JP2003165514A5 - - Google Patents
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- (a)第1穴部を有し、前記第1穴部の底部には第2穴部が形成され、前記第1穴部内に半導体装置が収納され、前記第1穴部の開口部がカバーテープによって覆われたキャリアテープを用意する工程、
(b)前記キャリアテープを前記第1穴部の開口部が下向きになるようにしてガイドレール上に配置する工程、
(c)前記(b)工程後、前記第1穴部の開口部より前記カバーテープに対して斜め方向から前記半導体装置へ光を照射した状況下で前記第1穴部の開口部の方向から前記半導体装置の外観を検査する工程、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - (a)第1穴部を有し、前記第1穴部の底部には第2穴部が形成され、前記第1穴部内に半導体装置が収納され、前記第1穴部の開口部がカバーテープによって覆われたキャリアテープと、透明の第1カバー板とを用意する工程、
(b)前記キャリアテープを前記第1穴部の開口部が下向きになるようにしてガイドレール上に配置する工程、
(c)前記(b)工程後、前記第1カバー板を前記キャリアテープの下方に配置し、前記キャリアテープを前記第1カバー板と接触させて前記カバーテープの歪みを除去する工程、
(d)前記(c)工程後、前記第1穴部の開口部より前記カバーテープに対して斜め方向から前記半導体装置へ光を照射した状況下で前記第1穴部の開口部の方向から前記半導体装置の外観を検査する工程、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - (a)第1穴部を有し、前記第1穴部の底部には第2穴部が形成され、前記第1穴部内に半導体装置が収納され、前記第1穴部の開口部がカバーテープによって覆われたキャリアテープを用意する工程、
(b)前記キャリアテープをガイドレール上に配置する工程、
(c)前記(b)工程後、前記第2穴部より前記第1穴部内へ第1工具を挿入して前記半導体装置を突き上げ、前記半導体装置を前記カバーテープに押し付ける工程、
(d)前記(c)工程後、前記第1穴部の開口部より前記カバーテープに対して斜め方向から前記半導体装置へ光を照射した状況下で前記第1穴部の開口部の方向から前記半導体装置の外観を検査する工程、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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