JP2003289067A - 大気圧プラズマ処理装置 - Google Patents

大気圧プラズマ処理装置

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JP2003289067A JP2002092524A JP2002092524A JP2003289067A JP 2003289067 A JP2003289067 A JP 2003289067A JP 2002092524 A JP2002092524 A JP 2002092524A JP 2002092524 A JP2002092524 A JP 2002092524A JP 2003289067 A JP2003289067 A JP 2003289067A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 Heの使用量の少ない大気圧プラズマ処理装
置を提供する。 【解決手段】 反応管10に第1、2、3電極20、3
0、40が反応管を周囲して配設されている。第1、3
電極は接地電極、第2電極は高圧電極であり第1電極と
第2電極で第1段高周波電界発生装置A1を、第2電極
と第3電極で第2段高周波電界発生装置A2を形成して
いる。最初にヘリウムガスを反応管内に導入してから高
周波電源50をONにしプラズマの生成を開始せしめ、
安定したならば、アルゴンガスを反応管内に導入し、ア
ルゴンガスによるプラズマを生成させる。アルゴンガス
によるプラズマが安定したならば、ヘリウムガスの導入
を停止し、それから、酸素ガスを導入する。プラズマは
反応管の出口14から処理台200上に載置された被処
理物体Tに向かって噴出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、大気圧下でプラズ
マを発生させて、電子部品等の表面処理等をおこなう大
気圧プラズマ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】大気圧下でプラズマを発生させて電子部
品等の表面処理をおこなうプラズマ処理装置が公知であ
る。例えば、特開2001−23968公報に開示され
た装置がある。上記公報の装置では、反応管内に希ガス
を流し、反応管に付設した高圧電極と接地電極の間に高
周波電圧を印加して、反応管内でプラズマを発生させ、
反応管の出口から噴出するプラズマを被処理物体に当て
るようにしたものである。
【0003】そして希ガスとしては、ヘリウムガスとア
ルゴンガスを使用するようにされ、ヘリウムガスの割合
をヘリウムガスとアルゴンガスの総量の20%〜50%
にすることが示されている。ところが、ヘリウムガスは
高価であるので、さらにヘリウムガスの使用量を少ない
プラズマ処理装置の開発が望まれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記問題に鑑
み、ヘリウムガスの使用量の少ない大気圧プラズマ処理
装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明によれ
ば、誘電体で形成されプラズマ原料ガスを導入するガス
導入口と反応管内で生成されるプラズマを被処理物体に
向けて放出するガス出口を有する反応管と、反応管のガ
ス導入口にプラズマ原料ガスを供給するガス供給装置
と、反応管を周囲して配置され高周波電源から高周波電
圧が印加される一対の高圧電極と接地電極から成り反応
管内に高周波電界を発生せしめる高周波電界発生装置と
を具備する大気圧プラズマ処理装置であって、高周波電
界発生装置がガス流れにそって直列に複数多段に配置さ
れており、ガス供給装置がヘリウムガスを供給する第1
ガス供給装置とヘリウムガス以外の第2希ガスを供給す
る第2ガス供給装置と酸素ガスを供給する第3ガス供給
装置を含み、第1ガス供給装置からヘリウムガスを供給
している状態で高周波電界発生装置を作始動してプラズ
マの生成を開始せしめ、その後第2希ガスの供給を開始
し第2希ガスのプラズマが発生したら第1ガス供給装置
を停止し、その後第3ガス供給装置による酸素ガスの供
給を開始することを特徴とする大気圧プラズマ処理装置
が提供される。このように構成された大気圧プラズマ処
理装置では、高周波電界発生装置がガス流れにそって直
列に複数多段に配置されており、第2希ガスのプラズマ
が発生したらヘリウムガスの供給は停止される。
【0006】請求項2の発明によれば、請求項1の発明
において、隣接する段の高周波電界発生装置の高圧電極
と接地電極の一方が共用されていることを特徴とする大
気圧プラズマ処理装置が提供される。このように構成さ
れた大気圧プラズマ処理装置では、高周波電界発生装置
の多段化に要する電極の数を少なくすることができる。
【0007】請求項3の発明によれば、請求項1の発明
において、第3ガス供給装置から供給される酸素ガス
は、少なくとも、最上流の第1段高周波電界発生装置の
下流側に設けられた第3ガス導入口から反応管内部に供
給されることを特徴とする大気圧プラズマ処理装置が提
供される。このように構成された大気圧プラズマ処理装
置では、酸素ガスは、少なくとも、最上流の第1段高周
波電界発生装置で発生せしめられたプラズマ中に導入さ
れる。
【0008】請求項4の発明によれば、請求項1の発明
において、各高周波電界発生装置の各電極を冷却する電
極冷却装置を有することを特徴とする大気圧プラズマ処
理装置が提供される。
【0009】請求項5の発明によれば、請求項1の発明
において、互いに平行に配列される複数の反応管を有
し、高周波電界発生装置の各電極が複数の反応管を周囲
していることを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。が
提供される。このように構成された大気圧プラズマ処理
装置では、複数の反応管からプラズマが噴出するので処
理面積が大きい。
【0010】請求項6の発明によれば、請求項1の発明
において、反応管が石英で形成されていることを特徴と
する大気圧プラズマ処理装置が提供される。
【0011】請求項7の発明によれば、請求項1の発明
において、第2ガス供給装置がアルゴンガスを供給する
ことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置が提供され
る。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して、本
発明の実施の形態を説明する。図1が第1の実施の形態
の構成を示す図であって、反応管10は誘電体である石
英で形成されていて、この実施の形態の場合は外径6m
m、内径4mm、厚さ1mmのものを使用した。なお、
反応管10の材料は石英に限られるものではなく、誘電
体であればどのような材料でもよく、例えば、セラミッ
クスを使用することもできる。但し、石英が汚れにくく
メンテナンスが楽であるので最も好ましい。
【0013】反応管10の上部には第1ガス導入口1
1、第2ガス導入口12、第3ガス導入口13が設けら
れ、下端にはプラズマ出口14が形成されている。この
出口14に対向して処理台200が配設され、処理台2
00の上に被処理物体Tが載置される。
【0014】そして、中間部には、アルミ製の環状の第
1電極20、第2電極30、第3電極40が反応管10
の外周を周囲するように配設されている。第1電極20
と第3電極40は接地電極であり接地されているが、第
2電極30は高圧電極であって、高周波電源50が整合
器51を介して接続され、第1電極20と第2電極30
で第1段高周波電界発生装置A1を形成し、第2電極3
0と第3電極40で第2段高周波電界発生装置A2を形
成している。すなわち、反応管10は直列に配列された
2段の高周波電界発生装置を有することになる。
【0015】なお、第1電極20と第2電極30、第2
電極30と第3電極40の間隔は、反応管10が上記の
ような寸法の場合、略1〜2mmとされている。なお、
各電極を反応管10に対して移動可能に取付ておいて間
隔を調整可能にすることもできる。
【0016】そして、冷却水通路61が第1電極20、
第2電極30、第3電極40の内部を通るように配設さ
れていて、冷却水通路61には冷却水ポンプ60から冷
却水が供給され、各電極はこの冷却水で冷却されるよう
になっている。この結果、プラズマ発生中の各電極の過
熱を防止することができる。
【0017】そして、第1ガス導入口11へ第1ガスボ
ンベ70から第1ガス調整弁71を介してヘリウムガス
が導入され、第2ガス導入口12へ第2ガスボンベ80
から第2ガス調整弁81を介してアルゴンガスが導入さ
れ、第3ガス導入口13へ第3ガスボンベ90から第3
ガス調整弁91を介して酸素ガスが導入されるようにな
っている。なお、第2ガスボンベ80から導入するガス
をアルゴンガスではない他のキセノン、クリプトン等の
希ガスとすることもできる。
【0018】第1ガス調整弁71、第2ガス調整弁8
1、第3ガス調整弁91は制御装置100により開度が
調整される。制御装置100は、簡単なマイクロコンピ
ュータから成り、高周波電源50、整合器51、冷却水
ポンプ60の制御もおこなう。
【0019】次に、上記のように構成された大気圧プラ
ズマ処理装置を利用して被処理物体の表面処理作業をお
こなう手順と作用について説明する。先ず、被処理物体
Tを処理台200の上に載置する。そして、冷却水ポン
プ60を作動せしめて冷却水通路61に冷却水を流す。
次に、第1ガス調整弁71を開弁して第1ガスボンベ7
0のヘリウムガスを第1ガス導入口11から反応管10
内に導入する。
【0020】第1ガス調整弁71を開弁後所定の時間が
経過して反応管10内にヘリウムガスが充分行き渡った
ならば、高周波電源50をONにし、第1高周波電界発
生装置A1の第1電極20と第2電極30の間、およ
び、第2高周波電界発生装置A2の第2電極30と第3
電極40の間に高周波電界を発生させる。この高周波電
界によりヘリウムガスからプラズマが生成される。所定
の時間を経過させプラズマが安定したならば、第2ガス
調整弁81を開弁して第2ガスボンベ80のアルゴンガ
スを第2ガス導入口12から反応管10内に導入する。
すると、アルゴンガスによるプラズマの生成が開始され
る。
【0021】アルゴンガスの導入開始後、所定時間を経
過させアルゴンガスによるプラズマが安定したならば、
第1ガス調整弁71を閉弁してヘリウムガスの導入を停
止する。その後、所定時間経過させてから、第3ガス調
整弁91を開弁して第3ガスボンベ90の酸素ガスを第
3ガス導入口13から反応管10内に導入する。図2は
上記の手順を示すチャートであって横軸は時間を表わし
ている。反応管10内で生成されたプラズマはプラズマ
出口14から処理台200上に載置された被処理物体T
に向かって噴出し、非処理物体Tは洗浄される。
【0022】このように、本発明の第1の実施の形態
は、ガス流れ方向に沿って直列に第1段高周波電界発生
装置A1と第2段高周波電界発生装置A2を有して、多
段に高周波電界を発生させることによって、ヘリウムガ
スの導入を途中で停止することができ、その結果、高価
なヘリウムガスの使用量が減少し、運転コストが低下す
る。
【0023】図2は第2の実施の形態を説明する図であ
って、第3ガス導入口13を第2電極30を貫通して設
け、酸素ガスを第1段高周波電界発生装置A1と第2段
高周波電界発生装置A2の間から導入するようにした点
が第1の実施の形態と異なる。その結果、第1の実施の
形態のように、酸素ガスを上方からアルゴンガスと一緒
に導入する場合よりも、より多量の酸素ガスを導入する
ことができる。酸素ガスは活性があるので洗浄能力を有
しており、酸素ガスを多量に導入できるということは、
洗浄能力がを高めることができるということである。
【0024】ここで、第1の実施の形態よりもより多量
の酸素ガスを導入することができるのは、以下の理由に
よるものと考えられる。すなわち、酸素ガスのプラズマ
はアルゴンガスのプラズマよりも弱いものであって、換
言すれば、酸素ガスの導入はプラズマを弱性化する作用
をおこなう。したがって、これを第1段高周波電界発生
装置A1の上流から大量に導入するとプラズマ全体が弱
くなってしまう。しかし、この第2の実施の形態のよう
に、第1段高周波電界発生装置A1の後流の第2電極3
0のところから酸素ガスを導入すれば、その上流側でア
ルゴンガスにより安定したプラズマが生成されている中
に導入されるので大量に酸素ガスを導入してもプラズマ
の弱まり方が小さくなる。
【0025】次に、第3の実施の形態について説明す
る。この第3の実施の形態は、反応管10を複数本、こ
の場合は3本を、平面視では図5に示すように三角形に
なるように、平行に配置し、各反応管10を各電極で周
囲し、各反応管10にそれぞれ第1の実施の形態と同様
にヘリウムガス、アルゴンガス、酸素ガスを導入し、各
反応管10の出口14からプラズマを噴出せしめ、プラ
ズマの放出面積を拡大したものである。したがって、一
度に大きな面積の処理ができる。その他の構成は、運転
方法は第1の実施の形態と同じである。なお、この第3
の実施の形態では、3本の反応管10を平行に配置した
例を示したが、所望に応じて何本でも平行に配置するこ
とができる。
【0026】以上、第1の実施の形態、第2の実施の形
態、第3の実施の形態と、3つの電極で、2段の高周波
電界発生装置を形成、配置した場合を説明したが、さら
に電極を増やして、より多段の高周波電界発生装置を形
成、配置することができる。この場合も、隣接する段の
高周波電界発生装置について電極を共用することにより
電極の数を少なくすることができる。例えば、電極の総
数をNとし、それらを、交互に接地電極と高圧電極とす
れば、N−1段の高周波電界発生装置を形成、配置する
ことができる。
【0027】図6の(A)は、上流から接地電極、高圧
電極、接地電極、高圧電極と4つの電極を配置して、A
1,A2,A3の3段の高周波電界発生装置を形成、配
置した場合を示し、図6の(B)は、上流から接地電
極、高圧電極、接地電極、高圧電極、接地電極と4つの
電極を配置して、A1,A2,A3,A4の3段の高周
波電界発生装置を形成、配置した場合を示している。
【0028】
【発明の効果】本発明は、誘電体で形成されプラズマ原
料ガスを導入するガス導入口と反応管内で生成されるプ
ラズマを被処理物体に向けて放出するガス出口を有する
反応管と、反応管のガス導入口にプラズマ原料ガスを供
給するガス供給装置と、反応管を周囲して配置され高周
波電源から高周波電圧が印加される一対の高圧電極と接
地電極から成り反応管内に高周波電界を発生せしめる高
周波電界発生装置とを具備する大気圧プラズマ処理装置
であるが、高周波電界発生装置がガス流れにそって直列
に複数多段に配置されており、ガス供給装置がヘリウム
ガスを供給する第1ガス供給装置とヘリウムガス以外の
第2希ガスを供給する第2ガス供給装置と酸素ガスを供
給する第3ガス供給装置を含み、第1ガス供給装置から
ヘリウムガスを供給している状態で高周波電界発生装置
を作始動してプラズマの生成を開始せしめ、その後第2
希ガスの供給を開始し第2希ガスのプラズマが発生した
ら第1ガス供給装置を停止し、その後第3ガス供給装置
による酸素ガスの供給が開始される。したがって、第2
希ガスのプラズマが発生したらヘリウムガスの供給を停
止することができヘリウムガスの使用量が少なく運転コ
ストが安い。
【0029】特に、請求項2の発明のように、隣接する
段の高周波電界発生装置の高圧電極と接地電極の一方が
共用されるようにすれば、高周波電界発生装置の多段化
に要する電極の数を少なくすることができ設備コストが
安い。
【0030】特に、請求項3の発明のように、第3ガス
供給装置から供給される酸素ガスが、少なくとも、最上
流の第1段高周波電界発生装置の下流側に設けられた第
3ガス導入口から反応管内部に供給されるようにすれ
ば、酸素ガスは、少なくとも、最上流の第1段高周波電
界発生装置で発生せしめられたプラズマ中に導入される
ので酸素ガスによるプラズマの弱性化の影響が小さくそ
の分酸素ガスを増量でき、その結果洗浄力が向上する。
【0031】特に、請求項5の発明のように、互いに平
行に配列される複数の反応管を有し、高周波電界発生装
置の各電極が複数の反応管を周囲するようにすれば、複
数の反応管からプラズマが噴出するので処理面積が大き
い。
【0032】特に、請求項6の発明のように、反応管を
石英で形成すれば、反応管が汚れにくメンテナンスが楽
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態の構造を示す側面図である。
【図2】第1の実施の形態の運転方法を示すチャートで
ある。
【図3】第2の実施の形態の構造を示す側面図である。
【図4】第3の実施の形態の構造を示す側面図である。
【図5】第3の実施の形態における反応管10の配置を
示す上面図である。
【図6】より多段の高周波電解装置を形成、配置するた
めの電極の配置を示す図であって、(A)は4つの電極
で3段の高周波電解装置を形成、配置した場合を示し、
(B)は5つの電極で4段の高周波電解装置を形成、配
置した場合を示している。
【符号の説明】
10…反応管 11…第1ガス導入口 12…第2ガス導入口 13…第3ガス導入口 14…プラズマ出口 20…第1電極 30…第2電極 40…第3電極 50…高周波電源 51…整合器 60…冷却水ポンプ 61…冷却水通路 70…第1ガスボンベ 71…第1ガス調整弁 80…第2ガスボンベ 81…第2ガス調整弁 90…第3ガスボンベ 91…第3ガス調整弁 100…コントローラ 200…処理台 T…被処理物体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3B116 AA03 BB88 BB89 BC01 5F004 BA20 BC03 BD07 CA01 DA22 DA23 DA26

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 誘電体で形成されプラズマ原料ガスを導
    入するガス導入口と反応管内で生成されるプラズマを被
    処理物体に向けて放出するガス出口を有する反応管と、
    反応管のガス導入口にプラズマ原料ガスを供給するガス
    供給装置と、反応管を周囲して配置され高周波電源から
    高周波電圧が印加される一対の高圧電極と接地電極から
    成り反応管内に高周波電界を発生せしめる高周波電界発
    生装置とを具備する大気圧プラズマ処理装置であって、 高周波電界発生装置がガス流れにそって直列に複数多段
    に配置されており、 ガス供給装置がヘリウムガスを供給する第1ガス供給装
    置とヘリウムガス以外の第2希ガスを供給する第2ガス
    供給装置と酸素ガスを供給する第3ガス供給装置を含
    み、 第1ガス供給装置からヘリウムガスを供給している状態
    で高周波電界発生装置を作始動してプラズマの生成を開
    始せしめ、その後第2希ガスの供給を開始し第2希ガス
    のプラズマが発生したら第1ガス供給装置を停止し、そ
    の後第3ガス供給装置による酸素ガスの供給を開始する
    ことを特徴とする大気圧プラズマ処理装置。
  2. 【請求項2】 隣接する段の高周波電界発生装置の高圧
    電極と接地電極の一方が共用されていることを特徴とす
    る請求項1に記載の大気圧プラズマ処理装置。
  3. 【請求項3】 第3ガス供給装置から供給される酸素ガ
    スは、少なくとも、最上流の第1段高周波電界発生装置
    の下流側に設けられた第3ガス導入口から反応管内部に
    供給されることを特徴とする請求項1に記載の大気圧プ
    ラズマ処理装置。
  4. 【請求項4】 各高周波電界発生装置の各電極を冷却す
    る電極冷却装置を有することを特徴とする請求項1に記
    載の大気圧プラズマ処理装置。
  5. 【請求項5】 互いに平行に配列される複数の反応管を
    有し、高周波電界発生装置の各電極が複数の反応管を周
    囲していることを特徴とする請求項1に記載の大気圧プ
    ラズマ処理装置。
  6. 【請求項6】 反応管が石英で形成されていることを特
    徴とする請求項1に記載の大気圧プラズマ処理装置。
  7. 【請求項7】 第2ガス供給装置がアルゴンガスを供給
    することを特徴とする請求項1に記載の大気圧プラズマ
    処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014519148A (ja) * 2011-05-12 2014-08-07 ボズウェル,ロデリック,ウィリアム プラズママイクロスラスタ
CN111465160A (zh) * 2020-05-14 2020-07-28 国网重庆市电力公司电力科学研究院 一种等离子体射流发生装置及系统

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010232109A (ja) * 2009-03-28 2010-10-14 Nihon Univ Lfプラズマジェット生成方法とlfプラズマジェット生成装置
JP2014519148A (ja) * 2011-05-12 2014-08-07 ボズウェル,ロデリック,ウィリアム プラズママイクロスラスタ
CN111465160A (zh) * 2020-05-14 2020-07-28 国网重庆市电力公司电力科学研究院 一种等离子体射流发生装置及系统

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