JP2003514121A5 - - Google Patents

Description

【特許請求の範囲】
【請求項１】 金属の電解処理によって電極表面に生成された堆積物の表面質の検査方法において、電解処理で得られた陰極は、陰極表面を構成する平面に対して傾斜角をなす位置に設置された少なくとも１個の光源によって照らし、該光源に照らされた表面の画像を少なくとも１台のカメラによって生成し、該画像は画像処理装置に送信し、該装置では、該画像を基礎として、前記陰極表面に異常がある場合は該異常を特定し、これによって、後続の工程のために、前記陰極に堆積した堆積物を分類することを特徴とする検査方法。
【請求項２】 請求項１に記載の方法において、前記陰極表面を照らす光源は、該陰極表面を構成する平面の中央のラインに該光源から到来する光線が交差する点で測定すると、０度ないし90度の角度をなす位置に設置し、有利には、30度ないし60度の角度をなす位置に設置することを特徴とする方法。
【請求項３】 請求項１または２に記載の方法において、前記陰極の表面を照らす光源は、前記陰極表面を構成する平面に対して、前記陰極の表面を構成する平面の法線によって形成されるエリアの外に設置することを特徴とする方法。
【請求項４】 請求項１ないし３のいずれかに記載の方法において、前記光源に照らされた表面の画像を生成するよう、前記カメラは、検査中の陰極表面を構成する平面に対して実質的に垂直な位置に設置することを特徴とする方法。
【請求項５】 請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、前記光源に照らされた表面の画像を生成するよう、前記カメラは、検査中の陰極表面を構成する平面の実質的に中央に設置することを特徴とする方法。
【請求項６】 請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、前記光源に照らされた表面の複数の画像を生成するよう、検査中の陰極表面を構成する平面の実質的に中央のラインに、複数の前記カメラを設置することを特徴とする方法。
【請求項７】 請求項１ないし６のいずれかに記載の方法において、前記カメラによって生成された画像を基礎として陰極を分類するよう、前記画像から、前記陰極の表面に存在する異常によって生じる影を特定することを特徴とする方法。
【請求項８】 請求項１ないし７のいずれかに記載の方法において、個々の陰極の表面から得られた各画像は、画像処理装置に関連して提供されるマイクロプロセッサに記録することを特徴とする方法。
【請求項９】 請求項８に記載の方法において、前記マイクロプロセッサに記録された履歴情報は、電解工程の調整に利用することを特徴とする方法。
【請求項１０】 請求項１ないし９のいずれかに記載の方法において、使用する前記光源はハロゲンフラッドライトであることを特徴とする方法。
【請求項１１】 請求項１ないし９のいずれかに記載の方法において、使用する前記光源は蛍光管であることを特徴とする方法。
【請求項１２】 請求項１ないし９のいずれかに記載の方法において、使用する前記光源は白熱灯であることを特徴とする方法。
【請求項１３】 請求項１ないし12のいずれかに記載の方法において、使用する前記カメラは写真撮影用カメラであることを特徴とする方法。
【請求項１４】 請求項１ないし12のいずれかに記載の方法において、使用する前記カメラはビデオカメラであることを特徴とする方法。