JP2003112972A - 誘電体磁器 - Google Patents

誘電体磁器

Info

Publication number
JP2003112972A
JP2003112972A JP2002145409A JP2002145409A JP2003112972A JP 2003112972 A JP2003112972 A JP 2003112972A JP 2002145409 A JP2002145409 A JP 2002145409A JP 2002145409 A JP2002145409 A JP 2002145409A JP 2003112972 A JP2003112972 A JP 2003112972A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
dielectric
glass
filler
porcelain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002145409A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Fujii
一幸 藤井
Eiji Kodera
英司 小寺
Makoto Baba
誠 馬場
Manabu Sato
学 佐藤
Hidetoshi Mizutani
秀俊 水谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2002145409A priority Critical patent/JP2003112972A/ja
Priority to KR1020030004195A priority patent/KR100592603B1/ko
Priority to CNB031035396A priority patent/CN1243681C/zh
Priority to EP04022819A priority patent/EP1498396A1/en
Priority to EP03002116A priority patent/EP1364920A1/en
Priority to US10/354,074 priority patent/US6852655B2/en
Priority to TW92102639A priority patent/TWI243805B/zh
Publication of JP2003112972A publication Critical patent/JP2003112972A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 Ag系金属及びCu系金属等の低抵抗導体と
同時焼結が可能であり、機械的強度に優れ、且つ、GH
z帯において優れた誘電特性を得ることができる誘電体
磁器を提供する。 【解決手段】 Siを20〜30質量%、Bを5〜30
質量%、Alを20〜30質量%、Caを10〜20質
量%、Znを10〜20質量%含有する混合粉末を調合
し、この混合粉末を溶融させた後、急冷してガラスフリ
ットを得る。その後、ガラスフリットを粉末状にし、無
機フィラー粉末であるガーナイトフィラーとチタニアフ
ィラーとを混合する。次いで、バインダ等を投入してス
ラリー状にした誘電体磁器用組成物を得、その後、これ
を成形し、1000℃以下の温度で焼成して得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は誘電体磁器に関す
る。更に詳しくは、低温焼結性及び機械的強度に優れ、
且つ、GHz帯において優れた誘電特性を有する誘電体
磁器に関する。本発明の誘電体磁器は、電子部品及び電
子部品を実装する配線基板、なかでも、多層に形成され
る多層配線基板等として利用することができる。特に、
GHz帯において使用される高周波用途の電子部品やそ
のパーケージ及び多層配線基板等として好適である。
【0002】
【従来の技術】従来より、各種の電子部品や、電子部品
を実装する配線基板等として誘電体磁器が使用されてい
る。このような用途で用いられる誘電体磁器には、10
00℃以下という低温において焼成できること、及び、
機械的強度が大きいこと等が必要とされる。これまで、
このような要求を充足できる誘電体磁器として主にガラ
ス(軟化点が500〜800℃程度であり、アルミノ硼
珪酸をベースとして酸化鉛、アルカリ土類金属酸化物、
アルカリ金属酸化物及び酸化亜鉛等を含有するガラス
粉)と無機フィラー(アルミナ、ムライト、コーディエ
ライト、チタン、ジルコン、フォルステライト、ジルコ
ニア及び石英等)とから得られるものが用いられてき
た。
【0003】このような誘電体磁器は、特開昭53−6
0914号公報、特開昭60−235744号公報、特
開昭63−239892号公報、特開平3−33026
号公報、特開平7−135379号公報及び特開平9−
208258号公報等に開示されている。これらの誘電
体の誘電損失は1MHzにおいて6×10−4〜20×
10−4程度である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年は、その使用が増
えているGHz帯における誘電損失が小さいことが特に
求められている。このため、Ag系金属及びCu系金属
等の低抵抗導体と1000℃以下で同時焼成することが
でき、機械的強度が高く、且つ、得られた焼結体におい
て反りが少ない(反りが少ないことで、寸法安定性がよ
くなりGHz帯域での使用においても伝送損失を抑える
ことができる)誘電体磁器が必要とされている。
【0005】しかし、優れた低温焼結性、機械的強度及
びGHz帯における優れた誘電特性を同時に達成するこ
とは困難であった。本発明は、上記課題を解決するもの
であり、Ag系金属及びCu系金属等の低抵抗導体と同
時焼成が可能であり、機械的強度に優れ、且つ、GHz
帯において優れた誘電特性を発揮する誘電体磁器を提供
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の誘電体磁器は、
無機フィラーとガラスとを含有する誘電体磁器用組成物
を1000℃以下で焼成してなる誘電体磁器であって、
該誘電体磁器用組成物には、該無機フィラーと該ガラス
との合計量を100質量%とした場合に、該無機フィラ
ーが20〜60質量%含有され、該ガラスが40〜80
質量%含有され、更に、該ガラスは、該ガラス全体を1
00質量%とした場合に、各々酸化物換算で、Siが2
0〜30質量%、Bが5〜30質量%、Alが20〜3
0質量%、Caが10〜20質量%、Znが10〜20
質量%含有され、且つ、Li、Na及びKは含有されな
いことを特徴とする。また、上記無機フィラーはガーナ
イトフィラー(ガーナイトからなるフィラー)及びチタ
ニアフィラー(チタニアからなるフィラー)とすること
ができる。更に、3GHzにおける誘電損失を40×1
−4以下とすることができる。更に、3GHzにおけ
る比誘電率を7〜13とすることができる。また、25
〜400℃における熱膨張係数を5〜10ppm/℃と
することができる。更に、抗折強度を185MPa以上
とすることができる。
【0007】
【発明の効果】本発明の誘電体磁器によると、Ag系金
属及びCu系金属等の低抵抗導体と同時焼成が可能であ
り、機械的強度に優れ、且つ、GHz帯において優れた
誘電特性を得ることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳しく説明する。
上記「無機フィラー」は、その種類及び含有量等によ
り、誘電体磁器の誘電特性及び機械的特性を変化させる
ことができるものである。無機フィラーを構成する材料
としては、例えば、ガーナイト、チタニア、アルミナ、
チタン酸塩(チタン酸マグネシウム、チタン酸カルシウ
ム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等)、
ムライト、ジルコニア、石英、コーディエライト、フォ
ルステライト、ワラストナイト、アノーサイト、エンス
タタイト、ジオプサイト、アーケルマナイト、ゲーレナ
イト及びスピネル等を挙げることができる。これらのう
ち、高周波帯域(特にGHz帯域)における比誘電率
(以下、単に「ε」という)を大きくすることができ
るためガーナイト、チタニア、チタン酸塩、アルミナが
好ましい。また、機械的強度を向上させることができる
ためガーナイト、チタニア、ジルコニア、アルミナが好
ましい。これらは1種のみであっても、2種以上であっ
てもよい。
【0009】更に、誘電体磁器の各種特性(誘電特性及
び機械的強度等)を調整するために2種以上を組合せて
用いることができる。例えば、誘電特性のうち高周波帯
域(特にGHz帯域)における共振周波数の温度依存性
(以下、単に「τ」という)を低く抑える(τの絶
対値を小さく抑える)ために、τが負の値になる無機
フィラーと正の値になる無機フィラーとを組み合わせて
用いることができる。この組合せとしては、ガーナイト
とチタニア、ガーナイトとチタン酸塩、アルミナとチタ
ン酸塩、ガーナイトとアルミナとチタン酸塩等を挙げる
ことができる。なかでも、ガーナイトフィラーとチタニ
アフィラーとの組合せは、十分な機械的強度を発揮させ
且つ焼成による反りを防止しつつ、高周波帯域(GHz
帯域)における大きなε及び絶対値の小さいτを得
ることができる。
【0010】無機フィラーは、無機フィラーとガラスと
の合計を100質量%とした場合に20〜60質量%
(より好ましくは30〜60質量%、更に好ましくは4
0〜55質量%)が含有される。20質量%未満である
と、ガラスが融出し焼成治具と反応する場合があり、ま
た、十分な抗折強度が得られ難い場合もあり好ましくな
い。一方、60質量%を超えると1000℃以下での焼
成が困難となる場合があり、低抵抗導体との同時焼成が
達成できなくなる場合がある。
【0011】また、ガーナイトフィラーとチタニアフィ
ラーとが併用される場合、無機フィラー全体に占めるガ
ーナイトフィラーとチタニアフィラーとの合計量は50
質量%以上(より好ましくは80質量%、更に好ましく
は90質量%、100質量%であってもよい)とするこ
とが好ましい。50質量%未満であるとガーナイトフィ
ラーとチタニアフィラーとを含有する効果が十分に発揮
され難い傾向にある。更に、ガーナイトフィラーの含有
量m(質量換算)に対するチタニアフィラーの含有量
(質量換算)の比であるm/mは0.1〜1.
5であることが好ましく、0.4〜1.0であることが
より好ましく、0.6〜0.9であることが更に好まし
い。0.1未満であるとτの絶対値を小さく抑える効
果が得られ難くなる傾向にある。
【0012】この無機フィラーの形状は特に限定され
ず、例えば、粒子状、鱗片状、繊維状(特にウィスカ)
等種々の形状とすることができるが、通常、粒子状であ
る。また、誘電体磁器組成物中にはこれらの集合体であ
る粉末として配合される。更に、無機フィラーの大きさ
も特に限定されないが、通常、その大きさは1〜10μ
m(粒子形状の場合には平均粒径)とすることが好まし
い。粒径が10μmを超えて大きいとグリーンシートを
製造する際に不具合を生じる場合があるため好ましくな
い。また、1μm未満であると製造時に粉砕に要する時
間が長くなると共に、取り扱いも困難となり好ましくな
い。尚、無機フィラーは、通常、誘電体磁器の製造時に
添加された形状及び大きさのままで誘電体磁器中に存在
する。しかし、一部が焼成時にガラスに溶解し、誘電体
磁器中のガラスとして存在していてもよい。
【0013】上記「ガラス」は、その組成及び添加量等
により、誘電体磁器の焼成温度及び誘電特性を変化させ
ることができる成分である。このガラスは、無機フィラ
ーとガラスとの合計量を100質量%とした場合に40
〜80質量%(より好ましくは40〜70質量%、更に
好ましくは50〜60質量%)である。このガラスが4
0質量%未満であると、焼成温度を1000℃以下とす
ることが困難となり好ましくなく、80質量%を超える
と、機械的強度が低下し、高周波域における誘電特性も
十分なものでなくなる傾向にある。特にεが小さくな
るため好ましくない。このガラスは、少なくともSi元
素、B元素、Al元素、Ca元素及びZn元素を含有す
る。これらの元素がガラス中でどのような化合物として
含有されるかは特に限定されない。
【0014】本発明における上記「酸化物換算」は、S
i、B、Al、Ca及びZnの各々がガラス中でどのよ
うな化合物として存在しているかに関係なく、SiはS
iO として、BはBとして、AlはAl
として、CaはCaOとして、ZnはZnOとして各々
換算するものとする。
【0015】また、ガラス全体を100質量%とした場
合に、これらの各元素の各々の含有量は、Siは酸化物
換算で20〜30質量%(より好ましくは20〜27質
量%、更に好ましくは21〜25質量%)である。Si
の含有量が20質量%未満であると、ガラスの軟化温度
が低くなり過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でな
くなり反りを生じる場合があるため好ましくなく、ま
た、誘電体磁器のεが過度に大きくなる場合があるた
め好ましくない。一方、30質量%を超えると、ε
適度な値とすることができるが、焼成に要する温度が高
くなるため、このままでは低抵抗配線との同時焼成が困
難となる場合がある。これに対して、ガラス成分の配合
割合を増加させて焼結させることができるが、こんどは
誘電損失が過度に増加する傾向にあるため好ましくな
い。
【0016】Bは酸化物換算で5〜30質量%である。
Bの含有量が5質量%未満であると、焼結できる温度が
高くなり過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でなく
なり反りを生じることが多くなるため好ましくない。一
方、30質量%を超えると、ガラスの軟化温度が低くな
り過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でなくなり反
りを生じる場合がある。また、誘電体磁器中におけるガ
ラスの化学的安定性が低下し、耐薬品性が十分に得られ
なくなる場合があるため好ましくない。
【0017】このBの含有量を10〜30質量%とする
ことにより、焼成温度を750〜950℃の範囲で幅広
く調整できるものとなる。また、15〜30質量%とす
ることにより、上記に加えて、低抵抗導体との同時焼結
性が特に良好となり、反りの発生を特に効果的に防止で
きるものとなる。更に、20〜30質量%とすることに
より、上記に加えて、誘電体磁器の耐薬品性が特に高く
なり、例えば、多層配線基板の製造時のメッキ工程にお
いて、誘電体磁器の溶解及び侵食を効果的に防止できる
ものとなる。
【0018】更に、Alの含有量は酸化物換算で20〜
30質量%(より好ましくは21〜29質量%、更に好
ましくは22〜26質量%)である。Alの含有量が2
0質量%未満であると、誘電体の機械的強度が十分に得
られなくなり、特に10質量%未満ではガラスの安定性
が損なわれる傾向にあり好ましくない。一方、30質量
%を超えると、焼結できる温度が高くなり過ぎて好まし
くない。
【0019】また、Caの含有量は酸化物換算で10〜
20質量%(より好ましくは12〜20質量%、更に好
ましくは15〜18質量%)である。Caの含有量が1
0質量%未満であると、ガラスの溶融性が十分に向上し
ないことがあるため好ましくない。一方、20質量%を
超えると、熱膨張係数が大きくなり過ぎる場合があり好
ましくない。
【0020】更に、Znの含有量は酸化物換算で10〜
20質量%(より好ましくは10〜18質量%、更に好
ましくは11〜16質量%)である。Znの含有量が1
0質量%未満であると、低抵抗導体との同時焼結性が十
分でなくなり反りを生じるため好ましくない。一方、2
0質量%を超えると、誘電体磁器の耐薬品性が十分に得
られなくなる場合があるため好ましくない。
【0021】上述のこれらの各元素の酸化物換算におけ
る好ましい含有量は、各々の組み合わせとすることがで
きる。即ち、例えば、Siの含有量が20〜27質量%
であり、Bの含有量が10〜30質量%であり、Alの
含有量が21〜29質量%であり、Caの含有量が12
〜20質量%であり、Znの含有量が10〜18質量%
であるものとすることができる。更に、Siの含有量が
21〜25質量%であり、Bの含有量が15〜30質量
%であり、Alの含有量が22〜26質量%であり、C
aの含有量が15〜18質量%であり、Znの含有量が
11〜16質量%であるものとすることができる。
【0022】また、このガラスに、Li、Na及びKは
実質的に含有されない。即ち、積極的には含有されない
が、ガラスの調製上不可避的に含有される場合もある。
この場合はLi、Na及びKが含有されることによる影
響が本発明の誘電体磁器において現れない程度、即ち、
ガラス全体を100質量%とした場合に0.2質量%未
満(より好ましくは含有されない)であることが好まし
い。
【0023】また、このガラスのガラス転移点Tgは特
に限定されないが560〜670℃(より好ましくは5
70〜660℃、更に好ましくは570〜640℃)で
あることが好ましい。この範囲であれば、Ag系金属
(Ag単体、Ag/Pd合金、Ag/Pt合金、Ag/
Cu合金、Ag/Au合金等)及びCu系金属(Cu単
体に少量の他元素を含有するもの等)などの低抵抗導体
との同時焼結性を特に良好に保つことができる。加え
て、焼成による反りを特に効果的に抑制することもでき
る。
【0024】更に、このガラスの屈服点Mgは特に限定
されないが、Tgとの温度差が30〜45℃(より好ま
しくは30〜40℃、更に好ましくは30〜38℃)で
あることが好ましい。TgとMgとの温度差がこの範囲
内であれば焼成による収縮のバラツキを効果的に抑制す
ることができる。従って、高い寸法精度で電子部品や配
線基板の設計を行うことができる。
【0025】このガラスの形状は特に限定されないが、
通常、粉末として用いられる。また、その大きさも特に
限定さないが、通常1〜10μm(粒子形状の場合には
平均粒径)であることが好ましい。大きさが10μmを
超えて大きいとグリーンシートを製造する際に不具合を
生じる場合があるため好ましくない。また、1μm未満
であると製造時に粉砕に要する時間が長くなると共に、
取り扱いも困難となり好ましくない。また、ガラスとし
て添加された成分は、通常、誘電体磁器中においてその
全量がガラスとして存在するが、一部が結晶化して析出
し、誘電体磁器中に無機フィラーとして存在してよい。
このような析出により形成される無機フィラーとして
は、例えば、アノーサイトフィラー、スピネルフィラー
及びガーナイトフィラー等を挙げることができる。
【0026】上記「誘電体磁器用組成物」は、前記無機
フィラーと上記ガラスとを含有する。この誘電体磁器用
組成物は、無機フィラー及びガラスのみからなってもよ
く、これら以外に、例えば、バインダ、溶剤、可塑剤及
び分散剤等を含有することもできる。この誘電体磁器用
組成物の性状は特に限定されず、例えば、粉末状、スラ
リー状及びペースト状等とすることができる。更に、こ
の誘電体磁器用組成物は、これらの粉末、スラリー及び
ペースト等を各種成形法(粉末は圧粉、CIP、HIP
等、スラリー及びペーストはドクターブレード法、スク
リーン印刷法、プレス成形法等)を用いて成形した成形
体であってもよい。
【0027】上記「焼成」は1000℃以下(通常、7
50℃以上)で行うことにより、前記Ag系金属及び前
記Cu系金属等の低抵抗導体と同時焼成することができ
る。また、低抵抗導体を備える場合であっても、焼結後
に反りのない誘電体磁器を得ることができる。また、更
に800〜990℃においても焼結させることが可能で
あり、特に850〜990℃において焼結させることが
可能であり、とりわけ900〜980℃において焼結さ
せることが可能である。1000℃を超える温度におい
ては、多くの低抵抗導体との同時焼成が困難となるため
好ましくない。
【0028】本発明の誘電体磁器によると、1〜15G
Hz(特に3〜10GHz)における誘電損失を50×
10−4以下(更には50×10−4以下、特に30×
10 −4以下、通常20×10−4以上)とすることが
できる。一般に、誘電損失は使用周波数が高くなるに従
い大きくなるが、本発明の誘電体磁器においてはGHz
帯における誘電損失を上記のように小さく抑えることが
できる。この誘電損失はガラスの組成だけでなく、無機
フィラーによっても変化させることができる。このた
め、製造時に添加する無機フィラーの組成及び量、並び
に焼成温度等の焼成条件により調整することができる。
【0029】また、1〜15GHz(特に3〜10GH
z)におけるεを6〜13(更には7〜13、特に9
〜13)とすることができる。一般に、εは、使用周
波数が高くなるに従い低くなる。このεが小さくなり
すぎると、GHz帯域で使用するためにはそれだけ大き
な誘電体磁器を得る必要があるため、小型化を図ること
が困難となる。従って、GHz帯域での使用を考えると
εが大きいことが好ましい。これにより、GHz帯域
で使用する場合にも各種の電子部品等を小型化すること
ができる。
【0030】更に、1〜15GHz(特に3〜10GH
z)におけるτ(温度範囲:25〜80℃)を−20
〜10ppm/℃(更には−10〜10ppm/℃、特
に−10〜0ppm/℃)とすることができる。また、
一般に、共振周波数の温度係数は、使用周波数が高くな
るにつれて絶対値が負側に大きくなる。絶対値が負側に
大きいとパッケージ基板として使用する場合にバンドパ
スフィルターを内蔵することが困難となり、電気的な信
頼性が低下することとなる。従って、GHz帯域での使
用を考えるとτの絶対値が小さいことが好ましい。こ
れにより、GHz帯域で使用する場合にも各種の電子部
品等を安定して作動させることができる。
【0031】また、25℃から400℃まで昇温させた
場合の熱膨張係数を5〜10ppm/℃とすることがで
きる。一般に、近年使用されているプリント配線基板の
熱膨張係数は13〜14ppm/℃程度であり、また、
IC等の半導体部品の熱膨張係数は3〜4ppm/℃程
度である。従って、誘電体磁器を多層配線基板等として
使用する場合には、これらプリント配線板の熱膨張係数
と半導体部品の熱膨張係数との両方により近い熱膨張係
数を有することが必要であり、本発明の誘電体磁器はこ
れを満足するものである。
【0032】更に、抗折強度を160MPa以上(更に
は180MPa以上、特に190MPa以上)とするこ
とができる。抗折強度が160MPa以上であれば、本
発明の誘電体磁器から得られる多層配線基板や電子部品
等の製品を落下させた場合にも、その衝撃による破損を
抑えることができる。更に、GHz帯域で使用される多
層配線基板や電子部品等には、電磁シールドのためにシ
ールリング等の金具がロー付けされることがあるが、こ
のロー付け工程に課される熱応力による破損を抑えるこ
とができる。
【0033】本発明の誘電体磁器では、1〜15GHz
(特に3〜10GHz)における誘電損失が50×10
−4以下であり、εが6〜13であり、τが−20
〜10ppm/℃であり、25〜400℃における熱膨
張係数が5〜10ppm/℃であり、且つ、抗折強度が
160MPa以上である誘電体磁器を得ることができ
る。更に、1〜15GHz(特に3〜10GHz)にお
ける誘電損失が40×10−4以下であり、εが7〜
13であり、τが−10〜10ppm/℃であり、2
5〜400℃における熱膨張係数が5〜10ppm/℃
であり、且つ、抗折強度が185MPa以上である誘電
体磁器を得ることができる。
【0034】特に、無機フィラーとしてガーナイトフィ
ラーとチタニアフィラーとの両方が含有される場合に
は、3〜10GHzにおけるεが9〜13であり、τ
が−10〜0ppm/℃であり、且つ、抗折強度が1
80MPa以上である誘電体磁器を得ることができる。
更に、ガーナイトフィラーとチタニアフィラーとの両方
を含有し、且つこれら無機フィラーとガラスとの合計を
100質量%とした場合に、無機フィラーを30〜60
質量%となるように含有する場合には、3〜10GHz
におけるεが9〜13であり、τが−20〜0pp
m/℃であり、且つ、抗折強度が190MPa以上であ
る誘電体磁器を得ることができる。
【0035】また、ガーナイトフィラーとチタニアフィ
ラーとの両方を含有し、これら無機フィラーとガラスと
の合計を100質量%とした場合に、無機フィラーを3
0〜60質量%となるように含有し、且つ、m/m
が0.6以上となるように含有する場合には、3〜10
GHzにおけるεが10〜13であり、τが−5〜
0ppm/℃であり、且つ、抗折強度が190MPa以
上である誘電体磁器を得ることができる。尚、本発明に
おける誘電損失、ε、τ、熱膨張係数及び抗折強度
は、いずれも後述する実施例における測定方法と同様な
方法によるものである。
【0036】
【実施例】以下、本発明を実施例によって具体的に説明
する。 [1]ガーナイトフィラーを含有しない誘電体磁器 (1)ガラスの調製 表1に示す割合で、SiO粉末、B粉末、Al
粉末、CaO粉末、ZnO粉末等の他、MgO粉
末、BaO粉末、SrO粉末及びZrO粉末を混合して
原料粉末を調合した。得られた原料粉末を加熱溶融させ
た後、水に投入して急冷すると共に水砕させてガラスフ
リットを得た。このガラスフリットをボールミルにて更
に粉砕して、平均粒径3μmのガラス11種(ガラスN
o1〜11)を得た。
【0037】
【表1】 但し、表1中の「*」は本発明の範囲外であることを表
す。
【0038】(2)ガラスのTg及びMg測定 上記(1)で得られたガラス11種のTg及びMgを、
示差熱測定装置(株式会社リガク製、形式「THERM
OFLEX TAS 300 TG810D」)により
測定し、表2にTg、Mg及びMg−Tgの値を各々示
した。
【0039】
【表2】 但し、表2中の「*」は本発明の範囲外であることを表
す。
【0040】(3)グリーンシート(誘電体磁器用組成
物)の製造 上記(2)までに得られたガラス11種の各々と、無機
フィラーであるアルミナフィラーとを、表1に示すよう
に各々50質量%の割合となるように秤量し、ボールミ
ルにて混合して混合粉末を得た。得られた混合粉末に、
バインダ(アクリル樹脂)、可塑剤{ジブチルフタレー
ト(DBP)}及び溶剤(トルエン)を添加し、混練し
てスラリー11種を調合した。得られた各スラリーをド
クターブレード法により、焼結後の厚みが100μmに
なるようにシート状に成形して11種類のグリーンシー
トを得た。
【0041】(4)第1測定用磁器(誘電特性測定用)
の製造及び誘電特性の測定 上記(3)で得られた11種類のグリーンシートを各々
所定形状に打ち抜いたシート片を11枚づつ熱圧着によ
り積層し、次いで、900℃において15分間焼成して
磁器を得た。得られた各磁器を縦50mm、横50m
m、厚さ0.635mmの板状に研磨加工して、第1測
定用磁器11種を得た。この第1測定用磁器を用い、誘
電体共振器摂動法により25℃、3GHzにおいて誘電
損失及びε を測定した。その結果を表3に示した。
【0042】
【表3】 但し、表3中の「*」は本発明の範囲外であることを表
す。
【0043】(5)第2測定用磁器(熱膨張係数測定
用)の製造及び熱膨張係数の測定 上記(3)で得られた11種のグリーンシートを所定形
状に打ち抜いたシート片を20枚づつ熱圧着により積層
し、次いで、900℃において15分間焼成して磁器を
得た。得られた磁器を縦3mm、横3mm、高さ1.6
mmの柱状に研磨加工して、第2測定用磁器11種を得
た。この第2測定用磁器を用い、25℃から400℃ま
で昇温させた時の熱膨張係数を示差膨張式熱機械分析装
置(株式会社リガク社製、型式「TMA8140C」)
を用いて測定した。その結果を表3に併記した。
【0044】(6)第3測定用磁器(同時焼結性測定
用)の製造及び同時焼結性の評価 上記(3)で得られた11種のグリーンシートの所定位
置にAgペーストをスクリーン印刷法により厚さ15μ
mで印刷した。更に、このAgペースト層上に別のグリ
ーンシートを熱圧着により積層した後、このグリーンシ
ート上にも同様にAgペーストを印刷し、更に同様な作
業を繰り返してグリーンシート5枚が積層され、各層間
にAgペーストが所定のパターン形状で印刷された未焼
成積層体を得た。この未焼成積層体を直径4cmの大き
さに打ち抜き、900℃で15分焼成して低抵抗導体が
配設された第3測定用磁器11種を得た。得られた11
種の第3測定用磁器を平面上に静置し、平面からの最高
位置と最低位置(平面との接触位置)との差を計測し、
その差が50μm未満(実使用上問題のない程度の反
り)又は反りを生じていない場合には「◎」と示し、5
0μmを超えるものには「×」と各々表3に併記した。
【0045】(7)抗折強度の測定 上記(3)で得られたグリーンシートのうち、実験例
1、2、3及び4にあたるものを所定形状に打ち抜いた
シート片を11枚づつ熱圧着により積層し、次いで、9
00℃において15分間焼成して磁器を得た。得られた
磁器を縦4mm、横3mm、長さ36mmの柱状に研磨
加工して、第4測定用磁器3種を得た。この第4測定用
磁器を用いJIS R 1601に従い、その抗折強度
(3点曲げ)を測定した。この結果を表3に併記した。
【0046】(8)実験例1〜11の効果
【0047】(8)実験例1〜11の効果 表1〜3の結果より、実験例4〜11はいずれも900
℃の低温において焼結することができ、ある程度の誘電
特性は発揮できる。しかし、ガラス粉末の熱特性が良好
でないために誘電体磁器に反りを生じたり、いずれかの
誘電特性が十分に得られないものや、焼成により低抵抗
導体の拡散を生じたり、抗折強度が十分に得られない場
合があるなど、各特性を十分にバランスよく備えるもの
が得られていない。これに対して、本発明品である実験
例1〜3ではいずれも温度900℃で低抵抗導体と同時
焼結でき、且つ、全ての誘電特性において良好な値(誘
電損失30〜39×10−4、ε7.5〜7.6、抗
折強度260〜270MPa)を示している。また、低
抵抗導体を構成する成分の拡散及び基板の反りが認めら
れず、十分に大きな抗折強度が得られていることが分か
る。更に、熱膨張係数も5.3〜5.4ppm/℃であ
り配線基板として用いるに好適な特性を示している。
【0048】[2]ガーナイトフィラーを含有する誘電
体磁器 (1)第5測定用磁器(誘電体特性測定用)の製造及び
誘電特性の測定 ガラス粉末として上記[1](1)で得られたガラスN
o1、No2及びNo3を用い、無機フィラーとしてガ
ーナイトフィラー、チタニアフィラー及びチタン酸カル
シウムフィラーの各々を用い、表4に示す組合せ及び割
合で混合し、上記[1](3)と同様にしてグリーンシ
ートを得た。その後、上記[1](4)と同様に焼成
し、研磨加工を行い第5測定用磁器9種を得た。得られ
た誘電体磁器のうち焼成時に発泡した実験例12を除く
8種について、上記[1](4)と同様にして、3GH
zにおける比誘電率ε、温度25〜80℃における共
振周波数の温度係数τを測定した。その結果を表4に
併記した。
【0049】
【表4】 但し、表4中の「*」は本発明の範囲外であることを表
す。
【0050】(2)第6測定用磁器(同時焼結性測定
用)の製造及び同時焼結性の評価 上記[1](6)と同様にして反りを測定し、同じ評価
基準により表5に、「◎」又は「×」を示した。 (3)第7測定用磁器(抗折強度測定用)の製造及び抗
折強度の測定 上記[2](1)において発泡を生じなかった磁器を得
ることができた上記[2](1)のグリーンシートを用
いた以外は、上記[1](7)と同様にして第6測定用
磁器8種を得た。その後、同様の測定方法により抗折強
度を測定し、表4に併記した。
【0051】(4)実験例12〜23の効果 表4の結果より、実験例13〜23はいずれも900℃
の低温において焼結することができた。これに対して、
実験例12では、ガラスと無機フィラーとの割合が本発
明の範囲外であったために、焼成時に発泡し、誘電体磁
器として使用できないものであった。更に、ガラスだけ
の場合εは、通常、6程度である。これに対して、無
機フィラーがガーナイトフィラーとチタニアフィラーと
である誘電体磁器(実験例13〜17、19及び20)
のεは9.3〜10.5と大きくすることができた。
また、τも−16〜−2ppm/℃と絶対値の小さい
値を得ることができた。一方、無機フィラーがガーナイ
トフィラーとチタン酸カルシウムフィラーとである誘電
体磁器(実験例18)でもεは10.7と大きくする
ことができ、同時にτも7ppm/℃と絶対値の小さ
い値を得ることができた。更に、無機フィラーがガーナ
イトフィラーとチタン酸カルシウムフィラーである誘電
体磁器では165MPaの抗折強度が得られた。また、
特に、無機フィラーがガーナイトフィラーとチタニアフ
ィラーである誘電体磁器では180〜222MPaの極
めて優れた抗折強度が得られた。
【0052】また、磁器全体を100質量%とした場合
に、ガーナイトフィラーとチタニアフィラーとを合計で
41〜47質量%含有し、更には、ガーナイトフィラー
(m )とチタニアフィラー(m)との比m/m
が0.71〜0.76である場合に、10.1〜10.
4の大きなεを保持し、190〜193MPaの高い
抗折強度を保持しながら、τは−5〜−2ppm/℃
と非常に小さい値に抑えられることが分かる。
フロントページの続き (72)発明者 馬場 誠 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 (72)発明者 佐藤 学 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 (72)発明者 水谷 秀俊 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 Fターム(参考) 4G030 AA08 AA16 AA32 AA35 AA36 AA37 BA09 CA08 GA01 GA03 GA04 GA08 GA14 GA15 GA17 GA20 GA27 HA25 5G303 AA05 AB06 AB07 AB12 AB15 AB17 BA12 CA03 CB01 CB02 CB06 CB30 CB35 CB38

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 無機フィラーとガラスとを含有する誘電
    体磁器用組成物を1000℃以下で焼成してなる誘電体
    磁器であって、該誘電体磁器用組成物には、該無機フィ
    ラーと該ガラスとの合計量を100質量%とした場合
    に、該無機フィラーが20〜60質量%含有され、該ガ
    ラスが40〜80質量%含有され、更に、該ガラスは、
    該ガラス全体を100質量%とした場合に、各々酸化物
    換算で、Siが20〜30質量%、Bが5〜30質量
    %、Alが20〜30質量%、Caが10〜20質量
    %、Znが10〜20質量%含有され、且つ、Li、N
    a及びKは含有されないことを特徴とする誘電体磁器。
  2. 【請求項2】 上記無機フィラーは、ガーナイトフィラ
    ー及びチタニアフィラーである請求項1記載の誘電体磁
    器。
  3. 【請求項3】 上記ガラスのガラス転移点Tgは560
    〜670℃である請求項1又は2に記載の誘電体磁器。
  4. 【請求項4】 上記ガラスのガラス転移点Tgと屈伏点
    Mgとの温度差が30〜45℃である請求項1乃至3の
    うちのいずれか1項に記載の誘電体磁器。
  5. 【請求項5】 3GHzにおける誘電損失が50×10
    −4以下である請求項1乃至4のうちのいずれか1項に
    記載の誘電体磁器。
  6. 【請求項6】 3GHzにおける比誘電率が6〜13で
    ある請求項1乃至5のうちのいずれか1項に記載の誘電
    体磁器。
  7. 【請求項7】 25〜400℃における熱膨張係数が5
    〜10ppm/℃である請求項1乃至6のうちのいずれ
    か1項に記載の誘電体磁器。
  8. 【請求項8】 抗折強度が185MPa以上である請求
    項1乃至7のうちのいずれか1項に記載の誘電体磁器。
JP2002145409A 2001-07-31 2002-05-20 誘電体磁器 Withdrawn JP2003112972A (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002145409A JP2003112972A (ja) 2001-07-31 2002-05-20 誘電体磁器
KR1020030004195A KR100592603B1 (ko) 2002-05-20 2003-01-22 유전체 자기
CNB031035396A CN1243681C (zh) 2002-05-20 2003-01-29 电介质瓷器
EP04022819A EP1498396A1 (en) 2002-05-20 2003-01-30 Dielectric ceramic
EP03002116A EP1364920A1 (en) 2002-05-20 2003-01-30 Dielectric ceramic
US10/354,074 US6852655B2 (en) 2002-05-20 2003-01-30 Dielectric ceramic
TW92102639A TWI243805B (en) 2001-07-31 2003-01-30 Dielectric ceramic

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001-232547 2001-07-31
JP2001232547 2001-07-31
JP2002145409A JP2003112972A (ja) 2001-07-31 2002-05-20 誘電体磁器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003112972A true JP2003112972A (ja) 2003-04-18

Family

ID=26619715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002145409A Withdrawn JP2003112972A (ja) 2001-07-31 2002-05-20 誘電体磁器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003112972A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003115218A (ja) * 2001-07-31 2003-04-18 Ngk Spark Plug Co Ltd 誘電体磁器
EP1364920A1 (en) * 2002-05-20 2003-11-26 Ngk Spark Plug Co., Ltd Dielectric ceramic
JP2005035829A (ja) * 2003-07-18 2005-02-10 Ngk Spark Plug Co Ltd 低温焼成誘電体磁器
JP2005197285A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Ngk Spark Plug Co Ltd 多層セラミック基板及びその製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06171982A (ja) * 1992-12-09 1994-06-21 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成セラミックス基板
JPH07135379A (ja) * 1993-11-09 1995-05-23 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成ガラスセラミック基板用組成物
JPH10167822A (ja) * 1996-12-02 1998-06-23 Kyocera Corp 低温焼成セラミックス、該セラミックスから成る配線基板
JP2003115218A (ja) * 2001-07-31 2003-04-18 Ngk Spark Plug Co Ltd 誘電体磁器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06171982A (ja) * 1992-12-09 1994-06-21 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成セラミックス基板
JPH07135379A (ja) * 1993-11-09 1995-05-23 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 低温焼成ガラスセラミック基板用組成物
JPH10167822A (ja) * 1996-12-02 1998-06-23 Kyocera Corp 低温焼成セラミックス、該セラミックスから成る配線基板
JP2003115218A (ja) * 2001-07-31 2003-04-18 Ngk Spark Plug Co Ltd 誘電体磁器

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003115218A (ja) * 2001-07-31 2003-04-18 Ngk Spark Plug Co Ltd 誘電体磁器
EP1364920A1 (en) * 2002-05-20 2003-11-26 Ngk Spark Plug Co., Ltd Dielectric ceramic
EP1498396A1 (en) * 2002-05-20 2005-01-19 Ngk Spark Plug Co., Ltd Dielectric ceramic
JP2005035829A (ja) * 2003-07-18 2005-02-10 Ngk Spark Plug Co Ltd 低温焼成誘電体磁器
JP4694775B2 (ja) * 2003-07-18 2011-06-08 日本特殊陶業株式会社 低温焼成誘電体磁器
JP2005197285A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Ngk Spark Plug Co Ltd 多層セラミック基板及びその製造方法
JP4567328B2 (ja) * 2003-12-26 2010-10-20 日本特殊陶業株式会社 多層セラミック基板の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3240271B2 (ja) セラミック基板
IE64626B1 (en) Ceramic composition of matter and its use
KR100592603B1 (ko) 유전체 자기
JPH11335162A (ja) セラミック基板用組成物およびセラミック回路部品
JP2003115218A (ja) 誘電体磁器
JP2003112972A (ja) 誘電体磁器
JP3890779B2 (ja) ガラスセラミックス組成物
JP2006256956A (ja) ガラスセラミックス焼結体及びマイクロ波用回路部材
JP2003112971A (ja) 誘電体磁器
KR100868921B1 (ko) 저온 동시소성이 가능한 고강도 세라믹 조성물의 제조방법
JP2003115217A (ja) 誘電体磁器
JPH0517211A (ja) 基板材料及び回路基板
JP3559407B2 (ja) ガラスセラミック焼結体およびそれを用いた多層配線基板
JP2002053368A (ja) 高周波特性に優れた磁器及びその製造方法
JP4442077B2 (ja) 高周波部品用磁器組成物
WO2023095605A1 (ja) ガラスセラミックス及び電子部品
JP7056764B2 (ja) ガラスセラミック材料、積層体、及び、電子部品
JP4288656B2 (ja) ガラスセラミック誘電体材料
JP2003095740A (ja) ガラスセラミック誘電体材料および焼結体
KR20060017815A (ko) 자기 조성물
WO2022064906A1 (ja) ガラスセラミック誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材
WO2022230475A1 (ja) ガラスセラミック誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材
CN117222607A (zh) 玻璃陶瓷电介质材料、烧结体及高频用电路部件
TWI243805B (en) Dielectric ceramic
JP2003132733A (ja) 導体組成物およびこれを用いた配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040903

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050606

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070412

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070417

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070618

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071113

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20071207