JP2003234961A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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JP2003234961A
JP2003234961A JP2002030011A JP2002030011A JP2003234961A JP 2003234961 A JP2003234961 A JP 2003234961A JP 2002030011 A JP2002030011 A JP 2002030011A JP 2002030011 A JP2002030011 A JP 2002030011A JP 2003234961 A JP2003234961 A JP 2003234961A
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reset
transistor
solid
constant current
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JP2002030011A
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Hidetsugu Koyama
英嗣 小山
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Original Assignee
Sharp Corp
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/672Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction between adjacent sensors or output registers for reading a single image
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    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造工程におけるプロセスのばらつきによっ
てリセットトランジスタの特性変動が生じても、理想的
な状態でリセット動作を行い、かつ蓄積電荷量を維持す
ると共に、小型・軽量化、低コスト化に寄与する。 【解決手段】 リセットトランジスタ2と同一構造のト
ランジスタ8と定電流源手段9とからなるソースフォロ
ワ回路10を設けて、ソースフォロワ回路10の出力電
圧をリセットドレイン電圧として用いる。プロセスばら
つきによりリセットトランジスタ2のしきい値電圧が高
くなるとトランジスタ8のしきい値電圧も高くなり、ソ
ースフォロワ回路10の出力電圧が減少してリセットド
レイン電圧が低くなる。リセットトランジスタ2のしき
い値電圧が低くなるとトランジスタ8のしきい値電圧も
低くなり、ソースフォロワ回路10の出力電圧が増加し
てリセットドレイン電圧が高くなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばビデオカメ
ラ、監視カメラ、ドアホンカメラ、車載用カメラ、TV
電話用カメラおよび携帯電話用カメラなどの各種カメ
ラ、これらを用いたカメラシステムなどに用いられるC
MOS型固体撮像素子やCCD型固体撮像素子などの固
体撮像素子に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、一般に使用されるCMOS型固体
撮像素子においては、半導体基板上にフローティングダ
イオードと称される電位的にフローティングな拡散層が
形成されており、その拡散層により入射光を光電変換す
ると共に、その拡散層のPN接合による容量成分にて、
光電変換により発生した電荷を電圧に変換した後、その
電荷電圧に応じた信号成分を出力回路に出力するように
なっている。また、その後、リセットトランジスタのゲ
ートにリセットパルス(リセット制御信号)を印加する
ことによって、フローティングダイオード部に蓄積され
た不要電荷をリセットドレイン部側に掃き出して、フロ
ーティングダイオード部の蓄積電位を所定のリセット電
圧にリセットするようになっている。
【0003】また、CCD型固体撮像素子においては、
半導体基板上に1次元的または2次元的に配列された各
CCD画素部により光電変換した電荷を、電荷転送部を
介して電位的にフローティングな電荷蓄積領域に転送
し、その電荷蓄積領域の蓄積電荷電圧に応じた信号成分
を出力回路に出力するようになっている。その後、リセ
ットトランジスタのゲートにリセットパルス(リセット
制御信号)を印加することによって、電荷蓄積領域に蓄
積された不要電荷をリセットドレイン部側に掃き出し
て、電荷蓄積領域の電位を所定のリセット電圧にリセッ
トするようになっている。
【0004】図3は、従来のCMOS型固体撮像素子に
おける単位画素セルの構成を示す回路図である。
【0005】各単位画素セルは、セレクトスイッチ用ト
ランジスタ1と、リセットトランジスタ2と、フローテ
ィングダイオード3と、増幅用トランジスタ4とを備え
ている。CMOS型固体撮像素子では、半導体基板上
に、このような単位画素セルがそれぞれ、行方向および
列方向にマトリクス状に複数配置されている。
【0006】セレクトスイッチ用トランジスタ1は、そ
のソースが列信号線5と接続され、そのドレインが増幅
用トランジスタ4のソースと接続され、そのゲートが行
信号線6に接続されている。セレクトパルスによって行
信号線6が選択され、選択された行信号線6に接続した
セレクトスイッチ用トランジスタ1が駆動するようにな
っている。
【0007】リセットトランジスタ2は、そのソースが
電荷蓄積領域N1と接続され、そのドレインがリセット
ドレイン電圧(リセット電圧)の印加部に接続され、そ
のゲートがリセットパルス信号線7に接続されており、
リセットパルスによりリセットトランジスタ2を介して
電荷蓄積領域N1の電荷蓄積電圧をリセットする。
【0008】フローティングダイオード3はPN接合部
により構成され、光電変換された電荷が電位的にフロー
ティングな電荷蓄積領域N1に電荷蓄積されるようにな
っている。
【0009】増幅用トランジスタ4は、そのソースがセ
レクトスイッチ用トランジスタ1のドレインと接続さ
れ、そのドレインが電源電圧と接続され、その制御端子
のゲートが電荷蓄積領域N1と接続されており、フロー
ティングダイオード3にて光電変換された、入射光量に
応じた電荷蓄積電圧に応じた信号電圧に増幅されるよう
になっている。
【0010】列信号線5(垂直信号線)は、複数列が互
いに平行に設けられており、水平選択用トランジスタ
(図示せず)によって各列信号線5が選択されて、2次
元的に配列された列方向の単位画素セルが選択されるよ
うになっている。また、セレクトパルス用の行信号線6
およびリセットパルス信号線7はそれぞれ、2次元的に
配列された複数の単位画素セルの各行毎にそれぞれ設け
られている。
【0011】図4は、CMOS型固体撮像素子の動作を
説明するためのタイミングチャートである。
【0012】まず、リセットパルスがハイレベルとなっ
てリセットトランジスタ2のゲートに正電圧が印加され
ることによって、リセットドレイン部とフローティング
ダイオード3との間が電気的に短絡され、フローティン
グダイオード3の電荷蓄積領域N1はリセットドレイン
電圧に固定(リセット)される。
【0013】次に、リセットパルスがローレベルとなる
と、リセットドレイン部とフローティングダイオード3
の電荷蓄積領域N1とは電気的に遮断される。このと
き、光がフローティングダイオード3に入射すると、光
の入射量に比例した電荷が発生し、負方向の電圧に変換
される。これによって、リセットドレイン電圧にリセッ
トされていたフローティングダイオード3の電荷蓄積領
域N1における電位が順次低くなっていく。
【0014】所定の露光時間後、セレクトパルスがハイ
レベルとなると、行方向の単位画素セルの各セレクトス
イッチ用トランジスタ1が行信号線6と共に選択され、
さらに選択された列信号線5を介して、リセットドレイ
ン電圧とフローティングダイオード3の電位との差分に
対応した信号電圧が信号成分として出力される。その
後、再びリセットパルスがハイレベルとなると、フロー
ティングダイオード3の電荷蓄積領域N1はリセットド
レイン電圧にリセットされる。このような動作が各フレ
ーム期間(例えば30mS)に行われる。
【0015】一般に、上記リセットパルスおよびセレク
トパルスのハイレベルは電源電圧、ローレベルは0Vで
あり、ここでは電源電圧を3Vとしている。また、リセ
ットドレイン電圧は、電源電圧と同じである場合が多
い。
【0016】さらに、リセットトランジスタ2は、ゲー
トに印加されるリセットパルスのハイレベルが電源電圧
であるときに、電源電圧を有するドレイン(リセットド
レイン部)とソース(フローティングダイオード部)と
を導通させることができるように、一般に、ディプリー
ジョン型トランジスタが用いられる。
【0017】図5は、ディプリージョン型のリセットト
ランジスタにおけるゲート電圧とゲート下(チャネル
部)のポテンシャルとの関係を示すグラフである。
【0018】上記CMOS型固体撮像素子において、電
源電圧が3Vであり、リセットトランジスタ2のゲート
電圧が電源電圧と同一の3Vである場合に、リセット動
作によりフローティングダイオード部(電荷蓄積領域N
1)の信号電荷を完全にリセットするためには、リセッ
トトランジスタ2のゲート下のポテンシャルを、フロー
ティングダイオード部およびリセットドレイン部の電位
である3V(=電源電圧)よりも大きく(=深く)する
必要がある。
【0019】図5では、矢印で示す分だけ、ゲート下の
ポテンシャルが深くなっている。このため、3Vの電位
を有するソースとドレインとを短絡(導通)させてフロ
ーティングダイオード3の電荷蓄積領域N1をリセット
ドレイン電圧にリセットすることができる。しかしなが
ら、リセットトランジスタ2の特性、特にしきい値電圧
は、製造工程におけるプロセスの変動によってばらつく
ため、この変動分を考慮する必要がある。
【0020】図6(a)〜図6(c)はそれぞれ、リセ
ットトランジスタ2のしきい値電圧が最大、標準および
最小の各場合について、フローティングダイオード部
(電荷蓄積領域に蓄積電荷が無い場合)、リセットゲー
ト部およびリセットドレイン部のポテンシャルを示す図
である。
【0021】リセットトランジスタ2のしきい値電圧が
高くなると、そのゲートに印加される電圧値が同じであ
っても、リセットゲート部のポテンシャルがしきい値電
圧の変動分だけ低く(図6では上方向)なる。一方、製
造工程におけるプロセスのばらつきが大きくなって、リ
セットトランジスタ2のしきい値電圧が高く最大になっ
ても、フローティングダイオード部とリセットドレイン
部とを電位的に短絡(導通)してフローティングダイオ
ード部の電位をリセットする必要がある。このため、し
きい値電圧のばらつきを予想して、図6(a)に示すよ
うに、リセットトランジスタ2のしきい値電圧が最大の
ときにもリセットゲート部のポテンシャルレベルとリセ
ットドレイン部のポテンシャルレベルとが一致するよう
に、標準のしきい値電圧が設定される。
【0022】この場合、標準のしきい値電圧は、図6
(b)に示すように、リセットゲート部のポテンシャル
がリセットドレイン部のポテンシャルよりも高く(図6
では下方向)なる。
【0023】一方、図6(c)に矢印で示すように、リ
セットトランジスタ2のしきい値電圧が最小のときに
は、フローティングダイオード3(電荷蓄積部N1)に
蓄積することができる電荷量は最小となる。図6(a)
に示すように、リセットトランジスタ2のしきい値電圧
が最大のときにリセットゲート部のポテンシャルレベル
とリセットドレイン部のポテンシャルレベルとが一致す
るように標準のしきい値電圧が設定されるが、この場
合、例えばリセットトランジスタ2のしきい値電圧のば
らつきを±0.2Vとすると、しきい値電圧が最小のと
きには、しきい値電圧が最大のときと比べて、しきい値
電圧の変動分(±0.2V)の2倍(0.4V)に相当
するチャネルポテンシャル分だけ、蓄積可能な電荷量が
減少することになる。
【0024】このように、リセットトランジスタ2のし
きい値電圧が製造工程におけるプロセスの変動によって
ばらつくため、電荷蓄積部N1に蓄積可能な電荷量は、
リセットトランジスタ2におけるしきい値電圧のばらつ
きの2倍に相当するチャネルポテンシャル分だけ減少す
ることになる。
【0025】この問題を解決するために、本願発明者ら
は、特開平9−130681号公報「固体撮像装置」に
おいて、同一半導体基板上に、リセットトランジスタと
同一プロセスにより形成した同一トランジスタ構造のト
ランジスタをダイオード接続してなるダイオード素子を
設けて、そのダイオード素子の順方向電圧をリセットト
ランジスタのゲート印加電圧として用いた固体撮像装置
を提案している。
【0026】この固体撮像装置では、製造工程における
プロセスのばらつきによってリセットトランジスタのチ
ャネルポテンシャルが変動した場合、上記ダイオード素
子を構成するトランジスタのチャネルポテンシャルもリ
セットトランジスタと同様に変動するため、ダイオード
素子の順方向電圧が変動する。このダイオードの順方向
電圧の変動により、リセットトランジスタのゲート印加
電圧は、チャネルポテンシャルの変動分が相殺されるよ
うに変化する。したがって、リセットトランジスタの特
性変動が生じても、常に理想的な状態でリセット動作を
行うことができて、最大蓄積電荷量を維持することがで
きる。
【0027】また、本願発明者らは、特開2000−2
6589号公報「固体撮像装置」において、上記特開平
9−130681号公報「固体撮像装置」のトランジス
タのソース電位をゲート下のチャネルポテンシャルより
高い状態に維持する電圧発生回路を更に備える固体撮像
素子を提案している。
【0028】
【発明が解決しようとする課題】上記各公報の固体撮像
装置では、同一プロセスにより形成された同一トランジ
スタ構造のトランジスタのゲートとリセットトランジス
タのゲートとを共通接続して、その共通接続点に基板外
部からコンデンサを介してリセットパルスを供給するよ
うにしている。このように、この固体撮像装置では、リ
セットトランジスタのゲートに対して外付けコンデンサ
が必要であった。このような固体撮像装置を小型・軽量
化、低コスト化するためには、この外付けコンデンサを
半導体基板上に配設する必要がある。
【0029】ところが、この外付けコンデンサは、例え
ば30mSの1フレーム時間の間、電荷を保持するため
にはその容量が50pF程度必要であり、50pF程度
のコンデンサを半導体基板上に配設するためには、かな
りの基板面積が占有されるために実用的ではない。ま
た、このコンデンサの基板占有面積を考慮すると、その
容量が10pF以内であるのが好ましい。しかし、コン
デンサの容量が10pF以内では、例えば30mSの1
フレーム時間の間、電荷を保持することができないとい
う問題を有していた。
【0030】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、製造工程におけるプロセスのばらつきによってリセ
ットトランジスタの特性変動が生じても、理想的な状態
でリセット動作を行い、かつ蓄積電荷量を維持すると共
に、小型・軽量化、低コスト化に寄与することができる
固体撮像素子を提供することを目的とする。
【0031】
【課題を解決するための手段】本発明の固体撮像素子
は、制御端子にリセット制御電圧、一方の駆動端子にリ
セット電圧、他方の駆動端子に電荷蓄積電圧がそれぞれ
印加可能とされるリセットトランジスタを有し、このリ
セットトランジスタを介してリセット制御電圧により電
荷蓄積電圧をリセット電圧にすると共に、該電荷蓄積電
圧に応じた信号電圧を出力可能とする固体撮像素子にお
いて、リセットトランジスタと同一プロセスにて同一ト
ランジスタ構造に形成され、制御端子と一方の駆動端子
とが接続されたドライバ用トランジスタと、このドライ
バ用トランジスタの他方の駆動端子およびリセット電圧
の印加部に接続された定電流源手段とを有するソースフ
ォロワ回路が設けられ、このソースフォロワ回路で発生
させた出力電圧をリセット電圧印加部に印加するもので
あり、そのことにより上記目的が達成される。
【0032】また、好ましくは、本発明の固体撮像素子
において、ドライバ用トランジスタの制御端子に印加さ
れる電圧は、リセットトランジスタの制御端子に印加さ
れるリセット制御電圧と同一電圧である。
【0033】さらに、好ましくは、本発明の固体撮像素
子における定電流源手段は、ドライバ用トランジスタの
他方の駆動端子に一方の駆動端子が接続された定電流源
用トランジスタを有する。
【0034】さらに、好ましくは、本発明の固体撮像素
子において、定電流源用トランジスタの制御端子に印加
される制御電圧として、1画面分の平均出力信号に応じ
た可変電圧を出力する第1定電流源用制御電圧供給手段
を更に有する。
【0035】さらに、好ましくは、本発明の固体撮像素
子において、定電流源用トランジスタの制御端子に印加
される制御電圧として、光電変換される電荷量に応じた
可変電圧を出力する第2定電流源用制御電圧供給手段を
更に有する。例えば、その制御電圧は、光電変換される
電荷量が多いときには大きく、光電変換される電荷量が
少ないときには小さくなるように制御される。
【0036】さらに、好ましくは、本発明のCMOS型
の固体撮像素子において、半導体基板上に、入射光を光
電変換する第1光電変換部と、この第1光電変換部で発
生した電荷を蓄積して電荷蓄積電圧を発生する第1電荷
蓄積領域と、リセットトランジスタと、ソースフォロワ
回路とを含む画素セルが一または複数配列されている。
【0037】さらに、好ましくは、本発明のCCD型の
固体撮像素子において、半導体基板上に、入射光を光電
変換する第2光電変換部と、この第2光電変換部で光電
変換した電荷を転送する電荷転送部と、この電荷転送部
から転送されてくる電荷を電荷蓄積電圧として蓄積する
第2電荷蓄積領域と、リセットトランジスタと、ソース
フォロワ回路とを含む画素セルが一または複数配列され
ている。
【0038】以下に、本発明の作用について説明する。
【0039】本発明にあっては、リセットトランジスタ
と同一半導体基板上に、リセットトランジスタと同一プ
ロセスにより同一トランジスタ構造のドライバ用トラン
ジスタを形成して、リセットトランジスタに電荷排出用
電位(リセット電圧)を印加するためのソースフォロワ
回路を構成している。ソースフォロワ回路は、その出力
のソース電位が入力電圧に追随して変化する。
【0040】製造工程におけるプロセスのばらつきによ
ってリセットトランジスタのしきい値電圧が高くなる
と、ソースフォロワ回路のドライバ用トランジスタのし
きい値電圧も高くなり、ソースフォロワ回路の出力電圧
が減少してリセットドレイン電圧が低くなる。したがっ
て、リセットトランジスタのしきい値電圧が高くなって
リセットゲート部のポテンシャルが低くなっても、フォ
トダイオード部とリセットドレイン部との間を導通(短
絡)させて、フォトダイオード部をリセットドレイン電
圧にリセットすることができる。
【0041】また、リセットトランジスタのしきい値電
圧が低くなると、ドライバ用トランジスタのしきい値電
圧も低くなり、ソースフォロワ回路の出力電圧が増加し
てリセットドレイン電圧が高くなる。したがって、リセ
ットトランジスタのしきい値電圧が低くなってリセット
ゲート部のポテンシャルが高くなっても、蓄積可能な電
荷量の最小値が減少するのを防ぐことができる。
【0042】さらに、特開平9−130681号公報お
よび特開2000−26589号公報に開示されている
固体撮像装置のように、リセットトランジスタのゲート
に印加されるリセットパルスに直流電圧を重畳するため
に、その直流電圧を保持するコンデンサを外付けで設け
る必要がなく、固体撮像素子の小型・軽量化および低コ
スト化を図ることができる。
【0043】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の型固体撮像素子
の実施形態について、図面に基づいて説明する。なお、
以下の各実施形態ではCMOS型固体撮像素子について
説明するが、CCD型固体撮像素子についても、本発明
は適用可能である。 (実施形態1)図1は、本発明の固体撮像素子の実施形
態1における要部構成を示す回路図である。なお、図と
同様の作用効果を奏する部材には同一の符号を付してそ
の説明を省略する。
【0044】図1において、本発明の固体撮像素子にお
ける各単位画素セルはそれぞれ、セレクトスイッチ用ト
ランジスタ1と、リセットトランジスタ2と、フローテ
ィングダイオード3と、増幅用トランジスタ4と、ドラ
イバ用トランジスタ8および定電流源手段9を組み合わ
せたソースフォロワ回路10とを有している。CMOS
型固体撮像素子では、半導体基板上に、このような単位
画素セルが複数、行方向および列方向にマトリクス状に
配置されている。
【0045】リセットトランジスタ2は、そのゲートに
印加されるリセットパルスのハイレベルが電源電圧であ
るときに、電位としてリセットドレイン電圧を有するド
レイン(リセットドレイン部)とソース(フローティン
グダイオード部)との間を導通(短絡)させることがで
きるように、ディプリージョン型トランジスタが用いら
れる。
【0046】ドライバ用トランジスタ8は、そのゲート
(制御端子)およびドレイン(一方の駆動端子)が電源
電圧と接続されており、そのゲートに電源電圧が印加さ
れたときのソースフォロワ回路10の出力が、リセット
ドレイン電圧としてリセットトランジスタ2に供給され
る。また、ドライバ用トランジスタ8のソース(他方の
駆動端子)は、定電流源手段9に接続されており、その
接続点がリセットトランジスタ2のドレインと接続され
ている。また、ドライバ用トランジスタ8は、同一半導
体基板上に、リセットトランジスタ2と同一プロセスに
て同一トランジスタ構造に形成される。さらに、ドライ
バ用トランジスタ8のゲートに印加される電圧は、リセ
ットトランジスタ2のゲートに印加されるリセットパル
ス(リセット制御電圧)のハイレベル電圧と同一電圧で
ある。
【0047】定電流源手段9は、その電流値が、電流量
のソースフォロワ回路10への影響を少なくするため
に、フローティングダイオード部にて光電変換により発
生する電流値(通常1μA以下)よりも十分大きな電流
値とするのが好ましく、例えば100μA程度とする。
ソースフォロワ回路10に流れる電流Iと、ドライバ用
トランジスタ8への入力電圧Vin、ドライバ用トラン
ジスタ8からの出力電圧Vout、ドライバ用トランジ
スタ8のしきい値電圧Vthとの関係は、理論的には、 I∝(Vin−Vout−Vth)2 で表される。
【0048】定電流源手段9に流れる電流値を100μ
Aとすると、フローティングダイオード3(フォトダイ
オード)が遮光されているときには、 I=100μA∝(Vin−Vout−Vth)2 で表される。
【0049】また、フローティングダイオード3に光が
入射されているときには、 I=101μA∝(Vin−Vout’−Vth)2 で表される。
【0050】したがって、フローティングダイオード3
の遮光時と光入射時とでソースフォロワ回路10からの
出力電圧がVoutからVout’に変動するが、定電
流源手段9に流れる電流値が100μA程度であれば、
出力電圧の変化量を小さくすることができる。
【0051】上記構成により、以下、その動作を説明す
る。
【0052】図4のタイミングチャートを用いて、図1
のCMOS型固体撮像素子の動作を説明する。
【0053】まず、図4に示すように、1フレーム期間
の開始時に、リセットパルスがハイレベルとなってリセ
ットトランジスタ2のゲートに正電圧が印加される。こ
れによって、リセットドレイン部とフローティングダイ
オード3との間が電気的に導通(短絡)され、フローテ
ィングダイオード3の電荷蓄積領域N1の電荷蓄積電圧
はリセットドレイン電圧(リセット電圧)に固定(リセ
ット)される。
【0054】次に、リセットパルスがローレベルとなる
と、リセットドレイン部とフローティングダイオード3
の電荷蓄積領域N1とは電気的に遮断される。このと
き、光がフローティングダイオード3に入射すると、光
の入射量に比例した電荷が発生し、これが負方向の電圧
に変換される。これによって、リセットドレイン電圧に
リセットされていたフローティングダイオード3の電荷
蓄積領域N1の電位が低くなっていく。
【0055】さらに、1フレーム期間の終了時に、セレ
クトパルスがハイレベルになると、セレクトスイッチ用
トランジスタ1にて行方向の各単位画素セルが行信号線
6と共にそれぞれ選択され、更に選択された列信号線5
を介して、リセットドレイン電圧とフローティングダイ
オード3の電位との差分(電荷蓄積電圧)に応じた信号
成分(増幅信号電圧)が出力される。
【0056】その後、再びリセットパルスがハイレベル
になると、フローティングダイオード3の電荷蓄積領域
N1の電荷蓄積電圧はリセットドレイン電圧にリセット
される。
【0057】このような動作が各フレーム期間(例えば
30mS)に行われる。なお、本実施形態1において、
上記リセットパルスおよびセレクトパルスのハイレベル
は電源電圧、ローレベルは0Vであり、ここでは電源電
圧を3Vとしている。
【0058】ここで、本実施形態1において、リセット
トランジスタ2のドレインに印加されるリセットドレイ
ン電圧は、ソースフォロワ回路10から供給される。ソ
ースフォロワ回路10からの出力電圧(ドライバ用トラ
ンジスタ8のソース部の電圧)は、ドライバ用トランジ
スタ8のゲートに電源電圧が印加されたときのゲート下
のポテンシャル(チャネルポテンシャル)よりも低い電
圧値である。また、ドライバ用トランジスタ8は、画素
セルを構成するリセットトランジスタ2と同一トランジ
スタ構成であるため、ソースフォロワ回路10からの出
力電圧は、リセットトランジスタ2のゲート下のポテン
シャルよりも低くなる。したがって、画素セルを構成す
るリセットトランジスタ2のゲートにリセットパルスと
して電源電圧を印加すれば、ソースフォロワ回路10の
出力電圧と同じ電位になっているリセットドレイン部と
フローティングダイオード部との間を電気的に導通(短
絡)させることができる。
【0059】また、製造工程のプロセスばらつきが大き
くなってリセットトランジスタ2のしきい値電圧が大き
く(Vth+ΔVh)なった場合には、リセットトラン
ジスタ2のゲートに電源電圧を印加したときのゲート下
のポテンシャルはΔVhに相当する分だけ低くなるが、
ソースフォロワ回路10からの出力電圧であるリセット
ドレイン電圧もΔVh分だけ低くなる。この理由は、以
下の通りである。上述したように、リセットトランジス
タ2のしきい値電圧がVhであるときのソースフォロワ
回路10に流れる電流Iは、 I∝(Vin−Vout−Vth)2 で表される。
【0060】しきい値電圧がΔVhだけ大きくなった場
合の電流I’は、 I’∝(Vin−Vout’−(Vth+ΔVh))2 で表される。
【0061】一方、定電流源手段9によって、ソースフ
ォロワ回路10に流れる電流I=I’となっている。し
たがって、 Vout’=Vout−ΔVh となるからである。
【0062】このため、製造工程のプロセスばらつきが
大きくなってリセットトランジスタ2のしきい値電圧が
大きく(Vth+ΔVh)なってゲート下のポテンシャ
ルが低くなっても、画素セルを構成するリセットトラン
ジスタ2にリセットパルスとして電源電圧を印加すれ
ば、ソースフォロワ回路10の出力電圧と同じ電位(V
out−ΔVh)になっているリセットドレイン部とフ
ローティングダイオード部との間を電気的に導通(短
絡)させて、フォトダイオード部をリセットドレイン電
圧にリセットすることができる。
【0063】また、製造工程のプロセスばらつきが大き
くなってリセットトランジスタ2のしきい値電圧が小さ
く(Vth−ΔVh)なった場合には、リセットトラン
ジスタのゲートに電源電圧を印加したときのゲート下の
ポテンシャルはΔVhに相当する分だけ高くなるが、ソ
ースフォロワ回路10からの出力電圧であるリセットド
レイン電圧もΔVh分だけ高くなる。この理由は、以下
の通りである。上述したように、リセットトランジスタ
のしきい値電圧がVhであるときのソースフォロワ回路
10に流れる電流Iは、 I∝(Vin−Vout−Vth)2 で表される。
【0064】しきい値電圧がΔVhだけ小さくなった場
合の電流I’は、 I’∝(Vin−Vout’−(Vth−ΔVh)2 で表される。
【0065】一方、定電流源手段9によって、ソースフ
ォロワ回路10に流れる電流I=I’となっている。し
たがって、 Vout’=Vout+ΔVh となるからである。このため、製造工程のプロセスばら
つきが大きくなってリセットトランジスタ2のしきい値
電圧が小さく(Vth−ΔVh)なってゲート下のポテ
ンシャルが高くなっても、リセットドレイン部とフロー
ティングダイオード部の電位が高く(Vout+ΔV
h)なるので、従来技術において生じていたような、し
きい値電圧の変動によって蓄積可能な電荷量が減少する
という不具合を防ぐことができる。
【0066】さらに、電源電圧の変動があった場合に
は、リセットトランジスタ2のゲートに電源電圧を印加
したときのゲート下のポテンシャルが変動するが、ソー
スフォロワ回路10からの出力電圧であるリセットドレ
イン電圧もその変動に追随して変動する。したがって、
電源電圧の変動が生じても、リセットドレイン部とフロ
ーティングダイオード部との間を電気的に導通(短絡)
させて、フォトダイオード部をリセットドレイン電圧に
リセットすることができる。
【0067】さらに、本実施形態1の固体撮像素子にお
いて、ソースフォロワ回路10は、リセットドレイン電
圧を発生するためのものであり、特開平9−13068
1号公報および特開2000−26589号公報に開示
されている固体撮像装置のように、リセットトランジス
タのゲートに印加されるリセットパルスに重畳する直流
電圧を発生させるものではないので、その直流電圧を保
持するコンデンサを外付けで設ける必要はない。このた
め、コンデンサを半導体基板上に配設する必要もなくな
り、固体撮像素子の小型・軽量化および低コスト化を図
ることができる。
【0068】(実施形態2)図2は、本発明の固体撮像
素子の実施形態2における要部構成を示す回路図であ
る。なお、図2において、図1と同一の機能を有する構
成部材については、同一の番号を付して説明を省略す
る。
【0069】本実施形態2では、ソースフォロワ回路1
0の具体例として、ドライバ用トランジスタ8と、この
ドライバ用トランジスタ8のソース(他方の駆動端子)
にドレイン(一方の駆動端子)が接続された定電流源用
トランジスタ11とを有するソースフォロワ回路10A
が配設されている。さらに、定電流源用トランジスタ1
1のゲート(制御端子)に印加される制御電圧として、
1画面分の平均出力信号に応じた可変電圧を出力する第
1定電流源用制御電圧供給手段としてのDAコンバータ
12を更に有している。
【0070】ドライバ用トランジスタ8は、上記実施形
態1の場合と同様に、リセットトランジスタ2と同一ト
ランジスタ構造であって、同一プロセスにより同一基板
上に形成されている。ドライバ用トランジスタ8のゲー
トおよびドレインは電源電圧端子と接続されており、ド
ライバ用トランジスタ8のゲートに電源電圧が印加され
たときのソースフォロワ回路10Aの出力が、リセット
ドレイン電圧としてリセットトランジスタ2のドレイン
に供給されるようになっている。また、ドライバ用トラ
ンジスタ8のソースは、定電流源用トランジスタ11の
ドレインと接続され、その接続点がリセットトランジス
タ2のドレインと接続されている。定電流源用トランジ
スタ11のソースは、接地されている。
【0071】定電流源用トランジスタ11のゲートは、
DAコンバータ12に接続されており、DAコンバータ
12からの出力電圧によって、定電流源用トランジスタ
11に流れる電流が制御されるようになっている。
【0072】DAコンバータ12には、この固体撮像装
置に設けられている信号処理部(図示せず)、または外
部に設けられている信号処理部(図示せず)から、1画
面分の平均出力信号の情報を有するデジタルデータが入
力される。DAコンバータ12は、平均出力信号が大き
いときには大きいアナログ電圧を出力し、平均出力信号
が小さいときには小さいアナログ電圧を出力するように
なっている。
【0073】なお、本実施形態2では、上記定電流源用
トランジスタ11の制御端子に印加される制御電圧とし
て、1画面分の平均出力信号に応じた可変電圧を出力す
るように構成したが、これに限らず、光電変換される電
荷量に応じた可変電圧を出力するように構成してもよ
い。即ち、1画面の平均出力信号値が大きいと光電変換
される電荷量もそれに比例して大きくなる。この場合、
DAコンバータ12の出力電圧を定電流源用トランジス
タ11のゲートに印加することによって、光電変換され
る電荷量が多いときには定電流源用トランジスタ11に
流れる電流量を大きく、電荷量が少ないときには定電流
源用トランジスタに流れる電流量を小さくすることがで
き、撮像状況に応じて定電流源用トランジスタ11に流
れる電流量を制御することができる。したがって、上記
実施形態1のように一定の大きな電流(100μA程
度)を常時ソースフォロワ回路10に流す必要がないた
め、更なる消費電力の低減を図ることができる。
【0074】このように、本実施形態2では、定電流源
用トランジスタ11のゲートに印加される電圧を可変と
するためにDAコンバータ12を用いたが、光電変換さ
れる電荷量に基づいてソースフォロワ回路に流れる電流
を制御することが可能であれば、他の手段を用いてもよ
い。
【0075】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、リセッ
トトランジスタと同一半導体基板上に、リセットトラン
ジスタと同一プロセスにより同一トランジスタ構造のド
ライバ用トランジスタを形成して、リセットトランジス
タに電荷排出用電位(リセット電圧)を印加するための
ソースフォロワ回路を構成しているため、製造工程にお
けるプロセスのばらつきによってリセットトランジスタ
のしきい値電圧が変動したり、電源電圧が変動しても、
その変動に追随するようにリセットドレイン電圧を変動
させることができる。これによって、フォトダイオード
部とリセットドレイン部との間を導通(短絡)させて、
フォトダイオード部をリセットドレイン電圧にリセット
することができる。また、リセットトランジスタのしき
い値電圧が低くなっても、蓄積可能な電荷量が減少する
のを防ぐことができる。
【0076】さらに、上記特開平9−130681号公
報および特開2000−26589号公報に開示されて
いる固体撮像装置のように、リセットトランジスタのゲ
ートに印加されるリセットパルスに直流電圧を重畳する
ために、その直流電圧を保持するコンデンサを外付けで
設ける必要がなく、固体撮像素子の小型・軽量化、低コ
スト化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の固体撮像素子の実施形態1における要
部構成を示す回路図である。
【図2】本発明の固体撮像素子の実施形態2における要
部構成を示す回路図である。
【図3】従来の固体撮像素子における単位画素セルの要
部構成を示す回路図である。
【図4】CMOS型固体撮像素子の動作を説明するため
のタイミングチャートである。
【図5】ディプリージョン型トランジスタにおけるゲー
ト電圧とゲート下のポテンシャルとの関係を示す図であ
る。
【図6】(a)〜(c)はそれぞれ、リセットトランジ
スタのしきい値電圧が最大、標準および最小の場合につ
いて、フローティングダイオード部、リセットゲート
部、リセットドレイン部のポテンシャルを示す図であ
る。
【符号の説明】
1 セレクトスイッチ用トランジスタ 2 リセットトランジスタ 3 フローティングダイオード 4 増幅用トランジスタ 5 列信号線 6 行信号線(セレクトパルス用) 7 リセットパルス信号線 8 ドライバ用トランジスタ 9 定電流源手段 10,10A ソースフォロワ回路 11 定電流源用トランジスタ 12 DAコンバータ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 制御端子にリセット制御電圧、一方の駆
    動端子にリセット電圧、他方の駆動端子に電荷蓄積電圧
    がそれぞれ印加可能とされるリセットトランジスタを有
    し、該リセットトランジスタを介して該リセット制御電
    圧により該電荷蓄積電圧をリセット電圧にすると共に、
    該電荷蓄積電圧に応じた信号電圧を出力可能とする固体
    撮像素子において、 該リセットトランジスタと同一プロセスにて同一トラン
    ジスタ構造に形成され、制御端子と一方の駆動端子とが
    接続されたドライバ用トランジスタと、該ドライバ用ト
    ランジスタの他方の駆動端子および該リセット電圧の印
    加部に接続された定電流源手段とを有するソースフォロ
    ワ回路が設けられ、該ソースフォロワ回路で発生させた
    出力電圧を該リセット電圧印加部に印加する固体撮像素
    子。
  2. 【請求項2】 前記ドライバ用トランジスタの制御端子
    に印加される電圧は、前記リセットトランジスタの制御
    端子に印加されるリセット制御電圧と同一電圧である請
    求項1記載の固体撮像素子。
  3. 【請求項3】 前記定電流源手段は、前記ドライバ用ト
    ランジスタの他方の駆動端子に一方の駆動端子が接続さ
    れた定電流源用トランジスタを有する請求項1記載の固
    体撮像素子。
  4. 【請求項4】 前記定電流源用トランジスタの制御端子
    に印加される制御電圧として、1画面分の平均出力信号
    に応じた可変電圧を出力する第1定電流源用制御電圧供
    給手段を更に有する請求項3記載の固体撮像素子。
  5. 【請求項5】 前記定電流源用トランジスタの制御端子
    に印加される制御電圧として、光電変換される電荷量に
    応じた可変電圧を出力する第2定電流源用制御電圧供給
    手段を更に有する請求項3に記載の固体撮像素子。
  6. 【請求項6】 半導体基板上に、入射光を光電変換する
    第1光電変換部と、該第1光電変換部で発生した電荷を
    蓄積して前記電荷蓄積電圧を発生する第1電荷蓄積領域
    と、前記リセットトランジスタと、前記ソースフォロワ
    回路とを含む画素セルが一または複数配列されている請
    求項1記載の固体撮像素子。
  7. 【請求項7】 半導体基板上に、入射光を光電変換する
    第2光電変換部と、該第2光電変換部で光電変換した電
    荷を転送する電荷転送部と、該電荷転送部から転送され
    てくる電荷を前記電荷蓄積電圧として蓄積する第2電荷
    蓄積領域と、前記リセットトランジスタと、前記ソース
    フォロワ回路とを含む画素セルが一または複数配列され
    ている請求項1記載の固体撮像素子。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4340660B2 (ja) * 2005-04-14 2009-10-07 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP5458690B2 (ja) * 2009-06-22 2014-04-02 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラ
JP5625284B2 (ja) * 2009-08-10 2014-11-19 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP6137997B2 (ja) * 2012-10-31 2017-05-31 ルネサスエレクトロニクス株式会社 固体撮像装置
CN105681695B (zh) * 2014-11-17 2018-12-04 北京计算机技术及应用研究所 一种cmos图像传感器像素电路及其控制方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62230052A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Toshiba Corp 電荷転送装置
JPH06245144A (ja) * 1993-02-16 1994-09-02 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置の駆動方法
JP3439581B2 (ja) 1995-10-31 2003-08-25 シャープ株式会社 固体撮像装置
JP3540514B2 (ja) 1996-08-07 2004-07-07 富士写真フイルム株式会社 Ccd電荷検出回路
US6697111B1 (en) * 1998-04-08 2004-02-24 Ess Technology, Inc. Compact low-noise active pixel sensor with progressive row reset
JP3415775B2 (ja) * 1998-07-17 2003-06-09 シャープ株式会社 固体撮像装置
JP4207268B2 (ja) * 1998-10-14 2009-01-14 ソニー株式会社 電荷検出装置並びにこれを搭載した電荷転送装置および固体撮像装置
KR100313509B1 (ko) * 1999-03-27 2001-11-07 김영환 고체촬상소자의 리셋 게이트 바이어싱회로
US6677996B1 (en) * 1999-04-21 2004-01-13 Pictos Technologies, Inc. Real time camera exposure control
JP3601053B2 (ja) * 1999-04-22 2004-12-15 日本電気株式会社 固体撮像装置
KR100359770B1 (ko) * 2000-03-02 2002-11-04 주식회사 하이닉스반도체 씨모스 이미지 센서의 액티브 픽셀 회로
JP3750502B2 (ja) * 2000-08-03 2006-03-01 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム

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