JP2004155597A - 磁気ヘッド用低融点ガラス - Google Patents
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Abstract
【課題】ガラスの安定性が高く、しかも低温封着が可能なＰｂＯを含まない磁気ヘッド用低融点ガラスを提供する。
【解決手段】質量百分率でＢｉ２Ｏ３ ３０〜８０％、Ｂ２Ｏ３ ３〜２５％、ＢａＯ ０〜５％、ＳｒＯ ０〜５％、ＢａＯ＋ＳｒＯ ０．１〜５％、ＺｎＯ ０〜１６％、ＣａＯ ０〜１０％、Ｆｅ２Ｏ３ ０〜５％、ＣｕＯ ０〜１０％、ＺｎＯ＋ＣａＯ＋Ｆｅ２Ｏ３＋ＣｕＯ ０．１〜２５％、ＳｉＯ２ ２〜２０％、Ａｌ２Ｏ３ ０〜５％、ＳｉＯ２＋Ａｌ２Ｏ３ ３．５〜２５％、Ｃｓ２Ｏ ０〜５％の組成からなり、本質的にＰｂＯを含まないことを特徴とする。
【選択図】 なし
【解決手段】質量百分率でＢｉ２Ｏ３ ３０〜８０％、Ｂ２Ｏ３ ３〜２５％、ＢａＯ ０〜５％、ＳｒＯ ０〜５％、ＢａＯ＋ＳｒＯ ０．１〜５％、ＺｎＯ ０〜１６％、ＣａＯ ０〜１０％、Ｆｅ２Ｏ３ ０〜５％、ＣｕＯ ０〜１０％、ＺｎＯ＋ＣａＯ＋Ｆｅ２Ｏ３＋ＣｕＯ ０．１〜２５％、ＳｉＯ２ ２〜２０％、Ａｌ２Ｏ３ ０〜５％、ＳｉＯ２＋Ａｌ２Ｏ３ ３．５〜２５％、Ｃｓ２Ｏ ０〜５％の組成からなり、本質的にＰｂＯを含まないことを特徴とする。
【選択図】 なし
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気ヘッドの接着や固定に用いられる低融点ガラスに関し、より詳しくはフェライトコアタイプの磁気ヘッドの接着や固定に用いられる低融点ガラスに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から磁気ヘッドの封着ガラスとしてＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３系やＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３−ＳｉＯ２系の低融点ガラスが広く使用されている。この理由はフェライト材料や特にＭＩＧタイプと呼ばれる磁気ヘッドの金属磁性膜の過熱による劣化を防ぐために低温での封着が要求されるからである。
【０００３】
しかしながらＰｂＯ含有ガラスに対して環境上の問題が指摘されており、ＰｂＯを含まない低融点ガラスが求められている。そこでＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラスが提案されている。（例えば特許文献１、２参照）
【０００４】
【特許文献１】
特開平９−２７８４８３号公報
【特許文献２】
特開２０００−１２８５７４号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが上記したような従来のＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラスは、ガラスが不安定で失透が起こりやすい。
【０００６】
本発明の目的は、ガラスの安定性が高く、しかも低温封着が可能なＰｂＯを含まない磁気ヘッド用低融点ガラスを提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスは、質量百分率でＢｉ２Ｏ３ ３０〜８０％、Ｂ２Ｏ３ ３〜２５％、ＢａＯ ０〜５％、ＳｒＯ ０〜５％、ＢａＯ＋ＳｒＯ０．１〜５％、ＺｎＯ ０〜１６％、ＣａＯ ０〜１０％、Ｆｅ２Ｏ３ ０〜５％、ＣｕＯ ０〜１０％、ＺｎＯ＋ＣａＯ＋Ｆｅ２Ｏ３＋ＣｕＯ ０．１〜２５％、ＳｉＯ２ ２〜２０％、Ａｌ２Ｏ３ ０〜５％、ＳｉＯ２＋Ａｌ２Ｏ３ ３．５〜２５％、Ｃｓ２Ｏ ０〜５％の組成からなり、本質的にＰｂＯを含まないことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスの組成範囲を上記のように限定した理由を以下に述べる。
【０００９】
Ｂｉ２Ｏ３はガラスを低融点化する作用があり、その含有量は３０〜８０％、好ましくは４０〜７５％である。Ｂｉ２Ｏ３が３０％より少ないと軟化点が高くなって６００℃以下の低温度で封着することができなくなり、８０％より多いとガラス化が困難になるとともに、熱膨張係数が高くなりすぎてフェライトの接着に適さなくなる。
【００１０】
Ｂ２Ｏ３は適当量含有するとガラスを安定化させる成分であり、その含有量は３〜２５％、好ましくは５〜２０％である。Ｂ２Ｏ３が３％より少ないとガラス化しにくくなり、２５％より多いとガラスの耐水性・耐候性が低下し、好ましくない。
【００１１】
ＢａＯ、ＳｒＯはガラスの安定化に効果があり、これらを合量で０．１〜５％、好ましくは１〜５％含有する。これらの成分の合量がこの範囲外にあるとガラスが安定しにくい。またＢａＯの含有量は０〜５％、好ましくは０〜４．５％である。ＢａＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。ＳｒＯの含有量は０〜５％、好ましくは０〜４．５％である。ＳｒＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。
【００１２】
ＺｎＯ、ＣａＯ、Ｆｅ２Ｏ３及びＣｕＯは何れもガラスを安定化させるための成分であり、その含有量は合量で０．１〜２５％、好ましくは１〜２０％である。これらの成分の合量が０．１％より少ないとその効果がなく、２５％より多いと逆にガラスが不安定になる。ＺｎＯの含有量は０〜１６％、好ましくは５〜１５％である。ＺｎＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。ＣａＯの含有量は０〜１０％、好ましくは０〜８％である。ＣａＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。Ｆｅ２Ｏ３の含有量は０〜５％、好ましくは０〜４％である。Ｆｅ２Ｏ３が多過ぎると軟化点が高くなりすぎる。ＣｕＯの含有量は０〜１０％、好ましくは０〜６％である。ＣｕＯが多過ぎると軟化点が高くなりすぎる。
【００１３】
ＳｉＯ２及びＡｌ２Ｏ３はガラスをより安定化させる成分であり、これらを合量で３．５〜２５％、好ましくは４〜２０％含有する。これらの成分の合量がこの範囲外にあるとガラスが安定せず、ガラスの軟化点が高くなり過ぎたり、失透しやすくなったりする。またＳｉＯ２の含有量は２〜２０％、好ましくは４〜１６％である。ＳｉＯ２が多過ぎると軟化点が高くなりすぎて低温での使用が出来なくなり、少ないとガラスが失透しやすくなる。またＡｌ２Ｏ３の含有量は０〜５％である。Ａｌ２Ｏ３が多過ぎると軟化点が高くなりすぎる点で問題がある。
【００１４】
Ｃｓ２Ｏはガラスを低融点化させる成分であり、その含有量は０〜５％、好ましくは０〜３％である。Ｃｓ２Ｏが５％より多いとガラスの化学的耐久性が損なわれるので好ましくない。
【００１５】
【実施例】
以下、実施例に基づいて本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスを説明する。表１は本発明の実施例（試料Ｎｏ． １〜６）を示している。
【００１６】
【表１】
【００１７】
各試料は、質量百分率で表の組成となるように調合した原料バッチを白金ルツボに入れ、９００〜１２００℃で１時間溶融した後、所定の形状に成形して作製した。
【００１８】
得られた各試料について、ガラス転移点、熱膨張係数、軟化点及び失透性を評価した。
【００１９】
表から明らかなように、本発明の実施例である試料Ｎｏ． １〜６は、熱膨張係数が８０〜１０２×１０−７／℃の値を示し、磁気ヘッド用フェライトの固定に適している。軟化点は４８０〜５７０℃の値なので６００℃以下の使用が可能である。
【００２０】
なお、ガラス転移点と熱膨張係数は、各ガラスを５φ×２０ｍｍのロッド状に成形したものを試料とし、示差熱膨張測定器によって測定した。
【００２１】
軟化点は、各ガラスを粉砕して目開き１０５μｍの篩を通過した粉末状のものを試料とし、示差熱分析計を用いて測定した。
【００２２】
失透性については、各ガラスを５×５×５ｍｍの立方体状に成形したものを試料とし、軟化点より５０℃高い温度で３０分保持した後、表面に失透物が析出するかどうかにより判断した。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスは、ＰｂＯを含有しないために環境問題を引き起こすことがない。またガラスが安定しており、６００℃以下の低温で封着できるため、フェライト材料や特にＭＩＧタイプと呼ばれる磁気ヘッドの金属磁性膜の過熱による劣化を防ぐための低温での固定に好適である。
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気ヘッドの接着や固定に用いられる低融点ガラスに関し、より詳しくはフェライトコアタイプの磁気ヘッドの接着や固定に用いられる低融点ガラスに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から磁気ヘッドの封着ガラスとしてＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３系やＰｂＯ−Ｂ２Ｏ３−ＳｉＯ２系の低融点ガラスが広く使用されている。この理由はフェライト材料や特にＭＩＧタイプと呼ばれる磁気ヘッドの金属磁性膜の過熱による劣化を防ぐために低温での封着が要求されるからである。
【０００３】
しかしながらＰｂＯ含有ガラスに対して環境上の問題が指摘されており、ＰｂＯを含まない低融点ガラスが求められている。そこでＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラスが提案されている。（例えば特許文献１、２参照）
【０００４】
【特許文献１】
特開平９−２７８４８３号公報
【特許文献２】
特開２０００−１２８５７４号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが上記したような従来のＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラスは、ガラスが不安定で失透が起こりやすい。
【０００６】
本発明の目的は、ガラスの安定性が高く、しかも低温封着が可能なＰｂＯを含まない磁気ヘッド用低融点ガラスを提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスは、質量百分率でＢｉ２Ｏ３ ３０〜８０％、Ｂ２Ｏ３ ３〜２５％、ＢａＯ ０〜５％、ＳｒＯ ０〜５％、ＢａＯ＋ＳｒＯ０．１〜５％、ＺｎＯ ０〜１６％、ＣａＯ ０〜１０％、Ｆｅ２Ｏ３ ０〜５％、ＣｕＯ ０〜１０％、ＺｎＯ＋ＣａＯ＋Ｆｅ２Ｏ３＋ＣｕＯ ０．１〜２５％、ＳｉＯ２ ２〜２０％、Ａｌ２Ｏ３ ０〜５％、ＳｉＯ２＋Ａｌ２Ｏ３ ３．５〜２５％、Ｃｓ２Ｏ ０〜５％の組成からなり、本質的にＰｂＯを含まないことを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスの組成範囲を上記のように限定した理由を以下に述べる。
【０００９】
Ｂｉ２Ｏ３はガラスを低融点化する作用があり、その含有量は３０〜８０％、好ましくは４０〜７５％である。Ｂｉ２Ｏ３が３０％より少ないと軟化点が高くなって６００℃以下の低温度で封着することができなくなり、８０％より多いとガラス化が困難になるとともに、熱膨張係数が高くなりすぎてフェライトの接着に適さなくなる。
【００１０】
Ｂ２Ｏ３は適当量含有するとガラスを安定化させる成分であり、その含有量は３〜２５％、好ましくは５〜２０％である。Ｂ２Ｏ３が３％より少ないとガラス化しにくくなり、２５％より多いとガラスの耐水性・耐候性が低下し、好ましくない。
【００１１】
ＢａＯ、ＳｒＯはガラスの安定化に効果があり、これらを合量で０．１〜５％、好ましくは１〜５％含有する。これらの成分の合量がこの範囲外にあるとガラスが安定しにくい。またＢａＯの含有量は０〜５％、好ましくは０〜４．５％である。ＢａＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。ＳｒＯの含有量は０〜５％、好ましくは０〜４．５％である。ＳｒＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。
【００１２】
ＺｎＯ、ＣａＯ、Ｆｅ２Ｏ３及びＣｕＯは何れもガラスを安定化させるための成分であり、その含有量は合量で０．１〜２５％、好ましくは１〜２０％である。これらの成分の合量が０．１％より少ないとその効果がなく、２５％より多いと逆にガラスが不安定になる。ＺｎＯの含有量は０〜１６％、好ましくは５〜１５％である。ＺｎＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。ＣａＯの含有量は０〜１０％、好ましくは０〜８％である。ＣａＯが多過ぎるとガラスが失透しやすくなる。Ｆｅ２Ｏ３の含有量は０〜５％、好ましくは０〜４％である。Ｆｅ２Ｏ３が多過ぎると軟化点が高くなりすぎる。ＣｕＯの含有量は０〜１０％、好ましくは０〜６％である。ＣｕＯが多過ぎると軟化点が高くなりすぎる。
【００１３】
ＳｉＯ２及びＡｌ２Ｏ３はガラスをより安定化させる成分であり、これらを合量で３．５〜２５％、好ましくは４〜２０％含有する。これらの成分の合量がこの範囲外にあるとガラスが安定せず、ガラスの軟化点が高くなり過ぎたり、失透しやすくなったりする。またＳｉＯ２の含有量は２〜２０％、好ましくは４〜１６％である。ＳｉＯ２が多過ぎると軟化点が高くなりすぎて低温での使用が出来なくなり、少ないとガラスが失透しやすくなる。またＡｌ２Ｏ３の含有量は０〜５％である。Ａｌ２Ｏ３が多過ぎると軟化点が高くなりすぎる点で問題がある。
【００１４】
Ｃｓ２Ｏはガラスを低融点化させる成分であり、その含有量は０〜５％、好ましくは０〜３％である。Ｃｓ２Ｏが５％より多いとガラスの化学的耐久性が損なわれるので好ましくない。
【００１５】
【実施例】
以下、実施例に基づいて本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスを説明する。表１は本発明の実施例（試料Ｎｏ． １〜６）を示している。
【００１６】
【表１】
各試料は、質量百分率で表の組成となるように調合した原料バッチを白金ルツボに入れ、９００〜１２００℃で１時間溶融した後、所定の形状に成形して作製した。
【００１８】
得られた各試料について、ガラス転移点、熱膨張係数、軟化点及び失透性を評価した。
【００１９】
表から明らかなように、本発明の実施例である試料Ｎｏ． １〜６は、熱膨張係数が８０〜１０２×１０−７／℃の値を示し、磁気ヘッド用フェライトの固定に適している。軟化点は４８０〜５７０℃の値なので６００℃以下の使用が可能である。
【００２０】
なお、ガラス転移点と熱膨張係数は、各ガラスを５φ×２０ｍｍのロッド状に成形したものを試料とし、示差熱膨張測定器によって測定した。
【００２１】
軟化点は、各ガラスを粉砕して目開き１０５μｍの篩を通過した粉末状のものを試料とし、示差熱分析計を用いて測定した。
【００２２】
失透性については、各ガラスを５×５×５ｍｍの立方体状に成形したものを試料とし、軟化点より５０℃高い温度で３０分保持した後、表面に失透物が析出するかどうかにより判断した。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の磁気ヘッド用低融点ガラスは、ＰｂＯを含有しないために環境問題を引き起こすことがない。またガラスが安定しており、６００℃以下の低温で封着できるため、フェライト材料や特にＭＩＧタイプと呼ばれる磁気ヘッドの金属磁性膜の過熱による劣化を防ぐための低温での固定に好適である。
Claims (1)
- 質量百分率でＢｉ２Ｏ３ ３０〜８０％、Ｂ２Ｏ３ ３〜２５％、ＢａＯ ０〜５％、ＳｒＯ ０〜５％、ＢａＯ＋ＳｒＯ ０．１〜５％、ＺｎＯ ０〜１６％、ＣａＯ ０〜１０％、Ｆｅ２Ｏ３ ０〜５％、ＣｕＯ ０〜１０％、ＺｎＯ＋ＣａＯ＋Ｆｅ２Ｏ３＋ＣｕＯ ０．１〜２５％、ＳｉＯ２ ２〜２０％、Ａｌ２Ｏ３ ０〜５％、ＳｉＯ２＋Ａｌ２Ｏ３ ３．５〜２５％、Ｃｓ２Ｏ ０〜５％の組成からなり、本質的にＰｂＯを含まないことを特徴とする磁気ヘッド用低融点ガラス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002320033A JP2004155597A (ja) | 2002-11-01 | 2002-11-01 | 磁気ヘッド用低融点ガラス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002320033A JP2004155597A (ja) | 2002-11-01 | 2002-11-01 | 磁気ヘッド用低融点ガラス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004155597A true JP2004155597A (ja) | 2004-06-03 |
Family
ID=32801078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002320033A Pending JP2004155597A (ja) | 2002-11-01 | 2002-11-01 | 磁気ヘッド用低融点ガラス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2004155597A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005247602A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガラス組成物及び磁気ヘッド |
| JP2006282501A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-10-19 | Nippon Electric Glass Co Ltd | Ｂｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラス組成物およびＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系封着材料 |
| JP2007210880A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-08-23 | Nippon Electric Glass Co Ltd | ビスマス系ガラス組成物およびビスマス系封着材料 |
| JP2007246355A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | ステンレス製真空二重容器の封着用無鉛ガラス組成物 |
| JP2011079718A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Nippon Electric Glass Co Ltd | ビスマス系非鉛ガラス及び複合材料 |
-
2002
- 2002-11-01 JP JP2002320033A patent/JP2004155597A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005247602A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ガラス組成物及び磁気ヘッド |
| JP4537092B2 (ja) * | 2004-03-01 | 2010-09-01 | パナソニック株式会社 | ガラス組成物及び磁気ヘッド |
| JP2006282501A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-10-19 | Nippon Electric Glass Co Ltd | Ｂｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系ガラス組成物およびＢｉ２Ｏ３−Ｂ２Ｏ３系封着材料 |
| JP2007210880A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-08-23 | Nippon Electric Glass Co Ltd | ビスマス系ガラス組成物およびビスマス系封着材料 |
| JP2007246355A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | ステンレス製真空二重容器の封着用無鉛ガラス組成物 |
| JP2011079718A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Nippon Electric Glass Co Ltd | ビスマス系非鉛ガラス及び複合材料 |
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