JP2003257365A - ショートアーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯 - Google Patents
ショートアーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯Info
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Abstract
低下が改善される長寿命の放電灯であって、発光効率が
高く、照度安定性の良いショートアーク型放電灯の電極
およびショートアーク型放電灯を提供する。 【解決手段】発光管1の内部に水銀と希ガスを封入して
用いられるショートアーク型放電灯20における前記発
光管の内部に対向して配置される陰極2と陽極3からな
る電極において、前記陰極2が高融点金属にニ酸化トリ
ウムをドーピングして形成されていると共に、その陰極
2の最表面から所定の深さまで形成した脱ニ酸化トリウ
ム層2aを有する。
Description
集積回路(IC)等の露光装置に使用されるショートア
ーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯に関
する。
て、紫外線等の光線の照射により硬化するレジン(樹
脂)を使用して、半導体基板上に希望するパターンを形
成する露光技術がある。この露光技術で使用する露光装
置には、一般にショートアーク型放電灯が使用されてい
る。その中でも、最近のICデバイスの高集積化に伴
い、放射波長が短い約365nmのi線を効率よく発生
する放電灯が主流となっている。
て早いので、IC製造には設備投資が大きく、かつ価格
競争が極めて激しい。従って、製造コストの抑制がIC
メーカーの成功には不可欠であり、IC製造工程で使用
される消耗品の1つであるショートアーク型放電灯につ
いても長寿命化によるコスト低減の要求が厳しい。
の方法としては、放電灯を構成する電極等の部品または
部材の形状変更や種々の処理が行われている。これによ
り、放電灯の照度維持率(点灯時間に対する照度低下
率)の低下抑制や、i線の発光効率を向上させて露光面
での照度を高めることにより実質的に放電灯の使用可能
時間を延長させている。
28号公報に記載されている点灯中の温度低下(放熱効
果の向上)を狙ったヒートシンク構造(表面積増加)や
特許第2601435号公報に記載されている電極表面
に炭化タンタルとタングステンの混合物からなる多孔質
層を形成する方法、または特許第2915368号公報
に記載されている微粒子状タングステン焼結層を形成す
る方法等がある。また、放電灯内のガス対流を考慮し電
極の温度分布を最適化するための電極形状の設計も近年
取り入れられている。
面の酸化膜層の除去を目的とした水素中の熱処理(還元
処理)や、電極内部のガス出しを目的とした高真空中で
の熱処理が行われている。特に高真空中での熱処理はそ
の温度がタングステンの再結晶化(結晶粒成長)の進行
に影響し、これまでは1600〜2200℃で行ってい
る。
されるショートアーク型放電灯は、i線の発光効率を高
めるために、液晶表示パネルやプリント回路基板の露光
装置等に通常使用されているショートアーク型放電灯に
比較して、放電灯の発光管内に封入される水銀量を1/
2〜1/10程度にすることが一般的に行われている。
これにより、点灯中の発光管内部圧力が低くなり、放射
輝度が低下するために、バッファガスとして封入される
希ガスの圧力を高くしてこれを補う方法がとられてい
る。例えば特開2001−135274号公報に記載さ
れているように、放電灯の発光管内に封入される希ガス
として、キセノン、クリプトンまたはアルゴン等の高分
子量の希ガスに、ヘリウムまたはネオン等の低分子量の
希ガスを体積比で約5%〜40%混合し、これら混合希
ガスの常温における圧力を2気圧以上としたショートア
ーク型放電灯が提案されている。
放電灯では長寿命化の要求に十分に応えることができな
かった。特に、特開2001―135274号公報に記
載されている放電灯においては、封入される混合希ガス
の圧力が2気圧以上となるため、放射輝度が非常に高く
なり、それに伴って電極温度も高くなる。点灯中の電極
温度はアーク近傍の電極先端部が最も高く、アーク領域
で最も放射輝度が高い位置(輝点)に位置する陰極先端
部は約2400〜2700℃にも達する。
ステン(W)に、仕事関数を下げて放電特性を良くする
ための電子放射性物質であるニ酸化トリウム(以下、T
hO 2と称する)を質量比で数%含有しているものを使
用している。したがって、陰極温度が高くなると、陰極
表面に存在するThO2が陰極表面から飛散しやすく、
陰極表面から飛散したThO2は、放電空間にて酸素
(O)が脱離する。そのため脱離した酸素(O)が陽極
先端部に達し、陽極のタングステン(W)と結合し酸化
タングステン(WO2)を形成する。この酸化タングス
テン(WO2)は、陽極のタングステン(W)の融点を
低下させ、この融点の低下が、陽極温度の高い状態にお
いて、陽極先端部をえぐれてしまうほど著しく消耗させ
ることになる。さらに、放電灯入力の高入力化に伴い、
放電灯電流が増大し、陽極消耗を促進させ、時には陽極
先端が凹凸した状態で変形し消耗するため、照度安定性
を悪化させる原因となっていた。
決すべく創案されたもので、電極の消耗が軽減され、放
電灯の照度維持率の低下が改善される長寿命の放電灯で
あって、発光効率が高く、照度安定性の良いショートア
ーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯を提
供することにある。
に、請求項1に記載の発明は、発光管の内部に水銀と希
ガスを封入して用いられるショートアーク型放電灯にお
ける前記発光管の内部に対向して配置される陰極と陽極
からなる電極において、前記陰極が高融点金属にThO
2をドーピングして形成されていると共に、その陰極の
最表面から所定の深さまで形成した脱二酸化トリウム層
(以下、脱ThO2層と称する)を有するショートアー
ク型放電灯の電極として構成したものである。
表面からのThO2の蒸発(飛散)の激しい部分のTh
O2が除去された脱ThO2層を有することにより、陰極
の電子放射性は維持した状態で、陰極温度の上昇に起因
した陰極表面からのThO2の蒸発(飛散)が減少し、
ThO2から脱離する酸素(O)が減少し、陽極におけ
るWO2の生成が抑制される。
載の発明は、前記脱ThO2層の所定の深さが50〜1
00μmであるショートアーク型放電灯の電極として構
成したものである。
面からのThO2の蒸発(飛散)の激しい部分(陰極最
表面から50μmまでの部分)のThO2が除去されて
いるので、放電灯の点灯時のThO2の蒸発(飛散)が
減少し、ThO2から脱離する酸素が減少し、陽極にお
けるWO2の生成が抑制される。また、陰極内部には電
子放射性のThO2が残存するので、陰極の放電特性は
低下しない。
載の発明は、前記脱ThO2層が、放電灯組立時の高真
空中での脱ThO2処理により形成され、その脱ThO2
処理の温度が2300〜2900℃であるショートアー
ク型放電灯の電極として構成したものである。
面からのThO2の蒸発(飛散)の激しい部分のThO2
が、放電灯の組立時の熱処理により除去されるので、放
電灯の点灯時のThO2の蒸発(飛散)が減少し、Th
O2から脱離する酸素が減少し、陽極におけるWO2の生
成が抑制される。また、陰極内部には電子放射性のTh
O2が残存するので、陰極の放電特性は低下しない。
載の発明は、発光管の内部に陰極と陽極を対向して配置
し、前記発光管の内部空間に水銀と希ガスを封入し、前
記希ガスが高分子量の希ガスに体積比で5%〜40%の
低分子量の希ガスを混合し常温における圧力を2気圧以
上としたショートアーク型放電灯において、前記陰極が
高融点金属にThO2をドーピングして形成されている
と共に、その陰極の最表面から所定の深さまで形成した
脱ThO2層を有するショートアーク型放電灯として構
成したものである。
の希ガスの圧力を2気圧以上とし、熱伝導率が高い低分
子量の希ガスを体積比で5〜40%混合することによ
り、アークにより発生するi線の発光効率が向上する。
また、放電灯の点灯時に陰極表面からのThO2の蒸発
(飛散)の激しい部分のThO2が除去された脱ThO2
層が形成されていることにより、電子放射性は維持した
状態で、陰極温度の上昇に起因した陰極表面からのTh
O2の蒸発(飛散)が減少し、ThO2から脱離する酸素
(O)が減少し、陽極におけるWO2の生成が抑制され
る。
載の発明は、前記脱ThO2層の所定の深さが50〜1
00μmであるショートアーク型放電灯として構成した
ものである。
表面からのThO2の蒸発(飛散)の激しい部分(陰極
最表面から50μmまでの部分)のThO2が除去され
ているので、放電灯の点灯時のThO2の蒸発(飛散)
が減少し、ThO2から脱離する酸素が減少し、陽極に
おけるWO2の生成が抑制される。また、陰極内部には
電子放射性のThO2が残存するので、陰極の放電特性
は低下しない。
載の発明は、前記脱ThO2層が、放電灯組立時の高真
空中での脱ThO2処理により形成され、その脱ThO2
処理の温度が2300〜2900℃であるショートアー
ク型放電灯として構成したものである。
面からのThO2の蒸発(飛散)の激しい部分のThO2
が、放電灯の組立時の熱処理により除去されるので、放
電灯の点灯時のThO2の蒸発(飛散)が減少し、Th
O2から脱離する酸素が減少し、陽極におけるWO2の生
成が抑制される。また、陰極内部には電子放射性のTh
O2が残存するので、放電特性は低下しない。
載の発明は、前記陰極と陽極の距離を一定にして対向配
置し、前記陽極の先端部に凹部を設け、その凹部が陰極
から放出される電子を受け止める点で発生する電界の強
さを近づけるように形成したショートアーク型放電灯と
して構成したものである。
端部の表面での電流密度が分散され、陰極から放出され
る電子の衝突によって弾き出される陽極構成物質の度合
いが低下する。
載の発明は、前記陰極が、その先端部を除く位置に浸炭
処理を施した浸炭部を形成したショートアーク型放電灯
として構成したものである。
2の還元が促進されると共に、ThO2の蒸発が抑制され
る。
を用いて説明する。図1(a)は本発明の好適な実施形
態であるショートアーク型放電灯(以下、放電灯と称
す)の切断側面図、(b)は放電灯の原理を説明するた
めの電極の一部を断面にした正面図、(c)は電極の正
面図、図2(a)(b)は陰極の構成を示す原理図、図
3は放電灯の陰極最表面から陰極内部の深さ方向に対す
るThO2濃度の推移を熱処理温度別に説明するグラフ
図、図4は放電灯の照度維持率の推移を説明するグラフ
図、図5は放電灯の照度維持率の推移を説明するグラフ
図である。
電灯20は、中央部が膨らんだ両端部に封止管6、7を
有する発光管1と、この発光管1内に対向して配置され
た陰極2および陽極3と、これら電極2、3を支持する
内部リード棒4、5と、外部電源(図示せず)に接続さ
れる外部リード棒10、11と、内部リード棒4、5を
外部リード棒10、11にそれぞれ電気的に接続する金
属箔8、9により構成され、封止管6、7内に内部リー
ド棒4、5、金属箔8、9、外部リード棒10、11が
封止されている。
4.5mg/ccの水銀と、高分子量の希ガスに体積比
で5〜40%の低分子量の希ガスを混合した常温におけ
る圧力を2気圧以上とした混合希ガスが封入されてい
る。高分子量の希ガスとしてキセノン、クリプトン、ア
ルゴンまたはこれらの混合ガスを使用し、低分子量の希
ガスとしてヘリウムまたはネオンまたはこれらの混合ガ
スを使用する。そして、陽極3を上にして垂直な姿勢で
点灯し、消費電力は3500Wで点灯している。
性ガラス製である。陰極2は、電子放射性物質を含む高
融点金属、例えばThO2を所定量含むタングステン製
であり、陽極3と対向する先端は鋭角に形成され、陽極
3の先端と約5.5mmの間隔L1で対向する。そし
て、陰極2の最表面から所定の深さd1まで形成した脱
ThO2層2aを有する。一方、陽極3は、高融点金
属、例えば、タングステン製であり、円柱状に形成さ
れ、陰極2と対向する直径D1約8mmの先端平坦部を
有する。
ングステンに、粉末状のトリウム(Th)を質量比約2
%添加したものを焼結させることにより作製され、放電
灯20の組立時に高真空中で熱処理することにより、そ
の陰極最表面から所定の深さd1まで脱ThO2層2a
が形成される。
1は、寿命末期の放電灯における陰極最表面から深さ方
向のThO2濃度を、あらかじめ予備実験において確認
し、ThO2の蒸発(飛散)の激しい部分として設定す
る。本発明の放電灯20においては、後記する実施例の
結果から、50〜100μmが好ましい。50μm未満
ではThO2の蒸発(飛散)の激しい部分が残り、陽極
3の消耗を抑制できない。また、100μmを超えると
必要以上のThO2が陰極2から除去されることにな
り、陰極2の放電特性が低下する。
処理条件も、各種の熱処理条件に対する陰極2のThO
2の蒸発(飛散)量を、あらかじめ予備実験において確
認し、その確認結果に基づいて設定される。具体的に
は、点灯時の陰極2の温度に近い熱処理温度で各種の熱
処理条件を設定し、各種条件で陰極2を処理して、各条
件毎に陰極最表面からの深さ方向のThO2濃度を測定
する。そして、前記予備実験から設定された所定の深さ
d1までThO2が蒸発(飛散)する条件を、陰極2の
組立時の熱処理条件として設定する。本発明の放電灯2
0においては、後記する実施例の結果から熱処理温度は
2300〜2900℃が好ましく、より好ましくは25
00〜2900℃、さらに好ましくは2700〜290
0℃で、処理時間は5〜360分が好ましい。なお、処
理時間は、前記設定熱処理温度範囲の中で高い温度で処
理する場合には処理時間は短く、または設定熱処理温度
範囲の中で低い温度で処理する場合には処理時間を長く
行う。2300℃×5分未満ではThO2の蒸発(飛
散)の激しい部分が残り、陽極3の消耗を抑制できな
い。また、2900℃×360分超えると必要以上のT
hO2が陰極2から除去されることになり、陰極2の放
電特性が低下する。
より、あらかじめ蒸発(飛散)の激しい陰極表面近傍の
ThO2が除去されるので、放電灯20の点灯時に陰極
表面から蒸発(飛散)するThO2が減少し、ThO2か
ら脱離する酸素(O)による陽極の消耗、あるいは陽極
消耗による変形が抑制される。その結果、照度維持率が
向上する。また、陰極内部には電子放射性のThO2が
残存し、このThO2が陰極の仕事関数を下げるので、
放電特性が低下せず照度安定性も良い。さらに、高分子
量の希ガスに、これよりも熱伝導率が高い低分子量の希
ガスが混合された混合希ガスが使用されることにより、
アークにより発生するi線の発光効率が向上し、露光面
での照度が高くなり発光効率が高くなり、照度安定性も
良い。
(c)に示すように、陰極2と陽極3の距離L1を一定
に対向配置し、陽極3の先端部に凹部3Aを設け、その
凹部3Aが陰極2から放出される電子を受け止める点で
発生する電界の強さを近づけるように形成すのが好まし
い。
点電荷Qと考えたときに、陽極3の先端側の電界の強さ
は次式(1)で表される。
離である。
遠いほど電界Eが強くなるという意味である。したがっ
て陽極3の凹部3Aがない場合には、陽極3の中央部は
周辺部より距離Xが短いので電界強度が弱くなる。その
ため、陽極3の中央部では、電流密度が高くなり、陽極
3の消耗が激しく、点灯時間が長くなるほど、その陽極
3の中央部がくぼんだ形になってくると考えられる。
極3の先端部に凹部3Aを設けることにより、陽極3の
中央部P0、周辺部P1の位置での距離X0、X1が等しく
なり、それぞれの電界の強さが近づき、陽極3の表面で
の電流密度が分散される。これにより、点灯中、陰極2
から放出される電子の衝突によって弾き出される陽極構
成物質の度合いが低下し、陽極3の消耗が少なくなる。
よって、放電灯の照度維持率も向上する。
とを結ぶ中心線の周りに形成した回転面で形成し、その
回転面を、円錐面、球面、楕円面、円筒面またはこれら
を2以上組み合わせたものとすることや、同一異種の回
転面形状で一方を他方よりも小さくあるいは大きくした
状態で重ねた形状の凹部として形成しても良い。この回
転面により、陰極2からの電子がその回転面に一様に入
射でき、陽極3先端部がほぼ均等に消耗する。よって、
照度維持率がさらに向上する。
(b)に示すように、陰極2は、その先端部(非処理部
B)を除く位置に浸炭処理を施して浸炭部2bを形成す
るのが好ましい。また、浸炭部2bは、陰極表面Aを表
面脱炭処理することで形成した脱炭部2cを介して陰極
表面Aから内部に入り込んだ位置に形成するのがより好
ましい。
きさに係わりなく、陰極表面Aから陰極内部に、ほぼ一
定の濃度分布で一定の厚みで形成され、また、その浸炭
部2bの深さd2が、陰極表面Aから数ミクロンから数
10ミクロンの範囲で陰極内部に向かって形成されてい
る。さらに、その浸炭部2bの深さd2、長さL2は、
陰極表面Aの不純物の付着防止できる深さ、長さであれ
ば特に限定されるものではない。なお、浸炭部2bは、
陰極6がタングステン(W)であれば、タングステンカ
ーバイド(W2C)として構成される。
理部B)は、アーク放電による温度上昇が激しい部分を
示している。先端部に浸炭処理を施さない理由は、先端
部にW2Cからなる浸炭部2bが形成されると、W2Cは
Wより融点が低いため、アーク放電による温度上昇によ
り陰極2の先端部が早期に消耗してしまうからである。
されるものではないが、例えば、つぎのような方法が挙
げられる。 (第1工程)塗布媒体の塗布及び乾燥工程 アルカリ系水硝子や、セラミックなどの焼結媒質中に黒
鉛を混入した塗布媒体を、陰極2のテーパ部Cの非処理
部Bを除く部分(処理部)に塗布した後、自然乾燥させ
る。焼結媒質として水溶液中に質量比で約10%の珪酸
カリウムが混在する水硝子を使用するのが好ましい。
の塗布媒体の不純物が除去できる適正温度、(例えば前
記の約10質量%の珪酸カリウムを含む水硝子を使用す
る場合には脱ガス処理として800℃前後の温度)で1
5分程度真空中、例えば7×10-3Pa{5×10-5T
orr}の減圧下で加熱する。また、これらの塗布媒体
に600〜1000℃の温度で5〜30分間予備加熱処
理を行うことが不純物を除去する上で好ましい。
ば1500〜1700℃の温度で、不活性ガス、例えば
アルゴン(Ar)、キセノン(Xe)中で15〜60分
焼結処理を行う。上記の約10質量%の珪酸カリウムを
含む水硝子からなる塗布媒体の場合には約1600℃で
約30分程度加熱を行うことが好ましい。
た塗布媒体の被膜が完全に焼結して固形物となる。この
固形物を例えば、ピンセット等を用いて陰極2から完全
に剥離・除去する。この操作の際に陰極2の内部に炭素
がわずかに浸炭する。
真空中で加熱する。一般にこの浸炭処理は1800〜2
300℃の温度で15〜60分、1.3×10 -2Pa
{1×10-4Torr}以下の減圧条件下で行う。例え
ば約1900℃、7×10-3Pa{5×10-5Tor
r}の減圧下で30分程度の浸炭処理を行うのが好まし
い。この浸炭処理により、炭素が確実に陰極2の内部に
拡散して浸炭して、均等な濃度分布の浸炭部2bを陰極
表面Aから内部に深さd2(約数ミクロン)入った位置
まで形成すると共に、表面の塗布媒体である水硝子を完
全に除去することができる。
浸炭処理工程の加熱時間を所定時間より長く、かつ加熱
温度をより高温で処理することにより(例えば前記約1
900℃、30分を約2000℃、60分)行われる。
この表面脱炭処理により、炭素が存在しない脱炭部2c
を陰極表面Aから距離d3(例えば2〜5μm)の間に
形成し、この脱炭部2cを介して、浸炭部2bが陰極表
面Aから距離d3だけ内側に入り込んだ位置に形成され
る。
体により前記(第1工程)〜(第5工程)の作業を繰り
返し行うことで、浸炭部2bが、陰極2の深さ方向に向
うにしたがって徐々に炭素の濃度分布が粗になるように
構成し、または炭素の濃度分布が粗、密、粗となるよう
に構成しても良い。さらに、陽極3についても前記陰極
2と同様に、その先端部を除く位置に浸炭部2bを形成
しても良い。
炭部2b(脱炭部2c含む)の形成順序は特に限定され
ないが、脱ThO2層の形成後、浸炭部2b(脱炭部2
c含む)を形成するのが好ましい。
炭部2bの位置ではThO2の還元が促進されると共
に、ThO2の蒸発が抑制され、これにより陰極2の消
耗、変形が抑制され、照度維持率が向上する。また、脱
炭部2cを形成することにより、陰極表面Aの不純物の
残留を防止し、陰極2の消耗や破損を最小限に抑え、よ
り照度維持率が向上する。さらに、浸炭部2bの炭素の
濃度分布を変えることにより、陰極2の非処理部Bと浸
炭部2bの境界線が渾然一体となるため、陰極2の強度
が増し、電気抵抗や熱伝導率の値も向上するために放電
灯の安定した使用を可能とする。
細に説明する。なお、本発明は実施例に限定されるもの
ではない。
O2層2aの所定の深さd1を設定するために、以下の
予備実験1を行った。 (予備実験1)試料として、所定の深さの脱ThO2層
を有しない従来の放電灯(基準放電灯A、放電灯A1〜
A3)を使用した。基準放電灯Aは水銀4.5mg/c
cとキセノン(Xe)を常温における圧力1.0気圧で
封入、放電灯A1〜A3は水銀4.5mg/ccとアル
ゴン(Ar)に体積比40%のネオン(Ne)を混合し
た混合希ガスを常温における圧力2.0気圧(放電灯A
1)、5.0気圧(放電灯A2)、7.0気圧(放電灯
A3)で封入し、それ以外の構成は図1(a)に示され
た本発明の放電灯20と同様とした。寿命末期(点灯7
50時間後)の前記基準放電灯A、放電灯A1〜A3を
破壊して陰極を取り出し、陰極を縦方向に切断して走査
型電子顕微鏡(SEM)により陰極最表面からの深さに
よるThO2の濃度を測定した。点灯前の陰極、未使用
の基準放電灯Aと比較した結果を表1に示す。
ガスとして本発明と同様の混合希ガスを使用した放電灯
A1〜A3においては、基準放電灯Aに比べて陰極表面
近傍のThO2の蒸発(飛散)が激しく、特に陰極最表
面から深さ50μmまでのThO2の蒸発(飛散)が激
しいことが確認された。
て、陰極2にその最表面から深さ50μmまでの脱Th
O2層2aを形成させるための高真空中での熱処理条件
を設定するために、以下の予備実験2を行った。 (予備実験2)質量比約2%のThO2を含むタングス
テンからなる陰極を、1600℃、2100℃、230
0℃、2500℃、2700℃、2900℃、3100
℃の各条件(熱処理時間60分)で高真空中(133×
10-3〜133×10-6Pa{10-3〜10-6Tor
r})で熱処理した。熱処理後に陰極を縦方向に切断し
走査型電子顕微鏡(SEM)により陰極表面層近傍のT
hO2の濃度を測定した。図3に陰極最表面層から陰極
内部の深さ方向に対するThO2の濃度を熱処理温度別
に示す。
2300℃以上にすることにより、陰極最表面層から陰
極内部の深さ50μmまでのThO2を除去できること
が確認された。
て、高真空中で熱処理された陰極(脱ThO2層を有す
る陰極)を使用した放電灯について、IC露光装置の露
光面での照度、照度安定性、照度維持率を測定した。こ
こで照度は、前記基準放電灯Aが照射した波長365n
mの紫外線の初期における照度を1としたときの照度の
比率であり、発光効率の指標となる。照度安定性につい
ては、25秒間の連続した照度測定中の照度の最高値と
最低値の差を25秒間の平均照度で除した値である。照
度維持率は、点灯時間750時間までの照度低下率であ
る。
者を高真空中(133×10-3〜133×10-6Pa
{10-3〜10-6Torr})で熱処理温度2300〜
3100℃の各条件(熱処理時間60分)で処理した放
電灯B1〜B5を使用した。発光管の内部空間には水銀
4.5mg/ccと混合希ガスを封入した。封入した混
合希ガスは高分子量の希ガスをアルゴン(Ar)とし、
低分子量の希ガスとしてネオン(Ne)を体積比で40
%混合し、常温での封入圧力を5気圧とした。基準放電
灯Bは、陰極、陽極の両者を熱処理温度2100℃で処
理し、封入する水銀と混合希ガスは放電灯B1〜B5と
同様とした。また、放電灯B1〜B5、基準放電灯Bは
陽極先端部の凹部は設けず、前記以外の構成については
図1に示された本発明の放電灯20と同様とした。表2
に放電灯の照度、照度安定性の測定結果を示し、図4に
照度維持率の測定結果を示す。
理温度を2300〜2900℃に上げた放電灯B1〜B
4の照度は、基準放電灯Bとは同等であった。また、放
電灯B1〜B4の照度安定性は基準放電灯Bより良かっ
た。しかし、熱処理温度を3100℃に上げた放電灯B
5は基準放電灯Bと照度は同等だったが、照度安定性が
悪化した。この原因としては、熱処理温度を3100℃
まで上げてしまうと、陰極最表面から必要以上のThO
2を除去してしまうために、陰極の電子放射性が低下し
て照度安定性が悪化したと考えられる。
維持率は基準放電灯Bに比べ、放電灯B1〜B4が約3
〜5%の向上を示し、照度安定性が悪化した放電灯B5
は寿命に関しては放電灯B1〜B4と同等の向上が見ら
れた。
の熱処理温度は2300〜2900℃が良いことが確認
された。また、この熱処理により脱ThO2層2aの所
定の深さd1は、図3より50〜100μmになること
が確認された。
すように陽極3の先端部に凹部3Aを設けた放電灯C1
〜C4を使用した。陽極3の先端平坦部直径D1を8m
m、凹部3Aの直径D2を6mm、凹部3Aの深さHを
1mm、電極間距離L1を5.5mmとした。前記以外
の構成については前記放電灯B1〜B4と同様である。
表3に照度、照度安定性の測定結果、図5に照度維持率
の測定結果を示す。その結果、放電灯C1〜C4は、基
準放電灯Bに対し、照度が高く、照度安定性が良かっ
た。また、照度維持率は約16%向上した。
アーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯
は、希ガスが常温における圧力2気圧以上で封入された
ショートアーク型放電灯において、陰極が高融点金属に
ThO2をドーピングして形成されていると共に、その
陰極最表面から所定の深さまで形成した脱ThO2層を
有し、また、その脱ThO2層の所定の深さが50〜1
00μmであり、放電灯の組立時に高真空中で2300
〜2900℃の熱処理により形成されることにより、陽
極の消耗、変形が抑制され、放電灯の照度維持率の低下
が改善される。また、放電灯の発光効率も高く、照度安
定性も良くなる。
は、希ガスが常温における圧力2気圧以上で封入され、
陽極の先端部に凹部を設け、その凹部が陰極から放出さ
れる電子を受け止める点で発生する電界の強さを近づけ
るように形成したことにより、さらに陽極の消耗、変形
が抑制され、放電灯の照度維持率の低下が改善される。
また、放電灯の発光効率も高く、照度安定性も良くな
る。
は、希ガスが常温における圧力2気圧以上で封入され、
陰極が、その先端部を除く位置に浸炭部を形成したこと
により、さらに陽極の消耗、変形が抑制され、放電灯の
照度維持率の低下が改善される。また、放電灯の発光効
率も高く、照度安定性も良くなる。
トアーク型放電灯の切断側面図、(b)は放電灯の原理
を説明するための電極の一部を断面にした正面図、
(c)は電極の正面図である。
である。
対するThO2濃度の推移を熱処理温度別に説明するグ
ラフ図である。
グラフ図である。
グラフ図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 発光管の内部に水銀と希ガスを封入して
用いられるショートアーク型放電灯における前記発光管
の内部に対向して配置される陰極と陽極からなる電極に
おいて、 前記陰極が高融点金属にニ酸化トリウムをドーピングし
て形成されていると共に、その陰極の最表面から所定の
深さまで形成した脱ニ酸化トリウム層を有することを特
徴とするショートアーク型放電灯の電極。 - 【請求項2】 前記脱ニ酸化トリウム層の所定の深さが
50〜100μmであることを特徴とする請求項1に記
載のショートアーク型放電灯の電極。 - 【請求項3】 前記脱ニ酸化トリウム層が、放電灯組立
時の高真空中での脱二酸化トリウム処理により形成さ
れ、その脱二酸化トリウム処理の温度が2300〜29
00℃であることを特徴とする請求項1または2に記載
のショートアーク型放電灯の電極。 - 【請求項4】 発光管の内部に陰極と陽極を対向して配
置し、前記発光管の内部空間に水銀と希ガスを封入し、
前記希ガスが高分子量の希ガスに体積比で5%〜40%
の低分子量の希ガスを混合し常温における圧力を2気圧
以上としたショートアーク型放電灯において、 前記陰極が高融点金属にニ酸化トリウムをドーピングし
て形成されていると共に、その陰極の最表面から所定の
深さまで形成した脱ニ酸化トリウム層を有することを特
徴とするショートアーク型放電灯。 - 【請求項5】 前記脱ニ酸化トリウム層の所定の深さが
50〜100μmであることを特徴とする請求項4に記
載のショートアーク型放電灯。 - 【請求項6】 前記脱ニ酸化トリウム層が、放電灯組立
時の高真空中での脱二酸化トリウム処理により形成さ
れ、その脱二酸化トリウム処理の温度が2300〜29
00℃であることを特徴とする請求項4または5に記載
のショートアーク型放電灯。 - 【請求項7】 前記陰極と陽極の距離を一定にして対向
配置し、前記陽極の先端部に凹部を設け、その凹部が陰
極から放出される電子を受け止める点で発生する電界の
強さを近づけるように形成したことを特徴とする請求項
4ないし6のいずれか一項に記載のショートアーク型放
電灯。 - 【請求項8】 前記陰極が、その陰極の先端部を除く位
置に浸炭処理により形成した浸炭部を有することを特徴
とする請求項4ないし6のいずれか一項に記載のショー
トアーク型放電灯。
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JP2002060990A JP4132879B2 (ja) | 2002-03-06 | 2002-03-06 | ショートアーク型放電灯の電極およびショートアーク型放電灯 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005091335A1 (ja) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 放射体および当該放射体を備えた装置 |
WO2006040872A1 (ja) * | 2004-10-14 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | エネルギー変換装置 |
JP2010153292A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Ushio Inc | 放電ランプ |
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DE102010044259A1 (de) | 2009-09-15 | 2011-06-09 | Ushio Denki K.K. | Kurzbogen-Entladungslampe |
-
2002
- 2002-03-06 JP JP2002060990A patent/JP4132879B2/ja not_active Expired - Lifetime
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