JP2004045422A - 分光分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 被計測物を計測対象箇所を通過するように搬送する搬送手段と、計測対象箇所に位置する被計測物に光を照射する投光手段と、被計測物からの透過光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段8と、各部の動作を制御する制御手段とが設けられ、制御手段が、受光手段8にて受光した光により、被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置であって、受光手段8が、計測対象箇所に対して遠近方向に移動自在に構成され、被計測物が計測対象箇所に至ると受光量が減少するように設けられて、被計測物が計測対象箇所に到達したことを検出するための光量検出センサ35が、受光手段8に備えられている。
【選択図】 図3
Description
そして、その被計測物となる青果物等には、その大きさが品種等によって異なるものがあり、様々な大きさの被計測物の内部品質が解析できるようにする必要があった。
そこで、従来の分光分析装置では、図13に示すように、投光手段7と受光手段8は、投光手段7と受光手段8の間隔が被計測物Mとなる青果物において推測される最大の大きさよりも大きくなるように、計測対象箇所Tの左右両側箇所に均等に振り分けた位置に設置され、また、被計測物Mは、投光手段7と受光手段8の間隔と略等分する中間点となる計測対象箇所Tに位置するように構成されていた。そして、投光手段7から照射される集束光の焦点位置は、投光手段7と受光手段8の間隔を等分する中間点と略一致するように設定されて、その焦点位置が被計測物Mの中心位置と略一致するように構成されていた。
このように構成することによって、被計測物の大きさに拘わらず、投光手段から照射される光が集束する状態で被計測物へ入射させることもできた。
ちなみに、この種の分光分析装置において、電荷蓄電式のラインセンサを受光手段として用いた場合には、受光手段における受光量が設定適正量よりも多くなると、ラインセンサの電荷蓄電量が最大蓄積量を超えて飽和してしまう不都合を生じることになり、逆に、受光手段における受光量が設定適正量よりも少なくなると、ラインセンサの電荷蓄積量が不足してS/N(信号対雑音)比が低下してしまうことによって、測定誤差が大きくなるものであり、受光手段における受光量を設定適正量にする必要がある。
説明を加えると、投光手段から被計測物へ向けて集束光として照射されて、被計測物を透過してくる光は、拡散しながら受光手段へ向けて進んでいくものであり、この被計測物を透過した光を被計測物にできるだけ近い位置で受光するようにすれば、受光手段における受光量を多くして、ラインセンサの電荷蓄積量が不足してS/N(信号対雑音)比が低下してしまうことを防止できるものとなる。また、被計測物を通過せずに被計測物を回り込んでくる外乱光は、被計測物を透過してくる光と比べて、光量が多く、このような光を受光手段が受光すると、受光量が検出可能な適正範囲を逸脱してしまい、被計測物の内部品質を分析することができなくなるが、受光手段を被計測物に近づければ、受光手段が外乱光を受光するのを抑制することが可能となる。
しかしながら、従来の分光分析装置では、投光手段と受光手段とが、計測対象箇所の左右両側箇所に振り分けた固定の位置に設置され、被計測物は、投光手段と受光手段の間隔と略等分する中間点を通過していくように構成されていたため、品種が変わることによって異なる大きさの被計測物が計測対象箇所に搬送されてくると、受光手段と被計測物との間隔、あるいは、投光手段と被計測物との間隔が変化してしまうものとなる。
このため、被計測物の大きさが小さいときには、受光手段と被計測物の間隔が大きく開いてしまうこととなるので、外乱光が被計測物を透過した検出光に混じって受光手段に入射する等して、測定誤差が大きくなる、あるいは、内部品質を分析できないことになる虞があった。
ところで、従来の分光分析装置によれば、投光手段から照射される光は、被計測物の大きさが変わっても、投光手段から照射される光は集束する状態で被計測物へ入射することになるが、投光手段から照射される集束光の焦点位置が、投光手段と受光手段の間隔と略等分する中間点と一致する、つまり、被計測物の中心位置と略一致するように設定されていたため、投光手段から照射された光が被計測物の表面で乱反射して、上述の外乱光となる量が多くなる傾向にあり、外乱光を減少させることも望まれていた。
請求項1に記載の発明は、計測対象箇所に位置する被計測物に光を照射する投光手段と、前記被計測物からの透過光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段と、各部の動作を制御する制御手段とが設けられ、
前記制御手段が、前記受光手段にて受光した光により、前記被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置であって、
前記計測対象箇所に位置する被計測物と前記受光手段との間隔を、設定間隔に維持する間隔維持手段が設けられている点を特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記間隔維持手段が、前記受光手段の位置を変更調節して、前記計測対象箇所に位置する被計測物と前記受光手段との間隔を設定間隔に維持するように構成されている点を特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記間隔維持手段が、前記計測対象箇所に位置する被計測物の位置を変更調節して、被計測物と前記受光手段との間隔を前記設定間隔に維持するように構成されている点を特徴とする。
請求項4に記載の発明は、計測対象箇所に位置する被計測物に光を照射する投光手段と、前記被計測物からの透過光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段と、各部の動作を制御する制御手段とが設けられ、
前記制御手段が、前記受光手段にて受光した光により、前記被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置であって、
前記投光手段から照射される集束光の焦点位置が、前記計測対象箇所に位置することが予定される被計測物のうちで、前記投光手段から最も離れた位置に位置する前記被計測物の表面と一致するように設定されている点を特徴とする。
従って、投光手段から照射される集束光の焦点位置が、被計測物の表面と一致するような状態で、投光手段から被計測物に集束光を照射するのが最も的確に内部品質を分析できるものとなるが、被計測物である青果物は、大きさが一定しているものでなく、いずれの被計測物に対しても、投光手段から照射される集束光の焦点位置が、被計測物の表面と一致するような状態で、投光手段から被計測物に集束光を照射するのは、不可能である。
そこで、投光手段から照射される集束光の焦点位置を被計測物の表面と一致させ、あるいは、投光手段から照射される集束光の焦点位置を被計測物の投光手段側の表面より被計測物の内側ではあるものの被計測物の表面に近付けるようにして、大きさの異なる被計測物の内部品質を精度良く分析できるものとなる。
請求項5に記載の発明は、計測対象箇所に位置する被計測物に光を照射する投光手段と、前記被計測物からの透過光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段と、各部の動作を制御する制御手段とが設けられ、
前記制御手段が、前記受光手段にて受光した光により、前記被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置であって、
前記計測対象箇所に位置する前記被計測物と前記投光手段との間隔を変更調節できるように、前記投光手段の位置を変更調節する投光位置調整手段が設けられている点を特徴とする。
つまり、図8(イ)及び(ロ)に示すように、投光手段7から集束光の焦点位置までの焦点距離を一定に維持させた状態で、被計測物Mの大きさに拘わらず、投光手段7から照射される集束光の焦点位置を、被計測物Mの表面と一致させることができるものとなるので、上記した請求項4の発明に説明からも明らかなように、内部品質を精度良く分析できるようになる。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の発明において、前記被計測物として、前記計測対象箇所に位置されたときに前記投光手段との間隔が大小に異なる複数群があり、
前記投光位置調整手段が、前記被計測物の複数群の夫々に対応して定められる群用設定位置に前記投光手段を位置調整するように構成され、
前記群用設定位置は、その群内の被計測物のうちで、前記投光手段から最も離れた位置に位置する被計測物の表面と、前記投光手段から照射される集束光の焦点位置とを一致させる位置として定められている構成されている点を特徴とする。
すなわち、被計測物の品種毎の大きさのバラツキに対応させるべく、投光位置調整手段が、被計測物の品種に応じて、その品種の被計測物のうちで最も離れた位置に位置する被計測物の表面、つまり、その品種の被計測物のうちで推測される最も小さい被計測物の表面と、投光手段から照射される集束光の焦点位置とを一致させるように、投光手段と被計測物との間隔を変更調節することによって、品種が同じであっても大きさの異なる被計測物に、投光手段から照射される光が集束する状態で被計測物へ入射させて、内部品質を精度良く分析できる。
先ず、前記分光分析装置の構成並びに計測動作について説明する。
図1に示すように、分光分析装置は、被計測物Mに光を照射する投光部1と、被計測物Mを透過した光を計測対象光として、その計測対象光を分光してその分光した計測対象光を受光して分光スペクトルデータを得る受光部2と、分光スペクトルデータに基づいて被計測物Mの内部品質を解析する演算処理や、各部の動作を制御する動作制御処理等を実行する制御部3等を備えて構成され、被計測物Mは、搬送コンベア6により設定速度で一列で縦列状に載置搬送されて計測対象箇所Tを順次、通過していくように構成されている。そして、計測対象箇所Tに位置する被計測物Mに対して、投光部1から投射した光が被計測物Mを透過した後に受光部2にて受光される状態で、投光部1と受光部2とが、計測対象箇所Tの左右両側箇所に振り分けて配置されている。
さらに、投光部1には、投光位置調整手段4として、軸受11aに回転自在に支持されて計測対象箇所Tに対して遠近方向に沿って設けられたネジ棒12aと、そのネジ棒12aの一端側に連結されて制御部3によって制御されるパルスモータ13aと、ネジ棒12aに外嵌するナット部材14aとが備えられ、投光手段7は、前記ナット部材14aを備える架台15aの上方に取り付けられている。そして、制御部3がパルスモータを回転させることによって、投光手段7の位置が、計測対象箇所Tに対して遠近方向に沿って変更調節されて、計測対象箇所Tに位置する被計測物Mと前記投光手段7との間隔を変更調節できるように構成されている。
同様に、前記受光部2においても、間隔維持手段5として、軸受け11b、ネジ棒12b、パルスモータ13b、及びナット部材14bとが備えられ、受光手段8は、ナット部材14bを備えた架台15bの上方に取り付けられている。そして、受光手段8の位置が、計測対象箇所Tに対して遠近方向に沿って変更調節されて、計測対象箇所Tに位置する被計測物Mと受光手段8との間隔を設定間隔に維持するように構成されている。
前記投光手段7は、図2に示すように、投光用枠体28の内部に、ハロゲンランプからなる光源21、この光源21から発光する光を反射させて被計測物Mの表面に焦点を合わせるための凹面形状の光反射板22、この光反射板22にて集光される光の焦点位置近くに位置させて、小径の透過孔を通過させることで集光された後の光の径方向外方側への広がりを抑制する絞り手段としての絞り板23、光源21からの光が計測対象箇所Tに照射される状態と、光を遮断する状態とに切り換え自在な投光用シャッター機構24、集光された光源21からの光を並行光に変更させる投光用コリメータレンズ25、並行光に変化した光を反射して計測対象箇所Tに位置する被計測物Mに向けて横向きに変更する投光用反射鏡26、この投光用反射鏡26にて反射された光を集光させる投光用集光レンズ27とを備えて構成されている。
また、前記投光用シャッター機構24は、詳述はしないが、遮蔽板を電動モータを用いた操作機構によって揺動操作して、光が計測対象箇所Tに照射される状態と、光を遮断する状態とに切り換える構成となっている。
尚、コンデンサによる電荷蓄積時間は、外部から駆動回路を介して変更させることができるようになっている。
そして、搬送コンベア6における被計測物Mの通過箇所の上方側に位置させて、固定部62にて位置固定される状態で基準体の一例であるリファレンスフィルター65が設けられている。このリファレンスフィルター65は、所定の吸光度特性を有する光学フィルターで構成され、具体的には、オパールガラスを用いて構成されている。
つまり、上述したような、投光位置調整手段4の変更調節動作、間隔維持手段5の変更調節動作、各シャッター機構24、33の開閉動作、上下調節機構61の動作、及び、受光センサ39の動作の管理等の各部の動作を制御するとともに、後述するような公知技術である分光分析手法を用いて被計測物Mの内部品質を解析する演算処理を実行する構成となっている。
動作制御手段101は、被計測物Mに対する通常の計測に先立って、投光手段7からの光を被計測物Mに代えて前記リファレンスフィルター65に照射して、そのリファレンスフィルター65からの透過光を、分光器34にて分光してその分光した光を受光して得られた分光スペクトルデータを光量基準分光スペクトルデータとして求める基準データ計測モードと、搬送コンベア6により搬送される被計測物Mに対して、投光手段7から光を照射して計測分光スペクトルデータを得て、この計測分光スペクトルデータと前記光量基準分光スペクトルデータとに基づいて、被計測物Mの内部品質を解析する通常データ計測モードとに切り換え自在に構成されている。
この通常データ計測モードにおいては、上下調節機構61を操作して枠体55を通常計測状態に切り換えて、搬送コンベア6による被計測物Mの搬送を行う。そして、前記通過センサ45による検出情報に基づいて、被計測物Mが計測対象箇所Tを通過する周期を検出し、その周期に同期させる状態で、分光した光を受光して電荷蓄積動作を設定時間実行する電荷蓄積処理と、蓄積した電荷を送り出す送出処理とを設定周期で繰り返すように、受光センサ39の動作を制御する。
つまり、図10に示すように、各被計測物Mが計測対象箇所Tを通過すると予測される時間帯において、受光センサ39が設定時間T1だけ電荷蓄積処理を実行し、被計測物Mが計測対象箇所Tに存在しないと予測される各被計測物M同士の中間位置付近が計測対象箇所Tに位置するようなタイミングで、設定時間T2だけ、蓄積した電荷を送り出す送出処理を実行するように、受光センサ39の動作を制御する。従って、この計測装置では、受光センサ39による電荷蓄積時間は常に一定で動作する構成となっている。尚、1秒間に7個づつ被計測物Mが通過するような処理能力とした場合には、電荷蓄積処理を実行する設定時間T1は、約140msec程度になる。
この開放維持時間Txは、被計測物Mの品種の違いに応じて変更させる構成となっている。説明を加えると、例えば、温州ミカンであれは光が比較的透過しやすいので比較的短い時間(10msec程度)に設定し、伊予柑であれば光が透過し難いので長めの時間 (30msec程度)に設定する。
このような品種の違いによる動作条件の設定は、作業員が人為的に行う構成となっている。つまり、図9に示すように、品種の違いに応じて設定位置を人為的に切り換える人為操作式の切換操作具66が設けられ、この切換操作具66の設定情報が制御部3に入力され、制御部3はその設定情報に従って開放維持時間Txを変更調整する構成となっている。
具体的に説明すると、図11に光量検出センサ35の検出値の時間経過に伴う変化状態を示している。被計測物Mが到達するまでは投光手段7から投射される光によってほぼ最大値が出力されているが、被計測物Mが計測対象箇所Tに至ると計測用光が遮られて光量検出センサ35の検出値(受光量)が減少し始めて検出値が予め設定した設定値以下にまで減少したとき(t1)に、被計測物Mが計測対象箇所Tに到達したものと判断して、その時点から設定時間が経過したとき(t2)に、受光用シャッター機構33を開放状態に切り換える。そして、前記開放維持時間Txだけ開放状態を維持した後に、受光用シャッター機構33を遮蔽状態に切り換えるのである。
つまり、上記したようにして得られた計測分光スペクトルデータを、前記基準データ計測モードにて求められた基準分光スペクトルデータ、及び、暗電流データを用いた正規化して、分光された各波長毎の吸光度スペクトルデータを得るとともに、その吸光度スペクトルデータの二次微分値を求める。そして、その二次微分値により被計測物Mに含まれる糖度に対応する成分量や酸度に対応する成分量を算出する解析演算処理を実行するように構成されている。
吸光度スペクトルデータdは、基準分光スペクトルデータをRd、計測分光スペクトルデータをSdとし、暗電流データをDaとすると、
d=log{(Rd−Da)/(Sd−Da)}
そして、制御部3は、このようにして得られた吸光度スペクトルデータdを二次微分した値のうち特定波長の値と、下記の数2に示される検量式とを用いて、被計測物Mに含まれる成分量を算出するのである。
Y=K0+K1・A(λ1)+K2・A(λ2)
Y ;成分量
K0,K1,K2 ;係数
A(λ1 ),A(λ2 ) ;特定波長λにおける吸光度スペクトルの二次微分値
第1実施形態においては、間隔維持手段5として、受光手段8の位置を変更調節して、計測対象箇所Tに位置する被計測物Mと受光手段8との間隔を設定間隔に維持するような構成のものを備えて構成されたものとしたが、これに対して、第2実施形態においては、間隔維持手段5として、被計測物Mの位置を変更調節して、計測対象箇所Tに位置する被計測物Mと受光手段8との間隔を設定間隔に維持するような構成のものを備えて構成されているものである。
そして、図12に示すように、前記バケット6bが、搬送方向と交差する方向に沿って、回転自在な複数のローラ51が並置された載置部52を備えて被計測物Mを載置するように構成されている。さらに、被計測物Mを載置しているときには、載置部52が受光手段8側が下位となるような傾斜姿勢となるように構成され、載置部52の受光手段8側の端部には、被計測物Mの落下防止及び係止用の係止部53が備えられている。このような構成によって、被計測物Mは、係止部53にて係止される状態で、載置部52に載置されて計測対象箇所Tを通過していくことになる。
尚、係止部53は、被計測物Mを透過した光が減光されることなく受光手段8へ入射するように、透明な材質のものを用いて構成されている。
次に別実施形態を説明する。
(1)上記実施形態では、投光手段として、ハロゲンランプ、反射板、及び、投光用反射鏡を備える構成としたが、これに限定されるものではない。
例えば、光源に水銀灯、Ne放電管等を用いたものでもよく、また、ビーム光による照射範囲を変更自在なビーム光源を投光手段として用いてもよい。
例えば、搬送手段を上下方向へ移動させて、計測対象箇所に対する投光手段及び受光手段の上下方向位置を変更調整するような構成としてもよく、また、搬送手段におけるバケット部だけを、上下方向へ移動できるような構成として、計測対象箇所に対する投光手段及び受光手段の上下方向位置を変更調整するような構成としてもよい。
また、受光手段もMOS型ラインセンサに限らず、CCD型ラインセンサなどの他の検出手段を用いるようにしてもよい。
4 投光位置調整手段
5 間隔維持手段
7 投光手段
8 受光手段
M 被計測物
T 計測対象箇所
Claims (3)
- 被計測物を計測対象箇所を通過するように搬送する搬送手段と、
前記計測対象箇所に位置する前記被計測物に光を照射する投光手段と、
前記被計測物からの透過光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段と、
各部の動作を制御する制御手段とが設けられ、
前記制御手段が、前記受光手段にて受光した光により、前記被計測物の内部品質を解析するように構成されている分光分析装置であって、
前記受光手段が、前記計測対象箇所に対して遠近方向に移動自在に構成され、
前記被計測物が前記計測対象箇所に至ると受光量が減少するように設けられて、前記被計測物が前記計測対象箇所に到達したことを検出するための光量検出センサが、前記受光手段に備えられている分光分析装置。 - 前記投光手段が、前記計測対象箇所に対して遠近方向に移動自在に構成されている請求項1記載の分光分析装置。
- 前記投光手段及び前記受光手段の上下方向の位置が変更調節されるように構成されている請求項2記載の分光分析装置。
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