JP2003057272A - 信号スペクトルの測定方法及び装置 - Google Patents
信号スペクトルの測定方法及び装置Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/30—Monitoring; Testing of propagation channels
- H04B17/309—Measuring or estimating channel quality parameters
- H04B17/318—Received signal strength
- H04B17/327—Received signal code power [RSCP]
Abstract
(57)【要約】
【課題】スペクトル放射マスク測定及び同様の測定に関
する試験時間の短縮 【解決手段】スペクトラムアナライザにおいて、スペク
トル放射マスク測定を行う際、同じ分解能帯域幅で測定
される全周波数帯域を１つの掃引で測定する事により、
測定帯域毎に生じていたセットアップ遅延が排除でき
る。それぞれに指定された分解能帯域幅で測定される周
波数帯域に対応する測定のそれぞれは、抽出され、サイ
ズ変更され、そして、完全なスペクトラム測定へ組み合
わされる。
する試験時間の短縮 【解決手段】スペクトラムアナライザにおいて、スペク
トル放射マスク測定を行う際、同じ分解能帯域幅で測定
される全周波数帯域を１つの掃引で測定する事により、
測定帯域毎に生じていたセットアップ遅延が排除でき
る。それぞれに指定された分解能帯域幅で測定される周
波数帯域に対応する測定のそれぞれは、抽出され、サイ
ズ変更され、そして、完全なスペクトラム測定へ組み合
わされる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号スペクトルの
測定方法及び装置に関するものであり、とりわけ、スペ
クトルの異なる部分の信号パワー・レベルが、それぞれ
の異なる分解能帯域幅において測定されることになる、
信号スペクトル測定に関するものである。本発明は、例
えば、移動電話送受器及び基地局のような移動通信装置
の帯域外放射からの測定に適用可能である。
測定方法及び装置に関するものであり、とりわけ、スペ
クトルの異なる部分の信号パワー・レベルが、それぞれ
の異なる分解能帯域幅において測定されることになる、
信号スペクトル測定に関するものである。本発明は、例
えば、移動電話送受器及び基地局のような移動通信装置
の帯域外放射からの測定に適用可能である。
【０００２】
【従来の技術】移動電話システムのような移動通信機構
の採用が急速に増大したため、移動電話送受器及び他の
移動局（ＭＳ）のような関連するユーザ装置、及び、基
地局のようなネットワーク・インフラストラクチャを構
成する機器に対する需要が増大することになった。これ
らの装置及び機器内の送信回路要素からの帯域外放射を
回避することは、装置によって得られるサービスの質に
ついても、また、システムの他のユーザに対して潜在的
に生じる可能性のある妨害を最小限に抑える上において
も重要である。このため、出荷前に、メーカが全ての装
置の帯域外放射を慎重に測定して、その装置がこうした
放射の強度に関する規定の制限を遵守しているか確認す
ることが不可欠である。しかし、同等に望まれるのは、
メーカが、これらのテストをできる限り迅速に実施し
て、生産タイムスケールに導入される遅延を最小限に抑
えることである。
の採用が急速に増大したため、移動電話送受器及び他の
移動局（ＭＳ）のような関連するユーザ装置、及び、基
地局のようなネットワーク・インフラストラクチャを構
成する機器に対する需要が増大することになった。これ
らの装置及び機器内の送信回路要素からの帯域外放射を
回避することは、装置によって得られるサービスの質に
ついても、また、システムの他のユーザに対して潜在的
に生じる可能性のある妨害を最小限に抑える上において
も重要である。このため、出荷前に、メーカが全ての装
置の帯域外放射を慎重に測定して、その装置がこうした
放射の強度に関する規定の制限を遵守しているか確認す
ることが不可欠である。しかし、同等に望まれるのは、
メーカが、これらのテストをできる限り迅速に実施し
て、生産タイムスケールに導入される遅延を最小限に抑
えることである。
【０００３】例えば、符号分割多元接続（例えば、Ｗ−
ＣＤＭＡ及びｃｄｍａ２０００システム）を利用した、
いわゆる第３世代移動通信システムに用いられることを
意図した機器の場合、帯域外放射強度は、意図する送信
機搬送周波数からのさまざまなオフセット周波数におけ
る最大許容放射を定義する「スペクトル放射マスク」と
比較される。テストは、ＣＤＭＡ搬送波強度の測定、及
び、その搬送周波数の両側でオフセットした複数（例え
ば、４または５）周波数帯域の測定に関連して指定され
る（例えば、暫定の３ＧＰＰ Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｓ
ｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ２５．１４１及び３４．
１２１を参照されたい）。開始及び停止周波数及び分解
能帯域幅は、各オフセット測定毎に指定される。
ＣＤＭＡ及びｃｄｍａ２０００システム）を利用した、
いわゆる第３世代移動通信システムに用いられることを
意図した機器の場合、帯域外放射強度は、意図する送信
機搬送周波数からのさまざまなオフセット周波数におけ
る最大許容放射を定義する「スペクトル放射マスク」と
比較される。テストは、ＣＤＭＡ搬送波強度の測定、及
び、その搬送周波数の両側でオフセットした複数（例え
ば、４または５）周波数帯域の測定に関連して指定され
る（例えば、暫定の３ＧＰＰ Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｓ
ｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ ２５．１４１及び３４．
１２１を参照されたい）。開始及び停止周波数及び分解
能帯域幅は、各オフセット測定毎に指定される。
【０００４】このテストを実施するための従来のアプロ
ーチの１つでは、スペクトル分析器を用いて、各オフセ
ット周波数帯域を個別に測定することが必要になる。こ
れには、分析器のセッティング（開始周波数、停止周波
数、分解能帯域幅、及び、掃引時間）を、関連仕様に従
って、各オフセット毎に適宜セットアップすることが必
要になる。順次オフセット測定間におけるセッティング
の各変更には、完全なものにするため、必要なセッティ
ングを分析器に入力するため、及び、それに従って、分
析器がその内部動作を修正できるようにするため、短い
が、有限のセットアップ時間が必要になる。仕様に規定
された全オフセット数に必要とされるセッティングの変
更数が多くなるため、多大の累積セットアップ時間を要
することになり、従って、全般的にテストが遅くなる。
ーチの１つでは、スペクトル分析器を用いて、各オフセ
ット周波数帯域を個別に測定することが必要になる。こ
れには、分析器のセッティング（開始周波数、停止周波
数、分解能帯域幅、及び、掃引時間）を、関連仕様に従
って、各オフセット毎に適宜セットアップすることが必
要になる。順次オフセット測定間におけるセッティング
の各変更には、完全なものにするため、必要なセッティ
ングを分析器に入力するため、及び、それに従って、分
析器がその内部動作を修正できるようにするため、短い
が、有限のセットアップ時間が必要になる。仕様に規定
された全オフセット数に必要とされるセッティングの変
更数が多くなるため、多大の累積セットアップ時間を要
することになり、従って、全般的にテストが遅くなる。
【０００５】スペクトル放射マスク測定に対するもう１
つの既知のアプローチは、ベクトル・アナライザを利用
して、各周波数帯域の順次セグメントを個別に測定する
ことであり、１つのセグメントに関する入力信号の周波
数範囲は、分解能帯域幅に等しくなるように制限されて
いる。しかし、これには、時間領域データに多数の複雑
なフーリエ変換計算を施して、必要とされる周波数領域
の結果を生じさせることが必然的に伴うことになる。こ
れらの計算の実施に必要な時間は、一般に、製造テスト
の目的にとって許容できないほど長くなる。
つの既知のアプローチは、ベクトル・アナライザを利用
して、各周波数帯域の順次セグメントを個別に測定する
ことであり、１つのセグメントに関する入力信号の周波
数範囲は、分解能帯域幅に等しくなるように制限されて
いる。しかし、これには、時間領域データに多数の複雑
なフーリエ変換計算を施して、必要とされる周波数領域
の結果を生じさせることが必然的に伴うことになる。こ
れらの計算の実施に必要な時間は、一般に、製造テスト
の目的にとって許容できないほど長くなる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、スペ
クトル放射マスク測定及び同様の測定に関するテスト時
間を短縮することにある。
クトル放射マスク測定及び同様の測定に関するテスト時
間を短縮することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の態様の１つによ
れば、信号スペクトルにおける異なる周波数帯域の信号
パワー・レベルが、それぞれの異なる分解能帯域幅で測
定されることになる、信号スペクトル測定方法であっ
て、各分解能帯域幅において測定すべきスペクトルの全
セクションに関して開始及び停止限界周波数を識別する
ステップと、それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯
域幅に関するそれぞれの開始及び停止限界周波数間にわ
たる、複数のスペクトル測定を実施するステップと、各
スペクトル測定結果から、その測定のそれぞれの分解能
帯域幅で測定されるべきスペクトル内の周波数帯域に対
応する部分を選択するステップと、選択されたスペクト
ル測定結果部分を組み合わせて、完全なスペクトル測定
にするステップが含まれている、信号スペクトル測定方
法が得られる。
れば、信号スペクトルにおける異なる周波数帯域の信号
パワー・レベルが、それぞれの異なる分解能帯域幅で測
定されることになる、信号スペクトル測定方法であっ
て、各分解能帯域幅において測定すべきスペクトルの全
セクションに関して開始及び停止限界周波数を識別する
ステップと、それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯
域幅に関するそれぞれの開始及び停止限界周波数間にわ
たる、複数のスペクトル測定を実施するステップと、各
スペクトル測定結果から、その測定のそれぞれの分解能
帯域幅で測定されるべきスペクトル内の周波数帯域に対
応する部分を選択するステップと、選択されたスペクト
ル測定結果部分を組み合わせて、完全なスペクトル測定
にするステップが含まれている、信号スペクトル測定方
法が得られる。
【０００８】本発明のもう１つの態様によれば、信号ス
ペクトルにおける異なる周波数帯域の信号パワー・レベ
ルが、それぞれの異なる分解能帯域幅で測定されること
になる、信号スペクトル測定装置であって、各分解能帯
域幅において測定されるべきスペクトルの全セクション
に関して、開始及び停止限界周波数を識別するための識
別器と、それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯域幅
に関するそれぞれの開始及び停止限界周波数間にわた
る、複数のスペクトル測定を実施するためのスペクトル
測定器と、各スペクトル測定結果から、その測定のそれ
ぞれの分解能帯域幅で測定されるべきスペクトル内の周
波数帯域に対応する部分を選択するためのセレクタと、
選択されたスペクトル測定結果部分を組み合わせて、完
全なスペクトル測定にするためのアセンブラが含まれて
いる、信号スペクトル測定装置が得られる。
ペクトルにおける異なる周波数帯域の信号パワー・レベ
ルが、それぞれの異なる分解能帯域幅で測定されること
になる、信号スペクトル測定装置であって、各分解能帯
域幅において測定されるべきスペクトルの全セクション
に関して、開始及び停止限界周波数を識別するための識
別器と、それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯域幅
に関するそれぞれの開始及び停止限界周波数間にわた
る、複数のスペクトル測定を実施するためのスペクトル
測定器と、各スペクトル測定結果から、その測定のそれ
ぞれの分解能帯域幅で測定されるべきスペクトル内の周
波数帯域に対応する部分を選択するためのセレクタと、
選択されたスペクトル測定結果部分を組み合わせて、完
全なスペクトル測定にするためのアセンブラが含まれて
いる、信号スペクトル測定装置が得られる。
【０００９】
【発明の実施の形態】上述のように、移動通信送信機器
に施されるテストの１つは、許容可能な最大帯域外放射
を規定する規格が遵守されているか確認することを意図
したものである。このため、送信機器にスペクトル放射
マスク測定を施して、意図する送信機チャネル帯域幅の
両側における実際の放射が、チャネル中心周波数からオ
フセットした周波数の関数として、機器から出力される
パワーの最大レベルを指定するマスクと比較される。
に施されるテストの１つは、許容可能な最大帯域外放射
を規定する規格が遵守されているか確認することを意図
したものである。このため、送信機器にスペクトル放射
マスク測定を施して、意図する送信機チャネル帯域幅の
両側における実際の放射が、チャネル中心周波数からオ
フセットした周波数の関数として、機器から出力される
パワーの最大レベルを指定するマスクと比較される。
【００１０】チャネル中心周波数から比較的大きくオフ
セットすると、帯域外放射の最大強度を極めて低いレベ
ルに指定することが実行可能になって、望ましく、さら
に、所望のチャネル帯域幅内の信号からの測定を妨害す
る危険を冒すことなく、測定の分解能帯域幅を比較的広
く設定することが可能になる（例えば、１ＭＨｚ）。し
かし、オフセットが中心周波数に比較的接近すると、実
際的な技術設計の問題として、より高い帯域外放射レベ
ルを許容しなければならず、さらに、測定により低い分
解能帯域幅を利用して（例えば、３０ｋＨｚ）、所望の
チャネル信号がその帯域内に含まれず、測定の妨げにな
らないことを保証しなければならない。
セットすると、帯域外放射の最大強度を極めて低いレベ
ルに指定することが実行可能になって、望ましく、さら
に、所望のチャネル帯域幅内の信号からの測定を妨害す
る危険を冒すことなく、測定の分解能帯域幅を比較的広
く設定することが可能になる（例えば、１ＭＨｚ）。し
かし、オフセットが中心周波数に比較的接近すると、実
際的な技術設計の問題として、より高い帯域外放射レベ
ルを許容しなければならず、さらに、測定により低い分
解能帯域幅を利用して（例えば、３０ｋＨｚ）、所望の
チャネル信号がその帯域内に含まれず、測定の妨げにな
らないことを保証しなければならない。
【００１１】従って、スペクトル放射マスクは、一般
に、意図するチャネル帯域幅の両側においてオフセット
した、各対毎に、周波数スパン、分解能帯域幅、及び、
最大許容パワー・レベルが異なる、いくつかの対をなす
周波数帯域に関して定義される。１つのスペクトル放射
マスク測定に関する周波数帯域及び関連する分解能帯域
幅の一例（基地局遵守テストに関する３ＧＰＰ ＴＳ２
５．１４１に指定の）が、以下に示されるが、ここで、
Ｆｃはチャネル中心周波数であり、ＲＢＷは分解能帯域
幅を表している：
に、意図するチャネル帯域幅の両側においてオフセット
した、各対毎に、周波数スパン、分解能帯域幅、及び、
最大許容パワー・レベルが異なる、いくつかの対をなす
周波数帯域に関して定義される。１つのスペクトル放射
マスク測定に関する周波数帯域及び関連する分解能帯域
幅の一例（基地局遵守テストに関する３ＧＰＰ ＴＳ２
５．１４１に指定の）が、以下に示されるが、ここで、
Ｆｃはチャネル中心周波数であり、ＲＢＷは分解能帯域
幅を表している：
【数１】
【００１２】これらの測定帯域は、図１の典型的な信号
スペクトルに関連して例示されている。
スペクトルに関連して例示されている。
【００１３】このスペクトル放射マスクに関する従来の
測定には、テストを受ける装置１０（移動電話送受器ま
たは基地トランシーバ局のような）が、そのアンテナ・
コネクタを介して、スペクトル分析器のような測定装置
１２に結合される、図２に示すテスト・セットアップが
必要とされる。スペクトル分析器は、使いやすいよう
に、一連の測定を記憶し、自動的に実施するための機構
を備えることが可能である。すなわち、スペクトル分析
器１２には、必要とされるスペクトル放射マスクに関す
る周波数帯域（すなわち、開始及び停止周波数）が、各
帯域に関するそれぞれの分解能帯域幅と共に記憶され
る。次に、スペクトル分析器に命じて、最低開始周波数
から始めて、最高停止周波数に達するまで、上方へ周波
数掃引を行う、一連の測定を実施させることが可能であ
る。一般に、スペクトル分析器は、周波数スパン及び分
解能帯域幅、及び、分析器の動作特性に従って、各測定
毎に、それ自体で適切な掃引時間を決定し、計器の較正
を維持することになる。スペクトル分析器１２は、各中
間停止周波数毎に休止して、あらかじめ記憶された値に
従って、次に高い周波数帯域に関する分解能帯域幅を含
むそのセッティングに修正を加える。こうした各休止及
び修正によって、スペクトル分析器１２の回路要素がそ
れ自体を新しいセッティングに合わせて調整する間、関
連するセットアップ時間がかかることになる。上述のス
ペクトル放射マスク測定例に関する組をなす１０の周波
数帯域には、こうした９つの休止及びセットアップ時間
が必然的に伴うことになり、測定の完了が大幅に遅延す
る。
測定には、テストを受ける装置１０（移動電話送受器ま
たは基地トランシーバ局のような）が、そのアンテナ・
コネクタを介して、スペクトル分析器のような測定装置
１２に結合される、図２に示すテスト・セットアップが
必要とされる。スペクトル分析器は、使いやすいよう
に、一連の測定を記憶し、自動的に実施するための機構
を備えることが可能である。すなわち、スペクトル分析
器１２には、必要とされるスペクトル放射マスクに関す
る周波数帯域（すなわち、開始及び停止周波数）が、各
帯域に関するそれぞれの分解能帯域幅と共に記憶され
る。次に、スペクトル分析器に命じて、最低開始周波数
から始めて、最高停止周波数に達するまで、上方へ周波
数掃引を行う、一連の測定を実施させることが可能であ
る。一般に、スペクトル分析器は、周波数スパン及び分
解能帯域幅、及び、分析器の動作特性に従って、各測定
毎に、それ自体で適切な掃引時間を決定し、計器の較正
を維持することになる。スペクトル分析器１２は、各中
間停止周波数毎に休止して、あらかじめ記憶された値に
従って、次に高い周波数帯域に関する分解能帯域幅を含
むそのセッティングに修正を加える。こうした各休止及
び修正によって、スペクトル分析器１２の回路要素がそ
れ自体を新しいセッティングに合わせて調整する間、関
連するセットアップ時間がかかることになる。上述のス
ペクトル放射マスク測定例に関する組をなす１０の周波
数帯域には、こうした９つの休止及びセットアップ時間
が必然的に伴うことになり、測定の完了が大幅に遅延す
る。
【００１４】この遅延を短縮するため、本発明では、図
３に示す手順を利用して、測定の実行を再編成する。こ
の手順は、例えば、スペクトル分析器１２に組み込まれ
て、スペクトル分析器のメモリに記憶された、手順のス
テップを定義するソフトウェア・プログラム命令の制御
下で動作するように構成されたプログラマブル・プロセ
ッサを用いて、都合のよいように実施可能である。
３に示す手順を利用して、測定の実行を再編成する。こ
の手順は、例えば、スペクトル分析器１２に組み込まれ
て、スペクトル分析器のメモリに記憶された、手順のス
テップを定義するソフトウェア・プログラム命令の制御
下で動作するように構成されたプログラマブル・プロセ
ッサを用いて、都合のよいように実施可能である。
【００１５】図３を参照すると、ステップ２０では、放
射マスク測定全体における各周波数帯域の周波数限界及
び分解能帯域幅が、例えば、測定を定義するあらかじめ
記憶されている情報に基づいて識別される。ステップ２
２では、これらの測定周波数帯域は、分解能帯域幅に従
ってグループ化され、周波数順（例えば、最低開始周波
数から最高開始周波数）に記憶される。従って、上述の
放射マスク測定の場合、下記のように、２つのグループ
に分類されることになるであろう：
射マスク測定全体における各周波数帯域の周波数限界及
び分解能帯域幅が、例えば、測定を定義するあらかじめ
記憶されている情報に基づいて識別される。ステップ２
２では、これらの測定周波数帯域は、分解能帯域幅に従
ってグループ化され、周波数順（例えば、最低開始周波
数から最高開始周波数）に記憶される。従って、上述の
放射マスク測定の場合、下記のように、２つのグループ
に分類されることになるであろう：
【数２】
最適掃引時間、及び、最適掃引時間対周波数スパンの比
は、各周波数帯域毎に決定されるので、この比に関する
補償値は、下記のステップ中に決定することが可能であ
る。例えば、中心周波数に最も近い３０ｋＨｚのＲＢＷ
測定の１つに関する周波数スパンは、（Ｆｃ−２．７１
５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−２．５１５ＭＨｚ）、すなわ
ち、２００ｋＨｚである。この個別測定に関する掃引時
間が、特定の分析器によって１ｍｓであると判定される
と、掃引時間／スパン比は、１０−３／（２００×１０
３）、すなわち、５×１０−９になる。
は、各周波数帯域毎に決定されるので、この比に関する
補償値は、下記のステップ中に決定することが可能であ
る。例えば、中心周波数に最も近い３０ｋＨｚのＲＢＷ
測定の１つに関する周波数スパンは、（Ｆｃ−２．７１
５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−２．５１５ＭＨｚ）、すなわ
ち、２００ｋＨｚである。この個別測定に関する掃引時
間が、特定の分析器によって１ｍｓであると判定される
と、掃引時間／スパン比は、１０−３／（２００×１０
３）、すなわち、５×１０−９になる。
【００１６】次に、手順は後続ステップ２４に進み、各
分解能帯域幅に関する最低と最高の周波数限界が、識別
される（この例の場合、これらは、３０ｋＨｚのＲＢＷ
に関して（Ｆｃ−３．９８５±０．０１５ＭＨｚ）から
（Ｆｃ＋３．９８５±０．０１５ＭＨｚ）であり、１Ｍ
ＨｚのＲＢＷに関して（Ｆｃ−１２．５±０．５ＭＨ
ｚ）から（Ｆｃ＋１２．５±０．５ＭＨｚ）である）。
次に、掃引されるスペクトルの全セクションが識別さ
れ、その全セクションの掃引時間対周波数スパンの比
が、同じ分解能帯域幅における個別周波数帯域のスパン
に関して同じになるように、補償掃引時間が導き出され
る。こうして、掃引時間／スパン比を保持することによ
って、全セクションに関する測定の統計量が、測定を信
頼性のあるものにするのに十分であり、各周波数帯域毎
に個別に得られる統計量に一致するという保証が得られ
る。２つ以上の異なる補償掃引時間が、分類された同じ
周波数帯域グループ内において決定される場合、さらに
長い、または、最も長い掃引時間値がそのグループの全
ての測定に利用される。
分解能帯域幅に関する最低と最高の周波数限界が、識別
される（この例の場合、これらは、３０ｋＨｚのＲＢＷ
に関して（Ｆｃ−３．９８５±０．０１５ＭＨｚ）から
（Ｆｃ＋３．９８５±０．０１５ＭＨｚ）であり、１Ｍ
ＨｚのＲＢＷに関して（Ｆｃ−１２．５±０．５ＭＨ
ｚ）から（Ｆｃ＋１２．５±０．５ＭＨｚ）である）。
次に、掃引されるスペクトルの全セクションが識別さ
れ、その全セクションの掃引時間対周波数スパンの比
が、同じ分解能帯域幅における個別周波数帯域のスパン
に関して同じになるように、補償掃引時間が導き出され
る。こうして、掃引時間／スパン比を保持することによ
って、全セクションに関する測定の統計量が、測定を信
頼性のあるものにするのに十分であり、各周波数帯域毎
に個別に得られる統計量に一致するという保証が得られ
る。２つ以上の異なる補償掃引時間が、分類された同じ
周波数帯域グループ内において決定される場合、さらに
長い、または、最も長い掃引時間値がそのグループの全
ての測定に利用される。
【００１７】例えば、３０ｋＨｚのＲＢＷにおける測定
に関する周波数スパン全体が、（Ｆ ｃ−４ＭＨｚ）、す
なわち、８ＭＨｚであると確認することができると、上
述のように、ステップ２２において、掃引時間／スパン
比を５×１０−９と決定することが可能である。従っ
て、８ＭＨｚのスパンの測定に関する掃引時間は、８×
１０６×５×１０−９、すなわち、４０ｍｓでなければ
ならない。
に関する周波数スパン全体が、（Ｆ ｃ−４ＭＨｚ）、す
なわち、８ＭＨｚであると確認することができると、上
述のように、ステップ２２において、掃引時間／スパン
比を５×１０−９と決定することが可能である。従っ
て、８ＭＨｚのスパンの測定に関する掃引時間は、８×
１０６×５×１０−９、すなわち、４０ｍｓでなければ
ならない。
【００１８】普通、異なる分解能帯域幅に関する全ての
掃引は、放射マスク測定の全帯域幅にわたる同じ開始及
び停止周波数になるように指定することが可能である。
というのも、これによって、ステップ２８（後述する）
において測定サンプルのサイズ変更を実施する必要がな
くなるためである。しかし、例えば、個別測定周波数帯
域が極めて狭く、その測定に関するセットアップ遅延
が、その個別帯域の帯域幅ではなく、放射マスク測定の
全帯域幅の掃引に必要な余分の時間未満になる場合に
は、これは適切ではなくなる可能性がある。その場合、
個々の測定帯域を別個に掃引し、その後、ステップ２８
で測定のサイズ変更を行う（データを調整して、異なる
周波数スパンに関する測定サンプルによって表されるさ
まざまな周波数範囲を補償するため）ほうが効率がよく
なる可能性が高い。
掃引は、放射マスク測定の全帯域幅にわたる同じ開始及
び停止周波数になるように指定することが可能である。
というのも、これによって、ステップ２８（後述する）
において測定サンプルのサイズ変更を実施する必要がな
くなるためである。しかし、例えば、個別測定周波数帯
域が極めて狭く、その測定に関するセットアップ遅延
が、その個別帯域の帯域幅ではなく、放射マスク測定の
全帯域幅の掃引に必要な余分の時間未満になる場合に
は、これは適切ではなくなる可能性がある。その場合、
個々の測定帯域を別個に掃引し、その後、ステップ２８
で測定のサイズ変更を行う（データを調整して、異なる
周波数スパンに関する測定サンプルによって表されるさ
まざまな周波数範囲を補償するため）ほうが効率がよく
なる可能性が高い。
【００１９】修正周波数掃引パラメータが決定すると、
手順は、ステップ２６に進み、スペクトル分析器が、各
個別分解能帯域幅毎に周波数掃引を実施する（本例の場
合、２つの掃引、すなわち、図４に示すように、３０ｋ
ＨｚのＲＢＷにおける掃引と、１ＭＨｚにおける掃引が
行われるので、それらの間には、単一のセットアップ遅
延だけしか生じない）。
手順は、ステップ２６に進み、スペクトル分析器が、各
個別分解能帯域幅毎に周波数掃引を実施する（本例の場
合、２つの掃引、すなわち、図４に示すように、３０ｋ
ＨｚのＲＢＷにおける掃引と、１ＭＨｚにおける掃引が
行われるので、それらの間には、単一のセットアップ遅
延だけしか生じない）。
【００２０】次に、ステップ２８において、掃引測定結
果のそれぞれから選択された部分を組み合わせることに
よって、最終的な所望のスペクトル放射マスク測定結果
が得られる。図５の上図に示すように、部分３０及び３
２は、１ＭＨｚの分解能帯域幅における測定が必要とさ
れる周波数帯域に関して、その分解能帯域幅における周
波数掃引から抽出される（上述の例の場合、（Ｆｃ−１
２．５±０．５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−４．０±０．５Ｍ
Ｈｚ）、及び、（Ｆｃ＋４．０±０．５ＭＨｚ）から
（Ｆｃ＋１２．５±０．５ＭＨｚ））。同様に、部分３
４及び３６は、より狭い分解能帯域幅における測定が必
要とされる帯域に関して、３０ｋＨｚの分解能帯域幅に
おける周波数掃引から抽出される（（Ｆｃ−３．９８５
±０．０１５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−２．５１５±０．０
１５ＭＨｚ）、及び、（Ｆｃ＋２．５１５±０．０１５
ＭＨｚ）から（Ｆｃ＋３．９８５±０．０１５ＭＨ
ｚ））。前述のように、異なる分解能帯域幅における周
波数掃引に、異なる全帯域幅が利用される場合、抽出部
分にはサイズ変更が必要になるものもある（それ自体、
当該技術において既知のように）。
果のそれぞれから選択された部分を組み合わせることに
よって、最終的な所望のスペクトル放射マスク測定結果
が得られる。図５の上図に示すように、部分３０及び３
２は、１ＭＨｚの分解能帯域幅における測定が必要とさ
れる周波数帯域に関して、その分解能帯域幅における周
波数掃引から抽出される（上述の例の場合、（Ｆｃ−１
２．５±０．５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−４．０±０．５Ｍ
Ｈｚ）、及び、（Ｆｃ＋４．０±０．５ＭＨｚ）から
（Ｆｃ＋１２．５±０．５ＭＨｚ））。同様に、部分３
４及び３６は、より狭い分解能帯域幅における測定が必
要とされる帯域に関して、３０ｋＨｚの分解能帯域幅に
おける周波数掃引から抽出される（（Ｆｃ−３．９８５
±０．０１５ＭＨｚ）から（Ｆｃ−２．５１５±０．０
１５ＭＨｚ）、及び、（Ｆｃ＋２．５１５±０．０１５
ＭＨｚ）から（Ｆｃ＋３．９８５±０．０１５ＭＨ
ｚ））。前述のように、異なる分解能帯域幅における周
波数掃引に、異なる全帯域幅が利用される場合、抽出部
分にはサイズ変更が必要になるものもある（それ自体、
当該技術において既知のように）。
【００２１】次に、図５の下図に示すように、抽出部分
を組み合わせることによって、最終的なスペクトル放射
マスク測定結果が得られることになる。
を組み合わせることによって、最終的なスペクトル放射
マスク測定結果が得られることになる。
【００２２】本発明の説明は、スペクトル放射マスク測
定に関連して行われたが、本発明は、その用途に制限さ
れるものではなく、スペクトルの異なる周波数帯域を異
なる分解能帯域幅で測定することになる任意の状況にお
いて利用することも可能である。
定に関連して行われたが、本発明は、その用途に制限さ
れるものではなく、スペクトルの異なる周波数帯域を異
なる分解能帯域幅で測定することになる任意の状況にお
いて利用することも可能である。
【図１】スペクトル放射マスク測定の周波数帯域及び分
解能帯域幅を例示するための注釈付き周波数スペクトル
図である。
解能帯域幅を例示するための注釈付き周波数スペクトル
図である。
【図２】スペクトル放射マスク測定を実施するためのテ
スト・セットアップに関する略ブロック図である。
スト・セットアップに関する略ブロック図である。
【図３】スペクトル放射マスク測定の実施に必要とされ
る時間を短縮するための本発明の実施例に関するフロー
チャートである。
る時間を短縮するための本発明の実施例に関するフロー
チャートである。
【図４】図３に示す実施例を例示するための注釈付き周
波数スペクトル図である。
波数スペクトル図である。
【図５】異なる分解能帯域幅による周波数掃引から放射
マスク測定の組み立てを示す図である。
マスク測定の組み立てを示す図である。
該当符号なし
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 スチュアート・スナドン
イギリス国スコットランド、グラスゴウ、
リポン・ドライブ39、２エフ１
(72)発明者 ロイ・シュラー
イギリス国スコットランド、エジンバラ、
モンテペリア・パーク92、３エフ２
Claims (8)
- 【請求項１】信号スペクトルにおける異なる周波数帯域
の信号パワー・レベルが、それぞれの異なる分解能帯域
幅で測定されることになる、信号スペクトル測定方法で
あって、 各分解能帯域幅において測定すべきスペクトルの全セク
ションに関して開始及び停止限界周波数を識別するステ
ップと、 それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯域幅に関する
それぞれの開始及び停止限界周波数間にわたる、複数の
スペクトル測定を実施するステップと、 各スペクトル測定結果から、その測定のそれぞれの分解
能帯域幅で測定されるべき前記スペクトル内の周波数帯
域に対応する部分を選択するステップと、 前記選択されたスペクトル測定結果部分を組み合わせ
て、完全なスペクトル測定結果にするステップが含まれ
ている、 方法。 - 【請求項２】前記測定されるべき周波数帯域が、必要と
される分解能帯域幅に従って、グループ化され、各グル
ープ内において周波数順に分類されることを特徴とす
る、請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】それぞれの分解能帯域幅における各スペク
トル測定毎に、同じ開始及び停止周波数が用いられるこ
とを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の方
法。 - 【請求項４】異なる開始及び停止周波数が、それぞれの
分解能帯域幅における異なるスペクトル測定に用いられ
ることと、少なくとも１つのスペクトル測定結果の選択
部分が、完全なスペクトル測定結果になるように組み合
わせるためにサイズ変更されることを特徴とする、請求
項１または請求項２に記載の方法。 - 【請求項５】信号スペクトルにおける異なる周波数帯域
の信号パワー・レベルが、それぞれの異なる分解能帯域
幅で測定されることになる、信号スペクトル測定装置で
あって、 各分解能帯域幅において測定されるべきスペクトルの全
セクションに関して、開始及び停止限界周波数を識別す
るための識別器と、 それぞれ、その測定のそれぞれの分解能帯域幅に関する
それぞれの開始及び停止限界周波数間にわたる、複数の
スペクトル測定を実施するためのスペクトル測定器と、 各スペクトル測定結果から、その測定のそれぞれの分解
能帯域幅で測定されるべき前記スペクトル内の周波数帯
域に対応する部分を選択するためのセレクタと、 前記選択されたスペクトル測定結果部分を組み合わせ
て、完全なスペクトル測定結果にするためのアセンブラ
が含まれている、 装置。 - 【請求項６】前記測定されるべき周波数帯域が、必要と
される分解能帯域幅に従って、グループ化され、各グル
ープ内において周波数順に分類されることを特徴とす
る、請求項５に記載の装置。 - 【請求項７】それぞれの分解能帯域幅における各スペク
トル測定毎に、同じ開始及び停止周波数が用いられるこ
とを特徴とする、請求項５または請求項６に記載の装
置。 - 【請求項８】異なる開始及び停止周波数が、それぞれの
分解能帯域幅における異なるスペクトル測定に用いられ
ることと、少なくとも１つのスペクトル測定結果の選択
部分が、完全なスペクトル測定結果になるように組み合
わせるためにサイズ変更されることを特徴とする、請求
項５または請求項６に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP01305289.9 | 2001-06-18 | ||
| EP01305289A EP1271160B1 (en) | 2001-06-18 | 2001-06-18 | Method and apparatus for measuring a signal spectrum |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003057272A true JP2003057272A (ja) | 2003-02-26 |
| JP2003057272A5 JP2003057272A5 (ja) | 2005-10-13 |
Family
ID=8182040
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002170014A Pending JP2003057272A (ja) | 2001-06-18 | 2002-06-11 | 信号スペクトルの測定方法及び装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7106790B2 (ja) |
| EP (1) | EP1271160B1 (ja) |
| JP (1) | JP2003057272A (ja) |
| DE (1) | DE60102913T2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038866A (ja) * | 2004-07-29 | 2006-02-09 | Tektronix Inc | スペクトログラム・マスク・トリガ発生装置及び方法 |
| JP2007511852A (ja) * | 2003-11-19 | 2007-05-10 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | ウェーブレット分解を用いてバルブの可能性のある欠陥標識を識別する装置及び方法 |
| KR100983805B1 (ko) | 2008-09-24 | 2010-09-27 | 주식회사 케이티 | 스윕 방식을 이용한 스펙트럼 분석 방법 |
| JP2013127466A (ja) * | 2011-12-16 | 2013-06-27 | Tektronix Inc | 試験測定装置及び試験測定装置における方法 |
| JP2020014135A (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | 八重洲無線株式会社 | 無線受信装置 |
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|---|---|---|---|---|
| DE102004051386A1 (de) * | 2004-09-28 | 2006-04-06 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Spektrumanalyse in mehreren Frequenzbändern mit verschiedener Frequenzauflösung |
| JP4216273B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2009-01-28 | アンリツ株式会社 | デジタル放送信号評価装置 |
| GB2477915B (en) * | 2010-02-12 | 2014-06-04 | Ubiquisys Ltd | Basestation carrier frequency selection |
| CN102466764B (zh) * | 2010-11-03 | 2015-08-19 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种频谱超限测量模板的生成方法和装置 |
| CN102466763B (zh) * | 2010-11-03 | 2015-08-05 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种频谱超限测量方法和装置 |
| CN109445882B (zh) * | 2017-08-21 | 2020-08-11 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种频谱三维显示装置、方法及计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3916319A (en) * | 1974-06-19 | 1975-10-28 | Hewlett Packard Co | Adaptive sweep generator for a spectrum analyzer |
| US5617523A (en) * | 1990-11-30 | 1997-04-01 | Anritsu Corporation | Waveform display apparatus for easily realizing high-definition waveform observation |
| JPH11194145A (ja) * | 1998-01-06 | 1999-07-21 | Advantest Corp | Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法 |
| US6512788B1 (en) * | 1998-11-02 | 2003-01-28 | Agilent Technologies, Inc. | RF output spectrum measurement analyzer and method |
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| US6768293B2 (en) * | 2001-11-30 | 2004-07-27 | Agilent Technologies, Inc. | Displaying signal measurements within multiple ranges of a parameter |
-
2001
- 2001-06-18 EP EP01305289A patent/EP1271160B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-18 DE DE60102913T patent/DE60102913T2/de not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-05-07 US US10/139,466 patent/US7106790B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-06-11 JP JP2002170014A patent/JP2003057272A/ja active Pending
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| JP2006038866A (ja) * | 2004-07-29 | 2006-02-09 | Tektronix Inc | スペクトログラム・マスク・トリガ発生装置及び方法 |
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| EP1271160A1 (en) | 2003-01-02 |
| EP1271160B1 (en) | 2004-04-21 |
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| DE60102913T2 (de) | 2005-03-31 |
| US7106790B2 (en) | 2006-09-12 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081204 |