熱温度は所定の条件のもとに強弱が
与えられ、ヒータ２０のＯＦＦ状態で試料表面の熱が内
部に伝達することになり、表面が焦げたり焼きむらが生
じる恐れが減少し、内部の水分等の蒸発を妨げにくくな
る。このような各方式のいずれを選択するかは、あるい
は各方式における具体的な条件は、被測定試料の性質に
よって実験的ないしは経験的に決定することが望まし
い。
２０による試料の加熱温度は所定の条件のもとに強弱が
与えられ、ヒータ２０のＯＦＦ状態で試料表面の熱が内
部に伝達することになり、表面が焦げたり焼きむらが生
じる恐れが減少し、内部の水分等の蒸発を妨げにくくな
る。このような各方式のいずれを選択するかは、あるい
は各方式における具体的な条件は、被測定試料の性質に
よって実験的ないしは経験的に決定することが望まし
い。
【００２４】なお、本発明は、以上の実施例のように加
熱条件の設定を複数種類のいずれかから選択することに
限らず、いずれかの方式のみによって条件設定をするよ
うにしてもよいことは勿論である。ただし、複数種類の
方式から任意のものを選択し得るようにしておくと、被
測定試料の性質に応じた加熱条件の選択肢が広くなって
好適である。
熱条件の設定を複数種類のいずれかから選択することに
限らず、いずれかの方式のみによって条件設定をするよ
うにしてもよいことは勿論である。ただし、複数種類の
方式から任意のものを選択し得るようにしておくと、被
測定試料の性質に応じた加熱条件の選択肢が広くなって
好適である。
【００２５】また、本発明における加熱手段としてはヒ
ータのほかにランプ等の公知の加熱手段を用い得ること
は勿論である。
ータのほかにランプ等の公知の加熱手段を用い得ること
は勿論である。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
あらかじめ設定された条件を満たすごとに試料の加熱手
段をＯＮ／ＯＦＦすることにより、試料の加熱温度に強
制的な強弱を付与しつつ、被測定試料を加熱乾燥させる
よう構成したので、従来のように加熱温度が一定温度を
維持するように加熱制御する場合に比して、試料の表面
部の熱が内部により確実に伝達して試料をむらなく蒸発
させることが可能となるとともに、試料表面が焦げた
り、焼きむらが生じる等の不具合が生じる恐れが減少す
ることになり、特に粒度分布の広い粉体等の試料に対す
る水分率等の測定結果の精度が向上し、また、試料表面
か焦げることを恐れて加熱温度を必要以上に低温に設定
して測定時間が長時間になってしまう等の不具合が解消
される。
あらかじめ設定された条件を満たすごとに試料の加熱手
段をＯＮ／ＯＦＦすることにより、試料の加熱温度に強
制的な強弱を付与しつつ、被測定試料を加熱乾燥させる
よう構成したので、従来のように加熱温度が一定温度を
維持するように加熱制御する場合に比して、試料の表面
部の熱が内部により確実に伝達して試料をむらなく蒸発
させることが可能となるとともに、試料表面が焦げた
り、焼きむらが生じる等の不具合が生じる恐れが減少す
ることになり、特に粒度分布の広い粉体等の試料に対す
る水分率等の測定結果の精度が向上し、また、試料表面
か焦げることを恐れて加熱温度を必要以上に低温に設定
して測定時間が長時間になってしまう等の不具合が解消
される。
【図１】本発明実施例の構成図
【図２】そのＲＯＭ４２に書き込まれたプログラムに基
づく測定動作手順を示すフローチャート
づく測定動作手順を示すフローチャート
【図３】各加熱条件設定方式によるヒータ２０の動作を
示すタイムチャート
示すタイムチャート
【図４】粉体や固体塊等の模式的な構造の説明図
１０ 電子天びん １２ 試料皿 ２０ ヒータ ２１ 温度センサ ２３ ヒータ駆動回路 ３０ Ａ−Ｄ変換器 ４０ 制御部 ５１ 表示器 ５２ キーボード
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定試料の重量を測定する重量測定手
段と、その重量測定手段に負荷されている被測定試料を
加熱乾燥させる加熱手段およびその制御手段を備え、被
測定試料の乾燥前後の重量測定結果から、当該試料の水
分率または揮発分率等を求める装置において、上記制御
手段は、ＯＮ期間とＯＮ期間との間に試料表面の熱が試
料内部を伝達するのに要するＯＦＦ期間を有して上記加
熱手段をＯＮ／ＯＦＦ制御することにより、当該加熱手
段による加熱温度に強制的な強弱を付与しつつ、被測定
試料を加熱乾燥させるよう構成されていることを特徴と
する水分または揮発分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10149393A JP3269174B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 水分または揮発分計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10149393A JP3269174B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 水分または揮発分計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06308011A JPH06308011A (ja) | 1994-11-04 |
| JP3269174B2 true JP3269174B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=14302196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10149393A Expired - Fee Related JP3269174B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 水分または揮発分計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3269174B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7003404B2 (en) | 2003-09-03 | 2006-02-21 | A&D Company Limited | Control method for moisture meter, control program for moisture meter, record medium recording control program for moisture meter and moisture meter |
| JP2012137333A (ja) * | 2010-12-24 | 2012-07-19 | Shimadzu Corp | 水分計 |
| CN105445139B (zh) * | 2015-12-15 | 2018-12-25 | 上海宝钢磁业有限公司 | 精确测量锰锌铁氧体pva含量的方法 |
-
1993
- 1993-04-27 JP JP10149393A patent/JP3269174B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06308011A (ja) | 1994-11-04 |
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