JP2003307743A - 電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

電気光学装置及び電子機器

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JP2003307743A
JP2003307743A JP2002336526A JP2002336526A JP2003307743A JP 2003307743 A JP2003307743 A JP 2003307743A JP 2002336526 A JP2002336526 A JP 2002336526A JP 2002336526 A JP2002336526 A JP 2002336526A JP 2003307743 A JP2003307743 A JP 2003307743A
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electrode
electro
optical device
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fixed potential
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JP2002336526A
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Masao Muraide
正夫 村出
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Seiko Epson Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 TFTを有する電気光学装置において、蓄積
容量の狭小化に起因するクロストークや焼き付き等の発
生を防止するとともに、TFTにおける光リーク電流の
発生をも防止する。 【解決手段】 基板(10)上に、画素電極(9a)と
これに接続されたTFT(30)、該TFTに接続され
た走査線(3a)及びデータ線(6a)、前記画素電極
に接続されており蓄積容量(70)を構成する画素電位
側容量電極(71)、これに誘電体膜(75)を介して
対向配置されており前記蓄積容量を構成する固定電位側
容量電極(300)、そして前記TFTの下側に設けら
れ該TFTに対する光の入射を遮蔽する下側遮光膜(1
1a)と前記固定電位側容量電極とを電気的に接続する
コンタクトホール(501)を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブマトリ
クス駆動方式の液晶装置等の電気光学装置及び該電気光
学装置を具備してなる電子機器の技術分野に属する。
【0002】
【背景技術】従来、液晶等の電気光学物質を挟持してな
る一対の基板と、前記電気光学物質に対して電界を印加
するため前記一対の基板のそれぞれに設けられた電極等
とを備える電気光学装置が知られている。ここに、前記
電極は、前記電気光学物質に電界を印加し、該電気光学
物質の状態を適宜変化させるために利用される。そし
て、このような電気光学装置によれば、該装置に対し
て、例えば光源から発せられた光等を入射させるととも
に、電気光学物質の状態を上述の如く適宜変化させれ
ば、該光の透過率を制御することが可能となり、画像表
示させることが可能となる。
【0003】そして、このような電気光学装置において
は、前記一対の基板の一方において、前記電極としてマ
トリクス状に配列された画素電極を備えるとともに、該
画素電極の各々に接続された薄膜トランジスタ(Thin F
ilm Transistor;以下適宜、「TFT」という。)、該
TFTの各々に接続され、行及び列方向それぞれに平行
に設けられた走査線及びデータ線等を備えることで、い
わゆるアクティブマトリクス駆動が可能なものが知られ
ている。これにより、前記画素電極、あるいは前記走査
線及び前記データ線により画される一つ一つの画素毎
に、前記電気光学物質に対する電圧の印加を制御するこ
とが可能となる。
【0004】また、上記電気光学装置においては、より
高品質な画像を表示すべく、上記以外の種々の構成が備
えられることが一般的である。例えば、代表的には、前
記画素電極及び前記TFTに接続される画素電位側容量
電極と、該電極に誘電体膜を介して対向配置される固定
電位側容量電極からなる蓄積容量が設けられる。これ
は、電気光学物質に対して印加された電圧を、所定の時
間、保持するために利用される。
【特許文献1】特開2002−156652号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
電気光学装置には、次のような問題があった。すなわ
ち、上述したような電気光学装置においては、より明る
い画像を表示すべく、前記走査線及び前記データ線、あ
るいは前記蓄積容量等の基板上に占める面積をより小さ
くし、各画素において実際に画像表示に寄与する光が透
過又は反射により出射する領域たる光透過域を、より大
きくすることで、開口率の向上が一般的に望まれてい
る。なお、ここに「開口率」とは、一画素の全領域に占
める光透過域の比率を言う。加えて、省電力化等の目的
を達成するため、電気光学装置の高精細化ないし小型化
も同時に要請されている。このような観点から、上述の
各種構成要素等は、これを微細に形成しなければならな
い、という一般的な要請があるのである。
【0006】ここで特に問題となるのは、前記蓄積容量
をも狭小化しなければならない点である。このような狭
小化を、該蓄積容量を構成する各電極を幅狭に形成する
ことで実現すると、該各電極の高抵抗化を招くことにな
り、悪い場合には、クロストークや焼き付き等を生じさ
せることになる。なお、従来においては、蓄積容量を構
成する前記画素電位側容量電極は、一般にポリシリコン
やタングステンシリサイド(WSi)等により形成され
る例があったが、これらの材料は決して低抵抗とはいえ
ないため、上述した問題はより深刻であった。
【0007】また、上述したように各種構成要素の微細
化・狭小化を図るにあたっては、前記TFTに対する光
入射に対しても十分な注意を払わなければならない。と
いうのも、TFTを構成する半導体層のチャネル領域に
対して光が入射すると、光リーク電流が発生することに
なり、これに起因して画像上にフリッカを生じることに
なる等、その品質の低下を招くことになるからである。
とりわけ、前記電気光学装置を投射型表示装置における
ライトバルブとして利用する場合には、当該ライトバル
ブに対して、一般に、非常に強力な光源から発せられた
光が入射されることになるから、TFTに対して光が入
射するおそれが一層高くなり、特に問題がある。
【0008】従来においては、このようなTFTに対す
る光入射を防止するため、前記一対の基板のうちTFT
等が備えられない基板側に遮光層を設ける手段がとられ
ていた。しかしながら、このような手段では、当該遮光
層とTFTとの距離が比較的大きくなるため、斜めに入
射する光に対しては、効果的な遮光機能を望めない点に
問題がある。これに対処しようと、遮光層を幅広に形成
することも考えられなくはないが、これでは開口率の低
下を招き、上述した一般的な要請ないし課題に応えるこ
とは殆ど不可能である。
【0009】また、TFTに対する光入射防止手段とし
ては、上記のほか、前記データ線を遮光層として利用す
る手段も既に提案されている。しかしながら、この手段
では、信号伝達の損失を可能な限り低減するため、デー
タ線は、一般に低抵抗な材料、例えばアルミニウム等で
構成されることが一般的であることにより、高い光反射
率を有することが問題となる。すなわち、このような手
段によれば、たしかにデータ線の入射側の面で直接入射
される光を遮ることができるにしても、データ線で反射
した反射光が迷光となり、あるいは該データ線の他方の
面で光が反射して迷光となる等して、結局TFTに至
る、という事態が考えられるからである。なお、このよ
うな手段においても、遮光機能を高めようとデータ線の
幅を広げることは、上述の遮光層と同様に開口率の低下
を招くことが問題となるし、上述の迷光の問題を鑑みる
に、迷光の量をかえって増大させることになり、光リー
ク電流の発生防止にとってはむしろ逆効果となりかねな
いことになる。
【0010】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、蓄積容量の狭小化に起因するクロストークや
焼き付き等の発生を防止するとともに、TFTにおける
光リーク電流の発生をも防止しながら、開口率の向上等
の一般的要請に応えうる電気光学装置及び該電気光学装
置を具備してなる電子機器を提供することを課題とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の電気光学装置
は、基板上に、走査線と、データ線と、前記走査線と前
記データ線との交差部に対応して配置された薄膜トラン
ジスタと、前記薄膜トランジスタに対応して配置された
画素電極と、前記画素電極に電気的に接続されており蓄
積容量を構成する画素電位側容量電極と、該画素電位側
容量電極に誘電体膜を介して対向配置されており前記蓄
積容量を構成する固定電位側容量電極と、前記薄膜トラ
ンジスタの下側に設けられ該薄膜トランジスタの少なく
ともチャネル領域に対する光の入射を遮蔽する下側遮光
膜とを備えており、前記下側遮光膜と前記固定電位側容
量電極とは電気的に接続されており、前記下側遮光膜
は、前記固定電位側容量電極を固定電位に維持する容量
線の少なくとも一部又は該容量線の冗長配線を構成す
る。
【0012】本発明の電気光学装置によれば、走査線及
びデータ線を介して走査信号及び画像信号を薄膜トラン
ジスタに供給することにより、画素電極をアクティブマ
トリクス駆動できる。ここで、画素電極には、画素電位
側容量電極と固定電位側容量電極とが対向配置されてな
る蓄積容量が接続されているので、画素電極に書き込ま
れた画像信号の電圧を長期にわたって保持できる。
【0013】また、薄膜トランジスタの下側には、該薄
膜トランジスタに対する光の入射を遮蔽する下側遮光膜
が備えられていることにより、該薄膜トランジスタを構
成する半導体層、とりわけそのチャネル領域に対する光
入射が未然に防止されることで、光リーク電流の発生を
極力防止することが可能となる。
【0014】そして特に、本発明では、前記下側遮光膜
と前記固定電位側容量電極とが電気的に接続されている
とともに、前記下側遮光膜は、前記固定電位側容量電極
を固定電位に維持する容量線の少なくとも一部又は該容
量線の冗長配線を構成することにより、該容量線の高抵
抗化を招くようなことがない。これは、下側遮光膜と固
定電位側容量電極との電気的接続により、下側遮光膜も
また、固定電位側容量電極ないし容量線として機能する
ことが可能となるからである。すなわち、本発明によれ
ば、容量線がクラック等により破損するような場合があ
っても、下側遮光膜が引き続き容量線としての機能を果
たしうるから、装置全体の動作に支障を及ぼす可能性を
低減することが可能となるのである。
【0015】なお、「固定電位側容量電極を固定電位に
維持する容量線」という場合において、この「固定電位
側容量電極」は、「容量線」の一部を構成していてもよ
いし、また、「容量線」から延設された接続部分と観念
されてもよい。
【0016】このようなことは特に、容量線用の材料と
して、伝統的に使用されてきた高融点金属、例えば白
金、ルテニウム、Ti(チタン)、Cr(クロム)、W
(タングステン)、Ta(タンタル)、Mo(モリブデ
ン)等の金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサ
イド、これらを積層したもの等から構成する場合に、よ
りよく該当し、したがって、このような場合において、
本発明の作用効果はより効果的に奏される。というの
も、上述の各種材料を利用する場合には、容量線の内部
に作用する収縮力又は圧縮力が比較的大きくなるからで
ある。
【0017】ただし、本発明に係る電気光学装置を低温
プロセスで製造する場合においては、容量線をアルミニ
ウム(Al)で構成するようにしてもよい。
【0018】また、本発明は、容量線の狭小化、すなわ
ち蓄積容量の狭小化、それによりもたらされる開口率の
向上、ないし電気光学装置の高精細化等の実現にとって
も、有益であることが明白である。なぜなら、容量線を
狭小化したとしても、下側遮光膜が併せて容量線として
の機能を果たすことにより、該容量線の高抵抗化を招く
ようなことがないからである。逆にいえば、本発明によ
れば、開口率の向上、ないし電気光学装置の高精細化等
を容易に達成しうることを意味する。また、このことに
より、従来問題となっていた、容量線の高抵抗化に起因
するクロストークや焼き付き等の発生を防止することが
可能となる。
【0019】さらに、本発明によれば、下側遮光膜及び
固定電位側容量電極を含む容量線が、上述のような、冗
長関係にあるため、装置全体の信頼性を向上させること
が可能となる。
【0020】加えて、本発明においては、下側遮光膜
が、上述のように、薄膜トランジスタに対する光入射の
防止作用と、固定電位側容量電極の有する機能を代替す
る作用とを併せもつことから、薄膜トランジスタに対す
る光入射防止作用のために一の部材を設け、上述の代替
作用のために別の部材を設ける等というような構成とな
っていない分の製造コスト低減、あるいは装置の信頼性
向上に資する、等の効果を得ることも可能である。
【0021】本発明の電気光学装置の一態様では、前記
下側遮光膜と前記固定電位側容量電極とは、該下側遮光
膜及び該固定電位側容量電極間に存在する層間絶縁膜に
対して設けられた第1コンタクトホールにより電気的に
接続されている。
【0022】この態様によれば、比較的容易に、下側遮
光膜及び固定電位側容量電極間の電気的な接続を達成す
ることが可能となる。
【0023】この態様では、前記第1コンタクトホール
は、前記データ線の下方に配置されているようにすると
よい。
【0024】このような構成によれば、データ線の下方
に第1コンタクトホールが位置することにより、開口率
を向上させることが可能となる。すなわち、一般に、上
述のような構成となる電気光学装置において、データ線
は非開口領域を規定する部材となるが、そのような非開
口領域内に前記第1コンタクトホールを設けることによ
れば、該非開口領域の新たな増大という事態を招くこと
がないから、第1コンタクトホールを設けるにもかかわ
らず、結果的に、開口率の向上を果たすことが可能とな
るのである。
【0025】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記固定電位側容量電極及び前記下側遮光膜の少なくとも
一方は、前記基板上において島状に形成されている。
【0026】この態様によれば、より具体的に、固定電
位側容量電極を例にとれば、前記画素電極がマトリクス
状に複数存在する場合において、例えば、当該画素電極
の一つにより規定される一画素を単位として、島状の固
定電位側容量電極が存在することになる。その結果、固
定電位側容量電極は、その内部に発生する応力によっ
て、容易に破壊されないこととなる。これは、固定電位
側容量電極が基板全面にベタに形成されるような極限的
な場合を仮に想定すれば、そのような固定電位側容量電
極の内部において非常に大きな応力がかかり該固定電位
側容量電極自身を破損に至らしめたり、また、該応力が
該固定電位側容量電極外に設けられた他の構成(例え
ば、層間絶縁膜等)を破損させる等の事態が考えられる
ことから明らかである。本態様によれば、該固定電位側
容量電極が島状に形成されていることにより、そのよう
な場合に比べて、内部応力が分散されていると考えるこ
とができ、上記したような破損等を未然に防止すること
が可能となるのである。ちなみに、このようなことは、
下側遮光膜を島状に形成する場合にも、当然当てはま
る。
【0027】なお、上述においては、一画素を単位とし
た島状について言及したが、本発明は、このような形態
のみ限定されるものではない。例えば、基板上におい
て、左(又は上)半平面と右(又は下)半平面というよ
うに、観念的に、比較的大きな面積を有する領域を二つ
想定し、当該二つの領域について、固定電位側容量電極
が島状に形成されているような場合、すなわち、当該二
つの領域の一については、固定電位側容量電極は電気的
に接続されているが、当該二つの領域の他との間では電
気的な接続が図られていないというような場合であって
もよい。その他、種々の形成方法があることは言うまで
もない。いずれにしても、そのような島状の形成を行え
ば、上述したような本態様に係る作用効果は、それ相応
に奏されることとなる。
【0028】この態様では特に、前記画素電極がマトリ
クス状に複数存在する場合において、前記島状の固定電
位側容量電極又は下側遮光膜のそれぞれの辺縁部の位置
は、各画素電極が有する幅の中間とされるようにすると
よい。
【0029】このような構成によれば、ここでも固定電
位側容量電極を例にとれば(以下、「島状」に関する各
種態様についての説明では、「固定電位側容量電極」の
方を例にとった説明を行うこととする。)、前記島状の
固定電位側容量電極のそれぞれの辺縁部の位置が、各画
素電極が有する幅の中間、すなわち画素の幅の中間とさ
れることにより、固定電位側容量電極の形成を効率的
に、ひいては蓄積容量の形成を効率的に実施することが
可能となる。
【0030】また、このような構成によれば、上述した
応力分散の作用効果をより確実に享受しうる。なぜな
ら、島状の固定電位側容量電極のそれぞれの辺縁部の位
置が画素電極の有する幅の中間位置であるから、一般
に、それら島状の各固定電位側容量電極は、すべて略同
様な形状を有するようにすることが可能となる、あるい
はバランスのよい配置等が可能となる、等のことにな
り、これら電極に内在せる応力が該電極外に設けられた
他の構成ないしは電気光学装置全体に及ぼす影響を、均
等に、あるいはバランスよくすることが可能となるから
である。つまり、本構成によれば、電気光学装置内にお
いて、極端に応力集中が惹起される箇所を生じさせるこ
とがないから、上述の作用効果をより確実に享受しうる
のである。
【0031】なお、上述にいう「画素電極が有する幅の
中間」における「中間」とは、厳密な意味における「中
間」ないし「画素電極が有する幅の1/2」等というこ
とだけを意味するものではない。むろん、そのような場
合は当然に含まれるが、例えば、そのようないわば「真
の中間位置」から若干外れた位置に、前記辺縁部が位置
するとしても、上述の作用効果は略同様に達成しうる。
【0032】要するに、上述にいう「中間」とは、「概
ね中間」という意味合いである。この場合、「概ね」と
いうのは、画素電極、薄膜トランジスタ等の形成態様な
いし配置態様等によって具体的に定まり、その本質は、
設計上適宜決めうる事項に過ぎない。
【0033】また、前記辺縁部が、各画素電極が有する
幅の中間に位置する構成では更に、前記データ線は、隣
接する前記画素電極間の略中間を縫うように延在し、前
記島状の固定電位側容量電極又は下側遮光膜のそれぞれ
は、平面的にみて、前記データ線を挟んで線対称な形状
を有するようにするとよい。
【0034】このような構成によれば、島状の固定電位
側容量電極のそれぞれは、平面的にみて、前記データ線
を挟んで線対称な形状を有することから、基板上の全面
において、ほぼ同一かつ線対称な形状を有する固定電位
側容量電極のレイアウトを実現することができる。これ
により、本構成に係る電気光学装置を、液晶の回転方向
の違う電気光学装置を組み合わせて画像表示させる複板
式のプロジェクタ装置に採用しても、色むら等による画
質劣化を生じさせることがない。また、固定電位側容量
電極が線対称に形成される結果、蓄積容量をも、データ
線に対して線対称なパターンでレイアウトすることが可
能である。
【0035】なお、上記にいう「線対称」な形状とは、
具体的には例えばT字型や十字型等が該当し、「データ
線を挟んで線対称」ということは、該データ線とT字型
や十字型等の縦棒とが一致する場合等が該当する。
【0036】また、上記の固定電位側容量電極及び下側
遮光膜の少なくとも一方が島状に形成される態様(その
各種態様を含む。)では、前記辺縁部からみて当該辺縁
部を含む前記固定電位側容量電極又は前記下側遮光膜の
外方の位置において、前記薄膜トランジスタと前記画素
電極とを接続する第2コンタクトホールを更に備えるよ
うにするとよい。
【0037】このような構成によれば、上述の応力分散
に係る作用効果が、より効果的に奏されることになる。
これは以下のような事情による。
【0038】すなわち、本態様における、薄膜トランジ
スタと画素電極とを接続する第2コンタクトホールにお
いては、一般に、上述した固定電位側容量電極に内在せ
る応力の影響が最も生じやすく(すなわち、当該応力の
開放が最も生じやすく)、したがって、当該第2コンタ
クトホールを基点としたクラック等が発生しやすい。
【0039】しかるに、本構成においては、前記辺縁部
からみて前記固定電位側容量電極又は前記下側遮光膜の
外方の位置において、上述のような第2コンタクトホー
ルが存在することになるから、その応力の影響は該第2
コンタクトホールに対しては及びにくい状況が現出され
ている。つまり、本構成においては、容量線ないし固定
電位側容量電極の応力によって及ぼされる影響、具体的
には、第2コンタクトホールを基点としたクラック等の
発生を防止しうるのである。
【0040】さらに、上記の固定電位側容量電極及び下
側遮光膜の少なくとも一方が島状に形成される態様(そ
の各種態様を含む。)では、前記辺縁部からみて当該辺
縁部を含む前記固定電位側容量電極又は前記下側遮光膜
の外方の位置において、前記薄膜トランジスタと前記デ
ータ線とを接続する第3コンタクトホールを更に備える
ようにするとよい。
【0041】このような構成によれば、上述の第2コン
タクトホールを備える構成に関して述べた作用効果と、
略同様な作用効果が奏されることとなる。
【0042】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記蓄積容量は、前記薄膜トランジスタを構成するチャネ
ル領域と前記データ線との間であって、かつ、該チャネ
ル領域及び該データ線のそれぞれと層間絶縁膜を介して
配置されている。
【0043】この態様によれば、例えば、基板上、下か
ら順に、薄膜トランジスタのチャネル領域、層間絶縁
膜、蓄積容量、層間絶縁膜及びデータ線という積層構造
が想定されることになる。このとき、データ線が、例え
ばアルミニウム膜等の高反射な膜から形成される場合に
は、既に述べたように、該データ線の裏面で反射した光
が迷光となって、薄膜トランジスタ、とりわけチャネル
領域に入射するおそれがあるところ、該データ線の下方
には固定電位側容量電極、誘電体膜及び画素電位側容量
電極からなる蓄積容量が存在することから、これによ
り、前記光を遮蔽することが可能となる。つまり、本態
様によれば、薄膜トランジスタにおける光リーク電流の
発生を、効果的に防止することが可能となる。
【0044】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記蓄積容量は、層間絶縁膜を介して前記走査線の上方に
配置されている。
【0045】この態様によれば、蓄積容量と走査線と
を、平面的に見て重ね合わせることができる。これによ
り、開口率を大幅に向上させることが可能であるととも
に、十分な蓄積容量を確保することが可能となる。
【0046】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記蓄積容量を構成する前記画素電位側容量電極として、
前記薄膜トランジスタを構成するドレイン領域に電気的
に接続されたドレイン電極が兼用されている。
【0047】この態様によれば、蓄積容量を構成する画
素電位側容量電極を構成するのに、別途特別な材料を必
要としない。したがって、その相応分、製造コストを低
減することが可能となる。
【0048】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記固定電位側容量電極は、遮光性を有する材料から構成
されている。
【0049】この態様によれば、固定電位側容量電極が
遮光性を有することになるから、前記下側遮光膜に加え
て、薄膜トランジスタに対する光入射を防止する上側遮
光膜として機能させることが可能となる。
【0050】なお、このような材料としては、例えば、
既に述べた、Al、Ti、Cr、W、Ta、Mo等の金
属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これ
らを積層したもの等が該当する。
【0051】また、本態様の場合特に、データ線の方向
に沿った蓄積容量を構成する各電極の幅を、データ線の
幅と同じか広く形成することにより、データ線裏面で反
射した迷光がチャネル領域に照射されることを効果的に
防ぐことが可能となる。
【0052】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記下側遮光膜は、前記走査線の下方、かつ、該走査線の
方向に沿って延設され、前記データ線の方向に突出して
いる。
【0053】この態様によれば、下側遮光膜の配置を好
適にすることが可能となる。特に、本態様に係る下側遮
光膜は、データ線の方向に突出していることから、上述
した第1コンタクトホールの配置を好適に決めることが
可能となり、装置全体のレイアウトを好適に定めること
も可能となる。
【0054】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記下側遮光膜は、前記走査線及び前記データ線の下方、
かつ、該走査線及び該データ線に沿って、格子状に配設
される。
【0055】この態様によれば、固定電位側容量電極に
対する、下側遮光膜の冗長性をより増すことが可能とな
る。すなわち、上述したように、固定電位側容量電極な
いし容量線にクラック等が発生して、下側遮光膜がその
代替作用を発揮している際に、該下側遮光膜の一部につ
いて何らかの不都合が発生したとしても、該下側遮光膜
は、前記走査線及び前記データ線の下方、かつ、該走査
線及び該データ線に沿って、格子状に配設されているこ
とから、その電気伝導路は多数存在していることによ
り、上述の作用効果がより確実に奏されることになるの
である。
【0056】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記下側遮光膜は、画像表示領域の外側において定電位源
に接続される。
【0057】この態様によれば、下側遮光膜は固定電位
側容量電極に対して定電位を供給する、いわばパイプラ
インの役目を果たす。これは、上述したように、下側遮
光膜が固定電位側容量電極との電気的な接続によるに他
ならない。このように、固定電位側容量電極を固定電位
とすることによれば、蓄積容量等の安定化を図ることで
き、また、下側遮光膜を固定電位とすることによれば、
該膜が電位変動する場合に薄膜トランジスタに対して与
えるであろう悪影響等について、殆ど心配する必要がな
い。
【0058】なお、ここにいう「画像表示領域」とは、
基板上において、画像表示に必要な光透過が実際に可能
である領域をいい、具体的には、前記した薄膜トランジ
スタ、画素電極、走査線及びデータ線等が存在すること
によって規定される領域をいう。より具体的ないし実際
的には、基板上に額縁状の遮光膜を設ける場合を仮定す
ると、該額縁状の遮光膜の内側の領域をもって該画像表
示領域が規定される。
【0059】この態様では特に、前記定電位源は、前記
データ線を駆動するためのデータ線駆動回路に定電位を
供給する定電位源、前記走査線を駆動するための走査線
駆動回路に定電位を供給する定電位源及び前記基板に対
して対向配置される対向基板上に設けられた対向電極に
定電位を供給する定電位源のいずれか一つからなるよう
にするとよい。
【0060】このような構成に係る上述の各種定電位源
は、本発明に係る電気光学装置を駆動するために通常必
要とされるものであり、したがって、当該電気光学装置
において通常設置されているものである。そして、本構
成では、前記下側遮光膜、ひいては固定電位側容量電極
に定電位を供給するための定電位源を、上述の各種の定
電位源のいずれか一つと共用とする。
【0061】したがって、本構成によれば、下側遮光膜
ないし固定電位側容量電極についての専用の定電位源を
設ける必要がなく、その相応分製造コストを低減するこ
とが可能となり、また、装置構造も簡略化することが可
能である。
【0062】本発明の第2の電気光学装置は、基板上
に、走査線と、データ線と、前記走査線と前記データ線
との交差部に対応して配置された薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタに対応して配置された画素電極
と、前記画素電極に電気的に接続されており蓄積容量を
構成する画素電位側容量電極と、該画素電位側容量電極
に誘電体膜を介して対向配置されており前記蓄積容量を
構成する固定電位側容量電極と、前記薄膜トランジスタ
の下側に設けられ該薄膜トランジスタの少なくともチャ
ネル領域に対する光の入射を遮蔽する下側遮光膜とを備
えており、前記下側遮光膜と前記固定電位側容量電極と
は電気的に接続されており、前記下側遮光膜は、前記固
定電位側容量電極を固定電位に維持する容量線の少なく
とも一部又は該容量線の冗長配線を構成するとともに、
前記固定電位側容量電極は島状に形成され、該島状の固
定電位側容量電極の平面的な外形形状は、その外側に配
置される、薄膜トランジスタを構成する半導体層及び前
記データ線間を電気的に接続するコンタクトホールと、
前記画素電極及び前記画素電位側容量電極間を電気的に
接続するコンタクトホールとによって規定される。
【0063】本発明の第2の電気光学装置によれば、固
定電位側容量電極ないし容量線と、下側遮光膜とが電気
的に接続されていることにより、両者は冗長関係にあ
り、前者においてクラック等が発生しても、後者が固定
電位側容量電極ないし容量線としての機能を果たしう
る。また、前記固定電位側容量電極は島状に形成されて
いることにより、該固定電位側容量電極ないし容量線に
内在せる応力を、いわば分散させることが可能となる。
さらに、該島状の固定電位側容量電極の平面的な外形形
状は、前記応力の開放が最も生じやすいコンタクトホー
ルによって、その外側から規定されている、すなわち島
状の固定電位側容量電極は、その辺縁部において該コン
タクトホールを含まないことにより、そのような応力の
影響が前記コンタクトホールには及びにくい状況が現出
され、該コンタクトホールを基点としたクラック等の発
生を未然に防止することが可能となるのである。
【0064】なお、本発明に係る固定電位側容量電極の
具体的な態様としては、例えば、前記画素電極がマトリ
クス状に配列されるとともに、前記走査線をそのマトリ
クスの行方向に延在させ、前記データ線を列方向に延在
させる場合を想定すると、まず、前記半導体層及び前記
「データ線」間を電気的に接続するコンタクトホール
は、列方向に点在することとなる。一方、画素電極及び
前記画素電位側容量電極間を電気的に接続するコンタク
トホールは、前記走査線に沿って点在させることが可能
である。したがって、このような場合において、島状の
固定電位側容量電極を平面的にみた場合の外形形状は、
列方向に点在するコンタクトホール二つと、行方向に点
在するコンタクトホール二つとによって規定される、と
考えることが可能である。
【0065】そして、この場合更に、固定電位側容量電
極の一部は走査線の方向に延在し、別の一部はデータ線
の方向に延在する、というような形状を考えることがで
きるから、当該島状の固定電位側容量電極の具体的な態
様としては、略十字型、あるいは略T字型の外形形状を
もたせることが可能となるのである。
【0066】本発明の電子機器は、上述した本発明の電
気光学装置(ただし、その各種態様を含む。)を具備し
てなる。
【0067】本発明の電子機器によれば、例えば、上述
したように、固定電位側容量電極と下側遮光膜とが冗長
関係にあり、固定電位側容量電極に何らかの不都合が生
じた場合でも、問題なく装置動作を続行することの可能
な電気光学装置を具備してなるから、装置全体の信頼性
向上が果たされた、例えば、液晶プロジェクタ、液晶テ
レビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビュー
ファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコー
ダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タ
ッチパネル等の各種電子機器を実現することができる。
【0068】本発明のこのような作用及び他の利得は次
に説明する実施の形態から明らかにされる。
【0069】
【発明の実施の形態】以下では、本発明の実施の形態に
ついて図を参照しつつ説明する。以下の実施形態は、本
発明の電気光学装置を液晶装置に適用したものである。
【0070】まず、本発明の実施形態における電気光学
装置の画素部における構成について、図1から図4を参
照して説明する。ここに、図1は、電気光学装置の画像
表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画
素における各種素子、配線等の等価回路である。図2
は、データ線、走査線、画素電極等が形成されたTFT
アレイ基板の相隣接する複数の画素群の平面図である。
そして、図3及び図4は、図2のA−A´断面図及びB
−B´断面図である。なお、図3及び図4においては、
各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとする
ため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。
【0071】図1において、本実施形態における電気光
学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成さ
れた複数の画素には、それぞれ、画素電極9aと当該画
素電極9aをスイッチング制御するためのTFT30と
が形成されており、画像信号が供給されるデータ線6a
が当該TFT30のソースに電気的に接続されている。
データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Sn
は、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接す
る複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給
するようにしてもよい。
【0072】また、TFT30のゲートに走査線3aが
電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線
3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmを、こ
の順に線順次で印加するように構成されている。画素電
極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されて
おり、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だ
けそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから
供給される画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイ
ミングで書き込む。
【0073】画素電極9aを介して電気光学物質の一例
としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S
1、S2、…、Snは、対向基板に形成された対向電極
との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧
レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することによ
り、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホ
ワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧
に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブ
ラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧
に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として
電気光学装置からは画像信号に応じたコントラストをも
つ光が出射する。
【0074】ここで保持された画像信号がリークするの
を防ぐために、画素電極9aと対向電極との間に形成さ
れる液晶容量と並列に蓄積容量70を付加する。この蓄
積容量70は、図1において、該蓄積容量70の一方の
電極を構成する固定電位側容量電極300を有するとと
もに、それに電気的に接続されているのは下側遮光膜1
1aであるという特徴的な構成を備えるが、この点につ
いては、後に詳述することとする。
【0075】以下では、上記データ線6a、走査線3
a、TFT30等による、上述のような回路動作が実現
される電気光学装置の、より具体的な構成について、図
2並びに図3及び図4を参照して説明する。
【0076】まず、本実施形態に係る電気光学装置は、
図2のA−A´断面図たる図3に示すように、アクティ
ブマトリクス基板を構成するTFTアレイ基板10と、
これに対向配置される透明な対向基板20とを備えてい
る。TFTアレイ基板10は、例えば、石英基板、ガラ
ス基板、シリコン基板からなり、対向基板20は、例え
ばガラス基板や石英基板からなる。
【0077】図3に示すように、TFTアレイ基板10
には、画素電極9aが設けられており、その上側には、
ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16
が設けられている。画素電極9aは、例えばITO(In
dium Tin Oxide)膜等の透明導電性膜からなる。
【0078】他方、対向基板20には、その全面に渡っ
て対向電極21が設けられており、その下側には、ラビ
ング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設
けられている。対向電極21は、例えばITO膜等の透
明導電性膜からなる。なお、対向基板20と対向電極2
1との間には、開口領域を規定するため(すなわち、マ
トリクス状に配列される画素電極9a(図2参照)に対
応するように)、格子状パターンを有する対向基板側遮
光膜23が設けられている。
【0079】一方、図2において、電気光学装置のTF
Tアレイ基板10上には、マトリクス状に複数の画素電
極9a(点線部9a´により輪郭が示されている)が設
けられており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿って
データ線6a及び走査線3aが設けられている。
【0080】走査線3aは、半導体層1aのうち図2中
右上がりの斜線領域で示したチャネル領域1a´に対向
するように配置されており、走査線3aはゲート電極と
して機能する。すなわち、走査線3aとデータ線6aと
の交差する箇所にはそれぞれ、チャネル領域1a´に走
査線3aの本線部がゲート電極として対向配置された画
素スイッチング用のTFT30が設けられている。
【0081】TFT30は、図3に示すように、LDD
(Lightly Doped Drain)構造を有しており、その構成
要素としては、上述したようにゲート電極として機能す
る走査線3a、例えばポリシリコン膜からなり走査線3
aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1a
のチャネル領域1a´、走査線3aと半導体層1aとを
絶縁するゲート絶縁膜を含む絶縁膜2、半導体層1aに
おける低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1
c並びに高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域
1eを備えている。
【0082】なお、TFT30は、好ましくは図3に示
したようにLDD構造をもつが、低濃度ソース領域1b
及び低濃度ドレイン領域1cに不純物の打ち込みを行わ
ないオフセット構造をもってよいし、走査線3aの一部
からなるゲート電極をマスクとして高濃度で不純物を打
ち込み、自己整合的に高濃度ソース領域及び高濃度ドレ
イン領域を形成するセルフアライン型のTFTであって
もよい。また、本実施形態では、画素スイッチング用T
FT30のゲート電極を、高濃度ソース領域1d及び高
濃度ドレイン領域1e間に1個のみ配置したシングルゲ
ート構造としたが、これらの間に2個以上のゲート電極
を配置してもよい。このようにデュアルゲート、あるい
はトリプルゲート以上でTFTを構成すれば、チャネル
とソース及びドレイン領域との接合部のリーク電流を防
止でき、オフ時の電流を低減することができる。さら
に、TFT30を構成する半導体層1aは非単結晶層で
も単結晶層でも構わない。単結晶層の形成には、貼り合
わせ法等の公知の方法を用いることができる。半導体層
1aを単結晶層とすることで、特に周辺回路の高性能化
を図ることができる。
【0083】一方、図3及び図4においては、蓄積容量
70が、TFT30の高濃度ドレイン領域1e及び画素
電極9aに接続された画素電位側容量電極としての中継
層71と、固定電位側容量電極300(以下、単に「容
量電極300」という。)とが、誘電体膜75を介して
対向配置されることにより形成されている。この蓄積容
量70によれば、画素電極9aにおける電位保持特性を
顕著に高めることが可能となる。
【0084】中継層71は、例えば導電性のポリシリコ
ン膜からなり画素電位側容量電極として機能する。ただ
し、中継層71は、金属又は合金を含む単一層膜又は多
層膜から構成してもよい。また、中継層71は、画素電
位側容量電極としての機能のほか、コンタクトホール8
3及び85を介して、画素電極9aとTFT30の高濃
度ドレイン領域1eとを中継接続する機能をもつ。この
ような構造を、別の観点から言えば、高濃度ドレイン領
域1eに電気的に接続されたドレイン電極が、中継層7
1ないしは画素電位側容量電極として兼用されているこ
とがわかる(図3参照)。
【0085】したがって、本実施形態においては、画素
電位側容量電極を形成するために、特別な部材を設ける
必要がないから、その相応分、製造コストを低減するこ
とが可能となる。また、このような中継層71を利用す
れば、層間距離が例えば2000nm程度と長くても、
両者間を一つのコンタクトホールで接続する技術的困難
性を回避しつつ、比較的小径の二つ以上の直列なコンタ
クトホールで両者間を良好に接続することができ、画素
開口率を高めることが可能となる。また、コンタクトホ
ール開孔時におけるエッチングの突き抜け防止にも役立
つ。
【0086】誘電体膜75は、例えば膜厚5〜200n
m程度の比較的薄い、TaOx(酸化タンタル)、BS
T(チタン酸ストロンチウムバリウム)、PZT(チタ
ン酸ジルコン酸塩)、TiO(酸化チタン)、ZiO
(酸化ジルコニウム)、HfO(酸化ハフニウ
ム)、SiO(酸化シリコン)、SiON(酸窒化シ
リコン)及びSiN(窒化シリコン)のうち少なくとも
一つを含んでなる絶縁膜からなる。特に、TaOx、B
ST、PZT、TiO、ZiO及びHfOといっ
た高誘電率材料を使用すれば、限られた基板上領域で容
量値を増大できる。あるいは、SiO(酸化シリコ
ン)、SiON(酸窒化シリコン)及びSiNといった
シリコンを含む材料を使用すれば、シリコンを含んでな
る半導体層1a及び第1層間絶縁膜41等の層間絶縁膜
との間におけるストレス発生を低減できる。
【0087】なお、誘電体膜75としては、HTO(Hi
gh Temperature Oxide)膜、LTO(Low Temperature
Oxide)膜等の酸化シリコン膜、あるいは窒化シリコン
膜等から構成してもよい。いずれにしても、蓄積容量7
0を増大させる観点からは、膜の信頼性が十分に得られ
る限りにおいて、誘電体膜75は薄いほどよい。
【0088】そして本実施形態においては特に、容量電
極300の形態について種々の特徴がある。以下これを
順次説明する。
【0089】まず、この容量電極300は、図2の平面
図をみるとわかるように、TFT30が点在する箇所、
すなわちマトリクスの交点に応じて島状に形成されてお
り、その一つ一つの形状はそれぞれ略十字型となってい
る。
【0090】いま、そのうちの一つの容量電極300に
着目すると、該容量電極300の図2中x方向は、走査
線3a上に重ねて形成されており、図2中y方向は、デ
ータ線6aに重ねて形成されている。より詳細にいえ
ば、走査線3aに重ねて形成されている容量電極300
のx方向の部分は、データ線6aを中心として同じ長さ
だけ延在し、データ線6aに重ねて形成されている前記
y方向の部分は、走査線3aを中心として、図2中上方
向の方が同下方向に比べて長くなるように形成されてい
る。要するに、本実施形態における容量電極300は、
データ線6aに対して線対称な形状を有している。
【0091】なお、本実施形態においては、容量電極3
00が上述のような形状を有することにより、画素電極
9aのそれぞれに付設される蓄積容量70もまた、デー
タ線6aに対して線対称な形状を有することとなる。こ
のような形状により、蓄積容量70は、非開口領域のみ
を利用して形成されているにもかかわらず、比較的大き
な容量を有することが可能となる。つまり、かかる蓄積
容量70は電位保持特性に優れており、その結果、画質
の向上に資することとなる。
【0092】また、島状に形成された各容量電極300
の辺縁部は、図2をみると明らかなように、コンタクト
ホール81の形成位置に対応している。すなわち、該コ
ンタクトホール81が図中やや上よりに形成されている
ことに対応して、当該島状の辺縁部の位置もやや上より
となっている。ちなみに、コンタクトホール81は、図
3に示すように、TFT30の高濃度ソース領域1dと
データ線6aとを電気的に接続するために設けられてい
るものであり、本発明にいう「第2コンタクトホール」
の一例に該当する。
【0093】また、走査線3aの方向における、前記辺
縁部についても、図2に示すように、コンタクトホール
85が形成されている。このコンタクトホール85は、
図3に示すように、中継層71と画素電極9aとを電気
的に接続するために設けられているものである。そし
て、当該コンタクトホール85は、本発明にいう「第3
コンタクトホール」の一例に該当する。
【0094】要するに、本実施形態においては、容量電
極300の外形形状たる、該容量電極300の辺縁部の
位置が、各画素電極9aが有する幅のほぼ中間とされる
とともに、該辺縁部からみて当該辺縁部を含む容量電極
300の外方の位置において、TFT30とデータ線6
aとを接続するコンタクトホール81と、TFT30に
電気的に接続された中継層71と画素電極9aとを接続
するコンタクトホール85とが設けられた形態となって
いるのである。ここで、「画素電極9aが有する幅」と
いう場合には、図2において画素電極9aのx方向の長
さ、あるいはそのy方向の長さの双方を意味することに
注意されたい。
【0095】一方、上述したような容量電極300を断
面から見た構造は、図3及び図4によく示されているよ
うに、容量電極300を含む蓄積容量70は、図3に示
すように、TFT30の第1層間絶縁膜41を介してチ
ャネル領域1a´の上側で、かつ、第2層間絶縁膜42
を介してデータ線6aの下側に位置するように設けられ
ている。すなわち、蓄積容量70は、チャネル領域1a
´とデータ線6aとの間であって、かつ、該チャネル領
域1a´及び該データ線6aのそれぞれと第1及び第2
層間絶縁膜41及び42を介して配置されている。
【0096】このような構成により、従来においては、
データ線6aの裏面で反射した光が迷光となって、TF
T30のチャネル領域1a´に入射するおそれがあった
が、本実施形態において当該迷光は、蓄積容量70の存
在によりその進行が遮られることになる。したがって、
本実施形態によれば、TFT30における光リーク電流
の発生を、効果的に防止することが可能となる。
【0097】なお、上述したような機能を効果的に担わ
せるために、容量電極300は、光反射性、あるいは光
吸収性等その他一般に遮光性能を有する材料で構成する
ことが好ましい。より具体的には、例えば、高温プロセ
スで製作する場合には、Ti、Cr、W、Ta、Mo、
Pd等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金
属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これ
らを積層したもの等とすればよい。他方、400℃付近
の低温プロセスで製作する場合には、Al等でよい。た
だし、本発明は、容量電極300をこのような材料で構
成する形態に限定されるものではなく、より一般的に言
えば、蓄積容量70の一電極として機能しうるもの、例
えば金属又は合金を含む導電性を有するものであればよ
い。
【0098】また、蓄積容量70に上述したような遮光
機能をもたせる場合にあっては特に、データ線6a方向
に沿った蓄積容量70を構成する容量電極300及び画
素電位側容量電極たる中継層71の幅を、該データ線6
aの幅と同じか、又は広く形成するとよい。このように
すれば、データ線6a裏面で反射した迷光が、TFT3
0のチャネル領域1a´に照射されることを効果的に防
止することが可能となる。
【0099】さて、本実施形態では特に、上述したよう
な容量電極300は、図4に示すように、TFT30の
下側に設けられた下側遮光膜11aと、本発明にいう
「第1コンタクトホール」の一例たるコンタクトホール
501を介して、電気的に接続されている。
【0100】ここに、コンタクトホール501は、図4
に示すように、後述する第1層間絶縁膜41及び下地絶
縁膜12を貫通して設けられている。また、コンタクト
ホール501は、図2に示すように、平面的にみると、
上述した容量電極300のデータ線6a方向に係る辺縁
部に、ほぼ対応する位置に形成されている。さらに、こ
のコンタクトホール501は、図2及び図4に示すよう
に、データ線6aの直下に形成されている。これによ
り、コンタクトホール501は、データ線6aにより規
定される非開口領域内に存在することとなるから、開口
率の更なる向上に資することとなる。
【0101】加えて、このコンタクトホール501は、
図2に示すように、その全体としての形状が略円柱形状
となっており、同形状が略四角柱形状となっているコン
タクトホール81、83及び85等とは異なっている。
これは、後述するように、コンタクトホール501に対
して、容量電極300に内在せる応力が影響するに際し
て、その度合いを低減する効果を発揮する。すなわち、
仮に、コンタクトホール501が、コンタクトホール8
1、83及び85と同様に略四角形状を有するものであ
ったならば、その断面角部において応力集中が生じうる
懸念があるところ、本実施形態では、そのような心配は
必要ないのである。
【0102】他方、前記下側遮光膜11aは、TFT3
0の下側に設けられ、該TFT30に対する光の入射を
防止する作用を担う部材である。この下側遮光膜11a
は、少なくとも走査線3a方向に沿って画像表示領域の
外側まで延設される。この際、データ線6aの直下にお
いて、容量電極300とコンタクトホール501を介し
て電気的に接続できるように、データ線6a方向に沿っ
て下側遮光膜11aを突出させれば良い。また、図2に
示すように、下側遮光膜11aを走査線3a及びデータ
線6aに沿って格子状に配設することにより、容量線と
して機能する下側遮光膜11aの低抵抗化及び冗長構造
が容易に実現できる。
【0103】また、上述の下側遮光膜11aについて
は、画素電極9aが配置された画像表示領域10aから
その周囲に延設され、定電位源と接続されて固定電位と
される。なお、これにより、該下側遮光膜11aと電気
的に接続された容量電極300もまた、固定電位とされ
ることになる。このように、下側遮光膜11a及び容量
電極300を固定電位とすれば、これらが電位変動する
ことにより、TFT30や蓄積容量70等に対して悪影
響を及ぼすことを未然に防止することが可能となる。
【0104】ちなみに、固定電位を供給するための前記
定電位源としては、後述するデータ線駆動回路又は走査
線駆動回路に供給される正電源や負電源の定電位源でも
よいし、対向基板20の対向電極21に定電位を供給す
るために設けられる定電位源等でよい。このように、定
電位源を共用とすることで、その相応分製造コストを低
減することが可能となり、また、装置構造も簡略化する
ことが可能となる。
【0105】なお、本実施形態においては、TFTアレ
イ基板10上に、下から順次、中継層71、誘電体膜7
5及び容量電極300という順で積層されているが、本
発明は、このような形態に限定されるものではない。例
えば、これとは逆に、容量電極300、誘電体膜75及
び中継層71という順で積層されていたとしても、本発
明の作用効果は何ら変更を受けることなく発揮されるこ
ととなるのはいうまでもない。
【0106】図2並びに図3及び図4においては、上記
のほか、TFT30下に、下地絶縁膜12が設けられて
いる。下地絶縁膜12は、下側遮光膜11aからTFT
30を層間絶縁する機能のほか、TFTアレイ基板10
の全面に形成されることにより、TFTアレイ基板10
の表面研磨時における荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画
素スイッチング用のTFT30の特性変化を防止する機
能を有する。
【0107】加えて、走査線3a上には、高濃度ソース
領域1dへ通じるコンタクトホール81及び高濃度ドレ
イン領域1eへ通じるコンタクトホール83がそれぞれ
開孔された第1層間絶縁膜41が形成されている。
【0108】なお、これら下地絶縁膜12及び第1層間
絶縁膜41に対しては、既に述べたように、下側遮光膜
11a及び容量電極300を電気的に接続するためのコ
ンタクトホール501もまた、開孔されている(図4参
照)。
【0109】第1層間絶縁膜41上には、中継層71及
び容量電極300が形成されており、これらの上には高
濃度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール81及び
中継層71へ通じるコンタクトホール85がそれぞれ開
孔された第2層間絶縁膜42が形成されている。
【0110】なお、本実施形態では、第1層間絶縁膜4
1に対しては、約1000℃の焼成を行うことにより、
半導体層1aや走査線3aを構成するポリシリコン膜に
注入したイオンの活性化を図ってもよい。他方、第2層
間絶縁膜42に対しては、このような焼成を行わないこ
とにより、容量電極300の界面付近に生じるストレス
の緩和を図るようにしてもよい。
【0111】第2層間絶縁膜42上には、データ線6a
が形成されており、これらの上には中継層71へ通じる
コンタクトホール85が形成された第3層間絶縁膜43
が形成されている。第3層間絶縁膜43の表面は、CM
P(Chemical Mechanical Polishing)処理等により平
坦化されており、その下方に存在する各種配線や素子等
による段差に起因する液晶層50の配向不良を低減す
る。ただし、このように第3層間絶縁膜43に平坦化処
理を施すのに代えて、又は加えて、TFTアレイ基板1
0、下地絶縁膜12、第1層間絶縁膜41及び第2層間
絶縁膜42のうち少なくとも一つに溝を掘って、データ
線6a等の配線やTFT30等を埋め込むことにより、
平坦化処理を行ってもよい。
【0112】以上説明したような構成となる本実施形態
の電気光学装置によれば、上述したような容量電極30
0が設けられていることにより、次に記す作用効果を実
現することができる。
【0113】すなわちまず、容量電極300と下側遮光
膜11aとがコンタクトホール501により電気的に接
続されていることにより、容量電極300において何ら
かの不都合が生じたとしても、下側遮光膜11aがその
機能を冗長的にバックアップしていることにより、電気
光学装置全体の動作に悪影響を与えることがない。ま
た、容量電極300と下側遮光膜11aとの電気的接続
は、容量電極300に対する固定電位の供給を、下側遮
光膜11aを介して行うことが可能となる。
【0114】さらに、本実施形態において、このような
効果は、下側遮光膜11aが格子状に配設されていたこ
とにより、より確実に享受されうる。なぜなら、当該格
子状に配設された下側遮光膜11aにおいては、多数の
電気伝導路を想定することができ、その一部において何
らかの不都合が生じたとしても、電気の流れが完全に遮
蔽されるということは稀であると考えられるからであ
る。ただし、本発明は、下側遮光膜11aが格子状に配
設される形態のみに限定されるものではない。例えば、
容量電極300の形状に合致させるように、略十字形状
を有する数個の部分に分割された下側遮光膜であっても
よい。このような場合であっても、当該下側遮光膜を構
成する各部分が、定電位源に接続されていれば、該各部
分と電気的に接続された容量電極300を定電位に維持
することは可能である。
【0115】また、本実施形態においては、容量電極3
00は、図2に示すように島状に形成されているため、
該容量電極300内に発生しうる応力の分散が可能とな
る。これにより、容量電極300それ自身の破損や、当
該応力が外部に作用することによる第2層間絶縁膜42
等の破壊等を、未然に防止することが可能となる。
【0116】さらに、この点に関して、本実施形態で
は、島状の各容量電極300の辺縁部の位置は、画素電
極9aが有する幅の中間とされるとともに、容量電極3
00の形状がデータ線6aを挟んで線対称とされていた
から、前記応力が外部に作用するにしても、それは電気
光学装置内部において均等になると考えられること、さ
らには前記容量電極300の辺縁部の位置、換言すれば
該容量電極300の外形形状は、その外側からコンタク
トホール81及び85によって規定されていたことによ
り、前記応力の集中が生じやすいと考えられる該コンタ
クトホール81及び85に対して前記応力の作用が及び
にくくなっていること等から、これらの作用が相俟っ
て、上述の応力分散に係る作用効果は、より確実に享受
されうることになる。加えて、コンタクトホール501
が、略円柱形状とされていたことも、既に述べたよう
に、応力による破損等の事態を生じにくくさせている。
【0117】加えて、下側遮光膜11aによって冗長配
線される容量電極300を島状に形成したので、画素領
域をまたがって形成した固定電位の容量線と比較して以
下の作用効果を奏する。
【0118】従来の固定電位の容量線を1000℃ぐら
いの高温処理の耐性を持つように、CrやW等の高融点
金属を用いると、特に上層に積層された絶縁膜に対して
応力が生じる。これは、熱処理過程で熱膨張率の差違か
ら生じるものである。そして、固定電位の容量線あるい
は該容量線付近の他の配線等にコンタクトホールを形成
時に、応力が解放されて容量線にクラックを生じること
がある。すなわち、コンタクトホール形成時にウエット
エッチング処理を行うと、エッチング液が染み込み、絶
縁膜が容量線の応力に耐えられず、容量線にクラックを
引き起こすことがある。このクラックは、時には、容量
線を断線させたり、容量線付近の例えばゲート配線に影
響を及ぼすこともある。
【0119】また、クラックが入ると絶縁膜の結晶性が
崩れ、NSG膜、BSG膜、BPSG膜で成る絶縁膜等
では、各膜の界面に水分が侵入しトランジスタの信頼性
を低下させる原因にもなる。
【0120】しかしながら、固定電位側容量電極を島状
に形成したので、固定電位側容量電極が引き起こす応力
は低下し、容量線にクラックが生じたり、クラックが生
じることに起因する不具合を抑えることができる。
【0121】なお、本実施形態においては、容量電極3
00の辺縁部の位置は、上述したように画素電極9aの
幅の中間位置等とされるともに、容量電極300の形状
は十字型形状である等とされていたが、本発明は、その
ような実施形態に限定されるものではない。
【0122】そのような容量電極の他の具体的形態とし
ては、あらゆるものが考えられるが、その幾つかの例示
を、図5及び図6に示しておく。まず、図5において、
容量電極300´は、走査線3aの方向については、コ
ンタクトホール85を避けるような括れ部が設けられて
いるものの、図2とは異なり線状に接続された形態とな
っている。また、データ線6aの方向については、図2
と同様に、コンタクトホール81を避けて、島状に形成
されている。つまり、図5では、x方向に延在する線状
の容量電極300´が、y方向に平行に複数存在してい
るような形態となっている。したがって、このような形
態では、コンタクトホール81における応力開放の可能
性を低減している。
【0123】なお、図5では、このような容量電極30
0´に対向するように、島状に形成された中継層71が
設けられている。より詳細に、該島状の中継層71のそ
れぞれは、走査線3aを中心としてデータ線6aの方向
に沿って延在する部分と、この部分から、走査線3aの
一方の方向に延設された部分とからなるような形状とな
っている。すなわち、いわばT字が横倒しにされたよう
な形状である。図5において、容量電極300´のう
ち、蓄積容量70として機能する部分は、このような中
継層71と対向している部分ということになる。
【0124】また、図6においては、容量電極300´
´は、走査線3a及びデータ線6aのいずれの方向につ
いても分離がなされ、島状の形成がなされているが、図
2に示す分離箇所すべてについて、当該分離がなされて
いるわけではない。すなわち、いわばブロックごとの分
離がなされているのである。このような形態では、図2
と同様に、TFTアレイ基板10上で、分離の位置がバ
ランスよく配置されることになるから、容量電極300
´´に起因する応力の外部に対する作用を均等にするこ
とが可能となる。
【0125】なお、図6についてもまた、図5と同様な
島状に形成された中継層71が設けられている。
【0126】(電気光学装置の全体構成)以上のように
構成された本実施形態に係る電気光学装置の全体構成
を、図7及び図8を参照して説明する。なお、図7は、
TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素とと
もに対向基板20の側からみた平面図であり、図8は図
7のH−H´断面図である。
【0127】図7及び図8において、本実施形態に係る
電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板2
0とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対
向基板20との間には、液晶層50が封入されており、
TFTアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領
域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシー
ル材52により相互に接着されている。
【0128】シール材52は、両基板を貼り合わせるた
め、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、紫
外線、加熱等により硬化させられたものである。また、
このシール材52中には、本実施形態における液晶装置
がプロジェクタ用途のように小型で拡大表示を行う液晶
装置であれば、両基板間の距離(基板間ギャップ)を所
定値とするためのギャップ材(スペーサ)が散布されて
いる。あるいは、当該液晶装置が液晶ディスプレイや液
晶テレビのように大型で等倍表示を行う液晶装置であれ
ば、このようなギャップ材は、液晶層50中に含まれて
よい。
【0129】シール材52の外側の領域には、各データ
線6aに画像信号を所定のタイミングで供給するための
データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102が
TFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられており、
走査線3aに走査信号を所定のタイミングで供給するた
めの走査線駆動回路104が、この一辺に隣接する二辺
に沿って設けられている。
【0130】なお、走査線3aに供給される走査信号遅
延が問題にならないのならば、走査線駆動回路104は
片側だけでもよいことは言うまでもない。また、データ
線駆動回路101を画像表示領域10aの辺に沿って両
側に配列してもよい。
【0131】TFTアレイ基板10の残る一辺には、画
像表示領域10aの両側に設けられた走査線駆動回路1
04間をつなぐための複数の配線105が設けられてい
る。また、対向基板20のコーナ部の少なくとも一箇所
においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との
間で電気的に導通をとるための導通材106が設けられ
ている。そして、図8に示すように、図7に示したシー
ル材52とほぼ同じ輪郭を持つ対向基板20が当該シー
ル材52によりTFTアレイ基板10に固着されてい
る。
【0132】図8において、TFTアレイ基板10上に
は、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等
の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形
成されている。他方、対向基板20上には、対向電極2
1のほか、最上層部分に配向膜が形成されている。ま
た、液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマテッィ
ク液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間
で、所定の配向状態をとる。
【0133】なお、TFTアレイ基板10上には、これ
らのデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等
に加えて、データ線駆動回路101で制御され、相展開
された画像信号を複数のデータ線6aに所定のタイミン
グで印加するサンプリング回路、複数のデータ線6aに
所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号の供給に
先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出
荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するため
の検査回路等を形成してもよい。
【0134】(電子機器の実施形態)次に、以上詳細に
説明した電気光学装置をライトバルブとして用いた電子
機器の一例たる投射型カラー表示装置の実施形態につい
て、その全体構成、特に光学的な構成について説明す
る。ここに、図9は、投射型カラー表示装置の図式的断
面図である。
【0135】図9において、本実施形態における投射型
カラー表示装置の一例たる液晶プロジェクタ1100
は、駆動回路がTFTアレイ基板上に搭載された電気光
学装置を3個用意し、それぞれRGB用のライトバルブ
100R、100G及び100Bとして用いたプロジェ
クタとして構成されている。液晶プロジェクタ1100
では、メタルハライドランプ等の白色光源のランプユニ
ット1102から投射光が発せられると、3枚のミラー
1106及び2枚のダイクロックミラー1108によっ
て、RGBの三原色に対応する光成分R、G及びBに分
けられ、各色に対応するライトバルブ100R、100
G及び100Bにそれぞれ導かれる。この際特に、B光
は、長い光路による光損失を防ぐために、入射レンズ1
122、リレーレンズ1123及び出射レンズ1124
からなるリレーレンズ系1121を介して導かれる。そ
して、ライトバルブ100R、100G及び100Bに
よりそれぞれ変調された三原色に対応する光成分は、ダ
イクロックプリズム1112により再度合成された後、
投射レンズ1114を介してスクリーン1120にカラ
ー画像として投射される。
【0136】本発明は、上述した実施形態に限られるも
のではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる
発明の要旨、あるいは思想に反しない範囲で適宜変更可
能であり、そのような変更を伴う電気光学装置、例えば
電気泳動装置やエレクトロルミネッセンス表示装置等に
適用でき、それら電気光学装置を含む電子機器もまた、
本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態の電気光学装置における画
像表示領域を構成するマトリクス状の複数の画素に設け
られた各種素子、配線等の等価回路を示す回路図であ
る。
【図2】 本発明の実施形態の電気光学装置におけるデ
ータ線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ
基板の相隣接する複数の画素群の平面図である。
【図3】 図2のA−A´断面図である。
【図4】 図2のB−B´断面図である。
【図5】 容量電極の形成パターンの一態様を示す平面
図である。
【図6】 容量電極の形成パターンの他の態様を示す平
面図である。
【図7】 本発明の実施形態の電気光学装置におけるT
FTアレイ基板を、その上に形成された各構成要素とと
もに対向基板の側から見た平面図である。
【図8】 図7のH−H´断面図である。
【図9】 本発明の電子機器の実施形態である投射型カ
ラー表示装置の一例たるカラー液晶プロジェクタを示す
図式的断面図である。
【符号の説明】
1a…半導体層 1a´…チャネル領域 1b…低濃度ソース領域 1c…低濃度ドレイン領域 1d…高濃度ソース領域 1e…高濃度ドレイン領域 3a…走査線 6a…データ線 9a…画素電極 10…TFTアレイ基板 10a…画像表示領域 11a…下側遮光膜 30…TFT 70…蓄積容量 71…中継層 75…誘電体膜 81、83、85…コンタクトホール 300…容量電極 501…コンタクトホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H091 FA34 GA02 GA12 GA13 2H092 JA24 JB51 JB67 NA01 NA12 PA09 5F110 AA06 AA30 BB02 CC02 DD02 DD03 DD05 EE09 EE28 GG02 GG12 GG13 HJ23 HM14 HM15 NN03 NN44 NN45 NN46 NN47 NN72 NN73 QQ11 QQ19

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に、 走査線と、 データ線と、 前記走査線と前記データ線との交差部に対応して配置さ
    れた薄膜トランジスタと、 前記薄膜トランジスタに対応して配置された画素電極
    と、 前記画素電極に電気的に接続されており蓄積容量を構成
    する画素電位側容量電極と、 該画素電位側容量電極に誘電体膜を介して対向配置され
    ており前記蓄積容量を構成する固定電位側容量電極と、 前記薄膜トランジスタの下側に設けられ該薄膜トランジ
    スタの少なくともチャネル領域に対する光の入射を遮蔽
    する下側遮光膜とを備えており、 前記下側遮光膜と前記固定電位側容量電極とは電気的に
    接続されており、 前記下側遮光膜は、前記固定電位側容量電極を固定電位
    に維持する容量線の少なくとも一部又は該容量線の冗長
    配線を構成することを特徴とする電気光学装置。
  2. 【請求項2】 前記下側遮光膜と前記固定電位側容量電
    極とは、該下側遮光膜及び該固定電位側容量電極間に存
    在する層間絶縁膜に対して設けられた第1コンタクトホ
    ールにより電気的に接続されていることを特徴とする請
    求項1に記載の電気光学装置。
  3. 【請求項3】 前記第1コンタクトホールは、前記デー
    タ線の下方に配置されていることを特徴とする請求項2
    に記載の電気光学装置。
  4. 【請求項4】 前記固定電位側容量電極及び前記下側遮
    光膜の少なくとも一方は、前記基板上において島状に形
    成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれ
    か一項に記載の電気光学装置。
  5. 【請求項5】 前記画素電極がマトリクス状に複数存在
    する場合において、前記島状の固定電位側容量電極又は
    下側遮光膜のそれぞれの辺縁部の位置は、各画素電極が
    有する幅の中間とされることを特徴とする請求項4に記
    載の電気光学装置。
  6. 【請求項6】 前記データ線は、隣接する前記画素電極
    間の略中間を縫うように延在し、前記島状の固定電位側
    容量電極又は下側遮光膜のそれぞれは、平面的にみて、
    前記データ線を挟んで線対称な形状を有することを特徴
    とする請求項5に記載の電気光学装置。
  7. 【請求項7】 前記辺縁部からみて当該辺縁部を含む前
    記固定電位側容量電極又は前記下側遮光膜の外方の位置
    において、前記薄膜トランジスタと前記画素電極とを接
    続する第2コンタクトホールを更に備えたことを特徴と
    する請求項4乃至6のいずれか一項に記載の電気光学装
    置。
  8. 【請求項8】 前記島状からみて当該辺縁部を含む前記
    固定電位側容量電極又は前記下側遮光膜の外方の位置に
    おいて、前記薄膜トランジスタと前記データ線とを接続
    する第3コンタクトホールを更に備えたことを特徴とす
    る請求項4乃至7のいずれか一項に記載の電気光学装
    置。
  9. 【請求項9】 前記蓄積容量は、前記薄膜トランジスタ
    を構成するチャネル領域と前記データ線との間であっ
    て、かつ、該チャネル領域及び該データ線のそれぞれと
    層間絶縁膜を介して配置されていることを特徴とする請
    求項1乃至8のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  10. 【請求項10】 前記蓄積容量は、層間絶縁膜を介して
    前記走査線の上方に配置されていることを特徴とする請
    求項1乃至9のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  11. 【請求項11】 前記蓄積容量を構成する前記画素電位
    側容量電極として、前記薄膜トランジスタを構成するド
    レイン領域に電気的に接続されたドレイン電極が兼用さ
    れていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか
    一項に記載の電気光学装置。
  12. 【請求項12】 前記固定電位側容量電極は、遮光性を
    有する材料から構成されていることを特徴とする請求項
    1乃至11のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  13. 【請求項13】 前記下側遮光膜は、前記走査線の下
    方、かつ、該走査線の方向に沿って延設され、前記デー
    タ線の方向に突出していることを特徴とする請求項1乃
    至12のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  14. 【請求項14】 前記下側遮光膜は、前記走査線及び前
    記データ線の下方、かつ、該走査線及び該データ線に沿
    って、格子状に配設されることを特徴とする請求項1乃
    至13のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  15. 【請求項15】 前記下側遮光膜は、画像表示領域の外
    側において定電位源に接続されることを特徴とする請求
    項1乃至14のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  16. 【請求項16】 前記定電位源は、前記データ線を駆動
    するためのデータ線駆動回路に定電位を供給する定電位
    源、前記走査線を駆動するための走査線駆動回路に定電
    位を供給する定電位源及び前記基板に対して対向配置さ
    れる対向基板上に設けられた対向電極に定電位を供給す
    る定電位源のいずれか一つからなることを特徴とする請
    求項15に記載の電気光学装置。
  17. 【請求項17】 基板上に、 走査線と、 データ線と、 前記走査線と前記データ線との交差部に対応して配置さ
    れた薄膜トランジスタと、 前記薄膜トランジスタに対応して配置された画素電極
    と、 前記画素電極に電気的に接続されており蓄積容量を構成
    する画素電位側容量電極と、 該画素電位側容量電極に誘電体膜を介して対向配置され
    ており前記蓄積容量を構成する固定電位側容量電極と、 前記薄膜トランジスタの下側に設けられ該薄膜トランジ
    スタの少なくともチャネル領域に対する光の入射を遮蔽
    する下側遮光膜とを備えており、 前記下側遮光膜と前記固定電位側容量電極とは電気的に
    接続されており、 前記下側遮光膜は、前記固定電位側容量電極を固定電位
    に維持する容量線の少なくとも一部又は該容量線の冗長
    配線を構成するとともに、 前記固定電位側容量電極は島状に形成され、 該島状の固定電位側容量電極の平面的な外形形状は、そ
    の外側に配置される、薄膜トランジスタを構成する半導
    体層及び前記データ線間を電気的に接続するコンタクト
    ホールと、前記画素電極及び前記画素電位側容量電極間
    を電気的に接続するコンタクトホールとによって規定さ
    れることを特徴とする電気光学装置。
  18. 【請求項18】 請求項1乃至17のいずれか一項に記
    載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子
    機器。
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