JP2003279345A - 非球面形状測定機 - Google Patents
非球面形状測定機Info
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Abstract
誤差を分離測定することができる非球面形状測定機を提
供する。 【解決手段】 非球面形状測定機1は、中心軸周り回転
保持機構5、プローブ先端球8、その位置検出手段等を
備えて構成され、また、上記中心軸周り回転保持機構5
の中心軸線4と直交して回転保持する直交軸周り回転保
持機構7と、この直交軸周り回転保持機構7による回転
前後の位置検出手段による球面形状データをその位相差
で積分して測定対象球の表面の座標を算出する形状算出
手段とを備える。
Description
に関し、特に、基準となる参照球とプローブ先端球の両
方の形状誤差を分離測定することができる非球面形状測
定機に関する。
る装置として3次元座標測定機が知られている。球面形
状精度を測定するための3次元座標測定機は、測定対象
球を1軸回りに回転保持する回転保持機構と、進退可能
に構成したプローブ先端球の位置を検出する位置検出手
段と、各回転位置の測定対象球にプローブ先端球が触れ
た位置の座標により測定対象球の真球からのずれを表す
球面形状データを取得する手段とを備える。
次元座標測定機は、接触を検知するプローブ先端球の形
状の不確かさと、接触によってプローブがたわむことに
よる座標読みとり誤差の二つの重要なファクターによ
り、その測定精度には限界がある。
は、基準とする高精度の球を測定して、その結果から先
端球の形状誤差を評価することが行われるが、基準とな
る球の形状精度も50nm程度しか保証されないので、高
精度の非球面形状などの測定に対しては無視できない不
確かさが残ってしまう。
円の回転運動誤差と形状誤差を分離して精度を向上する
ために、3点法や反転法が知られているが、3次元測定
機の参照球にそれを適用することは次の理由から困難で
ある。これは、形状を測定しても、そのデータの位置情
報を3次元測定機上に取り付けた参照球に正しく付ける
ことが難しかったこと、先端プローブ球の形状測定に適
用しても、使用中の摩耗で形状が変化するためあまり高
精度の補正値を求めることが無意味になることがあげら
れる。
ーブ先端球の両方の誤差を分離測定することができる非
球面形状測定機を提供することにあり、また、接触の反
力によるプローブのたわみについてナノメートルレベル
の測定精度が要求されるときの最適な補正手段を備えた
非球面形状測定機を提供することにある。
に、請求項1に係る発明は、測定対象球をその中心を通
る中心軸線周りに回転可能に保持する中心軸周り回転保
持機構と、この中心軸周り回転保持機構の中心軸線と直
交する直交軸線上を一定姿勢で進退しうるプローブ先端
球と、このプローブ先端球の進退位置を検出する位置検
出手段とを備える非球面形状測定機において、上記直交
軸線の周りに中心軸周り回転保持機構を回転可能に保持
する直交軸周り回転保持機構と、この直交軸周り回転保
持機構による回転前後の位置検出手段による球面形状デ
ータの位相差を積分して測定対象球の表面の座標を算出
する形状算出手段とを備えることにより非球面形状測定
機を構成したものである。
軸周り回転保持機構による回転前後において、球面形状
データが取得され、形状算出手段によって測定対象球と
接触プローブの先端球の形状誤差とが分離される。詳細
に説明すると、測定対象球の測定結果には、測定対象球
の形状誤差とプローブ先端球の形状誤差とが和の形で加
わることから、プローブ先端球の形状誤差は、測定対象
球の同一円上の形状誤差に関して位相を変えて測定した
2回の測定結果の差を採ることによって測定対象球と接
触プローブの先端球の形状誤差が分離され、プローブ先
端球の形状誤差の影響が取り除かれた測定対象球の形状
の差動出力が得られる。また、逆に、プローブ先端球の
真円形状を、測定対象球の形状誤差を受けない形で求め
ることができる。
ブ先端球に向けてこのプローブ先端球を保持するプロー
ブ基部から投射した光ビームによりプローブ保持部に対
するプローブ先端球の相対変位を検出する相対変位検出
手段を備えることにより非球面形状測定機を構成したも
のである。この非球面形状測定機は、測定用プローブの
保持部に取り付けた相対変位検出手段の光学式角度セン
サ或いは変位センサの検出用光ビームを測定プローブ先
端球に向けて投射し、プローブ保持部に対するプローブ
先端球の相対変位を計測することにより、接触圧による
プローブ接触位置補正が可能となるので、3次元座標測
定の測定精度を高めることができる。
ブ先端球が相対変位検出手段の検出用光ビームを受ける
に適する粗面を備えることにより非球面形状測定機を構
成することにより、相対変位検出手段として対象面に粗
面を必要とする接触式プローブに光学式センサを使用す
る場合に対応することができる。
をその中心を通る中心軸線周りに回転可能に保持する中
心軸周り回転保持機構と、この中心軸周り回転保持機構
の中心軸線と平行する平行軸線上を一定姿勢で進退しう
るプローブ先端球と、このプローブ先端球の進退位置を
検出する位置検出手段とを備える非球面形状測定機にお
いて、上記平行軸線の周りに中心軸周り回転保持機構を
回転保持する平行軸周り回転保持機構と、この平行軸周
り回転保持機構による180度回転前後の位置検出手段
による球面形状データの位相差を揃えて平均値を算出す
る形状算出手段とを備えることにより非球面形状測定機
を構成したものである。
によってプローブ先端球の周りに周回保持されることか
ら、プローブ先端球の測定円周について測定対象球上の
同一点の当接により測定対象球の形状誤差を含まない円
周形状データを得ることができ、このプローブ先端球の
測定円周について、中心軸周り回転保持機構による回転
前後の円周形状データを取ることにより、平行軸周り回
転保持機構の回転位置に関する位相がずれたデータが得
られるので、測定対象球の回転運動誤差の影響が取り除
かれたプローブ先端球の形状の差動出力が得られる。
周り回転保持機構は、その中心軸線について測定対象球
を複数の角度位置に嵌合可能に保持する凹凸状の嵌合構
造として非球面形状測定機を構成したことから、凹凸状
の嵌合構造は、測定対象球と一体に形成することによ
り、或いは測定対象球と別体の補助具として構成するこ
とにより、高精度の回転保持機構を簡易に構成すること
ができる。
をその中心を通る中心軸線周りに回転可能に保持する中
心軸周り回転保持機構と、この中心軸周り回転保持機構
の中心軸線と平行する進退軸線上を一定姿勢で進退しう
る探触用のプローブと、このプローブの先端に形成した
プローブ先端球の進退位置を検出する位置検出手段とを
備える非球面形状測定機において、上記プローブの進退
軸線の位置を中心軸周り回転保持機構の中心軸線に関す
る直交平面内で位置決めする位置決め手段と、この位置
決め手段により定められた各位置につき中心軸周り回転
保持機構による少なくとも1回転の範囲で測定対象球の
測定値を取得し、この測定値の平均値に対応するプロー
ブ先端球の接触点形状を算出する形状算出手段とを備え
ることにより非球面形状測定機を構成したものである。
に位置決めされ、その位置において測定される中心軸周
り回転保持機構による少なくとも1回転の範囲に及ぶ測
定により測定対象球の環形線上の測定値が取得され、こ
の測定値を平均することにより仮想的な真円が求めら
れ、この仮想的な真円と対応してプローブ先端球の接触
点形状を算出することにより、測定対象球の形状誤差お
よび中心軸周り回転保持機構の回転運動誤差を排除した
プローブ先端球の接触点形状データが取得できるので、
位置決め手段によりローブ先端球上の必要な範囲につい
て形状を把握することができる。
成された実施の形態について以下に図面を参照しつつ説
明する。
形状を求める場合の原理説明のための要部斜視図を図1
に示す。図1(a)において、非球面形状測定機1は、
測定対象としての参照球2を支持し、その球心を通る中
心軸線4の周りに回転できる支持台5と、またその中心
軸線4と交差する形で、中心軸線4と直角な直交軸線6
の周りに支持台5を回転保持しうるテーブル7とを備え
て構成する。その直交軸線6に沿ってプローブ先端球8
を進退可能に設ける。このプローブ先端球8は、参照球
2と接触したときの位置を検出する位置検出手段であ
る。また、図示せぬ演算手段を備えて後述の演算処理を
する。
の測定円形状を測定線9に沿って測定する。参照球半径
をR、参照球形状をI(θ)、プローブ先端球形状をs
(θ)、プローブ先端球半径をr、測定円形状をm1と
すれば、m1は下記の式1を満たす。 m1=(R+r+I(θ)+s(θ))cosθ…(式1) 2) 参照球2を上の測定円の軸4回りに一定角Δθだ
け回転する。 3) 回転後の測定円の円形状を1)と同じ条件でもう
一度測定する。この測定円形状をm2とすれば、m2は
下記の式2を満たす。 m2=(R+r+I(θ+Δθ)+s(θ))cosθ…(式2) 4) 式1と式2は、相互の関係を線図によって図示し
た図2において、線図11と線図12の関係にあるの
で、式1と式2の差からI(θ+Δθ)−I(θ)を得
る。 5) (I(θ+Δθ)−I(θ))/ΔθがI(θ)
の微分の近似値を与えるので、これを積分すれば、I
(θ)が求まる。
測定円3aに変えて、すなわち、接触プローブ先端球8
の接触位置を支持台などとの物理的干渉を避けるため
に、図1(b)のように変え、別の測定線10に沿って
繰り返すことにより、接触可能なプローブ先端球の全範
囲について参照球2の形状を求めることができる。
する前後の位置で、先端が球形状のプローブ先端球8の
1つの断面線を用いて接触を検知しながら座標測定を
し、その回転前後の1つの断面線(大部分が重なり、Δ
θのずれのある2本の線)の測定データの差から、プロ
ーブ先端球8の形状の影響を受けない参照球2の形状を
求めることができる。また、逆に、プローブ先端球8の
真円形状を、参照球2の形状誤差を受けない形で求める
ことができる。
の方法について説明する。以下において、前記同様の部
材はその符号を付すことによって説明を省略する。平行
2軸について参照球を回転させてプローブ先端球の1断
面円上での形状誤差を求める場合の原理説明のための要
部斜視図を図3に示す。図3(a)において、非球面形
状測定機21は、参照球2の球心を通る中心軸線22の
周りに参照球2を回転保持しうる支持台23と、この支
持台23を中心軸線22と平行する平行軸線24から偏
心させた状態でプローブ先端球8の周りに公転させるテ
ーブル25とを備え、同一回転角でプローブ先端球8の
180度反対側が接触する位置に参照球2の偏心位置を
移動するように構成する。
ようにし、各公転位置での参照球の最近点を3次元測定
機の接触プローブで測定する。この場合、公転角0の
時、参照球2の中心がX0の位置にあるものとする。プ
ローブ先端球形状をs(θ)、測定円形状をm1とすれ
ば、m1は下記の式1を満たす。 m1=s(θ)+e(θ)…(式3) この場合、参照球2の同一点2bが接触するので、参照
球の形状は影響しない。 2) 図3(b)において、参照球2の公転角が0のと
き、その中心が(−X0)の位置に来るように配置し、
1)と同じ測定を繰り返す。この測定円形状をm2とす
れば、m2は下記の式2を満たす。 m2=s(θ)−e(θ)…(式4) 3) 2回の測定結果について、プローブ先端球8の接
触位置が揃うように測定結果の位相を揃えて1)、2)
2回の測定結果を平均する。 (式3+式4)/2 この平均処理により、参照球2の回転に伴う半径方向回
転運動誤差の影響を取り除くことができる。接触点を変
え、1)ないし3)の手順を繰り返し行うことで、プロ
ーブ先端球の各断面円上の形状誤差を求めることができ
る。なお、回転中のz方向(高さ方向)の運動誤差が無
視できない場合は、偏心の位置(0,0)に参照球2を
置いて、回転中の参照球2の頂点の上下運動をプローブ
で計測すれば、それを補正に使うことができる。
中心を通る中心軸線周りに回転でき、またその中心軸線
を偏心回転する形で、中心軸線と平行な平行軸線周りに
参照球2を回転可能に構成し、参照球2上の1点2bを
用いてプローブ先端球8の1断面円上での形状誤差を求
めることにより、回転運動誤差の影響を除くことができ
る。
う先端球中心の移動量の測定方法について説明する。先
端球中心の移動量の測定方法を図4に示す。図4におい
て、非球面形状測定機31のプローブ32は、その保持
部33に固定した2次元角度センサ34の光ビームを光
源35からビームスプリッタ36を介してプローブ先端
球8に向かって投射し、集光レンズ37により受光素子
38に反射光を受けることにより、その球の光軸に直角
な2方向への移動量を角度変位として検出することがで
きる。
ーブ保持部33に固定された光源35から光を投射する
と、プローブ保持部33と先端球8の相対移動分だけプ
ローブ先端球8からの反射光が振れる。この反射光の振
れをプローブ保持部33に固定された受光素子38によ
る角度センサで読み取ることができる。
に接触するとき、先端球8を保持しているプローブ軸等
の弾性変形により、プローブ保持部33に対して先端球
8の中心が相対的に移動しても、特に影響が大きいプロ
ーブ軸直角方向の移動による誤差を取り除くことができ
る。
に別の方法について説明する。参照球をその中心で回転
させて得られる仮想上の真円に基づいてプローブ先端球
の形状誤差を求める場合の原理説明のための要部斜視図
を図5に示す。
1は、参照球2の球心を通る中心軸線22の周りに参照
球2を回転保持しうる中心軸周り回転保持機構としての
支持台43と、中心軸線22と平行する平行軸線24を
進退軸線として一定姿勢で進退動作するプローブ8と、
このプローブ8を中心軸線22と直交する直交平面内で
任意の位置に位置決めする位置決め手段46と、この位
置決め手段46により定められた各位置につき中心軸周
り回転保持機構による少なくとも1回転45の範囲で測
定対象の参照球2の測定値を取得し、この測定値の平均
値に対応するプローブ先端球8の接触点形状を算出する
形状算出手段とを備えて構成する。
を測定点として選び、この測定点44から回転台43を
1回転以上n回転させて同測定点44を通る円周45に
ついてのn回転分の形状データを得る。この場合、プロ
ーブ先端球8側の接触点は変化しない。 2) n回転分の形状データを平均することにより仮想
的な真円を求め、この仮想的な真円により、参照球2の
形状誤差の影響を受けずに上記測定点44におけるプロ
ーブ先端球8の形状を得ることができる。 3) プローブを図5(b)のように、測定点44aま
で二次元的に移動させる間の各測定点において、1)〜
2)の手順を繰り返すことにより、プローブ先端球8の
全面に渡る形状を得ることができる。
線22の周りに回転する回転台43と、その中心軸線2
2に対する直交平面内の位置決め手段46によって平行
移動できるプローブ先端球8とにより、プローブ先端球
のある1点である接触点44において回転台43を回転
させることによって得られた参照球2の1回転分の環形
線45についてのデータを平均することにより仮想的な
真円を得ることができるので、参照球2の形状、およ
び、回転台43の回転運動誤差の影響を受けずに、その
接触点44におけるプローブ先端球8の形状を測定する
ことができる。
を奏する。上記構成の非球面形状測定機は、直交2軸の
周りに回転可能に保持して得られる形状データの位相差
により測定対象球と接触プローブの先端球の形状誤差と
が分離されるので、3次元座標測定の測定精度を高める
ことができる。上記プローブ先端球について光ビームに
より相対変位を検出することにより、接触圧によるプロ
ーブ接触位置補正が可能となる。上記プローブ先端球が
相対変位検出手段の検出用光ビームを受けるに適する粗
面を備える場合は、接触式プローブに光学式センサを使
用する場合に対応することができる。
誤差を含まない形状データについて位相差処理すること
により、接触プローブの先端球と回転運動の誤差とが分
離されるので、3次元座標測定の測定精度を高めること
ができる。上記測定対象球を複数の角度位置に嵌合可能
に保持する凹凸状の嵌合構造によって高精度の回転保持
機構を簡易に構成することができる。
周り回転保持機構による測定値の平均値からプローブ先
端球の接触点形状を算出する形状算出手段とを備えるこ
とにより仮想的な真円が求められ、この仮想的な真円と
対応してプローブ先端球の接触点形状を算出することに
より、測定対象球の形状誤差および中心軸周り回転保持
機構の回転運動誤差を排除してプローブ先端球の接触点
形状データおよび測定対象球の形状データが取得でき
る。
てその形状を求める場合の原理説明のための要部斜視図
図
てプローブ先端球の1断面円上での形状誤差を求める場
合の原理説明のための要部斜視図
図
上の真円に基づいてプローブ先端球の形状誤差を求める
場合の原理説明のための要部斜視図
Claims (6)
- 【請求項1】 測定対象球をその中心を通る中心軸線周
りに回転可能に保持する中心軸周り回転保持機構と、 この中心軸周り回転保持機構の中心軸線と直交する直交
軸線上を一定姿勢で進退しうるプローブ先端球と、 このプローブ先端球の進退位置を検出する位置検出手段
とを備える非球面形状測定機において、 上記直交軸線の周りに中心軸周り回転保持機構を回転可
能に保持する直交軸周り回転保持機構と、 この直交軸周り回転保持機構による回転前後の位置検出
手段による球面形状データの位相差を積分して測定対象
球の表面の座標を算出する形状算出手段とを備えること
を特徴とする非球面形状測定機。 - 【請求項2】 前記プローブ先端球に向けてこのプロー
ブ先端球を保持するプローブ基部から投射した光ビーム
によりプローブ保持部に対するプローブ先端球の相対変
位を検出する相対変位検出手段を備えることを特徴とす
る請求項1記載の非球面形状測定機。 - 【請求項3】 前記プローブ先端球が相対変位検出手段
の検出用光ビームを受けるに適する粗面を備えることを
特徴とする請求項2記載の非球面形状測定機。 - 【請求項4】 測定対象球をその中心を通る中心軸線周
りに回転可能に保持する中心軸周り回転保持機構と、 この中心軸周り回転保持機構の中心軸線と平行する平行
軸線上を一定姿勢で進退しうるプローブ先端球と、 このプローブ先端球の進退位置を検出する位置検出手段
とを備える非球面形状測定機において、 上記平行軸線の周りに中心軸周り回転保持機構を回転保
持する平行軸周り回転保持機構と、 この平行軸周り回転保持機構による180度回転前後の
位置検出手段による球面形状データの位相差を揃えて平
均値を算出する形状算出手段とを備えることを特徴とす
る非球面形状測定機。 - 【請求項5】 前記中心軸周り回転保持機構は、その中
心軸線について測定対象球を複数の角度位置に嵌合可能
に保持する凹凸状の嵌合構造からなることを特徴とする
請求項4記載の非球面形状測定機。 - 【請求項6】 測定対象球をその中心を通る中心軸線周
りに回転可能に保持する中心軸周り回転保持機構と、 この中心軸周り回転保持機構の中心軸線と平行する進退
軸線上を一定姿勢で進退しうる探触用のプローブと、 このプローブの先端に形成したプローブ先端球の進退位
置を検出する位置検出手段とを備える非球面形状測定機
において、 上記プローブの進退軸線の位置を中心軸周り回転保持機
構の中心軸線に関する直交平面内で位置決めする位置決
め手段と、 この位置決め手段により定められた各位置につき中心軸
周り回転保持機構による少なくとも1回転の範囲で測定
対象球の測定値を取得し、この測定値の平均値に対応す
るプローブ先端球の接触点形状を算出する形状算出手段
とを備えることを特徴とする非球面形状測定機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002080043A JP2003279345A (ja) | 2002-03-22 | 2002-03-22 | 非球面形状測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002080043A JP2003279345A (ja) | 2002-03-22 | 2002-03-22 | 非球面形状測定機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003279345A true JP2003279345A (ja) | 2003-10-02 |
Family
ID=29229240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002080043A Pending JP2003279345A (ja) | 2002-03-22 | 2002-03-22 | 非球面形状測定機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003279345A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009204440A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Ntn Corp | 球面形状測定装置および球面形状測定方法 |
JP2009257812A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Mitsutoyo Corp | 形状測定方法及び形状測定装置 |
JP2012211846A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-01 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ナイフエッジ先端部の半径測定方法 |
CN105606012A (zh) * | 2015-12-28 | 2016-05-25 | 哈尔滨工业大学 | 面向精密超精密机床的单测头光学曲面在位测量方法 |
CN111307102A (zh) * | 2020-04-01 | 2020-06-19 | 中科院南京天文仪器有限公司 | 一种光学加工中获得离轴非球面面型特征的方法 |
-
2002
- 2002-03-22 JP JP2002080043A patent/JP2003279345A/ja active Pending
Cited By (6)
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CN111307102A (zh) * | 2020-04-01 | 2020-06-19 | 中科院南京天文仪器有限公司 | 一种光学加工中获得离轴非球面面型特征的方法 |
CN111307102B (zh) * | 2020-04-01 | 2021-07-20 | 中科院南京天文仪器有限公司 | 一种光学加工中获得离轴非球面面型特征的方法 |
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