JP2006145377A - 塗装面欠陥の検出方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 従来、塗装面欠陥を検出する場合には、2値化処理画像において塗装面に付着したゴミや傷等もブツ欠陥と同様に白画素の孤立点として表れていたため、ブツ欠陥として検出されるべき部分のみならず、塗装面に付着したゴミや傷等をもが特異点として捉えられ、ブツ欠陥であると判断される、過検出が発生することとなっていた。
【解決手段】 塗装面11に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法であって、撮像画像を2値化処理し、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出し、検出した境界線18で囲まれた閉空間領域を抽出し、抽出した閉空間領域内に、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点19が存在するか否かを検出し、閉空間領域内における特徴点19の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する。
【選択図】 図1
【解決手段】 塗装面11に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法であって、撮像画像を2値化処理し、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出し、検出した境界線18で囲まれた閉空間領域を抽出し、抽出した閉空間領域内に、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点19が存在するか否かを検出し、閉空間領域内における特徴点19の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、塗装面に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法および装置に関する。
従来から、車両のボディ等の塗装面に光を照射して、塗装面からの反射光を用いて塗装面の傷やブツ(凸部)等といった欠陥の有無を検出する塗装面欠陥検出装置が知られている。
このような塗装面欠陥検出装置では、塗装面に生じたブツ等の欠陥を検出する場合、検査対称面となる塗装面に照射した光の反射光を撮像手段にて撮像し、その撮像画像に2値化処理等の画像処理を施して、処理画像におけるパターンの歪や輝度分布の特異点を抽出することで、ブツの有無を判定することが行われている。
このような塗装面欠陥検出装置では、塗装面に生じたブツ等の欠陥を検出する場合、検査対称面となる塗装面に照射した光の反射光を撮像手段にて撮像し、その撮像画像に2値化処理等の画像処理を施して、処理画像におけるパターンの歪や輝度分布の特異点を抽出することで、ブツの有無を判定することが行われている。
この画像処理において、欠陥が無い正常な塗装面が黒画素として表わされる場合には、2値化処理された処理画像における輝度分布の特異点等は白画素として表わされるため、白画素の孤立点の存在を、特異点として捉えるようにしている。
このように、撮像画像に2値化処理等の画像処理を施してブツ等の欠陥を検出する塗装面欠陥装置としては、例えば特許文献1に記載のものがある。
特開平11−63959号公報
このように、撮像画像に2値化処理等の画像処理を施してブツ等の欠陥を検出する塗装面欠陥装置としては、例えば特許文献1に記載のものがある。
前述の如く画像処理を行う場合、2値化処理画像においては、塗装面に付着したゴミや傷等も白画素の孤立点として表れるため、ブツ欠陥として検出されるべき部分のみならず、塗装面に付着したゴミや傷等をもが特異点として捉えられ、ブツ欠陥であると判断される、過検出が発生することとなっていた。
特に、抽出可能な欠陥の大きさを小さく設定するために撮像画像の画素密度を高くすると、付着したゴミや傷等を特異点として捉える確率が高くなり、過検出の割合が高くなってしまっていた。
そこで、本発明では、ブツ欠陥により表れる白画素の孤立点と、ゴミや傷等といったブツ欠陥以外の要因により現れる白画素の孤立点との輝度変化の違いを検出することで、本来の塗装表面のブツ欠陥のみを抽出することが可能な塗装面欠陥の検出方法および装置を提供するものである。
特に、抽出可能な欠陥の大きさを小さく設定するために撮像画像の画素密度を高くすると、付着したゴミや傷等を特異点として捉える確率が高くなり、過検出の割合が高くなってしまっていた。
そこで、本発明では、ブツ欠陥により表れる白画素の孤立点と、ゴミや傷等といったブツ欠陥以外の要因により現れる白画素の孤立点との輝度変化の違いを検出することで、本来の塗装表面のブツ欠陥のみを抽出することが可能な塗装面欠陥の検出方法および装置を提供するものである。
上記課題を解決する塗装面欠陥の検出方法および装置は、以下の特徴を有する。
即ち、請求項1記載の如く、塗装面に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法であって、撮像画像を2値化処理し、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出し、検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出し、抽出した閉空間領域内に、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点が存在するか否かを検出し、閉空間領域内における特徴点の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する。
これにより、撮像画像内に存在する閉空間領域の中から、「特徴点を有したドーナツ状の閉空間領域」といったブツ欠陥の撮像画像に固有の特徴を備えた閉空間領域を抽出することができ、塗装面のブツ欠陥を、塗装面上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
即ち、請求項1記載の如く、塗装面に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法であって、撮像画像を2値化処理し、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出し、検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出し、抽出した閉空間領域内に、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点が存在するか否かを検出し、閉空間領域内における特徴点の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する。
これにより、撮像画像内に存在する閉空間領域の中から、「特徴点を有したドーナツ状の閉空間領域」といったブツ欠陥の撮像画像に固有の特徴を備えた閉空間領域を抽出することができ、塗装面のブツ欠陥を、塗装面上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
また、請求項2記載の如く、塗装面に光を照射して反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出装置であって、塗装面に光を照射する照明手段と、塗装面からの反射光を撮像する撮像手段と、撮像手段による撮像画像を2値化処理する2値化処理手段と、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出して、検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出する閉空間領域抽出部と、抽出した閉空間領域内に存在する、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点を抽出する特徴点領域抽出部と、閉空間領域内における特徴点の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する判定部とを備える。
これにより、撮像画像内に存在する閉空間領域の中から、「特徴点を有したドーナツ状の閉空間領域」といったブツ欠陥の撮像画像に固有の特徴を備えた閉空間領域を抽出することができ、塗装面のブツ欠陥を、塗装面上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
これにより、撮像画像内に存在する閉空間領域の中から、「特徴点を有したドーナツ状の閉空間領域」といったブツ欠陥の撮像画像に固有の特徴を備えた閉空間領域を抽出することができ、塗装面のブツ欠陥を、塗装面上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
また、請求項3記載の如く、前記撮像手段には、テレセントリックレンズが装着される。
これにより、光軸に平行な成分のみがカメラにて撮像されるようになり、撮像する塗装面に凹凸があった場合、すなわち塗装面にブツ欠陥等があった場合には、欠陥の縁部が強調され、欠陥の検出を容易にすることができる。
これにより、光軸に平行な成分のみがカメラにて撮像されるようになり、撮像する塗装面に凹凸があった場合、すなわち塗装面にブツ欠陥等があった場合には、欠陥の縁部が強調され、欠陥の検出を容易にすることができる。
本発明によれば、撮像画像内に存在する閉空間領域の中から、「特徴点を有したドーナツ状の閉空間領域」といったブツ欠陥の撮像画像に固有の特徴を備えた閉空間領域を抽出することができ、塗装面のブツ欠陥を、塗装面上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
次に、本発明を実施するための形態を、添付の図面を用いて説明する。
図1に示す塗装面欠陥の検出装置は、検査対象面である塗装面11に光を照射する照明具2と、塗装面11からの反射光を撮像する手段であるカメラ1と、撮像した画像を処理する画像処理装置3と、塗装面欠陥の検出結果等を出力する出力装置4とを備えている。
図1に示す塗装面欠陥の検出装置は、検査対象面である塗装面11に光を照射する照明具2と、塗装面11からの反射光を撮像する手段であるカメラ1と、撮像した画像を処理する画像処理装置3と、塗装面欠陥の検出結果等を出力する出力装置4とを備えている。
照明具2には、光源をリング状に配置して構成されるリング照明や、光源をドーム状に配置して構成されるドーム照明を用いて、視野に対して垂直な成分を除く全方位に光を照射するようにしている。
また、照明具2の光源としては、LED(Light Emitting Diode)、蛍光灯、メタルハライドランプ、またはハロゲンランプ等を用いることができる。
また、照明具2の光源としては、LED(Light Emitting Diode)、蛍光灯、メタルハライドランプ、またはハロゲンランプ等を用いることができる。
カメラ1は、CCD(Charge Coupled Devices)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサ等の撮像素子を備えた、画像を直接デジタル処理可能なカメラを用いて、画像取り込み時に情報が欠落しないようにしている。
画像処理装置3は、カメラ1による撮像画像を2値化処理する2値化処理部3aと、2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出して、検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出する閉空間領域抽出部3bと、抽出した閉空間領域内に存在する、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点領域を抽出する特徴点領域抽出部3cと、閉空間領域内における特徴点領域の有無に基づいて塗装面11の欠陥の有無を判断する判定部3dとを備えている。
検出装置において、カメラ1は、光軸が塗装面11に対して略垂直となるように設置され、照明具2は、光源がカメラ1と塗装面11との間で光軸の周囲に位置するように設置されている。
そして、照明具2により塗装面11に光を照射して、塗装面11からの反射光のうち光軸に平行な成分をカメラ1にて撮像するようにしている。
そして、照明具2により塗装面11に光を照射して、塗装面11からの反射光のうち光軸に平行な成分をカメラ1にて撮像するようにしている。
また、カメラ1にはテレセントリックレンズに構成されるレンズ5を装着しており、より光軸に平行な成分のみが、カメラ1にて撮像されるように構成している。
カメラ1に装着するレンズ5をテレセントリックレンズに構成することで、撮像する塗装面11に凹凸があった場合、すなわち塗装面11にブツ欠陥12や傷等の欠陥があった場合には欠陥の縁部が強調され、欠陥の検出を容易にしている。
カメラ1に装着するレンズ5をテレセントリックレンズに構成することで、撮像する塗装面11に凹凸があった場合、すなわち塗装面11にブツ欠陥12や傷等の欠陥があった場合には欠陥の縁部が強調され、欠陥の検出を容易にしている。
なお、本例ではレンズ5をテレセントリックレンズに構成しているが、レンズ5を非テレセントリックレンズとした場合でも塗装面11の欠陥の検出は可能である。
例えば、カメラ1の視野を広く取る必要があるときには、レンズ5を非テレセントリックレンズとした仕様に構成することもできる。
例えば、カメラ1の視野を広く取る必要があるときには、レンズ5を非テレセントリックレンズとした仕様に構成することもできる。
また、照明具2から照射される光の照度は、塗装面11におけるブツ欠陥12等の欠陥部を撮像した際にハレーションが発生しない範囲で、できるだけ高くなるように設定するのが好ましい。照度をこのように設定することで、撮像画像の濃度コントラストを大きくすることができる。
さらに、検出装置においては、カメラ1とレンズ5との組み合わせにおいて、空間分解能が高くなるように設定するほど、塗装面11におけるより小さな欠陥を検出することが可能となる。
さらに、検出装置においては、カメラ1とレンズ5との組み合わせにおいて、空間分解能が高くなるように設定するほど、塗装面11におけるより小さな欠陥を検出することが可能となる。
このように構成される検出装置では、ブツ欠陥12の検出を以下のように行っている。
図2に示すフローのように、まず照明具2から塗装面11へ向けて光を照射し、カメラ1にて塗装面11からの反射光を撮像して、画像処理装置3へ取り込む(S01)。
画像処理装置3に取り込まれた撮像画像は、2値化処理部3aにて2値化処理される(S02)。
図2に示すフローのように、まず照明具2から塗装面11へ向けて光を照射し、カメラ1にて塗装面11からの反射光を撮像して、画像処理装置3へ取り込む(S01)。
画像処理装置3に取り込まれた撮像画像は、2値化処理部3aにて2値化処理される(S02)。
図3に2値化処理された撮像画像を示す。撮像画像では高輝度に撮像されるブツ欠陥12や傷や塗装面11に付着した埃等の部分は、2値化処理により白画素に変換され、撮像画像では低輝度に撮像されるその他の平坦な塗装面11は2値化処理により黒画素に変換される。2値化処理工程では、この2値化処理された撮像画像における白画素群部16a・16b・16c・・・を、それぞれブツ欠陥候補として抽出する。
なお、カメラ1からの撮像画像を取り込んだ段階で、十分にコントラストが高い画像が得られていた場合は、2値化処理を行わずに後の画像処理を行うことも可能である。
なお、カメラ1からの撮像画像を取り込んだ段階で、十分にコントラストが高い画像が得られていた場合は、2値化処理を行わずに後の画像処理を行うことも可能である。
次に、閉空間領域抽出部3bにて、2値化処理時に抽出された各白画素群部16a・16b・16c・・・について、黒画素と白画素との境界線を抽出し、輪郭線で囲まれた閉空間領域内における白画素群の輪郭を抽出する(S03)。
そして、特徴点領域抽出部3cにて、輪郭線で囲まれた閉空間領域内の白画素群に黒画素が含まれているかどうかを検出し、黒画素が含まれていた場合にはその黒画素を特徴点として抽出する(S04)。
そして、特徴点領域抽出部3cにて、輪郭線で囲まれた閉空間領域内の白画素群に黒画素が含まれているかどうかを検出し、黒画素が含まれていた場合にはその黒画素を特徴点として抽出する(S04)。
ここで、塗装面11に照射された照明具2からの光は、ブツ欠陥12が存在する箇所では次のように撮像される。
ブツ欠陥12は断面視において山形状となっており、塗装面11との境界部分である裾野部12cと、山の頂部12aと、頂部12aと裾野部12cとの間の傾斜部12bとで構成されている。塗装面11とブツ欠陥12とは滑らかにつながっており、裾野部12cおよび頂部12aは曲率の小さな円弧形状に形成されている。
ブツ欠陥12は断面視において山形状となっており、塗装面11との境界部分である裾野部12cと、山の頂部12aと、頂部12aと裾野部12cとの間の傾斜部12bとで構成されている。塗装面11とブツ欠陥12とは滑らかにつながっており、裾野部12cおよび頂部12aは曲率の小さな円弧形状に形成されている。
従って、頂部12aの直上方を除くカメラ1の光軸の周囲から照射される光がブツ欠陥12の部分で反射した場合、傾斜部12bで反射した光については正反射成分が直上方へ進行し、カメラ1にて輝度が高い光として捕えられる(図1に実線の上向き矢印で示される光)。
一方、カメラ1の光軸の周囲から照射される光が頂部12aおよび裾野部12cで反射した場合、反射光の正反射成分は斜め方向に進行するため、拡散反射成分のみが直上方へ進行して、カメラ1にて輝度が低い光として捕えられることとなる(図1に破線の上向き矢印で示される光)。
一方、カメラ1の光軸の周囲から照射される光が頂部12aおよび裾野部12cで反射した場合、反射光の正反射成分は斜め方向に進行するため、拡散反射成分のみが直上方へ進行して、カメラ1にて輝度が低い光として捕えられることとなる(図1に破線の上向き矢印で示される光)。
このように、ブツ欠陥12部分では、傾斜部12bが高輝度に撮像され、頂部12aおよび裾野部12cが低輝度に撮像されるため、2値化処理された撮像画像ではブツ欠陥12部分は、図4に示すような画像となる。
図4においては、周囲の黒画素と白画素との境界線18に囲まれた白画素群である閉空間領域内に、黒画素が特徴点19として存在しており、白画素群がドーナツ形状に形成されている。
図4においては、周囲の黒画素と白画素との境界線18に囲まれた白画素群である閉空間領域内に、黒画素が特徴点19として存在しており、白画素群がドーナツ形状に形成されている。
逆に、塗装面11上に付着した埃や傷は、ブツ欠陥12のように、曲率が小さな円弧形状に形成された頂部12aを有していないため、特徴点19が存在しない白画素群として撮像画像に表れる。
従って、前述のステップS04における特徴点19の抽出工程にて、抽出された特徴点19があったか否かを判定することで、各白画素群部16a・16b・16c・・・がブツ欠陥12であるかどうかを判断することが可能であり、抽出された特徴点19があったか否かの判定が、画像処理装置3の判定部3dにて行われる(S05)。
従って、前述のステップS04における特徴点19の抽出工程にて、抽出された特徴点19があったか否かを判定することで、各白画素群部16a・16b・16c・・・がブツ欠陥12であるかどうかを判断することが可能であり、抽出された特徴点19があったか否かの判定が、画像処理装置3の判定部3dにて行われる(S05)。
この判定の結果抽出された特徴点19が有れば、塗装面11にブツ欠陥12が有ると判定され(S06)、抽出された特徴点19が無ければ、塗装面11にブツ欠陥12は無いと判定される(S16)。
ブツ欠陥12が有ると判定された場合は(S06)、そのブツ欠陥12の存在位置や、長さ、大きさ、および形状等といった詳細情報を、出力装置4から出力する(S07)。
また、ブツ欠陥12の有無にかかわらず、カメラ1による撮像画像や2値化処理後の撮像画像を出力装置4から出力する(S08)。
ブツ欠陥12が有ると判定された場合は(S06)、そのブツ欠陥12の存在位置や、長さ、大きさ、および形状等といった詳細情報を、出力装置4から出力する(S07)。
また、ブツ欠陥12の有無にかかわらず、カメラ1による撮像画像や2値化処理後の撮像画像を出力装置4から出力する(S08)。
このようなフローにて、画像処理装置3によりカメラ1の撮像画像を画像処理することで、撮像画像内に存在する白画素群部16a・16b・16c・・・の中から、「黒画素の特徴点19を有したドーナツ状の白画素群」といったブツ欠陥12の撮像画像に固有の特徴を備えた白画素群を抽出することができ、塗装面11のブツ欠陥12を、塗装面11上に付着した埃や傷等の欠陥とは区別して、精度良く検出することが可能である。
また、塗装面欠陥の検出装置は、次のように構成することもできる。
図5に示す検出装置は、塗装面11への照明に同軸落射照明を用いたものであり、照明具として点光源21、レンズ22、およびハーフミラー23を備えている。
点光源21からの光はレンズ22により平行光とされた後に水平方向へ照射された後に、カメラ1と塗装面11との間に介装されたハーフミラー23にて下方垂直に反射され、塗装面11へ照射される。
カメラ1は光軸が塗装面11に対して略垂直となるように設置されており、塗装面11からの反射光は垂直上方へ進行し、ハーフミラー23を透過してカメラ1に撮像される。
図5に示す検出装置は、塗装面11への照明に同軸落射照明を用いたものであり、照明具として点光源21、レンズ22、およびハーフミラー23を備えている。
点光源21からの光はレンズ22により平行光とされた後に水平方向へ照射された後に、カメラ1と塗装面11との間に介装されたハーフミラー23にて下方垂直に反射され、塗装面11へ照射される。
カメラ1は光軸が塗装面11に対して略垂直となるように設置されており、塗装面11からの反射光は垂直上方へ進行し、ハーフミラー23を透過してカメラ1に撮像される。
本例のように同軸落射照明を用いた場合、ブツ欠陥12へは直上方からの光が照射されるため、ブツ欠陥12の頂部12aおよび裾野部12cでは正反射成分が直上方へ進行し、カメラ1にて輝度が高い光として捕えられる(図5に実線の上向き矢印で示される光)。
一方、傾斜部12bで反射した光は斜め方向に進行するため、拡散反射成分のみが直上方へ進行して、カメラ1にて輝度が低い光として捕えられる(図5に破線の上向き矢印で示される光)。
一方、傾斜部12bで反射した光は斜め方向に進行するため、拡散反射成分のみが直上方へ進行して、カメラ1にて輝度が低い光として捕えられる(図5に破線の上向き矢印で示される光)。
このため、本例においては、前述のリング照明等を照明具2として用いた場合の画像とは明暗が反転した撮像画像が得られ、ブツ欠陥12の頂部12aおよび裾野部12cが高輝度となるため2値化処理により白画素に変換され、傾斜部12bおよびその他の平坦な塗装面11が低輝度となって2値化処理により黒画素に変換されることとなる。
従って、2値化処理工程(S02)、画像処理装置3における境界線抽出工程(S03)、および特徴点抽出工程(S04)では、前述のリング照明等を用いた場合に対して白画素と黒画素とを反転させた処理が行われる。
従って、2値化処理工程(S02)、画像処理装置3における境界線抽出工程(S03)、および特徴点抽出工程(S04)では、前述のリング照明等を用いた場合に対して白画素と黒画素とを反転させた処理が行われる。
このように、照明具に同軸落射照明を用いても、塗装面11のブツ欠陥12を精度良く検出することが可能である。
1 カメラ
2 照明具
3 画像処理装置
3a 2値化処理部
3b 閉空間領域抽出部
3c 特徴点領域抽出部
3d 判定部
11 塗装面
12 ブツ欠陥
2 照明具
3 画像処理装置
3a 2値化処理部
3b 閉空間領域抽出部
3c 特徴点領域抽出部
3d 判定部
11 塗装面
12 ブツ欠陥
Claims (3)
- 塗装面に照射された光の反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出方法であって、
撮像画像を2値化処理し、
2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出し、
検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出し、
抽出した閉空間領域内に、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点が存在するか否かを検出し、
閉空間領域内における特徴点の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する、
ことを特徴とする塗装面欠陥の検出方法。 - 塗装面に光を照射して反射光を撮像し、撮像した画像を用いて塗装表面の欠陥を検出する塗装表面欠陥検出装置であって、
塗装面に光を照射する照明手段と、
塗装面からの反射光を撮像する撮像手段と、
撮像手段による撮像画像を2値化処理する2値化処理手段と、
2値化処理した撮像画像における高輝度部と低輝度部との境界線を検出して、検出した境界線で囲まれた閉空間領域を抽出する閉空間領域抽出部と、
抽出した閉空間領域内に存在する、該閉空間領域外の輝度と同じ輝度を有する特徴点を抽出する特徴点領域抽出部と、
閉空間領域内における特徴点の有無に基づいて塗装面の欠陥の有無を判断する判定部とを備える、
ことを特徴とする塗装面欠陥の検出装置。 - 前記撮像手段には、テレセントリックレンズが装着されることを特徴とする請求項2に記載の塗装面欠陥の検出装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102981186A (zh) * | 2012-12-22 | 2013-03-20 | 张森 | 一种便携式车辆底盘图像信息采集装置 |
CN106990045A (zh) * | 2017-04-19 | 2017-07-28 | 浙江理工大学 | 一种辅助机器视觉穴盘幼苗质量检测的打光识别装置 |
JP2019045338A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | 凸版印刷株式会社 | 塗膜の粘度分布測定装置及び粘度分布測定方法 |
CN111353974A (zh) * | 2020-02-20 | 2020-06-30 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种检测影像边界缺陷的方法及装置 |
CN115601362A (zh) * | 2022-12-14 | 2023-01-13 | 临沂农业科技职业学院(筹)(Cn) | 一种基于图像处理的焊接质量评估方法 |
-
2004
- 2004-11-19 JP JP2004335901A patent/JP2006145377A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102981186A (zh) * | 2012-12-22 | 2013-03-20 | 张森 | 一种便携式车辆底盘图像信息采集装置 |
CN102981186B (zh) * | 2012-12-22 | 2016-04-20 | 张森 | 一种便携式车辆底盘图像信息采集装置 |
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