JP2003234508A - 半導体発光素子駆動回路 - Google Patents

半導体発光素子駆動回路

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JP2003234508A
JP2003234508A JP2003000470A JP2003000470A JP2003234508A JP 2003234508 A JP2003234508 A JP 2003234508A JP 2003000470 A JP2003000470 A JP 2003000470A JP 2003000470 A JP2003000470 A JP 2003000470A JP 2003234508 A JP2003234508 A JP 2003234508A
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emitting element
light emitting
semiconductor light
circuit
driving
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Hiroyuki Nakamura
博之 中村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 バイポーラトランジスタのコレクタと直列回
路の間に発生する寄生インダクタンスの発生を抑える。 【解決手段】 発光素子4を駆動する為の半導体発光素
子駆動回路において、発光素子4を駆動する為の制御信
号がベースに入力され、制御信号に応答してエミッタ・
コレクタ間に電流を流すことにより、発光素子を駆動す
るバイポーラトランジスタ1と、バイポーラトランジス
タに接続された定電流源3と、バイポーラトランジスタ
1と発光素子4との間のラインに接続された、抵抗10
9とコンデンサ110の直列回路と、を1チップ化し
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、表示装置(displ
ays)や表示器(indicators)やLEDプ
リンタヘッド等に用いられるLED駆動回路や、光ディ
スク装置やIC製造用の露光装置やレーザービームプリ
ンタ等に用いられるレーザー光源用の駆動回路や、光通
信用の発光素子の駆動回路として用いられる半導体発光
素子駆動回路に関する。
【0002】
【従来の技術】発光ダイオード(LED)や半導体レー
ザーに代表される半導体発光素子の駆動回路としては、
発光素子のカソードを低電位の基準電圧源に接続し、そ
のアノード側に定電流源を接続したカソードコモン回路
と、発光素子のアノードを高電位の基準電圧源に接続
し、そのカソード側にスイッチング回路と定電流源とを
接続したアノードコモン回路と、の2種類がある。
【0003】前者の側は特開平2−296382号等に
開示されている。一方、後者は、前者よりもスイッチン
グ速度が速い為に今後の主流の回路として期待されてい
る。
【0004】図9は従来の半導体発光素子駆動回路の一
例を示す回路図である。
【0005】図9において、1,2は差動接続されたバ
イポーラトランジスタ、3は定電流動作するバイポーラ
トランジスタ、4は半導体発光素子、5は抵抗、6は半
導体発光素子を駆動するバイポーラトランジスタと半導
体発光素子間の配線によるインダクタンス、7は半導体
発光素子と電源間の配線によるインダクタンス、8は半
導体発光素子の接合容量、9,10はバイポーラトラン
ジスタ1,2のコレクタ・エミッタ容量、11はバイポ
ーラトランジスタ3のベース・コレクタ容量である。
【0006】図9に示すように、従来の半導体集積回路
による半導体発光素子駆動回路では、差動接続されたバ
イポーラトランジスタ1,2のエミッタは、同一導伝型
の定電流源として動作するバイポーラトランジスタ3の
コレクタへ接続されるように構成されている。
【0007】又、従来、半導体発光素子を高速で電流ス
イッチングする回路としては、図13に示すような個別
部品である抵抗109とコンデンサ110の直列接続さ
れた回路を、図14に示すように、集積回路117が収
容されるパッケージ116の外部に設けるように構成さ
れている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】まず、参考のために本
発明に係わる参考例に関する課題について説明する。
【0009】図9の従来例の様な構成にすると、半導体
発光素子を駆動する電流波形は著しく乱されてしまうこ
とがある。
【0010】図10は、図9の例において、半導体発光
素子の駆動電流が乱されるメカニズムを説明する為の図
である。図10に従い、このメカニズムを説明する。
【0011】半導体発光素子4は、数mA〜100mA
程度の定電流で高速にスイッチングされる必要が有る。
この定電流値をIとし、インダクタンス6の値をL1
インダクタンス7の値をL2 とする。トランジスタ1が
カット・オフ状態から能動状態となり、半導体発光素子
4に流れる電流が略ゼロから定電流値Iにまで到達する
時間をtとすると、インダクタンス6,7で、この電流
変化によって生ずる逆起電圧V1 、V2 は V1 =L1 ・I/t , V2 =L2 ・I/t となる。V1 はトランジスタ1のコレクタ・エミッタ容
量9、トランジスタ3のベース・コレクタ容量11を通
し、トランジスタ3のベースへ伝送される。同様に、V
2 は半導体発光素子4の接合容量8を経て、9,11を
通し、3のベースへ伝送される。
【0012】また、バイポーラトランジスタの相互コン
ダクタンスgm は、 gm =∂Ic /∂VBE=qIC /kT で表わされる。即ち、ベースへ与えられる電位の変化
は、大きなコレクタ電流の変化として現われる事にな
る。従って、従来構成によると、配線インダクタンスで
発生した電位変動は、定電流動作するトランジスタ3の
ベースへ伝達され、コレクタ電流、即ち、半導体発光素
子の駆動電流波形を乱すことになる。
【0013】波形の乱れは、オーバーシュート、リンギ
ングによって表わされるが、オーバーシュートが発生す
ると、半導体発光素子が劣化し、ひいては半導体発光素
子を用いている製品寿命を短くしてしまう。
【0014】これを回避する為には図11に示す様に、
半導体発光素子駆動回路を蔵するパッケージ外部に、抵
抗12、コンデンサ13によるスナバ回路の追加する構
成や、或いは、図12に示す様に、差動接続されたエミ
ッタ、定電流動作するトランジスタのベース、コレクタ
を端子へ引き出し、コイル14の挿入、或いは容量15
の挿入によって、定電流の安定化を図る手法が考えられ
る。
【0015】しかしながら、図11の様な手法では、オ
ーバーシュートを取る為の抵抗、容量より立上がり時間
が遅れ、駆動周波数の低下を招く恐れがある。
【0016】又、図12の様な手法によると、パッケー
ジピン数の増加、部品の増加が生じる。図11、図12
中で符号19,20,21,22は接続端子を示す。
【0017】次に本発明に係わる課題について説明す
る。
【0018】図13は、従来例における寄生素子(寄生
インダクタンス成分)を含めた等価回路図であり、図1
4は、図13に対応した実装状態図である。図13、図
14において、1,2は、集積回路117内に形成され
た、差動接続されたバイポーラトランジスタであり、3
は定電流源であり、4は半導体発光素子であり、5は抵
抗であり、106は半導体発光素子を駆動するバイポー
ラトランジスタのコレクタとパッケージ116のピンを
接続するボンディングワイヤによる寄生インダクタンス
であり、107はピンの寄生インダクタンスであり、1
08はピンから半導体発光素子4までの配線による寄生
インダクタンスであり、109は抵抗であり、110は
コンデンサであり、112は抵抗109とコンデンサ1
10の直列接続に伴う寄生インダクタンスであり、15
は電源であり、114,115はトランジスタ1,2を
駆動する相補パルス信号であり、117はトランジスタ
1,2を含む集積回路である。
【0019】半導体発光素子は、数mA〜100mA程
度の定電流で高速にスイッチングされる必要がある。
今、この定電流値をIとし、寄生インダクタンス10
6、107、108、112の値をそれぞれL1
2 、L3 、L4 とする。図15は、図13のトランジ
スタ1をスイッチ18で表し、L1 =L2 =0〔H〕と
したときの近似回路である。図15において、時刻t=
0において、スイッチ118を閉じると、A点の電位を
A とし、電源電位をVCCとすると、A点において、次
の式が成立する。
【0020】 VA =1/C・∫i2 dt+L4 ・di1 /dt+Ri2 (1) VA =VCC−L3 ・di1 /dt (2) i1 =i2 +I (3) 式(3)を式(1)に代入して微分すると、以下の式
(4)が得られる。
【0021】 dVA /dt=1/C(i1 −I)+L4 ・d2 1 /dt2 +R・di1 /dt (4) また、式(2)を微分して以下の式(5)が得られる。
【0022】 dVA /dt=−L3 2 1 /dt2 (5) 式(4)および式(5)より、以下の式(6)が得られ
る。
【0023】 (L3 +L4 )・d2 1 /dt2 +R・di1 /dt +1/C(i1 −I)=0 (6) 式(6)の特性方程式ψ(D)は次のように表される。
【0024】 ψ(D)=(L3 +L4 )D2 +R・D+1/C (7) ψ(D)=0の根をλ1 、λ2とすると、過度解は次の
ようになる。
【0025】 i1 =K1 ・eのλ1 t乗+K2 ・eのλ2 t乗 (K1 、K2 は定数) (8) また、スイッチ118を閉じた後の定常状態では、i1
=Iであるので、一般解は、以下の式(9)になる。
【0026】 i1 =I+K1 ・eのλ1 t乗+K2 ・eのλ2 t乗 (9) 式(7)を解くと、以下の式(10)になる。
【0027】 D=−R/2(L3 +L4 )±j√(ω0 2−τ-2) =−τ-1±jωf =λ1 、λ2 (10) ただし、ω0 =1/√((L3 +L4 )C)、τ=2
(L3 +L4 )/R、ωf =√(ω0 2−τ-2) 式(10)で√内は、正負いずれの値もとるので、次の
3つの場合がある。
【0028】 ω0 > τ-2 ω0 < τ-2 ω0 = τ-2 の場合、λ1 、λ2とも複素数となり、i1 は振動的
になる。式(9)を微分すると、以下の式(11)が得
られる。
【0029】 di1 /dt=K1 λ1 ・eのλ1 t乗+K2 λ2 ・eのλ2 t乗 (11) 式(9)と式(11)で、t=0で、i1 =0、t=∞
で、i1 =Iとすると、0=I+K1 +K2 、0=K1
λ1 +K2 λ2 となる。これから、K1 =λ2 I/(λ
1 −λ2 )、K2 =−λ1 I(λ1 −λ2 )となる。
【0030】従って、以下の式(12)が得られる。
【0031】 i1 =I{1−ω0 /ωf ・eの−t/τ乗・sin(ωf t+θ)} θ=tan-1ωf τ (12) 式(12)は、周波数ωf の振動が時定数τに沿う形で
対数的に減少する。
【0032】の場合、λ1 、λ2 とも負の実数となる
ため、非振動状態となる。
【0033】λ1 、λ2 =−τ-1±ωs ただし、ωs =jωf 、 ωf =√〔{R/2((L3 +L4 )}2−{1/√
((L3 +L4 )C)}2 〕 従って、以下の式(13)が得られる。
【0034】 i1 =I{1−ω0 /ωs ・eの−t/τ乗・sin(ωS t+θ)} θ=tan-1ωs τ (13) このため、i1 は対数的に変化する。
【0035】の場合、λ1 =λ2 =−τ-1となり、臨
界点にあたる。
【0036】ωf =0で、ω0 =τ-11 =I{1−ω0 /ωs ・eの−t/τ乗・sin
(ωf t+θ)} 従って、ωf →0で、i1 =I{1+(1+t/τ)・
eの−t/τ乗}となる。
【0037】、、の各場合、半導体発光素子を流
れる電流波形は、それぞれ、図16(a)、(b)、
(c)のようになる。ここで、図16(a)の場合に
は、オーバーシュートの発生によって半導体発光素子の
寿命を損ない、製品寿命を短くしてしまう欠点があり、
図16(b)の場合には、立上がり時間が大きく、高速
スイッチングできないという欠点がある。最も望ましい
のは、図16(c)の波形である。この場合、式(1
1)より、 1/√((L3 +L4 )C)=R/2(L3 +L4 ) (14) となり、寄生インダクタンスL3 、L4 の値より、立上
がり時間を最も速くできる抵抗9の抵抗値とコンデンサ
10の容量を決定できる。
【0038】さて、ここで、重要なことは、上記定量的
考察において仮定したL1 =L2 =0(H)である。L
1 =L2 =0(H)と仮定したために、最も立上がりの
速くかつオーバーシュートのない抵抗109の抵抗値と
コンデンサ110の容量の定数を決定できたが、従来で
は、パッケージの外部に個別部品である抵抗、コンデン
サを用いていたため、ボンディングワイヤによる寄生イ
ンダクタンス106(=L1 )、パッケージのピンによ
る寄生インダクタンス107(=L2 )が存在するた
め、L1 =L2 =0(H)とすることができない。この
ため、オーバーシュートの発生を抑えることが困難であ
り、オーバーシュートの発生を抑えるためには、コンデ
ンサ110の容量を大きくしなければならないが、コン
デンサ110の容量を大きくすると動作速度が遅くな
る。
【0039】(発明の目的)本発明の第1の目的は、半
導体発光素子の駆動電流波形の乱れを無くし、安定した
駆動電流により半導体発光素子を駆動することにより、
半導体発光素子の劣化が無く、製品寿命を長くできる半
導体発光素子駆動回路を実現することにある。
【0040】また、本発明の第2の目的は駆動周波数の
低下や、パッケージピン数の増加、部品の増加を解決で
きる半導体発光素子駆動回路を提供することにある。
【0041】本発明の第3の目的は、発光素子を駆動す
る為の半導体発光素子駆動回路において、該発光素子を
駆動する為の制御信号がベースに入力され、該制御信号
に応答してエミッタ・コレクタ間に電流を流すことによ
り、該発光素子を駆動するバイポーラトランジスタと、
該バイポーラトランジスタに接続された定電流源と、該
バイポーラトランジスタと該発光素子との間のラインに
接続された、抵抗とコンデンサの直列回路と、を1チッ
プ化したことを特徴とする半導体素子駆動回路を提供す
ることにある。
【0042】本発明の第4の目的は、集積回路内に形成
された、差動接続された2つのバイポーラトランジスタ
と、該バイポーラトランジスタの共通エミッタに接続さ
れた定電流源と、バイポーラトランジスタのうちの1つ
のトランジスタのコレクタに接続された半導体発光素子
を有し、前記バイポーラトランジスタのそれぞれのベー
スに相補的なパルス信号を加えることによって前記半導
体発光素子を駆動する半導体発光素子駆動回路におい
て、バイポーラトランジスタが形成される集積回路内に
抵抗とコンデンサの直列回路を形成し、該直列回路を前
記バイポーラトランジスタのコレクタと電源または基板
電位の間に接続することによってオーバーシュートを効
果的に抑制すると共に動作速度の低下を防ぐようにした
回路を提供することにある。
【0043】
【課題を解決するための手段】本発明の基本構成は、発
光素子を駆動する為の制御信号が入力されるバイポーラ
トランジスタと、該バイポーラトランジスタに定電流を
供給する為の定電流源と、を有する駆動回路である。
【0044】そして、該バイポーラトランジスタが、制
御信号としてのオン信号の入力によって、オンし、エミ
ッタ・ベース間に電流を流す。この電流は発光素子を駆
動する為の電流であり、定電流源より供給されるもので
ある。
【0045】本発明では、バイポーラトランジスタと絶
縁ゲート型トランジスタを同一基板上に有する半導体集
積回路で、差動接続されたバイポーラトランジスタをス
イッチング回路として用い、それに接続されて駆動され
る発光素子を有する半導体発光素子駆動回路において、
前記差動接続されたバイポーラトランジスタに、絶縁ゲ
ート型トランジスタを用いた定電流回路を接続した。
【0046】これにより、相互コンダクタンスの小さな
絶縁ゲート型トランジスタを用いて定電流源の応答性を
制御する事により、発光素子の駆動電流に発生するオー
バーシュート,リンギングを抑制することができる。
【0047】また、前記絶縁ゲート型トランジスタが複
数個並列接続されていることを特徴とする。絶縁ゲート
型トランジスタは、パワーMOSトランジスタのよう
に、特殊なプロセスによって形成されるものを除き、本
発明のようにバイポーラトランジスタと同一集積回路内
に形成されるものは、主として論理回路に用いられるた
め、その扱う電流は、通常1μA以下である。従って、
半導体発光素子を駆動するための数mA〜100mAの
電流を得るためには、巨大な絶縁ゲート型トランジスタ
が必要となる。シミュレーションによって得た該絶縁ゲ
ート型トランジスタの大きさは、ゲート幅2000μ
m、ゲート長3μmである。このような大きさの絶縁ゲ
ート型トランジスタでは、もはや集中定数的に扱うこと
ができず、電流密度がトランジスタ内で異なることとな
ってしまうことがある。この点をより改善する為には絶
縁ゲート型トランジスタを複数個並列接続するとよい。
【0048】また、前記定電流源として用いられる絶縁
ゲート型トランジスタのゲート部に、抵抗、容量より成
る時定数回路を接続したことを特徴とする半導体発光素
子駆動回路により、時定数を最適化する事で、ゲート電
位波形を制御することができ、オーバーシュート,リン
ギングの無い電流波形が得られる。
【0049】また、前記バイポーラトランジスタのベー
スに、相補信号が入力されることによって駆動されるこ
とを特徴とする半導体発光素子駆動回路により、該バイ
ポーラトランジスタは、飽和状態となることなくスイッ
チングされるため、最も高速の電流スイッチングが可能
となる。
【0050】すなわち、本発明によれば、差動接続され
たバイポーラトランジスタのエミッタへ接続される定電
流源として絶縁ゲート型トランジスタを用い、必要に応
じてそのゲートに抵抗、容量より成る時定数回路を接続
することによって、オーバーシュート,リンギングの無
い、高速な電流パルス波形を得る事が出来る。
【0051】又、本発明においては、一対のバイポーラ
トランジスタからなる差動接続されたスイッチング回路
に、該回路と共に抵抗とコンデンサとの直列回路を一体
的に集積化して1チップICとした。
【0052】更に、より好ましくは、差動接続された一
対のバイポーラトランジスタからなるスイッチング回路
と絶縁ゲート型トランジスタからなる定電流回路とを有
する駆動手段を発光素子のカソード側に接続した駆動回
路であって、抵抗とコンデンサとの直列回路を該発光素
子のカソード側に接続するとともに、該駆動回路と該直
列回路とを1チップに集積化したことを特徴とする回路
にするとよい。
【0053】これらの駆動回路は周知のICプロセス技
術によって1チップICとして実現できるが、ヒ化ガリ
ウムやインジウムリン等の化合物半導体を用いて作製し
てもよい。発光素子と同じ化合物半導体で駆動回路を作
製する場合には、両者を一体化して1チップ化すること
も容易になるであろう。
【0054】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。
【0055】(第1の参考例)図1は、本発明の第1の
参考例による半導体発光素子駆動回路の回路図である。
同図において、1,2は差動接続されたnpnトランジ
スタ、3は1,2の共通エミッタへドレインが接続さ
れ、定電流動作する絶縁ゲート型トランジスタとなるN
MOSトランジスタ、4はカソードが、配線による寄生
インダクタンス6を介してnpnトランジスタ1のコレ
クタへ接続される半導体発光素子、5はnpnトランジ
スタ2のコレクタへ接続される、負荷である抵抗、7は
半導体発光素子4のアノードと高電位の基準電圧源であ
る電源15の間の配線による寄生インダクタンス、8は
半導体発光素子4の接合容量Cj 、9,10はnpnト
ランジスタ1,2のエミッタ・コレクタ間容量、11は
定電流源として動作するNMOSトランジスタ3のドレ
イン・ゲート間容量、12はその一端がNMOSトラン
ジスタ3のゲートと、容量13の一端へ接続される抵抗
であり、該抵抗の他端は、バイアス電位を与えるNMO
Sトランジスタ14のゲート及びドレインへ接続され、
又、13の容量の他端は低電位の基準電圧源である接地
電位16へ接続される。17,18は差動接続されたn
pnトランジスタのベースへ相補スイッチング信号を与
えるインバータである。19はNMOSトランジスタ1
4へ定電流を供給する定電流源である。
【0056】図2は、本参考例における各部の電圧波
形、電流波形を示したものである。図2において本参考
例の動作を詳述する。
【0057】インバータ17がHiレベルをnpnトラ
ンジスタ1のベースへ与え、インバータ18がLoレベ
ルをnpnトランジスタ2のベースへ与える。するとn
pnトランジスタ1は能動状態へ、npnトランジスタ
2はカット・オフ状態となり、npnトランジスタ1の
コレクタ電流、即ち半導体発光素子の駆動電流は0か
ら、定電流動作するNMOSトランジスタ3のドレイン
電流Iへ、ある時間tで到達する。時間tでの電流変化
Iは、図2(a),(b)に示すように、寄生インダク
タンス6(=L1 ),7(=L2 )によって、夫々L1
・I/t,L2・I/tの逆起電圧パルスを発生する。
この逆起電圧パルスは、半導体発光素子の接合容量8、
npnトランジスタ1のエミッタ・コレクタ間容量9、
NMOSトランジスタ3のゲート・ドレイン容量11に
よって、NMOSトランジスタ3のゲートまで伝送され
る。npnトランジスタ1,2のエミッタの電位変動
は、ベースへの相補駆動信号によって発生する波形図2
(e)実線と、上述逆起電圧パルスの合成された波形図
2(e)点線のようになり、結局、NMOSトランジス
タ3のゲートには図2(f)点線の電位波形が発生す
る。
【0058】また、NMOSトランジスタの相互コンダ
クタンスgm は、 gm =√(ID ・μn oxW/L) で表わされる。ここで、 ID :ドレイン電流 μn :電子の移動度 COX:ゲート容量 W:チャネル幅 L:チャネル長 である。
【0059】上式は、バイポーラトランジスタの相互コ
ンダクタンスに比べ、絶縁ゲート型トランジスタとなる
MOSトランジスタの相互コンダクタンスがはるかに小
さい事を示している。そして、この事は、ゲートにおけ
る電位変動の影響が、ドレイン電流の変化として小さい
事を示している。
【0060】更に、本参考例の如く、NMOSトランジ
スタ3のゲートへ、抵抗12と容量13を接続する事に
よって、ゲート電位の振舞は時定数τ=CG ・RG によ
って制御され、高速のパルスに対し応答できず、時定数
τによって応答する事となる。
【0061】図3(a)〜(c)は、定電流動作するN
MOSトランジスタ3のゲートに接続される抵抗12と
容量13による時定数を変化させた時の半導体発光素子
の駆動電流波形と、ゲート電位波形である。時定数を最
適化する事で、オーバーシュート,リンギングの無い電
流波形が得られる事を示している。
【0062】また、MOSトランジスタ3は、誘電体と
してのSiO2 からなるフィールド絶縁膜により分離さ
れたSi基板上の複数の活性領域に個々に形成されたM
OSトランジスタを互いに並列接続して構成することが
好ましい。
【0063】(第2の参考例)図4は、本発明における
第2の参考例による半導体発光素子駆動回路の回路図で
ある。本参考例では、絶縁ゲート型トランジスタとなる
NMOSトランジスタを複数個並列接続し、各々のMO
Sトランジスタのゲートへ、抵抗、容量を接続してい
る。
【0064】これは、必要な駆動電流を得る為、NMO
SトランジスタのW/Lを大きくとると、ゲート部の振
舞を分布定数回路として考える必要が有り、集中定数的
に取扱う事が出来ず最適化された設計が困難となる為で
ある。
【0065】以上説明したように、差動接続されたバイ
ポーラトランジスタのエミッタへ接続される定電流源と
してMOSトランジスタを用い、かつ、ゲート部に抵
抗、容量より成る時定数回路を接続することによって、
オーバーシュート,リンギングの無い、電流パルス波形
を得る事が出来る。
【0066】このため、安定した駆動電流により半導体
発光素子を駆動することにより、半導体発光素子の劣化
が無く、製品寿命を長くすることができるという効果が
得られる。
【0067】また、従来の対策により生じた、駆動周波
数の低下の問題や、パッケージピン数の増加、部品の増
加等の問題も、解決することができるという効果が得ら
れる。
【0068】(第1の実施例)次に、本発明の第1の実
施例の半導体発光素子駆動回路を説明する。図5は、本
発明の実施例の半導体発光素子駆動回路を示す図であ
る。図5において、1,2は集積回路(図示せず)内に
形成された、差動接続されたバイポーラトランジスタで
あり、3は定電流源であり、4は半導体発光素子であ
り、5は抵抗であり、106は半導体発光素子を駆動す
るバイポーラトランジスタのコレクタとパッケージ11
6のピンを接続するボンディングワイヤによる寄生イン
ダクタンスであり、107はピンの寄生インダクタンス
であり、108はピンから半導体発光素子4までの配線
による寄生インダクタンスであり、109はバイポーラ
トランジスタが形成された集積回路内に形成された抵抗
であり、110はバイポーラトランジスタが形成された
集積回路内に形成されたコンデンサである。抵抗109
とコンデンサ110は集積回路内で直列接続に形成さ
れ、この直列接続回路の一端は、半導体発光素子を駆動
するバイポーラトランジスタのコレクタに接続され、他
端は電源あるいは基板電位に接続される。15は電源で
あり、114、115はトランジスタ1,2を駆動する
相補パルス信号である。
【0069】この実施例において、図5の回路構成を図
15と同様な近似回路で表すと、寄生インダクタンス1
06、107、108の合成インダクタンスL1 +L2
+L 3 をあらためてL3 とおくと図15の矢印で示すL
3 になり、又従来例図13における寄生インダクタンス
112、即ち、L4 は、CR直列回路が集積回路にある
ため、矢印で示すようにほぼ0とすることができる。即
ち、従来例で半導体発光素子を駆動するバイポーラトラ
ンジスタのコレクタと、CR直列回路の間に発生した寄
生インダクタンスを即ち、0とすることができる。つま
り、従来例で言えば、L1 =L2 =0とすることができ
ることとなる。
【0070】前述の場合、前述の式(14)は、L4
0であるので、以下の式(15)になる。
【0071】 1/√(L3 C)=R/2L3 (15) このため、寄生インダクタンスL3 に関して抵抗109
の抵抗値Rとコンデンサ110の容量Cを適切に選ぶこ
とによって、半導体発光素子駆動回路において相補的な
パルス信号を加えたときに半導体発光素子に流れる電流
が振動的に変化する状態と非振動的に変化する状態の間
の臨界状態になるように設定できる。
【0072】(第2の実施例)本実施例では図5の符号
3で示す定電流源を図4に示したようなMOSトランジ
スタで構成した。
【0073】以上説明したように、実施例1,2による
と、半導体発光素子駆動回路において、従来、バイポー
ラトランジスタが形成された集積回路の外部に配置した
抵抗とコンデンサとから成る直列回路を集積回路内に配
置し、直列回路をバイポーラトランジスタのコレクタと
集積回路内で直接接続するようにしたので、半導体発光
素子を駆動するバイポーラトランジスタのコレクタと直
列回路の間に従来例では発生した寄生インダクタンスは
発生しない。このため、外部に生じる寄生インダクタン
スに関して抵抗の抵抗値とコンデンサの容量を適切に選
ぶことによって、半導体発光素子駆動回路において相補
的なパルス信号を加えたときに半導体発光素子に流れる
電流が振動的に変化する状態と非振動的に変化する状態
の間の臨界状態になるように設定できる。このように設
定することにより、半導体発光素子駆動回路において、
オーバーシュートを防止でき、また高速スイッチングを
行うことができる。
【0074】図6は、本発明の駆動回路が形成されたI
Cチップの部分的な断面を示す図である。図では、1つ
のバイポーラトランジスタBPTと2つのMOSトラン
ジスタMOSのみ示し、保護層等は省略してある。20
1はP型シリコン基板、202はn+ 型のコレクタ埋込
み層、203はP型のウエル、204はn- 型のエピタ
キシャル層、205はP型ベース、206はN+ 型のエ
ミッタである。207,208は2つのNMOSトラン
ジスタMOSのソース・ドレインであり、210はゲー
トである。209は素子分離用のフィールド絶縁膜であ
る。
【0075】又、配線211は発光素子との接続端子に
接続されるバイポーラトランジスタのコレクタ配線、2
12は入力端子となるベース配線、213は定電流源と
バイポーラトランジスタを接続する配線、214は低電
位の基準電圧源に接続されるアースラインである。
【0076】又、図7は抵抗RとコンデンサCとの直列
回路の形成されたICチップの部分断面を示す図であ
る。
【0077】221,222はn+ 型拡散層、215は
抵抗RとコンデンサCとを接続する直列接続用配線であ
る。230は層間絶縁膜である。
【0078】本発明においては、BiMOSプロセスや
BiCMOSプロセスと呼ばれる製造方法により、駆動
回路が図6のように1チップ化され、必要に応じて図7
の回路も共にモノリシックに集積化する。
【0079】図8は、本発明の回路を用いたシステムの
例であり、Aはプリンタ、Bは光通信システムを示す。
【0080】DRMは感光体、CLNはクリーナー、C
GRは帯電器である。EXPは露光装置であり、ここに
本発明の駆動回路が用いられる。DVLPは現像器、P
は記録媒体である。露光装置EXPは、LEDアレイ又
はレーザーダイオードを発光素子として用い、これから
の光を用いて感光体に潜像を作る。
【0081】通信システムBでは、発信側は発光素子と
してのレーザーダイオードLDと駆動回路とをもつ発信
機SYS1をもち、受信側は光ダイオードセンサーPH
Dと受信機SYS2をもつ。OFRは光ファイバーであ
る。本発明はこの発信機SYS1に採用される。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体発光素子を駆動するバイポーラトランジスタのコ
レクタと直列回路の間に従来例では発生した寄生インダ
クタンスの発生を抑えることができる。このため、外部
に生じる寄生インダクタンスに関して抵抗の抵抗値とコ
ンデンサの容量を適切に選ぶことによって、半導体発光
素子駆動回路において相補的なパルス信号を加えたとき
に半導体発光素子に流れる電流が振動的に変化する状態
と非振動的に変化する状態の間の臨界状態になるように
設定できる。このように設定することにより、半導体発
光素子駆動回路において、オーバーシュートを防止で
き、また高速スイッチングを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の参考例の半導体発光素子駆動回
路図である。
【図2】図1の回路の動作時の各部の電圧、電流波形を
示す説明図である。
【図3】本発明を実施した時の半導体発光素子駆動電流
と定電流NMOSのゲートの電位波形図である。
【図4】本発明の第2の参考例による駆動回路の図であ
る。
【図5】本発明の第1実施例による駆動回路の図であ
る。
【図6】本発明の実施例による駆動回路チップの部分断
面図である。
【図7】本発明の実施例による駆動回路チップの部分断
面図である。
【図8】本発明の駆動回路を用いたシステムの構成を示
す模式図である。
【図9】従来例の半導体発光素子駆動回路図である。
【図10】図9の回路を動作させた時の各部の電圧、電
流波形図である。
【図11】別の駆動回路の回路図である。
【図12】別の駆動回路の回路図である。
【図13】従来例の半導体発光素子駆動回路図である。
【図14】図13に対応した実装状態図である。
【図15】図13の近似回路図である。
【図16】駆動電流波形図である。
【符号の説明】
1,2 npnトランジスタ 3 NMOSトランジスタ 4 半導体発光素子 5 抵抗 7 寄生インダクタンス 8 接合容量Cj 9,10 エミッタ・コレクタ間容量 11 ドレイン・ゲート間容量 12 抵抗 13 容量 14 NMOSトランジスタ 15 電源 16 接地電位 17,18 インバータ 19 定電流源 106 寄生インダクタンス 107 寄生インダクタンス 108 寄生インダクタンス 109 抵抗 110 コンデンサ 114、115 相補パルス信号 116 パッケージ 201 P型シリコン基板 202 n+ 型のコレクタ埋込み層 203 P型のウエル 204 n- 型のエピタキシャル層 205 P型ベース 206 N+ 型のエミッタ 207,208 ソース・ドレイン 209 フィールド絶縁膜 210 ゲート 211 コレクタ配線 212 ベース配線 213 配線 214 アースライン 215 直列接続用配線 221,222 n+ 型拡散層 230 層間絶縁膜

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光素子を駆動する為の半導体発光素子
    駆動回路において、 該発光素子を駆動する為の制御信号がベースに入力さ
    れ、該制御信号に応答してエミッタ・コレクタ間に電流
    を流すことにより、該発光素子を駆動するバイポーラト
    ランジスタと、 該バイポーラトランジスタに接続された定電流源と、 該バイポーラトランジスタと該発光素子との間のライン
    に接続された、抵抗とコンデンサの直列回路と、を1チ
    ップ化したことを特徴とする半導体発光素子駆動回路。
  2. 【請求項2】 集積回路内に形成された、差動接続され
    た2つのバイポーラトランジスタと、該バイポーラトラ
    ンジスタの共通エミッタに接続された定電流源と、バイ
    ポーラトランジスタのうちの1つのトランジスタのコレ
    クタに接続された半導体発光素子を有し、前記バイポー
    ラトランジスタのそれぞれのベースに相補的なパルス信
    号を加えることによって前記半導体発光素子を駆動する
    半導体発光素子駆動回路において、バイポーラトランジ
    スタが形成される集積回路内に抵抗とコンデンサの直列
    回路を形成し、該直列回路を前記バイポーラトランジス
    タのコレクタと電源または基板電位の間に接続すること
    を特徴とする半導体発光素子駆動回路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の半導体発光素子駆動回路
    において、前記抵抗の抵抗値とコンデンサの容量を集積
    回路の外部で発生する寄生インダクタンスに関して適切
    に選ぶことによって、前記バイポーラトランジスタのベ
    ースに相補的なパルス信号を加えたときに半導体発光素
    子に流れる電流が振動的に変化する状態と非振動的に変
    化する状態の間の臨界状態になるように設定することを
    特徴とする半導体発光素子駆動回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7948509B2 (en) 2003-11-05 2011-05-24 Seiko Epson Corporation Line head and image forming device using the same
JP2007305762A (ja) * 2006-05-11 2007-11-22 Mitsubishi Electric Corp レーザダイオードの駆動回路

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