JP2003103389A - 半導体レーザ集光装置 - Google Patents
半導体レーザ集光装置Info
- Publication number
- JP2003103389A JP2003103389A JP2001298362A JP2001298362A JP2003103389A JP 2003103389 A JP2003103389 A JP 2003103389A JP 2001298362 A JP2001298362 A JP 2001298362A JP 2001298362 A JP2001298362 A JP 2001298362A JP 2003103389 A JP2003103389 A JP 2003103389A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser light
- emitters
- semiconductor laser
- polarization
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
のレーザ光を小さく集光することができる半導体レーザ
集光装置を提供する。 【解決手段】 複数のエミッタ(11a〜11h)から
レーザ光を放射する半導体レーザ光源(10)と、レー
ザ光をコリメートするコリメータレンズ(30,31)
と、コリメートされたレーザ光を分割集光する複数の集
光レンズ(40)と、複数の集光レンズ(40)で集光
されたレーザ光を合波する合波手段(62)と、により
半導体レーザ集光装置を構成する。複数のエミッタから
のレーザ光を複数の集光レンズで分割集光すると共に合
波手段で合波するので、集光ビームサイズを小さくする
ことができる。
Description
もつ半導体レーザの集光装置に関する。
と高いことから、固体レーザの励起光源として、或いは
直接加工光源として利用するニーズが高まっている。そ
こで、複数のエミッタを一次元に配置した半導体レーザ
バー(LDバー)や、LDバーを積層した半導体レーザス
タック(LDスタック)が半導体レーザメーカから商品
化された。例えば、LDバーは、長さ10mm、厚さ0.
2mm、幅1mmの外形寸法の半導体レーザチップをヒ
ートシンクにマウントしたもので、この中に縦1μm、
横150μmのエミッタがピッチ500μmで19個集積化
されている。1エミッタから約2Wの出力のレーザ光が
放射され、1LDバーからは約40Wの出力のレーザ光
が放射される。このLDバーを10個積層したLDスタ
ックからは400Wの出力のレーザ光が放射されることに
なる。したがって、これらを集光してパワー密度を高く
することができれば、金属の溶接や穴あけ、切断などの
加工を直接行なうことができる。
タイプで、放射光の広がりが大きく、縦方向(ファース
ト軸方向)広がり角θVは数10度、横方向(スロー軸方
向)広がり角θHは数度〜10数度である。また、上述の
ように、レーザ光を放射するエミッタの寸法は縦が相対
的に狭く1μm程度であり、横は相対的に広く100〜200
μmである。レーザ光の集光性は、ビームプロダクト
(ビーム径×広がり角)に依存する。上述のような半導
体レーザの場合、ビームプロダクトは、縦方向が0.2mm・
mrad程度であり、横方向が200mm・mradである。このた
め、LDバーやLDスタックからの放射光をレンズを用いて
集光する場合、縦方向は容易に小さく集光できるが、横
方向はビームプロダクトが大きいために小さく集光する
ことが容易でない。
体レーザ集光装置を図6に示す。半導体レーザ光源10
0は、複数のエミッタ110をもち、各エミッタ110
から放射されたレーザ光のファースト軸(y軸)方向が
y−z面でレンズ作用をもつy−z円柱レンズ200で
コリメートされる。レーザ光のスロー軸(x軸)方向は
y‐z円柱レンズ200をそのまま通過し、つぎのx−
z面でレンズ作用をもつx−z円柱レンズアレイ300
でコリメートされ、集光レンズ400に入射し集光さ
れ、集光スポット500を形成する。y−z円柱レンズ
200でコリメートされたファースト軸方向は、x−z
円柱レンズアレイ300をそのまま通過し、集光レンズ
400に入射して集光され集光スポット500を形成す
る。
ット500を小さくするためには、集光レンズ400に
入射するスロー軸方向のレーザ光の広がりを小さくする
(コリメートを十分に行う)必要があるが、そのために
は、x−z円柱レンズアレイ300の焦点距離fHを長
くして、エミッタ110からfH離れた位置にx−z円
柱レンズアレイ300を配置する必要がある。しかし、
fHが大きくなると、エミッタ110と円柱レンズアレ
イ300が1対1に対応しなくなり、隣のエミッタから
の放射光が回りこむクロストークが起こる。したがっ
て、図6に示す従来の集光装置では集光スポット500
を小さくすることができない。
されたもので、多数のエミッタをもつ半導体レーザ光源
からのレーザ光を小さく集光することができる半導体レ
ーザ集光装置を提供することを目的としている。
に、本発明者らは小さく集光することが容易でないスロ
ー軸方向の集光モデル式を導出し、考察を行った。図1
がモデル式導出のためのx−z平面図で、スロー軸は紙
面に平行で、ファースト軸は紙面に垂直である。図示し
ないLDバーは、複数のエミッタ11が紙面に平行方向に
配列されており、各エミッタのスロー軸方向の大きさを
d1、エミッタとエミッタのピッチ(間隔)をpとす
る。エミッタ11から放射されたスロー軸方向にθ1の
広がりをもつビームが、スロー軸用コリメータレンズ3
1にすべて入射するように、焦点距離f0、開口d2の
レンズ31はエミッタ11からf0の位置に配置されて
いる。このような構成にすると、コリメータレンズ31
でコリメートされたビームは、コリーメータレンズ31
の後側焦平面(レンズ31からf0の位置)で最小のd3
となり、その後θ2の広がりもつビームとなり、集光レ
ンズ40に入射する。集光レンズ40に入射したビーム
は、集光レンズ40からf隔たった位置に集光される。
なお、集光レンズ40は焦点距離fをもち、コリメータ
レンズ31からf0+f隔たった位置に配置されてい
る。
タからのビーム全体の大きさをDin、集光位置でのビー
ムサイズをDout、集光レンズ40の開口数をsinθ3とす
ると、集光モデル式はつぎのように導出される。
ためには、スロー軸方向の広がりθ1を小さく、エ
ミッタ寸法d1を小さく、集光レンズ40の開口数を
大きく(θ3を大きく)、集光レンズ40への入射ビー
ムサイズDinを小さく(npを小さく、すなわち複数のエ
ミッタを分割)すればよいことがわかる。このうちと
は半導体レーザ自身の技術の進歩を待つ必要があり、
についてはこれまでも試みられてきた。そこで、発明
者らは、の方策に着目して本発明に到達した。
記載の半導体レーザ集光装置は、複数のエミッタをもち
該複数のエミッタからレーザ光を放射する半導体レーザ
光源と、該レーザ光をコリメートするコリメータレンズ
と、該コリメータレンズでコリメートされたレーザ光を
スロー軸方向の幅が1/2以下になるように変換する手
段と、この変換手段により変換されレーザ光を集光する
集光レンズと、を有することを特徴とする。請求項1に
記載の発明によれば、コリメートされたレーザ光をその
スロー軸方向の幅が1/2以下になるように変換して集
光レンズに入射するようにしたので、集光レンズにより
集光される集光ビームの幅を1/2以下にすることがで
きる。
は、複数のエミッタをもち該複数のエミッタからレーザ
光を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ光をコリメ
ートするコリメータレンズと、該コリメータレンズでコ
リメートされたレーザ光を分割集光する複数の集光レン
ズと、該複数の集光レンズで集光されたレーザ光を合波
する合波手段と、を有することを特徴とする。
光レンズで分割集光して合波することで、各集光レンズ
に入射するビームサイズが小さくなり集光ビームサイズ
を小さくすることができる。合波手段としては、光路を
曲げることができればよく、例えば、プリズムやミラー
を使用することができる。
は、複数のエミッタをもち該複数のエミッタからレーザ
光を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ光をコリメ
ートするコリメータレンズと、該レーザ光を互いに直交
する偏波面をもつレーザ光に分割する偏光分割手段と、
該互いに直交する偏波面をもつレーザ光を合波する偏光
合波手段と、該偏光合波手段により合波されたレーザ光
を集光する集光レンズと、を有することを特徴とする。
光をもつ例えば2群に分割し、集光レンズに入射するビ
ームサイズを小さくしてそれぞれを集光レンズで集光す
ると共に、偏光合波手段で合波するので、集光ビームサ
イズを小さくするすることができる。
一般に無偏光で広がり角に異方性のないレーザ光が放射
されるので、偏光分割手段として偏光軸が互いに直交す
る2種類の偏光子を用いて分割され、コリメータレンズ
として通常の球面レンズを使用してコリメートされる。
偏光合波手段は、例えば、偏光ビームスプリッタや薄膜
偏光子などとビームベンダを組合せたものであるが、合
波効率の点で偏光ビームスプリッタとビームベンダを組
合せたものが好ましい。ビームベンダとしては、全反射
ミラーやプリズムが適している。
は、請求項3の装置において、前記半導体レーザ光源が
前記エミッタのファースト軸方向に偏光したレーザ光を
放射し、前記偏光分割手段が該レーザ光の一部の偏光方
向を該エミッタのスロー軸方向に回転させる半波長板で
あることを特徴とする。
ァースト軸方向に偏光したレーザ光が放射されるので、
例えば2群に分割すべきレーザ光のどちらか一方の偏光
方向を変えればよく、偏光分割手段が少なくてよい。
ァースト軸方向とスロー軸(ファースト軸と直交する)方
向で広がり角が異なるので、ファースト軸用とスロー軸
用の2種類必要になる。
は、 複数のエミッタをもち該複数のエミッタから異な
る波長(λ1,λ2,λ3,・・・)のレーザ光を放射す
る半導体レーザ光源と、該レーザ光をコリメートするコ
リメータレンズと、該コリメータレンズでコリメートさ
れたレーザ光を集光する集光レンズと、該異なる波長の
レーザ光を合波する波長合波手段と、を有することを特
徴とする。
レンズに入射するビームサイズを小さくして、それぞれ
を集光すると共に、波長合波手段で合波するので、集光
ビームサイズを小さくできる。
源は、GaAlAsやInGaAsなどの化合物半導体にドープする
不純物濃度をエミッタによって変えたものや、同じ波長
のレーザ光を放射する半導体レーザに、例えばラマンシ
フト型の波長シフタ等を実装したものである。波長合波
手段には、通常ダイクロイックミラーとビームベンダを
組合せたものが使用される。1枚のダイクロイックミラ
ーで2波長を合波でき、2枚のダイクロイックミラーで
は3波長を合波できる。
は、請求項3又は4の装置において、前記半導体レーザ
光源は、前記複数のエミッタから異なる波長のレーザ光
を放射し、該異なる波長のレーザ光を合波する波長合波
手段をさらに有することを特徴とする。
いの両方で分割して集光レンズに入射するビームサイズ
をより小さくしてそれぞれを集光すると共に、合波手段
で合波するので、集光ビームサイズをより一層小さくす
ることができる。
は、請求項5又は6のいずれかの装置において、前記半
導体レーザ光源は、複数の温度制御手段をもち該温度制
御手段の設定温度を変えることで前記複数のエミッタか
ら前記異なる波長のレーザ光を放射することを特徴とす
る。
制御されるので、その設定温度を変えることで波長を変
えるので、エミッタの不純物濃度を変えたり、別途波長
可変手段を用意する必要がなく、小型化、低コスト化が
図れる。
は、請求項3〜7のいずれかの装置において、前記波長
合波手段を移動可能として、合波と非合波を選択可能と
したことを特徴とする。
さい集光ビームが得られ、非合波にすることで、二つ以
上の小さい集光ビームが得られる。二つ以上の集光ビー
ムが得られると共に2ヶ所以上を加熱することができ
る。偏光合波手段の移動は、偏光合波手段全体を移動す
るよりも偏光合波手段を構成するビームベンダだけを移
動することが好ましい。その方が移動手段を小型化でき
る。
実施の形態については、当業者に実施可能な理解が得ら
れるよう、以下の実施例で明確かつ十分に説明する。 [実施の形態1]本発明の実施の形態1を図2に示す。図
2は、x−z面すなわちスロー軸方向が紙面に平行にな
るように示したものである。レーザ光を放射する半導体
レーザ光源10は、温度制御手段であるぺルチェ素子1
2に、エミッタ11a〜11hがスロー軸(x軸)方向
に並んだ半導体レーザチップ11が固着されたものであ
る。半導体レーザ光源10の後にコリメータレンズ3
0、31が配置され、その後に集光レンズ40と合波手
段62が配置されている。集光レンズ40は、上側に配
置された集光レンズ41aと下側に配置された集光レン
ズ41bとかなり、合波手段62は上側に配置されたプ
リズム62aと下側に配置されたプリズム62bとから
なる。
装置においては、各エミッタ11a〜11hからファー
スト軸方向に大きな広がり(広がり角数10度)をもつレ
ーザ光が放射されとき、このレーザ光は、後続のファー
スト軸コリメータレンズ30でファースト軸方向がコリ
メートされる。ファースト軸コリメータレンズ30はフ
ァースト軸(y軸)方向でレンズ作用をもつ円柱レンズ
であるので、レーザ光はファースト軸コリメータレンズ
30でファースト軸方向がコリメートされる。つまり、
y−z平面内でz軸と平行にされる。このようにコリメ
ートされたレーザ光は、次のスロー軸コリメータレンズ
アレイ31でスロー軸方向がコリメートされ、このため
レーザ光はx−z平面内でz軸と平行にされる。
スロー軸(X軸)方向でレンズ作用をもつ円柱レンズア
レイであるので、スロー軸コリメータレンズアレイ31
でコリメートされたレーザ光のうち、上側半分すなわち
エミッタ11a〜11dからのレーザ光が上側に配置さ
れた集光レンズ40aに入射する。この集光レンズ40
aに入射したレーザ光は、集光レンズ40aで集光され
ながら、上側に配置された合波手段であるプリズム62
aで下側に曲げられ、集光ビーム70を形成する。一
方、下側半分すなわちエミッタ11e〜11hからのレ
ーザ光は、下側に配置された集光レンズ40bで集光さ
れながら下側に配置されたプリズム62bで上側に曲げ
られ、集光ビーム70を形成する。
1hからの放射ビームを集光レンズ40a、40bで半
分づつ分割集光しながら合波手段60を構成するプリズ
ム62a,62bで合波するので、分割しないで集光す
るのに比べ、スロー軸方向の集光ビームサイズを約半分
にすることができる。つまり、上述した理論解析で述べ
たように、集光ビーム70のサイズは集光レンズの入射
ビームサイズDinに依存するので、集光レンズへの入射
ビームを2分割して集光レンズへの入射ビームサイズDi
nを半分にすることにより、スロー軸方向における集光
ビーム70のサイズを約半分にできる。
図3に示す。実施の形態1と同じ要素には同じ番号を付
し、各要素間の関連や動作の説明は省略する。図3も図
2と同様、x−z面すなわちスロー軸方向が紙面に平行
になるように示したもので、半導体レーザ光源10の後
にコリメータレンズ30,31が配置され、その後に偏
光分割手段である半波長板50、偏光合波手段60、集
光レンズ40が配置されている。偏光合波手段60は、
偏光ビームスプリッタ60aと全反射ミラー60bとか
らなる。各エミッタ11a〜11hからは、ファースト
軸方向すなわち紙面と直交する方向に偏光したレーザ光
が放射される。
リメートされたレーザ光のうち、下側半分すなわちエミ
ッタ11e〜11hからのレーザ光は、偏光が半波長板
50で上側半分すなわちエミッタ11a〜11dからの
レーザ光の偏光と直交するように変換され、偏光合波手
段60の偏光ビームスプリッタ60aに入射する。一
方、スロー軸コリメータレンズ31でコリメートされた
レーザ光のうち、上側半分すなわちエミッタ11a〜1
1dからのレーザ光は全反射ミラー60bで90度曲げ
られ、偏光ビームスプリッタ60aに入射し、下側半分
すなわちエミッタ11e〜11hからのレーザ光と合波
される。偏光ビームスプリッタ60aで合波されたレー
ザ光は、後続の集光レンズ40で集光され、集光ビーム
70になる。
は、偏光の違いを利用してエミッタ11a〜11hを1
1a〜11dと11e〜11hに分割して集光レンズ4
0に入射するレーザ光の大きさ、すなわち集光レンズへ
の入射ビームサイズDinを半分にすることにより、集光
ビーム70のスロー軸方向の大きさを1/2にすること
ができる。この実施の形態2における偏光分割手段とし
ての半波長板50及び偏光合波手段60は、請求項1に
記載の発明におけるレーザ光をファースト軸方向の幅が
1/2以下になるように変換する手段として機能するも
のである。
図4に示す。実施の形態1及び2と同じ要素には同じ番
号を付し、各要素間の関連や動作の説明は省略する。レ
ーザ光を放射する半導体レーザ光源10は、温度制御手
段であるぺルチェ素子12に、エミッタ11a〜11h
がスロー軸(x軸)方向に並んだ半導体レーザチップ1
1が固着されたものである。ペルチェ素子12は二つの
素子12a、12bからなり、12aにはエミッタ11
a〜11dが,12bにはエミッタ11e〜11hがそ
れぞれ固着されている。ペルチェ素子12a,12bは
それぞれ所定の温度T1,T2に保持されており、エミ
ッタ11a〜11dからは波長λ1のレーザ光が、11
e〜11hからは波長λ2のレーザ光が、それぞれ放射
される。
ンズ30,31が配置され、その後に波長合波手段6
1、集光レンズ40が配置されている。波長合波手段6
1は、ダイクロイックミラー61aと全反射ミラー61
bとからなり、全反射ミラー61bは図示しない移動手
段で矢印方向に移動できるようになっている。集光レン
ズ40は、上側に配置された集光レンズ40aと下側に
配置された集光レンズ40bとからなる。エミッタ11
a〜11hから放射されたレーザ光は、後続のファース
ト軸コリメータレンズ30でファースト軸方向がコリメ
ートされ、スロー軸コリメータレンズアレイ31でスロ
ー軸方向がコリメートされる。スロー軸コリメータレン
ズアレイ31を通過したレーザ光のうち、下側半分すな
わちエミッタ11e〜11hからの波長λ2のレーザ光
は、後続の波長合波手段61のダイクロイックミラー6
1aに入射する。
の光をほぼ100%反射し、波長λ2の光をほぼ100
%透過するので、エミッタ11e〜11hからの波長λ
2のレーザ光は、ダイクロイックミラー61aをほぼ1
00%透過する。一方、スロー軸コリメータレンズアレ
イ31を通過したレーザ光のうち、上側半分すなわちエ
ミッタ11a〜11dからの波長λ1のレーザ光は、全
反射ミラー61bで90度曲げられ、ダイクロイックミ
ラー61aに入射し、下側半分すなわちエミッタ11e
〜11hからのレーザ光と合波される。ダイクロイック
ミラー61aで合波されたレーザ光は、下側の集光レン
ズ40bで集光され、集光ビーム70bになる。
移動され、エミッタ11a〜11dからのレーザ光の光
路からはずれると、スロー軸コリメータレンズアレイ3
1を通過したエミッタ11a〜11dからのレーザ光は
点線で示したように、上側に配置された集光レンズ40
aで集光され、集光ビーム70aになる。
は、波長の違いを利用してエミッタ11a〜11hを1
1a〜11dと11e〜11hに分割して集光レンズ4
0a,40bに入射するレーザ光の大きさを半分にする
ことで、集光ビーム70a、70bのスロー軸方向の大
きさを1/2にすることができる。また、波長合波手段
61を構成する全反射ミラー61bを移動させること
で、小さく集光された集光ビームを一つにしたり二つに
したリすることができる。この実施の形態3における波
長合波手段61は、請求項1に記載の発明におけるレー
ザ光をスロー軸方向の幅が1/2以下になるように変換
する手段として機能する。
したダイクロイックミラー61a及び全反射ミラー61
bからなる波長合波手段61を2組設け、図5中の上側
半数のエミッタからのレーザ光を一方の波長合波手段6
1で合波すると共に、上側半数のエミッタからのレーザ
光を他方の波長合波手段61で合波し、他方の波長合波
手段61からのレーザ光を偏光分割手段の半波長板50
で上側半分からのレーザ光の偏光と直交するように変換
する。そして、一方の波長合波手段61からのレーザ光
を全反射ミラー60bで90度曲げ、偏光ビームスプリ
ッタ60aに入射し、半波長板50で変換されたレーザ
光と合波する。これにより、偏光ビームスプリッタ60
aで合波されたレーザ光は、後続の集光レンズ40bで
集光され、集光ビーム70になる。
ば、波長と偏光の違いを利用して全エミッタを1/4に
分割して集光レンズ40bに入射するレーザ光の大き
さ、すなわち集光レンズ40bへの入射ビームサイズDin
を1/4にすることにより、集光ビーム70のスロー軸
方向の大きさを1/4にすることができる。 また、この
実施の形態4における波長合波手段61、半波長板5
0、全反射ミラー60b、及び偏光ビームスプリッタ6
0aは、請求項1に記載の発明におけるレーザ光をスロ
ー軸方向の幅が1/2以下になるように変換する手段と
して機能する。
も、全反射ミラー60bを選択的に移動可能にすると共
に、集光レンズ40bに加えて集光レンズ40aを設
け、全反射ミラー60bを移動させることで、小さく集
光された集光ビームを一つにしたり二つにしたリするこ
とができる。
全反射ミラー60bを選択的に移動可能にすると共に、
集光レンズ40に加えて別の集光レンズ(図5の40a
に相当)を設け、全反射ミラー60bを移動させること
で、小さく集光された集光ビームを一つにしたり二つに
したリすることができる。 なお、上記した実施の形態に
おいては、コリメータレンズからのレーザ光のスロー軸
方向の幅を1/2及び1/4に集光する場合について例
示したが、レーザ光のスロー軸方向の幅は1/3、1/
5或いはそれ以上の集光率の幅に集光してもよいし、こ
の集光率は必ずしも整数分の1でなくとも端数を含む分
数であってもよい。 また、上記した実施の形態において
は、1つのLDバーからの出射光を集光する場合について
例示したが、多数のLDバーを積層したLDスタックからの
出射光も同様にして集光できる。
れた集光装置によれば、コリメートされたレーザ光をそ
のスロー軸方向の幅が1/2以下になるように変換して
集光レンズに入射するようにしたので、集光レンズによ
り集光される集光ビームの幅を1/2以下にすることが
できる。 また、請求項2に記載の集光装置によれば、複
数のエミッタからのレーザ光を複数の集光レンズで分割
集光すると共に合波手段で合波するようにしたので、集
光ビームサイズを小さくすることができる。
ように、複数のエミッタを偏光の違いを利用して合波手
段で合波し、集光レンズで集光するので、集光ビームサ
イズを小さくすることができる。さらに、請求項5又は
6に記載の集光装置のように、波長の違いを利用して合
波手段で合波し、集光レンズで集光するので、集光ビー
ムサイズを小さくすることができる。 特に、請求項8に
記載の集光装置のように、合波手段を移動可能にし、合
波することでパワー密度の高い一つの小さい集光ビーム
が得られ、非合波にすることで、二つの小さい集光ビー
ムが得られる。これにより同時に2ヶ所を加熱すること
ができる。
半導体レーザ集光装置のx−z平面図である。
平面図である。
平面図である。
平面図である。
平面図である。
ンズ 31 スロー軸コリメータレンズ 40,40a,40b 集光レンズ 50 偏光分割手段 60 偏光合波手段 61 波長合波手段
Claims (8)
- 【請求項1】 複数のエミッタをもち該複数のエミッタ
からレーザ光を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ
光をコリメートするコリメータレンズと、該コリメータ
レンズでコリメートされたレーザ光をスロー軸方向の幅
が1/2以下になるように変換する手段と、この変換手
段により変換されレーザ光を集光する集光レンズと、を
有することを特徴とする半導体レーザ集光装置。 - 【請求項2】 複数のエミッタをもち該複数のエミッタ
からレーザ光を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ
光をコリメートするコリメータレンズと、該コリメータ
レンズでコリメートされたレーザ光を分割集光する複数
の集光レンズと、該複数の集光レンズで集光されたレー
ザ光を合波する合波手段と、を有することを特徴とする
半導体レーザ集光装置。 - 【請求項3】 複数のエミッタをもち該複数のエミッタ
からレーザ光を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ
光をコリメートするコリメータレンズと、該レーザ光を
互いに直交する偏波面をもつレーザ光に分割する偏光分
割手段と、該偏光分割手段により分割された互いに直交
する偏波面をもつレーザ光を合波する偏光合波手段と、
該偏光合波手段で合波されたレーザ光を集光する集光レ
ンズと、を有することを特徴とする半導体レーザ集光装
置。 - 【請求項4】 前記半導体レーザ光源は前記エミッタの
ファースト軸方向に偏光したレーザ光を放射し、前記偏
光分割手段は該レーザ光の一部の偏光方向を該エミッタ
のスロー軸方向に回転させる半波長板であることを特徴
とする請求項3に記載の半導体レーザ集光装置。 - 【請求項5】 複数のエミッタをもち該複数のエミッタ
から異なる波長(λ1,λ2,λ3,・・・)のレーザ光
を放射する半導体レーザ光源と、該レーザ光をコリメー
トするコリメータレンズと、該コリメータレンズでコリ
メートされた異なる波長のレーザ光を合波する波長合波
手段と、該波長合波手段で合波されたレーザ光を集光す
る集光レンズと、を有することを特徴とする半導体レー
ザ集光装置。 - 【請求項6】 前記半導体レーザ光源は前記複数のエミ
ッタから異なる波長のレーザ光を放射し、該異なる波長
のレーザ光を合波する波長合波手段をさらに有すること
を特徴とする請求項3又は4のいずれかに記載の半導体
レーザ集光装置。 - 【請求項7】 前記半導体レーザ光源は、複数の温度制
御手段をもち該温度制御手段の設定温度を変えることで
前記複数のエミッタから前記異なる波長のレーザ光を放
射することを特徴とする請求項5又は6のいずれかに記
載の半導体レーザ集光装置。 - 【請求項8】 前記波長合波手段を移動可能として、合
波と非合波を選択可能としたことを特徴とする請求項3
〜7のいずれかに記載の半導体レーザ集光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001298362A JP2003103389A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 半導体レーザ集光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001298362A JP2003103389A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 半導体レーザ集光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003103389A true JP2003103389A (ja) | 2003-04-08 |
Family
ID=19119273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001298362A Pending JP2003103389A (ja) | 2001-09-27 | 2001-09-27 | 半導体レーザ集光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003103389A (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007000897A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ装置 |
JP2007286481A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Jtekt Corp | 分割合波ユニット及び半導体レーザ集光装置 |
JP2011169969A (ja) * | 2010-02-16 | 2011-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | レーザビーム装置 |
JP2011186195A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Seiko Epson Corp | プロジェクター |
WO2013150864A1 (ja) * | 2012-04-03 | 2013-10-10 | ウシオ電機株式会社 | 半導体レーザ光学装置 |
WO2014142147A1 (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-18 | ウシオ電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
JP2015015305A (ja) * | 2013-07-03 | 2015-01-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ装置 |
JP2016541108A (ja) * | 2013-10-18 | 2016-12-28 | サン−ゴバン グラス フランス | モジュール式レーザ装置 |
JP2017015993A (ja) * | 2015-07-02 | 2017-01-19 | キヤノン株式会社 | 光源装置及びこれを用いた照明装置、投射型表示装置 |
JP2017527111A (ja) * | 2014-08-14 | 2017-09-14 | エムティティ イノベーション インコーポレイテッドMtt Innovation Incorporated | 複数レーザ光源 |
CN109273986A (zh) * | 2018-11-12 | 2019-01-25 | 北京热刺激光技术有限责任公司 | 一种半导体激光器合束结构 |
US11079605B2 (en) | 2017-11-13 | 2021-08-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Total internal reflection prism unit, total internal reflection prism assembly including the same and apparatus for forming a line beam including the same |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58182886A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Nippon Sekigaisen Kogyo Kk | レ−ザ照射装置 |
JPH0259192A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 大出力レーザ装置 |
JPH07301764A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-14 | Nippon Steel Corp | レーザ装置 |
JPH09232657A (ja) * | 1996-02-23 | 1997-09-05 | Nec Corp | 半導体レーザ励起固体レーザ装置 |
JPH11233873A (ja) * | 1998-02-12 | 1999-08-27 | Fujitsu Ltd | 多波長光源 |
JP2001111168A (ja) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光周波数安定化装置 |
-
2001
- 2001-09-27 JP JP2001298362A patent/JP2003103389A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58182886A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Nippon Sekigaisen Kogyo Kk | レ−ザ照射装置 |
JPH0259192A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 大出力レーザ装置 |
JPH07301764A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-14 | Nippon Steel Corp | レーザ装置 |
JPH09232657A (ja) * | 1996-02-23 | 1997-09-05 | Nec Corp | 半導体レーザ励起固体レーザ装置 |
JPH11233873A (ja) * | 1998-02-12 | 1999-08-27 | Fujitsu Ltd | 多波長光源 |
JP2001111168A (ja) * | 1999-10-06 | 2001-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光周波数安定化装置 |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4648107B2 (ja) * | 2005-06-23 | 2011-03-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ装置 |
JP2007000897A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ装置 |
JP2007286481A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Jtekt Corp | 分割合波ユニット及び半導体レーザ集光装置 |
JP2011169969A (ja) * | 2010-02-16 | 2011-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | レーザビーム装置 |
JP2011186195A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Seiko Epson Corp | プロジェクター |
WO2013150864A1 (ja) * | 2012-04-03 | 2013-10-10 | ウシオ電機株式会社 | 半導体レーザ光学装置 |
US9484710B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-11-01 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device |
WO2014142147A1 (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-18 | ウシオ電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
JP2014175626A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-22 | Ushio Inc | 半導体レーザ装置 |
CN104956555A (zh) * | 2013-03-13 | 2015-09-30 | 优志旺电机株式会社 | 半导体激光器装置 |
JP2015015305A (ja) * | 2013-07-03 | 2015-01-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ装置 |
US10133079B2 (en) | 2013-07-03 | 2018-11-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser device having semiconductor laser array stacks |
JP2016541108A (ja) * | 2013-10-18 | 2016-12-28 | サン−ゴバン グラス フランス | モジュール式レーザ装置 |
JP2017527111A (ja) * | 2014-08-14 | 2017-09-14 | エムティティ イノベーション インコーポレイテッドMtt Innovation Incorporated | 複数レーザ光源 |
CN112576950A (zh) * | 2014-08-14 | 2021-03-30 | Mtt创新公司 | 多激光器光源 |
JP2017015993A (ja) * | 2015-07-02 | 2017-01-19 | キヤノン株式会社 | 光源装置及びこれを用いた照明装置、投射型表示装置 |
US11079605B2 (en) | 2017-11-13 | 2021-08-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Total internal reflection prism unit, total internal reflection prism assembly including the same and apparatus for forming a line beam including the same |
CN109273986A (zh) * | 2018-11-12 | 2019-01-25 | 北京热刺激光技术有限责任公司 | 一种半导体激光器合束结构 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6157194B2 (ja) | レーザ装置および光ビームの波長結合方法 | |
US6763054B2 (en) | Optical system for improving the brightness of a stack of lensed diode lasers | |
US7653115B2 (en) | Semiconductor laser device and solid-state laser device using the same | |
US9455552B1 (en) | Laser diode apparatus utilizing out of plane combination | |
US7668214B2 (en) | Light source | |
US6680800B1 (en) | Device for symmetrizing the radiation emitted by linear optical transmitters | |
US20120002395A1 (en) | Beam combining light source | |
US20120002293A1 (en) | Beam combining light source | |
JP2006171348A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP2003103389A (ja) | 半導体レーザ集光装置 | |
JP2002329935A (ja) | レーザ光源装置、レーザ装置、レーザ出射方法およびレーザ光源装置の製造方法 | |
JP7277716B2 (ja) | 光源装置、ダイレクトダイオードレーザ装置、および光結合器 | |
JP2002239773A (ja) | 半導体レーザー加工装置および半導体レーザー加工方法 | |
JP2007286481A (ja) | 分割合波ユニット及び半導体レーザ集光装置 | |
JP2021506115A (ja) | 半導体レーザ | |
JP2014192450A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
CN110383607A (zh) | 波长耦合激光器装置 | |
JP2006222399A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
WO2015145608A1 (ja) | レーザ装置 | |
JP4024270B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP7296605B2 (ja) | 波長ビーム結合共振器のアライメントのためのシステムおよび方法 | |
JP2002148562A (ja) | 半導体レーザ加工装置 | |
JP4040934B2 (ja) | 集光装置 | |
WO2017119111A1 (ja) | 合波レーザ光源 | |
JP2008511131A (ja) | ダイオードレーザ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20060228 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080805 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101026 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110308 |