JP2003133275A - 加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置 - Google Patents
加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置Info
- Publication number
- JP2003133275A JP2003133275A JP2001329577A JP2001329577A JP2003133275A JP 2003133275 A JP2003133275 A JP 2003133275A JP 2001329577 A JP2001329577 A JP 2001329577A JP 2001329577 A JP2001329577 A JP 2001329577A JP 2003133275 A JP2003133275 A JP 2003133275A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- center
- workpiece
- grinding
- center table
- cleaning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 83
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 69
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 238000005406 washing Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 39
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被加工物の中心位置合わせ機能と被加工物の
洗浄機能と具備する中心位置合わせ兼洗浄機構および中
心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置を提供する。
カ 【解決手段】 中心位置合わせ兼洗浄機構は、被加工物
を載置するセンターテーブルと、センターテーブル上に
載置された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位
置を合わせる中心位置合わせ手段と、センターテーブル
に負圧を作用せしめる吸引手段と、センターテーブルを
回転駆動する回転駆動手段と、センターテーブルに保持
された被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを
具備している。
洗浄機能と具備する中心位置合わせ兼洗浄機構および中
心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置を提供する。
カ 【解決手段】 中心位置合わせ兼洗浄機構は、被加工物
を載置するセンターテーブルと、センターテーブル上に
載置された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位
置を合わせる中心位置合わせ手段と、センターテーブル
に負圧を作用せしめる吸引手段と、センターテーブルを
回転駆動する回転駆動手段と、センターテーブルに保持
された被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを
具備している。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエーハ等
の円形状の被加工物を加工するための加工装置に用いる
中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄
機構を備えた研削装置に関する。
の円形状の被加工物を加工するための加工装置に用いる
中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄
機構を備えた研削装置に関する。
【0002】
【従来の技術】当業者には周知の如く、半導体デバイス
製造工程においては、IC、LSI等の回路が複数個形
成された円形状の半導体ウエーハの裏面を研削装置によ
って研削し、半導体ウエーハを薄く加工している。半導
体ウエーハの裏面を研削する研削装置は、半導体ウエー
ハを収容したカセットを載置するカセット載置領域と、
該カセット載置領域に載置されたカセットから搬出され
た研削前の半導体ウエーハの中心位置合わせ機構を配置
した仮置き領域と、該仮置き領域から搬送された半導体
ウエーハをチャックテーブル機構に載置する被加工物搬
入・搬出領域と、チャックテーブル機構に保持されてい
る半導体ウエーハを研削するため研削ユニットを配置し
た研削領域と、研削後の半導体ウエーハを洗浄する洗浄
手段を配置した洗浄領域を備えている。このようにレイ
アウトされた研削装置によれば、半導体ウエーハを上記
各領域に効率良く搬送することができる。
製造工程においては、IC、LSI等の回路が複数個形
成された円形状の半導体ウエーハの裏面を研削装置によ
って研削し、半導体ウエーハを薄く加工している。半導
体ウエーハの裏面を研削する研削装置は、半導体ウエー
ハを収容したカセットを載置するカセット載置領域と、
該カセット載置領域に載置されたカセットから搬出され
た研削前の半導体ウエーハの中心位置合わせ機構を配置
した仮置き領域と、該仮置き領域から搬送された半導体
ウエーハをチャックテーブル機構に載置する被加工物搬
入・搬出領域と、チャックテーブル機構に保持されてい
る半導体ウエーハを研削するため研削ユニットを配置し
た研削領域と、研削後の半導体ウエーハを洗浄する洗浄
手段を配置した洗浄領域を備えている。このようにレイ
アウトされた研削装置によれば、半導体ウエーハを上記
各領域に効率良く搬送することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】而して、上記研削装置
においては、カセットから搬出された研削前の半導体ウ
エーハを仮置き領域を介して被加工物搬入・搬出領域に
位置付けられたチャックテーブル機構に搬入する経路
と、被加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャック
テーブル機構上の研削後の半導体ウエーハを洗浄領域に
配設された洗浄手段へ搬出する経路との2系統の経路が
必要となるため、装置が大型化する原因となっている。
また、他の加工装置においても、被加工物の中心位置合
わせを行う中心位置合わせ機構と被加工物を洗浄する洗
浄機構を配置するスペースが必要であり、加工装置の小
型化を妨げる原因となっている。
においては、カセットから搬出された研削前の半導体ウ
エーハを仮置き領域を介して被加工物搬入・搬出領域に
位置付けられたチャックテーブル機構に搬入する経路
と、被加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャック
テーブル機構上の研削後の半導体ウエーハを洗浄領域に
配設された洗浄手段へ搬出する経路との2系統の経路が
必要となるため、装置が大型化する原因となっている。
また、他の加工装置においても、被加工物の中心位置合
わせを行う中心位置合わせ機構と被加工物を洗浄する洗
浄機構を配置するスペースが必要であり、加工装置の小
型化を妨げる原因となっている。
【0004】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その第1の技術課題は、被加工物の中心位置合わ
せ機能と被加工物の洗浄機能と具備する中心位置合わせ
兼洗浄機構を提供することにある。また、本発明の第2
の技術課題は、カセットから搬出された研削前の被加工
物の中心位置合わせ機能と、研削後の被加工物の洗浄機
能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構を配置するこ
とによって、装置全体の小型化を図ることができる研削
装置を提供することにある。
あり、その第1の技術課題は、被加工物の中心位置合わ
せ機能と被加工物の洗浄機能と具備する中心位置合わせ
兼洗浄機構を提供することにある。また、本発明の第2
の技術課題は、カセットから搬出された研削前の被加工
物の中心位置合わせ機能と、研削後の被加工物の洗浄機
能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構を配置するこ
とによって、装置全体の小型化を図ることができる研削
装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記第1の技術課題を解
決するため、本発明によれば、円形状の被加工物を載置
する載置面を有するセンターテーブルと、該センターテ
ーブル上に載置された被加工物の外周縁に作用し被加工
物の中心位置を合わせる中心位置合わせ手段と、該セン
ターテーブルに負圧を作用せしめる吸引手段と、該セン
ターテーブルを回転駆動する回転駆動手段と、該センタ
ーテーブルに保持された被加工物に洗浄水を供給する洗
浄水供給手段とを具備する、ことを特徴とする加工装置
の中心位置合わせ兼洗浄機構が提供される。
決するため、本発明によれば、円形状の被加工物を載置
する載置面を有するセンターテーブルと、該センターテ
ーブル上に載置された被加工物の外周縁に作用し被加工
物の中心位置を合わせる中心位置合わせ手段と、該セン
ターテーブルに負圧を作用せしめる吸引手段と、該セン
ターテーブルを回転駆動する回転駆動手段と、該センタ
ーテーブルに保持された被加工物に洗浄水を供給する洗
浄水供給手段とを具備する、ことを特徴とする加工装置
の中心位置合わせ兼洗浄機構が提供される。
【0006】上記中心位置合わせ手段は、中央部に上記
センターテーブルが遊嵌する穴を有し該穴を中心として
放射状に形成された複数個の案内溝を備えた案内テーブ
ルと、該案内テーブルの下側に配設された回転体と、該
回転体に一端部がそれぞれ回動可能に支持された該複数
個の案内溝と対応する複数個のアームと、該複数個のア
ームの他端部にそれぞれ取り付けられ該複数個の案内溝
にそれぞれ挿通して配設された複数個の調整ピンと、該
回転体を回転駆動せしめる回転駆動手段と、該回転体に
所定以上の負荷が作用すると該回転体への駆動力の伝達
を規制するトルクリミッターとからなっている。
センターテーブルが遊嵌する穴を有し該穴を中心として
放射状に形成された複数個の案内溝を備えた案内テーブ
ルと、該案内テーブルの下側に配設された回転体と、該
回転体に一端部がそれぞれ回動可能に支持された該複数
個の案内溝と対応する複数個のアームと、該複数個のア
ームの他端部にそれぞれ取り付けられ該複数個の案内溝
にそれぞれ挿通して配設された複数個の調整ピンと、該
回転体を回転駆動せしめる回転駆動手段と、該回転体に
所定以上の負荷が作用すると該回転体への駆動力の伝達
を規制するトルクリミッターとからなっている。
【0007】上記第2の技術課題を解決するため、本発
明によれば、円形状の被加工物を収容したカセットを載
置するカセット載置領域と、該カセット載置領域に載置
されたカセットから搬出された被加工物を仮載置する仮
置き領域と、該仮置き領域から搬送された被加工物を保
持するチャックテーブル機構と、該チャックテーブル機
構に保持されている被加工物を研削するための研削工具
を備えた研削ユニットと、を具備する研削装置におい
て、該仮置き領域には、被加工物を載置する載置面を有
するセンターテーブルと、該センターテーブル上に載置
された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を
合わせる中心位置合わせ手段と、該センターテーブルに
負圧を作用せしめる吸引手段と、該センターテーブルを
回転駆動する回転駆動手段と、該センターテーブルに保
持された被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段と
を具備する中心位置合わせ兼洗浄機構が配設されてい
る、ことを特徴とする研削装置が提供される。
明によれば、円形状の被加工物を収容したカセットを載
置するカセット載置領域と、該カセット載置領域に載置
されたカセットから搬出された被加工物を仮載置する仮
置き領域と、該仮置き領域から搬送された被加工物を保
持するチャックテーブル機構と、該チャックテーブル機
構に保持されている被加工物を研削するための研削工具
を備えた研削ユニットと、を具備する研削装置におい
て、該仮置き領域には、被加工物を載置する載置面を有
するセンターテーブルと、該センターテーブル上に載置
された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を
合わせる中心位置合わせ手段と、該センターテーブルに
負圧を作用せしめる吸引手段と、該センターテーブルを
回転駆動する回転駆動手段と、該センターテーブルに保
持された被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段と
を具備する中心位置合わせ兼洗浄機構が配設されてい
る、ことを特徴とする研削装置が提供される。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明に従って構成された
中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄
機構を備えた研削装置の好適な実施形態について、添付
図面を参照して詳細に説明する。
中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄
機構を備えた研削装置の好適な実施形態について、添付
図面を参照して詳細に説明する。
【0009】図1には本発明に従って構成された中心位
置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置の斜視図が示され
ている。研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジン
グを具備している。装置ハウジング2は、細長く延在す
る直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1
において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる
直立壁22とを有している。このように構成された装置
ハウジングには、図示の実施形態においては2つの研削
ライン2a、2bが平行に設けられている。なお、2つ
の研削ライン2a、2bを構成する各機構は実質的に同
一であるため同一機構には同一符号を付して説明する。
装置ハウジング2を構成する直立壁22の前面には、上
下方向に延びる一対の案内レール221、221が設け
られている。この一対の案内レール221、221に研
削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置の斜視図が示され
ている。研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジン
グを具備している。装置ハウジング2は、細長く延在す
る直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1
において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる
直立壁22とを有している。このように構成された装置
ハウジングには、図示の実施形態においては2つの研削
ライン2a、2bが平行に設けられている。なお、2つ
の研削ライン2a、2bを構成する各機構は実質的に同
一であるため同一機構には同一符号を付して説明する。
装置ハウジング2を構成する直立壁22の前面には、上
下方向に延びる一対の案内レール221、221が設け
られている。この一対の案内レール221、221に研
削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
【0010】研削ユニット3は、移動基台31と該移動
基台31に装着されたスピンドルユニット32を具備し
ている。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる
一対の脚部311、311が設けられており、この一対
の脚部311、311に上記一対の案内レール221、
221と摺動可能に係合する被案内溝が形成されてい
る。このように直立壁22に設けられた一対の案内レー
ル221、221に摺動可能に装着された移動基台31
の前面には前方に突出した支持部313が設けられてい
る。この支持部313にスピンドルユニット32が取り
付けられる。
基台31に装着されたスピンドルユニット32を具備し
ている。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる
一対の脚部311、311が設けられており、この一対
の脚部311、311に上記一対の案内レール221、
221と摺動可能に係合する被案内溝が形成されてい
る。このように直立壁22に設けられた一対の案内レー
ル221、221に摺動可能に装着された移動基台31
の前面には前方に突出した支持部313が設けられてい
る。この支持部313にスピンドルユニット32が取り
付けられる。
【0011】スピンドルユニット32は、支持部313
に装着されたスピンドルハウジング321と、該スピン
ドルハウジング321に回転自在に配設された回転スピ
ンドル322と、該回転スピンドル322を回転駆動す
るための駆動源としてのサーボモータ323とを具備し
ており、サーボモータ323の出力軸が図示しない減速
機構を介して回転スピンドル322と伝動連結されてい
る。回転スピンドル322の下端部はスピンドルハウジ
ング321の下端を越えて下方に突出せしめられてお
り、回転スピンドル322の下端には研削工具325が
装着されている。詳述すると、
に装着されたスピンドルハウジング321と、該スピン
ドルハウジング321に回転自在に配設された回転スピ
ンドル322と、該回転スピンドル322を回転駆動す
るための駆動源としてのサーボモータ323とを具備し
ており、サーボモータ323の出力軸が図示しない減速
機構を介して回転スピンドル322と伝動連結されてい
る。回転スピンドル322の下端部はスピンドルハウジ
ング321の下端を越えて下方に突出せしめられてお
り、回転スピンドル322の下端には研削工具325が
装着されている。詳述すると、
【0012】図示の実施形態における研削装置は、上記
研削ユニット3を上記一対の案内レール221、221
に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの載置面
と垂直な方向)に移動せしめる研削ユニット送り機構4
を備えている。この研削ユニット送り機構4は、直立壁
22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド
41を具備している。この雄ねじロッド41は、その上
端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部
材42および43によって回転自在に支持されている。
上側の軸受部材42には雄ねじロッド41を回転駆動す
るための駆動源としてのパルスモータ44が配設されて
おり、このパルスモータ44の出力軸が雄ねじロッド4
1に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその
幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していな
い)も形成されており、この連結部には鉛直方向に延び
る貫通雌ねじ穴が形成されており、この雌ねじ穴に上記
雄ねじロッド41が螺合せしめられている。従って、パ
ルスモータ44が正転すると移動基台31即ち研削ユニ
ット3が下降せしめられ、パルスモータ44が逆転する
と移動基台31即ち研削ユニット3が上昇せしめられ
る。
研削ユニット3を上記一対の案内レール221、221
に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの載置面
と垂直な方向)に移動せしめる研削ユニット送り機構4
を備えている。この研削ユニット送り機構4は、直立壁
22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド
41を具備している。この雄ねじロッド41は、その上
端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部
材42および43によって回転自在に支持されている。
上側の軸受部材42には雄ねじロッド41を回転駆動す
るための駆動源としてのパルスモータ44が配設されて
おり、このパルスモータ44の出力軸が雄ねじロッド4
1に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその
幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していな
い)も形成されており、この連結部には鉛直方向に延び
る貫通雌ねじ穴が形成されており、この雌ねじ穴に上記
雄ねじロッド41が螺合せしめられている。従って、パ
ルスモータ44が正転すると移動基台31即ち研削ユニ
ット3が下降せしめられ、パルスモータ44が逆転する
と移動基台31即ち研削ユニット3が上昇せしめられ
る。
【0013】図示の実施形態における研削装置は、ハウ
ジング2の主部21の後半部上にはチャックテーブル機
構5が配設されている。チャックテーブル機構5は、支
持基台51とこの支持基台51に実質上鉛直に延びる回
転中心軸線を中心として回転自在に配設された円板形状
のチャックテーブル52とを含んでいる。支持基台51
は、前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である
矢印51aおよび51bで示す方向に延在する一対の案
内レール(図示せず)に摺動自在に装着され、図示しな
い移動機構によって図1において左上のライン2bで示
す位置である被加工物搬入・搬出領域と、図1において
右下のライン2aで示す位置である研削領域に選択的に
位置付けられるようになっている。また、支持基台51
は、研削領域においては所定範囲に渡って矢印矢印51
aおよび51bで示す方向に往復動せしめられる。な
お、支持基台51の前後には、蛇腹手段53、54が配
設されている。
ジング2の主部21の後半部上にはチャックテーブル機
構5が配設されている。チャックテーブル機構5は、支
持基台51とこの支持基台51に実質上鉛直に延びる回
転中心軸線を中心として回転自在に配設された円板形状
のチャックテーブル52とを含んでいる。支持基台51
は、前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である
矢印51aおよび51bで示す方向に延在する一対の案
内レール(図示せず)に摺動自在に装着され、図示しな
い移動機構によって図1において左上のライン2bで示
す位置である被加工物搬入・搬出領域と、図1において
右下のライン2aで示す位置である研削領域に選択的に
位置付けられるようになっている。また、支持基台51
は、研削領域においては所定範囲に渡って矢印矢印51
aおよび51bで示す方向に往復動せしめられる。な
お、支持基台51の前後には、蛇腹手段53、54が配
設されている。
【0014】上記チャックテーブル52は上記支持基台
51上に回転可能に支持されており、図示しない回転駆
動手段によって回転せしめられるようになっている。な
お、チャックテーブル52は、多孔質セラミッックスの
如き適宜の多孔性材料から構成されており、図示しない
吸引手段に接続されている。従って、チャックテーブル
52を図示しない吸引手段に選択的に連通することによ
り、載置された被加工物を吸引保持する。
51上に回転可能に支持されており、図示しない回転駆
動手段によって回転せしめられるようになっている。な
お、チャックテーブル52は、多孔質セラミッックスの
如き適宜の多孔性材料から構成されており、図示しない
吸引手段に接続されている。従って、チャックテーブル
52を図示しない吸引手段に選択的に連通することによ
り、載置された被加工物を吸引保持する。
【0015】上記装置ハウジング2の主部21における
前半部には、カセット載置領域6と、搬送手段配置領域
7と、仮置き領域8が設けられている。このカセット載
置領域6と搬送手段配置領域7と仮置き領域8は、上記
被加工物搬入・搬出領域および研削領域と一直線状にレ
イアウトされている。カセット載置領域6には、半導体
ウエーハ等の円形状の被加工物を収納するカセット60
が載置される。搬送手段配置領域7には、被加工物搬送
手段70が配設されている。この被加工物搬送手段70
は、カセット60に収納された研削前の被加工物を搬出
し仮置き領域8に搬送するとともに、研削後の被加工物
を仮置き領域8からカセット60に搬送する。上記仮置
き領域8には、カセット60から搬出された研削前の被
加工物の中心合わせ機能と、研削後の被加工物の洗浄機
能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構80が配設さ
れている。なお、中心位置合わせ兼洗浄機構80につい
ては、後で詳細に説明する。
前半部には、カセット載置領域6と、搬送手段配置領域
7と、仮置き領域8が設けられている。このカセット載
置領域6と搬送手段配置領域7と仮置き領域8は、上記
被加工物搬入・搬出領域および研削領域と一直線状にレ
イアウトされている。カセット載置領域6には、半導体
ウエーハ等の円形状の被加工物を収納するカセット60
が載置される。搬送手段配置領域7には、被加工物搬送
手段70が配設されている。この被加工物搬送手段70
は、カセット60に収納された研削前の被加工物を搬出
し仮置き領域8に搬送するとともに、研削後の被加工物
を仮置き領域8からカセット60に搬送する。上記仮置
き領域8には、カセット60から搬出された研削前の被
加工物の中心合わせ機能と、研削後の被加工物の洗浄機
能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構80が配設さ
れている。なお、中心位置合わせ兼洗浄機構80につい
ては、後で詳細に説明する。
【0016】上記仮置き領域8と被加工物搬入・搬出領
域との間には、被加工物搬入・搬出手段11が配設され
ている。この被加工物搬入・搬出手段11は、仮置き領
域8に配設され後述する中心位置合わせ兼洗浄機構80
によって中心位置合わせされた研削前の被加工物を上記
被加工物搬入・搬出域に位置付けられたチャックテーブ
ル52上に搬送するとともに、被加工物搬入・搬出域に
位置付けられたチャックテーブル52上の研削後の被加
工物を中心位置合わせ兼洗浄機構80に搬出する。な
お、被加工物搬入・搬出手段11は、一般に用いられて
いる周知の吸着式の搬送機構でよい。
域との間には、被加工物搬入・搬出手段11が配設され
ている。この被加工物搬入・搬出手段11は、仮置き領
域8に配設され後述する中心位置合わせ兼洗浄機構80
によって中心位置合わせされた研削前の被加工物を上記
被加工物搬入・搬出域に位置付けられたチャックテーブ
ル52上に搬送するとともに、被加工物搬入・搬出域に
位置付けられたチャックテーブル52上の研削後の被加
工物を中心位置合わせ兼洗浄機構80に搬出する。な
お、被加工物搬入・搬出手段11は、一般に用いられて
いる周知の吸着式の搬送機構でよい。
【0017】次に、上記中心位置合わせ兼洗浄機構80
について、図2乃至図4を参照して説明する。
について、図2乃至図4を参照して説明する。
【0018】図示の実施形態における中心位置合わせ兼
洗浄機構80は、被加工物を載置する載置面を有するセ
ンターテーブル81と、該センターテーブル81上に載
置された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置
を合わせる中心位置合わせ手段90を具備している。セ
ンターテーブル81は、図4に示すように円盤状の本体
811と円盤状の吸着チャック812とからなってい
る。本体811の下面中央部には回転軸部811aが突
出して形成されており、この回転軸部811aが円筒状
の支持柱82内に配設され、軸受83、83を介して回
転自在に支持されている。なお、回転軸部811aは、
その下端が継手84によってDCモータ85の駆動軸8
51と連結されている。なお、上記支持柱82の下端
は、DCモータ85のケーシング上端に取り付けられて
いる。本体811の上面には上方が開放された円形状の
凹部811bが形成されており、この凹部811bは回
転軸部811aに設けられた連通路811cと連通して
いる。また、本体811の上面に形成された凹部811
bには、ポーラスセラミック盤によって形成された吸着
保持チャック812が嵌合される。
洗浄機構80は、被加工物を載置する載置面を有するセ
ンターテーブル81と、該センターテーブル81上に載
置された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置
を合わせる中心位置合わせ手段90を具備している。セ
ンターテーブル81は、図4に示すように円盤状の本体
811と円盤状の吸着チャック812とからなってい
る。本体811の下面中央部には回転軸部811aが突
出して形成されており、この回転軸部811aが円筒状
の支持柱82内に配設され、軸受83、83を介して回
転自在に支持されている。なお、回転軸部811aは、
その下端が継手84によってDCモータ85の駆動軸8
51と連結されている。なお、上記支持柱82の下端
は、DCモータ85のケーシング上端に取り付けられて
いる。本体811の上面には上方が開放された円形状の
凹部811bが形成されており、この凹部811bは回
転軸部811aに設けられた連通路811cと連通して
いる。また、本体811の上面に形成された凹部811
bには、ポーラスセラミック盤によって形成された吸着
保持チャック812が嵌合される。
【0019】上記円筒状の支持柱82とセンターテーブ
ル81の回転軸部811aとの間には、2つの仕切板8
21、821によって形成され上記連通路811cと連
通する室822が設けられている。なお、仕切板82
1、821の内周縁には、回転軸部811aの外周面と
摺接するシール部材823、823が装着されている。
上記室822は、円筒状の支持柱82に設けられた開口
824およびを配管86を介してバキュームタンク等の
吸引源87に接続されている。なお、配管86には電磁
開閉弁88が配設されている。この結果、吸着保持チャ
ック812上に被加工物を載置して電磁開閉弁88を開
き、凹部811bを連通路811c、室822、開口8
24およびを配管86介して吸引源87に連通すること
により、被加工物を吸着保持チャック812上に吸引保
持することができる。従って、。上記センターテーブル
81の回転軸部811aに形成された連通路811cと
連通する室822、配管86、吸引源87、電磁開閉弁
88等は、センターテーブルに負圧を作用せしめる吸引
手段として機能する。
ル81の回転軸部811aとの間には、2つの仕切板8
21、821によって形成され上記連通路811cと連
通する室822が設けられている。なお、仕切板82
1、821の内周縁には、回転軸部811aの外周面と
摺接するシール部材823、823が装着されている。
上記室822は、円筒状の支持柱82に設けられた開口
824およびを配管86を介してバキュームタンク等の
吸引源87に接続されている。なお、配管86には電磁
開閉弁88が配設されている。この結果、吸着保持チャ
ック812上に被加工物を載置して電磁開閉弁88を開
き、凹部811bを連通路811c、室822、開口8
24およびを配管86介して吸引源87に連通すること
により、被加工物を吸着保持チャック812上に吸引保
持することができる。従って、。上記センターテーブル
81の回転軸部811aに形成された連通路811cと
連通する室822、配管86、吸引源87、電磁開閉弁
88等は、センターテーブルに負圧を作用せしめる吸引
手段として機能する。
【0020】次に、上記センターテーブル81上に載置
された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を
合わせる中心位置合わせ手段90について、図2乃至図
4を参照して説明する。図示の実施形態における中心位
置合わせ手段90は、立方体状の基台91と、該基台9
1上に配設された正方形状の案内テーブル92を具備し
ている。基台91の中心部に上記支持柱84が上下方向
に貫通して配設されている。案内テーブル92の4隅に
はそれぞれ支持脚921が取り付けられており、この支
持脚921の下端が基台91の上面にボルト等の固定手
段によって取付けられる。このようにして基台91に取
り付けられた案内テーブル92には、その中心部に上記
センターテーブル81が遊嵌する円形の穴922が設け
られているとともに、該穴922を中心として放射状に
複数個(図示の実施形態においては6個)の案内溝92
3が形成されている。
された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を
合わせる中心位置合わせ手段90について、図2乃至図
4を参照して説明する。図示の実施形態における中心位
置合わせ手段90は、立方体状の基台91と、該基台9
1上に配設された正方形状の案内テーブル92を具備し
ている。基台91の中心部に上記支持柱84が上下方向
に貫通して配設されている。案内テーブル92の4隅に
はそれぞれ支持脚921が取り付けられており、この支
持脚921の下端が基台91の上面にボルト等の固定手
段によって取付けられる。このようにして基台91に取
り付けられた案内テーブル92には、その中心部に上記
センターテーブル81が遊嵌する円形の穴922が設け
られているとともに、該穴922を中心として放射状に
複数個(図示の実施形態においては6個)の案内溝92
3が形成されている。
【0021】上記支持柱82の上端に円盤状の回転体9
3が回転自在に支持されている。具体的には、図4に示
すように支持柱82の上端部は円形状の支持板825が
溶接等によって固着されており、この支持板825上に
軸受94を介して回転体93が回転自在に支持されてい
る。回転体93の上面には、上記複数個の案内溝923
に対応した複数個(図示の実施形態においては6個)の
アーム94の一端部が回動可能に装着されている。具体
的には、アーム94は、その一端部が支軸941によっ
て回転体93に軸支され、該支軸941を中心として水
平面内で回動可能に構成されている。複数個のアーム9
4の他端部にはそれぞれ調整ピン95が回転可能に装着
されており、この調整ピン95が上記案内溝923に摺
動可能に挿入される。なお、上記複数個のアーム94を
それぞれ回転体93に軸支する複数個の支軸941は回
転体93の回転中心から同一半径上に配設されており、
また、複数個のアーム94にそれぞれ装着される複数個
の調整ピン95の装着位置は上記各支軸941からの長
さが同一に設定されている。従って、回転体93が図3
において矢印93aで示す方向に回転すると、アーム9
4が支軸941を中心として矢印93aと反対方向に回
動し、アーム94に装着された調整ピン95が案内溝9
23に沿って中心方向に移動せしめられる。一方、回転
体93が図3において矢印93bで示す方向に回転する
と、アーム94が支軸941を中心として矢印93bと
反対方向に回動し、アーム94に装着された調整ピン9
5が案内溝923に沿って外周方向に移動せしめられ
る。
3が回転自在に支持されている。具体的には、図4に示
すように支持柱82の上端部は円形状の支持板825が
溶接等によって固着されており、この支持板825上に
軸受94を介して回転体93が回転自在に支持されてい
る。回転体93の上面には、上記複数個の案内溝923
に対応した複数個(図示の実施形態においては6個)の
アーム94の一端部が回動可能に装着されている。具体
的には、アーム94は、その一端部が支軸941によっ
て回転体93に軸支され、該支軸941を中心として水
平面内で回動可能に構成されている。複数個のアーム9
4の他端部にはそれぞれ調整ピン95が回転可能に装着
されており、この調整ピン95が上記案内溝923に摺
動可能に挿入される。なお、上記複数個のアーム94を
それぞれ回転体93に軸支する複数個の支軸941は回
転体93の回転中心から同一半径上に配設されており、
また、複数個のアーム94にそれぞれ装着される複数個
の調整ピン95の装着位置は上記各支軸941からの長
さが同一に設定されている。従って、回転体93が図3
において矢印93aで示す方向に回転すると、アーム9
4が支軸941を中心として矢印93aと反対方向に回
動し、アーム94に装着された調整ピン95が案内溝9
23に沿って中心方向に移動せしめられる。一方、回転
体93が図3において矢印93bで示す方向に回転する
と、アーム94が支軸941を中心として矢印93bと
反対方向に回動し、アーム94に装着された調整ピン9
5が案内溝923に沿って外周方向に移動せしめられ
る。
【0022】図示の実施形態における中心位置合わせ手
段90は、上記回転体93を回転体を回転駆動せしめる
回転駆動手段96を具備している。回転駆動手段96
は、基台91上に配設された正転・逆転可能なDCモー
タ961と、DCモータ961の駆動軸に取り付けられ
た駆動プーリ962に捲回された伝動ベルト963と、
該伝動ベルト963が捲回される従動プーリ964を備
えたトルクリミッター965と、該トルクリミッター9
65の回転軸に装着された駆動歯車966と、該駆動歯
車966と噛み合い上記回転体93の下面に固定された
被駆動歯車967とから構成されている。上記トルクリ
ミッター965は一般に用いられている周知の構成でよ
く、上記回転体93に所定以上の負荷が作用すると回転
体93側、具体的には駆動歯車966への駆動力の伝達
を規制する。
段90は、上記回転体93を回転体を回転駆動せしめる
回転駆動手段96を具備している。回転駆動手段96
は、基台91上に配設された正転・逆転可能なDCモー
タ961と、DCモータ961の駆動軸に取り付けられ
た駆動プーリ962に捲回された伝動ベルト963と、
該伝動ベルト963が捲回される従動プーリ964を備
えたトルクリミッター965と、該トルクリミッター9
65の回転軸に装着された駆動歯車966と、該駆動歯
車966と噛み合い上記回転体93の下面に固定された
被駆動歯車967とから構成されている。上記トルクリ
ミッター965は一般に用いられている周知の構成でよ
く、上記回転体93に所定以上の負荷が作用すると回転
体93側、具体的には駆動歯車966への駆動力の伝達
を規制する。
【0023】次に、上述した中心位置合わせ手段90に
よる被加工物の中心合わせについて説明する。上記調整
ピン95を図2において2点鎖線で示すように案内溝9
23の外周側端に位置付けている状態状態で、センター
テーブル81上に円形状の被加工物である半導体ウエー
ハWが載置される。なお、被加工物の中心合わせを行う
際には、上記電磁開閉弁88は閉止されており、従っ
て、センターテーブル81には負圧が作用しないので、
センターテーブル81上に載置された半導体ウエーハW
は水平面内で移動することができる。センターテーブル
81上に半導体ウエーハWが載置されたならば、中心位
置合わせを行うためにDCモータ961を例えば正転方
向に回転駆動して、回転体93を図3において矢印93
aで示す方向に回転する。回転体93が矢印93aで示
す方向に回転すると、上述したように調整ピン95が案
内溝923に沿って中心方向に移動し、図2において実
線で示すように全ての調整ピン95が半導体ウエーハW
の外周縁に当接することにより中心位置合わせされる。
調整ピン95が半導体ウエーハWの外周縁に当接する
と、半導体ウエーハWは移動できないので調整ピン95
の移動が規制される。この結果、回転体93に所定以上
の負荷がかかるので、トルクリミッター965の作用に
より回転体93への駆動力の伝達が規制される。このよ
うに、回転体93は全ての調整ピン95が半導体ウエー
ハWの外周縁に当接するまで回動しその後は更に駆動ト
ルクを受けることがないので、常に確実に半導体ウエー
ハWの中心位置合わせを行うことができるとともに、半
導体ウエーハWを破損することはない。なお、調整ピン
95が半導体ウエーハWの外周縁に当接して中心位置合
わせが終了したならば、DCモータ961を正転方向に
回転駆動して上記調整ピン95を図2において2点鎖線
で示すように案内溝923の外周側端に位置付ける。
よる被加工物の中心合わせについて説明する。上記調整
ピン95を図2において2点鎖線で示すように案内溝9
23の外周側端に位置付けている状態状態で、センター
テーブル81上に円形状の被加工物である半導体ウエー
ハWが載置される。なお、被加工物の中心合わせを行う
際には、上記電磁開閉弁88は閉止されており、従っ
て、センターテーブル81には負圧が作用しないので、
センターテーブル81上に載置された半導体ウエーハW
は水平面内で移動することができる。センターテーブル
81上に半導体ウエーハWが載置されたならば、中心位
置合わせを行うためにDCモータ961を例えば正転方
向に回転駆動して、回転体93を図3において矢印93
aで示す方向に回転する。回転体93が矢印93aで示
す方向に回転すると、上述したように調整ピン95が案
内溝923に沿って中心方向に移動し、図2において実
線で示すように全ての調整ピン95が半導体ウエーハW
の外周縁に当接することにより中心位置合わせされる。
調整ピン95が半導体ウエーハWの外周縁に当接する
と、半導体ウエーハWは移動できないので調整ピン95
の移動が規制される。この結果、回転体93に所定以上
の負荷がかかるので、トルクリミッター965の作用に
より回転体93への駆動力の伝達が規制される。このよ
うに、回転体93は全ての調整ピン95が半導体ウエー
ハWの外周縁に当接するまで回動しその後は更に駆動ト
ルクを受けることがないので、常に確実に半導体ウエー
ハWの中心位置合わせを行うことができるとともに、半
導体ウエーハWを破損することはない。なお、調整ピン
95が半導体ウエーハWの外周縁に当接して中心位置合
わせが終了したならば、DCモータ961を正転方向に
回転駆動して上記調整ピン95を図2において2点鎖線
で示すように案内溝923の外周側端に位置付ける。
【0024】図示の実施形態における中心位置合わせ兼
洗浄機構80は、上記センターテーブル81の吸着保持
チャック812上に吸引保持される被加工物に洗浄水を
供給する洗浄水供給手段を構成する洗浄水供給ノズル9
7を具備している。この洗浄水供給ノズル97は、上記
基台91およびテーブル92の一隅部を挿通して配設さ
れ、一端が上記センターテーブル81の上方に開口して
おり、他端が図示しない洗浄水供給源に接続されてい
る。センターテーブル81の上に保持される研削後の被
加工物を洗浄する場合には、上記電磁開閉弁88を開き
センターテーブル81に負圧を作用せしめて被加工物を
吸着保持チャック812上に吸引保持する。そして、上
記DCモータ85を駆動してセンターテーブル81を1
000rpm程度の回転速度で回転駆動するとともに、
洗浄水供給ノズル97から1分間に2リットル(2リッ
トル/分)程度の洗浄水を吸着保持チャック812上に
吸引保持されている被加工物に供給する。そして、洗浄
が完了したら洗浄水の供給を止め、センターテーブル8
1を3000rpm程度の回転速度で回転駆動すること
により、被加工物をスピン乾燥する。この結果、従来用
いられているスピンナーテーブル式の洗浄装置を同様な
作用により研削後の被加工物が洗浄される。なお、中心
位置合わせ兼洗浄機構80は、図示しない移動機構によ
って上下方向に移動可能に構成されており、図1に示す
中心位置合わせ位置と該中心位置合わせ位置より下方の
洗浄位置に位置付けられる。従って、上述したようにセ
ンターテーブル81の上に保持される研削後の被加工物
を洗浄する場合には、中心位置合わせ兼洗浄機構80は
図1に示す中心位置合わせ位置から洗浄位置に位置付け
られる。
洗浄機構80は、上記センターテーブル81の吸着保持
チャック812上に吸引保持される被加工物に洗浄水を
供給する洗浄水供給手段を構成する洗浄水供給ノズル9
7を具備している。この洗浄水供給ノズル97は、上記
基台91およびテーブル92の一隅部を挿通して配設さ
れ、一端が上記センターテーブル81の上方に開口して
おり、他端が図示しない洗浄水供給源に接続されてい
る。センターテーブル81の上に保持される研削後の被
加工物を洗浄する場合には、上記電磁開閉弁88を開き
センターテーブル81に負圧を作用せしめて被加工物を
吸着保持チャック812上に吸引保持する。そして、上
記DCモータ85を駆動してセンターテーブル81を1
000rpm程度の回転速度で回転駆動するとともに、
洗浄水供給ノズル97から1分間に2リットル(2リッ
トル/分)程度の洗浄水を吸着保持チャック812上に
吸引保持されている被加工物に供給する。そして、洗浄
が完了したら洗浄水の供給を止め、センターテーブル8
1を3000rpm程度の回転速度で回転駆動すること
により、被加工物をスピン乾燥する。この結果、従来用
いられているスピンナーテーブル式の洗浄装置を同様な
作用により研削後の被加工物が洗浄される。なお、中心
位置合わせ兼洗浄機構80は、図示しない移動機構によ
って上下方向に移動可能に構成されており、図1に示す
中心位置合わせ位置と該中心位置合わせ位置より下方の
洗浄位置に位置付けられる。従って、上述したようにセ
ンターテーブル81の上に保持される研削後の被加工物
を洗浄する場合には、中心位置合わせ兼洗浄機構80は
図1に示す中心位置合わせ位置から洗浄位置に位置付け
られる。
【0025】図示の実施形態における研削装置は以上の
ように構成されており、以下その加工処理動作について
図1に基づいて簡単に説明する。カセット載置領域6に
載置されたカセット60内に収容された研削加工前の被
加工物である半導体ウエーハは、被加工物搬送手段70
の上下動作および進退動作により搬送され、仮置き領域
8に配設された中心位置合わせ兼洗浄機構80のセンタ
ーテーブル81上に載置される。なお、このとき中心位
置合わせ兼洗浄機構80は図1に示す中心位置合わせ位
置に位置付けられており、上記調整ピン95は図2にお
いて2点鎖線で示すように案内溝923の外周側端に位
置付けられている。センターテーブル81上に半導体ウ
エーハが載置されると、中心位置合わせ手段90は上述
したように中心位置合わせ動作を実行する。センターテ
ーブル81上に載置され中心位置合わせされた被加工物
は、被加工物搬入・搬出手段11の旋回動作によって被
加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテーブ
ル52上に載置される。チャックテーブル52上に載置
された被加工物は、図示しない吸引手段によってチャッ
クテーブル52上に吸引保持される。
ように構成されており、以下その加工処理動作について
図1に基づいて簡単に説明する。カセット載置領域6に
載置されたカセット60内に収容された研削加工前の被
加工物である半導体ウエーハは、被加工物搬送手段70
の上下動作および進退動作により搬送され、仮置き領域
8に配設された中心位置合わせ兼洗浄機構80のセンタ
ーテーブル81上に載置される。なお、このとき中心位
置合わせ兼洗浄機構80は図1に示す中心位置合わせ位
置に位置付けられており、上記調整ピン95は図2にお
いて2点鎖線で示すように案内溝923の外周側端に位
置付けられている。センターテーブル81上に半導体ウ
エーハが載置されると、中心位置合わせ手段90は上述
したように中心位置合わせ動作を実行する。センターテ
ーブル81上に載置され中心位置合わせされた被加工物
は、被加工物搬入・搬出手段11の旋回動作によって被
加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテーブ
ル52上に載置される。チャックテーブル52上に載置
された被加工物は、図示しない吸引手段によってチャッ
クテーブル52上に吸引保持される。
【0026】次に、被加工物である半導体ウエーハを保
持したチャックテーブル52は、被加工物搬入・搬出領
域から研削領域に移動される。そして、研削域において
は、半導体ウエーハを保持したチャックテーブル52が
回転せしめらるとともに、回転駆動せしめられている研
削工具325がチャックテーブル52上の半導体ウエー
ハに押圧され、そしてまたチャックテーブル52が矢印
51aおよび51bで示す方向に所定範囲に渡って往復
動せしめられことによって、半導体ウエーハが研削加工
される。研削が終了すると、研削工具325が半導体ウ
エーハから上方に離隔され、チャックテーブル52が矢
印51bで示す方向に被加工物搬入・搬出域まで移動せ
しめられる。しかる後に、チャックテーブル52上の研
削加工された被加工物である半導体ウエーハの吸引保持
が解除され、吸引保持が解除された研削後の半導体ウエ
ーハは被加工物搬入・搬出手段11により搬出されて中
心位置合わせ兼洗浄機構80のセンターテーブル81上
に載置される。研削後の半導体ウエーハがセンターテー
ブル81上に載置されたならば、上記電磁開閉弁88を
開きセンターテーブル81に負圧を作用せしめて研削後
の半導体ウエーハを吸着保持チャック812上に吸引保
持するとともに、中心位置合わせ兼洗浄機構80を図1
示す中心位置合わせ位置から図示しない移動機構により
下降せしめて洗浄位置に位置付ける。そして、上記DC
モータ85を駆動してセンターテーブル81を回転駆動
するとともに、洗浄水供給ノズル97から洗浄水を吸着
保持チャック812上に吸引保持されている被加工物に
供給することにより、研削後の半導体ウエーハの洗浄を
行う。
持したチャックテーブル52は、被加工物搬入・搬出領
域から研削領域に移動される。そして、研削域において
は、半導体ウエーハを保持したチャックテーブル52が
回転せしめらるとともに、回転駆動せしめられている研
削工具325がチャックテーブル52上の半導体ウエー
ハに押圧され、そしてまたチャックテーブル52が矢印
51aおよび51bで示す方向に所定範囲に渡って往復
動せしめられことによって、半導体ウエーハが研削加工
される。研削が終了すると、研削工具325が半導体ウ
エーハから上方に離隔され、チャックテーブル52が矢
印51bで示す方向に被加工物搬入・搬出域まで移動せ
しめられる。しかる後に、チャックテーブル52上の研
削加工された被加工物である半導体ウエーハの吸引保持
が解除され、吸引保持が解除された研削後の半導体ウエ
ーハは被加工物搬入・搬出手段11により搬出されて中
心位置合わせ兼洗浄機構80のセンターテーブル81上
に載置される。研削後の半導体ウエーハがセンターテー
ブル81上に載置されたならば、上記電磁開閉弁88を
開きセンターテーブル81に負圧を作用せしめて研削後
の半導体ウエーハを吸着保持チャック812上に吸引保
持するとともに、中心位置合わせ兼洗浄機構80を図1
示す中心位置合わせ位置から図示しない移動機構により
下降せしめて洗浄位置に位置付ける。そして、上記DC
モータ85を駆動してセンターテーブル81を回転駆動
するとともに、洗浄水供給ノズル97から洗浄水を吸着
保持チャック812上に吸引保持されている被加工物に
供給することにより、研削後の半導体ウエーハの洗浄を
行う。
【0027】上記のようにして、センターテーブル81
上に吸引保持された研削後の被加工物である半導体ウエ
ーハを洗浄したならば、中心位置合わせ兼洗浄機構80
を図示しない移動機構により上昇せしめて図1に示す中
心位置合わせ位置に位置付けるるとともに、上記電磁開
閉弁88を閉止してセンターテーブル81への負圧の作
用を解除する。この結果、センターテーブル81上に保
持された研削後の被加工物である半導体ウエーハは、セ
ンターテーブル81への吸引保持が解除される。次に、
センターテーブル81で吸着保持が解除された研削後の
半導体ウエーハは、被加工物搬送手段70よってカセッ
ト60の所定位置に収納される。
上に吸引保持された研削後の被加工物である半導体ウエ
ーハを洗浄したならば、中心位置合わせ兼洗浄機構80
を図示しない移動機構により上昇せしめて図1に示す中
心位置合わせ位置に位置付けるるとともに、上記電磁開
閉弁88を閉止してセンターテーブル81への負圧の作
用を解除する。この結果、センターテーブル81上に保
持された研削後の被加工物である半導体ウエーハは、セ
ンターテーブル81への吸引保持が解除される。次に、
センターテーブル81で吸着保持が解除された研削後の
半導体ウエーハは、被加工物搬送手段70よってカセッ
ト60の所定位置に収納される。
【0028】以上のように、図示の実施形態において
は、仮置き領域8にカセット60から搬出された研削前
の被加工物の中心位置合わせ機能と、研削後の被加工物
の洗浄機能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構80
を配設したので、中心位置合わせした研削前の被加工物
を被加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテ
ーブル機構5に搬入する経路と、被加工物搬入・搬出領
域に位置付けられたチャックテーブル機構5上の研削後
の被加工物を洗浄手段へ搬出する経路とを同じ経路に構
成することができる。従って、研削ラインを直線状にレ
イアウトすることが可能となり、装置全体の小型化を図
ることができるとともに、従来のスペースで2つの研削
ラインを設けることができる。
は、仮置き領域8にカセット60から搬出された研削前
の被加工物の中心位置合わせ機能と、研削後の被加工物
の洗浄機能とを具備する中心位置合わせ兼洗浄機構80
を配設したので、中心位置合わせした研削前の被加工物
を被加工物搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテ
ーブル機構5に搬入する経路と、被加工物搬入・搬出領
域に位置付けられたチャックテーブル機構5上の研削後
の被加工物を洗浄手段へ搬出する経路とを同じ経路に構
成することができる。従って、研削ラインを直線状にレ
イアウトすることが可能となり、装置全体の小型化を図
ることができるとともに、従来のスペースで2つの研削
ラインを設けることができる。
【0029】以上、中心位置合わせ兼洗浄機構80を研
削装置の仮置き領域8に配設した例を示したが、中心位
置合わせ兼洗浄機構は円形状の被加工物を加工する他の
加工装置に適用することができ、設置スペースの節減を
図ることができる。
削装置の仮置き領域8に配設した例を示したが、中心位
置合わせ兼洗浄機構は円形状の被加工物を加工する他の
加工装置に適用することができ、設置スペースの節減を
図ることができる。
【0030】
【発明の効果】本発明に係る加工装置の中心位置合わせ
兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研
削装置は以上のように構成されているで、次の作用効果
を奏する。
兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研
削装置は以上のように構成されているで、次の作用効果
を奏する。
【0031】即ち、本発明による加工装置の中心位置合
わせ兼洗浄機構は、被加工物を載置する載置面を有する
センターテーブルと、該センターテーブル上に載置され
た被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を合わ
せる中心位置合わせ手段と、センターテーブルに負圧を
作用せしめる吸引手段と、センターテーブルを回転駆動
する回転駆動手段と、センターテーブルに保持された被
加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを具備し、
被加工物の中心位置合わせ機能と被加工物の洗浄機能と
を備えているので、配置スペースを小さくすることがで
き、加工装置全体の小型化を図ることができる。また、
本発明による研削装置は、カセット載置領域に載置され
たカセットから搬出された被加工物を仮載置する仮置き
領域に、上記中心位置合わせ兼洗浄機構が配設されてい
るので、カセットから搬出された研削前の被加工物を中
心位置合わせして被加工物搬入・搬出領域に位置付けら
れたチャックテーブル機構に搬入する経路と、被加工物
搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテーブル機構
上の研削後の被加工物を洗浄手段へ搬出する経路とを同
じ経路に構成することができる。従って、研削装置を構
成する各機構を合理的にレイアウトすることができ、装
置全体の小型化を図ることができる。
わせ兼洗浄機構は、被加工物を載置する載置面を有する
センターテーブルと、該センターテーブル上に載置され
た被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を合わ
せる中心位置合わせ手段と、センターテーブルに負圧を
作用せしめる吸引手段と、センターテーブルを回転駆動
する回転駆動手段と、センターテーブルに保持された被
加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを具備し、
被加工物の中心位置合わせ機能と被加工物の洗浄機能と
を備えているので、配置スペースを小さくすることがで
き、加工装置全体の小型化を図ることができる。また、
本発明による研削装置は、カセット載置領域に載置され
たカセットから搬出された被加工物を仮載置する仮置き
領域に、上記中心位置合わせ兼洗浄機構が配設されてい
るので、カセットから搬出された研削前の被加工物を中
心位置合わせして被加工物搬入・搬出領域に位置付けら
れたチャックテーブル機構に搬入する経路と、被加工物
搬入・搬出領域に位置付けられたチャックテーブル機構
上の研削後の被加工物を洗浄手段へ搬出する経路とを同
じ経路に構成することができる。従って、研削装置を構
成する各機構を合理的にレイアウトすることができ、装
置全体の小型化を図ることができる。
【図1】本発明によって構成された中心位置合わせ兼洗
浄機構を備えた研削装置の斜視図。
浄機構を備えた研削装置の斜視図。
【図2】本発明によって構成された中心位置合わせ兼洗
浄機構の斜視図。
浄機構の斜視図。
【図3】図2に示す中心位置合わせ兼洗浄機構の分解斜
視図。
視図。
【図4】図2に示す中心位置合わせ兼洗浄機構の要部断
面図。
面図。
2:装置ハウジング
3:研削ユニット
31:移動基台
32:スピンドルユニット
4:研削ユニット送り機構
41:雄ねじロッド
44:パルスモータ
5:チャックテーブル機構
51:支持基台
52:チャックテーブル
6:カセット載置領域
60:カセット
7:搬送手段配置領域
70:被加工物搬送手段
8:仮置き領域
80:中心位置合わせ兼洗浄機構
81:センターテーブル
82:円筒状の支持柱
83:軸受
84:継手
85:DCモータ
86:配管
87:吸引源(バキュームタンク)
88:電磁開閉弁
90:中心位置合わせ手段
91:基台
92:案内テーブル
93:回転体
94:アーム
95:調整ピン
96:回転駆動手段
961:DCモータ
962:駆動プーリ
963:伝動ベルト
964:従動プーリ
965:トルクリミッター
966:駆動歯車
967:被駆動歯車
97:洗浄水供給ノズル
11:被加工物搬入・搬出手段
Claims (3)
- 【請求項1】 円形状の被加工物を載置する載置面を有
するセンターテーブルと、該センターテーブル上に載置
された被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を
合わせる中心位置合わせ手段と、該センターテーブルに
負圧を作用せしめる吸引手段と、該センターテーブルを
回転駆動する回転駆動手段と、該センターテーブルに保
持された被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段と
を具備する、 ことを特徴とする加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機
構。 - 【請求項2】 該中心位置合わせ手段は、中央部に該セ
ンターテーブルが遊嵌する穴を有し該穴を中心として放
射状に形成された複数個の案内溝を備えた案内テーブル
と、該案内テーブルの下側に配設された回転体と、該回
転体に一端部がそれぞれ回動可能に支持された該複数個
の案内溝と対応する複数個のアームと、該複数個のアー
ムの他端部にそれぞれ取り付けられ該複数個の案内溝に
それぞれ挿通して配設された複数個の調整ピンと、該回
転体を回転駆動せしめる回転駆動手段と、該回転体に所
定以上の負荷が作用すると該回転体への駆動力の伝達を
規制するトルクリミッターとからなる、請求項1記載の
加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構。 - 【請求項3】 円形状の被加工物を収容したカセットを
載置するカセット載置領域と、該カセット載置領域に載
置されたカセットから搬出された被加工物を仮載置する
仮置き領域と、該仮置き領域から搬送された被加工物を
保持するチャックテーブル機構と、該チャックテーブル
機構に保持されている被加工物を研削するための研削工
具を備えた研削ユニットと、を具備する研削装置におい
て、 該仮置き領域には、被加工物を載置する載置面を有する
センターテーブルと、該センターテーブル上に載置され
た被加工物の外周縁に作用し被加工物の中心位置を合わ
せる中心位置合わせ手段と、該センターテーブルに負圧
を作用せしめる吸引手段と、該センターテーブルを回転
駆動する回転駆動手段と、該センターテーブルに保持さ
れた被加工物に洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを具
備する中心位置合わせ兼洗浄機構が配設されている、 ことを特徴とする研削装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001329577A JP2003133275A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001329577A JP2003133275A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003133275A true JP2003133275A (ja) | 2003-05-09 |
Family
ID=19145460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001329577A Withdrawn JP2003133275A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003133275A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006030953A1 (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Ebara Corporation | 基板洗浄処理装置及び基板処理ユニット |
JP2010010267A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハの加工装置 |
JP2011121130A (ja) * | 2009-12-10 | 2011-06-23 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研削装置 |
KR101053145B1 (ko) * | 2008-11-05 | 2011-08-02 | 세메스 주식회사 | 지지부재 및 상기 지지부재를 구비하는 기판 처리 장치 |
KR20190054972A (ko) | 2017-11-13 | 2019-05-22 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 기판 보지 장치 및 기판 보지 장치를 구비하는 기판 처리 장치 |
-
2001
- 2001-10-26 JP JP2001329577A patent/JP2003133275A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006030953A1 (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Ebara Corporation | 基板洗浄処理装置及び基板処理ユニット |
JP2010010267A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハの加工装置 |
KR101053145B1 (ko) * | 2008-11-05 | 2011-08-02 | 세메스 주식회사 | 지지부재 및 상기 지지부재를 구비하는 기판 처리 장치 |
JP2011121130A (ja) * | 2009-12-10 | 2011-06-23 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研削装置 |
KR20190054972A (ko) | 2017-11-13 | 2019-05-22 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 기판 보지 장치 및 기판 보지 장치를 구비하는 기판 처리 장치 |
US11396082B2 (en) | 2017-11-13 | 2022-07-26 | Ebara Corporation | Substrate holding device and substrate processing apparatus including the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002359211A (ja) | 切削機 | |
JP2011238945A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2008198882A (ja) | 基板処理装置 | |
TW473787B (en) | Multiple sided robot blade for semiconductor processing equipment | |
JP5179928B2 (ja) | ウエーハの搬出方法 | |
KR20030027295A (ko) | 반도체 제조 장비의 웨이퍼 세정 장비 | |
JP4245387B2 (ja) | 基板搬送装置及び基板処理装置 | |
JP2003133275A (ja) | 加工装置の中心位置合わせ兼洗浄機構および中心位置合わせ兼洗浄機構を備えた研削装置 | |
JP2003282673A (ja) | 半導体ウエーハの搬送装置 | |
JP7359583B2 (ja) | 加工装置 | |
JP4417525B2 (ja) | 研削装置 | |
JP4847353B2 (ja) | ウエーハの加工装置 | |
JP2003077982A (ja) | 搬送装置 | |
JP7372176B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2003133392A (ja) | 被加工物の中心位置合わせ機構および中心位置合わせ機構を備えた研削装置 | |
JP2002321132A (ja) | ワークの搬送装置 | |
JP2002009131A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
JP4074118B2 (ja) | 研磨装置 | |
JP4336085B2 (ja) | 研磨装置 | |
JP2003257912A (ja) | 半導体ウエーハの洗浄装置 | |
JP4331449B2 (ja) | 加工装置 | |
JP5014964B2 (ja) | 研削装置における被加工物の保持機構 | |
JP2003273055A (ja) | スピンナー洗浄装置 | |
JPH07153721A (ja) | ダイシング装置 | |
JP2001358093A (ja) | 切断機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040715 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20070319 |