JP2004118649A - メニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明はメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型試験プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】全体の動作を制御するＣＰＵ１０と、該ＣＰＵ１０と接続される主記憶装置１１と、前記ＣＰＵ１０と接続され、メニュー画面を表示するディスプレイ１２と、メニューファイル２１、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記各テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツール２５を含む記憶装置２０と、を含んで構成される。
【選択図】　　　図９

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関する。
【０００２】
近年、半導体技術の進歩に伴い、ＩＣやＬＳＩ等もその構成が複雑なものとなってきている。このため、この種のＩＣやＬＳＩを試験する試験装置も複雑高度なものとなっている。従って、試験装置を操作するオペレータも試験装置に習熟した専門のオペレータが必要となってきている。しかしながら、初心者でも装置を容易に操作することができるようになることが好ましい。
【０００３】
【従来の技術】
従来のこの種の装置としては、ベクトルデータ及び画像データに操作及び編集を行なう図形処理システムにおいて、カード型データ処理機能を備え、各データをカード型データとして管理し、図形処理を効率化し、生産性の向上を図るようにした図形処理システムが存在する（特許文献１参照）。
【０００４】
また、計算機システムのアドレス空間に存在する各種メモリ装置のメモリ素子の、例えば属性（ＲＡＭ，ＲＯＭ，メモリカード等）、機能種別番号、アドレス空間の先頭アドレス、容量、高集積回路の種別（ダイナミック，スタティック，電気的書き換え可能メモリ等）、高集積回路の構成（バンク構成）、チェック機構（ＥＣＣ，パリティ等）等、該メモリ素子の特徴と、該メモリ素子をテストする複数個のテストモジュールとの対応を指示するメモリ管理テーブルを計算機システム対応に設けておき、該計算機システムの機種情報を入力して、該当の計算機システムの上記メモリ管理テーブルを検索し、実行すべきテストモジュールを抽出し、指示された回路のメモリテストを行なうようにした装置が存在する（特許文献２参照）。
【０００５】
この種のシステムでは、専門の技術者が、マニュアルで試験プログラムの開発を行なっていた。
【０００６】
【特許文献１】
特開平５−１６５９３３号公報
【特許文献２】
特開平６−４４１３号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
前述した従来の技術では、以下のような問題点があった。
▲１▼メモリテストパターンプログラム開発には専門知識が必要であるため、開発技術者育成には最低２年から３年を要すること。メモリＩＣをテストするためには、テストパターンを作成する必要があるが、従来アセンブラ等で作成しており、作成手続が非常に複雑であるということから、熟練した技術者が必要となる。
▲２▼半導体の品種（ＤＤＲ、ＳＤＲＡＭ等）毎にテストパターンプログラムの作成方法が全く異なること。
▲３▼プログラム用言語が複雑であり、かつデバッグが難しいこと。
▲４▼開発工数がかかること。例えば、通常の１テストパターンプログラム当たり平均３週間ぐらいかかる。
【０００８】
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
（１）図１は本発明の原理を示すフローチャートである。
【００１０】
本発明は、ＩＣパターンをテストするための基本的なテストパターンプログラムが備わっているプログラムツールにおいて、予め決まっていないデータ部分をディスプレイにメニュー画面として表示し（ステップ１）、表示された内容に従って、当該データ部分を入力又は選択し（ステップ２）、入力された内容に従って、ＩＣパターンのテストパターンプログラムを生成する（ステップ３）ことを特徴とする。
【００１１】
このように構成すれば、メニュー表示された内容に従って、データ部分を入力又は選択するだけでテストパターンプログラムを作成することができ、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
（２）請求項２記載の発明は、前記テストパターンプログラムは、エムスキャン（Ｍｓｃａｎ）法、マーチ（Ｍａｒｃｈ）法、マセスト（Ｍａｓｅｓｔ）法の何れか一つであることを特徴とする。
【００１２】
これによれば、エムスキャン法、マーチ法、マセスト法の何れかを用いてテストパターンプログラムを作成することができる。
（３）請求項３記載の発明は、全体の動作を制御するＣＰＵと、該ＣＰＵと接続される主記憶装置と、前記ＣＰＵと接続され、メニュー画面を表示するディスプレイと、前記ＣＰＵと接続され、各種のコマンド、記号、数値を入力する操作部と、メニューファイル、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツールを含む記憶装置と、を含んで構成されることを特徴とする。
【００１３】
このように構成すれば、メニュー表示された内容に従って、データ部分を入力又は選択するだけでテストパターンプログラムを作成することができ、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。
【００１５】
本発明は、ＩＣパターンをテストするための基本的なテストパターンプログラムが備わっていることが前提となる。基本的なテストパターンプログラムとしては、前述したエムスキャン法、マーチ法、マセスト法等がある。エムスキャン法は、全てのメモリセルに対してオール“０”を書き込んだ後、“０”データを読み出すようにした方法である。図２はマセスト法の説明図である。例えば、図に示すように４×４のメモリセルを用いる。そして、（ａ）に示すようにカラム０にオール“０”を、カラム１にオール“１”を、カラム２にオール“０”を、カラム３にオール“１”を書き込む。つまり交互に“０”と“１”を書き込む。
【００１６】
メモリセルへの書き込みが終了したら、セルのリード動作に移る。セルのリード動作は（ｂ）に示すようなものとなる。先ず（０，０）のセルから“０”をリードし、次に（３，３）のセルから“１”をリードする。次に、（１，０）のセルから“０”をリードし、次に（２，３）のセルから“１”をリードする。このような操作を繰り返す。つまり、４隅の両端からお互いに近づく方へセルを移動しながらリード動作を行なうものである。
【００１７】
次に、マーチ法について詳しく説明する。図３はメモリセルと番地との対応を示す図である。（ａ）において、ａ〜ｄはメモリセルである。このセルを番地で表わすために、ｘ（ロー）、ｙ（カラム）方向の座標を考える。各セルの座標は（ｂ）に示すように表される。即ち、セルａのｘ軸方向の値は０、ｙ方向の値は０である。同様にして、セルｂのｘ軸方向の値は１、ｙ方向の値は０である。このようにして、セルａ〜セルｄまでの値を座標で表わすと（ｂ）に示すようなものとなる。なお、図３では、簡単のためにセルが２×２の４個の場合を説明したが、実際のセルの数は膨大なものとなる。
【００１８】
図４は第１事象の動作説明図である。２×２のメモリセルに対して、（０，０）の番地のセルから（１，１）までの番地のセルまで全て“０”データをライト（Ｗｒｉｔｅ）する。図５は第２事象の動作説明図である。この場合には、（０，０）のセルから（１，１）のセルまで、“０”をリード（Ｒｅａｄ）して“１”をライトする動作を繰り返す。例えば、（０，０）のセルに対して、先ず“０”をリードし、次に“１”をライトする。第１の事象で、各メモリセルのデータは全て“０”になっているので、第２事象における最初の動作はこの“０”のリードである。このような“０”のリードと、“１”のライト動作を（１，１）のセルまで繰り返す。
【００１９】
図６は第３事象の動作説明図である。この事象では、動作は（１，１）のセルから逆方向に（０，０）のセルまでに対して動作を行なう。先ず、（１，１）のセルに対して、データ“１”をリードする。第２の事象で各セルの値は全て“１”になっているので、データ“１”をリードすることになる。“１”を読み出したら、同じ座標のセルに対して、“０”をライトする。次に、（０，１）のセルに対して、データ“１”をリードし、次に同じ座標のセルに対して“０”をライトする。この動作を（０，０）まで繰り返す。
【００２０】
図７は第４事象の説明図である。事象３で各セルの中身は“０”になっている。そこで、（０，０）から（１，１）までの全てのセルに対してリード動作を行なう。以上、説明した第１事象〜第４事象までの試験を行なう方法をマーチ法という。
【００２１】
図８は本発明の一実施の形態例を示すフローチャートである。このフローチャートでは、メニューで示されたガイドに沿って、品種の設定がなされる（ステップ１）。例えば、ディスプレイには、品種が表示されるか、又は品種の入力を促す表示がなされる。ここでの品種は、例えばＤＤＲ−ＳＲＡＭ、ＤＤＲ−ＳＤＲＡＭ、汎用ＳＲＡＭ、汎用ＳＤＲＡＭ等のメモリの品種が入力される。品種を入力しなければならないのは、品種に応じてテストパターンが異なるからである。
【００２２】
例えば、ＩＣがＳＤＲＡＭの場合には、テストシーケンスは（ＡＣＴＩＶＥ，ＷＲＩＴＥ，ＰＲＥ）となるが、ＳＲＡＭの場合にはシーケンスは（ＷＲＩＴＥ）のみでよい。オペレータは、ディスプレイに表示されている品種の選択や、品種の入力画面が表示されていた時には品種名を操作部より入力する。入力された内容は、装置内部に記憶される。
【００２３】
次に、メモリの容量が設定される（ステップ２）。メモリの容量としては、例えば６４Ｍビット、１２８Ｍビット、２５６Ｍビット等が用いられる。ビット構成を示すコマンドとしては、ＴＰＨが用いられる。例えば、１２８Ｍビットの場合には、ＴＰＨ＝１２８Ｍと表わす。設定されたメモリ容量は装置内部に記憶される。
【００２４】
次に、バンク構成が設定される（ステップ３）。バンクとはメモリのブロックのことである。バンク構成を入力するのは、メモリがいくつのバンクから構成されているかを知る必要があるからである。バンク構成としては、例えば４バンク、２バンク、バンク無し等が考えられる。
【００２５】
次に、ビット構成が設定される（ステップ４）。ビット構成としては、４ビット、８ビット、１６ビット、３２ビット等が考えられる。ビット構成は、メモリＩＣの試験に必須の事項である。
【００２６】
次に、アドレスデータの設定がなされる（ステップ５）。アドレスデータの設定には、マーチ、エムスキャン、マセスト等を呼び出すためのコマンドが入力される。この工程により、メモリ素子のテストに使用するテストパターンプログラムが決まることになる。
【００２７】
次に、データ動作の設定がなされる（ステップ６）。データ動作とは、例えばローバー（ＲＯＷ　ＢＡＲ）、カラムバー（ＣＯＬＵＭＮ　ＢＡＲ）、ＣＨＥＣＫＥＲ等のセルに書き込むデータの形を示す。このようにして、被試験デバイスであるメモリＩＣの座標が決められることになる。このようにして、テストパターンプログラムに必要な各種のデータが入力されたら、これらデータと前記テストパターンプログラム（エムスキャン，マーチ，マセスト）の一つとを結合して、テストパターンプログラムを生成する（ステップ７）。
【００２８】
このように、本発明によれば、メニュー表示された内容に従って、データ部分を入力又は選択するだけでテストパターンプログラムを作成することができ、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
【００２９】
また、本発明では、基本テストパターンプログラムとして、マーチ法、エムスキャン法、マセスト法の何れかを用いることができる。これにより、エムスキャン法、マーチ法、マセスト法の何れかを用いてテストパターンプログラムを作成することができる。
【００３０】
次に、本発明を実施するためのシステム構成について説明する。図９は本発明のシステム構成例を示すブロック図である。図において、１０は全体の制御動作を行なうＣＰＵ、１１は該ＣＰＵ１０と接続された主記憶装置、１２はＣＰＵ１０と接続され、シーケンス状態等を表示するディスプレイ、１３は各種の動作コマンドや記号、数値を入力する操作部である。主記憶装置１１としては、例えばＲＡＭ等が用いられ、ディスプレイ１２としては例えばＣＲＴ又は液晶表示器等が用いられる。操作部１３としては、例えばキーボードやマウス等が用いられる。
【００３１】
２０はＣＰＵ１０と接続される記憶装置である。該記憶装置２０としては、例えば大容量のハードディスク装置等が用いられる。該記憶装置２０において、２１はメニュー動作を実行するためのメニューファイル、２２はテストパターンプログラムとしてのエムスキャンプログラム、２３はテストパターンプログラムとしてのマーチプログラム、２４はテストパターンプログラムとしてのマセストプログラムである。２５は、メニューファイル２１の動作により選択された各種のデータと、エムスキャンプログラム、マーチプログラム、マセストプログラムの一つとを結合してテストパターンプログラムを生成する結合ツールである。
【００３２】
このように構成された装置において、操作部１３から一連の動作を行なうための各種のコマンドが入力され、ＣＰＵ１０はこのコマンドを解釈してテストパターンプログラムの生成を行なう。テストパターンプログラムの生成が開始されると、ＣＰＵ１０はメニューファイル２１を読み出して、ディスプレイ１２に各種のデータの入力画面を表示させる。この状態で、オペレータは前述したような各種のデータ（品種、容量、バンク構成、ビット構成、アドレスデータ、データ動作）を入力又は選択する。
【００３３】
各種のデータの入力又は選択が終了したら、ＣＰＵ１０は、結合ツール２５を起動する。この結果、結合ツール２５は、入力又は選択された各種のデータと、エムスキャンプログラム２２、マーチプログラム２３、マセストプログラム２４の何れか一つを結合して一つのテストパターンプログラムを生成する。ここで、エムスキャンプログラム２２、マーチプログラム２３、マセストプログラム２４の何れを選択するかは、例えば予め操作部１３から入力しておく。予め、操作部１３から入力されたテストパターンプログラムの型に応じて、ＣＰＵ１０は各種データとしてどのようなデータを入力又は選択するかを決定し、ディスプレイ１２上にメニュー画面として表示するものである。
【００３４】
この実施の形態例によれば、メニュー画面上でオペレータは必要なデータを入力又は選択していくだけでテストパターンプログラムを生成することができる。即ち、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
【００３５】
上述のテストパターンプログラムでは、エムスキャン、マーチ、マセスト法の何れかを用いた場合を例にとったが、本発明はこれに限るものではない。その他の種類のテストプログラムを使用しても全く同様に本発明を適用することができる。
【００３６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、以下の効果が得られる。
（１）請求項１記載の発明によれば、メニュー表示された内容に従って、データ部分を入力又は選択するだけでテストパターンプログラムを作成することができ、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
（２）請求項２記載の発明によれば、エムスキャン法、マーチ法、マセスト法の何れかを用いてテストパターンプログラムを作成することができる。
（３）請求項３記載の発明によれば、メニュー表示された内容に従って、データ部分を入力又は選択するだけでテストパターンプログラムを作成することができ、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる。
【００３７】
このように、本発明によれば、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型試験プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理を示すフローチャートである。
【図２】マセスト法の説明図である。
【図３】メモリセルと番地との対応を示す図である。
【図４】第１事象の動作説明図である。
【図５】第２事象の動作説明図である。
【図６】第３事象の説明図である。
【図７】第４事象の説明図である。
【図８】本発明の一実施の形態例を示すフローチャートである。
【図９】本発明のシステム構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０　ＣＰＵ
１１　主記憶装置
１２　ディスプレイ
１３　操作部
２０　記憶装置
２１　メニューファイル
２２　エムスキャンプログラム
２３　マーチプログラム
２４　マセストプログラム
２５　結合ツール

Claims (3)

1. ＩＣパターンをテストするための基本的なテストパターンプログラムが備わっているプログラムツールにおいて、
   予め決まっていないデータ部分をディスプレイにメニュー画面として表示し（ステップ１）、
   表示された入力内容に従って、当該データ部分を入力又は選択し（ステップ２）、
   入力された内容に従って、ＩＣパターンのテストパターンプログラムを生成する（ステップ３）
   ことを特徴とするメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法。
2. 前記テストパターンプログラムは、エムスキャン法、マーチ法、マセスト法の何れか一つであることを特徴とする請求項１記載のメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法。
3. 全体の動作を制御するＣＰＵと、
   該ＣＰＵと接続される主記憶装置と、
   前記ＣＰＵと接続され、メニュー画面を表示するディスプレイと、
   前記ＣＰＵと接続され、各種のコマンド、記号、数値を入力する操作部と、
   メニューファイル、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツールを含む記憶装置と、
   を含んで構成されるメニュー選択型試験プログラムツールの生成装置。

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