JP2003207689A - Optical fiber array - Google Patents

Optical fiber array

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JP2003207689A
JP2003207689A JP2002003861A JP2002003861A JP2003207689A JP 2003207689 A JP2003207689 A JP 2003207689A JP 2002003861 A JP2002003861 A JP 2002003861A JP 2002003861 A JP2002003861 A JP 2002003861A JP 2003207689 A JP2003207689 A JP 2003207689A
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JP
Japan
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optical fiber
substrate
lid
resin layer
groove
Prior art date
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Application number
JP2002003861A
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Japanese (ja)
Inventor
Motoo Asai
元雄 浅井
Kunio Nagaya
邦男 長屋
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical fiber array which has contactness between a lid part and an adhesion layer, is free of peeling between the lid part and adhesion layer and a position shift between the lid part and an optical fiber, and can accurately transmit a light signal. <P>SOLUTION: The optical fiber array has a plurality of grooves formed in a portion of the top surface of a substrate and optical fibers stored in the grooves, and is fitted with the lid part which covers the optical fiber on the substrate across the adhesion layer. The part of the lid part which faces the substrate is roughened, and when the part of the lid part which faces the substrate is viewed in plane through a microscope, an image is observed as an image in which a plurality of particulate bodies are arranged. The mean particle size of the observed particular bodies is 0.1 to 100 μm. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバアレイ
に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical fiber array.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、通信分野を中心として光ファイバ
に注目が集まっている。特にIT(情報技術)分野にお
いては、高速インターネット網の整備に、光ファイバを
用いた通信技術が必要となる。光ファイバは、低損
失、高帯域、細径・軽量、無誘導、省資源等の
特徴を有しており、この特徴を有する光ファイバを用い
た通信システムでは、従来のメタリックケーブルを用い
た通信システムに比べ、中継器数を大幅に削減すること
ができ、建設、保守が容易になり、通信システムの経済
化、高信頼性化を図ることができる。
2. Description of the Related Art In recent years, attention has been focused on optical fibers mainly in the communication field. Particularly in the IT (information technology) field, communication technology using optical fibers is required to maintain a high-speed Internet network. Optical fiber has the features of low loss, high bandwidth, small diameter / light weight, no induction, resource saving, etc. In the communication system using the optical fiber having this feature, the communication using the conventional metallic cable is used. Compared with the system, the number of repeaters can be greatly reduced, construction and maintenance are facilitated, and the communication system can be made economical and highly reliable.

【0003】また、光ファイバでは、一つの波長の光だ
けでなく、多くの異なる波長の光を1本の光ファイバで
同時に多重伝送することができるため、多様な用途に対
応可能な大容量の伝送路を実現することができ、映像サ
ービス等にも対応することができるという大きな利点を
有する。
Further, in the optical fiber, not only the light of one wavelength but also the light of many different wavelengths can be simultaneously multiplexed and transmitted by one optical fiber, so that it has a large capacity for various purposes. This has a great advantage that a transmission line can be realized and a video service can be supported.

【0004】また、光ファイバを用いた光通信において
は、複数の光ファイバが並列に配置され、その周囲に被
覆樹脂層が形成された光ファイバリボンが用いられてい
る。そして、この光ファイバリボンを、受光素子や発光
素子、各種端末機器(パソコン、モバイル、ゲーム等)
と接続するには、通常、光ファイバリボンの端部の被覆
樹脂層を除去することにより、複数の光ファイバの端部
を露出させ、この露出した光ファイバをV溝を有する基
板の溝に載置、固定し、さらに、露出した光ファイバを
覆う蓋部を接着層を介して基板に取り付けることにより
複数の光ファイバが所定の間隔で離間して配置された光
ファイバアレイが用いられている。
In optical communication using an optical fiber, an optical fiber ribbon in which a plurality of optical fibers are arranged in parallel and a coating resin layer is formed around the optical fibers is used. Then, this optical fiber ribbon is used for a light receiving element, a light emitting element, various terminal devices (personal computer, mobile, game, etc.)
In order to connect with the optical fiber ribbon, the coating resin layer at the end of the optical fiber ribbon is usually removed to expose the ends of the plurality of optical fibers, and the exposed optical fibers are mounted in the groove of the substrate having the V groove. There is used an optical fiber array in which a plurality of optical fibers are arranged at a predetermined interval by placing, fixing, and further attaching a lid portion covering the exposed optical fibers to a substrate via an adhesive layer.

【0005】そこで、従来、光ファイバアレイとして
は、例えば、基板に形成された複数のV溝のそれぞれに
光ファイバが整列して収容され、上記基板上に接着層を
介して上記光ファイバを覆うように蓋部が取り付けられ
たものが開示されている。
Therefore, conventionally, as an optical fiber array, for example, the optical fibers are housed in alignment with each of a plurality of V grooves formed on a substrate, and the optical fibers are covered with an adhesive layer on the substrate. Thus, the one with the lid attached is disclosed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このような光ファイバ
アレイでは、該光ファイバアレイを光学素子に接続する
際や、光ファイバアレイに熱や湿度等に起因して外部か
ら力が加わった際に、蓋部や光ファイバの位置ズレが発
生したり、場合によっては、光ファイバの破損が発生し
たりすることがあり、光ファイバアレイと受光素子や発
光素子等の光学素子との間で接続不良が発生する原因と
なることがあった。また、このような光ファイバアレイ
を用いてヒートサイクル試験等の信頼性評価を行った場
合には、蓋部の基板に対向する面と接着層との間で剥離
が発生することがあった。このような光ファイバの位置
ズレや接着層の剥離は、蓋部の基板に対向する面と接着
層との親和性(密着性)が不充分なために発生すると考
えられた。
In such an optical fiber array, when the optical fiber array is connected to an optical element or when an external force is applied to the optical fiber array due to heat or humidity. , The lid or the optical fiber may be misaligned or the optical fiber may be damaged in some cases, resulting in a poor connection between the optical fiber array and the optical element such as the light receiving element or the light emitting element. May have occurred. Further, when reliability evaluation such as a heat cycle test is performed using such an optical fiber array, peeling may occur between the surface of the lid portion facing the substrate and the adhesive layer. It is considered that such positional displacement of the optical fiber and peeling of the adhesive layer are caused by insufficient affinity (adhesion) between the surface of the lid portion facing the substrate and the adhesive layer.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
上記した種々の課題を解決するための手段について、鋭
意検討した結果、蓋部と接着層との密着性を向上させれ
ばよいことに想到し、具体的には、蓋部の基板に対向す
る面を所定の表面粗さを有する粗化面とすればよいこと
を見出し、本発明の光ファイバアレイを完成した。
Therefore, the present inventors have
As a result of earnestly studying the means for solving the above-mentioned various problems, it was found that the adhesion between the lid portion and the adhesive layer should be improved. Specifically, the lid portion faces the substrate. It was found that the surface should be a roughened surface having a predetermined surface roughness, and the optical fiber array of the present invention was completed.

【0008】すなわち、本発明の光ファイバアレイは、
基板上面の一部に複数の溝が形成され、上記溝に光ファ
イバが収納されており、上記基板上に上記光ファイバを
覆う蓋部が接着層を介して取り付けられた光ファイバア
レイであって、上記蓋部の上記基板と対向する部分には
粗化面が形成されており、上記蓋部の上記基板と対向す
る部分を顕微鏡により平面視した際に、観察画像が複数
の粒子状物が並んだ像として観察され、これらの観察さ
れた粒子状物の平均粒子径が0.1〜100μmである
ことを特徴とする。
That is, the optical fiber array of the present invention is
An optical fiber array in which a plurality of grooves are formed in a part of the upper surface of the substrate, the optical fibers are housed in the grooves, and a lid portion covering the optical fibers is attached on the substrate via an adhesive layer. , A roughened surface is formed in a portion of the lid portion that faces the substrate, and when the portion of the lid portion that faces the substrate is viewed in a plan view with a microscope, an observed image shows a plurality of particulate matters. The particles are observed as side-by-side images, and the average particle diameter of these observed particles is 0.1 to 100 μm.

【0009】本発明の光ファイバアレイにおいて、上記
粗化面の表面粗さは、JIS B 0601に基づく凹
凸の平均間隔Smが、0.1〜100μmであることが
望ましく、1〜50μmであることがより望ましい。ま
た、上記粗化面の表面粗さは、JIS B 0601に
基づく局部山頂の平均間隔Sが100〜1000nmで
あることが望ましい。
In the optical fiber array of the present invention, the surface roughness of the roughened surface is preferably such that the average spacing Sm of the irregularities based on JIS B 0601 is 0.1 to 100 μm, and 1 to 50 μm. Is more desirable. Further, regarding the surface roughness of the roughened surface, it is desirable that the average interval S between local peaks according to JIS B 0601 is 100 to 1000 nm.

【0010】また、本発明の光ファイバアレイにおい
て、上記凹凸の平均間隔Smおよび上記局部山頂の平均
間隔Sは、干渉縞を用いた表面粗さ計により測定された
ものであることが望ましい。
Further, in the optical fiber array of the present invention, it is desirable that the average spacing Sm of the irregularities and the average spacing S of the local peaks are measured by a surface roughness meter using an interference fringe.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の光ファイバアレイ
について説明する。本発明の光ファイバアレイは、基板
上面の一部に複数の溝が形成され、上記溝に光ファイバ
が収納されており、上記基板上に上記光ファイバを覆う
蓋部が接着層を介して取り付けられた光ファイバアレイ
であって、上記蓋部の上記基板と対向する部分には粗化
面が形成されており、上記蓋部の上記基板と対向する部
分を顕微鏡により平面視した際に、観察画像が複数の粒
子状物が並んだ像として観察され、これらの観察された
粒子状物の平均粒子径が0.1〜100μmであること
を特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The optical fiber array of the present invention will be described below. In the optical fiber array of the present invention, a plurality of grooves are formed in a part of the upper surface of the substrate, the optical fibers are housed in the grooves, and a lid portion covering the optical fibers is mounted on the substrate via an adhesive layer. In the optical fiber array, a roughened surface is formed on a portion of the lid portion facing the substrate, and the portion of the lid portion facing the substrate is observed by a microscope when viewed in plan view. The image is observed as an image in which a plurality of particles are arranged, and the average particle diameter of these observed particles is 0.1 to 100 μm.

【0012】本発明の光ファイバアレイでは、蓋部の基
板と対向する部分に粗化面が形成されており、この粗化
面が上述したような形状を有しているため、上記蓋部と
上記接着層とは密着性に優れ、蓋部と接着層との間で剥
離が発生したり、熱や湿度等に起因した外部から力によ
り、蓋部や光ファイバの位置ズレが発生したりすること
がなく、該光ファイバアレイでは、正確に光信号を伝送
することができる。
In the optical fiber array of the present invention, the roughened surface is formed in the portion of the lid portion facing the substrate, and since the roughened surface has the shape as described above, It has excellent adhesion with the adhesive layer, peeling may occur between the lid and the adhesive layer, and the lid or the optical fiber may be displaced due to external force caused by heat or humidity. In this case, the optical fiber array can accurately transmit an optical signal.

【0013】以下、本発明の光ファイバアレイについ
て、図面を参照しながら説明する。図1(a)は、本発
明の光ファイバアレイの一例を模式的に示す部分斜視図
であり、(b)は、(a)のA−A線断面図であり、
(c)は、(a)の光ファイバアレイを構成する蓋部を
示す斜視図であり、(d)は、(a)の光ファイバアレ
イを構成する光ファイバが収納された基板を示す部分斜
視図である。
The optical fiber array of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1A is a partial perspective view schematically showing an example of the optical fiber array of the present invention, and FIG. 1B is a sectional view taken along the line AA of FIG.
(C) is a perspective view showing a lid part constituting the optical fiber array of (a), and (d) is a partial perspective view showing a substrate accommodating the optical fibers forming the optical fiber array of (a). It is a figure.

【0014】図1に示すように、光ファイバアレイ10
0では、基板151上面の一部に、並列に形成された複
数のV溝157のそれぞれに、光ファイバ115が接着
層159を介して収納、固定されている。また、光ファ
イバリボン110を収納した基板151上には、接着層
159を介して蓋部160が形成されており、この蓋部
160には、光ファイバ115の一部(光ファイバのう
ち溝157に収納されなかった一部)を一括して収納す
る凹部161が形成されている。なお、上記光ファイバ
アレイにおいて、基板上面に形成される溝は、V溝に限
定されるわけではなく、例えば、その光ファイバの軸に
垂直な方向の断面の形状が矩形状の溝であってもよい。
As shown in FIG. 1, the optical fiber array 10
In No. 0, the optical fiber 115 is housed and fixed to each of the plurality of V grooves 157 formed in parallel on a part of the upper surface of the substrate 151 via the adhesive layer 159. A lid portion 160 is formed on a substrate 151 accommodating the optical fiber ribbon 110 via an adhesive layer 159, and a portion of the optical fiber 115 (a groove 157 of the optical fiber is formed on the lid portion 160. A part 161 which is not stored in the above is collectively formed. In the above optical fiber array, the groove formed on the upper surface of the substrate is not limited to the V groove, and for example, a groove having a rectangular cross section in a direction perpendicular to the axis of the optical fiber may be used. Good.

【0015】本発明の光ファイバアレイでは、上記蓋部
の上記基板と対向する部分には粗化面が形成されてお
り、この粗化面の形成された部分を顕微鏡により平面視
した場合、その観察画像は複数の粒子状物が並んだ像と
して観察され、これらの観察された粒子状物の平均粒子
径は0.1〜100μmである。
In the optical fiber array of the present invention, a roughened surface is formed on the portion of the lid portion facing the substrate, and when the roughened surface is viewed with a microscope, The observed image is observed as an image in which a plurality of particles are arranged, and the average particle diameter of these observed particles is 0.1 to 100 μm.

【0016】このような形状の粗化面を有する蓋部は、
基板上に接着層を介して取り付けられた際に、該粗化面
の形成された面と接着層との密着性が優れたものとな
る。これは、蓋部の基板と対向する側の面が平滑な場合
に比べて、蓋部と接着層との接触面積が大きくなるから
であり、また、外部応力が発生したとしても、その応力
を粗化面で吸収することができるからである。なお、こ
こで、外部応力とは、熱や湿度等に起因して外部から加
わる力のことをいう。
The lid having the roughened surface having such a shape is
When attached to the substrate via the adhesive layer, the adhesion between the surface on which the roughened surface is formed and the adhesive layer becomes excellent. This is because the contact area between the lid and the adhesive layer is larger than that in the case where the surface of the lid facing the substrate is smooth. This is because it can be absorbed by the roughened surface. Here, the external stress means a force applied from the outside due to heat, humidity and the like.

【0017】なお、本明細書において、観察された粒子
状物の平均粒子径とは、該粒子状物の最も長い部分の長
さをいう。以下、図10、11を参照しながら上記粒子
径を説明する。すなわち、粒子状物の形状が、図10
(a)に示すような楕円形(円形も含む)の場合には、
その長径(円形の場合は、長径=短径)が粒状物の粒子
径となり、(b)に示すような、多角形(三角形を除
く)の場合には、頂点間の距離(例えば、図中、A、
B、Cと示す)のうちの最も長いもの((b)の場合
は、A>B>CであるからAが該当)が粒子径となり、
(c)に示すような、これら以外の場合には、上記粒子
状物の外周上の異なる2点間の最も長い距離(図中、D
と示す)が粒子径となる。
In the present specification, the observed average particle size of the particulate matter means the length of the longest part of the particulate matter. Hereinafter, the particle size will be described with reference to FIGS. That is, the shape of the particulate matter is as shown in FIG.
In the case of an ellipse (including a circle) as shown in (a),
The major axis (major axis = minor axis in the case of a circle) becomes the particle diameter of the granular material, and in the case of a polygon (excluding triangle) as shown in (b), the distance between the vertices (for example, in the figure , A,
(Indicated as B and C), the longest one (in the case of (b), since A>B> C, A is applicable) is the particle size,
In cases other than these as shown in (c), the longest distance between two different points on the outer circumference of the particulate matter (D in the figure,
Is shown) is the particle size.

【0018】より具体的には、例えば、顕微鏡により観
察した際に得られた観察画像が、図11(a)に示すよ
うな画像である場合、各々の粒子状物の最も長い部分
(例えば、図11(b)に示すL、L)が、それぞ
れの粒子状物の粒子径に該当する。なお、図11(a)
は、走査型電子顕微鏡(SEM)による観察画像であ
り、(b)は、(a)の観察画像における粒子状物の外
周のみを示した概略図である。
More specifically, for example, when the observed image obtained by observing with a microscope is an image as shown in FIG. 11A, the longest part of each particulate matter (for example, L 1 and L 2 ) shown in FIG. 11B correspond to the particle diameters of the respective particulate materials. Note that FIG.
[Fig. 3] is an image observed by a scanning electron microscope (SEM), and Fig. 2B is a schematic diagram showing only the outer periphery of the particulate matter in the image observed in Fig. 1A.

【0019】本発明の光ファイバアレイでは、上記蓋部
の基板と対向する部分に形成された粗化面の表面粗さ
は、その下限がJIS B 0601に基づく凹凸の平
均間隔Smで0.1μmであることが望ましく、その上
限が上記凹凸の平均間隔Smで100μmであることが
望ましい。上記凹凸の平均間隔Smが0.1μm未満で
は、蓋部と接着層との密着性を充分に得ることができな
いことがあり、さらには、発生した応力により、蓋部や
光ファイバの位置ズレが生じ、その結果、外部の光導波
路や光学部品との間で光信号の伝送の異常が生じること
がある。る。一方、上記凹凸の平均間隔Smが100μ
mを超えても接着層との密着性はあまり向上せず、ま
た、接着層の形成は、例えば、基板と蓋部との間に未硬
化の接着剤を流し込み、さらに、硬化処理を施すことに
より行うのであるが、上記凹凸の平均間隔Smが100
μmを超えていると、未硬化の接着剤の充填を阻害する
ことがあり、この場合、接着層の形成されない部分や空
隙が生じ、この部分を起点に、接着層にクラックが発生
したり、蓋部と接着層との間で剥離が発生したりするこ
とがある。上記凹凸の平均間隔Smのより望ましい下限
は1μmであり、より望ましい上限は50μmである。
上記凹凸の平均間隔Smがこの範囲にあると、接着層の
材料の選択の自由度が向上するとともに、信頼性試験に
おいて、より長時間光ファイバアレイに不都合が発生し
ないことが確認されているからである。
In the optical fiber array of the present invention, the lower limit of the surface roughness of the roughened surface formed on the portion of the lid portion facing the substrate is 0.1 μm in terms of the average spacing Sm of irregularities based on JIS B 0601. It is desirable that the upper limit is 100 μm in the average interval Sm of the irregularities. If the average spacing Sm of the irregularities is less than 0.1 μm, the adhesion between the lid and the adhesive layer may not be sufficiently obtained, and further, the generated stress may cause the positional deviation of the lid and the optical fiber. As a result, abnormal transmission of an optical signal may occur between an external optical waveguide and an optical component. It On the other hand, the average spacing Sm of the above-mentioned irregularities is 100 μm.
Even if it exceeds m, the adhesion with the adhesive layer does not improve so much, and the adhesive layer is formed by, for example, pouring an uncured adhesive between the substrate and the lid, and further performing a curing treatment. The average spacing Sm of the irregularities is 100.
If it exceeds μm, the filling of the uncured adhesive may be hindered. In this case, a portion where no adhesive layer is formed or a void is generated, and from this portion, a crack is generated in the adhesive layer, Peeling may occur between the lid and the adhesive layer. A more desirable lower limit of the average spacing Sm of the irregularities is 1 μm, and a more desirable upper limit thereof is 50 μm.
It is confirmed that when the average spacing Sm of the irregularities is within this range, the degree of freedom in selecting the material of the adhesive layer is improved, and in the reliability test, no inconvenience occurs in the optical fiber array for a longer time. Is.

【0020】また、上記蓋部の表面に形成された粗化面
では、この粗化面を構成する凹凸の壁面に窪みを有する
ことが望ましい。このように、凹凸の壁面が窪みを有す
る場合、蓋部と接着層との接触面積がより大きくなるた
め、両者の接着強度がより向上し、蓋部と接着層との間
での剥離がより発生しにくくなる。
In the roughened surface formed on the surface of the lid portion, it is desirable that the wall surface of the unevenness forming the roughened surface has a depression. In this way, when the uneven wall surface has a depression, the contact area between the lid portion and the adhesive layer is larger, so the adhesive strength between the two is further improved, and peeling between the lid portion and the adhesive layer is more likely to occur. Less likely to occur.

【0021】上記凹凸の壁面が有する窪みの大きさは、
上記した蓋部の基板と対向する部分を顕微鏡により平面
視した際に観察される粒子状物の平均粒子径より小さけ
れば特に限定されるものでない。具体的には、上記粗化
面を構成する凹凸の壁面が窪みを有する場合、該粗化面
の表面粗さは、JIS B 0601に基づく局部山頂
の平均間隔Sで、その下限が100nm、その上限が1
000nmであることが望ましい。この範囲の局部山頂
の平均間隔Sを有する粗化面では、接着層との密着性が
より優れたものとなるからである。上記局部山頂の平均
間隔Sの下限は200nmであることがより望ましく、
上記局部山頂の平均間隔Sの上限は500nmであるこ
とがより望ましい。
The size of the depressions formed on the uneven wall surface is
There is no particular limitation as long as it is smaller than the average particle diameter of the particulate matter observed when the portion of the lid portion facing the substrate is viewed in a plane with a microscope. Specifically, when the wall surface of the unevenness forming the roughened surface has a depression, the surface roughness of the roughened surface is the average spacing S of the local peaks according to JIS B 0601, the lower limit of which is 100 nm. The upper limit is 1
000 nm is desirable. This is because the roughened surface having the average spacing S of the local peaks in this range has more excellent adhesion to the adhesive layer. The lower limit of the average spacing S of the local peaks is more preferably 200 nm,
The upper limit of the average spacing S of the local peaks is more preferably 500 nm.

【0022】また、上記光ファイバアレイにおいて、上
記粗化面の表面粗さは、JIS B0601に基づく平
均粗さRaで、その下限が5nmであることが望まし
く、10nmであることがより望ましい。また、上記平
均粗さRaの上限は、1000nmであることが望まし
く、500nmであることがより望ましく、100nm
であることが特に望ましい。蓋部に形成された粗化面の
平均粗さRaが上記範囲にあると、接着層との密着性が
より優れたものとなるからである。
In the above optical fiber array, the surface roughness of the roughened surface is the average roughness Ra based on JIS B0601, and the lower limit thereof is preferably 5 nm, more preferably 10 nm. The upper limit of the average roughness Ra is preferably 1000 nm, more preferably 500 nm, and 100 nm.
Is particularly desirable. This is because if the average roughness Ra of the roughened surface formed on the lid is in the above range, the adhesion with the adhesive layer will be more excellent.

【0023】また、上記光ファイバアレイにおいては、
上記基板の上面にも粗化面が形成されていることが望ま
しく、この粗化面の表面粗さは、JIS B 0601
に基づく平均粗さRaで、その下限が5nmであること
が望ましく、10nmであることがより望ましい。ま
た、上記平均粗さRaの上限は、1000nmであるこ
とが望ましく、500nmであることがより望ましく、
100nmであることが特に望ましい。基板に形成され
た粗化面の平均粗さRaが上記範囲にあると、接着層と
の密着性がより優れたものとなるからである。
In the above optical fiber array,
It is desirable that a roughened surface is also formed on the upper surface of the substrate, and the surface roughness of this roughened surface is JIS B 0601.
Based on the average roughness Ra, the lower limit is preferably 5 nm, more preferably 10 nm. The upper limit of the average roughness Ra is preferably 1000 nm, more preferably 500 nm,
100 nm is particularly desirable. This is because if the average roughness Ra of the roughened surface formed on the substrate is within the above range, the adhesion with the adhesive layer will be more excellent.

【0024】基板の上面にも粗化面が形成されている場
合、該粗化面は、基板の上面の少なくとも一部(例え
ば、溝の表面、基板の溝非形成領域等)に形成されてい
てもよいが、基板の上面全体に形成されていることが望
ましい。基板と接着層との密着性がより向上することと
なるからである。また、基板の上面の一部にのみ粗化面
が形成されている場合、該粗化面は、基板に形成した溝
の表面に形成されていることが望ましく、この場合、溝
の表面に形成した粗化面の平均粗さRaは、5〜100
nmであることが望ましい。
When the roughened surface is also formed on the upper surface of the substrate, the roughened surface is formed on at least a part of the upper surface of the substrate (for example, the surface of the groove, the non-groove area of the substrate, etc.). However, it is desirable that it is formed on the entire upper surface of the substrate. This is because the adhesion between the substrate and the adhesive layer will be further improved. Further, when the roughened surface is formed only on a part of the upper surface of the substrate, it is desirable that the roughened surface is formed on the surface of the groove formed on the substrate. In this case, it is formed on the surface of the groove. The average roughness Ra of the roughened surface is 5 to 100.
nm is desirable.

【0025】また、基板に粗化面が形成されている場
合、この粗化面は、粗化面が形成されている部分を顕微
鏡により平面視した際に、観察画像が複数の粒子状物が
並んだ像として観察され、これらの観察された粒子状物
の平均粒子径が0.1〜100μmであるものが望まし
い。
When a roughened surface is formed on the substrate, when the roughened surface is viewed in plan view with a microscope, the roughened surface shows a plurality of particulate matter. It is desirable that the particles are observed as side by side images, and the average particle diameter of these observed particulate matters is 0.1 to 100 μm.

【0026】さらに、上記基板に粗化面が形成されてい
る場合、この粗化面の表面粗さは、JIS B 060
1に基づく凹凸の平均間隔Smで、その下限が0.1μ
mであることが望ましく、1μmであることがより望ま
しい。一方、上記凹凸の平均間隔Smは、その上限が1
00μmであることが望ましく、50μmであることが
より望ましい。上記凹凸の平均間隔Smがこの範囲にあ
ると、基板と接着層との密着性がより優れたものとなる
からである。
Further, when a roughened surface is formed on the substrate, the surface roughness of the roughened surface is JIS B 060.
The average spacing Sm of the irregularities based on 1 and the lower limit is 0.1μ.
m is preferable, and 1 μm is more preferable. On the other hand, the upper limit of the average spacing Sm of the irregularities is 1
The thickness is preferably 00 μm, more preferably 50 μm. This is because if the average spacing Sm of the irregularities is within this range, the adhesion between the substrate and the adhesive layer will be more excellent.

【0027】さらに、上記粗化面が形成された基板で
は、この粗化面を構成する凹凸の壁面に窪みを有するこ
とが望ましく、この場合、該粗化面の表面粗さは、JI
S B0601に基づく局部山頂の平均間隔Sで、その
下限が100nm、その上限が1000nmであること
が望ましい。この範囲の局部山頂の平均間隔Sを有する
粗化面では、接着層との密着性がより優れたものとなる
からである。上記局部山頂の平均間隔Sの下限は200
nmであることがより望ましく、上記局部山頂の平均間
隔Sの上限は500nmであることがより望ましい。
Further, in the substrate having the roughened surface formed thereon, it is desirable that the wall surface of the unevenness forming the roughened surface has depressions. In this case, the surface roughness of the roughened surface is JI.
It is desirable that the lower limit is 100 nm and the upper limit is 1000 nm in the average spacing S of local peaks based on S B0601. This is because the roughened surface having the average spacing S of the local peaks in this range has more excellent adhesion to the adhesive layer. The lower limit of the average interval S between the local peaks is 200.
The upper limit of the average spacing S of the local peaks is more preferably 500 nm.

【0028】ここで、上述したJIS B 0601に
基づく凹凸の平均間隔Sm、局部山頂の平均間隔S、お
よび、平均粗さRaについて、図面を参照しながら、簡
単に説明しておく。図2は、JIS B 0601に基
づく凹凸の平均間隔Sm、局部山頂の平均間隔S、およ
び、平均粗さRaを説明するための参考図である。図2
において、501は粗化面の粗さ曲線であり、502は
平均線である。なお、図2に示す粗化面の粗さ曲線は、
上記した表面粗さのパラメータを説明するために例示し
たものであり、本発明の光ファイバアレイを構成する蓋
部に形成した粗化面の実際の粗さ曲線を示すものではな
い。
Here, the average spacing Sm of the irregularities based on JIS B 0601, the average spacing S of the local peaks, and the average roughness Ra will be briefly described with reference to the drawings. FIG. 2 is a reference diagram for explaining the average spacing Sm of irregularities based on JIS B 0601, the average spacing S of local peaks, and the average roughness Ra. Figure 2
In, 501 is a roughness curve of a roughened surface, and 502 is an average line. The roughness curve of the roughened surface shown in FIG.
This is an example for explaining the parameters of the surface roughness described above, and does not show the actual roughness curve of the roughened surface formed on the lid portion constituting the optical fiber array of the present invention.

【0029】上記凹凸の平均間隔Smは、粗さ曲線50
1からその平均線502の方向に基準長さだけ抜き取
り、この抜き取り部分において1つの山およびそれに隣
合う1つの谷に対応する平均線502の長さの和(以
下、凹凸の距離という:図中、Sm 、Smと示す)
を求め、この多数の凹凸の距離を算術平均値で表したも
のである。なお、本明細書においては、凹凸の平均間隔
Smをマイクロメートル(μm)で表している。また、
上記山とは、粗さ曲線を平均線で切断したときに、それ
らの交差点の隣合う2点間における粗さ曲線と平均線と
で構成する実態部分(例えば、図中、503と示す部
分)であり、上記谷とは、粗さ曲線を平均線で切断した
ときに、それらの交差点の隣合う2点間における粗さ曲
線と平均線とで構成される空間部分(例えば、図中、5
04と示す部分)である。
The average spacing Sm of the irregularities is the roughness curve 50.
Sampling the standard length from 1 in the direction of the average line 502
In this sampling part, one mountain and its neighbor
The sum of the lengths of the average line 502 corresponding to one matching valley (below
Bottom, uneven distance: Sm in the figure 1, SmTwoIndicates)
Was calculated, and the distance of these many irregularities was expressed by the arithmetic mean value.
Of. In addition, in this specification, the average interval of the unevenness is
Sm is expressed in micrometers (μm). Also,
The above-mentioned mountain means that when the roughness curve is cut at the average line
Roughness curve and average line between two adjacent points at these intersections
The actual part composed of (for example, the part indicated by 503 in the figure)
Min), and the above valley is the roughness curve cut by the average line.
Sometimes, the roughness curve between two adjacent points at those intersections
A space portion composed of a line and an average line (for example, 5 in the figure)
(Part indicated by 04).

【0030】上記局部山頂の平均間隔Sは、粗さ曲線5
01からその平均線502の方向に基準長さだけ抜き取
り、この抜き取り部分において隣合う局部山頂間に対応
する平均線の長さ(以下、局部山頂間の間隔という:図
中S、Sと示す)を求め、この多数の局部山頂の間
隔を算術平均値で表したものである。なお、本明細書に
おいては、局部山頂の平均間隔Sをナノメートル(n
m)で表している。また、上記局部山頂とは、局部山に
おける最も高い標高点(例えば、図中505aと示す
点)をいい、上記局部山とは、粗さ曲線の二つの隣合う
極小点の間にある実態部分(例えば、図中、505と示
す部分)をいう。
The average interval S between the local peaks is the roughness curve 5
The length of the average line corresponding to the distance between the adjacent local peaks in this extracted portion is extracted from 01 in the direction of the average line 502 (hereinafter, referred to as the interval between the local peaks: S 1 and S 2 in the figure). Is shown), and the interval between the large number of local peaks is represented by an arithmetic mean value. In addition, in this specification, the average interval S of the local peaks is nanometer (n
It is represented by m). Further, the local mountain peak is the highest elevation point in the local mountain (for example, the point indicated by 505a in the figure), and the local mountain is the actual portion between two adjacent minimum points of the roughness curve. (For example, a portion indicated by 505 in the drawing).

【0031】上記平均粗さRaは、粗さ曲線からその平
均線の方向に基準長さだけ抜き取り、この抜き取り部分
の平均線の方向にX軸を、縦倍率の方向にY軸を取り、
粗さ曲線をy=f(x)で表したときに、下記式(1)で
求められる値をいう。
The average roughness Ra is obtained by extracting a reference length from the roughness curve in the direction of the average line, taking the X axis in the direction of the average line of the extracted portion, and the Y axis in the direction of longitudinal magnification.
When the roughness curve is represented by y = f (x), it means a value obtained by the following formula (1).

【0032】[0032]

【式1】 [Formula 1]

【0033】(式中、lは、基準長さである)。なお、
本明細書においては、平均粗さRaをナノメートル(n
m)で表している。
(Where l is the reference length). In addition,
In the present specification, the average roughness Ra is nanometer (n
It is represented by m).

【0034】また、上記蓋部に形成された粗化面の表面
粗さを表す上記凹凸の平均間隔Sm、上記局部山頂の平
均間隔S、および、平均粗さRaは、干渉縞を用いた表
面粗さ計により測定されたものであることが望ましい。
上記干渉縞を用いた表面粗さ計は、干渉計と光学顕微鏡
とを組み合わせたものであり、高精度、かつ、高感度で
蓋部等の表面形状を測定することができるからである。
さらに、上記干渉縞を用いた表面粗さ計では、試料(蓋
部等)の表面状態を非接触で測定することができるた
め、蓋部の表面を傷付けたりするおそれがない。
Further, the average spacing Sm of the irregularities representing the surface roughness of the roughened surface formed on the lid portion, the average spacing S of the local peaks, and the average roughness Ra are the surface using interference fringes. It is preferably measured by a roughness meter.
This is because the surface roughness meter using the above interference fringes is a combination of an interferometer and an optical microscope, and can measure the surface shape of the lid or the like with high accuracy and high sensitivity.
Further, in the surface roughness meter using the above interference fringes, the surface condition of the sample (cover or the like) can be measured in a non-contact manner, so that the surface of the cover is not damaged.

【0035】一般に、上記干渉縞を用いた干渉計では、
光源から照射した光をビームスプリッタで2つに分割
し、このうち、一方の光はリファレンスミラーで反射さ
れてビームスプリッタに戻り、他方の光は試料の表面で
反射されてビームスプリッタに戻り、これらの2つの光
が、ビームスプリッタで再度1つの光となり、この1つ
になった光はCCDカメラ等の検出器に取り込まれる。
このとき、リファレンスミラーで反射した光と試料の表
面で反射した光とは、ビームスプリッタで再度1つの光
となった際に干渉が発生するため、この干渉した光の像
により試料の表面状態を測定することができる。
Generally, in the interferometer using the above interference fringes,
The light emitted from the light source is split into two by the beam splitter, one of which is reflected by the reference mirror and returns to the beam splitter, and the other of which is reflected by the surface of the sample and returns to the beam splitter. The two lights of the above become one light again by the beam splitter, and this one light is taken into a detector such as a CCD camera.
At this time, the light reflected by the reference mirror and the light reflected by the surface of the sample interfere with each other when they become one light again by the beam splitter. Therefore, the surface state of the sample is determined by the image of the interference light. Can be measured.

【0036】また、本発明の光ファイバアレイ100で
は、基板151上面に、溝157とは別に、光ファイバ
をその周囲の被覆樹脂層114とともに一括して保持す
るための被覆樹脂層保持部158が形成されている。な
お、この被覆樹脂層保持部158の上面は、溝157を
形成した溝形成面よりも低くなっている。また、この被
覆樹脂層保持部158上に載置した被覆樹脂層114の
周囲には接着層159′が形成されている。なお、被覆
樹脂層保持部158は、必要に応じて形成すればよく、
基板上にはV溝のみが形成されていてもよい。また、図
中、110は光ファイバリボン、111はコア、112
はクラッドである。
Further, in the optical fiber array 100 of the present invention, in addition to the groove 157, a coating resin layer holding portion 158 for holding the optical fiber together with the coating resin layer 114 around the groove is provided on the upper surface of the substrate 151. Has been formed. The upper surface of the coating resin layer holding portion 158 is lower than the groove forming surface in which the groove 157 is formed. Further, an adhesive layer 159 ′ is formed around the coating resin layer 114 placed on the coating resin layer holding portion 158. The coating resin layer holding portion 158 may be formed as needed,
Only the V groove may be formed on the substrate. In the figure, 110 is an optical fiber ribbon, 111 is a core, and 112 is a core.
Is the clad.

【0037】また、基板の上面に溝とともに、被覆樹脂
層保持部を形成する場合、溝形成面と、被覆樹脂層保持
部との境目は、垂直な壁面であってもよいが、図1に示
すような、被覆樹脂層保持部に向かって下るような傾斜
を有する壁面であることが望ましい。光ファイバを収納
した際、該光ファイバにかかる負荷を軽減することがで
きるからである。なお、本明細書においては、溝形成面
と被覆樹脂層保持部との境目の壁面も被覆樹脂層保持部
に含むこととする。また、このような溝形成面と被覆樹
脂層保持部との境目が傾斜を有する壁面である光ファイ
バアレイでは、溝において露出した光ファイバが固定さ
れ、被覆樹脂層保持部において、露出した光ファイバと
被覆樹脂層とが固定されることとなる。
When forming the coating resin layer holding portion together with the groove on the upper surface of the substrate, the boundary between the groove forming surface and the coating resin layer holding portion may be a vertical wall surface. It is desirable that the wall surface has an inclination so that it goes down toward the coating resin layer holding portion as shown. This is because when the optical fiber is stored, the load applied to the optical fiber can be reduced. In the present specification, the wall surface of the boundary between the groove forming surface and the coating resin layer holding portion is also included in the coating resin layer holding portion. Further, in such an optical fiber array in which the boundary between the groove forming surface and the covering resin layer holding portion is a wall surface having an inclination, the optical fiber exposed in the groove is fixed, and the exposed optical fiber in the covering resin layer holding portion is fixed. And the coating resin layer are fixed.

【0038】図3は、本発明の光ファイバアレイの別の
一例を模式的に示す部分斜視図である。図3に示すよう
に、本発明の光ファイバアレイ102においては、基板
上に、被覆樹脂層保持部に代えて、光ファイバをその周
囲の被覆樹脂層ごと収納することができる凹部1158
が形成されていてもよい。また、上記凹部の側方の壁面
の高さは、図3に示すように、基板の溝形成領域の上面
の高さと同一であってもよいし、これよりも低くてもよ
い。また、光ファイバアレイ102では、基板151上
に接着層159を介して、その形状が板状の蓋部116
0が取り付けられている。なお、図3に示した光ファイ
バアレイ102の構成は、被覆樹脂層保持部に代えて上
記凹部が形成されており、蓋部の形状が板状体である以
外は、図1の光ファイバアレイと略同一である。
FIG. 3 is a partial perspective view schematically showing another example of the optical fiber array of the present invention. As shown in FIG. 3, in the optical fiber array 102 of the present invention, instead of the coating resin layer holding portion, the optical fiber array 102 of the present invention is provided with a concave portion 1158 that can accommodate the optical fiber together with the surrounding coating resin layer.
May be formed. Further, the height of the side wall surface of the recess may be the same as the height of the upper surface of the groove forming region of the substrate as shown in FIG. 3, or may be lower than this. Further, in the optical fiber array 102, the lid 116 having a plate-like shape is formed on the substrate 151 via the adhesive layer 159.
0 is attached. In addition, in the configuration of the optical fiber array 102 shown in FIG. 3, the concave portion is formed instead of the covering resin layer holding portion, and the shape of the lid portion is a plate-like body, except that the optical fiber array of FIG. Is almost the same as.

【0039】本発明の光ファイバアレイにおいて、基板
上に接着層を介して取り付ける蓋部の形状は、図1に示
すような光ファイバの一部を一括して収納する凹部が形
成されている形状が望ましいが、該蓋部の形状はこのよ
うな形状に限定されるわけではなく、例えば、図3に示
すような板状体であってもよく、また、基板と対向する
側の面に光ファイバを別々に収納する溝が形成された形
状であってもよい。なお、光ファイバの一部を一括して
収納するための凹部が形成されている形状の蓋部では、
該凹部に収納された光ファイバ同士の間には空隙が存在
するため、光ファイバの相対的な位置ズレが発生しにく
く、さらに、空隙内には、未硬化の接着剤等を充填しや
すい。
In the optical fiber array of the present invention, the shape of the lid attached to the substrate via the adhesive layer is such that a concave portion for accommodating a part of the optical fibers is formed at one time. However, the shape of the lid is not limited to such a shape, and may be, for example, a plate-like body as shown in FIG. It may have a shape in which a groove for separately storing the fibers is formed. In addition, in the lid portion having a shape in which a concave portion for collectively storing a part of the optical fiber is formed,
Since there is a gap between the optical fibers housed in the recesses, the relative displacement of the optical fibers is unlikely to occur, and furthermore, an uncured adhesive or the like is easily filled in the gap.

【0040】また、上記蓋部に光ファイバの一部を一括
して収納するための凹部が形成されている場合、該凹部
の形状としては、ほぼ直角に交わる平面のみを組み合わ
せた形状、曲面により形成された形状、平面と曲面とを
組み合わせた形状等が挙げられる。
When the lid is provided with a recess for accommodating a part of the optical fibers in a lump, the shape of the recess may be a combination of only substantially perpendicular planes or a curved surface. The formed shape, the shape which combined the flat surface and the curved surface, etc. are mentioned.

【0041】また、上記蓋部は、その光ファイバの軸に
垂直な方向の断面の形状が、矩形の両方の側方下部が切
り取られた形状となるような形状であってもよく、この
場合、上記切り取られた形状としては、例えば、例え
ば、三角形、四角形、多角形、円弧(楕円弧)と直交す
る二直線とに囲まれた形状等が挙げられる。
Further, the lid may have a cross-sectional shape in a direction perpendicular to the axis of the optical fiber such that both side lower portions of the rectangle are cut off. Examples of the cut-out shape include a shape surrounded by a triangle, a quadrangle, a polygon, and two straight lines orthogonal to an arc (elliptic arc).

【0042】また、上記蓋部の大きさは、上記溝に収納
した光ファイバを覆うことができる大きさであれば特に
限定されず、図1、3に示すように基板の溝を形成した
領域のみを覆う大きさであってもよいが、基板の上面全
体を覆う大きさであってもよい。また、基板の溝を形成
した領域のみを覆う形状の蓋部とともに、被覆樹脂層保
持部のみを覆う形状の蓋部が別途取り付けられていても
よく、この場合、溝を形成した領域を覆う蓋部と、被覆
樹脂層保持部を覆う蓋部との間には隙間があってもよい
し、なくてもよい。
Further, the size of the lid is not particularly limited as long as it can cover the optical fiber housed in the groove, and as shown in FIGS. It may be sized to cover only the top surface or may be sized to cover the entire top surface of the substrate. Further, a lid having a shape covering only the grooved area of the substrate and a lid having a shape covering only the coating resin layer holding portion may be separately attached. In this case, the lid covering the grooved area is attached. There may or may not be a gap between the portion and the lid portion that covers the coating resin layer holding portion.

【0043】また、図1、3に示す光ファイバアレイ1
00、102においては、4本の光ファイバが収納され
ているが、本発明の光ファイバアレイの溝に収納される
光ファイバの本数は4本に限定されるわけではなく、3
本以下であってもよいし、5本以上であってもよい。
The optical fiber array 1 shown in FIGS.
In Nos. 00 and 102, four optical fibers are accommodated, but the number of optical fibers accommodated in the groove of the optical fiber array of the present invention is not limited to four, and three optical fibers are accommodated.
The number may be less than or equal to 5 or may be greater than or equal to 5.

【0044】次に、本発明の光ファイバアレイの構成部
材について説明する。上記蓋部の材質としては、例え
ば、シリコン、炭化ケイ素、アルミナ、窒化アルミニウ
ム、ムライト、セラミック、ガリウム砒素、ジルコニア
無機材料;石英ガラス、高ケイ酸ガラス、ソーダ石灰ガ
ラス、ホウケイ酸ガラス、鉛ガラス、フッ化物ガラス等
のガラス;銅、鉄、ニッケル等の金属材料;熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂、感光性樹脂、これらの複合体等の有
機材料やこれらの有機材料にガラス繊維等の補強材を含
浸させたもの等が挙げられる。また、上記基板の材質と
しては、例えば、上記蓋部の材質と同様のもの等が挙げ
られる。なお、上記蓋部の材質と上記基板の材質とは、
同一であってもよいし、異なっていてもよい。
Next, the constituent members of the optical fiber array of the present invention will be described. Examples of the material for the lid include silicon, silicon carbide, alumina, aluminum nitride, mullite, ceramics, gallium arsenide, zirconia inorganic materials; quartz glass, high silicate glass, soda lime glass, borosilicate glass, lead glass, Glasses such as fluoride glass; metal materials such as copper, iron and nickel; thermosetting resins, thermoplastic resins, photosensitive resins, organic materials such as composites thereof, and reinforcing materials such as glass fibers for these organic materials. And the like. Further, as the material of the substrate, for example, the same material as the material of the lid may be used. The material of the lid and the material of the substrate are
It may be the same or different.

【0045】上記蓋部および上記基板の材質としては、
熱や湿度による伸縮(変形)が少なく、機械的強度に優
れる点からシリコン、高ケイ酸ガラスが望ましく、その
組み合わせとしては、上記基板および上記蓋部のいずれ
か一方がシリコンで、他方が高ケイ酸ガラスであるか、
または、上記基板および上記蓋部の両方が高ケイ酸ガラ
スであることが望ましい。また、上記基板や上記蓋部の
それぞれは、シリコンと高ケイ酸ガラスとを貼り合わせ
た2層構造からなるものであってもよい。
As the material of the lid and the substrate,
Silicon and high silicate glass are desirable in that they do not expand or contract (deform) due to heat or humidity and are excellent in mechanical strength. As a combination thereof, one of the substrate and the lid is made of silicon and the other is made of high silicate. Is it acid glass,
Alternatively, it is desirable that both the substrate and the lid are made of high silicate glass. Further, each of the substrate and the lid may have a two-layer structure in which silicon and high silicate glass are bonded together.

【0046】特に、基板の材質としてシリコンを用い、
蓋部の材質として高ケイ酸ガラスを用いることが望まし
い。基板の材質がシリコンである場合、異方性エッチン
グにより基板にV溝を形成することができるため、形成
された溝は位置精度に優れることとなり、また、蓋部の
材質が高ケイ酸ガラスである場合、該蓋部は紫外線等の
透過性に優れるため、接着層の材料として紫外線硬化型
接着剤を用いて本発明の光ファイバアレイを製造する際
に、該蓋部を介して紫外線を照射することにより好適に
接着層を形成することができる。また、蓋部の材質が高
ケイ酸ガラスである場合には、基板に形成したターゲッ
トマーク(蓋部等との位置合わせをするためのターゲッ
トマーク)を、外部部品との位置合わせのためのターゲ
ットマークとしても用いることができる。
In particular, silicon is used as the material of the substrate,
It is desirable to use high silicate glass as the material of the lid. When the material of the substrate is silicon, the V groove can be formed in the substrate by anisotropic etching, so that the formed groove has excellent positional accuracy, and the material of the lid is made of high silicate glass. In some cases, since the lid portion has excellent transparency to ultraviolet rays and the like, when the optical fiber array of the present invention is manufactured by using the ultraviolet curable adhesive as the material of the adhesive layer, ultraviolet rays are radiated through the lid portion. By doing so, the adhesive layer can be preferably formed. When the material of the lid is high silicate glass, the target mark (target mark for aligning with the lid etc.) formed on the substrate is used as a target for aligning with external parts. It can also be used as a mark.

【0047】上記蓋部の材質がガラスである場合、該蓋
部に形成された粗化面の上記平均粗さRaは、その下限
が5nmであることが望ましく、10nmであることが
より望ましい。一方、上記平均粗さRaの上限は、50
0nmであることが望ましく、100nmであることが
より望ましい。
When the material of the lid is glass, the lower limit of the average roughness Ra of the roughened surface formed on the lid is preferably 5 nm, and more preferably 10 nm. On the other hand, the upper limit of the average roughness Ra is 50
The thickness is preferably 0 nm, more preferably 100 nm.

【0048】また、上記蓋部の材質がシリコンである場
合、該蓋部に形成された粗化面の上記平均粗さRaは、
その下限が5nmであることが望ましく、10nmであ
ることがより望ましい。一方、上記平均粗さRaの上限
は、500nmであることが望ましく、100nmであ
ることがより望ましい。
When the material of the lid portion is silicon, the average roughness Ra of the roughened surface formed on the lid portion is
The lower limit is preferably 5 nm, more preferably 10 nm. On the other hand, the upper limit of the average roughness Ra is preferably 500 nm, and more preferably 100 nm.

【0049】また、上記蓋部に上記範囲の表面粗さを有
する粗化面を形成する方法としては特に限定されず、例
えば、酸、アルカリ、酸化剤等を含む溶液や、溶剤等の
液体中に蓋部を浸漬したり、該液体をスプレーにより塗
布したりする方法等が挙げられる。具体的にどのような
方法を選択するかは、蓋部の材質、形成する表面粗さ等
を考慮して適宜決定すればよい。そこで、以下に、高ケ
イ酸ガラスからなる蓋部、および、シリコンからなる蓋
部のそれぞれに粗化面を形成する方法について説明す
る。
The method of forming the roughened surface having the surface roughness within the above range on the lid is not particularly limited, and may be, for example, a solution containing an acid, an alkali, an oxidizing agent or the like, or a liquid such as a solvent. Examples of the method include immersing the lid portion in, or applying the liquid by spraying. The specific method to be selected may be appropriately determined in consideration of the material of the lid portion, the surface roughness to be formed, and the like. Therefore, a method of forming a roughened surface on each of the lid made of high silicate glass and the lid made of silicon will be described below.

【0050】上記高ケイ酸ガラスからなる蓋部に粗化面
を形成する方法としては、例えば、フッ化物を含む粗化
液を用いたエッチング処理等が挙げられ、上記フッ化物
を含む粗化液の具体例としては、例えば、HF水溶液、
HF−NHF混合液、NaF水溶液、BaF水溶
液、KF水溶液、CaF水溶液、XeF水溶液等が
挙げられる。これらのなかでは、HFを含む溶液が望ま
しい。上記した表面粗さを有する粗化面を短時間で形成
することができるからである。
Examples of the method for forming a roughened surface on the lid made of high silicate glass include etching treatment using a roughening solution containing fluoride, and the roughening solution containing fluoride. As a specific example of, for example, HF aqueous solution,
HF-NH 4 F mixture, NaF aqueous solution, BaF 2 aqueous solution, KF aqueous solution, CaF 2 aqueous solution, XeF 2 aqueous solution, and the like. Among these, a solution containing HF is desirable. This is because the roughened surface having the above-mentioned surface roughness can be formed in a short time.

【0051】また、上記高ケイ酸ガラスからなる蓋部に
HF水溶液を用いて、上記した表面粗さを有する粗化面
を形成する際の具体的な条件としては、以下のような条
件が望ましい。すなわち、HF水溶液の濃度は、HF:
O=1:10〜1:30が望ましく、HF:H
=1:20程度がより望ましい。また、エッチング処理
温度は、その下限が30℃であることが望ましく、40
℃であることがより望ましい。一方、上記エッチング処
理温度の上限は、80℃であることが望ましく、50℃
程度であることがより望ましい。さらに、エッチング処
理時間は、10〜120分が望ましく、30分程度がよ
り望ましい。
The following conditions are desirable as specific conditions for forming a roughened surface having the above-mentioned surface roughness by using an HF aqueous solution for the lid made of the above-mentioned high silicate glass. . That is, the concentration of the HF aqueous solution is HF:
H 2 O = 1: 10 to 1:30 is desirable, and HF: H 2 O
= 1: 20 is more desirable. The lower limit of the etching treatment temperature is preferably 30 ° C.
It is more preferable that the temperature is ° C. On the other hand, the upper limit of the etching temperature is preferably 80 ° C, and 50 ° C.
It is more desirable that it is a degree. Further, the etching treatment time is preferably 10 to 120 minutes, more preferably about 30 minutes.

【0052】また、通常、表面状態が平滑な高ケイ酸ガ
ラス板にエッチング処理を施そうとしてもエッチングは
進行しにくい。これは、上記粗化液を用いたエッチング
は、高ケイ酸ガラス表面の凹凸や傷の部分を起点として
進行(侵食)していくため、表面の平滑な高ケイ酸ガラ
ス板では、エッチングが進行するための起点が少ないか
らである。そこで、上記高ケイ酸ガラスからなる蓋部に
上記粗化液を用いたエッチング処理により粗化面を形成
する場合、予め、研磨処理等の前処理を施して高ケイ酸
ガラス表面を摺りガラス状にしておくことが望ましい。
具体的には、片面砂目研磨(♯500、♯700、♯1
000、♯1500)、アルミナ系研磨砥粒、ダイヤモ
ンド砥粒等を用いた研磨処理を施しておくことが望まし
い。また、市販の摺りガラスを使用してもよい。
Further, usually, even if an attempt is made to perform an etching treatment on a high silicate glass plate having a smooth surface, the etching is difficult to proceed. This is because the etching using the above-mentioned roughening solution progresses (erodes) from the irregularities and scratches on the surface of the high silicate glass as the starting points, so the etching progresses on the high silicate glass plate with a smooth surface. This is because there are few starting points for doing. Therefore, when the roughened surface is formed on the lid made of the high silicate glass by the etching treatment using the roughening liquid, the high silicate glass surface is rubbed into a glass shape by pretreatment such as polishing treatment in advance. It is desirable to keep it.
Specifically, single-sided grain polishing (# 500, # 700, # 1
000, # 1500), alumina-based abrasive grains, diamond abrasive grains or the like. Further, commercially available ground glass may be used.

【0053】上記シリコンからなる蓋部に粗化面を形成
する方法としては、例えば、KOH、NaOH等のアル
カリを含む溶液を用いたエッチング処理等が挙げられ
る。これらのなかでは、KOHを含む溶液を用いたエッ
チング処理が望ましい。エッチング速度が速く、短時間
で粗化面を形成することができるからである。また、N
aOHを含む溶液を用いてエッチング処理を行うと、場
合によっては、処理面が変色したり、処理面に異物が発
生したりすることがある。
As a method of forming the roughened surface on the lid made of silicon, for example, etching treatment using a solution containing an alkali such as KOH or NaOH can be mentioned. Among these, etching treatment using a solution containing KOH is desirable. This is because the etching rate is high and the roughened surface can be formed in a short time. Also, N
When etching is performed using a solution containing aOH, the treated surface may be discolored or foreign matter may be generated on the treated surface in some cases.

【0054】上記シリコンからなる蓋部にKOHを含む
溶液を用いて、上記した表面粗さを有する粗化面を形成
する際の具体的な条件としては、以下のような条件が望
ましい。すなわち、KOH溶液の濃度は、10〜40重
量%が望ましく、20重量%程度がより望ましい。上記
KOHを含む溶液の濃度が10重量%未満や、40重量
%を超える場合には、エッチング速度が遅くなることが
ある。また、エッチング処理温度は、30〜90℃であ
ることが望ましく、40〜60℃程度であることがより
望ましい。さらに、エッチング処理時間は、4〜10分
が望ましく、5〜7分程度がより望ましい。
The following conditions are desirable as specific conditions for forming a roughened surface having the above-mentioned surface roughness using a solution containing KOH on the lid made of silicon. That is, the concentration of the KOH solution is preferably 10 to 40% by weight, more preferably about 20% by weight. When the concentration of the solution containing KOH is less than 10% by weight or more than 40% by weight, the etching rate may be slow. The etching temperature is preferably 30 to 90 ° C, more preferably 40 to 60 ° C. Further, the etching time is preferably 4 to 10 minutes, more preferably 5 to 7 minutes.

【0055】なお、上述したような条件で、高ケイ酸ガ
ラスからなる蓋部やシリコンからなる蓋部に粗化面を形
成した場合には、該粗化面の表面粗さは、上記した範囲
の凹凸の平均間隔Smを満足するのは勿論のこと、通
常、上記した範囲の局部山頂の平均間隔Sや平均粗さR
aをも満足することとなる。
When a roughened surface is formed on the lid made of high silicate glass or the lid made of silicon under the conditions as described above, the surface roughness of the roughened surface is within the above range. In addition to satisfying the average spacing Sm of the irregularities, the average spacing S and the average roughness R of the local peaks in the above range are usually satisfied.
It will also satisfy a.

【0056】また、シリコンからなる蓋部では、KOH
を含む溶液を用い、上記したエッチング処理条件で粗化
面を形成した場合、その結晶面によって形成される平均
粗さRaが異なることとなる。具体的には、KOHを含
む溶液を用い、上記した望ましい処理条件で粗化面を形
成した場合、(100)面には平均粗さRaが50〜5
00nmの粗化面が形成されることとなり、(111)
面には平均粗さRaが5〜100nmの粗化面が形成さ
れることとなる。さらに、上記したより望ましい処理条
件で粗化面を形成した場合には、(100)面には平均
粗さRaが200〜300nmの粗化面が形成されるこ
ととなり、(111)面には平均粗さRaが10〜80
nmの粗化面が形成されることとなる。
In the case of the lid made of silicon, KOH
When a roughened surface is formed under the above etching conditions using a solution containing, the average roughness Ra formed by the crystal surface will be different. Specifically, when a roughened surface is formed under the desirable processing conditions described above using a solution containing KOH, the average roughness Ra of the (100) surface is 50 to 5
A roughened surface of 00 nm is formed, and (111)
A roughened surface having an average roughness Ra of 5 to 100 nm is formed on the surface. Further, when the roughened surface is formed under the more desirable processing conditions described above, the roughened surface having the average roughness Ra of 200 to 300 nm is formed on the (100) surface, and the (111) surface is formed. Average roughness Ra is 10 to 80
Thus, a roughened surface of nm is formed.

【0057】また、図1、3に示す光ファイバアレイ1
00、102においては、複数のV溝157が形成され
た基板151に、一端部の被覆樹脂層が除去されること
により光ファイバが露出した光ファイバリボン110が
収納されている。上記光ファイバリボンとしては特に限
定されず、従来公知のものを用いることができ、例え
ば、図1に示すようなコア111とクラッド112とか
らなる光ファイバ115の周囲に一次被覆樹脂層113
が形成され、この一次被覆樹脂層113で被覆された光
ファイバ115が並列に配置された状態で二次被覆樹脂
層114により一括して被覆されている光ファイバリボ
ン110を用いることができる。
The optical fiber array 1 shown in FIGS.
In Nos. 00 and 102, the optical fiber ribbon 110 in which the optical fiber is exposed by removing the coating resin layer at one end is stored in the substrate 151 in which the plurality of V grooves 157 are formed. The optical fiber ribbon is not particularly limited, and a conventionally known one can be used. For example, the primary coating resin layer 113 is provided around the optical fiber 115 including the core 111 and the clad 112 as shown in FIG.
It is possible to use the optical fiber ribbon 110 in which the optical fibers 115 coated with the primary coating resin layer 113 are arranged in parallel and are collectively coated with the secondary coating resin layer 114.

【0058】光ファイバリボンを構成する光ファイバ1
15としては、例えば、石英ガラス(SiO)を主成
分とする石英系光ファイバ、ソーダ石灰、ガラス、ホウ
硅ガラス等を主成分とする多成分系光ファイバ、シリコ
ーン樹脂やアクリル樹脂等のプラスチックを主成分とす
るプラスチック系光ファイバ等が挙げられる。これらの
なかでは、石英系光ファイバが望ましい。その表面に粗
化面を形成することにより、接着層との密着性が特に向
上するため、本発明の光ファイバアレイに適しているか
らである。
Optical Fiber 1 Constituting Optical Fiber Ribbon
As 15, there are, for example, a silica-based optical fiber whose main component is silica glass (SiO 2 ), a multi-component optical fiber whose main component is soda lime, glass, borosilicate glass, and a plastic such as silicone resin or acrylic resin. Examples include plastic optical fibers containing as a main component. Of these, quartz optical fiber is desirable. By forming a roughened surface on the surface, the adhesiveness with the adhesive layer is particularly improved, which is suitable for the optical fiber array of the present invention.

【0059】一次被覆樹脂層113は、光ファイバが傷
付いたりすること等を防止する保護層としての役割を果
たしている。また、その材料としては特に限定されず、
例えば、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ウレタン樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリオレフィン
樹脂、フッ素樹脂等の熱硬化性樹脂や、メタクリル酸や
アクリル酸等を用い、上述した熱硬化性樹脂の熱硬化基
を(メタ)アクリル化反応させた感光性樹脂等が挙げら
れる。なお、上記一次被覆樹脂層の層数は1層に限定さ
れず、2層以上であってもよい。
The primary coating resin layer 113 plays a role as a protective layer for preventing the optical fiber from being damaged. The material is not particularly limited,
For example, a thermosetting resin such as an epoxy resin, a silicone resin, a urethane resin, a phenol resin, a polyimide resin, a polyolefin resin, or a fluororesin, or methacrylic acid or acrylic acid is used, and the thermosetting group of the thermosetting resin described above is used. Examples thereof include (meth) acrylated photosensitive resins. The number of the primary coating resin layers is not limited to one and may be two or more.

【0060】また、二次被覆樹脂層114は、一次被覆
樹脂層がその周囲に形成された光ファイバを保護すると
ともに、光ファイバが並列に配置された光ファイバリボ
ンの形態を保持する役割を果たしている。また、その材
料としては特に限定されず、上記一次被覆樹脂層の材料
と同様の熱硬化性樹脂や感光性樹脂等が挙げられる。な
お、上記二次被覆樹脂層の層数は1層に限定されず、2
層以上であってもよい。
The secondary coating resin layer 114 plays a role of protecting the optical fiber formed around the primary coating resin layer and maintaining the shape of the optical fiber ribbon in which the optical fibers are arranged in parallel. There is. The material is not particularly limited, and examples thereof include the same thermosetting resin and photosensitive resin as the material of the primary coating resin layer. The number of the secondary coating resin layers is not limited to one, and
It may be more than one layer.

【0061】また、光ファイバアレイ100、102に
おいて、被覆樹脂層が除去され、V溝157に収納され
た光ファイバの表面には、粗化面(図示せず)が形成さ
れていてもよい。光ファイバと接着層との密着性が向上
するからである。上記粗化面は、その平均粗さRaの下
限が1nmであることが望ましく、その上限が100n
mであることが望ましい。平均粗さRaが、1nm未満
では、光ファイバと接着層との密着性はほとんど向上せ
ず、一方、平均粗さRaが100nmを超えると、光フ
ァイバ表面の凹凸が大きくなるため、光ファイバの断面
の形状が円形状からはずれ、光ファイバの位置ズレが発
生しやすくなり、光信号の伝送に悪影響を及ぼすことが
ある。上記粗化面の平均粗さRaは、その下限が10n
mであることがより望ましく、その上限が50nmであ
ることがより望ましい。
In the optical fiber arrays 100 and 102, the coating resin layer may be removed, and a roughened surface (not shown) may be formed on the surface of the optical fiber housed in the V groove 157. This is because the adhesion between the optical fiber and the adhesive layer is improved. The lower limit of the average roughness Ra of the roughened surface is preferably 1 nm, and the upper limit thereof is 100 n.
It is desirable that it is m. When the average roughness Ra is less than 1 nm, the adhesiveness between the optical fiber and the adhesive layer is hardly improved, while when the average roughness Ra exceeds 100 nm, the unevenness of the surface of the optical fiber becomes large, so that The shape of the cross section deviates from the circular shape, the positional deviation of the optical fiber is likely to occur, and the optical signal transmission may be adversely affected. The lower limit of the average roughness Ra of the roughened surface is 10 n.
m is more preferable, and its upper limit is more preferably 50 nm.

【0062】また、上記粗化面を形成する方法は特に限
定されないが、フッ化物を含む粗化液を用いて形成する
ことが望ましい。上記範囲の平均粗さRaを有する粗化
面を、短時間で形成することができるからである。
The method for forming the roughened surface is not particularly limited, but it is desirable to use a roughening solution containing fluoride. This is because the roughened surface having the average roughness Ra in the above range can be formed in a short time.

【0063】上記フッ化物を含む粗化液としては、例え
ば、上述した高ケイ酸ガラスからなる蓋部に粗化面を形
成する際に用いるものと同様のもの等が挙げられる。そ
れらのなかでは、HFを含む溶液が望ましい。光ファイ
バに悪影響(光ファイバの変形等)を及ぼすことなく、
所望の平均粗さRaを有する粗化面を短時間で形成する
ことができるからであり、特に、石英系光ファイバや多
成分系光ファイバの表面に粗化面を形成するのに適して
いる。
Examples of the roughening solution containing the above-mentioned fluoride include the same ones as those used for forming the roughened surface on the lid made of the above-mentioned high silicate glass. Among them, a solution containing HF is desirable. Without adversely affecting the optical fiber (deformation of the optical fiber, etc.),
This is because it is possible to form a roughened surface having a desired average roughness Ra in a short time, and it is particularly suitable for forming a roughened surface on the surface of a silica optical fiber or a multi-component optical fiber. .

【0064】また、光ファイバアレイ100、102に
おいては、その一端部の被覆樹脂層が除去された光ファ
イバリボンが基板に収納されているが、基板の溝に収納
される光ファイバは、複数本の単心の光ファイバであっ
てもよいし、複数の光ファイバリボンが積み重ねられた
積層光ファイバリボンであってもよい。積層光ファイバ
リボンを用いる場合には、基板の溝に、複数の光ファイ
バを高密度で並列に配置することができる。
Further, in the optical fiber arrays 100 and 102, the optical fiber ribbon from which the coating resin layer at one end is removed is housed in the substrate, but a plurality of optical fibers are housed in the groove of the substrate. It may be a single-core optical fiber or a laminated optical fiber ribbon in which a plurality of optical fiber ribbons are stacked. When a laminated optical fiber ribbon is used, a plurality of optical fibers can be arranged in high density in parallel in the groove of the substrate.

【0065】図4(a)は、積層光ファイバリボンを用
いた本発明の光ファイバアレイの一例を模式的に示す部
分斜視図であり、(b)は、(a)の光ファイバアレイ
を構成する基板と積層光ファイバリボンとのみを示す部
分斜視図であり、(c)は、(a)のA−A線断面図で
ある。図4に示すように、光ファイバアレイ200で
は、積層光ファイバリボン210の一端部の露出した光
ファイバ235、245が基板251上のV溝257に
接着層259を介して収納され、積層光ファイバリボン
210の一部が被覆樹脂層ごと被覆樹脂層保持部258
に保持されている。また、被覆樹脂層保持部258に保
持された被覆樹脂層の周囲には接着層259′が形成さ
れている。
FIG. 4 (a) is a partial perspective view schematically showing an example of the optical fiber array of the present invention using the laminated optical fiber ribbon, and FIG. 4 (b) shows the optical fiber array of FIG. It is a partial perspective view which shows only the board | substrate and laminated | multilayer optical fiber ribbon, (c) is the sectional view on the AA line of (a). As shown in FIG. 4, in the optical fiber array 200, the exposed optical fibers 235 and 245 at one end of the laminated optical fiber ribbon 210 are housed in the V groove 257 on the substrate 251 via the adhesive layer 259, and the laminated optical fiber A part of the ribbon 210 is covered with the coating resin layer, and the coating resin layer holding portion 258 is provided.
Held in. An adhesive layer 259 ′ is formed around the coating resin layer held by the coating resin layer holding portion 258.

【0066】また、積層光ファイバリボン210は、そ
れぞれ一端部の光ファイバが露出した2本の光ファイバ
リボン230、240が積み重ねられ、下段の光ファイ
バリボン240の露出した光ファイバ245と、上段の
光ファイバリボン230の露出した光ファイバ235と
が交互に配置されている。
In the laminated optical fiber ribbon 210, two optical fiber ribbons 230 and 240 each having an exposed optical fiber at one end are stacked, and the exposed optical fiber 245 of the lower optical fiber ribbon 240 and the upper optical fiber 245 of the upper optical fiber ribbon 240 are stacked. The exposed optical fibers 235 of the optical fiber ribbon 230 are alternately arranged.

【0067】また、積層光ファイバリボン210では、
露出した光ファイバ235、245が同一の高さに配置
されるように、露出した光ファイバ235、245は、
それぞれが、その一部で曲げられている。なお、積層光
ファイバリボン210では、上段の光ファイバリボン2
30の露出した光ファイバ235、および、下段の光フ
ァイバリボン240の露出した光ファイバ245のそれ
ぞれの一部が曲げられているが、両者の光ファイバを同
一の高さに配置することができるのであれば、上段の光
ファイバリボンの露出した光ファイバのみが曲げられて
いてもよいし、下段の光ファイバリボンの露出した光フ
ァイバのみが曲げられていてもよい。
In the laminated optical fiber ribbon 210,
The exposed optical fibers 235, 245 are arranged so that the exposed optical fibers 235, 245 are arranged at the same height.
Each is bent in part. In the laminated optical fiber ribbon 210, the upper optical fiber ribbon 2
Although the exposed optical fibers 235 of 30 and the exposed optical fibers 245 of the lower optical fiber ribbon 240 are partly bent, both optical fibers can be arranged at the same height. If so, only the exposed optical fiber of the upper optical fiber ribbon may be bent, or only the exposed optical fiber of the lower optical fiber ribbon may be bent.

【0068】また、積層光ファイバリボン210におい
ては、上段の光ファイバリボン230と、下段の光ファ
イバリボン240とが、接着剤等を介して固定されてい
ることが望ましい。高密度で並列に配置した光ファイバ
の位置ズレがより発生しにくくなるからである。また、
この光ファイバアレイ200においても、基板の上面に
溝とともに、被覆樹脂層保持部を形成する場合、溝形成
面と、被覆樹脂層保持部との境目は被覆樹脂層保持部に
向かって下るような傾斜を有する壁面であることが望ま
しく、被覆樹脂層保持部に代えて、光ファイバを被覆樹
脂層ごと収納するための凹部が形成されていてもよい。
In the laminated optical fiber ribbon 210, it is desirable that the upper optical fiber ribbon 230 and the lower optical fiber ribbon 240 are fixed to each other with an adhesive or the like. This is because the positional deviation of the optical fibers arranged in parallel at high density is less likely to occur. Also,
Also in this optical fiber array 200, when the coating resin layer holding portion is formed together with the groove on the upper surface of the substrate, the boundary between the groove forming surface and the coating resin layer holding portion is lowered toward the coating resin layer holding portion. A wall surface having an inclination is desirable, and instead of the coating resin layer holding portion, a recess for accommodating the optical fiber together with the coating resin layer may be formed.

【0069】本発明の光ファイバアレイにおいては、光
ファイバが溝に収納されており、また、基板上に上記光
ファイバを覆う蓋部が接着層を介して取り付けられてい
る。さらに、上記基板に被覆樹脂層保持部が形成されて
いる場合、この被覆樹脂層保持部上には接着層を介して
光ファイバが被覆樹脂層ごと固定されている。
In the optical fiber array of the present invention, the optical fiber is housed in the groove, and the lid portion covering the optical fiber is attached on the substrate through the adhesive layer. Further, when the cover resin layer holding portion is formed on the substrate, the optical fiber is fixed to the cover resin layer holding portion together with the cover resin layer via the adhesive layer.

【0070】上記接着層の材質としては、例えば、熱可
塑性樹脂、熱硬化性樹脂、および、感光性樹脂のうちの
少なくとも一種を含む樹脂組成物の硬化物等の有機系接
着剤が挙げられる。これらのなかでは、熱硬化性樹脂や
感光性樹脂を含む樹脂組成物の硬化物が望ましい。上記
熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノ
ール樹脂、シリコーン樹脂、ポリイミド樹脂、フッ素樹
脂等が挙げられる。
Examples of the material of the adhesive layer include organic adhesives such as a cured product of a resin composition containing at least one of a thermoplastic resin, a thermosetting resin, and a photosensitive resin. Among these, a cured product of a resin composition containing a thermosetting resin or a photosensitive resin is desirable. Examples of the thermosetting resin include epoxy resin, phenol resin, silicone resin, polyimide resin, and fluororesin.

【0071】上記エポキシ樹脂としては、例えば、ビス
フェノール型エポキシ樹脂や、ノボラック型エポキシ樹
脂等が挙げられる。上記ビスフェノール型エポキシ樹脂
を用いることは、A型やF型の樹脂を選択することによ
り、希釈溶媒を使用しなくてもその粘度を調整すること
ができる点から望ましく、より低粘度に調整することが
できる点からビスフェノールF型エポキシ樹脂がより望
ましい。また、上記ノボラック型エポキシ樹脂を用いる
ことは、この樹脂が、高強度で耐熱性や耐薬品性に優
れ、また、熱分解しにくい点から望ましい。また、上記
ノボラック型エポキシ樹脂としては、フェノールノボラ
ック型エポキシ樹脂およびクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂が望ましい。
Examples of the epoxy resin include bisphenol type epoxy resin and novolac type epoxy resin. The use of the above bisphenol type epoxy resin is desirable in that the viscosity can be adjusted by selecting an A type or F type resin without using a diluting solvent, and it is preferable to adjust the viscosity to a lower value. The bisphenol F type epoxy resin is more preferable in that it can be obtained. Further, it is preferable to use the above novolac type epoxy resin because the resin has high strength, excellent heat resistance and chemical resistance, and is less likely to be thermally decomposed. Further, as the novolac type epoxy resin, a phenol novolac type epoxy resin and a cresol novolac type epoxy resin are desirable.

【0072】また、上記ビスフェノール型エポキシ樹脂
と上記ノボラック型エポキシ樹脂とは、混合して用いる
ことが望ましい。この場合、上記ビスフェノール型エポ
キシ樹脂と上記ノボラック型エポキシ樹脂との混合比
は、1:1〜1:100であることが望ましい。この範
囲で混合することにより、粘度の上昇を抑えることがで
きるからである。
The bisphenol type epoxy resin and the novolac type epoxy resin are preferably mixed and used. In this case, the mixing ratio of the bisphenol type epoxy resin and the novolac type epoxy resin is preferably 1: 1 to 1: 100. This is because mixing within this range can suppress an increase in viscosity.

【0073】また、上記感光性樹脂としては、例えば、
上記熱硬化性樹脂に感光性を付与した樹脂等が挙げられ
る。具体的には、例えば、(メタ)アクリル酸等を用い
て、熱硬化性樹脂の熱硬化基を(メタ)アクリル化した
もの等が挙げられる。これらのなかでは、エポキシ樹脂
の(メタ)アクリレートが望ましく、一分子中に2個以
上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂がより望ましい。
また、上記感光性樹脂としては、例えば、アクリル樹脂
等も挙げられる。これらの感光性樹脂は単独で用いても
よいし、2種以上併用してもよい。
The photosensitive resin may be, for example,
Examples thereof include resins obtained by imparting photosensitivity to the thermosetting resin. Specifically, for example, the one in which the thermosetting group of the thermosetting resin is (meth) acrylated by using (meth) acrylic acid or the like can be mentioned. Among these, the (meth) acrylate of the epoxy resin is preferable, and the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more preferable.
Examples of the photosensitive resin also include acrylic resin and the like. These photosensitive resins may be used alone or in combination of two or more.

【0074】また、上記接着層の材質としては、例え
ば、エポキシ系またはアクリレート系の紫外線硬化型樹
脂組成物の硬化物等も挙げることができる。後述するよ
うに、光ファイバアレイを製造する際に、光ファイバと
溝との間隙や光ファイバと蓋部との間隙に未硬化の接着
剤(樹脂組成物)を流し込むと、表面張力により該間隙
に未硬化の接着剤が充填されることとなるが、上記紫外
線硬化型樹脂組成物では、より確実に上記光ファイバと
溝との間隙等を充填することができるため、上記紫外線
硬化型樹脂組成物の硬化物を介して固定された光ファイ
バでは、位置ズレが発生しない。また、このエポキシ系
またはアクリレート系の紫外線硬化型樹脂組成物の硬化
物は、被覆樹脂層を被覆樹脂層保持部に固定する接着層
としても用いることができる。また、上記紫外線硬化型
樹脂組成物の硬化物は、その一部がフッ素化されている
ことが望ましい。フッ素化することにより、接着層で水
が生成しにくく、耐湿性が向上することとなる。また、
絶縁性、耐熱性、耐薬品性等も向上することとなる。
As the material of the adhesive layer, for example, a cured product of an epoxy-based or acrylate-based UV-curable resin composition can be used. As will be described later, when an optical fiber array is manufactured, if an uncured adhesive (resin composition) is poured into the gap between the optical fiber and the groove or the gap between the optical fiber and the lid, the gap is caused by the surface tension. In this case, the uncured adhesive is filled in, but in the ultraviolet curable resin composition, the gap between the optical fiber and the groove can be more surely filled, and therefore, the ultraviolet curable resin composition. Positional deviation does not occur in the optical fiber fixed through the cured product. Further, the cured product of this epoxy or acrylate-based ultraviolet curable resin composition can also be used as an adhesive layer for fixing the coating resin layer to the coating resin layer holding portion. Moreover, it is desirable that a part of the cured product of the ultraviolet curable resin composition is fluorinated. By fluorinating, it is difficult for water to be generated in the adhesive layer and the moisture resistance is improved. Also,
Insulation, heat resistance, chemical resistance, etc. are also improved.

【0075】上記エポキシ系の紫外線硬化型樹脂組成物
の具体例としては、例えば、ダイキン工業社製、オプト
ダインUV−1000、オプトダインUV−1100、
オプトダインUV−2100、オプトダインUV−31
00、オプトダインUV−3200、オプトダインUV
−4000等が挙げられる。
Specific examples of the above-mentioned epoxy-based UV-curable resin composition include, for example, Optodyne UV-1000, Optodyne UV-1100, manufactured by Daikin Industries, Ltd.,
Optodyne UV-2100, Optodyne UV-31
00, Optodyne UV-3200, Optodyne UV
-4000 etc. are mentioned.

【0076】上記アクリレート系の紫外線硬化型樹脂組
成物の具体例としては、例えば、オプトダインUV−2
000、オプトダインUV−3000等が挙げられる。
上記アクリレート系の紫外線硬化型樹脂組成物の具体例
としては、例えば、40〜50重量%のアクリレートオ
リゴマー、1〜10重量%のビニルエステル樹脂、45
〜55重量%のアクリレート系モノマー、および、1〜
10重量%の重合開始剤を含むもの等も挙げられる。
Specific examples of the acrylate-based UV-curable resin composition include, for example, Optodyne UV-2.
000, Optodyne UV-3000 and the like.
Specific examples of the acrylate-based UV curable resin composition include, for example, 40 to 50% by weight of acrylate oligomer, 1 to 10% by weight of vinyl ester resin, and 45.
-55 wt% acrylate-based monomer, and 1-
Those containing 10% by weight of a polymerization initiator are also included.

【0077】また、上記アクリレートオリゴマーや上記
アクリレート系モノマーは、その一部がフッ素化されて
いることが望ましい。このように、紫外線硬化型樹脂組
成物に含まれる成分の一部がフッ素化されている場合、
紫外線硬化型樹脂組成物は透光性に優れるため、紫外線
照射時に、樹脂組成物全体が短時間で硬化することとな
る。
Further, it is desirable that a part of the acrylate oligomer or the acrylate-based monomer is fluorinated. Thus, when a part of the components contained in the ultraviolet curable resin composition is fluorinated,
Since the ultraviolet curable resin composition has excellent translucency, the entire resin composition will be cured in a short time upon irradiation with ultraviolet rays.

【0078】また、上記接着層が上記紫外線硬化型樹脂
組成物の硬化物である場合、露出した光ファイバ、蓋
部、および、被覆樹脂層を固定する接着層として、とも
に、エポキシ系またはアクリレート系の紫外線硬化型樹
脂組成物の硬化物を用いてもよいし、露出した光ファイ
バおよび蓋部を固定する接着層としてエポキシ系の紫外
線硬化型樹脂組成物の硬化物を用い、被覆樹脂層を固定
する接着層としてアクリレート系の紫外線硬化型樹脂組
成物の硬化物を用いてもよい。
When the adhesive layer is a cured product of the ultraviolet curable resin composition, the adhesive layer for fixing the exposed optical fiber, the lid, and the coating resin layer are both epoxy-based or acrylate-based. The cured product of the ultraviolet-curable resin composition may be used, or the cured resin of the epoxy-based ultraviolet-curable resin composition may be used as the adhesive layer for fixing the exposed optical fiber and the lid, and the coating resin layer may be fixed. A cured product of an acrylate-based UV-curable resin composition may be used as the adhesive layer.

【0079】露出した光ファイバおよび蓋部を固定する
接着層として、比較的硬いエポキシ系の紫外線硬化型樹
脂組成物の硬化物を用いることにより光ファイバの位置
ズレがより発生しにくくなり、被覆樹脂層を固定する接
着層として比較的柔らかいアクリレート系の紫外線硬化
型樹脂組成物の硬化物を用いることにより、被覆樹脂層
部分は、光ファイバアレイを取り付ける部分の形状等に
合わせて、ある程度変形することができることとなる。
なお、その形状が基板の全面を覆う形状の蓋部を取り付
ける場合には、接着層は、1種類の紫外線硬化型樹脂組
成物の硬化物からなるものであることが望ましい。
By using a cured product of a relatively hard epoxy-based UV-curable resin composition as the adhesive layer for fixing the exposed optical fiber and the lid, positional deviation of the optical fiber is less likely to occur, and the coating resin By using a cured product of a relatively soft acrylate-based UV-curable resin composition as an adhesive layer for fixing the layers, the coating resin layer portion should be deformed to some extent according to the shape of the portion to which the optical fiber array is attached. Will be possible.
In addition, in the case of attaching a lid part having a shape covering the entire surface of the substrate, the adhesive layer is preferably made of a cured product of one type of ultraviolet curable resin composition.

【0080】また、接着層として上記紫外線硬化型樹脂
組成物の硬化物を用いる場合、上記紫外線硬化型樹脂組
成物の25℃における粘度は、特に限定されないが、2
00〜2000mPa・sであることが望ましい。上記
粘度が200mPa・s未満では、粘度が低すぎるた
め、溝と光ファイバとの間隙に流し込んだ紫外線硬化型
樹脂組成物が硬化前に流出してくるおそれがあり、20
00mPa・sを超えると、溝と光ファイバとの間隙が
確実に充填されないことがある。
When a cured product of the ultraviolet curable resin composition is used as the adhesive layer, the viscosity of the ultraviolet curable resin composition at 25 ° C. is not particularly limited, but it is 2
It is desirable that it is from 00 to 2000 mPa · s. If the viscosity is less than 200 mPa · s, the viscosity is too low, so that the UV curable resin composition poured into the gap between the groove and the optical fiber may flow out before curing.
If it exceeds 00 mPa · s, the gap between the groove and the optical fiber may not be reliably filled.

【0081】また、上記紫外線硬化型樹脂組成物の25
℃における粘度は、露出した光ファイバおよび蓋部を固
定するために用いる紫外線硬化型樹脂組成物の粘度が2
00〜2000mPa・sであり、光ファイバを被覆樹
脂層ごと固定するために用いる紫外線硬化型樹脂組成物
の粘度が5000〜30000mPa・sであることも
望ましい。光ファイバを固定するための紫外線硬化型樹
脂組成物として、上記範囲の粘度を有する樹脂組成物を
用いることにより、樹脂組成物が光ファイバと溝との間
隙に確実に充填されることとなり、光ファイバを樹脂組
成物ごと固定するための紫外線硬化型樹脂組成物とし
て、上記範囲の粘度を有する樹脂組成物を用いる場合に
は、被覆樹脂層の周囲に樹脂組成物を塗布しやすい。な
お、上記紫外線硬化型樹脂組成物の粘度の調整は、溶剤
や各種添加剤の配合量を調整することにより行えばよ
い。
In addition, 25 of the above ultraviolet curable resin composition
As for the viscosity at 0 ° C., the viscosity of the ultraviolet curable resin composition used for fixing the exposed optical fiber and the lid is 2
It is also desirable that the UV curable resin composition used for fixing the optical fiber together with the coating resin layer has a viscosity of 5,000 to 30,000 mPa · s. By using a resin composition having a viscosity in the above range as the ultraviolet curable resin composition for fixing the optical fiber, the resin composition is reliably filled in the gap between the optical fiber and the groove, When a resin composition having a viscosity in the above range is used as the ultraviolet curable resin composition for fixing the fiber together with the resin composition, it is easy to apply the resin composition around the coating resin layer. The viscosity of the ultraviolet curable resin composition may be adjusted by adjusting the blending amount of the solvent and various additives.

【0082】また、上記光ファイバを被覆樹脂層ごと固
定する接着層としては、上記アクリレート系の紫外線硬
化型樹脂組成物の硬化物に代えて、または、上記アクリ
レート系の紫外線硬化型樹脂組成物の硬化物と組み合わ
せて、シリコーン系接着剤を用いてもよい。上記シリコ
ーン系の接着剤としては、例えば、信越化学工業社製、
KJC−7806、ダウコーニング社製、734等が挙
げられる。
As the adhesive layer for fixing the optical fiber together with the coating resin layer, instead of the cured product of the acrylate-based UV-curable resin composition, or the acrylate-based UV-curable resin composition. A silicone adhesive may be used in combination with the cured product. As the silicone-based adhesive, for example, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co.,
KJC-7806, Dow Corning 734, etc. are mentioned.

【0083】上記有機系接着剤には、必要に応じて、硬
化剤、樹脂粒子、無機粒子、金属粒子等の粒子、光沢
剤、反応安定剤、光重合剤等の添加剤が含まれていても
よい。これらの添加剤を含むことにより、流動性の向上
や硬化度の調整等を図ることができるからである。上記
硬化剤としては特に限定されず、一般に使用される硬化
剤を用いることができ、具体例としては、例えば、イミ
ダゾール系硬化剤、アミン系硬化剤等が挙げられる。
If necessary, the above organic adhesive contains additives such as a curing agent, resin particles, inorganic particles, particles such as metal particles, a brightening agent, a reaction stabilizer, and a photopolymerization agent. Good. By including these additives, it is possible to improve the fluidity and adjust the degree of curing. The curing agent is not particularly limited, and commonly used curing agents can be used, and specific examples thereof include an imidazole curing agent and an amine curing agent.

【0084】上記樹脂粒子としては、例えば、熱硬化性
樹脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、具体的
には、例えば、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、
グアナミン樹脂)、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、フ
ェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレン樹脂、
ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂、ビスマレイミド−ト
リアジン樹脂等からなるものが挙げられる。これらは単
独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。また、
上記樹脂粒子としては、アクリロニトリル−ブタジエン
ゴム、ポリクロロプレンゴム等のゴムからなる粒子を用
いることもできる。
Examples of the resin particles include those made of thermosetting resin, thermoplastic resin, etc. Specifically, for example, amino resin (melamine resin, urea resin,
(Guanamine resin), epoxy resin, phenol resin, phenoxy resin, polyimide resin, polyphenylene resin,
Examples include polyolefin resins, fluororesins, bismaleimide-triazine resins, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Also,
As the resin particles, particles made of rubber such as acrylonitrile-butadiene rubber and polychloroprene rubber can also be used.

【0085】上記無機粒子としては、アルミナ、水酸化
アルミニウム等のアルミニウム化合物、炭酸カルシウ
ム、水酸化カルシウム等のカルシウム化合物、炭酸カリ
ウム等のカリウム化合物、マグネシア、ドロマイト、塩
基性炭酸マグネシウム等のマグネシウム化合物、シリ
カ、ゼオライト等のケイ素化合物、チタニア等のチタン
化合物等からなるものが挙げられる。これらは単独で用
いてもよいし、2種以上併用してもよいまた、上記無機
粒子としては、リンやリン化合物からなるものを用いる
こともできる。
Examples of the inorganic particles include aluminum compounds such as alumina and aluminum hydroxide, calcium compounds such as calcium carbonate and calcium hydroxide, potassium compounds such as potassium carbonate, magnesium compounds such as magnesia, dolomite, and basic magnesium carbonate. Examples thereof include silicon compounds such as silica and zeolite, titanium compounds such as titania, and the like. These may be used alone or in combination of two or more, and as the above-mentioned inorganic particles, phosphorus or a phosphorus compound may be used.

【0086】上記金属粒子としては、例えば、金、銀、
銅、スズ、亜鉛、ステンレス、アルミニウム、ニッケ
ル、鉄、鉛等からなるものが挙げられる。これらは単独
で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。これらの
粒子を含むことにより、熱膨張係数の調整や難燃性の向
上等を図ることができる。
Examples of the metal particles include gold, silver,
Examples include copper, tin, zinc, stainless steel, aluminum, nickel, iron and lead. These may be used alone or in combination of two or more. By including these particles, adjustment of the thermal expansion coefficient and improvement of flame retardancy can be achieved.

【0087】また、上記有機系接着剤は、溶剤を含んで
いてもよいし、溶剤を全く含まないものであってもよ
い。また、溶剤を含む場合、溶剤としては、例えば、N
MP(ノルマルメチルピロリドン)、DMDG(ジエチ
レングリコールジメチルエーテル)、グリセリン、シク
ロヘキサノール、シクロヘキサノン、メチルセルソル
ブ、メチルセルソルブアセテート、メタノール、エタノ
ール、ブタノール、プロパノール等が挙げられる。
The organic adhesive may contain a solvent or may not contain a solvent at all. When a solvent is included, the solvent may be, for example, N
Examples thereof include MP (normal methylpyrrolidone), DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), glycerin, cyclohexanol, cyclohexanone, methylcellosolve, methylcellosolve acetate, methanol, ethanol, butanol and propanol.

【0088】上記接着層の材質は、上述したような有機
系接着剤に限定されるわけではなく、例えば、半田等で
あってもよい。上記半田の具体例としては、例えば、S
n−Pb、Sn−Sb、Sn−Ag等が挙げられる。ま
た、上記接着層の材質として半田を用いる場合には、上
記蓋部の基板と対向する面や、上記基板上面、露出した
光ファイバの表面等の接着層と接する面の一部または全
部には、予め、金属層を形成しておく必要がある。な
お、上記金属層の形成方法等については後述する。
The material of the adhesive layer is not limited to the organic adhesive as described above, but may be solder or the like. As a specific example of the solder, for example, S
n-Pb, Sn-Sb, Sn-Ag, etc. are mentioned. When solder is used as the material of the adhesive layer, a part or all of the surface of the lid portion facing the substrate, the upper surface of the substrate, the exposed surface of the optical fiber, or the like that is in contact with the adhesive layer is used. It is necessary to form the metal layer in advance. The method of forming the metal layer will be described later.

【0089】次に、本発明の光ファイバアレイを製造す
る方法について工程順に説明する。 (1)上述したシリコン等からなる基板を出発材料と
し、該基板上面の一部に複数の溝を形成する。具体的に
は、例えば、下記(i)〜(viii)の工程を経ることに
より基板上面に溝を形成することができる。図5(a)
〜(g)は、基板に溝を形成する方法の一例を示す断面
図である。
Next, a method for manufacturing the optical fiber array of the present invention will be described in the order of steps. (1) Using the above-mentioned substrate made of silicon or the like as a starting material, a plurality of grooves are formed in a part of the upper surface of the substrate. Specifically, for example, the groove can be formed on the upper surface of the substrate by going through the following steps (i) to (viii). Figure 5 (a)
(G) is sectional drawing which shows an example of the method of forming a groove | channel in a board | substrate.

【0090】(i)まず、基板151上にマスク層15
2(152a、152b)を形成する(図5(a)参
照)。なお、上記マスク層の層数は、図5に示すような
2層に限定されず、1層であってもよいし、3層以上で
あってもよい。
(I) First, the mask layer 15 is formed on the substrate 151.
2 (152a, 152b) are formed (see FIG. 5A). The number of mask layers is not limited to two layers as shown in FIG. 5, and may be one layer or three or more layers.

【0091】マスク層152を形成する方法としては、
例えば、スパッタリング、CVD、めっき等により薄膜
を形成する方法、熱酸化等により酸化膜を形成する方
法、これらを組み合わせた方法等を用いることができ
る。これらのなかでは、例えば、シリコンからなる基板
上にマスク層を形成する場合には、まず、熱酸化により
酸化膜(SiO膜)を形成し、次に、この酸化膜上
に、CVDにより薄膜を形成する方法が望ましい。この
ようなマスク層を形成することにより、後工程で任意の
部分にエッチング処理を施すことにより、任意の形状の
マスクを形成することができる。
As a method of forming the mask layer 152,
For example, a method of forming a thin film by sputtering, CVD, plating or the like, a method of forming an oxide film by thermal oxidation or the like, a method combining these, or the like can be used. Among these, for example, when forming a mask layer on a substrate made of silicon, first an oxide film (SiO 2 film) is formed by thermal oxidation, and then a thin film is formed on this oxide film by CVD. A method of forming is desirable. By forming such a mask layer, it is possible to form a mask having an arbitrary shape by subjecting an arbitrary portion to etching treatment in a later step.

【0092】(ii)次に、マスク層152上にレジスト
用樹脂層154を形成する(図5(b)参照)。具体的
には、予め粘度を調整しておいたレジスト用樹脂組成物
をスピンコータ、カーテンコータ、ロールコータ、印刷
等により塗布する方法や、予めフィルム状に成形してお
いたレジスト用樹脂フィルムを貼り付ける方法等を用い
ることができる。
(Ii) Next, a resist resin layer 154 is formed on the mask layer 152 (see FIG. 5B). Specifically, a method in which a resist resin composition whose viscosity has been adjusted in advance is applied by a spin coater, a curtain coater, a roll coater, printing, or the like, or a resist resin film which has been formed into a film shape in advance is attached. A method of attaching can be used.

【0093】上記レジスト用樹脂組成物やレジスト用樹
脂フィルムとしては、例えば、樹脂成分と、必要に応じ
て配合された硬化剤、粒子、ゴム成分、添加剤、反応安
定剤、溶剤等とからなるものが挙げられる。上記樹脂成
分としては、例えば、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、感
光性樹脂、熱硬化性樹脂の一部が感光性基で置換された
樹脂、これらの複合樹脂等が挙げられる。
The resin composition for resist or the resin film for resist is composed of, for example, a resin component and, if necessary, a curing agent, particles, a rubber component, an additive, a reaction stabilizer, a solvent and the like. There are things. Examples of the resin component include a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a photosensitive resin, a resin in which a part of the thermosetting resin is replaced with a photosensitive group, a composite resin of these, and the like.

【0094】具体的には、例えば、エポキシ樹脂、フェ
ノール樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミド樹脂、ポ
リフェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂等
の熱硬化性樹脂;これらの熱硬化性樹脂の熱硬化基(例
えば、エポキシ樹脂におけるエポキシ基)にメタクリル
酸やアクリル酸等を反応させ、アクリル基(感光性基)
を付与した樹脂;フェノキシ樹脂、ポリエーテルスルフ
ォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフェ
ニレンスルホン(PPS)、ポリフェニレンサルファイ
ド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PPE)、ポ
リエーテルイミド(PI)等の熱可塑性樹脂;アクリル
樹脂、紫外線硬化樹脂等の感光性樹脂等が挙げられる これらのなかでは、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポ
リイミド樹脂、アクリル樹脂、紫外線硬化樹脂が望まし
い。後工程で、レジスト用樹脂層下のマスク層にエッチ
ング液を用いた処理を施す際に、該エッチング液に対す
る耐性に優れるからである。上記硬化剤としては、イミ
ダゾール系硬化剤、アミン系硬化剤、酸無水物系硬化剤
等が挙げられる。
Specifically, for example, thermosetting resins such as epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, bismaleimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, and fluororesin; thermosetting groups of these thermosetting resins (for example, , (Epoxy group in epoxy resin) is reacted with methacrylic acid or acrylic acid to form an acrylic group (photosensitive group).
Resins provided with: thermoplastics such as phenoxy resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PPE), and polyetherimide (PI) Resin: Acrylic resin, photosensitive resin such as ultraviolet curable resin, and the like. Among these, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, acrylic resin, and ultraviolet curable resin are preferable. This is because when the mask layer under the resist resin layer is treated with an etching solution in a later step, the resistance to the etching solution is excellent. Examples of the curing agent include imidazole curing agents, amine curing agents, acid anhydride curing agents, and the like.

【0095】また、上記レジスト用樹脂層の厚さは10
〜50μmが望ましい。また、上記レジスト用樹脂層
は、硬化状態であってもよいし、半硬化状態であっても
よい。具体的には、例えば、後工程で露光、現像処理に
より、基板に形成する溝に相当する部分のレジスト用樹
脂層を除去する場合には、半硬化状態であることが望ま
しく、レーザ処理等により、上記溝に相当する部分のレ
ジスト用樹脂層を除去する場合には、硬化状態であって
もよいし、半硬化状態であってもよい。なお、完全に硬
化した状態や、半硬化状態のレジスト用樹脂層を形成す
る場合、硬化処理は、例えば、70〜200℃に加熱す
ることにより行うことが望ましい。また、段階的に加熱
温度を変化させるステップ硬化を行ってもよい。
The thickness of the resist resin layer is 10
˜50 μm is desirable. The resist resin layer may be in a cured state or a semi-cured state. Specifically, for example, in the case where the resist resin layer in the portion corresponding to the groove to be formed on the substrate is removed by exposure and development in a later step, it is preferably in a semi-cured state. When the resist resin layer corresponding to the groove is removed, it may be in a cured state or a semi-cured state. In the case of forming a resist resin layer in a completely cured state or a semi-cured state, it is desirable to perform the curing treatment by heating at 70 to 200 ° C, for example. Moreover, you may perform step hardening which changes a heating temperature step by step.

【0096】(iii)次に、レジスト用樹脂層154の
一部、すなわち、基板151に形成する溝に相当する部
分を除去し、エッチングレジスト155とする(図5
(c)参照)。レジスト用樹脂層154の除去は、例え
ば、露光、現像処理により行うことができる。具体的に
は、例えば、半硬化状態のレジスト用樹脂層上にマスク
を載置した後、露光処理を施し、その後、アルカリ溶液
や有機溶剤等の薬液による現像処理を施す。上記現像処
理は、上記薬液中に上記レジスト用樹脂層を形成した基
板を浸漬したり、上記薬液をスプレーしたりすることに
より行うことができる。また、上記マスクとしては、上
記レジスト用樹脂層の除去部分に相当する部分に溝のパ
ターンが描画されたマスクを用いることができる。
(Iii) Next, a part of the resist resin layer 154, that is, a part corresponding to the groove formed in the substrate 151 is removed to form an etching resist 155 (FIG. 5).
(See (c)). The resist resin layer 154 can be removed by, for example, exposure and development treatment. Specifically, for example, a mask is placed on the semi-cured resin layer for resist, an exposure process is performed, and then a development process using a chemical solution such as an alkaline solution or an organic solvent is performed. The developing treatment can be performed by immersing the substrate having the resin layer for resist in the chemical solution or spraying the chemical solution. As the mask, it is possible to use a mask in which a groove pattern is drawn in a portion corresponding to the removed portion of the resist resin layer.

【0097】また、レジスト用樹脂層154の除去は、
レーザ処理を用いて行ってもよい。上記レーザ処理に用
いるレーザとしては、例えば、炭酸ガスレーザ、エキシ
マレーザ、UVレーザ、YAGレーザ等が挙げられる。
これらのレーザは、上記レジスト用樹脂層の除去部分の
形状や、上記レジスト用樹脂層の組成等を考慮して使い
分ければよい。なお、この工程で形成するエッチングレ
ジストの形状を調整することにより、後工程を経て形成
する溝の形状を調整することができる。
The removal of the resist resin layer 154 is
Alternatively, laser processing may be used. Examples of the laser used for the laser processing include carbon dioxide gas laser, excimer laser, UV laser, and YAG laser.
These lasers may be selectively used in consideration of the shape of the removed portion of the resist resin layer, the composition of the resist resin layer, and the like. By adjusting the shape of the etching resist formed in this step, it is possible to adjust the shape of the groove formed through the subsequent steps.

【0098】(iv)次に、エッチングレジスト155非
形成部に露出したマスク層152を除去し、基板151
の溝を形成する部分を露出させたマスク156を形成す
る(図5(d)参照)。マスク層152の除去は、例え
ば、RIE(反応性イオンエッチング)、酸素プラズマ
や窒素プラズマ等を用いたプラズマ処理、コロナ処理、
逆スパッタリング等のドライエッチング処理により行う
ことができる。具体的には、例えば、真空下または減圧
下において、マスク層に酸素プラズマを照射することに
より行うことができる。このようなドライエッチング処
理を行うことにより、エッチングレジストに損傷や変形
等を発生させることなく、選択的にレジスト非形成部分
のマスク層のみを除去することができる。
(Iv) Next, the mask layer 152 exposed in the portion where the etching resist 155 is not formed is removed, and the substrate 151 is removed.
A mask 156 is formed by exposing the portion where the groove is formed (see FIG. 5D). The mask layer 152 is removed by, for example, RIE (reactive ion etching), plasma treatment using oxygen plasma or nitrogen plasma, corona treatment,
It can be performed by dry etching treatment such as reverse sputtering. Specifically, for example, it can be performed by irradiating the mask layer with oxygen plasma under vacuum or reduced pressure. By performing such a dry etching process, it is possible to selectively remove only the mask layer in the resist non-forming portion without causing damage or deformation of the etching resist.

【0099】また、マスク層152の除去は、例えば、
エッチング液や酸溶液に、マスク層152が形成された
基板を浸漬したり、溶液中に浸漬するとともに超音波処
理を施したり、エッチング液や酸溶液をマスク層にスプ
レーしたりすることによっても行うことができる。具体
的にどのような除去方法を選択するかは、マスク層の材
質や厚さ等を考慮して適宜決定すればよく、例えば、マ
スク層が酸化膜からなる場合には、プラズマ処理やエッ
チング液による処理を選択し、マスク層が金属層からな
る場合には、逆スパッタリングやエッチング液による処
理を選択すればよい。
The mask layer 152 can be removed by, for example,
It is also performed by immersing the substrate on which the mask layer 152 is formed in an etching solution or an acid solution, immersing the substrate in the solution and performing ultrasonic treatment, or spraying the etching solution or the acid solution on the mask layer. be able to. The removal method to be specifically selected may be appropriately determined in consideration of the material and thickness of the mask layer. For example, when the mask layer is made of an oxide film, plasma treatment or etching solution is used. When the mask layer is made of a metal layer, reverse sputtering or a treatment with an etching solution may be selected.

【0100】(v)次に、エッチングレジスト155を
剥離除去する(図5(e)参照)。エッチングレジスト
155の剥離除去は、NaOH、KOH等のアルカリ溶
液、硫酸、酢酸、炭酸等の酸溶液、メタノール、エタノ
ール等のアルコール類、アミン類、ケトン、アセトン等
の有機溶剤等を用いて行うことができる。これにより、
基板151上に、溝を形成する部分に相当する部分が開
口したマスク156のみが形成されることとなる。
(V) Next, the etching resist 155 is peeled and removed (see FIG. 5E). The removal of the etching resist 155 should be carried out using an alkaline solution such as NaOH, KOH, an acid solution such as sulfuric acid, acetic acid, carbonic acid, alcohols such as methanol and ethanol, amines, ketones, organic solvents such as acetone, and the like. You can This allows
Only the mask 156 having the opening corresponding to the portion where the groove is formed is formed on the substrate 151.

【0101】(vi)次に、基板151に溝157を形成
する(図5(f)参照)。溝157は、例えば、基板1
51にマスク156を介して、エッチング液を吹き付け
たり、マスク156が形成された基板151をエッチン
グ液中に浸漬したりすることにより形成することができ
る。上記エッチング液としては、例えば、NaOH、K
OH等のアルカリ、硝酸、燐酸、硫酸等の酸、フッ化水
素、フッ化臭素等のフッ素系化合物、ハロゲン化物、過
酸化水素水、メタノール、エタノール等のアルコール類
等を用いることができる。これらのエッチング液を用い
て溝を形成した場合、溝の断面の形状は、V字状や倒立
台形状、矩形状、これらを組み合わせた形状等となる。
(Vi) Next, a groove 157 is formed in the substrate 151 (see FIG. 5F). The groove 157 is, for example, the substrate 1
It can be formed by spraying an etching solution on 51 through the mask 156 or by immersing the substrate 151 on which the mask 156 is formed in the etching solution. Examples of the etching solution include NaOH and K
An alkali such as OH, an acid such as nitric acid, phosphoric acid, sulfuric acid, a fluorine-based compound such as hydrogen fluoride or bromine fluoride, a halide, a hydrogen peroxide solution, an alcohol such as methanol or ethanol, or the like can be used. When the groove is formed by using these etching solutions, the cross-sectional shape of the groove is V-shaped, inverted trapezoidal shape, rectangular shape, or a combination thereof.

【0102】上記エッチング液の濃度は、10〜50重
量%が望ましい。上記濃度が、10重量%未満ではエッ
チング処理に長時間を要することがあり、一方、50重
量%を超えてもエッチング速度はほとんど変化しない。
また、上記エッチング液の温度は20〜90℃が望まし
く、エッチング速度は0.5〜5.0μm/分が望まし
い。上記エッチング液の温度が20℃未満では、充分に
エッチングできないことがあり、エッチング液の温度が
90℃を超えてもエッチング量はほとんど変わらず、作
業時の安全性が低下することとなる。
The concentration of the etching solution is preferably 10 to 50% by weight. If the concentration is less than 10% by weight, the etching process may take a long time, while if it exceeds 50% by weight, the etching rate hardly changes.
The temperature of the etching solution is preferably 20 to 90 ° C., and the etching rate is preferably 0.5 to 5.0 μm / min. If the temperature of the etching solution is lower than 20 ° C., the etching may not be sufficiently performed, and even if the temperature of the etching solution exceeds 90 ° C., the etching amount is hardly changed, and the safety during the work is lowered.

【0103】ここで、その材質がシリコンやガリウム砒
素の基板に溝を形成する場合には、KOH等のアルカリ
溶液を用いたエッチング処理を行うことが望ましい。シ
リコンやガリウム砒素からなる基板に、エッチング処理
を行う場合、エッチング面、エッチング液の種類、およ
び、エッチングレジスト非形成部の形状として適宜なも
のを選択することにより、所望の形状の溝を形成するこ
とができる。
Here, when the groove is formed in the substrate whose material is silicon or gallium arsenide, it is desirable to perform the etching process using an alkaline solution such as KOH. When a substrate made of silicon or gallium arsenide is subjected to etching treatment, a groove having a desired shape is formed by selecting an appropriate etching surface, type of etching solution, and shape of the etching resist non-forming portion. be able to.

【0104】すなわち、KOHを含むエッチング液を用
いてシリコン基板をエッチングする場合、シリコン基板
の(100)面が、(111)面および(110)面に
比べて優先的にエッチングされ、それぞれの結晶面のエ
ッチング速度比がほぼ一定であるため、所望の形状の溝
を形成することができる。具体的には、シリコン基板の
(100)面にエッチング処理を施す場合には、断面の
形状がV字状や倒立台形状の溝を形成することができ、
(110)面にエッチング処理を施す場合には、断面の
形状が矩形状の溝を形成することができる。
That is, when a silicon substrate is etched using an etching solution containing KOH, the (100) plane of the silicon substrate is preferentially etched as compared with the (111) plane and the (110) plane, and each crystal is crystallized. Since the etching rate ratio of the surface is almost constant, a groove having a desired shape can be formed. Specifically, when the (100) surface of the silicon substrate is subjected to etching treatment, it is possible to form a groove having a V-shaped or inverted trapezoidal cross section.
When the (110) plane is subjected to etching treatment, a groove having a rectangular cross section can be formed.

【0105】また、KOHを含むエッチング液を用いて
ガリウム砒素基板をエッチングする場合には、(11
1)Ga面のエッチング速度が最も遅く、(111)A
s面のエッチング速度が最も速いことを利用することに
より、所望の形状の溝を形成することができる。
When the gallium arsenide substrate is etched using an etching solution containing KOH, (11
1) The slowest etching rate of Ga surface is (111) A
By utilizing the fact that the s-plane has the highest etching rate, it is possible to form a groove having a desired shape.

【0106】この工程で、エッチング処理を施す際に
は、エッチング液中に界面活性剤等を添加しておいても
よい。エッチング処理時に激しく発泡する場合には、こ
の発泡によりエッチング面に凹凸が形成されることがあ
るが、界面活性剤を添加しておくことによりエッチング
処理時の発泡を抑えることができるからである。また、
上記エッチング処理を超音波を印加しながら行ってもよ
い。超音波を印加することによっても発泡を抑えること
ができるからである。
When the etching treatment is performed in this step, a surfactant or the like may be added to the etching liquid. When the foaming occurs violently during the etching process, irregularities may be formed on the etching surface due to the foaming, but by adding a surfactant, the foaming during the etching process can be suppressed. Also,
The etching process may be performed while applying ultrasonic waves. This is because foaming can also be suppressed by applying ultrasonic waves.

【0107】また、基板をエッチング液中に浸漬してエ
ッチング処理を行う場合には、基板を揺動したり、エッ
チング液を攪拌したりしながらエッチング処理を行って
もよい。
When the substrate is dipped in the etching solution to perform the etching process, the etching process may be performed while the substrate is rocked or the etching solution is stirred.

【0108】(vii)次に、必要に応じて、基板151
上のマスク156を除去する(図5(g)参照)。マス
ク層156の除去を行うことにより、溝の表面を含む基
板の上面全体が、同一組成のものから構成されることと
なり、後工程で、該基板の表面に粗化面を形成する場
合、基板の上面全体に同一条件で粗化面を形成すること
ができる。
(Vii) Next, if necessary, the substrate 151
The upper mask 156 is removed (see FIG. 5G). By removing the mask layer 156, the entire upper surface of the substrate including the surface of the groove is made of the same composition, and when a roughened surface is formed on the surface of the substrate in a later process, It is possible to form a roughened surface on the entire upper surface under the same conditions.

【0109】マスク156を除去する方法としては、上
記(iv)の工程で用いた方法と同様の方法を用いること
ができる。すなわち、上記(iv)の工程でエッチングレ
ジスト155非形成部に露出したマスク層152を除去
する際に用いた処理を、この工程でも行えばよい。
As a method of removing the mask 156, the same method as the method used in the above step (iv) can be used. That is, the process used to remove the mask layer 152 exposed in the etching resist 155 non-forming portion in the above step (iv) may be performed in this step as well.

【0110】なお、マスク156の除去は、行わなくて
もよく、その場合、後工程で光ファイバを収納する部分
は、厳密には、マスク非形成部分と基板に設けた溝とを
合わせた部分となるが、本明細書においては、特にこと
わりのない限り、マスク非形成部分と基板に設けた溝と
を合わせた部分も溝ということとする。従って、マスク
の壁面が溝の表面の一部を構成することもある。
It is not necessary to remove the mask 156. In that case, strictly speaking, the portion for accommodating the optical fiber in the subsequent step is a portion where the mask non-forming portion and the groove provided on the substrate are combined. However, in the present specification, unless otherwise specified, the portion in which the mask non-forming portion and the groove provided in the substrate are combined is also referred to as a groove. Therefore, the wall surface of the mask may form a part of the surface of the groove.

【0111】(viii)次に、必要に応じて、溝の表面を
含む基板上面の全部または一部に粗化面(図示せず)を
形成する。上記粗化面は、基板上面の一部(例えば、溝
の表面、基板上面の溝を形成していない部分等)のみに
形成されていてもよいが、基板の上面全体に形成されて
いることが望ましい。接着層との密着性がより向上する
からである。
(Viii) Next, if necessary, a roughened surface (not shown) is formed on all or part of the upper surface of the substrate including the surface of the groove. The roughened surface may be formed only on a part of the upper surface of the substrate (for example, the surface of the groove, a portion of the upper surface of the substrate where the groove is not formed, etc.), but it should be formed on the entire upper surface of the substrate. Is desirable. This is because the adhesion with the adhesive layer is further improved.

【0112】また、この(1)の工程を経て、シリコン
等からなる板状体に溝を形成する場合には、上述したよ
うに、マスクの除去は行ってもよいし、行わなくてもよ
い。従って、溝形成後に基板の上面(溝の表面を含む)
には、板状体が露出している場合もあるし、マスクが露
出している場合もある。
When the groove is formed in the plate-like body made of silicon or the like through the step (1), the mask may or may not be removed as described above. . Therefore, after forming the groove, the upper surface of the substrate (including the surface of the groove)
In some cases, the plate-shaped body may be exposed, and in some cases, the mask may be exposed.

【0113】具体的には、シリコンからなる板状体の表
面に、SiO膜と、Si膜とからなるマスクを
形成し、その後、上述した工程を経て作製した基板の露
出面の材質は、シリコン、SiO、または、Si
となり、本発明の光ファイバアレイにおいては、これ
らの材質からなる露出面の一部または全部に粗化面が形
成されていることが望ましい。すでに、シリコンからな
る露出面に粗化面を形成する方法についてはすでに説明
しているため、ここでは、SiO膜や、Si
に粗化面を形成する方法ついて、簡単に説明しておく、
すなわち、SiO膜やSi膜に粗化面を形成す
る場合には、例えば、上記(iv)の工程に記載したマス
クを除去する方法を緩和な条件で行えばよい。
Specifically, a mask made of a SiO 2 film and a Si 3 N 4 film is formed on the surface of a plate-like body made of silicon, and then the exposed surface of the substrate manufactured through the above-mentioned steps is formed. The material is silicon, SiO 2 , or Si 3 N
In the optical fiber array of the present invention, it is desirable that a roughened surface is formed on a part or all of the exposed surface made of these materials. Since the method of forming the roughened surface on the exposed surface made of silicon has already been described, the method of forming the roughened surface on the SiO 2 film or the Si 3 N 4 film will be briefly described here. I will
That is, when the roughened surface is formed on the SiO 2 film or the Si 3 N 4 film, for example, the method of removing the mask described in the step (iv) above may be performed under mild conditions.

【0114】上記基板上面に粗化面を形成する場合、該
粗化面は、その表面粗さが、上述したような平均粗さR
a、凹凸の平均間隔Smおよび局部山頂の平均間隔Sを
有することが望ましく、上記粗化面を形成する方法とし
ては、例えば、上述したような、蓋部の表面に粗化面を
形成する方法と同様の方法等を用いることができる。こ
のような(i)〜(viii)工程を経ることにより、基板
に所望の形状の溝を形成することができる。
When a roughened surface is formed on the upper surface of the substrate, the surface roughness of the roughened surface is the average roughness R as described above.
a, it is desirable to have an average interval Sm of irregularities and an average interval S of local peaks. As a method of forming the roughened surface, for example, a method of forming a roughened surface on the surface of the lid portion as described above is used. A method similar to the above can be used. Through the steps (i) to (viii) described above, a groove having a desired shape can be formed in the substrate.

【0115】また、この(1)の工程で、基板に溝を形
成する方法は、上述したようなエッチング処理を施す方
法に限定されず、基板の材質や形成する溝の形状等を考
慮して最適な形成方法を選択すればよい。具体的には、
例えば、高ケイ酸ガラスからなる基板に溝を形成する場
合には、ダイヤモンド刃を備えた装置を用いて切削加工
を施すことにより溝を形成することができる。シリコン
からなる基板に溝を形成する場合にも、切削加工を施す
ことにより溝を形成してもよいが、一般に、異方性エッ
チングにより溝を形成した場合には、切削加工により溝
を形成した場合に比べて、隣合う溝同士の相対的な位置
精度に優れるため、シリコンからなる基板に溝を形成す
る場合には、異方性エッチングにより溝を形成すること
が望ましい。
Further, in the step (1), the method of forming the groove in the substrate is not limited to the method of performing the etching treatment as described above, and the material of the substrate, the shape of the groove to be formed, etc. are taken into consideration. The optimum forming method may be selected. In particular,
For example, when forming a groove on a substrate made of high silicate glass, the groove can be formed by performing a cutting process using an apparatus equipped with a diamond blade. Even when a groove is formed on a substrate made of silicon, the groove may be formed by performing a cutting process. Generally, when the groove is formed by anisotropic etching, the groove is formed by a cutting process. Since the relative positional accuracy of adjacent grooves is superior to that in the case, it is desirable to form the grooves by anisotropic etching when forming the grooves on the substrate made of silicon.

【0116】この(1)の工程においては、基板に溝を
形成するとともに、光ファイバや光ファイバリボンを被
覆樹脂層ごと保持するための被覆樹脂層保持部を形成す
ることが望ましい。上記被覆樹脂層保持部の形成方法と
しては特に限定されず、例えば、ダイヤモンド刃を備え
た装置を用いる方法等が挙げられる。また、上記被覆樹
脂層保持部の形成は、一回で行ってもよいし、二回以上
に分けて行ってもよい。
In the step (1), it is desirable to form a groove on the substrate and to form a coating resin layer holding portion for holding the optical fiber or the optical fiber ribbon together with the coating resin layer. The method for forming the coated resin layer holding portion is not particularly limited, and examples thereof include a method using a device equipped with a diamond blade. Further, the formation of the coating resin layer holding portion may be performed once or may be performed twice or more.

【0117】上記被覆樹脂層保持部を形成した際に、該
被覆樹脂層保持部の上面は凹凸を有することがある。こ
の場合、凹凸を平坦化するための研磨処理を行ってもよ
いが、光ファイバリボン等を保持した際に光ファイバリ
ボンが大きく傾いたりするほどの凹凸でなければ、特
に、研磨処理等を施すことなく、そのままにしておくこ
とが望ましい。これは、上記被覆樹脂層保持部で接着層
を介して被覆樹脂層を保持した場合に、アンカー効果に
より被覆樹脂層保持部と接着層との密着性が向上するか
らである。また、ここで被覆樹脂層保持部を形成する場
合、該被覆樹脂層保持部には、保持する光ファイバリボ
ン等の形状に追従するように、高さの異なる複数の保持
面を形成してもよい。
When the coated resin layer holding portion is formed, the upper surface of the coated resin layer holding portion may have irregularities. In this case, a polishing process may be performed to flatten the unevenness, but if the unevenness is such that the optical fiber ribbon is greatly inclined when holding the optical fiber ribbon or the like, the polishing process is particularly performed. It is desirable to leave it as it is. This is because when the coating resin layer holding portion holds the coating resin layer via the adhesive layer, the adhesion effect improves the adhesion between the coating resin layer holding portion and the adhesive layer. Further, when forming the coated resin layer holding portion here, even if a plurality of holding surfaces having different heights are formed in the coated resin layer holding portion so as to follow the shape of the optical fiber ribbon or the like to be held. Good.

【0118】なお、基板上面に溝とともに、上記被覆樹
脂層保持部を形成する場合、溝形成面と、被覆樹脂層保
持部との境目は、図1に示すような、被覆樹脂層保持部
に向かって下るような傾斜を有する壁面とすることが望
ましい。光ファイバにかかる負荷を軽減することができ
るからである。また、上記被覆樹脂層保持部に代えて、
光ファイバをその周囲の被覆樹脂層ごと収納することが
できる凹部を形成してもよい。なお、該凹部もまた、ダ
イヤモンド刃を備えた装置等を用いて形成することがで
きる。
When forming the above-mentioned coating resin layer holding portion together with the groove on the upper surface of the substrate, the boundary between the groove forming surface and the coating resin layer holding portion is the coating resin layer holding portion as shown in FIG. It is desirable that the wall surface has a slope that descends. This is because the load on the optical fiber can be reduced. Further, instead of the coating resin layer holding portion,
You may form the recessed part which can accommodate the optical fiber with the coating resin layer of the circumference | surroundings. The concave portion can also be formed by using a device equipped with a diamond blade.

【0119】また、後工程で形成する接着層の材質とし
て半田を用いる場合には、この(1)の工程において、
基板上面のうち後工程を経て半田と接することとなる部
分の一部または全部に金属層を形成しておく。上記金属
層の材質としては、半田との密着性に優れるものであれ
ば特に限定されず、例えば、銅、ニッケル、貴金属等が
挙げられる。
When solder is used as the material of the adhesive layer formed in the subsequent step, in the step (1),
A metal layer is formed on a part or all of a portion of the upper surface of the substrate which will be in contact with solder through a post process. The material of the metal layer is not particularly limited as long as it has excellent adhesiveness to solder, and examples thereof include copper, nickel, and noble metals.

【0120】上記金属層を形成する方法としては、例え
ば、めっき、スパッタリング等が挙げられる。また、上
記基板上に金属層を形成した場合もまた、該金属層の表
面に粗化面を形成することが望ましい。上記金属層の表
面を粗化面とする場合、予め、基板の上面に粗化面を形
成しておき、この粗化面の形状に追従するように金属層
を形成してもよいし、表面の平滑な金属層を形成した
後、黒化(酸化)−還元処理、第二銅錯体と有機酸塩と
を含むエッチング液等を用いたエッチング処理等を施す
ことにより金属層の表面に粗化面を形成してもよい。さ
らには、Cu−Ni−P針状合金めっき等によりその表
面が粗化面の金属層を形成してもよい。
Examples of the method of forming the above metal layer include plating and sputtering. Also, when a metal layer is formed on the substrate, it is desirable to form a roughened surface on the surface of the metal layer. When the surface of the metal layer is a roughened surface, a roughened surface may be previously formed on the upper surface of the substrate, and the metal layer may be formed so as to follow the shape of the roughened surface. After forming a smooth metal layer, the surface of the metal layer is roughened by performing blackening (oxidation) -reduction treatment, etching treatment using an etching solution containing a cupric complex and an organic acid salt, and the like. The surface may be formed. Furthermore, a metal layer having a roughened surface may be formed by Cu-Ni-P acicular alloy plating or the like.

【0121】(2)ここでは、基板の作製とは別に、一
部の被覆樹脂層が除去され、光ファイバが露出した光フ
ァイバリボンを作製する。ここで、除去する被覆樹脂層
は、光ファイバリボンの一端部の被覆樹脂層であってよ
いし、光ファイバリボンの両端部以外の一部の被覆樹脂
層であってもよいが、光ファイバリボンの両端部以外の
一部の被覆樹脂層であることが望ましい。このような両
端部以外の一部の被覆樹脂層を除去した光ファイバリボ
ンでは、露出した光ファイバの両端が固定されているた
め、より光ファイバの軸方向のバラツキが発生しにく
く、後工程で、基板に収納するのに適しているからであ
る。
(2) Here, apart from the production of the substrate, an optical fiber ribbon in which a part of the coating resin layer is removed and the optical fiber is exposed is produced. Here, the coating resin layer to be removed may be the coating resin layer at one end of the optical fiber ribbon or may be a portion of the coating resin layer other than both ends of the optical fiber ribbon. It is desirable that it is a part of the coating resin layer other than both end portions of. In such an optical fiber ribbon from which a part of the coating resin layer other than both ends is removed, both ends of the exposed optical fiber are fixed, so that variation in the axial direction of the optical fiber is less likely to occur, and in a post-process. This is because it is suitable for being stored in the substrate.

【0122】上記被覆樹脂層の除去は、例えば、ストリ
ッパ等の被覆樹脂層剥離装置を用いて機械的に除去する
方法や、有機溶剤を用いて被覆樹脂層を溶解することに
より化学的に除去する方法等を用いることができる。ま
た、レーザ光を照射することにより除去する方法を用い
てもよい。
The above-mentioned coating resin layer is removed by, for example, a mechanical removal method using a coating resin layer peeling device such as a stripper, or a chemical removal method by dissolving the coating resin layer using an organic solvent. The method etc. can be used. Alternatively, a method of removing by irradiation with laser light may be used.

【0123】また、被覆樹脂層を除去した後には、上述
した方法により、光ファイバの表面に粗化面を形成する
ことが望ましい。光ファイバの表面に粗化面を形成した
場合には、後工程で基板の端面から未硬化の接着剤を流
し込む際に、表面張力による未硬化の接着剤の流入の度
合いが略均一であるため、確実に溝と光ファイバとの間
隙に未硬化の接着剤を流し込むことができる。
After removing the coating resin layer, it is desirable to form a roughened surface on the surface of the optical fiber by the method described above. When the roughened surface is formed on the surface of the optical fiber, the degree of inflow of the uncured adhesive due to the surface tension is substantially uniform when the uncured adhesive is poured from the end surface of the substrate in the subsequent process. As a result, the uncured adhesive can be reliably poured into the gap between the groove and the optical fiber.

【0124】(3)次に、上記(2)の工程で作製し
た、その一部の光ファイバが露出した光ファイバリボン
を基板の溝に収納する。ここで、その一端部の被覆樹脂
層が除去された光ファイバリボンを収納する場合、それ
ぞれの光ファイバの端面と基板の側面とが揃うように収
納してもよいし、それぞれの光ファイバが基板の側面か
ら一定長さだけ突出するように収納してもよい。なお、
その一端部の被覆樹脂層が除去された光ファイバリボン
を収納する場合には、露出した光ファイバを整列器等で
保持しながら、収納することが望ましい。光ファイバを
所定の位置により確実に収納することができるからであ
る。
(3) Next, the optical fiber ribbon produced by the above step (2) and having a part of the optical fiber exposed is housed in the groove of the substrate. Here, when storing the optical fiber ribbon from which the coating resin layer at one end is removed, the optical fiber ribbon may be stored so that the end face of each optical fiber and the side face of the substrate are aligned, or each optical fiber is placed on the substrate. You may store so that it may protrude from the side surface of a certain length. In addition,
When housing the optical fiber ribbon from which the coating resin layer at one end has been removed, it is desirable to house the exposed optical fiber while holding it with an aligner or the like. This is because the optical fiber can be reliably stored at the predetermined position.

【0125】また、ここで、その両端部以外の一部の被
覆樹脂層が除去された光ファイバリボンを収納した場合
には、光ファイバリボンを収納した後、基板に収納しな
かった光ファイバリボンの一端部を切断除去することと
なる。なお、光ファイバリボンの一端部を切断除去する
場合、それぞれの光ファイバの端面と基板の側面とが揃
うように切断除去してもよいし、それぞれの光ファイバ
が基板の側面から一定長さだけ突出するように切断除去
してもよい。上記光ファイバリボンの切断除去は、カッ
ター等を用いた切削加工により行うことができる。ま
た、機械研磨により行ってもよい。
When the optical fiber ribbon from which a part of the coating resin layer other than both ends thereof is removed is housed, the optical fiber ribbon which has not been housed in the substrate after housing the optical fiber ribbon is housed. Will be cut off at one end. In addition, when cutting and removing one end of the optical fiber ribbon, it may be cut and removed so that the end face of each optical fiber and the side surface of the substrate are aligned, or each optical fiber has a certain length from the side surface of the substrate. You may cut and remove so that it may protrude. The cutting and removal of the optical fiber ribbon can be performed by cutting using a cutter or the like. Alternatively, mechanical polishing may be performed.

【0126】また、上記(1)の工程で、被覆樹脂層保
持部を形成した場合には、この工程で、溝に光ファイバ
を収納するとともに、該被覆樹脂層保持部上に光ファイ
バリボンを被覆樹脂層ごと載置する。また、基板上に、
光ファイバリボンを被覆樹脂層ごと収納するための凹部
を形成した場合には、該凹部に光ファイバリボンを被覆
樹脂層ごと収納する。
When the coating resin layer holding portion is formed in the step (1), the optical fiber is housed in the groove and the optical fiber ribbon is placed on the coating resin layer holding portion in this step. Place the coating resin layer together. Also, on the substrate,
When the concave portion for accommodating the optical fiber ribbon together with the coating resin layer is formed, the optical fiber ribbon together with the coating resin layer is accommodated in the concave portion.

【0127】(4)次に、必要に応じて、上記溝の光フ
ァイバ非収納部分に未硬化の有機系接着剤を充填し、そ
の後、硬化処理を施す方法や、上記溝の光ファイバ非収
納部分に溶融した半田を充填する方法等を施すことによ
り光ファイバを溝に固定する。具体的には、例えば、基
板の端面(溝の端部)から未硬化の接着剤を流し込み、
その後、硬化処理を施したり、基板の端面(溝の端部)
から溶融した半田を流し込んだりすることにより光ファ
イバを固定する。また、基板の一部に被覆樹脂層保持部
を形成し、該被覆樹脂層保持部に光ファイバリボンを被
覆樹脂層ごと載置する場合や、基板の一部に凹部を形成
し、光ファイバリボンを被覆樹脂層ごと凹部に収納する
場合には、上記被覆樹脂層の周囲にも未硬化の接着剤等
を塗布しておき、この未硬化の接着剤を硬化させること
により被覆樹脂層を固定してもよい。ここで、被覆樹脂
層保持部の形状が傾斜を有する壁面を含む形状である場
合、この被覆樹脂層保持部では、露出した光ファイバの
一部と、被覆樹脂層とを接着層を介して固定することが
望ましい。なお、光ファイバを収納する前に、予め,溝
内等に未硬化の接着剤を流し込んでおき、光ファイバを
収納した後、接着剤を硬化することにより光ファイバを
固定してもよい。
(4) Next, if necessary, a non-hardened organic adhesive is filled in the optical fiber non-housing portion of the groove, and then a curing treatment is applied, or the optical fiber non-housing of the groove is not put. The optical fiber is fixed in the groove by applying a method of filling the portion with molten solder. Specifically, for example, uncured adhesive is poured from the end face of the substrate (end of the groove),
After that, it is hardened, or the end face of the substrate (the end of the groove)
The optical fiber is fixed by pouring the melted solder from above. Further, when the coating resin layer holding portion is formed on a part of the substrate and the optical fiber ribbon is placed on the coating resin layer holding portion together with the coating resin layer, or when the concave portion is formed on a part of the substrate, the optical fiber ribbon is formed. When the coating resin layer is to be housed in the recess, an uncured adhesive or the like is applied around the coating resin layer, and the coating resin layer is fixed by curing the uncured adhesive. May be. Here, when the shape of the coating resin layer holding portion is a shape including an inclined wall surface, in this coating resin layer holding portion, a part of the exposed optical fiber and the coating resin layer are fixed via an adhesive layer. It is desirable to do. In addition, before storing the optical fiber, an uncured adhesive may be poured into the groove or the like in advance, and after storing the optical fiber, the adhesive may be cured to fix the optical fiber.

【0128】上記未硬化の接着剤の硬化は、例えば、8
0〜250℃で加熱することにより行うことができる。
また、感光性樹脂を含む接着剤の硬化は、紫外線や赤外
線を照射することにより行えばよい。
The uncured adhesive is cured by, for example, 8
It can be performed by heating at 0 to 250 ° C.
The adhesive containing the photosensitive resin may be cured by irradiating it with ultraviolet rays or infrared rays.

【0129】(5)次に、上記基板の溝に収納した光フ
ァイバを覆うように、基板上に接着層を介して蓋部を取
り付ける。この工程で取り付ける蓋部が、その形状が光
ファイバの一部を一括して収納する凹部が形成された形
状である場合や、その光ファイバの軸に垂直な方向の断
面の形状が、矩形の両方の側方下部が切り取られた形状
である場合には、予め、上記した形状に切削加工等を施
しておく。
(5) Next, a lid is attached on the substrate via an adhesive layer so as to cover the optical fiber housed in the groove of the substrate. In the case where the lid part attached in this step has a shape in which a concave part for accommodating a part of the optical fiber is formed, or the shape of the cross section in the direction perpendicular to the axis of the optical fiber is rectangular. When both side lower parts have a cut-out shape, the above-described shape is cut in advance.

【0130】また、蓋部を取り付ける際には、予め、基
板上面の蓋部と対向する部分に、未硬化の接着剤を塗布
しておき、この未硬化の接着剤の上に蓋部を載置し、そ
の後、硬化処理を施すことにより蓋部を取り付けたり、
上記基板上面の蓋部と対向する部分に溶融した半田を塗
布しておき、この溶融した半田の上に蓋部を載置するこ
とにより蓋部を取り付けてもよいが、先に、基板(光フ
ァイバ)上に蓋部を載置し、その後、該蓋部と基板や光
ファイバとの間隙に未硬化の接着剤や、溶融した半田等
を流し込み、さらに、必要に応じて硬化処理等を施すこ
とにより蓋部を取り付けることが望ましい。未硬化の接
着剤等の上に蓋部を載置した場合、接着層と蓋部との間
に空気が入りこみやすく、この空気を起点として接着層
と蓋部との剥離が発生することがあるからである。
When attaching the lid, the uncured adhesive is applied to the portion of the upper surface of the substrate facing the lid in advance, and the lid is placed on the uncured adhesive. Place it and then harden it to attach the lid,
The molten solder may be applied to a portion of the upper surface of the substrate facing the lid, and the lid may be mounted by placing the lid on the molten solder. Place the lid on the (fiber), then pour uncured adhesive, molten solder, etc. into the gap between the lid and the substrate or optical fiber, and further subject it to curing treatment, etc. Therefore, it is desirable to attach the lid. When the lid is placed on an uncured adhesive or the like, air easily enters between the adhesive layer and the lid, and the adhesive layer and the lid may be separated from this air. Because.

【0131】また、上記(4)の工程において、溝の光
ファイバ非収納部に接着層を形成せずに、光ファイバの
収納のみを行っておき、この工程で基板(光ファイバ)
上に蓋部を載置した後、該蓋部と基板や光ファイバとの
間隙に未硬化の接着剤や半田ペーストを流し込む際に、
同時に溝の光ファイバ非収納部に未硬化の接着剤等を流
し込んでもよい。
Further, in the above step (4), only the optical fiber is stored without forming an adhesive layer in the optical fiber non-storage portion of the groove, and in this step the substrate (optical fiber)
After placing the lid on top, when pouring an uncured adhesive or solder paste into the gap between the lid and the substrate or optical fiber,
At the same time, an uncured adhesive or the like may be poured into the optical fiber non-accommodating portion of the groove.

【0132】また、この工程では、予め、蓋部の基板と
対向する部分に粗化面を形成しておく。上記蓋部に形成
する粗化面は、その表面粗さが、上述したようなJIS
B 0601に基づく表面粗さを有することが望まし
い。また、上記粗化面の形成は、上述した方法で行えば
よい。
In this step, a roughened surface is formed in advance on the portion of the lid portion facing the substrate. The surface roughness of the roughened surface formed on the lid part is the same as the JIS described above.
It is desirable to have a surface roughness according to B0601. The roughened surface may be formed by the method described above.

【0133】また、上記(3)の工程において、その両
端部以外の一部の被覆樹脂層が除去された光ファイバリ
ボンを収納した場合は、この工程で蓋部を取り付けた後
に、光ファイバリボンの基板に収納されなかった部分を
切断除去する。
Further, in the step (3), when the optical fiber ribbon from which a part of the coating resin layer other than both ends thereof is removed is housed, after the lid is attached in this step, the optical fiber ribbon is attached. The part which was not stored in the substrate is cut and removed.

【0134】また、その一端部が露出した光ファイバリ
ボンを収納した後や、両端部以外の一部の露出した光フ
ァイバの収納と、光ファイバリボンの一端部の切断除去
とを行った後には、光ファイバの端面に研磨処理を施す
ことが望ましい。ここで、研磨処理を施す場合には、光
ファイバ、基板および蓋部の端面に傾斜を持たすように
研磨処理を施すことが望ましい。光信号伝送時のもどり
光の発生を抑制することができるからである。また、こ
の場合、光ファイバの端面に研磨処理を施すとともに、
基板や蓋部の側面に研磨処理を施してもよい。
Also, after storing the optical fiber ribbon with one end exposed, or after storing a part of the exposed optical fiber other than both ends and cutting and removing one end of the optical fiber ribbon. It is desirable to polish the end surface of the optical fiber. Here, when performing the polishing treatment, it is desirable to perform the polishing treatment so that the end faces of the optical fiber, the substrate and the lid are inclined. This is because it is possible to suppress the generation of return light when transmitting an optical signal. In this case, while polishing the end face of the optical fiber,
The side surface of the substrate or the lid may be polished.

【0135】このような工程を経ることにより、本発明
の光ファイバアレイを製造することができる。なお、こ
こでは、光ファイバリボンを用いて光ファイバアレイを
製造する方法について説明したが、本発明の光ファイバ
アレイは、単心の光ファイバを用いたり、積層光ファイ
バリボンを用いても製造することができる。
Through the above steps, the optical fiber array of the present invention can be manufactured. Although the method of manufacturing the optical fiber array using the optical fiber ribbon has been described here, the optical fiber array of the present invention can be manufactured by using a single-core optical fiber or a laminated optical fiber ribbon. be able to.

【0136】具体的には、単心の光ファイバを用いて光
ファイバアレイを製造する場合には、例えば、一端部の
被覆樹脂層を剥離した複数本の光ファイバを、整列器を
用いて並列に整列させた後、上記(3)の工程で、整列
器で保持したまま、基板に収納し、その後、上記した方
法と同様の方法を用いて光ファイバの固定や蓋部の形成
等を行うことにより光ファイバアレイを製造することが
できる。
Specifically, when an optical fiber array is manufactured using a single-core optical fiber, for example, a plurality of optical fibers from which the coating resin layer at one end is peeled off are arranged in parallel using an aligner. Then, in the step (3), the optical fiber is stored in the substrate while being held by the aligner, and then the optical fiber is fixed and the lid is formed by the same method as described above. Thus, the optical fiber array can be manufactured.

【0137】また、積層光ファイバリボンを用いて光フ
ァイバアレイを製造する場合には、例えば、図6に示す
ような、その一部の被覆樹脂層が除去された積層光ファ
イバリボン300を作製し、その後、この積層光ファイ
バリボンを基板に収納、固定させることにより光ファイ
バアレイを製造することができる。図6は、積層光ファ
イバリボンの一実施形態を模式的に示す部分斜視図であ
る。
When an optical fiber array is manufactured by using the laminated optical fiber ribbon, for example, a laminated optical fiber ribbon 300 in which a part of the coating resin layer is removed is prepared as shown in FIG. After that, the optical fiber array can be manufactured by housing and fixing this laminated optical fiber ribbon on the substrate. FIG. 6 is a partial perspective view schematically showing an embodiment of the laminated optical fiber ribbon.

【0138】図6に示すように、積層光ファイバリボン
300は、その両端部以外の一部の光ファイバ345a
が露出した第二の光ファイバリボン(下段の光ファイバ
リボン)340の露出した光ファイバ345aの間に、
その一端部の光ファイバ335aが露出した第一の光フ
ァイバリボン(上段の光ファイバリボン)330の露出
した光ファイバ335aが配置されるように、第一の光
ファイバリボン330と第二の光ファイバリボン340
とが積み重ねられている。
As shown in FIG. 6, the laminated optical fiber ribbon 300 has a part of the optical fibers 345a other than both ends thereof.
Between the exposed optical fibers 345a of the exposed second optical fiber ribbon (lower optical fiber ribbon) 340,
The first optical fiber ribbon 330 and the second optical fiber 330 are arranged so that the exposed optical fiber 335a of the first optical fiber ribbon (upper optical fiber ribbon) 330 with the optical fiber 335a at one end thereof exposed. Ribbon 340
And are stacked.

【0139】また、積層光ファイバリボン300では、
露出した光ファイバ335a、345aが同一の高さに
配置されるように、露出した光ファイバ335a、34
5aは、それぞれが、その一部で曲げられている。この
ように、光ファイバ335aおよび光ファイバ345a
を同一の高さに配置することより、基板の溝に収納する
のに適した形状となる。
In addition, in the laminated optical fiber ribbon 300,
The exposed optical fibers 335a, 345a are arranged so that the exposed optical fibers 335a, 345a are arranged at the same height.
Each of 5a is bent at a part thereof. Thus, optical fiber 335a and optical fiber 345a
By arranging the same at the same height, it becomes a shape suitable for being housed in the groove of the substrate.

【0140】なお、積層光ファイバリボン300では、
第一の光ファイバリボン330の露出した光ファイバ3
35a、および、第二の光ファイバリボン340の露出
した光ファイバ345aのそれぞれの一部が曲げられて
いるが、両者の光ファイバを同一の高さに配置すること
ができるのであれば、第一の光ファイバリボンの露出し
た光ファイバのみが曲げられていてもよいし、第二の光
ファイバリボンの露出した光ファイバのみが曲げられて
いてもよい。
In the laminated optical fiber ribbon 300,
The exposed optical fiber 3 of the first optical fiber ribbon 330
35a and a part of each of the exposed optical fibers 345a of the second optical fiber ribbon 340 are bent, but if both optical fibers can be arranged at the same height, Only the exposed optical fiber of the optical fiber ribbon may be bent, or only the exposed optical fiber of the second optical fiber ribbon may be bent.

【0141】また、積層光ファイバリボン300におい
て、第一の光ファイバリボン330と第二の光ファイバ
リボン340とは、接着剤を介して固定されていること
が望ましい。なお、図6に示す積層光ファイバリボン3
00においては、8本の光ファイバが同一の高さに配置
されているが、積層光ファイバリボンにおける光ファイ
バの本数は8本に限定されず、7本以下であってもよい
し、9本以上であってもよい。また、上記第一および第
二の光ファイバリボンのそれぞれの光ファイバの本数
は、図6に示す光ファイバリボンのように同数か、第一
の光ファイバリボンのほうが1本多いか、または、第二
の光ファイバリボンのほうが1本多いことが望ましい。
このような場合、光ファイバを最も高密度で配列させる
ことができるからである。
Further, in the laminated optical fiber ribbon 300, it is desirable that the first optical fiber ribbon 330 and the second optical fiber ribbon 340 be fixed with an adhesive. The laminated optical fiber ribbon 3 shown in FIG.
In No. 00, eight optical fibers are arranged at the same height, but the number of optical fibers in the laminated optical fiber ribbon is not limited to eight, and may be seven or less, or nine. It may be more than. Further, the number of optical fibers in each of the first and second optical fiber ribbons is the same as in the optical fiber ribbon shown in FIG. 6, the first optical fiber ribbon is one more, or It is desirable that the number of the second optical fiber ribbons is one.
This is because in such a case, the optical fibers can be arranged at the highest density.

【0142】上記積層光ファイバリボンの作製は、例え
ば、まず、光ファイバリボンの一端部の被覆樹脂層を、
上述したような、被覆樹脂層剥離装置を用いる方法、有
機溶剤で溶解させる方法、レーザ光を照射する方法等を
用いて除去することにより第一の光ファイバリボンを作
製し、これとは別に、上記と同様の被覆樹脂層の除去方
法を用いて、光ファイバリボンの両端部以外の一部の被
覆樹脂層を除去することにより第二の光ファイバリボン
を作製し、次に、光ファイバの一部を曲げた後、両者の
光ファイバが、交互に等間隔で配置されるように、第一
および第二の光ファイバリボンを、接着剤を介して積み
重ねることにより行うことができる。
In the production of the laminated optical fiber ribbon, for example, first, the coating resin layer at one end of the optical fiber ribbon is
As described above, a method of using the coating resin layer peeling device, a method of dissolving with an organic solvent, a method of irradiating with a laser beam and the like to produce a first optical fiber ribbon by removing it, apart from this, A second optical fiber ribbon is produced by removing a part of the coating resin layer other than both end portions of the optical fiber ribbon by using the same method for removing the coating resin layer as described above. After bending the part, the first and second optical fiber ribbons may be stacked with an adhesive so that the two optical fibers are alternately arranged at equal intervals.

【0143】このような積層光ファイバリボンを基板に
収納、固定させる方法としては、上記(4)および
(5)の工程で用いた方法と同様の方法を用いることが
できる。なお、上記積層光ファイバリボンを用いて光フ
ァイバアレイを製造する場合も、上記基板に積層光ファ
イバリボンを収納、固定した後、第二の光ファイバリボ
ンの一端部の切断除去と光ファイバの端面等の研磨処理
とを行う。
As a method for accommodating and fixing such a laminated optical fiber ribbon on a substrate, the same methods as those used in the above steps (4) and (5) can be used. Even when an optical fiber array is manufactured using the laminated optical fiber ribbon, after the laminated optical fiber ribbon is housed and fixed in the substrate, the second optical fiber ribbon is cut off and the end face of the optical fiber is removed. And the like.

【0144】[0144]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。The present invention will be described in more detail below.

【0145】(実施例1) A.一部の被覆樹脂層が除去された光ファイバリボンの
作製 直径250μmの光ファイバ115が、クラッド間隔2
50μmで8本並列に配置され、該光ファイバの周囲に
アクリレート系紫外線硬化型樹脂からなる被覆樹脂層
(一次被覆層113および二次被覆層114)が被覆さ
れた光ファイバリボン(住友電気工業社製)を準備し、
この光ファイバリボンの一端部から5〜50mmのとこ
ろの部分の被覆樹脂層(一次被覆層および二次被覆層)
を被覆樹脂層剥離装置で剥離した(図7(a)参照)。
(Example 1) A. Fabrication of an optical fiber ribbon from which a part of the coating resin layer has been removed.
Optical fiber ribbons (Sumitomo Electric Industrial Co., Ltd.) in which eight fibers of 50 μm are arranged in parallel, and a coating resin layer (primary coating layer 113 and secondary coating layer 114) made of an acrylate-based ultraviolet curable resin is coated around the optical fibers. Made),
A coating resin layer (primary coating layer and secondary coating layer) at a portion 5 to 50 mm from one end of this optical fiber ribbon
Was peeled off with a coating resin layer peeling device (see FIG. 7A).

【0146】B.蓋部の作製 高ケイ酸ガラスからなる板状体に、ダイヤモンド刃を備
えた装置を用いて切削加工を施すことにより、露出した
光ファイバを収納するための凹部161を形成し、蓋部
160とした(図8(a)参照)。なお、該凹部は、そ
の断面の形状が矩形状である。
B. Manufacture of lid part A plate-like body made of high silicate glass is cut using a device equipped with a diamond blade to form a recess 161 for accommodating an exposed optical fiber. (See FIG. 8A). The recess has a rectangular cross section.

【0147】次に、蓋部160の基板と対向することと
なる面に、下記の方法により粗化面を形成した。すなわ
ち、まず、蓋部160の基板と対向する面に、片面砂目
研磨(♯1000)を施し、その後、この蓋部をHF:
O=1:20、温度45℃のHF水溶液に、30分
間浸漬することにより粗化面を形成した。
Next, a roughened surface was formed on the surface of the lid 160 facing the substrate by the following method. That is, first, the surface of the lid portion 160 facing the substrate is subjected to single-sided grain polishing (# 1000), and then the lid portion is subjected to HF:
A roughened surface was formed by immersing in an HF aqueous solution of H 2 O = 1: 20 and a temperature of 45 ° C. for 30 minutes.

【0148】この工程で形成した粗化面を電子顕微鏡
(SEM)により平面視したところ、該粗化面は、粒子
状物が並んだ像として観察された。
When the roughened surface formed in this step was viewed in a plane with an electron microscope (SEM), the roughened surface was observed as an image in which particulate matters were arranged.

【0149】さらに、この観察された粒子状物の平均粒
子径は、20μmであった。なお、上記平均粒子径は、
電子顕微鏡(5000倍)により得られた観察画像から
無作為に20個の粒子状物を選び出し、これらの粒子径
の平均値として算出した。
Further, the average particle diameter of the observed particulate matter was 20 μm. The average particle size is
Twenty particles were randomly selected from the observation image obtained by an electron microscope (5000 times) and calculated as the average value of these particle diameters.

【0150】また、この工程で形成した粗化面の表面粗
さは、JIS B 0601に基づく凹凸の平均間隔S
mが20μmであり、局部山頂の平均間隔Sが300n
mであり、平均粗さRaが400nmであった。なお、
上記粗化面のJIS B 0601に基づく表面粗さ
は、干渉縞を用いた表面粗さ計(ビーコ・インスツルメ
ンツ社製、WYKO NT−2000 system)
を用いて測定した。
The surface roughness of the roughened surface formed in this step is the average spacing S of the irregularities based on JIS B 0601.
m is 20 μm, and the average interval S of local peaks is 300 n
m, and the average roughness Ra was 400 nm. In addition,
The surface roughness based on JIS B 0601 of the roughened surface is a surface roughness meter using interference fringes (WYKO NT-2000 system manufactured by Veeco Instruments Inc.).
Was measured using.

【0151】C.光ファイバアレイの作製 (1)その表面に研磨処理を施した厚さ0.5〜2.0
mmのシリコン基板151を出発材料とし、このシリコ
ン基板151上に下記の方法によりマスク層152を形
成した(図5(a)参照)。すなわち、まず、シリコン
基板151の表面に熱酸化炉中で、厚さ0.04μmの
SiO膜152aを形成し、次に、このSiO膜上
に減圧CVD法を用いて、厚さ0.1μmのSi
膜152bを形成することにより、SiO膜152a
とSi膜152bとの2層からなるマスク層15
2を形成した。
C. Fabrication of optical fiber array (1) Thickness 0.5-2.0 with polishing treatment on its surface
A silicon substrate 151 having a size of mm was used as a starting material, and a mask layer 152 was formed on the silicon substrate 151 by the following method (see FIG. 5A). That is, first, the surface of the silicon substrate 151 by thermal oxidation furnace to form a SiO 2 film 152a having a thickness of 0.04 .mu.m, then using a vacuum CVD method on this SiO 2 film, a thickness of 0. 1 μm Si 3 N 4
The SiO 2 film 152a is formed by forming the film 152b.
And a Si 3 N 4 film 152b as a mask layer 15 composed of two layers.
Formed 2.

【0152】(2)次に、マスク層152上に、スピン
コータを用いてレジスト用樹脂組成物を塗布し、厚さ2
5μmのレジスト用樹脂層154を形成した(図5
(b)参照)。
(2) Next, a resin composition for resist is applied onto the mask layer 152 by using a spin coater to form a film having a thickness of 2
A resist resin layer 154 having a thickness of 5 μm was formed (see FIG. 5).
(See (b)).

【0153】(3)次に、上記レジスト用樹脂層154
上に溝パターンが描画されたマスクを載置し、800m
J/cmで露光し、その後、アルカリ溶液で現像処理
することにより、マスク層上にエッチングレジスト15
5を形成した(図5(c)参照)。
(3) Next, the resist resin layer 154.
Place a mask with a groove pattern drawn on it, 800m
It is exposed to J / cm 2 and then developed with an alkaline solution to form an etching resist 15 on the mask layer.
5 was formed (see FIG. 5 (c)).

【0154】(4)次に、エッチングレジスト155非
形成部に露出したマスク層を下記の方法により除去し、
基板151の一部を露出させたマスク156を形成した
(図5(d)参照)。すなわち、まず、露出したSi
膜を、50Wで2.5時間のRIE処理を用いて除
去することによりSiO膜を露出させ、さらに、この
SiO膜を3重量%のHF溶液を用いたウェットエッ
チング処理を3分間施すことにより除去し、シリコン基
板を露出させた。
(4) Next, the mask layer exposed in the portion where the etching resist 155 is not formed is removed by the following method,
A mask 156 was formed by exposing a part of the substrate 151 (see FIG. 5D). That is, first, exposed Si 3
The N 4 film is exposed by RIE treatment at 50 W for 2.5 hours to expose the SiO 2 film, and the SiO 2 film is wet-etched with a 3 wt% HF solution for 3 minutes. It was removed by application to expose the silicon substrate.

【0155】(5)次に、10重量%のNaOH水溶液
を用いてエッチングレジストを剥離除去した(図5
(e)参照)。これにより、シリコン基板151上に
は、溝を形成する部分に相当する部分が開口したマスク
156のみが形成されていることとなった。
(5) Next, the etching resist was peeled and removed using a 10 wt% NaOH aqueous solution (FIG. 5).
(See (e)). As a result, on the silicon substrate 151, only the mask 156 having the opening corresponding to the portion where the groove is formed is formed.

【0156】(6)次に、マスク156が形成されたシ
リコン基板151を、KOH濃度25重量%、液温度7
8℃のエッチング液(KOH:100g、HO:30
0g)中に浸漬することにより、深さ120μmのV溝
を8本形成した(図5(f)参照)。
(6) Next, the silicon substrate 151 on which the mask 156 is formed is subjected to a KOH concentration of 25% by weight and a liquid temperature of 7%.
8 ° C. etching solution (KOH: 100 g, H 2 O: 30
0 g) to form eight V-grooves having a depth of 120 μm (see FIG. 5 (f)).

【0157】(7)次に、Si膜とSiO膜と
からなるマスク156を下記の方法を用いて除去した
(図5(g)参照)。すなわち、Si膜を上記
(4)の工程で用いたRIE処理と同様の処理を施すこ
とにより除去し、続いて、SiO膜を上記(4)の工
程で用いたウエットエッチング処理と同様の処理を施し
て除去することにより、マスク156を除去した。この
工程を経ることにより、基板の上面(溝の表面を含む)
全部が、シリコンにより構成されることとなる。
(7) Next, the mask 156 composed of the Si 3 N 4 film and the SiO 2 film was removed by the following method (see FIG. 5G). That is, the Si 3 N 4 film is removed by performing the same process as the RIE process used in the step (4) above, and then the SiO 2 film is subjected to the wet etching process used in the step (4) above. The mask 156 was removed by performing the same process and removing it. Through this process, the upper surface of the substrate (including the surface of the groove)
All will be composed of silicon.

【0158】その後、基板151の一部に光ファイバリ
ボンを被覆樹脂層ごと保持するための被覆樹脂層保持部
158(図7(a)参照)を、ダイヤモンド刃を備えた
装置を用いて切削加工を施すことにより形成した。な
お、図7に示した基板には、溝は4本しか形成されてい
ないが、この図は模式図であり、実際には、上述したよ
うに、基板上に8本の溝を形成した。
After that, a coating resin layer holding portion 158 (see FIG. 7A) for holding the optical fiber ribbon together with the coating resin layer on a part of the substrate 151 is cut using a device equipped with a diamond blade. It was formed by applying. Although only four grooves are formed on the substrate shown in FIG. 7, this figure is a schematic diagram, and in fact, as described above, eight grooves were formed on the substrate.

【0159】(8)次に、溝および被覆樹脂層保持部を
形成した基板の上面(溝の表面を含む)全体に、下記の
条件で粗化面を形成した。すなわち、上記基板を、濃度
20重量%、温度50℃のKOH溶液中に6分間浸漬す
ることより、基板の上面全体に粗化面を形成した。な
お、この工程で基板の上面に形成した粗化面の表面粗さ
は、JIS B 0601に基づく平均粗さRaが、溝
の表面{(111)面}で20nm、基板上面の溝非形
成部分および被覆樹脂層保持部の上面{(100)面}
で95nmであった。また、上記平均粗さRaは、干渉
縞を用いた表面粗さ計(WYKO NT−2000 s
ystem)により測定した。
(8) Next, a roughened surface was formed under the following conditions on the entire upper surface (including the surface of the groove) of the substrate on which the groove and the coating resin layer holding portion were formed. That is, a roughened surface was formed on the entire upper surface of the substrate by immersing the substrate in a KOH solution having a concentration of 20% by weight and a temperature of 50 ° C. for 6 minutes. As for the surface roughness of the roughened surface formed on the upper surface of the substrate in this step, the average roughness Ra based on JIS B 0601 is 20 nm on the surface {(111) surface} of the groove, and the groove-unformed portion on the upper surface of the substrate. And the upper surface of the coating resin layer holding portion {(100) surface}
Was 95 nm. Moreover, the average roughness Ra is a surface roughness meter (WYKO NT-2000 s using an interference fringe).
system).

【0160】(9)次に、上記Aで作製した光ファイバ
リボン110Aの光ファイバ115の露出した部分を、
V溝157に収納し(図7(a)、(b)参照)、さら
に、上記Bで作製した蓋部160を基板151上に載置
した(図8(a)参照)。さらに、溝157と光ファイ
バ115との間隙、および、蓋部160と基板151
(光ファイバ115)との間隙に、未硬化の接着剤(ダ
イキン工業社製、UV−3000)を流し込んだ。ま
た、被覆樹脂層保持部158に載置した被覆樹脂層の周
囲にも上記未硬化の接着剤(UV−3000)を塗布し
た。
(9) Next, the exposed portion of the optical fiber 115 of the optical fiber ribbon 110A produced in the above A is
It was housed in the V-shaped groove 157 (see FIGS. 7A and 7B), and the lid 160 manufactured in the above B was placed on the substrate 151 (see FIG. 8A). Furthermore, the gap between the groove 157 and the optical fiber 115, and the lid 160 and the substrate 151.
An uncured adhesive (UV-3000, manufactured by Daikin Industries, Ltd.) was poured into the gap with the (optical fiber 115). The uncured adhesive (UV-3000) was also applied around the coating resin layer placed on the coating resin layer holding portion 158.

【0161】次に、蓋部160を設けた基板151の上
部から、高圧水銀ランプを用いて、10J/cmの紫
外線を照射し、その後、60℃で1時間加熱することに
より、接着剤を完全に硬化させ、蓋部160を固定し
た。また、ここでは、被覆樹脂層保持部にも紫外線を照
射することにより、該被覆樹脂層保持部で、露出した光
ファイバの一部と被覆樹脂層とを接着剤(図示せず)を
介して固定した。
Next, an ultraviolet ray of 10 J / cm 2 is irradiated from the upper portion of the substrate 151 provided with the lid portion 160 with a high pressure mercury lamp, and then the adhesive is heated at 60 ° C. for 1 hour. It was completely cured and the lid 160 was fixed. Further, here, by irradiating the coating resin layer holding portion with ultraviolet rays as well, a part of the exposed optical fiber and the coating resin layer are exposed to the coating resin layer holding portion via an adhesive (not shown). Fixed

【0162】(10)次に、光ファイバリボン110A
の一端部の基板に収納しなかった被覆樹脂層114a
と、この被覆樹脂層に覆われた光ファイバとをダイヤモ
ンドカッターにより切断除去し、さらに、光ファイバの
端面と、基板および蓋部の端面とが揃うように研磨処理
を施し、光ファイバアレイ102を製造した(図8
(b)参照)。
(10) Next, the optical fiber ribbon 110A
Resin layer 114a not housed in the substrate at one end of the
And the optical fiber covered with this coating resin layer are cut and removed by a diamond cutter, and further, a polishing process is performed so that the end face of the optical fiber and the end faces of the substrate and the lid are aligned, and the optical fiber array 102 is formed. Manufactured (Figure 8)
(See (b)).

【0163】(実施例2)実施例1のBの工程におい
て、凹部の形成を行わず、その基板と対向する部分に粗
化面が形成された板状体からなる蓋部を作製した以外
は、実施例1と同様にして光ファイバを製造した。
(Embodiment 2) In the process B of Embodiment 1, except that the concave portion is not formed and the lid portion made of the plate-like member having the roughened surface formed on the portion facing the substrate is manufactured. An optical fiber was manufactured in the same manner as in Example 1.

【0164】(実施例3)実施例1のCの工程におい
て、シリコンからなる基板に代えて、高ケイ酸ガラスか
らなる基板を用い、この基板に以下の方法により溝を形
成し、さらに、基板の上面に粗化面を形成した以外は、
実施例1と同様にして光ファイバアレイを製造した。す
なわち、厚さ0.5〜2.0mmの高ケイ酸ガラス基板
を出発材料とし、この基板にダイヤモンド刃を備えた装
置を用いて、8本のV溝を形成した。さらに、溝の表面
を含む基板の上面全体に、実施例1のBの工程で蓋部に
粗化面を形成した条件と同様の条件で、粗化面を形成し
た。基板上面に形成した粗化面のJIS B 0601
に基づく凹凸の平均間隔Smは20μm、局部山頂の平
均間隔Sは300nm、平均粗さRaは400nmであ
った。
(Example 3) In the step C of Example 1, a substrate made of high silicate glass was used in place of the substrate made of silicon, and a groove was formed in this substrate by the following method. Except that a roughened surface is formed on the upper surface of
An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1. That is, a high silicate glass substrate having a thickness of 0.5 to 2.0 mm was used as a starting material, and eight V-grooves were formed on this substrate by using a device equipped with a diamond blade. Further, a roughened surface was formed on the entire upper surface of the substrate including the surface of the groove under the same conditions as the conditions for forming the roughened surface on the lid portion in the step B of Example 1. JIS B 0601 of the roughened surface formed on the upper surface of the substrate
The average spacing Sm of the irregularities based on the above was 20 μm, the average spacing S of the local peaks was 300 nm, and the average roughness Ra was 400 nm.

【0165】(実施例4)実施例1のBの工程(蓋部の
作製)において、高ケイ酸ガラスからなる基板に、深さ
の異なる、露出した光ファイバを収納するための凹部1
71と、光ファイバリボンを被覆樹脂層ごと収納するた
めの凹部172とを有する蓋部170を作製し(図9
(a)参照)、実施例1のCの(8)の工程において、
この蓋部170を基板に取り付けた以外は、実施例1と
同様にして光ファイバアレイ101を製造した(図9
(b)参照)。
(Embodiment 4) In the step B (preparation of the lid portion) of the embodiment 1, a concave portion 1 for accommodating exposed optical fibers having different depths is formed in a substrate made of high silicate glass.
71 and a lid 170 having a recess 172 for accommodating the optical fiber ribbon together with the coating resin layer are produced (see FIG. 9).
(See (a)), in the step (8) of C in Example 1,
An optical fiber array 101 was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the lid 170 was attached to the substrate (FIG. 9).
(See (b)).

【0166】実施例1〜4で得た光ファイバアレイにつ
いて、130℃で3分間、および、−65℃で3分間保
持するサイクルを1サイクルとし、このサイクルを10
00サイクル繰り返すヒートサイクル試験を施し、その
後、光ファイバを切断するように、光ファイバの軸方向
と垂直な方向に光ファイバアレイを切断し、その断面を
観察した。その結果、実施例1〜4の光ファイバアレイ
では、蓋部と接着層との間で剥離の発生は観察されず、
また、接着層にもクラックは発生していなかった。さら
に、基板と接着層との間でも剥離の発生は観察されなか
った。
Regarding the optical fiber arrays obtained in Examples 1 to 4, a cycle of holding at 130 ° C. for 3 minutes and at −65 ° C. for 3 minutes was defined as 1 cycle, and this cycle was set to 10 cycles.
A heat cycle test was repeated for 100 cycles, and then the optical fiber array was cut in a direction perpendicular to the axial direction of the optical fiber, and the cross section was observed. As a result, in the optical fiber arrays of Examples 1 to 4, no occurrence of peeling was observed between the lid portion and the adhesive layer,
Also, no cracks were generated in the adhesive layer. Further, no peeling was observed between the substrate and the adhesive layer.

【0167】また、実施例1〜4の光ファイバアレイを
ヒートサイクル試験後に8個の受光素子を配設した受光
装置に接続し、結合損失を測定したところ、その結合損
失は0.5dB以下であり(表1参照)、光ファイバの
位置ズレがほとんど発生していないことが明らかになる
とともに、製品として要求される品質を充分に満足して
いた。
Further, the optical fiber arrays of Examples 1 to 4 were connected to a light receiving device provided with eight light receiving elements after the heat cycle test, and the coupling loss was measured. The coupling loss was 0.5 dB or less. As a result (see Table 1), it became clear that there was almost no positional deviation of the optical fiber, and the quality required for the product was sufficiently satisfied.

【0168】さらに、実施例1〜4の光ファイバアレイ
においては、蓋部の位置ズレもほとんどみられなかっ
た。なお、蓋部の位置ズレ量は、ヒートサイクル試験前
後での蓋部の位置について、X−Y方向に位置ズレ量を
測定し、そのズレ量を示したものである。また、実施例
1〜4の光ファイバアレイについて測定した蓋部の位置
ズレ量は、表1に示した。
Further, in the optical fiber arrays of Examples 1 to 4, there was almost no displacement of the lid portion. The amount of positional deviation of the lid is obtained by measuring the amount of positional deviation in the XY direction with respect to the position of the lid before and after the heat cycle test. Table 1 shows the amount of positional deviation of the lid portion measured for the optical fiber arrays of Examples 1 to 4.

【0169】[0169]

【表1】 [Table 1]

【0170】(実験例1〜4)実施例1のBの工程(蓋
部の作製)において、蓋部の基板と対向することとなる
面に粗化面を形成する際に、粗化面の形成条件を適宜変
更し、表2に示した粒子径の粒子状物が観察される粗化
面を形成した以外は、実施例1と同様にして光ファイバ
アレイを製造した。また、この実験例1〜4の光ファイ
バアレイについて、上記した方法と同様の方法で、蓋部
の位置ズレ量と結合損失とを測定した。結果を表2に示
した。
(Experimental Examples 1 to 4) In the process B of Example 1 (fabrication of the lid portion), when the roughened surface is formed on the surface of the lid portion that faces the substrate, An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the forming conditions were appropriately changed and a roughened surface on which the particulate matter having the particle size shown in Table 2 was observed was formed. Further, with respect to the optical fiber arrays of Experimental Examples 1 to 4, the amount of positional deviation of the lid portion and the coupling loss were measured by the same method as described above. The results are shown in Table 2.

【0171】(比較例1)実施例1のBの工程(蓋部の
作製)において、シリコンからなる蓋部を用い、この蓋
部の基板と対向することとなる面に鏡面研磨を施し、表
2に示した粒子径の粒子状物が観察される面を形成した
以外は、実施例1と同様にして光ファイバアレイを製造
した。
(Comparative Example 1) In the step B of Example 1 (manufacture of the lid portion), a lid portion made of silicon was used, and the surface of the lid portion facing the substrate was mirror-polished to form a surface. An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the surface on which the particulate matter having the particle size shown in 2 was observed was formed.

【0172】(比較例2)実施例1のBの工程(蓋部の
作製)において、銅からなる蓋部を用い、この蓋部の基
板と対向することとなる面に鏡面研磨を施し、表2に示
した粒子径の粒子状物が観察される面を形成した以外
は、実施例1と同様にして光ファイバアレイを製造し
た。
(Comparative Example 2) In the step B of Example 1 (preparation of the lid portion), a lid portion made of copper was used, and the surface of the lid portion facing the substrate was mirror-polished to form a surface. An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the surface on which the particulate matter having the particle size shown in 2 was observed was formed.

【0173】(比較例3)実施例1のBの工程(蓋部の
作製)において、シリコンからなる蓋部を用い、この蓋
部の基板と対向することとなる面に薬剤による表面処理
を施し、表2に示した粒子径の粒子状物が観察される粗
化面を形成した以外は、実施例1と同様にして光ファイ
バアレイを製造した。
(Comparative Example 3) In the step B of Example 1 (preparation of the lid portion), a lid portion made of silicon was used, and the surface of the lid portion facing the substrate was surface-treated with a chemical agent. An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a roughened surface on which a particulate matter having the particle size shown in Table 2 was observed was formed.

【0174】(比較例4)実施例1のBの工程(蓋部の
作製)において、銅からなる蓋部を用い、この蓋部の基
板と対向することとなる面に薬剤による表面処理を施
し、表2に示した粒子径の粒子状物が観察される粗化面
を形成した以外は、実施例1と同様にして光ファイバア
レイを製造した。
(Comparative Example 4) In the step B of Example 1 (preparation of the lid portion), a lid portion made of copper was used, and the surface of the lid portion facing the substrate was surface-treated with a chemical agent. An optical fiber array was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a roughened surface on which a particulate matter having the particle size shown in Table 2 was observed was formed.

【0175】また、この比較例1〜4の光ファイバアレ
イについて、上記した方法と同様の方法で、蓋部の位置
ズレ量と結合損失とを測定した。結果を表2に示した。
With respect to the optical fiber arrays of Comparative Examples 1 to 4, the amount of positional deviation of the lid and the coupling loss were measured by the same method as described above. The results are shown in Table 2.

【0176】[0176]

【表2】 [Table 2]

【0177】表1、2に示した結果から明らかなよう
に、蓋部の基板と対向することとなる面を、粒子径が
0.1〜100μmの粒子状物が観察される粗化面とし
た光ファイバアレイでは、蓋部の位置ズレ量が1.0m
m以下であり、結合損失が1.0dB以下である。一
方、蓋部の基板と対向することとなる面を、粒子径が
0.1μm未満の粒子状物が観察される面としたり、粒
子径が100μmを超える粒子状物が観察される粗化面
としたりした光ファイバアレイでは、蓋部の位置ズレ量
は1.0mmを超えており、結合損失は1.0dBを超
えている。
As is clear from the results shown in Tables 1 and 2, the surface of the lid facing the substrate is the roughened surface on which the particulate matter having a particle diameter of 0.1 to 100 μm is observed. With the optical fiber array, the amount of positional deviation of the lid is 1.0 m.
m or less, and the coupling loss is 1.0 dB or less. On the other hand, the surface of the lid facing the substrate is a surface on which particles having a particle diameter of less than 0.1 μm are observed, or a roughened surface on which particles having a particle diameter of more than 100 μm are observed. In such an optical fiber array, the positional deviation amount of the lid exceeds 1.0 mm, and the coupling loss exceeds 1.0 dB.

【0178】なお、本発明の光ファイバアレイにおいて
は、蓋部の位置ズレ量は、小さければ小さいほど望まし
いが、1.0mm以内であれば許容範囲内であり、製品
として得に問題はない。また、本発明の光ファイバにお
いては、結合損失もまた、小さければ小さいほど望まし
いが、1.0dB以内であれば許容範囲内であり、製品
として得に問題はない。上記結合損失が1.0dBを超
えると光信号の伝送に問題が生じやすくなる。本発明の
光ファイバアレイは、位置ズレ量および結合損失が上記
範囲内にあれば、基板と接着剤層との剥離、蓋部や光フ
ァイバの位置ズレがより起きにくく、様々な応力が発生
しても、該応力をより緩和することができるものであ
る。
In the optical fiber array of the present invention, the smaller the positional deviation of the lid is, the more preferable it is. However, if the positional deviation is 1.0 mm or less, it is within the allowable range, and there is no problem as a product. Further, in the optical fiber of the present invention, the smaller the coupling loss is, the more preferable it is. If the coupling loss exceeds 1.0 dB, a problem easily occurs in the transmission of the optical signal. In the optical fiber array of the present invention, when the positional deviation amount and the coupling loss are within the above ranges, the peeling of the substrate and the adhesive layer, the positional deviation of the lid and the optical fiber are less likely to occur, and various stresses are generated. However, the stress can be alleviated further.

【0179】[0179]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ファイ
バアレイは、上述した構成からなるため、蓋部と接着層
とは密着性に優れ、蓋部と接着層との間で剥離が発生し
たり、蓋部や光ファイバの位置ズレが発生したりするこ
とがなく、本発明の光ファイバアレイでは、正確に光信
号を伝送することができる。
As described above, since the optical fiber array of the present invention has the above-described structure, the lid portion and the adhesive layer have excellent adhesion, and peeling occurs between the lid portion and the adhesive layer. In addition, the optical fiber array of the present invention can accurately transmit an optical signal without causing a positional deviation of the lid or the optical fiber.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)は、本発明の光ファイバアレイの一例を
模式的に示す部分斜視図であり、(b)は、(a)のA
−A線断面図であり、(c)は、(a)の光ファイバア
レイを構成する蓋部を示す斜視図であり、(d)は、
(a)の光ファイバアレイを構成する光ファイバが収納
された基板を示す斜視図である。
FIG. 1A is a partial perspective view schematically showing an example of an optical fiber array of the present invention, and FIG. 1B is a part A of FIG.
-A line sectional drawing, (c) is a perspective view which shows the lid part which comprises the optical fiber array of (a), (d) is.
It is a perspective view which shows the board | substrate which accommodated the optical fiber which comprises the optical fiber array of (a).

【図2】JIS B 0601に基づく凹凸の平均間隔
Sm、局部山頂の平均間隔S、および、平均粗さRaを
説明するための参考図である。
FIG. 2 is a reference diagram for explaining an average spacing Sm of irregularities based on JIS B 0601, an average spacing S of local peaks, and an average roughness Ra.

【図3】本発明の光ファイバアレイの別の一例を模式的
に示す部分斜視図である。
FIG. 3 is a partial perspective view schematically showing another example of the optical fiber array of the present invention.

【図4】(a)は、積層光ファイバリボンを用いた本発
明の光ファイバアレイの一例を模式的に示す部分斜視図
であり、(b)は、(a)の光ファイバアレイを構成す
る基板と積層光ファイバリボンとのみを示す部分斜視図
であり、(c)は、(a)のA−A線断面図である。
FIG. 4A is a partial perspective view schematically showing an example of an optical fiber array of the present invention using a laminated optical fiber ribbon, and FIG. 4B constitutes the optical fiber array of FIG. It is a partial perspective view which shows only a board | substrate and a laminated optical fiber ribbon, (c) is the sectional view on the AA line of (a).

【図5】(a)〜(g)は、基板に溝を形成する方法の
一例を示す断面図である。
5A to 5G are cross-sectional views showing an example of a method for forming a groove in a substrate.

【図6】積層光ファイバリボンの一実施形態を模式的に
示す部分斜視図である。
FIG. 6 is a partial perspective view schematically showing an embodiment of a laminated optical fiber ribbon.

【図7】(a)、(b)は、本発明の光ファイバアレイ
の製造工程の一部を模式的に示す斜視図である。
7A and 7B are perspective views schematically showing a part of the manufacturing process of the optical fiber array of the present invention.

【図8】(a)、(b)は、本発明の光ファイバアレイ
の製造工程の一部を模式的に示す斜視図である。
8A and 8B are perspective views schematically showing a part of the manufacturing process of the optical fiber array of the present invention.

【図9】(a)、(b)は、本発明の光ファイバアレイ
の製造工程の一部を模式的に示す斜視図である。
9A and 9B are perspective views schematically showing a part of the manufacturing process of the optical fiber array of the present invention.

【図10】(a)〜(c)は、粒子状物の粒子径を説明
するための参考図である。
10A to 10C are reference diagrams for explaining the particle diameter of a particulate matter.

【図11】(a)は、蓋部の基板と対向する部分を顕微
鏡により平面視した際の観察画像の一例であり、(b)
は、(a)の概略図である。
FIG. 11A is an example of an observation image when a portion of the lid portion facing the substrate is viewed in a plane with a microscope, and FIG.
[Fig. 3] is a schematic view of (a).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

110 光ファイバリボン 115、235、245 光ファイバ 151、251 基板 157、257 溝 160、170 蓋部 100、200 光ファイバアレイ 210 積層光ファイバリボン 110 optical fiber ribbon 115, 235, 245 optical fiber 151,251 substrate 157,257 groove 160, 170 lid 100,200 Fiber Optic Array 210 laminated optical fiber ribbon

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上面の一部に複数の溝が形成され、
前記溝に光ファイバが収納されており、前記基板上に前
記光ファイバを覆う蓋部が接着層を介して取り付けられ
た光ファイバアレイであって、前記蓋部の前記基板と対
向する部分には粗化面が形成されており、前記蓋部の前
記基板と対向する部分を顕微鏡により平面視した際に、
観察画像が複数の粒子状物が並んだ像として観察され、
これらの観察された粒子状物の平均粒子径が0.1〜1
00μmであることを特徴とする光ファイバアレイ。
1. A plurality of grooves are formed in a part of the upper surface of the substrate,
An optical fiber array in which an optical fiber is housed in the groove, and a lid portion covering the optical fiber on the substrate is attached via an adhesive layer, and a portion of the lid portion facing the substrate is A roughened surface is formed, and when the portion of the lid portion facing the substrate is viewed in a plane with a microscope,
The observation image is observed as an image in which multiple particles are arranged,
The average particle size of these observed particulate matter is 0.1 to 1
An optical fiber array having a size of 00 μm.
【請求項2】 前記粗化面の表面粗さは、JIS B
0601に基づく凹凸の平均間隔Smが、0.1〜10
0μmである請求項1に記載の光ファイバアレイ。
2. The surface roughness of the roughened surface is JIS B
The average spacing Sm of the irregularities based on 0601 is 0.1 to 10
The optical fiber array according to claim 1, which is 0 μm.
【請求項3】 前記凹凸の平均間隔Smは、1〜50μ
mである請求項2に記載の光ファイバアレイ。
3. The average spacing Sm of the irregularities is 1 to 50 μm.
The optical fiber array according to claim 2, wherein m is m.
【請求項4】 前記粗化面の表面粗さは、JIS B
0601に基づく局部山頂の平均間隔Sが100〜10
00nmである請求項1〜3に記載の光ファイバアレ
イ。
4. The surface roughness of the roughened surface is JIS B
The average interval S of local peaks based on 0601 is 100 to 10
The optical fiber array according to claim 1, wherein the optical fiber array has a thickness of 00 nm.
【請求項5】 前記凹凸の平均間隔Smおよび前記局部
山頂の平均間隔Sは、干渉縞を用いた表面粗さ計により
測定されたものである請求項1〜4のいずれか1に記載
の光ファイバアレイ。
5. The light according to claim 1, wherein the average spacing Sm of the irregularities and the average spacing S of the local peaks are measured by a surface roughness meter using interference fringes. Fiber array.
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