JP2003279591A - 循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置 - Google Patents

循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置

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JP2003279591A JP2002082901A JP2002082901A JP2003279591A JP 2003279591 A JP2003279591 A JP 2003279591A JP 2002082901 A JP2002082901 A JP 2002082901A JP 2002082901 A JP2002082901 A JP 2002082901A JP 2003279591 A JP2003279591 A JP 2003279591A
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上原  崇
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 乾燥させるべき穀粒が乾燥室や集穀室に滞留
した時に、時間遅れを生じることなく滞留を即時検出す
ることにより、機体の過熱や穀粒の変質を防止すること
ができる循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置を提供す
る。 【解決手段】 循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置
は、循環型穀物乾燥機1内の穀粒の流れの異状を検出す
るものであって、加熱乾燥手段4による加熱過程にある
穀粒と接してその循環量に応じて温度変化する機体部分
の温度を検出する温度検出手段19と、この温度検出手
段19による検出温度および加熱乾燥手段による加熱過
程に穀粒滞留のない正常な場合の正常時温度の両者間の
温度差の有無を判定出力する比較手段とから構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、循環型穀物乾燥機
の穀粒滞留検出装置に関し、特に、乾燥させるべき穀粒
が高温度の乾燥室や集穀室に滞留した時に、時間遅れを
生じることなく滞留を即時検出することにより、集穀室
の過熱や穀粒の変質を防止することができる循環型穀物
乾燥機の穀粒滞留検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来知られている循環型穀物乾燥機は、
たとえば、貯留タンク、乾燥室、集穀室、穀粒循環手段
等によって構成することにより、加熱した穀粒を再度循
環させて加熱を繰り返すことにより乾燥させる。貯留タ
ンクは受け入れた穀粒を貯留調質し、乾燥室はそれを流
下させつつ熱風により加熱乾燥させつつロータリバルブ
等の定量操出装置によって集穀室の集穀板で集める。集
穀室には螺旋搬送部を備え、昇降機等からなる穀粒循環
手段により、集めた穀粒を貯留タンクに揚穀して再度循
環させる。また、集穀室には、遠赤外線放射部を備えて
加熱穀粒を遠赤外線によって更に加熱乾燥する例があ
る。
【0003】上記循環型穀物乾燥機においては、穀粒循
環手段に不調が生じて穀粒が集穀室に滞留した場合は、
定量操出装置の過負荷によるチェーンやスプロケットの
破損を招き、この検出が遅いと遠赤外線放射部からの照
射により、滞留した穀粒の過剰加温や集穀室の過熱等を
引き起こす虞がある。
【0004】このような事態を回避するために、上記循
環型穀物乾燥機においては、たとえば、昇降機の上端排
出口や、比較的低温度の貯留タンクの入口近傍に設けた
穀粒検出手段による穀粒滞留検出装置等により穀粒の滞
留を監視する。その穀粒検出手段は、昇降機からの穀粒
を搬入する螺旋搬送部等の異常によって貯留タンクの入
口における穀粒の流入が途絶えたときに、これを検出し
て滞留検出信号を出力する。この信号を介して循環型穀
物乾燥機の加熱乾燥動作を停止させることにより、穀粒
滞留による不測の事態を防止することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記穀
粒滞留検出装置は、貯留タンクの入口で穀粒検出手段が
穀粒の有無を監視することから、集穀室等で穀粒の部分
的な滞留が生じていても、穀粒の一部が穀粒循環手段に
より循環されていれば穀粒検出信号を出力する。したが
って、穀粒検出手段の出力が、集穀室等における穀粒の
滞留状況と対応せずに手遅れとなることがある。また、
乾燥室における部分的な滞留により、その滞留部分が過
度に昇温する場合があった。
【0006】本発明の目的は、乾燥させるべき穀粒が高
温度の乾燥室や集穀室に滞留した時に、時間遅れを生じ
ることなく滞留を即時検出することにより、集穀室の過
熱や穀粒の変質を防止することができる循環型穀物乾燥
機の穀粒滞留検出装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に係る発明は、加熱乾燥手段により穀粒を
加熱しつつ穀粒循環手段により穀粒を循環させる循環型
穀物乾燥機内の穀粒の流れの異状を検出する循環型穀物
乾燥機の穀粒滞留検出装置であって、上記加熱乾燥手段
による加熱過程にある穀粒と接してその循環量に応じて
温度変化する機体部分の温度を検出する温度検出手段
と、この温度検出手段による検出温度および加熱乾燥手
段による加熱過程に穀粒滞留のない正常な場合の正常時
温度の両者間の温度差の有無を判定出力する比較手段と
からなることを特徴とする。
【0008】上記温度検出手段は、加熱乾燥手段による
加熱過程にある穀粒と接してその循環量に応じて変化す
る機体部分の温度を検出し、この検出温度と正常時温度
との温度差に応じて比較手段が判定出力するので、加熱
過程にある穀粒の滞留が発生すると、それが部分的な滞
留であっても循環量の減少によって検出温度に変化を生
じることから、この温度差を比較手段が判定出力するこ
とにより、加熱過程における穀粒滞留の有無を把握する
ことができる。
【0009】請求項2に係る発明は、加熱乾燥手段によ
り加熱された穀粒を定量操出手段から定量落下させつつ
集穀板によりその下端部に集め、穀粒循環手段により再
循環させる循環型穀物乾燥機内の穀粒の流れの異状を検
出する循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置であって、
上記集穀板に受ける穀粒の流下範囲内に形成した透明部
と、この透明部に穀粒が現れる頻度をその裏面側から光
学的に検出する光学的検出手段と、この光学的検出手段
による穀粒の検出頻度および定量操出手段による定量繰
り出しによる正常な場合の検出頻度である正常時頻度と
の差の有無を判定出力する比較手段とからなることを特
徴とする。
【0010】上記循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置
は、光学的検出手段により集穀板の透明部に現れる穀粒
の頻度が検出され、この検出頻度と正常時頻度との頻度
差に応じて比較手段が判定出力するので、集穀板上の穀
粒の流下異状、すなわち、定量操出手段からの繰り出し
異状および穀粒循環手段による循環異状があれば、判定
出力により把握することができる。
【0011】請求項3に係る発明は、加熱乾燥手段によ
り加熱された穀粒を定量操出手段から落下させつつ集穀
板により集め、これを穀粒循環手段により循環させる循
環型穀物乾燥機内の穀粒の流れの異状を検出する循環型
穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置であって、上記集穀板に
受ける穀粒をその衝撃によって検出する機械的検出手段
と、この機械的検出手段による穀粒の検出頻度および定
量操出手段による定量繰り出しによる正常な場合の検出
頻度である正常時頻度との頻度差の有無を判定出力する
比較手段とからなることを特徴とする。
【0012】上記循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置
は、定量操出手段から落下する穀粒について、機械的検
出手段により落下の頻度が検出され、この検出頻度と正
常時頻度との頻度差に応じて比較手段が判定出力するの
で、定量操出手段からの穀粒の繰り出し異状があれば、
その判定出力により穀粒滞留の有無を把握することがで
きる。
【0013】
【発明の効果】本発明の循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検
出装置は以下の効果を奏する。上記構成の循環型穀物乾
燥機の穀粒滞留検出装置は、加熱過程と対応する所定の
温度検出手段と比較手段とから構成することにより、検
出温度と正常時温度との温度差に応じた判定出力が得ら
れるので、この判定出力により加熱過程における穀粒滞
留の有無を把握することができる。したがって、上記循
環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置により、加熱過程に
おける穀粒滞留の発生と即応して初期対応することによ
り、循環型穀物乾燥機における穀粒等の異常過熱を最小
限度に抑えることが可能となる。
【0014】また、集穀板に形成した透明部に現出する
穀粒を検出する光学的検出手段と所定の比較手段とから
循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置を構成した場合
は、集穀板の透明部に穀粒が現出する頻度について正常
時頻度との頻度差に応じた判定出力が得られるので、こ
の判定出力により集穀板上の穀粒の流下異状、すなわ
ち、定量操出手段からの繰り出し異状および穀粒循環手
段による循環異常を把握することができる。したがっ
て、上記循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置は、定量
操出手段からの繰り出し異状および穀粒循環手段による
循環異常による穀粒滞留の発生と即応して初期対応する
ことにより、循環型穀物乾燥機における穀粒等の異常過
熱を最小限度に抑えることが可能となる。
【0015】また、定量操出手段から穀粒が落下する頻
度を検出する機械的検出手段と所定の比較手段とから循
環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置を構成した場合は、
定量操出手段から落下する穀粒についての検出頻度と正
常時頻度との頻度差に応じた判定出力が得られるので、
定量操出手段から落下する穀粒繰り出しに異状があれ
ば、その判定出力により把握することができる。したが
って、上記循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置は、上
記同様に、加熱過程における穀粒滞留の発生と即応して
初期対応することにより、循環型穀物乾燥機における穀
粒等の異常過熱を最小限度に抑えることが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】上記技術思想に基づき具体的に構
成された本発明の循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置
に係る実施の形態について以下に図面を参照しつつ説明
する。
【0017】発明に係る穀粒滞留検出装置を適用した循
環型穀物乾燥機の内部構成の透視正面図を図1に、同循
環型穀物乾燥機の内部構成の縦断側面図を図2に、ま
た、穀粒滞留検出装置のセンサ取り付け部の拡大透視斜
視図を図3に示す。図1〜図3において、循環型穀物乾
燥機1は、張り込まれた穀粒を貯留調質する貯留タンク
3、この貯留タンク3の下端において熱風を流通して穀
粒を加熱乾燥させる乾燥室4、加熱された穀粒を受けて
集積する集穀室6、その穀粒を貯留タンク3に戻す循環
手段である昇降機7等から構成される。
【0018】詳細には、貯留タンク3には、昇降機7か
ら受けた穀粒を張り込むための上部螺旋8を備える。乾
燥室4には、集穀室6との間を斜めに仕切って乾燥用熱
風を導入する多孔板11…と、この多孔板11…に臨ん
で集穀室6からの熱風を吸引する吸引部13,13と、
この吸引部13,13と多孔板11…との間に形成され
る通路の流量を規制する定量操出装置14,14等を備
える。
【0019】吸引部13,13は、機体の正面板16a
と背面板16bとの間に架設されて背面板16bに取り
付けた吸引ファン17と連通し、この吸引ファン17に
よって吸引される吸引風の温度を検出する温度センサ1
9,19を吸引ファン17の入口で吸引部13,13の
略中央位置に配設する。温度センサ19,19は、穀粒
の流れを判定する穀粒滞留検出装置を構成するべく、図
示せぬ演算処理部に信号を入力し、この演算処理部に
は、別途設定した正常時温度との温度差の有無を判定出
力する比較部を設ける。正常時温度は、乾燥室4におけ
る加熱過程に穀粒滞留のない場合の吸引風の温度であ
り、設定した熱風温度、乾燥経過時間、張込量等により
予め前記項目を考慮して設定されている。
【0020】集穀室6には、加熱された穀粒を受けて傾
斜ガイドする集穀板21,21を左右の側板22,22
から斜設し、その下端に集積された穀粒を搬出する下部
螺旋23を備えて昇降機7に送り出す。また、集穀室6
には、加熱乾燥用の熱風を供給しつつ遠赤外線を放射す
る遠赤外線放射体24を備える。
【0021】上記のように構成することにより、循環型
穀物乾燥機1は、張り込まれた穀粒を貯留タンク3にて
貯留調質し、乾燥室4において定量操出装置14,14
による所定の流量で穀粒を繰り出しつつ熱風を通風して
乾燥させ、集穀室6で遠赤外線放射体24により更に加
熱しつつ集穀板21,21で集め、昇降機7により再
度、貯留タンク3に送る。これらの一連の過程を穀粒が
目標の水分値になるまで繰り返す。
【0022】この一連の動作を詳細に説明すると、乾燥
室4においては、集穀室6の遠赤外線放射体24を供給
源として供給される所定の熱風を多孔板11…に受け、
穀粒を加熱乾燥させて吸引部13,13から吸引ファン
17により吸引排出する。この吸引風の温度は、温度セ
ンサ19,19により、穀粒滞留検出装置の演算処理部
に送られ、吸引風について正常時温度との差の有無を監
視する。
【0023】加熱乾燥用の吸引風の温度は、多孔板11
…と吸引部13,13とに挟まれた乾燥通路11aに穀
粒滞留が生じることによって上昇することから、上記温
度検出手段である温度センサ19,19によって乾燥室
4における穀粒の滞留を検出することができる。
【0024】温度異状の判定のために対比する正常時温
度は、通常の昇温限界温度を固定的に、たとえば、60
℃に定めることにより、穀粒流れの異状を簡易に判別す
ることができる。また、図4の外気温度を考慮した正常
時温度により判定する例は、加熱乾燥用の熱風温度T6
および吸引風温度T13が外気温度T0に応じて変化す
る場合に適用し、外気温度T0に応じて決定した正常な
場合の正常時温度Tsを使用する。たとえば、吸引風の
予定昇温幅に基づいて限界昇温幅ΔTを定めることによ
り、正常時温度Ts=外気温度T0+限界昇温幅ΔTの
式から外気温度を考慮した正常時温度により高精度で滞
留判定することができる。その他、判定精度により、温
度差のみならず、単位時間当たりの前記の温度変化によ
り穀粒の滞留を検出してもよい。
【0025】乾燥室4における穀粒の滞留は、定量操出
装置14,14およびその制御系の故障のみならず、い
わゆる「ブリッジ」と称する通路とその入口部の詰まり
等によって発生する。特に「ブリッジ」が部分的に生じ
た場合は、全体として穀粒が循環されていても通路の一
部断面の滞留により部分的な品質低下を招き、また、部
分的な昇温による発火を招くことがある。このような部
分的な滞留についても、吸引風の温度上昇を介してその
異状を検出することができる。異状対応措置としては、
異状警報の発報、乾燥機の運転停止等である。
【0026】このような穀粒滞留検出装置に対して、従
来のものは集穀室6内の高温異常を熱風温度センサによ
り、または、昇降機7に設けた穀粒感知スイッチのショ
ートにより、穀粒の滞留を事後的に検出するに過ぎず、
特に集穀室6内の熱風温度は穀物種類や張込量、乾燥速
度の設定等によりそれぞれ異なり、高温状態で使用され
る場合もあるため、循環不良の停滞に基づく高温加熱か
正常な加温状態かの判別が難しかった。しかし、上記循
環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出装置により、乾燥室4に
おける穀粒の滞留を検出できるので、滞留発生と即応し
て初期対応することにより、循環型穀物乾燥機における
穀粒等の異常過熱を最小限度に抑えることが可能とな
る。
【0027】つぎに、集穀板の温度に基づいて穀粒の流
れを判定する穀粒滞留検出装置について説明する。集穀
板の温度に基づく穀粒滞留検出装置の構成例に係る正面
視要部断面構成図を図5に示す。以下において、前記同
様の部材はその符号を付すことによって説明を省略す
る。
【0028】図5において、定量操出装置14から下方
に繰り出される穀粒gを受ける集穀板21の下面にステ
ー31を設けて集穀板21の温度を検出するサーミスタ
等の温度センサ33を取り付け、この温度センサ33に
よる検出温度を正常時温度と比較判定するための図示せ
ぬ演算処理部とから穀粒滞留検出装置を構成する。
【0029】温度センサ33は、集穀板21における穀
粒の流下範囲、すなわち、定量操出装置14直下の穀粒
を受ける位置から下部螺旋23による集積部上端の近傍
まで下がった位置で少なくとも1箇所に配置する。集穀
板21から離して温度センサ33を配置するようにすれ
ば、高温の集穀板21の熱を直接受けることなく検出す
ることができる。正常時温度は、定量操出装置14から
繰り出される定量の穀粒が流下する正常な場合の集穀板
21の温度であり、設定した熱風温度、乾燥経過時間、
張込量等により予め前記項目を考慮して設定されてい
る。
【0030】上記のように構成することにより、集穀板
21の温度による穀粒滞留検出装置は、定量操出装置1
4から繰り出される穀粒の流下状態を集穀板21の温度
を温度センサ33により監視する。下部螺旋23側に滞
留が生じると、下部螺旋23による集積部上端を越えて
集穀板21の上に穀粒が堆積し、遠赤外線放射体24か
らの輻射が遮られることから、図6に示す下部螺旋23
側に滞留が生じた場合の集穀板の温度変化特性は図のよ
うに、検出温度が正常時温度より降下する。したがっ
て、初期安定温度からの変化勾配によって下部螺旋23
側の穀粒の滞留を判定することができる。
【0031】また、乾燥室4で滞留が生じると、定量操
出装置14からの操出量が減少し、集穀板21が遠赤外
線放射体24から受ける輻射量が増加するので、検出温
度が正常時温度より昇温することから、これら検出温度
と正常時温度との差によって乾燥室4側の穀粒の滞留を
判定することができる。この場合、複数の温度センサ2
3を配置することにより、穀粒の流線と対応して部分的
なブリッジによる滞留を検出することができる。
【0032】つぎに、機械的検出手段によって穀粒の流
れを検出する穀粒滞留検出装置について説明する。穀粒
の流れを機械的検出手段によって検出する穀粒滞留検出
装置の検出部に係る正面視断面図を図7に、同検出部に
係る斜視図を図8に示す。
【0033】図7および図8において、穀粒滞留検出装
置の検出部は、定量操出装置14から下方に繰り出され
る穀粒を受ける直下位置の集穀板21に回動可能な感知
板41を下面側のスプリング43によって弾性支持し、
その上下動作を検出するリミットスイッチ44を集穀板
21の裏側に設けたステー46に取り付ける。感知板4
1は、集穀板21の傾斜に沿ってその上側を支軸47に
支え、集穀板21の幅寸法を複数に分割して構成する。
【0034】リミットスイッチ44の検出信号は、図示
せぬ演算処理部に入力し、その比較部において、穀粒の
落下による感知板41の振動を介して検出した落下の頻
度および定量操出装置14による正常な定量繰り出し時
の検出頻度である正常時頻度との頻度差の有無を判定出
力する。
【0035】上記のように穀粒滞留検出装置を構成する
ことにより、定量操出装置14から落下する穀粒につい
て、機械的検出手段であるリミットスイッチ44により
落下の頻度が検出され、この検出頻度と正常時頻度との
頻度差に応じて比較部が判定出力するので、定量操出手
段14からの穀粒の繰り出し異状があれば、各感知板4
1ごとにその判定出力により乾燥室4における部分的な
穀粒滞留の有無を把握することができる。
【0036】したがって、上記循環型穀物乾燥機の穀粒
滞留検出装置は、前記同様に、加熱過程における穀粒滞
留の発生と即応した初期対応により、循環型穀物乾燥機
における穀粒等の異常過熱を最小限度に抑えることが可
能となる。
【0037】つぎに、光学的検出手段によって穀粒の流
れを検出する穀粒滞留検出装置について説明する。穀粒
の流れを光学的検出手段によって検出する穀粒滞留検出
装置の検出部に係る正面視断面図を図9に示す。
【0038】図9において、穀粒滞留検出装置の検出部
は、定量操出装置14から下方に繰り出される穀粒を受
ける集穀板21の流下範囲にガラス等による透明窓51
を形成し、この透明窓51に現れた穀粒gをその反射光
等によって検出するフォトセンサ53を裏側に設けたス
テー54に取り付ける。フォトセンサ53は、機体の奥
行方向に複数位置に配置する。
【0039】フォトセンサ53の検出信号は、図示せぬ
演算処理部に入力し、その比較部において、透明窓51
に現れる穀粒gを検出した現出の頻度および定量操出装
置14による正常な定量繰り出し時の検出頻度である正
常時頻度との頻度差の有無を判定出力する。具体的に
は、図10のフォトセンサによる検出波形図(a)とそ
の周波数特性図(b)に示すように、流下時の検出波形
Bについて周波数特性図における2つのピークの幅Wと
対応して穀粒流下速度を得ることができる。
【0040】上記のように穀粒滞留検出装置を構成する
ことにより、定量操出手段14から繰り出される穀粒に
ついて、光学的検出手段により穀粒gの現出の頻度が検
出され、この検出頻度と正常時頻度との頻度差に応じて
比較手段が判定出力するので、定量操出手段14からの
穀粒の繰り出し異状または下部螺旋23側の滞留があれ
ば、各フォトセンサ53ごとにその判定出力により穀粒
滞留の有無を把握することができる。
【0041】したがって、上記循環型穀物乾燥機の穀粒
滞留検出装置は、光学的検出手段によって構成すること
により、前記同様に、加熱過程またはその直後における
穀粒滞留の発生と即応した初期対応により循環型穀物乾
燥機における穀粒等の異常過熱を最小限度に抑えること
が可能となる。
【0042】つぎに、循環型穀物乾燥機内の穀粒温度を
直接測定する場合の温度センサの配置について説明す
る。図1のA−A線断面図を図11に、温度センサの取
り付け構造を表す要部斜視図を図12に示す。
【0043】図11は温度センサ64の配置を表し、循
環型穀物乾燥機の乾燥室4の入口を補強するべく機体の
左右の側板22,22間に架設した断面U字形状の張り
棒63、63の両端4箇所に温度センサ64を取り付け
ることにより、穀粒温度を測定するための穀温センサと
して構成する。そして、前記の如く温度センサ64によ
り測定した温度と正常時温度との温度差の有無を判定
し、穀粒滞留検出を行う。
【0044】詳細には、図12のように、張り棒63、
63の下方に近接する位置で左右の側板22,22に嵌
め込んだグロメット66から温度センサ64を突設す
る。この温度センサ64は、張り棒63、63の下方の
懐位置で、貯留タンク3の下端から穀粒が乾燥室4に下
降移動する際の圧力を回避しつつ、穀粒と接してその温
度を直接的に検出することができる。このように温度セ
ンサ64を穀温センサとして構成することにより、穀粒
温度を直接的に検出できるので、検出精度を向上するこ
とができる。また、複数箇所の測定により、乾燥室4の
流れの異状を検出することができる。
【0045】つぎに、循環型穀物乾燥機の操作パネルの
表示について説明する。循環型穀物乾燥機の操作パネル
の盤面構成を図13に示す。図13において、循環型穀
物乾燥機の操作パネル71は、操作用の押しボタンスイ
ッチ部73と操作に応じて運転状態等を表示する表示部
74とを備え、表示部74は、カラー表示可能なLC
D,PDP等によって構成する。表示部74にはその表
示のために図示せぬ表示制御部を備え、取り扱う穀種に
応じて背景色を切り換えるように表示制御を行う。例え
ば、籾の場合は背景色を青とし、また、小麦は灰色、大
麦は緑として穀種と背景色とを対応付け、この背景色に
合わせて視認性の良い文字色を設定する。この場合、メ
ニュー画面により、ユーザーが表示色の設定を変更でき
るように構成しても良い。
【0046】従来における循環型穀物乾燥機は、乾燥機
の運転の際に、穀種による運転条件の相違を明確化する
べく、「籾」「小麦」等のような目的穀種を区別する文
字表示がなされていたが、限られた大きさの表示盤面に
おける視認性の限界から、乾燥機の設置環境およびオペ
レータについて、幅広い条件に対応することが困難であ
った。
【0047】しかし、本発明の循環型穀物乾燥機は、上
記のように操作パネル71を構成することにより、表示
情報量の減少を招くことなく操作パネルの視認性を向上
することができる。したがって、操作パネル71から離
れた場所でも現在運転処理中の乾燥穀種を確認すること
ができる。また、高齢のオペレータにも確認が容易とな
るので、籾の乾燥運転にもかかわらず麦レンジで運転す
るような誤操作を防止して、安心感を与えることができ
る。
【0048】その他の構成例として、乾燥の進行状況に
応じて表示部74の背景色を変更するように構成する。
たとえば、乾燥終了予想時間が10時間以上は青、5〜
10時間は緑、1〜5時間は黄、1時間以内は橙のよう
に背景色を変化させる。この場合、水分値に応じて背景
色を変化させても良い。
【0049】このように構成することにより、終了まで
の時間を確認するために、従来の操作パネル71に向か
って表示部74の文字や水分値、残時間、棒グラフ等を
読み取る煩わしさを解消することができる。したがっ
て、乾燥機の配置条件が納屋の奥であるような場合に、
操作パネル71から離れた納屋の入り口等の位置で、高
齢のオペレータでも、乾燥処理の進行状況が一目で確認
できるので、次の段取りによる作業性の向上が可能とな
る。
【0050】つぎに、循環型穀物乾燥機の操作パネルの
別の表示方法について説明する。循環型穀物乾燥機の操
作パネルの別の盤面構成例を図14に示す。図14にお
いて、操作パネル81のLCD等による表示部83の表
示に際し、使用する穀物種類を予め選択記憶しておき、
穀物種類の設定操作時に所定の穀物種類、たとえば、籾
と大麦のみを設定できるように、「籾」表示83aと
「大麦」表示83bのみを表示するように表示制御部を
構成する。また、図15の選択スイッチ式の操作パネル
91の構成例のように、選択スイッチ式の操作パネル9
1にLED等によるガイド用のインジケータ93を配置
し、選択した記憶内容と対応して点灯させる。選択の記
憶は、選択記憶メニューを設け、または、DIPスイッ
チのような設定手段を用いる。
【0051】従来は、籾しか乾燥しない場合でも、例え
ば、乾燥設定を「籾・速い」から「籾・遅い」に設定変
更する場合に、「小麦・普通〜早い」、「大麦」、「ビ
ール麦」等を経て設定しなければならないという煩わし
い操作を強いられていた。しかし、上記のように操作パ
ネル81、91を構成することにより、操作パネル81
の表示部83には、記憶された所定の穀物種類、たとえ
ば、「籾」表示83aと「大麦」表示83bだけが表示
され、また、選択スイッチ式の操作パネル91にはガイ
ド用の所定の位置のインジケータ93のみが点灯する。
したがって、設定対象のみに絞られた中で簡単に間違い
なく速く操作することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 発明に係る穀粒滞留検出装置を適用した循環
型穀物乾燥機の内部構成の透視正面図
【図2】 図1の循環型穀物乾燥機の内部構成の縦断側
面図
【図3】 図1の穀粒滞留検出装置のセンサ取り付け部
の拡大透視斜視図
【図4】 外気温度を考慮した正常時温度による穀粒滞
留の判定例
【図5】 集穀板の温度に基づく穀粒滞留検出装置の構
成例に係る正面視要部断面構成図
【図6】 下部螺旋側に滞留が生じた場合の集穀板の温
度変化特性図
【図7】 機械的検出手段による穀粒滞留検出装置の検
出部に係る正面視断面図
【図8】 図7の検出部に係る斜視図
【図9】 光学的検出手段による穀粒滞留検出装置の検
出部に係る正面視断面図
【図10】 フォトセンサによる検出波形図(a)とそ
の周波数特性図(b)
【図11】 図1のA−A線断面図
【図12】 図11の温度センサの取り付け構造を表す
要部斜視図
【図13】 循環型穀物乾燥機の操作パネルの盤面構成
【図14】 循環型穀物乾燥機の操作パネルの別の盤面
構成例
【図15】 選択スイッチ式の操作パネルの構成例
【符号の説明】
1 循環型穀物乾燥機 3 貯留タンク 4 乾燥室(加熱乾燥手段) 6 集穀室 7 昇降機 11 多孔板 13 吸引部 14 定量操出装置(定量操出手段) 17 吸引ファン 19 温度センサ(温度検出手段) 21 集穀板 23 下部螺旋 24 遠赤外線放射体 33 温度センサ 41 感知板 44 リミットスイッチ(機械的検出手段) 51 透明窓 53 フォトセンサ 63 張り棒 64 温度センサ 71 操作パネル 73 ボタンスイッチ部 74 表示部 81 操作パネル 83 表示部 83a,83b 表示 91 操作パネル 93 インジケータ g 穀粒 T0 外気温度 T13 吸引風温度 T6 熱風温度 Ts 正常時温度
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上原 崇 愛媛県伊予郡砥部町八倉1番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 十亀 治光 愛媛県伊予郡砥部町八倉1番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 水津 清明 愛媛県伊予郡砥部町八倉1番地 井関農機 株式会社技術部内 Fターム(参考) 2F034 AA07 CA06 CA09 CA10 CA15 CA16 CA18 2G040 AA00 AB08 BA22 BA25 CA01 EB02 3L113 AA02 AB02 AC04 AC51 AC67 AC79 BA09 CA02 CA04 CB02 CB37 DA09 DA24

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加熱乾燥手段により穀粒を加熱しつつ穀
    粒循環手段により穀粒を循環させる循環型穀物乾燥機内
    の穀粒の流れの異状を検出する循環型穀物乾燥機の穀粒
    滞留検出装置であって、 上記加熱乾燥手段による加熱過程にある穀粒と接してそ
    の循環量に応じて温度変化する機体部分の温度を検出す
    る温度検出手段と、 この温度検出手段による検出温度および加熱乾燥手段に
    よる加熱過程に穀粒滞留のない正常な場合の正常時温度
    の両者間の温度差の有無を判定出力する比較手段とから
    なることを特徴とする循環型穀物乾燥機の穀粒滞留検出
    装置。
  2. 【請求項2】 加熱乾燥手段により加熱された穀粒を定
    量操出手段から定量落下させつつ集穀板によりその下端
    部に集め、穀粒循環手段により再循環させる循環型穀物
    乾燥機内の穀粒の流れの異状を検出する循環型穀物乾燥
    機の穀粒滞留検出装置であって、 上記集穀板に受ける穀粒の流下範囲内に形成した透明部
    と、 この透明部に穀粒が現れる頻度をその裏面側から光学的
    に検出する光学的検出手段と、 この光学的検出手段による穀粒の検出頻度および定量操
    出手段による定量繰り出しによる正常な場合の検出頻度
    である正常時頻度との差の有無を判定出力する比較手段
    とからなることを特徴とする循環型穀物乾燥機の穀粒滞
    留検出装置。
  3. 【請求項3】 加熱乾燥手段により加熱された穀粒を定
    量操出手段から落下させつつ集穀板により集め、これを
    穀粒循環手段により循環させる循環型穀物乾燥機内の穀
    粒の流れの異状を検出する循環型穀物乾燥機の穀粒滞留
    検出装置であって、 上記集穀板に受ける穀粒をその衝撃によって検出する機
    械的検出手段と、 この機械的検出手段による穀粒の検出頻度および定量操
    出手段による定量繰り出しによる正常な場合の検出頻度
    である正常時頻度との頻度差の有無を判定出力する比較
    手段とからなることを特徴とする循環型穀物乾燥機の穀
    粒滞留検出装置。
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