JP2003065725A - 厚さ測定装置 - Google Patents

厚さ測定装置

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JP2003065725A
JP2003065725A JP2001255094A JP2001255094A JP2003065725A JP 2003065725 A JP2003065725 A JP 2003065725A JP 2001255094 A JP2001255094 A JP 2001255094A JP 2001255094 A JP2001255094 A JP 2001255094A JP 2003065725 A JP2003065725 A JP 2003065725A
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line
shadow
measuring device
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JP2001255094A
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Motoyuki Uehara
基志 上原
Hiroshi Fukumoto
博 福本
Hideki Sawada
秀喜 澤田
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シート状の測定対象物の厚さを自動的に測定
することができる厚さ測定装置を提供する。 【解決手段】 シート状の測定対象物を載置するための
測定台と、上記測定対象物の上面に対して所定の入射角
で照明光を照射する照明手段と、列状に配された複数の
受光素子を有するライン型イメージセンサと、上記ライ
ン型イメージセンサにより得られた画像データを処理す
るための画像データ処理手段と、を備えており、上記ラ
イン型イメージセンサは、上記照明手段によって上記測
定台上に投影された測定対象物の影を正面から撮影し、
上記画像データ処理手段は、上記測定対象物の影の長さ
から上記測定対象物の厚さを導き出すように構成されて
いることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、シート状の測定
対象物の厚さを測定するための厚さ測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント機能を有する装置の具体例とし
てプリンタやファクシミリなどの機器がある。このよう
な機器には、厚さが異なる様々な種類の用紙を用いても
鮮明に印刷することができるように以下のような調節手
段が備えられているものがある。
【0003】すなわち、たとえば、感熱式あるいは熱転
写式のプリント機能を有する機器では、感熱紙あるいは
インクリボンに付与する熱容量を用紙の厚みに応じて設
定する熱容量調節手段が設けられており、また、インク
ジェット式のプリント機能を有する機器では、インクノ
ズルから吐出させるインクの量を用紙の厚みに応じて設
定する吐出量調節手段が設けられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の調節手段を機能させるためには、印刷を行う前に、た
とえば、上記機器を駆動させるためのドライバソフトを
用いたり、あるいは機器本体を直接操作するなどして、
用紙の厚さを予め入力しておかなければならず、手間が
かかる。
【0005】本願発明は、上記した事情のもとで考え出
されたものであって、シート状の測定対象物の厚さを自
動的に測定することができる厚さ測定装置を提供するこ
とをその課題とする。
【0006】
【発明の開示】上記課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。
【0007】すなわち、本願発明により提供される厚さ
測定装置は、シート状の測定対象物を載置するための測
定台と、上記測定対象物の上面に対して所定の入射角で
照明光を照射する照明手段と、列状に配された複数の受
光素子を有するライン型イメージセンサと、上記ライン
型イメージセンサにより得られた画像データを処理する
ための画像データ処理手段と、を備えており、上記ライ
ン型イメージセンサは、上記照明手段によって上記測定
台上に投影された測定対象物の影を正面から撮影し、上
記画像データ処理手段は、上記測定対象物の影の長さか
ら上記測定対象物の厚さを導き出すように構成されてい
ることを特徴としている。
【0008】好ましい実施の形態においては、上記測定
対象物は、紙である。
【0009】好ましい実施の形態においてはまた、上記
測定台は、その表面の反射率が比較的大となるように形
成されている。
【0010】好ましい実施の形態においてはさらに、上
記照明手段は、上記測定対象物に対してレーザ光を照射
する構成とされている。
【0011】好ましい実施の形態においてはさらにま
た、上記ライン型イメージセンサは、その主走査方向が
上記測定対象物のエッジラインに対して、平面視におい
て直交するように配置されている。
【0012】本願発明においては、上記照明手段による
照明光の照射によって、上記測定台上に測定対象物の影
が投影され、この測定対象物の影の長さは、測定対象物
に対する照明光の入射角と測定対象物の厚さとにより定
まる。換言すれば、測定対象物の厚さは、測定対象物に
対する照明光の入射角と測定対象物の影の長さとから求
められうる。上記ライン型イメージセンサは、複数の受
光素子が列状に配置されているので、各受光素子の位置
とその出力レベルとの関係は、二次元のグラフ(出力波
形)で表すことができる。このライン型イメージセンサ
を用いて撮影した際には、測定対象物の影と対向する受
光素子には光が入射しないので、上記出力波形には、測
定対象物の影と対応する部分が谷状となって表われる。
この谷部の長さは、測定対象物の影の長さと対応するの
で、この谷部の長さから測定対象物の影の長さを算出す
ることができる。したがって、上記画像データ処理手段
の作動により、測定対象物の厚さを自動的に導き出すこ
とができる。
【0013】他の好ましい実施の形態においては、上記
ライン型イメージセンサは、その主走査方向が上記測定
対象物のエッジラインに対して、平面視において所定角
度で交差するように配置されている。
【0014】このような構成によれば、上記ライン型イ
メージセンサにおける複数の受光素子のうち、測定対象
物の影を撮像するものの個数が比較的多くなるため、測
定対象物の影の長さをより精密に計測することができ
る。したがって、測定対象物の厚さをより正確に測定す
ることができる。
【0015】また他の好ましい実施の形態においては、
上記測定台の表面には、上記各受光素子の中心間距離に
対応したピッチで交互に並べられた白ラインおよび黒ラ
インが上記測定対象物のエッジラインと平行となるよう
に形成されており、上記画像データ処理手段は、上記ラ
イン型イメージセンサにより出力された出力波形のう
ち、上記測定対象物の影によってかき消された波のピー
ク数から上記測定対象物の影の長さを導き出すように構
成されている。
【0016】ここで、上記測定対象物の影によってかき
消された波について、以下に詳細に説明する。
【0017】すなわち、上記測定台上に測定対象物が載
置されていない場合、上記白ラインおよび黒ラインによ
って、上記ライン型イメージセンサにより出力される出
力波形は、白ラインおよび黒ライン間のピッチに対応し
た波長を有する波が複数連続したような形態となる。こ
こで、測定台上に測定対象物を載置すれば、ライン型イ
メージセンサにより出力される出力波形において、測定
対象物の影に対応する部分は、出力レベルが比較的低い
平坦な谷部となり、上記の連続した波が表われない。こ
の波のことを上記測定対象物の影によってかき消された
波という。
【0018】上記構成を有する厚さ測定装置によれば、
上記測定対象物の影によってかき消された波のピーク数
は、測定対象物の影内に含まれる白ラインの本数と対応
するので、この本数と、白ラインおよび黒ライン間のピ
ッチとによって、測定対象物の影の長さを算出すること
ができる。したがって、上記画像データ処理手段の作動
により、測定対象物の厚さを自動的に導き出すことがで
きる。
【0019】この厚さ測定装置においては、上記測定対
象物の影によってかき消された波のピーク数をカウント
する際には、上記白ラインに対応する受光素子に対して
光が入射していないかどうかが判ればよく、各受光素子
の出力レベルなど他の情報を必要としない。したがっ
て、ライン型イメージセンサで出力される信号を2値化
することができる。その結果、上記画像データ処理手段
が作動する速度を向上させることができるので、測定対
象物の厚さを効率的に測定することができる。また、こ
の厚さ測定装置による測定ばらつきを抑制することがで
きる。
【0020】さらに他の好ましい実施の形態において
は、上記測定台の表面には、上記各受光素子の中心間距
離に対応したピッチで並べられた複数の凹状溝が上記測
定対象物のエッジラインと平行となるように形成されて
おり、上記画像データ処理手段は、上記ライン型イメー
ジセンサにより出力された出力波形のうち、上記測定対
象物の影によってかき消された波のピーク数から上記測
定対象物の影の長さを導き出すように構成されている。
【0021】上記構成を有する厚さ測定装置は、上記白
ラインおよび黒ラインの代わりに上記複数の凹状溝が形
成されたものであり、凹状溝自身が上記黒ラインに対応
し、かつ、互いに隣接する凹状溝の間の部分が白ライン
に対応する。したがって、この厚さ測定装置は、測定台
の表面に白ラインおよび黒ラインが形成された厚さ測定
装置について上述したのと同様の効果を奏することがで
きる。
【0022】本願発明のその他の特徴および利点につい
ては、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明
らかになるであろう。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【0024】図1は、本願発明に係る厚さ測定装置の一
例を示す概略斜視図である。図2(a)は、図1のII
−II線に沿う断面図であり、図2(b)は、図2
(a)におけるライン型イメージセンサにより出力され
た出力波形を示す図である。
【0025】図1に表れているように、この厚さ測定装
置Aは、シート状の測定対象物Pの厚さを測定するため
の装置であって、測定台1と、照明手段2と、撮像手段
3と、画像データ処理手段4とを備えている。
【0026】上記測定台1は、測定対象物Pを載置する
ためのものであって、図2(a)に示すように、その上
面1aが平面状に形成されている。この測定台1は、た
とえば、金属製であり、その上面1aを研磨するなどし
て、反射率が比較的大となるように形成されている。こ
れにより、後述するようにして測定台1上に投影した測
定対象物Pの影は、その輪郭が明確になる。
【0027】上記照明手段2は、測定対象物Pに対して
照明光を照射するためのものであって、測定対象物Pの
影が測定台1上に投影されるように、測定対象物Pの上
面に対する入射角θが所定の角度となるように配置され
ている。この照明手段2から照射する照明光としては、
たとえばレーザ光が採用され、このような場合、輪郭が
明確となるように測定対象物Pの影を測定台1上に投影
することができる。
【0028】この測定対象物Pの影の長さLは、上記入
射角θと測定対象物Pの厚さtとによって定まり、この
ことを利用して、厚さ測定装置Aは、測定対象物Pの厚
さtを測定するように構成されている。具体的には、測
定対象物Pの厚さtは、下記数式1のようになる。
【数1】
【0029】この厚さ測定装置Aでは、測定対象物Pの
影の長さLを正確に計測することができるように、上記
撮像手段3として、列状に配された複数の受光素子31
を有するライン型イメージセンサ(以下、単に「セン
サ」という)3が用いられている。このセンサ3は、図
2(a)に示すように、上記複数の受光素子31に加え
て、ケース32と、カバーガラス33と、基板34と、
レンズアレイ35と、を備えている。
【0030】上記各受光素子31は、光電変換機能を有
するものであり、所定の受光面で光を受けることによ
り、その受光量に対応した出力レベルの信号(画像信
号)を出力するように構成されている。各受光素子31
は、以下のセンサICチップ30の一部として上記基板
34の表面に搭載されている。センサICチップ30
は、複数の受光素子31を備えた集積回路が造り込まれ
た半導体チップであり、その単位長さ当りの受光素子3
1の個数により、このセンサ3の読み取り分解能力(分
解能)が規定される。このセンサ3としては、読み取り
分解能力(分解能)が、たとえば32ドット/mmのも
のが用いられ、この場合、センサICチップ30の1m
m当りに32個の受光素子31が備えられている。
【0031】上記ケース32は、上記複数の受光素子3
1が並ぶ方向、すなわち主走査方向に延びた形態を有し
ており、たとえば合成樹脂などにより形成されている。
このケース32は、その長手方向に延びる孔部32bを
内部に有しており、その下端および上端にはそれぞれ開
口部32a1,32a2が形成されている。上記カバーガ
ラス33は、たとえば透明のガラスや樹脂などにより形
成されており、ケース32の開口部32a1を閉塞する
ようにしてケース32に装着されている。上記基板34
は、たとえばエポキシ樹脂やセラミックなどにより形成
されており、ケース32の開口部32a2を閉塞しつ
つ、孔部32bの内面に形成した凸部32cの上面に当
接するようにしてケース32に装着されている。
【0032】上記レンズアレイ35は、上記測定台1か
ら反射してきた光を集束させて、用紙の影の画像を複数
の受光素子上に結像させるためのものであり、たとえ
ば、入射した画像を正立等倍に結像可能な複数のセルフ
ォックレンズ35aを列状に並べるようにして樹脂製の
ホルダ35bに保持させたものである。このレンズアレ
イ35は、ケース32に設けられた凹部32dに嵌入さ
れているとともにケース32の凸部32cの下面に当接
するように固定されており、各セルフォックレンズ35
aの光軸が受光素子31の受光面に対して直交するよう
に配置されている。なお、上記セルフォックレンズ35
aに代えて、凸レンズや他の種類のレンズを用いてもむ
ろんかまわない。
【0033】上記センサ3は、各受光素子31の受光面
が測定台1の上面1aに対して平行となるように、かつ
その主走査方向が測定対象物Pのエッジライン(端面P
a)に対して平面視において直交するように配置されて
おり、測定対象物Pの影を正面から撮影する。このセン
サ3を用いて撮影した際には、測定対象物Pの影と対向
する受光素子には光が入射せず、その他の受光素子には
測定台1の表面1aで反射した照明光が入射する。ここ
で、各受光素子31は、上述したように、列状に配置さ
れているので、各受光素子31の位置とその出力レベル
の関係を二次元のグラフで表すことができる。このグラ
フ(出力波形)において、測定対象物Pの影に対応する
部分は、図2(b)に示すように、その出力レベルが比
較的小さな略平坦な谷状の部分(谷部)5となって表わ
れ、各受光素子31の位置として絶対位置を用いた場
合、谷部5の長さDは、測定対象物Pの影の長さLと同
等となる。したがって、測定対象物Pの影の長さLを自
動的に導き出すことが可能となる。
【0034】なお、上記センサ3における受光素子3
1、ケース32、カバーガラス33、基板34、および
レンズアレイ35は、たとえばスキャナやファクシミリ
などの機器において、画像読み取り用として装備されて
いる公知のライン型イメージセンサと同様の構成を有し
ており、上記センサ3としてこのような公知のライン型
イメージセンサを流用してもよい。
【0035】上記画像データ処理手段(以下、単に「処
理手段」という)4は、上記センサ3により得られた画
像データを処理するためのものであって、図示していな
いが、その内部にCPU(Central Processing Unit)
やRAM(Random Access Memory)などを備えており、
測定対象物Pの影の長さLから測定対象物Pの厚さtを
導き出すように構成されている。より詳細には、この処
理手段4は、各受光素子31の絶対位置を認識する機能
と、各受光素子31の絶対位置を用いた出力波形から上
記谷部の長さD、すなわち測定対象物Pの影の長さLを
求める機能と、測定対象物Pの影の長さLを上記数式1
に代入して測定対象物Pの厚さtを算出する機能とを有
している。
【0036】上記構成を有する厚さ測定装置Aを使用す
れば、測定対象物Pが上記センサ3の下方に位置するよ
うにして測定対象物Pを上記測定台1上に載置すれば、
上記センサ3および上記処理手段4が作動することによ
り、測定対象物Pの厚さtを自動的に測定することがで
きる。なお、この厚さ測定装置Aでは、上記センサ3と
して、上述したように、その分解能がたとえば32ドッ
ト/mmのものが用いられており、このようなセンサ3
では、各受光素子31間のピッチが約30μm程度とな
る。一般に、プリンタやファクシミリなどの機器では、
印刷用紙として、その厚さが50μm〜200μm程度
のものが使用されていので、この厚さ測定装置Aをこれ
らの機器に組み込むことによって、これらの機器に対し
て、印刷用紙の厚さを自動的に測定する機能を付加する
ことができる。したがって、上記機器を用いた印刷の際
に、印刷用紙の厚さを入力する作業を不要とすることが
でき、その結果、上記機器を効率的に使用することがで
きる。
【0037】また、上記厚さ測定装置Aにおいて、測定
対象物Pの影が上記複数の受光素子31の直下に位置す
るように測定対象物Pを配置しさえすれば、測定対象物
Pの厚みtが測定されうるので、測定対象物Pを測定台
1上に載置する際に、測定対象物Pの精密な位置合わせ
作業を不要とすることができる。
【0038】さらに、上記センサ3として、上述したよ
うに、ファクシミリに装備されている画像読み取り用の
公知のライン型イメージセンサを流用することが可能と
されているので、この厚さ測定装置Aをファクシミリに
適用させる場合には、上記センサ3を新たな部材として
組み込まずに、画像読み取り用のライン型イメージセン
サを兼用させることが可能となる。したがって、このよ
うなファクシミリの製造に際して、その製造コストが高
騰するのを防止することができる。
【0039】図3ないし図7は、本願発明に係る厚さ測
定装置の他の例を示している。なお、これらの図におい
て、先の実施形態(厚さ測定装置A)と同一または類似
の要素には、先の実施形態と同一符号を付している。
【0040】図3に示す厚さ測定装置Bは、測定対象物
Pに対する上記センサ3の配置方法が、先の厚さ測定装
置Aとは相違している。より詳細には、センサ3は、図
4(a)に示すように、その主走査方向が測定対象物P
のエッジラインPa′に対して、平面視において所定の
角度αで交差するように配置されている。このような厚
さ測定装置Bにおいては、センサ3における複数の受光
素子31のうち、測定対象物Pの影Sに対応するものの
個数が比較的多くなるため、測定対象物Pの影Sの長さ
Lをより精密に計測することができる。したがって、測
定対象物Pの厚さtをより正確に測定することができ
る。なお、この厚さ測定装置Bでは、測定対象物の影の
長さLは、センサ3により出力された出力波形の谷部
5′の長さをD′とした場合、D′×sinαから算出
され、上記処理手段4には、これを演算する機能がさら
に備えられる。
【0041】図5に示す厚さ測定装置Cは、測定台およ
び処理手段として、それぞれ、以下にその詳細を示す測
定台1Cおよび処理手段4Cを備えており、これらの点
において、先の厚さ測定装置Aとはその構成が相違して
いる。
【0042】すなわち、上記測定台1Cは、図6(a)
に示すように、平面状に形成された上面1Caに、セン
サ3のセンサICチップ30における各受光素子31の
中心間距離mに対応したピッチMで交互に並べられた白
ライン51および黒ライン52が測定対象物Pのエッジ
ラインPa′と平行となるように形成されている。白ラ
イン51および黒ライン52は、たとえば、反射率が比
較的大となるように形成した測定台1Cの表面1Caに
対して、黒色インクなどにより所定の間隔をあけてかつ
所定の幅にラインを描くなどして形成される。
【0043】このような測定台1Cによれば、照明手段
2から照射された照明光は、白ライン51上で反射され
る一方黒ライン52で吸収される。したがって、測定台
1C上に測定対象物Pが載置されていない場合、センサ
3により出力される出力波形は、図6(b)の破線に示
すように、上記ピッチMに対応した波長を有する波が所
定数連続したような形態となる。一方、測定台1C上に
測定対象物Pが載置されている場合、センサ3により出
力される出力波形において、測定対象物Pの影Sに対応
する部分は、上記厚さ測定装置Aの場合と同様に、図6
(b)の実線に示すように、出力レベルが比較的低い1
つの谷部5となり、測定対象物Pの影Sにより上述の連
続した波がかき消されたような形態となる。ここで、か
き消された波のピーク50bの個数は、測定対象物Pの
影S内に含まれる白ライン51の本数であるので、上記
ピーク50bの個数と上記ピッチMとから測定対象物P
の影Sの長さLを算出することが可能となる。
【0044】なお、図6(a)に示す測定台1Cでは、
互いに隣接する白ライン51および黒ライン52の中心
間距離Mが各受光素子31間の距離mと同等とされてお
り、各受光素子31に対して白ライン51あるいは黒ラ
イン52のいずれか一方が対応しているが、これに限定
されることなく、たとえば、各受光素子31に対して白
ライン51および黒ライン52の両方が対応するように
してもよい。
【0045】上記処理手段4Cは、センサ3により出力
された出力波形のうち、測定対象物Pの影によりかき消
された波のピーク50bの個数から測定対象物Pの影S
の長さLを導き出すように構成されている。より詳細に
は、ピーク50bの個数をカウントする機能と、このカ
ウント数と上記ピッチMとから測定対象物Pの影Sの長
さLを算出する機能と、測定対象物Pの影Sの長さLを
上記数式1に代入して測定対象物Pの厚さtを算出する
機能とを備えている。
【0046】上記構成を有する厚さ測定装置Cにおいて
は、上記ピーク50bの個数をカウントする際には、上
記白ライン51に対応する受光素子に対して光が入射し
ていないかどうかが判ればよく、各受光素子31の出力
レベルなど他の情報を必要としない。したがって、セン
サ3の各受光素子31で出力される画像データを2値化
することができる。その結果、処理手段4Cが作動する
速度を向上させることができるので、測定対象物Pの厚
さtを効率的に測定することができる。また、この厚さ
測定装置Cによる測定ばらつきを抑制することができ
る。
【0047】なお、上記測定台1Cは、その上面1Ca
に上記白ライン51および黒ライン52が形成された形
態を有しているが、これら白ライン51および黒ライン
52の代わりに、図7に示すように、所定のピッチで並
べられた複数の凹状溝53が形成された測定台1Dとす
ることもできる。この場合、凹状溝53が黒ライン52
に対応し、かつ、互いに隣接する凹状溝53間の平坦部
54が白ライン51に対応する。
【0048】もちろん、本願発明は、上述した実施形態
に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した
事項の範囲内でのあらゆる設計変更はすべて本願発明の
範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係る厚さ測定装置の一例を示す概略
斜視図である。
【図2】(a)は、図1のI−I線に沿う断面図であ
り、(b)は、(a)におけるライン型イメージセンサ
により出力された出力波形を示す図である。
【図3】本願発明に係る厚さ測定装置の他の例を示す概
略断面図である。
【図4】(a)は、図3の拡大平面図であり、(b)
は、(a)におけるライン型イメージセンサにより出力
された出力波形を示す図である。
【図5】本願発明に係る厚さ測定装置の他の例を示す概
略断面図である。
【図6】(a)は、図5における測定台を拡大して示す
概略平面図であり、(b)は、(a)におけるライン型
イメージセンサにより出力された出力波形を示す図であ
る。
【図7】図5における測定台の他の例を拡大して示す概
略断面図である。
【符号の説明】
1,1C 測定台 2 照明手段 3 ライン型イメージセンサ 4,4C 画像データ処理手段 31 受光素子 51 白ライン 52 黒ライン 53 凹状溝 A 厚さ測定装置 L 測定対象物の影の長さ P 測定対象物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 澤田 秀喜 京都市右京区西院溝崎町21番地 ローム株 式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA02 AA30 AA54 AA56 BB01 BB28 CC02 DD06 FF02 FF04 GG04 HH12 JJ02 JJ08 JJ25 LL10 QQ04 QQ26 QQ28 QQ31

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シート状の測定対象物を載置するための
    測定台と、上記測定対象物の上面に対して所定の入射角
    で照明光を照射する照明手段と、列状に配された複数の
    受光素子を有するライン型イメージセンサと、上記ライ
    ン型イメージセンサにより得られた画像データを処理す
    るための画像データ処理手段と、を備えており、 上記ライン型イメージセンサは、上記照明手段によって
    上記測定台上に投影された測定対象物の影を正面から撮
    影し、 上記画像データ処理手段は、上記測定対象物の影の長さ
    から上記測定対象物の厚さを導き出すように構成されて
    いることを特徴とする、厚さ測定装置。
  2. 【請求項2】 上記ライン型イメージセンサは、その主
    走査方向が上記測定対象物のエッジラインに対して、平
    面視において直交するように配置されている、請求項1
    に記載の厚さ測定装置。
  3. 【請求項3】 上記ライン型イメージセンサは、その主
    走査方向が上記測定対象物のエッジラインに対して、平
    面視において所定角度で交差するように配置されてい
    る、請求項1に記載の厚さ測定装置。
  4. 【請求項4】 上記測定台の表面には、上記各受光素子
    の中心間距離に対応したピッチで交互に並べられた白ラ
    インおよび黒ラインが上記測定対象物のエッジラインと
    平行となるように形成されており、 上記画像データ処理手段は、上記ライン型イメージセン
    サにより出力された出力波形のうち、上記測定対象物の
    影によってかき消された波のピーク数から上記測定対象
    物の影の長さを導き出すように構成されている、請求項
    2に記載の厚さ測定装置。
  5. 【請求項5】 上記測定台の表面には、上記各受光素子
    の中心間距離に対応したピッチで並べられた複数の凹状
    溝が上記測定対象物のエッジラインと平行となるように
    形成されており、 上記画像データ処理手段は、上記ライン型イメージセン
    サにより出力された出力波形のうち、上記測定対象物の
    影によってかき消された波のピーク数から上記測定対象
    物の影の長さを導き出すように構成されている、請求項
    2に記載の厚さ測定装置。
  6. 【請求項6】 上記測定台は、その表面の反射率が比較
    的大となるように形成されている、請求項1ないし5の
    いずれかに記載の厚さ測定装置。
  7. 【請求項7】 上記照明手段は、上記測定対象物に対し
    てレーザ光を照射する、請求項1ないし6のいずれかに
    記載の厚さ測定装置。
  8. 【請求項8】 上記測定対象物は、紙である請求項1な
    いし7のいずれかに記載の厚さ測定装置。
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