JPS6022611A - 高さ測定装置 - Google Patents

高さ測定装置

Info

Publication number
JPS6022611A
JPS6022611A JP13425984A JP13425984A JPS6022611A JP S6022611 A JPS6022611 A JP S6022611A JP 13425984 A JP13425984 A JP 13425984A JP 13425984 A JP13425984 A JP 13425984A JP S6022611 A JPS6022611 A JP S6022611A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
length
height
shade
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13425984A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruaki Takamune
高宗 「えい」暁
Kiyoshi Ikoma
生駒 清
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP13425984A priority Critical patent/JPS6022611A/ja
Publication of JPS6022611A publication Critical patent/JPS6022611A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/022Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高さ測定装置に関し、例えばプラスチック成形
物、プラスチック板金複合成形物、板金にカシメられた
ビンなど凹凸に富む物体の高さを?l1ll定し検査す
る工程において、高速度で、非接触で、かつ融通性に富
む状態で、自動測定、検査を容易に実現できるようにす
ることを目的とする。
従来、これらの測定検査は、概略値を人が目視で行うか
、抜き取りで行っていた。ところで前者の場合は目視に
よるため見洛としかあったり捷だ例え・ば、成形機を昼
夜連続稼動てせて生産を行なった場合、検査のだめの要
員を夜間も配置することは困難であった。一方後者の場
合は抜き取り検査であるためPPMオーダーの高品質の
保証を・行うには困難があった。本発明は従来における
上述のような問題を解決しようとするもので以下にt%
1面を用いその実施例を説明する。
まずここで本発明における測定の原理を説明する。例え
ば第1図、第2図に示すような複合成形物の突起部A、
B、C,Dの高さの測定検査を行う場合、第3図に示す
矢印の方向より平行光IWJI Rを肖てて第4図に斜
線部として示すような影A′。
B、C,D をつくり、それを第6図に示すように、上
方からテレビカメラ1等のイメージセンサで読み取る。
第3図の突起物Aについて示しているように、読み取っ
た影の長さβより、突起物人の高さbは、h−βtan
θで、高さが計算によりめられる。ただしθは平行光線
の影がつくられる面に対する傾斜角度である。
本発明の一実施例である高さ測定装置の構成を第6図に
示す。図において2は平行光線発生光源で高さを測定し
ようとする突起部3が基板4の面から突出した被測定物
5に斜め上方から平行光線をJり射できるよう配置され
ている。6は被測定物5に光投射することにより基板4
の面につくられた突起部3の影の長さを読取るように配
設されたテレビカメラ、了はテレビカメラの動作を制御
するカメラ制御系、8はカメラインターフェース、9は
テレビカメラ6が読みとった被測定物5の影の長さから
被測定物6の高さ′f:割算する計算回路系、10は計
算回路系9等を駆動する電源回路系である。
本発明は以上のような構成になっていることにより、被
測定物に接触することなくしかも高速でその高さを測定
することができ、きらには被測定物の形状が変わった場
合には光投射の角度を変えたりまた影長さ読取手段を制
御することにより被測定物の種々の形状に対応すること
ができ、したがって高さ測定の自動化を進める上で極め
て有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ高さを測定しようとする複合
成形物の正面図および1i(o図、第3図。 第4図、第5図はそれぞれ本発明における測定の原理を
説明するだめの図でこのうち、第3図、第4図は光投射
により被測定部の影がつくられた状態を示す正面図およ
び−L面図、第6図はその影の長さをテレビカメラで読
みとっている状態を示す正面図、第6図は本発明の一実
施例である高さ測定装置の構成を示す図である。 1.6・・・・・テレビカメラ、2・・・光源、9・ 
・計算回路系。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 高さを測定しようとする被測定体に斜め上方から平行光
    線を投射するだめの光源と、上記光源からの光投射によ
    り生じた被測定部の影の長さを読取る影読取手段と、上
    記影読取手段により読みとられた影の長さをもとにして
    上記被測定部の高さを算出するQ−山部とを有すること
    を特徴とする高さ測定装置。
JP13425984A 1984-06-28 1984-06-28 高さ測定装置 Pending JPS6022611A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13425984A JPS6022611A (ja) 1984-06-28 1984-06-28 高さ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13425984A JPS6022611A (ja) 1984-06-28 1984-06-28 高さ測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6022611A true JPS6022611A (ja) 1985-02-05

Family

ID=15124112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13425984A Pending JPS6022611A (ja) 1984-06-28 1984-06-28 高さ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6022611A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63273047A (ja) * 1987-04-30 1988-11-10 Hitachi Ltd 凹凸状態検出装置
JPH02100393A (ja) * 1988-10-07 1990-04-12 Hitachi Ltd スルーホール充填状態検査方法およびその装置
EP1020702A1 (en) * 1997-09-30 2000-07-19 Ibiden Co., Ltd. Apparatus for judging whether bump height is proper or not
JP2003065725A (ja) * 2001-08-24 2003-03-05 Rohm Co Ltd 厚さ測定装置
WO2010029592A1 (ja) * 2008-09-09 2010-03-18 三菱電機株式会社 車両周囲監視装置
JP2020085450A (ja) * 2018-11-15 2020-06-04 日亜化学工業株式会社 成型品の検査方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63273047A (ja) * 1987-04-30 1988-11-10 Hitachi Ltd 凹凸状態検出装置
JPH02100393A (ja) * 1988-10-07 1990-04-12 Hitachi Ltd スルーホール充填状態検査方法およびその装置
US5015097A (en) * 1988-10-07 1991-05-14 Hitachi, Ltd. Method for inspecting filled state of via-holes filled with fillers and apparatus for carrying out the method
EP1020702A1 (en) * 1997-09-30 2000-07-19 Ibiden Co., Ltd. Apparatus for judging whether bump height is proper or not
EP1020702A4 (en) * 1997-09-30 2000-12-06 Ibiden Co Ltd DEVICE FOR DETERMINING THE CORRECT HEIGHT OF A LEAD
JP2003065725A (ja) * 2001-08-24 2003-03-05 Rohm Co Ltd 厚さ測定装置
WO2010029592A1 (ja) * 2008-09-09 2010-03-18 三菱電機株式会社 車両周囲監視装置
JP5295254B2 (ja) * 2008-09-09 2013-09-18 三菱電機株式会社 車両周囲監視装置
JP2020085450A (ja) * 2018-11-15 2020-06-04 日亜化学工業株式会社 成型品の検査方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4541721A (en) Optical checking apparatus and method of using same
JPS6022611A (ja) 高さ測定装置
DE3688547D1 (de) "diffraktosight"-verfahren.
SE8500204L (sv) Anordning for optisk metning av langstreckta foremal
DE3372126D1 (en) Apparatus for measuring the gradient or inclination of a surface or of a line
FR2295443A2 (fr) Procede et dispositif de determination photo-electrique de la position d'au moins un plan de nettete d'une image
JPS6435205A (en) Method and apparatus for visual inspection of material
ATE261115T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung von spannungen in glasscheiben mit hilfe von streulicht
JPS57165801A (en) Removing device for out-of-field surface reflection having less image movement and less color generation
JPS6425003A (en) Measuring instrument of shape in three-dimensional object
JPS6472005A (en) Visual sensor
JPS5524679A (en) Planar shape detector
IT8747637A0 (it) Disposivo ottico di misura a distanza delle variazioni di orientamento di un oggetto
JPS64404A (en) Apparatus for inspecting rail joint clearance
JP3031956B2 (ja) 半田量検査方法
JPS6417162A (en) Packing check device for surface packing substrate
JPH0411422Y2 (ja)
JPH0247444Y2 (ja)
JPS55164823A (en) Orthogonal projection image forming method of three-dimensional object
JPS6421310A (en) Follow-up detector for machining accuracy
JPH02302608A (ja) 三次元形状認識方法及びその装置
JPS57203904A (en) Optical dimension measurement and its device
JPS6488686A (en) Deficient parts inspecting device for packaged parts
JPH02208503A (ja) 画像認識方法
JPH04102346A (ja) 半導体装置のリード曲り検査装置