JP2003139567A - 変位検出装置及びレンズ鏡筒 - Google Patents
変位検出装置及びレンズ鏡筒Info
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 スケールに対して検出部材が傾くことなく、
十分な検出信号を得ることができ、また、ガタもなく、
正確にスケールを読み取ることができる変位検出装置
を、低コストで提供する。 【解決手段】 ＭＲ素子１４７を保持するホルダ１４５
を、ばね性を有する薄板から成る支持板１６２によりＺ
軸方向に軽い力で移動可能なように支持し、加圧ばね１
４１によりホルダ１４５ごとスケール１３０に加圧す
る。また、加圧ばね１４１と支持板１６２は、長手方向
がスケール１３０の移動方向に沿う方向に配置されてい
る。更に、支持板１６２は、ほぼ接触平面上に設けられ
ている。
十分な検出信号を得ることができ、また、ガタもなく、
正確にスケールを読み取ることができる変位検出装置
を、低コストで提供する。 【解決手段】 ＭＲ素子１４７を保持するホルダ１４５
を、ばね性を有する薄板から成る支持板１６２によりＺ
軸方向に軽い力で移動可能なように支持し、加圧ばね１
４１によりホルダ１４５ごとスケール１３０に加圧す
る。また、加圧ばね１４１と支持板１６２は、長手方向
がスケール１３０の移動方向に沿う方向に配置されてい
る。更に、支持板１６２は、ほぼ接触平面上に設けられ
ている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、可動部材の変位を
磁気等により検出する磁気エンコーダ等の変位検出装置
及びレンズ鏡筒に関するものである。
磁気等により検出する磁気エンコーダ等の変位検出装置
及びレンズ鏡筒に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、多くの機械装置では、フィードバ
ック制御等を行うための情報として、可動部材の変位や
速度を精密に検出することが行われている。例えば、オ
ートフォーカスカメラ用のレンズ鏡筒においては、電動
モータ等の回転駆動力を直線駆動力に変換して、合焦用
レンズを進退させるフォーカスカム機構が内部に設けら
れている。このようなレンズ鏡筒では、特開平７−１２
８５６６号公報や特開平７−３２４９４６号公報等に記
載されたように、フォーカスカム機構を構成する回転筒
の回転変位を検出する変位検出装置を有するものが多数
存在する。
ック制御等を行うための情報として、可動部材の変位や
速度を精密に検出することが行われている。例えば、オ
ートフォーカスカメラ用のレンズ鏡筒においては、電動
モータ等の回転駆動力を直線駆動力に変換して、合焦用
レンズを進退させるフォーカスカム機構が内部に設けら
れている。このようなレンズ鏡筒では、特開平７−１２
８５６６号公報や特開平７−３２４９４６号公報等に記
載されたように、フォーカスカム機構を構成する回転筒
の回転変位を検出する変位検出装置を有するものが多数
存在する。
【０００３】図９は、従来の変位検出装置を有するレン
ズ鏡筒１を示す図である。図９に示す変位検出装置で
は、磁気パターン３０が形成されたプラスチックマグネ
ット等の磁気部材２１を回転筒５の外周面に貼り付け、
この磁気部材２１に近接して配置された磁気抵抗素子
（ＭＲ素子）４７によって磁気パターン３０（すなわ
ち、回転筒５）の回転変位を検出する。固定筒３は、回
転筒５を回転自在に保持し、加圧ばね４１がビス止めさ
れる固定部材である。ホルダ４５は、ＭＲ素子４７を加
圧ばね４１に固定するための保持部材である。ＭＲ素子
４７によって磁気部材２１の磁気パターン３０を正確に
検出するためには、磁気部材２１の表面とＭＲ素子４７
の検出面との間隔を極めて高精度に設定・保持する必要
がある。このため、磁気部材２１とＭＲ素子４７との間
に低摩擦係数の間隔規制部材を設け、弾性部材である加
圧ばね４１によってＭＲ素子４７を磁気部材２１側に圧
接させる技術が実用化されている。
ズ鏡筒１を示す図である。図９に示す変位検出装置で
は、磁気パターン３０が形成されたプラスチックマグネ
ット等の磁気部材２１を回転筒５の外周面に貼り付け、
この磁気部材２１に近接して配置された磁気抵抗素子
（ＭＲ素子）４７によって磁気パターン３０（すなわ
ち、回転筒５）の回転変位を検出する。固定筒３は、回
転筒５を回転自在に保持し、加圧ばね４１がビス止めさ
れる固定部材である。ホルダ４５は、ＭＲ素子４７を加
圧ばね４１に固定するための保持部材である。ＭＲ素子
４７によって磁気部材２１の磁気パターン３０を正確に
検出するためには、磁気部材２１の表面とＭＲ素子４７
の検出面との間隔を極めて高精度に設定・保持する必要
がある。このため、磁気部材２１とＭＲ素子４７との間
に低摩擦係数の間隔規制部材を設け、弾性部材である加
圧ばね４１によってＭＲ素子４７を磁気部材２１側に圧
接させる技術が実用化されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
のレンズ鏡筒用の変位検出装置では、加圧ばね４１とし
て製造コストが低くかつ量産性に優れることから、板ば
ねが用いられる場合が多いが、板ばねによって、磁気部
材２１とＭＲ素子４７との平行度が阻害されるという問
題があった。
のレンズ鏡筒用の変位検出装置では、加圧ばね４１とし
て製造コストが低くかつ量産性に優れることから、板ば
ねが用いられる場合が多いが、板ばねによって、磁気部
材２１とＭＲ素子４７との平行度が阻害されるという問
題があった。
【０００５】図１０は、加圧ばね４１、ＭＲ素子４７及
び磁気部材２１の拡大側面図である。ＭＲ素子４７に
は、ＭＲ素子４７と磁気部材２１との間隙を規制するス
ペーサフィルム４９が設けられており、ＭＲ素子４７が
磁気部材２１に対して正しく接触した場合に、両者の間
隔が最適な間隔となるようになっている。尚、図１０に
おいては、理解を容易にするため、ＭＲ素子４７と磁気
部材２１との間の傾斜を誇張して示している。
び磁気部材２１の拡大側面図である。ＭＲ素子４７に
は、ＭＲ素子４７と磁気部材２１との間隙を規制するス
ペーサフィルム４９が設けられており、ＭＲ素子４７が
磁気部材２１に対して正しく接触した場合に、両者の間
隔が最適な間隔となるようになっている。尚、図１０に
おいては、理解を容易にするため、ＭＲ素子４７と磁気
部材２１との間の傾斜を誇張して示している。
【０００６】図１０に示したように、加圧ばね４１は、
二点鎖線で示す無負荷形状に対し、大きく撓んだ状態で
取り付けられ、これにより、ＭＲ素子４７を磁気部材２
１に圧接させる押圧力を発生している。しかし、加圧ば
ね４１の微細な形状誤差や取付誤差、回転筒５の外径誤
差や真円度のズレ等により、ＭＲ素子４７と磁気部材２
１との相対位置関係が所定の関係とならない場合があっ
た。例えば、図９に示す状態では、ＭＲ素子４７と磁気
部材２１の間に微小な傾斜角αが生じ、ＭＲ素子４７の
先端が磁気部材２１から間隔δだけ浮き上がってしま
う。
二点鎖線で示す無負荷形状に対し、大きく撓んだ状態で
取り付けられ、これにより、ＭＲ素子４７を磁気部材２
１に圧接させる押圧力を発生している。しかし、加圧ば
ね４１の微細な形状誤差や取付誤差、回転筒５の外径誤
差や真円度のズレ等により、ＭＲ素子４７と磁気部材２
１との相対位置関係が所定の関係とならない場合があっ
た。例えば、図９に示す状態では、ＭＲ素子４７と磁気
部材２１の間に微小な傾斜角αが生じ、ＭＲ素子４７の
先端が磁気部材２１から間隔δだけ浮き上がってしま
う。
【０００７】このような場合、磁気部材２１に対してＭ
Ｒ素子４７の大部分が密着していないため、ＭＲ素子４
７からの検出信号が非常に微弱になり、検出誤差が大き
くなったり、検出もれが生じる等の問題があった。ま
た、検出信号が微弱で不安定であるために、その後の信
号処理においても、不都合が多かった。このような問題
を解決するため、加圧ばね４１の固定端からＭＲ素子４
７までの距離（有効長）を長くする方法も一部に試みら
れているが、レンズ鏡筒内等の限られたスペース内に、
そのためのスペースを確保することは、困難であった。
また、この方法を採った場合にも、磁気部材２１に対す
るＭＲ素子４７の傾斜は、軽減されるが、完全に解消す
ることはできなかった。
Ｒ素子４７の大部分が密着していないため、ＭＲ素子４
７からの検出信号が非常に微弱になり、検出誤差が大き
くなったり、検出もれが生じる等の問題があった。ま
た、検出信号が微弱で不安定であるために、その後の信
号処理においても、不都合が多かった。このような問題
を解決するため、加圧ばね４１の固定端からＭＲ素子４
７までの距離（有効長）を長くする方法も一部に試みら
れているが、レンズ鏡筒内等の限られたスペース内に、
そのためのスペースを確保することは、困難であった。
また、この方法を採った場合にも、磁気部材２１に対す
るＭＲ素子４７の傾斜は、軽減されるが、完全に解消す
ることはできなかった。
【０００８】一方、特開２０００−２０５８０８号公報
には、ホルダと加圧ばねとの接続部に改良を加えた変位
検出装置が提案されている。図１１は、特開２０００−
２０５８０８号公報に提案されている従来の変位検出装
置を有するレンズ鏡筒１’を示す図である。レンズ鏡筒
１’は、先に示したレンズ鏡筒１における加圧ばね４１
とホルダ４５に代えて、加圧ばね２４１とホルダ２４５
を設けている。図１２は、加圧ばね２４１及びホルダ２
４５付近の拡大側面図である。加圧ばね２４１は、その
先端に略Ｖ字状に屈曲成形されたピポット６１を有して
おり、このピポット６１がホルダ２４５に形成されたＶ
字溝６３に係合している。このような形態とすることに
よりホルダ２４５は、回転筒５の回転方向に略平行な揺
動中心軸Ｐをもち、加圧ばね２４１に対して揺動するこ
とができる。よって、レンズ鏡筒１’に設けられた従来
の変位検出装置では、スペーサフィルム４９及びＭＲ素
子４７が磁気部材２１に密着できるようになり、ＭＲ素
子４７からの検出信号が非常に微弱になることを防ごう
としていた。
には、ホルダと加圧ばねとの接続部に改良を加えた変位
検出装置が提案されている。図１１は、特開２０００−
２０５８０８号公報に提案されている従来の変位検出装
置を有するレンズ鏡筒１’を示す図である。レンズ鏡筒
１’は、先に示したレンズ鏡筒１における加圧ばね４１
とホルダ４５に代えて、加圧ばね２４１とホルダ２４５
を設けている。図１２は、加圧ばね２４１及びホルダ２
４５付近の拡大側面図である。加圧ばね２４１は、その
先端に略Ｖ字状に屈曲成形されたピポット６１を有して
おり、このピポット６１がホルダ２４５に形成されたＶ
字溝６３に係合している。このような形態とすることに
よりホルダ２４５は、回転筒５の回転方向に略平行な揺
動中心軸Ｐをもち、加圧ばね２４１に対して揺動するこ
とができる。よって、レンズ鏡筒１’に設けられた従来
の変位検出装置では、スペーサフィルム４９及びＭＲ素
子４７が磁気部材２１に密着できるようになり、ＭＲ素
子４７からの検出信号が非常に微弱になることを防ごう
としていた。
【０００９】しかし、この手法を用いた場合には、加圧
ばね２４１に対してホルダ２４５が自由度を持って取り
付けられる必要がある。したがって、加圧ばね２４１と
ホルダ２４５との間にガタが生じ、検出精度を低下させ
てしまうという問題があった。また、上述のいずれの変
位検出装置であっても、近年の超音波モータやブレ補正
装置を備えたレンズ鏡筒のように、光軸方向のスペース
の制約が大きい装置に使用するには、光軸方向のサイズ
が大きく、使用することが困難であった。
ばね２４１に対してホルダ２４５が自由度を持って取り
付けられる必要がある。したがって、加圧ばね２４１と
ホルダ２４５との間にガタが生じ、検出精度を低下させ
てしまうという問題があった。また、上述のいずれの変
位検出装置であっても、近年の超音波モータやブレ補正
装置を備えたレンズ鏡筒のように、光軸方向のスペース
の制約が大きい装置に使用するには、光軸方向のサイズ
が大きく、使用することが困難であった。
【００１０】本発明の課題は、スケールに対して検出部
材が傾くことなく、十分な検出信号を得ることができ、
また、ガタもなく、正確にスケールを読み取ることがで
きる変位検出装置及びレンズ鏡筒を、低コストで提供す
ることである。
材が傾くことなく、十分な検出信号を得ることができ、
また、ガタもなく、正確にスケールを読み取ることがで
きる変位検出装置及びレンズ鏡筒を、低コストで提供す
ることである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、以下のような
解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容
易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付
して説明するが、これに限定されるものではない。すな
わち、請求項１の発明は、固定部材（１０３）に対して
相対的に変位可能に設けられた可動部材（１０５）の変
位を検出する変位検出装置であって、前記可動部材と一
体的に変位可能に設けられたスケール（１３０）と、前
記スケールに直接的又は間接的に接触し、前記スケール
の変位を検出する変位検出部（１４５，１４７）と、前
記変位検出部の前記スケールとの接触位置において前記
スケールに接する接触平面に略直交する方向に移動可能
であり、前記接触平面に略直交する方向以外の移動は、
規制された状態で前記変位検出部を支持する支持部材
（１６１，１６２）と、前記変位検出部を前記スケール
に対して加圧する加圧部材（１４１）と、を備える変位
検出装置である。
解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容
易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付
して説明するが、これに限定されるものではない。すな
わち、請求項１の発明は、固定部材（１０３）に対して
相対的に変位可能に設けられた可動部材（１０５）の変
位を検出する変位検出装置であって、前記可動部材と一
体的に変位可能に設けられたスケール（１３０）と、前
記スケールに直接的又は間接的に接触し、前記スケール
の変位を検出する変位検出部（１４５，１４７）と、前
記変位検出部の前記スケールとの接触位置において前記
スケールに接する接触平面に略直交する方向に移動可能
であり、前記接触平面に略直交する方向以外の移動は、
規制された状態で前記変位検出部を支持する支持部材
（１６１，１６２）と、前記変位検出部を前記スケール
に対して加圧する加圧部材（１４１）と、を備える変位
検出装置である。
【００１２】請求項２の発明は、請求項１に記載の変位
検出装置において、前記支持部材（１６１，１６２）
は、ばね性を備えた薄板状の部材により形成されている
こと、を特徴とする変位検出装置である。
検出装置において、前記支持部材（１６１，１６２）
は、ばね性を備えた薄板状の部材により形成されている
こと、を特徴とする変位検出装置である。
【００１３】請求項３の発明は、請求項２に記載の変位
検出装置において、前記支持部材（１６１，１６２）
は、一端が前記固定部材（１０３）に固定され、他端が
前記変位検出部（１４５，１４７）を支持すること、を
特徴とする変位検出装置である。
検出装置において、前記支持部材（１６１，１６２）
は、一端が前記固定部材（１０３）に固定され、他端が
前記変位検出部（１４５，１４７）を支持すること、を
特徴とする変位検出装置である。
【００１４】請求項４の発明は、請求項２又は請求項３
に記載の変位検出装置において、前記支持部材（１６
１，１６２）は、前記スケール（１３０）の移動方向に
沿う方向に長手方向が配置されていること、を特徴とす
る変位検出装置である。
に記載の変位検出装置において、前記支持部材（１６
１，１６２）は、前記スケール（１３０）の移動方向に
沿う方向に長手方向が配置されていること、を特徴とす
る変位検出装置である。
【００１５】請求項５の発明は、請求項１から請求項４
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記加圧部材（１４１）は、前記変位検出部（１４５，１
４７）の接触位置の略中央を加圧すること、を特徴とす
る変位検出装置である。
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記加圧部材（１４１）は、前記変位検出部（１４５，１
４７）の接触位置の略中央を加圧すること、を特徴とす
る変位検出装置である。
【００１６】請求項６の発明は、請求項２から請求項５
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記スケール（１３０）の前記変位検出部と接触する部分
は、円筒面であって、前記支持部材（１６２）は、前記
接触平面上又は前記接触平面の近くに設けられ、前記接
触平面に対して略平行に配置されていること、を特徴と
する変位検出装置である。
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記スケール（１３０）の前記変位検出部と接触する部分
は、円筒面であって、前記支持部材（１６２）は、前記
接触平面上又は前記接触平面の近くに設けられ、前記接
触平面に対して略平行に配置されていること、を特徴と
する変位検出装置である。
【００１７】請求項７の発明は、請求項２から請求項６
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記支持部材（１６２）は、前記接触平面に略直交する方
向に前記変位検出部が移動するときに撓む部分に、孔形
状又は肉抜き形状により形成された剛性低減部（１６２
ａ）を有すること、を特徴とする変位検出装置である。
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記支持部材（１６２）は、前記接触平面に略直交する方
向に前記変位検出部が移動するときに撓む部分に、孔形
状又は肉抜き形状により形成された剛性低減部（１６２
ａ）を有すること、を特徴とする変位検出装置である。
【００１８】請求項８の発明は、請求項７に記載の変位
検出装置において、前記剛性低減部（１６２ａ）は、前
記支持部材（１６２）の幅の略中央付近に設けられてい
ること、を特徴とする変位検出装置である。
検出装置において、前記剛性低減部（１６２ａ）は、前
記支持部材（１６２）の幅の略中央付近に設けられてい
ること、を特徴とする変位検出装置である。
【００１９】請求項９の発明は、請求項１から請求項８
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記加圧部材（１４１）は、前記変位検出部（１４５，１
４７）を前記スケール（１３０）に対して加圧する加圧
方向以外の方向には、前記変位検出部に力を加えず、位
置の規制もしないこと、を特徴とする変位検出装置であ
る。
までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、前
記加圧部材（１４１）は、前記変位検出部（１４５，１
４７）を前記スケール（１３０）に対して加圧する加圧
方向以外の方向には、前記変位検出部に力を加えず、位
置の規制もしないこと、を特徴とする変位検出装置であ
る。
【００２０】請求項１０の発明は、請求項１から請求項
９までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、
前記加圧部材（１４１）は、前記スケール（１３０）の
移動方向に沿う方向に長手方向が配置されていること、
を特徴とする変位検出装置である。
９までのいずれか１項に記載の変位検出装置において、
前記加圧部材（１４１）は、前記スケール（１３０）の
移動方向に沿う方向に長手方向が配置されていること、
を特徴とする変位検出装置である。
【００２１】請求項１１の発明は、請求項１から請求項
１０までのいずれか１項に記載の変位検出装置におい
て、前記スケール（１３０）は、異なる極性の磁性を移
動方向に沿って交互に配置した磁気スケールであって、
前記変位検出部（１４５，１４７）は、前記磁気スケー
ルの磁気を検出する磁気抵抗素子（１４７）を含むこ
と、を特徴とする変位検出装置である。
１０までのいずれか１項に記載の変位検出装置におい
て、前記スケール（１３０）は、異なる極性の磁性を移
動方向に沿って交互に配置した磁気スケールであって、
前記変位検出部（１４５，１４７）は、前記磁気スケー
ルの磁気を検出する磁気抵抗素子（１４７）を含むこ
と、を特徴とする変位検出装置である。
【００２２】請求項１２の発明は、撮影光学系と、撮影
装置本体に装着される固定部材（１０３）と、前記撮影
光学系の少なくとも一部を駆動するときに回転する可動
部材（１０５）の変位を検出する請求項１から請求項１
１までのいずれか１項に記載の変位検出装置と、を備え
るレンズ鏡筒である。
装置本体に装着される固定部材（１０３）と、前記撮影
光学系の少なくとも一部を駆動するときに回転する可動
部材（１０５）の変位を検出する請求項１から請求項１
１までのいずれか１項に記載の変位検出装置と、を備え
るレンズ鏡筒である。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、図面等を参照しながら、本
発明の実施の形態について、更に詳しく説明する。 （第１実施形態）図１は、本発明による変位検出装置を
備えたレンズ鏡筒の第１実施形態を示す斜視図である。
図２は、本発明による変位検出装置を示す図である。図
２（ａ）は、レンズ鏡筒の外周側から見た図であり、＋
Ｙ方向が不図示のカメラ本体側である。図２（ｂ）は、
被写体側（−Ｙ方向）から観察した図である。尚、説明
のため、図１及び図２中に示すように、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ
軸からなる座標系を設ける（以下、図１〜５について同
一の座標系を適用する）。本実施形態における変位検出
装置は、カメラのレンズ鏡筒に設けられ、固定筒１０３
に対して相対的に回転移動する回転筒１０５の変位を検
出する磁気エンコーダであり、スケール１３０，ＭＲ素
子１４７，ホルダ１４５，加圧ばね１４１，支持板１６
１，スペーサフィルム１４９，フレキシブルプリント配
線板（以下、フレキ）１５１等を備えている。
発明の実施の形態について、更に詳しく説明する。 （第１実施形態）図１は、本発明による変位検出装置を
備えたレンズ鏡筒の第１実施形態を示す斜視図である。
図２は、本発明による変位検出装置を示す図である。図
２（ａ）は、レンズ鏡筒の外周側から見た図であり、＋
Ｙ方向が不図示のカメラ本体側である。図２（ｂ）は、
被写体側（−Ｙ方向）から観察した図である。尚、説明
のため、図１及び図２中に示すように、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ
軸からなる座標系を設ける（以下、図１〜５について同
一の座標系を適用する）。本実施形態における変位検出
装置は、カメラのレンズ鏡筒に設けられ、固定筒１０３
に対して相対的に回転移動する回転筒１０５の変位を検
出する磁気エンコーダであり、スケール１３０，ＭＲ素
子１４７，ホルダ１４５，加圧ばね１４１，支持板１６
１，スペーサフィルム１４９，フレキシブルプリント配
線板（以下、フレキ）１５１等を備えている。
【００２４】固定筒１０３は、図示しないカメラ本体に
固定される固定部材である。固定筒１０３は、後述の支
持板１６１を固定する台座１０３ａ，加圧ばね１４１を
固定する台座１０３ｂを有している。
固定される固定部材である。固定筒１０３は、後述の支
持板１６１を固定する台座１０３ａ，加圧ばね１４１を
固定する台座１０３ｂを有している。
【００２５】回転筒１０５は、固定筒１０３に回転可能
に設けられ、図示しない駆動源から駆動力を得て回転
し、図示しないレンズ群をカム機構等によって駆動する
可動部材である。
に設けられ、図示しない駆動源から駆動力を得て回転
し、図示しないレンズ群をカム機構等によって駆動する
可動部材である。
【００２６】スケール１３０は、回転筒１０５の外周面
に接着により固定され、円周方向に磁気によってスケー
ルが設けられている磁気スケール部材である。
に接着により固定され、円周方向に磁気によってスケー
ルが設けられている磁気スケール部材である。
【００２７】ＭＲ素子（磁気抵抗素子）１４７は、ホル
ダ１４５に接着され、スケール１３０の磁気を検出する
検出素子本体である。図３は、ＭＲ素子１４７付近を拡
大した図である。ＭＲ素子１４７には、フレキ１５１が
接続されており、検出した磁気信号を不図示のレンズＣ
ＰＵに伝えるようになっている。ＭＲ素子１４７及びフ
レキ１５１のスケール１３０側には、スペーサフィルム
１４９が貼付けられており、ＭＲ素子１４７がスケール
１３０に対して正しく接触した場合に、両者の間隔が最
適な間隔となるようになっている。スケール１３０とス
ペーサフィルム１４９との接触位置をＳとする。
ダ１４５に接着され、スケール１３０の磁気を検出する
検出素子本体である。図３は、ＭＲ素子１４７付近を拡
大した図である。ＭＲ素子１４７には、フレキ１５１が
接続されており、検出した磁気信号を不図示のレンズＣ
ＰＵに伝えるようになっている。ＭＲ素子１４７及びフ
レキ１５１のスケール１３０側には、スペーサフィルム
１４９が貼付けられており、ＭＲ素子１４７がスケール
１３０に対して正しく接触した場合に、両者の間隔が最
適な間隔となるようになっている。スケール１３０とス
ペーサフィルム１４９との接触位置をＳとする。
【００２８】ホルダ１４５は、ＭＲ素子１４７を保持す
る部材であり、支持板１６１に支持されている。また、
ホルダ１４５は、ＭＲ素子１４７を保持している部分に
対応した反対側に球凸部１４５ａを備えている。ホルダ
１４５及びＭＲ素子１４７，スペーサフィルム１４９，
フレキ１５１等により、変位検出部が形成されている。
る部材であり、支持板１６１に支持されている。また、
ホルダ１４５は、ＭＲ素子１４７を保持している部分に
対応した反対側に球凸部１４５ａを備えている。ホルダ
１４５及びＭＲ素子１４７，スペーサフィルム１４９，
フレキ１５１等により、変位検出部が形成されている。
【００２９】加圧ばね１４１は、ホルダ１４５及びＭＲ
素子１４７をスケール１３０に対して加圧する加圧部材
である。加圧ばね１４１は、一端が台座１０３ｂにビス
１４４により固定され、もう一端が球凸部１４５ａに接
触して、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７をスケール１
３０に対して加圧している。したがって、加圧ばね１４
１は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７をスケール１３
０に対して加圧する加圧方向（−Ｚ方向）以外の方向に
は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７に対して力を加え
ることがない。また、加圧ばね１４１は、Ｚ方向以外で
は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７の位置を規制する
こともない。
素子１４７をスケール１３０に対して加圧する加圧部材
である。加圧ばね１４１は、一端が台座１０３ｂにビス
１４４により固定され、もう一端が球凸部１４５ａに接
触して、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７をスケール１
３０に対して加圧している。したがって、加圧ばね１４
１は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７をスケール１３
０に対して加圧する加圧方向（−Ｚ方向）以外の方向に
は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７に対して力を加え
ることがない。また、加圧ばね１４１は、Ｚ方向以外で
は、ホルダ１４５及びＭＲ素子１４７の位置を規制する
こともない。
【００３０】支持板１６１は、ばね性を備えた薄板状の
素材により形成され、ホルダ１４５を支持する支持部材
である。本実施形態では、支持板１６１とホルダ１４５
との固定は、接着により行った。スペーサフィルム１４
９がスケール１３０と接触する位置Ｓを通り、ＸＹ平面
に平行な平面（Ｚ軸に垂直な面）を接触平面とすると、
支持板１６１は、接触平面に対して略平行に配置されて
おり、一端が固定筒１０３の台座１０３ａにビス１４３
により固定され、もう一端がホルダ１４５に固定されて
いる。支持板１６１は、ばね性を備えた素材により形成
されているが、スペーサフィルム１４９を介してＭＲ素
子１４７がスケール１３０に接した状態では、付勢力を
発生しない（ばねチャージされていない）ようになって
いる。また、支持板１６１は、薄板状の素材により形成
されているので、接触平面に略直交する方向（Ｚ軸方
向）の支持を殆ど行わず、ホルダ１４５は、軽い力でＺ
軸方向に移動可能になっている。一方、支持板１６１の
接触平面内方向の剛性は、Ｚ軸方向に比べて高く、変形
しにくいので、この面内方向の支持を確実に行える。
素材により形成され、ホルダ１４５を支持する支持部材
である。本実施形態では、支持板１６１とホルダ１４５
との固定は、接着により行った。スペーサフィルム１４
９がスケール１３０と接触する位置Ｓを通り、ＸＹ平面
に平行な平面（Ｚ軸に垂直な面）を接触平面とすると、
支持板１６１は、接触平面に対して略平行に配置されて
おり、一端が固定筒１０３の台座１０３ａにビス１４３
により固定され、もう一端がホルダ１４５に固定されて
いる。支持板１６１は、ばね性を備えた素材により形成
されているが、スペーサフィルム１４９を介してＭＲ素
子１４７がスケール１３０に接した状態では、付勢力を
発生しない（ばねチャージされていない）ようになって
いる。また、支持板１６１は、薄板状の素材により形成
されているので、接触平面に略直交する方向（Ｚ軸方
向）の支持を殆ど行わず、ホルダ１４５は、軽い力でＺ
軸方向に移動可能になっている。一方、支持板１６１の
接触平面内方向の剛性は、Ｚ軸方向に比べて高く、変形
しにくいので、この面内方向の支持を確実に行える。
【００３１】加圧ばね１４１を固定する台座１０３ｂ
と、支持板１６１を固定する台座１０３ａとが、ＭＲ素
子１４７を挟んで両側（＋Ｘ側と−Ｘ側）に振り分けて
配置されており、加圧ばね１４１及び支持板１６１の長
手方向は、スケール１３０の移動方向に沿う方向に配置
されている。したがって、変位検出装置の光軸方向のサ
イズが小型になっている。
と、支持板１６１を固定する台座１０３ａとが、ＭＲ素
子１４７を挟んで両側（＋Ｘ側と−Ｘ側）に振り分けて
配置されており、加圧ばね１４１及び支持板１６１の長
手方向は、スケール１３０の移動方向に沿う方向に配置
されている。したがって、変位検出装置の光軸方向のサ
イズが小型になっている。
【００３２】本実施形態によれば、支持板１６１により
ホルダ１４５を支持し、加圧ばね１４１により加圧を行
うようにしたので、スケール１３０に対してＭＲ素子１
４７が傾くことがなく、十分な検出信号を得ることがで
きる。また、ＭＲ素子１４７の取り付けにガタがないの
で、正確にスケール１３０を読み取ることができる。更
に、部品の形状を簡単にしたので、製造が簡単で、精度
よく、かつ、安価に製造することができる。
ホルダ１４５を支持し、加圧ばね１４１により加圧を行
うようにしたので、スケール１３０に対してＭＲ素子１
４７が傾くことがなく、十分な検出信号を得ることがで
きる。また、ＭＲ素子１４７の取り付けにガタがないの
で、正確にスケール１３０を読み取ることができる。更
に、部品の形状を簡単にしたので、製造が簡単で、精度
よく、かつ、安価に製造することができる。
【００３３】（第２実施形態）図４は、本発明による変
位検出装置を備えたレンズ鏡筒の第２実施形態を示す斜
視図である。図５は、本実施形態における変位検出装置
を示す図であり、図２と同様に示している。第２実施形
態は、第１実施形態における支持板１６１の形状及び配
置を改良した支持板１６２とした点のみが第１実施形態
と異なるので、他の共通する部分については、同一の符
号を附して、重複する説明を省略する。
位検出装置を備えたレンズ鏡筒の第２実施形態を示す斜
視図である。図５は、本実施形態における変位検出装置
を示す図であり、図２と同様に示している。第２実施形
態は、第１実施形態における支持板１６１の形状及び配
置を改良した支持板１６２とした点のみが第１実施形態
と異なるので、他の共通する部分については、同一の符
号を附して、重複する説明を省略する。
【００３４】図６は、第１実施形態における支持板１６
１と、第２実施形態における支持板１６２とを比較して
示した図である。第１実施形態における支持板１６１
は、先にも述べたように、接触平面に略直交する方向
（Ｚ軸方向）の支持を殆ど行わず、ホルダ１４５は、軽
い力でＺ軸方向に移動可能になっている。回転筒１０５
が回転すると、回転筒１０５の部品精度等の影響により
うねりが生じ、接触位置Ｓは、Ｚ軸方向に振れる。この
ときホルダ１４５がより確実に追従するために、加圧ば
ね１４１の加圧力（付勢力）を大きくすることも考えら
れるが、加圧ばね１４１の加圧力を大きくすると、スケ
ール１３０とＭＲ素子１４７との摺動抵抗が増大し、回
転筒１０５の回転駆動の妨げとなる。そこで、支持板１
６１によるＺ軸方向の支持力を小さくすることにより、
ホルダ１４５の追従性をよくすることが望ましい。
１と、第２実施形態における支持板１６２とを比較して
示した図である。第１実施形態における支持板１６１
は、先にも述べたように、接触平面に略直交する方向
（Ｚ軸方向）の支持を殆ど行わず、ホルダ１４５は、軽
い力でＺ軸方向に移動可能になっている。回転筒１０５
が回転すると、回転筒１０５の部品精度等の影響により
うねりが生じ、接触位置Ｓは、Ｚ軸方向に振れる。この
ときホルダ１４５がより確実に追従するために、加圧ば
ね１４１の加圧力（付勢力）を大きくすることも考えら
れるが、加圧ばね１４１の加圧力を大きくすると、スケ
ール１３０とＭＲ素子１４７との摺動抵抗が増大し、回
転筒１０５の回転駆動の妨げとなる。そこで、支持板１
６１によるＺ軸方向の支持力を小さくすることにより、
ホルダ１４５の追従性をよくすることが望ましい。
【００３５】図７は、ホルダ１４５とスケール１３０と
の接触状態を、傾きを誇張して示した図である。回転筒
１０５の部品精度等の影響により回転筒１０５に傾きが
生じ、スケール１３０の幅に関してＭＲ素子１４７が片
当たりしてしまうことがある〔図７（ａ）〕。そこで、
ＭＲ素子１４７とスケール１３０との接触位置の略中央
を加圧すると〔図７（ｂ）における矢印Ａ〕、支持板１
６２がねじれ変形しＭＲ素子１４７がスケール１３０に
ならって密着することができる〔図７（ｂ）〕。本実施
形態では、球凸部１４５ａをＭＲ素子１４７とスケール
１３０との接触位置の略中央に対応する位置に配置して
おり、加圧ばね１４１がＭＲ素子１４７の接触位置の略
中央を加圧するようになっている。
の接触状態を、傾きを誇張して示した図である。回転筒
１０５の部品精度等の影響により回転筒１０５に傾きが
生じ、スケール１３０の幅に関してＭＲ素子１４７が片
当たりしてしまうことがある〔図７（ａ）〕。そこで、
ＭＲ素子１４７とスケール１３０との接触位置の略中央
を加圧すると〔図７（ｂ）における矢印Ａ〕、支持板１
６２がねじれ変形しＭＲ素子１４７がスケール１３０に
ならって密着することができる〔図７（ｂ）〕。本実施
形態では、球凸部１４５ａをＭＲ素子１４７とスケール
１３０との接触位置の略中央に対応する位置に配置して
おり、加圧ばね１４１がＭＲ素子１４７の接触位置の略
中央を加圧するようになっている。
【００３６】第２実施形態では、支持板１６２の撓む部
分に剛性低減部として孔１６２ａを設け、ホルダ１４５
がより軽い力でＺ軸方向に移動することができるように
した。孔１６２ａは、支持板１６２の幅の中央に設けて
いる。支持板１６２の剛性を下げるのみならば、板幅を
狭くするのが簡単であるが、支持板１６２は、Ｚ軸方向
の変形抵抗を下げたとしても、ホルダ１４５の接触平面
方向の位置を正確に支持する必要がある。そこで、本実
施形態では、支持板１６２の幅の中央に孔１６２ａを設
けることにより、接触平面方向の剛性をあまり低下させ
ることなく、Ｚ軸方向の撓み剛性を効果的に低下させて
いる。さらに、支持板１６２のねじれ剛性を低下させる
効果もある。
分に剛性低減部として孔１６２ａを設け、ホルダ１４５
がより軽い力でＺ軸方向に移動することができるように
した。孔１６２ａは、支持板１６２の幅の中央に設けて
いる。支持板１６２の剛性を下げるのみならば、板幅を
狭くするのが簡単であるが、支持板１６２は、Ｚ軸方向
の変形抵抗を下げたとしても、ホルダ１４５の接触平面
方向の位置を正確に支持する必要がある。そこで、本実
施形態では、支持板１６２の幅の中央に孔１６２ａを設
けることにより、接触平面方向の剛性をあまり低下させ
ることなく、Ｚ軸方向の撓み剛性を効果的に低下させて
いる。さらに、支持板１６２のねじれ剛性を低下させる
効果もある。
【００３７】また、支持板１６２は、取り付け位置が第
１実施形態における支持板１６１と異なり、ほぼ接触平
面上となる位置に設けられている。図８は、第２実施形
態における支持板１６２を、第１実施形態における支持
板１６１と同様な位置に設けた場合を説明する仮想の図
である。本実施形態における支持板１６２は、上述のよ
うに、Ｚ軸方向の曲げ剛性を非常に小さくしている。仮
に、図８に示すように支持板１６２を取り付けたとする
と、回転筒１０５が矢印Ｒ方向に回転したときに、接触
位置Ｓにおける摩擦力Ｆによって作用する曲げモーメン
トＭが大きくなり、支持板１６２が変形してしまう。本
実施形態では、支持板１６２が、ほぼ接触平面上となる
位置に設けられているので、曲げモーメントが小さくな
り、変形を防止することができる。
１実施形態における支持板１６１と異なり、ほぼ接触平
面上となる位置に設けられている。図８は、第２実施形
態における支持板１６２を、第１実施形態における支持
板１６１と同様な位置に設けた場合を説明する仮想の図
である。本実施形態における支持板１６２は、上述のよ
うに、Ｚ軸方向の曲げ剛性を非常に小さくしている。仮
に、図８に示すように支持板１６２を取り付けたとする
と、回転筒１０５が矢印Ｒ方向に回転したときに、接触
位置Ｓにおける摩擦力Ｆによって作用する曲げモーメン
トＭが大きくなり、支持板１６２が変形してしまう。本
実施形態では、支持板１６２が、ほぼ接触平面上となる
位置に設けられているので、曲げモーメントが小さくな
り、変形を防止することができる。
【００３８】本実施形態によれば、支持板１６２に孔１
６２ａを設けたので、より軽い力でホルダ１４５がＺ方
向に移動することができ、加圧ばね１４１の付勢力を大
きくすることなく、スケール１３０のうねり等に対する
ホルダ１４５の追従性を向上することができる。また、
支持板１６２が、ほぼ接触平面上となる位置に設けられ
ているので、曲げモーメントが小さくなり、孔１６２ａ
を設けることにより支持板１６２の曲げ剛性が低くなっ
ても、変形を防止することができる。
６２ａを設けたので、より軽い力でホルダ１４５がＺ方
向に移動することができ、加圧ばね１４１の付勢力を大
きくすることなく、スケール１３０のうねり等に対する
ホルダ１４５の追従性を向上することができる。また、
支持板１６２が、ほぼ接触平面上となる位置に設けられ
ているので、曲げモーメントが小さくなり、孔１６２ａ
を設けることにより支持板１６２の曲げ剛性が低くなっ
ても、変形を防止することができる。
【００３９】（変形形態）以上説明した実施形態に限定
されることなく、種々の変形や変更が可能であって、そ
れらも本発明の均等の範囲内である。例えば、各実施形
態において、支持板１６１，１６２とホルダ１４５との
固定は、接着により行う例を示したが、これに限らず、
例えば、熱カシメ，インサート成型等、他の固定方法で
もよい。
されることなく、種々の変形や変更が可能であって、そ
れらも本発明の均等の範囲内である。例えば、各実施形
態において、支持板１６１，１６２とホルダ１４５との
固定は、接着により行う例を示したが、これに限らず、
例えば、熱カシメ，インサート成型等、他の固定方法で
もよい。
【００４０】また、第２実施形態において、支持板１６
２には、孔１６２ａを設けており、かつ、ほぼ接触平面
上となる位置に設けられている例を示したが、これに限
らず、例えば、孔１６２ａを設けた上で配置を第１実施
形態と同様にしてもよいし、逆に、孔１６２ａを設けず
に、ほぼ接触平面上となる位置に設けてもよい。
２には、孔１６２ａを設けており、かつ、ほぼ接触平面
上となる位置に設けられている例を示したが、これに限
らず、例えば、孔１６２ａを設けた上で配置を第１実施
形態と同様にしてもよいし、逆に、孔１６２ａを設けず
に、ほぼ接触平面上となる位置に設けてもよい。
【００４１】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、請求項１の
発明によれば、支持部材が、接触平面に略直交する方向
に移動可能であり、接触平面に略直交する方向以外の移
動は、規制された状態で変位検出部を支持するので、ス
ケールに対して変位検出部が傾くことなく、十分な検出
信号を得ることができ、また、ガタもなく、正確にスケ
ールを読み取ることができる。
発明によれば、支持部材が、接触平面に略直交する方向
に移動可能であり、接触平面に略直交する方向以外の移
動は、規制された状態で変位検出部を支持するので、ス
ケールに対して変位検出部が傾くことなく、十分な検出
信号を得ることができ、また、ガタもなく、正確にスケ
ールを読み取ることができる。
【００４２】請求項２の発明によれば、支持部材は、ば
ね性を備えた薄板状の部材により形成されているので、
安価に本発明を実現することができる。
ね性を備えた薄板状の部材により形成されているので、
安価に本発明を実現することができる。
【００４３】請求項３の発明によれば、支持部材は、一
端が固定部材に固定され、他端が変位検出部を支持する
ので、支持部材を簡単な構成とすることができる。
端が固定部材に固定され、他端が変位検出部を支持する
ので、支持部材を簡単な構成とすることができる。
【００４４】請求項４の発明によれば、支持部材は、ス
ケールの移動方向に沿う方向に長手方向が配置されてい
るので、スペースを有効に利用することができ、小型の
変位検出装置とすることができる。
ケールの移動方向に沿う方向に長手方向が配置されてい
るので、スペースを有効に利用することができ、小型の
変位検出装置とすることができる。
【００４５】請求項５の発明によれば、加圧部材は、変
位検出部の接触位置の略中央を加圧するので、支持部材
がねじれ変形して変位検出部がスケールにならい、変位
検出部とスケールとの密着度を高くすることができる。
位検出部の接触位置の略中央を加圧するので、支持部材
がねじれ変形して変位検出部がスケールにならい、変位
検出部とスケールとの密着度を高くすることができる。
【００４６】請求項６の発明によれば、支持部材は、接
触平面上又は接触平面の近くに設けられ、接触平面に対
して略平行に配置されているので、支持部材が変形する
ことを防止することができる。
触平面上又は接触平面の近くに設けられ、接触平面に対
して略平行に配置されているので、支持部材が変形する
ことを防止することができる。
【００４７】請求項７の発明によれば、支持部材は、接
触平面に略直交する方向に変位検出部が移動するときに
撓む部分に、孔形状又は肉抜き形状により形成された剛
性低減部を有するので、変位検出部のスケールに対する
追従性を高くすることができる。
触平面に略直交する方向に変位検出部が移動するときに
撓む部分に、孔形状又は肉抜き形状により形成された剛
性低減部を有するので、変位検出部のスケールに対する
追従性を高くすることができる。
【００４８】請求項８の発明によれば、剛性低減部は、
支持部材の幅の略中央付近に設けられているので、接触
平面方向の位置を正確に保つことができる。
支持部材の幅の略中央付近に設けられているので、接触
平面方向の位置を正確に保つことができる。
【００４９】請求項９の発明によれば、加圧部材は、変
位検出部をスケールに対して加圧する加圧方向以外の方
向には、変位検出部に力を加えず、位置の規制もしない
ので、変位検出部の位置を正確に保持することができ
る。
位検出部をスケールに対して加圧する加圧方向以外の方
向には、変位検出部に力を加えず、位置の規制もしない
ので、変位検出部の位置を正確に保持することができ
る。
【００５０】請求項１０の発明によれば、加圧部材は、
スケールの移動方向に沿う方向に長手方向が配置されて
いるので、スペースを有効に利用することができ、小型
の変位検出装置とすることができる。
スケールの移動方向に沿う方向に長手方向が配置されて
いるので、スペースを有効に利用することができ、小型
の変位検出装置とすることができる。
【００５１】請求項１１の発明によれば、スケールは、
異なる極性の磁性を移動方向に沿って交互に配置した磁
気スケールであって、変位検出部は、磁気スケールの磁
気を検出する磁気抵抗素子を含むので、正確に変位を検
出することができる。
異なる極性の磁性を移動方向に沿って交互に配置した磁
気スケールであって、変位検出部は、磁気スケールの磁
気を検出する磁気抵抗素子を含むので、正確に変位を検
出することができる。
【００５２】請求項１２の発明によれば、撮影光学系
と、撮影装置本体に装着される固定部材と、撮影光学系
の少なくとも一部を駆動するときに回転する可動部材の
変位を検出する請求項１から請求項１０までのいずれか
１項に記載の変位検出装置と、を備えるので、撮影光学
系を正確に制御可能なレンズ鏡筒を、特に光軸方向にお
いて小型化することができる。
と、撮影装置本体に装着される固定部材と、撮影光学系
の少なくとも一部を駆動するときに回転する可動部材の
変位を検出する請求項１から請求項１０までのいずれか
１項に記載の変位検出装置と、を備えるので、撮影光学
系を正確に制御可能なレンズ鏡筒を、特に光軸方向にお
いて小型化することができる。
【図１】本発明による変位検出装置を備えたレンズ鏡筒
の第１実施形態を示す斜視図である。
の第１実施形態を示す斜視図である。
【図２】第１実施形態における変位検出装置を示す図で
ある。
ある。
【図３】ＭＲ素子１４７付近を拡大した図である。
【図４】本発明による変位検出装置を備えたレンズ鏡筒
の第２実施形態を示す斜視図である。
の第２実施形態を示す斜視図である。
【図５】第２実施形態における変位検出装置を示す図で
あり、図２と同様に示した図である。
あり、図２と同様に示した図である。
【図６】第１実施形態における支持板１６１と、第２実
施形態における支持板１６２とを比較して示した図であ
る。
施形態における支持板１６２とを比較して示した図であ
る。
【図７】ホルダ１４５とスケール１３０との接触状態
を、傾きを誇張して示した図である。
を、傾きを誇張して示した図である。
【図８】第２実施形態における支持板１６２を、第１実
施形態における支持板１６１と同様な位置に設けた場合
を説明する仮想の図である。
施形態における支持板１６１と同様な位置に設けた場合
を説明する仮想の図である。
【図９】従来の変位検出装置を有するレンズ鏡筒１を示
す図である。
す図である。
【図１０】加圧ばね４１、ＭＲ素子４７及び磁気部材２
１の拡大側面図である。
１の拡大側面図である。
【図１１】特開２０００−２０５８０８号公報に提案さ
れている従来の変位検出装置を有するレンズ鏡筒１’を
示す図である。
れている従来の変位検出装置を有するレンズ鏡筒１’を
示す図である。
【図１２】加圧ばね２４１及びホルダ２４５付近の拡大
側面図である。
側面図である。
１０３ 固定筒
１０５ 回転筒
１３０ 磁気スケール
１４１ 加圧ばね
１４５ ホルダ
１４７ ＭＲ素子
１４９ スペーサフィルム
１５１ フレキシブルプリント配線板（フレキ）
１６１，１６２ 支持板
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2F063 AA02 BA00 BC02 CA21 DA02
DB07 DC02 DD02 EB18 GA52
GA68
2F077 AA42 AA49 NN04 NN17 PP14
VV02 VV14 VV31
2H044 AE01 BE18 DC01
Claims (12)
- 【請求項１】 固定部材に対して相対的に変位可能に設
けられた可動部材の変位を検出する変位検出装置であっ
て、 前記可動部材と一体的に変位可能に設けられたスケール
と、 前記スケールに直接的又は間接的に接触し、前記スケー
ルの変位を検出する変位検出部と、 前記変位検出部の前記スケールとの接触位置において前
記スケールに接する接触平面に略直交する方向に移動可
能であり、前記接触平面に略直交する方向以外の移動
は、規制された状態で前記変位検出部を支持する支持部
材と、 前記変位検出部を前記スケールに対して加圧する加圧部
材と、 を備える変位検出装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の変位検出装置におい
て、 前記支持部材は、ばね性を備えた薄板状の部材により形
成されていること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載の変位検出装置におい
て、 前記支持部材は、一端が前記固定部材に固定され、他端
が前記変位検出部を支持すること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項４】 請求項２又は請求項３に記載の変位検出
装置において、 前記支持部材は、前記スケールの移動方向に沿う方向に
長手方向が配置されていること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項５】 請求項１から請求項４までのいずれか１
項に記載の変位検出装置において、 前記加圧部材は、前記変位検出部の接触位置の略中央を
加圧すること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項６】 請求項２から請求項５までのいずれか１
項に記載の変位検出装置において、 前記スケールの前記変位検出部と接触する部分は、円筒
面であって、 前記支持部材は、前記接触平面上又は前記接触平面の近
くに設けられ、前記接触平面に対して略平行に配置され
ていること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項７】 請求項２から請求項６までのいずれか１
項に記載の変位検出装置において、 前記支持部材は、前記接触平面に略直交する方向に前記
変位検出部が移動するときに撓む部分に、孔形状又は肉
抜き形状により形成された剛性低減部を有すること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の変位検出装置におい
て、 前記剛性低減部は、前記支持部材の幅の略中央付近に設
けられていること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項９】 請求項１から請求項８までのいずれか１
項に記載の変位検出装置において、 前記加圧部材は、前記変位検出部を前記スケールに対し
て加圧する加圧方向以外の方向には、前記変位検出部に
力を加えず、位置の規制もしないこと、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項１０】 請求項１から請求項９までのいずれか
１項に記載の変位検出装置において、 前記加圧部材は、前記スケールの移動方向に沿う方向に
長手方向が配置されていること、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項１１】 請求項１から請求項１０までのいずれ
か１項に記載の変位検出装置において、 前記スケールは、異なる極性の磁性を移動方向に沿って
交互に配置した磁気スケールであって、 前記変位検出部は、前記磁気スケールの磁気を検出する
磁気抵抗素子を含むこと、 を特徴とする変位検出装置。 - 【請求項１２】 撮影光学系と、 撮影装置本体に装着される固定部材と、 前記撮影光学系の少なくとも一部を駆動するときに回転
する可動部材の変位を検出する請求項１から請求項１１
までのいずれか１項に記載の変位検出装置と、 を備えるレンズ鏡筒。
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|---|---|---|---|
| JP2001340298A JP2003139567A (ja) | 2001-11-06 | 2001-11-06 | 変位検出装置及びレンズ鏡筒 |
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|---|---|---|---|
| JP2001340298A JP2003139567A (ja) | 2001-11-06 | 2001-11-06 | 変位検出装置及びレンズ鏡筒 |
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|---|---|
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|---|---|---|---|
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| WO (1) | WO2003040661A1 (ja) |
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2002
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