JP2003297862A - ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置 - Google Patents
ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置Info
- Publication number
- JP2003297862A JP2003297862A JP2002099730A JP2002099730A JP2003297862A JP 2003297862 A JP2003297862 A JP 2003297862A JP 2002099730 A JP2002099730 A JP 2002099730A JP 2002099730 A JP2002099730 A JP 2002099730A JP 2003297862 A JP2003297862 A JP 2003297862A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- die bonding
- bonding collet
- collet
- collect
- component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
し、搬送する際に、部品とダイボンディングコレットと
の相対的位置ずれが少なく、また微小部品を基盤に固定
する際の位置ずれの少ないダイボンディングコレットを
提供する。 【解決手段】 ダイボンディングコレット1は、微小部
品が吸着される端面2に互いに直交する第1,第2の突
き当て面4a,4bの2面を配置した構造で、その直交
部近傍には吸着口3が開口し、また第1,第2の突き当
て面4a,4bの内側に添って吸着口3から延伸した溝
5a,5bが形成されている。第1,第2の突き当て面
4a,4bを微小部品に接近させて真空吸引すれば、微
小部品は直交する二面の突き当て面側に吸い寄せられ、
突き当て面4a,4bに接触し、自己整合的に位置合わ
せが行われる。
Description
コレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実
装装置に関し、さらに詳しくは、超小型のプリズム、レ
ンズ、ミラーなどを集積化してなる光通信モジュール、
あるいは光ピックアップにおける高精度実装技術、ある
いはチップ部品を電子回路にハンダ付けする表面実装技
術に適用されるダイボンディングコレットおよび該ダイ
ボンディングコレットを用いた実装装置に関する。
集積化してなる光通信用モジュールや光ピックアップを
製造する際には、高精度な位置決めが可能な実装装置が
用いられる。このような実装装置においては、ダイボン
ディングコレットを用いて微小部品の搬送および配置が
行われる。一般にダイボンディングコレットは、微小部
品を真空吸着する構造になっており、その先端部、すな
わち微小部品との接触面は平坦で、かつ滑らかな面に加
工されている。
は次のようにして実装されていた。まず、チップトレイ
内に配置された半導体レーザチップをダイボンディング
コレットで吸着してトレイから取り上げる。次に、吸着
した半導体レーザチップの回転ずれをダイボンディング
コレットを回転させることで所定の回転位置に修正し、
実装される基盤の上方まで半導体レーザチップを移動さ
せ、X−Y方向の位置合わせを行う。次に、ダイボンデ
ィングコレットを降下させて基盤上に半導体レーザチッ
プを配置する。最後に、基盤全体を300℃程度まで昇
温させハンダ付けを行う。
回転ずれをダイボンディングコレットを回転させて修正
する必要があり、ダイボンディングコレットと微小部品
との位置関係を精度良く一定に保つことが困難であり、
また、ハンダ付けの際にはダイボンディングコレット先
端が平坦であるため微小部品が回転ずれを起こす不具合
があった。このような従来技術の問題点を解決する方法
として、特開2000−124233号公報に記載の発
明が知られている。
ットを示す斜視図である。このダイボンディングコレッ
ト11は、その端面12に開口され、内部に形成された
吸引通路を介して真空ポンプに接続される半導体素子2
0を吸着するための吸着口13と、前記半導体素子20
との位置合わせ面となる第1の突き当て面14a及び第
2の突き当て面14bを有し、該第1,第2の突き当て
面14a,14bが互いに直交するように配置され、且
つ前記吸着口13から離間し且つ前記吸着口13と対向
するように前記端面12上に配設された突き当て面14
とを備え、前記突き当て面14の厚みaを吸着する半導
体素子20の厚みbより薄くしたことを特徴とするもの
で、ダイボンディングコレット先端に位置合わせ用の第
1,第2の突き当て面14a,14bを設けることによ
り、半導体素子20とダイボンディングコレットの位置
関係を常に一定にできるものである。
場合には、次のような工程で微小部品の位置合わせが行
われる。まず、微小部品たとえば半導体素子20の一辺
の側面を、ダイボンディングコレット11を移動させて
突き当て面14の第1の突き当て面14aに押し当て、
さらにその状態でダイボンディングコレット11を移動
させて第2の突き当て面14bに半導体素子20の他の
一辺を突き当てることにより、ダイボンディングコレッ
トと半導体素子の相対的な位置合わせを行う。
イボンディングコレットでは、ダイボンディングコレッ
トと半導体素子の相対的な位置合わせを行うために、ダ
イボンディングコレットを半導体素子に接触させる動作
を行う必要があり、また機械的に接触させて部品の位置
を修正する工程だけではダイボンディングコレットとの
相対的位置ずれを無くすことが難しい不具合があった。
本発明は上記問題点を解決し、微小部品をピックアップ
し、搬送する際に、微小部品とダイボンディングコレッ
トとの相対的位置ずれが少なく、また微小部品を固定す
る際に位置ずれの少ないダイボンディングコレットを提
供し、また該ダイボンディングコレットを用いた実装装
置を提供するものである。
成するためになされたものであって、請求項1記載の発
明は、微小部品を吸着して搬送するダイボンディングコ
レットであって、吸着口が形成された吸着面に前記微小
部品の位置決め用突き当て面が設けられ、該突き当て面
の内側に前記吸着口から延伸された溝が形成されている
ことを特徴とし、もって、微小部品をコレットに接近さ
せた状態で、吸引を開始すれば、コレット面に形成され
た溝部の圧力が下がり、微小部品は突き当て面側に吸引
され、最後には突き当て面に接触することになり、自己
整合的にボンディングコレットと微小部品の回転方向の
位置ずれを修正することができる。
イボンディングコレットにおいて、前記突き当て面は直
交する二面からなることを特徴とし、もって、一層効果
的に部品の位置ずれを防止することができる。
記載のダイボンディングコレットにおいて、ボンディン
グコレットは多孔質物質で形成されていることを特徴と
し、もって、コレット底面はもとより、突き当て面側か
らも微小部品を確実に吸引することができる。
ずれかに記載のダイボンディングコレットにおいて、前
記突き当て面の高さは前記微小部品の高さより低いこと
を特徴とし、もって、微小部品を基盤にダイボンディン
グする際、ボンディングコレットが基盤に当たらずに、
確実に微小部品を配置することができる。
ずれかに記載のダイボンディングコレットを用いる実装
装置であることを特徴とし、もって、微小部品をピック
アップし、搬送する際に、部品とダイボンディングコレ
ットとの相対的位置ずれが少なく、また微小部品を固定
する際に位置ずれの少ない請求項1〜4記載のダイボン
ディングコレットを用いることにより、実装精度の高い
ダイボンディングが可能な実装装置を簡便に提供するこ
とができる。
〜図5に示す実施例に基づいて説明する。 (実施例1)図1は、本発明の第1の実施例を示す斜視
図である。第1の実施例のダイボンディングコレット
は、その先端に図示しない半導体素子などの微小部品を
吸着する端面2が形成され、端面2は平滑に加工されて
おり、ダイボンディングコレット内の図示しない吸引通
路を介して真空ポンプに接続される吸着口3が開口して
いる。端面2には、微小部品とボンディングコレット1
との回転方向の位置を規定するための突き当て面4と、
その内側の端面2に吸着口3から延伸する溝5が形成さ
れている。そのため、ボンディングコレット1を微小部
品に接近させて真空吸引すれば、溝5から大気が吸引さ
れることにより溝5は他の部分に対して気圧が低下す
る。その結果、微小部品は溝側に吸い寄せられ、最終的
に突き当て面4に接触することになる。このように、第
1の実施例のダイボンディングコレットでは、自己整合
的に微小部品の回転方向の位置ずれを修正してピックア
ップすることができる。また、微小部品を接着剤で固定
する際に、微小部品は突き当て面4により動きが制限さ
れるので、位置ずれの少ないダイボンディングを行うこ
とができる。
例を示す斜視図である。第2の実施例のダイボンディン
グコレット1は、互いに直交する第1の突き当て面4a
と第2の突き当て面4bの2面からなる突き当て面を配
置した構造で、その直交部近傍には吸着口3が、また第
1,第2の突き当て面4a,4bの内側に添って吸着口
3から延伸した溝5a,5bが形成されている。このよ
うな構造とすることで、第1,第2の突き当て面4a,
4bを微小部品に接近させて真空吸引すれば、微小部品
は直交する二面の突き当て面側に吸い寄せられ、最後に
は突き当て面4a,4bに接触し、自己整合的に位置合
わせが完了する。さらに、第2の実施例のダイボンディ
ングコレットでは、微小部品を接着剤で固定する際に、
微小部品は二面の突き当て面により動きが制限されるの
で位置ずれの少ないダイボンディングを行うことができ
る。
例を示す斜視図である。第3の実施例のダイボンディン
グコレット1は、図1および図2に示すダイボンディン
グコレットの溝5,5a,5bがコレット底部の端面2
を形成する平板に形成されているのに対して、溝5a,
5bが第1,第2の突き当て面4a,4bを形成する平
板の側面に形成されていることを特徴としている。この
ように、溝5a,5bを突き当て面4a,4b側に設け
ることにより、より一層微小部品を引き寄せる効果が向
上する。
の実施例を示す斜視図である。図4に示すダイボンディ
ングコレット1は、コレット底部の端面に溝が形成さ
れ、図5に示すダイボンディングコレット1は、突き当
て面の側面に溝が形成されている。図1〜図3に示す第
1〜3実施例では金属製の材料などからなる端面2に吸
着口3を形成していたのに対して、図4、図5に示す本
発明の第4の実施例のダイボンディングコレットは、ダ
イボンディングコレット1の底板である端面2および第
1,第2の突き当て面4a,4bそのものを多孔質物質
を母材として加工・形成したことを特徴としている。こ
のようにすれば、ダイボンディングコレット1の端面2
が多孔質物質で形成され、表面に多数の気泡6を有しそ
れぞれが図示しない吸引通路を介して真空ポンプに接続
されているので、コレット底面である端面2はもとよ
り、第1,第2突き当て面4a,4bの側面からも微小
部品を吸引することができ、微小部品を吸い寄せる吸引
力をより一層高めることができる。このような多孔質物
質としては多孔質セラミックスが使われる。なお、図
2,図3に示す第2,第3の実施例と同様にダイボンデ
ィングコレット底部の多孔質物質からなる端面2に溝を
形成し、また多孔質物質からなる第1,第2突き当て面
4a,4bの側面に溝5a,5bを形成することができ
る。
び該ダイボンディングコレットを用いた実装装置では、
ボンディングコレットと微小部品の相対的位置ずれを自
己整合的に修正することができるので、従来のような複
雑な位置合わせ工程を必要としないため、実装工程が短
縮することができ、また高価な実装装置を使用すること
なしに高精度なダイボンディングを行うことができるの
で微小部品の実装を低コストで行うことができる。
示す斜視図である。
示す斜視図である。
示す斜視図である。
示す斜視図である。
ットを示す斜視図である。
視図である。
口、4…突き当て面、4a…第1の突き当て面、4b…
第2の突き当て面、5…溝、5a…第1の溝、5b…第
2の溝、6…気泡。
Claims (5)
- 【請求項1】 微小部品を吸着して搬送するダイボンデ
ィングコレットであって、吸着口が形成された吸着面に
前記微小部品の位置決め用突き当て面が設けられ、該突
き当て面の内側に前記吸着口から延伸された溝が形成さ
れていることを特徴とするダイボンディングコレット。 - 【請求項2】 前記突き当て面は直交する二面からなる
ことを特徴とする請求項1記載のダイボンディングコレ
ット。 - 【請求項3】 前記ダイボンディングコレットは多孔質
物質で形成されていることを特徴する請求項1または2
記載のダイボンディングコレット。 - 【請求項4】 前記突き当て面の高さは、前記微小部品
の高さより低いことを特徴とする請求項1乃至3いずれ
かに記載のダイボンディングコレット。 - 【請求項5】 請求項1乃至4いずれかに記載のダイボ
ンディングコレットを用いることを特徴とする実装装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002099730A JP3835332B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002099730A JP3835332B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003297862A true JP2003297862A (ja) | 2003-10-17 |
JP3835332B2 JP3835332B2 (ja) | 2006-10-18 |
Family
ID=29388227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002099730A Expired - Fee Related JP3835332B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3835332B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101035167B1 (ko) | 2009-06-12 | 2011-05-17 | 이정구 | 가이드블록을 구비한 러버 픽업 툴 |
JP2012182330A (ja) * | 2011-03-01 | 2012-09-20 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | ダイピックアップ装置 |
JP2017022226A (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-26 | 株式会社デンソー | 基板加工装置および基板加工方法 |
US10847405B2 (en) | 2017-08-31 | 2020-11-24 | Nichia Corporation | Method for manufacturing semiconductor device |
-
2002
- 2002-04-02 JP JP2002099730A patent/JP3835332B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101035167B1 (ko) | 2009-06-12 | 2011-05-17 | 이정구 | 가이드블록을 구비한 러버 픽업 툴 |
JP2012182330A (ja) * | 2011-03-01 | 2012-09-20 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | ダイピックアップ装置 |
JP2017022226A (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-26 | 株式会社デンソー | 基板加工装置および基板加工方法 |
US10847405B2 (en) | 2017-08-31 | 2020-11-24 | Nichia Corporation | Method for manufacturing semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3835332B2 (ja) | 2006-10-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7337939B2 (en) | Bonding apparatus | |
CN109906029B (zh) | 电子部件安装装置以及电子部件安装方法 | |
US7181833B2 (en) | Method of mounting an electronic part | |
JP3835332B2 (ja) | ダイボンディングコレットおよび該ダイボンディングコレットを用いた実装装置 | |
JP2002118153A (ja) | 電子部品の製造方法及び実装装置 | |
JP4314868B2 (ja) | 半導体チップのピックアップ装置およびピックアップ方法ならびに吸着剥離ツール | |
JPH05208390A (ja) | 吸着ノズル | |
JP2002292587A (ja) | 微小電子部品用の吸着ノズルおよび電子部品実装装置 | |
JP2002326177A (ja) | 電子部品実装装置 | |
JP3251893B2 (ja) | ボール搬送装置 | |
JP3617483B2 (ja) | 電子部品実装方法 | |
CN114430655B (zh) | 电子部件接合装置 | |
JP2003340787A (ja) | 基板の固定装置及び固定方法 | |
JP3102241B2 (ja) | 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法 | |
JPH11135574A (ja) | 超音波ボンディング用コレットおよびボンディング方法 | |
JP3031084B2 (ja) | チップの位置ずれ補正装置 | |
JP2007149735A (ja) | 半導体素子用ピックアップジグおよびその製造方法 | |
JP3778676B2 (ja) | 部品搭載装置 | |
WO2022158122A1 (ja) | ボンディング方法およびボンディング装置使用方法 | |
JP2000022031A (ja) | 導電性ボールの実装方法 | |
JP4617607B2 (ja) | 電子部品位置決め装置およびその方法 | |
JP2022131423A (ja) | 半導体デバイスの実装装置及び実装方法 | |
JP2011100774A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
WO2024079975A1 (ja) | 半導体装置の製造装置および部材の吸引方法 | |
JP2000077436A (ja) | チップ吸着用のダイコレットおよびチップのボンディング装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041224 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Effective date: 20050426 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060414 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20060418 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060614 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20060704 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060717 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090804 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 4 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100804 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100804 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110804 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110804 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120804 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |