JP2003100740A - 被膜形成方法 - Google Patents
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- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 17
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 abstract description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 3
- 101100327917 Caenorhabditis elegans chup-1 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02282—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02123—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
- H01L21/02126—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02296—Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer
- H01L21/02318—Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer post-treatment
- H01L21/02337—Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer post-treatment treatment by exposure to a gas or vapour
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/314—Inorganic layers
- H01L21/316—Inorganic layers composed of oxides or glassy oxides or oxide based glass
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/6715—Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
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Abstract
し、配線間が0.13μm以下の微細な箇所でも均一な
層間被膜を形成する被膜形成方法を提供する。 【解決手段】 アウターカップ内に回転可能なインナー
カップを配置し、これらアウターカップ及びインナーカ
ップの上面開口を別々の蓋体で閉塞するとともに、イン
ナーカップ用蓋体はインナーカップと一体的に回転する
ように支持した回転カップ式塗布装置の前記インナーカ
ップ内に配線が形成された被処理物をセットし、この被
処理物の表面にSOGを塗布した後、インナーカップ及
びアウターカップの上面開口を蓋体で閉じ、この状態で
インナーカップを回転させることでSOGを均一に拡散
せしめることであって、前記塗布は複数回行った後、S
OGが塗布された前記被処理物を熱処理装置でベークす
る構成とする。
Description
点金属間の層間絶縁膜や、アルミ配線間の層間絶縁膜を
形成する被膜形成方法に関する。
はCVD方法を使用してきたが、被処理物上における配
線間の微細化が進むに伴い、CVD方法では十分な被膜
を形成できなくなりつつある。即ち、CVD方法で形成
された被膜がコンフォーマル状につくため、狭い配線の
間を十分に埋め込むことができない。
ることが検討されてきた。しかしながら、開放型の通常
カップを用いて、SOG被膜を形成する場合には、例え
ば、図3に示すように、ラインアンドスペースパターン
部のスペース部分の底に形成されたSOG被膜と、それ
以外の部分に形成されたSOG被膜とは膜質に粗密の差
が生じる。一般的には、ラインアンドスペースパターン
部のスペース部分の底に形成されたSOG膜は粗とな
り、それ以外の部分では密となる。
分」の密度を100とした場合、「粗の部分」の密度が
50であるということであり、同じSOG被膜でも塗布
された部分によって密度が異なる現象が起きている。
は、この粗密化現象が、著しくなり、アスペクト比が低
い場合には、粗密化現象は殆ど発生しない。
いた場合には、高アスペクト部分にもSOGを一度塗り
で被膜を形成するのが一般的であり、粗密差の問題を解
決することは困難である。
は、特開平7−227568号公報に、塗布される被処
理物の回転を2回に分けて行い、第1回転と第2回転と
の間隔は第1回転の回転時間の10倍以上とすることを
開示したが、図4に示したように、やはり粗密差の問題
は解消できず、アスペクト比の高い個所は粗となる。
象は、粗の部分が原因でデバイスの信頼性を著しく落と
してしまうので、特に半導体デバイスの心臓部であるゲ
ート電極部分においては重要である。「粗」とは、被膜
の内部に微小な空隙を含んでいるということであり、S
OG塗布後の熱処理工程における加熱(即ちベーク)に
より、空隙中のガスが膨張し、SOG被膜にクラックが
入ってしまうという問題がある。そうなると、SOG絶
縁膜としての役割を果たすことができない。
の面積縮小及び粗密度の低減を実現し、配線間が0.1
3μm以下の微細な箇所でも均一な層間被膜を形成する
被膜形成方法を提供することにある。
願発明に係る被膜形成方法は、アウターカップ内に回転
可能なインナーカップを配置し、これらアウターカップ
及びインナーカップの上面開口を別々の蓋体で閉塞する
とともに、インナーカップ用蓋体はインナーカップと一
体的に回転するように支持した回転カップ式塗布装置の
前記インナーカップ内に配線が形成された被処理物をセ
ットし、この被処理物の表面にSOGを塗布した後、イ
ンナーカップ及びアウターカップの上面開口を蓋体で閉
じ、この状態でインナーカップを回転させることでSO
Gを均一に拡散せしめることであって、前記塗布は複数
回行った後、SOGが塗布された前記被処理物を熱処理
装置でベークする構成とする。
てSOGを塗布すると、密閉状態となる回転カップ内
は、回転により若干減圧状態になるが、SOG形成用塗
布液の溶剤雰囲気を保ち、塗布中にSOG被膜表面の乾
燥を抑えることが可能であるため、SOGがその流動性
を失わずに微細な配線の間にも入り込んでいく。すなわ
ち、減圧状態及びSOGの流動性を維持することにより
SOGは半ば強制的に配線の間を埋めていくことで、S
OG被膜の粗密度の低減を実現することができる。
を得るために複数回(好ましくは2〜3回)塗布するこ
とにより、配線間のアスペクト比が2以上である高アス
ペクトでは不利となっていた粗密の差を軽減できる。例
えば、第1回の塗布ではSOGの形成膜厚を薄くし、形
成される粗密領域(即ち、粗密箇所の面積)を最小限に
抑え、これで第2回の塗布前では実質的にアスペクト比
が小さくなっているため、粗密領域及び粗密度が軽減で
きる。
時間回転させるよりも、高速(好ましくは3000〜5
000rpm)で短時間(好ましくは1秒)に設定した
方がより粗密度を低減することができる。
度を400℃〜1000℃とし、焼成時間を30分〜9
0分とし、熱処理装置内を酸素の多い状態とすることに
より、SOGの酸素との反応が促進され、粗密度を低減
した均一なSOG被膜を得ることができる。
する。図1は、本発明の実施に用いる回転カップ式塗布
装置の断面図であり、回転カップ式塗布装置は、環状の
アウターカップ1内にインナーカップ2を配置し、この
インナーカップ2をスピンナー装置3の軸に取り付け、
インナーカップ2を高速で回転せしめるようにし、また
スピンナー装置3の軸の上端には半導体ウェーハ等の基
板Wを吸着固定する真空チャック4を設け、さらにアウ
ターカップ1にはインナーカップ2からのドレンを受け
る回収通路5を形成している。
を用いて、SOGを2回塗布した被処理物の部分断面図
である。図示しているように、一回目のSOG塗布の厚
さが、図3に示す通常カップで一回塗った厚さの半分以
下にし、形成される粗密領域が小さくなる。また2回目
のSOG塗布で所定のSOG被膜の厚さに補足する。そ
うすると、粗の部分は、かなり小さくなる。
する熱処理装置に搬送され、連続して熱処理が行われ
る。熱処理装置は、複数枚の被処理物を一括で処理する
ことができるバッチ式と1枚毎に処理する枚葉式の2種
類がある。
装置上に被処理物を載置して加熱するが、熱源がプレー
トだけなので処理室内の温度分布にバラツキが生じ、均
一に処理されているとは言い難い。一方、バッチ式は熱
源が装置の周囲を囲むように配置されているので、輻射
熱により処理室内が均一に加熱される。しかも30分以
上加熱することで被処理物間での温度のばらつきはなく
なる。
れる状態で、焼成温度が400〜1000℃、処理時間
が30分以上90分以下とする。また、SOG溶液は、
大気中よりも酸素ガスや蒸気(スチーム)を送り込んで
酸素の多い状態で熱処理を行うと、SOG溶液が脱水縮
合反応をおこし、H2Oは蒸発し、緻密化したSiO2が
膜として残る。
るので、O2と結びつきやすくなり、反応が促進され緻
密化するが、あまり高温にし過ぎると配線の方にダメー
ジを与え好ましくない。また、酸素が多い状態とは加熱
処理室内中に、大気中に比べ多く(最低でも21%以
上)存在することである。
置を用いて、被処理物上にSOGを高回転で、なおかつ
2〜3回に分けて多層塗りすることによって、アスペク
ト比が高い配線間でも絶縁膜の粗密化を最小限に抑えて
SOGを塗布することができる。さらに、前述の被処理
物を輻射熱の得られるバッチ式の熱処理装置で400〜
1000℃、30分以上90分以下、酸素過多の状態で
焼成することにより、粗密差を低減した緻密な平坦化膜
を得ることができる。
断面図
面図
す断面図
ピンナー装置、 4…真空チャック、 5…回収通路、
6、7…蓋体、 W…基板。
Claims (4)
- 【請求項1】 アウターカップ内に回転可能なインナー
カップを配置し、これらアウターカップ及びインナーカ
ップの上面開口を別々の蓋体で閉塞するとともに、イン
ナーカップ用蓋体はインナーカップと一体的に回転する
ように支持した回転カップ式塗布装置の前記インナーカ
ップ内に配線が形成された被処理物をセットし、この被
処理物の表面にSOGを塗布した後、インナーカップ及
びアウターカップの上面開口を蓋体で閉じ、この状態で
インナーカップを回転させることでSOGを均一に拡散
せしめ、この塗布操作を複数回繰り返した後、SOGが
塗布された前記被処理物を熱処理装置でベークすること
を特徴とする被膜形成方法。 - 【請求項2】 前記塗布における回転数は3000〜5
000rpmであることを特徴とする請求項1に記載の
被膜形成方法。 - 【請求項3】 前記被処理物上における配線間のアスペ
クト比が2以上であることを特徴とする請求項1または
2に記載の被膜形成方法。 - 【請求項4】 前記ベークにおける処理条件は、焼成温
度を400℃〜1000℃とし、焼成時間を30分〜9
0分とし、熱処理装置内を酸素の多い状態とすることを
特徴とする請求項1乃至3のいずれか1に記載の被膜形
成方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001292465A JP4334168B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 被膜形成方法 |
KR1020020057978A KR100875354B1 (ko) | 2001-09-25 | 2002-09-25 | 피막형성방법 |
US10/255,177 US6872418B2 (en) | 2001-09-25 | 2002-09-25 | Film forming method |
TW091122048A TWI221099B (en) | 2001-09-25 | 2002-09-25 | Coating film forming method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001292465A JP4334168B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 被膜形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003100740A true JP2003100740A (ja) | 2003-04-04 |
JP4334168B2 JP4334168B2 (ja) | 2009-09-30 |
Family
ID=19114421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001292465A Expired - Fee Related JP4334168B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 被膜形成方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6872418B2 (ja) |
JP (1) | JP4334168B2 (ja) |
KR (1) | KR100875354B1 (ja) |
TW (1) | TWI221099B (ja) |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0330453A (ja) * | 1989-06-28 | 1991-02-08 | Sony Corp | 平坦化絶縁膜の形成方法 |
US5312512A (en) * | 1992-10-23 | 1994-05-17 | Ncr Corporation | Global planarization using SOG and CMP |
JP3280791B2 (ja) | 1994-02-17 | 2002-05-13 | 東京応化工業株式会社 | 塗膜形成方法 |
US5453406A (en) * | 1994-06-13 | 1995-09-26 | Industrial Technology Research Institute | Aspect ratio independent coating for semiconductor planarization using SOG |
US5554567A (en) * | 1994-09-01 | 1996-09-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Method for improving adhesion to a spin-on-glass |
JP2994228B2 (ja) * | 1995-04-24 | 1999-12-27 | 東京応化工業株式会社 | 回転カップ式塗布装置及び塗布方法 |
JP3824334B2 (ja) * | 1995-08-07 | 2006-09-20 | 東京応化工業株式会社 | シリカ系被膜形成用塗布液及び被膜形成方法 |
US5985363A (en) * | 1997-03-10 | 1999-11-16 | Vanguard International Semiconductor | Method of providing uniform photoresist coatings for tight control of image dimensions |
KR19990039100A (ko) * | 1997-11-10 | 1999-06-05 | 윤종용 | Sog를 이용한 반도체 장치의 절연막 제조방법 |
KR100314806B1 (ko) * | 1998-10-29 | 2002-02-19 | 박종섭 | 스핀온글래스막형성방법 |
-
2001
- 2001-09-25 JP JP2001292465A patent/JP4334168B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-09-25 KR KR1020020057978A patent/KR100875354B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-09-25 TW TW091122048A patent/TWI221099B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-09-25 US US10/255,177 patent/US6872418B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI221099B (en) | 2004-09-21 |
US6872418B2 (en) | 2005-03-29 |
US20030059533A1 (en) | 2003-03-27 |
JP4334168B2 (ja) | 2009-09-30 |
KR20030026886A (ko) | 2003-04-03 |
KR100875354B1 (ko) | 2008-12-22 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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