JP2003067959A - 光ヘッド用レーザ装置 - Google Patents

光ヘッド用レーザ装置

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JP2003067959A
JP2003067959A JP2001254773A JP2001254773A JP2003067959A JP 2003067959 A JP2003067959 A JP 2003067959A JP 2001254773 A JP2001254773 A JP 2001254773A JP 2001254773 A JP2001254773 A JP 2001254773A JP 2003067959 A JP2003067959 A JP 2003067959A
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JP
Japan
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substrate
photodetector
semiconductor laser
laser device
optical head
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JP2001254773A
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English (en)
Inventor
Hisashi Kitano
央司 喜多埜
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低価格化が可能であり、かつ小形化に有利であ
り、さらに性能面でも向上し得るような構成とする。 【解決手段】金属製基板200には、半導体レーザユニ
ット201、光検出器201が搭載され、樹脂製基板1
00には、半導体レーザユニット201、光検出器20
1が貫通する開口部101が形成されている。金属製基
板200は、樹脂製基板100に対して重なるように取
り付けられ一体化される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えばデジタル
バーサタイルディスク(DVD)、コンパクトディスク
(CD)などのような記録媒体に対して情報を書き込ん
だり、あるいは読取ったりする光ヘッドに用いられる光
ヘッド用レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、DVD関連の商品化が実用化さ
れ、光ディスク装置の需要が増加している。パーソナル
コンピュータ用のDVD−ROMは、記録容量の大きな
大容量媒体として注目されている。このような中で、デ
ィスクドライブ装置の小形化、薄型化も要求されている
ことから、光ピックアップ装置の小形化、薄型化は必須
である。
【0003】光ピックアップ装置の小形化を得るために
は、半導体レーザユニット、光検出器、集積回路などを
1つのパッケージとして納めた集積光学装置(レーザ装
置)の小形化、高性能化も重要なポイントとなる。
【0004】図4(A)には、従来の集積光学装置を示
している。11はセラミック製の基板であり、この基板
11には、表裏に渡ってヒートシンク12が溶接して取
り付けられている。基板11の上面には、配線パターン
が形成されており、パターン上の所定位置には、チップ
部品13、集積回路14が配置されている。また、ヒー
トシンク12には、半導体レーザユニット15、光検出
器16が取り付けられている。15a,15bはボンデ
ィングワイヤである。
【0005】ヒートシンク12の基板11に対する裏面
側に出ている部分は、光学ベース(シャーシ)に接着さ
れ、半導体レーザユニット15で生じる熱を放熱するよ
うになっている。即ち、図4(B)に示すように、シャ
ーシ20にレーザ装置21のヒートシンク12が接着さ
れている。
【0006】上記基板11の上面側は、キャップ17に
より覆われている。そして、往路、及び復路のレーザビ
ームLBが通過する部分は、ホログラム18が設けら
れ、光ディスクから反射してきた復路のビームを偏光
し、光検出器16に導くようになっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の構造
のセラミック基板11、ヒートシンク12を用いたレー
ザ装置は、その製造プロセスが複雑で、高価である。ま
た一層の小形化に不向きである。
【0008】そこで、この発明は、低価格化が可能であ
り、かつ小形化に有利であり、さらに性能面でも向上し
得る光ヘッド用レーザ装置を提供することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成するために、少なくとも1組の光検出素子及び半
導体レーザユニットが搭載された金属製基板と、前記少
なくとも1組の光検出器及び半導体レーザユニットが貫
通する開口部を有し、前記金属製基板が重なるように取
り付けられる樹脂製基板とを有する構造とするものであ
る。
【0010】
【発明の実施形態】以下、この発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
【0011】図1(A)はこの発明の一実施の形態を示
すもので、100は樹脂製の基板である。基板100
は、その略中央部に開口101を形成されている。基板
100の上面には、印刷配線パターン102が形成され
ている。111は、印刷配線パターンの一部として形成
された取り付け部に配置された、高周波重畳用の集積回
路111である。ここでは、光検出器で検出した、光電
変換出力である読み取り信号など処理が行われる。
【0012】基板100の長手方向の両側のエッジに
は、スルーホールに代わる複数の接続部1a,1b.1
c,…が形成されている。この接続部は、基板エッジが
例えば半円形状の切り欠くように形成され、この部分に
アルミ、或は銅などの金属が蒸着されるは接着されてい
る。そして必要な接続部分には、基板上に形成された印
刷配線パターンのリード部が導かれている。
【0013】さらに基板100の裏面側には、後述する
金属製基板200が嵌合する凹部が形成されているが、
この部分については後述することにする。
【0014】図1(B)は、金属製基板200である。
金属製基板200の上面には、半導体レーザユニット2
01、光検出器202が取り付けられている。金属製基
板200の中間胴部2aの幅L1は、基板100の幅L
2よりも短く、また基板200の長さL3は、基板10
0の長さL4よりも長く設計されている。
【0015】さらに、金属製基板200に取り付けられ
た半導体レーザユニット201、光検出器202の位置
は、開口101に対応しており、金属性基板200と基
板100とを合体した場合、半導体レーザユニット20
1、光検出器202が開口101を貫通する。
【0016】図2(A)乃至(C)は、金属製基板20
0と樹脂製基板100を重ね合わせた状態を示してい
る。また図2(A)は、図2(B)の線X上で断面した
様子を示している。また図2(C)は、図2(B)の線
Y軸上で断面した様子を示している。図(C)から理解
できるように、基板100の裏面には、金属製基板20
0の中間胴部2aが嵌合できるように、金属製基板20
0の厚み分窪むように溝部が形成されている。このた
め、金属製基板200を樹脂製基板100に合体させた
ときは、裏面は平坦な面一となる。
【0017】また半導体レーザユニット201には、図
示していないが、光検出器201からの入出力信号のた
めの金製ワイヤ、電源供給のための金製ワイヤなどが基
板のパターンとの間で、ボンディング接続される。
【0018】半導体レーザユニット201、光検出器2
02は、金属製基板200上に配置されるので、高さ方
向の一精度が優れている。また金属製基板200上に発
熱源である半導体レーザユニット201、光検出器20
2を取り付けるので、発生した熱は、金属製基板200
の直接伝導し、後述するピックアップ装置のシャーシを
介して効率的に放熱されることになる。
【0019】ここで、さらに半導体レーザユニット20
1のレーザ光の位置は、L3/2であり、長さL3の中
心位置に設定されている。また金属製基板200の長手
方向両端221,222は、前記レーザ光の位置を中心
とした円形上にあるように、丸みを帯びて形成されてい
る。
【0020】この結果、図3(A),図3(B)に示す
ような機能を得ることも可能である。
【0021】即ち、前記金属製基板200の両端が合致
する形状の窪み301がシャーシ300の側壁302に
形成されている。尚303は開口である。この窪み30
1に対して、金属製基板200がシャーシ300の側壁
302の外部から埋設するように取り付けられる。ここ
で、レーザ装置は、ビーム出射方向に配置される光学系
との関係で、光検出器202の位置を上下に微調整する
場合がある。この場合、上述したように、窪み部301
と金属製基板200の端部との当接部は、ビームを中心
とした円弧上で合致するように構成されている。このた
めに上記の微調整を行なったとしても、レーザビームの
位置は中心位置であり、その位置が変わる事が無く、調
整作業が極めて容易である。この調整は、例えば、トラ
ッキングエラーを検出するために、反射された光を偏光
した3ビームと受光素子との関係を回転方向に調整する
場合に有効である。
【0022】またこの発明の装置であると、レーザ装置
の前方をシャーシの外部から押し当てるように取り付け
る(前当て方式と称する)方法であるために、レーザ装
置の後方の空間に余裕ができ、この位置に他の部品など
を取り付けることも可能である。この結果、ピックアッ
プ装置全体の小形化に寄与することができる。さらに加
えて、レーザ装置の背面は、基板100と、金属製基板
200と同一平面であることから、外部の接続端子との
接続を容易に行なうことができる。
【0023】さらにまた、この発明は、樹脂製基板10
0を用いている。樹脂製基板100は、静電容量が容量
(C)がセラミック基板に比べて小さいという特性があ
る。これはセラミックに比べて樹脂の誘電率が小さいと
いう特性のためである。樹脂製基板100の容量が小さ
いということは、それだけ高い周波数信号に対して積分
効果が低いということであり、高周波信号を処理する集
積回路などを搭載可能であることであることを意味す
る。これは光ディスク装置において、ディスクに記録さ
れる情報が高密度化された場合に本発明の構造が有利で
あることを意味する。また光ディスクからの信号読み取
りや書き込み速度を数倍速に上げる場合にも本発明の構
造が有利である。また樹脂製基板100は、セラミック
基板に比べて安価であり、装置全体の低価格化に有利で
ある。
【0024】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
低価格化が可能であり、かつ小形化に有利であり、さら
に性能面でも向上し得る光ヘッド用レーザ装置を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態における各部品を示す
構成説明図。
【図2】この発明の装置の組み立て状態を示す構成説明
図。
【図3】この発明装置の使用状態を説明するために基本
構成を示す説明図。
【図4】従来の光ヘッド用レーザ装置の構成説明図。
【符号の説明】
100…樹脂製基板、200…金属製基板、101…開
口、102…印刷配線パターン、201…半導体レーザ
ユニット、202…光検出器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D119 AA01 AA02 AA10 AA24 AA38 AA41 BA01 BB01 BB04 FA05 FA31 FA33 FA35 LB07 NA04 5D789 AA01 AA02 AA10 AA24 AA38 AA41 BA01 BB01 BB04 FA05 FA31 FA33 FA35 LB07 NA04 5F073 AB15 BA05 FA15 FA23 FA27 5F089 AA02 AB01 AC23 CA20

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1組の光検出素子及び半導体
    レーザユニットが搭載された金属製基板と、 前記少なくとも1組の光検出器及び半導体レーザユニッ
    トが貫通する開口部を有し、前記金属製基板が重なるよ
    うに取り付けられる樹脂製基板とを有したことを特徴と
    する光ヘッド用レーザ装置
  2. 【請求項2】 前記樹脂基板と前記金属製基板との密着
    状態が前記金属製基板が前記樹脂基板の厚み方向へ嵌め
    合わさるように、前記樹脂基板に嵌合部を形成されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の光ヘッド用レーザ装
    置。
  3. 【請求項3】 前記少なくとも1組の光検出器及び半導
    体レーザユニットは、前記金属性基板の長手方向中央部
    に設けられており、この中央部が前記前記樹脂基板の嵌
    合部に嵌合し、前記金属性基板の長手方向端部は、前記
    円弧状であることを特徴とする請求項2記載の光ヘッド
    用レーザ装置。
  4. 【請求項4】 前記円弧状は、前記半導体レーザユニッ
    トの光ビーム出力部を中心とした円形上に存在すること
    を特徴とする請求項3記載の光ヘッド用レーザ装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7280573B2 (en) 2005-07-05 2007-10-09 Matsushita Electirc Industrial Co., Ltd. Semiconductor laser unit and optical pickup device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7280573B2 (en) 2005-07-05 2007-10-09 Matsushita Electirc Industrial Co., Ltd. Semiconductor laser unit and optical pickup device

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