JP2004103222A - クロックイネーブル信号を利用したデータ経路のリセット回路、リセット方法及びこれを備える半導体メモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明のリセット回路は、半導体メモリ装置の内部回路を初期化するための回路であって、外部電圧のレベルを検出して第1リセット信号を発生させる外部電圧検出器及び外部から印加される所定の外部信号と第1リセット信号とを論理演算して第2リセット信号を発生させる第2リセット信号発生器を備える。第2リセット信号は半導体メモリ装置のデータ経路に関連した所定のブロックをリセットするのに使われ、第1リセット信号はデータ経路に関連した所定のブロック以外のブロックをリセットするのに使われる。第2リセット信号を発生させるために使われる外部信号はクロックイネーブル信号である。本発明によれば、ソフトリセット時にデータ経路関連ブロックがリセットされる。
【選択図】 図2
Description
また、望ましくは、前記第2リセット信号発生器は前記クロックイネーブル信号に応答して所定区間の間第1ロジックレベルとなるパルス信号を発生する自動パルス発生器と、前記パルス信号及び前記第1リセット信号を論理和て前記第2リセット信号を出力する論理和ゲートを含む。
図2は、本発明の一実施形態によるリセット信号発生回路200を示すブロック図である。これを参照すれば、本発明の一実施形態によるリセット信号発生回路200はDRAMの内部回路のリセットのために2種の情報を使用する。すなわち、リセット信号発生回路200は外部電圧VCC及びクロックイネーブル信号CKEを利用してDRAMの所定のブロック及び制御信号をリセットさせるための一つ以上のリセット信号を発生する。
210 外部電圧検出器
220 クロックイネーブル信号バッファ
230 自動パルス発生器
240 論理和ゲート
Claims (16)
- 半導体メモリ装置の内部回路を初期化するためのリセット回路において、
外部電圧のレベルを検出して第1リセット信号を発生する外部電圧検出器と、
外部から印加される所定の外部信号及び前記第1リセット信号を論理演算して第2リセット信号を発生する第2リセット信号発生器と、を備え、
前記第2リセット信号は前記半導体メモリ装置のデータ経路に関連した所定のブロックをリセットするのに使われることを特徴とする半導体メモリ装置のリセット回路。 - 前記第1リセット信号は、
前記データ経路に関連した所定のブロック以外のブロックをリセットするのに使われることを特徴とする請求項1に記載のリセット回路。 - 前記外部信号は、
クロックイネーブル信号であることを特徴とする請求項1に記載のリセット回路。 - 前記第2リセット信号発生器は、
前記クロックイネーブル信号に応答して所定区間の間第1ロジックレベルとなるパルス信号を発生する自動パルス発生器と、
前記パルス信号及び前記第1リセット信号を論理和して前記第2リセット信号を出力する論理和ゲートと、を含むことを特徴とする請求項3に記載のリセット回路。 - 前記データ経路に関連した所定のブロックは、
メモリセルから出力されて感知されたデータをパッドを通じて外部に出力するためにドライビングするデータ出力ドライバを含むことを特徴とする請求項3に記載のリセット回路。 - 前記データ経路に関連した所定のブロックは、
前記パッドを通じて外部から入力されるデータをドライビングするデータ入力ドライバをさらに含むことを特徴とする請求項5に記載のリセット回路。 - 前記データ経路に関連した所定のブロックは、
メモリセルから出力されるデータを感知増幅する入出力センスアンプの出力端からデータ入出力パッドに至るまでの経路上に位置するデータ出力回路の一部または全部を含むことを特徴とする請求項3に記載のリセット回路。 - メモリセルアレイと、
ロウアドレス信号に応答して前記メモリセルアレイのワードラインを選択して活性化するロウデコーダと、
カラムアドレス信号に応答して前記メモリセルアレイのカラムラインを選択するカラムデコーダと、
前記メモリセルアレイから出力されるデータを感知増幅する入出力センスアンプと、
前記メモリセルアレイにデータを入力するためのデータラインドライバと、
前記入出力センスアンプから出力されるデータをデータ入出力パッドを通じて出力するためのデータ出力部と、
前記データ入出力パッドから入力されるデータを前記データラインドライバに伝達するデータ入力部と、
アドレス信号及び命令語信号に応答して多数の制御信号を発生する制御ロジック部と、
外部電圧及び所定の外部信号に応答して第1及び第2リセット信号を発生するリセット信号発生回路と、を備え、
前記データ出力部の一部または全部は前記第2リセット信号に応答してリセットされることを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記リセット信号発生回路は、
前記外部電圧のレベルを検出して前記第1リセット信号を発生する外部電圧検出器と、
外部信号の一つであるクロックイネーブル信号及び前記第1リセット信号を論理演算して第2リセット信号を発生する第2リセット信号発生器と、を含むことを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2リセット信号発生器は、
前記クロックイネーブル信号に応答して所定区間の間第1ロジックレベルとなるパルス信号を発生する自動パルス発生器と、
前記パルス信号及び前記第1リセット信号を論理和して前記第2リセット信号を出力する論理和ゲートと、を含むことを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記第2リセット信号は、
前記データ入力部の一部または全部をリセットするのにも使われることを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 半導体メモリ装置の内部回路をリセットする方法において、
(a)外部電圧のレベルを検出して第1リセット信号を発生する段階と、
(b)外部信号及び前記第1リセット信号を論理演算して第2リセット信号を発生する段階と、
(c)前記第2リセット信号に応答してデータ経路に関連した所定のブロックをリセットする段階と、
(d)前記第1リセット信号に応答して前記データ経路に関連したブロック以外の所定のブロックをリセットする段階と、を備える半導体メモリ装置のリセット方法。 - 前記外部信号は、
クロックイネーブル信号であることを特徴とする請求項12に記載の半導体メモリ装置のリセット方法。 - 前記(b)段階は、
前記クロックイネーブル信号に応答して所定区間の間第1ロジックレベルとなるパルス信号を発生する段階と、
前記パルス信号及び前記第1リセット信号を論理和して前記第2リセット信号を出力する段階と、を含むことを特徴とする請求項13に記載の半導体メモリ装置のリセット方法。 - 前記データ経路に関連した所定のブロックは、
メモリセルから出力されて感知されたデータをパッドを通じて外部に出力するためにドライビングするデータ出力ドライバを含むことを特徴とする請求項13に記載の半導体メモリ装置のリセット方法。 - 前記データ経路に関連した所定のブロックは、
メモリセルから出力されるデータを感知増幅する入出力センスアンプの出力端からデータ入出力パッドに至るまでの経路上に位置するデータ出力回路の一部または全部を含むことを特徴とする請求項13に記載の半導体メモリ装置のリセット方法。
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