JP2003270566A - 光源装置及びこれを用いた光学走査装置 - Google Patents

光源装置及びこれを用いた光学走査装置

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JP2003270566A
JP2003270566A JP2002074799A JP2002074799A JP2003270566A JP 2003270566 A JP2003270566 A JP 2003270566A JP 2002074799 A JP2002074799 A JP 2002074799A JP 2002074799 A JP2002074799 A JP 2002074799A JP 2003270566 A JP2003270566 A JP 2003270566A
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wedge prism
half mirror
mirror surface
light
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JP2002074799A
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Junichi Ichikawa
順一 市川
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Fuji Xerox Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 加工コストが安く、干渉による光量変動がな
く、ビームを分離・合成できる光源装置を得る。 【解決手段】 ビームAをウェッジプリズム14のハー
フミラー面14Aへ、第2光源から出射されたビームB
をウェッジプリズム14の透過面14Bへそれぞれ入射
させ、各ビームを2方向に分離する。ハーフミラー面1
4Aを透過したビームAと反射したビームBが略同一方
向となり、ハーフミラー面14Aを反射したビームAと
透過したビームBが略同一方向となる。ウェッジプリズ
ム14の2面、すなわち、ハーフミラー面14Aと透過
面14Bは、平行ではなく面間角度差が設けられている
ので、表裏面の反射光が平行とならない。このため、多
重反射しても平行平面板のように干渉が発生することが
ない。また、ウェッジプリズム14は、製造工程が張り
合わせプリズムよりも少ないので張り合わせプリズムよ
りもコストが安い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光源装置に係わり、
特に複数の光源から出射したビームを光学素子で同一の
2方向に分離させる装置に関する。また、本発明はその
光源装置を用いた光学走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、複数のビームを出射する光源
を光ディスク装置やレーザプリンタに用いることによっ
て、装置を高出力化、高速化、多色化することが行われ
ている。
【0003】複数のビームを出射する光源を備えた光源
装置として、図12に示す特開昭60−126620号
がある。この光源装置では、2つのレーザ52,54か
ら出射されたレーザビームをビームスプリッタ60で1
本のビームに合成し、レンズ58で感光材料面56上に
結像している。そして、感光材料面56上で2つのビー
ム位置を制御するため、光路内にビームスプリッタ62
を配置して、ビームの一部を分離し、光位置検出器64
でビームの位置を検出している。
【0004】この特開昭60−126620号では、ビ
ームを合成する目的とビームを分離する目的で、2つの
ビームスプリッタ60、62が設けられているが、図1
3に示す、特開昭61−245174号では、1つのビ
ームスプリッタ66でビームを分離・合成している。
【0005】すなわち、2つのレーザ68,70から出
射されたビームは、ビームスプリッタ66により回転多
面鏡72へ向かう第1の方向と光位置検出器74へ向か
う第2の方向にそれぞれ分離され、それぞれの方向にお
いて2つのビームは合成(近接して配置)されている。
【0006】上記先行技術は、複数の光源から出射され
たビーム位置を検出するためにビームを分離した例であ
るが、ビームの光量を検出するためにビームを分離する
例が特開平6−31980や特開平8−330661に
記載されている。
【0007】図14に示す特開平6−31980号は、
半導体レーザアレイ76から出射される複数ビームの光
量を個別に検出するため、半導体レーザアレイ76から
出射されたビームをコリメートレンズ78で平行光にし
た後、平行平面板のハーフミラー80でビームの一部を
分離して光検出器82で光量を検出している。
【0008】また、図15に示すように、特開平8−3
30661号では、光源に面発光レーザ84を用いてい
る。面発光レーザ84は端面発光レーザと違い、出射方
向の後ろ側にビームを出すことが出来ないため、出射さ
れたビームをビームスプリッタ86で分離して、光検出
器87で光量を検出することが必要となる。
【0009】また、発散光に挿入するビームスプリッタ
として平行平面板を用いた例も特開平6−164056
号に記載されており、また、多色化のためにビームを合
成する例も特開平7−256926号に開示されてお
り、カラー画像を構成する4色に対応する4つの光源か
らのビームをミラーで近接させている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した先行技術にお
いては、ビームを分離・合成するために直角三角形のプ
リズムを2枚張り合わせた形状か平行平面板(ハーフミ
ラー)のビームスプリッタを用いているが、この2種類
のビームスプリッタを用いると次のような問題がある。
【0011】直角三角形のプリズムを2枚張り合わせた
ビームスプリッタは研磨面が多く、また、張り合わせ工
程が必要なことから単価が高い。さらに、厚みが大き
く、レーザから出射した直後の発散光に挿入すると大き
な収差が発生してしまう。
【0012】一方、平行平面板(ハーフミラー)はコス
トが安く、発散光に挿入しても収差の発生が少ないとい
うメリットはあるが、レーザから出射した直後の発散光
の状態でビームを合成させるにはレーザ、コリメートレ
ンズ、平行平面板を非常に近接させて構成しなければな
らず実装が難しい。
【0013】このため、コリメートレンズの後にビーム
スプリッタを配置した方が実装は容易であるが、平行平
面板をコリメート光に挿入すると、図16に示すよう
に、平行平面板88の表裏面での多重反射により反射光
Lが平行となって干渉が発生し、光量変動が発生すると
いう問題がある。
【0014】この問題を解決するにはハーフミラー面8
8Aではない方の透過面88Bの反射率を限りなくゼロ
に近づけなければならず、多層膜コーティングが必要と
なり単価が高くなってしまう。
【0015】また、図12に示すような、張り合わせプ
リズムのビームスプリッタ60、62は平行平面板のよ
うな干渉の心配はないが、前述したように加工コストが
高いという問題がある。
【0016】本発明は、加工コストが安く、干渉による
光量変動がなく、ビームを分離・合成できる光源装置及
び光学走査装置を提供することを課題とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、透過面とハーフミラー面を持つウェッジプリズム
と、前記ウェッジプリズムのハーフミラー面へ第1ビー
ムを入射させる第1光源と、前記ウェッジプリズムの透
過面へ第2ビームを入射させる第2光源と、を備え、前
記ハーフミラー面を透過した第1ビームと反射した第2
ビームが略同一方向となり、前記ハーフミラー面を反射
した第1ビームと透過した第2ビームが略同一方向とな
るように、前記第1光源と前記第2光源を配置したこと
を特徴としている。
【0018】上記構成では、第1光源から出射された第
1ビームをウェッジプリズムのハーフミラー面へ、第2
光源から出射された第2ビームをウェッジプリズムの透
過面へそれぞれ入射させ、各ビームを2方向に分離す
る。 そして、ハーフミラー面を透過した第1ビームと
反射した第2ビームが略同一方向となり、ハーフミラー
面を反射した第1ビームと透過した第2ビームが略同一
方向となる。
【0019】ここで、ウェッジプリズムの2面、すなわ
ち、ハーフミラー面と透過面は、平行ではなく面間角度
差が設けられているので、表裏面の反射光が平行となら
ない。このため、多重反射しても平行平面板のように干
渉が発生することがない。また、ウェッジプリズムは、
製造工程が張り合わせプリズムよりも少ないので張り合
わせプリズムよりもコストが安い。
【0020】また、ウェッジプリズムを用いる場合に
は、張り合わせプリズムや平行平面板とは異なり、入射
ビームが屈折により曲げられるため、張り合わせプリズ
ムや平行平板のように直角平行方向の合成・分離となら
ないが、2方向から入射する複数ビーム間の角度差を適
当な値に設定することにより、合成・分離後のビームを
同一方向とすることが出来る。
【0021】なお、ここで言う、第1光源と第2光源
は、文字通り、2つの光源という意味だけではなく、複
数の光源、たとえば、3つ4つの光源という意味でも使
用しており、分離・合成されるビームの数が2本に限定
されるわけではない。
【0022】請求項2に記載の発明は、前記ウェッジプ
リズムの透過面とハーフミラー面がなす面間角度をσ、
ウェッジプリズムの屈折率をN、第2ビームと前記透過
面の法線との角度をiとしたとき、第1ビームと第2ビ
ーム間の角度差が下式で求められる角度差θに略等しい
ことを特徴としている。
【0023】(単位:rad) 上記の計算式からウェッジプリズムに対して2方向(ハ
ーフミラー面側と逆の透過面の2方向)から入射する第
1ビームと第2ビームの間の角度差θを求めることで、
ウェッジプリズムによって分離される2つのビームの方
向が同一となる。
【0024】請求項3に記載の発明は、前記ハーフミラ
ー面の反射率が第1ビームと第2ビームの反射位置で異
なることを特徴としている。
【0025】上記構成では、ウェッジプリズムによるビ
ームの分離比率(2方向に分離される光量比)が50:
50の場合はウェッジプリズムのハーフミラー面の反射
率をすべて50%とすれば問題なく分離できるが、一方
に分離されたビームと他方に分離されたビームで用途が
違う場合等では、分離比率を20:80とか30:70
というように不均等にしたい場合がある。
【0026】このような場合は、第1ビームと第2ビー
ムの反射位置をずらし、反射位置に応じてハーフミラー
コーティングを変え、反射率をビーム毎に異ならせれば
よい。
【0027】請求項4に記載の発明は、前記ハーフミラ
ー面の反射率が異なる2つのウェッジプリズムを設け、
前記第1ビームを一方のウェッジプリズムのハーフミラ
ー面から入射させ、前記第2ビームを他方のウェッジプ
リズムの透過面から入射させると共に、2つのウェッジ
プリズムの屈折率、面間角度、及び第1ビーム、第2ビ
ームに対するウェッジプリズムの設置角度を同じにした
ことを特徴としている。
【0028】上記構成では、第1ビームと第2ビームに
対してハーフミラー面の反射率が異なるウェッジプリズ
ムをそれぞれ設け、ウェッジプリズムの屈折率、面間角
度、第1ビームと第2ビームに対する設置角度を同じに
している。請求項3のように、1つのウェッジプリズム
に異なるハーフミラーコーティングを施す必要がなくな
り、ウェッジプリズムの製造が容易となる。
【0029】請求項5に記載の発明は、前記ウェッジプ
リズムによって2方向に分離されたビームの1方向側に
ビームの位置を検出する光位置検出装置が設けられたこ
とを特徴としている。
【0030】上記構成では、分離された2方向のうち、
1方向側にビームの位置を検出する光位置検出装置を設
けることで、複数ビームの位置関係を精度良く合わせる
ことができる。これによって複数ビームで感光体に書き
込まれる複数の走査線間隔を制御したり、複数ビームで
カラー画像を書き込む際の色ずれを補正することができ
る。
【0031】請求項6に記載の発明は、前記ウェッジプ
リズムによって2方向に分離されたビームの1方向側に
ビームの光量を検出する光量検出装置が設けられたこと
を特徴としている。
【0032】上記構成では、光源として、ビームを分離
して光量を検出することが必要な面発光レーザを用いた
場合等に、分離された2方向のうち1方向側に光量検出
装置を配置することによって、それぞれのビームの光量
を検出し、各ビームの光量を所定量に合わせることがで
きる。
【0033】請求項7に記載の発明は、前記ウェッジプ
リズムと前記光源の間には、光源から出射したビームを
略平行光にするコリメートレンズが設けられていること
を特徴としている。
【0034】上記構成では、ウェッジプリズムに対して
は平行光・発散光・収束光のどのようなビームを入射さ
せてもよいが、コリメートされた略平行光を入射させる
ことで、ウェッジプリズムの配置場所の制約も少なくな
る。なお、ウェッジプリズムは、多重反射による干渉防
止機能をもっているので、略平行光を入射させても問題
は生じない。請求項8に記載の発明では、請求項1〜7
記載の光源装置から出射された複数のビームを同一の光
偏向器で偏向させて被走査面を走査露光することを特徴
としている。
【0035】請求項1〜7記載の光源装置を光学走査装
置に適用することで、高出力化、高速化、多色化のプリ
ンターを得ることができる。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。
【0037】図1及び図2は本実施形態の光源装置11
が搭載された光学走査装置13が示されている。
【0038】光源としての面発光レーザ10A,10B
から出射された発散光はコリメートレンズ12A,12
Bで略平行光とされる。平行光となった各レーザ光はウ
ェッジプリズム14により2方向に分離される。このウ
ェッジプリズム14は、面発光レーザ10Aからのビー
ムが入射するハーフミラー面14Aがハーフミラーコー
トされている。
【0039】面発光レーザ10A、10Bはウェッジプ
リズム14によって分離されるビームA、Bの2つの方
向が各レーザで同じ方向となるように、後述する角度差
θで配置される。
【0040】レンズ16はウェッジプリズム14によっ
て分離されたビームA,Bを光量検出器18の受光面上
に収束させる。光量検出器18の出力はレーザ光量制御
装置20に入力され、面発光レーザ10A,10Bの出
力が所定の出力となるよう、面発光レーザ10A,10
Bの駆動電流量を制御する。
【0041】もう一方のビームは副走査方向にのみパワ
ーを有するシリンドリカルレンズ22により、ポリゴン
ミラー24の反射面上に主走査方向に長い線状に結像さ
れ、Fθレンズ26によって感光体28上にスポット状
に結像され、ポリゴンミラー24が回転することによっ
て感光体28上を走査露光する。
【0042】図2に示すウェッジプリズム14に入射す
る2つのビームの角度差θは、下記の式で表される。 (単位:rad) ―(1)式 σはウェッジプリズムを構成する2つの面(透過面14
Bとハーフコート面14A)の面間角度、Nはウェッジ
プリズムの材料の屈折率、iはビームAとウェッジプリ
ズム14の透過面の法線との角度である。ここで、表1
及び図3〜図5に幾つかの例を示す。
【表1】 図3〜図5を見るとわかる通り、(1)式を用いてウェ
ッジプリズムに入射する2つのビームの角度差θを設定
すると、ウェッジプリズムの設置角度や入射角度が変わ
っても、2方向から入射する2つのビームがウェッジプ
リズムによって同じ2方向に分離される。但し、透過面
側から入射するビームがハーフミラー面で反射された
後、透過面側で全反射されてしまう角度差θには設定は
しない。
【0043】このように、ウェッジプリズムでは、ハー
フミラー面14Aと透過面14Bは、平行ではなく面間
角度差が設けられているので、図2に示す表裏面の反射
光L1が平行とならない。このため、多重反射しても平
行平面板のように干渉が発生することがない。
【0044】一方、面発光レーザは偏光方向の制御が難
しく、ハーフミラー面で入射角度が大きくなると反射率
の偏光方向依存性が大きくなる。そこで、ハーフミラー
面での反射率が面発光レーザの偏光方向のばらつきの影
響を受けない様にするためには、図3、図5に示すウェ
ッジプリズム30,34のようにハーフミラー面30
A、34Aへの入射角度が小さくなるようにした方がよ
い。また、従来技術の図13に示すように、レーザ6
8,70や光位置検出器74を出来るだけ直角平行に近
い配置にする場合は、図4のウェッジプリズム32のよ
うに配置すればよい。
【0045】ウェッジプリズムのハーフミラー面が透
過:反射=50:50の場合は、ウェッジプリズムによ
って分離される2方向(図2に示すビームAB)の分割
比率が50:50となるので、図1では面発光レーザ1
0Aのビームも面発光レーザ10BのビームBもポリゴ
ンミラー24側に50%,光量検出器18側に50%振
り分けられる。
【0046】しかし、感光体28を露光する光量を光量
検出に用いる光量よりも大きくしたいというような場
合、例えば、ウェッジプリズム14のハーフミラーコー
トティングを反射:透過=70:30のようにすると、
面発光レーザ10Aの光量はポリゴンミラー側70%、
光量検出側30%、面発光レーザ10Bの光量はポリゴ
ンミラー側30%、光量検出側70%になってしまい、
所望の光量比を得ることができない。
【0047】この場合、図6に示すウェッジプリズム3
6のように、各ビームが通過する位置においてハーフミ
ラー面36A、36Bを別のコーティングとすればよ
い。例えばビームAが透過するハーフミラー面36A
を、反射:透過=70:30とし、ビームBが透過する
ハーフミラー面36Bを、反射:透過=30:70とす
れば、光量検出器18へ向かうビームを30%、ポリゴ
ンミラー24に向かうビームを70%とすることができ
る。
【0048】また、同一のウェッジプリズムに、図6に
示すような2種類のコーティングを施すことが難しい場
合は、図7に示すように、ビームA用とビームB用のウ
ェッジプリズム40、42を2つ用い、それに施すコー
ティングを別のものとすればよい。
【0049】この場合、図7に示すように、2つのウェ
ッジプリズム40,42を上下に2つ重ねても良いが、
図8に示すように、形状と材料が同じウェッジプリズム
44,46を平行にずらした位置に配置してもよい。
【0050】なお、ここで言う形状とは2面の面間角度
差だけを指し、厚みは違うものであっても構わない。ま
た、ポリゴンミラー24に向かう2つのビームA、Bは
上下に重なっており、光量検出器18に向かう2つのビ
ームは紙面と平行な方向において位置がずれるように配
置されている。
【0051】これは、光量検出器18の前にはビームを
集光させるレンズ16が設けられており、ビーム位置が
ずれていてもそれが平行であればレンズ16によって2
本のビームは光量検出器18の同一個所に集光されるの
で特に問題ないことに対して、ポリゴンミラー24へ向
かうビームは平行であっても位置がずれているとポリゴ
ンミラー24への入射位置がずれるため、ポリゴンミラ
ー24の反射位置が異なって感光体28上に結像された
ときの光学性能に違いが生じたり、ポリゴンミラー24
の反射面からビームがけられないために、ポリゴンミラ
ー24の径を大きくしたりしなければならない。
【0052】そのため、ポリゴンミラー24へ向かうビ
ームが上下に重なり、光量検出器18に向かうビームは
横方向にずれた位置にしている。
【0053】図9は、ウェッジプリズム14で分離され
たビームの位置を検出して、面発光レーザ10A、10
Bの位置関係を制御する例を示したものである。
【0054】ウェッジプリズム14で分離されたビーム
はそのまま(レンズを介さずに)ビーム位置検出器48
に入射する。ビーム位置検出器48はCCDカメラやポ
ジションセンサ等の位置情報を出力するものである。ビ
ームによって感光体を露光しないタイミングで面発光レ
ーザ10A、10Bの点灯を切り替えることによって、
ビーム位置検出器48上の面発光レーザ10A、10B
から出射されたビーム位置を検出し、その位置関係が所
定の位置にあるかどうかを制御装置50によって判断す
る。
【0055】制御装置50は、必要であれば面発光レー
ザ10A、10B(両方又はどちらか一方)に設けられ
たアクチュエータ(図示省略)で面発光レーザの位置を
調整し、複数のビーム位置関係が所定の関係となるよう
に制御する。
【0056】なお、アクチュエータで動かすものはコリ
メータレンズ12A,12Bであってもよいし、面発光
レーザとコリメータレンズのユニットであってもよい。
【0057】図9は面発光レーザ10A、10Bのビー
ムA,Bが同じ感光体28を露光することによって光学
走査装置50の露光速度を増大させる構成を示したもの
であるが、感光体28とFθレンズ26の間で合成され
た2つのビームを分離し、ミラー等によって各ビームを
別々の感光体に露光するカラー用光学走査装置に適用し
てもよい。この場合、ビームの位置補正はカラーレジス
トレーションの補正に用いることになる。
【0058】図1及び図9において、ウェッジプリズム
14は面発光レーザからの発散光がコリメートレンズに
よって平行光とされたところに配置しているが、図10
のように面発光レーザ10A,10Bとコリメートレン
ズ12A,12Bの間に入れることも可能である。しか
し、この場合は表裏面の干渉の影響が小さいので、ウェ
ッジプリズム14を用いるメリットが小さくなること、
コリメートレンズが2つのビームで共通となるので、フ
ォーカス調整を光源側で行なう必要があること、面発光
レーザ、コリメートレンズ、ウェッジプリズムを非常に
近接させて配置することになるのでレイアウトが難しい
等の問題があるので、ウェッジプリズムはコリメートレ
ンズの後ろに置いたほうがよい。
【0059】これまでの説明においては、光源が2つの
例を示したが、光源を上下に重ねれば光源の数は2つに
限定されることはない。例えば、図11の面発光レーザ
10Bの位置に紙面垂直方向にずらした位置にもう一つ
の面発光レーザ10Cを配置するしても本発明の効果が
変わるわけではない。
【0060】また、本実施例では、光源として面発光レ
ーザを例に取って説明したが、これに特定される訳では
なく、端面発光レーザでも同様な効果を得ることができ
る。
【0061】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の光源からのビームをウェッジプリズムで同一方向
へ合成・分離することで、平行平面板を用いるよりも多
重反射による干渉問題を回避することができ、また、張
り合わせプリズムを用いるよりもコストを安くすること
ができる。このため、低コストで良好な性能の光源装置
を実現することができる。
【0062】また、本光源装置を光学走査装置に適用す
ることによって、複数の光源を用いて装置の高速化・カ
ラー化を計る場合に、出射したビームの一部を分離して
光量を検出したりビーム位置関係を検出することが可能
となるので、光学走査装置を良好な性能に保つことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態に係る光学走査装置の平面図であ
る。
【図2】本実施形態に係る光源装置のウェッジプリズム
を示す平面図である。
【図3】本実施形態に係る光源装置のウェッジプリズム
の設定角度を変えたバリエーションを示す平面図であ
る。
【図4】本実施形態に係る光源装置のウェッジプリズム
の設定角度を変えたバリエーションを示す平面図であ
る。
【図5】本実施形態に係る光源装置のウェッジプリズム
の設定角度を変えたバリエーションを示す平面図であ
る。
【図6】ハーフミラー面の反射率を変えたウェッジプリ
ズムを示す斜視図である。
【図7】ハーフミラー面の反射率を変えたウェッジプリ
ズムを上下に2枚組み合わせた態様を示す斜視図であ
る。
【図8】ハーフミラー面の反射率を変えたウェッジプリ
ズムを左右に2枚組み合わせた態様を示す斜視図であ
る。
【図9】変形例に係る光学走査装置の平面図である。
【図10】光源とコリメートレンズとの間にウェッジプ
リズムを挿入した例を示す説明図である。
【図11】ウェッジプリズムに3つのビームを入射させ
た例を示す斜視図である。
【図12】従来の光学走査装置の平面図である。
【図13】従来の光学走査装置の平面図である。
【図14】従来の光源装置の平面図である。
【図15】従来の光源装置の平面図である。
【図16】平行平面板で多重反射が生じている様子を示
す説明図である。
【符号の説明】
10A 面発光レーザ(第1光源) 10B 面発光レーザ(第2光源) 12A コリメートレンズ 12B コリメートレンズ 14 ウェッジプリズム 14A 透過面 14B ハーフミラー面 18 光位置検出装置 48 光量検出装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 AA00 AA07 AA11 BA04 BA58 BA64 BA69 BA82 2H045 AA01 BA02 BA22 BA33 CB63 CB65 DA02 5C051 AA02 CA07 DB22 DB24 DB30 5C072 AA03 DA02 DA04 DA10 HA02 HA09 HA10 HA13

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 透過面とハーフミラー面を持つウェッジ
    プリズムと、前記ウェッジプリズムのハーフミラー面へ
    第1ビームを入射させる第1光源と、前記ウェッジプリ
    ズムの透過面へ第2ビームを入射させる第2光源と、を
    備え、前記ハーフミラー面を透過した第1ビームと反射
    した第2ビームが略同一方向となり、前記ハーフミラー
    面を反射した第1ビームと透過した第2ビームが略同一
    方向となるように、前記第1光源と前記第2光源を配置
    したことを特徴とする光源装置。
  2. 【請求項2】 前記ウェッジプリズムの透過面とハーフ
    ミラー面がなす面間角度をσ、ウェッジプリズムの屈折
    率をN、第2ビームと前記透過面の法線との角度をiと
    したとき、第1ビームと第2ビーム間の角度差が下式で
    求められる角度差θに略等しいことを特徴とする請求項
    1に記載の光源装置。(単位:rad)
  3. 【請求項3】 前記ハーフミラー面の反射率が第1ビー
    ムと第2ビームの反射位置で異なることを特徴とする請
    求項1又は請求項2に記載の光源装置。
  4. 【請求項4】 前記ハーフミラー面の反射率が異なる2
    つのウェッジプリズムを設け、前記第1ビームを一方の
    ウェッジプリズムのハーフミラー面から入射させ、前記
    第2ビームを他方のウェッジプリズムの透過面から入射
    させると共に、2つのウェッジプリズムの屈折率、面間
    角度、及び第1ビーム、第2ビームに対するウェッジプ
    リズムの設置角度を同じにしたことを特徴とする請求項
    1又は請求項2に記載の光源装置。
  5. 【請求項5】 前記ウェッジプリズムによって2方向に
    分離されたビームの1方向側にビームの位置を検出する
    光位置検出装置が設けられたことを特徴とする請求項1
    〜請求項4の何れかに記載の光源装置。
  6. 【請求項6】 前記ウェッジプリズムによって2方向に
    分離されたビームの1方向側にビームの光量を検出する
    光量検出装置が設けられたことを特徴とする請求項1〜
    請求項4の何れかに光源装置。
  7. 【請求項7】 前記ウェッジプリズムと前記光源の間に
    は、光源から出射したビームを略平行光にするコリメー
    トレンズが設けられていることを特徴とする請求項1〜
    請求項6の何れかに記載の光源装置。
  8. 【請求項8】 請求項1〜7記載の光源装置から出射さ
    れた複数のビームを同一の光偏向器で偏向させて被走査
    面を走査露光することを特徴とする光学走査装置。
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