JP2003197484A - チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法 - Google Patents

チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法

Info

Publication number
JP2003197484A
JP2003197484A JP2001396837A JP2001396837A JP2003197484A JP 2003197484 A JP2003197484 A JP 2003197484A JP 2001396837 A JP2001396837 A JP 2001396837A JP 2001396837 A JP2001396837 A JP 2001396837A JP 2003197484 A JP2003197484 A JP 2003197484A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
anode
cathode
cathode terminal
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001396837A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Takeda
嘉宏 竹田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Chemi Con Corp
Original Assignee
Nippon Chemi Con Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Chemi Con Corp filed Critical Nippon Chemi Con Corp
Priority to JP2001396837A priority Critical patent/JP2003197484A/ja
Publication of JP2003197484A publication Critical patent/JP2003197484A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 切断時における陰極端子の脱落や、ESR特
性が悪化を防止すること。 【解決手段】 陽極導出線4を有するとともに、弁作用
金属から成る陽極体の表面に誘電体酸化皮膜と電解質層
と陰極層とを順次積層形成して、その外周が前記陰極層
とされたコンデンサ素子2を、前記コンデンサ素子2の
陽極導出線4に接続される陽極端子5並びに前記コンデ
ンサ素子2の陰極層に接続される陰極端子6とを具備す
る繰返し単位を複数有するリードフレーム11に搭載
し、該リードフレーム11に搭載された前記コンデンサ
素子2と前記陽極端子5並びに陰極端子6とを、各極端
子の一部が露出するように外装樹脂3にて被覆するとと
もに、該外装樹脂3にて被覆された前記コンデンサ素子
2を内在する前記リードフレーム11の繰返し単位を所
定の形状に切断して得られるチップ型固体電解コンデン
サであって、前記切断により前記陰極端子6の端部とな
る前記リードフレーム11の該当部分を幅狭に形成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、各種電子機器に
搭載される高密度表面実装に使用可能なチップ型固体電
解コンデンサの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】これら高密度表面実装に使用可能なチッ
プ型固体電解コンデンサとしては、特開2001−69
78号公報に提案されているように、陽極導出線を有す
るとともに、弁作用金属から成る陽極体の表面に誘電体
酸化皮膜と電解質層とを順次積層してその外周が前記陰
極層とされたコンデンサ素子を、前記コンデンサ素子の
陽極導出線に接続される陽極端子並びに前記陰極層に接
続される陰極端子とを具備する繰返し単位を複数有する
リードフレームに搭載する搭載工程と、該リードフレー
ムに搭載された前記コンデンサ素子と前記陽極端子並び
に陰極端子とを、各極端子の一部が露出するように外装
樹脂にて被覆する被覆工程と、前記外装樹脂にて被覆さ
れた前記コンデンサ素子を内在する前記リードフレーム
の繰返し単位を所定の形状に切断する切断工程よりなる
チップ型固体電解コンデンサの製造方法が知られてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】これら前記した製造方
法によって得られるチップ型固体電解コンデンサの陰極
端子は、前記外装樹脂との接触面積が小さく、外装樹脂
と陰極端子との接着強度が弱いものとなってしまい、切
断工程において該陰極端子となる前記リードフレームの
切断時に、これら切断における機械的ストレスにより陰
極端子が脱落してしまう場合があったり、これら脱落し
ないまでも、前記コンデンサ素子の陰極層との電気的接
続特性、例えばESR特性が悪化してしまう等の問題が
あった。
【0004】よって、本発明は上記した問題点に着目し
てなされたもので、切断によって陰極端子が脱落してし
まったり、前記ESR特性が悪化してしまうことの少な
いチップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法を提供
することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記した問題を解決する
ために、本発明のチップ型固体電解コンデンサは、陽極
導出線を有するとともに、弁作用金属から成る陽極体の
表面に誘電体酸化皮膜と電解質層と陰極層とを順次積層
形成して、その外周が前記陰極層とされたコンデンサ素
子を、前記コンデンサ素子の陽極導出線に接続される陽
極端子並びに前記コンデンサ素子の陰極層に接続される
陰極端子とを具備する繰返し単位を複数有するリードフ
レームに搭載し、該リードフレームに搭載された前記コ
ンデンサ素子と前記陽極端子並びに陰極端子とを、各極
端子の一部が露出するように外装樹脂にて被覆するとと
もに、該外装樹脂にて被覆された前記コンデンサ素子を
内在する前記リードフレームの繰返し単位を所定の形状
に切断して得られるチップ型固体電解コンデンサであっ
て、前記切断により前記陰極端子の端部となる前記リー
ドフレームの該当部分を幅狭に形成したことを特徴とし
ている。この特徴によれば、前記切断により前記陰極端
子の端部となる前記リードフレームの該当部分を幅狭に
形成することにより、該狭幅とした端部周囲が前記外装
樹脂にて充填されることで、これら外装樹脂により前記
陰極端子の端部が保持されるようになるため、前記陰極
端子の接着強度を大幅に向上でき、よって切断によって
陰極端子が脱落してしまったり、前記ESR特性が悪化
してしまうことを大幅に低減することができる。
【0006】本発明のチップ型固体電解コンデンサは、
前記切断により前記陰極端子の端部となる前記リードフ
レームの該当部分に貫通孔を設けることで、前記陰極端
子の端部が幅狭とされていることが好ましい。このよう
にすれば、前記陰極端子の切断部が、複数の切断部に分
割されるようになるため、切断時において陰極端子に加
わる機械的ストレスを緩和することができる。
【0007】本発明のチップ型固体電解コンデンサの製
造方法は、陽極導出線を有するとともに、弁作用金属か
ら成る陽極体の表面に誘電体酸化皮膜と電解質層と陰極
層とを順次積層形成して、その外周が前記陰極層とされ
たコンデンサ素子を、前記コンデンサ素子の陽極導出線
に接続される陽極端子並びに前記コンデンサ素子の陰極
層に接続される陰極端子とを具備する繰返し単位を複数
有するリードフレームに搭載する搭載工程と、該リード
フレームに搭載された前記コンデンサ素子と前記陽極端
子並びに陰極端子とを、各極端子の一部が露出するよう
に外装樹脂にて被覆する被覆工程と、前記外装樹脂にて
被覆された前記コンデンサ素子を内在する前記リードフ
レームの繰返し単位を所定の形状に切断する切断工程
と、を含むチップ型固体電解コンデンサの製造方法であ
って、前記切断工程により切断されて前記陰極端子の端
部となる前記リードフレームの該当部分を幅狭に形成し
たことを特徴としている。この特徴によれば、前記切断
により前記陰極端子の端部となる前記リードフレームの
該当部分を幅狭に形成することにより、該狭幅とした端
部周囲が前記外装樹脂にて充填されることで、これら外
装樹脂により前記陰極端子の端部が保持されるようにな
るため、前記陰極端子の接着強度を大幅に向上でき、よ
って切断によって陰極端子が脱落してしまったり、前記
ESR特性が悪化してしまうことを大幅に低減すること
ができる。
【0008】本発明のチップ型固体電解コンデンサの製
造方法は、前記切断工程により切断されて前記陰極端子
の端部となる前記リードフレームの該当部分に貫通孔を
設けることで、前記陰極端子の端部が幅狭とされている
ことが好ましい。このようにすれば、前記陰極端子の切
断部が、複数の切断部に分割されるようになるため、切
断時において陰極端子に加わる機械的ストレスを緩和す
ることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態を説明する。 (実施例)図1(a)並びに(b)は本実施例のチップ
型固体電解コンデンサの構造を示す斜視図であり、図2
は、本実施例のチップ型固体電解コンデンサを示す断面
図であり、図3は、本実施例に用いたリードフレームの
形状を示す図であり、図4は、本実施例に用いたリード
フレームの外観斜視図である。
【0010】本実施例のチップ型固体電解コンデンサ1
は、図1に示すように、コンデンサ素子2と、該コンデ
ンサ素子2の1側面から導出された陽極導出線4がその
上端面に溶接にて接続される断面視形状がL字状とされ
た陽極端子5と、該陽極端子5と前記コンデンサ素子2
を挟んで対向する側に、該コンデンサ素子2の下方に配
置されるとともに、該コンデンサ素子2の外周部下面と
導電性接着剤10にて電気的並びに機械的に接合された
陰極端子6と、これら陽極端子5並びに陰極端子6露出
部を除く部分を、前記コンデンサ素子2を被覆するよう
に覆う外装樹脂3と、から主に構成されている。
【0011】この本実施例に用いた前記陽極端子5は、
前述のように断面視形状がL字状とされ、該L字の内面
側がコンデンサ素子2の下面並びに前記陽極導出線4が
導出された側面に沿うように設けられており、該コンデ
ンサ素子2の下面と陽極端子5のL字の内面とが当接す
ると、コンデンサ素子2の表面に形成されている陰極層
を介して該陽極端子5と陰極端子6とが短絡することか
ら、該コンデンサ素子2の下面との間に絶縁樹脂9が介
在するように、前記L字の内面に絶縁樹脂9が設けられ
ている。
【0012】前記コンデンサ素子2としては、従来より
固体電解コンデンサ素子として使用されている素子、例
えばタンタルのような弁金属粉末を成型して焼結するこ
とにより得た焼結体の表面に陽極酸化により誘電体とな
る酸化皮膜を形成して陽極体とし、この陽極体上に二酸
化マンガンなどの固体電解質層と、カーボンや銀ペース
トから成る陰極層とを積層形成することにより得られる
コンデンサ素子等を好適に使用することができる。尚、
前記固体電解質としてポリピロール等の高分子電解質を
用いたもの等も使用することができる。
【0013】以下、本実施例のチップ型固体電解コンデ
ンサ1をその製造工程に沿って説明する。まず、本実施
例において前記陽極端子5と陰極端子6とは、図3並び
に図4に示すような形状とされ、複数のコンデンサ素子
2が搭載可能とされたリードフレーム11により形成さ
れており、該リードフレーム11には、図3に示す折曲
げ加工部に折曲げ加工がされることで、図4に示すよう
な凸部20が形成され、該凸部20の高さは、コンデン
サ素子2が搭載された際に該凸部20の上面と前記陽極
導出線4の下端とが当接するような高さとされている。
【0014】また、本実施例では、最終的に切断されて
陰極端子6の端部となる前記リードフレーム11の切断
線上を跨ぐように透孔30が穿設されており、後述する
外装樹脂3の被覆工程において該透孔30に樹脂が侵入
するとともに、該透孔30を横断するように前記切断が
なされることで、図1(b)に示すように、該切断によ
り形成される陰極端子6の切断端面の一部が前記外装樹
脂にて占有されて、陰極端子6がこれら外装樹脂にて保
持されるようになっている。
【0015】まず、このリードフレーム11の陽極端子
5となる部分の上面に、図5(a)に示すように塗料を
塗布、乾燥させて絶縁樹脂9を形成する。本実施例にお
いては、これら塗料を塗布の方法として、図示しないイ
ンクジェットノズルを用いてリードフレーム11の該当
部位に、絶縁樹脂9の厚みが十分な絶縁性が得られる厚
みとなるように塗料を塗布、乾燥させて形成をしている
が、本発明はこれに限定されるものではなく、これら絶
縁樹脂9の形成方法としては任意の方法を用いることが
できる。
【0016】尚、前記インクジェットノズルによる塗
布、乾燥においては、ピンホールのない良好な絶縁樹脂
層を形成できるように、塗布、乾燥を複数回に渡り繰返
し実施するようになっている。
【0017】また、これら絶縁樹脂9としては、乾燥工
程の効率化とともに、樹脂の固形分の高さから容易に比
較的厚みの大きな塗膜を得られることから、本実施例で
は紫外線硬化樹脂を使用しているが、本発明はこれに限
定されるものではない。
【0018】これら絶縁樹脂9の形成後に、図5(b)
に示すように、陰極端子6となる部分の上面に、導電性
接着材10を塗布形成し、該塗布後に図5(c)に示す
ようにコンデンサ素子2を搭載する。
【0019】これら導電性接着材10としては、接続す
る前記コンデンサ素子2の下面が前述のようにカーボン
や銀ペーストから成る陰極層が露出していることから、
これら陰極層との接着性等の観点から、通常においてI
C等のマウントに使用される銀系の導電性接着材10が
好適に使用されるが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、これら導電性接着材10に代えて半田ペースト
等を塗布しておき、コンデンサ素子2の搭載後において
該半田ペーストを溶融させてコンデンサ素子2を固定、
搭載するようにしても良い。
【0020】これらコンデンサ素子2の搭載において、
前記陽極導出線4と前記凸部20の上面とを溶接にて接
続するとともに、前記導電性接着材10の乾燥或いは硬
化を行ってコンデンサ素子2を固定する。
【0021】次いで、図5(d)に示すように、前記コ
ンデンサ素子2を搭載したリードフレーム11を、該リ
ードフレーム11のコンデンサ素子2の非搭載面を下面
として平坦板であるフェライト板19上に配置し、前記
下面とフェライト板19の上面とが当接するようにした
後、前記リードフレーム11のコンデンサ素子2の搭載
側より全体に外装樹脂3となる封止樹脂を、前記コンデ
ンサ素子2全体が該外装樹脂3に覆われるような所定厚
みとなるように流し込むとともに、該リードフレーム1
1の外部雰囲気を真空とすることで、前記透孔30を含
む内部の微細な領域まで外装樹脂3が充填されるように
した後、該外装樹脂3を硬化させる。
【0022】このように、外部雰囲気を真空とすること
は、内部の微細な領域まで外装樹脂3を迅速に充填でき
るようになることから好ましいが、本発明はこれに限定
されるものではない。
【0023】これら外装樹脂3としては、従来のトラン
スファーモールド成型に使用されるモールド樹脂である
エポキシアクリレート等のエポキシ系樹脂を好適に使用
することができるとともに、基板実装時の半田耐熱に耐
えられる耐熱性を有し、適宜な加熱状態或いは常温にお
いて液体状態を得ることができる樹脂であれば好適に使
用することができる。
【0024】また、本実施例では、前記のように、コン
デンサ素子2が搭載されたリードフレーム11を、磁性
体であり、耐熱性の高いフェライト板19上に載置して
外装樹脂3となる封止樹脂を流し込むようにしており、
このようにすることは、これら平坦板であるフェライト
板19により、封止樹脂の前記リードフレーム11の下
面への流出量を規制でき、外装樹脂のはみ出し部3’の
大きさを低減できることから好ましいが、本実施例はこ
れに限定されるものではなく、これらフェライト板19
等の平坦板を用いずに樹脂封止を実施するようにしても
良い。
【0025】また、本実施例では、平坦板としてフェラ
イト板19を用いており、このようにすることは、該フ
ェライト板19は封止樹脂の硬化温度にも十分耐えられ
る良好な耐熱性と強度を有し、繰り返し使用できるばか
りか、通常において使用される42アロイ等のリードフ
レーム材が鉄分を含む合金であって、着磁性を有するこ
とから、前記フェライト板19に密着、保持されるよう
になり、前記リードフレーム11の下面にはみ出す樹脂
の量を大幅に低減できるようになるばかりか該樹脂封止
(被覆)工程中におけるリードフレーム11の移動が規
制されるようになることから好ましいが、本実施例はこ
れに限定されるものではなく、十分な平坦性並びに機械
的強度等が得られれば、樹脂、金属等の任意の平坦板を
使用することができる。
【0026】尚、これらフェライト板19の上面に外装
樹脂3との接着を阻害する離型剤等を塗布すること等は
任意とされる。
【0027】前記外装樹脂3が適宜な硬化状態となった
後において、図5(e)に示すように、封止樹脂された
リードフレーム11を前記フェライト板19より剥がし
た後に、前記外装樹脂のはみ出し部3’とリードフレー
ム11とを、該リードフレーム11の表面(底面)が露
出するように該リードフレーム11の下面より弾性研磨
体を用いて研削する。尚、本実施例では該弾性研磨体と
して弾性研磨体の側面外周を前記リードフレーム11の
下面に当接させて研磨しているが、本発明はこれに限定
されるものではなく、これら弾性研磨体として円盤状の
ものを使用し、該盤面を前記リードフレーム11の下面
に当接させて研磨するようにしても良い。
【0028】このように、前記外装樹脂のはみ出し部
3’のみならず、リードフレーム11の下面全体を研削
するようにすることは、切断されるリードフレーム11
の切断時に陽極端子5並びに陰極端子6に印加される機
械的ストレスを少なからず低減できることから好ましい
が、本実施例はこれに限定されるものではない。
【0029】これら研削の後、前記リードフレーム11
の凸部20の裏面凹部13を、該凹部13に入り込んだ
前記外装樹脂3とともに図6(f)に示すようにリード
フレーム11の角部が曲部をなるようにR加工を実施す
ることで、図2に示す陽極端子5並びに陰極端子6の半
田収容部7、8を形成する。
【0030】このようにして半田収容部7、8を形成す
ることは、得られたチップ型固体電解コンデンサ1を基
板実装する際に、半田との接触面積を十分に取れるよう
になるり良好な実装強度が得られるばかりか、チップ型
固体電解コンデンサ1の外周に露出する半田フィレット
の領域を大幅に少ないものとすることができ、実装効率
を向上できるようになることから好ましいが、本発明は
これに限定されるものではない。
【0031】これらR加工の実施後において、図6
(g)に示すように、リードフレーム11の露出部に半
田メッキ14等の半田との塗れ性を向上できる金属のメ
ッキ加工を実施した後、チップ型固体電解コンデンサ1
の上面に相当する該リードフレーム11の露出面とは反
対面に、図6(h)に示すように、ダイシングテープ1
5を貼着して、図6(i)に示すように、前記凹部13
側より切断溝16を形成し、図3の切断エリアが切り出
されてチップ型固体電解コンデンサ1が得られる。
【0032】以上、本発明を図面に基づいて説明してき
たが、本発明はこれら前記実施例に限定されるものでは
なく、本発明の主旨を逸脱しない範囲での変更や追加が
あっても、本発明に含まれることは言うまでもない。
【0033】例えば、本実施例では、前記切断工程にて
切断されて前記陰極端子6の端部となるリードフレーム
11の該当部位に、前述のように透孔30を設けること
で、該陰極端子6の端部を狭幅としており、このように
することは、前記切断工程にて切断される切断部が、複
数(2つ)に分割されるようになるため、該切断部の切
断時に生じる機械的ストレスを緩和できることから好ま
しいが、本発明はこれに限定されるものではなく、これ
ら陰極端子6の端部を狭幅とする手法としては、図7に
示すように、前記切断工程にて切断されて前記陰極端子
6の端部となるリードフレーム11の該当部位に切り欠
き31を設けて狭幅としても良い。
【0034】また、前記実施例では、前記透孔30を1
つのみとしているが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、これら透孔30を複数設けるようにしても良
い。
【0035】
【発明の効果】本発明は次の効果を奏する。
【0036】(a)請求項1の発明によれば、前記切断
により前記陰極端子の端部となる前記リードフレームの
該当部分を幅狭に形成することにより、該狭幅とした端
部周囲が前記外装樹脂にて充填されることで、これら外
装樹脂により前記陰極端子の端部が保持されるようにな
るため、前記陰極端子の接着強度を大幅に向上でき、よ
って切断によって陰極端子が脱落してしまったり、前記
ESR特性が悪化してしまうことを大幅に低減すること
ができる。
【0037】(b)請求項2の発明によれば、前記陰極
端子の切断部が、複数の切断部に分割されるようになる
ため、切断時において陰極端子に加わる機械的ストレス
を緩和することができる。
【0038】(c)請求項3の発明によれば、前記切断
により前記陰極端子の端部となる前記リードフレームの
該当部分を幅狭に形成することにより、該狭幅とした端
部周囲が前記外装樹脂にて充填されることで、これら外
装樹脂により前記陰極端子の端部が保持されるようにな
るため、前記陰極端子の接着強度を大幅に向上でき、よ
って切断によって陰極端子が脱落してしまったり、前記
ESR特性が悪化してしまうことを大幅に低減すること
ができる。
【0039】(d)請求項4の発明によれば、前記陰極
端子の切断部が、複数の切断部に分割されるようになる
ため、切断時において陰極端子に加わる機械的ストレス
を緩和することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)、(b)は、本発明の実施例におけるチ
ップ型固体電解コンデンサの構造を示す斜視図である。
【図2】本発明の実施例におけるチップ型固体電解コン
デンサを示す断面図である。
【図3】本発明の本実施例にて用いたリードフレームの
形状を示す図である。
【図4】本発明の本実施例にて用いたリードフレームの
外観斜視図である。
【図5】本発明のチップ型固体電解コンデンサの製造工
程を示す図である。
【図6】本発明のチップ型固体電解コンデンサの製造工
程を示す図である。
【図7】本発明のその他の好適なリードフレームの形状
例を示す図である。
【符号の説明】
1 チップ型固体電解コンデンサ 2 コンデンサ素子 3 外装樹脂 3’ 外装樹脂(はみ出し部) 4 陽極導出線 5 陽極端子 6 陰極端子 7 半田収容部(陽極) 8 半田収容部(陰極) 9 絶縁樹脂 10 導電性接着剤 11 リードフレーム 12 弾性研磨体 13 凹部 14 半田メッキ 15 ダイシングテープ 16 切断溝 19 フェライト板(平坦板) 20 凸部 30 透孔(貫通孔) 31 切り欠き

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 陽極導出線を有するとともに、弁作用金
    属から成る陽極体の表面に誘電体酸化皮膜と電解質層と
    陰極層とを順次積層形成して、その外周が前記陰極層と
    されたコンデンサ素子を、前記コンデンサ素子の陽極導
    出線に接続される陽極端子並びに前記コンデンサ素子の
    陰極層に接続される陰極端子とを具備する繰返し単位を
    複数有するリードフレームに搭載し、該リードフレーム
    に搭載された前記コンデンサ素子と前記陽極端子並びに
    陰極端子とを、各極端子の一部が露出するように外装樹
    脂にて被覆するとともに、該外装樹脂にて被覆された前
    記コンデンサ素子を内在する前記リードフレームの繰返
    し単位を所定の形状に切断して得られるチップ型固体電
    解コンデンサであって、前記切断により前記陰極端子の
    端部となる前記リードフレームの該当部分を幅狭に形成
    したことを特徴とするチップ型固体電解コンデンサ。
  2. 【請求項2】 前記切断により前記陰極端子の端部とな
    る前記リードフレームの該当部分に貫通孔を設けること
    で、前記陰極端子の端部が幅狭とされている請求項1に
    記載のチップ型固体電解コンデンサ。
  3. 【請求項3】 陽極導出線を有するとともに、弁作用金
    属から成る陽極体の表面に誘電体酸化皮膜と電解質層と
    陰極層とを順次積層形成して、その外周が前記陰極層と
    されたコンデンサ素子を、前記コンデンサ素子の陽極導
    出線に接続される陽極端子並びに前記コンデンサ素子の
    陰極層に接続される陰極端子とを具備する繰返し単位を
    複数有するリードフレームに搭載する搭載工程と、該リ
    ードフレームに搭載された前記コンデンサ素子と前記陽
    極端子並びに陰極端子とを、各極端子の一部が露出する
    ように外装樹脂にて被覆する被覆工程と、前記外装樹脂
    にて被覆された前記コンデンサ素子を内在する前記リー
    ドフレームの繰返し単位を所定の形状に切断する切断工
    程と、を含むチップ型固体電解コンデンサの製造方法で
    あって、前記切断工程により切断されて前記陰極端子の
    端部となる前記リードフレームの該当部分を幅狭に形成
    したことを特徴とするチップ型固体電解コンデンサの製
    造方法。
  4. 【請求項4】 前記切断工程により切断されて前記陰極
    端子の端部となる前記リードフレームの該当部分に貫通
    孔を設けることで、前記陰極端子の端部が幅狭とされて
    いる請求項3に記載のチップ型固体電解コンデンサの製
    造方法。
JP2001396837A 2001-12-27 2001-12-27 チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法 Pending JP2003197484A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001396837A JP2003197484A (ja) 2001-12-27 2001-12-27 チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001396837A JP2003197484A (ja) 2001-12-27 2001-12-27 チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003197484A true JP2003197484A (ja) 2003-07-11

Family

ID=27602798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001396837A Pending JP2003197484A (ja) 2001-12-27 2001-12-27 チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003197484A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005353709A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Nec Tokin Corp チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
US7135754B2 (en) * 2003-01-24 2006-11-14 Nec Tokin Corporation Chip type solid electrolytic capacitor having a small size and a simple structure
KR101032206B1 (ko) 2009-03-09 2011-05-02 삼성전기주식회사 고체 콘덴서 및 그 제조방법
US10312027B2 (en) 2014-09-29 2019-06-04 Tokin Corporation Solid electrolytic capacitor including a flat plate anode wire and an anode terminal with a mounting portion and an upright portion

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7135754B2 (en) * 2003-01-24 2006-11-14 Nec Tokin Corporation Chip type solid electrolytic capacitor having a small size and a simple structure
US7337513B2 (en) 2003-01-24 2008-03-04 Nec Tokin Corporation Method of making chip type solid electrolytic capacitor having a small size and a simple structure
JP2005353709A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Nec Tokin Corp チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
JP4587444B2 (ja) * 2004-06-09 2010-11-24 Necトーキン株式会社 チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
KR101032206B1 (ko) 2009-03-09 2011-05-02 삼성전기주식회사 고체 콘덴서 및 그 제조방법
US10312027B2 (en) 2014-09-29 2019-06-04 Tokin Corporation Solid electrolytic capacitor including a flat plate anode wire and an anode terminal with a mounting portion and an upright portion

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100917027B1 (ko) 고체 전해 콘덴서 및 그 제조방법
US7633740B2 (en) Solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same
JP2006100748A (ja) 面実装コイル部品
JP2001267181A (ja) チップ形固体電解コンデンサ
JP4392960B2 (ja) タンタル電解コンデンサの製造方法
JP2001244145A (ja) 固体電解コンデンサ
JP2003197484A (ja) チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
JP2003197485A (ja) チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
TWI254955B (en) Wiring board, method for manufacturing wiring board and electronic component using wiring board
JP4517507B2 (ja) チップ型固体電解コンデンサの製造方法
JP2002110461A (ja) チップ型固体電解コンデンサ
JP2003100555A (ja) チップ型固体電解コンデンサおよびその製造方法
JP4276774B2 (ja) チップ状固体電解コンデンサ
JP2003197486A (ja) チップ型固体電解コンデンサ及びその製造方法
JP2001358038A (ja) タンタル電解コンデンサの製造方法
JP2002170742A (ja) チップ型固体電解コンデンサ
JPH04276613A (ja) 固体電解コンデンサの製造方法
JP2002175939A (ja) チップ型固体電解コンデンサの製造方法
JP4539004B2 (ja) チップ型固体電解コンデンサ
JP2002175943A (ja) チップ型固体電解コンデンサ
JP2001167985A (ja) 固体電解コンデンサ
JP2003100554A (ja) チップ型固体電解コンデンサの製造方法
JP3433479B2 (ja) 固体電解コンデンサの製造方法
JP2001244146A (ja) 固体電解コンデンサ
JPH0620882A (ja) チップ状固体電解コンデンサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041224

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070508

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070911