JP2004108434A - ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置 - Google Patents

ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004108434A
JP2004108434A JP2002269780A JP2002269780A JP2004108434A JP 2004108434 A JP2004108434 A JP 2004108434A JP 2002269780 A JP2002269780 A JP 2002269780A JP 2002269780 A JP2002269780 A JP 2002269780A JP 2004108434 A JP2004108434 A JP 2004108434A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shock absorber
cover
shock
vacuum environment
movable member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002269780A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Yoda
依田 安史
Hiroaki Narushima
鳴嶋 弘明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2002269780A priority Critical patent/JP2004108434A/ja
Priority to US10/661,311 priority patent/US20040075201A1/en
Publication of JP2004108434A publication Critical patent/JP2004108434A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16FSPRINGS; SHOCK-ABSORBERS; MEANS FOR DAMPING VIBRATION
    • F16F15/00Suppression of vibrations in systems; Means or arrangements for avoiding or reducing out-of-balance forces, e.g. due to motion
    • F16F15/02Suppression of vibrations of non-rotating, e.g. reciprocating systems; Suppression of vibrations of rotating systems by use of members not moving with the rotating systems
    • F16F15/022Suppression of vibrations of non-rotating, e.g. reciprocating systems; Suppression of vibrations of rotating systems by use of members not moving with the rotating systems using dampers and springs in combination
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16FSPRINGS; SHOCK-ABSORBERS; MEANS FOR DAMPING VIBRATION
    • F16F9/00Springs, vibration-dampers, shock-absorbers, or similarly-constructed movement-dampers using a fluid or the equivalent as damping medium
    • F16F9/32Details
    • F16F9/38Covers for protection or appearance
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • G03F7/70725Stages control
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70841Constructional issues related to vacuum environment, e.g. load-lock chamber
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70983Optical system protection, e.g. pellicles or removable covers for protection of mask

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Aviation & Aerospace Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Fluid-Damping Devices (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】真空環境下で使用した場合に万一損傷したとしても、その真空環境を悪化させることのないショックアブソーバユニット等を提供する。
【解決手段】電子線露光装置100のチャンバー壁面には、ショックアブソーバユニット10が設けられている。このショックアブソーバユニット10は、蛇腹カバー27や基部ディスク23等(外装容器)の内部にショックアブソーバ11が収装されたものである。ショックアブソーバ11は、外装容器で覆われることで、真空環境から隔離されている。そのため、ショックアブソーバ11が万一損傷したとしても、真空環境に悪影響が及ばない。
【選択図】   図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、真空環境内で移動可能な可動部材(ステージ等)の衝撃吸収に使用するショックアブソーバ、及び、そのようなショックアブソーバを備える露光装置に関する。特には、真空環境下での使用時に万一損傷した場合にも、その真空環境を悪化させることのないショックアブソーバユニット等に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、露光装置のステージ装置には、ショックアブソーバが設置されている。ショックアブソーバは、ステージ装置の可動子(テーブル等)が暴走した場合に、その可動子を制動する。この種のショックアブソーバとしては、オイルの充填されたシリンダを備えるもの(オイルダンパ式)が一般的である。このシリンダは、進退可能なピストンロッドを有しており、ピストンには緩衝用オリフィス(油絞り流路)が設けられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、線幅0.1μm以下の微細パターン対応の次世代半導体露光装置の開発が進められている。そして、次世代半導体露光装置の中には、軟X線露光装置や電子線露光装置等のように、真空環境下での露光が前提となるものがある。このような露光装置においては、パターン原版(レチクルやマスク)及び感応基板(ウェハ)は真空引き可能なチャンバー内に配置され、これらを載置するステージ装置も真空環境下で駆動できるものが用いられる。このように真空チャンバー内に設置されるステージ装置において、前述したオイルダンパ式のショックアブソーバを装備した場合、もしショックアブソーバが損傷してオイルが噴出・蒸発すると、真空チャンバー内の真空環境を壊滅的に悪化させるおそれがある。
【0004】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであって、真空環境下での使用時に万一損傷した場合にも、その真空環境を悪化させることのないショックアブソーバを提供することを目的とする。
また、そのようなショックアブソーバを有する露光装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
前記の課題を解決するため、本発明のショックアブソーバユニットは、真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバユニットであって、 前記可動部材を制動するショックアブソーバと、 該ショックアブソーバを前記環境から隔離する手段と、を具備することを特徴とする。
このショックアブソーバユニットのショックアブソーバは、真空環境から隔離されているので、仮に損傷して内部のオイル等が噴出したとしても、真空環境の汚染や劣化(真空度の低下等)を引き起こすことがない。
【0006】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記隔離手段が、ベローズ等の直線運動可能な伸縮部又はスライド部を有するカバーを備えるものとすることができる。
このショックアブソーバユニットのカバーは、可動部材の制動時に、ショックアブソーバのピストン等(制動部材)の伸縮(移動)に応じて変形する。そのため、ショックアブソーバの制動機能を害することなく、ショックアブソーバの隔離を実現できる。
【0007】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記カバー内が前記真空環境外の大気に通じているものとすることができる。
この場合、ショックアブソーバの作動に伴いカバーの内容積が小さくなったときには、カバー内の気体は大気中に放出される。そのため、カバーの内圧が急激に上昇することがない。
【0008】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記カバー内が前記真空環境に近い減圧雰囲気となっているものとすることができる。
この場合、カバーが縮んでも内圧が著しく高くなることはない。そのため、ショックアブソーバの作動不良が起こる可能性を低減できる。
【0009】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記カバーの伸びあるいは膨張を防止するカバー伸び防止手段が設けられているものとすることができる。カバーの内圧と真空環境との差圧によって、カバーには伸びる方向の力あるいは膨らむ方向の力が働くが、このような力によるカバーの伸びあるいは膨張を防止することができる。そのため、正常に稼動している可動部材にカバーが当接するようなトラブルを回避できる。
【0010】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記ショックアブソーバの先端側に配置された、衝撃吸収作動時に前記可動部材に当接する当接部と、 前記ショックアブソーバの基端側を固定する固定部と、を有し、 前記カバーが、前記当接部と固定部との間を掛け渡すように設けられており、 前記カバー伸び防止手段として、前記当接部と前記固定部とが所定間隔以上離れないようこれら両者間を繋ぐ繋ぎ部材を有することができる。
この場合、当接部と固定部間が繋ぎ部材で繋がれて所定間隔以上離れないので、当接部が異常に前進して可動部材にぶつかるような現象を回避できる。
【0011】
本発明のショックアブソーバユニットにおいては、前記ショックアブソーバが、蒸気圧の低いオイルを用いる油圧式ショックアブソーバであることが好ましい。
この場合、ショックアブソーバが万一破損して内部のオイルが漏れた際にも、そのオイルが蒸発して真空環境を汚染したり、真空度を劣化したりする被害を少なくすることができる。
【0012】
本発明の第1のショックアブソーバは、真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバであって、 移動してきた前記可動部材に当接して移動する当接部と、 ガスが充填される充填部と、を備え、 前記当接部の移動に伴って前記充填部のガスの充填容積が増減することを特徴とする。
このショックアブソーバは、万一破損したとしてもガスが抜けるだけである。そのため、深刻な真空環境の汚染を引き起こすことがない。
【0013】
本発明の第2のショックアブソーバは、真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバであって、 移動してきた前記可動部材に当接して移動する当接部と、 該当接部の移動に抵抗を与える弾性部材及び/又はコイルバネと、を備えることを特徴とする。
このショックアブソーバは、万一破損したとしても液体や気体が漏れることはないので、真空環境を汚染するようなことが起こらない。
このショックアブソーバの弾性部材としては、フッ素樹脂、ポリイミド、あるいは、ポリエーテル・エーテル・ケトン等のエラストマー(elastomer)を用いることができる。
【0014】
本発明の第1の露光装置は、真空チャンバー内で稼動する感応基板ステージ及び/又はパターン原版ステージを有する露光装置であって、 前記ステージの暴走時に該ステージを制動する、前記請求項1〜10いずれか1項記載のショックアブソーバユニット又はショックアブソーバを備えることを特徴とする。
この露光装置は、原版ステージや感応基板ステージが暴走したとしても、ショックアブソーバでその衝撃を吸収することができる。さらに、仮にショックアブソーバが損傷したとしても、真空環境の汚染や真空度劣化を引き起こすことがない。
【0015】
本発明の第2の露光装置は、真空チャンバー内で稼動する感応基板ステージ及び/又はパターン原版ステージを有する露光装置であって、 前記真空チャンバー外にショックアブソーバを設置し、該ショックアブソーバで前記ステージの暴走時の制動を行うことを特徴とする。
この露光装置は、原版ステージや感応基板ステージが暴走したとしても、ショックアブソーバによりその衝撃をチャンバー外で受けることができる。そのため、露光装置のチャンバーが変形する等の可能性を低減できる。
【0016】
また、本発明のショックアブソーバユニットは、真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバユニットであって、 前記可動部材を制動する、蒸気圧の低いオイルを用いる油圧式ショックアブソーバを具備することを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係るショックアブソーバユニットを搭載する電子線露光装置全体の概略構成を模式的に示す正面断面図である。
図2は、同ショックアブソーバユニットのより詳細な構成を示す縦断面図である。
図3は、同ショックアブソーバユニットの作動状態を示す縦断面図である。
【0018】
まず、図1を参照しつつ露光装置の全体構成を説明する。
図1において、電子線露光装置100は、上部に光学鏡筒(真空チャンバー)101を備えている。光学鏡筒101には、真空ポンプ102が接続されている。真空ポンプ102は、光学鏡筒101内を真空排気している。
【0019】
光学鏡筒101の上部には、電子銃103が配置されている。電子銃103は、下方に向けて電子線を放射する。電子銃103の下方には、コンデンサレンズ104aや電子線偏向器104b等を含む照明光学系104やマスク(パターン原版)Mが配置されている。
【0020】
電子銃103から放射された電子線は、コンデンサレンズ104aによって収束されるとともに、偏向器104bにより図の右方向に順次走査(スキャン)される。これにより、照明光学系104の視野内にあるマスクMの各小領域(サブフィールド)の照明が行われる。なお、図では一段のコンデンサレンズ104aのみが示されているが、実際の照明光学系には、数段のレンズやビーム成形開口等が設けられている。
【0021】
マスクMは、マスクステージ111の上部に設けられたチャック110に静電吸着等により固定されている。マスクステージ111は、定盤116に載置されている。このマスクステージ111には、図の左方に示す駆動装置112が接続されている。駆動装置112は、ドライバ114を介して制御装置115に接続されている。
【0022】
定盤116の下方には、ウェハチャンバー(真空チャンバー)121が設けられている。ウェハチャンバー121の側方(図の右側)には、真空ポンプ122が接続されている。真空ポンプ122は、ウェハチャンバー121内を真空排気している。ウェハチャンバー121内には、コンデンサレンズ(投影レンズ)124aや偏向器124b等を含む投影光学系124、ウェハWが配置されている。
【0023】
マスクMを通過した電子線は、コンデンサレンズ124aにより収束される。コンデンサレンズ124aを通過した電子線は、偏向器124bにより偏向されて、ウェハ(感応基板)W上の所定の位置にマスクMの像を結像する。なお、図ではコンデンサレンズ124aが一段示されているのみであるが、実際には、投影光学系中には数段のレンズや収差補正用のレンズやコイルが設けられている。
【0024】
ウェハWは、ウェハステージ131の上部に設けられたチャック130に静電吸着等により固定されている。ウェハステージ131は、定盤136上に載置されている。ウェハステージ131には、図の左方に示す駆動装置132が接続されている。駆動装置132は、ドライバ134を介して制御装置115に接続されている。
【0025】
この露光装置100において、マスクステージ(可動部材)111側方と、ウェハステージ(可動部材)131側方には、ショックアブソーバユニット10がそれぞれ取り付けられている。このショックアブソーバユニット10は、何らかの誤動作により暴走したステージ111、131を制動して衝撃を吸収する。
【0026】
以下、図2及び図3を参照しつつショックアブソーバユニット10について詳細に説明する。なお、図2及び図3における左側を先端側といい、右側を後端側という。
この実施の形態におけるショックアブソーバユニット10は、一般的なショックアブソーバ11が蛇腹カバー(伸縮部、スライド部)27や基部ディスク(固定部)23の中に納められたものである。
【0027】
ショックアブソーバ11は、内部にオイルの充填されたシリンダ13を備えている。シリンダ13の後端寄り外面には、鍔状に張り出したフランジ部14が形成されている。このシリンダ13は、図中左右方向に進退可能なピストンロッド12を有している。シリンダ13内において、ピストンロッド12は、緩衝用のオリフィスを有するピストン(図示されず)に連結されている。ピストンロッド12は、後述する蛇腹カバー27の先端部(当接部)22を介して、暴走したステージ111、131(図1参照)を制動する。
【0028】
図3に示すように、このショックアブソーバ11は、暴走したステージが当接部22に当たってピストンロッド12の先端が押されると、シリンダ13内でピストンが図中右方向に移動しようとするが、シリンダ13内部のオリフィスでオイルに流動抵抗が与えられ、ピストンロッド12の急激なスライドが制動される。
【0029】
ショックアブソーバ11のピストンロッド12に加えられる負荷が除かれると、内蔵バネの付勢力によりピストンロッド12が進出して図2に示す状態に復元する。なお、ショックアブソーバ11のシリンダ13内に充填されるオイルとしては、ショックアブソーバ11が万一破損した場合を考慮して、蒸気圧の低い真空用オイルを用いるのが好ましい。
【0030】
ショックアブソーバユニット10の外側は、ショックアブソーバ11の先端部(左端)を覆う蛇腹カバー27と、ショックアブソーバ11の後端側を覆う基部ディスク23等(隔離手段)に覆われている。ショックアブソーバ11を覆うこれらのカバー27等を外装容器ともいう。ショックアブソーバ11は、これらの蛇腹カバー27等により、光学鏡筒101やウェハチャンバー121内部の真空環境から隔離されている。
【0031】
基部ディスク23は、挿通穴23aを有している。この挿通穴23a内には、ショックアブソーバ11のシリンダ13が挿通されている。ショックアブソーバ11のシリンダ13の後端側外周にはフランジ部14が形成されており、このフランジ部14を基部ディスク23後端面に密着させた状態で、シリンダ13がねじ止め固定されている。
【0032】
基部ディスク23後端面には、ボトムカバー24がねじ止めされている。基部ディスク23とボトムカバー24との間には、Oリング25が挟まれている。ショックアブソーバ11のシリンダ13後端側は、ボトムカバー24で覆われて外部と遮断されている。ボトムカバー24内(シリンダ13後端側周囲の空間)は、Oリング25で気密性が確保されている。
【0033】
蛇腹カバー27の先端側には、円盤部26が取り付けられている。この円盤部26は、ピストンロッド12の先端に対面するように配置されている。この円盤部26の前面(先端側の面)には、緩衝材料(例えばテフロン(登録商標)等)からなる当接部22が形成されている。この当接部22は、暴走したステージが当たったときに、ステージが衝撃で損傷するのを防ぐ。
【0034】
蛇腹カバー27は、基部ディスク23前面側の挿通穴23aの外周部と、円盤部26後端側の外周部との間において、内部が気密になるように取り付けられている。この蛇腹カバー27は、ショックアブソーバ11のピストンロッド12とともに伸縮する。図3に示すように、蛇腹カバー27は、暴走したステージが当接部22に当接したとき、ショックアブソーバ11のピストンロッド12が退くのと同時に縮む。
【0035】
さらに、蛇腹カバー27の外側において、基部ディスク23と円盤部26との間には、一対のワイヤ(カバー伸び防止手段)29が張られている。各ワイヤ29の端部は、基部ディスク23及び円盤部26のそれぞれの外周面にピン28で止められている。これらワイヤ29は、ショックアブソーバ11のピストンロッド12が無負荷状態で伸張しているとき(図2の状態)に、ピストンロッド12先端に円盤部26が接触する状態となる程度に張られている。これらワイヤ29は、光学鏡筒101やウェハチャンバー121の内部を真空引きした際に、真空圧と蛇腹カバー27内圧との差圧で蛇腹カバー27が伸び、円盤部26及び当接部22が突出するのを防止する。
【0036】
このように、本実施の形態においては、ショックアブソーバ11が蛇腹カバー27等の外装容器内部に納められていることで、ショックアブソーバ11を光学鏡筒101やウェハチャンバー121内部の真空環境から隔離することができる。そのため、仮にショックアブソーバ11が破損したとしても、真空環境内にオイルが噴出・蒸発することがない。したがって、真空チャンバー内を汚染したり、真空度を劣化させたりすることがない。
【0037】
以下、本発明に係るショックアブソーバユニットの他の実施の形態について説明する。なお、以下に述べる各実施の形態において、前述の第1実施の形態と略同一構成部分には同一符号を付すものとする。
図4は、本発明の第2実施の形態に係るショックアブソーバユニットを示す概念図である。
【0038】
図4において、ショックアブソーバユニット10は、光学鏡筒101やウェハチャンバー121(図1参照)のチャンバー壁部30に取り付けられている。チャンバー壁部30には、貫通孔31が形成されている。この貫通孔31は、チャンバー壁部30外部と外装容器(蛇腹カバー27等)内部とが連通するように形成されている。そのため、ショックアブソーバユニット10の外装容器内は、貫通孔31を介して外気と連通している。
【0039】
この第2実施の形態のショックアブソーバユニット10は、暴走したステージが当接部22に当接したときに、蛇腹カバー27内の空気を貫通孔31から外部に逃がすことができる。そのため、暴走したステージが当たって蛇腹カバー27が縮小し、蛇腹カバー27の内圧が上昇した場合にも、これらステージを押し返す反力が生じない。
【0040】
図5は、本発明の第3実施の形態に係るショックアブソーバユニットを示す概念図である。
図5に示す第3実施の形態は、前述の図4に示す第2実施の形態において、チャンバー壁部30の貫通孔31に排気ポンプ45が接続されたものである。この排気ポンプ45は、チャンバー壁部30の外側に設置されており、外装容器内部を真空引きする。この排気ポンプ45により、蛇腹カバー27内を光学鏡筒101やウェハチャンバー121内と同時に真空引きすることができる。そのため、蛇腹カバー27内圧を真空チャンバー内の真空環境に近い減圧雰囲気とすることができる。
【0041】
この第3実施の形態においては、ショックアブソーバユニット10の外装容器の内圧を真空環境に近い減圧雰囲気とすることができるので、蛇腹カバー27内圧も著しく高くはならない。そのため、暴走したステージが当接部22に当たった場合に、ピストンロッド12の退避とともに蛇腹カバー27はスムーズに縮小し、ショックアブソーバ11の作動不良が起こる可能性を低減できる。
【0042】
図6は、本発明の第4実施の形態に係るショックアブソーバユニットを示す概念図である。
図6に示すショックアブソーバユニット40は、ショックアブソーバ11の後端側を覆う基部ディスク23、ボトムカバー24と、ショックアブソーバ11の先端側を覆うヘッドカバー42からなる。基部ディスク23・ボトムカバー24は、前述の各実施の形態で説明したものと同一構成である。
【0043】
ヘッドカバー42は、有底円筒状をしている。ベッドカバー42の開口端42aは、基部ディスク23の先端側端面に溶接されている。ヘッドカバー42の前端面42b中央には、挿通穴43が形成されている。この挿通穴43内には、ショックアブソーバ11のピストンロッド12が摺動可能に挿通されている。ヘッドカバー42の挿通穴43内周面には、Oリング44がセットされている。このOリング44は、ピストンロッド12の外面に摺接して、ヘッドカバー42内部が気密になるようにシールしている。ここで、Oリング44には、蒸気圧の低い真空グリス(オイル)が塗布されることが好ましい。なお、挿通穴43内周面は、Oリング44を配置してシールする以外に、磁性流体等を用いて気密性を確保してもよい。
【0044】
このショックアブソーバ11のピストンロッド12は、ヘッドカバー42の挿通穴43から出没可能である。このショックアブソーバ11も、前述と同様に、暴走したステージを制動して衝撃を吸収することができる。なお、ヘッドカバー42内は、前述と同様に内部を真空引きするのが好ましい。
【0045】
このようなショックアブソーバユニット40によれば、ショックアブソーバ11を真空チャンバー(真空環境)内から隔離できるので、前述の実施の形態と同様に、仮にショックアブソーバ11が破損したとしても、真空環境内にオイルが噴出・蒸発することがなく、真空チャンバーの壁面を汚染したり、真空度を劣化させたりすることがない。
【0046】
図7は、本発明の第5実施の形態に係るショックアブソーバを示す概念図である。
図7に示すショックアブソーバ50は、シリンダ53を有している。シリンダ53のシリンダ空間(充填部)53a内には、ガスが充填されている。シリンダ53のシリンダ空間53aは、オリフィス55を介してドレイン空間56に連通されている。なお、この実施の形態では、シリンダ53のシリンダ空間53aとドレイン空間56とを別体に配置しているが、シリンダ53内にシリンダ空間53a及びドレイン空間56を内装することもできる。
【0047】
シリンダ53は、ピストン54を有している。このピストン54は、シリンダ空間53a内で図中左右方向に往復運動することができる。このピストン54の外周面には、Oリング54aが設けられている。Oリング54aは、シリンダ53内周面に摺接して、シリンダ空間53aの気密性を確保する。ピストン54には、ピストンロッド52が連結されている。
【0048】
このようなショックアブソーバ50は、暴走したステージにピストンロッド52の先端(当接部)が当たったとき、ピストン54が図中右側に移動して、ガスが充填されているシリンダ空間53aの容積が小さくなる。すると、シリンダ空間53a内のガスがドレイン空間56内に急激に流入しようとするが、このガス流はオリフィス55で絞られて流動抵抗が与えられ、ピストンロッド52の急激なスライドが制動される。
【0049】
なお、このショックアブソーバ50は、ピストンロッド52に加えられる負荷が除かれると、圧縮されたガスの反発力によりピストンロッド54が進出し、縮小したシリンダ空間53aの容積が広がる。すると、容積の広がったシリンダ空間53a内にドレイン空間56からガスが流入し、機能が復帰する。このようなショックアブソーバ50は、光学鏡筒101やウェハチャンバー121内で万一破損したとしても、ガスが流出するだけで済むので、ガス漏れによる作業中の真空度劣化が起こるだけである。そのため、次回の作業に影響するような深刻な汚染は起こらない。
【0050】
図8は、本発明の第6実施の形態に係るショックアブソーバを示す概念図である。
図8に示すショックアブソーバ60は、シリンダ63を有している。シリンダ63内には、壁板部(ピストン)64が内装されている。この壁板部64は、シリンダ63内で図中左右方向に往復運動することができる。この壁板部64の図中左端面には、ピストンロッド62が連結されている。このピストンロッド62の端部(壁板部64と逆側の端部)は、シリンダ先端面63bから突出している。一方、シリンダ63内において、シリンダ後端面63aと壁板部64の間には、弾性棒66が介装されている。この弾性棒66には、コイルバネ65が外嵌している。これらコイルバネ65及び弾性棒66は、壁板部64が図中右方向に移動したときに、弾性力で壁板部64を押し返す(つまり、図中左方向に押す)。
【0051】
この弾性棒66は、例えばフッ素樹脂、ポリイミド、あるいは、ポリエーテル・エーテル・ケトン等のエラストマー(elastomer)から作製されている。なお、このショックアブソーバ60のシリンダ63内は、気密にはなっておらず、流体が流通可能となっている。このため、光学鏡筒101やウェハチャンバー121を真空引きした際には、シリンダ63内も同様に真空環境になる。また、ここでは、コイルバネ65及び弾性棒66の双方を用いるが、必要な反力(弾性力)を考慮していずれか一方のみを用いてもよい。
【0052】
このようなショックアブソーバ60は、前述の第5実施の形態のショックアブソーバ50と同様に機能し、暴走したステージが当たってピストンロッド62の先端が押されても、コイルバネ65及び弾性棒66の弾性力でピストンロッド62の急激なスライドが制動される。なお、このショックアブソーバ60は、ピストンロッド62に加えられる負荷が除かれると、縮小したコイルバネ65及び弾性棒66が弾性復帰して機能が復元する。このようなショックアブソーバ60は、真空環境内で万一破損したとしても、オイルもガスも流出しない利点がある。
【0053】
図9は、本発明の第7実施の形態に係るショックアブソーバを搭載する露光装置の概略構成を示す概念図である。
図9には、光学鏡筒101やウェハチャンバー121(図1参照)のチャンバー壁部30が示されている。このチャンバー壁部30には、貫通孔31が形成されている。この貫通孔31内には、シャフト72が摺動自在に保持されている。チャンバー壁部30の外面30aには、ベローズ71が取り付けられている。このベローズ71の端面71a(チャンバー外面30aへの取り付け端部と逆側の端面)は閉じられている。ベローズ71は、チャンバー外面30aに対して近付く側・離れる側に伸縮自在であるとともに、貫通孔31を気密に封止している。ベローズ端面71aの内側には、シャフト72の後端が当接している。そして、このベローズ端面71aを介して、シャフト72にはショックアブソーバ11のピストンロッド12の先端が突き合わされている。
【0054】
図9に示す構成では、暴走したステージがシャフト72の先端に当たると、ベローズ端面71aを介してショックアブソーバ11のピストンロッド12が押される。このとき、シャフト72は急激にスライドしようとするが、シャフト72のスライドはショックアブソーバ11で制動される。なお、このショックアブソーバ11は、シャフト72からの負荷が除かれると、ピストンロッド12が進出して機能が復帰する。このような構成においては、ショックアブソーバ11が装置外部に設置されているので、万一破損した場合にも、チャンバー内の真空環境に悪影響を及ぼさない。
【0055】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、真空環境下での使用時に万一損傷した場合にも、その真空環境を悪化させることのないショックアブソーバユニット等を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】
本発明の一実施の形態に係るショックアブソーバユニットを搭載する電子線露光装置全体の概略構成を模式的に示す正面断面図である。
【図2】同ショックアブソーバユニットのより詳細な構成を示す縦断面図である。
【図3】同ショックアブソーバユニットの作動状態を示す縦断面図である。
【図4】本発明の第2実施の形態に係るショックアブソーバユニットを搭載する露光装置の概略構成を示す概念図である。
【図5】本発明の第3実施の形態に係るショックアブソーバユニットを搭載する露光装置の概略構成を示す概念図である。
【図6】本発明の第4実施の形態に係るショックアブソーバユニットの概略全体構成を示す縦断面図である。
【図7】本発明の第5実施の形態に係るショックアブソーバの概略全体構成を示す縦断面概念図である。
【図8】本発明の第6実施の形態に係るショックアブソーバの概略全体構成を示す縦断面概念図である。
【図9】本発明の第7実施の形態に係るショックアブソーバユニットを搭載する露光装置の概略構成を示す概念図である。
【符号の説明】
10、40  ショックアブソーバユニット
11、50、60  ショックアブソーバ
12、52、62  ピストンロッド 13、53、63  シリンダ
22  当接部           23  基部ディスク
24  ボトムカバー        26  円盤部
27  蛇腹カバー         29  ワイヤ
30  チャンバー壁面       31  貫通孔
32  排気ポンプ         42  ヘッドカバー
43  挿通穴           53a  シリンダ空間
54  ピストン          55  オリフィス
56  ドレイン空間        64  壁板部
65  コイルバネ         66  弾性棒
71  ベローズ          72  シャフト
100  電子線露光装置      101  光学鏡筒
102、122  真空ポンプ    111  マスクステージ
121  ウェハチャンバー     131  ウェハステージ
M  マスク            W  ウェハ

Claims (13)

  1. 真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバユニットであって、
    前記可動部材を制動するショックアブソーバと、
    該ショックアブソーバを前記環境から隔離する手段と、
    を具備することを特徴とするショックアブソーバユニット。
  2. 前記隔離手段が、ベローズ等の直線運動可能な伸縮部又はスライド部を有するカバーを備えることを特徴とする請求項1記載のショックアブソーバユニット。
  3. 前記カバー内が前記真空環境外の大気に通じていることを特徴とする請求項2記載のショックアブソーバユニット。
  4. 前記カバー内が前記真空環境に近い減圧雰囲気となっていることを特徴とする請求項2記載のショックアブソーバユニット。
  5. 前記カバーの伸びあるいは膨張を防止するカバー伸び防止手段が設けられていることを特徴とする請求項2〜4いずれか1項記載のショックアブソーバユニット。
  6. 前記ショックアブソーバの先端側に配置された、衝撃吸収作動時に前記可動部材に当接する当接部と、
    前記ショックアブソーバの基端側を固定する固定部と、を有し、
    前記カバーが、前記当接部と固定部との間を掛け渡すように設けられており、
    前記カバー伸び防止手段として、前記当接部と前記固定部とが所定間隔以上離れないようこれら両者間を繋ぐ繋ぎ部材を有することを特徴とする請求項5記載のショックアブソーバユニット。
  7. 前記ショックアブソーバが、蒸気圧の低いオイルを用いる油圧式ショックアブソーバであることを特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載のショックアブソーバユニット。
  8. 真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバであって、
    移動してきた前記可動部材に当接して移動する当接部と、
    ガスが充填される充填部と、を備え、
    前記当接部の移動に伴って前記充填部のガスの充填容積が増減することを特徴とするショックアブソーバ。
  9. 真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバであって、
    移動してきた前記可動部材に当接して移動する当接部と、
    該当接部の移動に抵抗を与える弾性部材及び/又はコイルバネと、
    を備えることを特徴とするショックアブソーバ。
  10. 前記弾性部材が、フッ素樹脂、ポリイミド、あるいは、ポリエーテル・エーテル・ケトン等のエラストマー(elastomer)からなることを特徴とする請求項9記載のショックアブソーバ。
  11. 真空チャンバー内で稼動する感応基板ステージ及び/又はパターン原版ステージを有する露光装置であって、
    前記ステージの暴走時に該ステージを制動する、前記請求項1〜10いずれか1項記載のショックアブソーバユニット又はショックアブソーバを備えることを特徴とする露光装置。
  12. 真空チャンバー内で稼動する感応基板ステージ及び/又はパターン原版ステージを有する露光装置であって、
    前記真空チャンバー外にショックアブソーバを設置し、該ショックアブソーバで前記ステージの暴走時の制動を行うことを特徴とする露光装置。
  13. 真空環境内で移動可能な可動部材の衝撃吸収に使用するショックアブソーバユニットであって、
    前記可動部材を制動する、蒸気圧の低いオイルを用いる油圧式ショックアブソーバを具備することを特徴とするショックアブソーバユニット。
JP2002269780A 2002-09-17 2002-09-17 ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置 Pending JP2004108434A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002269780A JP2004108434A (ja) 2002-09-17 2002-09-17 ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置
US10/661,311 US20040075201A1 (en) 2002-09-17 2003-09-12 Shock-absorber units for use in a vacuum chamber for braking runaway moving objects

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002269780A JP2004108434A (ja) 2002-09-17 2002-09-17 ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004108434A true JP2004108434A (ja) 2004-04-08

Family

ID=32089114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002269780A Pending JP2004108434A (ja) 2002-09-17 2002-09-17 ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20040075201A1 (ja)
JP (1) JP2004108434A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006057263A1 (ja) * 2004-11-25 2008-06-05 株式会社ニコン 移動体システム、露光装置及びデバイス製造方法
JP2011066136A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Yaskawa Electric Corp フェールセーフ機構を備えた基盤搬送装置
CN108758185A (zh) * 2018-08-03 2018-11-06 合肥联宝信息技术有限公司 一种减震脚垫及电子设备
JP2019035409A (ja) * 2017-08-21 2019-03-07 プファイファー・ヴァキューム・ゲーエムベーハー 緩衝体

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL1036957A1 (nl) * 2008-06-13 2009-12-15 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
US9298106B1 (en) * 2011-09-07 2016-03-29 Kla-Tencor Corporation Wafer stage with reciprocating wafer stage actuation control

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5307753A (en) * 1991-04-16 1994-05-03 Besonen Sr Paul W Water motion cushioning device
TW370580B (en) * 1997-09-22 1999-09-21 Super Silicon Crystal Res Monocrystal pulling device
JP2002170765A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
US6496248B2 (en) * 2000-12-15 2002-12-17 Nikon Corporation Stage device and exposure apparatus and method
US6332602B1 (en) * 2001-03-30 2001-12-25 Yuzuru Oishi Vehicle suspension having annular air chamber
US6853524B2 (en) * 2002-06-14 2005-02-08 Eaton Corporation Vacuum arc interrupter having a tapered conducting bullet assembly

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2006057263A1 (ja) * 2004-11-25 2008-06-05 株式会社ニコン 移動体システム、露光装置及びデバイス製造方法
JP4807629B2 (ja) * 2004-11-25 2011-11-02 株式会社ニコン 露光装置及びデバイス製造方法
JP2011066136A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Yaskawa Electric Corp フェールセーフ機構を備えた基盤搬送装置
JP2019035409A (ja) * 2017-08-21 2019-03-07 プファイファー・ヴァキューム・ゲーエムベーハー 緩衝体
CN108758185A (zh) * 2018-08-03 2018-11-06 合肥联宝信息技术有限公司 一种减震脚垫及电子设备
CN108758185B (zh) * 2018-08-03 2024-02-23 合肥联宝信息技术有限公司 一种减震脚垫及电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
US20040075201A1 (en) 2004-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3981561B2 (ja) 内的なレベル調節装置を備えるセルフポンプ式ハイドロニューマチックショックアブソービングストラット
US20070131498A1 (en) Internal air-exchange spring brake chamber
JP5905832B2 (ja) 閉塞装置
US20190121238A1 (en) Projection exposure apparatus for semiconductor lithography including an actuator system
EP1211560A1 (en) Gas-actuated stages including reaction-force-canceling mechanisms for use in charged-particle-beam microlithography systems
JP2004108434A (ja) ショックアブソーバユニット、ショックアブソーバ及びそれを有する露光装置
JP2006014588A (ja) 自冷式アクチュエータ
JPH112350A (ja) 液圧式伝達比変更装置を備えた電気式固体アクチュエータ
JPH0544764A (ja) シヨツクアブソ−バ
JP6150388B2 (ja) ゲートバルブ及びチャンバ
JP2004134682A (ja) 気体シリンダ、ステージ装置及び露光装置
JP4012024B2 (ja) 位置決め装置に於ける衝撃吸収装置
JP7137163B2 (ja) 流体圧シリンダ
JP2007218287A (ja) アキュムレータ
US9431208B2 (en) Charged-particle beam drawing apparatus and vibration damping mechanism
JP4547997B2 (ja) 真空容器、露光装置、及び検査装置
US20220213981A1 (en) Fluid control device and method for fluid control in an extreme ultraviolet light source
JP2004214527A (ja) 差圧キャンセルベローズユニット及び露光装置
US8937289B2 (en) High heat load optics with vibration isolated hoses in an extreme ultraviolet lithography system
JP2004063547A (ja) 真空雰囲気下露光装置
JP3261662B2 (ja) エアーシリンダ
KR100814578B1 (ko) 작동유체의 누설을 방지하는 실린더장치
JP2583414B2 (ja) ショックアブソ−バ
JP2004084779A (ja) 精密機器における除振装置
TWI644179B (zh) 具有感測器組件之帶電粒子微影系統

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040315

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040316