JP2003112971A - 誘電体磁器 - Google Patents
誘電体磁器Info
- Publication number
- JP2003112971A JP2003112971A JP2002145408A JP2002145408A JP2003112971A JP 2003112971 A JP2003112971 A JP 2003112971A JP 2002145408 A JP2002145408 A JP 2002145408A JP 2002145408 A JP2002145408 A JP 2002145408A JP 2003112971 A JP2003112971 A JP 2003112971A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- dielectric
- glass
- filler
- porcelain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
同時焼結が可能であり、機械的強度に優れ、且つ、GH
z帯において優れた誘電特性を得ることができる誘電体
磁器を提供する。 【解決手段】 Siを20〜30質量%、Bを5〜30
質量%、Alを20〜30質量%、Caを10〜20質
量%、Znを10〜20質量%、Li、K及びNaのう
ちの少なくとも1種のアルカリ金属を0.2〜5質量%
含有する混合粉末を調合し、この混合粉末を溶融させた
後、急冷してガラスフリットを得る。その後、ガラスフ
リットを粉末状にし、無機フィラー粉末であるガーナイ
トフィラーとチタニアフィラーとを混合する。次いで、
バインダ等を投入してスラリー状にした誘電体磁器用組
成物を得、その後、これを成形し、1000℃以下の温
度で焼成して得る。
Description
る。更に詳しくは、低温焼結性及び機械的強度に優れ、
且つ、GHz帯において優れた誘電特性を有する誘電体
磁器に関する。本発明の誘電体磁器は、電子部品及び電
子部品を実装する配線基板、なかでも、多層に形成され
る多層配線基板等として利用することができる。特に、
GHz帯において使用される高周波用途の電子部品やそ
のパーケージ及び多層配線基板等として好適である。
を実装する配線基板等として誘電体磁器が使用されてい
る。このような用途で用いられる誘電体磁器には、10
00℃以下という低温において焼成できること、及び、
機械的強度が大きいこと等が必要とされる。これまで、
このような要求を充足できる誘電体磁器として主にガラ
ス(軟化点が500〜800℃程度であり、アルミノ硼
珪酸をベースとして酸化鉛、アルカリ土類金属酸化物、
アルカリ金属酸化物及び酸化亜鉛等を含有するガラス
粉)と無機フィラー(アルミナ、ムライト、コーディエ
ライト、チタン、ジルコン、フォルステライト、ジルコ
ニア及び石英等)とから得られるものが用いられてき
た。
0914号公報、特開昭60−235744号公報、特
開昭63−239892号公報、特開平3−33026
号公報、特開平7−135379号公報及び特開平9−
208258号公報等に開示されている。これらの誘電
体の誘電損失は1MHzにおいて6×10−4〜20×
10−4程度である。
えているGHz帯における誘電損失が小さいことが特に
求められている。このため、Ag系金属及びCu系金属
等の低抵抗導体と1000℃以下で同時焼成することが
でき、機械的強度が高く、且つ、得られた焼結体におい
て反りが少ない(反りが少ないことで、寸法安定性がよ
くなりGHz帯域での使用においても伝送損失を抑える
ことができる)誘電体磁器が必要とされている。
びGHz帯における優れた誘電特性を同時に達成するこ
とは困難であった。本発明は、上記課題を解決するもの
であり、Ag系金属及びCu系金属等の低抵抗導体と同
時焼成が可能であり、機械的強度に優れ、且つ、GHz
帯において優れた誘電特性を発揮する誘電体磁器を提供
することを目的とする。
無機フィラーとガラスとを含有する誘電体磁器用組成物
を1000℃以下で焼成してなる誘電体磁器であって、
該誘電体磁器用組成物には、該無機フィラーと該ガラス
との合計量を100質量%とした場合に、該無機フィラ
ーが20〜60質量%含有され、該ガラスが40〜80
質量%含有され、更に、該ガラスは、該ガラス全体を1
00質量%とした場合に、各々酸化物換算で、Siが2
0〜30質量%、Bが5〜30質量%、Alが20〜3
0質量%、Caが10〜20質量%、Znが10〜20
質量%、Li、Na及びKのうちの少なくとも1種のア
ルカリ金属が合計で0.2〜5質量%含有されることを
特徴とする。また、上記無機フィラーは、ガーナイトフ
ィラー(ガーナイトからなるフィラー)及びチタニアフ
ィラー(チタニアからなるフィラー)とすることができ
る。更に、上記ガラスのガラス転移点Tgは560〜6
70℃とすることができる。また、上記ガラスのガラス
転移点Tgと屈伏点Mgとの温度差は30〜45℃とす
ることができる。更に、3GHzにおける誘電損失を5
0×10−4以下とすることができる。また、3GHz
における比誘電率を6〜13とすることができる。更
に、25〜400℃における熱膨張係数は5〜10pp
m/℃とすることができる。また、抗折強度は185M
Pa以上とすることができる。
属及びCu系金属等の低抵抗導体と同時焼成が可能であ
り、機械的強度に優れ、且つ、GHz帯において優れた
誘電特性を得ることができる。
上記「無機フィラー」は、その種類及び含有量等によ
り、誘電体磁器の誘電特性及び機械的特性を変化させる
ことができるものである。無機フィラーを構成する材質
としては、例えば、ガーナイト、チタニア、アルミナ、
チタン酸塩(チタン酸マグネシウム、チタン酸カルシウ
ム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等)、
ムライト、ジルコニア、石英、コーディエライト、フォ
ルステライト、ワラストナイト、アノーサイト、エンス
タタイト、ジオプサイト、アーケルマナイト、ゲーレナ
イト及びスピネル等を挙げることができる。これらのう
ち、高周波帯域(特にGHz帯域)における比誘電率
(以下、単に「εr」という)を大きくすることができ
るためガーナイト、チタニア、チタン酸塩、アルミナが
好ましい。また、機械的強度を向上させることができる
ためガーナイト、チタニア、ジルコニア、アルミナが好
ましい。これらは1種のみであっても、2種以上であっ
てもよい。
び機械的強度等)を調整するために2種以上を組合せて
用いることができる。例えば、誘電特性のうち高周波帯
域(特にGHz帯域)における共振周波数の温度依存性
(以下、単に「τf」という)を低く抑える(τfの絶
対値を小さく抑える)ために、τfが負の値になる無機
フィラーと正の値になる無機フィラーとを組み合わせて
用いることができる。この組合せとしては、ガーナイト
とチタニア、ガーナイトとチタン酸塩、アルミナとチタ
ン酸塩、ガーナイトとアルミナとチタン酸塩等を挙げる
ことができる。なかでも、ガーナイトフィラーとチタニ
アフィラーとの組合せは、十分な機械的強度を発揮させ
且つ焼成による反りを防止しつつ、高周波帯域(GHz
帯域)における大きなεr及び絶対値の小さいτfを得
ることができる。
の合計を100質量%とした場合に20〜60質量%
(より好ましくは30〜60質量%、更に好ましくは4
0〜55質量%)が含有される。20質量%未満である
と、ガラスが融出し焼成治具と反応する場合があり、ま
た、十分な抗折強度が得られ難い場合もあり好ましくな
い。一方、60質量%を超えると1000℃以下での焼
成が困難となる場合があり、低抵抗導体との同時焼成が
達成できなくなる場合がある。
ラーとが併用される場合、無機フィラー全体に占めるガ
ーナイトフィラーとチタニアフィラーとの合計量は50
質量%以上(より好ましくは80質量%、更に好ましく
は90質量%、100質量%であってもよい)とするこ
とが好ましい。50質量%未満であるとガーナイトフィ
ラーとチタニアフィラーとを含有する効果が十分に発揮
され難い傾向にある。更に、ガーナイトフィラーの含有
量mG(質量換算)に対するチタニアフィラーの含有量
mT(質量換算)の比であるmT/mGは0.1〜1.
5であることが好ましく、0.4〜1.0であることが
より好ましく、0.6〜0.9であることが更に好まし
い。0.1未満であるとτfの絶対値を小さく抑える効
果が得られ難くなる傾向にある。
ず、例えば、粒子状、鱗片状、繊維状(特にウィスカ)
等種々の形状とすることができるが、通常、粒子状であ
る。また、誘電体磁器組成物中にはこれらの集合体であ
る粉末として配合される。更に、無機フィラーの大きさ
も特に限定されないが、通常、その大きさは1〜10μ
m(粒子形状の場合には平均粒径)とすることが好まし
い。粒径が10μmを超えて大きいとグリーンシートを
製造する際に不具合を生じる場合があるため好ましくな
い。また、1μm未満であると製造時に粉砕に要する時
間が長くなると共に、取り扱いも困難となり好ましくな
い。尚、無機フィラーは、通常、誘電体磁器の製造時に
添加された形状及び大きさのままで誘電体磁器中に存在
する。しかし、一部が焼成時にガラスに溶解し、誘電体
磁器中のガラスとして存在していてもよい。
により、誘電体磁器の焼成温度及び誘電特性を変化させ
ることができる成分である。このガラスは、無機フィラ
ーとガラスとの合計量を100質量%とした場合に40
〜80質量%(より好ましくは40〜70質量%、更に
好ましくは50〜60質量%)である。このガラスが4
0質量%未満であると、焼成温度を1000℃以下とす
ることが困難となり好ましくなく、80質量%を超える
と、機械的強度が低下し、高周波域における誘電特性も
十分なものでなくなる傾向にある。特にεrが小さくな
るため好ましくない。
素、Al元素、Ca元素及びZn元素と、Li元素、N
a元素及びK元素のうちの少なくとも1種のアルカリ金
属元素(以下、単に「X」として表す)とを含有する。
これらがガラス中でどのような化合物として含有される
かは特に限定されない。
i、B、Al、Ca及びZn及びXの各々がガラス中で
どのような化合物として存在しているかに関係なく、S
iはSiO2として、BはB2O3として、AlはAl
2O3として、CaはCaOとして、ZnはZnOとし
て、XはX2Oとして各々換算するものとする。
合に、これらの各元素の各々の含有量は、Siは酸化物
換算で20〜30質量%(より好ましくは20〜27質
量%、更に好ましくは21〜25質量%)である。Si
の含有量が20質量%未満であると、ガラスの軟化温度
が低くなり過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でな
くなり反りを生じる場合があるため好ましくなく、ま
た、誘電体磁器のεrが過度に大きくなる場合があるた
め好ましくない。一方、30質量%を超えると、εrは
適度な値とすることができるが、焼成に要する温度が高
くなるため、このままでは低抵抗配線との同時焼成が困
難となる場合がある。これに対して、ガラス成分の配合
割合を増加させて焼結させることができるが、こんどは
誘電損失が過度に増加する傾向にあるため好ましくな
い。
Bの含有量が5質量%未満であると、焼結できる温度が
高くなり過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でなく
なり反りを生じることが多くなるため好ましくない。一
方、30質量%を超えると、ガラスの軟化温度が低くな
り過ぎ、低抵抗導体との同時焼結性が十分でなくなり反
りを生じる場合がある。また、誘電体磁器中におけるガ
ラスの化学的安定性が低下し、耐薬品性が十分に得られ
なくなる場合があるため好ましくない。
ことにより、焼成温度を750〜950℃の範囲で幅広
く調整できるものとなる。また、15〜30質量%とす
ることにより、上記に加えて、低抵抗導体との同時焼結
性が特に良好となり、反りの発生を特に効果的に防止で
きるものとなる。更に、20〜30質量%とすることに
より、上記に加えて、誘電体磁器の耐薬品性が特に高く
なり、例えば、多層配線基板の製造時のメッキ工程にお
いて、誘電体磁器の溶解及び侵食を効果的に防止できる
ものとなる。
30質量%(より好ましくは21〜29質量%、更に好
ましくは22〜26質量%)である。Alの含有量が2
0質量%未満であると、誘電体の機械的強度が十分に得
られなくなり、特に10質量%未満ではガラスの安定性
が損なわれる傾向にあり好ましくない。一方、30質量
%を超えると、焼結できる温度が高くなり過ぎて好まし
くない。
20質量%(より好ましくは12〜20質量%、更に好
ましくは15〜18質量%)である。Caの含有量が1
0質量%未満であると、ガラスの溶融性が十分に向上し
ないことがあるため好ましくない。一方、20質量%を
超えると、熱膨張係数が大きくなり過ぎる場合があり好
ましくない。
20質量%(より好ましくは10〜18質量%、更に好
ましくは11〜16質量%)である。Znの含有量が1
0質量%未満であると、低抵抗導体との同時焼結性が十
分でなくなり反りを生じるため好ましくない。一方、2
0質量%を超えると、誘電体磁器の耐薬品性が十分に得
られなくなる場合があるため好ましくない。
5質量%である。Xの含有量が0.2質量%未満である
と、ガラスのガラス転移点が高くなりすぎる場合があ
り、このような場合に焼結性を阻害する恐れを生じるた
め好ましくない。一方、5質量%を超えるとガラスのガ
ラス転移点が過度に低くなる場合があり、このような場
合にガラスのみが過焼結となるため好ましくない。
くもいずれかにより、上記範囲となっていればよい。し
かし、多層配線基板等に低抵抗導体としてAg系金属を
用いる場合、Liは含有しないことが好ましい。これに
より、Agのマイグレーションの発生を極めて効果的に
抑制することができる。
る好ましい含有量は、各々の組み合わせとすることがで
きる。即ち、例えば、Siの含有量が20〜27質量%
であり、Bの含有量が10〜30質量%であり、Alの
含有量が21〜29質量%であり、Caの含有量が12
〜20質量%であり、Znの含有量が10〜18質量%
であり、且つ、Xの含有量が0.2〜5質量%であるも
のとすることができる。更に、Siの含有量が21〜2
5質量%であり、Bの含有量が15〜30質量%であ
り、Alの含有量が22〜26質量%であり、Caの含
有量が15〜18質量%であり、Znの含有量が11〜
16質量%であり、且つ、Xの含有量は0.2〜5質量
%であるものとすることができる。
に限定されないが560〜670℃(より好ましくは5
70〜660℃、更に好ましくは570〜640℃)で
あることが好ましい。この範囲であれば、Ag系金属
(Ag単体、Ag/Pd合金、Ag/Pt合金、Ag/
Cu合金、Ag/Au合金等)及びCu系金属(Cu単
体に少量の他元素を含有するもの等)などの低抵抗導体
との同時焼結性を特に良好に保つことができる。加え
て、焼成による反りを特に効果的に抑制することもでき
る。
されないが、Tgとの温度差が30〜45℃(より好ま
しくは30〜40℃、更に好ましくは30〜38℃)で
あることが好ましい。TgとMgとの温度差がこの範囲
内であれば焼成による収縮のバラツキを効果的に抑制す
ることができる。従って、高い寸法精度で電子部品や配
線基板の設計を行うことができる。
通常、粉末として用いられる。また、その大きさも特に
限定さないが、通常1〜10μm(粒子形状の場合には
平均粒径)であることが好ましい。大きさが10μmを
超えて大きいとグリーンシートを製造する際に不具合を
生じる場合があるため好ましくない。また、1μm未満
であると製造時に粉砕に要する時間が長くなると共に、
取り扱いも困難となり好ましくない。また、ガラスとし
て添加された成分は、通常、誘電体磁器中においてその
全量がガラスとして存在するが、一部が結晶化して析出
し、誘電体磁器中に無機フィラーとして存在してよい。
このような析出により形成される無機フィラーとして
は、例えば、アノーサイトフィラー、スピネルフィラー
及びガーナイトフィラー等を挙げることができる。
フィラーと上記ガラスとを含有する。この誘電体磁器用
組成物は、無機フィラー及びガラスのみからなってもよ
く、これら以外に、例えば、バインダ、溶剤、可塑剤及
び分散剤等を含有することもできる。この誘電体磁器用
組成物の性状は特に限定されず、例えば、粉末状、スラ
リー状及びペースト状等とすることができる。更に、こ
の誘電体磁器用組成物は、これらの粉末、スラリー及び
ペースト等を各種成形法(粉末は圧粉、CIP、HIP
等、スラリー及びペーストはドクターブレード法、スク
リーン印刷法、プレス成形法等)を用いて成形した成形
体であってもよい。
50℃以上)で行うことにより、前記Ag系金属及び前
記Cu系金属等の低抵抗導体との同時焼成を行うことが
できる。また、焼成後にこれらの低抵抗導体を備える場
合であっても反りのない誘電体磁器を得ることができ
る。また、更に800〜990℃においても焼結させる
ことが可能であり、特に850〜990℃において焼結
させることが可能であり、とりわけ900〜980℃に
おいて焼結させることが可能である。1000℃を超え
る温度においては、多くの低抵抗導体との同時焼成が困
難となるため好ましくない。
Hz(特に3〜10GHz)における誘電損失を50×
10−4以下(更には40×10−4以下、特に35×
10 −4以下、通常20×10−4以上)とすることが
できる。一般に、誘電損失は使用周波数が高くなるに従
い大きくなるが、本発明の誘電体磁器においてはGHz
帯における誘電損失を上記のように小さく抑えることが
できる。この誘電損失はガラスの組成だけでなく、無機
フィラーによっても変化させることができる。このた
め、製造時に添加する無機フィラーの組成及び量、並び
に焼成温度等の焼成条件により調整することができる。
z)におけるεrを7〜13(更には6〜13、特に3
〜13)とすることができる。一般に、εrは、使用周
波数が高くなるに従い低くなる。このεrが小さくなり
すぎると、GHz帯域で使用するためにはそれだけ大き
な誘電体磁器を得る必要があるため、小型化を図ること
が困難となる。上記範囲の値であれば、各種の電子部品
等を小型化することができる。
z)におけるτf(温度範囲:25〜80℃)を−20
〜10ppm/℃(更には−10〜10ppm/℃、特
に−5〜5ppm/℃)とすることができる。また、一
般に、共振周波数の温度係数は、使用周波数が高くなる
につれて絶対値が負側に大きくなる。絶対値が負側に大
きいとパッケージ基板として使用する場合にバンドパス
フィルターを内蔵することが困難となり、電気的な信頼
性が低下することとなる。従って、GHz帯域での使用
を考えるとτfの絶対値が小さいことが好ましい。これ
により、GHz帯域で使用する場合にも各種の電子部品
を安定して作動させることができる。
場合の熱膨張係数を5〜10ppm/℃とすることがで
きる。一般に、近年使用されているプリント配線基板の
熱膨張係数は13〜14ppm/℃程度であり、また、
IC等の半導体部品の熱膨張係数は3〜4ppm/℃程
度である。従って、誘電体磁器を多層配線基板等として
使用する場合には、これらプリント配線板の熱膨張係数
と半導体部品の熱膨張係数との両方により近い熱膨張係
数を有することが必要であり、本発明の誘電体磁器はこ
れを満足するものである。
は180MPa以上、特に190MPa以上)とするこ
とができる。抗折強度が160MPa以上であれば、本
発明の誘電体磁器から得られる多層配線基板や電子部品
等の製品を落下させた場合にも、その衝撃による破損を
抑えることができる。更に、GHz帯域で使用される多
層配線基板や電子部品等には、電磁シールドのためにシ
ールリング等の金具がロー付けされることがあるが、こ
のロー付け工程に課される熱応力による破損を抑えるこ
とができる。
(特に3〜10GHz)における誘電損失が50×10
−4以下であり、εrが6〜13であり、τfが−20
〜10ppm/℃であり、25〜400℃における熱膨
張係数が5〜10ppm/℃であり、且つ、抗折強度が
160MPa以上である誘電体磁器を得ることができ
る。更に、1〜15GHz(特に3〜10GHz)にお
ける誘電損失が40×10−4以下であり、εrが7〜
13であり、τfが−10〜10ppm/℃であり、2
5〜400℃における熱膨張係数が5〜10ppm/℃
であり、且つ、抗折強度が180MPa以上である誘電
体磁器を得ることができる。
ラーとチタニアフィラーとの両方が含有される場合に
は、3〜10GHzにおけるεrが9〜13であり、τ
fが−15〜0ppm/℃であり、且つ、抗折強度が1
80MPa以上である誘電体磁器を得ることができる。
更に、ガーナイトフィラーとチタニアフィラーとの両方
を含有し、且つこれら無機フィラーとガラスとの合計を
100質量%とした場合に、無機フィラーを30〜60
質量%となるように含有する場合には、3〜10GHz
におけるεrが9〜13であり、τfが−15〜0pp
m/℃であり、且つ、抗折強度が190MPa以上であ
る誘電体磁器を得ることができる。
ラーとの両方を含有し、これら無機フィラーとガラスと
の合計を100質量%とした場合に、無機フィラーを3
0〜60質量%となるように含有し、且つ、mT/mG
が0.6以上となるように含有する場合には、3〜10
GHzにおけるεrが10〜13であり、τfが−3〜
0ppm/℃であり、且つ、抗折強度が190MPa以
上である誘電体磁器を得ることができる。尚、本発明に
おける誘電損失、εr、τf、熱膨張係数及び抗折強度
は、いずれも後述する実施例における測定方法と同様な
方法によるものである。
する。 [1]ガーナイトフィラーを含有しない誘電体磁器 (1)ガラスの調製 表1に示す割合で、SiO2粉末、B2O3粉末、Al
2O3粉末、CaO粉末、ZnO粉末、Na2CO3粉
末、K2CO3粉末等の他、MgO粉末、BaO粉末、
SrO粉末及びZrO粉末を混合して原料粉末を調合し
た。得られた原料粉末を加熱溶融させた後、水に投入し
て急冷すると共に水砕させてガラスフリットを得た。こ
のガラスフリットをボールミルにて更に粉砕して、平均
粒径3μmのガラス10種(ガラスNo1〜10)を得
た。
す。
示差熱測定装置(株式会社リガク製、形式「THERM
OFLEX TAS 300 TG810D」)により
測定し、表2にTg、Mg及びMg−Tgの値を各々示
した。
す。
物)の製造 上記(2)までに得られたガラス10種の各々と、無機
フィラーであるアルミナフィラーとを、表1に示すよう
に各々50質量%の割合となるように秤量し、ボールミ
ルにて混合して混合粉末を得た。得られた混合粉末に、
バインダ(アクリル樹脂)、可塑剤{ジブチルフタレー
ト(DBP)}及び溶剤(トルエン)を添加し、混練し
てスラリー10種を調合した。得られた各スラリーをド
クターブレード法により、焼成後の厚みが100μmに
なるようにシート状に成形して10種類のグリーンシー
トを得た。
の製造及び誘電特性の測定 上記(3)で得られた10種類のグリーンシートを各々
所定形状に打ち抜いたシート片を10枚づつ熱圧着によ
り積層し、次いで、900℃において15分間焼成して
磁器を得た。得られた各磁器を縦50mm、横50m
m、厚さ0.635mmの板状に研磨加工して、第1測
定用磁器10種を得た。この第1測定用磁器を用い、誘
電体共振器摂動法により25℃、3GHzにおいて誘電
損失及びε rを測定した。その結果を表3に示した。
す。
用)の製造及び熱膨張係数の測定 上記(3)で得られた10種のグリーンシートを所定形
状に打ち抜いたシート片を20枚づつ熱圧着により積層
し、次いで、900℃において15分間焼成して磁器を
得た。得られた磁器を縦3mm、横3mm、高さ1.6
mmの柱状に研磨加工して、第2測定用磁器10種を得
た。この第2測定用磁器を用い、25℃から400℃ま
で昇温させた時の熱膨張係数を示差膨張式熱機械分析装
置(株式会社リガク社製、型式「TMA8140C」)
を用いて測定した。その結果を表3に併記した。
用)の製造及び同時焼結性の評価 上記(3)で得られた10種のグリーンシートの所定位
置にAgペーストをスクリーン印刷法により厚さ15μ
mで印刷した。更に、このAgペースト層上に別のグリ
ーンシートを熱圧着により積層した後、このグリーンシ
ート上にも同様にAgペーストを印刷し、更に同様な作
業を繰り返してグリーンシート5枚が積層され、各層間
にAgペーストが所定のパターン形状で印刷された未焼
成積層体を得た。この未焼成積層体を直径4cmの大き
さに打ち抜き、900℃で15分焼成して低抵抗導体が
配設された第3測定用磁器10種を得た。
面からの最高位置と最低位置(平面との接触位置)との
差を計測し、その差が50μm未満(実使用上問題のな
い程度の反り)又は反りを生じていない場合には「◎」
と示し、50μmを超えるものには「×」と各々表4に
示した。
す。
その切断面をEPMA(電子プローブ・マイクロアナラ
イザ)により分析した。その結果、Agの磁器内への拡
散が認められるもののうち、その拡散距離が5μm未満
のものは「◎」、拡散距離が5〜10μmのものは
「○」、拡散距離が10μmを超えるものは「×」と判
定し、表4に併記した。
1、2及び4にあたるものを所定形状に打ち抜いたシー
ト片を10枚づつ熱圧着により積層し、次いで、900
℃において15分間焼成して磁器を得た。得られた磁器
を縦4mm、横3mm、長さ36mmの柱状に研磨加工
して、第4測定用磁器3種を得た。この第4測定用磁器
を用いJIS R 1601に従い、その抗折強度(3
点曲げ)を測定した。この結果を表4に併記した。
℃の低温において焼結することができ、ある程度の誘電
特性は発揮できる。しかし、ガラス粉末の熱特性が良好
でないために誘電体磁器に反りを生じたり、いずれかの
誘電特性が十分に得られないものや、焼成により低抵抗
導体の拡散を生じたり、抗折強度が十分に得られない場
合があるなど、各特性を十分にバランスよく備えるもの
が得られていない。これに対して、本発明品である実験
例1及び2ではいずれも温度900℃で低抵抗導体と同
時焼結でき、且つ、全ての誘電特性において良好な値
(誘電損失38〜40×10−4、εr7.2〜7.
4、抗折強度210〜260MPa)を示している。ま
た、低抵抗導体を構成する成分の拡散及び基板の反りが
認められず、十分に大きな抗折強度が得られていること
が分かる。更に、熱膨張係数も6.1〜6.2ppm/
℃であり配線基板として用いるに好適な特性を示してい
る。
体磁器 (1)第5測定用磁器(誘電体特性測定用)の製造及び
誘電特性の測定 ガラスとして上記[1](1)で得られたガラスNo
1、No2、No4、No6及びNo9を用い、無機フ
ィラーとしてガーナイトフィラー、チタニアフィラー及
びチタン酸カルシウムフィラーを用い、表5に示す組合
せ及び割合で混合し、上記[1](3)と同様にしてグ
リーンシートを得た。その後、上記[1](4)と同様
に焼成し、研磨加工を行い第5測定用磁器11種を得
た。得られた誘電体磁器のうち焼成時に発泡した実験例
11、反りを生じた実験例19〜21を除く7種につい
て、上記[1](4)と同様にして、3GHzにおける
比誘電率εr、温度25〜80℃における共振周波数の
温度係数τfを測定した。その結果を表5に併記した。
す。
用)の製造及び同時焼結性の評価 上記[1](6)と同様にして反りを測定し、同じ評価
基準により表5に、「◎」又は「×」を示した。 (3)第7測定用磁器(抗折強度測定用)の製造及び抗
折強度の測定 上記[2](1)及び(2)において発泡及び反りを生
じなかった磁器を得ることができた上記[2](1)の
グリーンシートを用いた以外は、上記[1](7)と同
様にして第7測定用磁器7種を得た。その後、同様の測
定方法により抗折強度を測定し、表5に併記した。
の低温において焼結することができた。これに対して、
実験例11では、ガラスと無機フィラーとの割合が本発
明の範囲外であったために、焼成時に発泡し、誘電体磁
器として使用できないものであった。また、実験例19
〜21では反りを生じていた。更に、ガラスだけの場合
εrは、通常、6程度である。これに対して、無機フィ
ラーがガーナイトフィラーとチタニアフィラーとである
誘電体磁器(実験例12〜16及び18)のεrは9.
5〜10.7と大きくすることができた。更に、τfも
−15〜1ppm/℃と絶対値の小さい値を得ることが
できた。一方、無機フィラーがガーナイトフィラーとチ
タン酸カルシウムフィラーとである誘電体磁器(実験例
17)でもεrは11.2と大きくすることができ、同
時にτfも7ppm/℃と絶対値の小さな値を得ること
ができた。更に、無機フィラーがガーナイトフィラーと
チタン酸カルシウムフィラーである誘電体磁器では16
5MPaの抗折強度が得られた。また、特に、無機フィ
ラーがガーナイトフィラーとチタニアフィラーである誘
電体磁器では180〜220MPaの極めて優れた抗折
強度が得られた。
に、ガーナイトフィラーとチタニアフィラーとを合計で
41〜47質量%含有し、更には、ガーナイトフィラー
(m G)とチタニアフィラー(mT)との比mT/mG
が0.71〜0.76である場合に、10.3以上の大
きなεrを保持し、190MPa以上の高い抗折強度を
保持しながら、τfは−3〜1ppm/℃と非常に小さ
い値に抑えられた。
Claims (8)
- 【請求項1】 無機フィラーとガラスとを含有する誘電
体磁器用組成物を1000℃以下で焼成してなる誘電体
磁器であって、該誘電体磁器用組成物には、該無機フィ
ラーと該ガラスとの合計量を100質量%とした場合
に、該無機フィラーが20〜60質量%含有され、該ガ
ラスが40〜80質量%含有され、更に、該ガラスは、
該ガラス全体を100質量%とした場合に、各々酸化物
換算で、Siが20〜30質量%、Bが5〜30質量
%、Alが20〜30質量%、Caが10〜20質量
%、Znが10〜20質量%、Li、Na及びKのうち
の少なくとも1種のアルカリ金属が合計で0.2〜5質
量%含有されることを特徴とする誘電体磁器。 - 【請求項2】 上記無機フィラーは、ガーナイトフィラ
ー及びチタニアフィラーである請求項1記載の誘電体磁
器。 - 【請求項3】 上記ガラスのガラス転移点Tgは560
〜670℃である請求項1又は2に記載の誘電体磁器。 - 【請求項4】 上記ガラスのガラス転移点Tgと屈伏点
Mgとの温度差が30〜45℃である請求項1乃至3の
うちのいずれか1項に記載の誘電体磁器。 - 【請求項5】 3GHzにおける誘電損失が50×10
−4以下である請求項1乃至4のうちのいずれか1項に
記載の誘電体磁器。 - 【請求項6】 3GHzにおける比誘電率が6〜13で
ある請求項1乃至5のうちのいずれか1項に記載の誘電
体磁器。 - 【請求項7】 25〜400℃における熱膨張係数が5
〜10ppm/℃である請求項1乃至6のうちのいずれ
か1項に記載の誘電体磁器。 - 【請求項8】 抗折強度が185MPa以上である請求
項1乃至7のうちのいずれか1項に記載の誘電体磁器。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002145408A JP2003112971A (ja) | 2001-07-31 | 2002-05-20 | 誘電体磁器 |
KR1020030004195A KR100592603B1 (ko) | 2002-05-20 | 2003-01-22 | 유전체 자기 |
CNB031035396A CN1243681C (zh) | 2002-05-20 | 2003-01-29 | 电介质瓷器 |
US10/354,074 US6852655B2 (en) | 2002-05-20 | 2003-01-30 | Dielectric ceramic |
TW92102639A TWI243805B (en) | 2001-07-31 | 2003-01-30 | Dielectric ceramic |
EP04022819A EP1498396A1 (en) | 2002-05-20 | 2003-01-30 | Dielectric ceramic |
EP03002116A EP1364920A1 (en) | 2002-05-20 | 2003-01-30 | Dielectric ceramic |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001232546 | 2001-07-31 | ||
JP2001-232546 | 2001-07-31 | ||
JP2002145408A JP2003112971A (ja) | 2001-07-31 | 2002-05-20 | 誘電体磁器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003112971A true JP2003112971A (ja) | 2003-04-18 |
Family
ID=26619714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002145408A Withdrawn JP2003112971A (ja) | 2001-07-31 | 2002-05-20 | 誘電体磁器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003112971A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003115217A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-04-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体磁器 |
EP1364920A1 (en) * | 2002-05-20 | 2003-11-26 | Ngk Spark Plug Co., Ltd | Dielectric ceramic |
WO2004065325A1 (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-05 | Ube Industries, Ltd. | 誘電体磁器組成物、誘電体磁器およびこれを用いた積層セラミック部品 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06171982A (ja) * | 1992-12-09 | 1994-06-21 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 低温焼成セラミックス基板 |
JPH07135379A (ja) * | 1993-11-09 | 1995-05-23 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 低温焼成ガラスセラミック基板用組成物 |
JPH10167822A (ja) * | 1996-12-02 | 1998-06-23 | Kyocera Corp | 低温焼成セラミックス、該セラミックスから成る配線基板 |
JP2003115217A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-04-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体磁器 |
-
2002
- 2002-05-20 JP JP2002145408A patent/JP2003112971A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06171982A (ja) * | 1992-12-09 | 1994-06-21 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 低温焼成セラミックス基板 |
JPH07135379A (ja) * | 1993-11-09 | 1995-05-23 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 低温焼成ガラスセラミック基板用組成物 |
JPH10167822A (ja) * | 1996-12-02 | 1998-06-23 | Kyocera Corp | 低温焼成セラミックス、該セラミックスから成る配線基板 |
JP2003115217A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-04-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体磁器 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003115217A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-04-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 誘電体磁器 |
EP1364920A1 (en) * | 2002-05-20 | 2003-11-26 | Ngk Spark Plug Co., Ltd | Dielectric ceramic |
WO2004065325A1 (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-05 | Ube Industries, Ltd. | 誘電体磁器組成物、誘電体磁器およびこれを用いた積層セラミック部品 |
US7232781B2 (en) | 2003-01-24 | 2007-06-19 | Ube Industries, Ltd. | Dielectric ceramic composition, dielectric ceramic, and laminated ceramic part including the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2397452A1 (en) | Sintered body of low temperature cofired ceramic and multilayer ceramic substrate | |
IE64626B1 (en) | Ceramic composition of matter and its use | |
EP0960866B1 (en) | Ceramic substrate composition and ceramic circuit component | |
JP3943341B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
KR100592603B1 (ko) | 유전체 자기 | |
JP2003115218A (ja) | 誘電体磁器 | |
JP3890779B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
JP3678260B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
JP2003112971A (ja) | 誘電体磁器 | |
JP2003112972A (ja) | 誘電体磁器 | |
JP2006256956A (ja) | ガラスセラミックス焼結体及びマイクロ波用回路部材 | |
JP6927252B2 (ja) | ガラスセラミックス焼結体および配線基板 | |
KR100868921B1 (ko) | 저온 동시소성이 가능한 고강도 세라믹 조성물의 제조방법 | |
JP2003115217A (ja) | 誘電体磁器 | |
JPH0517211A (ja) | 基板材料及び回路基板 | |
JP2005216998A (ja) | セラミック回路基板及びその製造方法 | |
JP2005217170A (ja) | 複合積層セラミック電子部品 | |
JP4699769B2 (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
JP4442077B2 (ja) | 高周波部品用磁器組成物 | |
JP7056764B2 (ja) | ガラスセラミック材料、積層体、及び、電子部品 | |
JP2006273676A (ja) | セラミック組成物 | |
WO2023095605A1 (ja) | ガラスセラミックス及び電子部品 | |
JP2005060171A (ja) | 無鉛ガラス、ガラスセラミックス組成物、グリーンシートおよび電子回路基板 | |
WO2022191020A1 (ja) | ガラスセラミック材料、積層体、及び、電子部品 | |
JPH1160266A (ja) | ガラス及びガラスセラミック材料 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040903 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20050606 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070417 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070618 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071113 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20071207 |