JP4049210B2 - 水分計の制御方法、水分計の制御プログラム、水分計の制御プログラムを記録した記録媒体及び水分計 - Google Patents
水分計の制御方法、水分計の制御プログラム、水分計の制御プログラムを記録した記録媒体及び水分計 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、水分計の制御方法、水分計の制御プログラム、水分計の制御プログラムを記録した記録媒体及び水分計に関し、特に加熱乾燥式の水分計に適用することができる。本発明は、加熱温度を順次段階的に上昇させて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出すると共に、このパラメータに基づいて最適な加熱温度を計算することにより、又はオペレータにより設定された測定精度と質量の測定精度とから、必要とする試料の質量を計算することにより、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができるようにする。
【0002】
【従来の技術】
従来、加熱乾燥式の水分計においては、加熱により水分を蒸発させて質量の変化を測定することにより、試料の水分率を検出するようになされている。すなわちこのような加熱を開始する前の試料の質量(以下乾燥前の質量と呼ぶ)をW、乾燥後の試料の質量をDとおくと、試料の水分率WPは、次式により表すことができる。
【0003】
【数1】
【0004】
これにより加熱乾燥式の水分計においては、試料の量を多くすると、その分、測定精度が向上するものの、乾燥に時間を要することにより、測定時間が長くなる。このため従来の水分計においては、必要とする精度をX〔%〕、水分計における重量の測定精度をM〔g〕とおいて、N=M/Xの計算をオペレータにより実行して試料の質量Nを求めるようになされている。なおこれにより、重量の測定精度が1〔mg〕であり、0.01〔%〕の精度により水分率を計算する場合、試料の量は10〔g〕となる。
【0005】
また加熱乾燥式の水分計においては、加熱温度を高くすると、短い時間により水分を蒸発させることができることにより、測定に要する時間を短くすることができる。しかしながら加熱温度が高くなると、試料に含まれる水分以外の液体(例えば揮発性の油分等)が揮発、分解し、またさらに温度が高くなると試料に含まれる有機物が炭化し、これらにより測定精度が劣化することになる。
【0006】
これにより従来の水分計においては、事前の予備実験により加熱の条件を設定するようになされている。なおここで加熱の条件は、加熱により試料を乾燥させる時間(加熱時間である)、加熱温度、加熱を開始して加熱温度に温度上昇させるまでの時間(昇温時間である)等である。
【0007】
すなわちこの予備試験においては、一定の温度により所定時間試料を加熱し、水分の蒸発により試料の質量が変化しなくなるか否かを検出する。なおこのような予備試験による加熱は、例えば120度の温度により、10分間実行される。このような一定温度、一定時間の加熱によっても試料の質量が変化し続ける場合、最終的に試料の質量が変化しなくなるまで、加熱温度を変更して、又はこの加熱温度により、加熱時間を延長する。
【0008】
予備試験においては、試料を複数用意し、このような加熱温度、加熱時間、昇温時間を種々に変更して試料を乾燥させ、これらの試験結果より、適切と判断される加熱の条件を設定するようになされている。
【0009】
すなわち従来の水分計による水分率の測定においては、このようにして得られた加熱条件を水分計に設定した後、計算により求めた量の試料を設置する。その後、計測を開始すると、水分計においては、乾燥前の試料の質量を検出して記録し、ユーザーにより設定された条件により試料の加熱を開始する。その後、乾燥途中の質量をモニタし、このモニタ結果により(1)式の演算処理により水分率の途中測定結果を表示し、加熱時間が経過すると、加熱を終了し、測定結果を表示するようになされている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
ところでこのようにして予備試験による加熱の条件出しにおいては、簡易かつ確実に条件出しできない問題がある。
【0011】
すなわち上述したように、予備試験においては、複数の試料を用意して加熱を繰り返すことが必要なことにより、測定に長い時間を要する問題がある。
【0012】
また揮発成分まで蒸発して試料の質量が変化しなくなる場合等もあり、このような場合を水分の蒸発により試料の質量が変化しなくなった場合と誤って判断して加熱の条件を設定してしまう恐れもあり、これにより設定した条件が適切なものでない場合も考えられる。因みに、これにより従来の加熱乾燥計においては、加熱の条件出しに習熟を要していた。
【0013】
因みに、このように複数の試料のそれぞれで測定に長い時間を要することにより、これら複数の試料においては、それぞれ測定を開始するまでの間、水分の蒸発を防いで、長時間、水分率が変化しないようにすることが必要になり、このような水分率の維持、管理のためには測定環境の整備等が大掛かりになる。また予備試験が煩雑となり、この煩雑な作業が水分率の誤測定の1つの要因ともなる。
【0014】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる水分計及び、水分計の制御方法、水分計の制御プログラム、水分計の制御プログラムを記録した記録媒体を提案しようとするものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため請求項1の発明においては、水分計の制御方法に適用して、加熱温度を順次段階的に上昇させて、予備試験用の試料を加熱して水分率の変化を検出する水分率検出のステップと、水分率検出のステップで検出した水分率の変化に基づいて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出するパラメータ検出のステップと、パラメータに基づいて、試料の加熱に適した温度を選択する温度選択のステップとを有するようにする。また温度選択のステップは、直前までの加熱温度により検出されるパラメータを用いて、続く加熱温度において検出されるパラメータを計算し、該計算したパラメータと、実測値によるパラメータとの比較により、直前の加熱温度を加熱に適した温度に選択する。
【0018】
また請求項2の発明においては、請求項1の構成において、加熱に適した温度によるパラメータを使用して、加熱に要する時間を計算する加熱時間計算のステップを有するようにする。
【0019】
また請求項3の発明においては、請求項2の構成において、加熱時間計算のステップは、オペレータにより設定された測定精度を基準にして、パラメータによる時間関数を計算することにより、加熱に要する時間を計算する。
【0020】
また請求項4の発明においては、請求項1、請求項2又は請求項3の構成において、時間関数が、自然対数関数であるようにする。
【0022】
また請求項5の発明においては、請求項1、請求項2、請求項3又は請求項4の構成において、処理結果をオペレータに通知する通知のステップを有する。
【0023】
また請求項6の発明においては、水分計の制御プログラムに適用して、請求項1、請求項2、請求項3、請求項4又は請求項5に記載の水分計の制御方法による制御プログラムであるようにする。
【0024】
また請求項7の発明においては、制御プログラムを記録した記録媒体に適用して、請求項6の制御プログラムを記録する。
【0025】
また請求項8の発明においては、水分計に適用して、請求項1、請求項2又は請求項4に記載の水分計の制御方法により、測定に供する条件を計算する。
【0026】
また請求項9の発明においては、請求項8の構成において、処理結果をオペレータに通知する通知手段を有するようにする。
【0027】
請求項1の構成によれば、加熱温度を順次段階的に上昇させて、予備試験用の試料を加熱して水分率の変化を検出する水分率検出のステップと、水分率検出のステップで検出した水分率の変化に基づいて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出するパラメータ検出のステップと、パラメータに基づいて、試料の加熱に適した温度を選択する温度選択のステップとを有することにより、加熱の状態が水分の蒸発段階から次の段階に移行したか否かをパラメータの判定により検出することができ、これにより1つの予備試験用試料の使用により加熱温度を適切に、かつ短い時間で選択することができる。簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる。また温度選択のステップは、直前までの加熱温度により検出されるパラメータを用いて、続く加熱温度において検出されるパラメータを計算し、該計算したパラメータと、実測値によるパラメータとの比較により、直前の加熱温度を加熱に適した温度に選択することにより、加熱の段階が、水分の蒸発段階から次の段階に移行する直前の温度に加熱温度を設定することができる。
【0030】
また請求項2の構成によれば、加熱温度の条件出しに使用したパラメータを有効に利用して、加熱時間を求めることができ、さらに一段と簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる。
【0031】
また請求項3の構成によれば、測定精度を満足するに十分な加熱時間を求めることができる。
【0032】
また請求項4の構成によれば、時間関数が、自然対数関数であることにより、加熱による水分率の変化を十分な精度により近似して加熱温度、加熱時間等を求めることができる。
【0034】
また請求項5の構成によれば、処理結果をオペレータに通知する通知のステップを有することにより、このようにして選択した測定の条件をオペレータに通知して、オペレータによる測定条件設定の手助けとすることができる。
【0035】
これらにより請求項6の構成によれば、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる水分計の制御プログラムを提供することができる。
【0036】
また請求項7の構成によれば、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる水分計の制御プログラムを記録した記録媒体を提供することができる。
【0037】
また請求項8又は請求項9の構成によれば、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる水分計を提供することができる。
【0038】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【0039】
(1)実施の形態の構成
図2は、本発明の実施の形態に係る水分計を示すブロック図である。この水分計1において、試料皿2は、取り外し可能に保持され、試料を載置できるようになされている。荷重センサ3は、試料皿2の荷重に応じて信号レベルが変化する荷重検出信号を出力する。アナログディジタル変換器(A/D)4は、この荷重検出信号をアナログディジタル変換処理し、荷重検出データを演算処理部5に出力する。これにより演算処理部5は、試料皿2に配置した試料の質量、さらにはこの質量の変化を検出できるようになされている。
【0040】
ハロゲンランプ6は、試料加熱用の熱源であり、温度制御部7により駆動されて試料加熱用の光を放射する。温度センサ8は、試料皿2の近傍に配置されて、温度に応じて信号レベルが変化する温度検出信号を出力する。温度制御部7は、試料の温度が演算処理部5により指示される温度となるように、温度検出信号により加熱結果をモニタしながら加熱用ランプ6を駆動する。
【0041】
表示部10は、液晶表示パネル等により形成され、ユーザーによる各種設定、測定結果等を表示する。インターフェース11は、演算処理部5の制御により例えばパーソナルコンピュータ等の外部機器に測定結果等を出力し、またこれら外部機器による各種設定のデータ等を演算処理部5に出力する。タイマ12は、現在時刻をカウントし、カウント結果を演算処理部5に出力する。メモリ13は、演算処理部5のワークエリアを構成すると共に、測定結果等を記録する。キースイッチ部14は、この水分計1の操作に必要な押圧操作子等により構成され、ユーザーによる各種の操作を演算処理部5に通知する。
【0042】
演算処理部5は、この水分計1全体の動作を制御するコンピュータであり、キースイッチ部14より通知されるユーザーの操作により、さらには外部機器の制御により予備実験、実際の測定等の処理を実行する。
【0043】
演算処理部5は、この予備実験の処理において、図1に示す処理手順を実行し、これにより実際の測定に供する加熱の条件、試料の重量等をユーザーに指示する。すなわち演算処理部5は、ユーザーが予備実験の開始を指示すると、ステップSP1からステップSP2に移り、設定可能な測定精度を表示部10に表示し、この表示に対応したキースイッチ部14の操作を検出することにより、測定精度の入力を受け付ける。
【0044】
続いて演算処理部5は、ステップSP3に移り、この水分計の荷重測定精度と、ユーザーにより入力された水分率の測定精度より、従来、オペレータが計算していた演算処理を実行し、これにより必要な試料の質量を計算して表示部10に表示する。これにより演算処理部5は、必要な試料の質量をオペレータに通知する。
【0045】
続いて演算処理部5は、ステップSP4に移り、温度制御部7の制御により低温側の基準温度h0度(例えば100度)により試料の加熱を開始する。さらに演算処理部5は、この加熱開始時刻を記憶した後、ステップSP4に移り、加熱を開始して所定時間経過を待機し、水分率を計測する。ここでこの計測は、加熱を開始して試料の温度が上昇するのに十分な時間を経過した後、時刻を異ならして少なくとも3回測定され、各測定時刻毎に水分率が計算される。
【0046】
このようにして水分率を計測すると、演算処理部5は、これら3回の計測による水分率の測定結果を使用して水分率の変化曲線のパラメータp0を計算する。すなわち加熱を開始してt秒経過後の水分率WP(t)は、次式の時間関数により表される。
【0047】
【数2】
【0048】
ここで一定の温度により加熱した場合、水分率の変化は、図3に示すように、自然対数曲線によりモデル化することができ、水分率WP(t)は、次式の一般式により表すことができる。
【0049】
【数3】
【0050】
ここでWPは、乾燥後の水分率であり、K(t)は、この時間関数である水分率変化曲線のパラメータであり、自然対数曲線においては、加熱開始後の経過時間t(秒)を用いた次式の多項式により表すことができる。なおAn〜A1は、定数である。
【0051】
【数4】
【0052】
なおこの多項式は、通常、次式により示す1次式により十分な精度で近似することができる。
【0053】
【数5】
【0054】
またこのような加熱時間を変数にして表される自然対数曲線においては、水分以外の物質が蒸発、分解しないものものと仮定して、加熱温度を変数にしても表すことができる。これにより(4)式にこの加熱温度の条件を加味すれば、(4)式は次式により表すことができる。なおhは、加熱温度であり、Bn〜B0は、定数である。
【0055】
【数6】
【0056】
ここで(6)式の右辺を構成する各級数は、一次式で近似することができることにより、(6)式は、次式により表すことができる。なおC1、C0は定数である。
【0057】
【数7】
【0058】
これらをまとめると(3)式は、次式により表すことができる。
【0059】
【数8】
【0060】
演算処理部5は、この(8)式により表される変数pをこのステップSP5の処理により計算する。さらに演算処理部5は、計算結果を加熱温度と共にメモリ13に記録する。かくするにつき、演算処理部5は、このように水分率の変化を自然対数曲線に近似して求める際に、十分な精度により近似できるように、このステップSP5における水分率計測のタイミングが設定されるようになされている。
【0061】
具体的に、(8)式の両辺を時間tで微分すれば、次式の関係式を得ることができる。
【0062】
【数9】
【0063】
この(9)式を整理すれば、次式の関係式を得ることができる。
【0064】
【数10】
【0065】
この関係式を(8)式に代入すれば、次式の関係式を得ることができる。
【0066】
【数11】
【0067】
さらにこの(11)式を整理すれば、次式の関係式を得ることができる。
【0068】
【数12】
【0069】
ここで(12)式は、乾燥後の水分率WP、パラメータpの2つが未知数であることにより、最低、3回の水分率の測定結果を用いて(12)式の連立方程式を解くことにより、パラメータpを計算することができる。これにより演算処理部5は、このステップSP5における処理において、3回の水分率計測により得られる水分率WP(t)を使用してパラメータpについて(12)式を解くことにより、パラメータpを計算する。
【0070】
すなわち例えば図4に示すような水分率の変化が観測された場合において、加熱開始より4分後、4分30秒後、5分後にそれぞれ水分率を計算し、これらの水分率がそれぞれ7.02〔%〕、7.70〔%〕、8.35〔%〕であった場合、次式により示す連立方程式を得ることができる。
【0071】
【数13】
【0072】
これによりこの場合、この関係式を解いて、p0=−1.849×10-3によるパラメータpを求めることができる。
【0073】
このようにして初期の加熱温度h0によりパラメータp0を求めると、演算処理部5は、ステップSP6に移り、ここで所定温度だけ加熱温度を上昇させて、加熱温度h1(例えば120度)により試料の加熱を開始する。さらに続くステップSP7において、ステップSP5と同様にしてパラメータp1を計算する。
【0074】
続いて演算処理部5は、ステップSP8に移り、このようにして計算された2つのパラメータp0及びp1より、(8)式の定数C1、C0を計算する。ここでこの計算においては、パラメータp0及びp1による2つの連立方程式を解くことにより求めることができる。すなわち図4に示すように、続く加熱温度h1により加熱を開始して、当初の加熱開始時点よりそれぞれ6分後、6分30秒後、7分後にそれぞれ水分率を計算し、これらの水分率がそれぞれ10.26〔%〕、11.10〔%〕、11.87〔%〕であった場合、(13)式と同様の連立方程式を得ることができ、これを解いてp1=−3.139×10-3を求めることができる。
【0075】
これによりp0=−1.849×10-3、p1=−3.139×10-3を(8)式に代入すると、次式の連立方程式を得ることができる。
【0076】
【数14】
【0077】
これによりこの連立方程式を解いて、C1=−64.5×10-6、C0=4.6×10-3を得ることができる。このようにして定数C1及びC0を計算すると、演算処理部5は、ステップSP9(図5)に移り、ここで更に所定温度だけ温度上昇させて加熱温度をhnに設定する。
【0078】
さらに演算処理部5は、ステップSP10に移り、ステップSP5と同様にしてパラメータpnを計算する。
【0079】
続いて演算処理部5は、ステップSP11に移り、ステップSP8で計算した定数C1、C0より、(8)式を使用して加熱温度hnにおけるパラメータpxを計算する。さらに演算処理部5は、続いてステップSP12に移り、このステップSP11で計算したパラメータpxと、ステップSP10で水分率より計算したパラメータpnとがほぼ一致するか否か判断する。この判断により演算処理部5は、加熱の段階が水分の乾燥段階から次の段階に移行したか否か判断する。
【0080】
すなわちこの種の試験に供される試験対象において、加熱温度が低い場合、アルコール等の水より低温で蒸発する成分(低揮発成分である)が蒸発し、次いで加熱温度を上昇させると、水分が蒸発する。さらに加熱温度を上昇させると、樹脂の添加剤、試料の油分等(高揮発成分である)が蒸発し、さらに温度を上昇させると、有機物の分解、溶解等が発生し、さらには有機成分が炭化を始める。
【0081】
これによりこの種の試料における質量の変化は、加熱温度により、水分の蒸発による段階と、水分蒸発以外の段階によるものと判別することができ、水分計において、正しく水分率を測定する場合には、水分の蒸発による段階に加熱温度を保持して測定することが必要である。また測定時間を短くするためには、水分の蒸発による段階の加熱温度であって、なおかつ可能な限り高い温度設定により加熱することが必要になる。
【0082】
上述したような時間関数により水分率の変化を表現した場合、このような水分の蒸発段階において、水分率の測定結果により検出されるこの時間関数のパラメータC1及びC0においては、各加熱温度でほぼ一致することになる。これに対して加熱の段階が水分の蒸発段階より別の段階に移行すると、例えば水分以外の油分等まで蒸発を開始することにより、水分率の変化測定結果を水分の蒸発段階における時間関数では表せなくなる。すなわちこの場合、上述したように測定結果を時間関数により表してなる定数C1及びC0が、それまでの段階の定数とは異なる値を呈するようになる。
【0083】
これによりこの実施の形態では、このステップSP12において、それまでの測定で検出した定数C1及びC0により予測されるパラメータPxと、実測によるパラメータPnとの比較により、加熱の段階が次の段階に移行したか否か判断する。
【0084】
このステップSP12において、このような2種類のパラメータPx及びパラメータPnがほぼ一致するとの比較結果が得られると、この場合、水分の蒸発による段階において、未だ加熱温度を上昇させる余裕がある場合も考えられることにより、演算処理部5は、ステップSP9に移り、さらに温度を上昇させる。
【0085】
これにより演算処理部5は、加熱の段階が水分の蒸発段階より次の段階に移行するまで、ステップSP9−SP10−SP11−SP12−SP9の処理手順を繰り返し、順次、加熱温度を上昇させる。
【0086】
図6は、このようにして温度上昇させた場合における実際の測定結果を示す図表である。この場合、加熱温度を180度にすると、2種類のパラメータPx及びパラメータPnが明らかに異なる値となり、これにより加熱温度が次の段階へ移行したことが判る。
【0087】
これにより加熱の段階が水分の蒸発段階より次の段階に移行すると、ステップSP12で否定結果が得られることにより、演算処理部5は、ステップSP12からステップSP13に移る。ここでこの場合、現在の加熱の状態は、水分の蒸発段階より次の段階に移行していることにより、またこの直前の加熱の状態は、水分の蒸発段階と判断されていることにより、演算処理部5は、直前の加熱温度を最適な加熱温度に設定する。
【0088】
続いて演算処理部5は、ステップSP14に移り、この最適な加熱温度で検出されたパラメータPn−1を(8)式に代入して、ステップSP2で入力された必要精度を満たすように最適な加熱時間を計算する。すなわちこの実施の形態では、(8)式を用いた計算において、水分率の最終値に対して、水分率がユーザーにより指定された測定精度以下となった時点を加熱の終了時点に設定する。すなわちこの場合に、例えばオペレータが、必要な精度として0.2〔%〕の測定精度を指示した場合、(8)式より次式の演算式を得ることができる。
【0089】
【数15】
【数16】
【数17】
【0090】
ここで図6の温度160度で検出されるパラメータpの値−5.862×10-3を(17)式に代入して解くと、この場合、加熱に要する時間t=1068秒(≒18分)を計算することができる。
【0091】
このようにして加熱時間を計算すると、演算処理部5は、ステップSP3で計算したサンプル量、ステップSP14で計算した加熱温度、ステップSP15で計算した加熱時間を表示部10に表示し、これにより処理結果をオペレータに通知する。その後、演算処理部5は、ステップSP16に移ってこの処理手順を終了する。
【0092】
かくするにつき、演算処理部5は、このようにして通知した試験条件によりオペレータが試験の開始を指示すると、又はこのようにして通知した試験条件を参考にしたオペレータによる試験条件の設定後に、オペレータが試験の開始を指示すると、これらオペレータの指示による試験条件により、試料の加熱を開始して水分率をモニタし、加熱時間となると、試験を終了する。さらにこの終了時点の水分率をオペレータに通知する。
【0093】
(2)実施の形態の動作
以上の構成において、この水分計1においては(図1及び図2)、オペレータがキースイッチ部14を操作して必要とする測定精度を入力すると、荷重センサ3、アナログディジタル変換器4、演算処理部5の処理により決まるこの水分計1における質量の測定精度を基準にして、この測定精度を確保するのに必要な最小限度の試料の質量が演算処理部5で計算される。さらにこの計算結果が表示部10に表示される。これによりオペレータにおいては、この表示部10に表示されたサンプル量を単に試料皿2に載置するだけで、予備試験、実際の試験を開始することができ、その分、簡易に試験の1つの条件であるサンプル量を設定することができる。
【0094】
すなわちこのような水分計は、例えは品質管理に使用される場合があり、この場合は、常に一定のサンプル量で水分率を測定しなければ、測定時間がばらついたり、水分率に誤差を生じたりする。特にこのような誤差は、一定の加熱時間による水分率の変化を管理する場合に、顕著となる。
【0095】
しかしながら、このように一定のサンプル量で管理することが望ましいとしても、実際上、必要な測定精度を確保して、かつ短い時間により測定可能なサンプル量を決定するのは、オペレータにとってわかりずらいものであった。ところがこの実施の形態のように、単に、必要とする測定精度の入力により装置側で計算して必要なサンプル量をオペレータに通知するようにすれば、このような煩雑なサンプル量の設定作業を省略することができる。またこのサンプル量が、必要な測定精度を確保して、かつ短い時間により測定可能なサンプル量であることにより、常に最適な条件により測定結果を得ることができる。これによりサンプル量に関して、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる。
【0096】
予備試験において、このようにして通知されたサンプル量等により試料が試料皿2に載置された後、ユーザーにより予備試験の開始が指示されると、この水分計1では、水分の蒸発に十分な最低温度である100度により試料の加熱が開始され(図3及び図4)、その後、所定時間経過する毎に、水分率が測定される。水分計1では、この測定が3回繰り返されると、水分率の変化を示す時間関数のパラメータp0がこの3回の測定結果より検出される。
【0097】
さらに続いて所定温度だけ温度が上昇されて、同様にして時間関数のパラメータp1が検出される。水分計1では、この連続して検出されるパラメータp0及びp1よりこのパラメータp0及びp1を導出する温度関数の係数C0及びC1が計算される。
【0098】
また水分計1では、加熱温度が再び上昇され、同様の水分率の測定により続く加熱温度によるパラメータp2が計算される。さらにこの直前の計算で計算された温度関数の係数C0及びC1を用いて、この加熱温度におけるパラメータpxが計算され、この2つのパラメータp2及びpxの比較により、パラメータの変化を基準にして加熱の状態が判定される。すなわち加熱による水分が蒸発している段階の場合、このようにして実際に測定されるパラメータp2は、係数C0及びC1を用いた温度関数より計算して求められるパラメータpxとほぼ一致するのに対し、加熱の状態が続く油分の揮発等の段階に移行している場合には、一致しなくなる。
【0099】
これにより水分計1では、未だ水分が次の段階に移行していないと判断される場合には、さらに加熱温度を上昇させて同様の処理手順を繰り返すのに対し、加熱温度が次の段階に移行していると判断できる場合には、直前の加熱温度が最適な加熱温度に設定される。かくするにつき、このようにして設定される加熱温度においては、水分の蒸発段階の温度であり、かつこのような水分の蒸発段階の温度における最も高い温度であることにより、短い時間で、かつ水分だけ蒸発させることができる加熱温度である。これによりこの実施の形態では、短い時間により、確実に、測定の条件の1つである加熱温度を検出することができるようになされている。
【0100】
このようにして加熱温度を検出するにつき、この水分計1では、この時間関数に自然対数曲線が適用される。すなわちこのような水分の蒸発においては、加熱開始時においては、急激に、水分率が変化するのに対し、水分の減少に伴い、徐々に水分率の変化が小さくなり、これによりこのような自然対数曲線により水分率の変化を極めて精度良く近似することができる。これによってもこの実施の形態では、精度良く測定の条件を設定できるようになされている。
【0101】
かくしてこのようにして加熱温度が計算されると、水分計1では、試料の加熱が中止されて予備試験が終了する。このとき水分計1では、このような加熱温度の計算に使用したパラメータpを用いて、オペレータの指示した測定精度を確保するのに必要な加熱時間が計算される。すなわちこのような加熱時間の計算においても、測定精度を確保するとの条件の元で、短い時間により測定可能とするためには、従来、計算が困難であった。しかしながらこの実施の形態においては、このような測定精度を加味して、かつ加熱時間の計算に使用した時間関数を有効に利用して計算することにより、簡易かつ確実に、測定条件の1つである加熱時間を求めることができる。
【0102】
これらによりこの水分計1では、このようして計算したサンプル量、加熱温度、加熱時間が表示部10に表示され、オペレータは、この表示に従って測定を開始することにより、簡易かつ確実に水分率を測定することができる。
【0103】
(3)実施の形態の効果
以上の構成によれば、加熱温度を順次段階的に上昇させて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出すると共に、このパラメータに基づいて最適な加熱温度を計算することにより、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる。
【0104】
すなわちこのような時間関数のパラメータの変化に基づいて、加熱に適した温度を選択することにより、簡易かつ確実に、水分の蒸発の段階と次の段階との判別することができ、これにより簡易に、短い時間で測定を完了することができる加熱温度を検出することができる。
【0105】
またこのとき直前までの加熱温度により検出されるパラメータを用いて、続く加熱温度において検出されるパラメータを計算し、この計算したパラメータと、実測値によるパラメータとの比較により、直前の加熱温度を加熱に適した温度に選択することにより、水分の蒸発の段階であって、最も高い加熱温度を選択することができ、これにより簡易に、短い時間で測定を完了することができる加熱温度を検出することができる。
【0106】
またこのようにして求めた加熱に適した温度によるパラメータを使用して、加熱に要する時間を計算することにより、測定の条件のうちの、加熱時間についても、簡易かつ確実に設定することができる。
【0107】
またこの加熱時間の計算において、オペレータにより設定された測定精度を基準にして、パラメータによる時間関数を計算することにより、ユーザーの所望する測定精度を確実に確保できるように加熱時間を設定することができ、これによっても測定の条件を簡易かつ確実に設定することができる。
【0108】
またこのような計算に使用する時間関数に自然対数関数を適用することにより、水分率の変化を精度良く近似して加熱時間等を計算することができ、これによっても測定の条件を簡易かつ確実に設定することができる。
【0109】
またオペレータにより設定された測定精度と、試料の質量の測定精度とから、必要とする試料の質量を計算することにより、測定の条件のうちの試料の質量について、簡易かつ確実に必要量を設定することができる。
【0110】
(4)他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、パラメータpを表す温度関数の係数C0及びC1より計算したパラメータpxと、実測によるパラメータpnとを比較することにより、高い精度で加熱段階の移行を判定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、実用上十分な精度を確保できる場合には、例えば単に温度に対するパラメータpnの変化の大きさを判定して加熱段階の移行を判定する場合等、パラメータpnの変化に基づいて加熱温度を選択してもよく、さらにはパラメータpnに基づいて加熱温度を選択してもよい。
【0111】
また上述の実施の形態においては、自然対数関数により水分率の変化を表現する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、実用上十分な精度を確保できる場合には、各種の時間関数を適用することができる。
【0112】
また上述の実施の形態においては、最終的な乾燥率WPに対して、測定精度分の値にまで乾燥率WP(t)が変化した時点を加熱終了の時点に設定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば最終的な乾燥率WPを予測により求める場合等も考えられることにより、このような場合には、このようなパラメータpを用いた時間関数を種々に利用して加熱時間を種々に設定することができる。
【0113】
また上述の実施の形態においては、予備実験の結果をオペレータに通知してオペレータによる設定を受け付ける場合について述べたが、本発明はこれに限らず、このような予備実験の結果により自動的に実際の測定を実行するようにしてもよい。
【0114】
また上述の実施の形態においては、加熱源としてハロゲンランプを使用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各種ヒータ等を加熱源として使用する場合にも広く適用することができる。
【0115】
また上述の実施の形態においては、本発明を水分計に適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、水分計を外部装置であるコンピュータにより制御して使用する場合もあることにより、このような場合にも広く適用することができる。なおこの場合、上述した実施の形態に係る演算処理部における処理の全部又は一部をこの外部機器であるコンピュータが実行することになる。
【0116】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、加熱温度を順次段階的に上昇させて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出すると共に、このパラメータに基づいて最適な加熱温度を計算することにより、又はオペレータにより設定された測定精度と、質量の測定精度とから、必要とする試料の質量を計算することにより、簡易かつ確実に測定の条件を設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る水分計における演算処理部の処理手順を示すフローチャートである。
【図2】図1の演算処理部による水分計を示すブロック図である。
【図3】各加熱温度による水分率の変化を示す特性曲線図である。
【図4】加熱温度を段階的に上昇させた場合の水分率の変化を示す特性曲線図である。
【図5】図1の続きを示すフローチャートである。
【図6】図4との対比により測定結果と計算によるパラメータpを示す図表である。
【符号の説明】
1……水分計、2……試料皿、3……荷重センサ、5……演算処理部、6……ハロゲンランプ
Claims (9)
- 熱源により試料を加熱して検出される質量の変化により前記試料の水分率を計測する水分計の制御方法において、
加熱温度を順次段階的に上昇させて、予備試験用の試料を加熱して水分率の変化を検出する水分率検出のステップと、
前記水分率検出のステップで検出した水分率の変化に基づいて、水分率の変化を示す時間関数のパラメータを検出するパラメータ検出のステップと、
前記パラメータに基づいて、前記試料の加熱に適した温度を選択する温度選択のステップとを有し、
前記温度選択のステップは、
直前までの加熱温度により検出されるパラメータを用いて、続く加熱温度において検出されるパラメータを計算し、
該計算したパラメータと、実測値によるパラメータとの比較により、直前の加熱温度を前記加熱に適した温度に選択する
ことを特徴とする水分計の制御方法。 - 前記加熱に適した温度による前記パラメータを使用して、加熱に要する時間を計算する加熱時間計算のステップを有する
ことを特徴とする請求項1に記載の水分計の制御方法。 - 前記加熱時間計算のステップは、
オペレータにより設定された測定精度を基準にして、前記パラメータによる前記時間関数を計算することにより、前記加熱に要する時間を計算する
ことを特徴とする請求項2に記載の水分計の制御方法。 - 前記時間関数が、
自然対数関数である
ことを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記載の水分計の制御方法。 - 処理結果をオペレータに通知する通知のステップを有する
ことを特徴とする請求項1、請求項2、請求項3又は請求項4に記載の水分計の制御方法。 - 請求項1、請求項2、請求項3、請求項4又は請求項5に記載の水分計の制御方法による制御プログラムである
ことを特徴とする水分計の制御プログラム。 - 請求項6の水分計の制御プログラムを記録した
ことを特徴とする水分計の制御プログラムを記録した記録媒体。 - 請求項1、請求項2、請求項3又は請求項4に記載の水分計の制御方法により、測定に供する条件を計算する
ことを特徴とする水分計。 - 処理結果をオペレータに通知する通知手段を有する
ことを特徴とする請求項8に記載の水分計。
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