JP2003518757A - 二方向ビーム拡大を用いた狭線化レーザ - Google Patents

二方向ビーム拡大を用いた狭線化レーザ

Info

Publication number
JP2003518757A
JP2003518757A JP2001547703A JP2001547703A JP2003518757A JP 2003518757 A JP2003518757 A JP 2003518757A JP 2001547703 A JP2001547703 A JP 2001547703A JP 2001547703 A JP2001547703 A JP 2001547703A JP 2003518757 A JP2003518757 A JP 2003518757A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
beam expander
prism
directional beam
diffraction grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001547703A
Other languages
English (en)
Inventor
ウィリアム エヌ パートロ
アレクサンダー アイ アーショフ
スコット ティー スミス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Cymer Inc
Original Assignee
Cymer Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US09/470,724 external-priority patent/US6192064B1/en
Priority claimed from US09/716,041 external-priority patent/US6778584B1/en
Application filed by Cymer Inc filed Critical Cymer Inc
Publication of JP2003518757A publication Critical patent/JP2003518757A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • G03F7/70025Production of exposure light, i.e. light sources by lasers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70575Wavelength control, e.g. control of bandwidth, multiple wavelength, selection of wavelength or matching of optical components to wavelength
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/04Arrangements for thermal management
    • H01S3/0401Arrangements for thermal management of optical elements being part of laser resonator, e.g. windows, mirrors, lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/105Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
    • H01S3/1055Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length one of the reflectors being constituted by a diffraction grating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/105Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/131Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
    • H01S3/134Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation in gas lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/22Gases
    • H01S3/223Gases the active gas being polyatomic, i.e. containing two or more atoms
    • H01S3/225Gases the active gas being polyatomic, i.e. containing two or more atoms comprising an excimer or exciplex

Abstract

(57)【要約】 レーザを狭線化するための二方向ビーム拡大を備える回折格子(16)ベースの狭線化装置。好ましい実施形態において、レーザチャンバからのビームは、3プリズムのビーム拡大器(8、10、12)を使用して水平方向に拡大され、また、単一プリズム(60)を使用して垂直方向に拡大される。拡大されたビーム中の狭帯域波長は、リトロー型配列の回折格子により反射され、2つのビーム拡大器を通してレーザチャンバ内へ戻されて、増幅される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野) 本発明は、レーザに関し、特に狭線化(line narrowed)されたエキシマレー
ザに関する。本発明は、1999年12月22日出願の米国特許出願第09/4
70,724号及び2000年11月17日出願の米国特許出願第09/716
,041号の一部継続出願である。
【0002】 (背景技術) 狭帯域ガス放電レーザ 集積回路リソグラフィ用の光源として使用されるガス放電紫外レーザは、一般
的に狭線化されている。好ましい狭線化の従来技術の技法は、レーザ共振空洞を
形成するために、出力カプラと共に回折格子ベースの狭線化装置を使用すること
である。この空洞内のゲイン媒体は、クリプトン、フッ素及びネオン(KrFレ
ーザの場合)、アルゴン、フッ素及びネオン(ArFレーザの場合)、或いはフ
ッ素及びヘリウム及び/又はネオン(F2レーザの場合)のような、循環してい
るレーザガス中へ電気放電を行うことによって生成される。
【0003】 従来技術の狭線化技法 日本国特許第2,696,285号から抜粋した、そのような従来技術のシス
テムの概略図を図1に示す。図示するシステムは、出力カプラ(又はフロントミ
ラー)4、レーザチャンバ3、チャンバ窓11、及び回折格子ベースの狭線化装
置7を含む。狭線化装置7は、一般的に、簡単に交換できる装置としてリソグラ
フィ・レーザ・システムに設けられ、時に「狭線化パッケージ」又は簡略化して
「LNP」と呼ばれる。この装置は、回折されたビームが、入射ビームに向かっ
て真っ直ぐ戻って伝搬するように、リトロー型配列に配置された、2つのビーム
拡大プリズム27及び29と回折格子16とを含む。これらエキシマレーザの出
力は、一般的に、垂直方向に例えば20mmの長手方向寸法と水平方向に例えば
3mmの短辺寸法を有する四辺形になっている。従って、従来技術の設計では、
ビームは、図1に平面図で示するように、一般的に水平方向に拡大されることに
なる。
【0004】 回折格子の式 スペクトル線選択用の回折格子を利用する、別の従来技術のエキシマレーザを
、図2に示す。レーザの空洞は、出力カプラ4と、反射器及びスペクトル選択要
素としての働きをする回折格子16とによって作られる。出力カプラ4は、光の
一部分をレーザへ反射して戻し、また、レーザ出力である他の部分6を透過する
。プリズム8、10及び12は、ビーム拡大器を形成し、該ビーム拡大器は、ビ
ームが回折格子に照射される前に、ビームを水平方向に拡大する。ミラー14は
、ビームが回折格子に向かって伝搬するようにビームを舵取りするのに使用され
、従って水平入射角度を制御する。レーザの中心波長は、通常、そのミラー14
を極僅かに回転させることによって変更(調整)される。ゲイン生成は、チャン
バ3内で引き起こされる。
【0005】 回折格子16は、異なる波長を有する光を異なる角度で反射することによって
、波長選択する。レーザ内へ反射して戻されるこれらの光線のみがレーザゲイン
媒体によって増幅されることになるので、異なる波長を有する他の光線は全て失
われることになる。
【0006】 この従来技術のレーザにおける回折格子は、それが光をレーザ内へ反射して戻
す時、リトロー型配列で作用する。この配列においては、入射角α及び波長λは
、次式で関係付けられる。 2dn sinα=mλ (1) ここで、αは回折格子への入射角、mは回折次数、nはガスの屈折率、dは回折
格子の周期である。
【0007】 マイクロリソグラフィの露出レンズは、光源の色収差に対して極めて敏感なの
で、レーザは、極めて狭いスペクトル線幅を有する光を発生させることが必要と
される。例えば、最先端のエキシマレーザは、目下、半値全幅値として計測され
た場合に0.5pmレベルのスペクトル線幅を発生させており、光エネルギーの
95%が約1.5pmの範囲内に集中されている。新世代のマイクロリソグラフ
ィ露出設備は、それよりも厳しいスペクトル上の条件を必要とすることになる。
更に、極めて高精度にレーザ中心波長を維持することも極めて重要である。実際
には、0.05−0.1pmよりもさら安定した中心波長を維持することが必要
とされる。 レーザビームを更に狭線化することへの必要性が存在する。
【0008】 (発明の開示) 本発明は、狭線化レーザのための二方向ビーム拡大を備える回折格子ベースの
狭線化装置を提供する。好ましい実施形態において、レーザチャンバからのビー
ムは、3プリズムのビーム拡大器を使用して水平方向に拡大され、また、単一プ
リズムを使用して垂直方向に拡大される。拡大されたビーム中の狭帯域の波長は
、リトロー型配列の回折格子により2つのビーム拡大器を通してレーザチャンバ
内へ反射して戻され、増幅される。
【0009】 (発明を実施するための最良の形態) 本発明の好ましい実施形態は、図面を参照して説明できる。 実を言えば、背景技術の項で示した式(1)は、回折格子上に入射する全ての
ビームが垂直軸線方向に同一方向であり、この方向が回折格子溝に対して法線を
なす場合にのみ役立つ。回折格子溝は垂直方向に置かれるので、式(1)は水平
方向平面に位置するビームに対して役立つ。
【0010】 しかしながら、現実のエキシマレーザビームは、水平方向及び垂直方向の両方
向に、幾らかの開きを有する。この場合、式(1)は修正されて次式になる。 2dn sinα・cosβ=mλ (2) この式において、βは垂直方向のビーム角、残りの変数は(1)におけるのと同
一である。β=0の場合、即ち、ビームが垂直方向に全く開きを持たない場合に
は、cosβ=1であり、式(2)は式(1)になる。
【0011】 重要なことは、回折格子は垂直方向には如何なる分散特性も有しておらず、即
ち、垂直方向におけるその反射角は光の波長に依存するのではなく、むしろ入射
角に等しいことに注目することである。このことは、垂直方向においては、回折
格子面の反射ファセットが普通の鏡のように挙動していることを意味する。
【0012】 垂直方向へのビームの開きがあると、狭線化に対して著しい影響がある。式(
2)によれば、異なる垂直方向角度βは、異なるリトロー波長λに対応すること
になる。図3は、ビームの垂直方向偏差βに対するリトロー波長λの依存度を示
す。一般的な従来技術のエキシマレーザは、最大±1.0mrad(即ち、ビー
ムの開き全体で約2mrad)迄のビームの開きを有する場合がある。図3は、
1mradの垂直方向傾斜(上下方向の如何を問わず)を有して伝搬するビーム
の部分は、ビームのその部分に対して短波長方向に0.1pmだけ移動させられ
たリトロー波長を有することになることを示している。この波長の移動は、全て
のビームのスペクトルを広げることにつながる。約0.6pmのΔλFWHM帯域幅
を有する従来技術のエキシマレーザは、実質的にこの影響を被ることはない。し
かしながら、帯域幅が減少すると、この0.1pmの移動ははるかに重要になっ
てくる。マイクロリソグラフィのための新しいエキシマレーザ仕様は、約0.4
pm又はそれ以下の帯域幅を必要とすることになる。この場合、この広げる作用
を減少させることが重要になってくる。
【0013】 第1の好ましい実施形態 本発明の好ましい狭線化モジュールを、図4A、図4B及び図4Cに示す。該
狭線化モジュールは、ビームを水平方向に拡大する3つのビーム拡大プリズムと
、ビームを垂直方向に拡大する1つの追加のプリズムとを有する。
【0014】 図4Aは、平面図である。図4Bは、図4Aにおいて示される側からの側面図
である。(図4Bにおいては、プリズムは、プリズムの部分を示す四辺形として
描かれており、そこをビームの中心が通過する。)図4Cは、斜視図である。回
折格子16及びミラー14は、プリズム8、10及び12よりも高い位置にある
ことに注目されたい。拡大されたビームは、水平方向ビーム拡大平面から外れた
方向に逸れて進むことに注目されたい。その後、ビームはミラー14によって、
水平方向拡大平面に対して平行な第2の水平方向平面内に再び方向を変えられ、
該第2の水平方向面内にリトロー型配列で配置されている回折格子16の面上へ
戻される。(回折格子16は、図4Bでは線として示されており、ビームの水平
方向中心が回折格子表面と交点している。)
【0015】 好ましい実施形態においては、3つの水平方向拡大プリズムの各々は、約2.
92倍だけビームを拡大する。従って、水平方向における全ビーム拡大率は、2
.923=25倍である。垂直方向におけるビーム拡大率は、1.5倍である。
(拡大の度合は、図4B及び図4Cにおいては誇張されている。)この垂直方向
のビーム拡大は、レーザ空洞内のビームの開き、或いは、出力レーザビームの垂
直方向のビームの開きに直接的に影響を与えるのではなくて、垂直方向のビーム
拡大は、ビームが回折格子表面に照射される時にビームの垂直方向の開きを減少
させる。ビームが回折格子により反射された後、プリズム60は、ビームがプリ
ズムを通って戻る時に、ビームをその垂直方向に縮小させ、その結果、その開き
を増大させて正常に戻す。このビームが回折格子に照射される時のビームの開き
を減少させることは、波長移動の影響を減少させる結果となり、従って、よりよ
い狭線化を生じさせる。このプリズムを通過する前のビームの1mradの垂直
方向傾斜は、1mrad/1.5=0.67mradに減少される。図3によれ
ば、このことは、波長移動を0.1pmから僅か0.044pmへと減少させる
ことに相当し、次世代レーザの狭線化にとってこの影響を重大なものではないよ
うにする。
【0016】 上述した本発明の特定の実施形態のみならず、別の実施形態が多く存在するこ
とは、当業者には明らかであろう。例えば、プリズム60は、プリズム8の前に
置くことができ、或いは、プリズム8、10及び12のうちの、任意の2つの間
に置くことができる。水平方向ビーム拡大用の3つのプリズムと垂直方向ビーム
拡大用の1つのプリズムとのプリズムの組合せ以外の組合せも同様に使用するこ
とができる。幾つかある波長パラメータを実質的にリアルタイムで制御するため
の技法は、1999年9月3日出願の米国特許出願第09/390,579号及
び2000年10月31日出願の米国特許出願第09/703,317号に記載
されており、それらは本明細書に参考文献として組み込まれる。これらの技法は
、ビーム拡大プリズムの位置、回折格子の湾曲及び調整ミラーの位置を迅速にフ
ィードバック制御することを含む。レーザチャンバ位置の制御も提供される。図
6は、ヘリウムパージを使用するLNPを示す。図7は、レーザシステム全体の
組合せブロックダイアグラム概略図であり、また、図8A及び図8Bは、別のフ
ィードバック制御構造を備えたLNPを示す図である。図8の実施形態において
、回折格子の湾曲は、回折格子の湾曲用ステッパモータ30によって制御され、
回折格子面上の、高温ガス層によって引き起こされた歪みを補償する。図8A〜
図8Dの実施形態においては、回折格子82の湾曲は、7つのインバールロッド
84を介して裏当てブロック88と圧縮バネ90とに抗して作用している7つの
圧電素子86により制御される。この実施形態によれば、回折格子面の湾曲の調
整が極めて迅速に実現される。図5は、単一プリズムを使用し入射角を調整する
ことで達成できる、可能なビーム拡大係数を示す。
【0017】 本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲及びそれらの法的等価物によって画定
されなければならない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1の従来技術の狭線化されたレーザシステムを示す図である。
【図2】 第2の従来技術の狭線化されたレーザシステムを示す図である。
【図3】 垂直方向のビーム偏差の波長への影響を示すグラフである。
【図4A】 本発明の好ましい実施形態の要素を示す図である。
【図4B】 本発明の好ましい実施形態の要素を示す図である。
【図4C】 本発明の好ましい実施形態の要素を示す図である。
【図5】 1つのプリズムで可能なビーム拡大係数を示すグラフである。
【図6】 ヘリウムパージの配置を示す図である。
【図7】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
【図8】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
【図8A】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
【図8B】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
【図8C】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
【図8D】 迅速なフィードバック制御を備えたLNPを示す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 09/738,042 (32)優先日 平成12年12月15日(2000.12.15) (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF ,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW, ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ, MD,RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM, AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,B Z,CA,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK ,DM,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE, GH,GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,J P,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR ,LS,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK, MN,MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,R O,RU,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG,US,UZ, VN,YU,ZA,ZW (72)発明者 パートロ ウィリアム エヌ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 92064 ポウェイ ペドニザ ドライヴ 12634 (72)発明者 アーショフ アレクサンダー アイ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 92127 サン ディエゴ メドウ フラワ ー プレイス 11312 (72)発明者 スミス スコット ティー アメリカ合衆国 カリフォルニア州 92129 サン ディエゴ カル ジュアニ ート 15124 Fターム(参考) 5F072 AA06 JJ13 KK07 KK18 MM18 RR05 YY09

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザチャンバを画定するレーザ用の二方向ビーム拡大狭線
    化装置であって、 A) 前記レーザからのビームを第1の方向に拡大するように配置された第1
    方向ビーム拡大器と、 B) 前記ビームを第2の方向に拡大するように配置された第2方向ビーム拡
    大器と、 C) 選択された狭帯域の波長を、前記第1方向ビーム拡大器及び前記第2方
    向ビーム拡大器を通して、前記レーザチャンバへ、反射して戻して増幅するよう
    に配置された回折格子と、 を含むことを特徴とする狭線化装置。
  2. 【請求項2】 前記第1の方向は水平方向であり、前記第2の方向は垂直方
    向であることを特徴とする、請求項1に記載の狭線化装置。
  3. 【請求項3】 前記第1方向ビーム拡大器は少なくとも1つのプリズムを含
    み、前記第2方向ビーム拡大器は少なくとも1つのプリズムを含むことを特徴と
    する、請求項1に記載の狭線化装置。
  4. 【請求項4】 前記第1方向ビーム拡大器は3つのプリズムを含み、前記第
    2方向ビーム拡大器は単一のプリズムを含むことを特徴とする、請求項1に記載
    の狭線化装置。
  5. 【請求項5】 調整ミラーを更に含むことを特徴とする、請求項1に記載の
    狭線化装置。
  6. 【請求項6】 A)レーザチャンバであって、 1)2つの電極、 2)エキシマレーザガス、 3)該ガスを循環させるためのブロワ手段、及び 4)前記電極間に放電を発生させ、エキシマレーザパルスを生成させるための
    パルス電力手段、 を含むレーザチャンバと、 B)出力カプラと狭線化装置とを含む共振空洞であって、前記狭線化装置が、 1)前記レーザからのビームを第1の方向に拡大するように配置された第1方
    向ビーム拡大器、 2)前記ビームを第2の方向に拡大するように配置された第2方向ビーム拡大
    器、及び 3)選択された狭帯域の波長を、前記第1方向ビーム拡大器及び前記第2方向
    ビーム拡大器を通して、前記レーザチャンバへ反射して戻し増幅するように配置
    された回折格子、 を含む共振空洞と、 を含むことを特徴とする狭帯域エキシマレーザ。
  7. 【請求項7】 前記第1の方向は水平方向であり、前記第2の方向は垂直方
    向であることを特徴とする、請求項6に記載のレーザ。
  8. 【請求項8】 前記第1方向ビーム拡大器は少なくとも1つのプリズムを含
    み、前記第2方向ビーム拡大器は少なくとも1つのプリズムを含むことを特徴と
    する、請求項6に記載のレーザ。
  9. 【請求項9】 前記第1方向ビーム拡大器は3つのプリズムを含み、前記第
    2方向ビーム拡大器は単一のプリズムを含むことを特徴とする、請求項6に記載
    のレーザ。
  10. 【請求項10】 調整ミラーを更に含むことを特徴とする、請求項6に記載
    のレーザ。
JP2001547703A 1999-12-22 2000-12-15 二方向ビーム拡大を用いた狭線化レーザ Pending JP2003518757A (ja)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/470,724 1999-12-22
US09/470,724 US6192064B1 (en) 1997-07-01 1999-12-22 Narrow band laser with fine wavelength control
US09/716,041 2000-11-17
US09/716,041 US6778584B1 (en) 1999-11-30 2000-11-17 High power gas discharge laser with helium purged line narrowing unit
US09/738,042 US6738410B2 (en) 1999-12-22 2000-12-15 Line narrowed laser with bidirection beam expansion
PCT/US2000/034065 WO2001047074A1 (en) 1999-12-22 2000-12-15 Line narrowed laser with bidirection beam expansion
US09/738,042 2000-12-15

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003518757A true JP2003518757A (ja) 2003-06-10

Family

ID=27413155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001547703A Pending JP2003518757A (ja) 1999-12-22 2000-12-15 二方向ビーム拡大を用いた狭線化レーザ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6738410B2 (ja)
EP (1) EP1240694B1 (ja)
JP (1) JP2003518757A (ja)
AU (1) AU3435501A (ja)
DE (1) DE60032017T2 (ja)
WO (1) WO2001047074A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016189968A1 (ja) * 2015-05-28 2016-12-01 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及び狭帯域化光学系
WO2017183210A1 (ja) * 2016-04-22 2017-10-26 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
WO2018061098A1 (ja) * 2016-09-27 2018-04-05 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
WO2018061210A1 (ja) * 2016-09-30 2018-04-05 ギガフォトン株式会社 レーザ装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6792023B1 (en) 1998-06-04 2004-09-14 Lambda Physik Ag Method and apparatus for reduction of spectral fluctuations
US6763048B2 (en) 2000-06-19 2004-07-13 Lambda Physik Ag Line narrowing of molecular fluorine laser emission
US7061957B2 (en) * 2002-06-04 2006-06-13 Agilent Technologies, Inc. External cavity laser having a set atmosphere
JP4527479B2 (ja) * 2004-09-10 2010-08-18 サンテック株式会社 波長走査型ファイバレーザ光源
US7643522B2 (en) * 2004-11-30 2010-01-05 Cymer, Inc. Method and apparatus for gas discharge laser bandwidth and center wavelength control
US7366219B2 (en) * 2004-11-30 2008-04-29 Cymer, Inc. Line narrowing module
US20060114956A1 (en) * 2004-11-30 2006-06-01 Sandstrom Richard L High power high pulse repetition rate gas discharge laser system bandwidth management
US8379687B2 (en) 2005-06-30 2013-02-19 Cymer, Inc. Gas discharge laser line narrowing module
US7321607B2 (en) * 2005-11-01 2008-01-22 Cymer, Inc. External optics and chamber support system
AU2009206541B2 (en) * 2008-01-22 2012-02-09 Cardiac Pacemakers, Inc. Respiration as a trigger for therapy optimization
KR101167983B1 (ko) 2011-03-22 2012-09-03 에이케이이노텍주식회사 결합공진기형 선폭축소장치 및 이를 구비하는 레이저 공진기
JP2013070029A (ja) * 2011-09-08 2013-04-18 Gigaphoton Inc マスタオシレータシステムおよびレーザ装置
US10416471B2 (en) 2016-10-17 2019-09-17 Cymer, Llc Spectral feature control apparatus
US9997888B2 (en) 2016-10-17 2018-06-12 Cymer, Llc Control of a spectral feature of a pulsed light beam
US9989866B2 (en) 2016-10-17 2018-06-05 Cymer, Llc Wafer-based light source parameter control
US9835959B1 (en) 2016-10-17 2017-12-05 Cymer, Llc Controlling for wafer stage vibration

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05152666A (ja) * 1991-11-27 1993-06-18 Mitsubishi Electric Corp 狭帯域化レーザ
WO1996031929A1 (fr) * 1995-04-03 1996-10-10 Komatsu Ltd. Laser a bande etroite
JPH10308547A (ja) * 1997-04-23 1998-11-17 Cymer Inc 極狭帯域KrFレーザ
JPH118431A (ja) * 1997-06-04 1999-01-12 Cymer Inc 極狭帯域レーザ
JPH1174601A (ja) * 1997-07-01 1999-03-16 Cymer Inc 不安定な共鳴キャビティを用いた極めて狭い帯域のレーザ
JPH11214803A (ja) * 1998-01-20 1999-08-06 Komatsu Ltd 狭帯域発振エキシマレーザ及びその波面最適化方法
JPH11298084A (ja) * 1998-03-11 1999-10-29 Cymer Inc エキシマレ―ザに関する波長システム

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3734599A (en) * 1971-11-09 1973-05-22 Bell Telephone Labor Inc Optical raster-to-line converter
DE3889831T2 (de) 1987-09-28 1994-09-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd Laser-Apparat.
US4951285A (en) 1988-07-05 1990-08-21 Spectra-Physics Laser with adjustable mirror for mode control
US5095492A (en) 1990-07-17 1992-03-10 Cymer Laser Technologies Spectral narrowing technique
JPH04314374A (ja) 1991-04-12 1992-11-05 Komatsu Ltd 狭帯域レ−ザ装置
US5249192A (en) 1991-06-27 1993-09-28 Laserscope Multiple frequency medical laser
JP2696285B2 (ja) 1991-12-16 1998-01-14 株式会社小松製作所 狭帯域発振エキシマレーザ装置およびそのパージ方法
DE19603637C1 (de) 1996-02-01 1997-07-31 Lambda Physik Gmbh Laser zur Erzeugung schmalbandiger Strahlung
US6014361A (en) * 1997-04-11 2000-01-11 Matushita Electric Industrial Co., Ltd. Beam expander to change an elliptical light beam emitted from a laser source to a circular light beam
US5901163A (en) * 1997-06-04 1999-05-04 Cymer, Inc. Narrow band laser with etalon based output coupler
US6137821A (en) * 1997-06-04 2000-10-24 Cymer, Inc. Durable etalon based output coupler
US6212217B1 (en) * 1997-07-01 2001-04-03 Cymer, Inc. Smart laser with automated beam quality control
US6094448A (en) * 1997-07-01 2000-07-25 Cymer, Inc. Grating assembly with bi-directional bandwidth control
US6192064B1 (en) * 1997-07-01 2001-02-20 Cymer, Inc. Narrow band laser with fine wavelength control
US5978409A (en) * 1998-09-28 1999-11-02 Cymer, Inc. Line narrowing apparatus with high transparency prism beam expander
US6014398A (en) * 1997-10-10 2000-01-11 Cymer, Inc. Narrow band excimer laser with gas additive
US20020127497A1 (en) * 1998-09-10 2002-09-12 Brown Daniel J. W. Large diffraction grating for gas discharge laser
US6493374B1 (en) * 1999-09-03 2002-12-10 Cymer, Inc. Smart laser with fast deformable grating
US6735236B2 (en) * 1999-09-03 2004-05-11 Cymer, Inc. High power gas discharge laser with line narrowing unit

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05152666A (ja) * 1991-11-27 1993-06-18 Mitsubishi Electric Corp 狭帯域化レーザ
WO1996031929A1 (fr) * 1995-04-03 1996-10-10 Komatsu Ltd. Laser a bande etroite
JPH10308547A (ja) * 1997-04-23 1998-11-17 Cymer Inc 極狭帯域KrFレーザ
JPH118431A (ja) * 1997-06-04 1999-01-12 Cymer Inc 極狭帯域レーザ
JPH1174601A (ja) * 1997-07-01 1999-03-16 Cymer Inc 不安定な共鳴キャビティを用いた極めて狭い帯域のレーザ
JPH11214803A (ja) * 1998-01-20 1999-08-06 Komatsu Ltd 狭帯域発振エキシマレーザ及びその波面最適化方法
JPH11298084A (ja) * 1998-03-11 1999-10-29 Cymer Inc エキシマレ―ザに関する波長システム

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016189968A1 (ja) * 2015-05-28 2016-12-01 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及び狭帯域化光学系
WO2016189722A1 (ja) * 2015-05-28 2016-12-01 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及び狭帯域化光学系
US11239624B2 (en) 2015-05-28 2022-02-01 Gigaphoton Inc. Laser device and line narrow optics
US10637203B2 (en) 2015-05-28 2020-04-28 Gigaphoton Inc. Laser device and line narrow optics
US10522966B2 (en) 2016-04-22 2019-12-31 Gigaphoton Inc. Laser apparatus
CN108780979A (zh) * 2016-04-22 2018-11-09 极光先进雷射株式会社 激光装置
JPWO2017183210A1 (ja) * 2016-04-22 2019-02-28 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
WO2017183210A1 (ja) * 2016-04-22 2017-10-26 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
CN109565144A (zh) * 2016-09-27 2019-04-02 极光先进雷射株式会社 激光装置
WO2018061098A1 (ja) * 2016-09-27 2018-04-05 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
US10965087B2 (en) 2016-09-27 2021-03-30 Gigaphoton Inc. Laser device
CN109565145A (zh) * 2016-09-30 2019-04-02 极光先进雷射株式会社 激光装置
WO2018061210A1 (ja) * 2016-09-30 2018-04-05 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
US10797465B2 (en) 2016-09-30 2020-10-06 Gigaphoton Inc. Laser apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
DE60032017D1 (de) 2007-01-04
US6738410B2 (en) 2004-05-18
WO2001047074A1 (en) 2001-06-28
EP1240694A1 (en) 2002-09-18
US20010014110A1 (en) 2001-08-16
EP1240694B1 (en) 2006-11-22
AU3435501A (en) 2001-07-03
EP1240694A4 (en) 2003-08-27
DE60032017T2 (de) 2007-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003518757A (ja) 二方向ビーム拡大を用いた狭線化レーザ
JP2954938B2 (ja) 2つの機能をもつ回折格子を有するラインナローイング装置
JP2002533939A (ja) エタロンベース出力カプラを備えた線狭帯域化f2レーザ
US5970082A (en) Very narrow band laser
US7957449B2 (en) Two-stage laser system for aligners
US6061382A (en) Laser system and method for narrow spectral linewidth through wavefront curvature compensation
US6404796B1 (en) Laser resonator for improving narrow band emission of an excimer laser
JP2000114635A (ja) 高透過率プリズムビ―ムエキスパンダを備える狭帯域化装置
US6163559A (en) Beam expander for ultraviolet lasers
JPH11145543A (ja) 狭帯域出力カプラを備えるレーザ
JP2001044549A (ja) 空間フィルタを備える線狭帯域レーザ
US6590921B2 (en) Narrow beam ArF excimer laser device
JP2631554B2 (ja) レーザの波長制御装置
EP0992092B1 (en) Very narrow band laser with unstable resonance cavity
WO2000022703A1 (fr) Laser excimer
US7751461B2 (en) Linewidth-narrowed excimer laser cavity
US6476987B1 (en) Excimer laser with line narrowing
US20090034576A1 (en) Linewidth-narrowed excimer laser cavity
JPH05152666A (ja) 狭帯域化レーザ
JP3360078B2 (ja) 狭帯域発振レーザ
JP2688991B2 (ja) 狭帯域発振エキシマレーザ
JP2001291921A (ja) 超狭帯域化レーザ装置
JPH03209887A (ja) 狭帯域化レーザ装置
WO2001041269A1 (en) Very narrow band excimer or molecular fluorine laser

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050701

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050905

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20051205

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20051212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060306

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060403