JP2003077779A - ウエハ加熱装置 - Google Patents
ウエハ加熱装置Info
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Abstract
熱性能を要求されるウエハ加熱装置も、同様に大型化さ
れたために前記給電端子や制御用熱電対の必要本数も大
幅に増えてきた。このことから弾性的に押圧される力も
大幅に増えてしまい、これらの部材を取り付けた多層構
造部が大きく変形してしまう事態が発生するようになっ
てきた。 【解決手段】支持体内部に設置された複数の支持板から
なる多層構造部に、前記発熱抵抗体に電力を供給するた
めの導通端子および/または前記均熱板の温度制御を行
なうための温度検知素子を固定し、多層構造部を成す複
数の支持板間に、支持板の80%の直径を持った同心円
内の範囲に3個以上の変形防止部材を備えた。
Description
するのに用いるウエハ加熱装置に関するものであり、例
えば、半導体ウエハや液晶装置あるいは回路基板等のウ
エハ上に薄膜を形成したり、前記ウエハ上に塗布された
レジスト液を乾燥焼き付けしてレジスト膜を形成するの
に好適なものである。
ける、半導体薄膜の成膜処理、エッチング処理、レジス
ト膜の焼き付け処理等においては、半導体ウエハ(以下
ウエハと略す)を加熱するためにウエハ加熱装置が用い
られている。
ウエハを成膜処理するバッチ式のものが使用されてきた
が、ウエハの大きさが8インチから12インチと大型化
するにつれ、処理精度を高めるために、一枚づつ処理す
る枚葉式と呼ばれる手法が近年実施されている。しかし
ながら、枚葉式にすると1回あたりの処理数が減少する
ため、ウエハの処理時間の短縮が必要とされている。こ
のため、ウエハ加熱装置に対して、ウエハの加熱時間の
短縮、ウエハの吸着・離脱の迅速化と同時に温度制度の
向上が要求されてきた。
形成にあたっては、図7に示すようなアルミニウム合金
やステンレス鋼等の金属からなる均熱板42の一方の主
面を、ウエハWを載せる載置面43とし、他方の主面に
は複数個のシーズヒータ44を当接させ、押さえ板45
にて保持してなるウエハ加熱装置41が用いられてい
た。ここで、前記均熱板42は支持枠47によって保持
され、給電部46から供給される電力によってシーズヒ
ータ44を発熱させることにより、均熱板42の温度を
調整するようになっていた。
は、均熱板42の熱変形を押さえる観点から、その板厚
を15mm以上と非常に厚くしているため熱容量が大き
く、ウエハWを所定の処理温度に加熱するまでの時間
や、処理温度から室温付近に冷却するまでの時間が長く
なり生産性が悪かった。
時間短縮を目的として、均熱板にセラミックス材料を用
いたものが提案されている。例えば、特開平11−40
330号に記載されているセラミックヒーターを均熱板
として使用するウエハ加熱装置では、窒化物又は炭化物
セラミックからなる板状体の表面に金属粒子を焼結させ
発熱抵抗体を形成し、導通用の端子ピンを導電性ペース
トにて発熱体表面に取り付けられている。また、温度制
御のための熱電対は前記セラミック体に埋め込まれ固定
されている。
ターをウエハ加熱装置として使用した場合、加熱冷却の
温度サイクルにて繰り返し使用すると、発熱抵抗体上に
設けられた端子ピンの固定が不安定となり、そこに電気
的な接点不良を発生させ断線してしまうといった問題が
あった。また、発熱抵抗体上により強固に端子ピンを固
定しようと導電ペーストの量を多くすれば、その部分の
みが周囲と熱容量の差が生じてしまい、均熱板としてセ
ラミックのヒーターを使用した場合に温度分布が崩れ均
熱性に欠けるといった問題もあった。
熱装置として、特開2001−189276号には、図
8に示すようなウエハ加熱装置1が提案されている。こ
のウエハ加熱装置1は、セラミックスからなる均熱板2
の一方の主面を、ウエハWを載せる載置面3とするとと
もに、他方の主面にガラス又は樹脂からなる絶縁層4を
介して発熱抵抗体5を形成したものである。このような
ウエハ加熱装置1はセラミックからなる均熱板2と金属
製の支持部34有した構造をしており、支持部34は側
壁部35と多層構造部10からなる。多層構造部10に
は、均熱板2の発熱抵抗体5に給電するための給電部6
と導通するための導通端子11、均熱板2を冷却するた
めのガス噴射口12、均熱板2の温度を測定するための
熱電対9等が設置されている。
7に示すようなアルミニウム合金やステンレス鋼等の金
属からなる均熱板42を用いたウエハ加熱装置41に比
べ、熱容量が小さいことや冷却のためのガス噴射口12
を好適に有することからウエハWの加熱時間の短縮が可
能となり、また、ウエハWの吸着・離脱の迅速化と同時
に温度制度の向上といった課題に対して優れた性能をも
ったものである。
ウエハ加熱装置には次のような未解決の問題があった。
多層構造部には、前記した弾性的に押圧された給電端子
や制御用熱電対、冷却ガスを供給するガス噴射口、リフ
トピンを貫通させるピンガイド等の様々な部材が取り付
けられている。ウエハサイズの大型化にともない、高精
度の均熱性能を要求されるウエハ加熱装置も、同様に大
型化されたために前記給電端子や制御用熱電対の必要本
数も大幅に増えてきた。このことから弾性的に押圧され
る力も大幅に増えてしまい、これらの部材を取り付けた
多層構造部が大きく変形してしまう事態が発生するよう
になってきた。
より、均熱板の内周部と外周部では弾性的に押圧される
給電端子や制御用熱電対を押圧する力にばらつきが生
じ、給電端子の部分では接触不良を発生させて接触抵抗
が増大してしまう場合や、接触不良の状態のまま繰り返
し通電すると、給電端子部分がスパークし導通が得られ
なくなるといった問題が発生することもあった。
熱電対の接触状態が不安定なため、均熱板を一定の温度
に保った定常状態においても温度ドリフトが発生してし
まい精密な温度制御ができないといった問題があった。
ックスの一方の主面をウエハの載置面とし、他方の主面
もしくは内部に発熱抵抗体を備えた均熱板と、該均熱板
の周囲を支持する金属製の支持体とからなるウエハ加熱
装置において、前記支持体内部に設置された複数の支持
板からなる多層構造部に、前記発熱抵抗体に電力を供給
するための導通端子および/または前記均熱板の温度制
御を行なうための温度検知素子を固定し、多層構造部を
成す複数の支持板間に、支持板の80%の直径を持った
同心円内の範囲に3個以上の変形防止部材を備えたこと
を特徴とする。
ウエハの載置面とし、他方の主面もしくは内部に発熱抵
抗体を備えた均熱板と、該均熱板の周囲を支持する金属
製の支持体とからなるウエハ加熱装置において、発熱抵
抗体に通電して250℃まで加熱し冷却する熱サイクル
を10サイクル掛けた際の初期の温度に対する温度ドリ
フトが、0.4℃以内であることを特徴とする。
り、その貫通孔内にウエハを昇降させるためのリフトピ
ンを挿通したことを特徴とする。
の支持板からなり、そのうち最も均熱板側に設置された
支持板の厚みが1〜4mmであり、開口率が5〜70%
となるような開口部を有し、これと対向して設置された
支持板の厚みが2〜7mmであり、開口率が5〜40%
となるような開口部を有することを特徴とする。
2〜7mmの炭化珪素または窒化アルミニウムを主成分
とすることを特徴とする。
説明する。
例を示す断面図で、炭化珪素または窒化アルミニウムを
主成分とするセラミックスからなる均熱板2の一方の主
面を、ウエハWを載せる載置面3とするとともに、他方
の主面にガラス又は樹脂等からなる絶縁層4を介して発
熱抵抗体5を形成したものである。
底孔内にはウエハWと載置面3の距離を一定に保つため
に支持ピン8が挿入されている。支持ピン8の数は少な
くとも3点以上にて支持できるように3個以上設置して
ある。また、支持ピン先端はウエハWに均熱板2からの
伝熱を受け部分的に加熱されないように、点接触となる
ように球形状や針形状に加工してある。
弧状の電極部と直線状の電極部とからなる略同心円状を
したものや渦巻き状をしたものなど、載置面3を均一に
加熱できるパターン形状であれば良い。均熱性を改善す
るため、発熱抵抗体5を複数のパターンに分割すること
も可能である。
白金等の材質からなる給電部6が形成され、該給電部6
に導通端子11を押しバネ21より押圧して接触させる
ことにより、導通が確保されている。
ト16を貫通させ、均熱板2と支持体7が直接当たらな
いように、断熱部17を介在させ、支持体7側より弾性
体18、座金19を介在させてナット20を螺着するこ
とにより弾性的に固定している。これにより、均熱板2
の温度が変動した場合に支持体7が変形しても、上記弾
性体19によってこれを吸収し、これにより均熱板2の
反りを抑制し、ウエハ表面に、均熱板2の反りに起因す
る温度ばらつきが発生することを防止できるようにな
る。
持板10a、10bからなる多層構造部10を有し、均
熱板2はその多層構造部10に対向する上部を覆うよう
に設置してある。また、多層構造部10には均熱板2を
冷却するためのガス噴射口12とその冷却ガスを排出す
るための開口部14が施されている。
は、発熱抵抗体5に給電するための導通端子11、均熱
板2の温度を測定し制御するための熱電対9を複数設置
しており、これらは弾性的に押圧するよう固定してあ
る。
定することによって生じる多層構造部10の変形を防止
する変形防止部材13、多層構造部間10の外周部に設
置され多層構造部10間を固定する支柱15が設置され
ている。
り、該多層構造部10の均熱板2に最も近い支持板10
aは、均熱板2から5〜15mmの距離に設置すること
が望ましい。これは、均熱板2と多層構造部10相互の
輻射熱により均熱化が容易となると同時に、他層との断
熱効果があるので、均熱となるまでの時間が短くなるた
めである。
有する支持板10aの80%の直径を持った同心円内の
範囲に、少なくとも1つ以上の略同心円状に3個以上備
え、多層構造部10間に締着固定されていること好まし
い。
の80%の直径を持った同心円内の範囲以内とする理由
は、例えば変形防止部材13が中心部に1個だけの場
合、中心部付近の多層構造部10だけ部分的に変形防止
効果を得られて、中心部と外周部間においては前述した
ような変形による問題が残ってしまうためである。ま
た、2個の場合、変形防止部材13を結ぶ線方向は多層
構造部10の変形防止効果があるが、この線方向に直角
な方向は十分な効果を得られず、変形防止部材13の無
い部分においては前述の問題が発生してしまうのであ
る。これより外側のみで多層構造部10間を固定する
と、弾性体にて押圧固定された導通端子11や熱電対9
のバネ力によって、多層構造部10が変形してしまい、
均熱板2の内周部と外周部では弾性的に押圧される導通
端子11や制御用の熱電対9を押圧する力にばらつきが
生じ、導通端子11が接触不良を発生し接触抵抗が増大
してしまう場合がある。さらに、このような接触不良の
状態のまま繰り返し通電すると、導通端子11の給電部
6との接触部分がスパークし導通が得られなってしまう
からである。
れる熱電対9の接触状態が不安定なため、均熱板2を一
定の温度に保った定常状態においても温度ドリフトが発
生してしまい精密な温度制御ができなくなってしまうか
らある。
の温度を保持した状態で、制御用の熱電対9の検知温度
を記録計などに記憶させたときに、均熱板2の温度が一
定にも関わらず熱電対の検知温度が変化してしまう現象
のことである。このような温度ドリフトが発生する原因
としては、熱電対9の接触状態や測定環境によるものが
考えられるが、ウエハ加熱装置1などの略密閉状態で加
熱され保持したものでは、熱電対9の接触状態の変化が
一番の原因であると考えられる。
変形をしたものは、均熱板2にも影響を及ぼしてしまう
ことも試験の結果あらたに判明した。このようなウエハ
加熱装置1においては、均熱板2自体が加熱冷却スピー
ドを速めるために、極力薄くなるように設計されてい
る。こうした場合、弾性的に押圧される均熱板2はその
バネ力により、ウエハWの載置面3となる方向に凸形状
に数百ミクロン変形が生じる。このような均熱板2自体
の変形を防止するために、あらかじめバネ力設定値を取
り付け位置によって変更するのだが、多層構造部10が
偏った変形を有している場合には、目的の効果が得られ
ずに均熱板2にも偏った変形を発生させてしまう。均熱
板2の変形は、ウエハWと載置面3の距離が部分的に変
わることになるため加熱時の温度ばらつきを生じさせ
る。
5に通電して250℃まで加熱し冷却する熱サイクルを
10サイクル掛けた際の初期の温度に対する温度ドリフ
トが、0.4℃以内となるようにすることが好ましい。
さらに好ましくは、0.2℃以内とすると良い。このよ
うな温度ドリフトが発生するものは、熱サイクルの数を
増やしていくと、温度ドリフトがさらに大きくなる傾向
を示す。このような温度ドリフトが発生すると、測定点
によって実際の温度を測定できなくなっているにも拘わ
らず、その指示された温度を基に温度を制御するので、
ウエハWの温度が不均一になってしまう。上記のような
多層構造部10が偏った変形を示すものは、熱処理を加
えれば0.4℃を越える温度ドリフトが発生するように
なる。これに対し、例えば本発明の請求項1に示したよ
うに、支持体7内部に設置された複数の支持板10a、
10bからなる多層構造部10に、前記発熱抵抗体5に
電力を供給するための導通端子11および/または前記
均熱板2の温度制御を行なうための温度検知素子9を固
定し、多層構造部10を成す複数の支持板7間に、支持
板7の80%の直径を持った同心円内の範囲に3個以上
の変形防止部材13を備えることにより、温度ドリフト
を0.4℃以下にすることができる。また、このような
観点から、この温度ドリフトの有無を、ウエハ加熱装置
1の性能評価方法として使用することもできる。
ては、少なくとも1つの略同心円上に略等間隔に設置す
ることが好ましい。
抗体5を均熱板2の表面に形成するタイプのウエハ加熱
装置1について説明してきたが、発熱抵抗体5は均熱板
2に内蔵されていても構わない。
化アルミニウムからなる均熱板2を用いる場合、まず、
発熱抵抗体5の材料としては窒化アルミニウムと同時焼
結できる材料という観点から、タングステン又はタング
ステンカーバイドを用いる。均熱板2は窒化アルミニウ
ムを主成分とし焼結助剤を適宜含有する原料を十分混合
したのち円盤状に形成し、その表面にタングステンもし
くはタングステンカーバイドからなるペーストを発熱抵
抗体5のパターン形状にスクリーン印刷等の手法で形成
し、その上に別の窒化アルミニウム成型体を重ねて密着
した後、窒素ガス中1900〜2100℃の温度で一体
焼結させることにより得られる。また、発熱抵抗体から
の導通は、窒化アルミニウム質基材にスルーホール22
を形成し、タングステン又はタングステンカーバイドか
らなるペーストを埋め込んだ後焼結させ、表面に電極を
引き出すようにすればよい。また、給電部6はウエハW
の加熱温度が高い場合には、金、銀等の貴金属を主成分
とするペーストを前記スルーホール22の上に塗布し9
00〜1000℃で焼き付けることにより、内部の抵抗
発熱体5の酸化を防止することができる。
ハWの取り替えや設定温度の変更の際に、ウエハWを昇
降させるためのリフトピン23を貫通させる貫通穴24
を均熱板2に備え、かつ変形防止部材13を筒状とし、
その中空部にリフトピン23を挿通させたウエハ加熱装
置1を示している。このようなリフトピン23を均熱板
2に挿通させて使用する場合には、多層構造部10と均
熱板2の間にリフトピン23のガイド25を設ける。こ
のガイド25は多層構造部10に固定されたガス噴射口
12から冷却時に噴射される冷却ガスが載置面3上に漏
れ出さないようにするために略密着させて設けなければ
ならない。
止部材13によって、多層構造部10の変形に伴う導通
端子11や制御用の熱電対9に係わる種々の問題を防止
できるとともに、均熱板2を冷却するためにガス噴射口
12から噴射された冷却ガスが、リフトピン23の昇降
用の貫通穴24からウエハWを処理する処理室27内に
漏れ出すことが無く、多層構造部10に設けられた開口
部14を通り処理室27外へ排出されるため、処理室内
で乾燥、焼き付けされるウエハW上の形成膜に影響を及
ぼすことが無くなる。
のガイドと兼用としたことで多層構造部10内のスペー
スを有効に活用できるとともに部品点数を削減できる。
このようなウエハ加熱装置1では高精度の温度制御を行
うために、均熱板2に近接する部品は極力少なく小型化
することが良い。その理由は、大型の部品を均熱板2に
近接すると、その部品自体に蓄熱され均熱板2の温度分
布に影響を与えたり、冷却時になかなか冷却されず降温
時間が遅くなったりするからである。このような理由か
ら変形防止部材13はガイドと兼用させることが好まし
い。さらに取り付け位置も、導通端子11や熱電対9、
ガス噴射口12の取り付け位置の妨げにならない配置で
等間隔に設置可能な設計をするとよい。
一体化した場合の詳細図を示す。多層構造部10間に変
形防止を目的として変形防止部材13をネジ26にて固
定する。この変形防止部材13はガイド25を一体化し
た筒状体であり、中空部分にリフトピン23を挿入する
ようになっている。変形防止部材13のガイド25を均
熱板2と対向する多層構造部10aに予め設けた貫通穴
に通しネジ26にて固定する。変形防止部材13のガイ
ド25の長さは均熱板2とガイド25が略密着状態とな
るように設定する。
一例を示したものであり、変形防止効果、ガイド機能を
果たすものであれば、一体化成型されたものに限られる
ものではなく、また、形状も円筒状、筒状、中空I型状
などさまざまな形状であっても構わない。
層に設置された支持板10aの厚みは1〜4mmとする
ことが好ましい。1mm未満とすると、変形防止部材1
3を設置しても、支持板10aに設置された導通端子1
1や制御用の熱電対9を押圧固定した際に発生するバネ
力で、バネを用いた前記の各部品周辺の多層構造部10
が部分的に変形してしまう。変形防止部材13を無限に
取り付けることが可能であれば、多層構造部10の変形
を防止できるのだが、実際には取り付けスペースの問題
やコスト、変形防止部材13自体の熱容量による蓄熱効
果の影響で均熱性能が低下することなどから、無限に多
数設置することは現実的ではない。
すると均熱板2からの輻射熱が蓄熱され、例えば一定時
間ガス噴射口12から冷却ガスを噴射しても、その後支
持板10aからの放熱によって再度均熱板2が温められ
てしまう。このような場合、支持板10aが均熱板2に
影響しない温度まで冷却されるように、冷却時間を長く
設定しなければならず、効率の良い温度設定変更の妨げ
となり十分な機能を得られない。そのため支持板10a
は問題の発生しない範囲において極力薄く設計すること
が好ましい。
0aと対向して設置された支持板10bの厚みは2〜7
mmとすることが好ましい。支持板10bは均熱板2側
に設置された支持板10aを、変形防止部材13を用い
て固定する際のベース面となる。そのため2mmより薄
くなってしまうと支持板10bが支持板10a側に引っ
張られる形で変形してしまうため好ましくない。
厚みとした場合、ベース面としての機能は十分に得られ
るのだが、ウエハ加熱装置1内の各部品の取り付けスペ
ースが無くなり好ましくない。十分な取り付けスペース
が得られるようにすると、ウエハ加熱装置1が大型化し
てしまうとともにウエハ加熱装置1の重量も重くなり、
半導体製造装置内に組み込む際に作業性が悪化するため
に問題となってしまう。このように支持板10bの厚み
は、支持板10aを、変形防止部材13を用いて固定す
る場合のベース面としての機能を十分に発揮させるため
に、支持板10aよりも厚く設定することが良い。
酸化性の金属やセラミックスとすることが良い。これは
ウエハ加熱装置1の加熱温度による変形を抑制できるこ
とや酸化による変色や変質もなくパーティクルの発生等
の問題が無いためである。
作製するためには、成型や焼成、穴加工やネジ加工等に
おいて金属加工のそれに比べ、非常に高コストとなるた
め、実質的には耐酸化性の金属材料にて製作することが
製品コストを安価にすることから好ましい。
は、具体的にはステンレス(Fe−Ni−Cr合金)、
ニッケル(Ni)等の耐酸化性金属や、一般鋼(F
e)、チタン(Ti)にニッケルメッキやニッケルメッ
キ上に金メッキを重ねて耐酸化処理を施した金属材料の
ことである。
ス噴射口12から噴射された冷却ガスを処理室外に排出
するために支持板10bには、その面積の5〜40%の
開口率となるように開口部14が形成されている。この
開口部14の面積が5%未満であると、支持体7の容積
の中でガス噴射口12から噴射されるガスと排出される
べきガスが混合されて、冷却効率が低下してしまう。ま
た、開口部14の面積が40%を越えると、導通端子1
1やガス噴射口12を保持するスペースが不足するとと
もに強度が不足して、導通端子11の電極パッド6への
押圧力が安定せず、接触状態が悪くなり断続使用時の耐
久性が悪くなる。
を設けることにより、冷却時はガス噴射口12から噴射
された冷却ガスが均熱板2の表面の熱を受け取り、支持
体11内部に滞留することなく開口部14から順次層外
に排出され、ガス噴射口12から噴射される新しい冷却
ガスで均熱板2表面を効率的に冷却できるので冷却時間
が短縮することができる。
窒化アルミニウム質焼結体により形成してあることか
ら、熱を加えても変形が小さく、板厚を薄くできるた
め、所定の処理温度に加熱するまでの昇温時間及び所定
の処理温度から室温付近に冷却するまでの冷却時間を短
くすることができ、生産性を高めることができるととも
に、50W/m・K以上の熱伝導率を有することから、
薄い板厚でも発熱抵抗体5のジュール熱を素早く伝達
し、載置面3の温度ばらつきを極めて小さくすることが
できる。
することが好ましい。均熱板2の厚みが2mmより薄い
と、均熱板2の強度が弱くなり発熱抵抗体5の発熱によ
る加熱時、ガス噴射口12からの冷却流体を吹き付けた
際に、冷却時の熱応力に耐えきれず、均熱板2にクラッ
クが発生する。また、均熱板2の厚みが7mmを越える
と、均熱板2の熱容量が大きくなるので加熱および冷却
時の温度が安定するまでの時間が長くなってしまい好ま
しくない。
は、支持体7に設置した導通端子11を均熱板2の表面
に形成した給電部6に導通端子11をバネで押圧するこ
とにより接続を確保し給電する。これは、2〜7mmの
厚みの均熱板2に金属からなる端子部を埋設して形成す
ると、該端子部の熱容量により均熱性が悪くなるからで
ある。そのため、本発明のように、導電端子11をバネ
で押圧して電気的接続を確保することにより、均熱板2
とその支持体7の間の温度差による熱応力を緩和し、高
い信頼性で電気的導通を維持できる。さらに、接点が点
接触となるのを防止するため、弾性のある導体を中間層
として挿入しても構わない。この中間層は単に箔状のシ
ートを挿入するだけでも効果がある。そして、導通端子
11の給電部6側の径は、1.5〜4mmとすることが
好ましい。
先端が埋め込まれた制御用の熱電対9により測定する。
熱電対9としては、その応答性と保持の作業性の観点か
ら、外径1.0mm以下のシース型の熱電対9を使用す
ることが好ましい。図5に示すように、この熱電対9の
先端部は、均熱板2に形成された孔の底面に略平行に設
置され、円筒状の金属体29を介して、固定軸31に取
り付けられたスリーブ32、バネ材28、ワッシャー3
3を多層構造部10に固定板30にてネジ止めしてあ
る。このようにバネ材28により押圧固定することが測
温の信頼性を向上させるために好ましい。なお、ここに
示した熱電対9の取り付け構造は一例でありこの限りで
はない。
置1として使用する場合は、均熱板2の主成分を炭化珪
素にすると、大気中の水分等と反応してガスを発生させ
ることもないため、ウエハW上へのレジスト膜の貼付に
用いたとしても、レジスト膜の組織に悪影響を与えるこ
とがなく、微細な配線を高密度に形成することが可能で
ある。この際、焼結助剤に水と反応してアンモニアやア
ミンを形成する可能性のある窒化物を含まないようにす
ることが必要である。
体は、主成分の炭化珪素に対し、焼結助剤として硼素
(B)と炭素(C)を添加したり、もしくはアルミナ
(Al2O3)イットリア(Y2O3)のような金属酸化物
を添加して十分混合し、平板状に加工したのち、190
0〜2100℃で焼成することにより得られる。炭化珪
素はα型を主体とするものあるいはβ型を主体とするも
ののいずれであっても構わない。
ム質焼結体は、主成分の窒化アルミニウムに対し、焼結
助剤としてY2O3やYb2O3等の希土類元素酸化物と必
要に応じてCaO等のアルカリ土類金属酸化物を添加し
て十分混合し、平板状に加工した後、窒素ガス中190
0〜2100℃で焼成することにより得られる。
面は、ガラスや樹脂からなる絶縁層4との密着性を高め
る観点から、平面度20μm以下、面粗さを中心線平均
粗さ(Ra)で0.1μm〜0.5μmに研磨しておく
ことが好ましい。
使用する場合、半導電性を有する均熱板2と発熱抵抗体
5との間の絶縁を保つ絶縁層4としては、ガラス又は樹
脂を用いることが可能であり、ガラスを用いる場合、そ
の厚みが100μm未満では耐電圧が1.5kVを下回
り絶縁性が保てず、逆に厚みが400μmを越えると、
均熱板2を形成する炭化珪素質焼結体や窒化アルミニウ
ム質焼結体との熱膨張差が大きくなり過ぎるために、ク
ラックが発生して絶縁層4として機能しなくなる。その
為、絶縁層4としてガラスを用いる場合、絶縁層4の厚
みは100〜400μmの範囲で形成することが好まし
く、望ましくは200μm〜350μmの範囲とするこ
とが良い。
成分とするセラミック焼結体で形成する場合は、均熱板
2に対する発熱抵抗体5の密着性を向上させるために、
ガラスからなる絶縁層4を形成する。ただし、発熱抵抗
体5の中に十分なガラスを添加し、これにより十分な密
着強度が得られる場合は、省略することが可能である。
ては、結晶質又は非晶質のいずれでも良く、耐熱温度が
200℃以上でかつ0℃〜200℃の温度域における熱
膨張係数が均熱板2を構成するセラミックスの熱膨張係
数に対し−5〜+5×10-7/℃の範囲にあるものを適
宜選択して用いることが好ましい。即ち、熱膨張係数が
前記範囲を外れたガラスを用いると、均熱板2を形成す
るセラミックスとの熱膨張差が大きくなりすぎるため、
ガラスの焼付け後の冷却時においてクラックや剥離等の
欠陥が生じ易いからである。
上に被着する手段としては、前記ガラスペーストを均熱
板2の中心部に適量落とし、スピンコーティング法にて
伸ばして均一に塗布するか、あるいはスクリーン印刷
法、ディッピング法、スプレーコーティング法等にて均
一に塗布したあと、ガラスペーストを600℃以上の温
度で焼き付けすれば良い。また、絶縁層4としてガラス
を用いる場合、予め炭化珪素質焼結体又は窒化アルミニ
ウム質焼結体からなる均熱板2を850〜1300℃程
度の温度に加熱し、絶縁層4を被着する表面を酸化処理
しておくことで、ガラスからなる絶縁層4との密着性を
高めることができる。
5材料としては、金(Au)、銀(Ag)、銅(C
u)、パラジウム(Pd)等の金属単体を、蒸着法やメ
ッキ法にて直接被着するか、あるいは前記金属単体や酸
化レニウム(Re2O3)、ランタンマンガネート(La
MnO3)等の導電性の金属酸化物や上記金属材料を樹
脂ペーストやガラスペーストに分散させたペーストを用
意し、所定のパターン形状にスクリーン印刷法等にて印
刷したあと焼付けして、前記導電材を樹脂やガラスから
成るマトリックスで結合すれば良い。マトリックスとし
てガラスを用いる場合、結晶化ガラス、非晶質ガラスの
いずれでも良いが、熱サイクルによる抵抗値の変化を抑
えるために結晶化ガラスを用いることが好ましい。
は銅(Cu)を用いる場合、マイグレーションが発生す
る恐れがあるため、このような場合には、発熱抵抗体5
を覆うように絶縁層4と同一の材質からなるコート層を
40〜400μm程度の厚みで被覆しておけば良い。
工を施し、板厚3.5mm、外径320mmの円盤状を
した均熱板2を複数製作し、各均熱板2の一方の主面に
絶縁層4を被着するため、ガラス粉末にエチルセルロー
スと有機溶剤のテルピネオールからなるバインダーを混
練して作製したガラスペーストをスクリーン印刷法にて
印刷した後、150℃に加熱して有機溶剤を乾燥させた
あと、550℃で30分間脱脂処理を施し、さらに70
0〜900℃の温度で焼き付けを行うことにより、ガラ
スからなる厚み200μmの絶縁層4とした。
るため、導電材としてAu粉末とPd粉末と、前記同様
の組成からなるバインダーを添加したガラスペーストを
混練して作製した導電体ペーストをスクリーン印刷法に
て所定のパターン形状に印刷したあと、150℃に加熱
して有機溶剤を乾燥させ、さらに550℃で30分間脱
脂処理を施したあと、700〜900℃の温度で焼き付
けを行うことにより、厚みが50μmの発熱抵抗体5を
形成した。発熱抵抗体5は図6に示すような中心部5a
と外周部を周方向に4分割した5パターン構成(5b〜
5e)とした。しかるのち発熱抵抗体5に給電部6を設
け、導通端子11を押圧固定させることにより、均熱板
2を製作した。
304からなる支持板10aと厚み3mmの支持板10
bからなる多層構造部10を形成し、多層構造部10
a、10b間に、種々の評価水準に基づいた数及び位置
に配置した変形防止部材13、分割された発熱抵抗体5
の各パターンを制御するための5本の熱電対9、給電部
6に導通させるための10本の導通端子11を所定の位
置に形成し、評価用のウエハ加熱装置を準備した。また
2枚の多層構造部10のうち、最上層の多層構造部10
aから均熱板2までの距離は8mm、下層の多層構造部
10bから上層の多層構造部10aまでの距離は12m
mとした。
重ね、その外周部にボルト16を貫通させ、均熱板2と
支持体7が直接当たらないように、断熱部17を介在さ
せ、支持体7側より弾性体18、座金19を介在させて
ナット20を螺着することにより弾性的に固定すること
によりウエハ加熱装置1とした。
板2直径に対して、50%〜90%の同心円内の範囲に
略等間隔に設置したもの、及び、比較用として変形防止
部材13を備えないものを準備した。
給電部6に通電して5分間で250℃まで昇温した後、
冷却ガスを均熱板2に噴射し5分間で50℃まで冷却す
るといった温度履歴を1サイクルとするサイクル試験を
2000サイクル行った。
5つの発熱抵抗体5a〜5eのうち、最も抵抗変化した
パターンの3000サイクル後に抵抗変化量が1%以下
であり、外観検査にて給電部6にスパーク等の不具合が
発生しなかったものをOKとした。抵抗変化とスパーク
等の外観不良の両方が無かったものは○、どちらか片方
でも不具合が発生したものは×とした。それぞれの評価
条件・結果は表1に示す通りである。
材13を有しないNo.1のウエハ加熱装置は、250
℃から50℃のサイクル評価後の抵抗変化量が3.22
%と大きく変化した。このとき最も抵抗変化量が大きか
ったものは5aのパターンであった。
認においては、5分割したパターンのうち中心部5aの
給電部6a、6bと、分割された外周部の発熱抵抗体の
うち給電部6が均熱板2の中心に近い部分に設けられた
6c、6dにおいて発生していた。さらに、その中で最
も損傷の激しかった給電部は6aの給電部であった。こ
のように変形防止部材13を設けていない場合、最も変
形の影響を受けやすい中心部付近であるといえる。
け設置したNo.2にておいても、3000サイクル後
の抵抗変化量は2.18%と大きく変化し、外観確認に
おいて給電部6bが黒く変色しスパークした形跡が認め
られた。変形防止部材13を中心部のみに設けても、多
層構造部10全体の変形を防止できないことが判った。
直径に対して50%の位置に、直線上に並べて設置した
No.3のウエハ加熱装置においても、発熱抵抗体5a
において3000サイクル後の抵抗変化量は2.37%
と大きく変化してしまった。さらに、外観確認にてスパ
ーク跡を調査したところ発熱抵抗体5aに設けられた給
電部6bと外周部の発熱抵抗体5c、5eに備えられた
6f、6h給電部6bにスパークの形跡があった。
防止部材13を結ぶ線方向は多層構造部10の変形防止
効果があるが、この線方向に直角な方向は十分な効果を
得られず、変形防止部材13の無い部分においては前述
の問題が発生してしまうためである。
直径に対して90%の位置に設置したものについても、
5aのパターンにおいて3000サイクル後の抵抗変化
量は1.26%と大きく変化してしまった。外観確認に
てスパーク跡を調査したところ給電部6aにスパークの
形跡があった。これは、変形防止部材13が外周に近い
位置にあるため、その性能を十分に発揮できずに結果的
には、変形防止部材13を設置しない状態のように、中
心部に近い給電部6aにて問題を発生させたのであっ
た。
直径の80%以内の範囲で3個以上設けたNo.4〜
7、No.9〜12は、サイクル評価後の抵抗変化はい
ずれも0.6%以内で判定基準の1%を大きく下回る結
果となった。サイクル評価後の給電部の外観確認におい
ても問題となる変色や、スパーク等はなく良好な結果が
得られた。
装置1を製作した。実施例2として、実施例1と同様に
多層構造部10間に変形防止部材13を中心部、均熱板
2直径に対して、50%〜90%の同心円内の範囲に略
等間隔に設置したもの、及び、比較用として変形防止部
材13を備えないものを準備した。また、図6に示すよ
うな5分割されたそれぞれの発熱抵抗体5a〜5eに制
御用の熱電対9a〜9eとしてφ0.5mmのKタイプ
シース型熱電対を設置した。
給電部6に通電して250℃保持時のウエハW表面の温
度ばらつきが±0.5℃となるように調整し、250℃
にて30分間保持した後、ガス噴射口12からの冷却ガ
スによって冷却するサイクルを10サイクルおこない、
10サイクル目の250℃保持時の温度ドリフトを各制
御用の熱電対9にて確認した。また、そのときのガス噴
射口12への冷却ガス流量は60L/Minにて行っ
た。
持時における制御用の熱電対9の温度ドリフト幅が0.
4℃(±0.2℃)以内のものをOKとし、0.4℃を
越えるものはNGとした。結果としてすべての制御用の
熱電対9a〜9eにおいて温度ドリフト幅が0.4℃以
内であったものを○、1箇所でも0.4℃を越える温度
ドリフトが発生したものは×とした。
りである。
有しないNo.1のウエハ加熱装置1は、250℃の保
持時に中心部の熱電対9aが0.66℃と大きな温度ド
リフトを示した。同時に分割された外周部の発熱抵抗体
5に設置された熱電対の1箇所で熱電対9cに0.4℃
を越える温度ドリフトが確認された。また、変形防止部
材13を中心部のみに備えたNo.2のものでも250
℃の温度保持時に分割された外周部の発熱抵抗体5に設
置された熱電対の1箇所で熱電対9bに0.4℃を越え
る温度ドリフトが確認された。
と同様に、多層構造部10の変形が中心部分に近づくほ
ど大きくなることや、中心部分に1個だけ設けた場合に
は全体の変形を防止できないことから発生しているとい
える。
に対して50%の位置に、直線上に並べて設置したN
o.3のウエハ加熱装置においても、分割された外周部
の発熱抵抗体5に設置された熱電対の2箇所で熱電対9
bの温度ドリフトが確認された。これも実施例1の場合
と同様で変形防止部材が2個の場合、変形防止部材13
を結ぶ線方向は多層構造部10の変形防止効果がある
が、この線方向に直角な方向は十分な効果を得られず、
変形防止部材13の無い部分においては前述の問題が発
生してしまうためだといえる。
圧される熱電対9の接触状態が不安定な状態では、均熱
板2を一定の温度に保った定常状態においても温度ドリ
フトが発生してしまい精密な温度制御ができなくなって
しまい製造上の問題を発生させてしまう。
直径の80%以内の範囲で3個以上設けたNo.4〜1
2は、250℃の温度保持時に発熱抵抗体5の中心部お
よび分割された外周部に設置された熱電対9a〜9eの
全ての箇所で熱電対9bの温度ドリフトが発生せず、良
好な結果が得られた。
ウエハ加熱装置において、多層構造部10間に、前記均
熱板2の80%の直径をもった範囲内に少なくとも1つ
以上の略同心円状に3個以上の柱状の変形防止部材13
を備え、多層構造部10間に締着固定したウエハ加熱装
置1は、変形防止部材13を設置しないものと比較し
て、多層構造部10が大きく変形してしまい、給電端子
6の部分では接触不良を発生させて接触抵抗が増大して
しまう場合や、給電端子6の部分がスパークし導通が得
られなくなるといった問題や、熱電対9の接触状態が不
安定なため温度リフトが発生してしまい精密な温度制御
ができないといった問題を解決できるという良好な結果
を得られた。
造部に変形防止部材を有するウエハ加熱装置では高精度
の均熱性能を要求される大型化されたものでも、多層構
造部が大きく変形してしまうといった問題が防止でき
る。
響により、均熱板の内周部と外周部では弾性的に押圧さ
れる給電端子や制御用熱電対を押圧する力にばらつきが
生じ、給電端子の部分では接触不良を発生させて接触抵
抗が増大してしまう場合や、接触不良の状態のまま繰り
返し通電すると、給電端子の部分がスパークし導通が得
られなくなるといった問題も防止でき安定した電力供給
が可能となった。
る熱電対の接触状態が不安定なため、均熱板を一定の温
度に保った定常状態においても温度ドリフトが発生して
しまい精密な温度制御ができないといった問題が防止で
き、精密な温度制御が可能となった。
て、例えば、ウエハWの表面に均一なレジスト膜を形成
したり、均一な半導体薄膜を形成したり、また、均一な
エッチング処理を施すことが出来るといったような効果
が得られた。
ある。
近傍の拡大断面図である。
の拡大断面図である。
一例を示す平面図である。
4:絶縁層 5:発熱抵抗体 6:給電部 7:支持体 8:
支持ピン 9:熱電対 10:多層構造部 11導通端子 12:ガス噴射
口 13:変形防止部材 14:開口部 15:支柱 16:ボルト 1
7:断熱部 18:弾性体 19:座金 20:ナット 21:押しバネ 2
2:スルーホール 23:リフトピン 24:貫通孔 25:ガイド
26:ネジ 27:処理室 28:バネ材 29:金属体 3
0:固定板 31:固定軸 32:スリーブ 33:ワッシャー 34:支持部
35:側壁部 41:ウエハ加熱装置 42:均熱板 43:載置
面 44:シーズヒータ 45:押さえ板 46:給電部 47:支持枠
Claims (5)
- 【請求項1】円板状セラミックスの一方の主面をウエハ
の載置面とし、他方の主面もしくは内部に発熱抵抗体を
備えた均熱板と、該均熱板の周囲を支持する金属製の支
持体とからなるウエハ加熱装置において、前記支持体内
部に設置された複数の支持板からなる多層構造部に、前
記発熱抵抗体に電力を供給するための導通端子および/
または前記均熱板の温度制御を行なうための温度検知素
子を固定し、多層構造部を成す複数の支持板間に、支持
板の80%の直径を持った同心円内の範囲に3個以上の
変形防止部材を備えたことを特徴とするウエハ加熱装
置。 - 【請求項2】円板状セラミックスの一方の主面をウエハ
の載置面とし、他方の主面もしくは内部に発熱抵抗体を
備えた均熱板と、該均熱板の周囲を支持する金属製の支
持体とからなるウエハ加熱装置において、発熱抵抗体に
通電して250℃まで加熱し冷却する熱サイクルを10
サイクル掛けた際の初期の温度に対する温度ドリフト
が、0.4℃以内であることを特徴とするウエハ加熱装
置。 - 【請求項3】前記変形防止部材が筒状体からなり、その
貫通孔内にウエハを昇降させるためのリフトピンを挿通
したことを特徴とする請求項1記載のウエハ加熱装置。 - 【請求項4】前記多層構造部が少なくとも2層の支持板
からなり、そのうち最も均熱板側に設置された支持板の
厚みが1〜4mmであり、開口率が5〜70%となるよ
うな開口部を有し、これと対向して設置された支持板の
厚みが2〜7mmであり、開口率が5〜40%となるよ
うな開口部を有することを特徴とする請求項1に記載の
ウエハ加熱装置。 - 【請求項5】前記円板状セラミックスが、厚み2〜7m
mで、炭化珪素または窒化アルミニウムを主成分とする
ことを特徴とする請求項1記載のウエハ加熱装置。
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005129872A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Kyocera Corp | セラミックスヒータ |
JP2005159017A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Kyocera Corp | セラミックスヒータ |
JP2006210846A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及び処理方法 |
JP2007043170A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Applied Materials Inc | 基板支持体の加熱及び冷却 |
JP2008166658A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
WO2008096717A1 (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Tokyo Electron Limited | 載置台構造、これを用いた処理装置及びこの装置の使用方法 |
US7417206B2 (en) | 2004-10-28 | 2008-08-26 | Kyocera Corporation | Heater, wafer heating apparatus and method for manufacturing heater |
WO2009113451A1 (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 載置台構造及び処理装置 |
JP2010219363A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Tokyo Electron Ltd | 基板熱処理装置 |
JP2011135085A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-07-07 | Ensiltech Corp | 多結晶シリコン薄膜の製造装置及び製造方法 |
US9153465B2 (en) | 2010-06-30 | 2015-10-06 | Tokyo Electron Limited | Substrate stage, substrate processing apparatus and substrate processing system |
-
2001
- 2001-08-31 JP JP2001262742A patent/JP3921060B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005129872A (ja) * | 2003-10-27 | 2005-05-19 | Kyocera Corp | セラミックスヒータ |
JP2005159017A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Kyocera Corp | セラミックスヒータ |
US7417206B2 (en) | 2004-10-28 | 2008-08-26 | Kyocera Corporation | Heater, wafer heating apparatus and method for manufacturing heater |
JP4705378B2 (ja) * | 2005-01-31 | 2011-06-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
JP2006210846A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及び処理方法 |
JP2007043170A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Applied Materials Inc | 基板支持体の加熱及び冷却 |
JP2008166658A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
WO2008096717A1 (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Tokyo Electron Limited | 載置台構造、これを用いた処理装置及びこの装置の使用方法 |
CN101606227B (zh) * | 2007-02-09 | 2012-06-06 | 东京毅力科创株式会社 | 载置台构造、以及用其的处理装置和该装置的使用方法 |
US9177846B2 (en) | 2007-02-09 | 2015-11-03 | Tokyo Electron Limited | Placing bed structure, treating apparatus using the structure, and method for using the apparatus |
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WO2009113451A1 (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 載置台構造及び処理装置 |
JP2010219363A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Tokyo Electron Ltd | 基板熱処理装置 |
JP2011135085A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-07-07 | Ensiltech Corp | 多結晶シリコン薄膜の製造装置及び製造方法 |
US9153465B2 (en) | 2010-06-30 | 2015-10-06 | Tokyo Electron Limited | Substrate stage, substrate processing apparatus and substrate processing system |
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