JP2003347389A - Moving apparatus for semiconductor chip - Google Patents

Moving apparatus for semiconductor chip

Info

Publication number
JP2003347389A
JP2003347389A JP2002148964A JP2002148964A JP2003347389A JP 2003347389 A JP2003347389 A JP 2003347389A JP 2002148964 A JP2002148964 A JP 2002148964A JP 2002148964 A JP2002148964 A JP 2002148964A JP 2003347389 A JP2003347389 A JP 2003347389A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
load
shaft member
bolt
coil spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002148964A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Shikata
幸治 志方
Hitoshi Sakata
均 阪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Original Assignee
Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Instruments Co Ltd filed Critical Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Priority to JP2002148964A priority Critical patent/JP2003347389A/en
Publication of JP2003347389A publication Critical patent/JP2003347389A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a moving apparatus for a semiconductor chip in which a load that the semiconductor chip receives in the case of pickup is easily adjusted wherein a wafer stuck on the upper surface of a wafer sheet is cut into a large number of semiconductor chips for releasing and moving the semiconductor chips to a chip storage tray one after another. <P>SOLUTION: In a shaft member 30 which has an adsorption head 1 for adsorbing a semiconductor chip 9 on its lower end, a shaft is vertically guided to a bearing 52 on a movable stand 50 of a head holder 2, its downward movement is limited by a block 33 projected on the shaft, and further, the shaft member is energized by screwing a bolt 55 which passes through the block 33 and a compression coil spring 61 into the movable stand 50 vertically, and supported while being imparted with the dead weight of the shaft member 30 and the elastic force of the compression coil spring 61 as a downward load. The load is variably adjusted by rotating the bolt 55. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ウェーハから切り
出されてなる半導体チップを搬送用のチップ収納トレイ
に移送する半導体チップの移送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor chip transfer device for transferring semiconductor chips cut from a wafer to a chip storage tray for transfer.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体部品の製造工程は、シリ
コン等の円盤状のウェーハ上にIC回路を形成する前工
程と、そのウェーハをもとに所望する個々の半導体部品
に仕上げる後工程とに大きく区分される。これらのうち
後工程では、先ずウェーハは、金属製のリング(以下、
「ウェーハリング」と記すことがある)の内側に張設さ
れた不織布(以下、「ウェーハシート」と記すことがあ
り、一般的には、ポリイミド樹脂等の樹脂フィルムから
成り、難燃性に優れ、薄くて丈夫な、拡張性の良い材
料)の中央部の上面に接着剤で貼着されており、そのま
まダイシングソーによりスクラブラインに沿って切断さ
れるというダイシング工程を経て、多数の半導体チップ
に分断される。そして、これらの半導体チップは、ウェ
ーハシートから分離されてプラズマ洗浄工程を経た後
(プラズマ洗浄後にウェーハシートから分離される場合
もある)、他の部品との電気的な接続がなされるボンデ
ィング工程や、その接続個所を樹脂で封止する樹脂封止
工程等を経て、半導体部品に仕上げられる。
2. Description of the Related Art Generally, a semiconductor component manufacturing process includes a pre-process for forming an IC circuit on a disc-shaped wafer such as silicon and a post-process for finishing a desired individual semiconductor component based on the wafer. It is roughly divided. Of these, in the later process, first, the wafer is made of a metal ring (hereinafter, referred to as a metal ring).
Non-woven fabric stretched inside the "wafer ring" (hereinafter sometimes referred to as "wafer sheet"), and is generally made of a resin film such as polyimide resin, and has excellent flame retardancy , A thin, durable material with good expandability) is attached to the upper surface of the central part with an adhesive, and cut directly along the scrub line with a dicing saw to produce a large number of semiconductor chips. Be divided. After these semiconductor chips are separated from the wafer sheet and subjected to a plasma cleaning step (these may be separated from the wafer sheet after the plasma cleaning), a bonding step for making an electrical connection with other components or Through a resin sealing step of sealing the connection portion with a resin, the semiconductor component is finished.

【0003】その際、ウェーハシートから分離された半
導体チップは、実際には、上面に多数の収納凹部が形成
された専用のチップ収納トレイへ移送され、このチップ
収納トレイごと、その後のプラズマ洗浄工程やボンディ
ング工程へ一括して搬送されることになる。
At this time, the semiconductor chips separated from the wafer sheet are actually transferred to a dedicated chip storage tray having a large number of storage recesses formed on the upper surface, and the chip storage tray and a subsequent plasma cleaning step are performed. Or the bonding process.

【0004】ここで、半導体チップをチップ収納トレイ
に移送するための従来の移送装置について、図10〜図
14に基づき説明する。図10は従来の移送装置の模式
的要部正面図、図11はその移送装置の模式的平面図、
図12はその移送装置の要部側面図、図13は図11の
D−D断面図、図14は吸着ヘッドによる半導体チップ
のピックアップ動作を説明する要部断面図である。
Here, a conventional transfer device for transferring a semiconductor chip to a chip storage tray will be described with reference to FIGS. 10 is a schematic front view of a main part of a conventional transfer device, FIG. 11 is a schematic plan view of the transfer device,
FIG. 12 is a side view of a main part of the transfer device, FIG. 13 is a cross-sectional view taken along line D-D of FIG. 11, and FIG. 14 is a cross-sectional view of the main part explaining a pickup operation of a semiconductor chip by a suction head.

【0005】これらの図面において、1は半導体チップ
9を1つずつ吸着しウェーハシート8から剥離させてピ
ックアップするノズル状の吸着ヘッドで、ヘッドホルダ
2により鉛直に支持された中空の軸部材30の下端に連
結されている。また、軸部材30の上端にはプラグ31
が連結され、更にプラグ31はホース32を介して図示
しない真空吸引装置に連通接続されている(図12参
照)。
[0005] In these drawings, reference numeral 1 denotes a nozzle-shaped suction head for sucking the semiconductor chips 9 one by one, separating them from the wafer sheet 8 and picking them up. The hollow shaft member 30 vertically supported by the head holder 2 is provided. It is connected to the lower end. A plug 31 is provided at the upper end of the shaft member 30.
The plug 31 is connected to a vacuum suction device (not shown) via a hose 32 (see FIG. 12).

【0006】ヘッドホルダ2は、X軸方向(図10、1
1では左右方向)に移動する基台40と、この基台40
に対しリニアを介してZ軸方向(図10では上下方向、
図11では紙面に直交する方向)に移動可能に連結さた
可動台50とから構成されている。そして、軸部材30
は、可動台50に穿設された上下方向の貫通孔51に嵌
入され可動台50の上下面から突出する軸受52により
その軸部が案内されるとともに、その軸部に突設された
ブロック体33が軸受52の上面と当接することで下方
への移動が制限され、更に可動台50の上方に突設され
た突状軸部53がブロック体33を貫通して案内しなが
ら、引張コイルバネ60がブロック体33と可動台50
とを掛止することで付勢支持されている。従って軸部材
30は、吸着ヘッド1、プラグ31、ホース32、及び
ブロック体33を含めた軸部材30の自重と、引張コイ
ルバネ60の長さLに対応する復元力との合力が下方に
向く一定の荷重として与えられながら保持され、その荷
重に抗して上方へのみ移動が可能になっている。
The head holder 2 is moved in the X-axis direction (FIGS.
1 and a base 40 that moves in the left-right direction).
To the Z-axis direction via the linear (up-down direction in FIG. 10,
In FIG. 11, the movable table 50 is connected so as to be movable in a direction perpendicular to the plane of the drawing. And the shaft member 30
The shaft is guided by a bearing 52 that is inserted into a vertical through hole 51 formed in the movable base 50 and protrudes from the upper and lower surfaces of the movable base 50, and a block body protruding from the shaft is provided. The downward movement is restricted by the contact of the upper surface of the bearing 52 with the bearing 33, and the projecting shaft portion 53 projecting above the movable table 50 is guided through the block body 33 to guide the extension coil spring 60. Is the block body 33 and the movable base 50
It is urged and supported by hooking. Therefore, the shaft member 30 has a constant force in which the resultant force of the own weight of the shaft member 30 including the suction head 1, the plug 31, the hose 32, and the block body 33 and the restoring force corresponding to the length L of the extension coil spring 60 is directed downward. Is held while being given as a load, and can be moved only upward against the load.

【0007】3、4は、複数個のチップ収納トレイ5を
Y軸方向(図10では紙面に直交する方向、図11では
上下方向)に整列した状態で支持して固定するトレイ支
持テーブルで、互いに独立してY軸方向に移動するよう
になっている。そのチップ収納トレイ5の上面には、半
導体チップ9を収納するための多数の収納凹部5aが碁
盤目状に形成されている。
Reference numerals 3 and 4 denote tray support tables for supporting and fixing a plurality of chip storage trays 5 in a state of being aligned in the Y-axis direction (the direction perpendicular to the plane of FIG. 10; the vertical direction in FIG. 11). They move in the Y-axis direction independently of each other. On the upper surface of the chip storage tray 5, a large number of storage recesses 5a for storing the semiconductor chips 9 are formed in a grid pattern.

【0008】6は、上面にウェーハリング7を支持して
固定するリング支持テーブルで、X軸方向及びY軸方向
に移動するようになっている。そのウェーハリング7の
内側にはウェーハシート8が張設され、このウェーハシ
ート8の上面には接着剤でウェーハ90が貼着されてお
り、このウェーハ90はダイシング工程で個々の半導体
チップ9に分断されている。なおウェーハリング7は、
リング支持テーブル6の上面に埋設した磁石(不図示)
の磁力により固定される。
Reference numeral 6 denotes a ring support table that supports and fixes the wafer ring 7 on the upper surface, and moves in the X-axis direction and the Y-axis direction. A wafer sheet 8 is stretched inside the wafer ring 7, and a wafer 90 is adhered to the upper surface of the wafer sheet 8 with an adhesive. The wafer 90 is divided into individual semiconductor chips 9 in a dicing process. Have been. The wafer ring 7 is
A magnet (not shown) embedded on the upper surface of the ring support table 6
Is fixed by the magnetic force.

【0009】ここで、リング支持テーブル6には、ウェ
ーハ90よりも一回り大きい径でウェーハ90と同心状
の円形孔6aが形成されており(図13参照)、この円
形孔6aには、リング支持テーブル6の下方に配設さ
れ、半導体チップ9をピックアップする際にウェーハシ
ート8上の半導体チップ9を突き上げるための突き上げ
ユニット103が挿脱されるようになっている(図14
参照)。この突き上げユニット103は、ウェーハシー
ト8の下面において、突き上げ対象となる半導体チップ
9近傍を吸着する吸着部103a、及びその半導体チッ
プ9を突き上げる突き上げ針103bからなっている。
The ring support table 6 has a circular hole 6a having a diameter slightly larger than the wafer 90 and concentric with the wafer 90 (see FIG. 13). A push-up unit 103 which is provided below the support table 6 and pushes up the semiconductor chips 9 on the wafer sheet 8 when picking up the semiconductor chips 9 is inserted and removed (FIG. 14).
reference). The push-up unit 103 includes, on the lower surface of the wafer sheet 8, a suction portion 103a that sucks the vicinity of the semiconductor chip 9 to be pushed up, and a push-up needle 103b that pushes up the semiconductor chip 9.

【0010】更に、リング支持テーブル6の上面には、
ウェーハシート8におけるウェーハ90の外側の下面、
すなわち直上に半導体チップ9が存しないウェーハシー
ト8の下面を押し上げて支持する環状突起部6bが、ウ
ェーハ90と同心状に一体形成されている(図13参
照)。従って、リング支持テーブル6の上面に固定され
たウェーハリング7のウェーハシート8は、環状突起部
6bで押し上げられて引き延ばされ、これにより、ウェ
ーハシート8上で分断されている半導体チップ9相互の
間隔が広げられるという、いわゆるエキスパンド処理が
なされる。
Further, on the upper surface of the ring support table 6,
A lower surface of the wafer sheet 8 outside the wafer 90;
That is, the annular projection 6b that pushes up and supports the lower surface of the wafer sheet 8, on which the semiconductor chip 9 does not exist directly above, is integrally formed concentrically with the wafer 90 (see FIG. 13). Therefore, the wafer sheet 8 of the wafer ring 7 fixed on the upper surface of the ring support table 6 is pushed up and extended by the annular projection 6b, and thereby, the semiconductor chips 9 separated on the wafer sheet 8 are separated from each other. Is performed, that is, the so-called expanding process is performed.

【0011】10はカメラで、突き上げ針103bの鉛
直上方に位置するようにハウジング12上に固定され、
ピックアップ対象の半導体チップ9を撮像する。11は
コンピュータで、入力部11aから入力された指令に基
づいて、吸着ヘッド1、ヘッドホルダ2、トレイ支持テ
ーブル3、4、リング支持テーブル6、カメラ10、突
き上げユニット103等を制御する。
A camera 10 is fixed on the housing 12 so as to be located vertically above the push-up needle 103b.
The semiconductor chip 9 to be picked up is imaged. Reference numeral 11 denotes a computer which controls the suction head 1, the head holder 2, the tray support tables 3, 4, the ring support table 6, the camera 10, the push-up unit 103, and the like, based on a command input from the input unit 11a.

【0012】次に、このような構成の移送装置における
一連の移送動作を以下に説明しておく。先ず、ウェーハ
リング7をリング支持テーブル6に固定し、ウェーハシ
ート8に対しエキスパンド処理がなされる。この状態
で、リング支持テーブル6が移動し、ウェーハシート8
上で分断されている多数の半導体チップ9のうちの1つ
が、突き上げユニット103の突き上げ針103bの鉛
直上方、すなわち突き上げ位置に位置決めされる。
Next, a series of transfer operations in the transfer device having such a configuration will be described below. First, the wafer ring 7 is fixed to the ring support table 6, and the wafer sheet 8 is expanded. In this state, the ring support table 6 moves and the wafer sheet 8
One of the semiconductor chips 9 divided above is positioned vertically above the push-up needle 103b of the push-up unit 103, that is, at the push-up position.

【0013】次いで、カメラ10によりその半導体チッ
プ9を撮像し、その輪郭情報に基づきコンピュータ11
が突き上げ位置に対する位置ずれ量を算出し、再度リン
グ支持テーブル6が微動してその位置ずれ量を補正す
る。その後、突き上げユニット103が上昇して、吸着
部103aによりウェーハシート8が吸着固定され、こ
れと同時に、ヘッドホルダ2の基台40が移動して吸着
ヘッド1が突き上げ位置の鉛直上方に位置決めされる
(図14(a)参照)。
Next, an image of the semiconductor chip 9 is taken by a camera 10 and a computer 11 is used based on the contour information.
Calculates the amount of misalignment with respect to the thrust-up position, and the ring support table 6 moves again slightly to correct the amount of misalignment. Thereafter, the push-up unit 103 is raised, and the wafer sheet 8 is sucked and fixed by the suction unit 103a. At the same time, the base 40 of the head holder 2 is moved to position the suction head 1 vertically above the push-up position. (See FIG. 14A).

【0014】次いで、突き上げ針103bが上昇して半
導体チップ9を突き上げ、これに応動してヘッドホルダ
2の可動台50とともに吸着ヘッド1が下降し、半導体
チップ9の上面に当接して吸着する(図14(b)参
照)。その際、吸着ヘッド1の先端は突き上げられた半
導体チップ9よりも若干低い位置まで下降するように設
定されているが、実際には、吸着ヘッド1が半導体チッ
プ9を介して突き上げ針103bの抵抗を受けその下降
が規制されるため、上記した軸部材30の自重と引張コ
イルバネ60の復元力とによる一定の荷重に抗して軸部
材30とともに上方へ微動し、結局は、半導体チップ9
と圧接した状態、すなわち半導体チップ9がその荷重を
受けた状態で吸着がなされる。このように圧接状態で吸
着する理由は、突き上げ針103bで突き上げられた半
導体チップ9は姿勢が不安定で傾く場合があり、これを
矯正し安定した姿勢で確実に吸着するためである。
Next, the push-up needle 103b rises to push up the semiconductor chip 9, and in response to this, the suction head 1 moves down together with the movable table 50 of the head holder 2, and comes into contact with and suctions the upper surface of the semiconductor chip 9 ( FIG. 14 (b)). At this time, the tip of the suction head 1 is set so as to descend to a position slightly lower than the pushed-up semiconductor chip 9, but actually, the suction head 1 is connected to the resistance of the push-up needle 103 b via the semiconductor chip 9. As a result, the semiconductor chip 9 is slightly moved upward together with the shaft member 30 against a constant load caused by the own weight of the shaft member 30 and the restoring force of the extension coil spring 60.
The suction is performed in a state where the semiconductor chip 9 is pressed against the semiconductor chip 9, that is, in a state where the semiconductor chip 9 receives the load. The reason why the semiconductor chip 9 pushed up by the push-up needle 103b may be unstable in posture and tilted in such a manner that the semiconductor chip 9 is pushed up by the push-up needle 103b is corrected so as to be surely sucked in a stable posture.

【0015】その後、可動台50とともに吸着ヘッド1
が上昇して半導体チップ9をウェーハシート8から剥離
させ、ピックアップがなされる(図14(c)参照)。
そして、ヘッドホルダ2の基台40とともに吸着ヘッド
1が1つのチップ収納トレイ5の上方に向けて移動し、
これと同時にトレイ支持テーブル4が移動し、吸着ヘッ
ド1に吸着された半導体チップ9が1つの収納凹部5a
の垂直上方に位置決めされる。その後、可動台50とと
もに吸着ヘッド1が下降して半導体チップ9をその収納
凹部5a内に収納し、吸着を解除して移送が完了する。
Thereafter, the movable head 50 and the suction head 1
Rises to separate the semiconductor chip 9 from the wafer sheet 8 and pickup is performed (see FIG. 14C).
Then, the suction head 1 moves together with the base 40 of the head holder 2 toward one chip storage tray 5,
At the same time, the tray support table 4 moves, and the semiconductor chip 9 sucked by the suction head 1 is moved to one storage recess 5a.
Is positioned vertically above. Thereafter, the suction head 1 is lowered together with the movable table 50 to store the semiconductor chip 9 in the storage recess 5a, and the suction is released to complete the transfer.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】ところで、最近の半導
体チップ9(ウェーハ90)としては、厚さ0.15m
m以下の極薄のもの、ガリウムヒ素やセラミック等の脆
い材料からなるもの等が適用される傾向にある。従っ
て、適用される半導体チップ9によっては、その材質や
厚さ等に応じて強度や単体重量が様々であるため、移送
装置による半導体チップ9のピックアップの際に、半導
体チップ9が受ける荷重を適宜調整することが要求され
る。何故ならば、強度の低い半導体チップ9が適用され
た場合に高い荷重が設定されていると、その半導体チッ
プ9はその荷重に耐えきれず破損してしまい、その反面
設定荷重が低いと、半導体チップ9と吸着ヘッド1とが
十分に圧接されず吸着状態が不安定になるからである。
The recent semiconductor chip 9 (wafer 90) has a thickness of 0.15 m.
m or less, and those made of brittle materials such as gallium arsenide and ceramic tend to be applied. Therefore, since the strength and unit weight of the semiconductor chip 9 vary depending on the material and thickness of the semiconductor chip 9 to be applied, the load applied to the semiconductor chip 9 when the semiconductor chip 9 is picked up by the transfer device is appropriately adjusted. Coordination is required. This is because if a high load is set when a low-strength semiconductor chip 9 is applied, the semiconductor chip 9 cannot withstand the load and is damaged. This is because the chip 9 and the suction head 1 are not sufficiently pressed against each other and the suction state becomes unstable.

【0017】この要求に対して、上記した従来の移送装
置では、そもそも半導体チップ9が受ける荷重、すなわ
ち軸部材30の自重と引張コイルバネ60の復元力とに
よる荷重が一定の構成であるため、この荷重を調整しよ
うとすると、自由長の異なる引張コイルバネ60に交換
したり、引張コイルバネ60の長さLを調整すべく軸部
材30のブロック体33と可動台50のブロック体33
との間にスペーサを挿入したり、或いは軸部材30の自
重を調整すべく軸部材30に重りを積載したりすること
になる。
In response to this requirement, the conventional transfer device described above has a configuration in which the load received by the semiconductor chip 9, that is, the load due to the own weight of the shaft member 30 and the restoring force of the extension coil spring 60 is constant. In order to adjust the load, the tension member is replaced with a tension coil spring 60 having a different free length, or the block member 33 of the shaft member 30 and the block member 33 of the movable base 50 are adjusted to adjust the length L of the tension coil spring 60.
Between them, or a weight is loaded on the shaft member 30 in order to adjust the own weight of the shaft member 30.

【0018】しかし、このような手法では、引張コイル
バネ60やスペーサや重りを幾つか常備しておく必要が
あるため、それら現品管理や調整作業は極めて煩雑であ
る。
However, in such a method, since it is necessary to keep some tension coil springs 60, spacers and weights, the management and adjustment work of the actual products are extremely complicated.

【0019】そこで本発明は、上記の問題に鑑みてなさ
れたものであり、ウェーハリングの内側にウェーハシー
トが張設され、このウェーハシートの上面に貼着された
ウェーハが多数の半導体チップに切断されており、これ
ら半導体チップを1つずつ不織布から剥離させ、チップ
収納トレイの上面に多数形成された収納凹部へ移送する
ものであって、ピックアップの際に半導体チップが受け
る荷重を簡単に調整できる半導体チップの移送装置を提
供することを目的とするものである。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and a wafer sheet is stretched inside a wafer ring, and the wafer attached to the upper surface of the wafer sheet is cut into a large number of semiconductor chips. These semiconductor chips are separated from the non-woven fabric one by one and transferred to a large number of storage recesses formed on the upper surface of the chip storage tray, so that the load applied to the semiconductor chips during pickup can be easily adjusted. It is an object of the present invention to provide a semiconductor chip transfer device.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による半導体チップの移送装置は、リングを
固定するリング支持テーブルと、このリング支持テーブ
ルに固定された前記リングにおける移送対象となる半導
体チップを不織布とともに突き上げる突き上げ針と、チ
ップ収納トレイを固定するトレイ支持テーブルと、前記
半導体チップを吸着する吸着ヘッドを下端に有した軸部
材と、この軸部材を下方への所定の荷重に抗して移動可
能に支持しリング支持テーブル及びトレイ支持テーブル
に対して相対的に移動するヘッドホルダと、を備え、前
記荷重を可変自在に調整する調整手段を設けている。こ
れにより、半導体チップの材質や厚さに応じて、ピック
アップの際に半導体チップが軸部材の吸着ヘッドから受
ける荷重を簡単に調整できることとなる。
In order to achieve the above object, a semiconductor chip transfer apparatus according to the present invention is a ring support table for fixing a ring, and a transfer object in the ring fixed to the ring support table. A push-up needle for pushing up the semiconductor chip together with the nonwoven fabric, a tray support table for fixing the chip storage tray, a shaft member having a suction head at a lower end for sucking the semiconductor chip, and a shaft member having a predetermined downward load. And a head holder movably supported and relatively moved with respect to the ring support table and the tray support table, and an adjusting means for variably adjusting the load is provided. This makes it possible to easily adjust the load received by the semiconductor chip from the suction head of the shaft member during pickup according to the material and thickness of the semiconductor chip.

【0021】例えば、前記軸部材は、その軸部が前記ヘ
ッドホルダに形成された上下方向の軸受に案内されると
ともに、その軸部に突設されたブロック体で下方への移
動が制限され、更に圧縮コイルバネを挿通しつつ上下方
向に前記ブロック体を貫通したボルトが前記ヘッドホル
ダに螺合することで付勢支持されており、前記調整手段
は前記圧縮コイルバネの高さを調整する前記ボルトの回
転回数であって、その高さに対応する弾発力に応じて前
記荷重が調整されることが好ましい。
For example, the shaft member is guided by a vertical bearing formed on the head holder, and its downward movement is restricted by a block protruding from the shaft member. Further, a bolt that penetrates the block body in the up and down direction while inserting a compression coil spring is biased and supported by being screwed into the head holder, and the adjusting unit is configured to adjust the height of the compression coil spring. It is preferable that the load is adjusted according to the number of rotations and the resilience corresponding to the height.

【0022】更に、調整作業の容易化を図る観点から、
基準状態で前記軸部材が自由高さに設定された前記圧縮
コイルバネで付勢支持されていて、前記ボルトの回転回
数が次式に基づいて選定されるとよい。 F=F0+K×P×N 但し、F:前記荷重、F0:前記軸部材及び吸着ヘッド
の自重、K:前記圧縮コイルバネのバネ定数、P:前記
ボルトのピッチ、N:前記ボルトの基準状態からの回転
回数、である。
Further, from the viewpoint of facilitating the adjustment work,
In the reference state, the shaft member may be biased and supported by the compression coil spring set at a free height, and the number of rotations of the bolt may be selected based on the following equation. F = F 0 + K × P × N where F: the load, F 0 : own weight of the shaft member and the suction head, K: spring constant of the compression coil spring, P: pitch of the bolt, N: reference of the bolt The number of rotations from the state.

【0023】また、半導体チップの材質や厚さのバリエ
ーションを考慮して、半導体チップの破損を防止すると
ともに、半導体チップと吸着ヘッドとの圧接状態を十分
に確保する観点から、前記荷重が0.147〜1.47
2[N]の範囲内で調整されるとよい。
In addition, in consideration of variations in the material and thickness of the semiconductor chip, the load is set to 0. 0 from the viewpoint of preventing damage to the semiconductor chip and ensuring a sufficient pressure contact state between the semiconductor chip and the suction head. 147 to 1.47
It may be adjusted within the range of 2 [N].

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態につい
て図面を参照しながら詳述する。先ず、本発明の第1実
施形態について説明する。図1は本発明の半導体チップ
の移送装置の要部正面図、図2はその移送装置の平面
図、図3はその移送装置の要部斜視図、図4は図3の側
面図、図5は図3の正面図、図6は図4のA矢視図、図
7は図4のB−B断面図、図8は軸部材に与えられる荷
重の調整動作を説明する図、図9はその移送装置におけ
る半導体チップのピックアップ動作を説明する図であ
る。なお、図中で図10〜14と同じ名称の部分には同
一の符号を付し、重複する説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. First, a first embodiment of the present invention will be described. 1 is a front view of a main part of a semiconductor chip transfer device according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of the transfer device, FIG. 3 is a perspective view of the main part of the transfer device, FIG. 4 is a side view of FIG. 3 is a front view of FIG. 3, FIG. 6 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 4, FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 4, FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating a pickup operation of a semiconductor chip in the transfer device. In the drawings, parts having the same names as those in FIGS. 10 to 14 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0025】本発明の特徴は、軸部材30を付勢支持す
るヘッドホルダ2の可動台50を改良した点にある。軸
部材30は、可動台50に穿設された上下方向の貫通孔
51に嵌入され可動台50の上下面から突出する軸受5
2によりその軸部が案内されるとともに、その軸部に突
設されたブロック体33が軸受52の上面と当接するこ
とで下方への移動が制限されている。更に、可動台50
に螺設された上下方向のボルト孔54に螺合したボルト
55が、ブロック体33を上下方向に貫通して案内しな
がら、ボルト55を挿通した圧縮コイルバネ61がボル
ト55の頭部とブロック体33との間に配設されること
で、軸部材30は付勢支持されている。
A feature of the present invention is that the movable base 50 of the head holder 2 for urging and supporting the shaft member 30 is improved. The shaft member 30 is fitted into a vertical through hole 51 formed in the movable base 50 and a bearing 5 protruding from the upper and lower surfaces of the movable base 50.
2 guides the shaft, and the block 33 protruding from the shaft contacts the upper surface of the bearing 52, thereby restricting the downward movement. Furthermore, the movable table 50
A bolt 55 screwed into a vertical bolt hole 54 screwed through the block body 33 vertically penetrates the block body 33 and guides the compression coil spring 61 through which the bolt 55 is inserted. The shaft member 30 is biased and supported by being disposed between the shaft member 30 and the shaft member 30.

【0026】なお、62はボルト55の頭部と圧縮コイ
ルバネ61との間に挿入された平ワッシャであって、圧
縮コイルバネ61の姿勢を安定させる役割を果たし、ま
た、63は可動台50とブロック体33との間でボルト
55に螺合したナットであって、回転により可動台50
と当接してボルト55の回転を規制(ロック)し、他方
回転により可動台50から離脱してそのロックを解除す
る役割を果たす。
Reference numeral 62 denotes a flat washer inserted between the head of the bolt 55 and the compression coil spring 61, which serves to stabilize the posture of the compression coil spring 61, and 63 denotes a movable table 50 and a block. A nut screwed to a bolt 55 between the movable base 50 and the body 33;
To stop (lock) the rotation of the bolt 55 and release the lock from the movable table 50 by rotation.

【0027】従って、軸部材30は、吸着ヘッド1、プ
ラグ31、ホース32、及びブロック体33、及び圧縮
コイルバネ61(厳密言えば平ワッシャ62も)を含め
た軸部材30の自重と、圧縮コイルバネ61の高さHに
対応する弾発力との合力が下方に向く荷重として与えら
れながら保持され、その荷重に抗して上方へのみ移動が
可能になっている。
Accordingly, the shaft member 30 is composed of the self-weight of the shaft member 30 including the suction head 1, the plug 31, the hose 32, the block body 33, and the compression coil spring 61 (strictly, the flat washer 62), and the compression coil spring. The resultant force with the resilient force corresponding to the height H of 61 is held while being applied as a downward load, and can be moved only upward against the load.

【0028】ここで、ボルト55を正回転させて締め込
むと(図8(a)から図8(b)へ移行)、ボルト55
の頭部とブロック体33との間隔とともに圧縮コイルバ
ネ61の高さHが狭まり(図8(b)中のH’)、その
高さ変位の減少分だけ圧縮コイルバネ61の弾発力が大
きくなる。また、ボルト55を逆回転させると(図8
(b)から図8(a)へ移行)、圧縮コイルバネ61の
弾発力の作用でボルト55の頭部とブロック体33との
間隔とともに圧縮コイルバネ61の高さHが広がり、そ
の高さ変位の増加分だけ圧縮コイルバネ61の弾発力が
小さくなる。つまり、単にボルト55を回転させること
で、圧縮コイルバネ61の弾発力が調整され、これによ
り、軸部材30に与えられる荷重が同時に調整され、ひ
いてはピックアップの際に半導体チップ9が受ける荷重
(この様子は後述する)も調整できることになる。
Here, when the bolt 55 is rotated forward and tightened (transition from FIG. 8A to FIG. 8B), the bolt 55
The height H of the compression coil spring 61 decreases with the distance between the head and the block body 33 (H ′ in FIG. 8B), and the elastic force of the compression coil spring 61 increases by the decrease in the height displacement. . When the bolt 55 is rotated in the reverse direction (FIG. 8)
(Transition from (b) to FIG. 8 (a)), the height H of the compression coil spring 61 is increased together with the distance between the head of the bolt 55 and the block body 33 due to the elastic force of the compression coil spring 61, and the height displacement thereof The spring force of the compression coil spring 61 decreases by the amount of the increase. That is, by simply rotating the bolt 55, the elastic force of the compression coil spring 61 is adjusted, whereby the load applied to the shaft member 30 is adjusted at the same time, and the load applied to the semiconductor chip 9 at the time of pickup (this The situation will be described later).

【0029】より具体例を挙げると、ボルト55として
は、ねじの呼びがM3、ピッチが0.5[mm]のものを、
圧縮コイルバネ61としては、バネ定数が0.383[N/m
m](39[gf/mm])、自由高さが10[mm]、圧縮下限高
さが2.7[mm]のものをそれぞれ適用し、軸部材30の
自重が0.147[N](15[gf])となっている。また、基
準状態でボルト55の頭部とブロック体33との間隔、
すなわち圧縮コイルバネ61の高さHは自由高さに設定
されている。つまり基準状態では、圧縮コイルバネ61
の弾発力は生じず、軸部材30にはその自重0.147[N]
のみが荷重として与えられている。
More specifically, as the bolt 55, a screw having a nominal screw size of M3 and a pitch of 0.5 [mm] is used.
The compression coil spring 61 has a spring constant of 0.383 [N / m
m] (39 [gf / mm]), a free height of 10 [mm] and a compression lower limit height of 2.7 [mm] are applied, and the own weight of the shaft member 30 is 0.147 [N] (15 [gf / mm]). ]). Also, the distance between the head of the bolt 55 and the block body 33 in the reference state,
That is, the height H of the compression coil spring 61 is set to a free height. That is, in the reference state, the compression coil spring 61
Does not occur, and the shaft member 30 has its own weight of 0.147 [N].
Only the load is given.

【0030】次に、このような基準状態からボルト55
を回転させて荷重を調整するわけであるが、その調整に
あたっては、次式に示す力学的な公式を用いる。
Next, from such a reference state, the bolt 55
Is rotated to adjust the load. In that adjustment, a dynamic formula shown in the following equation is used.

【0031】F=F0+K×P×N 但し、F:軸部材30に与えられる荷重、F0:軸部材
30の自重、K:圧縮コイルバネ61のバネ定数、P:
ボルト55のピッチ、N:基準状態からのボルト55の
回転回数である。
F = F 0 + K × P × N where F: load applied to the shaft member 30, F 0 : own weight of the shaft member 30, K: spring constant of the compression coil spring 61, P:
Pitch of bolt 55, N: Number of rotations of bolt 55 from the reference state.

【0032】上記の式によれば、基準状態からのボルト
55の回転回数Nから、軸部材30に与えられる荷重F
が算出されて、半導体チップ9が受ける荷重を予測でき
る。言い換えると、半導体チップ9の許容荷重、すなわ
ち軸部材30に与えられる荷重Fから、ボルト55の回
転回数Nを算出できる。
According to the above equation, the load F applied to the shaft member 30 is calculated based on the number of rotations N of the bolt 55 from the reference state.
Is calculated, and the load on the semiconductor chip 9 can be predicted. In other words, the number of rotations N of the bolt 55 can be calculated from the allowable load of the semiconductor chip 9, that is, the load F applied to the shaft member 30.

【0033】そこで、例えば、半導体チップ9の許容荷
重が1.472[N](150[gf])であれば、上記の式に基
づきボルト55の回転回数Nとして約7回が算出される
ので、この回数だけボルト55を回転させることで、結
局軸部材30に与えられる荷重が、半導体チップ9に対
して適正な荷重(許容荷重)に簡単に調整されることに
なる。
Thus, for example, if the allowable load of the semiconductor chip 9 is 1.472 [N] (150 [gf]), the number of rotations N of the bolt 55 is calculated to be about 7 times based on the above equation. By rotating the bolt 55 the number of times, the load applied to the shaft member 30 is easily adjusted to an appropriate load (allowable load) on the semiconductor chip 9 after all.

【0034】ここで、半導体チップ9の材質や厚さのバ
リエーションを考慮すると、一般の半導体チップ9の許
容荷重は、0.147〜1.472[N]の範囲内であることか
ら、上記の具体例の場合でも十分対処できる。なお、圧
縮コイルバネ61の圧縮下限高さが2.7[mm]であるこ
とから、14.5回({10(自由高さ)−2.7(圧縮下限高
さ)}/0.5(ピッチ))まではボルト55を回転させ
ることが実質可能である。
Here, considering the variation of the material and thickness of the semiconductor chip 9, the allowable load of the general semiconductor chip 9 is in the range of 0.147 to 1.472 [N]. But we can deal with it enough. Since the compression lower limit of the compression coil spring 61 is 2.7 [mm], the bolt 55 is not used until 14.5 times ({10 (free height) −2.7 (compression lower limit)} / 0.5 (pitch)). It is virtually possible to rotate.

【0035】次に、ヘッドホルダ2の駆動機構について
説明しておく。ヘッドホルダ2は、大きくは、X軸方向
(図1、2では左右方向)に移動する基台40と、この
基台40に対しZ軸方向(図1では上下方向、図2では
紙面に直交する方向)に移動する可動台50とから構成
されており、以下にこれらの駆動機構を詳述する。
Next, the driving mechanism of the head holder 2 will be described. The head holder 2 is roughly divided into a base 40 that moves in the X-axis direction (the left-right direction in FIGS. 1 and 2), and a Z-axis direction (vertical direction in FIG. 1; And the movable table 50 that moves in the direction in which the driving mechanism moves). These driving mechanisms will be described in detail below.

【0036】ハウジング12内には、X軸方向に延在す
るX軸ガイドレール70、及びこのX軸ガイドレール7
0と平行に一対のプーリ71、72で懸架された駆動ベ
ルト73が配設されており、一方のプーリ71には、タ
イミングベルト74を介してX軸駆動モータ75が連結
されている。ここで基台40は、X軸ガイドレール70
上で摺動自在のリニアガイド76の前面に固定されてお
り、このリニアガイド76の後面には、駆動ベルト73
の一部が固定されている。ここで、基台40、すなわち
リニアガイド76と駆動ベルト73の固定については、
直接ボルト等で締結固定してもよいが、本実施形態のよ
うに、交換や調整作業の容易化を考慮して、リニアガイ
ド76の上面から後面にかけてサポート用のブロック部
材77を設け、このブロック部材77にて駆動ベルト7
3を挟持することにより、駆動ベルト73の任意の位置
に固定するようにしてもよい。
In the housing 12, an X-axis guide rail 70 extending in the X-axis direction, and the X-axis guide rail 7
A drive belt 73 suspended by a pair of pulleys 71 and 72 is disposed in parallel with 0. An X-axis drive motor 75 is connected to one pulley 71 via a timing belt 74. Here, the base 40 is an X-axis guide rail 70.
The linear guide 76 is fixed to the front surface of the linear guide 76 slidable above.
Some have been fixed. Here, the fixing of the base 40, that is, the linear guide 76 and the drive belt 73,
Although it may be directly fastened and fixed with bolts or the like, as in the present embodiment, a block member 77 for support is provided from the upper surface to the rear surface of the linear guide 76 in consideration of facilitation of replacement and adjustment work. Drive belt 7 with member 77
3 may be fixed to an arbitrary position of the drive belt 73 by being sandwiched.

【0037】このような構成のもと、X軸駆動モータ7
5の正逆回転により駆動ベルト73が駆動し、これによ
り基台40は、X軸ガイドレール70に沿ってX軸方向
に移動するようになっている。なお、78は赤外線セン
サであって、X軸駆動モータ75に与えられる駆動パル
ス信号を制御すべく、基台40に突設された板片79の
通過を検知して基台40の基準位置を検出する役割を果
たし、また、80はアイドラプーリであって、駆動ベル
ト73の張力を調節する役割を果たす。
With such a configuration, the X-axis drive motor 7
The drive belt 73 is driven by the forward / reverse rotation of 5, so that the base 40 moves in the X-axis direction along the X-axis guide rail 70. An infrared sensor 78 detects the passage of a plate 79 projecting from the base 40 and controls the reference position of the base 40 in order to control a drive pulse signal applied to the X-axis drive motor 75. Reference numeral 80 denotes an idler pulley, which serves to adjust the tension of the drive belt 73.

【0038】一方、基台40の前面にはZ軸方向に延在
するZ軸ガイドレール82が配設されており、可動台5
0は、Z軸ガイドレール82上で摺動自在のリニアガイ
ド83と連結ブロック81を介して連結されている。ま
た、連結ブロック81の後面には、側方に向けてZ軸方
向にラックを有するラックプレート84が固定され、基
台40の後面には、基台40を貫通してそのラックプレ
ート84のラックと噛合するギヤ85を有したZ軸駆動
モータ86が固定されている。
On the other hand, a Z-axis guide rail 82 extending in the Z-axis direction is provided on the front surface of the base 40,
Numeral 0 is connected to a linear guide 83 slidable on a Z-axis guide rail 82 via a connection block 81. A rack plate 84 having a rack in the Z-axis direction is fixed to the rear surface of the connection block 81, and the rack of the rack plate 84 penetrating the base 40 is fixed to the rear surface of the base 40. A Z-axis drive motor 86 having a gear 85 that meshes with the Z-axis drive motor 86 is fixed.

【0039】このような構成のもと、Z軸駆動モータ8
6の正逆回転によりそのギヤが正逆回転し、これによ
り、ラックプレート84とともにリニアガイド83、連
結ブロック81、及び可動台50が一体的にZ軸方向に
移動するようになっている。なお、87は赤外線センサ
であって、Z軸駆動モータ86に与えられる駆動パルス
信号を制御すべく、ラックプレート84の一端の通過を
検知して可動台50の基準位置を検出する役割を果た
し、また、65は基台40及び可動台50各々に突設の
有頭ネジ88、89に掛止された引張コイルバネであっ
て、この引張コイルバネ65は、可動台50を基台40
に対してZ軸上方に向けて付勢し、可動台50の復帰移
動(上方への移動)を補助する役割を果たす。
With such a configuration, the Z-axis drive motor 8
The gear rotates forward / reverse by the forward / reverse rotation of 6, so that the linear guide 83, the connection block 81, and the movable base 50 move integrally with the rack plate 84 in the Z-axis direction. An infrared sensor 87 has a function of detecting the passage of one end of the rack plate 84 and detecting the reference position of the movable base 50 in order to control a drive pulse signal applied to the Z-axis drive motor 86. Reference numeral 65 denotes a tension coil spring hooked on headed screws 88 and 89 projecting from the base 40 and the movable table 50, respectively.
, And serves to assist the return movement (upward movement) of the movable base 50.

【0040】次に、ピックアップの際に半導体チップ9
が受ける荷重の様子を図9に基づき説明する。突き上げ
針103bが上昇してウェーハシート8とともに半導体
チップ9を突き上げ、これに応動してヘッドホルダ2の
可動台50とともに吸着ヘッド1が下降して半導体チッ
プ9の上面に当接し(図9(a)参照)、継続して可動
台50は若干下降する(図9(b)参照)。その際吸着
ヘッド1は、半導体チップ9を介して突き上げ針103
bの抵抗を受けてその下降が規制されるため、上記した
軸部材30の自重と圧縮コイルバネ61の弾発力とによ
る荷重に抗して軸部材30とともに上方へ微動し、結局
は、半導体チップ9と圧接した状態、すなわち半導体チ
ップ9がその荷重を受けた状態となるわけである。
Next, when picking up the semiconductor chip 9
The state of the load applied to the vehicle will be described with reference to FIG. The push-up needle 103b rises to push up the semiconductor chip 9 together with the wafer sheet 8, and in response thereto, the movable head 50 of the head holder 2 and the suction head 1 descend to contact the upper surface of the semiconductor chip 9 (FIG. 9 (a)). )), And the movable table 50 continues to slightly lower (see FIG. 9B). At this time, the suction head 1 is moved up by the push-up needle 103 through the semiconductor chip 9.
b, the downward movement thereof is regulated by the resistance of the shaft member 30, so that it slightly moves upward together with the shaft member 30 against the load caused by the self-weight of the shaft member 30 and the resilient force of the compression coil spring 61. 9, that is, the semiconductor chip 9 receives the load.

【0041】このように、半導体チップ9はピックアッ
プの際に吸着ヘッド1から荷重を受けるわけであるが、
単にボルト55を回転させることでその荷重を可変自在
に調整できるので、適用される半導体チップ9の材質や
厚さに基づく許容荷重に応じて、事前にその荷重を調整
することにより、半導体チップ9に対して適正な荷重を
与えることが可能となる。よって、半導体チップ9が破
損したり、半導体チップ9と吸着ヘッド1との圧接状態
が不十分になったりすることはない。
As described above, the semiconductor chip 9 receives a load from the suction head 1 during pickup.
Since the load can be adjusted variably by simply rotating the bolt 55, the load is adjusted in advance in accordance with the allowable load based on the material and thickness of the semiconductor chip 9 to be applied. Can be given an appropriate load. Therefore, the semiconductor chip 9 is not damaged, and the state of pressure contact between the semiconductor chip 9 and the suction head 1 is not insufficient.

【0042】なお、本発明は上記の実施形態に限定され
ず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可
能である。例えば、軸部材30を付勢支持する圧縮コイ
ルバネ61の代わりに、ゴム等の弾性体を配設しても構
わない。また、軸部材30が圧縮空気等の圧力を下方に
受けながらヘッドホルダ2に支持されていて、その圧力
が可変に調整されることでもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, instead of the compression coil spring 61 for urging and supporting the shaft member 30, an elastic body such as rubber may be provided. Further, the shaft member 30 may be supported by the head holder 2 while receiving the pressure of compressed air or the like downward, and the pressure may be variably adjusted.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明した通り本発明によれば、リン
グの内側に不織布が張設され、この不織布の上面に貼着
されたウェーハが多数の半導体チップに切断されてお
り、これら半導体チップを1つずつ不織布から剥離さ
せ、チップ収納トレイの上面に多数形成された収納凹部
へ移送するものであって、前記リングを固定するリング
支持テーブルと、このリング支持テーブルに固定された
前記リングにおける移送対象となる前記半導体チップを
前記不織布とともに突き上げる突き上げ針と、前記チッ
プ収納トレイを固定するトレイ支持テーブルと、前記半
導体チップを吸着する吸着ヘッドを下端に有した軸部材
と、この軸部材を下方への所定の荷重に抗して移動可能
に支持しリング支持テーブル及びトレイ支持テーブルに
対して相対的に移動するヘッドホルダと、を備えた半導
体チップの移送装置において、前記荷重を可変自在に調
整する調整手段を設けているので、どのような半導体チ
ップを適用しても、その半導体チップの材質や厚さに応
じて、ピックアップの際に半導体チップが軸部材の吸着
ヘッドから受ける荷重を簡単に調整できる。よって、半
導体チップが破損したり、半導体チップと吸着ヘッドと
の圧接状態が不十分になったりすることはない。
As described above, according to the present invention, the nonwoven fabric is stretched inside the ring, and the wafer attached to the upper surface of the nonwoven fabric is cut into a large number of semiconductor chips. It is separated from the nonwoven fabric one by one and transferred to a large number of storage recesses formed on the upper surface of the chip storage tray. The ring support table for fixing the ring, and the transfer on the ring fixed to the ring support table A push-up needle for pushing up the target semiconductor chip together with the nonwoven fabric, a tray support table for fixing the chip storage tray, a shaft member having a suction head for sucking the semiconductor chip at a lower end, and moving the shaft member downward. Movably supported against a predetermined load, and moved relatively to the ring support table and the tray support table. In a semiconductor chip transfer device having a head holder, the adjusting means for variably adjusting the load is provided, so that no matter what kind of semiconductor chip is applied, the material and thickness of the semiconductor chip are reduced. Accordingly, the load received by the semiconductor chip from the suction head of the shaft member during pickup can be easily adjusted. Therefore, the semiconductor chip is not damaged, and the pressure contact state between the semiconductor chip and the suction head does not become insufficient.

【0044】例えば、前記軸部材は、その軸部が前記ヘ
ッドホルダに形成された上下方向の軸受に案内されると
ともに、その軸部に突設されたブロック体で下方への移
動が制限され、更に圧縮コイルバネを挿通しつつ上下方
向に前記ブロック体を貫通したボルトが前記ヘッドホル
ダに螺合することで付勢支持されており、前記調整手段
は前記圧縮コイルバネの高さを調整する前記ボルトの回
転回数であって、その高さに対応する弾発力に応じて前
記荷重が調整されようになっていると、調整作業は単に
ボルトを回転させることで足りる。
For example, the shaft member is guided by a vertical bearing formed on the head holder, and its downward movement is restricted by a block protruding from the shaft member. Further, a bolt that penetrates the block body in the up and down direction while inserting a compression coil spring is biased and supported by being screwed into the head holder, and the adjusting unit is configured to adjust the height of the compression coil spring. If the load is adjusted in accordance with the number of rotations and the resilience corresponding to the height, the adjustment work is sufficient by simply rotating the bolt.

【0045】更に、基準状態で前記軸部材が自由高さに
設定された前記圧縮コイルバネで付勢支持されていて、
前記ボルトの回転回数が、F=F0+K×P×Nの式
(但し、F:前記荷重、F0:前記軸部材及び吸着ヘッ
ドの自重、K:前記圧縮コイルバネのバネ定数、P:前
記ボルトのピッチ、N:前記ボルトの基準状態からの回
転回数)に基づいて選定されると、事前に荷重の予測が
行え、実際の調整作業が容易になる。
Further, in a reference state, the shaft member is biased and supported by the compression coil spring set at a free height,
The number of rotations of the bolt is expressed as F = F 0 + K × P × N (where F: the load, F 0 : the weight of the shaft member and the suction head, K: the spring constant of the compression coil spring, P: the If it is selected based on the pitch of the bolt, N: the number of rotations from the reference state of the bolt), the load can be predicted in advance, and the actual adjustment work becomes easy.

【0046】また、前記荷重が0.147〜1.472
[N]の範囲内で調整されるようになっていると、半導
体チップの破損を防止するとともに、半導体チップと吸
着ヘッドとの圧接状態を十分に確保することが確実にな
される。
Further, when the load is 0.147 to 1.472.
When the adjustment is made within the range of [N], it is possible to prevent the semiconductor chip from being damaged and to ensure a sufficient pressure contact state between the semiconductor chip and the suction head.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の半導体チップの移送装置の要部正
面図。
FIG. 1 is a front view of a main part of a semiconductor chip transfer device of the present invention.

【図2】 本発明の移送装置の平面図。FIG. 2 is a plan view of the transfer device of the present invention.

【図3】 本発明の移送装置の要部斜視図。FIG. 3 is a perspective view of a main part of the transfer device of the present invention.

【図4】 図3の側面図。FIG. 4 is a side view of FIG. 3;

【図5】 図3の正面図。FIG. 5 is a front view of FIG. 3;

【図6】 図4のA矢視図。FIG. 6 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 4;

【図7】 図4のB−B断面図。FIG. 7 is a sectional view taken along the line BB of FIG. 4;

【図8】 軸部材に与えられる荷重の調整動作を説明
する図。
FIG. 8 is a diagram illustrating an operation of adjusting a load applied to a shaft member.

【図9】 本発明の移送装置における半導体チップの
ピックアップ動作を説明する図。
FIG. 9 is a diagram illustrating a semiconductor chip pickup operation in the transfer device of the present invention.

【図10】 従来の移送装置の模式的要部正面図。FIG. 10 is a schematic front view of a main part of a conventional transfer device.

【図11】 従来の移送装置の模式的平面図。FIG. 11 is a schematic plan view of a conventional transfer device.

【図12】 従来の移動装置の要部側面図。FIG. 12 is a side view of a main part of a conventional moving device.

【図13】 図11のD−D断面図。FIG. 13 is a sectional view taken along line DD of FIG. 11;

【図14】 半導体チップのピックアップ動作を説明
する要部断面図。
FIG. 14 is an essential part cross sectional view for explaining a pickup operation of a semiconductor chip;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 吸着ヘッド 2 ヘッドホルダ 3、4 トレイ支持テーブル 5 チップ収納トレイ 6 リング支持テーブル 7 ウェーハリング(リング) 8 ウェーハシート(不織布) 9 半導体チップ 10 カメラ 11 コンピュータ 30 軸部材 31 プラグ 32 ホース 33 ブロック体 40 基台 50 可動台 51 貫通孔 52 軸受 54 ボルト孔 55 ボルト 61 圧縮コイルバネ 62 平ワッシャ 63 ナット 90 ウェーハ 103 突き上げユニット 1 Suction head 2 Head holder 3, 4 tray support table 5 Chip storage tray 6 Ring support table 7 Wafer ring (ring) 8 Wafer sheet (non-woven fabric) 9 Semiconductor chip 10 Camera 11 Computer 30 Shaft member 31 plug 32 hose 33 block body 40 base 50 movable table 51 Through hole 52 Bearing 54 bolt holes 55 volts 61 Compression coil spring 62 flat washer 63 nut 90 wafer 103 Thrust unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F031 CA13 DA05 FA05 FA14 FA19 GA23 GA47 GA48 GA49 HA33 JA10 JA47 MA35 MA39 MA40 NA14    ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page    F term (reference) 5F031 CA13 DA05 FA05 FA14 FA19                       GA23 GA47 GA48 GA49 HA33                       JA10 JA47 MA35 MA39 MA40                       NA14

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 リングの内側に不織布が張設され、この
不織布の上面に貼着されたウェーハが多数の半導体チッ
プに切断されており、これら半導体チップを1つずつ不
織布から剥離させ、チップ収納トレイの上面に多数形成
された収納凹部へ移送するものであって、 前記リングを固定するリング支持テーブルと、このリン
グ支持テーブルに固定された前記リングにおける移送対
象となる前記半導体チップを前記不織布とともに突き上
げる突き上げ針と、前記チップ収納トレイを固定するト
レイ支持テーブルと、前記半導体チップを吸着する吸着
ヘッドを下端に有した軸部材と、この軸部材を下方への
所定の荷重に抗して移動可能に支持しリング支持テーブ
ル及びトレイ支持テーブルに対して相対的に移動するヘ
ッドホルダと、を備えた半導体チップの移送装置におい
て、 前記荷重を可変自在に調整する調整手段を設けたことを
特徴とする半導体チップの移送装置。
1. A non-woven fabric is stretched inside a ring, and a wafer attached to an upper surface of the non-woven fabric is cut into a large number of semiconductor chips. These semiconductor chips are separated from the non-woven fabric one by one, and the chip is stored. A ring support table for fixing the ring, and the semiconductor chip to be transferred in the ring fixed to the ring support table together with the nonwoven fabric. A push-up needle, a tray support table for fixing the chip storage tray, a shaft member having a suction head for sucking the semiconductor chip at a lower end, and the shaft member can be moved against a predetermined downward load. And a head holder that is supported on the ring support table and moves relative to the ring support table and the tray support table. In the transfer apparatus-up, the transfer device of the semiconductor chip, characterized in that an adjusting means for adjusting the load variable freely.
【請求項2】 前記軸部材は、その軸部が前記ヘッドホ
ルダに形成された上下方向の軸受に案内されるととも
に、その軸部に突設されたブロック体で下方への移動が
制限され、更に圧縮コイルバネを挿通しつつ上下方向に
前記ブロック体を貫通したボルトが前記ヘッドホルダに
螺合することで付勢支持されており、 前記調整手段は前記圧縮コイルバネの高さを調整する前
記ボルトの回転回数であって、その高さに対応する弾発
力に応じて前記荷重が調整されることを特徴とする請求
項1に記載の半導体チップの移送装置。
2. The shaft member has a shaft portion guided by a vertical bearing formed on the head holder, and is restricted from moving downward by a block protruding from the shaft portion. Further, a bolt that penetrates the block body in the up and down direction while inserting a compression coil spring is biased and supported by being screwed into the head holder, and the adjusting unit is configured to adjust the height of the compression coil spring. 2. The semiconductor chip transfer device according to claim 1, wherein the load is adjusted according to a number of rotations and a resilience corresponding to the height.
【請求項3】 基準状態で前記軸部材が自由高さに設定
された前記圧縮コイルバネで付勢支持されていて、前記
ボルトの回転回数が次式に基づいて選定されることを特
徴とする請求項2に記載の半導体チップの移送装置。 F=F0+K×P×N 但し、F:前記荷重、F0:前記軸部材及び吸着ヘッド
の自重、K:前記圧縮コイルバネのバネ定数、P:前記
ボルトのピッチ、N:前記ボルトの基準状態からの回転
回数、である。
3. The reference member, wherein the shaft member is biased and supported by the compression coil spring set at a free height, and the number of rotations of the bolt is selected based on the following equation. Item 3. A device for transferring semiconductor chips according to Item 2. F = F 0 + K × P × N where F: the load, F 0 : own weight of the shaft member and the suction head, K: spring constant of the compression coil spring, P: pitch of the bolt, N: reference of the bolt The number of rotations from the state.
【請求項4】 前記荷重が0.147〜1.472
[N]の範囲内で調整されることを特徴とする請求項1
から3のいずれかに記載の半導体チップの移送装置。
4. The load is 0.147 to 1.472.
2. The adjustment is performed within the range of [N].
4. The device for transferring semiconductor chips according to any one of claims 1 to 3.
JP2002148964A 2002-05-23 2002-05-23 Moving apparatus for semiconductor chip Pending JP2003347389A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002148964A JP2003347389A (en) 2002-05-23 2002-05-23 Moving apparatus for semiconductor chip

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002148964A JP2003347389A (en) 2002-05-23 2002-05-23 Moving apparatus for semiconductor chip

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003347389A true JP2003347389A (en) 2003-12-05

Family

ID=29767304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002148964A Pending JP2003347389A (en) 2002-05-23 2002-05-23 Moving apparatus for semiconductor chip

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003347389A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101165034B1 (en) 2007-11-21 2012-07-13 삼성테크윈 주식회사 Pick up head and flip chip bonder having the same
JP2013161972A (en) * 2012-02-06 2013-08-19 Disco Abrasive Syst Ltd Housing cassette
JP2014011416A (en) * 2012-07-03 2014-01-20 Panasonic Corp Pickup device and method for semiconductor chip
CN116313986A (en) * 2023-05-12 2023-06-23 季华实验室 Semiconductor component transfer device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101165034B1 (en) 2007-11-21 2012-07-13 삼성테크윈 주식회사 Pick up head and flip chip bonder having the same
JP2013161972A (en) * 2012-02-06 2013-08-19 Disco Abrasive Syst Ltd Housing cassette
JP2014011416A (en) * 2012-07-03 2014-01-20 Panasonic Corp Pickup device and method for semiconductor chip
CN116313986A (en) * 2023-05-12 2023-06-23 季华实验室 Semiconductor component transfer device
CN116313986B (en) * 2023-05-12 2023-09-01 季华实验室 Semiconductor component transfer device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3477321B2 (en) Electronic component mounting device
US7437818B2 (en) Component mounting method
JP6839143B2 (en) Element mounting device, element mounting method and element mounting board manufacturing method
US20080089768A1 (en) Transfer Unit
KR101666276B1 (en) Collet and die bonder
JP2017127940A (en) Robot device
JP5959216B2 (en) Substrate transport method and substrate transport apparatus
US20050148156A1 (en) Method of removing unnecessary matter from semiconductor wafer, and apparatus using the same
JPH0817889A (en) Chip automatic loading device
KR102330577B1 (en) Electronic component pickup apparatus and bonding apparatus
JP2003347389A (en) Moving apparatus for semiconductor chip
JPH08330790A (en) Bare chip mounter
JP2012186505A (en) Component supply device
JP4715814B2 (en) Seat extending apparatus and seat extending method
JP4136692B2 (en) Pellet conveying device, pellet bonding method and pellet bonding device
JP5074788B2 (en) Chip component mounting device
CN107452641A (en) The method that naked core is picked up from wafer
JP2006049490A (en) Board conveying device, part mounting device and board conveying method
JP4117767B2 (en) Wafer handling equipment
JPH08288337A (en) Chip bonder and bonding method
JP2009252890A (en) Component supply device
JP3369877B2 (en) Bonding unit
JP5953069B2 (en) Die bonder
JPH10150093A (en) Pickup device
TWI823290B (en) Transport devices, transport methods and procedures

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050516

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080204

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080820

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081219