JP2003126751A - ペースト塗布機 - Google Patents

ペースト塗布機

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JP2003126751A
JP2003126751A JP2001330130A JP2001330130A JP2003126751A JP 2003126751 A JP2003126751 A JP 2003126751A JP 2001330130 A JP2001330130 A JP 2001330130A JP 2001330130 A JP2001330130 A JP 2001330130A JP 2003126751 A JP2003126751 A JP 2003126751A
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JP
Japan
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paste
nozzle
substrate
discharge port
distance
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Pending
Application number
JP2001330130A
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English (en)
Inventor
Junichi Matsui
淳一 松井
Fukuo Yoneda
福男 米田
Shigeru Ishida
茂 石田
Yukihiro Kawasumi
幸宏 川隅
Yoshiaki Tokuyasu
良紀 徳安
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Hitachi Plant Technologies Ltd
Original Assignee
Hitachi Industries Co Ltd
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Publication date
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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の複数のノズルを有するプラズマディスプ
レイ用のペースト塗布機においては、ヘッド部の交換等
を行うとセンサの検出する基準位置とノズルの吐出口の
位置関係にずれが生じ、その補正をリブ位置を用いて行
っていたが、リブの表面は凹凸が大きく正確な補正は難
しかった。 【解決手段】リブのないダミー基板を用いてペーストを
塗布して、ペーストの塗布基準位置とセンサの基準位置
とのずれを予め計測して、そのずれ量を機械的ずれ量と
して、予め記憶しておき、実基板にペーストを塗布する
構成としたペースト塗布機とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ペースト塗布機に
係り、特に、複数の吐出ノズル(又は吐出口)を備えた
ペースト塗布機に関する。
【0002】
【従来の技術】プラズマディスプレイの製造工程でR
光、G光、B光に発光する夫々の蛍光体(以下、これら
蛍光体を、夫々、R蛍光体、G蛍光体、B蛍光体とい
う)などの形成に用いるペースト塗布機として、特開平
10−27543号公報や特開平10−223138号
公報で提案されているものがある。
【0003】特開平10−27543号公報に記載のペ
ースト塗布機では、予め計測したノズル先端、基板間の
距離やノズル先端、リブ間の距離に倣ってノズルを上下
させながら、ノズル、基板間の相対位置関係を変化させ
ることにより、基板上に蛍光体のペーストパタ−ンを塗
布するようにしている。これらノズル先端、基板間の距
離やノズル先端、リブ間の距離の計測は、基板の表面や
リブ上に設定した3点で行なって、夫々毎に検出したこ
れら3点を通る仮想曲面を設定し、基板の表面上やリブ
上でそれに対応する仮想曲面に平行にノズルを移動させ
ることが記載されている。
【0004】上記特開平10−223138号公報に記
載のペースト塗布機では、基板上から任意の高さ位置に
ノズル先端を設定してノズルの先端から基板上にガイド
を垂らし、このガイドに蛍光体のペーストを滴らせて各
リブ間の基板上に塗布するようにしており、ノズル先
端、基板間の距離は格段調整していない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、プラズマデ
ィスプレイを構成する基板に設けられたリブ間の距離
は、150ミクロン程度と微細である。このため、これ
らリブ間に正確に蛍光体のペーストを塗布する必要があ
る。
【0006】しかしながら、プラズマディスプレイは大
画面であって、その基板は液晶ディスプレイ用の基板よ
りも厚くなっており、表面が平坦なテーブルに載置した
場合、基板の表面は平坦にならず、波打っていることが
多い。このため、上記特開平10−27543号公報に
記載のように、3点で予め距離を計測する程度では、基
板の表面のうねりに追従させてノズル先端の高さ位置を
変化させ、ノズル先端、基板間の距離を一定に保つこと
はできない。そこで、計測点数を増加させることが考え
られる。しかし、計測点数を多くするとデータ量が増え
て、これを記憶するために大容量のメモリが必要とな
る。また、計測に要する時間が長くなって処理が面倒に
なる。
【0007】なお、リブは基板上にガラスを焼成して形
成されるので、リブの表面の凹凸は激しく、リブ上を計
測点とすることはノズル先端、基板間の距離に正確に反
映させることができないので、倣い制御の基準としては
相応しくない。
【0008】また、上記の特開平10−223138号
公報に記載のペースト塗布機の場合は、基板の表面状態
に係わらず、ノズル先端、基板間の距離を大き目に設定
している。このため、塗布の始端や終端では、ペースト
の滴りを推し量る必要があって、ペーストの吐出開始や
終了の制御が難しく、所望形状にペーストを塗布できな
い恐れがあった。
【0009】本発明は、以上のような点に鑑みてなされ
たものであって、その目的は、所望の位置にペーストパ
ターンを高精度に形成できるペースト塗布機を提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、複数のペースト収納筒の夫々に設けた
ノズルと、前記ノズルの吐出口に対向して基板を載置す
るテーブルと、前記基板と前記ノズルの吐出口との相対
位置関係を変化させる駆動機構と、前記吐出口からペー
ストを吐出するための圧力を前記ペースト収納筒に印加
する空圧制御系とを備え、ノズルを基板方向に移動させ
るシリンジ保持ベースに前記吐出口と基板との間の距離
計測を行う距離センサと、前記複数のノズルを保持する
ノズルホルダと、前記ノズルホルダを移動するノズル移
動機構とを設け、実基板にペーストを塗布する前に、前
記複数のノズルの内の1つのノズルの吐出口位置と前記
センサの計測位置を所定位置になるように前記ノズル移
動機構で調整その結果を記録しておきそれを実基板のペ
ースト塗布時に用いて制御する。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
用いて説明する。図1は本発明によるペースト塗布機の
一実施形態を示す斜視図である。図において、架台1上
には基板搬送コンベア2a、2bが設けられ、基板吸着
盤3と、θ軸移動テーブル4と、Y軸移動テーブル5
a、5bと、X軸移動テーブル6とが設けて有る。ま
た、X軸移動テーブル6には、塗布ヘッド7がX軸方向
に移動できるように取り付けてある。更に架台1には、
制御部8と、空圧ユニット9と、モニタ10と、キーボ
ード(操作パネル)11とが設けてある。
【0012】同図において、基板搬送コンベア2a、2
bは昇降手段を備えている。この昇降手段により、プラ
ズマディスプレイ製造用の基板KをX軸方向に搬送して
きて、基板吸着盤3上に降下することにより載置する。
また、塗布終了時に基板搬送コンベア2a、2bを上昇
させて、基板Kを受け取り、X軸方向に外部に搬送す
る。なお、図示を省略したが、基板K上には、Y軸方向
に平行な複数のリブが形成されている。
【0013】θ軸移動テーブル4は、基板吸着盤3をθ
軸を中心に回転させる。また、Y軸移動テーブル5a、
5bは、X軸移動テーブル6をY軸方向に駆動させるも
のであり、サーボモータと支持剛性を確保するための案
内機構を備えている。
【0014】塗布ヘッド7はX軸移動テーブル6に設け
られ、X軸移動テーブル6を駆動することによりX軸方
向に移動する。モニタ10は運転状態の表示や画像入力
状態を映し出し、キーボード11は運転データの入力や
装置の操作を行なうものである。
【0015】架台1上には、図示しない位置決め用カメ
ラが2台設置されている。これにより、基板Kに写植さ
れた位置決めマーク位置を読み取る。その結果に基づい
て、θ軸移動テーブル4を駆動して基板Kの辺縁がXY
各軸に平行にする。更に、基板Kの基板吸着盤3上にお
ける位置を確認する。なお、これらカメラが、塗布ヘッ
ド7の移動域と干渉する場合には、基板吸着盤3の下部
にカメラを設置し、基板吸着盤3を透過して位置決めマ
ークを検出し、画像処理して位置決めするようにしても
よい。
【0016】図2に塗布ヘッド7の拡大斜視図を示す。
図において、Z軸テーブルベース12にZ軸移動テーブ
ル14がZ軸モータ13により移動可能に取付けて有
る。Z軸移動テーブル14はZ軸モータ13の正逆転運
動をZ軸方向に変換するためのボールねじなどの機械要
素と案内機構が内蔵されている。更に、Z軸移動テーブ
ル14にはペースト収納筒であるシリンジ16を保持す
るシリンジ保持ベース15が設けてある。シリンジ保持
ベース15は、Z軸移動テーブル14を駆動することに
より、Z軸方向に移動する。
【0017】また、シリンジ保持ベース15には、夫々
R、G、Bの蛍光体ペーストを収納したシリンジ16
R、16G、16Bが取り付けて有る。各シリンジ16
R、16G、16Bにはエア供給口17と、ペースト供
給口18と、ペースト残量検知センサ19a、19bと
がペースト収納筒蓋20に取り付けてある。更に、各シ
リンジ16R、16G、16Bはノズルホルダ21に収
納されている。更にまた、シリンジ保持ベース15に
は、高さセンサ23や、積層した圧電素子を用いたノズ
ル駆動機構25や、ノズル移動案内機構26等が設けて
ある。
【0018】また、図3で説明するペーストを吐出する
複数のノズル27R、27G、27Bが下部に配置さ
れ、シリンジ16R、16G、16Bからこれらノズル
へのペーストの配給管路を内蔵している。これらシリン
ジ16R、16G、16Bには、夫々、エア供給口17
と、ペースト供給口18と、ペースト残量検知センサ1
9a、19b及びペースト収納筒蓋20とが設けられて
いる。
【0019】シリンジ16R、16G、16Bのペース
トの残量がペースト残量検知センサ19a、19bで検
出される。残量が基準量よりも減少した場合には、後述
するペーストタンク46からの配管のペースト供給口1
8を介してシリンジ16R、16G、16Bにペースト
が圧送される。また、ペーストの供給を行なわない場合
には、図示していないバルブにより、上記のペースト供
給経路が遮断されている。
【0020】高さセンサ23は、シリンジ保持ベース1
5に設けてある。また、ノズル駆動機構25は、本実施
形態では積層した圧電素子から成り、シリンジ保持ベー
ス15に設けられ、ノズルホルダ21をX軸方向に微少
移動させる。移動案内機構26はノズルホルダ21を保
持すると共に、ノズル駆動機構25によるノズルホルダ
21のX方向の移動を案内するものである。そして、移
動案内機構26はノズルホルダの清掃や交換のために、
取り外し易い構造となっている。なお、高さセンサ23
の詳細については、後で詳細に説明する。
【0021】図3に、基板K上に蛍光体ペーストを塗布
する過程の斜視図を示す。ノズルホルダ21の下側に夫
々R、G、B蛍光体ペーストのノズル27R、27G、
27Bが突出している。基板Kにはリブ28が設けてあ
る。
【0022】同図において、ノズルホルダ21には、R
蛍光体ペーストのノズル27RとG蛍光体ペーストのノ
ズル27GとB蛍光体ペーストのノズル27Bが、夫々
2個ずつ取り付けられている。図のようにノズル27
R、27G、27B、27R、27G、27Bの順にX
軸方向に配置されている(以下では、これらノズル27
R、27G、27Bをまとめてノズル27と総称す
る)。また、蛍光体ペーストが塗布される基板Kには、
リブ28がY軸方向に平行に設けてある。ノズル27
は、基板K上のリブとリブとの間に蛍光体ペーストを塗
布できるよう、リブ28の長手方向に対して直交するよ
うに配列されている。
【0023】すなわち、ノズル27R、27G、27
B、27R、27G、27Bが、夫々基板K上の隣合う
リブ28間に対向した状態で、このノズルホルダ21を
取り付けたX軸移動テーブル6が、Y軸移動テーブル5
a、5b上をY軸方向に移動することで、これらノズル
27がY軸方向に移動する。この移動中に、ノズル27
Rの先端のペースト吐出口(図示せず)からシリンジ1
6RのR蛍光体ペーストP(R)が、ノズル27Gの先
端ペースト吐出口からシリンジ16GのG蛍光体ペース
トP(G)が、ノズル27Bの先端のペースト吐出口か
らシリンジ16BのB蛍光体ペーストP(B)が夫々吐
出される。
【0024】そして、2つおきのリブ28間にR蛍光体
ペーストP(G)が、それらの隣りのリブ28間にG蛍
光体ペーストP(G)が、さらにそれらの隣りのリブ2
8間にB蛍光体ペーストP(B)が夫々塗布され、6個
のリブ28間に同時に蛍光体ペーストが塗布される。リ
ブ28間の塗布が終了すると、次に、X軸移動テーブル
6がY軸移動テーブル5a、5b上をY軸方向にリブ2
8の6個分移動し、これらリブ28間の上記の塗布動作
を行なう。
【0025】このようにして、ノズルホルダ21に6個
のノズル27を取り付けた6孔式のノズルにより、6個
のリブ28間のペースト塗布を同時に行なうことができ
る。なお、ノズル27R、27G、27Bを1個ずつ用
いた3孔式や、それ以外の3の倍数個を用いた方式とし
てもよい。また、3孔式や6孔式などのノズルの使用個
数が少ない場合には、夫々のノズル27をノズルホルダ
21に対して個別に着脱可能にしてもよい。しかし、取
り付け精度や取り付けの作業性を考慮すると、1つのブ
ロックに複数個の孔加工を施した多孔ノズル(例えば、
ノズルホルダ21に複数のノズル27を一体に固定して
取り付けた多孔ノズル)の使用が望まれる。
【0026】蛍光体ペーストPは、その発光色毎に粘度
やチクソ値などの物性値が異なる。このため、これらを
同時に高精度で塗布するためには、後述する空気圧力調
整機器をシリンジ16毎に接続し、蛍光体ペーストの種
類(発光色の異なる蛍光体ペースト)に応じて吐出圧力
を調整するとよい。
【0027】なお、上記構成は、プラズマディスプレイ
パネルでの蛍光体ペーストの塗布を例にしたが、単一ペ
ーストパターンを同一ピッチで複数形成するものにも適
用できる。
【0028】ところで、反りのある厚い基板Kの場合
は、基板吸着盤3に吸着させて、全面に渡って表面を平
坦にしようとしても、部分的に吸着されるだけで、反り
が直らず、基板Kの表面にうねりがあることが多い。ま
た、基板Kが大型化するにつれて基板吸着盤3は大きな
ものとなり、基板吸着盤3の辺縁域が重みで湾曲するよ
うになる。従って、基板Kも基板吸着盤3に合わせて湾
曲し、また、基板吸着盤3からはみ出している基板Kの
辺縁域は、自重で垂れ下がるように湾曲する。
【0029】一方、X軸移動テーブル6や塗布ヘッド7
は、基板Kの反りとは独立している。このため、ノズル
27のペースト吐出口と基板Kの表面との間の間隔(距
離:即ち、ペースト吐出口と基板Kとの間の間隔)、す
なわち、基板Kの表面と平行な方向(X、Y軸方向)で
の基板Kの表面に対するペースト吐出口の相対位置は、
基板Kのうねりや反りにより差が生じる。
【0030】そこで、基板Kの表面と平行な方向でのノ
ズル27のペースト吐出口と基板Kとの間の相対位置の
変化に応じて(この相対位置は、ペースト吐出口のX、
Y軸方向への移動いう)、ペースト吐出口と基板Kとの
間の間隔を計測し、リアルタイムでペースト吐出口と基
板Kとの間の間隔を調整制御する。この制御の後は、計
測データを適宜に処分することで制御部8の負担を軽減
させる。
【0031】図4は上記の計測を行なう図2の高さセン
サ23の一具体例の説明図である。高さセンサ23とし
ては、非接触三角測式センサ29を用いている。本図に
おいて、図3と同一部品には同一符号を付けてある。
【0032】同図において、非接触三角計測式センサ2
9は、半導体レーザを光源とし、三角測量によりペース
ト吐出口と基板Kとの間の間隔を計測する。すなわち、
内部に発光部と受光部とを備え、発光部からレーザ光
(検出光)L1を発光させ、このレーザ光L1を基板K
の表面上の計測点S1で反射させて受光部で受光するこ
とにより、測長を行なう。レーザ光L1の照射方向は、
リブ28の長手方向と平行になるように設定している。
【0033】この非接触三角計測式センサ29でペース
ト吐出口と基板Kとの間の間隔を計測することで、基板
Kの表面のうねりや反りを検出する。そして、この検出
結果に基づいて、ノズル27のペースト吐出口が基板K
の表面から予め決めた所望の間隔(距離)になるよう
に、Z軸モータ13をリアルタイムで制御する。
【0034】なお、高さセンサ23としては、三角計測
式センサに代えて、オートフォーカス式、画像計測式で
知られる光プローブ式や、超音波方式、磁気方式などの
センサを用いてもよい。
【0035】図5にペーストの塗布状態の拡大図を示
す。なお、簡略化のために、本図では、1つのノズル2
7のペースト吐出口27aのみを示し、他のノズルのペ
ースト吐出口は点線で表わしている。
【0036】ペースト吐出口27aは、理想的には、リ
ブ28間の中央を表わす実線の移動線R上を高さセンサ
23の計測点S1が通り高さ検出を行い、基板とペース
ト吐出口との高さが一定になるようペースト吐出口の高
さ制御を行うものである。しかし、ノズルホルダ21を
清掃や交換のために取り外すと、次の取付けの際、ペー
スト吐出口27aは、図示せぬ固定ネジの締め付け具合
の違いや、移動案内機構26のノズルホルダ21との接
触部の磨耗等により、必ずしも元の理想的な位置にはな
らない。そのため、ペースト塗布移動の際、ノズル27
をリブ間の中央に位置決めしても、図5に示すように、
高さセンサ23の計測点S1は、リブ28間の中央を表
わす実線の移動線Rを計測することができない。
【0037】このノズルホルダの取り付けずれ量は、高
さセンサ23の計測点S1とリブ28間の中央を表わす
実線の移動線R上のずれとなる。このため、このずれが
大きくなると、高さセンサ23はリブ28上を計測して
しまい、基板とペースト吐出口27aとの高さが大きく
変化してしまうことになる。
【0038】ところで、基板を上方から見たときの吐出
したペーストが末広りの形になる。また、単位移動距離
当たりのペーストの吐出量は一定である。しかし、高さ
センサの計側点がずれると、基板の表面方向での基板と
ノズルとの相対位置関係が変化するにつれて、ノズルを
相対移動方向に対して横から見たとき、塗布されたペー
ストは末広りになった分だけ薄くなり、場合によっては
薄くなりすぎてパターンが切れてしまうこともある。す
ると、ノズル側のペーストは浮いた状態になって収縮
し、所謂、線香花火の火玉状の溜りができあがって玉垂
れを起こす。すなわち、ペーストの切れた後にペースト
が存在しない空白部があるかと思うと、突如として基板
上にペーストの盛り上りが発生することになる。
【0039】PDPでは、基板上にストライプ状の複数
の障壁(リブ)を設けて、障壁の間に赤、緑、青の蛍光
体塗料のペーストが交互に塗布している。そのため、パ
ターンが切れた箇所では、蛍光体ペーストが存在しない
ので発色しない。また、切れた後の盛り上がりは、リブ
を越えて溢流(オーバーフロー)し、隣の蛍光体と交じ
り合って忠実な発光色を得られなくなる。
【0040】これを防止するためには、高さセンサ23
の計測点S1が、ペースト吐出口27aが通るべきリブ
28間の中央である理想的な移動線R上に調節する。こ
れにより、高さセンサ23はリブ28間の中央を計測
し、基板Kとペースト吐出口27aとの高さが一定にな
るようにペースト吐出口27aの高さを制御する。
【0041】図6に本発明の制御系の一例の構成図を示
す。制御部8は、マイクロコンピュータユニット8a
と、画像入力部8bと、外部インタフェース部8cと、
駆動制御部8dとからなり、それらがデータ通信バス8
eで結ばれている。駆動制御部8dにはサーボモータ3
1〜34と、エンコーダ35〜39と、ノズル駆動機構
25のアクチュエータ50とが接続されている。画像入
力部8bには、画像位置決め用カメラ40a、40bが
接続されている。外部インタフェース部8cには、正圧
源41及び負圧源42からの圧力を調整するための正圧
調整器43と負圧調整器44及びバルブユニット45と
からなる空圧ユニット9と、プリンタ48を備えた外部
パソコン49と、キーボード11とモニタ10と、高さ
センサ23等が接続されている。また、各シリンジ16
R、16G、16Bには蛍光体ペーストを収納したタン
クがバルブを介して接続されている。本図ではシリンジ
16Gに接続したタンク46とバルブ47のみを示して
ある。
【0042】同図において、サーボモータ33、34は
夫々Y軸移動テ−ブル5a、5bを駆動するものであ
り、サーボモータ32はX軸移動テーブル6を駆動する
もの、サーボモータ31はθ軸移動テーブル4を駆動す
るものである。また、エンコーダ35〜39は夫々上記
各モータの位置を検出するものである。アクチュエータ
50はノズル移動機構25の駆動源(圧電素子)であ
り、さらに、外部パソコン49やプリンタ48は適宜に
接続されるものである。また、タンク46には、G蛍光
体ペーストが貯蔵され、バルブ47は、シリンジ16G
に設けられたペースト残量検知センサ19a、19b
(図2)の検出結果で開閉制御されるものである。
【0043】なお、同図において、制御部8は、基板搬
送コンベア2a、2bの駆動制御系を含むが、ここでは
図示していない。さらに、マイクロコンピュータ8a
は、図示しないが、主演算部や運転処理プログラムを格
納したROM、主演算部での処理結果の他、制御部8に
接続された各機器からの入力データや装置の運転条件デ
ータを格納するRAM、データをやりとりする入出力部
などを備えている。
【0044】また、適宜に接続される外部パソコン49
やキーボード11、あるいは図示しないネットワークな
どから塗布形状データと塗布条件データなどの運転条件
データと、装置から転送されるプラズマディスプレイパ
ネルの生産枚数などの生産管理データなどが入力され
る。入力された各種データは、マイクロコンピュータ8
a内のRAMから外部パソコン49内のハードディスク
などの図示しない内部記憶媒体とフロッピディスクなど
の外部記憶媒体に記憶保管される。記憶保管されたデー
タのうち任意の情報が、操作者の指示によりプリンタ4
8で印刷できる。
【0045】また、入力されたデータに基いて、各サー
ボモータ13、32、33、34が駆動され、基板Kに
対してノズル27が、X、Y、Z軸方向に任意の距離を
移動する。なお、基板Kは負圧源42から分配した負圧
によって基板吸着盤3に吸引吸着、若しくは冶具で固定
される。そして、その移動中、マイクロコンピュータ8
aがバルブユニット45を制御して、正圧源41から正
圧調整器43とバルブユニット45とを介して、シリン
ジ16に僅かな空気圧を印加する。この空気圧により、
ノズル27のペースト吐出口27aから蛍光体ペースト
Pが吐出され、基板Kに所望のパターンを塗布する。
【0046】このシリンジ保持ベース15のX、Y軸方
向への水平移動中、即ち、塗布動作中、高さセンサ23
がノズル27と基板Kとの間の距離を計測し、この計測
距離を常に一定に維持するようにZ軸モータ13を制御
する。
【0047】図7にペースト塗布動作の一例のフローチ
ャートを示す。
【0048】同図において、先ず、電源が投入され(ス
テップ100)。次いで、装置の初期設定工程が実行さ
れる(ステップ200)。この初期設定では、Y軸移動
テーブル5a、5b及びX軸移動テーブル6により、塗
布ヘッド7を設けたZ軸テーブルベース12をX軸方向
に移動させる。これにより、ノズル27のペースト吐出
口が蛍光体ペーストの吐出開始位置(ペースト塗布開始
点)に位置付けられる。すなわち、ノズル27をペース
トパターン描画の対象とする基板(実基板)K(図1)
上の予め決められた基準位置に位置決め(原点位置に設
定)する。
【0049】さらに、各種データの設定が行われる。例
えば、この実基板Kに塗布する1以上のペーストパター
ン毎のデータ(ペーストパターンデータ)や実基板Kの
位置データである。また、実基板Kに実際にペーストを
塗布するときの、実基板Kとノズル27との間の相対速
度(かかる相対速度を塗布速度というが、特に、この場
合の塗布速度を初期設定塗布速度という)や、実基板K
の表面からのノズル27の高さ(これは、上記のノズル
27、基板K間の距離に等しく、実基板Kの表面に描画
されるペーストパターンの高さを決めるものであるか
ら、以下、塗布高さというが、特に、この場合の塗布高
さを初期設定塗布高さという)である。さらに、ノズル
27からのペースト吐出量を決めるシリンジ16に印加
される圧力(この圧力を塗布圧力というが、特に、この
場合の塗布圧力を初期設定塗布圧力という)などのデー
タである。さらには、ぺースト吐出終了位置を示す位置
データや塗布したペーストパターンの計測位置データ等
である。これらのデータはキーボード11から入力され
る。入力されたデータは先に説明したようにマイクロコ
ンピュータ8aに内蔵されたRAMに格納される。
【0050】この初期設定動作(ステップ200)が終
了すると、次に高さセンサ23の計測点S1を、ペース
ト吐出口27aとの位置合わせ処理を行う(ステップ2
50)。
【0051】図8に位置合わせ処理の動作説明図を示
す。図8(a)は塗布したリブの形成されていないダミ
ー基板にY方向に塗布した状態を示している。図8
(b)は図8(a)に示した計測開始ポイントM点から
ペーストパターンPに向かう方向に高さセンサ23の距
離出力を計測した際の計測例を示す。図8(b)におい
てX軸は高さセンサ23の計測位置、Y軸は計測高さを
表している。また、同図で距離Aは既知のペースト塗布
時のX軸位置から計測開始時のM点までのX軸移動テー
ブル6上に配置したZ軸テーブルベース12の移動距離
を示いている。また、距離Bは実際に計測した際のM点
から初めに検出されるペーストパターンの中央位置との
間の距離である。
【0052】図9に、この位置合わせ処理の動作フロー
を示す。
【0053】まず、リブの形成されていないダミー基板
K’をテーブル上に搭載し、(ステップ251)予め設
定しておいた塗布条件でY方向に一度塗布を行う(ステ
ップ252)。
【0054】前述のようにリブがないために、塗布量が
多過ぎたり、塗布後時間が経過すると、ペーストが基板
上を濡れ広がり、隣り合うパターンが互いに侵食する
(重なり合う)。このため、後述するペーストパターン
の中央部の検出が出来なくなるため、塗布圧力を下げて
ペーストの塗布量を減らすと良い。
【0055】次に、Z軸テーブルベース12をXY方向
に移動させ、予め設定しておいた校正開始位置M点まで
移動させる(ステップ253)。なおこの時、ノズルホ
ルダのペースト吐出口27aと高さセンサ23の計測点
S1が、理想的な移動線R上にあると仮定して移動す
る。しかし、実際にはノズルホルダ21の取付け時にお
いてずれが発生しており、このため校正開始位置Mに対
してM’に移動されることになる。
【0056】そこで、M’点を基点として、高さセンサ
23の出力を読み取りながら(ステップ254)、高さ
センサ23が塗布したペーストを横切るまで、予め設定
された量だけX軸方向にステップ移動させる(ステップ
255)。すなわち、ペーストパターンの中央が検出さ
れるまで(ステップ256)、ステップ移動を繰り返
す。
【0057】ペーストパターンの中央の判定方法は、塗
布直後のペーストパターンはかまぼこ上になっているの
でその最高点を中央とする。そのため、中央を判定する
方法として、1つには、基板K上のゼロ点を検出し、ペ
ーストパターンを挟むゼロ点間の中央を取る方法があ
る。他の方法として、ペーストパターンを充分に跨ぎき
るところまで計測したデータを、微分処理して、その変
化点の大きい2点間の中央を求める方法がある。どの方
法によるかは、ペーストの塗布特性や、高さセンサ23
の検出特性に応じて良好な中央検出方法を採用する。
【0058】次にステップ257では図8に示したよう
に、実際に測定した距離Aと、予め設定した距離B(理
想的に設置した距離)との差を求めることで、高さセン
サ23の計測点S1とペースト吐出口27aとのずれ量
Dを求める(D=A−B)。
【0059】次に、ノズル移動機構25のアクチュエー
タ50を動作させて、ずれ量D分だけノズルホルダ21
を移動する(ステップ258)。これにより、ノズルの
ペースト吐出孔27aと高さセンサ23の計測点S1が
理想的な移動線R上に位置するようなる。なお本実施例
ではノズルホルダ21に取付けるノズル27の位置は変
わらないものと仮定している。このため、ノズル27位
置の補正においては、ノズルホルダ21を移動するだけ
で良い。本発明は、このようにノズルホルダ21を微少
移動可能なように専用のアクチュエータ50を設けたも
のである。
【0060】高さセンサ23によるノズル27の位置補
正(ステップ250)が終了すると、ダミー基板K’を
実基板Kに交換して、実基板Kを基板吸着盤3に搭載し
て吸着保持させる(ステップ300)。
【0061】この基板搭載動作では、図1において、基
板搬送コンベア2a、2bによって実基板Kが外部から
x軸方向に基板吸着盤3の上方まで搬入され、図示しな
い昇降手段によってこれら基板搬送コンベア2a、2b
を下降させることにより、実基板Kを基板吸着盤3上に
載置する。
【0062】次に、実基板Kの予備位置決めを行なう
(ステップ400)。
【0063】この処理では、図1において、図示しない
位置決めチャックにより、実基板KのX、Y軸方向の粗
い位置合わせが行なわれる。その後、基板吸着盤3に載
置された実基板Kの位置決め用マ−クを画像認識カメラ
40a、40bで撮影する。それを画像処理して実基板
Kのθ方向での傾きを検出する。この検出結果に応じ
て、θ方向の移動を行うサーボモータ31を駆動して、
θ方向の傾きも補正してX、Y軸方向に対する正確な位
置合せが行なわれる。
【0064】次に、予め設定された塗布順序が1番目の
ペーストパターンデータから順番にペーストのパターン
塗布が行なわれる(ステップ500)。図10にパター
ン塗布処理のフローチャートを示す。
【0065】同図において、先ず、塗布条件の設定を行
なわれる(ステップ501)。なお、マイクロコンピュ
ータ8aに内蔵したRAMには、塗布条件の設定のため
の記憶テーブルが設けてある。この記憶テーブルに、塗
布描画すべき第1番目のペーストパターンの塗布条件と
して、塗布速度や塗布圧力、塗布高さのように設定され
る。このような設定を最終番目のペーストパターンのも
のまで行なう。他に、塗布パターン移動データや開始点
座標や、終点座標や、サックバック圧力や、塗布終了後
のノズル上昇量等が設定される。これらの設定は、図7
のステップ200で予め初期設定された諸データから塗
布に必要なものを選択し、それらを塗布条件としてRA
Mの記憶テーブルに写し替えるものである。
【0066】次に、設定された塗布開始位置にノズル2
7のペースト吐出口を位置付けるために、Y軸移動テー
ブル5a、5bやX軸移動テーブル6を駆動する(ステ
ップ502)。更に、Z軸テーブルベース12を移動さ
せて描画(塗布)開始点上にノズル27を移動させる。
【0067】次に、Z軸モータ13により、ノズル27
の高さの設定を行なう(ステップ503)。この設定さ
れる高さは、既にRAMに記憶された塗布高さであり、
ノズル27、実基板K間の距離がこの塗布高さに等しく
なるようにするものである。この高さは、高さセンサ2
3の計測結果によって確認される。
【0068】以上の処理が終了すると、次に、マイクロ
コンピュータ8a内のRAMに格納されているペースト
パターンデータに基いて、Y軸移動テーブル5a、5b
やX軸移動テーブル6が駆動される(ステップ50
4)。これにより、ノズル27のペースト吐出口27a
が、実基板Kに対向した状態で、このペーストパターン
データに応じてX、Y軸方向に移動する。
【0069】また、図6において、正圧源41からシリ
ンジ16に正圧調整器43によって、塗布圧力に調整さ
れた空気圧がバルブユニット45を介して印加される。
これによって、ノズル27のペースト吐出口27aから
ペーストが吐出し始める(ステップ505)。
【0070】なお、ペーストが吐出する直前に、負圧源
42からシリンジ16に負圧調整器44によってサック
バック圧力に調整された負圧をバルブユニット45を介
してわずかな時間印加する。これによって、ノズル27
のペースト吐出口27aに溜ったペーストをシリンジ1
6内に吸い込む。そのため、ペーストパターンの始端部
でペーストの溜りが生ずることなく、ペーストの塗布が
できる。
【0071】この塗布描画動作の開始すると、マイクロ
コンピュータ8aに、高さセンサ23からノズル27と
実基板Kとの間の距離の実測データを入力する。マイク
ロコンピュータ8aは、入力されたデータに基づいて、
実基板Kの表面のうねりや反り量を求める。この求めた
値に応じて、Z軸モータ13を駆動することにより、実
基板Kの表面からノズル27までの高さを略一定に保持
する(ステップ506)。
【0072】従って、ノズル27と実基板Kとの間の距
離を、前以って計測する必要がなくなり、プラズマディ
スプレイパネルの処理枚数(即ち、生産性)向上でき
る。また、計測データを記憶しておくためのメモリが不
要となる。また、ノズル27の吐出口27aを実基板K
の表面に可能な限り近づけることもできる。さらに、ノ
ズル27をうねりに追従させて一定の高さを保持でき、
高精度にペーストを塗布できる。
【0073】次に、塗布すべきペーストパターンの終端
であるか否かの判断行う(ステップ507)。終端でな
ければ、再び実基板Kの表面のうねりの測定処理、即
ち、ステップ506の塗布高制御処理に戻り、一連の処
理を実行する。
【0074】ペーストパターンの塗布終端に達すると、
正圧源からの空気圧の印加を停止しすることで、ペース
ト吐出を停止する(ステップ508)。そして、Z軸モ
ータ13を駆動して予め設定された上昇量分だけノズル
27を上昇させる(ステップ509)。
【0075】次に、先にRAMに設定されたペーストパ
ターンのデータの全てが使い切ったか否かを判定する
(ステップ510)。全パターン終了時には、処理動作
を終了する(ステップ511)。まだ残りのデータがあ
る場合は、ステップ501に戻る。
【0076】以上のようにして1つの実基板Kでのペー
ストパターンの塗布描画終了すると、図7において、基
板排出処理(ステップ600)に進む。即ち、図1にお
いて、実基板Kの基板吸着盤3への吸着が解除され、基
板搬送コンベア2a、2bを上昇させて実基板Kをこれ
に載置する。その状態で基板搬送コンベア2a、2bを
X方向に移動させて、実基板Kを装置外に排出する。
【0077】そして、以上の全工程が終了したか否かを
判定する(ステップ700)。複数枚の実基板Kに同じ
ペーストパターンデータを用いてペーストパターンを塗
布描画する場合には、別の実基板Kに対して基板搭載処
理(ステップ300)に戻り、以上説明した動作(処
理)が繰り返される。全ての実基板について処理が終了
すると、作業が全て終了とする(ステップ800)。
【0078】以上、本発明の一実施形態について説明し
たが、この実施形態のみに限定されるものではない。
【0079】また、ノズルホルダのアクチュエータ50
として圧電素子を用いることで説明したが、リニアモー
タを用いた構成としても可能である。
【0080】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
予めノズル位置と高さセンサの位置を精度良く調整して
おくことができ、所望の位置にペーストパターンを高精
度にしかも高速に形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるペースト塗布機の一実施形態を示
す斜視図である。
【図2】塗布ヘッドの詳細を示す斜視図である。
【図3】基板K上に蛍光体ペーストを塗布する過程を示
す斜視図である。
【図4】非接触三角測式センサによるノズル、基板間の
間隔(距離)の計測動作の説明図である。
【図5】高さセンサよるノズルの位置制御方法を示す図
である。
【図6】本発明の制御系の一例のブロック図である。
【図7】ペースト塗布動作の一例のフローチャートであ
る。
【図8】本発明の位置合わせ処理動作の説明図である。
【図9】位置合わせ処理の一例を示すフローチャートで
ある。
【図10】パターン塗布処理の一例を示すフローチャー
トである。
【符号の説明】
1…架台、2a,2b…コンベア、3…基板吸着板、5
a,5b…Y軸移動テーブル、6…X軸移動テーブル、
7…塗布ヘッド、8…制御部、13…Z軸モータ、14
…Z軸移動テーブル、15…シリンジ保持ベース、16
R、16G、16B…蛍光体ペーストのシリンジ、21
…ノズル、23…高さセンサ、25…ノズル駆動機構、
26ノズル移動案内機構、27R、27G、27B…ノ
ズル、27a…ペースト吐出口、28…リブ、29…非
接触三角計測式センサ、K…プラズマディスプレイパネ
ルの基板。
フロントページの続き (72)発明者 石田 茂 東京都足立区中川四丁目13番17号 株式会 社日立インダストリイズ内 (72)発明者 川隅 幸宏 東京都足立区中川四丁目13番17号 株式会 社日立インダストリイズ内 (72)発明者 徳安 良紀 東京都足立区中川四丁目13番17号 株式会 社日立インダストリイズ内 Fターム(参考) 4F041 AA02 AA05 AB01 BA04 BA22 4F042 AA02 AA06 AB00 BA08 CA01 CB02 CB03 DF01 DF11 5C028 FF06 5C040 GG09 JA13

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数のペースト収納筒の夫々に設けたノズ
    ルと、前記ノズルの吐出口に対向して基板を載置するテ
    ーブルと、前記基板と前記ノズルの吐出口との相対位置
    関係を変化させる駆動機構と、前記吐出口からペースト
    を吐出するための圧力を前記ペースト収納筒に印加する
    空圧制御系とを備えたペースト塗布機において、 ノズルを基板方向に移動させるシリンジ保持ベースに前
    記吐出口と基板との間の距離計測を行う距離センサと、
    前記複数のノズルを保持するノズルホルダと、前記ノズ
    ルホルダを移動するノズル移動機構とを設け、実基板に
    ペーストを塗布する前に、前記複数のノズルの内の1つ
    のノズルの吐出口位置と前記センサの計測位置を所定位
    置になるように前記ノズル移動機構で調整することを特
    徴とするペースト塗布機。
  2. 【請求項2】請求項1記載のペースト塗布機において、 予めダミー基板上に前記吐出口から吐出したペーストパ
    ターンを前記距離センサで計測し、ペーストパターン検
    出位置からペースト吐出口と距離センサの計測点のずれ
    量を求め、前記ずれ量を前記ノズル駆動機構で補正する
    ことを特徴とするペースト塗布機。
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