JP2003249495A - 層間絶縁膜製造用塗布組成物 - Google Patents

層間絶縁膜製造用塗布組成物

Info

Publication number
JP2003249495A
JP2003249495A JP2002050160A JP2002050160A JP2003249495A JP 2003249495 A JP2003249495 A JP 2003249495A JP 2002050160 A JP2002050160 A JP 2002050160A JP 2002050160 A JP2002050160 A JP 2002050160A JP 2003249495 A JP2003249495 A JP 2003249495A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silane
coating composition
alkoxysilane
propoxy
acid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002050160A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayoshi O
王  正宝
Hiroyuki Hanabatake
博之 花畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Original Assignee
Asahi Kasei Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Corp filed Critical Asahi Kasei Corp
Priority to JP2002050160A priority Critical patent/JP2003249495A/ja
Publication of JP2003249495A publication Critical patent/JP2003249495A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体素子の銅配線工程におけるCMP工程
に十分耐える高いヤングモジュラスと、低い比誘電率
と、高いブレークダウン電圧を同時に達成する層間絶縁
膜製造用の塗布組成物の提供。 【解決手段】 (A)特定のアルコキシシランおよびそ
の加水分解物、重縮合物から選ばれる少なくとも1種以
上の化合物からなるシリカ前駆体と、(B)有機溶媒と
を含有し、特定の金属の含有量の合計が最大でも1pp
mである結晶化指数が0.14〜0.63の層間絶縁膜
製造用塗布組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜の比誘電率が
十分に低くかつブレークダウン電圧も高く、さらに機械
的強度が極めて高くCMP(化学機械研磨)耐性が十分
な絶縁性薄膜を提供することが可能な塗布組成物に関す
る。
【0002】
【従来の技術】LSIをはじめとする半導体素子の多層
配線構造体用の絶縁薄膜素材としては、従来緻密なシリ
カ膜が一般的に用いられてきた。しかし近年、LSIの
配線密度は微細化の一途をたどっており、これに伴って
基板上の隣接する配線間の距離が狭まっている。このと
き、絶縁体の誘電率が高いと配線間の静電容量が増大
し、その結果配線を通じて伝達される電気信号の遅延が
顕著となるため、問題となっている。このような問題を
解決するため、多層配線構造体用の層間絶縁膜の素材と
して、誘電率のより低い物質が強く求められている。
【0003】一方、配線材料として、従来のアルミニウ
ムに代わって、より低抵抗な銅が使われはじめ、それに
伴い配線工程が変更になった。その結果、銅配線化工程
の一部で半導体素子の表面を平坦化するCMP(化学機
械研磨)工程において、層間絶縁膜にはその工程に十分
に耐えるだけの機械強度が要求されるようになった。こ
のような状況下で低誘電率絶縁膜に関して有機・無機の
多くの材料が開発されつつある。比誘電率(k)として
2.5以下を得るためには多孔質性を取り入れることが
必須であり、さらに純有機材料に対して珪素系結合を含
有した方が機械的・熱的強度を得やすいことから、多孔
質有機シリカが有望な素材として注目されている。しか
し、現段階では、比誘電率が2.3近辺でそのヤングモ
ジュラスが6GPaを超えるような多孔性薄膜を得るの
は困難な状況である。
【0004】また、テトラプロピルアンモニウムハイド
ロオキサイドの存在下に、4官能性のアルコキシシラン
を縮合して得られるシリカゼオライトからなる組成物を
用いて、低誘電率と高ヤングモジュラスを兼備する薄膜
を得る方法(Adv.Mater.2001、13、N
o.10、746ページおよびAdv.Mater.2
001、13、No.19、1463ページ)が提案さ
れているが、得られた材料が親水性で比誘電率が経時的
に上昇してしまうので、疎水化の後処理が必要とされ
る。しかしながら、後処理は一般的に十分でない場合が
多く、比誘電率が安定しないという問題があった。
【0005】さらにテトラプロピルアンモニウムハイド
ロオキサイドには合成段階でKやNaはじめFeやZn
などが混入するため、これらの精製除去なしに製造した
薄膜を用いて配線構造体とすると通電時にブレークダウ
ン電圧(薄膜中を電流が流れはじめる最大電圧)が低く
なってしまい、層間絶縁膜としての機能が十分でなかっ
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、半導体素子
の銅配線工程におけるCMP工程に十分耐える高いヤン
グモジュラスと、低い比誘電率と、高いブレークダウン
電圧を同時に達成する層間絶縁膜製造用の塗布組成物を
提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決すべ
く、鋭意検討を重ねた結果、特定構造のアルコキシシラ
ンとその加水分解物、重縮合物から選ばれる少なくとも
一種以上の化合物からなるシリカ前駆体と、有機溶媒を
含む組成物であって、かつ、組成物の結晶化指数が0.
14〜0.63、かつ、特定の金属の含有量を最大でも
1ppm以下とすることによって、上記課題が解決され
ることを見出し、本発明を完成した。
【0008】本発明の上記およびその他の諸目的、諸特
性ならびに諸利益は、以下に述べる詳細な説明および請
求範囲の記載から明らかになる。本発明の層間絶縁膜製
造用塗布組成物(以下、塗布組成物と称する)は特定の
アルコキシシランおよびその加水分解物、重縮合物から
選ばれる化合物を少なくとも含有し、さらに特定構造の
4官能性アルコキシシランの縮合物を特定量含有するこ
とを特徴とする。
【0009】ここで、4官能性のアルコキシシランとは
先記した一般式(1)で表されるアルコキシシランにお
いて、Si(OR24の構造を持つものを言う。尚、本
発明では一般式(1)でnが1の場合、即ちR1(S
i)(OR23を3官能性のアルコキシシラン、nが2
の場合、即ち R1 2(Si)(OR22を2官能性のア
ルコキシシラン、nが3の場合、即ちR1 3(Si)(O
2)を1官能性のアルコキシシランとする。
【0010】さらに、一般式(2)で表されるアルコキ
シシランにおいては、たとえばm=q=1でR3(R
4O)2Si−(R7p−Si(OR526の化合物を
4官能性のアルコキシシラン、m=0、q=1またはm
=1、q=0で、(R4O)3Si−(R7p−Si(O
526の化合物を5官能性のアルコキシシラン、m
=q=0で(R4O)3Si−(R7p−Si(OR53
の化合物を6官能性のアルコキシシランとし、一般式
(2)でm=q=2、すなわちR3 2(R4O)Si−
(R7p−Si(OR5)R6 2を2官能性のアルコキシ
シラン、m=2、q=1またはm=1、q=2で、R3 2
(R4O)Si−(R7p−Si(OR526の化合物
を3官能性のアルコキシシランとする。
【0011】以下に、本発明の塗布組成物を構成するシ
リカ前駆体について詳説する。先ず、特定構造の4官能
性アルコキシシランの縮合物について説明する。特定構
造の4官能性アルコキシシランは上記一般式(1)で表
されるアルコキシシランのうち4官能性のものから選ば
れる。具体的にはテトラメトキシシラン、テトラエトキ
シシラン、テトラ(n−プロポキシ)シラン、テトラ
(i−プロポキシ)シラン、テトラ(n−ブトキシ)シ
ラン、テトラ-sec-ブトキシシラン、テトラ-ter
t-ブトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエ
トキシシラン、テトラ-n-プロポキシシラン、テトラ-
iso-プロポキシシラン、テトラ-n-ブトキシシラ
ン、テトラ-sec-ブトキシシラン、テトラ-tert-
ブトキシシランなどである。
【0012】本発明では、上記の4官能性アルコキシシ
ランの縮合物を塗布組成物中に含有することを特徴とし
ている。縮合物とはアルコキシシランが完全に縮合した
ものであり、一般にシリカゼオライトと称されるもので
ある。本発明で用いるシリカゼオライトは結晶微粒子で
あり、その慣性半径は通常1nm〜1000nm、好ま
しくは1nm〜100nm、より好ましくは3nm〜1
00nmである。粒子径が1000nmを超えると、薄
膜強度が低下するので好ましくない。
【0013】本発明のシリカ前駆体は上記シリカゼオラ
イトに用いたアルコキシシラン以外の特定のアルコキシ
シランおよびその加水分解物、重縮合物から選ばれる化
合物を含有するが、シリカゼオライトに用いたアルコキ
シシランおよびその加水分解物が一部含有されていても
かまわない。以下に、本発明のシリカ前駆体の上記シリ
カゼオライトに用いたアルコキシシラン以外に用いるこ
とのできるアルコキシシランについて具体的に例示す
る。
【0014】尚、上記のアルコキシシランは一般式
(1)および/または(2)に記載の化合物中、珪素原
子に少なくとも1個の1価の有機基を直接珪素原子に結
合した構造を有することを特徴とする。まず一般式
(1)で表されるアルコキシシランのうち、まず3官能
性のアルコキシシランが挙げられる。具体的にはトリメ
トキシシラン、トリエトキシシラン、メチルトリメトキ
シシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメト
キシシラン、エチルトリエトキシシラン、プロピルトリ
メトキシシラン、プロピルトリエトキシシラン、イソブ
チルトリエトキシシラン、シクロヘキシルトリメトキシ
シラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエ
トキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリ
エトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、アリルト
リエトキシシラン、メチルトリ-n-プロポキシシラン、
メチルトリ-iso-プロポキシシラン、メチルトリ-n-
ブトキシシラン、メチルトリ-sec-ブトキシシラン、
メチルトリ-tert-ブトキシシラン、エチルトリ-n-
プロポキシシラン、エチルトリ-iso-プロポキシシラ
ン、エチルトリ-n-ブトキシシラン、エチルトリ-se
c-ブトキシシラン、エチルトリ-tert-ブトキシシ
ラン、n-プロピルトリ-n-プロポキシシラン、n-プロ
ピルトリ-iso-プロポキシシラン、n-プロピルトリ-
n-ブトキシシラン、n-プロピルトリ-sec-ブトキシ
シラン、n-プロピルトリ-tert-ブトキシシラン、
i-プロピルトリメトキシシラン、i-プロピルトリエト
キシシラン、i-プロピルトリ-n-プロポキシシラン、
i-プロピルトリ-iso-プロポキシシラン、i-プロピ
ルトリ-n-ブトキシシラン、i-プロピルトリ-sec-
ブトキシシラン、i-プロピルトリ-tert-ブトキシ
シラン、n-ブチルトリメトキシシラン、n-ブチルトリ
エトキシシラン、n-ブチルトリ-n-プロポキシシラ
ン、n-ブチルトリ-iso-プロポキシシラン、n-ブチ
ルトリ-n-ブトキシシラン、n-ブチルトリ-sec-ブ
トキシシラン、n-ブチルトリ-tert-ブトキシシラ
ン、n-ブチルトリフェノキシシラン、sec-ブチルト
リメトキシシラン、sec-ブチル-トリ-n-プロポキシ
シラン、sec-ブチル-トリ-iso-プロポキシシラ
ン、sec-ブチル-トリ-n-ブトキシシラン、sec-
ブチル-トリ-sec-ブトキシシラン、sec-ブチル-
トリ-tert-ブトキシシラン、t-ブチルトリメトキ
シシラン、t-ブチルトリエトキシシラン、t-ブチルト
リ-n-プロポキシシラン、t-ブチルトリ-iso-プロ
ポキシシラン、t-ブチルトリ-n-ブトキシシラン、t-
ブチルトリ-sec-ブトキシシラン、t-ブチルトリ-t
ert-ブトキシシラン、フェニルトリ-n-プロポキシ
シラン、フェニルトリ-iso-プロポキシシラン、フェ
ニルトリ-n-ブトキシシラン、フェニルトリ-sec-ブ
トキシシラン、フェニルトリ-tert-ブトキシシラン
などが挙げられる。
【0015】アルコキシシラン類の部分加水分解物を原
料としてもよい。次に一般式(1)の2官能性のアルコ
キシシランの具体的な例として、ジメチルジメトキシシ
ラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルジ(n−プ
ロポキシ)シラン、ジメチルジ(i−プロポキシ)シラ
ン、ジメチルジ(n−ブトキシ)シラン、ジメチルジ
(sec-ブトキシ)シラン、ジメチルジ(tert-ブ
トキシシラン)、ジエチルジメトキシシラン、ジエチル
ジエトキシシラン、ジエチルジ(n−プロポキシ)シラ
ン、ジエチルジ(i−プロポキシ)シラン、ジエチルジ
(n−ブトキシ)シラン、ジエチルジ(sec-ブトキ
シ)シラン、ジエチルジ(tert-ブトキシシラ
ン)、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエト
キシシラン、ジフェニルジ(n−プロポキシ)シラン、
ジフェニルジ(i−プロポキシ)シラン、ジフェニルジ
(n−ブトキシ)シラン、ジフェニルジ(sec-ブト
キシ)シラン、ジフェニルジ(tert-ブトキシシラ
ン)、メチルエチルジメトキシシラン、メチルエチルジ
エトキシシラン、メチルエチルジ(n−プロポキシ)シ
ラン、メチルエチルジ(i−プロポキシ)シラン、メチ
ルエチルジ(n−ブトキシ)シラン、メチルエチルジ
(sec-ブトキシ)シラン、メチルエチルジ(ter
t-ブトキシシラン)、メチルプロピルジメトキシシラ
ン、メチルプロピルジエトキシシラン、メチルプロピジ
(n−プロポキシ)シラン、メチルプロピルジ(i−プ
ロポキシ)シラン、メチルプロピルジ(n−ブトキシ)
シラン、メチルプロピルジ(sec-ブトキシ)シラ
ン、メチルプロピルジ(tert-ブトキシシラン)、
メチルフェニルジメトキシシラン、メチルフェニルジエ
トキシシラン、メチルフェニルジ(n−プロポキシ)シ
ラン、メチルフェニルジ(i−プロポキシ)シラン、メ
チルフェニルジ(n−ブトキシ)シラン、メチルフェニ
ルジ(sec-ブトキシ)シラン、メチルフェイルジ
(tert-ブトキシシラン)、エチルフェニルジメト
キシシラン、エチルフェニルジエトキシシラン、エチル
フェニルジ(n−プロポキシ)シラン、エチルフェニル
ジ(i−プロポキシ)シラン、エチルフェニルジ(n−
ブトキシ)シラン、エチルフェニルジ(sec-ブトキ
シ)シラン、エチルフェニルジ(tert-ブトキシシ
ラン)、などのケイ素原子上に2個のアルキル基または
アリール基が結合したアルキルシランなどがあげられ
る。
【0016】また、メチルビニルジメトキシシラン、メ
チルビニルジエトキシシラン、メチルビニルジ(n−プ
ロポキシ)シラン、メチルビニルジ(i−プロポキシ)
シラン、メチルビニルジ(n−ブトキシ)シラン、メチ
ルビニルジ(sec-ブトキシ)シラン、メチルビニル
ジ(tert-ブトキシシラン)、ジビニルジメトキシ
シラン、ジビニルジエトキシシラン、ジビニルジ(n−
プロポキシ)シラン、ジビニルジ(i−プロポキシ)シ
ラン、ジビニルジ(n−ブトキシ)シラン、ジビニルジ
(sec-ブトキシ)シラン、ジビニルジ(tert-ブ
トキシシラン)、などケイ素原子上に1ないし2個のビ
ニル基が結合したアルキルシランなども好適である。
【0017】一般式(1)で表される1官能性のアルコ
キシシランの具体例として、トリメチルメトキシシラ
ン、トリメチルエトキシシラン、トリメチル(n−プロ
ポキシ)シラン、トリメチル(i−プロポキシ)シラ
ン、トリメチル(n−ブトキシ)シラン、トリメチル
(sec-ブトキシ)シラン、トリメチル(tert-ブ
トキシシラン)、トリエチルメトキシシラン、トリエチ
ルエトキシシラン、トリエチル(n−プロポキシ)シラ
ン、トリエチル(i−プロポキシ)シラン、トリエチル
(n−ブトキシ)シラン、トリエチル(sec-ブトキ
シ)シラン、トリエチル(tert-ブトキシシラ
ン)、トリプロピルメトキシシラン、トリプロピルエト
キシシラン、トリプロピル(n−プロポキシ)シラン、
トリプロピル(i−プロポキシ)シラン、トリプロピル
(n−ブトキシ)シラン、トリプロピル(sec-ブト
キシ)シラン、トリプロピル(tert-ブトキシシラ
ン)、トリフェニルメトキシシラン、トリフェニルエト
キシシラン、トリフェニル(n−プロポキシ)シラン、
トリフェニル(i−プロポキシ)シラン、トリフェニル
(n−ブトキシ)シラン、トリフェニル(sec-ブト
キシ)シラン、トリフェニル(tert-ブトキシシラ
ン)、メチルジエチルメトキシシラン、メチルジエチル
エトキシシラン、メチルジエチル(n−プロポキシ)シ
ラン、メチルジエチル(i−プロポキシ)シラン、メチ
ルジエチル(n−ブトキシ)シラン、メチルジエチル
(sec-ブトキシ)シラン、メチルジエチル(ter
t-ブトキシシラン)、メチルジプロピルメトキシシラ
ン、メチルジプロピルエトキシシラン、メチルジプロピ
ル(n−プロポキシ)シラン、メチルジプロピル(i−
プロポキシ)シラン、メチルジプロピル(n−ブトキ
シ)シラン、メチルジプロピル(sec-ブトキシ)シ
ラン、メチルジプロピル(tert-ブトキシシラ
ン)、メチルジフェニルメトキシシラン、メチルジフェ
ニルエトキシシラン、メチルジフェニル(n−プロポキ
シ)シラン、メチルジフェニル(i−プロポキシ)シラ
ン、メチルジフェニル(n−ブトキシ)シラン、メチル
ジフェニル(sec-ブトキシ)シラン、メチルジフェ
ニル(tert-ブトキシシラン)、エチルジメチルメ
トキシシラン、エチルジメチルエトキシシラン、エチル
ジメチル(n−プロポキシ)シラン、エチルジメチル
(i−プロポキシ)シラン、エチルジメチル(n−ブト
キシ)シラン、エチルジメチル(sec-ブトキシ)シ
ラン、エチルジメチル(tert-ブトキシシラン)、
エチルジプロピルメトキシシラン、エチルジプロピルエ
トキシシラン、エチルジプロピル(n−プロポキシ)シ
ラン、エチルジプロピル(i−プロポキシ)シラン、エ
チルジプロピル(n−ブトキシ)シラン、エチルジプロ
ピル(sec-ブトキシ)シラン、エチルジプロピル
(tert-ブトキシシラン)、エチルジフェニルメト
キシシラン、エチルジフェニルエトキシシラン、エチル
ジフェニル(n−プロポキシ)シラン、エチルジフェニ
ル(i−プロポキシ)シラン、エチルジフェニル(n−
ブトキシ)シラン、エチルジフェニル(sec-ブトキ
シ)シラン、エチルジフェニル(tert-ブトキシシ
ラン)、プロピルジメチルメトキシシラン、プロピルジ
メチルエトキシシラン、プロピルジメチル(n−プロポ
キシ)シラン、プロピルジメチル(i−プロポキシ)シ
ラン、プロピルジメチル(n−ブトキシ)シラン、プロ
ピルジメチル(sec-ブトキシ)シラン、プロピルジ
メチル(tert-ブトキシシラン)、プロピルジエチ
ルメトキシシラン、プロピルジエチルエトキシシラン、
プロピルジエチル(n−プロポキシ)シラン、プロピル
ジエチル(i−プロポキシ)シラン、プロピルジエチル
(n−ブトキシ)シラン、プロピルジエチル(sec-
ブトキシ)シラン、プロピルジエチル(tert-ブト
キシシラン)、プロピルジフェニルメトキシシラン、プ
ロピルジフェニルエトキシシラン、プロピルジフェニル
(n−プロポキシ)シラン、プロピルジフェニル(i−
プロポキシ)シラン、プロピルジフェニル(n−ブトキ
シ)シラン、プロピルジフェニル(sec-ブトキシ)
シラン、プロピルジフェニル(tert-ブトキシシラ
ン)フェニルジメチルメトキシシラン、フェニルジメチ
ルエトキシシラン、フェニルジメチル(n−プロポキ
シ)シラン、フェニルジメチル(i−プロポキシ)シラ
ン、フェニルジメチル(n−ブトキシ)シラン、フェニ
ルジメチル(sec-ブトキシ)シラン、フェニルジメ
チル(tert-ブトキシシラン)、フェニルジエチル
メトキシシラン、フェニルジエチルエトキシシラン、フ
ェニルジエチル(n−プロポキシ)シラン、フェニルジ
エチル(i−プロポキシ)シラン、フェニルジエチル
(n−ブトキシ)シラン、フェニルジエチル(sec-
ブトキシ)シラン、フェニルジエチル(tert-ブト
キシシラン)、フェニルジプロピルメトキシシラン、フ
ェニルジプロピルエトキシシラン、フェニルジプロピル
(n−プロポキシ)シラン、フェニルジプロピル(i−
プロポキシ)シラン、フェニルジプロピル(n−ブトキ
シ)シラン、フェニルジプロピル(sec-ブトキシ)
シラン、フェニルジプロピル(tert-ブトキシシラ
ン)などが挙げられる。
【0018】また、ケイ素原子上に1〜3個のビニル基
が結合したアルキルシランなども好適である。具体的に
は、トリビニルメトキシシラン、トリビニルエトキシシ
ラン、トリビニル(n−プロポキシ)シラン、トリビニ
ル(i−プロポキシ)シラン、トリビニル(n−ブトキ
シ)シラン、トリビニル(sec-ブトキシ)シラン、
トリビニル(tert-ブトキシシラン)、ビニルジメ
チルメトキシシラン、ビニルジメチルエトキシシラン、
ビニルジメチル(n−プロポキシ)シラン、ビニルジメ
チル(i−プロポキシ)シラン、ビニルジメチル(n−
ブトキシ)シラン、ビニルジメチル(sec-ブトキ
シ)シラン、ビニルジメチル(tert-ブトキシシラ
ン)、ビニルジエチルメトキシシラン、ビニルジエチル
エトキシシラン、ビニルジエチル(n−プロポキシ)シ
ラン、ビニルジエチル(i−プロポキシ)シラン、ビニ
ルジエチル(n−ブトキシ)シラン、ビニルジエチル
(sec-ブトキシ)シラン、ビニルジエチル(ter
t-ブトキシシラン)、ビニルジプロピルメトキシシラ
ン、ビニルジプロピルエトキシシラン、ビニルジプロピ
ル(n−プロポキシ)シラン、ビニルジプロピル(i−
プロポキシ)シラン、ビニルジプロピル(n−ブトキ
シ)シラン、ビニルジプロピル(sec-ブトキシ)シ
ラン、ビニルジプロピル(tert-ブトキシシラン)
などが挙げられる。
【0019】次に本発明において用いることができる一
般式(2)で表されるアルコキシシラン等は、その出発
原料であるアルコキシシランが6、5、4、3および2
官能性のものである。一般式(2)で表されるアルコキ
シシランのうち、R7が−(CH2n−の化合物で6、
4および2官能性のアルコキシシランの具体例として、
6官能性のアルコキシランの例としてビス(トリメトキ
シシリル)メタン、ビス(トリエトキシシリル)メタ
ン、ビス(トリフェノキシシリル)メタン、ビス(トリ
メトキシシリル)エタン、ビス(トリエトキシシリル)
エタン、ビス(トリフェノキシシリル)エタン、1,3
-ビス(トリメトキシシリル)プロパン、 1,3-ビス
(トリエトキシシリル)プロパン、1,3-ビス(トリ
フェノキシシリル)プロパン、1,4−ビス(トリメト
キシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリエトキシシ
リル)ベンゼン。
【0020】5官能性のアルコキシシランとして、1-
(ジメトキシメチルシリル)-1-(トリメトキシシリ
ル)メタン、1-(ジエトキシメチルシリル)-1-(ト
リエトキシシリル)メタン、1-(ジ-n-プロポキシメ
チルシリル)-1-(トリ-n-プロポキシシリル)メタ
ン、1-(ジ-i-プロポキシメチルシリル)-1-(トリ-
i-プロポキシシリル)メタン、 1-(ジ-n-ブトキシ
メチルシリル)-1-(トリ-n-ブトキシシリル)メタ
ン、1-(ジ-sec-ブトキシメチルシリル)-1-(ト
リ-sec-ブトキシシリル)メタン、1-(ジ-t-ブト
キシメチルシリル)-1-(トリ-t-ブトキシシリル)メ
タン、1-(ジメトキシメチルシリル)-2-(トリメト
キシシリル)エタン、1-(ジエトキシメチルシリル)-
2-(トリエトキシシリル)エタン、1-(ジ-n-プロポ
キシメ チルシリル)-2-(トリ-n-プロポキシシリ
ル)エタン、1-(ジ-i-プロポキシメチルシリル)-2
-(トリ-i-プロポキシシリル)エタン、1-(ジ-n-ブ
トキシメチルシリル)-2-(トリ-n-ブトキシシリル)
エタン、1-(ジ-sec-ブトキシメチルシリル)-2-
(トリ-sec-ブトキシシリル)エタン、1-(ジ-t-
ブトキシメチルシリル)-2-(ト リ-t-ブトキシシリ
ル)エタンなどが挙げられる。
【0021】4官能性のアルコキシシランの例としてビ
ス(ジメトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキ
シメチルシリル)メタン、ビス(ジメトキシフェニルシ
リル)メタン、ビス(ジエトキシフェニルシリル)メタ
ン、ビス(ジメトキシメチルシリル)エタン、ビス(ジ
エトキシメチルシリル)エタン、ビス(ジメトキシフェ
ニルシリル)エタン、ビス(ジエトキシフェニルシリ
ル)エタン、1,3-ビス(ジメトキシメチルシリル)
プロパン、1,3-ビス(ジエトキシメチルシリル)プ
ロパン、1,3-ビス(ジメトキシフェニルシリル)プ
ロパン、1,3-ビス(ジエトキシフェニルシリル)プ
ロパンなどが挙げられる。
【0022】3官能性のアルコキシシランとして、1-
(ジメトキシメチルシリル)-1-(メトキシジメチルシ
リル)メタン、1-(ジエトキシメチルシリル)-1-
(エトキシジメチルシリル)メタン、1-(ジ-n-プロ
ポキシメチルシリル)-1-(n-プロポキジメチルシリ
ル)メタン、1-(ジ-i-プロポキシメチルシリル)-1
-(i-プロポキシジメチルシリル)メタン、 1-(ジ-
n-ブトキシメチルシリル)-1-(n-ブトキシジメチル
シリル)メタン、1-(ジ-sec-ブトキシメチルシリ
ル)-1-(sec-ブトキシジメチルシリル)メタン、
1-(ジ-t-ブトキシメチルシリル)-1-(t-ブトキシ
ジメチルシリル)メタン、1-(ジメトキシメチルシリ
ル)-2-(メトキシジメチルシリル)エタン、1-(ジ
エトキシメチルシリル)-2-(エトキシジメチルシリ
ル)エタン、1-(ジ-n-プロポキシメ チルシリル)-
2-(n-プロポキシジメチルシリル)エタン、1-(ジ-
i-プロポキシメチルシリル)-2-(i-プロポキシジメ
チルシリル)エタン、1-(ジ-n-ブトキシメチルシリ
ル)-2-(n-ブトキシジメチルシリル)エタン、1-
(ジ-sec-ブトキシメチルシリル)-2-(sec-ブ
トキシジメチルシリル)エタン、1-(ジ-t-ブトキシ
メチルシリル)-2-(t-ブトキシジメチルシリル)エ
タンなどが挙げられる。
【0023】2官能性のアルコキシシランの具体例とし
て、ビス(メトキシジメチルシリル)メタン、ビス(エ
トキシジメチルシリル)メタン、ビス(メトキシジフェ
ニルシリル)メタン、ビス(エトキシジフェニルシリ
ル)メタン、ビス(メトキシジメチルシリル)エタン、
ビス(エトキシジメチルシリル)エタン、ビス(メトキ
シジフェニルシリル)エタン、ビス(エトキシジフェニ
ルシリル)エタン、1,3-ビス(メトキシジメチルシ
リル)プロパン、1,3-ビス (エトキシジメチルシリ
ル)プロパン、1,3-ビス (メトキシジフェニルシリ
ル)プロパン、1,3-ビス (エトキシジフェニルシリ
ル)プロパンなどが挙げられる。
【0024】一般式(2)でR7が酸素原子の化合物で
6官能性のアルコキシシランとしてはヘキサメトキシジ
シロキサン、ヘキサエトキシジシロキサン、ヘキサフェ
ノキシジシロキサン、1,1,1,3,3-ペンタメト
キシ-3-メチルジシロキサン、5官能性のアルコキシシ
ランとして1,1,1,3,3-ペンタエトキシ-3-メ
チルジシロキサン、1,1,1,3,3-ペンタメトキ
シ-3-フェニルジシロキサン、1,1,1,3,3-ペ
ンタエトキシ-3-フェニルジシロキサン、4官能性のア
ルコキシシランとして1,1,3,3-テトラメトキシ-
1,3-ジメチルジシロキサン、 1,1,3,3-テト
ラエトキシ-1,3-ジメチルジ シロキサン、1,1,
3,3-テトラメトキシ-1,3 -ジフェニルジシロキサ
ン、1,1,3,3-テトラエ トキシ-1,3-ジフェニ
ルジシロキサン、3官能性のアルコキシシランとして
1,1,3 -トリメトキシ-1,3,3-トリメチルジシ
ロキサ ン、1,1,3-トリエトキシ-1,3,3-トリ
メチルジシロキサン、1,1,3-トリメトキシ-1,
3,3-トリフェニルジシロキサン、1,1,3-トリエ
トキシ-1,3,3-トリフェニルジシロキサン、2官能
性のアルコキシシランとして1,3-ジメトキシ-1,
1,3,3-テトラメチルジシロキ サン、1,3-ジエ
トキシ-1,1,3,3-テトラメ チルジシロキサン、
1,3-ジメトキシ-1,1,3,3-テトラフェニルジ
シロキサン、1,3-ジエトキシ-1,1,3,3-テト
ラフェニルジシロキサン、3-ジメトキシ-1,1,3,
3-テトラメチルジシロキサン、1,3-ジエトキシ-
1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン、1,3-ジ
メトキシ-1,1,3,3-テトラフェニルジシロキサ
ン、1,3-ジエトキシ-1,1,3,3-テトラフェニ
ルジシロキサンなどを挙げることができる。
【0025】一般式(2)で、pが0の化合物で6,
5,4、3および2官能性のアルコキシシランの具体例
として、6官能性のアルコキシシランの具体例としてヘ
キサメトキシジシラン、ヘキサエトキシジシラン、ヘキ
サフェニキシジシラン、5官能性のアルコキシシランの
具体例として1,1,1,2,2-ペンタメトキシ-2-
メチルジシラン、1,1,1,2,2-ペンタエトキシ-
2-メチルジシラン、1,1,1,2,2-ペンタメトキ
シ-2-フェニルジシラン、1,1,1,2,2-ペンタ
エトキシ-2-フェニルジシラン、4官能性のアルコキシ
シランの具体例として1,1,2,2-テトラメ トキシ
-1,2-ジメチルジシラン、1,1,2,2-テトラエ
トキシ-1,2-ジメチルジシラン、1,1,2,2-テ
トラメトキシ-1,2-ジフェニルジシラン、1,1,
2,2-テトラエトキシ-1,2-ジフェニルジシラン、
3官能性のアルコキシシランの具体例として1,1,2
-トリメトキシ-1,2,2 -トリメチルジシラン、1,
1,2-トリエトキシ- 1,2,2-トリメチルジシラ
ン、1,1,2-トリメトキシ-1,2,2-トリフェニ
ルジシラン、1,1,2-トリエトキシ-1,2,2-ト
リフェニルジシラン、2官能性のアルコキシシランの具
体例として1,2-ジメトキシ-1,1,2,2-テトラ
メチルジシラン、1,2-ジエトキシ-1,1,2,2-
テトラメチルジシラン、1,2-ジメトキシ-1,1,
2,2-テトラフェニルジシラン、1,2-ジエトキシ-
1,1,2,2-テトラフェニルジシランなどを挙げる
ことができる。
【0026】尚、本発明の1、2、3官能性のアルコキ
シシランとして、先述したようなアルコキシシランが用
いられるが、その中でより好ましいのが、トリメチルエ
トキシシラン、トリエチルエトキシシラン、トリプロピ
ルエトキシシラン、トリフェニルエトキシシラン、フェ
ニルジメチルエトキシシラン、ジフェニルメチルエトキ
シシランなどのケイ素原子に直接3個のアルキル基また
はアリール基が結合したアルキルシラン、ジメチルジエ
トキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジ
エトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、メチル
エチルジエトキシシラン、メチルフェニルジエトキシシ
ラン、エチルフェニルジエトキシシランなどのケイ素原
子に直接2個のアルキル基またはアリール基が結合した
アルキルシラン、さらに、前述したケイ素原子に直接1
個のアルキル基またはアリール基が結合したアルコキシ
シランが挙げられる。
【0027】また、メチルジエトキシシラン、ジメチル
ビニルメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン
などのケイ素原子に直接水素原子が結合したものも用い
ることもできる。さらに、ビス(エトキシジメチルシリ
ル)メタン、ビス(エトキシジフェニルシリル)メタ
ン、ビス(エトキシジメチルシリル)エタン、ビス(エ
トキシジフェニルシリル)エタン、1,3-ビス (エト
キシジメチルシリル)プロパン、1,3-ビス (エトキ
シジフェニルシリル)プロパン、3-ジエトキシ-1,
1,3,3-テトラメチルジシロキサン、1,3-ジエト
キシ-1,1,3,3-テトラフェニルジシロキサン、
1,2-ジエトキシ-1,1,2,2-テトラメチルジシ
ラン、1,2-ジエトキシ-1,1,2,2-テトラフェ
ニルジシランなどを用いることもできる。
【0028】これらの中で特に好ましいアルコキシシラ
ンとして、トリメチルエトキシシラン、トリエチルエト
キシシラン、トリプロピルエトキシシラン、トリフェニ
ルエトキシシラン、フェニルジメチルエトキシシラン、
ジフェニルメチルエトキシシラン、ジメチルジエトキシ
シラン、ジエチルジエトキシシラン、ジフェニルジエト
キシシラン、メチルエチルジエトキシシラン、メチルフ
ェニルジエトキシシラン、エチルフェニルジエトキシシ
ランが挙げられる。
【0029】本発明のシリカ前駆体中に存在する全珪素
原子のモル数に対して、珪素原子上に少なくとも一個の
一価の有機基が結合している珪素原子のモル数の割合は
1〜90モル%であることが好ましく、このシリカ前駆
体を有する塗布組成物から製造された多孔体シリカの吸
湿性は著しく低下する。尚、本発明における多孔体シリ
カとは、下記の一般式(3)で表されたものを主成分と
した多孔質のものであることを特徴とする。
【0030】RxSiOy (3) (Rは炭素数1〜8の直鎖状、分岐上および環状のアル
キル基、アリール基を表し、0≦x<2、1<y≦2で
ある)。
【0031】また、本発明の塗布組成物に含有されるシ
リカ前駆体は上記の特定の4官能性アルコキシシランの
縮合物たるシリカゼオライトを含有することを特徴とす
るとともに、シリカゼオライトの出発原料以外のアルコ
キシシランの縮合物も一部含有する場合がある。
【0032】本発明では上記の縮合物を塗布組成物の結
晶化指数で表している。本発明の塗布組成物の結晶化指
数は、IR分光分析により、以下の方法により求めるこ
とができる。本発明の塗布組成物中のシリカ前駆体は4
40cm-1〜480cm-1付近に吸収を示す一方で、5
50cm-1〜650cm-1付近にシリカゼオライトを主
成分とする縮合物たる結晶構造に由来する特徴的なピー
クが発現するので、これら2つのピーク面積比をもって
本発明の塗布組成物の結晶化指数とした。
【0033】尚、シリカゼオライトの結晶性をIR分光
分析により測定する方法についてはJ. Chem. Soc., Che
m. Commun. 1982, 1413に開示されている。本発明の塗
布組成物の結晶化指数(440cm-1〜480cm-1
近のピーク面積に対する550cm-1〜650cm-1
近のピークの面積比)は0.14〜0.63が好まし
く、より好ましくは0.21〜0.56である。0.1
4未満であると、本発明の塗布組成物より製造された膜
の機械強度が十分でないし、0.63を超えるとシリカ
ゼオライト微粒子の粒子径分布が大きくなりすぎて、得
られた薄膜の表面平滑性が損なわれてしまう。
【0034】次に本発明の塗布組成物を構成する有機溶
媒(B)について説明する。有機溶媒の種類は塗布溶液
の貯蔵安定性、塗布性能および薄膜性能をより向上させ
るなどの目的からアルコール系溶媒、ケトン系溶媒、ア
ミド系溶媒およびエステル系溶媒が好ましい。具体的に
はエタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、
n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノー
ル、t−ブタノール、n−ペンタノール、i−ペンタノ
ール、2−メチルブタノール、sec−ペンタノール、
t−ペンタノール、3−メトキシブタノール、n−ヘキ
サノール、2−メチルペンタノール、sec−ヘキサノ
ール、2−エチルブタノール、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエ
ーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、
プロピレングリコールモノブチルエーテル、アセトン、
メチル エチルケトン、メチル-n-プロピルケトン、メ
チル- n-ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル-i-
ブチ ルケトン、メチル-n-ペンチルケトン、エチル-n
- ブチルケトン、メチル-n-ヘキシルケトン、ジ-i-
ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノ
ン、2-ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4
-ペンタンジオン、アセトニルアセトン、アセトフェノ
ン、ホルムアミド、N -メチルホルムアミド、N,N-
ジメチルホルムアミ ド、N-エチルホルムアミド、N,
N-ジエチルホルム アミド、アセトアミド、N-メチル
アセトアミド、N, N-ジメチルアセトアミド、N-エ
チルアセトアミド、 N,N-ジエチルアセトアミド、N
-メチルプロピオンアミド、N-メチルピロリドン、N-
ホルミルモルホリ ン、N-ホルミルピペリジン、N-ホ
ルミルピロリジ ン、N-アセチルモルホリン、N-アセ
チルピペリジ ン、N-アセチルピロリジンジエチルカー
ボ ネート、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ジエ
チル、酢酸メチル、酢酸エチル、γ-ブチロラクトン、
γ-バレロラクトン、酢酸n-プロピル、酢酸i-プロピ
ル、酢酸n-ブチル、酢酸i-ブチル、酢酸sec-ブ チ
ル、酢酸n-ペンチル、酢酸sec-ペンチル、酢酸 3-
メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2-エ チル
ブチル、酢酸2-エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸
シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸 n-
ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エ
チレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレング
リコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリ コ
ールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコール
モノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ-
n-ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメ
チルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエ
ーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピルエーテ
ルなどが挙げられる。
【0035】上記の有機溶媒(B)は後述するようにア
ルコキシシランの加水分解、縮合反応前後に全量加えて
いてもよいし、少量ずつ添加してもよい。次に、本発明
の塗布組成物はFe、Na、K、Ti、Cr、Co、N
i、Cu、Zn、W、Biから選ばれる金属の合計量が
最大1ppmであることを特徴とする。上記金属はシリ
カ前駆体であるアルコキシシランの合成時に触媒として
用いられたものが残存するものであり、これらの金属が
塗布組成物中に含有されたまま製造された絶縁膜はこれ
らの金属が電気伝導体として作用するために、リーク電
流が大きくなり、すなわちブレークダウン電圧が著しく
低下し、絶縁薄膜本来の機能が失われてしまう。
【0036】そこで本発明の塗布組成物中のFe、N
a、K、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、W、B
iの金属含有量を全体で1ppm以下に制御することが
必要である。これらの金属の含有量が1ppmを超える
と、先述したようにブレークダウン電圧が低下してしま
う。より好ましい金属の含有量は0.5ppm以下、さ
らに好ましくは0.1ppm以下である。本発明の塗布
組成物は、その他、所望であれば、たとえばコロイド状
シリカや界面活性剤などの成分を添加してもよいし、感
光性付与のための光触媒発生剤、基板との密着性を高め
るための密着性向上剤、長期保存のための安定剤など任
意の添加物を、本発明の趣旨を損なわない範囲で本発明
の塗布組成物に添加することも可能である。
【0037】次に本発明の塗布組成物の製造方法につい
て説明する。本発明の塗布組成物は結晶化指数を0.1
4〜0.63とするために、一般式(1)で表される4
官能性アルコキシシランを原料としたシリカゼオライト
を主成分とするシリカ前駆体1をあらかじめ調製した
後、シリカゼオライトに用いたアルコキシシラン以外の
アルコキシシランを用いて加水分解、重縮合したシリカ
前駆体2と混合することで製造することができる。
【0038】先ず、シリカ前駆体1の製造方法について
説明する。シリカ前駆体1は上記一般式(1)で表され
る4官能性のアルコキシシランにシリカゼオライト結晶
化調整剤としての有機アミンと水とを混合して所定の温
度、時間反応させて得ることができる。ここで、シリカ
ゼオライト結晶化調整剤である有機アミンの具体例とし
ては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ
エチルアンモニウムヒドロキシド、テトラプロピルアン
モニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒド
ロキシド、アンモニアなどを挙げることができる。その
中にテトラプロピルアンモニウムヒドロキシドが特に好
ましい。有機アミンの添加量はアルコキシシラン1モル
に対して0.01〜5モル、好ましくは0.1〜2モ
ル、より好ましくは0.2〜0.6モルである。この塩
基性化合物量が0.01モル未満または5モルを超える
と、シリカゼオライトが生成しないので好ましくない。
【0039】また、アルコキシシランの加水分解に必要
な水は液体のまま、あるいはアルコール等の水溶液とし
て加えるのが一般的であるが、水蒸気の形で加えてもか
まわない。水の添加を急激に行うと、アルコキシシラン
の種類によっては加水分解と縮合が速すぎて沈殿を生じ
る場合があるため、水の添加に充分な時間をかけること
が好ましい。従って液体で添加する場合アルコキシシラ
ンが均一に水と接するようにアルコールなどの溶媒を共
存させたり、低温で添加するなどの手法を単独または組
み合わせて用いることが好ましい。
【0040】水の添加量は原料として仕込み量のアルコ
キシシラン基1モル当たり、0.1モル〜50モルの範
囲が好ましい。より好ましくは1〜20モルである。水
の添加量がこの範囲にあると、以下の反応が円滑に進行
するので好ましい。シリカ前駆体1を得るための反応温
度は、0〜150℃、好ましくは20〜150℃、より
好ましくは20〜120℃である。0℃よりも低いとシ
リカゼオライトの結晶化と加水分解の進行が十分でない
し、逆に150℃を超えると反応が急激に進行しすぎ
て、シリカゼオライト粒子が大きすぎる場合があり好ま
しくない。
【0041】反応時間は、反応温度にもよるが通常1時
間〜10日、好ましくは4時間〜10日、より好ましく
は1日〜5日である。以上の方法で得られたシリカ前駆
体1中には、結晶性のシリカゼオライト以外に、当然と
して出発原料であるアルコキシシラン、その加水分解
物、縮合物で結晶性を示さないものも含まれる場合があ
る。尚、本発明のシリカ前駆体1を製造する場合に、ア
ルコキシシランと、シリカゼオライト結晶化調整剤、水
および/または有機溶媒を反応開始前に全量添加しても
良いし、一部を段階的に添加してもかまわない。
【0042】次にシリカ前駆体2の製造方法、すなわち
珪素原子上に少なくとも1個の一価の有機基を直接結合
する構造を有するアルコキシシランを用いて、水の存在
下にて加水分解、縮合反応させて得られるシリカ前駆体
2の製造方法について説明する。シリカ前駆体2には、
上記アルコキシシランの加水分解物のシラノール基が縮
合してSi−O−Si結合を形成したものが含まれる
が、シラノール基がすべて縮合している必要はなく、一
部のシラノール基が縮合したもの、縮合の程度が異なっ
ているものの混合物などを表す。すなわちアルコキシシ
ランそのものおよび部分加水分解物、部分重縮合物から
選ばれる少なくとも1種以上の化合物を部分的に含んで
いても良い。
【0043】水を添加する形態、添加方法および添加量
およびシリカ前駆体を加水分解、縮合反応させる温度条
件は前述のシリカ前駆体1を製造する場合と同様の条件
を採用することができる。シリカ前駆体2を得るための
反応温度については、通常0〜150℃、好ましくは0
〜100℃、より好ましくは0〜50℃で処理すればよ
い。0℃よりも低いと加水分解の進行が十分でないし、
逆に150℃を超えると反応が急激に進行しすぎて、組
成物全体がゲル化してしまう場合があり、好ましくな
い。
【0044】なお、シリカ前駆体2を製造する場合もシ
リカ前駆体1と同様にアルコキシシランと水および/ま
たは有機溶媒とを反応開始前に全量添加して良いし、一
部ずつ段階的に添加してもよい。以上のようにして、シ
リカ前駆体1と、シリカ前駆体2を製造することができ
る。本発明の塗布組成物に含有されるシリカ前駆体は上
記したシリカ前駆体1とシリカ前駆体2の混合物である
が、シリカ前駆体1とシリカ前駆体2とはを別々に製造
してから混合しても良いし、シリカ前駆体1を製造して
おいてから、そこにシリカ前駆2製造用のアルコキシシ
ランを添加した後に所定時間反応させてから、シリカ前
駆体2を製造してもよい。
【0045】以上の製造法によりシリカ前駆体を得るこ
とができるが、シリカ前駆体1とシリカ前駆体2の混合
割合は、シリカ前駆体中の全珪素原子のモル数に対し
て、珪素原子上に少なくとも一個の一価の有機基が結合
している珪素原子のモル数の割合が1〜90モル%とな
るようにすることが好ましい。より好ましくは10〜8
0モル%、さらに好ましくは10〜70モル%である。
1モル%未満であると、得られた絶縁膜の吸湿性が著し
くなり好ましくないし、逆に90モル%を超えると薄膜
の強度が低下してしまう。
【0046】このように少なくとも一個の一価の有機基
が結合している珪素原子のモル数を上記のように制御す
ることによって、得られた多孔性シリカ薄膜のヤングモ
ジュラスを損なうことなく、従来の欠点であった吸水性
が著しく改善され、比誘電率が低くかつ安定した絶縁膜
を製造することができる。本発明ではシリカ前駆体を調
製する場合に、アルコキシシランの加水分解や縮合反応
を加速する酸および/または上記の塩基に加え、以下の
塩基を添加してもよい。また、シリカ前駆体を調整後の
塗布溶液中にこれらの化合物を添加しても良い。
【0047】本発明で用いることができる酸の具体例と
しては、塩酸、硝酸、硫酸、リン酸、フッ酸、トリポリ
リン酸、ホスフォン酸、ホスフィン酸などの無機酸を挙
げることができる。有機酸としては、例えば、酢酸、プ
ロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプ
タン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、
マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン
酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキ
ミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン
酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香
酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベ
ンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、ト
リクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、ス
ルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、コ
ハク酸、イソニコチン酸などを挙げることができる。
【0048】尚、本発明の塗布溶液を基板上に塗布した
後で酸として機能するような化合物も上記の酸に含まれ
る。具体的には芳香族スルホン酸エステルやカルボン酸
エステルのような、加熱または光により分解して酸を発
生する化合物が挙げられる。一方、塩基の具体例として
は、本発明で使用することのできる塩基性化合物として
は、例えば、ピリジン、ピロール、ピペラジ ン、ピロ
リジン、ピペリジン、ピコリン、モノエタノー ルアミ
ン、ジエタノールアミン、ジメチルモノエタノールアミ
ン、モノメチルジエタノールアミン、トリエタノ ール
アミン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロ ノ
ナン、ジアザビシクロウンデセン、テトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアン モニ
ウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアン モニウ
ムハイドロオキサイド、テトラブチルアン モニウムハ
イドロオキサイド、アンモニア、メチルアミ ン、エチ
ルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、 N,N-ジ
メチルアミン、N,N-ジエチルアミン、 N,N-ジプ
ロピルアミン、N,N-ジブチルアミン、 トリメチルア
ミン、トリエチルアミン、トリプロピルア ミン、トリ
ブチルアミンなどを挙げることができる。
【0049】これらの酸および塩基の添加量は出発原料
として仕込まれる一般式(1)および(2)のアルコキ
シラン基1モルに対し1モル以下、好ましくは0.1モ
ル以下が適当である。1モルより多いと沈殿物が生成
し、均質な多孔質のケイ素酸化物からなる塗膜が得られ
難くなる場合がある。酸および塩基は単独で用いても、
2種以上を併用してもよい。本発明における塗布組成物
の全固形分濃度は、2〜30重量%が好ましいが、使用
目的に応じて適宜調整される。塗布組成物の全固形分濃
度が2〜30重量%であると、塗膜の膜厚が適当な範囲
となり、保存安定性もより優れるものである。
【0050】本発明の全固形分濃度の調整は、シリカ前
駆体製造時に有機溶媒をあらかじめ混合しておくことも
可能であるが、シリカ前駆体製造後にあらためて有機溶
媒を添加することも可能である。さらに、必要であれば
濃縮で調整することも可能である。尚、本発明の全固形
分濃度は既知量の塗布組成物に対するアルコキシシラン
の全量が加水分解および縮合反応して得られるシロキサ
ン化合物の重量%として求められる。
【0051】また、本発明で用いられる塗布組成物中の
Fe、Na、K、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Z
n、W、Biから選ばれる金属の含有量の合計が最大で
も1ppmであることを特徴とするが、これらの金属は
出発原料であるアルコキシシラン、有機溶媒やシリカゼ
オライト結晶化調整剤、さらに後述するような有機ポリ
マーなどに含有されるものであって、触媒として用いら
れたことによる混入、金属性反応器からの混入等が考え
られる。そこで、本発明では上記金属の含有量を制御す
るために精製を行う。
【0052】精製の方法として、化合物が液体の場合に
は蒸留や陽性または陰性のイオン交換樹脂などで精製す
ることが好ましい。化合物が固体の場合には、いったん
溶媒などに溶解した後でイオン交換樹脂などにより、不
純物金属を除去する方法が用いられる。イオン交換樹脂
で精製する場合、溶液の中に直接交換樹脂を加えて金属
を除去してもよいし、あらかじめカラムに充填しておい
た交換樹脂中に溶液を流す方法でもよい。
【0053】精製は、塗布組成物の出発原料をあらかじ
め個々に行ってもかまわないが、シリカ前駆体、有機溶
媒との混合した後、最後に精製することが製造工程を簡
略化でき好ましい。本発明では以上のようにして得られ
る塗布組成物を塗布液として用い、その中のシリカ前駆
体を硬化させることによって、比誘電率の十分に低い多
孔性シリカ薄膜を得ることができるが、さらに比低誘電
率を下げるために、後述するようにシリカ前駆体が硬化
する過程または硬化後に、熱により揮発もしくはガスを
発生し、好ましくは系外に揮散することにより、層間絶
縁膜中に空孔を形成し、該膜の比誘電率を低下させる作
用をするような有機ポリマー(C)を用いることができ
る。該ポリマーが揮発もしくはガスを発生する温度は、
大気圧下、0〜500℃の範囲であり、好ましくは25
〜400℃である。
【0054】有機ポリマー(C)の主鎖骨格構造は特別
限定されることはないが、具体例としてポリエーテル、
ポリエステル、ポリカーボネート、ポリアンハイドライ
ド、ポリアミド、ポリウレタン、ポリウレア、ポリアク
リル酸、ポリアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸、
ポリメタクリル酸エステル、ポリアクリルアミド、ポリ
メタクリルアミド、ポリアクリロニトリル、ポリメタク
リロニトリル、ポリオレフィン、ポリジエン、ポリビニ
ルエーテル、ポリビニルケトン、ポリビニルアミド、ポ
リビニルアミン、ポリビニルエステル、ポリビニルアル
コール、ポリハロゲン化ビニル、ポリハロゲン化ビニリ
デン、ポリスチレン、ポリシロキサン、ポリスルフィ
ド、ポリスルホン、ポリイミン、ポリイミド、セルロー
ス、およびこれらの誘導体を主なる構成成分とするポリ
マーが挙げられる。
【0055】上記のポリマーの中でも好適に用いられる
ものは加熱焼成によって消失し多孔性シリカゼオライト
薄膜に容易に変換する、脂肪族ポリエーテル、脂肪族ポ
リエステル、脂肪族ポリカーボネート、脂肪族ポリアン
ハイドライドを主なる構成成分とするもポリマーであ
る。また、直鎖状または分岐状の2元以上のブロックコ
ポリマーで、ブロック部が炭素数1〜8の直鎖状および
環状のオキシアルキレン基を繰り返し単位とする有機ポ
リマーも好適に用いることができる。具体的なブロック
コポリマーとしては、ポリエチレングリコールポリプロ
ピレングリコール、ポリエチレングリコールポリブチレ
ングリコールのような2元ブロックコポリマー、さらに
ポリエチレングリコールポリプロピレングリコールポリ
エチレングリコール、ポリプロピレングリコールポリエ
チレングリコールポリプロピレングリコール、ポリエチ
レングリコールポリブチレングリコールポリエチレング
リコールなどの直鎖状の3元ブロックコポリマーのよう
なポリエーテルブロックコポリマーが挙げられる。さら
に、グリセロール、エリスリトール、ペンタエリスリト
ール、ペンチトール、ペントース、ヘキシトール、ヘキ
ソース、ヘプトースなどに代表される糖鎖に含まれるヒ
ドロキシル基のうちの少なくとも3つとポリマー鎖が結
合した構造、及び/又はヒドロキシル酸に含まれるヒド
ロキシル基とカルボキシル基のうち少なくとも3つがブ
ロックコポリマー鎖が結合した構造であることが好まし
い。具体的には分岐状のグリセロールポリエチレングリ
コールポリプロピレングリコール、エリスリトールポリ
エチレングリコールポリプロピレングリコールポリエチ
レングリコールなどが含まれる。
【0056】さらに本発明では、脂肪族高級アルコール
にアルキレンオキサイドを付加重合させた直鎖状の高級
脂肪族/アルキレンオキサイドブロックコポリマーも使
用することが可能である。具体的にはポリオキシエチレ
ンラウリルエーテル、ポリオキシプロピレンラウリルエ
ーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル、ポリオ
キシプロピレンオレイルエーテル、ポリオキシエチレン
セチルエーテル、ポリオキシプロピレンセチルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シプロピレンステアリルエーテルなどが挙げられる。
【0057】以上の有機ポリマーの末端基は特に限定さ
れないが、水酸基はじめ、直鎖状および環状のアルキル
エーテル基、アルキルエステル基、アルキルアミド基、
アルキルカーボネート基、ウレタン基およびトリアルキ
ルシリル基変性された基であることが好ましい。これら
のポリマーの構成単位であるモノマーどうしの共重合体
や、その他の任意のモノマーとの共重合体を用いてもよ
い。また有機ポリマーは1種類でも2種類以上を併用し
てもよい。
【0058】上記ポリマーは単独であっても、複数のポ
リマーの混合であってもよい。またポリマーの主鎖は、
本発明の効果を損なわない範囲で、上記以外の任意の繰
り返し単位を有するポリマー鎖を含んでいてもよい。本
発明における有機ポリマーの添加量は、出発原料である
アルコキシシランの仕込み全量が加水分解および縮合反
応したと仮定して得られるシロキサン1重量部に対し
0.01〜10重量部、好ましくは0.05〜5重量
部、さらに好ましくは0.5〜3重量部である。有機ポ
リマーの添加量が0.01重量部より少ないと多孔体が
得られず、また10重量部より多くても、十分な機械強
度を有する多孔性シリカが得られず、実用性に乏しい。
【0059】尚、アルコキシシランの仕込み全量が加水
分解および縮合反応したと仮定して得られるシロキサン
とは一般式(1)、(2)のSiOR2基、SiOR4
またはSiOR5基が100%加水分解されてSiOH
になり、さらに100%縮合してシロキサン構造になっ
たものを言う。本発明で有機ポリマーを添加する時期に
ついては上記した塗布組成物の製造工程のいずれの段階
で添加してもかまわないが、金属元素の含有量を制御し
ていない有機ポリマーを用いる場合は塗布組成物の精製
前に添加することが好ましい。
【0060】以下、上記製造方法によって製造した本発
明の塗布組成物を塗膜して絶縁薄膜を得る方法ついて詳
細に説明する。本発明において、薄膜の形成は基板上に
本発明の塗布組成物を塗布することによって行う。塗布
方法としては流延、浸漬、スピンコートなどの周知の方
法で行うことができるが、半導体素子の多層配線構造体
用の絶縁層の製造に用いるにはスピンコートが好適であ
る。薄膜の厚さは塗布組成物の粘度や回転速度を変える
ことによって0.1μm〜10μmの範囲で制御でき
る。10μmより厚いとクラックが発生する場合があ
る。半導体素子の多層配線構造体用の絶縁層としては、
通常0.1μm〜5μmの範囲で用いられる。
【0061】基板としてはシリコン、ゲルマニウム等の
半導体基板、ガリウム−ヒ素、インジウム−アンチモン
等の化合物半導体基板等を用いこともできるし、これら
の表面に他の物質の薄膜を形成したうえで用いることも
可能である。この場合、薄膜としてはアルミニウム、チ
タン、クロム、ニッケル、銅、銀、タンタル、タングス
テン、オスミウム、白金、金などの金属の他に、二酸化
ケイ素、フッ素化ガラス、リンガラス、ホウ素−リンガ
ラス、ホウケイ酸ガラス、多結晶シリコン、アルミナ、
チタニア、ジルコニア、窒化シリコン、窒化チタン、窒
化タンタル、窒化ホウ素、水素化シルセスキオキサン等
の無機化合物、メチルシルセスキオキサン、アモルファ
スカーボン、フッ素化アモルファスカーボン、ポリイミ
ド、その他任意のブロックコポリマーからなる薄膜を用
いることができる。
【0062】塗布組成物を塗膜にした後、引き続き行う
シリカ前駆体を硬化させ、多孔性シリカ薄膜を成膜する
温度は特に限定されないが、通常は300〜450℃、
好ましくは300〜400℃で行う。300℃よりも低
いと硬化反応が十分でなく、強度の低いまたは吸湿性の
薄膜となるため好ましくない。逆に450℃よりも高い
温度で処理することは半導体製造プロセスで用いるのは
極めて困難である。なお、硬化状態とは塗膜を室温下に
て1時間放置前後で、実質上膜厚みの変化のない状態を
言う。
【0063】硬化反応に要する時間は熱処理温度、触媒
添加量や溶媒種および量によっても異なるが、通常数分
間から10時間の範囲である。好ましくは10分〜6時
間、より好ましくは2時間〜4時間である。この操作に
より、塗布組成物中のシリカゼオライト粒子とシリカゼ
オライト粒子同士の縮合反応やシリカゼオライト粒子
と、その他のシリカ前駆体との縮合反応、いわゆる硬化
反応が十分に進行し多孔性シリカ薄膜が形成される。孔
径は、主にゼオライト粒子中に存在する1nm以下の微
細孔と、ゼオライト粒子同士の結合により形成される粒
子間隙に起因する数nmの孔とからなる。これにより、
薄膜の密度が下がり、低誘電率化が可能になる。
【0064】加熱は窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不
活性雰囲気下で行うのが好ましい。空気または酸素ガス
を混入させたりといった酸化性雰囲気下で行うことも可
能であるが、この場合には該酸化性ガスの濃度を、珪素
原子に結合した有機基が分解しないような低濃度に制御
することが好ましい。また雰囲気中にアンモニア、水素
などを存在させ、シリカ中に残存しているシラノール基
を失活させることによって多孔性シリカゼオライト薄膜
の吸湿性を低減させ、誘電率の上昇を抑制することもで
きる。
【0065】本発明において加熱は、半導体素子製造プ
ロセス中で通常使用される枚葉型縦型炉あるいはホット
プレート型の焼成システムを使用することができる。も
ちろん、本発明の製造工程を満足すれば、これらに限定
されるものではない。以上、本発明の多孔性シリカ薄膜
を用いることにより、機械強度が高く、かつ誘電率が充
分に低いLSI用の多層配線用絶縁膜が成膜できる。本
発明の多孔性シリカ薄膜の比誘電率は、通常2.8〜
1.8、好ましくは2.6〜2.1である。また、本発
明の多孔性薄膜中には、BJH(Barett Joyner
Halenda)法による細孔分布測定において、1
0nm以上の空孔は実質上認められず、層間絶縁膜とし
て好適である。通常20nm以上の孔は存在しない。
【0066】本発明により得られる多孔性シリカ薄膜
は、薄膜以外のバルク状の多孔性シリカ体、たとえば反
射防止膜や光導波路のような光学的膜や触媒担体はじめ
断熱材、吸収剤、カラム充填材、ケーキング防止剤、増
粘剤、顔料、不透明化剤、セラミック、防煙剤、研磨
剤、歯磨剤などとして使用することも可能である。
【0067】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施例および比較
例をもって具体的に説明するが、本発明の範囲はこれら
実施例などにより何ら限定されるものではない。多孔性
シリカ薄膜製造用の塗布組成物および薄膜の評価は下記
の方法により行った。
【0068】(1)珪素原子の定量 本発明ではシリカ前駆体中に含まれる、全珪素原子のモ
ル数に対するゼオライト用の4官能性のアルコキシシラ
ンに由来する珪素原子のモル比を、29Si−NMRによ
る各々の珪素原子のシグナルの面積から算出した数値で
表した。
【0069】一例として、ゼオライト用のアルコキシシ
ランとしてテトラエトキシシラン(TEOS)を用い
て、その他のアルコキシシランとしてメチルトリエトキ
シシラン(MTES)を用いた場合の組成物中のTEO
S起因の珪素原子のモル%の算出法を説明する。 装置:JEOL−ラムダ400 測定モード:NNE 試料管:外径10mm、内径3mm (塗布組成物、薄膜ともD化エタノール、TMSを少量
添加) 積算回数:1300回 PD(パルスディレー) 250秒 BF(ブロードニングファクター)30Hz 以上の測定装置および測定条件から得られた数値を用い
て以下に示す計算式より算出する。 TEOSのモル%=100×(T0+T1+T2+T3
+T4)/{(T0+T1+T2+T3+T4)+(M
0+M1+M2+M3)} (式中、T0、M0はそれぞれ上記の装置で原料のTE
OSおよびMTESそのものまたはそれぞれのエトキシ
基の少なくともひとつの基が加水分解されて水酸基とな
った化合物に帰属されるシグナル積分強度を表し、T
1、M1はTEOSおよびMTESの各Siの一箇所が
隣接のSi原子と酸素原子を介して結合して形成される
基に帰属されるシグナルの積分強度を表し、T2、M2
はTEOSおよびMTES中の各Siの二箇所が隣接の
Si原子と酸素原子を介して結合して形成される基に帰
属されるシグナルの積分強度を表し、T3、M3はTE
OSおよびMTES中のSiの三箇所が隣接のSi原子
と酸素原子を介して結合して形成される基に帰属される
シグナルの積分強度を表し、T4はTEOS中のSiの
四箇所が隣接のSi原子と酸素原子を介して結合して形
成される基に帰属されるシグナルの積分強度を表す)。
【0070】(2) 結晶化指数 結晶化指数はFT−IRにより測定した。まず、塗布組
成物を乾燥し、空気中400℃で10時間焼成した。得
られた粉末1mgをKBr 100mgと混合し錠剤に
した後、Perkin Elmer FT−IR (モデルSystem
2000)を用いて、FT−IRスペクトルを測定し
た。440cm-1〜480cm-1付近のピークの面積に
対する550cm-1〜650cm-1付近のピークの面積
比から、結晶化指数を算出した。 (3)比誘電率およびブレークダウン電圧 比誘電率およびリーク電流をブレークダウン電圧とし
て、ソリッドステートメジャーメント社製SSM495
型自動水銀CV測定装置を用いて測定した。
【0071】(4)膜厚測定 理学電機製RINT 2500を用いて測定した。測定条件は、
発散スリット:1/6°、散乱スリット:1/6°、受
光スリット:0.15mmで検出器(シンチレーション
カウンタ)の前にグラファイトモノクロメータをセット
した。管電圧と管電流は、それぞれ40kVと50mA
で測定したが、必要に応じて変えることができる。ま
た、ゴニオメータの走査法は2θ/θ走査法で、走査ステ
ップは0.02°とした。
【0072】(5)ヤングモジュラス MTS Systems Corporation社製ナノインデンター DCM
で測定した。測定方法は、バーコビッチ型のダイヤモン
ド製圧子を試料に押し込み、一定荷重に達するまで負荷
したのちそれを除き、変位をモニターすることにより荷
重―変位曲線を求めた。表面はコンタクトスティフネス
が200N/mになる条件で認識した。硬度の算出は、
以下の式による。 H=P/A ここで、Pは印加した荷重であり、接触面積Aは接触深
さhcの関数で次式により、実験的に求めた。
【0073】
【数1】
【0074】この接触深さは圧子の変位hと次の関係に
ある。 hc=h−εP/S ここでεは0.75、Sは除荷曲線の初期勾配である。
【0075】ヤングモジュラスの算出はスネドンの式に
よって求めた。 Er=(√π・S)/2√A ここで、複合弾性率Erは次式で表される。 Er =[(1−νs2)/Es+(1−νi2)/Ei]-1 ここで、νはポアソン比、添字Sはサンプル、iは圧子
を表す。本発明ではνi=0.07、 Ei=1141G
Pa、また本材料のポアッソン比は未知であるがνs=
0.18としてサンプルのヤングモジュラスEsを算出
した。
【0076】
【実施例1】テトラエトキシシラン32.0g、エタノ
ール30.5g、水12.1g、の混合物に、20−2
5%テトラ(n−)プロピルアンモニウムヒドロキシド
(TPAOH)水溶液45.5gを加え、室温で1日攪
拌した後に80℃で5日間攪拌し反応させてシリカゼオ
ライトのサスペンションを得た。得られたサスペンショ
ンに、メチルトリエトキシシラン2.8gを添加し、8
0℃で8時間攪拌た。引き続き、遠心分離機を使って、
回転数5000rpmで0.5時間処理して沈降粒子を
除去した後で、粒子径が30nm以下で本発明の塗布組
成物を得た。
【0077】組成物中のICP−MASS法による金属
含有量はすべて0.1ppm以下であった。ただし、使
用した原料はTPAOHを除いてすべて関東化学製の電
子材料グレード品を使用した。またTPAOHの精製
は、東京化成製のTPAOH水溶液100g中に、両性
イオン交換樹脂(オルガノ社製、FG−290−HG)
10gを添加して、室温で10分攪拌した後で、交換樹
脂をろ別するという操作を3回繰り返し、本発明で用い
るTPAOH水溶液を得た。
【0078】塗布組成物のメチルトリエトキシシランに
由来する珪素原子は10モル%で、結晶化指数は0.4
2であった。塗布組成物を6インチシリコンウェハ上に
4ml滴下し、3000rpmにて30秒間回転塗布し
た。その後空気中室温にて数時間乾燥し、窒素雰囲気下
400℃にて2時間加熱焼成して、膜厚が0.55μm
の多孔性シリカ薄膜を得た。得られた薄膜の1MHzに
おける比誘電率は2.5であり、ブレークダウン電圧は
4MV/cm以上であった。ヤングモジュラスは14G
Paであった。
【0079】
【比較例1】実施例1において、TPAOHを精製しな
い以外は実施例1と同様の操作を行い、塗布組成物を得
た。塗布組成物中のNaとKの含有量はそれぞれ、10
ppmと1000ppmであった。また、塗布組成物の
結晶化指数は0.43であった。上記の塗布組成物を実
施例1と同様の操作により、膜厚が0.45μmの多孔
性シリカゼオライト薄膜を得た。得られた薄膜の1MH
zにおける比誘電率は2.6であり、ヤングモジュラス
は10GPaであったが、ブレークダウン電圧は2MV
/cm以下であり、層間絶縁膜としての性能は十分満足
の行くものではなかった。
【0080】
【比較例2】実施例1において、室温で1日攪拌した後
に80℃で1日間だけ攪拌し反応させてシリカゼオライ
トのサスペンションを得た以外は、実施例1と同様の操
作を行い、塗布組成物を得た。塗布組成物中のNaとK
の含有量はそれぞれ、10ppmと1000ppmであ
った。また塗布組成物の結晶化指数は0.11であっ
た。得られた組成物を実施例1と同様の操作により、膜
厚が0.55μmの多孔性シリカゼオライト薄膜を得
た。得られた薄膜の1MHzにおける比誘電率は2.9
と高く、ヤングモジュラスは16GPaであったが、ブ
レークダウン電圧は2MV/cm以下であり、層間絶縁
膜としての性能は十分満足の行くものではなかった。
【0081】
【比較例3】実施例1において、メチルトリエトキシシ
ランを使用しない以外は実施例1と同様の操作を行い、
塗布組成物を得た。塗布組成物中のNaとKの含有量は
それぞれ、10ppmと1000ppmであった。また
塗布組成物の結晶化指数は0.48であった。得られた
組成物を実施例1と同様の操作により、膜厚が0.35
μmの多孔性シリカゼオライト薄膜を得た。得られた薄
膜の1MHzにおける比誘電率は3.5と高く、層間絶
縁膜としての性能は十分満足の行くものではなかった。
【0082】
【発明の効果】本発明による多孔性シリカ薄膜は比誘電
率が十分に低く、ブレークダウン電圧が高く、かつヤン
グモジュラスが十分に高いので、LSI多層配線用基板
や半導体素子の絶縁膜用として最適である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F033 GG00 GG02 HH04 HH07 HH08 HH11 HH13 HH14 HH18 HH19 HH21 HH32 HH33 QQ48 RR01 RR03 RR04 RR05 RR06 RR11 RR12 RR13 RR14 RR15 RR21 RR22 RR23 RR24 RR29 SS22 WW00 XX24 5F058 AA10 AC03 AF04 AG01 AH02 BA01 BA20 BC05 BC20 BF46 BH01 BJ02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)下記一般式(1)および/または
    一般式(2)で表されるアルコキシシランおよびその加
    水分解物、重縮合物から選ばれる少なくとも1種以上の
    化合物からなるシリカ前駆体と、 R1 n(Si)(OR24-n (1) (式中、R1、R2は同一でも異なっていてもよく、それ
    ぞれ1価の有機基を表し、nは0〜3の整数である) R3 m(R4O)3-mSi−(R7p−Si(OR53-q6 q (2) (R3,R4,R5およびR6は、同一でも異なっていても
    よく、それぞれ1価の有機基を示し、mおよびqは、同
    一でも異なっていてもよく、0〜2の数を示し、R7
    酸素原子-または(CH2r−で表される基を示し、r
    は1〜6を、pは0または1を示す。) (B)有機溶媒と、を含有し、結晶化指数が0.14〜
    0.63であって、かつ、Fe、Na、K、Ti、C
    r、Co、Ni、Cu、Zn、W、Biから選ばれる金
    属の含有量の合計が最大でも1ppmであることを特徴
    とする層間絶縁膜製造用塗布組成物。
  2. 【請求項2】 該シリカ前駆体中の全珪素原子のうち少
    なくとも一価の有機基が直接珪素原子に結合している珪
    素原子が1〜90モル%であることを特徴とする請求項
    1に記載の層間絶縁膜製造用塗布組成物。
  3. 【請求項3】 該層間絶縁膜製造用塗布組成物に更に
    (C)有機ポリマーを含有することを特徴とする請求項
    1または2のいずれかに記載の層間絶縁膜製造用塗布組
    成物。
  4. 【請求項4】 該層間絶縁膜製造用塗布組成物を基板上
    に塗布した後に、シリカ前駆体を硬化させて得られるこ
    とを特徴とする多孔性シリカ薄膜。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の多孔性シリカ薄膜を用い
    ることを特徴とする配線構造体。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の配線構造体を包含してな
    る半導体素子。
JP2002050160A 2002-02-26 2002-02-26 層間絶縁膜製造用塗布組成物 Pending JP2003249495A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002050160A JP2003249495A (ja) 2002-02-26 2002-02-26 層間絶縁膜製造用塗布組成物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002050160A JP2003249495A (ja) 2002-02-26 2002-02-26 層間絶縁膜製造用塗布組成物

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003249495A true JP2003249495A (ja) 2003-09-05

Family

ID=28662481

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002050160A Pending JP2003249495A (ja) 2002-02-26 2002-02-26 層間絶縁膜製造用塗布組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003249495A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004040635A1 (ja) * 2002-10-31 2004-05-13 Catalysts & Chemicals Industries Co.,Ltd. 低誘電率非晶質シリカ系被膜の形成方法および該方法より得られる低誘電率非晶質シリカ系被膜
US7384622B2 (en) 2004-08-31 2008-06-10 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Zeolite nano-crystal suspension, zeolite nano-crystal production method, zeolite nano-crystal suspension production method, and zeolite thin film
US7563706B2 (en) 2002-05-14 2009-07-21 Panasonic Corporation Material for forming insulating film with low dielectric constant, low dielectric insulating film, method for forming low dielectric insulating film and semiconductor device
WO2020111083A1 (en) * 2018-11-30 2020-06-04 Ricoh Company, Ltd. Coating liquid for forming oxide, method for producing oxide film, and method for producing field-effect transistor

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7563706B2 (en) 2002-05-14 2009-07-21 Panasonic Corporation Material for forming insulating film with low dielectric constant, low dielectric insulating film, method for forming low dielectric insulating film and semiconductor device
WO2004040635A1 (ja) * 2002-10-31 2004-05-13 Catalysts & Chemicals Industries Co.,Ltd. 低誘電率非晶質シリカ系被膜の形成方法および該方法より得られる低誘電率非晶質シリカ系被膜
US7384622B2 (en) 2004-08-31 2008-06-10 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Zeolite nano-crystal suspension, zeolite nano-crystal production method, zeolite nano-crystal suspension production method, and zeolite thin film
WO2020111083A1 (en) * 2018-11-30 2020-06-04 Ricoh Company, Ltd. Coating liquid for forming oxide, method for producing oxide film, and method for producing field-effect transistor
JP2020088300A (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 株式会社リコー 酸化物形成用塗布液、酸化物膜の製造方法、及び電界効果型トランジスタの製造方法
CN113169071A (zh) * 2018-11-30 2021-07-23 株式会社理光 形成氧化物的涂覆液、氧化物膜的制造方法、场效应晶体管的制造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100498834B1 (ko) 절연 박막 제조용 코팅 조성물
US20040077757A1 (en) Coating composition for use in producing an insulating thin film
JP2006310448A (ja) トレンチ埋め込み用組成物及びトレンチ埋め込み方法
JP4363824B2 (ja) 層間絶縁用薄膜
JP4662000B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜
JP2004059737A (ja) 膜形成用ポリシロキサンの製造方法、膜形成用組成物、膜形成方法および膜
JP2002038090A (ja) 膜形成用組成物およびシリカ系膜
JP2003142476A (ja) 絶縁薄膜用の多孔性シリカ薄膜
JP4424892B2 (ja) 絶縁性薄膜製造用塗布組成物
JP2003249495A (ja) 層間絶縁膜製造用塗布組成物
JP4158001B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2004168588A (ja) 塗布組成物
JP2003115482A (ja) 絶縁膜形成用組成物
JP5004866B2 (ja) 層間絶縁用薄膜
JP2002167438A (ja) ケイ素ポリマー、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2004051468A (ja) 絶縁性薄膜
JP2004018608A (ja) 絶縁性薄膜
JP4101989B2 (ja) ポリオルガノシロキサン系組成物の製造方法、ポリオルガノシロキサン系組成物、および膜
JP2004059738A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2001181506A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP4862217B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2002285087A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2003089769A (ja) 絶縁薄膜製造用の塗布組成物
JP2004027030A (ja) 絶縁性薄膜製造用の塗布組成物
JP2003163210A (ja) 絶縁薄膜の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20050223

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070703

A601 Written request for extension of time

Effective date: 20070830

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20070904

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071127