JP2003115485A - 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板 - Google Patents

膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板

Info

Publication number
JP2003115485A
JP2003115485A JP2001307909A JP2001307909A JP2003115485A JP 2003115485 A JP2003115485 A JP 2003115485A JP 2001307909 A JP2001307909 A JP 2001307909A JP 2001307909 A JP2001307909 A JP 2001307909A JP 2003115485 A JP2003115485 A JP 2003115485A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
bis
group
substrate
tri
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001307909A
Other languages
English (en)
Inventor
Michinori Nishikawa
通則 西川
Matthias Patz
マティアス パッツ
Manabu Sekiguchi
学 関口
Atsushi Shioda
淳 塩田
Kinji Yamada
欣司 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2001307909A priority Critical patent/JP2003115485A/ja
Priority to KR1020020057742A priority patent/KR20030027694A/ko
Priority to US10/252,607 priority patent/US6890605B2/en
Priority to EP02021167A priority patent/EP1296365B1/en
Priority to DE60237746T priority patent/DE60237746D1/de
Priority to TW91122001A priority patent/TW574735B/zh
Publication of JP2003115485A publication Critical patent/JP2003115485A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • C23C18/1208Oxides, e.g. ceramics
    • C23C18/1212Zeolites, glasses
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/04Pretreatment of the material to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • C23C18/122Inorganic polymers, e.g. silanes, polysilazanes, polysiloxanes

Abstract

(57)【要約】 【課題】 積層された膜に関し、さらに詳しくは、半導
体素子などにおいてCVD法で形成される塗膜との密着
性に優れた半導体用積層膜に関する。 【解決手段】 (A)基板に、紫外線照射処理、酸素プ
ラズマ処理、窒素プラズマ処理、ヘリウムプラズマ処
理、アルゴンプラズマ処理、水素プラズマ処理、アンモ
ニアプラズマ処理から選ばれる少なくとも1種の処理を
行った後、(B)ポリシロキサンならびに有機溶剤を含
む膜形成用組成物を塗布し、加熱することを特徴とする
膜形成方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、積層された膜に関
し、さらに詳しくは、半導体素子などにおいてCVD法
で形成される塗膜との密着性に優れた半導体用積層膜に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子などにおける層間絶縁
膜として、CVD法などの真空プロセスで形成されたシ
リカ(SiO2 )膜が多用されている。そして、近年、
より均一な層間絶縁膜を形成することを目的として、S
OG(Spin on Glass)膜と呼ばれるテト
ラアルコキシランの加水分解生成物を主成分とする塗布
型の絶縁膜も使用されるようになっている。また、半導
体素子などの高集積化に伴い、有機SOGと呼ばれるポ
リオルガノシロキサンを主成分とする低比誘電率の層間
絶縁膜が開発されている。特に半導体素子などのさらな
る高集積化や多層化に伴い、より低比誘電率、好ましく
は比誘電率2.5以下で、かつ基板との密着性に優れた
層間絶縁膜材料が求められるようになっている。
【0003】低比誘電率の材料としては、アンモニアの
存在下にアルコキシシランを縮合して得られる微粒子と
アルコキシシランの塩基性部分加水分解物との混合物か
らなる組成物(特開平5−263045、同5−315
319)や、ポリアルコキシシランの塩基性加水分解物
をアンモニアの存在下縮合することにより得られた塗布
液(特開平11−340219、同11−34022
0)が提案されているが、これらの方法で得られる材料
は、単体では基板との密着性が劣ったり、比誘電率が
2.5を越えてしまうという問題があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決するための膜形成方法に関し、さらに詳しくは、
半導体素子などにおける層間絶縁膜として、CVD法で
形成される堆積膜との密着性に優れた半導体用絶縁膜を
提供することを目的とする。
【0005】
〔式中、R4〜R7は同一または異なり、それぞれ1価の有機基、bおよびcは同一または異なり、0〜2の整数、R8は酸素原子、フェニレン基または−(CH2n −で表される基(ここで、nは1〜6の整数である)、dは0または1を示す。〕
次に、本発明は、上記膜形成方法でで得られる積層膜に
関する。次に、本発明は、上記積層膜からなる絶縁膜に
関する。次に、本発明は、上記絶縁膜を使用した半導体
用基板に関する。
【0006】
【発明の実施の形態】
【0007】本発明に使用する基板は、通常の半導体形
成に用いられるものを挙げることができ、その表面にC
VD膜を有するものである。このCVD膜は、Siを含
有し、かつO、C、N、Hの群から選ばれる少なくとも
1種の元素をさらに含有する堆積膜である。かかる堆積
膜としては、例えばテトラメトキシシラン、テトラエト
キシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエ
トキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジ
エトキシシラン、シラン、テトラメチルシラン、トリメ
チルシラン、ジメチルシラン、メチルシラン、エチルシ
ラン、フェニルシラン、ジフェニルシラン、ジシラノメ
タン、ビス(メチルシラノ)メタン、1,2−ジシラノ
エタン、1,2−ビス(メチルシラノ)エタン、2,2
−ジシラノプロパン、1,3,5−トリシラノ−2,
4,6−トリメチレン、1,3−ジメチルジシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、トリ
メチルシロキサン、1,3−ビス(シラノメチレン)ジ
シロキサン、ビス(1−メチルジシロキサニル)メタ
ン、2,2−ビス(1−メチルジシロキサニル)プロパ
ン、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキ
サン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、2,4,
6−トリシランテトラヒドロピラン、2,5−ジシラン
テトラヒドロフラン、およびこれら誘導体などを使用
し、酸素、一酸化炭素、二酸化炭素、窒素、アルゴン、
水、オゾン、アンモニア、N2Oなどの存在下でプラズ
マ重合した堆積膜を使用することができる。
【0008】本発明の膜形成方法では、上記のCVD膜
付き基板を、紫外線照射処理、酸素プラズマ処理、窒素
プラズマ処理、ヘリウムプラズマ処理、アルゴンプラズ
マ処理,水素プラズマ処理、アンモニアプラズマ処理か
ら選ばれる少なくとも1種の処理を行った後、膜形成用
組成物を塗布焼成することを特徴とする。
【0009】紫外線照射処理としては、300nm以下
の波長、より好ましくは200nm以下の光を基板に照
射することが好ましく、照射雰囲気としては酸素を含有
する気体中で行うことが好ましい。この際の光源の強度
は1〜100mW/cm2、基板への紫外線照射時間は
0.5〜100秒間であることが好ましい。
【0010】酸素プラズマ処理、窒素プラズマ処理、ヘ
リウムプラズマ処理、アルゴンプラズマ処理、水素プラ
ズマ処理、アンモニアプラズマ処理としては、基板を酸
素、窒素、ヘリウム、アルゴン、水素、アンモニアの雰
囲気でプラズマ処理を行い基板を処理することができ
る。この際の圧力は0.5〜500mTorr、プラズ
マ条件としては50〜150℃、RFパワー50〜10
00W、処理時間0.1〜5minである。
【0011】上記のCVD膜付き基板を、紫外線照射,
酸素プラズマ処理,窒素プラズマ処理,ヘリウムプラズ
マ処理,アルゴンプラズマ処理,水素プラズマ処理、ア
ンモニアプラズマ処理から選ばれる少なくとも1つの処
理を行うことで、CVD基板が親水性を帯び、上に形成
する絶縁膜との密着性が向上する。
【0012】上記のように処理したCVD膜付き基板に
膜形成用組成物を塗布する際には、スピンコート、浸漬
法、ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用い
られる。この際の膜厚は、乾燥膜厚として、1回塗りで
厚さ0.02〜2.5μm程度、2回塗りでは厚さ0.
04〜5.0μm程度の塗膜を形成することができる。
その後、常温で乾燥するか、あるいは80〜600℃程
度の温度で、通常、5〜240分程度加熱して乾燥する
ことにより、ガラス質または巨大高分子の絶縁膜を形成
することができる。この際の加熱方法としては、ホット
プレート、オーブン、ファーネスなどを使用することが
出来、加熱雰囲気としては、大気下、窒素雰囲気、アル
ゴン雰囲気、真空下、酸素濃度をコントロールした減圧
下などで行うことができる。また、電子線や紫外線を照
射することによっても塗膜を形成させることができる。
また、上記塗膜の硬化速度を制御するため、必要に応じ
て、段階的に加熱したり、窒素、空気、酸素、減圧など
の雰囲気を選択することができる。本発明において、膜
形成用組成物は、上記化合物(1)〜(4)の群から選
ばれた少なくとも1種の化合物および該化合物を加水分
解物、縮合した加水分解縮合物もしくはいずれか一方で
ある。ここで、本発明における加水分解物とは、上記化
合物(1)〜(4)に含まれるR1 O−基、R2 O−
基、R3 O−基、R5 O−基およびR6 O−基のすべて
が加水分解されている必要はなく、例えば、1個だけが
加水分解されているもの、2個以上が加水分解されてい
るもの、あるいは、これらの混合物であってもよい。ま
た、本発明における加水分解縮合物は、化合物(1)〜
(4)の加水分解物のシラノール基が縮合してSi−O
−Si結合を形成したものであるが、本発明では、シラ
ノール基がすべて縮合している必要はなく、僅かな一部
のシラノール基が縮合したもの、縮合の程度が異なって
いるものの混合物などをも包含した概念である。
【0013】化合物(1);上記一般式(1)におい
て、R1 の1価の有機基としては、アルキル基、アリー
ル基、アリル基、グリシジル基などを挙げることができ
る。ここで、アルキル基としては、メチル基、エチル
基、プロピル基、ブチル基などが挙げられ、好ましくは
炭素数1〜5であり、これらのアルキル基は鎖状でも、
分岐していてもよく、さらに水素原子がフッ素原子など
に置換されていてもよい。一般式(1)において、アリ
ール基としては、フェニル基、ナフチル基、メチルフェ
ニル基、エチルフェニル基、クロロフェニル基、ブロモ
フェニル基、フルオロフェニル基などを挙げることがで
きる。
【0014】一般式(1)で表される化合物の具体例と
しては、例えば、トリメトキシシラン、トリエトキシシ
ラン、トリ−n−プロポキシシラン、トリ−iso−プ
ロポキシシラン、トリ−n−ブトキシシラン、トリ−s
ec−ブトキシシラン、トリ−tert−ブトキシシラ
ン、トリフェノキシシランなどを挙げることが出来る。
化合物(1)として好ましい化合物は、トリメトキシシ
ラン、トリエトキシシラン、トリ−n−プロポキシシラ
ン、トリ−iso−プロポキシシランなどである。これ
らは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0015】化合物(2);上記一般式(2)におい
て、RおよびR2 の1価の有機基としては、アルキル
基、アリール基、アリル基、グリシジル基などを挙げる
ことができる。また、一般式(2)において、Rは1価
の有機基、特にアルキル基またはフェニル基であること
が好ましい。ここで、アルキル基としては、メチル基、
エチル基、プロピル基、ブチル基などが挙げられ、好ま
しくは炭素数1〜5であり、これらのアルキル基は鎖状
でも、分岐していてもよく、さらに水素原子がフッ素原
子などに置換されていてもよい。一般式(2)におい
て、アリール基としては、フェニル基、ナフチル基、メ
チルフェニル基、エチルフェニル基、クロロフェニル
基、ブロモフェニル基、フルオロフェニル基などを挙げ
ることができる。
【0016】一般式(2)で表される化合物の具体例と
しては、フルオロトリメトキシシラン、フルオロトリエ
トキシシラン、フルオロトリ−n−プロポキシシラン、
フルオロトリ−iso−プロポキシシラン、フルオロト
リ−n−ブトキシシラン、フルオロトリ−sec−ブト
キシシラン、フルオロトリ−tert−ブトキシシラ
ン、フルオロトリフェノキシシランなど;メチルトリメ
トキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ
−n−プロポキシシラン、メチルトリ−iso−プロポ
キシシラン、メチルトリ−n−ブトキシシラン、メチル
トリ−sec−ブトキシシラン、メチルトリ−tert
−ブトキシシラン、メチルトリフェノキシシラン、エチ
ルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エ
チルトリ−n−プロポキシシラン、エチルトリ−iso
−プロポキシシラン、エチルトリ−n−ブトキシシラ
ン、エチルトリ−sec−ブトキシシラン、エチルトリ
−tert−ブトキシシラン、エチルトリフェノキシシ
ラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシ
シラン、ビニルトリ−n−プロポキシシラン、ビニルト
リ−iso−プロポキシシラン、ビニルトリ−n−ブト
キシシラン、ビニルトリ−sec−ブトキシシラン、ビ
ニルトリ−tert−ブトキシシラン、ビニルトリフェ
ノキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−
プロピルトリエトキシシラン、n−プロピルトリ−n−
プロポキシシラン、n−プロピルトリ−iso−プロポ
キシシラン、n−プロピルトリ−n−ブトキシシラン、
n−プロピルトリ−sec−ブトキシシラン、n−プロ
ピルトリ−tert−ブトキシシラン、n−プロピルト
リフェノキシシラン、i−プロピルトリメトキシシラ
ン、i−プロピルトリエトキシシラン、i−プロピルト
リ−n−プロポキシシラン、i−プロピルトリ−iso
−プロポキシシラン、i−プロピルトリ−n−ブトキシ
シラン、i−プロピルトリ−sec−ブトキシシラン、
i−プロピルトリ−tert−ブトキシシラン、i−プ
ロピルトリフェノキシシラン、n−ブチルトリメトキシ
シラン、n−ブチルトリエトキシシラン、n−ブチルト
リ−n−プロポキシシラン、n−ブチルトリ−iso−
プロポキシシラン、n−ブチルトリ−n−ブトキシシラ
ン、n−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、n−ブ
チルトリ−tert−ブトキシシラン、n−ブチルトリ
フェノキシシラン、sec−ブチルトリメトキシシラ
ン、sec−ブチルトリエトキシシラン、sec−ブチ
ル−トリ−n−プロポキシシラン、sec−ブチル−ト
リ−iso−プロポキシシラン、sec−ブチル−トリ
−n−ブトキシシラン、sec−ブチル−トリ−sec
−ブトキシシラン、sec−ブチル−トリ−tert−
ブトキシシラン、sec−ブチル−トリフェノキシシラ
ン、t−ブチルトリメトキシシラン、t−ブチルトリエ
トキシシラン、t−ブチルトリ−n−プロポキシシラ
ン、t−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、t−
ブチルトリ−n−ブトキシシラン、t−ブチルトリ−s
ec−ブトキシシラン、t−ブチルトリ−tert−ブ
トキシシラン、t−ブチルトリフェノキシシラン、フェ
ニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラ
ン、フェニルトリ−n−プロポキシシラン、フェニルト
リ−iso−プロポキシシラン、フェニルトリ−n−ブ
トキシシラン、フェニルトリ−sec−ブトキシシラ
ン、フェニルトリ−tert−ブトキシシラン、フェニ
ルトリフェノキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、
ビニルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメ
トキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラ
ン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ
−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−トリ
フロロプロピルトリメトキシシラン、γ−トリフロロプ
ロピルトリエトキシシランなど;
【0017】ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエ
トキシシラン、ジメチル−ジ−n−プロポキシシラン、
ジメチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジメチル−
ジ−n−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−sec−ブト
キシシラン、ジメチル−ジ−tert−ブトキシシラ
ン、ジメチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシ
シラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチル−ジ−n
−プロポキシシラン、ジエチル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジエチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジエチ
ル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−te
rt−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、
ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピル
ジエトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−n−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、
ジ−n−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ
−n−プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−iso−
プロピルジメトキシシラン、ジ−iso−プロピルジエ
トキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−iso−プロ
ポキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−sec−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−tert−ブト
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−フェノキシシ
ラン、ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチ
ルジエトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−iso−プロポキシ
シラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ
−n−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−
ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチ
ル−ジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメト
キシシラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ
−sec−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−
ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジ
メトキシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−プロポキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−iso−プロポキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−tert−ブトキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−フェノキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニル−ジ−エトキ
シシラン、ジフェニル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ
フェニル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジフェニル
−ジ−n−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−sec−
ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−tert−ブトキシ
シラン、ジフェニルジフェノキシシラン、ジビニルトリ
メトキシシランなど;を挙げることができる。
【0018】化合物(2)として好ましい化合物は、メ
チルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、
メチルトリ−n−プロポキシシラン、メチルトリ−is
o−プロポキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エ
チルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、
ビニルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラ
ン、フェニルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシ
シラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキ
シシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジフェニルジメ
トキシシラン、ジフェニルジエトキシシランなどであ
る。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用して
もよい。
【0019】化合物(3);上記一般式(3)におい
て、R3 で表される1価の有機基としては、先の一般式
(2)と同様な有機基を挙げることができる。一般式
(3)で表される化合物の具体例としては、テトラメト
キシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロ
ポキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テ
トラ−n−ブトキシラン、テトラ−sec−ブトキシシ
ラン、テトラ−tert−ブトキシシラン、テトラフェ
ノキシシランなどが挙げられる。
【0020】化合物(4);上記一般式(4)におい
て、R4 〜R7 で表される1価の有機基としては、先の
一般式(2)と同様な有機基を挙げることができる。一
般式(4)のうち、R8 が酸素原子の化合物としては、
ヘキサメトキシジシロキサン、ヘキサエトキシジシロキ
サン、ヘキサフェノキシジシロキサン、1,1,1,
3,3−ペンタメトキシ−3−メチルジシロキサン、
1,1,1,3,3−ペンタエトキシ−3−メチルジシ
ロキサン、1,1,1,3,3−ペンタフェノキシ−3
−メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタメ
トキシ−3−エチルジシロキサン、1,1,1,3,3
−ペンタエトキシ−3−エチルジシロキサン、1,1,
1,3,3−ペンタフェノキシ−3−エチルジシロキサ
ン、1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−フェニ
ルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ
−3−フェニルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペ
ンタフェノキシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,
3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチルジシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジメチ
ルジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−
1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テト
ラメトキシ−1,3−ジエチルジシロキサン、1,1,
3,3−テトラエトキシ−1,3−ジエチルジシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ジエ
チルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−
1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3,3−テ
トラエトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,
1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ジフェニルジ
シロキサン、1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−
トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリエトキシ−
1,3,3−トリメチルジシロキサン、1,1,3−ト
リフェノキシ−1,3,3−トリメチルジシロキサン、
1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリエチルジ
シロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−
トリエチルジシロキサン、1,1,3−トリフェノキシ
−1,3,3−トリエチルジシロキサン、1,1,3−
トリメトキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキサ
ン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−トリフェ
ニルジシロキサン、1,1,3−トリフェノキシ−1,
3,3−トリフェニルジシロキサン、1,3−ジメトキ
シ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,
3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロ
キサン、1,3−ジフェノキシ−1,1,3,3−テト
ラメチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,
3,3−テトラエチルジシロキサン、1,3−ジエトキ
シ−1,1,3,3−テトラエチルジシロキサン、1,
3−ジフェノキシ−1,1,3,3−テトラエチルジシ
ロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テト
ラフェニルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,
1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジ
フェノキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキ
サンなどを挙げることができる。
【0021】これらのうち、ヘキサメトキシジシロキサ
ン、ヘキサエトキシジシロキサン、1,1,3,3−テ
トラメトキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,
1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジメチルジシロ
キサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジ
フェニルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,
3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジエトキ
シ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,
3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシ
ロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テト
ラフェニルジシロキサンなどを、好ましい例として挙げ
ることができる。
【0022】また、一般式(4)において、dが0の化
合物としては、ヘキサメトキシジシラン、ヘキサエトキ
シジシラン、ヘキサフェノキシジシラン、1,1,1,
2,2−ペンタメトキシ−2−メチルジシラン、1,
1,1,2,2−ペンタエトキシ−2−メチルジシラ
ン、1,1,1,2,2−ペンタフェノキシ−2−メチ
ルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタメトキシ−2
−エチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタエトキ
シ−2−エチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタ
フェノキシ−2−エチルジシラン、1,1,1,2,2
−ペンタメトキシ−2−フェニルジシラン、1,1,
1,2,2−ペンタエトキシ−2−フェニルジシラン、
1,1,1,2,2−ペンタフェノキシ−2−フェニル
ジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−
ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−
1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラフ
ェノキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2
−テトラメトキシ−1,2−ジエチルジシラン、1,
1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジエチルジシラ
ン、1,1,2,2−テトラフェノキシ−1,2−ジエ
チルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,
2−ジフェニルジシラン、1,1,2,2−テトラエト
キシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2,2−
テトラフェノキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,
1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリメチルジシラ
ン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリメチ
ルジシラン、1,1,2−トリフェノキシ−1,2,2
−トリメチルジシラン、1,1,2−トリメトキシ−
1,2,2−トリエチルジシラン、1,1,2−トリエ
トキシ−1,2,2−トリエチルジシラン、1,1,2
−トリフェノキシ−1,2,2−トリエチルジシラン、
1,1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリフェニル
ジシラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−ト
リフェニルジシラン、1,1,2−トリフェノキシ−
1,2,2−トリフェニルジシラン、1,2−ジメトキ
シ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−
ジエトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、
1,2−ジフェノキシ−1,1,2,2−テトラメチル
ジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テト
ラエチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,
2−テトラエチルジシラン、1,2−ジフェノキシ−
1,1,2,2−テトラエチルジシラン、1,2−ジメ
トキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、
1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラフェニル
ジシラン、1,2−ジフェノキシ−1,1,2,2−テ
トラフェニルジシランなどを挙げることができる。
【0023】これらのうち、ヘキサメトキシジシラン、
ヘキサエトキシジシラン、1,1,2,2−テトラメト
キシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テ
トラエトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,
2,2−テトラメトキシ−1,2−ジフェニルジシラ
ン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラメチ
ルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テ
トラメチルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,
2,2−テトラフェニルジシラン、1,2−ジエトキシ
−1,1,2,2−テトラフェニルジシランなどを好ま
しい例として挙げることができる。
【0024】さらに、一般式(4)において、R8 が−
(CH2n −で表される基の化合物としては、ビス
(トリメトキシシリル)メタン、ビス(トリエトキシシ
リル)メタン、ビス(トリ−n−プロポキシシリル)メ
タン、ビス(トリ−i−プロポキシシリル)メタン、ビ
ス(トリ−n−ブトキシシリル)メタン、ビス(トリ−
sec−ブトキシシリル)メタン、ビス(トリ−t−ブ
トキシシリル)メタン、1,2−ビス(トリメトキシシ
リル)エタン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)エ
タン、1,2−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)エ
タン、1,2−ビス(トリ−i−プロポキシシリル)エ
タン、1,2−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)エタ
ン、1,2−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)エ
タン、1,2−ビス(トリ−t−ブトキシシリル)エタ
ン、1−(ジメトキシメチルシリル)−1−(トリメト
キシシリル)メタン、1−(ジエトキシメチルシリル)
−1−(トリエトキシシリル)メタン、1−(ジ−n−
プロポキシメチルシリル)−1−(トリ−n−プロポキ
シシリル)メタン、1−(ジ−i−プロポキシメチルシ
リル)−1−(トリ−i−プロポキシシリル)メタン、
1−(ジ−n−ブトキシメチルシリル)−1−(トリ−
n−ブトキシシリル)メタン、1−(ジ−sec−ブト
キシメチルシリル)−1−(トリ−sec−ブトキシシ
リル)メタン、1−(ジ−t−ブトキシメチルシリル)
−1−(トリ−t−ブトキシシリル)メタン、1−(ジ
メトキシメチルシリル)−2−(トリメトキシシリル)
エタン、1−(ジエトキシメチルシリル)−2−(トリ
エトキシシリル)エタン、1−(ジ−n−プロポキシメ
チルシリル)−2−(トリ−n−プロポキシシリル)エ
タン、1−(ジ−i−プロポキシメチルシリル)−2−
(トリ−i−プロポキシシリル)エタン、1−(ジ−n
−ブトキシメチルシリル)−2−(トリ−n−ブトキシ
シリル)エタン、1−(ジ−sec−ブトキシメチルシ
リル)−2−(トリ−sec−ブトキシシリル)エタ
ン、1−(ジ−t−ブトキシメチルシリル)−2−(ト
リ−t−ブトキシシリル)エタン、ビス(ジメトキシメ
チルシリル)メタン、ビス(ジエトキシメチルシリル)
メタン、ビス(ジ−n−プロポキシメチルシリル)メタ
ン、ビス(ジ−i−プロポキシメチルシリル)メタン、
ビス(ジ−n−ブトキシメチルシリル)メタン、ビス
(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)メタン、ビス
(ジ−t−ブトキシメチルシリル)メタン、1,2−ビ
ス(ジメトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス
(ジエトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ
−n−プロポキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス
(ジ−i−プロポキシメチルシリル)エタン、1,2−
ビス(ジ−n−ブトキシメチルシリル)エタン、1,2
−ビス(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)エタン、
1,2−ビス(ジ−t−ブトキシメチルシリル)エタ
ン、1,2−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、
1,2−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,2
−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,
2−ビス(トリ−i−プロポキシシリル)ベンゼン、
1,2−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、
1,2−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼ
ン、1,2−ビス(トリ-t- ブトキシシリル)ベンゼ
ン、1,3−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、
1,3−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,3
−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,
3−ビス(トリ−i−プロポキシシリル)ベンゼン、
1,3−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、
1,3−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼ
ン、1,3−ビス(トリ−t−ブトキシシリル)ベンゼ
ン、1,4−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、
1,4−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,4
−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,
4−ビス(トリ−i−プロポキシシリル)ベンゼン、
1,4−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、
1,4−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼ
ン、1,4−ビス(トリ−t−ブトキシシリル)ベンゼ
ンなど挙げることができる。
【0025】これらのうち、ビス(トリメトキシシリ
ル)メタン、ビス(トリエトキシシリル)メタン、1,
2−ビス(トリメトキシシリル)エタン、1,2−ビス
(トリエトキシシリル)エタン、1−(ジメトキシメチ
ルシリル)−1−(トリメトキシシリル)メタン、1−
(ジエトキシメチルシリル)−1−(トリエトキシシリ
ル)メタン、1−(ジメトキシメチルシリル)−2−
(トリメトキシシリル)エタン、1−(ジエトキシメチ
ルシリル)−2−(トリエトキシシリル)エタン、ビス
(ジメトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキシ
メチルシリル)メタン、1,2−ビス(ジメトキシメチ
ルシリル)エタン、1,2−ビス(ジエトキシメチルシ
リル)エタン、1,2−ビス(トリメトキシシリル)ベ
ンゼン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼ
ン、1,3−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、
1,3−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,4
−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス
(トリエトキシシリル)ベンゼンなどを好ましい例とし
て挙げることができる。
【0026】なお、上記化合物(1)〜(4)の群から
選ばれた少なくとも1種のシラン化合物を加水分解、縮
合させる際に、化合物(1)〜(4)1モル当たり0.
5モルを越え150モル以下の水を用いることが好まし
く、0.5モルを越え130モルの水を加えることが特
に好ましい。添加する水の量が0.5モル以下であると
塗膜の耐クラック性が劣る場合があり、150モルを越
えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲ
ル化が生じる場合がある。
【0027】本発明において、上記化合物(1)〜
(4)の群から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物
を加水分解、縮合させる際に、触媒を用いる。この際に
用いることの出来る触媒としては、金属キレート化合
物、酸触媒、アルカリ触媒が挙げられる。金属キレート
化合物としては、例えば、トリエトキシ・モノ(アセチ
ルアセトナート)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ
(アセチルアセトナート)チタン、トリ−i−プロポキ
シ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−
ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ
−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チ
タン、トリ−t−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)チタン、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナー
ト)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセ
トナート)チタン、ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチ
ルアセトナート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(ア
セチルアセトナート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−t−ブトキ
シ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、モノエトキ
シ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n
−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタ
ン、モノ−i−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナ
ート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチル
アセトナート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリ
ス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−t−ブトキ
シ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、テトラキ
ス(アセチルアセトナート)チタン、トリエトキシ・モ
ノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−プロ
ポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ
−i−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チ
タン、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテ
ート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチル
アセトアセテート)チタン、トリ−t−ブトキシ・モノ
(エチルアセトアセテート)チタン、ジエトキシ・ビス
(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−n−プロポキ
シ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−i−
プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、
ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チ
タン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセ
テート)チタン、ジ−t−ブトキシ・ビス(エチルアセ
トアセテート)チタン、モノエトキシ・トリス(エチル
アセトアセテート)チタン、モノ−n−プロポキシ・ト
リス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−i−プ
ロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、
モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテー
ト)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチル
アセトアセテート)チタン、モノ−t−ブトキシ・トリ
ス(エチルアセトアセテート)チタン、テトラキス(エ
チルアセトアセテート)チタン、モノ(アセチルアセト
ナート)トリス(エチルアセトアセテート)チタン、ビ
ス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテ
ート)チタン、トリス(アセチルアセトナート)モノ
(エチルアセトアセテート)チタンなどのチタンキレー
ト化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセ
チルアセトナート)ジルコニウム、トリ−i−プロポキ
シ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ
−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセ
トナート)ジルコニウム、トリ−t−ブトキシ・モノ
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジエトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−
プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチル
アセトナート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−t−
ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチル
アセトナート)ジルコニウム、モノ−i−プロポキシ・
トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−
n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルア
セトナート)ジルコニウム、モノ−t−ブトキシ・トリ
ス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、テトラキス
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリエトキシ
・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ
−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジ
ルコニウム、トリ−i−プロポキシ・モノ(エチルアセ
トアセテート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モ
ノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−s
ec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジル
コニウム、トリ−t−ブトキシ・モノ(エチルアセトア
セテート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・
ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−i
−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコ
ニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エ
チルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−t−ブトキ
シ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モ
ノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコ
ニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセト
アセテート)ジルコニウム、モノ−i−プロポキシ・ト
リス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−
n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジル
コニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、モノ−t−ブトキシ・
トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テト
ラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ
(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビ
ス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリス
(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウムなどのジルコニウムキレート化合物;
トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリス
(エチルアセトアセテート)アルミニウムなどのアルミ
ニウムキレート化合物;などを挙げることができ、好ま
しくはチタンおよび/またはアルミのキレート化合物。
特に好ましくはチタンのキレート化合物を挙げることが
できる。これらの金属キレート化合物は、1種あるいは
2種以上を同時に使用しても良い。
【0028】酸触媒としては、例えば、塩酸、硝酸、硫
酸、フッ酸、リン酸、ホウ酸、シュウ酸などの無機酸;
酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン
酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シ
ュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セ
バシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン
酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ス
テアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、
安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン
酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢
酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン
酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石
酸、コハク酸、イタコン酸、メサコン酸、シトラコン
酸、リンゴ酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン
酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物などの有機
酸を挙げることができ、有機酸をより好ましい例として
挙げることができる。これら化合物は、1種あるいは2
種以上を同時に使用してもよい。
【0029】アルカリ触媒としては、例えば、水酸化ナ
トリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、ピリジ
ン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、
ピコリン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミ
ン、ジメチルモノエタノールアミン、モノメチルジエタ
ノールアミン、トリエタノールアミン、ジアザビシクロ
オクタン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウン
デセン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイ
ド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テ
トラプロピルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラ
ブチルアンモニウムハイドロオキサイド、アンモニア、
メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチル
アミン、ペンチルアミン、ヘキシルアミン、ペンチルア
ミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、
N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、
N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、
トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルア
ミン、トリブチルアミン、シクロヘキシルアミン、トリ
メチルイミジン、1−アミノ−3−メチルブタン、ジメ
チルグリシンなどを挙げることができ、より好ましくは
有機アミンであり、アンモニア、アルキルアミンおよび
テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドがシリカ
系膜の基板への密着性の点から特に好ましい。これらの
アルカリ触媒は1種あるいは2種以上を同時に使用して
も良い。
【0030】上記触媒の使用量は、化合物(1)〜
(4)中のR1 O−基,R2 O−基,R 3 O−基,R5
O−基およびR6 O−基で表される基の総量1モルに対
して、通常、0.00001〜10モル、好ましくは
0.00005〜5モルである。触媒の使用量が上記範
囲内であれば、反応中のポリマーの析出やゲル化の恐れ
が少ない。この際、膜形成用組成物の反応には、比誘電
率2.5以下の塗膜が得やすいという観点から、化合物
(1)〜(4)から選ばれる化合物を加水分解する際の
触媒がアルカリ触媒であることが好ましい。
【0031】本発明に使用する膜形成用組成物は、アル
コキシシラン加水分解縮合物を、通常、有機溶媒に溶解
または分散し、必要に応じて添加剤を加えてなる膜形成
用組成を塗布し、加熱してなるものである。この有機溶
媒としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド
系溶媒、エステル系溶媒および非プロトン系溶媒の群か
ら選ばれた少なくとも1種が挙げられる。ここで、アル
コール系溶媒としては、メタノール、エタノール、n−
プロパノール、i−プロパノール、n−ブタノール、i
−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、
n−ペンタノール、i−ペンタノール、2−メチルブタ
ノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、3
−メトキシブタノール、n−ヘキサノール、2−メチル
ペンタノール、sec−ヘキサノール、2−エチルブタ
ノール、sec−ヘプタノール、ヘプタノール−3、n
−オクタノール、2−エチルヘキサノール、sec−オ
クタノール、n−ノニルアルコール、2,6−ジメチル
ヘプタノール−4、n−デカノール、sec−ウンデシ
ルアルコール、トリメチルノニルアルコール、sec−
テトラデシルアルコール、sec−ヘプタデシルアルコ
ール、フェノール、シクロヘキサノール、メチルシクロ
ヘキサノール、3,3,5−トリメチルシクロヘキサノ
ール、ベンジルアルコール、ジアセトンアルコールなど
のモノアルコール系溶媒;
【0032】エチレングリコール、1,2−プロピレン
グリコール、1,3−ブチレングリコール、ペンタンジ
オール−2,4、2−メチルペンタンジオール−2,
4、ヘキサンジオール−2,5、ヘプタンジオール−
2,4、2−エチルヘキサンジオール−1,3、ジエチ
レングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレ
ングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価ア
ルコール系溶媒;エチレングリコールモノメチルエーテ
ル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレン
グリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコール
モノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシル
エーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、
エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、
ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレン
グリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコール
モノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチ
ルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテ
ル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピ
レングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコ
ールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノ
ブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエ
ーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、
ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多
価アルコール部分エーテル系溶媒;などを挙げることが
できる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2
種以上を同時に使用してもよい。
【0033】ケトン系溶媒としては、アセトン、メチル
エチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−
n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチ
ルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−
ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−
ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノ
ン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4
−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、アセトフェノ
ン、フェンチョンなどのほか、アセチルアセトン、2,
4−ヘキサンジオン、2,4−ヘプタンジオン、3,5
−ヘプタンジオン、2,4−オクタンジオン、3,5−
オクタンジオン、2,4−ノナンジオン、3,5−ノナ
ンジオン、5−メチル−2,4−ヘキサンジオン、2,
2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオン、
1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ヘ
プタンジオンなどのβ−ジケトン類などが挙げられる。
これらのケトン系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時
に使用してもよい。
【0034】アミド系溶媒としては、ホルムアミド、N
−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミ
ド、N−エチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルム
アミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−エチルアセトアミド、
N,N−ジエチルアセトアミド、N−メチルプロピオン
アミド、N−メチルピロリドン、N−ホルミルモルホリ
ン、N−ホルミルピペリジン、N−ホルミルピロリジ
ン、N−アセチルモルホリン、N−アセチルピペリジ
ン、N−アセチルピロリジンなどが挙げられる。これら
アミド系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用し
てもよい。
【0035】エステル系溶媒としては、ジエチルカーボ
ネート、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ジエチ
ル、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ
−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピ
ル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブ
チル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸
3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エ
チルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、
酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸
n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢
酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレ
ングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリ
コールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコール
モノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ−
n−ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメ
チルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエ
ーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピルエーテ
ル、酢酸プロピレングリコールモノブチルエーテル、酢
酸ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジ
プロピレングリコールモノエチルエーテル、ジ酢酸グリ
コール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エ
チル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミ
ル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸
メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミ
ル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジ
エチルなどが挙げられる。これらエステル系溶媒は、1
種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。非プロト
ン系溶媒としては、アセトニトリル、ジメチルスルホキ
シド、N,N,N´,N´−テトラエチルスルファミ
ド、ヘキサメチルリン酸トリアミド、N−メチルモルホ
ロン、N−メチルピロール、N−エチルピロール、N−
メチル−Δ3 −ピロリン、N−メチルピペリジン、N−
エチルピペリジン、N,N−ジメチルピペラジン、N−
メチルイミダゾール、N−メチル−4−ピペリドン、N
−メチル−2−ピペリドン、N−メチル−2−ピロリド
ン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、1,3
−ジメチルテトラヒドロ−2(1H)−ピリミジノンな
どを挙げることができる。
【0036】これらの有機溶剤の中で、特に下記一般式
(5)で表される有機溶剤が特に好ましい。 R15O(CHCH3CH2O)g16 ・・・・・(5) (R15およびR16は、それぞれ独立して水素原子、炭素
数1〜4のアルキル基またはCH3CO−から選ばれる
1価の有機基を示し、gは1〜2の整数を表す。)以上
の有機溶媒は、1種あるいは2種以上を混合して使用す
ることができる。本発明に使用する膜形成用組成物は、
アルコキシシラン加水分解縮合物を構成する化合物
(1)〜(4)を加水分解および/または縮合する際
に、同様の溶媒を使用することができる。
【0037】具体的には、化合物(1)〜(4)を溶解
させた溶媒中に水または溶媒で希釈した水を断続的ある
いは連続的に添加する。この際、特定塩基性化合物は溶
媒中に予め添加しておいてもよいし、水添加時に水中に
溶解あるいは分散させておいてもよい。この際の反応温
度としては、通常、0〜100℃、好ましくは15〜9
0℃である。
【0038】その他の添加剤 本発明に使用する膜形成用組成物には、さらにコロイド
状シリカ、有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリ
ング剤、ラジカル発生剤などの成分を添加してもよい。
コロイド状シリカとは、例えば、高純度の無水ケイ酸を
前記親水性有機溶媒に分散した分散液であり、通常、平
均粒径が5〜30nm、好ましくは10〜20nm、固
形分濃度が10〜40重量%程度のものである。このよ
うな、コロイド状シリカとしては、例えば、日産化学工
業(株)製、メタノールシリカゾルおよびイソプロパノ
ールシリカゾル;触媒化成工業(株)製、オスカルなど
が挙げられる。有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構
造を有する化合物、ビニルアミド系重合体、(メタ)ア
クリル系重合体、芳香族ビニル化合物、デンドリマー、
ポリイミド,ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリア
ミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ
素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する化
合物などを挙げることができる。
【0039】ポリアルキレンオキサイド構造を有する化
合物としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチ
レンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、
ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキ
シド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキシメ
チレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキル
エーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオ
キシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホル
マリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレ
ンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキ
シエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなど
のエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂
肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エ
ステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステ
ル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸
塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリ
コール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エス
テル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エ
ステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコ
ール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエー
テルエステル型化合物などを挙げることができる。ポリ
オキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー
としては下記のようなブロック構造を有する化合物が挙
げられる。 −(X)j−(Y)k− −(X)j−(Y)k−(X)l- (式中、Xは−CH2CH2O−で表される基を、Yは−
CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、jは1〜
90、kは10〜99、lは0〜90の数を示す)これ
らの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリ
オキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマ
ー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキル
エーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステ
ル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポ
リオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などの
エーテル型化合物をより好ましい例として挙げることが
できる。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用し
ても良い。
【0040】界面活性剤としては、例えば、ノニオン系
界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活
性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ
素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキ
レンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート
系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ
素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げること
ができる。
【0041】フッ素系界面活性剤としては、例えば1,
1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−
テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テ
トラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレン
グリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)
エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,
2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタ
プロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロ
ロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ
(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エ
ーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、
1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフ
ロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ
デカン、N−[3−(パーフルオロオクタンスルホンア
ミド)プロピル]-N,N‘−ジメチル−N−カルボキ
シメチレンアンモニウムベタイン、パーフルオロアルキ
ルスルホンアミドプロピルトリメチルアンモニウム塩、
パーフルオロアルキル−N−エチルスルホニルグリシン
塩、リン酸ビス(N−パーフルオロオクチルスルホニル
−N−エチルアミノエチル)、モノパーフルオロアルキ
ルエチルリン酸エステル等の末端、主鎖および側鎖の少
なくとも何れかの部位にフルオロアルキルまたはフルオ
ロアルキレン基を有する化合物からなるフッ素系界面活
性剤を挙げることができる。また、市販品としてはメガ
ファックF142D、同F172、同F173、同F1
83(以上、大日本インキ化学工業(株)製)、エフト
ップEF301、同303、同352(新秋田化成
(株)製)、フロラードFC−430、同FC−431
(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG71
0、サーフロンS−382、同SC−101、同SC−
102、同SC−103、同SC−104、同SC−1
05、同SC−106(旭硝子(株)製)、BM−10
00、BM−1100(裕商(株)製)、NBX−15
((株)ネオス)などの名称で市販されているフッ素系
界面活性剤を挙げることができる。これらの中でも、上
記メガファックF172,BM−1000,BM−11
00,NBX−15が特に好ましい。シリコーン系界面
活性剤としては、例えばSH7PA、SH21PA、S
H30PA、ST94PA(いずれも東レ・ダウコーニ
ング・シリコーン(株)製などを用いることが出来る。
これらの中でも、上記SH28PA、SH30PAが特
に好ましい。界面活性剤の使用量は、アルコキシシラン
加水分解縮合物(完全加水分解縮合物)に対して通常
0.0001〜10重量部である。これらは1種あるい
は2種以上を同時に使用しても良い。
【0042】シランカップリング剤としては、例えば3
−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−ア
ミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−
メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリ
シジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタ
クリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミ
ノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルト
リエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシ
ラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−
(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキ
シシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロ
ピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルト
リメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシ
シラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピル
トリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−ア
ミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシ
リルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキ
シシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリ
メトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−
トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9
−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテー
ト、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルア
セテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメト
キシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエ
トキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリ
メトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルト
リエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−
アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシ
エチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシランな
どが挙げられる。これらは1種あるいは2種以上を同時
に使用しても良い。
【0043】ラジカル発生剤としては、例えばイソブチ
リルパーオキサイド、α、α’ビス(ネオデカノイルパ
ーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、クミルパーオキシ
ネオデカノエート、ジ−nプロピルパーオキシジカーボ
ネート、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、
1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネオデ
カノエート、ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パ
ーオキシジカーボネート、1−シクロヘキシル−1−メ
チルエチルパーオキシネオデカノエート、ジ−2−エト
キシエチルパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチル
ヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、t−ヘキシルパ
ーオキシネオデカノエート、ジメトキブチルパーオキシ
ジカーボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブチル
パーオキシ)ジカーボネート、t−ブチルパーオキシネ
オデカノエート、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキ
サイド、t−ヘキシルパーオキシピバレート、t−ブチ
ルパーオキシピバレート、3,5,5−トリメチルヘキ
サノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイ
ド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキ
サイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキ
シ2−エチルヘキサノエート、スクシニックパーオキサ
イド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(2−エチルヘキ
サノイルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−
1−メチルエチルパーオキシ2−エチルヘキサノエー
ト、t−ヘキシルパーオキシ2−エチルヘキサノエー
ト、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、
m−トルオイルアンドベンゾイルパーオキサイド、ベン
ゾイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシイソブチ
レート、ジ−t−ブチルパーオキシ−2−メチルシクロ
ヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−
3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス
(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−
ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,3,5−トリメチ
ルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキ
シ)シクロヘキサン、2,2−ビス(4,4−ジ−t−
ブチルパーオキシシクロヘキシル)プロパン、1,1−
ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロデカン、t−ヘキ
シルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブ
チルパーオキシマレイン酸、t−ブチルパーオキシ−
3,3,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパ
ーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,5−ジ
(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパ
ーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパ
ーオキシ2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ヘ
キシルパーオキシベンゾエート、2,5−ジメチル−
2,5−ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブ
チルパーオキシアセテート、2,2−ビス(t−ブチル
パーオキシ)ブタン、t−ブチルパーオキシベンゾエー
ト、n−ブチル−4,4−ビス(t−ブチルパーオキ
シ)バレレート、ジ−t−ブチルパーオキシイソフタレ
ート、α、α’ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプ
ロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジ
メチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサ
ン、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジ−t−ブチル
パーオキサイド、p−メンタンヒドロパーオキサイド、
2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキ
シ)ヘキシン−3、ジイソプロピルベンゼンヒドロパー
オキサイド、t−ブチルトリメチルシリルパーオキサイ
ド、1,1,3,3−テトラメチルブチルヒドロパーオ
キサイド、クメンヒドロパーオキサイド、t−ヘキシル
ヒドロパーオキサイド、t−ブチルヒドロパーオキサイ
ド、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタン等を
挙げることができる。これらは1種あるいは2種以上を
同時に使用しても良い。ラジカル発生剤の配合量は、重
合体100重量部に対し、0.1〜10重量部が好まし
い。
【0044】このようにして得られる本発明に使用する
膜形成用組成物の全固形分濃度は、好ましくは、1〜3
0重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。組
成物の全固形分濃度が1〜30重量%であると、塗膜の
膜厚が適当な範囲となり、保存安定性もより優れるもの
である。なお、この全固形分濃度の調整は、必要であれ
ば、濃縮および上記有機溶剤による希釈によって行われ
る。
【0045】このようにして得られる層間絶縁膜は、C
VD膜との密着性に優れることから、LSI、システム
LSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RD
RAMなどの半導体素子用層間絶縁膜やエッチングスト
ッパー膜、半導体素子の表面コート膜などの保護膜、多
層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線
基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜、
エレクトロルミネッセンス表示素子用の保護膜や絶縁膜
などの用途に有用である。
【0046】
【実施例】以下、本発明を実施例を挙げてさらに具体的
に説明する。ただし、以下の記載は、本発明の態様例を
概括的に示すものであり、特に理由なく、かかる記載に
より本発明は限定されるものではない。なお、実施例お
よび比較例中の部および%は、特記しない限り、それぞ
れ重量部および重量%であることを示している。また、
各種の評価は、次のようにして行なった。
【0047】慣性半径 下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ー(GPC)(屈折率,粘度,光散乱測定)法により測
定した。 試料溶液:アルコキシシラン加水分解縮合物を、固形分
濃度が0.25%となるように、10mMのLiBrを
含むメタノールで希釈し、GPC(屈折率,粘度,光散
乱測定)用試料溶液とした。 装置:東ソー(株)製、GPCシステム モデル GPC−8020 東ソー(株)製、カラム Alpha5000/3000 ビスコテック社製、粘度検出器および光散乱検出器 モデル T−60 デュアルメーター キャリア溶液:10mMのLiBrを含むメタノール キャリア送液速度:1ml/min カラム温度:40℃
【0048】塗膜の比誘電率 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分
間、窒素雰囲気200℃で1分間基板を乾燥した。さら
にこの基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで18
分間基板を焼成した。得られた膜に対して、蒸着法によ
りアルミニウム電極パターンを形成させ比誘電率測定用
サンプルを作成した。該サンプルを周波数100kHz
の周波数で、横河・ヒューレットパッカード(株)製、
HP16451B電極およびHP4284Aプレシジョ
ンLCRメータを用いてCV法により当該塗膜の比誘電
率を測定した。
【0049】積層膜の密着性 積層膜付き基板を60℃の温水中に50時間浸漬し、1
00℃のホットプレートで10分間基板を乾燥した。得
られた基板の最上層にエポキシ樹脂を用いてスタッドピ
ン10本を固定し、150℃で1時間乾燥させた。この
スタッドピンをセバスチャン法を用いて引き抜き試験行
い、以下の基準で密着性を評価した。 ○:スタッドピン10本共CVD膜と塗膜の界面での剥
離無し ×:CVD膜と塗膜の界面での剥離発生
【0050】合成例1 石英製セパラブルフラスコに、蒸留エタノール570
g、イオン交換水160gと10%水酸化テトラメチル
アンモニウム水溶液30gを入れ、均一に攪拌した。こ
の溶液にメチルトリメトキシシラン136gとテトラエ
トキシシラン209gの混合物を添加した。溶液を60
℃に保ったまま、5時間反応を行った。この溶液にプロ
ピレングリコールモノプロピルエーテル300gを加
え、その後、50℃のエバポレーターを用いて溶液を1
0%(完全加水分解縮合物換算)となるまで濃縮し、そ
の後、酢酸の10%プロピレングリコールモノプロピル
エーテル溶液10gを添加し、反応液を得た。このよ
うにして得られた縮合物等の慣性半径は、17.8nm
であり、比誘電率は2.21であった。
【0051】合成例2 石英製セパラブルフラスコに、蒸留エタノール470.
9g、イオン交換水226.5gと10%水酸化カリウ
ム水溶液10.2gを入れ、均一に攪拌した。この溶液
にメチルトリメトキシシラン44.9gとテトラエトキ
シシラン68.6gの混合物を30分間かけて添加し
た。溶液を55℃に保ったまま、2時間反応を行った。
この溶液に20%マレイン酸水溶液80gを添加し、十
分攪拌した後、室温まで冷却した。この溶液にプロピレ
ングリコールモノプロピルエーテル400gを加え、そ
の後、50℃のエバポレーターを用いて溶液を10%
(完全加水分解縮合物換算)となるまで濃縮し、その
後、マレイン酸の10%プロピレングリコールモノプロ
ピルエーテル溶液10gを添加し、反応液を得た。こ
のようにして得られた縮合物等の慣性半径は、23.4
nmであり、比誘電率は2.11であった。
【0052】合成例3 石英製セパラブルフラスコ中で、メチルトリメトキシシ
ラン324.40gとトリエトキシシラン123.64
gを、プロピレングリコールモノエチルエーテル298
gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、
溶液温度50℃に安定させた。次に、フタル酸0.20
gを溶解させたイオン交換水254gを1時間かけて溶
液に添加した。その後、50℃で3時間反応させたの
ち、プロピレングリコールモノエチルエーテル502g
を加え反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液から
メタノールとエタノールを含む溶液を502gエバポレ
ーションで除去し、反応液を得た。このようにして得
られた縮合物等の慣性半径は、0.2nmであり、比誘
電率は2.72であった。
【0053】合成例4 石英製セパラブルフラスコ中で、蒸留トリメトキシシラ
ン77.04gと蒸留テトラキス(アセチルアセトナー
ト)チタン0.48gを、蒸留プロピレングリコールモ
ノプロピルエーテル290gに溶解させたのち、スリー
ワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させ
た。次に、イオン交換水84gを1時間かけて溶液に添
加した。その後、60℃で2時間反応させたのち、蒸留
アセチルアセトン25gを添加し、さらに30分間反応
させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液から
メタノールと水を含む溶液を149gエバポレーション
で除去し、反応液を得た。このようにして得られた縮
合物等の慣性半径は、0.3nmであり、比誘電率は
2.96であった。
【0054】実施例1 8インチシリコンウエハ上にApplied Mate
rial製Producer Sを用い、テトラメチル
シランのCVD膜を1000Å形成した。この堆積膜の
元素組成は、Si(26atomic%)、O(3at
omic%)、C(26atomic%)、H(45a
tomic%)であった。この基板に対して、ウシオ電
機製UVS−4200を使用して、10秒間波長172
nmの光を照射した。得られた基板上に、反応液を5
000Å塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分
間基板を乾燥した。さらにこの基板を430℃の窒素雰
囲気のファーネスで18分間基板を焼成した。この積層
膜の密着性を評価したところ、CVD膜と塗膜の界面で
の剥離は認められなかった。
【0055】実施例2 8インチシリコンウエハ上にApplied Mate
rial製Producer Sを用い、テトラメチル
シランのCVD膜を1000Å形成した。この堆積膜の
元素組成は、Si(26atomic%)、O(3at
omic%)、C(26atomic%)、H(45a
tomic%)であった。この基板を日立製作所製RE
−654X−II中に入れ、チャンバー内に酸素を導入
し、2mTorrとした。このチャンバー内で400W
のプラズマ処理を60秒間施した。得られた上に、反応
液を4000Å塗布した後、80℃で1分間、200
℃で1分間基板を乾燥した。さらにこの基板を430℃
の窒素雰囲気のファーネスで18分間基板を焼成した。
この積層膜の密着性を評価したところ、CVD膜と塗膜
の界面での剥離は認められなかった。
【0056】実施例3 8インチシリコンウエハ上にNevellus製Seq
uel Expressを用い、トリメチルシランのC
VD膜を1000Å形成した。この堆積膜の元素組成
は、Si(25atomic%)、O(4atomic
%)、C(21atomic%)、N(14atomi
c%)、H(36atomic%)であった。この基板
を日立製作所製RE−654X−II中に入れ、チャン
バー内に窒素を導入し、2mTorrとした。このチャ
ンバー内で400Wのプラズマ処理を60秒間施した。
得られた上に、反応液を4000Å塗布した後、80
℃で1分間、200℃で1分間基板を乾燥した。さらに
この基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで18分
間基板を焼成した。この積層膜の密着性を評価したとこ
ろ、CVD膜と塗膜の界面での剥離は認められなかっ
た。
【0057】実施例4 8インチシリコンウエハ上にNevellus製Seq
uel Expressを用い、シランとアンモニアの
CVD膜を1000Å形成した。この堆積膜の元素組成
は、Si(50atomic%)、O(4atomic
%)、C(3atomic%)、N(40atomic
%)、H(4atomic%)であった。この基板を日
立製作所製RE−654X−II中に入れ、チャンバー
内にアルゴンを導入し、2mTorrとした。このチャ
ンバー内で400Wのプラズマ処理を60秒間施した。
得られた上に、反応液50gと反応液5gの混合物
を4000Å塗布した後、80℃で1分間、200℃で
1分間基板を乾燥した。さらにこの基板を430℃の窒
素雰囲気のファーネスで18分間基板を焼成した。この
積層膜の密着性を評価したところ、CVD膜と塗膜の界
面での剥離は認められなかった。
【0058】実施例5 8インチシリコンウエハ上にApplied Mate
rial製Producer Sを用い、テトラメチル
シランのCVD膜を1000Å形成した。この堆積膜の
元素組成は、Si(26atomic%)、O(3at
omic%)、C(26atomic%)、H(45a
tomic%)であった。この基板を日立製作所製RE
−654X−II中に入れ、チャンバー内にヘリウムを
導入し、2mTorrとした。このチャンバー内で40
0Wのプラズマ処理を60秒間施した。得られた基板の
上に、反応液30gと反応液5gの混合物を500
0Å塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基
板を乾燥し、この基板を430℃の窒素雰囲気のファー
ネスで18分間基板を焼成した。この積層膜の密着性を
評価したところ、CVD膜と塗膜の界面での剥離は認め
られなかった。
【0059】実施例6 8インチシリコンウエハ上にNevellus製Seq
uel Expressを用い、トリメチルシランのC
VD膜を1000Å形成した。この堆積膜の元素組成
は、Si(25atomic%)、O(4atomic
%)、C(21atomic%)、N(14atomi
c%)、H(36atomic%)であった。この基板
を日立製作所製RE−654X−II中に入れ、チャン
バー内に水素を導入し、2mTorrとした。このチャ
ンバー内で400Wのプラズマ処理を60秒間施した。
得られた基板の上に、反応液を5000Å塗布した
後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を乾燥し、
この基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで18分
間基板を焼成した。この積層膜の密着性を評価したとこ
ろ、CVD膜と塗膜の界面での剥離は認められなかっ
た。
【0060】実施例7 8インチシリコンウエハ上にNevellus製Seq
uel Expressを用い、トリメチルシランのC
VD膜を1000Å形成した。この堆積膜の元素組成
は、Si(25atomic%)、O(4atomic
%)、C(21atomic%)、N(14atomi
c%)、H(36atomic%)であった。この基板
を日立製作所製RE−654X−II中に入れ、チャン
バー内にアンモニアを導入し、2mTorrとした。こ
のチャンバー内で400Wのプラズマ処理を60秒間施
した。得られた基板の上に、反応液を5000Å塗布
した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を乾燥
し、この基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで1
8分間基板を焼成した。この積層膜の密着性を評価した
ところ、CVD膜と塗膜の界面での剥離は認められなか
った。
【0061】比較例1 8インチシリコンウエハ上にApplied Mate
rial製Producer Sを用い、テトラエトキ
シシランのCVD膜を1000Å形成した。この堆積膜
の元素組成は、Si(32atomic%)、O(64
atomic%)、H(4atomic%)であった。
この堆積膜上に、反応液を5000Å塗布した後、8
0℃で1分間、200℃で1分間基板を乾燥した。さら
にこの基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで18
分間基板を焼成した。この積層膜の密着性を評価したと
ころ、スタッドピンの8本でCVD膜と塗膜の界面での
剥離が認められた。
【0062】比較例2 8インチシリコンウエハ上にApplied Mate
rial製Producer Sを用い、テトラエトキ
シシランのCVD膜を1000Å形成した。この堆積膜
の元素組成は、Si(32atomic%)、O(64
atomic%)、H(4atomic%)であった。
この堆積膜上に、反応液を5000Å塗布した後、8
0℃で1分間、200℃で1分間基板を乾燥した。さら
にこの基板を430℃の窒素雰囲気のファーネスで18
分間基板を焼成した。この積層膜の密着性を評価したと
ころ、スタッドピンの8本でCVD膜と塗膜の界面での
剥離が認められた。
【0063】
【発明の効果】本発明によれば、基板を、紫外線照射、
酸素プラズマ処理、窒素プラズマ処理、ヘリウムプラズ
マ処理、アルゴンプラズマ処理、水素プラズマ処理、ア
ンモニアプラズマ処理から選ばれる少なくとも1種の処
理を行った後、アルコキシシランの加水分解縮合物を積
層する膜形成方法を適用することで、CVD膜との密着
性に優れた層間絶縁膜(半導体用基板)を提供すること
が可能である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塩田 淳 東京都中央区築地二丁目11番24号 ジェイ エスアール株式会社内 (72)発明者 山田 欣司 東京都中央区築地二丁目11番24号 ジェイ エスアール株式会社内 Fターム(参考) 4F100 AB11A AK52B AT00A BA02 EH462 EH66A EJ012 EJ102 EJ422 EJ541 EJ611 GB43 JG04 4J038 DL021 DL022 DL031 DL032 DL051 DL052 DL061 DL062 KA04 KA06 PA19 PB09 PC03 5F058 BA10 BC02 BC05 BD01 BD04 BD07 BD10 BD15 BD18 BE04 BE10 BF02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)基板に、紫外線照射処理、酸素プ
    ラズマ処理、窒素プラズマ処理、ヘリウムプラズマ処
    理、アルゴンプラズマ処理、水素プラズマ処理、アンモ
    ニアプラズマ処理から選ばれる少なくとも1種の処理を
    行った後、(B)下記一般式(1)〜(4)で表される
    化合物からなる群から選ばれた少なくとも1種の化合物
    および該化合物を加水分解、縮合して得られる加水分解
    縮合もしくはいずれか一方ならびに有機溶剤を含む膜形
    成用組成物を塗布し、加熱することを特徴とする膜形成
    方法。 HSi(OR13 ・・・・・(1) (式中、R1 は1価の有機基を示す。) Ra Si(OR24-a ・・・・・(2) (式中、Rはフッ素原子または1価の有機基、R2は1
    価の有機基、aは1〜2の整数を示す。) Si(OR34 ・・・・・(3) (式中、R3は1価の有機基を示す。) R4 b (R5O)3-b Si−(R8d −Si(OR63-c7 c ・・・(4) 〔式中、R4〜R7は同一または異なり、それぞれ1価の
    有機基、bおよびcは同一または異なり、0〜2の整
    数、R8は酸素原子、フェニレン基または−(CH2n
    −で表される基(ここで、nは1〜6の整数である)、
    dは0または1を示す。〕
  2. 【請求項2】 前記一般式(1)〜(4)で表される化
    合物の加水分解がアルカリ触媒の存在下に行われること
    を特徴とする請求項1記載の膜形成方法。
  3. 【請求項3】 基板がSiを含有し、かつO、C、N、
    Hの群から選ばれる少なくとも1種の元素をさらに含有
    するCVD(Chemical VaporDepos
    ition)堆積膜であることを特徴とする請求項1記
    載の膜形成方法。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3記載の膜形成方法によって
    得られる積層膜。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の積層膜によって得られる
    絶縁膜。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の絶縁膜を使用した半導体
    用基板。
JP2001307909A 2001-09-25 2001-10-03 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板 Pending JP2003115485A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001307909A JP2003115485A (ja) 2001-10-03 2001-10-03 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板
KR1020020057742A KR20030027694A (ko) 2001-09-25 2002-09-24 막형성 방법, 적층막, 절연막 및 반도체용 기판
US10/252,607 US6890605B2 (en) 2001-09-25 2002-09-24 Method of film formation, insulating film, and substrate for semiconductor
EP02021167A EP1296365B1 (en) 2001-09-25 2002-09-24 Method of film formation
DE60237746T DE60237746D1 (de) 2001-09-25 2002-09-24 Filmherstellungsmethode
TW91122001A TW574735B (en) 2001-09-25 2002-09-25 Method of film formation on a semiconductor substrate and the insulating film formed thereby

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001307909A JP2003115485A (ja) 2001-10-03 2001-10-03 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003115485A true JP2003115485A (ja) 2003-04-18

Family

ID=19127293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001307909A Pending JP2003115485A (ja) 2001-09-25 2001-10-03 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003115485A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005246707A (ja) * 2004-03-02 2005-09-15 Seiko Epson Corp 成膜方法および膜
JP2006041052A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Jsr Corp 半導体装置の絶縁膜形成用組成物、シリカ系膜およびその形成方法、ならびに配線構造体および半導体装置
JP2007158113A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Toyota Motor Corp 半導体装置とその製造方法
KR100775100B1 (ko) * 2005-03-16 2007-11-08 주식회사 엘지화학 절연막 형성용 조성물, 이로부터 제조되는 절연막, 및 이를포함하는 전기 또는 전자 소자
KR100824037B1 (ko) 2005-03-16 2008-04-21 주식회사 엘지화학 절연막 형성용 기공형성제 조성물, 이를 포함하는 절연막형성용 조성물, 이를 이용한 절연막의 제조 방법, 및이로부터 제조되는 절연막
JP2013194247A (ja) * 2012-03-15 2013-09-30 Taiyo Nippon Sanso Corp 金属多層膜の成膜方法および金属多層膜の成膜装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005246707A (ja) * 2004-03-02 2005-09-15 Seiko Epson Corp 成膜方法および膜
JP4496805B2 (ja) * 2004-03-02 2010-07-07 セイコーエプソン株式会社 成膜方法および膜
JP2006041052A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Jsr Corp 半導体装置の絶縁膜形成用組成物、シリカ系膜およびその形成方法、ならびに配線構造体および半導体装置
KR100775100B1 (ko) * 2005-03-16 2007-11-08 주식회사 엘지화학 절연막 형성용 조성물, 이로부터 제조되는 절연막, 및 이를포함하는 전기 또는 전자 소자
KR100824037B1 (ko) 2005-03-16 2008-04-21 주식회사 엘지화학 절연막 형성용 기공형성제 조성물, 이를 포함하는 절연막형성용 조성물, 이를 이용한 절연막의 제조 방법, 및이로부터 제조되는 절연막
US7635524B2 (en) 2005-03-16 2009-12-22 Lg Chem, Ltd. Coating composition for dielectric insulating film, dielectric insulating film prepared therefrom, and electric or electronic device comprising the same
JP2007158113A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Toyota Motor Corp 半導体装置とその製造方法
US7629672B2 (en) 2005-12-06 2009-12-08 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Semiconductor devices and manufacturing method thereof
JP2013194247A (ja) * 2012-03-15 2013-09-30 Taiyo Nippon Sanso Corp 金属多層膜の成膜方法および金属多層膜の成膜装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4195773B2 (ja) 層間絶縁膜形成用組成物、層間絶縁膜の形成方法およびシリカ系層間絶縁膜
KR100661944B1 (ko) 막 형성용 조성물, 막 형성용 조성물의 제조 방법, 막의형성 방법 및 실리카계 막
JP2002285086A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2002003784A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4117439B2 (ja) 膜形成用組成物およびシリカ系膜
KR100890321B1 (ko) 적층체, 적층체의 형성 방법, 절연막 및 반도체용 기판
JP2003041191A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
KR100711667B1 (ko) 막 형성용 조성물, 막의 형성 방법 및 실리카계 막
JP2003064305A (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2002167438A (ja) ケイ素ポリマー、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002097414A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002363490A (ja) 絶縁膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系絶縁膜
JP2003115485A (ja) 膜形成方法、積層膜、絶縁膜ならびに半導体用基板
JP2002285087A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4572444B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4117436B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP3994258B2 (ja) 形成用組成物の製造方法および膜の形成方法
JP4840547B2 (ja) 絶縁膜形成用組成物、絶縁膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2003003119A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4483015B2 (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2003027001A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4678080B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2003092294A (ja) 積層膜、積層膜の形成方法、絶縁膜ならびに半導体用基板
JP2002069375A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2006352118A (ja) 層間絶縁膜形成用組成物、層間絶縁膜の形成方法およびシリカ系層間絶縁膜

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040526

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041214

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050209

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050322