JP2003224324A - 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置 - Google Patents

光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置

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JP2003224324A
JP2003224324A JP2002020826A JP2002020826A JP2003224324A JP 2003224324 A JP2003224324 A JP 2003224324A JP 2002020826 A JP2002020826 A JP 2002020826A JP 2002020826 A JP2002020826 A JP 2002020826A JP 2003224324 A JP2003224324 A JP 2003224324A
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optical semiconductor
lead terminal
semiconductor element
ground lead
metallization layer
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Nobuyuki Tanaka
信幸 田中
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Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 接地リード端子の基体への接合性を向上させ
るとともに10〜100GHz程度の高周波帯域の高周波信
号を低損失で入出力でき、その結果、光半導体素子の熱
を効率良く外部に放散し得るものとすること。 【解決手段】 接地リード端子5bは、基体1の下面か
ら他の側部の外面にかけて形成されているとともに幅が
接地リード端子5bの幅よりも大きく内面に第二のメタ
ライズ層1dが延出されている切欠き部Aに、外側の面
が他の側部の外面よりも外側に出るように接合されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ(L
D),フォトダイオード(PD)等の光半導体素子を収
容するための光半導体素子収納用パッケージ、およびそ
の光半導体素子収納用パッケージを用いた光半導体装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光半導体素子収納用パッケージ
(以下、光半導体パッケージともいう)を図4に斜視図
で示す(特開2001−127371参照)。この光半導体パッケ
ージは、上面に凹部101aを有する略直方体の絶縁材料
から成り、凹部101aの底面に光半導体素子106を載置す
る載置部を有するとともに、一側部に貫通孔101bが形
成された基体101と、貫通孔101bに嵌着されるかまたは
基体101外面側開口の周囲に一端に接合された光ファイ
バ固定部材(以下、固定部材ともいう)102とを有す
る。
【0003】また光半導体パッケージは、他の側部の外
面の下端に形成された信号リード端子接続用の第一のメ
タライズ層101cと、第一のメタライズ層101cの周りを
一定間隔で囲むように形成された接地リード端子接続用
の第二のメタライズ層101dと、第一のメタライズ層101
c上に上端が接合された信号リード端子105aと、信号
リード端子105aと略平行で略同じ高さとなるように第
二のメタライズ層101d上に上端が接合された接地リー
ド端子105bとを具備している。また、基体101の上面に
は、蓋体104をシーム溶接するための金属製のシールリ
ング103が接合されている。
【0004】なお、第二のメタライズ層101dが第一の
メタライズ層101cの周りを一定間隔で囲んでいること
により、信号リード端子105aに数10GHz程度以上の
高周波信号を入出力させた場合、信号リード端子105a
の上方側および側方側への高周波信号の放射を有効に防
止することができる。即ち、高周波信号が高周波化する
ことによる透過損失の増大を防止することにより、光半
導体パッケージへの高周波信号の低損失な入出力を可能
とするものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、10〜10
0GHz程度の高周波帯域の高周波信号を光半導体パッ
ケージに入出力させる場合に透過損失の増大を防止する
ために、即ち接地電位(グランド)をより強化するため
に、第二のメタライズ層101dを第一のメタライズ層101
cの周りにより大きな面積で設けることが考えられる
が、この場合、第二のメタライズ層101dと接地リード
端子105bとをロウ付けする際に、ロウ材が第二のメタ
ライズ層101dの表面で濡れ広がるという問題点があっ
た。
【0006】即ち、図4の従来構成では、第二のメタラ
イズ層101dと接地リード端子105bとの間にロウ材のメ
ニスカスが形成されて、第二のメタライズ層101dと接
地リード端子105bとの接合が強固になっていたが、接
地電位をより強化しようとして第二のメタライズ層101
dの面積を大きくすると、ロウ材が第二のメタライズ層
101dの表面で濡れ広がり、メニスカスが形成されなく
なる。その結果、第二のメタライズ層101dと接地リー
ド端子105bとの接合力が低下するという問題があっ
た。
【0007】また、一般にセラミックス等の絶縁材料か
ら成る基体101の有する熱伝導率は比較的低いため、光
半導体素子106が作動時に発する熱量が非常に大きい場
合には、その熱を外部に放散し難い。この場合、絶縁材
料を金属に代えて用いる場合もあるが、金属の場合は絶
縁材料のように凹部101aを有するような一体成形が困難
であり、また製造コストも高い。また、金属から成る部
品をロウ付けすることにより凹部101aを有する基体101
を作製することも可能だが、ロウ付け個所が多くなるた
め気密性が劣化する場合がある。即ち、ロウ付け部にク
ラック等が発生すれば経時変化により金属の部品同士が
剥がれて気密性が破れる。その結果、光半導体素子106
が酸化腐食等を起こし作動性が劣化する。
【0008】従って、本発明は上記従来の問題点に鑑み
完成されたものであり、その目的は、接地リード端子の
基体への接合性を向上させるとともに、10〜100GHz
程度の高周波帯域の高周波信号を低損失で入出力でき、
その結果光半導体素子が作動時に発する熱を効率良く外
部に放散し得る光半導体パッケージを提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の光半導体素子収
納用パッケージは、略直方体とされ、上面に形成された
凹部の底面に光半導体素子を載置する載置部が設けられ
ているとともに一側部に貫通孔が形成されている絶縁材
料から成る基体と、前記貫通孔に嵌着されるかまたは前
記貫通孔の基体外面側開口の周囲に一端が接合された筒
状の光ファイバ固定部材と、前記基体の他の側部の外面
の下端に形成された第一のメタライズ層と、該第一のメ
タライズ層の周りを一定間隔で囲むとともに前記他の側
部の外面の略全面に形成された第二のメタライズ層と、
前記第一のメタライズ層上に上端が接合され下端が下方
に延設された信号リード端子と、前記第二のメタライズ
層上に前記信号リード端子と略平行にかつ前記基体の下
面からの上端の高さが略同じになるように上端が接合さ
れた接地リード端子とを具備して成り、該接地リード端
子は、前記基体の下面から前記他の側部の外面にかけて
形成されているとともに幅が前記接地リード端子の幅よ
りも大きく内面に前記第二のメタライズ層が延出されて
いる切欠き部に、外側の面が前記他の側部の外面よりも
外側に出るように接合されていることを特徴とする。
【0010】本発明の光半導体素子収納用パッケージ
は、上記の構成により、外部への放熱を非常に良好とす
ることができ、また高周波信号の透過損失を小さくし、
さらに第二のメタライズ層と接地リード端子との接合性
が向上するものなる。従って、発熱量が非常に高く10〜
100GHz程度の非常に高い周波数帯域で作動する光半
導体素子を問題なく収納することが可能となる。
【0011】本発明の光半導体装置は、上記本発明の光
半導体パッケージと、前記載置部に載置固定されるとと
もに前記第一のメタライズ層および前記第二のメタライ
ズ層を介して前記信号リード端子および前記接地リード
端子に電気的に接続された光半導体素子と、前記基体の
上面に接合された蓋体とを具備したことを特徴とする。
【0012】本発明の光半導体装置は、上記の構成によ
り、光半導体素子の熱を効率良く外部に放散できるとと
もに光半導体素子に非常に高い周波数帯域の高周波信号
を低損失で入出力でき、さらに接地リード端子の接合力
が向上した信頼性の高い高性能のものとなる。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の光半導体素子収納用パッ
ケージについて以下に詳細に説明する。図1は本発明の
光半導体パッケージについて実施の形態の例を示す斜視
図である。同図において、1は、上面に凹部1aを有す
る略直方体の絶縁材料から成り、凹部1aの底面に光半
導体素子6を載置する載置部を有するとともに、一側部
に凹部1aから基体1の外側面にかけて貫通するように
形成された貫通孔1bを有する基体である。2は、貫通
孔1bの基体1外面側開口の周囲に一端が接合されるか
または貫通孔1bに嵌着された筒状の固定部材、3は、
基体1の上面に蓋体4をシーム溶接するための金属製の
シールリング、5a,5bは、基体1の他の側部で対向
する側部の外面にそれぞれ被着された第一のメタライズ
層1c,第二のメタライズ層1dの延出部1eに接合さ
れた信号リード端子,接地リード端子である。これら基
体1、固定部材2、シールリング3、信号リード端子5
aおよび接地リード端子5bで光半導体パッケージが主
に構成される。
【0014】本発明の基体1の材料は、アルミナ(Al
23)セラミックスや窒化アルミニウム(AlN)セラ
ミックス等のセラミックスから成る絶縁材料であり、そ
の誘電率や熱膨張係数等の特性と光半導体素子6の特性
に応じて適宜選定される。
【0015】また、基体1の一側部に形成された貫通孔
1bは、光ファイバ(図示せず)から出力される光信号
または光ファイバに入力される光信号の伝達経路として
機能し、貫通孔1bに設けられる固定部材2の内周面に
は、光を集光するサファイア等から成るレンズ等の透光
性部材(図示せず)が接合される。貫通孔1bに嵌着さ
れるかまたは貫通孔1bの基体1外面側開口の周囲に一
端が接合される固定部材2は、基体1との熱膨張係数差
による熱歪みを有効に防止するものであり、光ファイバ
を樹脂等で接着固定した金属ホルダ(図示せず)をYA
Gレーザ溶接する際に熱歪を小さくするために、基体1
の熱膨張係数に近似した金属から成る。その金属として
は、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金やFe−Ni−
Co(コバルト)合金等がよく、例えばFe−Ni−C
o合金のインゴット(塊)に圧延加工法や打ち抜き加工
法等の従来周知の金属加工法を施すことによって所定形
状に形成される。
【0016】また、基体1の他の側部で対向する側部の
外面には、第一のメタライズ層1cと、第一のメタライ
ズ層1cの周りを一定間隔で囲むように第二のメタライ
ズ層1dとが被着されており、第一のメタライズ層1c
上には信号リード端子5aの上端が銀(Ag)ロウ等の
ロウ材で接合される。そして、図2(a)に部分拡大斜
視図を示すように接地リード端子5bの上端は、接地リ
ード端子5bの幅よりも大きく内面に第二のメタライズ
層1dの延出部1eが形成された切欠き部Aの底面に接
合されている。接地リード端子5bは延出部1eを介し
て第二のメタライズ層1dに電気的に接続される。
【0017】切欠き部Aは、基体1となるセラミックグ
リーンシートを打ち抜き加工した後、セラミックグリー
ンシートを多層積層し焼成することによって形成され
る。
【0018】接地リード端子5bが接合される部位に、
その内面に延出部1eを形成した切欠き部Aを設けるこ
とにより、従来よりも第二のメタライズ層1dの面積が
大きくなるとともに、基体1に接地リード端子5bを接
合したときにロウ材が広がるのが切欠き部Aで阻止さ
れ、接地リード端子5bの接合部の全周囲(接合部の左
右ならびに上方)にロウ材の良好なメニスカスが形成さ
れる。そのため、接地リード端子5bの接合強度が向上
するとともに、隣接する端子同士がロウ材によって接続
されるのを防止できる。また、延出部1eは第二のメタ
ライズ層1dと電気的に接続されているため、光半導体
装置全体の接地電位部(グランド部)の面積を拡大で
き、グランドの機能を強化し得る。
【0019】切欠き部Aの幅は、図2(b)に示すよう
に、接地リード端子5bの左右にそれぞれX=0.3〜0.7
mmの隙間Xが形成されて、接地リード端子5bの幅よ
りも大きくなっているのがよい。これにより、接地リー
ド端子5bの左右に良好なロウ材のメニスカスを形成で
きるとともに光半導体素子6の熱を効率良く外部に放散
し得る。Xが上記の範囲を外れると、接地リード端子5
bの左右において切欠き部Aの側面までの距離が近くな
りすぎるかまたは遠くなりすぎて、接地リード端子5b
の左右に良好なロウ材のメニスカスを形成できない。ま
た、光半導体素子6の熱を接地リード端子5bを介して
効率良く外部に放散するためには、X≧0.3mmが良
く、X<0.3mmの場合は隙間Xが狭すぎるため接地リ
ード端子5bに伝わってきた熱が切欠き部Aに滞留し外
部に放散し難くなり、また切欠き部Aの内面の面積が小
さくなりすぎて放熱効果が劣化する。即ち、切欠き部A
の内面を放熱部として機能させ難くなる。
【0020】また切欠き部Aは、図2(b)に示すよう
に、接地リード端子5bの上端と切欠き部Aの上端の内
面との隙間YがY=0.3〜1mmとなっているのがよ
く、これにより接地リード端子5bの上方に良好なロウ
材のメニスカスを形成できるとともに光半導体素子6の
熱を効率良く外部に放散し得る。隙間YがY=0.1〜1
mmの範囲を外れると、接地リード端子5bの上端と切
欠き部Aの上端の内面までの距離が近くなりすぎるかま
たは遠くなりすぎて、接地リード端子5bの上方に良好
なロウ材のメニスカスが形成されない。また、光半導体
素子6の熱を接地リード端子5bを介して効率良く外部
に放散するには、Y≧0.3mmが良く、Y<0.3mmの場
合は隙間Yが狭すぎるため接地リード端子5bに伝わっ
てきた熱が切欠き部Aに滞留し外部に放散し難くなり、
また切欠き部Aの内面の面積が小さくなりすぎて放熱効
果が劣化する。即ち、切欠き部Aの内面を放熱部として
機能させ難くなる。
【0021】さらに、Y>Xとすることがよく、この場
合接地リード端子5bを接合するためのロウ材は接地リ
ード端子5bの接合部から上方に広がり易くなり、接地
リード端子5bの接合部から上方に大きなロウ材のメニ
スカスを形成することができる。従って、接地リード端
子5bの自由端側(下端側)の主面に垂直な外力が加わ
ることが多いが、その場合接地リード端子5bが基体1
から剥がれるのを有効に防止することができる。
【0022】また切欠き部Aの深さZは、図2(c)に
示すように、Z=0.1〜0.3mmであるのがよい。Z<0.
1mmである場合、切欠き部Aが浅すぎるため、ロウ材
が切欠き部Aから第二のメタライズ層1dに流れ出易く
なり、接地リード端子5bの全周囲に良好なロウ材のメ
ニスカスを形成するのが困難になる。また、光半導体素
子6の熱を接地リード端子5bを介して効率良く外部に
放散するためには、Z=0.1〜0.3mmがよく、Z<0.1
mmの場合、切欠き部Aの深さZが浅すぎる、即ち切欠
き部A周辺部の基体1の厚さが厚いため、熱を放散し難
い。Z>0.3mmの場合、切欠き部Aの深さZが深すぎ
る、即ち切欠き部A周辺部の基体1の厚さが薄いため、
基体1の剛性が低下し基体1にクラック等の破損が発生
し易くなる。
【0023】さらに、図2(c)に示すように、接地リ
ード端子5bの外側の面は、他の側部の外面よりも外側
に飛び出して接合されており、これにより接地リード端
子5bの熱を良好に放熱できる。接地リード端子5bの
外側の面は他の側部の外面よりも外側に0.05mm以上飛
び出しているのが好ましく、光半導体素子6から接地リ
ード端子5bに伝わってきた熱を切欠き部Aに滞留させ
ること無く、外部に効率良く放散し得る。
【0024】このような構造の切欠き部Aによって、10
〜100GHz程度の非常に高い周波数帯域で作動すると
ともに高い発熱量を有する光半導体素子6であっても、
光半導体素子6の熱を効率よく放熱でき、延出部1eと
接地リード端子5bとの接合性が向上し、また高周波信
号の透過損失を小さくすることができる。また、切欠き
部Aの底面に接合される接地リード端子5bは、好まし
くは、その外側の面が他の側部の外面よりも外側に出た
状態で接合されることにより、光半導体素子6の放熱性
が良好になる。
【0025】本発明の第二のメタライズ層1dは、接地
電位強化をするとともに10〜100GHz程度の高周波信
号を光半導体パッケージに低損失で入出力させるため
に、第一のメタライズ層1cの周りに一定間隔が設けら
れた部位よりも、基体1の他の側部の上方側に延設され
る。即ち、第二のメタライズ層1dは他の側部の外面の
略全面に形成される。その結果、10〜100GHz程度の
高周波信号が伝送された場合にその伝送特性が良好にな
る。
【0026】なお、第二のメタライズ層1dと第一のメ
タライズ層1cとの間隔は0.03〜2mm程度がよく、0.
03mm未満では、第二のメタライズ層1dと第一のメタ
ライズ層1cとが短絡し易くなる。2mmを超えると、
第二のメタライズ層1dの接地電位による高周波信号の
漏洩抑制の効果が小さくなる。従って、この間隔を設け
ることにより、信号リード端子5aからの高周波信号の
放射による漏洩を防ぎ、高周波信号の損失が小さく透過
特性が向上するという効果がある。
【0027】この第二のメタライズ層1dは、図3に示
すように、基体1の他の側部のみに限らず、一側部や基
体1の下面に延長されていても良い。図3のように基体
1の側部全面に被着すれば、光半導体パッケージ全体を
グランドとして機能させることができ、接地電位強化の
点で好ましい。また、図3の構成では、第二のメタライ
ズ層1dは金属製のシールリング3に電気的に接続され
るため、蓋体4が金属から成る場合光半導体装置自体を
グランドとして機能させ得る。
【0028】第一のメタライズ層1c,第二のメタライ
ズ層1dは、タングステン(W),モリブデン(M
o),マンガン(Mn)等の高融点金属粉末に適当な有
機バインダ、溶剤等を添加混合して得た金属ペースト
を、基体1となるセラミックグリーンシートの多層積層
体に、従来周知のスクリーン印刷法により所定パターン
で印刷塗布し、その後焼成することによって、基体1に
被着形成される。または、基体1となるセラミックグリ
ーンシートの多層積層体を焼成した後に、その焼成体に
金属ペーストを所定パターンで印刷塗布し金属ペースト
を焼成することによって、基体1に被着形成される。ま
た、金属ペーストを印刷塗布する際に、スクリーンの切
欠き部Aのパターンと基体1の切欠き部Aとを位置合わ
せすることにより、基体1の所定位置に第一のメタライ
ズ層1c,第二のメタライズ層1dを精度良く印刷塗布
できる。
【0029】延出部1eは、W,Mo,Mn等の高融点
金属粉末に適当な有機バインダ、溶剤等を添加混合して
得た金属ペーストを、セラミックグリーンシートを打ち
抜き加工して形成した切欠き部Aの内面に予め塗布し、
セラミックグリーンシートを多層積層し焼成することに
よって形成する。または、セラミックグリーンシートを
打ち抜き加工して切欠き部Aを形成し、セラミックグリ
ーンシートを多層積層し焼成した後、切欠き部Aの内面
に金属ペーストを塗布し焼成することによって形成す
る。
【0030】第一のメタライズ層1c,延出部1eに接
合される信号リード端子5a,接地リード端子5bは、
基体1との熱膨張係数差による熱歪みを有効に防止する
とともに高周波信号の伝送を可能とするために、基体1
の熱膨張係数に近似した金属から成るのがよい。その金
属としては、Fe−Ni合金やFe−Ni−Co合金等
がよく、例えばFe−Ni−Co合金のインゴット
(塊)に圧延加工法や打ち抜き加工法等の従来周知の金
属加工法を施すことによって所定形状に形成される。
【0031】また、基体1の上面には、基体1との熱膨
張係数差による熱歪みを有効に防止するとともに基体1
の上面に接合されて蓋体4のシーム溶接を可能とする金
属製のシールリング3が、Agロウ等のロウ材を介して
接合される。その金属としてはFe−Ni合金やFe−
Ni−Co合金等がよく、例えばFe−Ni−Co合金
のインゴット(塊)に圧延加工法や打ち抜き加工法等の
従来周知の金属加工法を施すことによって所定形状に形
成される。
【0032】かくして、本発明の光半導体パッケージ
は、略直方体とされ、上面に形成された凹部1aの底面
に光半導体素子6を載置する載置部が設けられていると
ともに一側部に貫通孔1bが形成されている絶縁材料か
ら成る基体1と、貫通孔1bに嵌着されるかまたは貫通
孔1bの基体1外面側開口の周囲に一端が接合された筒
状の固定部材2と、基体1の他の側部の外面の下端に形
成された第一のメタライズ層1cと、第一のメタライズ
層1cの周りを一定間隔で囲むとともに他の側部の外面
の略全面に形成された第二のメタライズ層1dと、第一
のメタライズ層1c上に上端が接合され下端が下方に延
設された信号リード端子5aと、第二のメタライズ層1
d上に信号リード端子5aと略平行にかつ基体1の下面
からの上端の高さが略同じになるように上端が接合され
た接地リード端子5bとを具備して成り、接地リード端
子5bは、基体1の下面から他の側部の外面にかけて形
成されているとともに幅が接地リード端子5bの幅より
も大きく内面に第二のメタライズ層1dが延出されてい
る切欠き部Aに、外側の面が他の側部の外面よりも外側
に出るように接合されている。
【0033】本発明の光半導体装置は、本発明の光半導
体パッケージと、載置部に載置固定されるとともに第一
のメタライズ層1cおよび第二のメタライズ層1dを介
して信号リード端子5aおよび接地リード端子5bに電
気的に接続された光半導体素子6と、基体1の上面に接
合された蓋体4とを具備している。
【0034】具体的には、基体1の載置部に光半導体素
子6をガラス,樹脂,ロウ材等の接着剤を介して接着固
定するとともに、光半導体素子6の各電極をボンディン
グワイヤを介して光半導体パッケージ内部の所定のメタ
ライズ配線層1f(図1)に接続し、しかる後、基体1
上面にシールリング3を介して蓋体4をシーム溶接等に
より接合して封止することにより、光半導体素子6を内
部に気密に封止した光半導体装置となる。光半導体パッ
ケージ内部のメタライズ配線層1fは、セラミック層等
を多層積層して成る基体1の側部を貫通して形成される
ことにより、基体1外面の第一のメタライズ層1cおよ
び延出部1eに電気的に接続されている。そして、光半
導体素子6と外部電気回路基板とは、信号リード端子5
a,接地リード端子5bを介して電気的に接続されるこ
とになる。
【0035】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種
々の変更を施すことは何等差し支えない。
【0036】
【発明の効果】本発明の光半導体素子収納用パッケージ
は、接地リード端子は、基体の下面から他の側部の外面
にかけて形成されているとともに幅が接地リード端子の
幅よりも大きく内面に第二のメタライズ層が延出されて
いる切欠き部に、外側の面が他の側部の外面よりも外側
に出るように接合されていることにより、接地リード端
子の接合性を向上させるとともに高周波信号の透過損失
を小さくし、また放熱性を良好とできるため、10〜100
GHz程度の非常に高い周波数帯域で作動するとともに
高い発熱量を有する光半導体素子を問題なく収納するこ
とが可能となる。
【0037】本発明の光半導体装置は、本発明の光半導
体素子収納用パッケージと、載置部に載置固定されると
ともに第一のメタライズ層および第二のメタライズ層を
介して信号リード端子および接地リード端子に電気的に
接続された光半導体素子と、基体の上面に接合された蓋
体とを具備したことにより、光半導体素子に非常に高い
周波数帯域の高周波信号を低損失で入出力できるととも
に、接地リード端子の接合力が向上した信頼性の高い高
性能の光半導体装置となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光半導体素子収納用パッケージについ
て実施の形態の例を示す斜視図である。
【図2】(a)は図1の光半導体素子収納用パッケージ
の要部拡大斜視図、(b)は図1の光半導体素子収納用
パッケージの要部拡大側面図、(c)は図1の光半導体
素子収納用パッケージの要部拡大断面図である。
【図3】本発明の光半導体素子収納用パッケージについ
て実施の形態の他の例を示す斜視図である。
【図4】従来の光半導体素子収納用パッケージの斜視図
である。
【符号の説明】
1:基体 1a:凹部 1b:貫通孔 1c:第一のメタライズ層 1d:第二のメタライズ層 1e:延出部 2:光ファイバ固定部材 5a:信号リード端子 5b:接地リード端子 6:光半導体素子 A:切欠き部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 略直方体とされ、上面に形成された凹部
    の底面に光半導体素子を載置する載置部が設けられてい
    るとともに一側部に貫通孔が形成されている絶縁材料か
    ら成る基体と、前記貫通孔に嵌着されるかまたは前記貫
    通孔の基体外面側開口の周囲に一端が接合された筒状の
    光ファイバ固定部材と、前記基体の他の側部の外面の下
    端に形成された第一のメタライズ層と、該第一のメタラ
    イズ層の周りを一定間隔で囲むとともに前記他の側部の
    外面の略全面に形成された第二のメタライズ層と、前記
    第一のメタライズ層上に上端が接合され下端が下方に延
    設された信号リード端子と、前記第二のメタライズ層上
    に前記信号リード端子と略平行にかつ前記基体の下面か
    らの上端の高さが略同じになるように上端が接合された
    接地リード端子とを具備して成り、該接地リード端子
    は、前記基体の下面から前記他の側部の外面にかけて形
    成されているとともに幅が前記接地リード端子の幅より
    も大きく内面に前記第二のメタライズ層が延出されてい
    る切欠き部に、外側の面が前記他の側部の外面よりも外
    側に出るように接合されていることを特徴とする光半導
    体素子収納用パッケージ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の光半導体素子収納用パッ
    ケージと、前記載置部に載置固定されるとともに前記第
    一のメタライズ層および前記第二のメタライズ層を介し
    て前記信号リード端子および前記接地リード端子に電気
    的に接続された光半導体素子と、前記基体の上面に接合
    された蓋体とを具備したことを特徴とする光半導体装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007294743A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Hitachi Cable Ltd 光モジュール及びその製造方法
JP2012047823A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Opnext Japan Inc 光モジュール及び高周波モジュール
JP2021158218A (ja) * 2020-03-27 2021-10-07 矢崎総業株式会社 Fot及び光通信モジュール

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007294743A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Hitachi Cable Ltd 光モジュール及びその製造方法
JP2012047823A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Opnext Japan Inc 光モジュール及び高周波モジュール
JP2021158218A (ja) * 2020-03-27 2021-10-07 矢崎総業株式会社 Fot及び光通信モジュール
JP7136830B2 (ja) 2020-03-27 2022-09-13 矢崎総業株式会社 光ファイバートランシーバー及び光通信モジュール
US11480746B2 (en) 2020-03-27 2022-10-25 Yazaki Corporation Fiber optical transceiver and optical communication module

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