JP2003288722A - 光情報記録方法及び光情報記録装置 - Google Patents
光情報記録方法及び光情報記録装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の記録方法よりも少ないパルス数で強度
変調記録を行う際の、記録パワーの設定方法を改善した
光情報記録方法及び光情報記録装置の提供。 【解決手段】 ＰＷＭ方式で情報を記録する光情報記録
媒体の記録方法において、その長さの最小単位をＴｗと
し、ｎ１、ｎ２をｎ１＜ｎ２である自然数とするとき、
ｎ１・Ｔｗとｎ２・Ｔｗという異なる長さの記録マーク
を、何れもｍ個（ｍはｍ＜ｎの自然数）のパルスで強度
変調させた光により記録し、その記録信号パルスのパワ
ーの最大値Ｐｗを逐次変化させてテスト記録を行い、テ
スト記録したパターンを再生して測定した記録マークの
長さＴ１（Ｐｗ）又はＴ２（Ｐｗ）と、理論的長さｎ１
・Ｔｗ又はｎ２・Ｔｗの差（ズレ量）である、Ｄ１（Ｐ
ｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、Ｄ２（Ｐｗ）
＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、を評価することにより記
録パワーＰｗｏを設定する光情報記録方法。
変調記録を行う際の、記録パワーの設定方法を改善した
光情報記録方法及び光情報記録装置の提供。 【解決手段】 ＰＷＭ方式で情報を記録する光情報記録
媒体の記録方法において、その長さの最小単位をＴｗと
し、ｎ１、ｎ２をｎ１＜ｎ２である自然数とするとき、
ｎ１・Ｔｗとｎ２・Ｔｗという異なる長さの記録マーク
を、何れもｍ個（ｍはｍ＜ｎの自然数）のパルスで強度
変調させた光により記録し、その記録信号パルスのパワ
ーの最大値Ｐｗを逐次変化させてテスト記録を行い、テ
スト記録したパターンを再生して測定した記録マークの
長さＴ１（Ｐｗ）又はＴ２（Ｐｗ）と、理論的長さｎ１
・Ｔｗ又はｎ２・Ｔｗの差（ズレ量）である、Ｄ１（Ｐ
ｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、Ｄ２（Ｐｗ）
＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、を評価することにより記
録パワーＰｗｏを設定する光情報記録方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等の相変化型
光記録媒体の記録方法及び記録装置に関する。
Ｄ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等の相変化型
光記録媒体の記録方法及び記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光情報記録媒体の高速記録の需要
が高まっている。特にディスク状の光記録媒体の場合、
回転速度を高くすることで記録・再生速度を上げること
が可能なため、高速化が進んでいる。光ディスクの中で
も記録時に照射する光の強度変調のみで記録が可能であ
る光記録媒体は、その記録機構が単純であり、媒体と記
録装置の低価格化が可能であると同時に、再生も強度変
調された光を用いているため、再生専用装置との高い互
換性が確保できることから普及が進み、近年の電子情報
の大容量化により、更に高密度かつ高速記録化の需要が
高くなっている。このような光ディスクの中でも、多数
回の書換えが可能であることから、相変化材料を用いた
ものが主流となってきている。相変化材料を用いた光デ
ィスクの場合、照射する光ビームの強度変調により、記
録層材料の急冷状態と徐冷状態を作ることによって記録
を行う。記録層材料は、急冷状態ではアモルファスとな
り、徐冷状態では結晶となる。アモルファスと結晶では
光学的な物性が異なるため、光情報を記録することがで
きる。
が高まっている。特にディスク状の光記録媒体の場合、
回転速度を高くすることで記録・再生速度を上げること
が可能なため、高速化が進んでいる。光ディスクの中で
も記録時に照射する光の強度変調のみで記録が可能であ
る光記録媒体は、その記録機構が単純であり、媒体と記
録装置の低価格化が可能であると同時に、再生も強度変
調された光を用いているため、再生専用装置との高い互
換性が確保できることから普及が進み、近年の電子情報
の大容量化により、更に高密度かつ高速記録化の需要が
高くなっている。このような光ディスクの中でも、多数
回の書換えが可能であることから、相変化材料を用いた
ものが主流となってきている。相変化材料を用いた光デ
ィスクの場合、照射する光ビームの強度変調により、記
録層材料の急冷状態と徐冷状態を作ることによって記録
を行う。記録層材料は、急冷状態ではアモルファスとな
り、徐冷状態では結晶となる。アモルファスと結晶では
光学的な物性が異なるため、光情報を記録することがで
きる。
【０００３】記録原理が、記録層材料の「急冷」と「徐
冷」という複雑な機構を用いているため、高速での記録
は、特開平９−２１９０２１号公報に開示されているよ
うに、パルス分割され３値に強度変調された記録光を媒
体に照射することにより行う。しかし、記録速度が速く
なると基本クロック周波数が高くなり、２４倍速相当の
ＣＤ−ＲＷでは約１０４ＭＨｚ、５倍相当のＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷでは約１３１ＭＨｚとなるため、従来
の記録方法（記録ストラテジ）では、パルス発光におけ
る立上り・立下りの効果が大きくなり、実効的な照射光
エネルギーが低くなってしまう。図１にその例を示す。
点線で示した理想的な発光波形に対して実際の発光波形
は立上り・立下りに時間を要するため、図１（ａ）の実
線で示すように矩形にはならない。更に、基本クロック
が高くなると、図１（ｂ）に示すように、立上り・立下
り時間の占める比率が高くなり、十分高い記録（ピー
ク）パワーと十分低いバイアス（ボトム）パワーが確保
できなくなる。つまり、記録（ピーク）パワーＰｗはΔ
Ｐｗだけ低くなり、バイアス（ボトム）パワーＰｂはΔ
Ｐｂだけ高くなってしまう。このような記録波形では、
記録材料に対し十分な加熱、冷却が行われないため急冷
状態を確保することが困難となり、その結果、アモルフ
ァスの記録マーク（以下、記録マークを単にマークとい
う）が十分に形成されず、再生信号振幅が低下する。こ
のような現象を解決するためには、立上り・立下り時間
の短い発光光源（レーザーダイオードとその駆動装置）
が必要となるが、１００ＭＨｚを超える周波数に対応す
る発光光源を確保することは非常に困難である。
冷」という複雑な機構を用いているため、高速での記録
は、特開平９−２１９０２１号公報に開示されているよ
うに、パルス分割され３値に強度変調された記録光を媒
体に照射することにより行う。しかし、記録速度が速く
なると基本クロック周波数が高くなり、２４倍速相当の
ＣＤ−ＲＷでは約１０４ＭＨｚ、５倍相当のＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷでは約１３１ＭＨｚとなるため、従来
の記録方法（記録ストラテジ）では、パルス発光におけ
る立上り・立下りの効果が大きくなり、実効的な照射光
エネルギーが低くなってしまう。図１にその例を示す。
点線で示した理想的な発光波形に対して実際の発光波形
は立上り・立下りに時間を要するため、図１（ａ）の実
線で示すように矩形にはならない。更に、基本クロック
が高くなると、図１（ｂ）に示すように、立上り・立下
り時間の占める比率が高くなり、十分高い記録（ピー
ク）パワーと十分低いバイアス（ボトム）パワーが確保
できなくなる。つまり、記録（ピーク）パワーＰｗはΔ
Ｐｗだけ低くなり、バイアス（ボトム）パワーＰｂはΔ
Ｐｂだけ高くなってしまう。このような記録波形では、
記録材料に対し十分な加熱、冷却が行われないため急冷
状態を確保することが困難となり、その結果、アモルフ
ァスの記録マーク（以下、記録マークを単にマークとい
う）が十分に形成されず、再生信号振幅が低下する。こ
のような現象を解決するためには、立上り・立下り時間
の短い発光光源（レーザーダイオードとその駆動装置）
が必要となるが、１００ＭＨｚを超える周波数に対応す
る発光光源を確保することは非常に困難である。
【０００４】そこで、現行の発光光源で高速記録を行う
技術として、特開平９−１３４５２５号公報、米国特許
５７３２０６２号明細書に開示されている方法で記録パ
ルス数を減らして対応することが提案されている。従来
は図１（ｂ）に示すように３個のパルスで記録していた
ところを、図１（ｃ）に示すように２個のパルスで記録
する技術である。これにより、１パルス当りの発光時間
（Ｐｗのレベルの時間）と冷却時間（Ｐｂのレベルの時
間）を長く取ることが可能となり、前述の立上り・立下
り時間の影響を小さくすることができる。しかし、この
記録方法（ストラテジ）による記録では、基本クロック
周期の奇数倍、つまりｎ＝（２ｍ＋１）と、偶数倍、つ
まりｎ＝２ｍの時にｍ個のパルスで発光する関係上、偶
数と奇数のそれぞれについて最適な発光パターンを設定
する必要があり、最適化が困難であるため実用化には至
っていない。
技術として、特開平９−１３４５２５号公報、米国特許
５７３２０６２号明細書に開示されている方法で記録パ
ルス数を減らして対応することが提案されている。従来
は図１（ｂ）に示すように３個のパルスで記録していた
ところを、図１（ｃ）に示すように２個のパルスで記録
する技術である。これにより、１パルス当りの発光時間
（Ｐｗのレベルの時間）と冷却時間（Ｐｂのレベルの時
間）を長く取ることが可能となり、前述の立上り・立下
り時間の影響を小さくすることができる。しかし、この
記録方法（ストラテジ）による記録では、基本クロック
周期の奇数倍、つまりｎ＝（２ｍ＋１）と、偶数倍、つ
まりｎ＝２ｍの時にｍ個のパルスで発光する関係上、偶
数と奇数のそれぞれについて最適な発光パターンを設定
する必要があり、最適化が困難であるため実用化には至
っていない。
【０００５】特開２００１−３３１９３６号公報には、
各パルスの長さを独立かつ個別に設定する手法が提案さ
れており、この手法を用いれば、記録パワーが低く応答
性の低い光学系であっても高い変調度と良好なジッタを
得ることができるとしている。しかし、前述の通り、各
長さのマークに対して複雑な調整が必要であるため、記
録パワー（Ｐｗ）に対する記録マーク長（以下、単にマ
ーク長という）の依存性が、各長さのマーク毎に異なっ
てしまう。その結果、記録パワーマージンが狭くなるの
で、記録パワーの最適値の設定方法（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉ
ｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）の確度が重要に
なってくる。従来の記録方法では、特開平９−１３８９
４７号公報に開示されている手法で記録パワーを設定す
るのが一般的であり確実であるが、パルス数を減らす手
法では、再生信号の振幅の特性値である変調度よりも、
マーク長に関係する時間情報の変動が大きくなるため、
時間情報で記録パワーを設定する必要がある。
各パルスの長さを独立かつ個別に設定する手法が提案さ
れており、この手法を用いれば、記録パワーが低く応答
性の低い光学系であっても高い変調度と良好なジッタを
得ることができるとしている。しかし、前述の通り、各
長さのマークに対して複雑な調整が必要であるため、記
録パワー（Ｐｗ）に対する記録マーク長（以下、単にマ
ーク長という）の依存性が、各長さのマーク毎に異なっ
てしまう。その結果、記録パワーマージンが狭くなるの
で、記録パワーの最適値の設定方法（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉ
ｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）の確度が重要に
なってくる。従来の記録方法では、特開平９−１３８９
４７号公報に開示されている手法で記録パワーを設定す
るのが一般的であり確実であるが、パルス数を減らす手
法では、再生信号の振幅の特性値である変調度よりも、
マーク長に関係する時間情報の変動が大きくなるため、
時間情報で記録パワーを設定する必要がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の記録
方法よりも少ないパルス数で強度変調記録を行う際の、
記録パワーの設定方法を改善した光情報記録方法及び光
情報記録装置の提供を目的とする。
方法よりも少ないパルス数で強度変調記録を行う際の、
記録パワーの設定方法を改善した光情報記録方法及び光
情報記録装置の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題は、次の１）〜
８）の発明（以下、本発明１〜８という）によって解決
される。 １） 記録マークと未記録部（記録マーク間のスペー
ス）の長さを変調したＰＷＭ方式で情報を記録する光情
報記録媒体の記録方法において、その長さの最小単位
（基本クロック周期）をＴｗとし、ｎ１、ｎ２をｎ１＜
ｎ２である自然数とするとき、ｎ１・Ｔｗとｎ２・Ｔｗ
という異なる長さの記録マークを、何れもｍ個（ｍはｍ
＜ｎの自然数）のパルスで強度変調させた光により記録
し、その記録信号パルスのパワーの最大値Ｐｗを逐次変
化させてテスト記録を行い、テスト記録したパターンを
再生して測定した記録マークの長さＴ１（Ｐｗ）又はＴ
２（Ｐｗ）と、理論的長さｎ１・Ｔｗ又はｎ２・Ｔｗの
差（ズレ量）である、 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、 Ｄ２（Ｐｗ）＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ２・Ｔｗ を評価することにより記録パワーＰｗｏを設定すること
を特徴とする光情報記録方法。 ２） Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｄ２（Ｐｗ）となるＰｗを記録パ
ワーＰｗｏとして設定することを特徴とする１）記載の
光情報記録方法。 ３） 次式に従って規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）
を求め、 ｇ（Ｐｗ）＝〔Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）〕／Ｔｗ ｇ（Ｐｗ）＝ｇα （但し、ｇαは、０＜ｇα≦０．１の範囲にある媒体固
有の値）となるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定する
ことを特徴とする１）記載の光情報記録方法。 ４） 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗの記録パ
ルスの第１パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗ
ｏ）だけ長く設定することを特徴とする３）記載の光情
報記録方法。 ５） 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗの記録パ
ルスの最終パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗ
ｏ）だけ長く設定することを特徴とする３）記載の光情
報記録方法。 ６） ３）記載の規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）＝
ｇβ、但し、０．４≦ｇβ≦０．６、として求められる
Ｐｗｔに１．０〜１．２の範囲にある定数ρを乗じて求
めたＰｗ＝ρ・Ｐｗｔを記録パワーＰｗｏとして設定す
ることを特徴とする光情報記録方法。 ７） テスト記録を行いテスト記録部の情報を再生する
光ピックアップ部、テスト記録時の光照射パワーを制御
するパワー制御部、再生信号から記録マークの長さを測
定するマーク長測定部を有し、１）〜６）の何れかに記
載の光情報記録方法により記録を行うことができるよう
に設定されていることを特徴とする光情報記録装置。 ８） ３）記載の規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）を
演算する演算部を有することを特徴とする７）記載の光
情報記録装置。
８）の発明（以下、本発明１〜８という）によって解決
される。 １） 記録マークと未記録部（記録マーク間のスペー
ス）の長さを変調したＰＷＭ方式で情報を記録する光情
報記録媒体の記録方法において、その長さの最小単位
（基本クロック周期）をＴｗとし、ｎ１、ｎ２をｎ１＜
ｎ２である自然数とするとき、ｎ１・Ｔｗとｎ２・Ｔｗ
という異なる長さの記録マークを、何れもｍ個（ｍはｍ
＜ｎの自然数）のパルスで強度変調させた光により記録
し、その記録信号パルスのパワーの最大値Ｐｗを逐次変
化させてテスト記録を行い、テスト記録したパターンを
再生して測定した記録マークの長さＴ１（Ｐｗ）又はＴ
２（Ｐｗ）と、理論的長さｎ１・Ｔｗ又はｎ２・Ｔｗの
差（ズレ量）である、 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、 Ｄ２（Ｐｗ）＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ２・Ｔｗ を評価することにより記録パワーＰｗｏを設定すること
を特徴とする光情報記録方法。 ２） Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｄ２（Ｐｗ）となるＰｗを記録パ
ワーＰｗｏとして設定することを特徴とする１）記載の
光情報記録方法。 ３） 次式に従って規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）
を求め、 ｇ（Ｐｗ）＝〔Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）〕／Ｔｗ ｇ（Ｐｗ）＝ｇα （但し、ｇαは、０＜ｇα≦０．１の範囲にある媒体固
有の値）となるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定する
ことを特徴とする１）記載の光情報記録方法。 ４） 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗの記録パ
ルスの第１パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗ
ｏ）だけ長く設定することを特徴とする３）記載の光情
報記録方法。 ５） 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗの記録パ
ルスの最終パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗ
ｏ）だけ長く設定することを特徴とする３）記載の光情
報記録方法。 ６） ３）記載の規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）＝
ｇβ、但し、０．４≦ｇβ≦０．６、として求められる
Ｐｗｔに１．０〜１．２の範囲にある定数ρを乗じて求
めたＰｗ＝ρ・Ｐｗｔを記録パワーＰｗｏとして設定す
ることを特徴とする光情報記録方法。 ７） テスト記録を行いテスト記録部の情報を再生する
光ピックアップ部、テスト記録時の光照射パワーを制御
するパワー制御部、再生信号から記録マークの長さを測
定するマーク長測定部を有し、１）〜６）の何れかに記
載の光情報記録方法により記録を行うことができるよう
に設定されていることを特徴とする光情報記録装置。 ８） ３）記載の規格化されたパラメータｇ（Ｐｗ）を
演算する演算部を有することを特徴とする７）記載の光
情報記録装置。
【０００８】以下、上記本発明について詳しく説明す
る。本発明は、従来の記録方法よりも少ないパルス数で
強度変調記録を行う際の、記録パワーの設定方法及びそ
の方法を実施するための装置に係るものである。対象と
なるのは、書換え可能な相変化型光情報記録媒体であ
り、例えばＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＰＤなどである。媒体の構成の一例
を図２に示す。この例は、記録再生波長領域で略透明で
ある基板１上に少なくとも記録層３と反射層５を有する
ものである。透明基板の材料としては、記録・再生波長
領域でほぼ透明であると同時にディスクの機械的強度を
確保できるものが望ましく、ガラス、樹脂等が挙げられ
るが、コスト、強度、透明性の点からポリカーボネート
樹脂を用いるのが一般的であり好ましい。基板上には光
ビームの走査を容易にするための案内溝（グルーブ）を
形成してもよい。記録層材料としては相変化材料を用い
る。相変化材料としては、可逆的に変化する２つ以上の
相を有する材料である必要があり、例えば結晶−アモル
ファス間で相変化する材料が挙げられる。情報は結晶状
態の中にアモルファスマークを形成するか又はアモルフ
ァス状態の中に結晶のマークを形成することで行う。反
射層としては任意の金属又は合金を用いることができ
る。反射層材料の例としては、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ａ
ｌ、又はそれらの合金などが挙げられる。
る。本発明は、従来の記録方法よりも少ないパルス数で
強度変調記録を行う際の、記録パワーの設定方法及びそ
の方法を実施するための装置に係るものである。対象と
なるのは、書換え可能な相変化型光情報記録媒体であ
り、例えばＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＰＤなどである。媒体の構成の一例
を図２に示す。この例は、記録再生波長領域で略透明で
ある基板１上に少なくとも記録層３と反射層５を有する
ものである。透明基板の材料としては、記録・再生波長
領域でほぼ透明であると同時にディスクの機械的強度を
確保できるものが望ましく、ガラス、樹脂等が挙げられ
るが、コスト、強度、透明性の点からポリカーボネート
樹脂を用いるのが一般的であり好ましい。基板上には光
ビームの走査を容易にするための案内溝（グルーブ）を
形成してもよい。記録層材料としては相変化材料を用い
る。相変化材料としては、可逆的に変化する２つ以上の
相を有する材料である必要があり、例えば結晶−アモル
ファス間で相変化する材料が挙げられる。情報は結晶状
態の中にアモルファスマークを形成するか又はアモルフ
ァス状態の中に結晶のマークを形成することで行う。反
射層としては任意の金属又は合金を用いることができ
る。反射層材料の例としては、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ａ
ｌ、又はそれらの合金などが挙げられる。
【０００９】記録層の上下には保護層を設けるのが一般
的である。保護層は記録層にかかる熱から樹脂基板を保
護する下部保護層２と、記録層の原子の反射層への熱拡
散を防止するため、及び記録層に効率的に熱エネルギー
が掛かるようにするために形成する上部保護層４とがあ
る。下部保護層は基板と記録層の間に形成され、熱的特
性又は光学的特性から複数層を積層した多層膜でも良
い。上部保護層は記録層と反射層の間に形成され、下部
保護層と同様に熱的・光学的特性又は化学的特性から多
層構造としてもよい。保護層材料としては、任意の誘電
体、半導体、半金属、又はそれらの物質の混合物が挙げ
られる。反射層の上には、上記の各層を機械的・化学的
損傷から保護する樹脂層（オーバーコート層）を設けて
もよく、また樹脂基板等を貼り合わせても良い。
的である。保護層は記録層にかかる熱から樹脂基板を保
護する下部保護層２と、記録層の原子の反射層への熱拡
散を防止するため、及び記録層に効率的に熱エネルギー
が掛かるようにするために形成する上部保護層４とがあ
る。下部保護層は基板と記録層の間に形成され、熱的特
性又は光学的特性から複数層を積層した多層膜でも良
い。上部保護層は記録層と反射層の間に形成され、下部
保護層と同様に熱的・光学的特性又は化学的特性から多
層構造としてもよい。保護層材料としては、任意の誘電
体、半導体、半金属、又はそれらの物質の混合物が挙げ
られる。反射層の上には、上記の各層を機械的・化学的
損傷から保護する樹脂層（オーバーコート層）を設けて
もよく、また樹脂基板等を貼り合わせても良い。
【００１０】光情報記録媒体への情報の記録及び再生
は、記録層の近傍に集光した光ビームを走査することに
より行う。情報の記録は、強度変調された光を照射して
結晶中にアモルファスマークを形成することにより行
う。本発明の光情報記録方法は、マークの長さ及びマー
ク間（スペース）の長さを、基本クロックＴｗを最小単
位として変動させることにより情報を記録する手法であ
るパルス幅変調（ＰＷＭ：Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍ
ｏｄｕｌａｔｉｏｎ）を用いる。ＰＷＭの例としては、
コンパクトディスクで採用されているＥＦＭ（Ｅｉｇｈ
ｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ：
８−１４変調）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａ
ｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）で採用されているＥＦＭ＋（８−
１６変調の一種）、Ｂｌｕｅ Ｒａｙ Ｄｉｓｃで採用
されている１−７変調などがある。
は、記録層の近傍に集光した光ビームを走査することに
より行う。情報の記録は、強度変調された光を照射して
結晶中にアモルファスマークを形成することにより行
う。本発明の光情報記録方法は、マークの長さ及びマー
ク間（スペース）の長さを、基本クロックＴｗを最小単
位として変動させることにより情報を記録する手法であ
るパルス幅変調（ＰＷＭ：Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍ
ｏｄｕｌａｔｉｏｎ）を用いる。ＰＷＭの例としては、
コンパクトディスクで採用されているＥＦＭ（Ｅｉｇｈ
ｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ：
８−１４変調）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａ
ｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）で採用されているＥＦＭ＋（８−
１６変調の一種）、Ｂｌｕｅ Ｒａｙ Ｄｉｓｃで採用
されている１−７変調などがある。
【００１１】これらのＰＷＭ変調方式では、マークとス
ペースの長さに情報がエンコードされるため、マーク
長、スペース長が揃っていることが重要となる。マーク
長、スペース長は、基本クロック周期Ｔｗのｎ倍（ｎは
自然数）の長さ、つまりｎ・Ｔｗになる。コンパクトデ
ィスク１倍速のＥＦＭの場合は、Ｔｗ＝２３１．４ｎ
ｓ、ｎ＝３〜１１であり、ＤＶＤの１倍速の場合は、Ｔ
ｗ＝３８．１ｎｓ、ｎ＝３〜１１、１４である。これ
ら、ｎ・Ｔｗの長さのマークの形成は強度変調した光を
記録層に照射することにより行う。照射の強度は３レベ
ルであり、それぞれ記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、
バイアスパワーＰｂで表され、Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｂの関係
にある。マークを記録するときは、記録パワー（ピーク
パワー）Ｐｗ、バイアスパワー（ボトムパワー）Ｐｂの
パルス発光を行い、スペースを記録（又はマークを消
去）するときは、消去パワーＰｅのＣＷ発光（ＣＷ：Ｃ
ｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｗａｖｅ：定常波つまり強度変調
のない一定の強度で発光すること）で行う。パルス光を
照射して記録層材料を加熱・急冷することにより、アモ
ルファスマークを形成し、より低いパワーでＣＷ発光し
て記録層を加熱・徐冷することにより結晶状態のスペー
スを形成する。
ペースの長さに情報がエンコードされるため、マーク
長、スペース長が揃っていることが重要となる。マーク
長、スペース長は、基本クロック周期Ｔｗのｎ倍（ｎは
自然数）の長さ、つまりｎ・Ｔｗになる。コンパクトデ
ィスク１倍速のＥＦＭの場合は、Ｔｗ＝２３１．４ｎ
ｓ、ｎ＝３〜１１であり、ＤＶＤの１倍速の場合は、Ｔ
ｗ＝３８．１ｎｓ、ｎ＝３〜１１、１４である。これ
ら、ｎ・Ｔｗの長さのマークの形成は強度変調した光を
記録層に照射することにより行う。照射の強度は３レベ
ルであり、それぞれ記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、
バイアスパワーＰｂで表され、Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｂの関係
にある。マークを記録するときは、記録パワー（ピーク
パワー）Ｐｗ、バイアスパワー（ボトムパワー）Ｐｂの
パルス発光を行い、スペースを記録（又はマークを消
去）するときは、消去パワーＰｅのＣＷ発光（ＣＷ：Ｃ
ｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｗａｖｅ：定常波つまり強度変調
のない一定の強度で発光すること）で行う。パルス光を
照射して記録層材料を加熱・急冷することにより、アモ
ルファスマークを形成し、より低いパワーでＣＷ発光し
て記録層を加熱・徐冷することにより結晶状態のスペー
スを形成する。
【００１２】マーク形成時の発光パターンの例を図３に
示す。ｎ・Ｔｗの長さのマークを記録するためには、記
録パワーＰｗのｍ個のパルスを用いる。ここで、ｍは、
ｍ＜ｎの自然数である。記録パワーＰｗのパルスの後に
は必ずバイアスパワーＰｂのパルスが続く必要がある。
図３はｎ＝６の場合である。図３（ａ）は６Ｔｗのマー
クを示し、図３（ｂ）は６Ｔｗのクロック周期を示す。
６Ｔｗのマークを形成するために５個のパルス（ｍ＝
５）を用いた場合は図３（ｃ）となる。これは、ｎ・Ｔ
ｗの長さのマークに対してｍ＝（ｎ−１）のパルスを用
いる一般的なものであり、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、
ＤＶＤ＋ＲＷなどに採用されているものである。このパ
ターンは、ｎが１だけ増えるとｍも１だけ増える、つま
りｎとｍが単純な比例関係にあるため、マークの長さを
制御し易いのが特徴である。
示す。ｎ・Ｔｗの長さのマークを記録するためには、記
録パワーＰｗのｍ個のパルスを用いる。ここで、ｍは、
ｍ＜ｎの自然数である。記録パワーＰｗのパルスの後に
は必ずバイアスパワーＰｂのパルスが続く必要がある。
図３はｎ＝６の場合である。図３（ａ）は６Ｔｗのマー
クを示し、図３（ｂ）は６Ｔｗのクロック周期を示す。
６Ｔｗのマークを形成するために５個のパルス（ｍ＝
５）を用いた場合は図３（ｃ）となる。これは、ｎ・Ｔ
ｗの長さのマークに対してｍ＝（ｎ−１）のパルスを用
いる一般的なものであり、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、
ＤＶＤ＋ＲＷなどに採用されているものである。このパ
ターンは、ｎが１だけ増えるとｍも１だけ増える、つま
りｎとｍが単純な比例関係にあるため、マークの長さを
制御し易いのが特徴である。
【００１３】図３（ｄ）はｍ＝３の場合であり、図３
（ｅ）はｍ＝２の場合である。ｍとｎの差が大きくなる
ほど、１パルスの幅（パワーＰ＝Ｐｗの時間とパワーＰ
＝Ｐｂの時間）は長くなるのが分る。つまり、図３
（ｄ）、図３（ｅ）に示すようにｍとｎの差を大きくす
ることで、立上り・立下り時間の長い（応答性の悪い）
光源を用いても十分に記録層を加熱できマークを形成す
ることが可能となる。その結果、低い記録パワーでも高
い信号振幅の再生信号を得ることが可能となる。図３に
例示した発光パルスで記録した場合の再生信号振幅であ
る変調度の記録パワー依存性を図５に模式的に示す。記
録パワーＰｗが高くなるほど変調度は高くなり、再生信
号のＳ／Ｎ比を高くすることが可能となる。また、パル
ス数ｍが増加するほど変調度は低くなる傾向にあり、ｍ
が小さいほど低い記録パワーで良好な再生信号を得るこ
とが可能となる。
（ｅ）はｍ＝２の場合である。ｍとｎの差が大きくなる
ほど、１パルスの幅（パワーＰ＝Ｐｗの時間とパワーＰ
＝Ｐｂの時間）は長くなるのが分る。つまり、図３
（ｄ）、図３（ｅ）に示すようにｍとｎの差を大きくす
ることで、立上り・立下り時間の長い（応答性の悪い）
光源を用いても十分に記録層を加熱できマークを形成す
ることが可能となる。その結果、低い記録パワーでも高
い信号振幅の再生信号を得ることが可能となる。図３に
例示した発光パルスで記録した場合の再生信号振幅であ
る変調度の記録パワー依存性を図５に模式的に示す。記
録パワーＰｗが高くなるほど変調度は高くなり、再生信
号のＳ／Ｎ比を高くすることが可能となる。また、パル
ス数ｍが増加するほど変調度は低くなる傾向にあり、ｍ
が小さいほど低い記録パワーで良好な再生信号を得るこ
とが可能となる。
【００１４】しかし、ｍが小さくなると、１パルスの発
光時間が長くなるため、ｎの増加に対してｍを単純に増
加させることが出来なくなり、ｎ１・Ｔｗ、ｎ２・Ｔｗ
（ここでｎ１＜ｎ２）という異なる長さのマークを同数
のｍ個のパルスで記録する必要が生じる。このような記
録パルスの例を図４に示す。図４は、ｎ＝３〜１１、１
４の１０種類であるが、パルスの数ｍは１〜７の７種類
となる。ｍとｎの関係は次式の通りとなる。 ｎが偶数の場合：ｍ＝ｎ／２ ｎが奇数の場合：ｍ＝（ｎ−１）／２ 従って、ｎ＝４とｎ＝５の場合にはｍ＝２であり、ｎ＝
６とｎ＝７の場合にはｍ＝３である。即ち、図４の例の
場合は ｎ１＝偶数 ｎ２＝奇数＝（ｎ１＋１） とした場合に相当する。
光時間が長くなるため、ｎの増加に対してｍを単純に増
加させることが出来なくなり、ｎ１・Ｔｗ、ｎ２・Ｔｗ
（ここでｎ１＜ｎ２）という異なる長さのマークを同数
のｍ個のパルスで記録する必要が生じる。このような記
録パルスの例を図４に示す。図４は、ｎ＝３〜１１、１
４の１０種類であるが、パルスの数ｍは１〜７の７種類
となる。ｍとｎの関係は次式の通りとなる。 ｎが偶数の場合：ｍ＝ｎ／２ ｎが奇数の場合：ｍ＝（ｎ−１）／２ 従って、ｎ＝４とｎ＝５の場合にはｍ＝２であり、ｎ＝
６とｎ＝７の場合にはｍ＝３である。即ち、図４の例の
場合は ｎ１＝偶数 ｎ２＝奇数＝（ｎ１＋１） とした場合に相当する。
【００１５】このように、同数のパルス発光で異なる長
さのマークを形成する場合、理論的なマーク長（即ち本
来形成すべきマーク長）と実際に形成されるマーク長と
の間に誤差が生じる。つまり、理論的には長さｎ・Ｔｗ
の長さのマークを形成する光を媒体に照射しても、実際
に記録・再生装置で再生するとｎ・Ｔｗ＋Ｄの長さのマ
ークとして認識され、ズレ量Ｄが発生する。ＰＷＭ変調
方式では、マークの長さに情報が組み込まれるため、こ
のＤが小さいほど理論的な長さと現実の長さが近付くこ
とになり良好なマークとなる。Ｄが大きくなると、マー
クの長さを正しく認識することが出来なくなり、エラー
となってしまう。従って、Ｄは、通常、基本クロック周
期Ｔｗの１／４以下とする必要があり、好ましくは１／
１０以下である。コンパクトディスク（ＣＤ）の標準規
格では、Ｄをデビエーションとして定義しており、４０
ｎｓ以下と規定されている。
さのマークを形成する場合、理論的なマーク長（即ち本
来形成すべきマーク長）と実際に形成されるマーク長と
の間に誤差が生じる。つまり、理論的には長さｎ・Ｔｗ
の長さのマークを形成する光を媒体に照射しても、実際
に記録・再生装置で再生するとｎ・Ｔｗ＋Ｄの長さのマ
ークとして認識され、ズレ量Ｄが発生する。ＰＷＭ変調
方式では、マークの長さに情報が組み込まれるため、こ
のＤが小さいほど理論的な長さと現実の長さが近付くこ
とになり良好なマークとなる。Ｄが大きくなると、マー
クの長さを正しく認識することが出来なくなり、エラー
となってしまう。従って、Ｄは、通常、基本クロック周
期Ｔｗの１／４以下とする必要があり、好ましくは１／
１０以下である。コンパクトディスク（ＣＤ）の標準規
格では、Ｄをデビエーションとして定義しており、４０
ｎｓ以下と規定されている。
【００１６】Ｄは記録パワーＰｗに依存するが、その依
存性はパルス発光パターンに大きく影響される。従来の
ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷで採用されて
いるｍ＝（ｎ−１）のパルス発光で記録した場合のＤの
記録パワー依存性を図６（ｂ）に示す。この図から分る
ように、記録パワーＰｗにおけるＤ、即ちＤ（Ｐｗ）
は、記録パワーが高くなるに従って変化し、０に近付い
ていく傾向にあるから、設定する記録パワーＰｗｏの近
傍で許容範囲内（ＣＤ標準規格では４０ｎｓ以下）とな
ることが必要である。しかし、本発明の発光パルスは、
異なるｎ、つまりｎ１とｎ２に対して同数のｍ個のパル
スで記録することが特徴である。このようなパルス発光
により記録パワーＰｗで記録した場合には、ｎ１のＤ
（Ｐｗ）とｎ２のＤ（Ｐｗ）の記録パワー依存性は異な
る。これは、同数のパルスで異なる長さのマークを記録
することに起因する。ここで、ｎ＝ｎ１の場合のマーク
長の測定値Ｔ１の、理論的長さｎ１・Ｔｗからのズレ量
をＤ１（Ｐｗ）、ｎ＝ｎ２の場合のマーク長の測定値Ｔ
２の理論的長さからのズレ量をＤ２（Ｐｗ）として、Ｄ
１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）の記録パワー依存性を図６
（ｃ）に示す。この図から、記録パワーが設定記録パワ
ーＰｗｏに近付くにつれ、Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）
共に０に近付く傾向にあるが、その記録パワー依存性は
Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）で異なることが分る。
存性はパルス発光パターンに大きく影響される。従来の
ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷで採用されて
いるｍ＝（ｎ−１）のパルス発光で記録した場合のＤの
記録パワー依存性を図６（ｂ）に示す。この図から分る
ように、記録パワーＰｗにおけるＤ、即ちＤ（Ｐｗ）
は、記録パワーが高くなるに従って変化し、０に近付い
ていく傾向にあるから、設定する記録パワーＰｗｏの近
傍で許容範囲内（ＣＤ標準規格では４０ｎｓ以下）とな
ることが必要である。しかし、本発明の発光パルスは、
異なるｎ、つまりｎ１とｎ２に対して同数のｍ個のパル
スで記録することが特徴である。このようなパルス発光
により記録パワーＰｗで記録した場合には、ｎ１のＤ
（Ｐｗ）とｎ２のＤ（Ｐｗ）の記録パワー依存性は異な
る。これは、同数のパルスで異なる長さのマークを記録
することに起因する。ここで、ｎ＝ｎ１の場合のマーク
長の測定値Ｔ１の、理論的長さｎ１・Ｔｗからのズレ量
をＤ１（Ｐｗ）、ｎ＝ｎ２の場合のマーク長の測定値Ｔ
２の理論的長さからのズレ量をＤ２（Ｐｗ）として、Ｄ
１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）の記録パワー依存性を図６
（ｃ）に示す。この図から、記録パワーが設定記録パワ
ーＰｗｏに近付くにつれ、Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）
共に０に近付く傾向にあるが、その記録パワー依存性は
Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）で異なることが分る。
【００１７】ｎ１のマークを形成するときとｎ２のマー
クを形成するときの、マークの長さ当りのパルス数を比
較すると、ｎ１＜ｎ２であることから、 ｍ／ｎ１＞ｍ／ｎ２ となり、ｎ２のマークを形成するときの方が、マークの
長さ当りのパルス数が少ないため、マーク形成が容易と
なる。マークの長さ当りのパルス数が多いｎ１の場合
は、ｎ２の場合に比較してマークを形成し難い。従っ
て、Ｄ２（Ｐｗ）＜Ｄ１（Ｐｗ）の関係が成立する。ま
た、記録パワーが低い領域ほど、Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２
（Ｐｗ）の差が顕著になる傾向にある。即ち、Ｄ１（Ｐ
ｗ）−Ｄ２（Ｐｗ）が大きくなる傾向にある。従来の記
録方法では、図６（ｂ）に示すように、Ｄ（Ｐｗ）のＰ
ｗ依存性が低いため、図６（ａ）に示す変調度のＰｗ依
存性からＰｗｏを決定していたが、本発明の記録方法で
は、Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）のＰｗ依存性が、変調
度のＰｗ依存性よりも高いので、Ｐｗｏの決定に使用す
ることができる。
クを形成するときの、マークの長さ当りのパルス数を比
較すると、ｎ１＜ｎ２であることから、 ｍ／ｎ１＞ｍ／ｎ２ となり、ｎ２のマークを形成するときの方が、マークの
長さ当りのパルス数が少ないため、マーク形成が容易と
なる。マークの長さ当りのパルス数が多いｎ１の場合
は、ｎ２の場合に比較してマークを形成し難い。従っ
て、Ｄ２（Ｐｗ）＜Ｄ１（Ｐｗ）の関係が成立する。ま
た、記録パワーが低い領域ほど、Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２
（Ｐｗ）の差が顕著になる傾向にある。即ち、Ｄ１（Ｐ
ｗ）−Ｄ２（Ｐｗ）が大きくなる傾向にある。従来の記
録方法では、図６（ｂ）に示すように、Ｄ（Ｐｗ）のＰ
ｗ依存性が低いため、図６（ａ）に示す変調度のＰｗ依
存性からＰｗｏを決定していたが、本発明の記録方法で
は、Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）のＰｗ依存性が、変調
度のＰｗ依存性よりも高いので、Ｐｗｏの決定に使用す
ることができる。
【００１８】本発明の光情報記録方法では、少ない発光
パルスによる記録で高い変調度を確保することが出来る
ようにすると同時に、マークの長さをモニタすることに
より記録パワーＰｗｏの設定を行うことを特徴とする。
記録パワーＰｗｏの設定は以下の方法で行う。まず光情
報記録媒体にテスト記録を行う。テスト記録は媒体上の
任意の場所に行うことができるが、ユーザー領域外のテ
ストエリアを用いることが好ましく、テストエリアの例
としては、ＣＤ−ＲＷのＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉ
ｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ、テスト記録を行う領域）、
ＤＶＤ＋ＲＷのＰＣＡが挙げられる。テスト記録におい
ては、媒体に記録する速度、即ち照射する光ビームの走
査速度を実際に情報を記録する速度に設定するが、本発
明の効果を奏するためには、走査速度が１２ｍ／ｓ以上
であることが好ましく、更に好ましくは２４ｍ／ｓ以上
である。その例としてはコンパクトディスクの１０倍速
以上、ＤＶＤの５倍速以上がある。例えば１０ｍ／ｓの
ように走査速度が遅い場合には、本発明の記録方法では
光ビームの照射による記録層材料の熱的ダメージが高く
なり、オーバーライト特性を著しく悪くする傾向があ
る。
パルスによる記録で高い変調度を確保することが出来る
ようにすると同時に、マークの長さをモニタすることに
より記録パワーＰｗｏの設定を行うことを特徴とする。
記録パワーＰｗｏの設定は以下の方法で行う。まず光情
報記録媒体にテスト記録を行う。テスト記録は媒体上の
任意の場所に行うことができるが、ユーザー領域外のテ
ストエリアを用いることが好ましく、テストエリアの例
としては、ＣＤ−ＲＷのＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉ
ｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ、テスト記録を行う領域）、
ＤＶＤ＋ＲＷのＰＣＡが挙げられる。テスト記録におい
ては、媒体に記録する速度、即ち照射する光ビームの走
査速度を実際に情報を記録する速度に設定するが、本発
明の効果を奏するためには、走査速度が１２ｍ／ｓ以上
であることが好ましく、更に好ましくは２４ｍ／ｓ以上
である。その例としてはコンパクトディスクの１０倍速
以上、ＤＶＤの５倍速以上がある。例えば１０ｍ／ｓの
ように走査速度が遅い場合には、本発明の記録方法では
光ビームの照射による記録層材料の熱的ダメージが高く
なり、オーバーライト特性を著しく悪くする傾向があ
る。
【００１９】テスト記録は任意のパターンで行うことが
出来るが、情報記録に用いるのと同じパターンを用いる
必要がある。つまり、同一の変調方式で変調された任意
の情報をテストパターンとして記録する。変調方式とし
ては前述のＰＷＭ（ＥＦＭ、ＥＦＭ＋、１−７変調な
ど）を用い、任意の情報として、ランダムパターン、単
純増加パターンなどが用いられる。記録、再生に用いる
光学系は、記録密度、記録速度に合わせて任意に設定で
きる。例としては、ＣＤのＮＡ０．５０、λ＝７８０ｎ
ｍの光学系やＤＶＤのＮＡ０．６０又はＮＡ０．６５、
λ＝６８０ｎｍの光学系が挙げられる。記録の発光パタ
ーンは、例えば図３に示したものを用いる。つまり、長
さｎ・Ｔｗのマークを形成するに当りｍ個のパルスを用
いる方法を採用し、少なくとも長さの異なるｎ１、ｎ２
（ただしｎ１＜ｎ２）のマークを、同数のｍ個のパルス
を用いて形成する。ｎ１、ｎ２の組み合わせは少なくと
も一つ必要である（例えば図４参照）。
出来るが、情報記録に用いるのと同じパターンを用いる
必要がある。つまり、同一の変調方式で変調された任意
の情報をテストパターンとして記録する。変調方式とし
ては前述のＰＷＭ（ＥＦＭ、ＥＦＭ＋、１−７変調な
ど）を用い、任意の情報として、ランダムパターン、単
純増加パターンなどが用いられる。記録、再生に用いる
光学系は、記録密度、記録速度に合わせて任意に設定で
きる。例としては、ＣＤのＮＡ０．５０、λ＝７８０ｎ
ｍの光学系やＤＶＤのＮＡ０．６０又はＮＡ０．６５、
λ＝６８０ｎｍの光学系が挙げられる。記録の発光パタ
ーンは、例えば図３に示したものを用いる。つまり、長
さｎ・Ｔｗのマークを形成するに当りｍ個のパルスを用
いる方法を採用し、少なくとも長さの異なるｎ１、ｎ２
（ただしｎ１＜ｎ２）のマークを、同数のｍ個のパルス
を用いて形成する。ｎ１、ｎ２の組み合わせは少なくと
も一つ必要である（例えば図４参照）。
【００２０】基本クロック周期Ｔｗは記録速度に合わせ
たものを採用できるが、本発明の効果を得るには高い周
波数が好ましいので、Ｔｗ＜２４ｎｓ、好ましくはＴｗ
＜１４ｎｓとする。これは現在市販されている記録装置
に搭載されるレーザーダイオードの発光立上り及び立下
り時間がおよそ２〜４ｎｓであることに起因する。上記
のような基本クロック周期に相当する例としては、ＣＤ
の２０倍速以上、ＤＶＤの５倍速以上が挙げられる。ま
た、発光パルスの幅及び冷却パルスの幅は任意に設定可
能であるが、何れも０．５〜２．０Ｔｗの範囲にあるこ
とが好ましく、好ましくは０．７〜１．５Ｔｗである。
発光時間が長いと、変調度は確保できるものの、記録層
材料への熱的ダメージが大きくなるため、繰り返し記録
（オーバーライト）回数が減少してしまう。
たものを採用できるが、本発明の効果を得るには高い周
波数が好ましいので、Ｔｗ＜２４ｎｓ、好ましくはＴｗ
＜１４ｎｓとする。これは現在市販されている記録装置
に搭載されるレーザーダイオードの発光立上り及び立下
り時間がおよそ２〜４ｎｓであることに起因する。上記
のような基本クロック周期に相当する例としては、ＣＤ
の２０倍速以上、ＤＶＤの５倍速以上が挙げられる。ま
た、発光パルスの幅及び冷却パルスの幅は任意に設定可
能であるが、何れも０．５〜２．０Ｔｗの範囲にあるこ
とが好ましく、好ましくは０．７〜１．５Ｔｗである。
発光時間が長いと、変調度は確保できるものの、記録層
材料への熱的ダメージが大きくなるため、繰り返し記録
（オーバーライト）回数が減少してしまう。
【００２１】テスト記録は記録パワーＰｗを逐次変化さ
せて行う。記録パワーＰｗは予想される設定記録パワー
Ｐｗｏの±１０％以上の範囲で広く変化させることが好
ましく、更に好ましくは±３０％以上とする。記録パワ
ーＰｗを変化させる範囲を広げることにより、記録パワ
ー設定の演算の精度を向上することができる。記録パワ
ーＰｗを変化させる方法としては、連続的に変化させて
も、段階的に変化させてもよいが、段階的に変化させる
方が、テスト記録部を再生しマーク長を測定する際に、
記録パワーＰｗとの関係を明確にできるので好ましい。
つまりΔＰｗの間隔で記録パワーＰｗを変化させてテス
ト記録を行うことが好ましい。ΔＰｗとしては記録パワ
ーＰｗの５％以下であることがパワーの精度を確保する
ために好ましい。
せて行う。記録パワーＰｗは予想される設定記録パワー
Ｐｗｏの±１０％以上の範囲で広く変化させることが好
ましく、更に好ましくは±３０％以上とする。記録パワ
ーＰｗを変化させる範囲を広げることにより、記録パワ
ー設定の演算の精度を向上することができる。記録パワ
ーＰｗを変化させる方法としては、連続的に変化させて
も、段階的に変化させてもよいが、段階的に変化させる
方が、テスト記録部を再生しマーク長を測定する際に、
記録パワーＰｗとの関係を明確にできるので好ましい。
つまりΔＰｗの間隔で記録パワーＰｗを変化させてテス
ト記録を行うことが好ましい。ΔＰｗとしては記録パワ
ーＰｗの５％以下であることがパワーの精度を確保する
ために好ましい。
【００２２】テスト記録信号の再生には記録に用いたの
と同じ光学系を採用する。記録したマークの長さＴ１、
Ｔ２の測定には、市販のタイムインターバル測定回路を
使用できる。Ｔ１、Ｔ２は記録パワーの関数Ｔ１（Ｐ
ｗ）、Ｔ２（Ｐｗ）として求められる。Ｔ１（Ｐｗ）、
Ｔ２（Ｐｗ）の理論的長さからのズレ量Ｄ１（Ｐｗ）、
Ｄ２（Ｐｗ）は次式により算出される。 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、 Ｄ２（Ｐｗ）＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ２・Ｔｗ Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）が０に近付くほど、再生信
号の品質は良好となる。理想的にはＤ１（Ｐｗ）、Ｄ２
（Ｐｗ）が略０になるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設
定することが好ましい。
と同じ光学系を採用する。記録したマークの長さＴ１、
Ｔ２の測定には、市販のタイムインターバル測定回路を
使用できる。Ｔ１、Ｔ２は記録パワーの関数Ｔ１（Ｐ
ｗ）、Ｔ２（Ｐｗ）として求められる。Ｔ１（Ｐｗ）、
Ｔ２（Ｐｗ）の理論的長さからのズレ量Ｄ１（Ｐｗ）、
Ｄ２（Ｐｗ）は次式により算出される。 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、 Ｄ２（Ｐｗ）＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ２・Ｔｗ Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）が０に近付くほど、再生信
号の品質は良好となる。理想的にはＤ１（Ｐｗ）、Ｄ２
（Ｐｗ）が略０になるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設
定することが好ましい。
【００２３】媒体の特性にバラツキがある場合（例えば
媒体の記録層膜厚のバラツキや記録層材料の原子組成の
バラツキ等がある場合）、同一の発光波形であっても、
Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）がそれぞれ略０になる点が
無い場合がある。そのような場合にはＤ１（Ｐｗ）＝Ｄ
２（Ｐｗ）となるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定す
ることが好ましい。更に、Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｄ２（Ｐｗ）
となるＰｗを見出すことが不可能な場合はＴｗで規格化
された次式で定義されるパラメータ「ｇ（Ｐｗ）」を評
価することにより記録パワーＰｗｏを設定する。 ｇ（Ｐｗ）＝〔Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）〕／Ｔｗ 即ち、このパラメータが目標とするｇ（Ｐｗ）＝ｇαと
なるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定する。換言すれ
ば、ｇ（Ｐｗｏ）＝ｇαとなるＰｗｏを記録パワーとし
て設定する。ここで、ｇαは媒体毎に設定される定数で
あり、０＜ｇα≦０．１の範囲であることが好ましい。
ｇ（Ｐｗ）は規格化された時間であるから一般的な定数
として指定でき、記録速度や基本クロック周期に依らず
定義することが可能である。ｇαを何らかの方法で事前
に媒体に記録しておけば、光情報記録装置はパラメータ
ｇαを読み取り、それを基に記録パワーＰｗｏを設定す
ることが出来る。
媒体の記録層膜厚のバラツキや記録層材料の原子組成の
バラツキ等がある場合）、同一の発光波形であっても、
Ｄ１（Ｐｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）がそれぞれ略０になる点が
無い場合がある。そのような場合にはＤ１（Ｐｗ）＝Ｄ
２（Ｐｗ）となるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定す
ることが好ましい。更に、Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｄ２（Ｐｗ）
となるＰｗを見出すことが不可能な場合はＴｗで規格化
された次式で定義されるパラメータ「ｇ（Ｐｗ）」を評
価することにより記録パワーＰｗｏを設定する。 ｇ（Ｐｗ）＝〔Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）〕／Ｔｗ 即ち、このパラメータが目標とするｇ（Ｐｗ）＝ｇαと
なるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定する。換言すれ
ば、ｇ（Ｐｗｏ）＝ｇαとなるＰｗｏを記録パワーとし
て設定する。ここで、ｇαは媒体毎に設定される定数で
あり、０＜ｇα≦０．１の範囲であることが好ましい。
ｇ（Ｐｗ）は規格化された時間であるから一般的な定数
として指定でき、記録速度や基本クロック周期に依らず
定義することが可能である。ｇαを何らかの方法で事前
に媒体に記録しておけば、光情報記録装置はパラメータ
ｇαを読み取り、それを基に記録パワーＰｗｏを設定す
ることが出来る。
【００２４】このｇαを用いて記録パワーＰｗｏを設定
した場合は、Ｄ１（Ｐｗｏ）≠Ｄ２（Ｐｗｏ）である。
そこで設定されたＰｗｏに対してＤ１（Ｐｗｏ）とＤ２
（Ｐｗｏ）の差を減少するために発光波形を補正するこ
とが好ましい。補正の方法としては発光パルスの幅を変
更することが好ましく、例えば第１パルス幅を調整する
方法がある。調整は図３（ｄ）に示す第１パルスの幅Ｔ
ｆｐを補正することにより行う。補正方法はｎ１のマー
ク書き込み発光波形のＴｆｐをＤ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１
（Ｐｗｏ）だけ長くすればよい。この補正を加えること
によりｎ１及びｎ２のマークの長さの理論的長さからの
ズレ量を補正することが可能となる。また、別の補正の
方法としては、発光パルスの最終パルス幅を調整する方
法がある。調整は図３（ｄ）に示すＴｌｐを補正するこ
とにより行う。補正は、ｎ１のＴｌｐのみを、Ｄ２（Ｐ
ｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗｏ）だけ長くすればよい。
した場合は、Ｄ１（Ｐｗｏ）≠Ｄ２（Ｐｗｏ）である。
そこで設定されたＰｗｏに対してＤ１（Ｐｗｏ）とＤ２
（Ｐｗｏ）の差を減少するために発光波形を補正するこ
とが好ましい。補正の方法としては発光パルスの幅を変
更することが好ましく、例えば第１パルス幅を調整する
方法がある。調整は図３（ｄ）に示す第１パルスの幅Ｔ
ｆｐを補正することにより行う。補正方法はｎ１のマー
ク書き込み発光波形のＴｆｐをＤ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１
（Ｐｗｏ）だけ長くすればよい。この補正を加えること
によりｎ１及びｎ２のマークの長さの理論的長さからの
ズレ量を補正することが可能となる。また、別の補正の
方法としては、発光パルスの最終パルス幅を調整する方
法がある。調整は図３（ｄ）に示すＴｌｐを補正するこ
とにより行う。補正は、ｎ１のＴｌｐのみを、Ｄ２（Ｐ
ｗｏ）−Ｄ１（Ｐｗｏ）だけ長くすればよい。
【００２５】前述のパラメータｇ（Ｐｗ）を用いて記録
パワーＰｗｏを設定する方法を採用した場合、ｇ（Ｐ
ｗ）のパワー依存性の高い場所を用いることで記録パワ
ーＰｗｏの精度を高めることができる。即ち、図６
（ｃ）から、記録パワーＰｗが小さい方が、記録パワー
Ｐｗの変化に対してｇ（Ｐｗ）は大きく変動することが
分る。従って、Ｐｗが小さい領域を記録パワーＰｗｏの
設定に用いることが好ましい。ｇ（Ｐｗ）を高精度で測
定するためには、ｇ（Ｐｗ）が基本クロック周期Ｔｗの
１／２程度、即ち、０．４〜０．６程度であることが好
ましい。そこで、ｇβを０．４〜０．６の範囲とすれ
ば、ｇ（Ｐｗｔ）＝ｇβとなるＰｗｔを高精度で決定で
きる。しかし、Ｐｗｔを高精度で決定できる反面、Ｐｗ
ｏ＝Ｐｗｔの場合には、Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）が
大きい領域で情報を記録することになるため、好ましく
は、Ｐｗｔに定数ρを乗じた値ρ・ＰｗｔをＰｗｏとす
る。そして、Ｐｗｏ≧Ｐｗｔであるから、ρは１．０以
上としなければ意味が無く、また、ρが大きくなるとＰ
ｗｔの設定誤差も大きくなる（例えばρ＝２の場合はＰ
ｗｔの設定誤差も２倍になってしまう）ため１．２以下
とすることが好ましい。なお、媒体毎に設定されるｇβ
とρの数値を予め媒体に記録しておけば、光情報記録装
置はこれらの情報を読み取り、その情報を基に記録パワ
ーＰｗｏを算出する。
パワーＰｗｏを設定する方法を採用した場合、ｇ（Ｐ
ｗ）のパワー依存性の高い場所を用いることで記録パワ
ーＰｗｏの精度を高めることができる。即ち、図６
（ｃ）から、記録パワーＰｗが小さい方が、記録パワー
Ｐｗの変化に対してｇ（Ｐｗ）は大きく変動することが
分る。従って、Ｐｗが小さい領域を記録パワーＰｗｏの
設定に用いることが好ましい。ｇ（Ｐｗ）を高精度で測
定するためには、ｇ（Ｐｗ）が基本クロック周期Ｔｗの
１／２程度、即ち、０．４〜０．６程度であることが好
ましい。そこで、ｇβを０．４〜０．６の範囲とすれ
ば、ｇ（Ｐｗｔ）＝ｇβとなるＰｗｔを高精度で決定で
きる。しかし、Ｐｗｔを高精度で決定できる反面、Ｐｗ
ｏ＝Ｐｗｔの場合には、Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）が
大きい領域で情報を記録することになるため、好ましく
は、Ｐｗｔに定数ρを乗じた値ρ・ＰｗｔをＰｗｏとす
る。そして、Ｐｗｏ≧Ｐｗｔであるから、ρは１．０以
上としなければ意味が無く、また、ρが大きくなるとＰ
ｗｔの設定誤差も大きくなる（例えばρ＝２の場合はＰ
ｗｔの設定誤差も２倍になってしまう）ため１．２以下
とすることが好ましい。なお、媒体毎に設定されるｇβ
とρの数値を予め媒体に記録しておけば、光情報記録装
置はこれらの情報を読み取り、その情報を基に記録パワ
ーＰｗｏを算出する。
【００２６】上記の光情報記録方法を実施する光情報記
録装置の一例を図７に示す。記録パワー設定回路で記録
パワーＰｗが設定される。ここで設定される記録パワー
Ｐｗは逐次変化するテスト記録用の記録パワーである。
その設定された記録パワーＰｗでレーザー駆動回路が動
作し、設定された記録パワーＰｗｏで光ピックアップか
らパルス発光が行われる。記録パワー設定回路で設定さ
れた記録パワーＰｗｏの情報は、同時にデビエーション
演算回路にフィードバックされる。光ピックアップはテ
スト記録パターンを再生し、再生信号が記録マーク長モ
ニタ回路に入力される。そこで記録マーク長が測定され
測定結果がデビエーション演算回路に入力される。デビ
エーション演算回路では、記録パワーＰｗとＤ１（Ｐ
ｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）の演算が行われて記録パワーＰｗｏ
が設定され、更に発光波形の補正の必要性が判断され、
必要な場合には記録パルス補正回路により記録発光パル
スが補正され、その情報が記録コントロール部にフィー
ドバックされる。
録装置の一例を図７に示す。記録パワー設定回路で記録
パワーＰｗが設定される。ここで設定される記録パワー
Ｐｗは逐次変化するテスト記録用の記録パワーである。
その設定された記録パワーＰｗでレーザー駆動回路が動
作し、設定された記録パワーＰｗｏで光ピックアップか
らパルス発光が行われる。記録パワー設定回路で設定さ
れた記録パワーＰｗｏの情報は、同時にデビエーション
演算回路にフィードバックされる。光ピックアップはテ
スト記録パターンを再生し、再生信号が記録マーク長モ
ニタ回路に入力される。そこで記録マーク長が測定され
測定結果がデビエーション演算回路に入力される。デビ
エーション演算回路では、記録パワーＰｗとＤ１（Ｐ
ｗ）、Ｄ２（Ｐｗ）の演算が行われて記録パワーＰｗｏ
が設定され、更に発光波形の補正の必要性が判断され、
必要な場合には記録パルス補正回路により記録発光パル
スが補正され、その情報が記録コントロール部にフィー
ドバックされる。
【００２７】以下、実施例及び比較例により本発明を具
体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定
されるものではない。
体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定
されるものではない。
【００２８】実施例１
連続グルーブを転写したポリカーボネート製ＣＤ−ＲＷ
ディスクに、下部保護層、記録層、上部保護層、反射
層、オーバーコート層を順次積層し、ＣＤ−ＲＷディス
クを作成した。下部保護層、上部保護層にはＺｎＳとＳ
ｉＯ２の混合物（モル比８：２）を用い、膜厚は下部保
護層８０ｎｍ、上部保護層１５ｎｍとした。成膜は真空
気相成膜法の一種であるＲＦマグネトロンスパッタリン
グ法を用いて行った。記録層には相変化材料であるＡｇ
１Ｉｎ３Ｓｂ７７Ｔｅ１９に微量のＧｅを添加したもの
を用い、膜厚は１５ｎｍとした。反射層にはＡｌに微量
のＴｉを添加した合金を用い、膜厚は１５０ｎｍとし
た。オーバーコート層には市販の光ディスク用の紫外線
硬化樹脂を用いた。成膜はスピンコーティング法を用い
窒素雰囲気中で紫外線を照射して硬化した。作製したデ
ィスクを市販の相変化ディスク用初期化装置で全面結晶
化した。得られた光ディスク（以下、サンプルＡとい
う）は、未記録状態でＣＤ−ＲＷの標準規格であるオレ
ンジブックパートIIIの仕様を満足する良好なものであ
った。サンプルＡにテストパターンを記録し設定すべき
記録パワーＰｗｏを算出する実験を行った。記録装置に
はＣＤ−Ｒ／ＲＷ記録・再生信号評価装置ＤＤＵ１００
０を使用した。その光ピックアップの仕様はＮＡ０．５
０、λ＝７８９ｎｍ、最高射出パワー３５ｍＷであっ
た。図４に示した記録発光パルスを用い、ＥＦＭ変調さ
れたランダム情報をテスト記録パターンとした。変調方
式にＥＦＭを採用したのでｎ＝１４のパターンは使用し
ていない。基本クロック周期Ｔｗはコンパクトディスク
の２４倍速に相当する９．６４ｎｓとした。ディスクは
コンパクトディスクの２４倍速相当である２８．８ｍ／
ｓの線速度で回転し、光ビームを走査した。記録パワー
を２８ｍＷから３５ｍＷまで１ｍＷ刻みで変化させてテ
スト記録を行った。テスト記録パターンを同一装置で再
生し、タイムインターバルアナライザを用いて記録パワ
ーに対するマーク長を計測し、オシロスコープを用いて
変調度の測定を行った。図８に各マーク長について測定
したマーク長の論理的長さからのデビエーション（ズレ
量）Ｄの測定結果を示す。本実施例の発光パルスはｎ１
＝２ｍ、ｎ２＝２ｍ＋１であることから、偶数×Ｔｗの
マークが低パワーの時に短くなっている。そのため、２
８ｍＷでは偶数と奇数のＤの差が大きくなっているが、
記録パワー３４ｍＷではほぼ同じ値となっている。図９
に、ｎ１＝４、ｎ２＝５としたときのＤ１、Ｄ２の記録
パワー依存性を示す。記録パワー３４ｍＷでＤ１＝Ｄ２
となっている。従って、ｎ１＝４、ｎ２＝５の場合はＤ
１＝Ｄ２となる点を求めることで、記録パワーＰｗｏ＝
３４ｍＷを得ることができる。
ディスクに、下部保護層、記録層、上部保護層、反射
層、オーバーコート層を順次積層し、ＣＤ−ＲＷディス
クを作成した。下部保護層、上部保護層にはＺｎＳとＳ
ｉＯ２の混合物（モル比８：２）を用い、膜厚は下部保
護層８０ｎｍ、上部保護層１５ｎｍとした。成膜は真空
気相成膜法の一種であるＲＦマグネトロンスパッタリン
グ法を用いて行った。記録層には相変化材料であるＡｇ
１Ｉｎ３Ｓｂ７７Ｔｅ１９に微量のＧｅを添加したもの
を用い、膜厚は１５ｎｍとした。反射層にはＡｌに微量
のＴｉを添加した合金を用い、膜厚は１５０ｎｍとし
た。オーバーコート層には市販の光ディスク用の紫外線
硬化樹脂を用いた。成膜はスピンコーティング法を用い
窒素雰囲気中で紫外線を照射して硬化した。作製したデ
ィスクを市販の相変化ディスク用初期化装置で全面結晶
化した。得られた光ディスク（以下、サンプルＡとい
う）は、未記録状態でＣＤ−ＲＷの標準規格であるオレ
ンジブックパートIIIの仕様を満足する良好なものであ
った。サンプルＡにテストパターンを記録し設定すべき
記録パワーＰｗｏを算出する実験を行った。記録装置に
はＣＤ−Ｒ／ＲＷ記録・再生信号評価装置ＤＤＵ１００
０を使用した。その光ピックアップの仕様はＮＡ０．５
０、λ＝７８９ｎｍ、最高射出パワー３５ｍＷであっ
た。図４に示した記録発光パルスを用い、ＥＦＭ変調さ
れたランダム情報をテスト記録パターンとした。変調方
式にＥＦＭを採用したのでｎ＝１４のパターンは使用し
ていない。基本クロック周期Ｔｗはコンパクトディスク
の２４倍速に相当する９．６４ｎｓとした。ディスクは
コンパクトディスクの２４倍速相当である２８．８ｍ／
ｓの線速度で回転し、光ビームを走査した。記録パワー
を２８ｍＷから３５ｍＷまで１ｍＷ刻みで変化させてテ
スト記録を行った。テスト記録パターンを同一装置で再
生し、タイムインターバルアナライザを用いて記録パワ
ーに対するマーク長を計測し、オシロスコープを用いて
変調度の測定を行った。図８に各マーク長について測定
したマーク長の論理的長さからのデビエーション（ズレ
量）Ｄの測定結果を示す。本実施例の発光パルスはｎ１
＝２ｍ、ｎ２＝２ｍ＋１であることから、偶数×Ｔｗの
マークが低パワーの時に短くなっている。そのため、２
８ｍＷでは偶数と奇数のＤの差が大きくなっているが、
記録パワー３４ｍＷではほぼ同じ値となっている。図９
に、ｎ１＝４、ｎ２＝５としたときのＤ１、Ｄ２の記録
パワー依存性を示す。記録パワー３４ｍＷでＤ１＝Ｄ２
となっている。従って、ｎ１＝４、ｎ２＝５の場合はＤ
１＝Ｄ２となる点を求めることで、記録パワーＰｗｏ＝
３４ｍＷを得ることができる。
【００２９】実施例２
図１０に、サンプルＡに対し、ｎ１＝６、ｎ２＝７とし
たときのＤの記録パワー依存性を示す。この場合にはＤ
１＝Ｄ２となるＰｗが求められないため、パラメータｇ
（Ｐｗ）を用いて求めることになる。図１１にパラメー
タｇ（Ｐｗ）の記録パワー依存性を示す。ｇα＝０．０
５に設定し、ｇ（Ｐｗ）＝ｇαとなる点を算出すれば記
録パワーＰｗｏ＝３４ｍＷを得ることができる。
たときのＤの記録パワー依存性を示す。この場合にはＤ
１＝Ｄ２となるＰｗが求められないため、パラメータｇ
（Ｐｗ）を用いて求めることになる。図１１にパラメー
タｇ（Ｐｗ）の記録パワー依存性を示す。ｇα＝０．０
５に設定し、ｇ（Ｐｗ）＝ｇαとなる点を算出すれば記
録パワーＰｗｏ＝３４ｍＷを得ることができる。
【００３０】実施例３
記録層の膜厚を１７ｎｍとした点以外は実施例１と全く
同様にして光ディスク（サンプルＢ）を作成し、実施例
１と全く同様の評価を行った。図１２に、ｎ１＝４、ｎ
２＝５としたときの、Ｄ１、Ｄ２の記録パワー依存性を
示す。この図では、Ｐｗ＝３４ｍＷでほぼＤ１＝Ｄ２と
なっている。従ってｎ１＝４、ｎ２＝５としたときの記
録パワーＰｗｏ＝３４ｍＷとなる。記録層膜厚の違いに
よりＤ１、Ｄ２のパワー依存性はサンプルＡの場合と異
なっているが、ほぼ同等の記録パワーＰｗｏを設定する
ことができる。
同様にして光ディスク（サンプルＢ）を作成し、実施例
１と全く同様の評価を行った。図１２に、ｎ１＝４、ｎ
２＝５としたときの、Ｄ１、Ｄ２の記録パワー依存性を
示す。この図では、Ｐｗ＝３４ｍＷでほぼＤ１＝Ｄ２と
なっている。従ってｎ１＝４、ｎ２＝５としたときの記
録パワーＰｗｏ＝３４ｍＷとなる。記録層膜厚の違いに
よりＤ１、Ｄ２のパワー依存性はサンプルＡの場合と異
なっているが、ほぼ同等の記録パワーＰｗｏを設定する
ことができる。
【００３１】実施例４
サンプルＢについて、実施例２と同様の方法による評価
を行った。即ち図１３に、ｎ１＝６、ｎ２＝７としたと
きのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す。サンプルＡ
と同様の記録パワー依存性を示すが、その絶対値は異な
っている。サンプルＡの場合と同様にＤ１＝Ｄ２となら
ないため、パラメータｇ（Ｐｗ）を用いて記録パワーＰ
ｗｏの算出を行う。図１４にパラメータｇ（Ｐｗ）の記
録パワー依存性の測定結果を示す。サンプルＡとサンプ
ルＢをディスクの固体バラツキの範囲と仮定すると、同
様のパラメータで記録パワーＰｗｏを求められることが
好ましい。そこで、実施例２と同様のパラメータｇα＝
０．０５として記録パワーＰｗｏを算出した。その結
果、実施例２と同一の記録パワーＰｗｏを設定すること
が出来た。
を行った。即ち図１３に、ｎ１＝６、ｎ２＝７としたと
きのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す。サンプルＡ
と同様の記録パワー依存性を示すが、その絶対値は異な
っている。サンプルＡの場合と同様にＤ１＝Ｄ２となら
ないため、パラメータｇ（Ｐｗ）を用いて記録パワーＰ
ｗｏの算出を行う。図１４にパラメータｇ（Ｐｗ）の記
録パワー依存性の測定結果を示す。サンプルＡとサンプ
ルＢをディスクの固体バラツキの範囲と仮定すると、同
様のパラメータで記録パワーＰｗｏを求められることが
好ましい。そこで、実施例２と同様のパラメータｇα＝
０．０５として記録パワーＰｗｏを算出した。その結
果、実施例２と同一の記録パワーＰｗｏを設定すること
が出来た。
【００３２】比較例１
従来の記録パワーＰｗｏの設定方法である、変調度の評
価による方法を検討した。図１５にサンプルＡとサンプ
ルＢの変調度の記録パワー依存性を示す。サンプルＡと
サンプルＢとでは変調度のカーブが異なっており、特に
低いパワー領域と高いパワー領域とでは変調度の関係が
逆転している。そのため、同一の評価手段では正しい記
録パワーＰｗｏを算出することが困難である。
価による方法を検討した。図１５にサンプルＡとサンプ
ルＢの変調度の記録パワー依存性を示す。サンプルＡと
サンプルＢとでは変調度のカーブが異なっており、特に
低いパワー領域と高いパワー領域とでは変調度の関係が
逆転している。そのため、同一の評価手段では正しい記
録パワーＰｗｏを算出することが困難である。
【００３３】比較例２
ＣＤ−ＲＷで採用しているγ法を用いて、γパラメータ
を採用した。図１６に、γパラメータの記録パワー依存
性を示す。変調度以上にγの方に差が顕著に表されてい
るため、やはり同一のパラメータによって記録パワーＰ
ｗｏを設定することは困難であると言える。
を採用した。図１６に、γパラメータの記録パワー依存
性を示す。変調度以上にγの方に差が顕著に表されてい
るため、やはり同一のパラメータによって記録パワーＰ
ｗｏを設定することは困難であると言える。
【００３４】
【発明の効果】本発明１では、ｎ１＜ｎ２の関係にある
マークをｍ個のパルス発光で記録するときに、記録パワ
ーＰｗを逐次変化させてテスト記録を行い、そのテスト
記録部分を再生する。更にその再生した信号のマークの
長さＴ１、Ｔ２を測定し、その論理的長さからのズレ量
Ｄ１、Ｄ２を演算し、このＤ１、Ｄ２をモニタすること
により記録パワーＰｗｏを決定する。その結果、マーク
長のパワー依存性の差を最小限に抑えた記録パワー領域
を設定することが可能になると同時に少ないパルス数で
記録できるため、高変調度かつ低エラーレートで情報を
記録することが可能となる。更に媒体のバラツキに影響
されることなく記録パワーＰｗｏを設定することが可能
となる。本発明２によれば、異なるマークでの論理的長
さからのズレ量を最小限に抑えることができる記録パワ
ーを設定することが可能となるため、本発明１のパルス
数の少ない発光波形による記録でも記録パワーＰｗｏを
設定することが可能となる。本発明３によれば、本発明
２の条件を満足できない場合に記録パワーＰｗｏを効果
的に設定することができる。本発明４〜６によれば、Ｄ
１＝Ｄ２とならない場合でも発光パルス幅を調整するこ
とにより、記録パワーＰｗｏでの記録が可能であると同
時に、Ｄ１とＤ２の差を更に低く抑えることが可能とな
る。本発明７〜８によれば、本発明１〜６の光情報記録
方法を実施できる光情報記録装置を提供できる。
マークをｍ個のパルス発光で記録するときに、記録パワ
ーＰｗを逐次変化させてテスト記録を行い、そのテスト
記録部分を再生する。更にその再生した信号のマークの
長さＴ１、Ｔ２を測定し、その論理的長さからのズレ量
Ｄ１、Ｄ２を演算し、このＤ１、Ｄ２をモニタすること
により記録パワーＰｗｏを決定する。その結果、マーク
長のパワー依存性の差を最小限に抑えた記録パワー領域
を設定することが可能になると同時に少ないパルス数で
記録できるため、高変調度かつ低エラーレートで情報を
記録することが可能となる。更に媒体のバラツキに影響
されることなく記録パワーＰｗｏを設定することが可能
となる。本発明２によれば、異なるマークでの論理的長
さからのズレ量を最小限に抑えることができる記録パワ
ーを設定することが可能となるため、本発明１のパルス
数の少ない発光波形による記録でも記録パワーＰｗｏを
設定することが可能となる。本発明３によれば、本発明
２の条件を満足できない場合に記録パワーＰｗｏを効果
的に設定することができる。本発明４〜６によれば、Ｄ
１＝Ｄ２とならない場合でも発光パルス幅を調整するこ
とにより、記録パワーＰｗｏでの記録が可能であると同
時に、Ｄ１とＤ２の差を更に低く抑えることが可能とな
る。本発明７〜８によれば、本発明１〜６の光情報記録
方法を実施できる光情報記録装置を提供できる。
【図１】従来の記録方法では、パルス発光における立上
り・立下りの効果が大きくなり、実効的な照射光エネル
ギーが低くなってしまうことを説明する図。 （ａ） 実際の発光波形は矩形にはならないことを示す
図。 （ｂ） 更に基本クロックが高くなると、ＰｗはΔＰｗ
だけ低くなり、ＰｂはΔＰｂだけ高くなってしまうこと
を示す図。 （ｃ） ２個のパルスで記録する技術を示す図。
り・立下りの効果が大きくなり、実効的な照射光エネル
ギーが低くなってしまうことを説明する図。 （ａ） 実際の発光波形は矩形にはならないことを示す
図。 （ｂ） 更に基本クロックが高くなると、ＰｗはΔＰｗ
だけ低くなり、ＰｂはΔＰｂだけ高くなってしまうこと
を示す図。 （ｃ） ２個のパルスで記録する技術を示す図。
【図２】相変化型光情報記録媒体の構成の一例を示す
図。
図。
【図３】マーク形成時の発光パターンの一例を示す図。
（ａ） ６Ｔｗの記録マーク
（ｂ） ６Ｔｗのクロック周期
（ｃ） ６Ｔｗのマークを形成するために５個のパルス
を用いた場合 （ｄ） ６Ｔｗのマークを形成するために３個のパルス
を用いた場合 （ｅ） ６Ｔｗのマークを形成するために２個のパルス
を用いた場合
を用いた場合 （ｄ） ６Ｔｗのマークを形成するために３個のパルス
を用いた場合 （ｅ） ６Ｔｗのマークを形成するために２個のパルス
を用いた場合
【図４】異なる長さのマークを同数のｍ個のパルスで記
録する例を示す図。
録する例を示す図。
【図５】図３に例示した発光パルスで記録した場合の再
生信号振幅である変調度の記録パワー依存性を模式的に
示す図。
生信号振幅である変調度の記録パワー依存性を模式的に
示す図。
【図６】記録パワーの設定に用いられる特性値の記録パ
ワー依存性を示す図。 （ａ） 変調度の記録パワー依存性を示す。 （ｂ） ｍ＝（ｎ−１）のパルス発光で記録した場合の
Ｄ（Ｐｗ）の記録パワー依存性を示す。 （ｃ） Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）の記録パワー依存
性を示す。
ワー依存性を示す図。 （ａ） 変調度の記録パワー依存性を示す。 （ｂ） ｍ＝（ｎ−１）のパルス発光で記録した場合の
Ｄ（Ｐｗ）の記録パワー依存性を示す。 （ｃ） Ｄ１（Ｐｗ）とＤ２（Ｐｗ）の記録パワー依存
性を示す。
【図７】本発明の光情報記録装置の一例を示す図。
【図８】サンプルＡのマーク長の論理的長さからのズレ
量Ｄの測定結果を示す図。
量Ｄの測定結果を示す図。
【図９】サンプルＡに対し、ｎ１＝４、ｎ２＝５とした
ときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
ときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
【図１０】サンプルＡに対し、ｎ１＝６、ｎ２＝７とし
たときのＤの記録パワー依存性を示す図。
たときのＤの記録パワー依存性を示す図。
【図１１】サンプルＡのパラメータｇ（Ｐｗ）の記録パ
ワー依存性を示す図。
ワー依存性を示す図。
【図１２】サンプルＢに対し、ｎ１＝４、ｎ２＝５とし
たときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
たときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
【図１３】サンプルＢに対し、ｎ１＝６、ｎ２＝７とし
たときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
たときのＤ１、Ｄ２の記録パワー依存性を示す図。
【図１４】サンプルＢのパラメータｇ（Ｐｗ）の記録パ
ワー依存性を示す図。
ワー依存性を示す図。
【図１５】サンプルＡとサンプルＢの変調度の記録パワ
ー依存性を示す図。
ー依存性を示す図。
【図１６】γパラメータの記録パワー依存性を示す図。
１ 基板
２ 下部保護層
３ 記録層
４ 上部保護層
５ 反射層
６ 樹脂層
Ｐｗ 記録パワー
Ｐｗｏ 設定された記録パワー
Ｐｅ 消去パワー
Ｐｂ バイアスパワー
ΔＰｗ 記録（ピーク）パワーの減少分
ΔＰｂ バイアス（ボトム）パワーの上昇分
Ｔｗ 基本クロック周期
Ｔｆｐ 第１パルスの幅
Ｔｌｐ 最終パルスの幅
ｍ パルス数
ｎ マーク長ｎ・Ｔｗを示す自然数
Ｄ（Ｐｗ） ズレ量（デビエーション）
Ｄ１（Ｐｗ） ズレ量（デビエーション）
Ｄ２（Ｐｗ） ズレ量（デビエーション）
ｇ（Ｐｗ） パラメータ
フロントページの続き
(72)発明者 山田 勝幸
東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式
会社リコー内
Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB05 CC01 CC18 DD03
EE02 EE20 KK04 KK05
5D119 AA23 BA01 BB04 HA16 HA17
HA19 HA44
5D789 AA23 BA01 BB04 HA16 HA17
HA19 HA44
Claims (8)
- 【請求項１】 記録マークと未記録部（記録マーク間の
スペース）の長さを変調したＰＷＭ方式で情報を記録す
る光情報記録媒体の記録方法において、その長さの最小
単位（基本クロック周期）をＴｗとし、ｎ１、ｎ２をｎ
１＜ｎ２である自然数とするとき、ｎ１・Ｔｗとｎ２・
Ｔｗという異なる長さの記録マークを、何れもｍ個（ｍ
はｍ＜ｎの自然数）のパルスで強度変調させた光により
記録し、その記録信号パルスのパワーの最大値Ｐｗを逐
次変化させてテスト記録を行い、テスト記録したパター
ンを再生して測定した記録マークの長さＴ１（Ｐｗ）又
はＴ２（Ｐｗ）と、理論的長さｎ１・Ｔｗ又はｎ２・Ｔ
ｗの差（ズレ量）である、 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｔ１（Ｐｗ）−ｎ１・Ｔｗ、及び、 Ｄ２（Ｐｗ）＝Ｔ２（Ｐｗ）−ｎ２・Ｔｗ を評価することにより記録パワーＰｗｏを設定すること
を特徴とする光情報記録方法。 - 【請求項２】 Ｄ１（Ｐｗ）＝Ｄ２（Ｐｗ）となるＰｗ
を記録パワーＰｗｏとして設定することを特徴とする請
求項１記載の光情報記録方法。 - 【請求項３】 次式に従って規格化されたパラメータｇ
（Ｐｗ）を求め、 ｇ（Ｐｗ）＝〔Ｄ２（Ｐｗ）−Ｄ１（Ｐｗ）〕／Ｔｗ ｇ（Ｐｗ）＝ｇα （但し、ｇαは、０＜ｇα≦０．１の範囲にある媒体固
有の値）となるＰｗを記録パワーＰｗｏとして設定する
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。 - 【請求項４】 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗ
の記録パルスの第１パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１
（Ｐｗｏ）だけ長く設定することを特徴とする請求項３
記載の光情報記録方法。 - 【請求項５】 記録パワーＰｗｏにおける、ｎ１・Ｔｗ
の記録パルスの最終パルス幅を、Ｄ２（Ｐｗｏ）−Ｄ１
（Ｐｗｏ）だけ長く設定することを特徴とする請求項３
記載の光情報記録方法。 - 【請求項６】 請求項３記載の規格化されたパラメータ
ｇ（Ｐｗ）＝ｇβ、但し、０．４≦ｇβ≦０．６、とし
て求められるＰｗｔに１．０〜１．２の範囲にある定数
ρを乗じて求めたＰｗ＝ρ・Ｐｗｔを記録パワーＰｗｏ
として設定することを特徴とする光情報記録方法。 - 【請求項７】 テスト記録を行いテスト記録部の情報を
再生する光ピックアップ部、テスト記録時の光照射パワ
ーを制御するパワー制御部、再生信号から記録マークの
長さを測定するマーク長測定部を有し、請求項１〜６の
何れかに記載の光情報記録方法により記録を行うことが
できるように設定されていることを特徴とする光情報記
録装置。 - 【請求項８】 請求項３記載の規格化されたパラメータ
ｇ（Ｐｗ）を演算する演算部を有することを特徴とする
請求項７記載の光情報記録装置。
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