JP2003102166A - チャージポンプ回路 - Google Patents
チャージポンプ回路Info
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Abstract
チャージポンプ回路を提供する。 【解決手段】 各々がダイオード接続され、互いに縦続
接続されたトランジスタM1〜M4を備え、これらトラン
ジスタに容量素子C1〜C4を介してクロック信号、反転
クロック信号が交互に供給するチャージポンプ回路にお
いて、トランジスタM1〜M4をデプレッション型のトラ
ンジスタとし、入力側のトランジスタC1、C2のゲート
長を、後段のトランジスタC3、C4のゲート長より大き
くすることで昇圧効率を改善し、単一デバイスのみで構
成することにより、設計及び製造が容易とするととも
に、信頼性を向上させる。
Description
供給された電源電圧を昇圧し、内部回路に供給するため
に使用されるチャージポンプに関するものである。 【0002】 【従来の技術】従来のチャージポンプとしては、例えば
特公平5−68188号公報に開示されるものがある。
これは、図2に示すように、各々がそのドレイン及びゲ
ートを接続され、所謂ダイオード接続され、互いのソー
スとドレインとを接続して多段に縦続接続されたMOS
トランジスタm1〜m6と、MOSトランジスタm1〜m6
のソースのそれぞれに接続された容量素子c1〜c6とを
備え、最前段のMOSトランジスタm1のドレイン及びゲ
ートに電圧Viを入力し、MOSトランジスタm1〜m6に
交互にクロック信号φ、反転クロック信号φnをそれぞ
れの容量素子c1〜c6を介して供給し、最終段のMOS
トランジスタm6から昇圧された電圧Voを得るものであ
る。また、入力側から前段の数段、例えば、MOSトラ
ンジスタm1、m2としてはエンハンスメント型のトラン
ジスタを用い、中段のMOSトランジスタm3、m4とし
ては0Vのしきい値を持つトランジスタを用い、後段の
MOSトランジスタm5、m6としてはデプレッション型
のトランジスタを用いる構成になっている。 【0003】基板バイアス電圧VBが0Vのときのトラ
ンジスタのしきい値をVthとし、基板バイアスによるし
きい値の変化分をΔVth(B)とすると、各トランジスタ
のしきい値はVth+ΔVth(B)となる。ここで、クロッ
ク信号φが立ち下がっているとして、入力の電圧をVi
とすると、図2中の点Aの電位はVi−(Vth+ΔVth(
i))となる(=VA0)。このときの点Bの電位は反転クロ
ック信号φnが立ち上がるためVφとなり(=VB0)、点
Cの電位はVφ−(Vth+ΔVth(φ))となる(=VC 0)。 【0004】次にクロック信号φが立ち上がることによ
り、点Aの電位はVi−(Vth+ΔV th(i))+Vφとなり
(=VA1)、点Bの電位はVA1−(Vth+ΔVth(A1))と
なる(=VB1)。このときの点Cの電位はVC0+Vφと
なる(=VC1)。再びクロック信号φが立ち下がると、
点Aの電位がVA0に戻り、点BはVB1+Vφ(=VB2)、
点CはVB1−(Vth+ΔVth(B1))となる(=VC2)。さら
にクロック信号φが立ち上がると、点Aの電位はVA1と
なり、点BはVB1に戻り、点CはVC2+Vφとなる。 【0005】以上の動作を繰り返すことで、チャージポ
ンプは入力電圧を昇圧していくが、入力側から見て後段
になればなるほど、ΔVBの値が大きくなり、昇圧効率
が落ちていく。これを解決するために、後段に中段以降
に0Vしきい値のトランジスタおよびデプレッショント
ランジスタ等のVthが低いデバイスを使用することで、
効率を落とさずに昇圧ができるようにしている。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ものは、入力側から見て前段にエンハンスメントトラン
ジスタ、中段に0VのVthを持つトランジスタ、後段
にデプレッショントランジスタを用いるといったよう
に、3種類のデバイスを使用している。このように、複
数種類のデバイスを用いることでそれぞれの製造工程で
の作り込みも困難になり、さらに回路の信頼性も悪くな
る。また、回路シミュレーション時も使用するモデルが
複数あるために、高い精度のシミュレーションができな
いといった問題を有していた。 【0007】そこで、本発明はチャージポンプ回路を構
成するデバイスを1種類にし、上記問題点を解決するこ
とを目的とするものである。 【0008】 【課題を解決するための手段】本発明のチャージポンプ
回路は、各々がダイオード接続され、多段に縦続接続さ
れた複数のトランジスタと、上記各トランジスタに接続
された容量素子とを備え、最前段の上記トランジスタに
特定電圧を入力し、上記複数のトランジスタに交互にク
ロック信号、反転クロック信号をそれぞれの上記容量を
介して供給し、最終段の上記トランジスタから昇圧され
た電圧を得るチャージポンプ回路であって、上記複数の
トランジスタはデプレッション型であり、特定段の上記
トランジスタのゲート長を、後段の上記トランジスタの
ゲート長より大きくしたことを特徴とする。 【0009】 【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を実施例に基づき詳細に説明する。 【0010】本発明の実施例のチャージポンプ回路につ
いて説明する。図1は本例の構成を示す電気回路図であ
る。本例のチャージポンプ回路は、各々がそのドレイン
及びゲートを接続され、所謂ダイオード接続され、互い
のソースとドレインとを接続して多段に縦続接続された
デプレッション型のNチャネルMOSトランジスタM 1
〜M4と、MOSトランジスタM1〜M4のソースのそれ
ぞれに接続された容量素子C1〜C4とを備え、最前段の
MOSトランジスタM1のドレイン及びゲートに特定の
電圧Viを入力し、MOSトランジスタM1〜M4に交互に
クロック信号φ、反転クロック信号φnをそれぞれの容
量素子C1〜C4を介して供給し、最終段のMOSトラン
ジスタM4のソースから昇圧された電圧Voを得る。 【0011】本例のチャージポンプ回路は、ダイオード
接続したトランジスタを縦続接続し、これらにそれぞれ
の容量素子を介して交互にクロック信号、これと位相の
反転する反転クロック信号を与えるというチャージポン
プ回路の基本構成において、従来技術のチャージポンプ
回路とほぼ同様である。本例のものと従来のものとの相
違点は、本例のチャージポンプ回路では、MOSトラン
ジスタが、総てデプレッション型のトランジスタで構成
してあること、入力側の所定数の段のトランジスタのゲ
ート長を後段のトランジスタのゲート長より大きくした
ことである。すなわち、本例のチャージポンプ回路の前
段部はダイオード接続されたゲート長の長いデプレッシ
ョン型のMOSトランジスタM1、M2、後段部はダイオ
ード接続されたゲート長の短いデプレッション型のMO
SトランジスタM3、M4が縦続接続されている。ゲート
長Lの比は、前段と後段とで、例えば、5対2とする。 【0012】次に、本例の動作について図1を参照しな
がら説明する。まず、基板電圧が0Vのときのデプレッ
ション型のトランジスタのしきい値をVthとし(<0
V)、基板電圧によるしきい値電圧の変化分をΔV
th(B)とする。クロックφが立ち下がっている状態で容
量C1に充電を行うと、容量C1に蓄積された電荷量はQ
1=C1VA0となる。このときMOSトランジスタM1が
デプレッション型であるためVth分のロスがなくVA0=
Viとなる。 【0013】次に、クロックφが立ち上がると、VA1=
Vi+Vφとなる。このとき、理想的には容量素子C1に
蓄積された電荷はすべて容量素子C2に充電されるはず
であるが、MOSトランジスタM1がデプレッションで
あるために、逆流する電荷が存在する。逆流する電荷量
をQr1とすると、容量素子C2に蓄積される電荷量は、
Q2=Q1−Qr1となる。この逆流電荷量Qr1はトランジ
スタM1の電流式よりQr1=WμCox(Vgs−(Vth+Δ
Vth(i)))2t/2LにおいてVgs=0Vであらわされ
る。すなわち、Qr1=WμCox(Vth+ΔVth(i))2t/
2Lである。ここで、W、L、μ、Cox、tはそれぞ
れ、トランジスタのゲート幅、ゲート長、キャリアの移
動度、単位面積当たりのゲート酸化膜容量、チャージポ
ンプの容量充放電時間である。この式において、Vthが
負であるため、Vth+ΔVth(i)の項の値としては大き
くなく、トランジスタのサイズによってQr1を低減でき
ることがわかる。このときの点Bの電位VB1はVr1を逆
流による電圧損失分とすると、VB1=VA1-Vr1であ
り、Vφ>Vr1であれば昇圧されることになる。この状
態において、Vr1∝Qr1であるため、トランジスタのゲ
ート長LによってVr1も低減できる。 【0014】さらに、クロックφが再度立ち下がると、
点Bの電位はVB2=VB1+Vφであり、点Cの電位VC2
=VB2−Vr2に対してVφ>Vr2であれば同様に昇圧さ
れたことになる。 【0015】後段部においては、基板バイアス効果の影
響でΔVth(B)の値が大きくなる。そのため、ある点以
降ではVth+ΔVth(B)が正となり、見かけ上トランジ
スタはデプレッション型ではなくなる。したがって、電
荷の逆流は起こらず、それによる損失もなくなる。よっ
て、ゲート長Lを大きくする必要は無くサイズを縮小で
きる。また、今度はVthの損失が生じるが、もともと
のVthが負であったため、基板バイアス効果の影響を受
けてもVth+ΔVth(B)の値はせいぜい1V程度までに
しかならず、Vthによる損失も低減できている。 【0016】本例によれば、EEPROM(電気的消去
書き込み可能不揮発性メモリ)等の消去および書き込み
に必要となる高電圧を電源電圧から昇圧することで供給
することができ、単一電源化を実現できるという効果が
ある。 【0017】上述の実施例において、NチャンネルMO
Sトランジスタを使用した場合について説明したが、P
チャンネルMOSトランジスタを用いることで、入力電
圧V iを負方向に昇圧する回路を構成することができ
る。 【0018】また、上述の実施例において、トランジス
タのゲート長Lを前段部および後段部の2種類とした
が、ゲート長Lを3種類以上とすることでも同様の作用
効果が得られる。例えば、最前段のトランジスタから個
々のトランジスタのゲート長Lを、徐々に小さくしてい
くことも可能である。 【0019】 【発明の効果】本発明の構成によれば、チャージポンプ
回路を構成するデバイスはデプレッション型のトランジ
スタ1種類のみであり、製造工程のデバイスの作り込み
が容易になるとともに、構成するデバイスの種類を減少
させることによって回路自体の信頼性を増すことができ
る。 【0020】また、デプレッション型のトランジスタで
構成するために生ずる電荷の逆流の問題は基板バイアス
効果の影響の小さい入力側から見た前段部のトランジス
タのゲート長Lを大きくすることで低減でき、高効率の
昇圧動作が可能となる。 【0021】また、回路の最適化に関しても、従来のも
ののように個々のデバイスの特性を変更をすること無
く、1種類のデバイスのレイアウト上の変更のみで容易
に実現できる。
示す電気回路図。 【図2】従来のチャージポンプ回路の構成を示す電気回
路図。 【符号の説明】 M1〜M4 デプレッション型のトランジスタ C1〜C4 容量素子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 各々がダイオード接続され、多段に縦続
接続された複数のトランジスタと、上記各トランジスタ
に接続された容量素子とを備え、最前段の上記トランジ
スタに特定電圧を入力し、上記複数のトランジスタに交
互にクロック信号、反転クロック信号をそれぞれの上記
容量を介して供給し、最終段の上記トランジスタから昇
圧された電圧を得るチャージポンプ回路であって、 上記複数のトランジスタはデプレッション型であり、 特定段の上記トランジスタのゲート長を、後段の上記ト
ランジスタのゲート長より大きくしたことを特徴とした
チャージポンプ回路。
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