JP2003315365A - 電力量計の試験標検出器 - Google Patents
電力量計の試験標検出器Info
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- JP2003315365A JP2003315365A JP2002126628A JP2002126628A JP2003315365A JP 2003315365 A JP2003315365 A JP 2003315365A JP 2002126628 A JP2002126628 A JP 2002126628A JP 2002126628 A JP2002126628 A JP 2002126628A JP 2003315365 A JP2003315365 A JP 2003315365A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 電力量計の試験標を安定して確実に検出する
ことができる検出器を提供すること。 【解決手段】 電力量計における計測電力量に応じて回
転する回転円盤の周囲に設置され、前記回転円盤に付さ
れた試験標を光学的に検知し、検出信号を形成する検出
手段において、投光回路1、受光回路2、外光除去回路
3、オフセット調整回路4、振幅調整回路5、A/D変
換器6、CPU(中央演算処理装置)7、増幅器8、お
よび出力装置9から構成される。本発明の特徴をなすの
は、オフセット調整回路4、振幅調整回路、A/D変換
器6およびCPU7により構成される信号処理部であ
る。
ことができる検出器を提供すること。 【解決手段】 電力量計における計測電力量に応じて回
転する回転円盤の周囲に設置され、前記回転円盤に付さ
れた試験標を光学的に検知し、検出信号を形成する検出
手段において、投光回路1、受光回路2、外光除去回路
3、オフセット調整回路4、振幅調整回路5、A/D変
換器6、CPU(中央演算処理装置)7、増幅器8、お
よび出力装置9から構成される。本発明の特徴をなすの
は、オフセット調整回路4、振幅調整回路、A/D変換
器6およびCPU7により構成される信号処理部であ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電力量計の試験標検出
器に係り、とくに電力量計における回転円盤の回転に応
じて試験標を安定して確実に検出するための検出器に関
する。
器に係り、とくに電力量計における回転円盤の回転に応
じて試験標を安定して確実に検出するための検出器に関
する。
【0002】
【従来の技術】電力量計では、使用電力量に応じて回転
円盤が回転するように構成されており、回転円盤の回転
数を計数することにより電力量を計測する。そして、回
転円盤にはその周縁部に試験標と呼ばれるマークが付さ
れており、この試験標を観測することにより電力量計が
正しく計測しているか否かが分る。
円盤が回転するように構成されており、回転円盤の回転
数を計数することにより電力量を計測する。そして、回
転円盤にはその周縁部に試験標と呼ばれるマークが付さ
れており、この試験標を観測することにより電力量計が
正しく計測しているか否かが分る。
【0003】そのため、従来、例えば実公昭61−20493
号公報に示すように、電力量計の試験標を検出する装置
が提供されている。この装置は、図4に示すように、回
転円盤の周縁部に付された試験標Mを投受光器101に
より光学的に検出して、光の反射量に応じた検出信号を
形成し、この検出信号から外光除去回路102で外光成
分を除去し、オフセット調整回路103でオフセットレ
ベルの調整を行った上で、A/D変換器および演算装置1
04により基準信号とレベル比較して、出力端子OUTに
試験標検出信号を形成している。
号公報に示すように、電力量計の試験標を検出する装置
が提供されている。この装置は、図4に示すように、回
転円盤の周縁部に付された試験標Mを投受光器101に
より光学的に検出して、光の反射量に応じた検出信号を
形成し、この検出信号から外光除去回路102で外光成
分を除去し、オフセット調整回路103でオフセットレ
ベルの調整を行った上で、A/D変換器および演算装置1
04により基準信号とレベル比較して、出力端子OUTに
試験標検出信号を形成している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この装
置では、A/D変換器および演算装置104への入力レベ
ルを調整できないため、A/D変換器が高分解能を持つ必
要がある。また、投受光器の特性が異なっていたり、投
受光器から回転円盤までの距離が大であったりすると、
試験標の検出が困難な場合もある。
置では、A/D変換器および演算装置104への入力レベ
ルを調整できないため、A/D変換器が高分解能を持つ必
要がある。また、投受光器の特性が異なっていたり、投
受光器から回転円盤までの距離が大であったりすると、
試験標の検出が困難な場合もある。
【0005】本発明は上述の点を考慮してなされたもの
で、電力量計の試験標を安定して確実に検出することが
できる検出器を提供することを目的とする。
で、電力量計の試験標を安定して確実に検出することが
できる検出器を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的達成のため、本
発明では、電力量計における計測電力量に応じて回転す
る回転円盤の周囲に設置され、前記回転円盤に付された
試験標を光学的に検知し、検出信号を形成する検出手段
と、この検出手段における検出信号から外光成分を除去
して純化された信号を形成する外光除去回路と、この外
光除去回路で純化された信号のオフセット調整信号を形
成するオフセット調整回路と、このオフセット調整回路
の出力が与えられる乗算型D/A変換器およびこの乗算型D
/A変換器の出力を増幅するアナログ増幅器を有し、前記
乗算型D/A変換器が前記オフセット調整回路の出力の大
きさを調整した上で前記アナログ増幅器によって増幅す
ることにより振幅の大きさを適正範囲に調整する振幅調
整回路と、この振幅調整回路の出力をディジタル変換す
るA/D変換器と、このA/D変換器からのディジタル出力に
基づき、前記試験標の検出信号を形成するとともに、前
記振幅調整回路に前記ディジタル制御信号を与えるディ
ジタル演算器とをそなえた電力量計の試験標検出器、を
提供するものである。
発明では、電力量計における計測電力量に応じて回転す
る回転円盤の周囲に設置され、前記回転円盤に付された
試験標を光学的に検知し、検出信号を形成する検出手段
と、この検出手段における検出信号から外光成分を除去
して純化された信号を形成する外光除去回路と、この外
光除去回路で純化された信号のオフセット調整信号を形
成するオフセット調整回路と、このオフセット調整回路
の出力が与えられる乗算型D/A変換器およびこの乗算型D
/A変換器の出力を増幅するアナログ増幅器を有し、前記
乗算型D/A変換器が前記オフセット調整回路の出力の大
きさを調整した上で前記アナログ増幅器によって増幅す
ることにより振幅の大きさを適正範囲に調整する振幅調
整回路と、この振幅調整回路の出力をディジタル変換す
るA/D変換器と、このA/D変換器からのディジタル出力に
基づき、前記試験標の検出信号を形成するとともに、前
記振幅調整回路に前記ディジタル制御信号を与えるディ
ジタル演算器とをそなえた電力量計の試験標検出器、を
提供するものである。
【0007】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施例の回路
構成を示したものである。この実施例は、投光回路1、
受光回路2、外光除去回路3、オフセット調整回路4、
振幅調整回路5、A/D変換器6、CPU(中央演算処理装
置)7、増幅器8および出力装置9により構成されてい
る。そして、本発明の特徴をなすのは、オフセット調整
回路4、振幅調整回路5、A/D変換器6およびCPU7に
より構成される信号処理部分である。
構成を示したものである。この実施例は、投光回路1、
受光回路2、外光除去回路3、オフセット調整回路4、
振幅調整回路5、A/D変換器6、CPU(中央演算処理装
置)7、増幅器8および出力装置9により構成されてい
る。そして、本発明の特徴をなすのは、オフセット調整
回路4、振幅調整回路5、A/D変換器6およびCPU7に
より構成される信号処理部分である。
【0008】この図1において、発光回路1は、抵抗お
よび複数の発光ダイオードが直列接続されていて増幅器
8の出力が与えられて発光動作をするものであり、また
受光回路2は抵抗と複数の受光ダイオードが直列接続さ
れてその一端が電源+Vに接続された構成とされてい
る。
よび複数の発光ダイオードが直列接続されていて増幅器
8の出力が与えられて発光動作をするものであり、また
受光回路2は抵抗と複数の受光ダイオードが直列接続さ
れてその一端が電源+Vに接続された構成とされてい
る。
【0009】そして、発光回路1が増幅器8を介してCP
U7から与えられる発光信号に応じて点灯されると、そ
の光は電力量計の回転円盤の周縁部で反射されて受光回
路2の受光ダイオードに達する。
U7から与えられる発光信号に応じて点灯されると、そ
の光は電力量計の回転円盤の周縁部で反射されて受光回
路2の受光ダイオードに達する。
【0010】回転円盤には、その周縁部に試験標Mが付
されており、この試験標Mを検出する度に、受光回路2
の受光レベルが低下する。この受光レベルの変化を含ん
だ信号が、外光除去回路3に与えられる。
されており、この試験標Mを検出する度に、受光回路2
の受光レベルが低下する。この受光レベルの変化を含ん
だ信号が、外光除去回路3に与えられる。
【0011】外光除去回路3は、アナログスイッチ3
1、2つのサンプルホールド回路32,33および減算
回路34により構成されている。そして、アナログスイ
ッチ31が、増幅器8の出力に応じて発光回路1の発光
動作と同期して切換動作を行うと、2つのサンプルホー
ルド回路32,33には、それぞれ受光回路2から異な
るタイミングで与えられた検出信号が保持される。
1、2つのサンプルホールド回路32,33および減算
回路34により構成されている。そして、アナログスイ
ッチ31が、増幅器8の出力に応じて発光回路1の発光
動作と同期して切換動作を行うと、2つのサンプルホー
ルド回路32,33には、それぞれ受光回路2から異な
るタイミングで与えられた検出信号が保持される。
【0012】これら2つのサンプルホールド回路32,
33の保持信号は、減算回路34に与えられ、両信号の
共通部分である外光成分を検出することにより定常的に
生じている信号外成分を除去し、純化処理つまりできる
だけ試験標検出に対応した信号成分のみを取り出す処理
をして、オフセット調整回路4に与える。
33の保持信号は、減算回路34に与えられ、両信号の
共通部分である外光成分を検出することにより定常的に
生じている信号外成分を除去し、純化処理つまりできる
だけ試験標検出に対応した信号成分のみを取り出す処理
をして、オフセット調整回路4に与える。
【0013】オフセット調整回路4は、差動回路41、
D/A変換器42および増幅器43により構成される。差
動回路41には、外光除去回路3からの検出信号と、CP
U7の出力に基づくD/A変換器42および増幅器43を介
する調整信号とが与えられ、この調整信号に応じて検出
信号のオフセット調整がなされて振幅調整回路5に与え
られる。これにより、検出信号の零レベルが適当に調整
された上で振幅調整回路5に送られる。
D/A変換器42および増幅器43により構成される。差
動回路41には、外光除去回路3からの検出信号と、CP
U7の出力に基づくD/A変換器42および増幅器43を介
する調整信号とが与えられ、この調整信号に応じて検出
信号のオフセット調整がなされて振幅調整回路5に与え
られる。これにより、検出信号の零レベルが適当に調整
された上で振幅調整回路5に送られる。
【0014】振幅調整回路5は、乗算型D/A変換器51
と増幅器52とにより構成され、乗算型D/A変換器51
にはCPU7からディジタル制御信号が与えられ、このデ
ィジタル制御信号に応じてオフセット調整回路4から与
えられる検出信号の振幅を大小加減した上で、増幅器5
2およびA/D変換器6を介してCPU7に送る。
と増幅器52とにより構成され、乗算型D/A変換器51
にはCPU7からディジタル制御信号が与えられ、このデ
ィジタル制御信号に応じてオフセット調整回路4から与
えられる検出信号の振幅を大小加減した上で、増幅器5
2およびA/D変換器6を介してCPU7に送る。
【0015】この振幅調整は、次のように行う。まず電
力量計の回転円盤が1回転する期間におけるCPU7の入力
信号の最大値を求める。この期間は、試験すべき電力量
計の試験条件から予め定めておく。そして、この回転円
盤が1回転する期間におけるCPU7の入力の最大値が、予
め定めた所定値となるようにCPU7が乗算型D/A変換器5
1に対してディジタル制御信号を与える。
力量計の回転円盤が1回転する期間におけるCPU7の入力
信号の最大値を求める。この期間は、試験すべき電力量
計の試験条件から予め定めておく。そして、この回転円
盤が1回転する期間におけるCPU7の入力の最大値が、予
め定めた所定値となるようにCPU7が乗算型D/A変換器5
1に対してディジタル制御信号を与える。
【0016】すなわち、電力量計の回転円盤が1回転す
るだけの時間中、CPU7に入力を与えて最大値を認識さ
せ、この最大値が所定値より大きかったり小さかったり
すると、CPU7は、CPU7の入力が常に所定値になるよう
に、最大値が小さくなるような、あるいは大きくなるよ
うなディジタル制御信号を乗算型D/A変換器51に与え
る。この結果、CPU7の入力となる検出信号の振幅は、
常に安定して所定値になる。
るだけの時間中、CPU7に入力を与えて最大値を認識さ
せ、この最大値が所定値より大きかったり小さかったり
すると、CPU7は、CPU7の入力が常に所定値になるよう
に、最大値が小さくなるような、あるいは大きくなるよ
うなディジタル制御信号を乗算型D/A変換器51に与え
る。この結果、CPU7の入力となる検出信号の振幅は、
常に安定して所定値になる。
【0017】なお、A/D変換器6、D/A変換器51は、例
えば8ビットのものを用いたとしても、両者で16ビット
の分解能が得られるから、振幅調整を十分な精度で行う
ことができる。
えば8ビットのものを用いたとしても、両者で16ビット
の分解能が得られるから、振幅調整を十分な精度で行う
ことができる。
【0018】図2は、図1に示した実施例におけるCPU
7の動作内容を示すフローチャートである。
7の動作内容を示すフローチャートである。
【0019】電源投入によりCPU7が動作開始すると、
ステップS1によりタイミング信号を発生し、増幅器8
を介して発光回路1およびアナログスイッチ31に与え
る。
ステップS1によりタイミング信号を発生し、増幅器8
を介して発光回路1およびアナログスイッチ31に与え
る。
【0020】次いでステップS2によりCPU7に対する
入力Xの読み取りを行う。入力Xの読み取りの後、ステ
ップS3により回転円板が1回転以上回転したか否かが
判定され、1回転するのを待ってステップS4に移行す
る。
入力Xの読み取りを行う。入力Xの読み取りの後、ステ
ップS3により回転円板が1回転以上回転したか否かが
判定され、1回転するのを待ってステップS4に移行す
る。
【0021】1回転したらステップS4でタイミング信
号を停止し、ステップS5に移る。ステップS5では、
回転円板が1回転する間に試験標を検出して得られた検
出信号の最大値、最小値を知り、最小値をオフセット値
として設定する。
号を停止し、ステップS5に移る。ステップS5では、
回転円板が1回転する間に試験標を検出して得られた検
出信号の最大値、最小値を知り、最小値をオフセット値
として設定する。
【0022】次いで、ステップS6に移行して、入力X
と比較すべき所定値Sを発生する。そして、ステップS
7に移行して「X=Sか否か」の判定を行い、所定値で
あればステップS10に移行して出力を生じ動作終了とな
る。
と比較すべき所定値Sを発生する。そして、ステップS
7に移行して「X=Sか否か」の判定を行い、所定値で
あればステップS10に移行して出力を生じ動作終了とな
る。
【0023】他方、入力Xが所定値でなければステップ
S8に移行して(X-S)を測定してステップS9に移行
し、(X-S)の大きさに応じて振幅調整係数Kを加減す
る。これにより、入力Xは所定値Sに等しくなるので、
ステップS10に移行して出力を生じ、動作終了とな
る。
S8に移行して(X-S)を測定してステップS9に移行
し、(X-S)の大きさに応じて振幅調整係数Kを加減す
る。これにより、入力Xは所定値Sに等しくなるので、
ステップS10に移行して出力を生じ、動作終了とな
る。
【0024】図3は、図2に示した動作におけるオフセ
ット値の調整につき、示したものである。試験標の検出
信号は、図示するように、試験標による反射光量が減じ
ることに対応して試験標が検出位置を通過すると最大値
Maxから最小値Minに減じて再び最大値Maxに戻る、とい
う変化をする。ここで、最小値Minは、通常ゼロにはな
らずにある値を持っているから、この最小値Minをオフ
セット値として設定する。
ット値の調整につき、示したものである。試験標の検出
信号は、図示するように、試験標による反射光量が減じ
ることに対応して試験標が検出位置を通過すると最大値
Maxから最小値Minに減じて再び最大値Maxに戻る、とい
う変化をする。ここで、最小値Minは、通常ゼロにはな
らずにある値を持っているから、この最小値Minをオフ
セット値として設定する。
【0025】そして、検出信号からオフセット値が差し
引かれ、最大値Maxと最小値Minとの間で変化する信号が
出力として取り出される。この出力が、常に所定範囲に
あるように、図2により前述した振幅調整が行われる。
引かれ、最大値Maxと最小値Minとの間で変化する信号が
出力として取り出される。この出力が、常に所定範囲に
あるように、図2により前述した振幅調整が行われる。
【0026】(変形例)上記実施例では、発光回路およ
び受光回路が一組ずつの場合を想定したが、CPU7の入
力端にマルチプレクサと所要数のサンプルホールド回路
とを設けることにより、投受光回路の数が増しても、切
換方式で1つずつ検出信号をCPUに送り込むことができ
るから、複数の発光回路、受光回路がある場合でも対応
することができる。
び受光回路が一組ずつの場合を想定したが、CPU7の入
力端にマルチプレクサと所要数のサンプルホールド回路
とを設けることにより、投受光回路の数が増しても、切
換方式で1つずつ検出信号をCPUに送り込むことができ
るから、複数の発光回路、受光回路がある場合でも対応
することができる。
【0027】
【発明の効果】本発明は上述のように、電力量計の試験
標の検出信号を形成するCPUによってディジタル制御信
号を形成して乗算型D/A変換器に帰還させることによ
り、CPUの入力信号レベルの振幅値を最適値にするた
め、投受光器により検出した信号の大きさが変動しても
CPUには常に安定した検出信号が与えられる。この結
果、特性の異なる投受光素子を使用しても、あるいは投
受光器が回転円盤から離れて設置されていても、試験標
の検出が確実に安定して行われる。
標の検出信号を形成するCPUによってディジタル制御信
号を形成して乗算型D/A変換器に帰還させることによ
り、CPUの入力信号レベルの振幅値を最適値にするた
め、投受光器により検出した信号の大きさが変動しても
CPUには常に安定した検出信号が与えられる。この結
果、特性の異なる投受光素子を使用しても、あるいは投
受光器が回転円盤から離れて設置されていても、試験標
の検出が確実に安定して行われる。
【図1】本発明の一実施例の回路構成を示す図。
【図2】図1に示した実施例におけるCPUの動作内容を
示すフローチャート。
示すフローチャート。
【図3】図2のフローチャートによる動作中のオフセッ
ト値設定動作の説明図。
ト値設定動作の説明図。
【図4】従来の電力量計における試験標検出器の回路構
成を示す図。
成を示す図。
1 発光回路
2 受光回路
3 外光除去回路
31 アナログスイッチ
32,33 サンプルホールド回路
34 減算回路
4 オフセット調整回路
41 差動回路
42 D/A変換器
43 増幅器
5 振幅調整回路
51 乗算型D/A変換器
52 増幅器
6 A/D変換器
7 CPU
8 増幅器
9 出力回路
Claims (2)
- 【請求項1】電力量計における計測電力量に応じて回転
する回転円盤の周囲に設置され、前記回転円盤に付され
た試験標を光学的に検知し、検出信号を形成する検出手
段と、 この検出手段における検出信号から外光成分を除去して
純化された信号を形成する外光除去回路と、 この外光除去回路で純化された信号のオフセット調整信
号を形成するオフセット調整回路と、 このオフセット調整回路の出力が与えられる乗算型D/A
変換器およびこの乗算型D/A変換器の出力を増幅するア
ナログ増幅器を有し、前記乗算型D/A変換器が前記オフ
セット調整回路の出力の大きさを調整した上で前記アナ
ログ増幅器によって増幅することにより振幅の大きさを
適正範囲に調整する振幅調整回路と、 この振幅調整回路の出力をディジタル変換するA/D変換
器と、 このA/D変換器からのディジタル出力に基づき、前記試
験標の検出信号を形成するとともに、前記振幅調整回路
に前記ディジタル制御信号を与えるディジタル演算器と
をそなえた電力量計の試験標検出器。 - 【請求項2】請求項1記載の電力量計の試験標検出器に
おいて、 前記ディジタル演算器は、 前記オフセット調整回路に、オフセット調整信号を与え
るようにした電力量計の試験標検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002126628A JP2003315365A (ja) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | 電力量計の試験標検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002126628A JP2003315365A (ja) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | 電力量計の試験標検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003315365A true JP2003315365A (ja) | 2003-11-06 |
Family
ID=29540984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002126628A Pending JP2003315365A (ja) | 2002-04-26 | 2002-04-26 | 電力量計の試験標検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003315365A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006084686A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Yamaha Corp | 物理量検出装置、物理量検出方法、物理量検出プログラム及び鍵盤楽器 |
JP2009198199A (ja) * | 2008-02-19 | 2009-09-03 | Casio Comput Co Ltd | 部材位置検出装置および電子時計 |
CN106094964A (zh) * | 2016-08-19 | 2016-11-09 | 天津市百利电气有限公司 | 具有电能采样差分放大电路的微处理器 |
-
2002
- 2002-04-26 JP JP2002126628A patent/JP2003315365A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006084686A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Yamaha Corp | 物理量検出装置、物理量検出方法、物理量検出プログラム及び鍵盤楽器 |
JP2009198199A (ja) * | 2008-02-19 | 2009-09-03 | Casio Comput Co Ltd | 部材位置検出装置および電子時計 |
CN106094964A (zh) * | 2016-08-19 | 2016-11-09 | 天津市百利电气有限公司 | 具有电能采样差分放大电路的微处理器 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050105 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060623 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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