JP2003059994A - サンプルの検査方法及び検査装置並びに検査装置の管理方法 - Google Patents

サンプルの検査方法及び検査装置並びに検査装置の管理方法

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JP2003059994A JP2001241070A JP2001241070A JP2003059994A JP 2003059994 A JP2003059994 A JP 2003059994A JP 2001241070 A JP2001241070 A JP 2001241070A JP 2001241070 A JP2001241070 A JP 2001241070A JP 2003059994 A JP2003059994 A JP 2003059994A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】作業者の負担を軽減し、自動化ラインの停止時
間を最小限にして効率的運用を行うことを可能としたサ
ンプルの検査方法及び検査装置並びに検査装置の管理方
法を提供する。 【解決手段】被検査サンプルを検査装置によって自動的
に検査する方法において、複数の被検査サンプルを連続
して測定している検査途中に、自動的に標準サンプルの
測定を行い、その結果をもとに前記検査装置を自動管理
しながら被検査サンプルを連続測定するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、サンプル、例えば
ウェーハの検査方法及び検査装置並びに検査装置の管理
方法に関する。
【0002】
【関連技術】デバイスを形成する半導体ウェーハの品質
として重要であり、かつ基本的な特性(品質)として抵
抗率、酸素濃度(格子間酸素濃度)などがある。これら
のウェーハ特性はデバイスの設計に応じて品質規格が定
まっており、ウェーハ製造工程ではその規格に基づき製
造し、品質を保証する必要がある。
【0003】これらの品質は、例えば抵抗率などは4探
針法を用いた抵抗率測定機が用いられ、酸素濃度(及び
炭素濃度)の測定では赤外吸収法を用いたFT−IR(F
ourier Transform Infrared Spectroscopy)などが用い
られ評価されている。これらの測定装置については、被
検査サンプルの自動測定(自動化)が進んでいる。図7
は従来のサンプルの自動測定の一例を示す説明図であ
る。
【0004】図7に示されるように、被検査用サンプル
(ウェーハ)S1〜S7にあらかじめID番号を印字させ
ておき、各測定装置毎に各被検査サンプルS1〜S7のI
D番号読み取り、上位ホストコンピュータ(図示せず)
と通信し、その測定レシピの確認及び測定した結果(測
定値)を測定した被検査サンプルと1対1で対応させ保
存することが可能となり、測定結果を取り扱う上で非常
に効率的に運用することが出来ており、夜間運転等作業
の省力化に大きな貢献をしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記検査装置
等では、測定値の信頼性を確認するため、例えば1日当
たり数回、標準サンプル(日常管理サンプル)SAを測
定するといった日常点検を行わなければならず、例え
ば、図7に示すような自動化ラインでも、一旦装置を止
めて、校正・点検を行わなくてはならない。この様な測
定機管理は自動化ラインの停止時間が長くなり効率的運
用に支障をきたしていた。特に複数の測定装置を連続的
に配置した自動検査ラインでは、それぞれの装置を校正
・点検する必要があり、作業的にたいへんであった。作
業者の負担を減らし自動化での稼働時間を長くすること
が必要であった。
【0006】図8は従来の自動化ラインの工程順の一例
を示す工程図である。例えば、図8に示すように、N
o.1測定装置12、例えば4探針式抵抗率測定装置と
No.2測定装置14、例えばFT−IRによる酸素濃
度測定装置を連続的に配置した自動検査ライン10で
は、まず、抵抗率測定装置12、酸素濃度測定装置14
とすべての装置を一旦停止し、自動測定モード(通常測
定モード又は被検査サンプル測定モードなどということ
がある)にある装置を標準サンプル測定モードに切り替
えなければならない。次にローダ16及びローダ兼アン
ローダ18も一旦停止し、装置設定を変えなければなら
ない。例えば、自動供給モードにある装置を標準サンプ
ル供給モードに切り替える。さらには、工程中に流れて
いる被検査サンプルS1〜S7を全て測定終了するまで待
つか又は取り除かなければならない。これらの段取りを
実施した後、標準サンプルをセットし測定が始まる。標
準サンプルSAを測定した後は測定値を管理図に記入し
たり測定機の異常判断を行わなければならない。なお、
図8において、20はアンローダである。
【0007】そこで、本発明は、作業者の負担を軽減
し、自動化ラインの停止時間を最小限にして効率的運用
を行うことを可能としたサンプルの検査方法及び検査装
置並びに検査装置の管理方法を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のサンプルの検査
方法の第1の態様は、被検査サンプルを検査装置によっ
て自動的に検査する方法において、複数の被検査サンプ
ルを連続して測定している検査途中に、自動的に標準サ
ンプルの測定を行い、その結果をもとに前記検査装置を
自動管理しながら、被検査サンプルを連続的に測定検査
するものである。
【0009】このように、被検査サンプルの測定途中
に、自動的に標準サンプルを測定し、その結果をもとに
装置管理(点検や校正)を行えば、装置を止めることな
く連続的に被検査サンプルを評価でき、また作業者の負
担は低減する。
【0010】本発明のサンプルの検査方法の第2の態様
は、被検査サンプルのID番号及びそのID番号に対応
した検査レシピ及び標準サンプルの測定結果による校正
基準・管理基準を記憶したホストコンピュータ、検査装
置本体及びID番号認識装置を有する検査装置によって
被検査サンプルを自動的に検査するにあたり、前記被検
査サンプル及び標準サンプルにID番号を付与し、前記
被検査サンプル及び標準サンプルに付与されたID番号
をID番号認識装置により確認し、そのID番号及びそ
のID番号に対応した検査レシピをホストコンピュータ
に照合し測定するとともに、前記標準サンプルのID番
号を認識すると、当該ID番号の標準サンプルの測定結
果による校正基準・管理基準をホストコンピュータに照
合し、その照合結果にもとづき、前記検査装置本体を管
理しつつ前記被検査サンプルを連続測定するものであ
る。
【0011】このように、ID番号を付与した標準サン
プルを用いる事で、不規則に標準サンプルを流したとし
ても、認識装置によりID番号を認識し、ホストコンピ
ュータで適切な処理に切り替えられ、装置を止める事な
く連続測定できる。
【0012】本発明のサンプルの検査装置は、被検査サ
ンプルを自動検査する検査装置であって、少なくとも前
記被検査サンプル及び標準サンプルのID番号及びその
ID番号に対応した検査レシピ及び標準サンプルの測定
結果による校正基準・管理基準を記憶したホストコンピ
ュータと、ID番号が付与された被検査サンプル及び標
準サンプルをセットしておくローダと、前記被検査サン
プル及び標準サンプルに付与されたID番号を認識する
ID番号認識装置と、前記被検査サンプル及び標準サン
プルの品質を検査する検査装置本体と、前記被検査サン
プル及び標準サンプルを排出するアンローダを有し、前
記標準サンプルのID番号を認識すると、当該ID番号
の標準サンプルの測定結果による校正基準・管理基準を
ホストコンピュータに照合し、その照合結果にもとづ
き、前記検査装置本体を管理しつつ被検査サンプルを連
続測定するように作動することを特徴とする。このよう
な自動化ラインシステムを構築すれば、自動で検査でき
る。
【0013】なお、前記ID番号が付与された被検査サ
ンプル及び標準サンプルをセットしておくローダは、少
なくとも2つ以上の供給部を具備し、被検査サンプルを
供給する供給カセットと標準サンプルを供給する専用カ
セットを有することが好ましい。
【0014】ID番号を認識する方式であるので、ロー
ダをわざわざ区別する必要はないが、このように少なく
とも2つ以上の供給部があれば、任意の時間に標準サン
プルを測定しやすくなる。つまり任意の時間で専用カセ
ットからサンプルを供給するようにすれば何時も決まっ
た時間に測定機の管理ができる。
【0015】そこで、本発明の検査装置にはタイマーを
さらに設置しておき、所定の時間になるとローダ又は標
準サンプル専用カセットから標準サンプルを自動供給す
るようにすると好ましい。
【0016】また、ID番号が付与された被検査サンプ
ル及び標準サンプルを排出するアンローダは、少なくと
も2つ以上の排出部を具備し、被検査サンプルを排出す
る排出カセットと標準サンプルを排出する専用カセット
を有することが好ましい。
【0017】このようにすることで、測定後に、被検査
サンプルと標準サンプルが混合する事がなく仕分け作業
が不用になる。
【0018】なお、該サンプルの品質を検査する検査装
置本体が、酸素濃度測定装置、炭素濃度測定装置又は抵
抗率測定装置のうち少なくともひとつの装置であるよう
にするのが好適である。
【0019】これは、上記した各品質が半導体ウェーハ
の品質として重要であり、かつ基本的な特性(品質)で
あり、またFT−IRなどの校正は検量線などで校正で
きるため、自動校正が行いやすいためである。
【0020】本発明の検査装置の管理方法は、標準サン
プルのID番号及びそのID番号に対応した測定レシピ
及び標準サンプルの測定結果による校正基準・管理基準
を記憶したホストコンピュータ、検査装置本体及びID
番号認識装置を有する検査装置を自動的に校正・点検す
る管理方法であって、標準サンプルにID番号を付与し
ておき、前記検査装置本体に搬入された当該標準サンプ
ルに対して、当該検査装置本体に付設された前記ID番
号認識装置で当該標準サンプルのID番号を自動的に認
識し、そのID番号により測定レシピをホストコンピュ
ータに照合し、該測定レシピに従い測定し、その測定結
果により装置の校正・点検を行うことを特徴とする。こ
のようにすることで、信頼性の高い検査装置の管理が行
える。
【0021】上記した被検査サンプル及び標準サンプル
に用いられるサンプルとしては、ウェーハ、例えばシリ
コンウェーハ等の半導体ウェーハ、石英ウェーハ、光デ
ィスク等を例示することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明するが、図示例は例示的に示される
もので、本発明の技術思想から逸脱しない限り種々の変
形が可能なことはいうまでもない。
【0023】図1は、本発明のサンプルの検査装置の一
つの実施の形態を示す全体配置図である。同図におい
て、30は本発明にかかわるサンプルの検査装置で、ホ
ストコンピュータ32を有している。該ホストコンピュ
ータ32は、少なくとも被検査サンプルS及び標準サン
プルSAのID番号及びそのID番号に対応した検査レ
シピ、及び管理基準、すなわち標準サンプルSAの測定
結果による校正基準及び管理基準を記憶している。上記
ホストコンピュータ32には、ローダ34、ID番号認
識装置36、検査装置本体38、及びアンローダ40が
導線L1,L2,L 3及びL4によって電気的に接続されて
いる。
【0024】上記ローダ34には、供給カセット42及
び専用カセット44が設けられている。この供給カセッ
ト42にはID番号Nが付与された被検査サンプルSが
セットされ、専用カセット44には同様にID番号Nが
付与された標準サンプルSAがセットされる。46は供
給カセット42及び専用カセット44に隣接して設けら
れたロボットアームで、供給カセット42にセットされ
た被検査サンプルS及び専用カセット44にセットされ
た標準サンプルSAを次工程、即ちID番号認識装置3
6に搬送するように作動する。
【0025】上記被検査サンプルSにはあらかじめID
番号Nを刻印しておき、また、そのID番号Nと測定条
件(測定レシピ)をホストコンピュータ32に登録して
おく。
【0026】また、上記標準サンプルSAについても、
あらかじめID番号Nを刻印しておき、そのID番号N
と測定条件、及び標準値をホストコンピュータ32に登
録する。
【0027】図1ではウェーハ状の被検査サンプルSを
セットする供給カセット42及び標準サンプルSAをセ
ットする専用カセット44がそれぞれ1基ずつ設けられ
ている場合が示されているが、ローダ34に設けられる
カセット42,44の数は限定されず、被検査サンプル
S及び標準サンプルSAを同じカセットにセットしても
良い。但し、少なくとも2基以上のカセット42,44
があればサンプルS,SAの取扱いがしやすい。
【0028】例えば、通常の測定時には被検査サンプル
Sを供給カセット42にセットし、供給カセット42か
らID番号認識装置36に被検査サンプルSを供給す
る。標準サンプルSA等の優先的に検査する必要のある
優先サンプルは専用カセット44にセットし、専用カセ
ット44に優先サンプルがセットされたら供給カセット
42の被検査サンプルSよりも優先的に優先サンプルを
供給するなどしても良い。
【0029】また、ローダ34にタイマーをセットすれ
ば、専用カセット44からID番号認識装置36へのサ
ンプル供給を設定時間内に行うことができ、作業者の作
業が重なった場合などや、逆に一定時間供給を止めるこ
とが必要な時に調整でき、作業者の負担を減らすことが
できる。
【0030】ID番号認識装置36はローダ34から搬
送されてきた被検査サンプルS及び標準サンプルSA
印字されたID番号Nを読み取るものである。ID番号
NはサンプルS,SAの決められた位置に印字してお
き、ID番号認識装置36ではサンプルS,SAをセン
ターリングし、決められた位置のID番号Nを読み取る
ようにしてある。ID番号認識装置36は、CCDカメ
ラ等による読み取り部35と、画像処理部37からな
り、認識したID番号Nをホストコンピュータ32に送
信する。
【0031】なお、被検査サンプルS及び標準サンプル
AへのID番号Nの付与はレーザーマークにより行う
事が好ましい。自動化ラインでは文字を正確に認識する
事が重要であり、レーザーマークによる印字は十分に深
く鮮明でありID番号認識装置36で読み取りやすいた
めである。
【0032】上記ホストコンピュータ32では、ID番
号認識装置36より送られてきたID番号Nをもとに、
被検査サンプルS及び標準サンプルSAの識別をし、被
検査サンプルSであれば通常測定モードのままID番号
Nに対応した検査レシピを検査装置本体38に返信す
る。通常測定モードの測定レシピは通常、サンプルS,
Aの直径や、測定位置などに関する情報である。ID
番号Nが標準サンプルSAのものであれば、標準サンプ
ル測定モードになる。
【0033】その後、サンプルS,SAはID番号認識
装置36から測定部39を有する検査装置本体38に搬
送ベルト48によって搬送され、ホストコンピュータ3
2の情報をもとに測定される。測定結果をID番号Nと
対応させホストコンピュータ32に記録する。
【0034】上記アンローダ40には、排出カセット5
0及び専用カセット52が設けられている。この排出カ
セット50には、被検査サンプルSがセットされ、専用
カセット44には標準サンプルSAがセットされる。5
4は排出カセット50及び専用カセット52に隣接して
設けられたロボットアームで、測定したサンプルS,S
Aを、検査装置本体38からアンローダ40に排出する
ように作動する。図1ではウェーハ状のサンプルをセッ
トするカセットが2基ついている場合が示されている。
特にアンローダ40側のカセット50,52の数は限定
されず、被検査サンプルS及び標準サンプルSAを同じ
カセットにセットしても良い。但し、標準サンプルSA
は繰り返し測定されるので、少なくとも2基以上のカセ
ットにし、専用のカセットに戻されるようにすれば良
い。また、このアンローダ40側の専用カセット52が
自動的にローダ34側の専用カセット位置に搬送される
ようにすると好ましい。
【0035】以上述べたような構造のサンプルの検査装
置30を用いてサンプル、即ち被検査サンプルS及び標
準サンプルSAを測定し検査する。なお、検査条件にお
いて、通常(被検査サンプル)測定モードと標準サンプ
ル測定モードは通常同じである。通常測定モードと標準
サンプル測定モードの大きな違いは、測定した結果をど
のように処理するかである。通常測定モードでは、基本
的にID番号に対応させ測定結果を単に記録しておくも
のであるが、標準サンプル測定モードでは、測定結果を
もとに自動的に管理基準と照合し、測定を続行するかま
たは校正、停止するかなどの判断および制御を行い、ま
た管理図等を作成したりもする。
【0036】上記のような測定手順を採用することによ
り、検査工程中に流れている被検査サンプルSを全て取
り除く必要がなく標準サンプルSAを測定することがで
きる。
【0037】実際の検査方法としては、通常は、図2に
示すように、通常(被検査サンプル)測定モードMに従
って被検査サンプルSを連続的に検査装置30に供給し
測定する。被検査サンプルSの供給の途中で検査装置3
0を停止する事なしに標準サンプル測定モードMAに従
い標準サンプルSAを供給測定し、検査装置30を点検
する。続いて、通常測定モードMに戻り、被検査サンプ
ルSを連続的に検査装置30に供給して測定する。
【0038】標準サンプルSAの供給は、一定時間毎に
供給されるように設定しても、また特定位置(専用カセ
ット)にセットしたら優先的に測定を開始するように設
定しても良い。標準サンプルSAの測定頻度などは任意
である。
【0039】検査手順を図1〜図3によって更に詳しく
説明する。図3に示すように、まず、被検査サンプルS
を供給カセット42にセットし、標準サンプルSAを専
用カセット44にセットする(ステップ100)。これ
らのセットされたサンプル(被検査サンプルS又は標準
サンプルSA)は、ID番号認識装置36に送られ、I
D番号認識装置36では供給されたサンプルS,SA
ID番号Nが読み取られる(ステップ102)。この読
み取られたID番号Nはホストコンピュータ32に送ら
れて照合され、被検査サンプルSか、標準サンプルSA
かが判断される(ステップ104)。被検査サンプルS
であれば、測定位置などの測定レシピを受信し、通常測
定モードMのまま測定を続ける(ステップ106)。標
準サンプルSAのID番号と一致したら、自動で通常測
定モードMから標準サンプル測定モードMAに切り替わ
り標準サンプル測定を行う(ステップ108)。
【0040】通常測定モードM(ステップ106)の処
理フローを、図4に示す。まず、測定レシピをホストコ
ンピュータ32から受信し確認する(ステップ106
A)。この測定レシピに従い被検査サンプルSを測定す
る(ステップ106B)。この測定結果をホストコンピ
ュータ32に送信し、ID番号Nと対応させ登録する
(ステップ106C)。そして、次のサンプルの測定に
入る(ステップ106D)。
【0041】標準サンプル測定モードMA(ステップ1
08)の具体的な処理フローを図5に示す。最初に、測
定レシピをホストコンピュータ32から受信し確認する
(ステップ108A)。この測定レシピに従い標準サン
プルSAを測定する(ステップ108B)。この測定結
果をホストコンピュータ32に送信し、ID番号Nと対
応させ登録する(ステップ108C)。ホストコンピュ
ータ32では、管理基準に従いこの測定結果が基準値内
か否か確認する(ステップ108D)。基準値外であれ
ば校正基準・管理基準にもとづき、検査装置本体を校
正、または停止する(ステップ108F)。基準値内で
あれば次のサンプルの測定に入る(ステップ108
E)。即ち、標準サンプルSAの測定結果がホストコン
ピュータ32に登録されている管理値以内であれば、検
査装置30を止める事なく被検査サンプルSを連続して
測定する。
【0042】このようにすることで、検査装置30を連
続的に操業できる。つまり、このようなシステムにより
作業者による検査装置30の停止・モード切り替えせず
に標準サンプルSAを測定することができる。
【0043】このように検査装置30をホストコンピュ
ータ32による通信制御を可能としておけば、さらに、
作業者の負担を軽減でき、測定結果を記録としての残す
ことができて確実な装置管理が可能となる。
【0044】以上のように、標準サンプルによる点検・
校正作業において、作業者の負担の増加なく、自動化ラ
インの停止時間を最小にとどめ効率的運用を行うことが
できる。
【0045】図1に示した例では、検査装置30を1台
設けた場合を示したが、図6に示すように、第1及び第
2の検査装置30A,30Bを2台並設しても同様に実
施できる。なお、図6において、図1と同一又は類似部
材は同一符号を用いて説明するが、第1の検査装置30
Aの各部材にはAの添え字を、第2の検査装置30Bの
各部材にはBの添え字をそれぞれ付した。また、L1
7はホストコンピュータと各機器を接続する導線であ
る。2台の検査装置30A,30Bを並設した場合に
は、前記したアンローダ40は検査装置30A,30B
間のインターフェイスを兼ねており、前工程の検査装置
30Aからすればアンローダであり、後工程の検査装置
30Bからすればローダとなるので、後工程の検査装置
30Bのローダの設置を省略し、前工程の検査装置30
Aのアンローダ40をローダとして利用することができ
る。つまり、排出カセット50は、前工程の検査装置3
0Aからすれば排出カセットの意味合いを持ち、後工程
の検査装置30Bからすれば供給カセットとなる。この
排出(供給)カセット50と専用(優先)カセット52
の間にロボットアーム54を設け、サンプルS,SA
受け渡しをすることは図1の場合と同様である。
【0046】但し、このように2台の検査装置を並設し
た場合、第1の検査工程(装置30A)用の標準サンプ
ル、第2の検査工程(装置30B)用の標準サンプルな
ど別々にセットできるように複数のカセットを配設する
のが好ましい。
【0047】
【実施例】以下に実施例をあげて本発明をさらに具体的
に説明するが、これらの実施例は例示的に示されるもの
で限定的に解釈されるべきでないことはいうまでもな
い。
【0048】(実施例1)図6に示すように、第1の検
査工程(装置30A)として4探針法による抵抗率測定
装置、第2の検査工程(装置30B)としてFT−IR
による酸素濃度測定装置を並列した自動化された検査工
程(ライン)に対しておこなった。抵抗率はJIS H
602などで標準化されている方法に準じて測定した。
酸素濃度はASTM F123などで標準化されている
方法に準じて測定した。
【0049】抵抗率や酸素濃度が未知の被検査サンプル
Sを連続して検査した。この被検査サンプルは高輝度平
面研削されたウェーハにレーザーマークでID番号を印
字したものである。ID番号は特に限定しないが、ID
番号;010001〜010100等の連番を振ってあ
る。ホストコンピュータ32にはこれらのサンプルに対
する仕様(測定レシピ)が記憶されている。なお、この
ID番号の桁数及び記号は任意であり、特に連番で流さ
なくても良い。
【0050】初めに抵抗率測定装置30Aのローダ側に
ある供給カセット42Aに被検査サンプルSをセットす
る。これは前段より自動的に供給されても良いが、本実
施例では図6のように供給カセット42Aと専用カセッ
ト44Aの2つのカセットを有するローダ34Aを用
い、被検査サンプルSを供給カセット42Aに、専用カ
セット44Aには抵抗率用の標準サンプルSAをセット
しておく。標準サンプル(日常管理サンプル)SAは3
水準用意した。日常管理サンプルのID番号はSTDR
E1(標準値;5Ωcm)、STDRE2(標準値;1
0Ωcm)、STDRE3(標準値;20Ωcm)であ
る。
【0051】抵抗率測定装置30Aによって、被検査サ
ンプルSを測定した。被検査サンプルSはローダ34の
供給カセット42Aから順次供給され、ID番号をID
番号認識装置36Aによって認識し、ID番号に応じ
て、測定位置などの測定レシピをホストコンピュータ3
2で照合し、それに準じて抵抗率測定装置本体38Aで
測定する。測定後、データをホストコンピュータ32に
記憶し、被検査サンプルSを抵抗率測定装置30Aと酸
素濃度測定装置30Bの間にあるアンローダ(ローダ)
40Aの排出(供給)カセット50Aに収納する。
【0052】この様な被検査サンプルSの測定をしてい
る途中で、専用カセット44Aより標準サンプル(日常
管理サンプル)SAを3枚連続して流した。この切り替
えはタイマーにより行った。本実施例では被検査サンプ
ルSを測定する前及び測定してから3時間毎に標準サン
プルSAを測定するように設定してある。
【0053】ID番号識別装置36Aにより標準サンプ
ルSAを自動的に認識し、標準サンプルSAの測定モード
に入る。測定した結果及び管理基準に従い、連続測定又
は校正或いは検査装置の停止を行う。
【0054】本実施例では、標準値に対するバラツキに
より管理している。例えば、標準サンプルSAの標準値
(中心値)がある一定の管理幅を外れたら、校正又は検
査装置の停止をする。また、得られた1日分の測定結果
から、Xbar−R管理図のような一般的に用いられる
手法でも管理してある。管理基準は、その検査装置に応
じて設定する。
【0055】なお、本実施例では異常が観察されず、全
てのサンプルを検査装置の停止もなく測定する事ができ
た。
【0056】但し、管理基準や管理図から外れた場合、
抵抗率測定では、測定のプローブの磨耗などが考えられ
る。従って装置が自動停止するように設定してある。停
止後、プローブを交換し再始動する。抵抗率測定の終了
した標準サンプルSAは、アンローダ40Aの専用カセ
ット52Aに収納される。
【0057】抵抗率測定が終了した被検査サンプルS
は、次に酸素濃度測定装置30Bに送られる。被検査サ
ンプルSは抵抗率測定装置30Aと酸素濃度測定装置3
0Bの間にあるアンローダ(ローダ)40Aの排出(供
給)カセット50Aから順次供給され、ID番号をID
番号認識装置36Bによって識別し、ID番号に応じ
て、測定位置などの測定レシピをホストコンピュータ3
2で照合し、それに準じて酸素濃度測定装置本体38B
で測定する。測定後、データをホストコンピュータ32
に記憶し、被検査サンプルSをアンローダ40Bの排出
(供給)カセット50Bに収納する。
【0058】この様な被検査サンプルの測定をしている
途中で、専用カセット52Aより標準サンプル(日常管
理サンプル)SAを3枚連続して流した。
【0059】標準サンプルのIDはSTD1(標準値;
8ppma−ASTM '79)、STD2(標準値;
13ppma−ASTM '79)、STD3(標準
値;18ppma−ASTM '79)である。
【0060】本装置の場合、標準サンプルはカセットに
セットした段階で優先的に流されるように設定してあ
る。本実施例では、抵抗率測定装置及び酸素濃度測定装
置の間のアンローダ(ローダ)40Aのカセットが2個
であり、抵抗率測定が終了した抵抗率の標準サンプルが
専用カセット52Aにある場合がある。これを取り外
し、酸素濃度用の標準サンプルをセットした段階で優先
的に流れるように設定した。このようにすれば、作業者
の都合によりカセットをセットすればよく、また装置を
止める事もない。
【0061】供給された標準サンプルはID番号識別装
置36Bにより自動的に認識し、標準サンプル測定モー
ドMAに入る。測定した結果及び管理基準に従い、連続
測定又は校正或いは装置の停止を行う。
【0062】本実施例では、標準値に対するバラツキに
より管理している。例えば、標準サンプルの標準値(中
心値)がある一定の管理幅を外れたら、校正又は装置の
停止をする。また、得られた1日分の測定結果から、X
bar−R管理図のような一般的に用いられる手法でも
管理してある。管理基準は、その測定機に応じて設定す
る。管理幅に収まっていれば、次のサンプル(被検査サ
ンプル又は標準サンプル)を測定する。
【0063】なお、本実施例では異常が観察されず、全
てのサンプルが装置の停止もなく測定する事ができた。
【0064】但し、管理図から外れた場合、自動的に校
正する。酸素濃度測定の場合、検査装置本体を校正する
調整手段として検量線を作成し校正するようにしてあ
る。
【0065】つまり、複数の水準(例えば10水準)の
標準サンプル(校正用サンプル)を供給し、これにより
検量線を作成し校正するようにしてある。この校正用の
標準サンプルも自動的に流す事により処理できる。また
検量線が極端に変化した場合は、検査装置を自動停止す
るように設定してある。
【0066】以上のように抵抗率測定、酸素濃度測定と
連続した自動検査工程ではあるが、特に第1の検査工程
及び第2の検査工程のぞれぞれの状態を気にする事なく
それぞれ別々に点検する事ができる。
【0067】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではない。上記実施例は単なる例示であり、本発明
の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同
一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いか
なるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【0068】例えば、標準サンプルを抵抗率用と酸素濃
度用に別けたが、同じサンプルで兼用できれば更に好ま
しい。
【0069】また、ローダ及びアンローダの数は2つに
限定するものではなく1つでもよい。本実施例の場合、
好ましくは抵抗率測定装置と酸素濃度測定装置の間のロ
ーダ(アンローダ)は供給用カセット、抵抗率標準サン
プル用カセット、酸素濃度標準サンプル用カセットなど
3つのカセットにしても良い。
【0070】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明のサンプルの
検査方法及び検査装置により、作業者の負担を軽減し、
自動化ラインの停止時間を最小限にして効率的運用を行
うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のサンプルの検査装置の一つの実施の
形態を示す全体配置図である。
【図2】 本発明のサンプルの検査方法の検査フローの
1例を示す説明図である。
【図3】 本発明のサンプルの検査方法の工程順の1例
を示すフローチャートである。
【図4】 本発明のサンプルの検査方法における通常測
定モードの工程順の1例を示すフローチャートである。
【図5】 本発明のサンプルの検査方法における標準サ
ンプル測定モードの工程順の1例を示すフローチャート
である。
【図6】 本発明のサンプルの検査装置の他の実施の形
態を示す全体配置図である。
【図7】 従来のサンプルの検査方法の検査フローの1
例を示す説明図である。
【図8】 従来のサンプルの検査装置の1例を示す全体
配置図である。
【符号の説明】
10:自動検査ライン、12:抵抗率測定装置、14:
酸素濃度測定装置、16:ローダ、18:ローダ兼アン
ローダ、30A:第1の検査装置(抵抗率測定装置)、
30B:第2の検査装置(酸素濃度測定装置)、32:
ホストコンピュータ、34,34A:ローダ、35:読
み取り部、36,36A,36B:ID番号認識装置、
37:画像処理部、38:検査装置本体、38A:抵抗
率測定装置本体、38B:酸素濃度測定装置本体、3
9:測定部、40,40A,40B:アンローダ、4
2,42A,42B:供給カセット、44,44A,4
4B:専用カセット、46:ロボットアーム、48,4
8A,48B:搬送ベルト、50,50A,50B:排
出(供給)カセット、52,52A:専用カセット、5
4:ロボットアーム、L1〜L7:導線、M:通常測定モ
ード、MA:標準サンプル測定モード、N:ID番号、
S:被検査サンプル、SA:標準サンプル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01N 21/35 G01N 21/35 Z Fターム(参考) 2G058 GC01 GC05 GE04 2G059 AA01 AA05 BB16 CC03 CC07 DD12 DD13 EE12 HH01 MM01 MM12 MM14 4M106 AA01 CA10 CB01 DH09 DH11 DJ38 5F031 CA01 CA11 FA01 FA02 FA07 FA11 FA12 JA02 JA50 JA51 MA09 MA33 PA02

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査サンプルを検査装置によって自動
    的に検査する方法において、複数の被検査サンプルを連
    続して測定している検査途中に、自動的に標準サンプル
    の測定を行い、その結果をもとに前記検査装置を自動管
    理しながら被検査サンプルを連続測定することを特徴と
    するサンプルの検査方法。
  2. 【請求項2】 被検査サンプルのID番号及びそのID
    番号に対応した検査レシピ及び標準サンプルの測定結果
    による校正基準・管理基準を記憶したホストコンピュー
    タ、検査装置本体及びID番号認識装置を有する検査装
    置によって被検査サンプルを自動的に検査するにあた
    り、前記被検査サンプル及び標準サンプルにID番号を
    付与し、前記被検査サンプル及び標準サンプルに付与さ
    れたID番号をID番号認識装置により確認し、そのI
    D番号及びそのID番号に対応した検査レシピをホスト
    コンピュータに照合し測定するとともに、前記標準サン
    プルのID番号を認識すると、当該ID番号の標準サン
    プルの測定結果による校正基準・管理基準をホストコン
    ピュータに照合し、その照合結果にもとづき、前記検査
    装置本体を管理しつつ前記被検査サンプルを連続測定す
    ることを特徴とするサンプルの検査方法。
  3. 【請求項3】 前記被検査サンプルが被検査ウェーハで
    あり、前記標準サンプルが標準ウェーハであることを特
    徴とする請求項1又は2記載のサンプルの検査方法。
  4. 【請求項4】 被検査サンプルを自動検査する検査装置
    であって、少なくとも前記被検査サンプル及び標準サン
    プルのID番号及びそのID番号に対応した検査レシピ
    及び標準サンプルの測定結果による校正基準・管理基準
    を記憶したホストコンピュータと、ID番号が付与され
    た被検査サンプル及び標準サンプルをセットしておくロ
    ーダと、前記被検査サンプル及び標準サンプルに付与さ
    れたID番号を認識するID番号認識装置と、前記被検
    査サンプル及び標準サンプルの品質を検査する検査装置
    本体と、前記被検査サンプル及び標準サンプルを排出す
    るアンローダを有し、前記標準サンプルのID番号を認
    識すると、当該ID番号の標準サンプルの測定結果によ
    る校正基準・管理基準をホストコンピュータに照合し、
    その照合結果にもとづき、前記検査装置本体を管理しつ
    つ被検査サンプルを連続測定するように作動することを
    特徴とするサンプルの検査装置。
  5. 【請求項5】 前記ID番号が付与された被検査サンプ
    ル及び標準サンプルをセットしておくローダは、少なく
    とも2つ以上の供給部を具備し、被検査サンプルを供給
    する供給カセットと標準サンプルを供給する専用カセッ
    トを有することを特徴とする請求項4記載のサンプルの
    検査装置。
  6. 【請求項6】 タイマーがさらに設置されており、所定
    の時間になると前記ローダから標準サンプルを自動供給
    するように作動することを特徴とする請求項4又は5記
    載のサンプルの検査装置。
  7. 【請求項7】 前記ID番号が付与された被検査サンプ
    ル及び標準サンプルを排出するアンローダは、少なくと
    も2つ以上の排出部を具備し、被検査サンプルを排出す
    る排出カセットと標準サンプルを排出する専用カセット
    を有することを特徴とする請求項4〜6のいずれか1項
    記載のサンプルの検査装置。
  8. 【請求項8】 前記サンプルの品質を検査する検査装置
    本体が、酸素濃度測定装置、炭素濃度測定装置又は抵抗
    率測定装置のうち少なくともひとつの装置であることを
    特徴とする請求項4〜7のいずれか1項記載のサンプル
    の検査装置。
  9. 【請求項9】 前記被検査サンプルが被検査ウェーハで
    あり、前記標準サンプルが標準ウェーハであることを特
    徴とする請求項4〜8のいずれか1項記載のサンプルの
    検査装置。
  10. 【請求項10】 標準サンプルのID番号及びそのID
    番号に対応した測定レシピ及び標準サンプルの測定結果
    による校正基準・管理基準を記憶したホストコンピュー
    タ、検査装置本体及びID番号認識装置を有する検査装
    置を自動的に校正・点検する管理方法であって、標準サ
    ンプルにID番号を付与しておき、前記検査装置本体に
    搬入された当該標準サンプルに対して、当該検査装置本
    体に付設された前記ID番号認識装置で当該標準サンプ
    ルのID番号を自動的に認識し、そのID番号により測
    定レシピをホストコンピュータに照合し、該測定レシピ
    に従い測定し、その測定結果により装置の校正・点検を
    行うことを特徴とする検査装置の管理方法。
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