JP2004045194A - プリント配線基板の検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】位置ズレ検査端子側の構造を簡素化するできるソルダーレジストの位置ズレ検査やマーキングの位置ズレ検査に関するプリント配線基板の検査方法を提供する。
【解決手段】基材1上に互いに電気的に接続された複数の位置ズレ検査ランド2A,2Bを形成し、それぞれの位置ズレ検査ランド2A,2B上に絶縁性の位置ズレ検査パターン4A,4Bを印刷により形成し、加圧導電ゴム8を介してそれぞれの位置ズレ検査ランド2A,2Bに導通検査用端子9A,9Bを押し付ける。位置ズレが規格値以上である場合は露出表面6A,6Bにより導通検査用端子9A,9Bと位置ズレ検査ランド2A,2Bとが電気的に接続され、これにより導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが導通状態となるのでこれを検出する。
【選択図】 図1
【解決手段】基材1上に互いに電気的に接続された複数の位置ズレ検査ランド2A,2Bを形成し、それぞれの位置ズレ検査ランド2A,2B上に絶縁性の位置ズレ検査パターン4A,4Bを印刷により形成し、加圧導電ゴム8を介してそれぞれの位置ズレ検査ランド2A,2Bに導通検査用端子9A,9Bを押し付ける。位置ズレが規格値以上である場合は露出表面6A,6Bにより導通検査用端子9A,9Bと位置ズレ検査ランド2A,2Bとが電気的に接続され、これにより導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが導通状態となるのでこれを検出する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント配線基板の検査方法に係わり、特にプリント配線基板におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法やマーキングの位置ズレ検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
プリント配線基板におけるソルダーレジストの位置ズレ検査やマーキングの位置ズレ検査に関する従来のピンヘッド式の電気検査は、ソルダーレジスト及びマーキング位置が規格内にあるか否かを検出することは検査治具の構造上対応が難しく、目視検査によるソルダーレジスト及びマーキングの位置ズレ検査は多大な工数を要する。また、人による検査の為、確認ミス及び不具合品の流出が懸念される。
【0003】
一方、加圧導電ゴムを使用する検査治具の場合、検査パッド部全面に対し一部に導体部分があれば電気検出をすることが可能であるため、この利点を利用し位置ズレ検出用パッドを追加することにより位置ズレ検出をすることが可能である。このために図10に示す加圧導電ゴムを用いた検査方法が特開2000−244097号公報に開示されている。
【0004】
尚、加圧導電ゴムとは、ゴム中に数十μm程度の金属微粒子を分散した導電ゴムで、通常は絶縁状態であるが、圧力を加えるとその部分の金属微粒子の密度が高くなり、部分的に加圧方向のみ通電が可能となる特性を有するものである。
【0005】
図10において、基材1の製品形成部100(図9)に回路パターンを形成する際にその外側の領域である捨板部200(図9)に位置ズレ検査ランド22を形成し、製品形成部にソルダーレジストのパターンを印刷する際に、同時に捨板部に位置ズレ検査パターン24を印刷する。あるいは、製品形成部にマーキングを印刷する際に、同時に捨板部に位置ズレ検査パターン24を印刷する。したがって製品形成部における印刷のズレがそのまま位置ズレ検査パターン24の位置ズレとなる。
【0006】
一方、導通検査用基板27には導通検査用中心端子29Aとその周辺に複数の導通検査用周辺端子29B,29Cが設けられており、加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に対して加圧する。
【0007】
位置ズレ検査ランド22に対して位置ズレ検査パターン24が所定の位置に形成されているときは、位置ズレ検査ランド22の全周辺を位置ズレ検査パターン24が被覆しているから、位置ズレ検査パターン24の中央開口に位置ズレ検査ランド22の上面が露出しているだけである。
【0008】
この場合は、導通検査用中心端子29Aが加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続されるが、周辺の複数の導通検査用周辺端子29B,29Cのいずれもが位置ズレ検査ランド22に接続されない。したがって、導通検査用中心端子29Aは周辺の複数の導通検査用周辺端子29B,29Cのいずれとも導通しない。この導通しない状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0009】
他方、図10に示すように、位置ズレ検査ランド22に対して位置ズレ検査パターン24が許容値(ズレ規格値)以上に図で左方向にズレているときは、位置ズレ検査ランド22の図で右側は位置ズレ検査パターン24により被覆されずに露出している。
【0010】
この場合は、導通検査用中心端子29Aが加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続され、かつ、導通検査用周辺端子29Bも加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続される。したがって、導通検査用中心端子29Aは導通検査用周辺端子29Bと導通する。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
(1):以上の説明した従来技術によりソルダーレジスト及びマーキングの位置ズレを検査する場合、従来のピンヘッドによる方式では、検査部先端端子部のみでのパッド部との接続であり、位置精度が規格値範囲内にあるか否かの判定は不可能である。また、加圧導電ゴムを使用する場合においても、検査対象基板の実装パッド部を検査する際には、実装するパッド部に導体露出が一部あれば、検査では電気的に導通することから良品として検出するという欠点がある。
【0012】
(2):一方。図10に示す従来技術では、導通検査用基板側(検査治具側)の検査端子として外周端子複数本備えている構造又はさらに中心端子として1端子追加される構造となり、検査用端子構造が複雑化される欠点を有する。
【0013】
(3):さらに、図10に示す従来技術では、必然的に大きくなるズレ検査用ランドの上部に形成される印刷層は、規格値相当分大きい径の印刷層を形成する必要があり、外層導体厚が厚い検査対象基板に対し、印刷層の安定的な形成が困難である。又は印刷層を形成する工法に制限が生じる。この為、位置ズレの無い検査対象基板の導通検査においてもズレ検査用ランドの外周から導通が生じる欠点を有する。
【0014】
上記した問題点(1)を生じる理由は、上記(1)記述の通り、電気的導通検査のみの良否判定となるためである。上記した問題点(2)を生じる理由は、位置ズレを有する基板の電気導通を得る手段が、中心端子と外周端子の2点間による電気導通となる為、複数本の端子配置が必要となるためである。上記した問題点(3)を生じる理由は、位置ズレ検査用ランドの導体厚は検査対象基板の導体層と同時に作成されるものであり同様の導体厚となる。導体厚が厚く仕上がる配線板において、上記(3)記述の通り、位置ズレ検査用ランドに対し規格値相当分大きい径の印刷層を形成する場合、ランド上部以外の位置にある印刷層は検査ランド周囲の基材上に形成されるか若しくは、ランド上部のみでの印刷層形成となり、検査パッド外周部が露出するためである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明の特徴は、基材上に互いに電気的に接続された複数の位置ズレ検査ランドを形成する工程と、それぞれの前記位置ズレ検査ランド上に絶縁性の位置ズレ検査パターンを印刷により形成する工程と、加圧導電ゴムを介してそれぞれの前記位置ズレ検査ランドに導通検査用端子を押し付ける工程とを有しており、前記導通検査用端子間の導通状態の有無により前記位置ズレ検査ランドに対する前記位置ズレ検査パターンの位置ズレの有無を検査するプリント配線基板の検査方法にある。
【0016】
ここで、前記位置ズレ検査パターンはソルダーレジストパターンであることができる。この場合、前記位置ズレ検査ランドは円形であり、前記ソルダーレジストパターンは前記位置ズレ検査ランドよりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であることが好ましい。
【0017】
あるいは、前記位置ズレ検査パターンはマーキング位置ズレ検査パターンであることができる。この場合、ソルダーレジストの円形開口により前記位置ズレ検査ランドの中央上面が露出しており、前記マーキング位置ズレ検査パターンが前記位置ズレ検査ランドの露出面上に形成されていることが好ましい。さらに、前記マーキング位置ズレ検査パターンは前記円形開口よりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であるが好ましい。
【0018】
さらに、上記したいずれの場合でも、前記複数の位置ズレ検査ランドは、2個の位置ズレ検査ランドであることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向に配列していることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向およびこれと直角方向に配列していることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、4個以上の位置ズレ検査ランドがマトリックス状に配列していることができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面を本発明を説明する。図1は本発明の第1の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法を示す図である。
【0020】
図2は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドを形成した状態を示す図であり、図2(A)は平面図、図2(B)は図2(A)のB−B部における断面図である。
【0021】
図3は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、図3(A)は平面図、図3(B)は図3(A)のB−B部における断面図である。また、図4は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが規格値を越えた位置ズレの状態で形成した場合を示す図であり、図4(A)は平面図、図4(B)は図4(A)のB−B部における断面図である。
【0022】
先ず、図2を参照して、基材1の表面に導体層を堆積し、導体層による回路パターンを基材1の製品形成部100(図9)にマスクを用いて形成する。この際に、同じマスクを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対の位置ズレ検査ランド2A,2Bを形成する。尚、板捨部とは、プリント配線基板の完成後、あるいは所定の製造工程後に本来のプリント配線基板である製品形成部から切り離して廃棄しても良い箇所である。
【0023】
位置ズレ検査ランド2A,2Bの形状は円形である事が、360度の全ての方向における位置ズレを検査することができるから望ましく、またその直径Dは1.0mm以上、2.0mm以下であることが実用上好ましい。
【0024】
また、位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとは接続部3により電気的に接続されている。接続部3は位置ズレ検査ランド2A,2Bと同じマスクで形成される場合、すなわち同じ膜厚で形成される場合は、位置ズレ検査ランド2Aの図で左側および位置ズレ検査ランド2Bの図で右側を位置ズレの際になるべく露出できるように、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの直径Dの1/5以下であることが好ましい。他方、その形成を確実にするために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの直径Dの1/10以上であることが好ましい。
【0025】
しかし接続部3は位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとを電気的に接続するだけのために存在しているのであるから、他の工程において位置ズレ検査ランド2A,2Bよりも薄い導電膜で形成する場合はその平面形状は任意である。
【0026】
次に、図3において、基材1の製品形成部100(図9)にソルダーレジスト層のパターンをスクリーンを用いて印刷する。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対のソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bを印刷する。またこの際に、接続部3もソルダーレジストの接続部被覆パターン5により被覆される。
【0027】
したがって、製品形成部における回路パターンとソルダーレジスト層パターンとの位置ズレ関係は、捨板部における位置ズレ検査ランド2A,2Bとソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bとの位置ズレ関係と同じある。
【0028】
また、ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの外周より各方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Mだけ大きい面積となっている。すなわち、ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bの平面形状は、直径がD+2Mの円形である。
【0029】
図3は位置ズレが全然ない状態である。しかし、図4は位置ズレ検査ランド2A,2Bに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bが、図で左方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Mを越えて位置ズレを生じた状態であり、このために位置ズレ検査ランド2A,2Bの図で右側の上面、側面の部分がソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bから露出した露出表面6A,6Bとなっている。
【0030】
次に、図1を参照してソルダーレジストパターン位置ズレ検査方法を説明する。導通検査用基板7には位置ズレ検査ランドよりも大きい面積(底面積)を有する導通検査用端子9A,9Bが位置ズレ検査ランド2A,2Bのそれぞれに対向して設けられており、加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2A,2Bに押し付けられる。
【0031】
図1および図4に示すように、位置ズレ検査ランド2Aに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Aが許容値(ズレ規格値)M以上に図で左方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2Aの図で右側はソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Aにより被覆されない露出表面6Aとなっている。したがって、導通検査用端子9Aが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2Aに電気的に接続される。
【0032】
同様に、位置ズレ検査ランド2Bに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Bが許容値(ズレ規格値)M以上に図で左方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2Bの図で右側はソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Bにより被覆されない露出表面6Bとなっている。したがって、導通検査用端子9Bが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2Bに電気的に接続される。
【0033】
そして、位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとは接続部3により電気的に接続されているから、図1(図4)の場合は、導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが導通状態となる。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0034】
他方、図3のように位置ズレが無い場合、あるいは位置ズレが規格値M以下の場合は、位置ズレ検査ランド2A,2Bの全ての箇所がソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bによって被覆されているから、導通検査用端子9A,9Bが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2A,2Bに電気的に接続されない。したがって図3の場合は、導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが非導通状態となる。この非導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0035】
図5は本発明の第2の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるマーキングの位置ズレ検査方法を示す図である。
【0036】
図6は第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドおよびソルダーレジスト層4によるソルダーレジストパターンを形成した状態を示す図であり、図6(A)は平面図、図6(B)は図6(A)のB−B部における断面図である。
【0037】
図7は第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してマーキング位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、図7(A)は平面図、図7(B)は図7(A)のB−B部における断面図である。
【0038】
先ず、図6を参照して、基材1の表面に導体層を堆積し、導体層による回路パターンを基材1の製品形成部100(図9)にマスクを用いて形成する。この際に、同じマスクを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対の位置ズレ検査ランド2C,2Dを形成する。
【0039】
位置ズレ検査ランド2C,2Dの形状は円形である事が、360度の全ての方向における位置ズレを検査することができるから望ましく、またその直径Dは1.0mm以上、2.0mm以下であることが実用上好ましい。
【0040】
また、位置ズレ検査ランド2Cと位置ズレ検査ランド2Dとは接続部3により電気的に接続されている。接続部3は位置ズレ検査ランド2C,2Dと同じマスクで形成される場合、すなわち同じ膜厚で形成される場合は、位置ズレ検査ランド2Cの図で左側および位置ズレ検査ランド2Dの図で右側をなるべく露出させるために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの直径Dの1/5以下であることが好ましい。他方、その形成を確実にするために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの直径Dの1/10以上であることが好ましい。
【0041】
しかし接続部3は位置ズレ検査ランド2Cと位置ズレ検査ランド2Dとを電気的に接続するだけのために存在しているのであるから、他の工程において位置ズレ検査ランド2C,2Dよりも薄い導電膜で形成する場合はその平面形状は任意である。
【0042】
また、基材1の製品形成部100(図9)にソルダーレジスト層4をスクリーンを用いて印刷する。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)にソルダーレジスト4のパターンを形成する。このソルダーレジスト4のパターンには位置ズレ検査ランド2C,2Dの周辺部を除く中央部を露出する開口11がそれぞれ形成されている。また、このソルダーレジスト4により接続部3も被覆される。
【0043】
次に、図7において、基材1の製品形成部100(図9)に絶縁層によるマーキングを印刷により行う。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対のマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dを印刷する。したがって、製品形成部においてマーキングされたマークとソルダーレジスト層パターンとの位置ズレ関係は、捨板部における位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口露出部の位置とマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dとの位置ズレ関係と同じある。
【0044】
また、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口露出部の外周より各方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Nだけ大きい面積となっている。すなわち、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dの平面形状は、開口11の直径+2Nの直径の円形である。図7は位置ズレが全然ない状態である。
【0045】
しかし、図5はマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dが図で右方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Nを越えて位置ズレを生じた状態であり、このために位置ズレ検査ランド2C、2Dの図で左側の上面部分がマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dから露出した露出表面6C、6Dとなっている。
【0046】
次に、図5を参照してマーキング位置ズレ検査方法を説明する。導通検査用基板7には位置ズレ検査ランドよりも、すなわち、位置ズレ検査ランドの中央露出部よりも大きい面積(底面積)を有する導通検査用端子9C,9Dが位置ズレ検査ランド2C,2Dのそれぞれに対向して設けられており、加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C,2Dに押し付けられる。
【0047】
図5に示すように、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dがズレ規格値(ズレ許容値)N以上に図で右方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2C、Dの図で左側はマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dにより被覆されない露出表面6C、6Dとなっている。したがって、導通検査用端子9C、Dが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C、2Dにそれぞれに電気的に接続され、接続部3を通して導通検査用端子9Cと導通検査用端子Dとが導通状態となる。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0048】
一方、図7のように位置ズレが無い場合、あるいは位置ズレが規格値N以下の場合は、位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口11内の全ての箇所が絶縁性のマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dにより被覆されているから、導通検査用端子9C,9Dが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C,2Dに電気的に接続されない。したがって図7の場合は、導通検査用端子9Cと導通検査用端子9Dとが非導通状態となる。この非導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0049】
図8はそれぞれ別の実施の形態を示す平面図である。第1および第2の実施の形態では、一対の(2個の)位置ズレ検査ランドを用いた場合を例示した。しかし本発明は、図8に示すように3個以上の位置ズレ検査ランドを用いることもできる。
【0050】
すなわち、図8(A)は、3個の位置ズレ検査ランド2E,2F,2Gを一方向に配列し、その間を接続部3で接続した場合である。
【0051】
図8(B)は、位置ズレ検査ランド2Iに対して位置ズレ検査ランド2Jを一方向に配列しその間を接続部3で接続し、位置ズレ検査ランド2Iに対して位置ズレ検査ランド2Hを一方向とは直角方向に配列しその間を接続部3で接続した場合である。
【0052】
図8(C)は、マトリックス状に位置ズレ検査ランド2K,2L,2M,2N,2P,2Qを配列し、一方向を接続部3で接続し、中央の位置ズレ検査ランド2Lと位置ズレ検査ランド2Pとを接続部3で接続した場合である。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複数の位置ズレ検査ランドを用いることにより、ランド間の電気導通検査のみで、如何なる位置ズレ及び印刷層の形成有無に対しても位置ズレ検出が可能となる。このとき位置ズレ検出用端子の構造は配線板側の検査ランドに対応する位置ズレ検査端子を治具側に作成するという簡易構造にて位置ズレ検査が可能となり、従来法のような位置ズレ検査端子側の複雑な構造が不要となる。
【0054】
また、マーキング位置ズレ検査用ランドの外周部を例えばソルダーレジストにて被覆する構造を有することから、ランド外周の露出部による検査誤検出不具合を防止できる。
【0055】
そして、検査用ランド上に形成するソルダーレジストやマーキングの印刷層は、位置ズレ規格値に対応する円形状とすることで、製品内に形成する印刷層に位置ズレがある場合には検査用ランド側は同様の位置ズレを示し、検査ランド側に導体が露出した際に複数のランド間にて導通検出が得られるため、規格値を満たさない印刷精度を有する製品を電気的に検出することが可能となる。
【0056】
さらに、印刷難易度高い検査ランド外周部をソルダーレジストによる被覆構造とすることにより、検査ランドの導体厚に左右されずに安定的な印刷層を形成することが可能であるため、位置ズレ検査時の外周部露出による誤検査が無く、従来法の不具合を解消できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法を示す図である。
【図2】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドを形成した状態を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図3】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図4】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが規格値を越えた位置ズレの状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるマーキングの位置ズレ検査方法を示す図である。
【図6】第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドおよびソルダーレジストパターンを形成した状態を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図7】第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してマーキング位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図8】他の実施の形態をそれぞれ示す平面図である。
【図9】プリント配線基板の基材のレイアウトの概要を示す図である。
【図10】従来技術の位置ズレ検査方法を示す図である。
【符号の説明】
1 基材
2A,2B,2C,2D,2E,2F,2G,2H,2I,2J,2K,2L,2M,2N,2P、2Q 位置ズレ検査ランド
3 接続部
4 ソルダーレジスト層
4A,4B ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン
5 接続部被覆パターン
6A,6B,6C,6D 露出表面
7 導通検査用基板
8 加圧導電ゴム
9A,9B,9C,9D 導通検査用端子
11 開口
12C,12D マーキング位置ズレ検査パターン
22 位置ズレ検査ランド
24 位置ズレ検査パターン
27 導通検査用基板
28 加圧導電ゴム
29A 導通検査用中心端子
29B 導通検査用周辺端子
100 製品形成部
200 捨板部
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント配線基板の検査方法に係わり、特にプリント配線基板におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法やマーキングの位置ズレ検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
プリント配線基板におけるソルダーレジストの位置ズレ検査やマーキングの位置ズレ検査に関する従来のピンヘッド式の電気検査は、ソルダーレジスト及びマーキング位置が規格内にあるか否かを検出することは検査治具の構造上対応が難しく、目視検査によるソルダーレジスト及びマーキングの位置ズレ検査は多大な工数を要する。また、人による検査の為、確認ミス及び不具合品の流出が懸念される。
【0003】
一方、加圧導電ゴムを使用する検査治具の場合、検査パッド部全面に対し一部に導体部分があれば電気検出をすることが可能であるため、この利点を利用し位置ズレ検出用パッドを追加することにより位置ズレ検出をすることが可能である。このために図10に示す加圧導電ゴムを用いた検査方法が特開2000−244097号公報に開示されている。
【0004】
尚、加圧導電ゴムとは、ゴム中に数十μm程度の金属微粒子を分散した導電ゴムで、通常は絶縁状態であるが、圧力を加えるとその部分の金属微粒子の密度が高くなり、部分的に加圧方向のみ通電が可能となる特性を有するものである。
【0005】
図10において、基材1の製品形成部100(図9)に回路パターンを形成する際にその外側の領域である捨板部200(図9)に位置ズレ検査ランド22を形成し、製品形成部にソルダーレジストのパターンを印刷する際に、同時に捨板部に位置ズレ検査パターン24を印刷する。あるいは、製品形成部にマーキングを印刷する際に、同時に捨板部に位置ズレ検査パターン24を印刷する。したがって製品形成部における印刷のズレがそのまま位置ズレ検査パターン24の位置ズレとなる。
【0006】
一方、導通検査用基板27には導通検査用中心端子29Aとその周辺に複数の導通検査用周辺端子29B,29Cが設けられており、加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に対して加圧する。
【0007】
位置ズレ検査ランド22に対して位置ズレ検査パターン24が所定の位置に形成されているときは、位置ズレ検査ランド22の全周辺を位置ズレ検査パターン24が被覆しているから、位置ズレ検査パターン24の中央開口に位置ズレ検査ランド22の上面が露出しているだけである。
【0008】
この場合は、導通検査用中心端子29Aが加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続されるが、周辺の複数の導通検査用周辺端子29B,29Cのいずれもが位置ズレ検査ランド22に接続されない。したがって、導通検査用中心端子29Aは周辺の複数の導通検査用周辺端子29B,29Cのいずれとも導通しない。この導通しない状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0009】
他方、図10に示すように、位置ズレ検査ランド22に対して位置ズレ検査パターン24が許容値(ズレ規格値)以上に図で左方向にズレているときは、位置ズレ検査ランド22の図で右側は位置ズレ検査パターン24により被覆されずに露出している。
【0010】
この場合は、導通検査用中心端子29Aが加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続され、かつ、導通検査用周辺端子29Bも加圧導電ゴム28を介して位置ズレ検査ランド22に接続される。したがって、導通検査用中心端子29Aは導通検査用周辺端子29Bと導通する。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
(1):以上の説明した従来技術によりソルダーレジスト及びマーキングの位置ズレを検査する場合、従来のピンヘッドによる方式では、検査部先端端子部のみでのパッド部との接続であり、位置精度が規格値範囲内にあるか否かの判定は不可能である。また、加圧導電ゴムを使用する場合においても、検査対象基板の実装パッド部を検査する際には、実装するパッド部に導体露出が一部あれば、検査では電気的に導通することから良品として検出するという欠点がある。
【0012】
(2):一方。図10に示す従来技術では、導通検査用基板側(検査治具側)の検査端子として外周端子複数本備えている構造又はさらに中心端子として1端子追加される構造となり、検査用端子構造が複雑化される欠点を有する。
【0013】
(3):さらに、図10に示す従来技術では、必然的に大きくなるズレ検査用ランドの上部に形成される印刷層は、規格値相当分大きい径の印刷層を形成する必要があり、外層導体厚が厚い検査対象基板に対し、印刷層の安定的な形成が困難である。又は印刷層を形成する工法に制限が生じる。この為、位置ズレの無い検査対象基板の導通検査においてもズレ検査用ランドの外周から導通が生じる欠点を有する。
【0014】
上記した問題点(1)を生じる理由は、上記(1)記述の通り、電気的導通検査のみの良否判定となるためである。上記した問題点(2)を生じる理由は、位置ズレを有する基板の電気導通を得る手段が、中心端子と外周端子の2点間による電気導通となる為、複数本の端子配置が必要となるためである。上記した問題点(3)を生じる理由は、位置ズレ検査用ランドの導体厚は検査対象基板の導体層と同時に作成されるものであり同様の導体厚となる。導体厚が厚く仕上がる配線板において、上記(3)記述の通り、位置ズレ検査用ランドに対し規格値相当分大きい径の印刷層を形成する場合、ランド上部以外の位置にある印刷層は検査ランド周囲の基材上に形成されるか若しくは、ランド上部のみでの印刷層形成となり、検査パッド外周部が露出するためである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明の特徴は、基材上に互いに電気的に接続された複数の位置ズレ検査ランドを形成する工程と、それぞれの前記位置ズレ検査ランド上に絶縁性の位置ズレ検査パターンを印刷により形成する工程と、加圧導電ゴムを介してそれぞれの前記位置ズレ検査ランドに導通検査用端子を押し付ける工程とを有しており、前記導通検査用端子間の導通状態の有無により前記位置ズレ検査ランドに対する前記位置ズレ検査パターンの位置ズレの有無を検査するプリント配線基板の検査方法にある。
【0016】
ここで、前記位置ズレ検査パターンはソルダーレジストパターンであることができる。この場合、前記位置ズレ検査ランドは円形であり、前記ソルダーレジストパターンは前記位置ズレ検査ランドよりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であることが好ましい。
【0017】
あるいは、前記位置ズレ検査パターンはマーキング位置ズレ検査パターンであることができる。この場合、ソルダーレジストの円形開口により前記位置ズレ検査ランドの中央上面が露出しており、前記マーキング位置ズレ検査パターンが前記位置ズレ検査ランドの露出面上に形成されていることが好ましい。さらに、前記マーキング位置ズレ検査パターンは前記円形開口よりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であるが好ましい。
【0018】
さらに、上記したいずれの場合でも、前記複数の位置ズレ検査ランドは、2個の位置ズレ検査ランドであることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向に配列していることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向およびこれと直角方向に配列していることができる。あるいは、前記複数の位置ズレ検査ランドとして、4個以上の位置ズレ検査ランドがマトリックス状に配列していることができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面を本発明を説明する。図1は本発明の第1の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法を示す図である。
【0020】
図2は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドを形成した状態を示す図であり、図2(A)は平面図、図2(B)は図2(A)のB−B部における断面図である。
【0021】
図3は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、図3(A)は平面図、図3(B)は図3(A)のB−B部における断面図である。また、図4は第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが規格値を越えた位置ズレの状態で形成した場合を示す図であり、図4(A)は平面図、図4(B)は図4(A)のB−B部における断面図である。
【0022】
先ず、図2を参照して、基材1の表面に導体層を堆積し、導体層による回路パターンを基材1の製品形成部100(図9)にマスクを用いて形成する。この際に、同じマスクを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対の位置ズレ検査ランド2A,2Bを形成する。尚、板捨部とは、プリント配線基板の完成後、あるいは所定の製造工程後に本来のプリント配線基板である製品形成部から切り離して廃棄しても良い箇所である。
【0023】
位置ズレ検査ランド2A,2Bの形状は円形である事が、360度の全ての方向における位置ズレを検査することができるから望ましく、またその直径Dは1.0mm以上、2.0mm以下であることが実用上好ましい。
【0024】
また、位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとは接続部3により電気的に接続されている。接続部3は位置ズレ検査ランド2A,2Bと同じマスクで形成される場合、すなわち同じ膜厚で形成される場合は、位置ズレ検査ランド2Aの図で左側および位置ズレ検査ランド2Bの図で右側を位置ズレの際になるべく露出できるように、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの直径Dの1/5以下であることが好ましい。他方、その形成を確実にするために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの直径Dの1/10以上であることが好ましい。
【0025】
しかし接続部3は位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとを電気的に接続するだけのために存在しているのであるから、他の工程において位置ズレ検査ランド2A,2Bよりも薄い導電膜で形成する場合はその平面形状は任意である。
【0026】
次に、図3において、基材1の製品形成部100(図9)にソルダーレジスト層のパターンをスクリーンを用いて印刷する。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対のソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bを印刷する。またこの際に、接続部3もソルダーレジストの接続部被覆パターン5により被覆される。
【0027】
したがって、製品形成部における回路パターンとソルダーレジスト層パターンとの位置ズレ関係は、捨板部における位置ズレ検査ランド2A,2Bとソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bとの位置ズレ関係と同じある。
【0028】
また、ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bは、位置ズレ検査ランド2A,2Bの外周より各方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Mだけ大きい面積となっている。すなわち、ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bの平面形状は、直径がD+2Mの円形である。
【0029】
図3は位置ズレが全然ない状態である。しかし、図4は位置ズレ検査ランド2A,2Bに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bが、図で左方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Mを越えて位置ズレを生じた状態であり、このために位置ズレ検査ランド2A,2Bの図で右側の上面、側面の部分がソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bから露出した露出表面6A,6Bとなっている。
【0030】
次に、図1を参照してソルダーレジストパターン位置ズレ検査方法を説明する。導通検査用基板7には位置ズレ検査ランドよりも大きい面積(底面積)を有する導通検査用端子9A,9Bが位置ズレ検査ランド2A,2Bのそれぞれに対向して設けられており、加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2A,2Bに押し付けられる。
【0031】
図1および図4に示すように、位置ズレ検査ランド2Aに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Aが許容値(ズレ規格値)M以上に図で左方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2Aの図で右側はソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Aにより被覆されない露出表面6Aとなっている。したがって、導通検査用端子9Aが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2Aに電気的に接続される。
【0032】
同様に、位置ズレ検査ランド2Bに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Bが許容値(ズレ規格値)M以上に図で左方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2Bの図で右側はソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4Bにより被覆されない露出表面6Bとなっている。したがって、導通検査用端子9Bが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2Bに電気的に接続される。
【0033】
そして、位置ズレ検査ランド2Aと位置ズレ検査ランド2Bとは接続部3により電気的に接続されているから、図1(図4)の場合は、導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが導通状態となる。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0034】
他方、図3のように位置ズレが無い場合、あるいは位置ズレが規格値M以下の場合は、位置ズレ検査ランド2A,2Bの全ての箇所がソルダーレジスト位置ズレ検査パターン4A,4Bによって被覆されているから、導通検査用端子9A,9Bが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2A,2Bに電気的に接続されない。したがって図3の場合は、導通検査用端子9Aと導通検査用端子9Bとが非導通状態となる。この非導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0035】
図5は本発明の第2の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるマーキングの位置ズレ検査方法を示す図である。
【0036】
図6は第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドおよびソルダーレジスト層4によるソルダーレジストパターンを形成した状態を示す図であり、図6(A)は平面図、図6(B)は図6(A)のB−B部における断面図である。
【0037】
図7は第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してマーキング位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、図7(A)は平面図、図7(B)は図7(A)のB−B部における断面図である。
【0038】
先ず、図6を参照して、基材1の表面に導体層を堆積し、導体層による回路パターンを基材1の製品形成部100(図9)にマスクを用いて形成する。この際に、同じマスクを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対の位置ズレ検査ランド2C,2Dを形成する。
【0039】
位置ズレ検査ランド2C,2Dの形状は円形である事が、360度の全ての方向における位置ズレを検査することができるから望ましく、またその直径Dは1.0mm以上、2.0mm以下であることが実用上好ましい。
【0040】
また、位置ズレ検査ランド2Cと位置ズレ検査ランド2Dとは接続部3により電気的に接続されている。接続部3は位置ズレ検査ランド2C,2Dと同じマスクで形成される場合、すなわち同じ膜厚で形成される場合は、位置ズレ検査ランド2Cの図で左側および位置ズレ検査ランド2Dの図で右側をなるべく露出させるために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの直径Dの1/5以下であることが好ましい。他方、その形成を確実にするために、接続部3の幅Wは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの直径Dの1/10以上であることが好ましい。
【0041】
しかし接続部3は位置ズレ検査ランド2Cと位置ズレ検査ランド2Dとを電気的に接続するだけのために存在しているのであるから、他の工程において位置ズレ検査ランド2C,2Dよりも薄い導電膜で形成する場合はその平面形状は任意である。
【0042】
また、基材1の製品形成部100(図9)にソルダーレジスト層4をスクリーンを用いて印刷する。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)にソルダーレジスト4のパターンを形成する。このソルダーレジスト4のパターンには位置ズレ検査ランド2C,2Dの周辺部を除く中央部を露出する開口11がそれぞれ形成されている。また、このソルダーレジスト4により接続部3も被覆される。
【0043】
次に、図7において、基材1の製品形成部100(図9)に絶縁層によるマーキングを印刷により行う。この際に、同じスクリーンを用いて基材1の捨板部200(図9)に一対のマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dを印刷する。したがって、製品形成部においてマーキングされたマークとソルダーレジスト層パターンとの位置ズレ関係は、捨板部における位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口露出部の位置とマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dとの位置ズレ関係と同じある。
【0044】
また、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dは、位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口露出部の外周より各方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Nだけ大きい面積となっている。すなわち、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dの平面形状は、開口11の直径+2Nの直径の円形である。図7は位置ズレが全然ない状態である。
【0045】
しかし、図5はマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dが図で右方向に位置ズレ規格値(位置ズレ許容値)Nを越えて位置ズレを生じた状態であり、このために位置ズレ検査ランド2C、2Dの図で左側の上面部分がマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dから露出した露出表面6C、6Dとなっている。
【0046】
次に、図5を参照してマーキング位置ズレ検査方法を説明する。導通検査用基板7には位置ズレ検査ランドよりも、すなわち、位置ズレ検査ランドの中央露出部よりも大きい面積(底面積)を有する導通検査用端子9C,9Dが位置ズレ検査ランド2C,2Dのそれぞれに対向して設けられており、加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C,2Dに押し付けられる。
【0047】
図5に示すように、マーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dがズレ規格値(ズレ許容値)N以上に図で右方向にズレているから、位置ズレ検査ランド2C、Dの図で左側はマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dにより被覆されない露出表面6C、6Dとなっている。したがって、導通検査用端子9C、Dが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C、2Dにそれぞれに電気的に接続され、接続部3を通して導通検査用端子9Cと導通検査用端子Dとが導通状態となる。この導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0048】
一方、図7のように位置ズレが無い場合、あるいは位置ズレが規格値N以下の場合は、位置ズレ検査ランド2C,2Dの開口11内の全ての箇所が絶縁性のマーキング位置ズレ検査パターン12C,12Dにより被覆されているから、導通検査用端子9C,9Dが加圧導電ゴム8を介して位置ズレ検査ランド2C,2Dに電気的に接続されない。したがって図7の場合は、導通検査用端子9Cと導通検査用端子9Dとが非導通状態となる。この非導通状態は、例えばそれぞれの端子に接続する外部端子により確認検査することができる。
【0049】
図8はそれぞれ別の実施の形態を示す平面図である。第1および第2の実施の形態では、一対の(2個の)位置ズレ検査ランドを用いた場合を例示した。しかし本発明は、図8に示すように3個以上の位置ズレ検査ランドを用いることもできる。
【0050】
すなわち、図8(A)は、3個の位置ズレ検査ランド2E,2F,2Gを一方向に配列し、その間を接続部3で接続した場合である。
【0051】
図8(B)は、位置ズレ検査ランド2Iに対して位置ズレ検査ランド2Jを一方向に配列しその間を接続部3で接続し、位置ズレ検査ランド2Iに対して位置ズレ検査ランド2Hを一方向とは直角方向に配列しその間を接続部3で接続した場合である。
【0052】
図8(C)は、マトリックス状に位置ズレ検査ランド2K,2L,2M,2N,2P,2Qを配列し、一方向を接続部3で接続し、中央の位置ズレ検査ランド2Lと位置ズレ検査ランド2Pとを接続部3で接続した場合である。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、複数の位置ズレ検査ランドを用いることにより、ランド間の電気導通検査のみで、如何なる位置ズレ及び印刷層の形成有無に対しても位置ズレ検出が可能となる。このとき位置ズレ検出用端子の構造は配線板側の検査ランドに対応する位置ズレ検査端子を治具側に作成するという簡易構造にて位置ズレ検査が可能となり、従来法のような位置ズレ検査端子側の複雑な構造が不要となる。
【0054】
また、マーキング位置ズレ検査用ランドの外周部を例えばソルダーレジストにて被覆する構造を有することから、ランド外周の露出部による検査誤検出不具合を防止できる。
【0055】
そして、検査用ランド上に形成するソルダーレジストやマーキングの印刷層は、位置ズレ規格値に対応する円形状とすることで、製品内に形成する印刷層に位置ズレがある場合には検査用ランド側は同様の位置ズレを示し、検査ランド側に導体が露出した際に複数のランド間にて導通検出が得られるため、規格値を満たさない印刷精度を有する製品を電気的に検出することが可能となる。
【0056】
さらに、印刷難易度高い検査ランド外周部をソルダーレジストによる被覆構造とすることにより、検査ランドの導体厚に左右されずに安定的な印刷層を形成することが可能であるため、位置ズレ検査時の外周部露出による誤検査が無く、従来法の不具合を解消できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるソルダーレジストの位置ズレ検査方法を示す図である。
【図2】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドを形成した状態を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図3】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図4】第1の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してソルダーレジスト位置ズレ検査パターンが規格値を越えた位置ズレの状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態として、1層構造の片面板形成方法におけるマーキングの位置ズレ検査方法を示す図である。
【図6】第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドおよびソルダーレジストパターンを形成した状態を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図7】第2の実施の形態において位置ズレ検査ランドに対してマーキング位置ズレ検査パターンが位置ズレが無い状態で形成した場合を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)のB−B部における断面図である。
【図8】他の実施の形態をそれぞれ示す平面図である。
【図9】プリント配線基板の基材のレイアウトの概要を示す図である。
【図10】従来技術の位置ズレ検査方法を示す図である。
【符号の説明】
1 基材
2A,2B,2C,2D,2E,2F,2G,2H,2I,2J,2K,2L,2M,2N,2P、2Q 位置ズレ検査ランド
3 接続部
4 ソルダーレジスト層
4A,4B ソルダーレジスト位置ズレ検査パターン
5 接続部被覆パターン
6A,6B,6C,6D 露出表面
7 導通検査用基板
8 加圧導電ゴム
9A,9B,9C,9D 導通検査用端子
11 開口
12C,12D マーキング位置ズレ検査パターン
22 位置ズレ検査ランド
24 位置ズレ検査パターン
27 導通検査用基板
28 加圧導電ゴム
29A 導通検査用中心端子
29B 導通検査用周辺端子
100 製品形成部
200 捨板部
Claims (10)
- 基材上に互いに電気的に接続された複数の位置ズレ検査ランドを形成する工程と、それぞれの前記位置ズレ検査ランド上に絶縁性の位置ズレ検査パターンを印刷により形成する工程と、加圧導電ゴムを介してそれぞれの前記位置ズレ検査ランドに導通検査用端子を押し付ける工程とを有し、前記導通検査用端子間の導通状態の有無により前記位置ズレ検査ランドに対する前記位置ズレ検査パターンの位置ズレの有無を検査することを特徴とするプリント配線基板の検査方法。
- 前記位置ズレ検査パターンはソルダーレジストパターンであることを特徴とする請求項1記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記位置ズレ検査ランドは円形であり、前記ソルダーレジストパターンは前記位置ズレ検査ランドよりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であることを特徴とする請求項2記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記位置ズレ検査パターンはマーキング位置ズレ検査パターンであることを特徴とする請求項1記載のプリント配線基板の検査方法。
- ソルダーレジストの円形開口により前記位置ズレ検査ランドの中央上面が露出しており、前記マーキング位置ズレ検査パターンが前記位置ズレ検査ランドの露出面上に形成されていることを特徴とする請求項4記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記マーキング位置ズレ検査パターンは前記円形開口よりも位置ズレ規格を加味した分だけ大きい円形であることを特徴とする請求項5記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記複数の位置ズレ検査ランドは、2個の位置ズレ検査ランドであることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向に配列していることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記複数の位置ズレ検査ランドとして、3個以上の位置ズレ検査ランドが一方向およびこれと直角方向に配列していることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。
- 前記複数の位置ズレ検査ランドとして、4個以上の位置ズレ検査ランドがマトリックス状に配列していることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。
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Cited By (2)
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TWI500371B (zh) * | 2011-12-09 | 2015-09-11 | Samsung Electro Mech | 檢查記號及具有其之印刷電路板 |
CN105067982A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-11-18 | 惠州Tcl移动通信有限公司 | 引线与器件间焊点的检验装置 |
-
2002
- 2002-07-11 JP JP2002202621A patent/JP2004045194A/ja active Pending
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