JP2003526088A - 複数の端子を有する基板を電気的に検査するための装置 - Google Patents

複数の端子を有する基板を電気的に検査するための装置

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JP2003526088A
JP2003526088A JP2001510008A JP2001510008A JP2003526088A JP 2003526088 A JP2003526088 A JP 2003526088A JP 2001510008 A JP2001510008 A JP 2001510008A JP 2001510008 A JP2001510008 A JP 2001510008A JP 2003526088 A JP2003526088 A JP 2003526088A
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Abstract

(57)【要約】 複数の端子を有する基板を電気的に検査するための装置(10)が提供される。この装置は、フレームとプローブカード(14)と並進装置(16)と整合装置(18)とホルダ(20)とを含む。プローブカード(14)は、 プローブカード背面部材(28)と、プローブカード背面部材から延びる複数のプローブ(30)とを含み、フレーム(12)に固定される。並進装置はフレームに固定される。整合装置は並進装置上に配置される。ホルダは整合装置に固定され、基板を保持することができる。整合装置は、端子のうちの選ばれた端子をプローブのうちの撰ばれたプローブと整合させるために、プローブカードを通り過ぎてホルダを整合移動させるように作動可能である。並進装置は、プローブカードに向かって整合移動と直交する方向へホルダを備える整合装置を並進移動させるように作動可能である。かくして、端子のうちのそれぞれの端子をプローブのうちのそれぞれのプローブのそれぞれの接触領域と接触させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 1999年7月9日出願の米国特許仮出願第60/143,196号により優
先権を主張する。
【0002】 (技術分野) 本発明は、複数の端子を有する基板を電気的に検査するための装置に関する。
【0003】 (背景技術) パッケージ化された電子装置のウエハまたはその他のアレイなどの基板は、そ
の内部に形成された能動回路を有することが多い。最終組立て前に回路検査する
ために、基板上には電気的に接触可能な端子が形成される。これらの端子と電気
的に接触させるために、プローブカードが使用される。プローブカードは、端子
と接触させられる複数のプローブを含む。これらのプローブには電気テスタが接
続される。電気信号は電気テスタからプローブおよび端子を介して電気回路へ伝
達されることができ、あるいは信号は電気回路から端子およびプローブを介して
電気テスタへ送られることができる。
【0004】 プローブと端子とを適切に接触させるために、基板と端子とは互いに回転方向
にかつ前後左右方向に整合され、次いで互いに接近するように移動させなくては
ならない。プローブと端子の接触領域間において確実に適切な接触を行なわせる
ために、プローブカードと基板の間には力が加えられる。
【0005】 図4は、基板を整合させてプローブ検査するために使用できる装置の一例を示
し、この装置は、フレーム110と、プローブカード112と、水平方向整合台
114と、垂直方向並進台116とを含む。プローブカード112はフレーム1
10の頂部に固定されている。整合台114はフレーム110の基台上に配置さ
れ、並進台116は整合台114上に配置されている。整合台114は水平方向
に移動可能であり、並進台116は整合台114に対して垂直方向に移動可能で
ある。並進台116は一般的にねじ118を含んでおり、このねじ118の頂部
には、それに基板を固定するためのホルダ120が配置されている。
【0006】 図4に示す装置には、ねじ118が整合台114と共に水平方向に移動すると
いう問題がある。従って、ねじ118の中心軸線はプローブカード112の中心
点に対して移動可能である。並進台116が、基板をプローブカード112と接
触させるために上方方向に移動させられた時、ねじ118の中心軸線に対するプ
ローブカード112によって生じる力の不整合に起因して、モーメント122が
生じる。このモーメント122は並進台を転倒させる傾向を有する。その結果、
発生するモーメントに対抗し得るように、ねじ118は比較的大きな寸法のもの
でなくてはならない。
【0007】 (発明の開示) 本発明の一態様によると、複数の端子を有する基板を電気的に検査するための
装置が提供される。この装置は、フレームと、プローブカードと、並進装置と、
整合装置と、ホルダとを含む。プローブカードは、プローブカード背面部材と、
このプローブカード背面部材から延びる複数のプローブとを含み、フレームに固
定される。並進装置はフレームに固定される。整合装置は並進装置上に配置され
る。ホルダは整合装置に固定され、基板を保持することができる。整合装置は、
端子のうちの選ばれた端子をプローブのうちの撰ばれたプローブと整合させるた
めに、プローブカードを通り過ぎてホルダを整合移動させるように作動可能であ
る。並進装置は、プローブカードに向かって整合移動と直交する方向へホルダを
備える整合装置を並進移動させるように作動可能である。かくして、端子のうち
のそれぞれの端子をプローブのうちのそれぞれのプローブのそれぞれの接触領域
と接触させる。
【0008】 (発明を実施するための最良の形態) 添付図面を参照しながら、実施例によって、本発明を更に説明する。添付図面
中の図1は、本発明の実施形態による、複数の端子を有する基板を電気的に検査
するための装置10を示す。装置10は、フレーム12とプローブカード14と
並進装置16と整合装置18とホルダ20とを含む。 フレーム12は、基台22と柱24と上方プローブカード支持構造26とを含
む。基台22は水平面上に設置され、柱24は基台22に固定され、そこから上
方へ延びている。上方プローブカード支持構造26は柱24の上端部に固定され
、それらの間に位置している。
【0009】 プローブカード14は、プローブカード背面部材28と、このプローブカード
背面部材28に固定された複数のプローブ30とを含む。プローブカード背面部
材28は、上方プローブカード支持構造26に適所で固定され、プローブ30が
プローブカード背面部材から下向きに延びている。 並進装置16は、並進台34と案内ピン36と案内軸受38と荷重付与装置4
0とを含む。 各案内ピン36は基台22に固定され、そこから上方へ延びる。各案内軸受3
8は並進台34に固定される。各案内軸受38はそれぞれの案内ピン36の上方
に配置される。並進台34は上下並進方向42に移動可能であり、この時案内ピ
ン36は案内軸受38内で摺動し、並進台34の移動を並進方向42に限定する
【0010】 荷重付与装置40は、小型電動機46とねじ48とナット50と結合梁52と
を含む。電動機46は基台22に固定され、ねじ48は電動機46によって回転
させられるように、電動機46に結合される。ねじ48にはナット50が螺合す
る。ナット50とねじ48は、互いに螺合するねじ部を有する。ナット50は結
合梁52により並進台34に結合される。ねじ48の回転は、ナット50内側の
ねじ部内でねじ48のねじ部を回転させる。ナット50は並進台34に対して回
転不能に固定されており、ねじ48が回転する時、並進方向42へ上下に移動す
る。ナット50の移動は結合梁52を介して並進台34に伝えられるから、ねじ
48が回転する時、並進台34は並進方向42へ移動する。ねじ48は両方向へ
回転することができ、並進台34を並進方向42において上下に移動させること
ができる。
【0011】 図2を参照すると、ここには並進台34上に配置された整合装置18をさらに
詳細に示している。整合装置18は、水平方向の整合のために使用されるソーヤ
モータ56と、回転方向の整合のために使用される回転台58とを含む。 ソーヤモータ56は、並進台34上に配置されたソーヤプラテン60と、この
ソーヤプラテン60上に配置されたソーヤフォーサ62とを含む。ソーヤモータ
は当技術においては良く知られており、カルフォルニア州サンタクララにあるE
lectgroglas社のウエハプローブ検査器のような半導体ウエハプロー
ブ検査器用のX−Y台に使用されている。ソーヤフォーサ62は、ソーヤフォー
サ62とソーヤプラテン60との間に配置された空気ベアリング上に乗っており
、基板のための整合台として働く。ソーヤプラテン60およびソーヤフォーサ6
2に配置された磁石および電磁石66の形態を有する位置決めアクチュエータが
設けられている。これらの磁石および電磁石66は、作動時に、ソーヤフォーサ
62がソーヤプラテン60の上方で整合方向68および70に直交する方向へ移
動するように、ソーヤプラテン60とソーヤフォーサ62との間の結合をもたら
す。ソーヤモータに関するその他の詳細は当業者には明らかであろう。 回転台58はソーヤフォーサ62上に配置され、矢印72の方向へ回転可能で
ある。電動機74が回転台58を矢印72の方向へ回転させる。
【0012】 次に、図1、図2、図3aから図3dを参照しながら、装置10の動作につい
て説明する。その上に設けられた複数の端子78を有する基板76が、ホルダ2
0上に置かれる。ホルダ20は、基板76を保持する、例えば真空チャックとす
ることができる。図3aに示す如く、端子78とプローブ30とは最初は整合し
ていない可能性がある。図3bに示す如く、回転台58を回転させることにより
、基板76は典型的には矢印72の方向へ回転させられる。従って、基板76は
、基板76の平面と直交する軸線の周りで回転させられる。その時、プローブ3
0は端子78の列と平行な列を成して位置しているという意味においては端子7
8とプローブ30は回転方向に整合されているが、プローブ30は未だ端子78
の上方には位置していないであろう。
【0013】 図3cに示すように、次にソーヤフォーサ62をソーヤプラテン60上で移動
させることにより、基板76は矢印70の方向および矢印68の方向へ移動させ
られる。かくして、プローブ30の各プローブは端子78のそれぞれの端子の上
方に位置することになる。 次に、電動機46が作動して、並進台34とソーヤモータ56と回転台58と
ホルダ20と基板76とを、プローブカード14に向かって矢印42の方向へ移
動させる。それにより、端子78の各端子はプローブ30のそれぞれのプローブ
の接触領域80と接触させられる。適切な接触が確実に得られるようにするため
に、基板76は矢印42の方向へ更に移動させられ、それによってプローブ30
を撓ませる。この撓みの故に、プローブ30によって基板76に力が加えられる
。この力はねじ48によって支えられる。
【0014】 ねじ48は常にプローブカード14の真下に位置するという点に注目されたい
。プローブ30による力は下向きであって、ねじ48の中心軸線と正しく整合し
ている。この力がねじ48の中心軸線と整合していないと、モーメントが生じて
並進台34を転倒させる傾向になるであろう。しかしながら、プローブ30の力
はねじ48の中心軸線と整合させてあるから、モーメントは全く生じない。プロ
ーブカード14がねじ48の真上に位置しているからモーメントは全く発生しな
いけれども、図3cに示すように、並進台34の頂部に設けられたソーヤフォー
サ62の形態の整合台を使用することにより、更なる位置調整が可能であること
に注目されたい。整合を僅かにずらすことによって実質的に同じ利点が達成でき
る。
【0015】 並進ねじがプローブカードに対して整合していないが故にモーメントが生じる
先行技術の装置は、はるかに大きな並進ねじと電動機とを必要とする。この実施
形態において生じるモーメントに対抗するためには、大きな並進ねじが必要であ
る。これに較べて、図1に示す実施形態においては、モーメントが全く生じない
から、非常に小さな電動機46と並進ねじ48とが使用される。案内ピン36と
案内軸受38とを含む線形軸受を使用することにより、全体的な剛性は保証され
る。
【0016】 いくつかの例示的な実施形態について説明し、かつ添付図面に図示したが、そ
れらの実施形態は単に例示的なものであって、本発明を限定するものではないと
いうこと、また当業者にとって種々の変更が可能であるから、本発明は以上に述
べかつ図面に示した特定の構造や配置に限定されるものではないことを理解され
たい。従って、本発明の技術的範囲と技術思想から逸脱することなく、他の実施
形態も可能である。例えば、別の実施形態として、ソーヤモータ56をガントリ
整合装置のような別の水平整合装置で置き換えることも可能である。ガントリ整
合装置は、1組の平行レールと、第3のレールと、支持部材とを含むことができ
る。1組の平行レールは2つの取付ブロックの間に固定される。第3のレールは
1組の平行レールと直交して延び、これら平行レールの間に固定される。第3の
レールは1組の平行レールに沿って移動可能である。支持部材は第3のレールに
固定され、その長手方向に移動可能である。このような装置は基板のX−Y位置
決めのために使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態による、複数の端子を有する基板を電気的に検査するため
の装置の側面図である。
【図2】 図1に示す装置の構成要素の斜視図である。
【図3a】 図1に示す装置を用いて互いに接触させなくてはならない基板と端子の斜視図
である。
【図3b】 基板が回転させられた後の、図3aと同様な図である。
【図3c】 各端子が各プローブの真下に配置されるように基板が移動された後の、図3b
と同様な図である。
【図3d】 各端子がプローブのうちのそれぞれのプローブのそれぞれの接触領域と接触す
るように基板が上方方向へ移動された後の、図3cと同様な図である。
【図4】 先行技術による、基板を電気的に検査するための装置の側面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/66 H01L 21/68 K 5F031 21/68 G01R 31/28 K (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG ,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD, RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT, AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,C H,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM,DZ ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH,GM, HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,KE,K G,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS,LT ,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN,MW, MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD,S E,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR,TT ,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU,ZA,ZW Fターム(参考) 2G003 AA10 AG03 AG04 AG20 AH00 2G011 AA02 AA17 AC21 AE03 AF07 2G014 AA01 AB59 AC00 AC10 2G132 AA00 AE01 AF02 AF07 AL00 4M106 AA01 BA01 BA14 DD10 DJ03 DJ04 DJ06 DJ07 5F031 CA02 HA13 HA53 HA57 HA58 KA06 KA08 LA04 LA07 MA33

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の接触領域を有する基板を電気的に検査するための装置
    であって、 フレームと、 プローブカード背面部材と、該プローブカード背面部材上の複数の接触領域と
    を含み、前記フレームに固定されたプローブカードと、 前記フレームに固定された並進装置と、 並進装置によって担持された整合装置と、 該整合装置に固定され、前記基板を保持することができるホルダと、を含み、 (i)前記整合装置は、前記接触領域のうちの選ばれた接触領域をプローブの
    うちの選ばれたプローブと整合させるために、前記プローブカードを通り過ぎて
    ホルダを整合移動させるように作動可能であり、 (ii)前記並進装置は、前記接触領域のうちのそれぞれの接触領域を接触領
    域と接触させるために、前記プローブカードに向かって前記整合移動と直交する
    方向へ前記ホルダを備える前記整合装置を並進移動させるように作動可能である
    、 ことを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】 前記整合装置は、少なくとも第1の整合方向と該第1の整合
    方向と直交する第2の整合方向とに、前記ホルダを移動させるように作動可能で
    あることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記整合装置は、前記基板の平面と直交する軸線の周りで前
    記ホルダを回転させるように作動可能であることを特徴とする、請求項2に記載
    の装置。
  4. 【請求項4】 前記ホルダと前記プローブカードが、前記基板の平面と直交
    する軸線の周りで互いに対して回転可能であることを特徴とする、請求項1に記
    載の装置。
  5. 【請求項5】 前記整合装置が整合移動を行ない、他方、前記並進装置と前
    記プローブカードが整合方向において互いに対して静止状態を維持することがで
    きることを特徴とする、請求項2に記載の装置。
  6. 【請求項6】 前記並進装置は、 前記整合装置がその上に配置された並進台と、 該並進台と前記フレームとの間に結合され、前記フレームに対して前記並進台
    を並進移動させるように作動可能である荷重付与装置と、 を含むことを特徴とする、請求項1に記載の装置。
  7. 【請求項7】 前記並進装置は、 少なくとも1つの案内軸受と、 各案内軸受内の案内ピンと、を含み、 前記案内軸受と前記案内ピンのうちの1方が前記フレームに固定され、また他
    方が前記並進台に固定されており、前記フレームに対する前記並進台の並進移動
    中に、前記案内ピンが前記案内軸受内で摺動するようにした、 ことを特徴とする、請求項6に記載の装置。
  8. 【請求項8】 複数の端子を有する基板を電気的に検査するための装置であ
    って、 フレームと、 プローブカード背面部材と、該プローブカード背面部材上の複数の接触領域と
    を含み、前記フレームに固定されたプローブカードと、 該プローブカードに向かう方向にまたそれから離れる方向に並進移動するよう
    に、前記フレームに固定された並進台と、 その作動が前記並進台の並進移動を行なわせるように、前記フレームと前記並
    進台との間に連結された荷重付与装置と、 前記並進移動と直交する方向に前記プローブカードを通り過ぎて整合移動する
    ように前記並進台によって担持された整合台と、 その作動が前記整合台の整合移動を行なわせるように、前記並進台と前記整合
    台との間を結合する位置決めアクチュエータと、 前記整合台上に配置され、前記基板を保持することができるホルダと、を含み
    、 (i)前記整合移動は、前記接触領域のうちの選ばれた接触領域を前記端子の
    うちの選ばれた端子と整合させるために、前記プローブカードを通り過ぎて前記
    整合台と前記ホルダを移動させ、 (ii)前記並進移動は、前記接触領域のうちのそれぞれの接触領域を前記端
    子のうちのそれぞれの端子のそれぞれの接触領域と接触させるために、前記プロ
    ーブカードに向かって前記並進台と前記整合台と前記ホルダを移動させる、 ことを特徴とする装置。
  9. 【請求項9】 前記荷重付与装置が、ねじ部の中で回転する時、前記並進移
    動を起こさせるねじであることを特徴とする、請求項8に記載の装置。
  10. 【請求項10】 少なくとも1つの案内軸受と、 各案内軸受内の案内ピンと、をさらに含み、 前記案内軸受と前記案内ピンのうちの1方が前記フレームに固定され、また他
    方が前記並進台に固定されており、前記フレームに対する前記並進台の並進移動
    中に、前記案内ピンが前記案内軸受内で摺動するようにした、 ことを特徴とする請求項9に記載の装置。
  11. 【請求項11】 前記位置決めアクチュエータが少なくとも1つの電磁石を
    含むことを特徴とする、請求項8に記載の装置。
  12. 【請求項12】 前記位置決めアクチュエータがソーヤモータの一部分であ
    ることを特徴とする、請求項11に記載の装置。
  13. 【請求項13】 前記ホルダと前記プローブカードが互いに対して回転可能
    であり、 前記ホルダと前記プローブカードを互いに対して回転させる回転アクチュエー
    タをさらに含む、 ことを特徴とする、請求項8に記載の装置。
  14. 【請求項14】 前記整合台上の回転台をさらに含み、 前記ホルダが回転台上に配置され、前記回転台は前記基板の平面と直交する軸
    線の周りで前記整合台に対して回転可能である、 ことを特徴とする、請求項13に記載の装置。
  15. 【請求項15】 前記回転台の回転が、前記接触領域のうちの選ばれた接触
    領域を前記端子のうちの選ばれた端子と整合させることを特徴とする、請求項1
    4に記載の装置。
  16. 【請求項16】 基板上の接触領域をプローブ検査する方法であって、 端子のうちの選ばれた端子をプローブカードの接触領域のうちの選ばれた接触
    領域と整合させるために、並進台上に配置されたホルダを整合方向に移動させる
    段階と、 前記接触領域のうちのそれぞれの接触領域を前記端子のうちのそれぞれの端子
    のそれぞれの接触領域と接触させるために、前記並進台を並進方向に移動させる
    段階と、 を含むことを特徴とする方法。
  17. 【請求項17】 前記ホルダが前記基板を保持することを特徴とする、請求
    項16に記載の方法。
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US60/143,196 1999-07-09
US09/604,859 2000-06-27
US09/604,859 US6417683B1 (en) 1999-07-09 2000-06-27 Apparatus for electrical testing of a substrate having a plurality of terminals
PCT/US2000/018445 WO2001004652A1 (en) 1999-07-09 2000-07-05 Apparatus for electrical testing of a substrate having a plurality of terminals

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